Sunteți pe pagina 1din 7

6.

NCERCRI DE FIABILITATE
6.1 CLASIFICARE 6.1.1 Dup scopul urmrit De investigare Pentru determinarea indicatorilor de fiabilitate De omologare 6.1.2 Dup importana dispozitivelor supuse ncercrii Standuri simple ncercri asupra dispozitivelor simple N0 mare Nivel de ncredere ridicat ncercri aspra dispozitivelor cu standuri mai complexe grad mijlociu de complexitate (subansambluri) N0 mai mic standuri complexe ncercri aspra dispozitivelor complexe N0 mic Nivel de ncredere sczut 6.1.3 Dup condiiile n care are loc funcionarea dispozitivelor Condiii de funcionare: - clim temperatura i presiunea atmosferice, umiditate, precipitaii, vnt; - ncrcare ncrcarea automobilului, intensitatea traficului, declivitatea drumului - mediu ambiant starea drumului, densitatea prafului atmosferic; - materiale utilizate combustibili, lubrifiani, lichid de rcire etc; - utilizator nivel de calificare, stil de conducere, calitatea i frecvena operaiilor de mentanan. n condiii normale Accelerate condiiile de funcionare se nspresc n scopul grbirii apariiei defeciunilor; aceasta nu trebuie s afecteze natura fenomenelor ci numai intensitatea lor 6.1.4 Dup procedura utilizat ncercri cenzurate se derulaz pn la producerea unui numr de defeciuni stabilit iniial; Trunchiate se deruleaz o perioad de timp stabilit iniial; Secveniale la producerea fiecrei defeciuni se compar timpul total de funcionare cu dou valori limit corespunztoare nivelurilor acceptabil, respectiv neacceptabil ale fiabilitii dispozitivelor ncercate; dac timpul total de funcionare se situeaz ntre cele dou valori de referin, testul de consider neconcludent i se continu pn la producerea urmtoarei defeciuni, cnd procedura se repet. 6.2 NCERCRI CENZURATE Caracteristica ncercrilor cenzurate: Se derulaz pn la producerea unui numr de defeciuni, r, stabilit iniial. Scopuri: 57

Determinarea valorii aproximative a MTBF pentru un eantion de dispozitive la care se nregistreaz un numr r de defeciuni; Determinarea intervalului de timp n care se afl valoarea MTBF pentru ntreaga populaie de dispozitive, acceptndu-se un nivel de risc (sau un nivel de ncredere p = 1 - ). a) ncercri cenzurate fr nlocuire dispozitivele defectate nu se nlocuiesc. O ncercare efectuat asupra unui eantion alctuit din N0 dipozitive este cenzurat la nivelul r dac se ncheie n momentul tr de apariie a celei de a r a defeciuni, numrul r N0 fiind ales nainte de nceperea ncercrii. N N0 N0 r . . . r+1 r r-1 ... 3 2 1 t1 t2 t3 tr-1 tr t

Timpul total de bun funcionare: T = t i + ( N0 r ) t r


i =1 r

b) ncercri cenzurate cu nlocuire dispozitivele defectate se nlocuiesc imediat dup producerea defeciunii. N N0* N0* -1 ... ... 3, N +3 2, N0*+2, N0*+r-1 1, N0*+1,N0*+r-2
* 0

t1 t2 t3 ... tr-2 tr-1 tr t S-a notat cu N0* numrul de dispozitive din care a fost alctuit iniial eantionul. Timpul total de bun funcionare: T = N0* tr Relaiile urmtoare sunt valabile pentru oricare din cele dou tipuri de ncercri cenzurate. Valoarea aproximativ a MTBF pentru eantion:

T r

58

Limitele intervalului n care se afl valoarea MTBF pentru ntreaga populaie de dispozitive Relaiile prezentate n continuare sunt aplicabile n cazul n care dispozitivele se afl n perioada vieii utile, atunci cnd acioneaz legea exponenial. a) cazul intervalului centrat: m1c = 2T 2 2r , 2 2T , limita inferioar;

m2c =

2 2r ,1 2

, limita superioar,

unde este pragul de semnificaie; nivelul de ncredere este p = 1 - . b) cazul intervalului necentrat: m1n = 2T

2 ( 2r , )
2T

, limita inferioar;

m 2n =

2 ( 2r ,1 )

, limita superioar.

6.3 NCERCRI TRUNCHIATE Caracteristica ncercrilor trunchiate: Se deruleaz pn la un moment, t*, fixat a priori. Scopuri: Determinarea valorii aproximative a MTBF pentru un eantion de dispozitive la care, pe durata t*, se nregistreaz un numr r de defeciuni; Determinarea intervalului de timp n care se afl valoarea MTBF pentru ntreaga populaie de dispozitive, acceptndu-se un nivel de risc (sau un nivel de ncredere p = 1 - ) a) ncercri trunchiate fr nlocuire dispozitivele defectate nu se nlocuiesc. N N0 N0 r . . . r+1 r r-1 ... 3 2 1 59

t1

t2

t3

tr-1

tr

t*

Timpul total de bun funcionare: T = t i + ( N0 r ) t *


i =1 r

b) ncercri trunchiate cu nlocuire dispozitivele defectate se nlocuiesc imediat dup producerea defeciunii. N N0* N0* -1 ... ... 3, N0*+3 2, N0*+2, N0*+r-1, N0+r 1, N0*+1,N0*+r-2 t1 t2 t3 Timpul total de bun funcionare: T = N0* t* Relaiile urmtoare sunt valabile pentru oricare din cele dou tipuri de ncercri trunchiate. Valoarea aproximativ a MTBF pentru eantion: ... tr-2 tr-1 tr t* t

T r

Limitele intervalului n care se afl valoarea MTBF pentru ntreaga populaie de dispozitive Relaiile prezentate n continuare sunt aplicabile n cazul n care dispozitivele se afl n perioada vieii utile, atunci cnd acioneaz legea exponenial. a) cazul intervalului centrat: m1c = 2T

2 2r + 2, 2
2T

, limita inferioar;

m2c =

2 2r ,1 2

, limita superioar,

unde este pragul de semnificaie; nivelul de ncredere este p = 1 - . b) cazul intervalului necentrat: m1n = 2T

2 ( 2r + 2, )
60

, limita inferioar;

m 2n =

2T

2 ( 2r ,1 )

, limita superioar.

6.4 NCERCRI SECVENIALE Scop: Se urmrete verificarea nivelului de fiabilitate al unor dispozitive pe baza MTBF. Caracteristica ncercrilor secveniale: n cazul ncercrilor secveniale se adopt iniial dou valori de referin pentru MTBF una inferioar, respectiv una superioar. La apariia fiecrui defect se compar timpul cumulat de funcionare nregistrat la eantionul studiat cu valorile corsepunztoare momentului respectiv calculate pe baza celor dou limite ale MTBF alese iniial. Dac timpul cumulat de bun funcionare nregistrat experimental este mai mare dect cel calculat corespunztor valorii superioare a MTBF, atunci produsele sunt acceptate; dac el este mai mic dect timpul calculat pentru valoarea inferioar a MTBF, produsele sunt declarate necorespunztoare. n cazul n care valoarea obinut experimental se afl ntre cele calculate, rezultatul este considerat neconcludent, iar testul se continu pn la producerea defeciunii urmtoare, cnd analiza se reia n acelai mod. Se iau n consideraie riscul productorului i al beneficiarului: - reprezint probabilitatea de respingere a unui dispozitiv corespunztor (riscul productorului); - 1 este probabilitatea de acceptare a unui dispozitiv corespunztor; - este probabilitatea de acceptare a unui dispozitiv necorespunztor (riscul beneficiarului); - 1 - este probabilitatea de respingere a unui dispozitiv necorespunztor. Se definesc: - Mi limita inferioar a MTBF; - Ms limita superioar a MTBF. Dac MTBF > Ms, dispozitivele sunt declarate corespunztoare; Dac MTBF < Mi, dispozitivele sunt declarate necorespunztoare. Se formuleaz ipotezele: H0 ipoteza potrivit creia m Ms, n care caz dispozitivele sunt acceptate; H1 ipoteza potrivit creia m Mi, n care caz dispozitivele se resping. Se noteaz: a= 1 >1 i b=

<1 1

Probabilitatea de producere a r defeciuni atunci cnd dispozitivele se afl n perioda vieii utile se determin cu ajutorul legii Poisson pentru cazul legii exponeniale: 1T Pr = e m r! m
r T

, n care:

T este timpul cumulat de funcionare pentru r dispozitive care s-au defectat; m MTBF. Pentru situaiile corespunztoare celor dou valori de referin ale MTBF rezult:

61

1 T Pri = r! Mi

Mi ; 1 T e Prs = r ! Ms
r 1 1 T

Ms ; e

Pri M s e Mi Ms . = Prs M i Acest raport se compar cu mrimile a i b definite anterior. Pri > a , se respinge H0 i se accept H1 (dispozitivele se resping). Dac Prs Pri < b , se respinge H1 i se accept H0 (dispozitivele sunt acceptate). Dac Prs Pri < a , se continu testul. Dac b < Prs Condiia de continuare a testului se mai poate scrie i sub forma: M M M s b < s e i M i Prin logaritmare se obine: 1 M 1 ln b < r ln s M M Mi i s r 1 1 T

<a.

T < ln a , sau 1 1 Ms 1 1 ln b + M M T < r ln M < ln a + M M s i s i i sub forma:

T , relaie ce poate fi scris i

1 1 1 1 M Ms M Ms ln b ln a + i T < r < + i T Ms Ms Ms Ms ln ln ln ln Mi Mi Mi Mi care reprezint ecuaiile a dou drepte ce delimiteaz trei domenii n planul graficului: A + B T < r < C + B T. Condiiile de acceptare sau respingere a dispozitivelor devin: - dac - dac T > T< 1 A r B B 1 C r B B , dispozitivele sunt acceptate; , dispozitivele se resping.

O reprezentare grafic a desfurrii unui astfel de test poate avea una din formele prezentate n figura urmtoare. T Dispozitivele se accept Test
(ipoteza H0 este valabil) neconcludent Dispozitivele sunt respinse (este valabil ipoteza H1)

62

1 2 3

4 5

6 7

8 9 10 11 12

63