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PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA

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INSTRUMENTACION Y MEDICIONES
UNIDAD 1 INSTRUMENTACIN Y MEDICIONES ANLOGICAS
1
CAPTULO 1 LA MEDICIN DE MAGNITUDES FSICAS
LECCIN 1 PATRONES Y MEDIDAS
La necesidad de medir es evidente en la mayora de las actividades tcnicas o
cientficas. Sin embargo, no interesa slo contar con medidas sino tambin
saber si dichas medidas son vlidas. Para ello debemos recordar la definicin
de medicin como el "proceso por el cual se asignan nmeros o smbolos a
atributos de entidades del mundo real de tal forma que los describa de acuerdo
con reglas claramente definidas"
1
. Por lo cual se debe concluir que toda
medicin debe asegurar una adecuada representacin del atributo real medido
mediante los smbolos o nmeros asignados.
A nivel cientfico para poder realizar una representacin adecuada de un
atributo real se desarrollan normas y estndares internacionales de medicin,
un ejemplo de ello es el sistema internacional de unidades (SI), para las
magnitudes fsicas.
El SI se estableci en Francia con el fin de solventar los dos grandes
inconvenientes que presentaban las mediciones:
1. Unidades con el mismo nombre variaban de una provincia a otra
2. Las subdivisiones de las diferentes medidas no eran decimales, lo cual
representaba grandes complicaciones para el clculo.
Se trataba de crear un sistema simple y nico de medidas que pudiese
reproducirse con exactitud en cualquier momento y en cualquier lugar, con
medios disponibles para cualquier persona.
En 1795 se instituy en Francia el Sistema Mtrico Decimal. En Espaa fue
declarado obligatorio en 1849.
El Sistema Mtrico se basa en la unidad "el metro" con mltiplos y submltiplos
decimales. Del metro se deriva el metro cuadrado, el metro cbico, y el
kilogramo que era la masa de un decmetro cbico de agua.
1
FENTON, N. & S. L. PFLEEGER (1997), SOFTWARE METRICS: A RIGOROUS AND PRACTICAL
APPROACH, SEGUNDA EDICIN, INTERNATIONAL THOMSON COMPUTER PRESS, PG. 5
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Actualmente las unidades del SI son la referencia internacional de las
indicaciones de los instrumentos de medida y a las que estn referidas a travs
de una cadena ininterrumpida de patrones de calibracin.
PATRONES DE MEDIDA
Un patrn de medida es una medida materializada, un instrumento de medida,
un material de referencia o un sistema de medida concebido para definir,
realizar, conservar o reproducir una unidad o uno o ms valores de una
magnitud, de modo que sirvan de referencia.
No existe un listado internacional que comprenda todos los patrones de medida
aunque, en el campo de la metrologa dimensional, s existe una clasificacin
ampliamente difundida de patrones e instrumentos, denominada DimVIM,
creada por el Grupo de Trabajo sobre Metrologa Dimensional (WGDM) del
Comit Consultivo de Longitud (CCL).
En cuanto a patrones de unidad de medida y de acuerdo al SI tenemos las
unidades de medidas bsicas en la tabla 1.
UNIDADES BSICAS
Magnitud Nombre Smbolo
Longitud metro
m
Masa kilogramo
kg
Tiempo segundo
s
Intensidad de corriente elctrica ampere
A
Temperatura termodinmica kelvin
K
Cantidad de sustancia mol
mol
Intensidad luminosa candela
cd
FUENTE: http://www.sc.ehu.es/sbweb/fisica/unidades/unidades/unidades.htm
TABLA 1. UNIDADES BSICAS
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El metro (m) el cual se define como la longitud del trayecto recorrido por la luz
en el vaco durante un intervalo de tiempo de 1/299 792 458 s. El metro se
realiza a nivel primario mediante la longitud de onda de un lser estabilizado de
helio-nen. En niveles inferiores se utilizan patrones materializados, como los
bloques patrn, asegurndose la trazabilidad mediante el empleo de
interferometra ptica para determinar la longitud de los bloques patrn con
referencia a la longitud de onda de la luz lser mencionada anteriormente.
El kilogramo (kg) es igual a la masa del prototipo internacional del kilogramo.
El segundo (s) el cual es igual a 9.192.631.770 perodos de radiacin
correspondiente a la transicin entre los dos niveles hiperfinos del estado
fundamental del istopo 133 del tomo de cesio (
133
Cs), medidos a 0 K.
El ampere (A) es la intensidad de una corriente constante que mantenindose
en dos conductores paralelos, rectilneos, de longitud infinita, de seccin
circular despreciable y situados a una distancia de un metro uno de otro en el
vaco, producira una fuerza igual a 210
-7
newton por metro de longitud
El kelvin (K), unidad de temperatura termodinmica, es la fraccin 1/273,16 de
la temperatura termodinmica del punto triple del agua.
El mol (mol) es la cantidad de sustancia de un sistema que contiene tantas
entidades elementales como tomos hay en 0,012 kilogramos de carbono 12
La candela (cd) es la unidad luminosa, en una direccin dada, de una fuente
que emite una radiacin monocromtica de frecuencia 54010
12
hertz y cuya
intensidad energtica en dicha direccin es 1/683 watt por estereorradin.
UNIDADES DERIVADAS ELCTRICAS
Las medidas elctricas mas utilizadas en el rea de la instrumentacin son las
descritas en la tabla 2.
Un hertz (Hz) es la frecuencia de un fenmeno peridico cuyo periodo es 1
segundo.
Un watt (W) es la potencia que da lugar a una produccin de energa igual a 1
joule por segundo.
Un coulomb (C) es la cantidad de electricidad transportada en 1 segundo por
una corriente de intensidad 1 ampere
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Un volt (V) es la diferencia de potencial elctrico que existe entre dos puntos
de un hilo conductor que transporta una corriente de intensidad constante de 1
ampere cuando la potencia disipada entre estos puntos es igual a 1 watt
Magnitud Nombre Smbolo Expresin en
otras
unidades SI
Expresin en
unidades SI
bsicas
Frecuencia hertz Hz s
-1
Potencia watt W Js
-1
m
2
kgs
-3
Cantidad de
electricidad
carga elctrica
coulomb C sA
Potencial elctrico
fuerza electromotriz
volt V WA
-1
m
2
kgs
-3
A
-1
Resistencia elctrica ohm W VA
-1
m
2
kgs
-3
A
-2
Capacidad elctrica farad F CV
-1
m
-2
kg
-1
s
4
A
2
Flujo magntico weber Wb Vs m
2
kgs
-2
A
-1
Induccin magntica tesla T Wbm
-2
kgs
-2
A
-1
Inductancia henry H WbA
-1
m
2
kg s
-2
A
-2
FUENTE: http://www.sc.ehu.es/sbweb/fisica/unidades/unidades/unidades.htm
TABLA 2. UNIDADES ELCTRICAS
Un ohm (W) es la resistencia elctrica que existe entre dos puntos de un
conductor cuando una diferencia de potencial constante de 1 volt aplicada entre
estos dos puntos produce, en dicho conductor, una corriente de intensidad 1
ampere, cuando no haya fuerza electromotriz en el conductor.
Un farad (F) es la capacidad de un condensador elctrico que entre sus
armaduras aparece una diferencia de potencial elctrico de 1 volt, cuando est
cargado con una cantidad de electricidad igual a 1 coulomb.
Un weber (Wb) es el flujo magntico que, al atravesar un circuito de una sola
espira produce en la misma una fuerza electromotriz de 1 volt, si se anula dicho
flujo en un segundo por decaimiento uniforme.
Una tesla (T) es la induccin magntica uniforme que, repartida normalmente
sobre una superficie de 1 metro cuadrado, produce a travs de esta superficie
un flujo magntico total de 1 weber
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Un henry o henrio (H) es la inductancia elctrica de un circuito cerrado en el
que se produce una fuerza electromotriz de 1 volt, cuando la corriente elctrica
que recorre el circuito vara uniformemente a razn de un ampere por segundo.
CLASIFICACIN DE LOS PATRONES DE MEDICIN
Los patrones de medicin se clasifican en:
Patrones Internacionales: los patrones internacionales estn definidos
por acuerdos internacionales como el sistema MKSA en donde los
patrones se encuentran en la oficina internacional de pesas y medidas y
no estn disponibles como instrumentos de comparacin.
Patrones Primarios: son los que representan las unidades
fundamentales y algunas unidades mecnicas y elctricas derivadas, se
calibran independientemente por medio de mediciones absolutas por
cada uno de los laboratorios nacionales y una de sus funciones es
calibrar y verificar los patrones secundarios.
Patrones Secundarios: son patrones bsicos de referencia que se
utilizan en los laboratorios industriales y la responsabilidad de
mantenimiento, calibracin y certificacin con respecto al primario
depende del laboratorio o empresa.
Patrones de Trabajo: son las herramientas principales del laboratorio
de medicin las cuales son utilizadas para verificar y calibrar la exactitud
del comportamiento de las mediciones efectuadas en las aplicaciones
industriales.
En la figura 1 se muestra la escala de patrones desde el internacional hasta
el de trabajo.
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FUENTE: www.cem.es/cem/es_es/metrologia/sme.pdf
FIGURA 1. CLASIFICACIN DE LOS PATRONES DE MEDICIN
LA TRAZABILIDAD EN LA MEDICIN
La trazabilidad es un conjunto de medidas, acciones y procedimientos que
permiten registrar e identificar cada producto desde su origen hasta su destino
final.
Consiste en la capacidad para reconstruir la historia, recorrido o aplicacin de
un determinado producto, identificando:
Origen de sus componentes.
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Historia de los procesos aplicados al producto.
Distribucin y localizacin despus de su entrega.
Al contar con esta informacin es posible entregar productos definidos a
mercados especficos, con la garanta de conocer con certeza el origen y la
historia del mismo. El concepto de trazabilidad est asociado, sin duda, a
procesos productivos modernos y productos de mayor calidad y valor para el
cliente final. Hoy en da existe la tecnologa que permite rastrear con precisin
el camino que recorre un producto en la cadena productiva y de
comercializacin.
LA METROLOGA
La Metrologa es, simplemente, la ciencia y arte de medir "bien". Como las
mediciones son importantes en prcticamente todos los procesos productivos,
su relevancia para la Calidad es evidente.
Medir "bien" no es slo medir con cuidado, o utilizando el procedimiento y los
instrumentos adecuados. Adems de lo anterior, se trata de que las
unidades de medida sean equivalentes, es decir, que cuando yo mido
por ejemplo 3,6 cm,"mis" centmetros sean los mismos que los de un francs,
coreano o eskimal.
Esto se asegura cuando cada pas tiene una infraestructura metrolgica,
compatible y ligada con las infraestructuras metrolgicas de otros pases,
consistente en la disponibilidad de laboratorios donde se pueda calibrar los
instrumentos de medicin. La compatibilidad entre pases se asegura
mediante intercomparaciones peridicas, en las cuales un determinado
patrn de medida es medido sucesivamente por los diferentes laboratorios.
LA CALIBRACIN
Es simplemente el procedimiento de comparacin entre lo que indica un
instrumento y lo que "debiera indicar" de acuerdo a un patrn de referencia
con valor conocido, Por ejemplo:
Valor de referencia = 1,08 mm, Valor indicado = 1,09 mm Dependiendo del
instrumento, a veces la calibracin incluye un preajuste, por ejemplo, del valor
cero.
Los resultados de la calibracin son informados en un documento llamado
Certificado de Calibracin. Hay dos formas de indicar los resultados:
- Como la correccin a aplicar, obtenida como Valor de referencia - Valor
indicado. Para el ejemplo anterior la correccin es -0,01 mm. - Como el error
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del instrumento: Valor indicado - Valor de referencia. Para el ejemplo anterior,
el error es 0,01 mm.
El laboratorio puede informar los resultados de cualquiera de las dos maneras,
siempre que al usuario le quede claro cul de los dos trminos es el informado.
A veces, la correccin es ms conveniente pues, cuando el instrumento est en
servicio, la correccin en el punto calibrado debe sumarse algebraicamente al
valor ledo (en vez de restar) para obtener el valor correcto.
PROCEDIMIENTOS DE REFERENCIA
La verificacin de la trazabilidad de los resultados de un mtodo analtico se
lleva a cabo mediante la comparacin con una referencia. Desde un punto de
vista metrolgico, la mejor referencia posible la constituye los mtodos
definitivos o absolutos. [RIU, 2001] Sin embargo, el hecho de que para ser
considerados como tales deban ser aplicados en rigurosas condiciones de
garantas de calidad, junto con su reducido mbito de aplicacin, hace que los
mtodos definitivos sean una referencia poco utilizada para verificar la
trazabilidad de los resultados analticos. Desde un punto de vista prctico, la
mejor referencia posible la constituyen los materiales de referencia certificados
(MRC), en ingls CRM (certified reference materials).
Antes de entrar en los materiales de referencia certificados, primero tenemos
que definir qu es un material de referencia (MR). Un material de referencia,
segn la gua ISO 30 [ISO, 1992], es un material o sustancia que tiene una o
varias de sus propiedades suficientemente bien establecidas para calibrar un
aparato o instrumento, validar un mtodo analtico, o asignar valores a un
material o sistema. Un material de referencia certificado [ISO, 1992], es un
material de referencia que tiene certificados uno o varios de sus valores de
una o ms de sus propiedades por procedimientos tcnicamente vlidos
llevados a cabo por un organismo competente. La principal diferencia entre un
MR y un MRC es el certificado asociado al MRC emitido por un organismo
competente. Veremos que no se trata nicamente de un certificado, sino que
este certificado garantiza que un MRC sea, desde un punto de vista prctico, la
mejor referencia posible en la verificacin de la trazabilidad de un mtodo
analtico.
PROPIEDADES DE LOS MATERIALES DE REFERENCIA CERTIFICADOS
Para que un cierto material pueda ser considerado como un MRC, tiene que
cumplir una serie de propiedades. Las ms importantes son:
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- Trazabilidad. El MRC debe ser trazable a patrones de referencia nacionales
o internacionales. Esto debe quedar perfectamente reflejado en el certificado
que aporte el organismo productor.
- Homogeneidad. ste es un requisito indispensable, y significa que un MRC
ha de presentar el mismo valor de la propiedad certificada dentro de una misma
unidad y entre todas las unidades del MRC.
- Estabilidad. El material debe ser estable durante las condiciones de envo, y
el usuario debe conocer durante cunto tiempo permanece estable el MRC
desde su recepcin y desde que se abre el recipiente [ISO, 2000a].
- Similitud con las muestras reales. El MRC ha de ser lo ms parecido
posible, tanto en la composicin de la matriz como en el valor de la propiedad a
determinar, a las muestras reales que sern posteriormente analizadas con
nuestro mtodo analtico.
- Incertidumbre. Los valores certificados de la propiedad deseada en el MRC
deben ir acompaados por sus valores de incertidumbre. El nivel de
incertidumbre asociado tambin informa de la calidad de un MRC en concreto.
Es importante que el usuario verifique que la incertidumbre del MRC sea
adecuada a sus necesidades.
En la Figura 1 aparecen como ejemplo los valores certificados, junto con la
incertidumbre asociada, de diversos aminocidos en el MRC 2387 del NIST,
correspondiente a mantequilla de cacahuete.
FUENTE: www.quimica.urv.es/quimio/general/crms.pdf
FIGURA 2. VALORES CERTIFICADOS DE DIVERSOS AMINOCIDOS EN EL MRC
2387 DEL NIST
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LECCIN 2 METROLOGA EN COLOMBIA
En Colombia la metrologa esta supervisada por la Superintendencia De
Industria Y Comercio. La Superintendencia de Industria y Comercio es una
entidad de carcter nacional adscrita al Ministerio de Comercio Industrial y
Turismo y tiene entre sus funciones la de acreditar y supervisar a los
organismos evaluadores de la conformidad OEC (organismos de certificacin,
inspeccin, laboratorios de ensayo y calibracin), que hacen parte del Sistema
Nacional de Normalizacin, Certificacin y Metrologa, de acuerdo con las
facultades conferidas en el numeral 16 del artculo 2 y 5 del artculo 17 del
Decreto 2153 de 1992 y el artculo 17 literal a) del Decreto 2269 de 1993.
La actividad de acreditacin en la Superintendencia de Industria y Comercio la
realiza la Delegatura de Proteccin al Consumidor a travs de la Divisin de
Normas Tcnicas de acuerdo a las funciones establecidas en la Resolucin
3483 de 2003.
Algunas de las funciones de la Superintendencia de Industria y Comercio son:
Vigilar y propender por el cumplimiento de todas las disposiciones que
dicte el Consejo Nacional de Normas y Calidades, relativas a Normas
Tcnicas y Control de Calidad, cuyo control le haya sido asignado a la
Superintendencia de Industria y Comercio;
Coordinar con la Oficina de Comunicaciones la divulgacin de las
normas tcnicas que dicte el Consejo Nacional de Normas y Calidades,
cuyo control y vigilancia haya sido asignado a la Superintendencia;
Elaborar los proyectos de resoluciones mediante los cuales se impongan
sanciones por violacin a las normas en las materias de su competencia;
Atender las consultas que se le formulen relativas a las reas de su
competencia;
Adoptar o reconocer el uso del sello oficial de calidad o marca nacional
de conformidad con normas tcnicas, de acuerdo con las disposiciones
que sobre el particular se expidan;
Acreditar la existencia y confiabilidad del control de calidad de los
productos sometidos a normas tcnicas colombianas oficiales y oficiales
obligatorias;
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LABORATORIO DE CORRIENTE CONTINA Y ALTERNA
El laboratorio maneja cinco (5) magnitudes: voltaje continuo, voltaje alterno,
corriente continua, corriente alterna y resistencia.
El laboratorio tiene tres (3) grupos de cuatro celdas de voltaje y un ltimo grupo
de cuatro (4) Zenners (Estado slido) que mantienen de forma muy estable el
valor de 1,018 V y 10 V (este ltimo valor solo para los zenners).
La trazabilidad se asegura en el exterior mediante la calibracin de uno de los
Zenners e internamente por mtodo de redundancia se comparan los dems
juegos de celdas y se realiza el tratamiento de los datos por el mtodo de
mnimos cuadrados.
Con la salida de 10 V que entregan los Zenners se calibran el multicalibrador
5720, para que este a su vez permita realizar las calibraciones tanto internas
como externas en voltaje y corriente contina. A su vez con las resistencias
que posee el laboratorio (una de 1 y otra de 10 k ) se da trazabilidad al
multicalibrador 5720 en la magnitud Resistencia.
Los servicios del laboratorio requieren generar corriente y voltaje
(multicalibrador 5720) y medir estas mismas magnitudes (Multmetro 8508/A),
estos dos equipos son la columna vertebral de la trazabilidad y de los servicios
del laboratorio.
FUENTE: http://www.sic.gov.co/metrologia/Electrica/Potencia.php
FIGURA 3. EQUIPOS UTILIZADOS EN LA MEDICIN DE CORRIENTE CONTINUA Y ALTERNA
LABORATORIO DE POTENCIA Y ENERGA ELCTRICA
El laboratorio presta servicios de calibracin a: patrones de energa, equipos
probadores de medidores de energa, vatmetros, medidores de ngulo,
cosenofmetros y realiza pruebas de aprobacin de modelo a medidores clase
2 segn normas NTC 5226 y NTC 2288.
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FUENTE: http://www.sic.gov.co/metrologia/Electrica/Potencia.php
FIGURA 4. EQUIPO DE MEDICIN DEL FACTOR DE POTENCIA
El laboratorio cuenta con tres (3) equipos patrn: un comparador ZERA COM
303 de potencia y energa con lmites de error de 0,01 %; un patrn ZERA TPZ
303 con lmites de error 0,02 % para factor de potencia uno (1,0) y 0,04 % para
factor de potencia 0,5 inductivo o capacitivo y un equipo probador de
medidores de energa ZERA ED 6726 utilizada como fuente y patrn para la
calibracin de vatmetros, medidores de ngulo y las pruebas de aprobacin de
modelo, en la figura 4 se puede observar un instrumento para la medicin del
factor de potencia.
La trazabilidad se asegura en el exterior mediante la calibracin del
comparador COM 303 en AC y la verificacin intermedia a nivel interno de su
base de tiempo y de los zenners del equipo en los laboratorios de tiempo y
frecuencia y corriente continua y alterna respectivamente.
El laboratorio ofrece la calibracin de los equipos probadores de medidores de
energa "en sitio" a solicitud del usuario, desplazando para ello, los equipos y el
personal necesarios para realizar de forma competente la calibracin de este
tipo de equipos.
LABORATORIOS DE TIEMPO Y FRECUENCIA
El laboratorio maneja dos (2) magnitudes: el tiempo y la frecuencia con la
magnitud elctrica de voltaje alterno.
El laboratorio tiene un resonador atmico de rubidio, un receptor GPS (Sistema
Global de Posicionamiento), un oscilador de cuarzo con cmara climatizada, un
contador de frecuencia y un generador de frecuencia con los cuales alcanza un
rango de 1,04 GHz en generacin y medicin.
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La trazabilidad se asegura con la recepcin del UTC (Tiempo Universal
Coordinado) por medio del receptor GPS, con la cual se realizan mediciones
diarias de fase y as determinar la desviacin y estabilidad de los resonadores
internos respecto al valor de tiempo internacional.
Segn el decreto 2153 de 1992, la Superintendencia de Industria y comercio
tiene la responsabilidad de mantener, coordinar y divulgar la hora legal de la
Repblica de Colombia. Esta labor la realiza gracias al mantenimiento de los
patrones expuestos y a sus medios de difusin actuales, que son emisin va
Internet en su pgina http://horalegal.sic.gov.co y por medio de la Universidad
nacional en su emisora radial UN radio 98.5 FM.
Con la salida de un pulso por segundo del GPS, se calibran tanto el oscilador
atmico de rubidio como el oscilador de cuarzo. El oscilador atmico de rubidio
se aplica como base de tiempo al contador y al generador para que funcionen
con la exactitud del oscilador, para que este a su vez permita realizar las
calibraciones tanto internas como externas en Tiempo y Frecuencia.
Los servicios del laboratorio requieren generar Frecuencia (Generador SMS-2)y
medir esta misma magnitud (Contador HP5345A), estos dos equipos son la
columna vertebral de la trazabilidad y de los servicios del laboratorio.
Algunos de los equipos utilizados se muestran en la figura 5.
FUENTE: http://www.sic.gov.co/metrologia/Electrica/Potencia.php
FIGURA 5. EQUIPOS PARA MEDICIN DEL TIEMPO EN COLOMBIA
LABORATORIO DE TRANSFORMADORES
En el rea de transformadores se encuentran equipos especializados para la
medicin de caractersticas propias de los transformadores tales como la
inductancia mutua.
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TABLAS Y SERVICIOS DE CALIBRACIN EN LOS LABORATORIOS DE
ELECTRICIDAD DE LA SUPERINTENDENCIA DE INDUSTRIA Y
COMERCIO.
En las tablas 3, 4, 5 y 6 estn representados los servicios que prestan los
laboratorios y los parmetros de calibracin utilizados para tal fin.
FUENTE: http://www.sic.gov.co/metrologia/Electrica/Potencia.php
TABLA 3. LABORATORIO DE CORRIENTE CONTINUA Y ALTERNA
FUENTE: http://www.sic.gov.co/metrologia/Electrica/Potencia.php
TABLA 4. LABORATORIO DE TRANSFORMADORES
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FUENTE: http://www.sic.gov.co/metrologia/Electrica/Potencia.php
TABLA 5. LABORATORIO DE TIEMPO Y FRECUENCIA
FUENTE: http://www.sic.gov.co/metrologia/Electrica/Potencia.php
TABLA 6. LABORATORIO DE POTENCIA Y ENERGA ELCTRICA
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SISTEMAS DE CALIDAD EN LABORATORIOS DE CALIBRACIN
BASADOS EN LA NORMA NTC-ISO-IEC-17025 (ISO/IEC 17025 1999)
Un laboratorio de metrologa debe tener los documentos pertinentes para
realizar calibraciones de instrumentos de medida, lo anterior con el fin de
cumplir con los numerales: 5.4 Mtodos de ensayo y calibracin y validacin de
mtodos y 5.10 Reporte de resultados, establecidos en la norma tcnica NTC-
ISO-IEC 17025, requisitos generales de competencia de laboratorios de
calibracin. Lo anterior se cumple, mediante el empleo de los siguientes
documentos: procedimientos, instructivos de trabajo, documentos tcnicos y
formatos.
ASPECTOS FUNDAMENTALES PARA LA CALIBRACIN DE
INSTRUMENTOS DE MEDIDA CON BASE EN LA NORMA NTC-ISOIEC-
17025
Requisitos obligatorios para todos los laboratorios.
Estos requisitos aplican en cualquier tipo de laboratorios, independientemente
del tipo de servicio (ensayo/calibracin), del nivel organizacional
(independientes o parte de otra organizacin), tamao (micro, pequea,
mediana o grande), y origen de recursos (pblicos o privados). No hay
exclusiones para estos requisitos, los cuales deben ser cubiertos por todos los
laboratorios. Ejemplos de estos requisitos:
Contar con una poltica de calidad;
Definir los objetivos de Calidad;
Procedimientos para el control de documentos.
La documentacin de los laboratorios se define de acuerdo a la pirmide de
documentacin de la norma ISO 10013, en la figura 6 se muestra la pirmide.
Manual de Calidad Norma ISO 17025
Un manual de calidad rene definiciones y caractersticas de procedimientos
en los laboratorios de calibracin, algunos de los tems que deben tener los
manuales de calidad son los siguientes:
General
Referencias
Condiciones y Definiciones
Requerimientos de Gestin
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Organizacin Error! Marcador no definido.
Sistema de Gestin
Control de Documentos
Revisin de Pedidos, Licitaciones y Contratos
Sub-Contratacin de Ensayos y Calibraciones
Atencin al Cliente
Quejas
Control de Trabajo de Ensayo y/o Calibracin No Conforme
Mejoras
Accin Correctiva
Accin Preventiva
Control de Registros
Auditorias Internas
Revisiones de Gestin
Requerimientos Tcnicos
General
Personal
Instalaciones y Condiciones Ambientales
Mtodos de Ensayo y Calibracin y Mtodo de Validacin
Equipos
Correlacin de Medidas
Muestras
Manejo y Transporte de Artculos de Ensayo y/o Calibracin
Acreditacin de la Calidad de los Resultados de Ensayo y Calibracin
Informe de Resultados
FUENTE: NORMA IS0-10013 LA DOCUMENTACIN DE SISTEMAS DE GESTIN DE LA CALIDAD
FIGURA 6. PIRAMIDE DE DOCUMENTOS ISO 10013
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LECCIN 3 CARACTERISTICAS ESTATICAS DE LOS SISTEMAS DE
MEDICIN
El comportamiento de de un instrumento de medida, en general, se puede
definir mediante la funcin de transferencia, que indica tanto el
comportamiento en rgimen esttico como dinmico. El primero corresponde a
la relacin entre la entrada y la salida cuando la entrada es constante o cuando
ha transcurrido un tiempo suficiente para que la salida haya alcanzado el valor
final o rgimen permanente. El segundo indica la evolucin del sistema hasta
que la salida alcanza el valor final ante una variacin en la entrada.
Una funcin de transferencia que recogiese con rigurosidad ambos
comportamientos resultara tremendamente compleja por lo que, en la prctica,
suelen estudiarse por separado mediante una serie de parmetros. En este
punto se estudiarn las principales caractersticas estticas.
Estamos suponiendo que la variable a medir no se ve afectada por el sistema
de medida. Esto no siempre es as, por ejemplo si medimos la temperatura de
un dispositivo mediante un mtodo que afecte a dicha temperatura, estamos
cometiendo un error en la medida. Por lo tanto adems de las caractersticas
estticas y dinmicas habr que considerar el efecto de carga que el mtodo
de medida introduce.
La curva de calibracin de un sistema de medida en general es la lnea que
une los puntos obtenidos aplicando sucesivos valores de la magnitud de
entrada e ir anotando los respectivos valores de salida. Los valores de entrada
se determinan con un sistema de medida de calidad superior al que se est
calibrando.
La sensibilidad (sensitivity) es la pendiente de la curva de calibracin. Interesa
que la sensibilidad sea alta y, si es posible, constante. Si esta es una recta la
sensibilidad es constante y se dice que es el sistema o sensor es lineal.
Lo importante no es tanto el que sea lineal (ya que se de no serlo se podra
linealizar) sino que la medida sea repetible, es decir, que a la misma entrada le
corresponda siempre la misma salida. En el ejemplo de la figura 7 se tiene una
respuesta lineal para valores de la variable de entrada menores que X0. Para
valores mayores que X0, la curva de calibracin se hace menos sensible hasta
que alcanza un valor lmite para la seal de salida. Este comportamiento se
conoce como saturacin, por lo que no sera adecuado su empleo para medir
valores mayores que su valor de saturacin. Es normal que los puntos no estn
localizados exactamente sobre la lnea, por el contrario, se localizarn a
cualquier lado de ella. La magnitud de las excursiones de los puntos a la lnea
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dibujada depender de la magnitud de los errores aleatorios de la medicin
que estn asociados con los datos.
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FIGURA 7. CURVA DE CALIBRACIN
Para definir la curva de calibracin adecuadamente se necesita como mnimo
indicar su forma y sus lmites. Estos ltimos se especifican con algunos de los
siguientes parmetros:
Campo o margen de medida (range): es el conjunto de valores comprendidos
entre los lmites superior e inferior entre los cuales de puede efectuar la
medida.
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FIGURA 8. MARGEN DE MEDIDA Y ALCANCE
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Alcance o fondo de escala (span, input full scale): es la diferencia entre los
valores mximo y mnimo de la variable que se pueden medir de forma fiable.
No confundir este trmino con el lmite superior de medida, ya que solo
coinciden si el lmite inferior es cero. Tambin se conoce como margen
dinmico, aunque, empleado en este contexto puede resultar algo confuso ya
que no describe una caracterstica dinmica.
Salida a fondo de escala (output full scale): es la diferencia entre las salidas
para los extremos del campo de medida.
Precisin (precisin): es el grado de concordancia entre los resultados.
Tambin se suele encontrar con el nombre de fidelidad. Una indicacin de la
precisin de una medida es mediante el nmero de cifras significativas con
las que se expresa un resultado. Por ejemplo si el valor de una tensin es de
5,0 V, el nmero de cifras significativo es dos. En el caso de un instrumento
digital se habla de nmero de dgitos significativos. En los clculos hay que
tener cuidado de no expresar el resultado con ms cifras significativas que las
de los nmeros empleados en dichos clculos.
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FIGURA 9. PRECISIN Y EXACTITUD
Exactitud (accuracy) es el grado de concordancia entre el valor exacto (real,
verdadero) de la entrada y el valor medido. Se suele expresar como un
porcentaje del fondo de escala. La exactitud nos est indicando el mximo error
que puede existir en la medicin, por lo que en realidad debera hablarse de
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inexactitud ms que de exactitud. En algunas ocasiones se utiliza, con el
mismo significado, la frase incertidumbre de la medicin.
Es frecuente or hablar indistintamente de precisin y exactitud, aunque, como
hemos visto, la diferencia entre ambos es bien significativa.
Los trminos repetibilidad y reproducibilidad tienen un significado muy
parecido, aunque se aplican en diferentes contextos.
Repetibilidad: se refiere grado de concordancia entre los resultados de
mediciones sucesivas del mismo mesurando, realizadas bajo las mismas
condiciones de medida.
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FIGURA 10. LA LINEALIDAD
Reproducibilidad: grado de concordancia entre los resultados de mediciones
sucesivas del mismo mesurando, realizadas bajo diferentes condiciones de
medida. Las medidas pueden realizarse a largo plazo o por personas distintas
o con distintos aparatos o en distintos laboratorios.
Las caractersticas anteriores se definen cuantitativamente, como el valor por
debajo del cual se encuentra, con una probabilidad especificada, el valor
absoluto de la diferencia entre dos resultados individuales obtenidos en las
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condiciones anteriores. Si no se dice lo contrario, la probabilidad que se toma
es del 95%.
Resulta deseable que la lectura de salida de un instrumento sea linealmente
proporcional a la cantidad que se mide. La linealidad se define como la
mxima desviacin de la curva de calibracin con respecto a una lnea recta
determinada por la que se ha aproximado. Habitualmente se suele expresar en
forma porcentual con respecto al alcance. Tambin se conoce como no
linealidad o error de linealidad.
La linealidad expresa hasta que punto es constante la sensibilidad del sensor.
El inters de la linealidad est en que la conversin lectura-valor medido es
ms fcil si la sensibilidad es constante, pues entonces basta multiplicar la
indicacin de salida por un factor constante para conocer el valor de la entrada.
Actualmente, con la posibilidad de incorporar un microprocesador en los
sistemas de medida, interesa ms la repetibilidad que la linealidad, pues
siempre es posible crear una tabla conteniendo los valores de entrada que
correspondan a los valores de salida detectados. Mediante una interpolacin
adecuada, es posible reducir el tamao de dicha tabla.
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FIGURA 11. LAS LINEALIDADES
Segn que lnea recta que se utilice para aproximar la curva de calibracin se
habla de:
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Linealidad independiente: la lnea de referencia se define por el mtodo de
los mnimos cuadrados. De esta forma el mximo error positivo y el mnimo
error negativo son iguales. Es la forma de especificacin que suele dar mejor
resultados.
Linealidad ajustada al cero: la recta se define tambin por el mtodo de los
mnimos cuadrados, pero con la restriccin adicional de pasar por cero.
Linealidad terminal: la recta se define por la salida sin entrada y la salida
terica mxima, correspondiente a la mayor entrada admitida.
Linealidad a travs de los extremos: la recta se define mediante la salida real
cuando la entrada es la menor del alcance especificado, y la salida real cuando
la entrada es la mxima del alcance especificado.
Los principales factores que influyen en la linealidad son: la resolucin, el
umbral y la histresis:
Linealidad independiente: la lnea de referencia se define por el mtodo de
los mnimos cuadrados. De esta forma el mximo error positivo y el mnimo
error negativo son iguales. Es la forma de especificacin que suele dar mejor
resultados.
Linealidad ajustada al cero: la recta se define tambin por el mtodo de los
mnimos cuadrados, pero con la restriccin adicional de pasar por cero.
Linealidad terminal: la recta se define por la salida sin entrada y la salida
terica mxima, correspondiente a la mayor entrada admitida.
Linealidad a travs de los extremos: la recta se define mediante la salida real
cuando la entrada es la menor del alcance especificado, y la salida real cuando
la entrada es la mxima del alcance especificado.
Los principales factores que influyen en la linealidad son: la resolucin, el
umbral y la histresis
La resolucin de un dispositivo es el mnimo incremento de la entrada que
ofrece un cambio medible en la salida. Se suele expresar como un valor en
tanto por ciento sobre el fondo de escala. Cuando el incremento de la entrada
se produce a partir de cero, se habla de umbral. En los sensores con formato
de salida digital la resolucin se expresa en bits. En los instrumentos con salida
digital la resolucin puede expresarse como dgitos o nmero de cuentas. Por
ejemplo un multmetro de 4 dgitos tiene una resolucin de 1 parte en 20000
cuentas (00000 a 19999). La terminologa dgito significa que el dgito ms
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significante tiene menor valor que un rango completo de 0 a 9. Como norma
general dgito significa que el dgito ms significativo puede tener los valores
0 1. La resolucin de un sensor, no es en general, un factor limitante en
aplicaciones industriales, por cuanto siempre es posible disponer de una etapa
amplificadora de forma que se puedan percibir pequeos cambios de la
entrada. El factor ltimo que limita la resolucin es el ruido elctrico.
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FIGURA 12. RESOLUCIN
La histresis se define como la mxima diferencia en la medida dependiendo
del sentido en el que se ha alcanzado. Las causas tpicas de histresis son la
friccin y cambios estructurales en los materiales.
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FIGURA 13. CICLO DE HISTERESIS
LECCIN 4 ERRORES Y TIPOS DE ERRORES EN LA MEDICIN
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Un principio bsico de todo sistema de instrumentacin electrnica es el de
medir una magnitud con el mnimo error posible. Sin embargo, siempre existe
un grado de incertidumbre puesto que es imposible realizar una medicin sin
modificar en mayor o en menor grado aquello que se mide. Adems, las
variables incontroladas, entre ellas el ambiente, el envejecimiento de los
componentes, el ruido, etc., aaden nuevos errores. Distinguiremos tres tipos
de errores en la medida de la magnitud fsica:
Aberrantes: suelen deberse a defectos en los aparatos de medida o a
equivocaciones del observador al leer o escribir las indicaciones de aquellos, o
a variaciones bruscas en las condiciones en que se mide. Los resultados de las
mediciones correspondientes a estos errores deben rechazarse.
Sistemticos: son aquellos que si la misma magnitud se mide muchas veces,
se mantienen constantes o varan segn una ley determinada. En los errores
sistemticos se incluyen los errores metdicos y los instrumentales. Los
primeros son ocasionados por defectos del mtodo de medicin que se utiliza o
por la inexactitud en la frmula de clculo. Los errores instrumentales son
debidos a la imperfeccin del diseo y a la inexactitud en la fabricacin de los
aparatos de medida.
Aleatorios o accidentales: aquellos cuya magnitud absoluta o signo varan al
medir muchas veces una misma magnitud fsica. Se deben a variaciones
imprevisibles en el proceso de medida, tanto en las condiciones fsicas
(temperatura, presin, humedad, etc.) como en el comportamiento del
experimentador (equivocaciones en la toma de datos, etc.). La mejor
estimacin del valor medido es el valor medio. Se puede reducir su influencia
repitiendo muchas veces las mediciones, producindose una compensacin
parcial de los errores.
Efecto de carga del circuito de medicin. La transferencia de tensin o de
corriente de un sistema ha otro debe hacerse sin prdida de informacin. Sin
embargo el valor de la impedancia de salida de la seal y la impedancia de
entrada del sistema dan lugar a una atenuacin de la seal.
Proceso de medicin. El proceso de medicin perturbar siempre al sistema
que se est midiendo. La magnitud de la perturbacin vara de un sistema de
medicin a otro, y se ve afectada especialmente por el tipo de instrumento de
medicin que se utiliza.
Condiciones ambientales. Las caractersticas estticas y dinmicas se
especifican para condiciones ambientales particulares, p.e. de temperatura y
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presin. La magnitud de esta variacin se cuantifica por medio de la deriva de
la sensibilidad y la deriva del cero (offset).
Ruido peridico. Este ruido es provocado por la interferencia que produce la
proximidad del sistema de medicin a equipos o cables que conducen la
corriente y se alimentan de la red elctrica.
Envejecimiento. La aparicin de errores sistemticos despus de cierto
perodo de tiempo es absolutamente normal, esto se debe al envejecimiento de
los componentes del instrumento. Se requiere una recalibracin.
Puntas de prueba. Es importante que tengan la seccin transversal
adecuada para minimizar su resistencia, e incluir el blindaje adecuado en caso
de que se sometan a la accin de campos elctricos y magnticos que puedan
inducir seales de ruido en ellas.
F.e.m. trmica. Siempre que se conectan dos metales diferentes se genera
una f.e.m. trmica que vara de acuerdo con la temperatura de la unin (efecto
termoelctrico). Estas f.e.m trmicas son de unos cuantos mV y, por ello, su
efecto ser significativo siempre que las seales de medicin tengan una
magnitud similar.
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FIGURA 14. RUIDO INTERNO E INTERFERENCIAS ELECTROMAGNETICAS
La consecuencia final de la presencia de errores de uno u otro tipo, o de
ambos, es una discrepancia entre el resultado de la medida y el verdadero
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valor absoluto. La diferencia entre ambas cantidades se denomina error
absoluto.
Algunas veces se da en forma de porcentaje respecto al valor mximo de la
lectura que puede dar el instrumento en la escala considerada. Se habla
entonces de errores a fondo de escala. En cambio, el cociente entre el error
absoluto y el verdadero valor de la magnitud medida se denomina error relativo,
y suele expresarse en tanto por ciento.
Para poder comparar entre si distintos sensores (o instrumentos de medida) en
cuanto a su exactitud, se introduce la denominada clase de precisin. Todos
los sensores de una misma clase tienen un error en la medida, dentro de su
alcance nominal y en unas condiciones establecidas, que no supera un valor
concreto, denominado ndice de clase. Este error de medida porcentual
referido aun valor convencional que es el valor superior de dicho alcance.
FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/
FIGURA 15. MAGNITUDES DEL ERROR
Como hemos dicho los errores aleatorios son debidos a variaciones
impredecibles en el sistema de medida. Se pueden reducir calculando el valor
medio de un nmero repetido de medidas. El grado de confianza en valor
medio calculado puede ser cuantificado calculando la desviacin estndar o la
varianza de los datos.
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FIGURA 16. ANALISIS ESTADISTICO DE LA MEDIDAS
En realidad en la frmula matemtica de la varianza aparece n en lugar de (n-
1). Esta diferencia se debe a que la definicin matemtica corresponde a un
conjunto infinito de datos, en tanto que el caso de las mediciones siempre
estamos interesados en conjuntos de datos finitos, por lo que el empleo de (n-
1) en el denominador produce un valor de la desviacin estndar que
estadsticamente es ms cercano al valor correcto.
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FIGURA 17. DISTRIBUCIN NORMAL DE UNA MEDIDA
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La mayor parte de los conjuntos de datos de medicin se ajustan a una curva
de distribucin normal o gaussiana debido a que, si los errores son realmente
aleatorios, ocurren pequeas desviaciones del valor de la media mucho ms a
menudo que las desviaciones mayores, es decir, el nmero de errores
pequeos es mucho ms grande que el de los grandes. Se puede demostrar
que para una distribucin normal, el 68% de las mediciones tienen errores que
se encuentran dentro de los lmites de , el 95,4% dentro del lmite de error
2 y el 99,7% de las medidas en el 3 .
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FIGURA 18. ERROR TOTAL
Si una medida est afectada tanto por errores sistemticos como aleatorios que
son cuantificados como a (errores sistemticos) y b (errores aleatorios), se
requiere alguna forma de expresar el efecto combinado de ambos tipos de
errores. Una forma es sumar los dos componentes del error, con lo que el error
total sera e=(a+b). Con esta forma de proceder los resultados pueden ser
muy conservadores. Es ms habitual expresar el error como una suma
cuadrtica:
Se est suponiendo que las fuentes de error son independientes, cosa que no
siempre es cierta.
El nmero de dgitos o cifras significativas que debemos emplear para
representar el valor de una magnitud fsica, as como su error, viene
condicionado por la precisin con que es conocida. La medida y el error
absoluto se redondean de acuerdo con las siguientes reglas figura 19.
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FIGURA 18. REGLAS DE LOS ERRORES
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FIGURA 19. ERRORES EN LAS MEDIDAS INDIRECTAS
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Llamamos medida indirecta a aquella que obtenemos a partir de otras medidas,
directas o indirectas mediante alguna expresin matemtica. En general, sea la
magnitud fsica y, que depende de n magnitudes x1, x2, ,xn: y = f(x1, x2, ,xn).
De cada una de estas magnitudes, xi, conocemos su valor medio y su error
absoluto, xi = xm xi. El valor medio de la medida indirecta es: ym = f(x1m, x2m,
,xnm). El error absoluto se obtiene diferenciando la funcin. Si los errores son
suficientemente pequeos, se pueden sustituir las diferenciales por
incrementos, obtenindose:
y, x1, x2, son los errores absolutos de las medidas. Las derivadas
parciales se calculan en los puntos xi = xim y se toman en mdulos para que
todos los errores se sumen.
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LECCIN 5 MEDICIN DE LAS SEALES ELCTRICAS
La instrumentacin electrnica se encarga de la captacin y medida de
magnitudes fsicas. La informacin (datos) de una determinada magnitud fsica
se denomina variable. Cuando esta informacin es de naturaleza elctrica, la
variable se denomina seal. Las seales pueden ser clasificadas atendiendo a
diferentes criterios:
Seales analgicas: no tienen cuantificacin en el parmetro de informacin.
Seales discretas: debido a la cuantificacin, la informacin solo puede tomar
un nmero finito de valores.
En las seales dependientes del tiempo, el parmetro de informacin puede
cambiar en cualquier instante (seales continuas) o bien los cambios solo son
posibles en instantes de tiempo discretos, debido a la cuantificacin de tiempo.
Un caso de especial importancia son las seales binarias, las cuales solo
pueden tomar dos valores de amplitud discretos, 0 y 1.
Las seales digitales solo pueden tomar dos valores de amplitud discretos en
instantes concretos.
Seales deterministas: se conoce el comportamiento completo de la seal,
incluso su comportamiento futuro. Por ejemplo seales de test como la funcin
impulso o la funcin escaln.
Seales no deterministas: se desconoce su comportamiento. Si son descritas
por una distribucin de probabilidad, se denominan seales estocsticas.
Segn la configuracin de los terminales de la seal, estn pueden ser:
Unipolares: se tienen entre un terminal y otro de referencia. El terminal de
referencia puede estar conectado a tierra o ser independiente de tierra (seal
unipolar flotante). Si entre el terminal de referencia y tierra existe una tensin
se dice que es una tensin en modo comn y no se puede conectar a tierra
ninguno de los terminales de la seal; la impedancia equivalente del generador
de modo comn puede tener valores muy dispares segn el caso.
Un termopar conectado a la carcasa de una turbina de vapor para medir la
temperatura ofrece una seal unipolar puesta a tierra por estarlo la turbina. El
mismo termopar pero encerrado dentro de una vaina de acero y aislado de ella
ofrece una seal, en principio, flotante. Si en vez de estar montado sobre la
turbina lo est sobre un cable de alta tensin, esta tensin aparece en modo
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comn a los terminales del termopar, y en serie con una impedancia (alta)
determinada por el acoplamiento capacitivo entre el cable y tierra.
FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/
FIGURA 19. TIPOS DE SEALES
Bipolares o diferenciales: se tienen entre dos terminales que son
independientes del terminal de referencia, el cual puede estar o no conectado a
tierra. La impedancia entre cada uno de los dos terminales de seal y el de
tierra es similar. La polaridad con que se tomen las seales es irrelevante: solo
cambia el signo. Hay tambin tres posibilidades: seal diferencial puesta a
tierra, flotante o con tensin de modo comn, que es lo ms frecuente.
El punto de referencia para las seales flotantes, o uno cualquiera de los
terminales de seal, puede conectarse a tierra; para las seales con tensin de
modo comn, no se puede conectar a tierra ningn terminal, ni siquiera el de
referencia. Se puede, sin embargo, invertir la polaridad de la salida. Las
seales diferenciales se distinguen porque las diferencias de potencial
respectivas entre cada terminal y el de referencia varan simultneamente en la
misma magnitud pero en sentido opuesto. Sin embargo, muchas veces se
emplea un circuito equivalente como el de la figura inferior derecha, donde esta
propiedad no queda patente; obsrvese que aqu el terminal C no coincide con
el punto C de la figura inferior izquierda. Obviamente, mientras una seal
unipolar puede darse con dos terminales, una seal diferencial necesita
siempre al menos tres terminales para su representacin: alto (A), bajo (B) y
comn (C).
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FIGURA 20. SEALES UNIPOLARES
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FIGURA 21. SEALES DIFERENCIALES
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Las seales se pueden clasificar tambin atendiendo al valor de su impedancia
de salida, Z0. Si lo que se quiere medir es una tensin se puede ver con
facilidad que la impedancia de entrada del dispositivo de medida Zi debe ser
mucho mayor que la de salida, sino se quiere que la seal resulte atenuada. En
cambio si lo que se desea medir es una corriente la situacin es la contraria: la
impedancia de entrada ha de ser mucho menor que la de salida de la seal. Si
lo que se desea es transmitir la mxima potencia de un elemento al siguiente y
como suele ser habitual las impedancias son resistivas, la resistencia de
entrada y de salida deben ser iguales (teorema de la mxima transferencia de
energa).
FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/
FIGURA 22. SEALES DE ALTA Y BAJA IMPEDANCIA DE SALIDA
EJEMPLO DE UNA SEAL DIFERENCIAL - EL ENLACE RS-485
El enlace RS-485 es, en realidad, una simplificacin del enlace RS-422
empleando un nico par trenzado para un enlace XON-XOFF (Son enlaces en
los que existe solo lneas de datos y a lo sumo una lnea de cero de seal.),
semidplex. Desde el punto de vista fsico, el hecho de que el enlace sea
semidplex permite utilizar una sola lnea de transmisin para transmitir y
recibir los datos, aunque requiere un software de control de enlace (Nivel OSI
2) que haga conmutar la lnea segn que el terminal deba transmitir o recibir
datos, el esquema del principio del enlace puede verse en la figura 1, donde se
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han dibujado deliberadamente en el interior de cada terminal un transmisor y
receptor anlogo.
FUENTE: AUTOMATAS PROGRAMABLES
Joseph Balcells Jos Lus Romeral
FIGURA 23. RS -485: ENLACE PUNTO A PUNTO RS- 485
Las caractersticas del enlace en cuanto a niveles lgicos, distancias mximas
y velocidades de transmisin en enlaces punto a punto son:
Niveles de tensin: 5 y 6 V a circuito abierto, para el nivel lgico uno y 0V
para el nivel lgico cero.
Distancias: 1200 a 1500 m
Tasa de Transmisin: 2400 a 19200 baudios.
El enlace RS-485 admite y suele emplearse en una topologa en bus segn
muestra la figura 2, obsrvese que la topologa no implica que el enlace lgico
no pueda ser de tipo anillo, estrella u otro.
En la conexin en red, el nmero mximo de terminales conectados suele estar
limitado a 32 por razones de carga; sin embargo puede admitirse un nmero
mayor de terminales o mayores distancias de enlace utilizando repetidores o
amplificadores de bus.
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FUENTE: AUTOMATAS PROGRAMABLES
Joseph Balcells Jos Lus Romeral
FIGURA 24. ENLACE DE RED MEDIANTE EL BUS RS- 485
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CAPTULO 2 TEORA DE LOS CIRCUITOS DE MEDICIN
ANLOGA
LECCIN 1 SENSORES Y TRANSDUCTORES
Un transductor es un dispositivo capaz de transformar o convertir un
determinado tipo de energa de entrada, en otra diferente de salida. El nombre
del transductor ya nos indica cual es la transformacin que realiza, aunque no
necesariamente la direccin de la misma. Es un dispositivo usado
principalmente en las ciencias elctricas para obtener la informacin de
entornos fsicos y conseguir (a partir de esta informacin) seales o impulsos
elctricos o viceversa.
Un sensor es un dispositivo que detecta, o sensa manifestaciones de
cualidades o fenmenos fsicos, como la energa, velocidad, aceleracin,
tamao, cantidad, etc. Podemos decir tambin que es un dispositivo que
aprovecha una de sus propiedades con el fin de adaptar la seal que mide para
que la pueda interpretar otro elemento. Como por ejemplo el termmetro de
mercurio que aprovecha la propiedad que posee el mercurio de dilatarse o
contraerse por la accin de la temperatura. Muchos de los sensores son
elctricos o electrnicos, aunque existen otros tipos.
Un sensor es un tipo de transductor que transforma la magnitud que se quiere
medir, en otra, que facilita su medida. Pueden ser de indicacin directa (e.g.
un termmetro de mercurio) o pueden estar conectados a un indicador
(posiblemente a travs de un convertidor analgico a digital, un computador y
un display) de modo que los valores sensados puedan ser ledos por un
humano.
Los sensores se pueden clasificar atendiendo a diversos criterios:
a) Segn el aporte de energa
Activos: necesitan para su funcionamiento de una fuente de energa auxilia
(p.eJ termistores). Se empelan principalmente para medir seales dbiles. Su
sensibilidad se puede modificar a travs de la seal de alimentacin.
Pasivos: no requieren la presencia de una fuente de energa auxiliar para
funcionar. Por ejemplo los termopares producen directamente una tensin de
salida proporcional a la temperatura.
b) Segn la magnitud medida: sensores de temperatura, presin, caudal,
humedad, posicin, velocidad, aceleracin, fuerza, par, etc. Esta clasificacin
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es la ms extendida en los libros de instrumentacin. Sin embargo tiene el
inconveniente de la gran variedad de sensores.
c) Segn el parmetro variable: resistivos, capacitivos, inductivos,
magnticos, pticos, etc. Segn este criterio se reduce el nmero de tipos de
sensores. Adems los sensores de un mismo parmetro variable suelen
compartir la circuitera de acondicionamiento.
FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/
FIGURA 25. SESORES TPICOS
UN TRANSDUCTOR UTILIZADO PARA LA MEDICIN
EL GALVANOMETRO DE DARSONVAL
La base del funcionamiento del galvanmetro se aplica a instrumentos
modernos de medicin; la estructura fundamental del galvanmetro de
DArsonval consta de un mecanismo de bobina mvil e imn permanente
(PMMC), como se muestra en la figura 26.
Tal como se observa en la figura el galvanmetro consta de un imn
permanente con forma de herradura el cual tiene una bobina suspendida en el
campo magntico. La ubicacin de la bobina es tal que cuando fluya una
corriente por la bobina se desarrolle un par electromagntico (EM), y esta
pueda girar libremente. Se cuenta adems con unos resortes de control
sujetos a la bobina mvil; el par magntico de estos resortes contrarrestan el
par electromagntico de la bobina.
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En el momento en que se tenga el equilibrio de los 2 pares, una aguja de
deflexin nos indicar con respecto a una referencia fija la posicin de la
bobina mvil. La referencia fija que se toma se conoce como escala.
El par desarrollado se expresa entonces por:
T = B x A x I x N
Donde:
T = par (Newton - metro N-m)
B = densidad de flujo en el entrehierro [Webers / metro cuadrado (teslas)]
A = rea efectiva de la bobina (m)
I = corriente en la bobina mvil [ampere (A)]
N = nmero de vueltas de alambre en la bobina
FUENTE: COOPER, HELFRICK, INSTRUMENTACIN ELECTRNICA MODERNA Y TCNICAS DE MEDICIN,
PRENTICE HALL.
FIGURA 26. EL MOVIMIENTO DE DARSONVAL
El par que se desarrolla ser directamente proporcional a la densidad de la
bobina, el rea de la bobina y el nmero de vueltas, estos tres elementos son
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constantes para cada instrumento en particular, se tiene entonces que el par
nos indicara en forma directa la corriente en la bobina.
Mecanismos de amortiguamiento
1. Amortiguamiento mecnico: es causado por el movimiento de la bobina
a travs del aire que la rodea. Tambin se produce por la friccin del
movimiento en los cojinetes y la flexin de los resortes de suspensin.
2. Amortiguamiento electromagntico: es producido por los efectos
inducidos en una bobina mvil a medida que gira en el campo
magntico, teniendo en cuenta que la bobina forma parte de un circulo
elctrico cerrado.
Los galvanmetros pueden ser amortiguados al conectar una resistencia a
travs de una bobina. Al girar la bobina en el campo magntico, se genera
un voltaje entre sus terminales, producindose entonces una corriente que
circula a travs de la bobina y la resistencia externa. Ocasionando un par
opuesto y retardador que amortigua el movimiento del elemento mvil. Esta
resistencia se denomina resistencia externa de amortiguamiento crtico
(CRDX). Al tener un menor valor de esta resistencia, mayor ser el par de
amortiguamiento.
EL MOVIMENTO DE DARSONVAL
El movimiento del mecanismo de bobina mvil e imn permanente (PMMC),
es el movimiento de DArsonval.
El instrumento de la figura 1 est formado por un imn permanente en forma de
herradura, unido a el se tiene piezas polares de hierro dulce, la funcin de
estas piezas es proveer un campo magntico uniforme. La aguja que esta
sujeta a la bobina nos indicar la deflexin angular (por consiguiente la
corriente que circula por la bobina).
El instrumento cuenta adems con dos resortes conductores de fsforo
bronce cuyo comportamiento constante mantiene la exactitud del instrument.
Al aplicar una corriente alterna de frecuencia baja, la deflexin de la aguja
subir en la escala durante medio ciclo de la onda de entrada y bajar (en
direccin opuesta), en el otro medio ciclo. A una frecuencia ms alta, la aguja
no podr seguir las variaciones rpidas en su direccin y vibrara ligeramente
alrededor del cero, buscando el valor promedio de la seal alterna (que es igual
a cero). El instrumento ser entonces ineficiente para medida de frecuencias
altas, solo ser til si se rectifica la corriente antes de aplicar a la bobina.
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El desarrollo de nuevos materiales magnticos permite tener imanes que sirven
como ncleo los cuales son insensibles a campos magnticos externos,
suprimiendo los efectos de interferencia magntica.
En aplicaciones donde varios instrumentos estn en espacios reducidos se
emplea el auto blindaje en los ncleos magnticos.
FUENTE: COOPER, HELFRICK, INSTRUMENTACIN ELECTRNICA MODERNA Y TCNICAS DE MEDICIN,
PRENTICE HALL.
FIGURA 27. EL GALVANOMETRO DE DARSONVAL
Suspensin banda tensada
Normalmente era usado en laboratorios, principalmente, donde era necesaria
una alta sensibilidad, se buscaba reducir al mximo la friccin entre los pivotes
y joyas. En esta configuracin el galvanmetro de suspensin debe ser usado
en posicin vertical, si se tiene una desviacin en los ligamentos de bajo par, el
sistema movi podrid hacer contacto con elementos estticos del mecanismo
en cualquier otra posicin. Los instrumentos de suspensin banda-tensada se
pueden construir con mayor sensibilidad que los que usan pivotes y joyas,
tienen adems la ventaja de ser insensibles a golpes y temperaturas., y
soportan mayores sobrecargas.
LECCIN 2 EL AMPERIMETRO DE CORRIENTE DIRECTA (DC)
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EL RESISTOR DE DERIVACIN
El devanado que tiene la bobina en el galvanmetro es de tamao limitado, por
tal razn puede conducir entonces solo corrientes muy pequeas. Para
corrientes mayores se necesita desviar la mayora de la corriente por una
resistencia conocida como de derivacin.
FUENTE: COOPER, HELFRICK, INSTRUMENTACIN ELECTRNICA MODERNA Y TCNICAS DE MEDICIN,
PRENTICE HALL.
FIGURA 27. AMPERMETRO DE CD CON RESISTENCIA DE DERIVACIN
De la figura:
Rm: Resistencia interna de la bobina
Rs = Resistencia de derivacin
Im = corriente de deflexin a plena escala del movimiento
Is = corriente de derivacin
I = corriente a plena escala del ampermetro incluyendo la de derivacin
Esta resistencia puede consistir de un alambre de resistencia o puede ser una
derivacin externa (manganina o costantain) con una resistencia muy baja.
Normalmente se emplean derivadores externos de este tipo para medir
corrientes muy grandes.
El diseo de un ampermetro DC capaz de medir corrientes dentro de un rango
especfico, se basa en la utilizacin de un divisor de corriente, como el
mostrado en la Figura 28
En el nodo A la corriente i se divide en dos: i1 e i2. Por ley de Kirchhoff se tiene
que cumplir:
i = i1 +i2
Adems
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VAB = i1R1 = i2R2
FUENTE: www.labc.usb.ve/mgimenez/lab_circ_electronicos_guia_teorica/cap6.pdf
FIGURA 28. DIVISOR DE CORRIENTE
De las dos ecuaciones anteriores podemos deducir las siguientes relaciones:
Vamos a aplicar este principio a nuestro diseo. Supongamos que disponemos
de un galvanmetro cuya corriente mxima es Im y cuya resistencia interna es
Ri, y queremos construir con l, un ampermetro capaz de medir una corriente
I, donde I>Im. Si colocamos el galvanmetro en una de las ramas de un divisor
de corriente, obtenemos la configuracin mostrada en la Figura 29.
FUENTE: www.labc.usb.ve/mgimenez/lab_circ_electronicos_guia_teorica/cap6.pdf
FIGURA 29. GALVANOMETRO EN DIVISOR DE CORRIENTE
Donde:
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Por lo tanto:
Para disear un ampermetro capaz de medir corrientes entre 0 e I Amp. A
partir de un galvanmetro cuya corriente mxima es Im y cuya resistencia
interna es Ri, conectamos en paralelo con dicho dispositivo una resistencia de
valor R1, calculado de tal forma que cuando la corriente incidente en el
instrumento sea I, la que circule por el galvanmetro sea Im. Con esto
obtenemos un instrumento cuya corriente mxima es I y cuya resistencia
interna es Ri en paralelo con R1.
Forma de conexin
Para que un ampermetro DC indique el valor de una corriente, debe circular
por l dicha corriente, por lo tanto debemos conectar el ampermetro en serie
dentro del circuito en el que deseamos realizar la medicin, con la polaridad
correcta. Por ejemplo, si queremos determinar la corriente que circula por el
circuito mostrado en la Figura 30, debemos conectar el ampermetro de la
forma indicada en la Figura 31. Antes de conectar un ampermetro en un
circuito debemos estimar el valor aproximado de la corriente que circula por el
mismo, ya que en caso de que sta sea superior a la mxima corriente que
puede detectar el instrumento, podemos daarlo.
FUENTE: www.labc.usb.ve/mgimenez/lab_circ_electronicos_guia_teorica/cap6.pdf
FIGURA 30. CIRCUITO BAJO MEDICIN
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FUENTE: www.labc.usb.ve/mgimenez/lab_circ_electronicos_guia_teorica/cap6.pdf
FIGURA 31. CONEXIN DEL AMPERMETRO EN EL CIRCUITO BAJO MEDICIN
Otro factor que debemos tener en cuenta al conectar un ampermetro es el
valor de su resistencia interna. Si dicho valor es comparable o mayor que el de
las resistencias del circuito, la introduccin del instrumento altera en forma
apreciable el valor de la resistencia total y por lo tanto el de la corriente, por lo
que la medida realizada de esta forma se aleja mucho del valor que tena la
corriente antes de introducir el instrumento en el circuito.
FUENTE: www.labc.usb.ve/mgimenez/lab_circ_electronicos_guia_teorica/cap6.pdf
FIGURA 32. CIRCUITO CON RESISTENCIAS COMPARABLES A LA DEL AMPERMETRO
FUENTE: www.labc.usb.ve/mgimenez/lab_circ_electronicos_guia_teorica/cap6.pdf
FIGURA 33. AMPERMETRO EN EL CIRCUITO ANTERIOR
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Por ejemplo, si en el circuito mostrado en la Figura 32, donde i = 1 A,
introducimos un ampermetro cuya resistencia interna es de 5O, como se indica
en la Figura 33, el ampermetro indicar 0.5 A, ya que la resistencia total del
circuito se duplica debido a la introduccin del instrumento. Este es uno de los
errores de medicin que debemos evitar, como discutimos anteriormente.
DERIVACIN DE AYRTON
Si queremos disear un ampermetro de varias escalas, para cada una de ellas
tendremos que calcular la resistencia que debemos colocar en paralelo con el
galvanmetro. La configuracin ms simple de este instrumento es la mostrada
en la Figura 34.
FUENTE: COOPER, HELFRICK, INSTRUMENTACIN ELECTRNICA MODERNA Y TCNICAS DE MEDICIN,
PRENTICE HALL.
FIGURA 34. AMPERMETRO CON MLTIPLE RANGO
Este instrumento se conoce como ampermetro multirango, se ilustra en la
figura 34. El circuito tiene 4 resistencias de derivacin. El interruptor S es de
multiposicin, hace conexin antes de - desconectar, de manera que el
movimiento no se vea afectado cuando el circuito se queda sin proteccin, al
cambio de rango.
En el esquema anterior podemos observar que si queremos cambiar de escala
cuando el ampermetro est conectado a un circuito, debemos desconectarlo,
efectuar el cambio y luego conectarlo nuevamente, ya que si realizamos dicho
cambio sin eliminar la conexin, mientras el selector est entre dos posiciones
toda la corriente circular por el galvanmetro, y como dicha corriente es mayor
que Im, probablemente daar el instrumento. Para evitar esto podemos
emplear la configuracin de la Figura 35.
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. FUENTE: www.labc.usb.ve/mgimenez/lab_circ_electronicos_guia_teorica/cap6.pdf
FIGURA 35. CONFIGURACIN DE SEGURIDAD PARA EL AMPERMETRO DE VARIAS
ESCALAS.
De esta forma mientras el selector se encuentra entre dos posiciones, el
galvanmetro tiene siempre una resistencia conectada en paralelo.
FUENTE: www.labc.usb.ve/mgimenez/lab_circ_electronicos_guia_teorica/cap6.pdf
FIGURA 36. AMPERMETRO DE VARIAS ESCALAS CON SELECTOR DE SEGURIDAD
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Otra solucin posible para el circuito de la Fig. 34 es utilizar un selector tal que
si se encuentra en una posicin intermedia, est conectado simultneamente a
dos resistencias adyacentes, como podemos observar en la Figura 36.
Caractersticas de un ampermetro.
Las caractersticas que debemos indicar para especificar un ampermetro son:
- Corriente mxima
- Resistencia interna
- Exactitud
- Precisin
- Linealidad
PRECACUCIONES AL MEDIR
Al realizar mediciones con ampermetros se deben tener en cuenta las
siguientes precauciones.
1- Siempre conectar el ampermetro en serie con una carga que lmite la
corriente; ya que la resistencia interna del instrumento es pequea y
circulara una corriente muy alta que puede destruir el instrumento.
2- Tener en cuenta la polaridad correcta. Si se tiene una polaridad inversa
la aguja se reflecta contra el mecanismo de tope y se puede daar la
aguja.
3- Si se utiliza un medidor con varias escalas, primero emplear la escala
ms alta, posteriormente disminuya la escala de corriente hasta obtener
la medida adecuada.
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LECCIN 3 EL VOLTIMETRO DE CORRIENTE DIRECTA (DC)
El diseo de un voltmetro DC capaz de medir voltajes dentro de un rango
especfico, se basa en la utilizacin de un divisor de voltaje, como el mostrado
en la Figura 37
.
FUENTE: www.labc.usb.ve/mgimenez/lab_circ_electronicos_guia_teorica/cap6.pdf
FIGURA 37. DIVISOR DE VOLTAJE
En dicho circuito, a corriente que circula por ambas resistencias es la misma,
por lo tanto se cumple:
Pero
De donde
Vamos a aplicar este principio al diseo de un voltmetro.
El galvanmetro tiene una resistencia interna Ri y una corriente mxima Im,
debido a esto el voltaje mximo entre los extremos del mismo es Vmax = Ri Im.
Si queremos disear un voltmetro capaz de detectar entre sus terminales
voltajes hasta de E voltios (donde E>Vmax) debemos conectar en serie con el
galvanmetro una resistencia R1, como se indica en la Figura 38.
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FUENTE: www.labc.usb.ve/mgimenez/lab_circ_electronicos_guia_teorica/cap6.pdf
FIGURA 38. GALVANMETRO EN DIVISOR DE VOLTAJE: VOLTMETRO
El valor de R1 debe ser tal que:
Por lo tanto:
Con esta configuracin tenemos un instrumento que marca mxima escala
cuando el voltaje entre sus terminales es E.
Conexin del voltmetro.
Para que un voltmetro DC indique el valor de un voltaje, debe existir dicho
voltaje entre sus terminales, por lo tanto tenemos que conectar el voltmetro en
paralelo con el elemento al que queremos determinarle su voltaje con la
polaridad adecuada.
FUENTE: www.labc.usb.ve/mgimenez/lab_circ_electronicos_guia_teorica/cap6.pdf
FIGURA 39. VOLTMETRO BAJO MEDICIN
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FUENTE: www.labc.usb.ve/mgimenez/lab_circ_electronicos_guia_teorica/cap6.pdf
FIGURA 40. CONEXIN DE UN VOLTMETRO PARA MEDIR EL VOLTAJE EN R2
Por ejemplo, si deseamos medir el voltaje existente entre los terminales de la
resistencia R2 del circuito mostrado en la Figura 39, debemos conectar el
voltmetro como se indica en la Figura 40. Antes de conectar un voltmetro, al
igual que en el caso del ampermetro, debemos estimar el valor aproximado del
voltaje que vamos a medir, ya que en caso de que ste sea superior al mximo
voltaje que puede detectar el instrumento, podemos daarlo.
De la misma forma, otro factor que debemos tener en cuenta al conectar un
voltmetro es su resistencia interna. Si esta resistencia es del mismo orden de
magnitud que aquella sobre la que vamos a conectar el voltmetro en paralelo,
la introduccin del instrumento afecta la resistencia total del circuito en forma
apreciable, y por lo tanto altera el voltaje que deseamos medir. Por ejemplo, en
el circuito de la Figura 41, el voltaje entre los extremos de R2 es de 4V. Si para
medir dicho voltaje conectamos un voltmetro cuya resistencia interna sea de
400K, alteraremos significativamente la resistencia total del circuito, y la lectura
del instrumento ser de 2.5V.
FUENTE: www.labc.usb.ve/mgimenez/lab_circ_electronicos_guia_teorica/cap6.pdf
FIGURA 41. CIRCUITO CON RESISTENCIAS COMPARABLES A LA DEL VOLTMETRO
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Voltmetro de varias escalas
Para cada una de las escalas que deseamos disear, debemos calcular la
resistencia que debemos conectar en serie con el galvanmetro. Una vez
realizado este clculo, podemos implementar el voltmetro de varias escalas
utilizando una de las configuraciones presentadas en las Figuras 42 y 43.
FUENTE: www.labc.usb.ve/mgimenez/lab_circ_electronicos_guia_teorica/cap6.pdf
FIGURA 42. PRIMERA CONFIGURACIN PARA EL VOLTMETRO DE VARIAS ESCALAS
FUENTE: www.labc.usb.ve/mgimenez/lab_circ_electronicos_guia_teorica/cap6.pdf
FIGURA 43. SEGUNDA CONFIGURACIN PARA EL VOLTMETRO DE VARIAS ESCALAS
Caractersticas de un Voltmetro.
Al igual que para un ampermetro, las caractersticas ms importantes que es
necesario especificar para un voltmetro son:
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- Corriente mxima
- Resistencia interna
- Exactitud
- Precisin
- Linealidad
Para este instrumento est definido otro parmetro denominado caracterstica
ohmios/voltio y que algunos fabricantes llaman tambin sensibilidad.
Vamos a analizar de dnde surge esta caracterstica.
Para disear un voltmetro de varias escalas, debemos calcular la resistencia
que tenemos que conectarle en serie al galvanmetro para cada una de ellas.
O sea, para obtener una escala que pueda indicar hasta V1 voltios, debemos
conectar una resistencia R1, para tener otra que llegue hasta V2, debemos
conectar R2 y as sucesivamente. Para la primera escala la resistencia interna
total que presentar el voltmetro ser RTl = Ri + R1, para la segunda ser
RT2= Ri + R2, etc. La tabla N 7 resume el procedimiento de diseo.
FUENTE: www.labc.usb.ve/mgimenez/lab_circ_electronicos_guia_teorica/cap6.pdf
TABLA 7. PROCEDIMIENTO DE DISEO DE UN VOLTMETRO DE VARIAS ESCALAS
Como podemos observar en la tabla anterior, la relacin (resistencia interna
total)/(voltaje mximo de la escala) es una constante que depende del
galvanmetro que estamos utilizando, ya que es igual al inverso de la corriente
mxima de dicho instrumento. Esta relacin se conoce con el nombre de
caracterstica ohmios/voltio ya que stas son las unidades en que viene
expresada.
Cul es la utilidad de dicha caracterstica?
Observando la primera, tercera y cuarta columnas de la tabla anterior podemos
deducir que si conocemos dicha caracterstica del voltmetro y la escala que
vamos a utilizar para realizar una medicin determinada, podemos calcular la
resistencia interna que presenta el voltmetro en dicha escala. Por ejemplo, en
el circuito de la Figura 44 queremos medir el voltaje Vab con un voltmetro que
tiene una caracterstica O/V de l0KO/V, y cuyas escalas son lV, 5V, l0V y 50V.
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El voltaje que deseamos medir es de 8V por lo que la escala ms apropiada es
la de 10V.
FUENTE: www.labc.usb.ve/mgimenez/lab_circ_electronicos_guia_teorica/cap6.pdf
FIGURA 44. CIRCUITO BAJO MEDICIN
En dicha escala el voltmetro presenta una resistencia interna de:
10Vx10KO=100KO, que comparada con 8KO es mucho mayor, por lo que la
conexin del voltmetro no afectar mucho las variables del circuito en el que
deseamos realizar la medicin. Podramos utilizar tambin la escala de 50V,
cuya resistencia interna es de 500KO por lo que en esta escala la conexin del
voltmetro afecta an menos el circuito bajo medicin, pero en este caso la
precisin de la medida sera mucho menor.
Sensibilidad del voltmetro
Se define la sensibilidad del voltmetro como el reciproco de la corriente de
deflexin a plena escala del movimiento bsico
] [
1
V I
S
fsd
O
=
Donde:
S = Sensibilidad del voltmetro ( /V)
V = escala de voltaje, seleccionado con el interruptor de rango.
fsd
I : Corriente de deflexin a plena escala.
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LECCIN 4 HMETRO DE CORRIENTE DIRECTA (DC)
Diseo bsico.
Un hmetro es un instrumento capaz de medir el valor de una resistencia
cuando sta se conecta entre sus terminales. Dado que la resistencia es un
elemento pasivo, es necesario que el instrumento contenga un elemento activo
capaz de producir una corriente que pueda detectar el galvanmetro incluido en
dicho instrumento. Por lo tanto, el circuito bsico del hmetro es el mostrado en
la Figura 45.
El procedimiento de diseo bsico para este instrumento es el siguiente: En
primer lugar, supongamos que la batera tiene un valor dado (es una pila de las
que podemos conseguir en el mercado), por lo que el valor que debemos
determinar para fijar las condiciones del circuito es el de la resistencia R.
FUENTE: www.labc.usb.ve/mgimenez/lab_circ_electronicos_guia_teorica/cap6.pdf
FIGURA 45. CIRCUITO BSICO DEL HMETRO
Si la resistencia incgnita es (circuito abierto) no circula corriente por el
circuito, por lo tanto, en la escala del galvanmetro, Rx= ; corresponde a la
posicin de la aguja cuando la corriente es nula (usualmente el extremo
izquierdo de la escala).
Para cualquier otro valor de Rx circular cierta corriente por el circuito, que ser
mxima cuando Rx = 0. Ahora bien, como la mxima corriente que puede
circular por el galvanmetro es Im, para Rx = 0 se debe cumplir:
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De donde
Una vez calculado este valor, el circuito est totalmente especificado. Podemos
ahora calibrar la escala en ohmios utilizando resistencias patrn de distintos
valores, o realizar una calibracin en forma terica, empleando la ecuacin
anterior.
Como podemos observar, la ubicacin de los valores de las resistencias en la
escala es nica y est totalmente definida. Si por ejemplo, obtenemos una
distribucin como la mostrada en la Figura 46, ser muy difcil realizar
mediciones de resistencias cuyos valores sean del orden de 10O o de 1MO.
Por lo tanto para disear hmetros donde podamos seleccionar por ejemplo la
resistencia correspondiente a media escala, es necesario plantear nuevas
configuraciones.
FUENTE: www.labc.usb.ve/mgimenez/lab_circ_electronicos_guia_teorica/cap6.pdf
FIGURA 46. CALIBRACIN DE LA ESCALA DE UN HMETRO
Diseo de un hmetro con seleccin de la resistencia a media escala.
En el circuito de la Figura 45 solo hay una incgnita: el valor de R, y por lo tanto
slo podemos imponerle una condicin: Cuando la resistencia incgnita es
nula, debe circular la corriente mxima por el galvanmetro. Si queremos
imponerle otra condicin, como por ejemplo cual debe ser el valor de la
resistencia incgnita para la que el galvanmetro indicar media escala, es
necesario que contemos con otra variable que podamos calcular en el circuito.
Hay dos configuraciones posibles para contar con un circuito con dos
incgnitas, cuyos circuitos pueden observarse en la Figura 47. Con la primera
configuracin, el valor de la resistencia que se le puede asignar a la posicin de
media escala del hmetro (Rm) es siempre mayor que la resistencia interna del
galvanmetro, ya que como se ver posteriormente, en caso contrario el valor
de R resultara negativo.
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Con la segunda configuracin, a Rm se le pueden asignar valores tanto
mayores como menores que la resistencia interna del dispositivo, dentro de los
lmites que se van a determinar durante el anlisis de dicha configuracin.
FUENTE: www.labc.usb.ve/mgimenez/lab_circ_electronicos_guia_teorica/cap6.pdf
FIGURA 47. CONFIGURACIONES PARA UN HMETRO CON SELECCIN DE LA
RESISTENCIA A MEDIA ESCALA.
Diseo de un hmetro con un valor a media escala especfico utilizando la
primera configuracin.
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La Figura 48 presenta el circuito Thvenin equivalente de la primera
configuracin, en el que podemos observar los elementos equivalentes Veq y
Req.
FUENTE: www.labc.usb.ve/mgimenez/lab_circ_electronicos_guia_teorica/cap6.pdf
FIGURA 48. THVENIN EQUIVALENTE DE LA PRIMERA CONFIGURACIN
A partir de dicho circuito, podemos plantear un sistema de dos ecuaciones con
dos incgnitas, imponiendo las condiciones de diseo deseadas: Cuando Rx =
0, por el circuito debe circular la corriente mxima permitida por el
Galvanmetro y cuando Rx = Rm, la corriente debe ser igual a la mitad de
dicha corriente mxima. Por lo tanto.
Despejando los valores de Req y Veq se obtiene:
De la ecuacin anterior podemos concluir que la resistencia que se puede
seleccionar como lectura de media escala (Rm) debe ser siempre mayor que la
resistencia interna del galvanmetro (Ri) tal como se haba mencionado
anteriormente, ya que en caso contrario la resistencia Req tendra un valor
negativo, lo cual no es fsicamente posible.
Una vez determinados los valores de Req y Veq, es necesario hallar los valores
de V, R, R1 y R2, ya que stos son los verdaderos componentes del
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instrumento que queremos disear. Las relaciones entre estos parmetros son
las siguientes:
Como podemos observar, contamos con dos ecuaciones y cuatro incgnitas,
por lo que para completar el trabajo debemos incluir dos criterios de diseo que
nos ayuden a determinar el valor ms adecuado para los componentes. Dichos
criterios de diseo son:
- Vamos a utilizar una o ms pilas comerciales, cuyo valor nominal es de 1,5V.
Por lo tanto, si Veq es menor que 1,5V, hacemos los clculos con V = 1,5V,
esto es, colocamos en el instrumento una sola pila; si Veq se encuentra entre
1,5V y 3V, utilizamos dos pilas, por lo que V = 3V, y as sucesivamente. Por lo
general, los hmetros no acostumbran a tener ms de dos pilas.
- Si en el circuito de la Figura 47(a) consideramos que la corriente que circula
por el lazo donde se encuentra el galvanmetro es mucho menor que la
corriente que circula por la fuente V y la resistencia R1 (IR), la corriente por R2
va a ser prcticamente igual a la de R1 y por lo tanto el voltaje sobre R2 va a
ser independiente de las variaciones de Ig. Al aplicar este criterio, el valor de la
resistencia R es igual a Req, ya que el paralelo de R1 y R2 va a ser mucho
menor que R.
La condicin que debemos imponer para que la aproximacin anterior sea
vlida es que la corriente IR sea mucho mayor que Imax, por lo menos unas 10
veces mayor, o preferiblemente ms. Ahora bien, si escogemos un valor de IR
excesivamente alto, la disipacin de potencia en las resistencias R1 y R2 ser
muy elevada, y las pilas se descargan muy rpidamente, por lo que debemos
llegar a una situacin de compromiso, como por ejemplo IR = 20 Imax. (Al
realizar cada diseo en particular podemos probar otras relaciones).
Al aplicar los dos criterios de diseo mencionados, quedan determinados los
valores de V y R, y podemos plantear el siguiente sistema de ecuaciones para
calcular R1 y R2:
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Resolviendo obtenemos:
En resumen, el procedimiento para disear un hmetro con la primera
configuracin, utilizando un galvanmetro que tenga una resistencia interna Ri
y cuya corriente mxima sea Imax, de forma tal que la lectura a media escala
sea Rm, (valor que debe ser mayor que Ri), es el siguiente:
a) Seleccionar una o ms pilas de forma que el valor de V sea mayor que Rm
Imax.
b) Seleccionar R = Rm Ri
c) Seleccionar un factor F entre la corriente que va a circular por la fuente y la
corriente mxima del galvanmetro (por ejemplo F =20).
d) Calcular
e) Calcular
f) Determinar la potencia disipada por cada una de las tres resistencias
calculadas.
Diseo de un hmetro de valor a media escala especfico utilizando la
segunda configuracin
En el circuito presentado para la segunda configuracin en la Figura 47(b)
podemos establecer las siguientes condiciones:
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Cuando Rx es igual a cero, por el galvanmetro debe circular la corriente Imax.
Por la resistencia Rb circula una corriente I1 de valor desconocido. Al aplicar la
Ley de Kirchhoff de los Voltajes al lazo inferior se obtiene:
1
Donde V es una pila de valor comercial. La corriente I1 est relacionada con
Imax mediante el divisor de corriente dado por la siguiente ecuacin:
2
Cuando Rx es igual a Rm, por el galvanmetro debe circular la mitad de la
corriente mxima, Imax/2, y por la resistencia Rb circula una corriente I2 de
valor desconocido. Al aplicar la Ley de Kirchhoff de los Voltajes al lazo inferior
se obtiene:
3
La corriente I2 est relacionada con Imax/2 mediante el divisor de corriente
dado por la siguiente ecuacin:
4
Las ecuaciones 1, 2, 3 y 3 forman un sistema de cuatro ecuaciones con cuatro
incgnitas (Ra, Rb, I1 e I2) a partir del cual se pueden calcular los valores de
inters para disear un hmetro utilizando la segunda configuracin (Ra y Rb).
A partir de las ecuaciones 2 y 4 se puede deducir:
5
Sustituyendo esta relacin en la ecuacin 1 se obtiene:
6
Las ecuaciones 1 y 6 forman un sistema de dos ecuaciones con dos incgnitas
(I2 y Rb) tal como se puede observar a continuacin:
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7
De donde se obtiene:
9
La ecuacin 8 indica que para que el diseo sea realizable es necesario que el
voltaje V sea mayor que Imax Ri, es decir, que la pila comercial tenga un
voltaje superior al mximo voltaje que puede haber entre los extremos del
galvanmetro. Para determinar el valor de la resistencia Ra se sustituye la
ecuacin 9 en la 4, de donde se obtiene:
10
Esta ecuacin impone una segunda condicin al diseo, que puede expresarse
de la siguiente forma:
11
Es decir, la resistencia seleccionada como valor de media escala debe ser
menor que V/Imax, ya que si esta condicin no se cumple, el valor de la
resistencia Ra debera ser negativo, lo cual es fsicamente imposible. Ahora
bien, esta condicin no es una restriccin severa, dado que podemos
seleccionar el valor de la fuente V utilizando las pilas que sean necesarias.
En resumen, para disear un hmetro con la segunda configuracin, utilizando
un galvanmetro que tenga una resistencia interna Ri y cuya corriente mxima
sea Imax, de forma tal que la lectura a media escala sea Rm, se debe aplicar el
siguiente procedimiento:
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a) Seleccionar un valor de V comercial que sea mayor que el producto Ri Imax
y que el producto Rm Imax.
b) Calcular
c) Calcular
d) Determinar la potencia disipada por cada una de las resistencias calculadas.
Potencimetro de ajuste de un hmetro.
Por lo general, cuando se montan los circuitos correspondientes a cada una de
las dos configuraciones analizadas, no se coloca exactamente el valor de la
resistencia R obtenido para la primera configuracin ni el de la resistencia Rb
obtenido para la segunda, sino que se conectan resistencias de valores
inferiores a los calculados y se completan colocando potencimetros
(resistencias variables) en serie. De esta forma, a medida que se va
descargando la pila comercial, puede irse ajustando la resistencia total de cada
uno de los circuitos para poder cumplir con la condicin de que cuando la
resistencia de medicin es cero, por el galvanmetro debe circular la mxima
corriente Imax.
Diseo de un hmetro de varias escalas
En las Figuras 49 y 50 podemos observar los diagramas de hmetros de varias
escalas correspondientes a cada una de las dos configuraciones estudiadas
El procedimiento de diseo para cada configuracin es el explicado
anteriormente. En este caso la segunda configuracin presenta una desventaja
con respecto a la primera, porque requiere un selector doble, mientras que el
de la primera es sencillo.
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FUENTE: www.labc.usb.ve/mgimenez/lab_circ_electronicos_guia_teorica/cap6.pdf
FIGURA 49. OHMETRO DE VARIAS ESCALAS CON LA PRIMERA CONFIGURACIN
FUENTE: www.labc.usb.ve/mgimenez/lab_circ_electronicos_guia_teorica/cap6.pdf
FIGURA 50. OHMETRO DE VARIAS ESCALAS CON LA SEGUNDA CONFIGURACIN
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LECCIN 5 MEDICIN DE SEALES AC, MULTMETRO TIPO
RECTIFICADOR
Estos instrumentos constan bsicamente de un galvanmetro (PMMC) con
algn tipo de rectificador. El elemento rectificador esta formado casi siempre
por diodos. En la mayora de aplicaciones el elemento rectificador empleado es
la configuracin de puente de diodos como la que se ilustra en la Figura 51.
FUENTE: COOPER, HELFRICK, INSTRUMENTACIN ELECTRNICA MODERNA Y TCNICAS DE MEDICIN,
PRENTICE HALL.
FIGURA 51. VOLTMETRO RECTIFICADOR DE ONDA COMPLETA
Este puente rectificador proporcionar una rectificacin de onda completa;
tenindose una corriente pulsante unidireccional a travs del medidor, sobre un
ciclo completo de voltaje de entrada. El medidor indicar una deflexin estable
proporcional al valor promedio de la corriente. Los valores de corriente y
voltaje alterno se expresan en valores rms, la escala se calibra entonces en
funcin de valores rms. Hay un concepto empleado en la medicin de seales
es conocido como factor de forma, este relaciona el valor promedio y el valor
rms de los voltajes y corrientes variantes en el tiempo.
Factor de forma = valor efect. de la onda de ca / valor promedio de la onda ca
Para una onda senoidal esta relacin tendr un valor de 1.11
En forma ideal el rectificador cuenta con una resistencia directa cero, inversa
infinita. En la prctica el rectificador es un dispositivo no lineal. Para valores
bajos de corriente dc, el rectificador trabaja en la parte no lineal de sus
caractersticas.
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La resistencia del elemento en el rectificador varia con los cambios de
temperatura, a temperaturas o muy altas o muy bajas varia la resistencia,
alternado los valores de las mediciones.
Los cambios de frecuencia tambin afectan la operacin, al aumentar la
frecuencia por encima de 1 Khz., se aumenta el error en la medicin.
MULTIMETRO.
Hemos visto que el diseo de los ampermetros, voltmetros y hmetros se
basa en la utilizacin de un galvanmetro de DArsonval.
Debido a esto surge la idea de disear un instrumento capaz de incluir a los
otros tres. Este instrumento es el que conocemos con el nombre de multmetro.
Para disear un multmetro debemos tener en cuenta cul va a ser su
aplicacin, ya que este hecho determinar el rango de cada una de las escalas
del ampermetro, voltmetro y hmetro. Adems hay una serie de requisitos
adicionales que debe cumplir un multmetro para que sea realmente un
instrumento verstil, entre los cuales estn:
- Debe ser liviano, para que sea fcil transportarlo de un lugar a otro.
- Debe ser compacto, por la misma razn anterior.
- Debe tener una buena proteccin mecnica, para que sea resistente tanto a
los golpes como a las vibraciones.
- Debe ser de fcil manejo y lectura.
Para elegir la escala deseada utilizamos un "conmutador o selector", el cual es
un dispositivo mecnico mediante el cual podemos seleccionar las conexiones
elctricas.
Un selector giratorio comn consta, como podemos observar en la Figura 52,
de uno o dos discos denominados galletas, en los cuales se encuentran los
contactos dispuestos en forma radial. El puente de contacto es una lmina
metlica conductora fijada a un eje de rotacin que establece la conexin entre
dos contactos determinados, de acuerdo a su posicin angular. La fijacin
mecnica de las posiciones del eje se logra mediante un disco rgido provisto
de una serie de topes que determinan la posicin de una lmina metlica fijada
al eje. La rotacin del eje se logra en forma manual, a travs de una perilla
colocada al final de ste. Los selectores pueden tener una, dos o ms galletas,
de acuerdo a la cantidad de contactos necesarios. En la Figura 53 podemos
observar el diagrama de un multmetro elemental. La determinacin de los
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valores de las resistencias que lo constituyen queda como ejercicio para el
lector.
FUENTE: www.labc.usb.ve/mgimenez/lab_circ_electronicos_guia_teorica/cap6.pdf
FIGURA 52. CONMUTADOR O SELECTOR PARA MULTMETROS
FUENTE: www.labc.usb.ve/mgimenez/lab_circ_electronicos_guia_teorica/cap6.pdf
FIGURA 53. DIAGRAMA DE UN MULTMETRO ELEMENTAL
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CIRCUTOS TIPICOS DE MULTIMETROS AC
El circuito de la figura 54 nos muestra un circuito tpico de un voltmetro de AC.
El diodo D1 conduce la mitad del ciclo positivo de la seal AC de entrada, el
medidor se deflectar segn el valor promedio de la mitad del ciclo. La bobina
del instrumento cuenta con una resistencia de derivacin Rsh. El diodo D2
conducir en el ciclo negativo.
FUENTE: COOPER, HELFRICK, INSTRUMENTACIN ELECTRNICA MODERNA Y TCNICAS DE MEDICIN,
PRENTICE HALL.
FIGURA 54. CIRCUITO TPICO DE UN VOLTMETRO DE AC
Generalmente los multimetros comerciales cuenta con las mismas marcas de
escalas para rangos de voltaje cd y ca. Para el caso de seales senoidales, la
componente cd de una onda senoidal es igual a 0.45 veces el valor rms. Para
poder obtener la misma deflexin en los intervalos correspondientes de cd y ca,
el multiplicador de rango de ca se debe disminuir proporcionalmente.
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CAPTULO 3 CIRCUITOS ELCTRICOS DE EQUILIBRIO
LECCIN 1 PUENTE DE WHEATSTONE
Los elementos resistivos son los sensores ms comunes. Son baratos y es
relativamente fcil realizar el interfaz con los circuitos de acondicionamiento. El
valor de su resistencia vara desde unos 100 hasta varios cientos de k ,
dependiendo del sensor y del entorno fsico de medida. En las RTDs y en las
galgas se produce un cambio porcentual relativamente pequeo en el valor de
su resistencia en respuesta a un cambio en una variable fsica como la
temperatura o la fuerza. As p.e. una RTD de platino de 100 tiene un
coeficiente de temperatura de 0,385%/C, de manera que para medir 1C, la
exactitud en la medida debe ser mejor que 0,385 . Las galgas presentan un
cambio tpico menor del 1 % del valor nominal de resistencia.
Un mtodo simple para medir resistencia es forzar una corriente constante a
travs del sensor resistivo y medir la tensin de salida. Esto requiere que tanto
la fuente de corriente como la medida de tensin sean suficiente exactas.
Cualquier variacin en la corriente ser interpretado como un cambio en la
resistencia. Por otro lado la disipacin de potencia en el sensor resistivo debe
ser pequea para evitar errores en la medida por el autocalentamiento. En
consecuencia la fuente de corriente debe ser de pequeo valor, limitando la
resolucin de la medida.
El puente resistivo de la figura (conocido como puente de Wheatstone) es una
forma alternativa para medir pequeos cambios de resistencia. La variacin en
el valor inicial de una o varias de las resistencias del puente, como
consecuencia de la variacin de una magnitud fsica, se detecta en el puente
como un cambio en la tensin de salida. Dado que los cambios de resistencia
son muy pequeos, los cambios en la tensin de salida pueden ser tan
pequeos como decenas de mV, lo que obliga a amplificar la seal de salida
del puente.
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FUENTE: COOPER, HELFRICK, INSTRUMENTACIN ELECTRNICA MODERNA Y TCNICAS DE MEDICIN,
PRENTICE HALL.
FIGURA 54. PUENTES DE WHEATSTONE
La diferencia de potencial entre los puntos c y d definir la corriente a travs del
galvanmetro. Para el caso donde la diferencia de potencial es cero, no se
tendr paso de corriente por el instrumento, se dice entonces que el puente
est equilibrado o balanceado, para que se cumpla esta condicin:
V
ca
= V
da y
V
cb
= V
bd
Donde V
ca
= I
1
R
1
y V
da
= I
2
R
2
Por tanto I
1
R
1
= I
2
R
2
(Ec. 1)
Si por el instrumento de medicin (G) no se tiene paso de corriente:
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I
1
= I
3
=
3 1 R R
Vcc
+
y I
2
= I
4
=
4 2 R R
Vcc
+
Remplazando en la (Ec. 1):
3 1
1
R R
VccR
+
=
4 2
2
R R
VccR
+
Simplificando:
3 1
1
R R
R
+
=
4 2
2
R R
R
+
De donde: R
1
R
4
= R
2
R
3
Si se conoce el valor de 3 resistores el cuarto valor puede encontrarse
empleando la expresin anterior, Si R4 es la resistencia desconocida:
R
4
=
1
3 2
R
R R
R3 se conoce como rama patrn, y las resistencias R2 y R1 se denominan
ramas de relacin.
FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/
FIGURA 55. PUENTES ALIMENTADOS EN TENSIN
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La figura 55 muestra cuatro casos tpicos de puentes alimentados en tensin
que se suelen presentar en la prctica. La tensin de salida del puente
depende de la tensin de alimentacin, por tanto la exactitud de la medida no
puede ser mejor que la exactitud de la tensin de excitacin.
El caso (A) en el que vara slo un elemento, es el ms adecuado para la
medida de temperatura con RTDs o termistores. Tambin para medidas de
deformacin con una sola galga. Vemos que la relacin entre la salida del
puente e R no es lineal. Ms adelante veremos mtodos para linealizar la
salida del puente. El caso (B) se tiene p.e. con dos galgas iguales montadas
adyacentemente, con sus ejes en paralelo. La no linealidad es igual que en el
caso (A), pero la sensibilidad es el doble. Este tipo de puente con dos
elementos variando es tpico de sensores de presin y de flujo. En el caso (C)
se tienen dos elementos idnticos que varan en direcciones opuestas. Es el
caso de dos galgas una montada en la parte superior de la superficie flexible y
otra en la parte inferior. La configuracin (D) es una de las ms populares. La
seal de salida es la mayor de todas para un cambio de resistencia y es
inherentemente lineal. Es una configuracin tpica de las clulas de carga.
La sensibilidad del puente se calcula como la derivada de la salida respecto a
la variacin de resistencia. Vemos que es proporcional a la tensin de
alimentacin y se incrementa a medida que el puente tiene ms elementos que
Varan.
FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/
FIGURA 56. PUENTES ALIMENTADOS CON CORRIENTE
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Los puentes resistivos pueden tambin ser alimentados por una fuente de
corriente constante, como se muestra en la figura 56. Estas configuraciones, no
son tan populares como las alimentadas por tensin. Una ventaja que tiene es
que cuando el puente est localizado remotamente de la fuente de excitacin,
la resistencia del cableado no introduce errores en la medida. Por otro lado el
cableado es ms simple. Note tambin que salvo el caso (A) todas las
configuraciones son lineales.
Adems del nmero de elementos que varan en el punte, en el diseo de un
puente resistivo hay que considerar otras cuestiones como el tipo de excitacin
y su estabilidad. Aunque tensiones de excitacin altas dan lugar a tensiones de
salida altas, la disipacin de potencia es tambin alta, con posibilidad de
errores por auto-calentamiento de la resistencia del sensor. Por el contrario,
valores de la tensin de excitacin bajos requieren ms ganancia en el circuito
de acondicionamiento, lo cual incrementa la sensibilidad a errores debidos a
seales de pequeo nivel como ruido y tensiones de offset. Por otro lado la
estabilidad de la tensin o de la corriente de excitacin afecta directamente a la
exactitud de la salida del puente, por lo que se deben emplear referencias de
tensin o de corriente estables.
FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/
FIGURA 57. AMPLIFICACIN DE LA SALIDA DEL PUENTE
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Para amplificar la salida del puente lo mejor es utilizar un amplificador de
instrumentacin (AI) como se muestra en la figura, en la que RG fija la
ganancia.
Como el AI proporciona una alta impedancia entre cada nodo de salida del
puente y masa no desequilibra el puente ni lo carga. El AI permite obtener
ganancias entre 10 1000 con excelente CMRR, sin embargo la salida an no
es lineal. Se puede linealizar la salida del puente por software conectando la
salida del AI al CAD de un microcontrolador.
La alimentacin del AI puede ser dual (figura superior) o simple con -VS=0
(figura inferior). En este ltimo ejemplo la tensin del pin REF del AI tiene que
ser elevada al menos 1V. En el ejemplo se utiliza una tensin de referencia de
2V de forma que la salida del AI est entre 2V1V, que corresponde al margen
de entrada del CAD.
FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/
FIGURA 58. LINEALIZACIN DE LA SALIDA
Se pueden emplear varias tcnicas para linealizar la tensin salida del puente
(ojo, esto no quiere decir que se linealice el sensor). La figura de la izquierda
muestra un primer mtodo, en el cual el puente debe estar abierto en uno de
los nodos donde va a conectarse el sensor, lo que obliga a disponer de cinco
terminales accesibles. El circuito de la derecha permite superar esta
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circunstancia, a costa de aadir otro amplificador operacional. Se requiere
alimentacin dual y adems una relacin de resistencias R1-R2 ajustada y
estable. Se recomienda utilizar operacionales de precisin.
FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/
FIGURA 59. LINEALIZACIN DE LA SALIDA
Utilizarse el esquema de la izquierda, similar al visto para un solo elemento
resistivo variable. Para la misma tensin de alimentacin ahora la sensibilidad
del conjunto es el doble. Se requiere una fuente doble y una ganancia
adicional.
El esquema de la derecha utiliza un operacional, una resistencia de medida y
una referencia de tensin. El objeto del bucle es mantener una corriente
constante de valor IB = VREF/RSENSE a travs del puente. La corriente a travs de
cada uno de los brazos del puente se mantiene constante e igual a IB/2, por lo
que la salida es lineal con R. El AI proporciona una ganancia adicional.
Los principales problemas asociados con los puentes de medida em
localizaciones remotas son la resistencia del cableado de conexin y la tensin
de ruido inducida. Para cuantificar el error que se comete en la medicin
considere una galga de 350 , conectada al resto del circuito puente por un par
trenzado de 100 ft (1 ft=0,30 m) de longitud. La resistencia elctrica del cable
de conexin a 25 C es 0,105 /ft y el coeficiente de temperatura del cobre
0,385%/C. Calcular el error en la ganancia y en el offset debido a un
incremento en la temperatura de 10 C.
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FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/
FIGURA 60. MEDIDAS REMOTAS
FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/
FIGURA 61. CONEXIN A TRES HILOS
El efecto de la resistencia del cable en la tensin de salida puede ser
minimizado con la conexin a tres hilos de la figura. Se supone que se mide la
tensin de salida del puente con un dispositivo de alta impedancia, por lo que
no circula corriente por el cable de medida. Calcule para esta conexin los
errores en la ganancia y el offset debidos a un incremento en la temperatura de
10C.
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De especial importancia es mantener la exactitud y estabilidad de la tensin de
excitacin del puente ya que como hemos visto la tensin de salida del puente
es proporcional a la tensin de excitacin, de forma que cualquier deriva en la
tensin de excitacin produce la correspondiente deriva en la tensin de salida.
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LECCIN 2 PUENTE DE KELVIN
Es una modificacin del puente de Wheatstone, es til en la medicin de
resistencias de bajo valor, su estructura se muestra en la figura 62.
FUENTE: COOPER, HELFRICK, INSTRUMENTACIN ELECTRNICA MODERNA Y TCNICAS DE MEDICIN,
PRENTICE HALL.
FIGURA 62. PUENTE DE KELVIN
El galvanmetro de medicin no tendr un punto fijo de conexin teniendo 2
puntos posibles m o n.
Si el punto de conexin es m, el valor de Rx se aumentar en un valor de Ry
(resistencia del alambre), si el punto de conexin es n, el valor de R3
aumentar debido a Ry; y el valor de Rx disminuir. Si tomamos la ecuacin de
equilibrio para el puente:
Rx +/- Rnp =
2
1
R
R
(R3 + Rmp)
Si se conecta el galvanmetro en el punto p, entre m y n, de manera que la
razn de la resistencia de n a p y m a p iguale la razn de los resistores R1 y
R2, entonces:
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80
Rmp
Rnp
=
2
1
R
R
Por tanto:
Rx + Ry (
2 1
1
R R
R
+
) =
2
1
R
R
[R3 + (
2 1
2
R R
R
+
)Ry]
Simplificando:
Rx =
2
1
R
R
R3
Esto nos muestra que si se conecta el galvanmetro en la posicin intermedia
p, se elimina el efecto de la resistencia del alambre de conexin del punto m al
punto p.
METODO KELVIN
Algunos puentes de medida tienen los cuatro elementos resistivos sensibles
(p.e las clulas de carga) y encapsulados en un nico componente, con seis
terminales accesibles: dos para la salida, dos para la excitacin y dos para el
sensado. Este esquema se muestra en la figura y se conoce cmo mtodo
Kelvin.
Aunque este mtodo elimina los errores debidos a la cada de tensin en la
resistencia del cable del puente, se requiere que la tensin de alimentacin sea
muy estable ya que afecta directamente a la tensin de salida. Adems, los
operacionales deben tener baja tensin de offset, bajas derivas y bajo ruido.
Adicionalmente se puede conectar la VB a la entrada de referencia de un ADC.
Este acta como un divisor (con salida digital) entre su tensin de entrada (la
salida del puente es proporcional a la tensin de alimentacin) y la tensin de
referencia. De esta forma la fuente de alimentacin no se requiere que sea muy
estable. A este tipo de medidas se las denomina ratio mtricas o medidas por
relacin.
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FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/
FIGURA 63. METODO KELVIN
Otro mtodo para minimizar el efecto que la resistencias es la conexin a
cuatro hilos es el de la figura, en la que el puente se excita con una fuente de
corriente. Tiene la ventaja de que slo utiliza un amplificador, pero puede
requiere un buffer de corriente para poder proporcionar corrientes por encima
de unos pocos mA.
FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/
FIGURA 64. CONEXIN A CUATRO HILOS
LECCIN 3 PUENTE DE MAXWELL
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Es empleado para la medicin de inductancias de valor desconocido,
tenindose un valor conocido de capacitancia. Su estructura se muestra en la
figura 65:
FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/
FIGURA 65. PUENTE DE MAXWELL
Tomando la ecuacin de equilibrio para el puente:
ZXY1 = Z2Z3 o Zx = Z2Z3Y1
Para la rama 1 se tiene la admitancia Y1 =
1
1
R
+ jwC1
Remplazando: Zx = Rx + jwLx = R2R3(
1
1
R
+ jwC1)
Separando partes reales e imaginarias:
Rx =
1
3 2
R
R R
y Lx = R2R3C1
El puente de Maxwell tiente un buen desempeo para medicin de bobinas con
Q medio. Entre 1 y 10.
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Dado un inductor real, el cual puede representarse mediante una inductancia
ideal con una resistencia en serie (Lx, Rx), la configuracin del puente de
Maxwell permite determinar el valor de dichos parmetros a partir de un
conjunto de resistencias y un condensador, ubicados de la forma mostrada en
la Figura 66.
FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/
FIGURA 66. PUENTE DE MAXWELL PARA MEDIR LOS PARMETROS DE UN INDUCTOR
El hecho de utilizar un capacitor como elemento patrn en lugar de un inductor
tiene ciertas ventajas, ya que el primero es ms compacto, su campo elctrico
externo es muy reducido y es mucho ms fcil de blindar para protegerlo de
otros campos electromagnticos.
La relacin existente entre los componentes cuando el puente est balanceado
es la siguiente:
En primer lugar, podemos observar que los valores de Lx y Rx no dependen de
la frecuencia de operacin, sino que estn relacionados nicamente con los
valores de C1 y R1, R2 Y R3.
Por otra parte, existe una interaccin entre las resistencias de ajuste, ya que
tanto R1 como R3 intervienen en la ecuacin de Rx, mientras que en la de Lx
solo interviene R3.
De acuerdo con esto, es necesario realizar varios ajustes sucesivos de las dos
resistencias variables hasta obtener la condicin de cero en el detector. Por lo
tanto, el balance de este tipo de puente resulta mucho ms complejo y
laborioso que el de un puente de Wheatstone de corriente continua.
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El puente tipo Maxwell tambin se utiliza para determinar el valor de
condensadores reales cuyo modelo circuital consta de una conductancia ideal
en paralelo con una resistencia que representa las prdidas hmicas. La
configuracin del circuito en este caso es la presentada en la Figura 66.
FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/
FIGURA 67. PUENTE DE MAXWELL PARA MEDIR LOS PARMETROS DE UN
CONDENSADOR.
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La ecuacin en la condicin de equilibrio es:
Como en el caso anterior, los valores de Cx y Rx son independientes de la
frecuencia, e igualmente existe interaccin entre los elementos de ajuste,
debido a que ambos aparecen en la expresin de Rx.
Si los parmetros de ajuste fuesen R1 y C1 en lugar de R1 y R3, desaparecera
la interaccin presente actualmente. La desventaja de un puente en el que el
elemento variable es un condensador es el hecho de que resulta difcil hallar
capacitares variables de precisin con valores comprendidos dentro de un
rango adecuado para poder hacer un diseo de este tipo.
La configuracin del Puente de Maxwell ofrece muy buenos resultados siempre
y cuando la Q del circuito no sea demasiado grande, esto es, mientras Rx del
inductor no sea muy pequea o Rx del condensador no sea excesivamente
grande, ya que en caso contrario, R1 debera tomar valores mayores que los
que ofrecen las resistencias de ajuste disponibles. En estos casos es necesario
utilizar otro tipo de configuracin, que analizaremos a continuacin.
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LECCIN 4 PUENTE DE HAY, SCHERING Y PUENTE WIEN
PUENTE DE HAY
La configuracin de este tipo de puente para medir inductores reales, cuyo
modelo circuital consta de una inductancia en serie con una resistencia es la
mostrada en la Figura 68.
FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/
FIGURA 68. PUENTE DE MAXWELL PARA MEDIR LOS PARMETROS DE UN
CONDENSADOR.
La ecuacin de balance para este puente es la siguiente:
Esta ecuacin puede separarse en las siguientes:
De donde:
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Como podemos observar, los valores de Lx y Rx adems de depender de los
parmetros del puente, dependen de la frecuencia de operacin y las
expresiones para calcular Lx y Rx son complejas.
Ahora bien, en el punto anterior indicamos que esta configuracin la vamos a
utilizar cuando el valor de Q sea elevado, ya que en caso contrario es
conveniente emplear el puente de Maxwell.
Como Q=1/wC1R1, cuando Q>>l, podemos considerar que los denominadores
tanto de Lx como de Rx son igual a 1, sin introducir en la medicin del inductor
un error mayor que el debido a la exactitud con la que se conoce el valor real
de los otros elementos del puente. Con esta aproximacin, las frmulas para Lx
y Rx son:
Utilizando estas relaciones se puede calcular el valor de Lx y Rx en forma
mucho mas directa. Podemos considerar que a partir de Q=10, este valor es lo
suficientemente grande como para realizar la aproximacin.
Para medir condensadores reales, cuya representacin circuital es una
Capacitanca en paralelo con una resistencia, la configuracin del puente de
Hay es la mostrada en la Figura 69
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FIGURA 69. PUENTE DE HAY PARA MEDIR LOS PARMETROS DE UN CONDENSADOR
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Las relaciones que se cumplen cuando el puente est balanceado son:
De donde:
Despejando Cx y Rx obtenemos:
Como en el caso anterior, si Q>>1, las ecuaciones de Cx y Rx se pueden
simplificar de la siguiente forma:
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PUENTE DE SCHERING
Es empleado este puente para la medicin de capacitares. Su estructura se
muestra en la Figura 70:
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FIGURA 70. PUENTE DE SCHERING
En la rama 3 del circuito se ubica un capacitor normalmente de mica de alta
calidad o un capacitor de aire para mediciones de aislamiento.
De la ecuacin de equilibrio general del puente:
Zx = Z2Z3Y1
Donde :
Zx = Rx -
wCx
j
Y1 =
1
1
R
+ JWC1
Por tanto:
Rx -
wCx
j
= R2(-
3 wC
j
)(
1
1
R
+ jwC1)
Multiplicando:
Rx -
wCx
j
=
3
1 2
C
C R
-
1 3
2
R wC
jR
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Igualando componentes reales e imaginrios:
Rx = R2
3
1
C
C
y Cx = C3
2
1
R
R
El ajuste de equilibrio del puente se hace mediante C1 y R2.
El factor de potencia (PF), de un circuito serie RC se define como:
PF =
Zx
Rx
Para ngulos de fase cercanos a 90
0
, la reactancia es casi igual a la
impedancia y se aproxima a :
PF =
Zx
Rx
= wCxRx
En un circuito RC el factor de disipacin (D), es por definicin:
D =
Xx
Rx
= wCxRx =
Q
1
El factor de disipacin es un indicador de la calidad del capacitor.
Teniendo en cuenta que:
Rx =
3
1 2
C
C R
y Cx =
2
1 3
R
R C
D =
2 3
1 3 1 2
R C
R C C wR
= WR1C1
PUENTE WIEN
Es til para la medicin de frecuencia, adems es empleado en osciladores de
audio y HF como elemento que determina la frecuencia, tambin es empleado
en los analizadores de distorsin armnica donde se usa como filtro pasa
banda.
La estructura del puente se muestra en la figura 71
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FIGURA 71. PUENTE DE WIEN
Donde:
Z1 = R1 -
1 wC
j
y Y3 =
3
1
R
+ JWC3
Tomando la ecuacin de equilibrio del puente y remplazando los valores
apropiados:
R2 = (R1 -
1 wC
j
)R4(
3
1
R
+ JWC3)
Desarrollando la ecuacin:
R2=
3
4 1
R
R R
+ JWC3R1R4 -
3 1
4
R wC
jR
+
1
3 4
C
C R
Tomando la parte real:
R2 =
3
4 1
R
R R
+
1
3 4
C
C R
Simplificando
4
2
R
R
=
3
1
R
R
+
1
3
C
C
Para la parte imaginaria:
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WC3R1R4 =
3 1
4
R wC
R
Donde
w = 2 f
Despejando
f =
3 1 3 1 2
1
R R C C
La condicin de equilibrio esta determinada entonces si se cumplen la ecuacin
que relaciona las resistencias del circuito y se tiene un seal de entrada con
una frecuencia que cumpla con la expresin anterior.
Normalmente se emplea: R1 = R3 y C1 = C.
Esto no lleva a R2/R4 = 2 y f =1/2 RC.
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LECCIN 5 CONDICIONES DE EQUILIBRIO DE LOS PUENTES,
APLICACIN DE LA ECUACIN DE EQUILIBRIO
La estructura del puente de mediciones de c.a. es similar al puente de d.c., un
generador, un detector de cero y 4 ramas.
El detector de cero acta conforme se tengan corrientes de desequilibrio,
normalmente se emplea un par de audfonos, un amplificador de c.a. con un
medidor de salida o un tubo de rayos catdicos como detector de cero.
La estructura del puente se muestra en la figura 4, con sus 4 ramas y el
detector de cero, el puente se encuentra en estado de equilibrio si la corriente a
travs del detector es cero.
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FIGURA 72. CONDICIN DE EQUILIBRIO
Para ajustar el equilibrio del puente se debe variar una o ms ramas. Para
encontrar la ecuacin general para el equilibrio del puente se debe tener en
cuenta que las cuatro ramas presentan un valor de impedancia. Para la
condicin de equilibrio:
Eac = 0 (en magnitud y fase)
Para esto se debe cumplir que:
EBA = RBC o I1Z1 = Z2
De donde:
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I1 =
3 1 Z Z
E
+
y I2 =
4 2 Z Z
E
+
Remplazando:
Z1Z4 = Z2Z3
Para el caso en que se empleen admitancias:
Y1Y4 = Y2Y3
Teniendo en cuenta que se trata de cantidades complejas, su expresin en
forma polar es:
(Z1 1 )(Z4 4 ) = (Z2 2 )(Z3 3 )
Tomando en cuenta las caractersticas de los nmeros complejos:
Z1Z4 1 + 4 = Z2Z3 2 + 3
Se generan 2 condiciones a satisfacer para que el puente este en equilibrio:
Z1Z4 = Z2Z3 producto de magnitudes de ramas puestas
1 + 4 = 2 + 3 suma de ngulos de fase de las ramas opuestas
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95
BIBLIOGRAFA
LIBROS CONSULTADOS
Cooper, Helfrick, Instrumentacin electrnica moderna y tcnicas de medicin,
Prentice Hall.
Bopton, Mediciones y pruebas elctricas y electrnicas, Alfaomega
Lzaro, Manuel, Problemas resueltos de instrumentacin y medidas electrnicas,
Paraninfo.
Manuales de los equipos de laboratorio seleccionados
Guas del profesor
Lzaro, Manuel, Problemas resueltos de instrumentacin y medidas electrnicas,
Paraninfo.
Cooper, Helfrick, Instrumentacin electrnica moderna y tcnicas de medicin,
Prentice Hall.
Buchla, David y Mc Lachlan, Wayne, Applied electronic instrumentation and
measurement,
Macmillan publishing company, New York.
Cooper, Helfrick, Instrumentacin electrnica moderna y tcnicas de medicin,
Prentice Hall
Creus, Antonio. Instrumentacin Industrial. Sexta edicin Alfaomega Marcombo
1998.
Doebeling, E. O. Measurement Systems Applicationand Design. McGraw Hill New
York 1990.
Lion, K. S. Elements Of Electrical And Electronic Instrumentation. McGraw Hill
New York 1975.
Ogata, Katsuhiko. Modern Control Engineering. Segunda edicin Englewood Cliffs
Prentice Hall New York 1990.
PAGINAS WEB CONSULTADAS
Pagina Web de Fsica
http://www.sc.ehu.es/sbweb/fisica/unidades/unidades/unidades.htm
Pagina Web de Metrologa
www.cem.es/cem/es_es/metrologia/sme.pdf
Pagina Web de Procedimientos de Referencia
www.quimica.urv.es/quimio/general/crms.pdf
Pagina Web de la Superintendencia de Industria y Comercio
http://www.sic.gov.co/metrologia/Electrica/Potencia.php
Pagina Web Instrumentacin Electrnica
http://www2.ate.uniovi.es/13996/
Pagina Web con documentacin tcnica de medidores anlogos
www.labc.usb.ve/mgimenez/lab_circ_electronicos_guia_teorica/cap6.pdf
Pagina Web de consulta personalizada
www.monografias.com/trabajos17/sistemas-adquisicion-dato/sistemas-
adquisicion-dato.shtml
Pagina Web de Nacional Instruments, LabVIEW
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96
www.ni.com/labview
Pagina Web con documentacin tcnica de Tubos de Rayos catdicos
personales.unican.es/perezvr/pdf/tubos%20de%20rayos%20catodicos.pdf
Pagina Web con documentacin tcnica sobre el manejo del osciloscopio
http://usuarios.iponet.es/agusbo/osc/osc_5.htm
Pagina Web con documentacin tcnica sobre Reflectometra
elec.itmorelia.edu.mx/tovar/2modlineas-01.htm
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CAPTULO 1 DIGITALIZACIN DE SEALES
LECCIN 1 TRANSFORMACIN DE UNA SEAL ANALOGICA A
DIGITAL Y VICEVERSA
SISTEMAS MUESTREADOS
En el contexto de la instrumentacin digital, muestrear una seal implica
reemplazar la magnitud continua por una secuencia de nmeros que
representan los valores de dicha seal en determinados instantes. Un sistema
muestreado es aquel que, partiendo de una seal o magnitud analgica o
continua es capaz de generar una secuencia de valores discretos, separados a
intervalos de tiempo.
El muestreo es la caracterstica fundamental de los sistemas de control digital,
dada la naturaleza discreta de los dispositivos que realizan el proceso de
control. Generalmente la seal continua es convertida en una secuencia de
nmeros que son procesados por el computador digital.
El computador da una nueva secuencia de nmeros, los que son convertidos a
una seal continua y aplicada al proceso. Este segundo proceso se denomina
reconstruccin de la seal. Dada la importancia del muestreo es necesario
conocer a fondo este proceso. La Figura 73 y 74 muestra la forma en que se
realiza el muestreo.
FUENTE: GRAFICA CONSTRUIDA EN SIMULINK DE MATLAB
FIGURA 73. UNA SEAL DE FUNCIN Y(t) ENTRA A UN MULTIPLICADOR MUESTREADOR
REPRESENTACIN ESQUEMTICA DEL PROCESO DE MUESTREO DE UNA SEAL ANLOGA
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Existe un primer elemento llamado muestreador que congela un instante el
valor de la seal a muestrear, pero la salida del muestreador sigue siendo
analgica. Para convertir esta seal a un valor numrico esta el conversor
analgico digital.
FUENTE: GRAFICA CONSTRUIDA EN SIMULINK DE MATLAB
FIGURA 74. SEALES GENERADAS A PARTIR DEL PROCESO DE MUESTREO DE UNA SEAL
ANLOGA.
En el ejemplo se ha dibujado ex-profeso el muestreo con tiempos diferentes
pero lo ms comn es muestrear con un perodo constante Tm llamado perodo
de muestreo. Si bien se han dibujado separados, el muestreador y el conversor
normalmente estn juntos en un mismo elemento.
Lo que conviene reiterar es que el proceso no sufre alteracin alguna y si ste
era continuo lo seguir siendo. Para mayor claridad, se muestra en la Figura 75
cmo sera la generacin de una seal de control discreta y en la Figura 76 se
observan las diferentes seales.
A los fines del anlisis es til tener una descripcin del muestreo. Esta accin
significa simplemente reemplazar una seal por su valor en un nmero finito de
puntos. Sea k el conjunto de nmeros enteros. El muestreo es una operacin
lineal. El perodo de muestreo es normalmente constante o sea t = kTm. En
estas condiciones se llama muestreo peridico y Tm es llamado perodo de
muestreo.
A Hz
Tm
f
s
1
= se le denomina frecuencia de muestreo.
Son usados tambin otros esquemas de muestreo mas sofisticados. Por
ejemplo, muestrear diferentes lazos con diferentes perodos de muestreo. Este
caso se denomina muestreo mltiple y puede ser tratado como superposicin
de varios muestreos peridicos.
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FUENTE: GRAFICA CONSTRUIDA EN SIMULINK DE MATLAB
FIGURA 75. DIAGRAMA DE BLOQUES DE UN CONTROLADOR DIGITAL.
FUENTE: GRAFICA CONSTRUIDA EN SIMULINK DE MATLAB
FIGURA 76. MUESTREO DE UNA SEAL CONTINUA.
El caso del muestreo peridico ha sido estudiado profundamente. Mucha teora
est dedicada a este tema pero el muestreo mltiple est cobrando importancia
da a da con el uso de sistemas multiprocesadores. Con el software moderno
es posible disear un sistema como si fuesen varios procesos trabajando
asincrnicamente. La seal continua y(t) se convierte en una secuencia
mediante el muestreador y el CAD que normalmente es el elemento ms lento
de la cadena.
Ya dentro del computador se genera la secuencia de control u. Este proceso
consume un determinado tiempo Tc. Mediante el CDA la secuencia se
convierte en analgica y por ltimo el bloqueador o Retenedor interpola los
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valores de la seal entre dos perodos de muestreo. El bloqueador ms usual
es aquel que mantiene el valor de la seal hasta la siguiente muestra llamado
retenedor de orden cero.
TEOREMA DEL MUESTREO
Si el muestreo es suficientemente pequeo no se pierde casi informacin pero
sta prdida puede ser importante si el perodo de muestreo es muy grande.
Es, entonces, esencial saber cuando una seal continua es biunvocamente
definida por su muestreo. El siguiente teorema da las condiciones para el
muestreo.
Una seal continua con espectro en frecuencia nulo fuera del intervalo [-
0
,
0
]
es reconstruible totalmente si se la muestrea con una frecuencia
s
>2. La
reconstruccin se obtiene mediante el siguiente clculo:
(1)
La frecuencia
s
/2 recibe el nombre de Frecuencia de Nyquist.
RECONSTRUCCIN DE SENALES
Si se quiere saber cmo es la seal continua a partir de la informacin que
brinda la secuencia de muestras es necesario un proceso llamado de
reconstruccin. En este proceso es posible que la seal reconstruida no
coincida exactamente con la original. Esto se ve en la figura 77.
La pregunta es cun parecida ser la seal reconstruida a la original. Todo
depender del reconstructor que se utilice.
RECONSTRUCCIN IDEAL
Para el caso de seales con ancho de banda limitado, se puede reconstruir a
partir de la ecuacin (1). La desventaja es que esta operacin no es causal y se
deben conocer los valores anteriores y posteriores al instante tratado. Esto no
es conveniente para el control digital, pero si puede ser til en comunicaciones
donde se puede aceptar un retardo. Otra desventaja es su complicado clculo y
que solo es aplicable al muestreo peridico.
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FUENTE: GRAFICA CONSTRUIDA EN SIMULINK DE MATLAB
FIGURA 77. PROCESO DE RECONSTRUCCIN DE UNA SEAL ANLOGA.
RECONSTRUCCIN DE LA SEAL TRIANGULAR CON UNA FRECUENCIA DE SEAL MUESTREADORA DE
100K CON AMPLITUD 5VPP
Esta reconstruccin es no causal y en la grfica 78 se muestra el resultado del
proceso; la lnea suave es la seal continua (color violeta) y la ondulada es su
reconstruccin (color verde). Se muestran adems los aportes de cada
elemento de la sumatoria. La reconstruccin no es perfecta ya que no se
consideraron infinitos trminos de la sumatoria.
FUENTE: GRAFICA CONSTRUIDA EN SIMULINK DE MATLAB
FIGURA 78. RECONSTRUCCIN IDEAL DE UNA SEAL
BLOQUEADORES.
La reconstruccin anterior no es til para aplicaciones en Instrumentacin y
demasiado costosa desde el punto de vista de clculo. Es por esto que se
eligen mtodos ms simples. El ms usual es el bloqueador de orden cero o
retenedor que consiste en mantener la seal en el mismo valor de la ltima
muestra.
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FUENTE: GRAFICA CONSTRUIDA EN SIMULINK DE MATLAB
FIGURA 79. RECONSTRUCCIN DE UNA SEAL CON RETENEDOR DE ORDEN CERO
Dada su simplicidad este bloqueador ZOH es el ms usado en control digital y
los CDA estndares son diseados con este principio. Obviamente sta
reconstruccin introduce un error como se puede ver en la figura 79. Otro
bloqueador causal es el que se construye considerando las dos ltimas
muestras y extrapolando linealmente el comportamiento futuro que es el
retenedor de Primer Orden o FOH.
APARICIN DE FRECUENCIAS ESPURIAS
Lo que dice el teorema del muestreo es que si la frecuencia de muestreo es
inferior a la mxima frecuencia del sistema continuo la reconstruccin ya no es
posible debido a la superposicin de los lbulos. Un ejemplo es lo que sucede
al muestrear la seal de la figura 80.
FUENTE: GRAFICA CONSTRUIDA EN SIMULINK DE MATLAB
FIGURA 80. APARICIN DE FRECUENCIAS ESPURIAS
Una posible solucin es incrementar la frecuencia de muestreo pero esto trae
dos problemas:
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1) si se observan los elementos de la transformada en Z, estos varan con el
perodo de muestreo y en particular las races de los polinomios tendern todas
a 1, esto llevar a errores numricos indeseados.
2) en el caso de que se elija una frecuencia suficientemente alta respecto de
las frecuencias propias de la planta, puede ser que no sea lo suficientemente
alta con respecto a alguna perturbacin y el muestreo de esta perturbacin
introduzca componentes de baja frecuencia.
Estas seales que aparecen reciben el nombre es frecuencias alias y la nica
forma de evitarlas es filtrar la seal antes del muestreo.
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LECCIN 2 CIRCUITOS DE MUESTREO Y RETENCIN
Los circuitos de muestreo y retencin (Sample and Hold, S&H) se usan
ampliamente en el procesado de seales analgicas y en sistemas de
conversin de datos para almacenar de forma precisa, una tensin analgica
durante un tiempo que puede variar entre menos de 1 seg y varios minutos.
Aunque conceptualmente son simples, sus aplicaciones estn llenas de
sutilezas y en general las aplicaciones que necesitan solamente una velocidad
moderada y asimismo una moderada exactitud, generan pocos problemas,
pero las aplicaciones de alta velocidad y exactitud necesitan un cuidadoso
diseo. Por ejemplo tomar una muestra de 10V en menos de 1 seg con una
exactitud del 0,01% es relativamente complicado. Lgicamente, si se desea
adquirir seales con una variacin lenta en el tiempo no es necesario
muestrear y por ello no se requiere emplear un circuito S&H.
FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/
FIGURA 81. CIRCUITOS DE MUETREO Y RETENCIN
La figura 81 muestra un circuito de muestreo y retencin bsico. Cuando el
interruptor se cierra el condensador se carga a la tensin de entrada. Cuando
el interruptor se abre el condensador retiene esta carga con lo que congela la
tensin durante un perodo especificado exteriormente. De este modo no hace
falta que la conversin sea muy rpida; basta que lo sea la adquisicin de la
muestra. La salida del CAD corresponde entonces al valor de la entrada en el
instante de muestreo. El tiempo de conversin vendr limitado solamente por
el criterio de Nyquist.
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FIGURA 82. PARMETROS CARACTERSTICOS
En la prctica se tienen errores tanto en la conmutacin del interruptor como en
los intervalos muestreo y de retencin. La figura 82 muestra los parmetros
tpicos de un circuito S/H.
Durante el intervalo de muestreo el S&H se comporta como un amplificador y
por lo tanto las caractersticas estticas y dinmicas que tiene son similares a
las de cualquier amplificador, es decir:
Error de cero (sample offset). Es el valor de la tensin de salida cuando la
entrada es cero.
Error de ganancia (gain accuracy, gain error). Es la diferencia entre la tensin
de entrada y la de salida.
Derivas de la ganancia con la temperatura.
Tiempo de establecimiento (settling time)
Ancho de banda.
Mxima velocidad de variacin de la salida (slew rate)
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FIGURA 83. MUESTREO - RETENCIN
En esta fase se abre el interruptor, aunque no de forma instantnea, ni siempre
con el mismo retardo. Por lo tanto, aunque una vez transcurrido el tiempo de
adquisicin decidamos retener la muestra, el valor retenido realmente ser otro.
Tiempo de apertura (Aperture time). Es el tiempo necesario para que el
interruptor pase del estado de muestreo al de retencin. Se mide desde el nivel
50% de la seal de control de muestreo a retencin, hasta el instante en que la
salida deja de seguir a la entrada. Este tiempo se debe por una parte al retardo
entre la orden y el inicio del cambio de RON y, por otra, a la evolucin gradual
del interruptor desde conduccin a corte. La existencia de una constate de
tiempo hace que la tensin en bornes de CH est retrasada un tiempo
respeto a la tensin aplicada en la entrada del S&H.
Incertidumbre en el tiempo de apertura (Aperture jitter, tap). Es el margen
de variacin del tiempo de apertura. Si la seal de control para pasar a
retencin la adelantamos en previsin de la existencia del tiempo de apertura,
el nico error de tiempo que queda es esta incertidumbre, que determina pues,
el lmite ltimo de la mxima frecuencia de muestreo. Este parmetro es
consecuencia de ruido de la red de conmutacin el cual modula la fase del
comando hola manifestndose en la variacin de la seal analgica de entrada
que es retenida.
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FIGURA 84. APERTURE JITTER
Suponiendo una seal de entrada senoidal vi(t) = VP sen t, el error debido a la
incertidumbre en el tiempo de apertura es V=(dvi/dt) tap. Si se quiere que el
error mximo sea menor que LSB la frecuencia mxima de la seal de
entrada ser: fmax <1/[2n+1 tap].
Error de transferencia de carga (Charge transfer). Es la carga transferida a
travs de capacidades parsitas al condensador de retencin cuando se
conmuta al estado de retencin. Provoca un error de tensin V= Q/CH.
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FIGURA 85. INTERVALO DE RETENCIN
Pendiente (Droop Rate). Es el decremento (o incremento, dependiendo de la
polaridad de las corrientes) de la tensin de salida, debido al condensador de
almacenamiento, a las corrientes de fuga en el interruptor y a las corrientes de
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polarizacin del amplificador de salida. Esta deriva es tanto menor cuanto
mayor sea el condensador de retencin.
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FIGURA 86. RAZN DE ATENUACIN DE PASO
Razn de atenuacin del paso (Feedthrough Attenuation Ratio). Es el
porcentaje del cambio de una seal senoidal de entrada que se mide en la
salida del S&H en el modo de retencin. Es debido al acoplamiento capacitivo a
travs del interruptor y depende de la amplitud y de la frecuencia de la entrada.
Tiene importancia cuando un S&H sigue a un multiplexor analgico.
En esta fase el condensador CH se carga a la tensin de entrada, con un
transitorio para el establecimiento final, que depende de la amplitud y forma
concreta de la seal de entrada. Las especificaciones suelen darse para un
cambio en escaln de amplitud igual al fondo de escala.
Tiempo de adquisicin (Acquisition time). Es el tiempo durante el que el S&H
debe permanecer en el estado de muestreo, necesario para que la salida
alcance su valor final, dentro de una cierta banda de error, e incluye el retardo
en la conmutacin, el intervalo de subida (slewing interval) y el tiempo de
establecimiento en la adquisicin (settling time). El tiempo de adquisicin
aumenta al hacerlo la capacidad del condensador de almacenamiento y, junto
con el tiempo de conversin del CAD, determina el tiempo empleado en cada
canal adquirido.
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FIGURA 87. RAZN DE ATENUACIN DE PASO
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FIGURA 88. ARQUITECTURAS DE S&H
Describiendo la figura 88 tenemos:
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1: Similar al descrito inicialmente, S/H en bucle abierto y formado por dos
seguidores de tensin. Para tener una buena exactitud los amplificadores A1 y
A2 deben tener slew rates altos, tiempos de establecimiento rpidos, bajas
tensiones de offset y derivas ya que estos errores son acumulativos.
2: La realimentacin completa de la salida a la entrada minimiza los errores en
el modo de muestreo. El circuito tiene mayor exactitud pero una peor dinmica.
3: Tiene unas caractersticas similares al circuito 2. El interruptor queda
conectado a la masa virtual de A1 y CH es un condensador integrador. La
eleccin del condensador est sujeta a un compromiso entre exactitud y
velocidad: si CH es grande, aumenta su exactitud (influyen menos las
corrientes de fugas y la inyeccin de carga), pero para que se cargue
rpidamente al valor final interesa que CH sea pequea.
EJEMPLOS
1)
FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/
FIGURA 89. EJEMPLO RETENEDOR DE ORDEN CERO SMP04 CON SUS CARACTERISTICAS
2)
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111
FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/
FIGURA 90. EJEMPLO RETENEDOR DE ORDEN CERO CON SUS CARACTERISTICAS
La aplicacin tpica de los circuitos S/H es funcionando conjuntamente con un
CAD. En algunos casos el S/H est integrado en el CAD. El tiempo mnimo
requerido en el proceso de conversin es la suma del tiempo de apertura (tap) y
el de adquisicin (tad) del S/H ms el tiempo de conversin del CAD (tconv).
Teniendo en cuenta el teorema de Nyquist la mxima frecuencia de la seal de
entrada viene dada por: fin < 1/2(tad + tap +tconv)
FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/
FIGURA 91. APLICACIN DEL RETENEDOR DE ORDEN CERO
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LECCIN 3 EL CONVERSOR ANALOGO DIGITAL (CAD)
Un convertidor analgico-digital (CAD) es un dispositivo que proporciona una
salida la cual representa digitalmente la tensin o corriente de entrada.
Bsicamente la idea es comparar la entrada analgica con una seal (tensin o
corriente) de referencia.
FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/
FIGURA 92. CONVERSORES A/D
Un convertidor analgico-digital (CAD) es un dispositivo que proporciona una
salida la cual representa digitalmente la tensin o corriente de entrada.
Bsicamente la idea es comparar la entrada analgica con una seal (tensin o
corriente) de referencia.
Si la entrada del convertidor se mueve dentro de su escala completa de valores
analgicos y se toma la diferencia entre la entrada y la salida, se obtiene una
funcin de error en forma de diente de sierra, denominada error de
cuantificacin y es el error irreducible que resulta del proceso de
cuantificacin.
Solo se puede reducir incrementando el nmero de estados de salida
(resolucin) del convertidor. Este error se denomina tambin incertidumbre
de cuantificacin o ruido de cuantificacin.
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FIGURA 93. LA FUNCIN DE TRANSFERENCIA IDEAL
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FIGURA 94. ERROR DE CUANTIFICACIN
ESPECIFICACIONES
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DC:
Error de offset
Error de ganancia
Error de no linealidad diferencial (DNL)
Error de no linealidad integral (INL)
Error total
AC:
SNR
ENOB
THD
SINAD
SFDR
Error de offset. Es el valor analgico de la diferencia entre la funcin de
transferencia real y la ideal, en ausencia de otros errores (salvo el de
cuantificacin). Su presencia implica que la primera transicin no se produce
exactamente en LSB, de modo que la curva de transferencia est
desplazada horizontalmente.
Error de ganancia. Es la diferencia entre los puntos de mitad de escaln de la
curva de transferencia real y la ideal correspondiente a la salida digital de todo
1, en ausencia de otros errores (salvo el de cuantificacin).
Error de no linealidad integral (INL). Es la mxima diferencia entre la funcin
de transferencia real y la ideal cuando los errores de cero y de ganancia son
nulos. Es un error que no se puede corregir. Se denomina integral porque es
el error que se tiene en una determinada palabra de salida con independencia
de las dems.
Error de no linealidad diferencial (DNL). Es la diferencia entre el ancho de un
escaln real y el de uno ideal, que es 1 LSB. Si el DNL excede 1 LSB el
convertidor se puede hacer no montono (la salida se hace ms pequea para
un incremento en la entrada) y el convertidor puede perder cdigos.
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FIGURA 95. ERROR DE OFFSET Y DE GANANCIA
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FIGURA 96. ERROR DE NO LINEALIDAD INTEGRAL(INL)
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FIGURA 97. ERROR DE NO LINEALIDAD DIFERENCIAL (DNL)
La exactitud (accuracy) viene especificada mediante el error total, que es el
valor mximo de la suma de todos los errores, incluido el de cuantificacin, y
puede expresarse como error absoluto o como error relativo.
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FIGURA 98. ERROR TOTAL
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Relacin seal-ruido (SNR). Es la relacin entre el valor eficaz de la seal de
entrada VIN (tpicamente una seal senoidal) y el valor eficaz del ruido de
cuantificacin, Vn. En decibelios se tiene SNR = 6,02xn + 1,76. Por ejemplo
para un CAD de 12 bits la SNR terica es aproximadamente 74 dB.
Cada bit extra adicional supone una mejora de aproximadamente 6 dB en la
SNR. Ahora bien, si se desea aumentar la relacin SNR a base de un mayor
nmero de bits, hay que tener en cuenta que esto implica un mayor tiempo de
conversin y, por lo tanto, un menor ancho de banda aceptable para la seal de
entrada.
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FIGURA 99. RELACIN SEAL A RUIDO
El ruido que se tiene en un CAD es mayor que el ruido de cuantificacin, por lo
que la relacin seal ruido ser menor que la calculada en la transparencia
anterior y por tanto la resolucin efectiva, denominada nmero efectivo de bits
(ENOB), ser menor que n. Para una determinada entrada ENOB incluye tanto
el ruido de cuantificacin como la distorsin debida a la no-linealidad de su
caracterstica esttica. Este parmetro especifica el comportamiento dinmico
de un CAD y disminuye con la frecuencia de la seal de entrada.
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FIGURA 100. NUMERO EFECTIVO DE BITS (ENOB)
THD (Distorsin armnica total)
Se define como la suma de la potencia de todos los armnicos de frecuencia
superior a la frecuencia fundamental y la potencia del fundamental. El nmero
de armnicos que se considera para los clculos de THD depende de la
aplicacin.
SINAD (Relacin seal-ruido + Distorsin)
Es la relacin de la seal de entrada a la suma de la distorsin armnica y el
ruido. Es el inverso de THD+N. Las especificaciones SINAD y THD+N son una
buena indicacin de la respuesta dinmica del convertidor dado que incluyen
tanto el ruido como la distorsin.
Es la diferencia entre el valor mximo de la seal y el valor mximo de la
distorsin. Este parmetro es interesante cuando el CAD opera en entornos
ruidosos y se desea digitalizar seales de pequeo nivel.
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FIGURA 101. DISTORSIN ARMNICA TOTAL (THD)
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FIGURA 102. MARGEN DINMICO LIBRE DE SEALES ESPURIAS
La eleccin de la arquitectura ms adecuada para cada aplicacin estar
condicionada en muchos casos por cinco parmetros: resolucin, velocidad,
costo, alimentacin y tamao
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TABLA 8. TIPOS DE CAD
En general los CAD de mayores resoluciones son ms lentos, mientras que los
CAD ms rpidos consumen ms. Los CAD sigma-delta son los que tienen
resoluciones ms altas y el consumo ms bajo, salvo los CAD de doble rampa
cuyo consumo es an menor.
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LECCIN 4 EL CONVERSOR DIGITAL ANALOGO (CDA)
La conversin digital-analgica es un procedimiento a travs del cual un cdigo
de entrada es transformado en una seal de tensin o de corriente unipolar o
bipolar de salida mediante una correspondencia entre 2n combinaciones
binarias posibles de entrada y 2n tensiones (o corrientes) discretas de salida,
obtenidas a partir de una referencia de tensin o de corriente.
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FIGURA 103. EL COVERSOR DIGITAL A ANALOGO
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FIGURA 104. LA FUNCIN DE TRANSFERENCIA IDEAL
La figura 104 muestra la caracterstica de transferencia ideal de un CDA
unipolar. Es importante notar que tanto la entrada como la salida estn
cuantificadas, es decir, un CDA de n bits (con una referencia fija) solo puede
tener 2n posibles salidas analgicas.
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TABLA 9. TAMAO DE 1 LSB
La tabla 9 muestra el valor de un LSB para diferentes resoluciones y mrgenes
de tensin analgica. Vemos que se tienen valores de LSB inferiores a 1 mV.
Esto conlleva un cuidado especial en el diseo de la etapa de
acondicionamiento previa, de forma que los diferentes errores (offset, derivas,
ruido,) no superen el valor del LSB. Tenga en cuenta por ejemplo que el
ruido Johnson de una resistencia de 2,2 k a 25C, para un ancho de banda de
10 kHz es de 600 nV.
Los convertidores ms simples son los unipolares, cuya salida analgico es de
una sola polaridad. Sin embargo, los ms empleados son los convertidores
bipolares, los cuales permiten realizar una representacin digital de cantidades
que puedan tomar valores positivos o negativos. Hay dos tipos de
convertidores bipolares:
Bipolar con offset. Slo cambia el bit de mayor peso (MSB), que ahora es 1
para las cantidades positivas y 0 para las negativas. Es un cdigo muy fcil de
realizar y por ello es uno de los favoritos en CDA que acepten entradas
bipolares, a pesar de que alrededor del valor cero tiene muchas transiciones de
bits.
Bipolar con signo. Las cantidades positivas van precedidas de un 0 y las
negativas de un 1. La cantidad cero puede representarse indistintamente con
un 1 o con un 0 a la izquierda. Las transiciones de bits alrededor de cero son
pocas, de modo que es un cdigo interesante para representar cantidades
prximas a cero. Sin embargo se utiliza poco porque dificulta las operaciones
aritmticas. Se utiliza en los CDA de los voltmetros digitales.
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FIGURA 105. CONVERTIDORES UNIPOLARES Y BIPOLARES
Las especificaciones DC o de continua tienen inters en aplicaciones de
medida y control, operando con seales lentas y donde la temporizacin exacta
de la conversin no es generalmente importante. Las principales
especificaciones en continua son los errores de offset, ganancia y de no
linealidad.
Error de offset. Es la diferencia entre la curva de transferencia real y la ideal,
en ausencia de otros errores (salvo el de cuantificacin) cuando la entrada
digital es cero. Afecta por igual a todos los cdigos de entrada. Se puede
corregir mediante calibracin.
Error de ganancia. Es la diferencia entre los puntos de la curva real y la ideal
para la entrada digital de fondo de escala, cuando el error de offset se ha
anulado. Se puede corregir mediante calibracin.
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FIGURA 106. ESPECIFICACIONES DC
No linealidad integral (INL). Desviacin mxima respecto a la lnea que une
los extremos (cero y fondo de escala) de la curva caracterstica del CDA,
cuando los errores de cero y de ganancia son nulos. Se expresa como
porcentaje del fondo de escala, o como fraccin de LSB. Es un error que no se
puede corregir.
No linealidad diferencial (DNL). Idealmente la diferencia en la salida
correspondiente a dos cdigos adyacentes es 1 LSB. La no linealidad
diferencial es una medida de la desviacin con respecto a dicha situacin ideal.
Puede expresarse como una fraccin de LSB o en forma porcentual respecto a
FS. Si es mayor de 1 LSB la funcin de transferencia puede llegar a ser no
monotnica es decir puede llegar a ocurrir que la pendiente cambie de signo.
Hoy en da una parte importante de los CDA comerciales garantizan la
monotoneidad de la caracterstica de transferencia en un amplio margen de
temperaturas de trabajo.
Las especificaciones AC son importantes cuando los convertidores son usados
en sistemas de muestreo y reconstruccin de seales. Las especificaciones AC
ms importantes son:
Tiempo de establecimiento (Settling time, ts). Es el tiempo desde que se
produce un cambio en el cdigo de entrada hasta que la seal de salida del
CDA se mantiene dentro de LSB (u otra tolerancia especificada) del valor
final. Este tiempo est compuesto por un primer proceso de duracin td
durante el cual la conmutacin en tiempos desiguales de los interruptores del
circuito produce un efecto indeseable en la salida denominado glitch, un
cambio de tensin con pendiente determinada por la rapidez de cambio del
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circuito (slew rate) y un proceso oscilatorio amortiguado alrededor del valor final
de la tensin o corriente de salida.
Slew rate. Es el cociente entre la tensin o corriente de plena escala y el
tiempo de establecimiento requerido para alcanzar el valor de plena escala
partiendo del valor de cero. Se expresa en V/s.
Frecuencia de conversin (Conversin rate). Es la frecuencia mxima a la
que se puede cambiar el cdigo de entrada obteniendo la salida
correspondiente. Generalmente suele ser menor que el inverso del tiempo de
establecimiento y se expresa en Hz o en muestras por segundo (S/s).
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FIGURA 107. ESPECIFICACIONES AC
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FIGURA 108. CONVERTIDOR R 2R
Uno de los circuitos ms empleados en los DACs es la red de resistencias en
escalera R-2R de la figura 95. La corriente de salida, IOUT es la suma de las que
fluyen a travs de cada resistencia de valor 2R controlada por los distintos bits.
Cuando el extremo inferior de cada rama est a 0 voltios, al ir de izquierda a
derecha la corriente se va dividiendo por 2 a cada nodo. Con esta disposicin
de interruptores dobles la carga que ve la fuente de tensin de referencia es R,
con independencia de la palabra de entrada. Algunos modelos tienen
disponible en un terminal la corriente de salida complementaria, es decir, la
correspondiente a la palabra digital complementaria de la aplicada a la entrada.
Si una de estas dos corrientes no se utiliza, hay que derivarla a masa.
La precisin obtenida en la fabricacin de condensadores MOS con una
relacin de valores determinada, permite fabricar actualmente CDA basados en
redes de condensadores en vez de resistencias.
En los modelos con salida en corriente y resolucin elevada, si se desea
obtener una salida en tensin mediante un AO externo, hay que tener cuidado
en la eleccin de AO, de forma que los errores de este sean lo menor posible.
Criterios de Seleccin:
Resolucin: 8, 10, 12, 14, 16, 18 bits
Tipo de salida: V, I
Tiempo de establecimiento: s
Tensin de referencia: Externa/Interna
Interfaz bus de datos: Serie (I2C, SPI), Paralelo
Nmero de canales: 1, 2, 3, 4, 8
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EJEMPLOS DE CDA:
El MAX 5520
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FIGURA 109. MAX 5520
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FIGURA 110. SALIDA UNIPOLAR
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FIGURA 111. SALIDA BIPOLAR
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FIGURA 112. ALIMENTACIN
APLICACIONES
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FIGURA 113. APLICACIONES
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LECCIN 5 SISTEMAS DE ADQUISICIN DE DATOS
Un Sistema de Adquisicin de Datos no es mas que un equipo electrnico cuya
funcin es el control o simplemente el registro de una o varias variables de un
proceso cualquiera.
El objetivo bsico de los "Sistemas de Adquisicin de Datos"(S.A.D) es la
integracin de los diferentes recursos que lo integran: Transductores de
diferentes tipos y naturaleza, multiplexores, amplificadores, sample and hold,
conversores A/D y D/A, microcontroladores para chequear variables (PH,
humedad relativa, temperatura, iluminacin, concentracin, etc.) para una
posterior utilizacin de la misma ya sea con fines de control o medicin.
A continuacin se muestra la grafica de un SAD
FUENTE: http://www.monografias.com/trabajos17/sistemas-adquisicion-dato/sistemas-
adquisicion-dato.shtml
FIGURA 114. DIAGRAMA GENERAL DE UN SAD
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SISTEMA DE ADQUISICIN DE DATOS (SIN S/H)
La figura 115 muestra un diagrama de bloques de un sistema de adquisicin
de datos multiplexado con AGP y CAD. Supongamos que se da tanto la
conmutacin de canal en el multiplexor como la ganancia del AGP se
establecen simultneamente. Posteriormente se le da al CAD la orden de
conversin. La mxima frecuencia de muestreo est limitada por el tiempo de
conmutacin del multiplexor (tmux), el tiempo de establecimiento del AGP
(tagp) y el tiempo de conversin de CAD (tconv), como se muestra en la figura
115. Para evitar errores de codificacin la seal de entrada debe mantenerse
constante durante el tiempo de conversin. Suponiendo una seal de entrada
sinusoidal podemos calcular, igual que hicimos en la transparencia 17, la
frecuencia mxima de la seal de entrada. Por ejemplo suponiendo un CAD de
12 bits con tcov= 20 s, la mxima frecuencia est limitada a 4 Hz. Esto puede
ser adecuado si la seal es continua, pero no para seales dinmicas.
FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/
FIGURA 115. SISTEMA DE ADQUISICIN DE DATOS (SIN S/H)
SISTEMA DE ADQUISICIN DE DATOS (CON S/H)
Aadiendo la funcin S/H al circuito anterior permite procesar seales
dinmicas sin incrementar la complejidad del sistema ya que el S/H puede
estar integrado en el CAD.
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En el esquema de la figura la temporizacin se realiza de forma que el
multiplexor y el AGP se activan una vez realizada la adquisicin por parte del
S/H.
FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/
FIGURA 116. SISTEMA DE ADQUISICIN DE DATOS (CON S/H)
APLICACIN
La figura 117 muestra el empleo de un S&H para minimizar el efecto de los
picos de tensin (gliches) que se producen en las transiciones del cdigo de
entrada de un CDA. El valor de estos picos depende de dicho cdigo de
entrada. Para minimizar estos picos, justamente antes de retener un nuevo
dato en el CDA el S&H es puesto en el estado de retencin de forma que los
gliches son aislados de la salida. Las transiciones de conmutacin producidas
en la salida del S&H no dependen del cdigo y son fcilmente filtrables. Esta
tcnica se puede emplear a bajas frecuencias para mejorar las caractersticas
de distorsin de los CADs.
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FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/
FIGURA 117. APLICACIN DE UN SISTEMA DE ADQUISICIN DE DATOS
TARJETAS DE ADQUISICION DE DATOS DAQ
Las tarjetas DAQ son tarjetas insertables que permiten la entrada y salida de
datos del computador a otros aparatos, donde se conectan sensores, y
actuadores, para interactuar con el mundo real. Los datos que entran y salen
pueden ser seales digitales o anlogas, o simplemente conteos de
ocurrencias digitales, tanto de entrada, como de salida. Figura 118
Las tarjetas se comportan como si fueran un puerto ms en el computador, y
poseen todo un protocolo y sistema de manejo, por lo que entender cada
tarjeta, como su funcionamiento, al igual que cualquier instrumento, requiere de
tiempo y cuidado.
Existen tarjetas de alto desempeo, y de bajo. Las de alto son programables, y
facilitan altas ratas de manejo de informacin, pues son en cierta forma
inteligentes y suficientes, tal como un sistema Stand Alone, y por tanto no
comprometen mucho la velocidad y rendimiento del computador.
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FUENTE: WWW.NI.COM/LABVIEW
FIGURA 118. LAS TARJETAS DE ADQUSICIN DE DATOS DAQ
Las tarjetas de bajo desempeo requieren de un control directo del
computador, y se ven limitadas por la velocidad de ste. El windows en cierta
forma es un sistema operativo que no trabaja en tiempo real, para operaciones
donde la rata de muestreo es muy alta, como en aplicaciones de audio, radar,
vibraciones y video, aunque para aplicaciones de lentitud considerable es
bueno, como en controles de hornos. En aplicaciones lentas Windows y tarjetas
simples bastan porque los tiempos perdidos por el sistema de interrupciones de
Windows (sea por mover el mouse o cualquier otra cosa) no afectan
comparativamente.
Para aplicaciones de alta velocidad y tiempo real, se requiere de hardware
especial, o sea tarjetas inteligentes, que se programen, y transfieran los datos a
memoria, ya sea por rutinas de DMA (acceso directo a memoria), o por rutinas
de interrupciones al procesador.
Las tarjetas como cualquier otro perifrico, requiere de sus parmetros de
programacin, y hasta protocolos de comunicacin, por lo que se requiere de
un software Driver que maneje lo bajo de programacin, y deje en la superficie,
la posibilidad de programar aplicaciones con los beneficios de dichas tarjetas,
de una forma sencilla.
COMUNICACIN A TRAVS DEL PUERTO SERIAL.
Se trasmite la informacin por un puerto que puede ser el COM1 o el COM2, de
forma serial, sea a travs de un solo cable, y cada bit pasa uno tras otro a alta
velocidad. Para la comunicacin entre computadores se establece un protocolo
comn para que la informacin sea entendida por ambos. Se debe definir el
tamao de los BUFFER para almacenar datos mientras se realiza la
comunicacin. Tambin se debe definir si hay Handshaking, el cual consiste en
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que el que recibe cuando valla a tener lleno el bfer de informacin mande una
instruccin (Si es por software es un comando <ctrl-S>, si es por hardware por
una lnea) para detener la transmisin, y otra para reanudar la transmisin de
informacin.
COMUNICACIN A TRAVS DE UN PUERTO DE GPIB.
EL GPIB (General Purpose Interface Bus ANSI/IEEE 488.1 y 488.2), es un
puerto diseado por la Hewlett Packard, para establecer comunicacin con
instrumentos de medicin. Muchos de los instrumentos como son Balanzas,
Osciloscopios, multmetros y equipos de tipo Stand Alone (que no requieren
de un computador para funcionar, son independientes) cuentan con este tipo
de puerto.
COMUNICACIONES DINMICAS ENTRE PROGRAMAS DE WINDOWS
DDE.
Si se tiene una base de datos abierta, es posible accesar datos de esta, y
usarlos y viceversa, lo que sirve para una actualizacin dinmica.
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CAPTULO 2 SISTEMAS DE INSTRUMENTACIN DE
VISUALIZACIN DINAMICA
LECCIN 1 EL TUBO DE RAYOS CATODICOS (TRC)
TUBO DE RAYOS CATODICOS
Su funcin es generar el haz de electrones, posteriormente se acelera este haz
y se desva para crear la imagen; contiene adems una pantalla de fsforo
donde el haz de electrones llega a ser visible.
El tubo de rayos catdicos cuenta con un ctodo que calentado emite
electrones, posteriormente estos pasan por el nodo de aceleramiento por
medio de un pequeo hueco en la rejilla de control. La rejilla de control permite
limitar la cantidad de corriente de ctodo. Se encuentra ubicado
posteriormente un nodo de enfoque, el cual antecede al nodo acelerador, el
nodo acelerador suministra energa al haz de electrones para pasar hacia la
pantalla fosforescente.
- DEFLEXION ELECTROSTATICA
La deflexin (D) sobre la pantalla fluorescente esta dada por:
D =
dEa
LIdEd
2
Donde:
D: deflexin sobre la pantalla fluorescente (metros).
L: distancia a partir del centro de las placas de deflexin hasta la pantalla
(metros).
Id: longitud efectiva de las placas de deflexin.
D: distancias entre las placas.
Esta expresin muestra que si se tiene un voltaje dc (Ed), la desviacin del haz
de electrones sobre la pantalla es proporcional al voltaje de deflexin (Ea), la
variacin sobre la pantalla seguir las variaciones del voltaje de deflexin de
una manera lineal.
Se define la sensibilidad de deflexin (S), en un tubo de rayos catdicos como
la desviacin sobre la pantalla (en metros), por voltaje de deflexin.
S =
Ed
D
|
.
|

\
|
V
m
=
dEa
LId
2
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El factor de deflexin (G) es:
G =
S
1
=
LId
dEa 2
= |
.
|

\
|
m
V
Este valor no depende del voltaje de deflexin; los rangos de los valores de
factores de deflexin son 10 V /cm 100 V/cm son sensibilidades de 1.0 mm/V
y 0.1 mm/V .
- ACELERACION DE POSTDEFLEXIN
Dependiendo de la cantidad de energa que se transfiera al haz de electrones
se tendr una cantidad de luminosidad proporcionada por la pantalla de fsforo
Lo ideal es tener un equipo rpido, para esto se debera acelerar el haz de
electrones a la mxima velocidad, pero si se cuenta con un haz de electrones
demasiado veloz se hace ms difcil reflectar el haz.
Para esto usualmente los osciloscopios inicialmente aceleran el haz a una
velocidad relativamente baja, el haz se reflecta y posteriormente se reflecta
hasta la velocidad final deseada. A estos tubos se les conoce como tubos de
aceleracin postdeflexin
- PANTALLAS PARA LOS TUBOS DE RAYOS CATODICOS
La superficie interior en la pantalla cuenta con fsforo, este recibe la energa
cintica de los electrones y emite energa en el espectro visible a frecuencia
baja. Esta caracterstica se denomina fluorescencia, estos materiales adems
tienen la capacidad de continuar emitiendo luz posteriormente a que la fuente
de excitacin se suspende, esta propiedad se conoce como fosforescencia.
La luminancia indica la intensidad de la luz emitida por la pantalla del CRT, esta
determinada por el nmero de electrones que chocan contra la pantalla en un
segundo, tambin depende de la energa con la que los electrones golpean la
pantalla, estando sujeto al potencial de aceleracin; la luminancia varia
dependiendo del tiempo con que el haz golpea un rea determinada del
fsforo. Segn las caractersticas fsicas del fsforo se tendr una variacin en
la luminancia.
Es importante mantener baja la intensidad del haz de electrones de tal forma
que se proteja el instrumento de un dao permanente en el fsforo por
quemadura.
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FUENTE: PERSONALES.UNICAN.ES/PEREZVR/PDF/TUBOS%20DE%20RAYOS%20CATODICOS.PDF
FIGURA 119. CAON DE UN TRC
El can electrnico contiene el ctodo emisor, reja de control y electrodos
aceleradores y de enfoque del haz electrnico, designados generalmente como
sistema de lentes electrnicas.
Con la excepcin de los caones electrnicos en los tubos de cmara, casi
todos los caones se basan en el principio de dos lentes consistentes en una
fuente de electrones termoinicos, una primera lente, generalmente
electrosttica y una segunda lente que puede ser electrosttica, magntica o
una combinacin de ambas
En la primera lente se encuentra el ctodo, la reja de control y el primer nodo.
El ctodo es de caldeo indirecto y tiene la forma mostrada en la figura 120. En
el interior de un manguito cilndrico de nquel se encuentra el filamento
calefactor y el ctodo, es decir la superficie emisora propiamente dicha, en un
disco sobre la cara plana del cilindro en direccin a la pantalla.
FUENTE: PERSONALES.UNICAN.ES/PEREZVR/PDF/TUBOS%20DE%20RAYOS%20CATODICOS.PDF
FIGURA 120. ESTRUCTURA DEL CTODO EN UN TUBO DE RAYOS CATDICOS
La reja de control no es de la forma habitual que se encuentra en los triodos u
otras vlvulas de vaco. En este caso es un cilindro metlico, con un pequeo
orificio a travs del que pueden pasar los electrones. Esta configuracin ayuda
a reducir el rea efectiva del ctodo a la vez que permite la configuracin del
haz electrnico en esa zona, como consecuencia del campo elctrico entre la
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reja y el ctodo. A continuacin de la reja y separada de sta por un pequeo
espacio, se localiza el primer nodo en el que mediante paredes
cuidadosamente ajustadas se controla y configura el haz electrnico hacia la
pantalla. La estructura de la primera lente as configurada se muestra
esquemticamente.
FUENTE:PERSONALES.UNICAN.ES/PEREZVR/PDF/TUBOS%20DE%20RAYOS%20CATODICOS.PDF
FIGURA 121. ESTRUCTURA ESQUEMTICA DE LA PRIMERA LENTE
En ausencia de campos elctricos, los electrones abandonan el ctodo con
baja velocidad y forman una nube electrnica o carga de espacio en la zona
entre el ctodo y la reja.
Esta carga de espacio acta como repulsor para los nuevos electrones
emitidos por el ctodo y se alcanza una condicin de equilibrio. Si se aplica un
voltaje positivo, relativamente elevado, al primer nodo, se establece un campo
elctrico en el espacio a su alrededor que arrastra a los electrones a travs del
orificio en el cilindro de la reja de control, conformndose un haz electrnico de
seccin circular y en la forma aproximada que se indica en la figura 121. La
curvatura longitudinal de los bordes del haz est determinada por la distancia
entre el primer nodo y la reja de control, as como por el voltaje de este ltimo.
Los electrones del haz convergen en un punto en el interior del cilindro de la
primera lente y luego nuevamente se separan. Este punto, situado en el eje del
can electrnico y del tubo de rayos catdicos se designa como punto de
cruce y puede considerarse que acta como un ctodo virtual de muy
pequeas dimensiones. La cantidad de electrones que pasan hacia el primer
nodo depende del voltaje aplicado a la reja de control que, si es
suficientemente negativo, impedir el paso de cualquier electrn hacia la
pantalla. La perforacin o ventana en el primer nodo sirve para conformar el
haz electrnico, junto con la segunda lente, en la regin entre stas y la
pantalla, a fin de que nuevamente converja en un punto sobre la pantalla.
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La posicin del punto de cruce puede variar como consecuencia de los voltajes
del primer nodo y de la reja de control, as como de la densidad del haz
electrnico en la zona del primer nodo y tiene efectos sobre el enfoque del
haz en la pantalla. Una forma de ajustar el enfoque de la imagen es, por
consecuencia, variar el voltaje del primer nodo.
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LECCIN 2 DEFLEXION HORIZONTAL Y VERTICAL
SISTEMA DE DEFLEXIN VERTICAL
Este sistema en su salida debe tener una seal amplificada del nivel apropiado,
con la mnima distorsin posible
En la figura 122, se ilustran los componentes de un sistema completo de
deflexin vertical.
FUENTE:PERSONALES.UNICAN.ES/PEREZVR/PDF/TUBOS%20DE%20RAYOS%20CATODICOS.PDF
FIGURA 122. COMPONENTES DE UN SISTEMA DE DEFLEXIN VERTICAL
El atenuador de entrada establece la sensibilidad del osciloscopio,
proporcionando diferentes valores al preamplificador vertical. Existen diversas
configuraciones de atenuadores. Una de las configuraciones empleada consta
de un divisor resistivo conectado a un amplificador con una capacitancia de
entrada de 10 pF, como se ilustra en la figura 123.
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FUENTE:PERSONALES.UNICAN.ES/PEREZVR/PDF/TUBOS%20DE%20RAYOS%20CATODICOS.PDF
FIGURA 123. COMPONENTES DE UN SISTEMA DE DEFLEXIN VERTICAL
Esta configuracin tiene una cada a frecuencias altas causada por la
capacitancia en paralelo del amplificador vertical.
Para mejorar la respuesta en alta frecuencia se emplean atenuadores con
divisores de voltaje resistivos y capacitivos como se muestra en la figura 124.
FUENTE:PERSONALES.UNICAN.ES/PEREZVR/PDF/TUBOS%20DE%20RAYOS%20CATODICOS.PDF
FIGURA 124. ATENUADOR CON DIVISOR RESISTIVO Y CAPACITIVO
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Esta configuracin tiene el nombre de atenuador compensado. En instrumentos
de frecuencia mayores a 100 Mhz, se emplean divisores de entrada aun ms
complejos; en estos la atenuacin se divide entre la entrada y la salida del
preamplificador de deflexin vertical. Gran nmero de osciloscopios tienen un
capacitor conmutable de acoplamiento. Este condensador de acoplamiento se
elimina en la medicin DC.
El amplificador vertical del osciloscopio tiene una configuracin push pull,
donde adems de proporcionar ganancia de voltaje debe tener una ganancia
de corriente, este amplificador trabaja con amplificadores clase A de alta
corriente de realimentacin.
SISTEMA DE DEFLEXIN HORIZONTAL
Este sistema esta conformado por un generador de base de tiempo, que
controla la velocidad con la que se barre el haz en la superficie del tubo de
rayos catdicos (CRT) y se ajusta desde el panel frontal. Cuenta adems con
un circuito de disparo, este asegura que el barrido horizontal se inicie en el
mismo punto que la seal de entrada vertical. Se tiene adems un amplificador
horizontal, su funcin es la amplificacin de la amplitud de seales
provenientes del generador de barrido.
El generado de barrido proporciona voltajes de rampa lineales que son
alimentados al amplificador horizontal. Para lograr tener barridos variables en
periodo de tiempo se emplean capacitares conmutados y corrientes variables.
El barrido a realizar se inicia nicamente despus de recibir un pulso de
disparo que viene del circuito de disparo.
Cuando se completa el barrido, el capacitor se descarga mediante un transistor
retornando su voltaje a cero.
La figura 125 muestra la relacin existente entre los pulsos de disparo y la
generacin del barrido.
El barrido no se disparar, hasta que el barrido ms el tiempo de espera sean
menor que el periodo de la entrada. Algunos osciloscopios cuentan con dos
bases de tiempo, generalmente se sincronizan de manera tal que una base de
tiempo retarde el disparo de la segunda base. La base de tiempo retardada se
dispara con la seal de entrada, el barrido se inicia inmediatamente despus
del tiempo de retardo. Tambin es utilizado el sistema de barrido alternado,
donde un generador de base de tiempo o principal sincroniza la deflexin,
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entonces el trazo tiene un movimiento vertical y se presenta la porcin
retardada.
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FIGURA 125. RELACIN ENTRE LOS PULSOS DE DISPARO Y LA GENERACIN DE BARRIDO
Se emplea tambin la conmutacin de la velocidad de barrido despus del
tiempo de retardo. La porcin inicial de la onda es visible a una velocidad de
barrido lenta, y al tiempo retardado la velocidad de barrido cambia
rpidamente. Se emplea este mtodo cuando es difcil o imposible obtener un
punto de disparo estable, solo se requiere un barrido para presentar las
porciones lenta y retardada del trazo.
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LECCION 3 INSTRUMENTACIN PARA LAS MEDICIONES EN EL
DOMINIO DEL TIEMPO
EL OSCILOSCOPIO
El osciloscopio es un instrumento que traza una grafica de una seal elctrica,
en la mayora de las aplicaciones, esta grfica muestra como cambia una seal
con el tiempo, el eje vertical (Y) representa el voltaje, y el eje horizontal (X),
representa el tiempo.
Esta representacin grfica nos informar las siguientes caractersticas de la
seal.
- Valores de tiempo y voltaje de una seal.
- La frecuencia de la seal.
- La frecuencia con la que esta ocurriendo una porcin particular de la
seal con respecto a otras secciones de la seal
- El distorcionamiento de la seal debido al mal funcionamiento de un
componente.
- Que parte de una seal es de corriente continua (CC) y que parte
corriente alterna (CA).
- Que parte es ruido, y si el ruido cambia con el tiempo.
Un osciloscopio mide ondas de voltaje. Un ciclo de una onda es la porcin
de esta que se repite. Los contornos de una forma de onda nos dan
informacin acerca de la seal. Si se observa un cambio en la parte
superior de una forma de onda, es porque el voltaje permaneci constante.
Si se observan lneas rectas y diagonales indican un cambio lineal (es decir
aumento o disminucin de voltaje a una velocidad estable). Si se observan
ngulos agudos son debidos a cambios repentinos en el voltaje de la seal.
TIPOS DE ONDAS
- ONDAS SINUSOIDALES
Es la forma de onda fundamental. El voltaje de la red elctrica vara como
una onda sinusoidal. Las seales de test producidas por los circuitos
osciladores de un generador de seal son frecuentemente ondas
sinusoidales.
La onda sinusoidal amortiguada es un caso especial de una seal que
oscila, pero que disminuye con el tiempo.
En la figura 126 se muestra las ondas sinusoidales y sinusoidales
amortiguadas.
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FIGURA 126. ONDA SINUSOIDAL Y SINUSOIDAL AMORTIGUADA
ONDAS CUADRADAS Y RECTANGULARES
En las ondas cuadradas el voltaje aumenta y disminuye a intervalos iguales.
Es empleada esta forma de onda en circuitos digitales como seal de
sincronismo de reloj. Tambin se utiliza para verificar amplificadores. Si el
funcionamiento del amplificador es optimo, este aumentar la amplitud de la
onda cuadrada con una mnima distorsin.
La onda rectangular es similar a la onda cuadrada, con la diferencia de que
los tiempos de subida y bajada no son de igual longitud, tal como se
observa en la figura 127.
FUENTE HTTP://USUARIOS.IPONET.ES/AGUSBO/OSC/OSC_5.HTM
FIGURA 127. ONDA CUADRADA Y ONDA RECTANGULAR
ONDAS DIENTE DE SIERRA Y TRIANGULARES
Son empleadas en circuitos que controlan voltajes linealmente, como el
barrido horizontal de un osciloscopio analgico o la exploracin de la trama
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de un televisor. Las transiciones entre niveles de voltaje de estas ondas
cambian a una velocidad constante. Estas tensiones se llaman rampas. Sus
caractersticas se observan en la figura 128.
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FIGURA 128. ONDA DIENTE DE SIERRA Y TRIANGULAR
ONDAS ESCALN Y PULSOS
Estas seales ocurren de forma no peridica, se denominan seales
transitorias. La onda escaln indica un cambio repentino en el voltaje,
similar a cuando se enciende un interruptor. La seal de pulso tambin
indica un cambio repentino en el voltaje con un aumento y disminucin
rpida, similar al cambio de voltaje que se tendra si se encendiera y
apagara un interruptor. Un pulso tambin es la representacin de un bit de
informacin. Una agrupacin de pulsos se conoce como tren de pulsos. En
un ordenador sus componentes se comunican a travs de pulsos.
FUENTE HTTP://USUARIOS.IPONET.ES/AGUSBO/OSC/OSC_5.HTM
FIGURA 129. ONDAS ESCALN Y PULSOS
- SEALES PERIDICAS Y NO PERIDICAS
-
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Si una seal es repetitiva a travs del tiempo es peridica, si por el contrario
la seal cambia constantemente es no peridica.
- SEALES SINCRONAS Y ASNCRONAS
Si existe entre las dos seales una relacin de tiempo las seales sern
sincronas. Dentro de un ordenador las seales de reloj datos y direccin
son sincronas. Si por el contrario entre las seales no existe una relacin
de tiempo la seal es asncrona.
MEDIDAS DE FORMA DE ONDA
- FRECUENCIA Y PERIODO
Si la seal se repite, tiene una frecuencia, esta equivale al nmero de veces
que la seal se repite en un segundo, ciclos por segundo, se mide en hertz
(Hz). El periodo corresponde a la medida en tiempo que tarda la seal en
completar un ciclo. La relacin entre frecuencia y periodo es inversa. La
seal de la figura 5 tiene una frecuencia de 3 Hz y un periodo de 1/3
segundos.
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FIGURA 130. FRECUENCIA Y PERIODO DE UNA SEAL
- VOLTAJE
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El voltaje es una variacin en el potencial elctrico entre dos puntos en un
circuito. Normalmente se realiza la medicin desde el pico mximo de la
seal al pico mnimo (voltaje pico a pico).
- AMPLITUD
Es definido como la cantidad de voltaje entre dos puntos de un circuito.
Normalmente expresa el voltaje mximo de una seal medido desde tierra,
o cero voltios.
FUENTE HTTP://USUARIOS.IPONET.ES/AGUSBO/OSC/OSC_5.HTM
FIGURA 131. AMPLITUD DE UNA SEAL PERIDICA
- FASE
El desplazamiento de fase de dos seales describe la diferencia en tiempo
entre dos seales similares. En la figura 7, la forma de onda que simboliza
la corriente se dice que esta 90 grados desfasada con la forma de onda
denominada voltaje.
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FIGURA 132. FASE ENTRE DOS SEALES PERIDICAS
TCNICAS DE MEDIDA EN OSCILOSCOPIOS
Las dos medidas bsicas que se pueden realizar con un osciloscopio son el
voltaje y el tiempo, al ser medidas directas.
Algunos osciloscopios digitales poseen un software interno que permite realizar
las medidas de forma automtica. Sin embargo, si se aprende a realizar
medidas de forma manual, estar capacitado para chequear las medidas
automticas que realiza un osciloscopio digital.
LA PANTALLA
La figura 133 representa la pantalla de un osciloscopio. Se debe notar que
existen unas marcas en la pantalla que la dividen tanto en vertical como en
horizontal, forman lo que se denomina retcula rejilla. La separacin entre dos
lneas consecutivas de la rejilla constituye lo que se denomina una divisin.
Normalmente la rejilla posee 10 divisiones horizontales por 8 verticales del
mismo tamao (cercano al cm), lo que forma una pantalla ms ancha que alta.
En las lneas centrales, tanto en horizontal como en vertical, cada divisin
cuadro posee unas marcas que la dividen en 5 partes iguales (utilizadas como
veremos ms tarde para afinar las medidas)
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FIGURA 133. PANTALLA DE OSCILOSCOPIO
Algunos osciloscopios poseen marcas horizontales de 0%, 10%, 90% y 100%
para facilitar la medida de tiempos de subida y bajada en los flancos (se mide
entre el 10% y el 90% de la amplitud de pico a pico). Algunos osciloscopios
tambin visualizan en su pantalla cuantos voltios representa cada divisin
vertical y cuantos segundos representa cada divisin horizontal.
MEDIDA DE VOLTAJES
Generalmente cuando se habla de voltaje realmente expresa la diferencia de
potencial elctrico, expresado en voltios, entre dos puntos de un circuito. Pero
normalmente uno de los puntos esta conectado a masa (0 voltios) y entonces
se simplifica hablando del voltaje en el punto A ( cuando en realidad es la
diferencia de potencial entre el punto A y GND). Los voltajes pueden tambin
medirse de pico a pico (entre el valor mximo y mnimo de la seal). Es muy
importante que especifiquemos al realizar una medida que tipo de voltaje
estamos midiendo.
El osciloscopio es un dispositivo para medir el voltaje de forma directa. Otras
medidas se pueden realizar a partir de esta por simple clculo (por ejemplo, la
de la intensidad la potencia). Los clculos para seales CA pueden ser
complicados, pero siempre el primer paso para medir otras magnitudes es
empezar por el voltaje.
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FIGURA 134. VOLTAJE PICO DE UNA SEAL
En la figura 134 se ha sealado el valor de pico V
p
, el valor de pico a pico V
pp
,
normalmente el doble de V
p
y el valor eficaz V
ef
V
RMS
(root-mean-square, es
decir la raz de la media de los valores instantneos elevados al cuadrado)
utilizada para calcular la potencia de la seal CA.
Realizar la medida de voltajes con un osciloscopio es fcil, simplemente se
trata de contar el nmero de divisiones verticales que ocupa la seal en la
pantalla. Ajustando la seal con el mando de posicionamiento horizontal
podemos utilizar las subdivisiones de la rejilla para realizar una medida ms
precisa. (Recordar que una subdivisin equivale generalmente a 1/5 de lo que
represente una divisin completa). Es importante que la seal ocupe el mximo
espacio de la pantalla para realizar medidas fiables, para ello actuaremos sobre
el conmutador del amplificador vertical.
FUENTE HTTP://USUARIOS.IPONET.ES/AGUSBO/OSC/OSC_5.HTM
FIGURA 135. MEDICIN DE VOLTAJE POR MEDIO DEL OSCILOSCOPIO
Algunos osciloscopios poseen en la pantalla un cursor que permite tomar las
medidas de tensin sin contar el nmero de divisiones que ocupa la seal.
Basicamente el cursor son dos lineas horizontales para la medida de voltajes y
dos lineas verticales para la medida de tiempos que podemos desplazar
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individualmente por la pantalla. La medida se visualiza de forma automtica en
la pantalla del osciloscopio.
MEDIDA DE TIEMPO Y FRECUENCIA
Para realizar medidas de tiempo se utiliza la escala horizontal del osciloscopio.
Esto incluye la medida de periodos, anchura de impulsos y tiempo de subida y
bajada de impulsos. La frecuencia es una medida indirecta y se realiza
calculando la inversa del periodo. Al igual que ocurria con los voltajes, la
medida de tiempos ser ms precisa si el tiempo objeto de medida ocupa la
mayor parte de la pantalla, para ello actuaremos sobre el conmutador de la
base de tiempos. Si centramos la seal utilizando el mando de posicionamiento
vertical podemos utilizar las subdivisiones para realizar una medida ms
precisa.
FUENTE HTTP://USUARIOS.IPONET.ES/AGUSBO/OSC/OSC_5.HTM
FIGURA 136. MEDICIN DEL TIEMPO Y LA FRECUENCIA
MEDIDA DE TIEMPOS DE SUBIDA Y BAJADA EN LOS FLANCOS
En muchas aplicaciones es importante conocer los detalles de un pulso, en
particular los tiempos de subida bajada de estos.
Las medidas estndar en un pulso son su anchura y los tiempos de subida y
bajada. El tiempo de subida de un pulso es la transicin del nivel bajo al nivel
alto de voltaje. Por convenio, se mide el tiempo entre el momento que el pulso
alcanza el 10% de la tensin total hasta que llega al 90%. Esto elimina las
irregularidades en las bordes del impulso. Esto explica las marcas que se
observan en algunos osciloscopios (algunas veces simplemente unas lneas
punteadas).
La medida en los pulsos requiere un fino ajuste en los mandos de disparo. Para
convertirse en un experto en la captura de pulsos es importante conocer el uso
de los mandos de disparo que posea nuestro osciloscopio. Una vez capturado
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el pulso, el proceso de medida es el siguiente: se ajusta actuando sobre el
conmutador del amplificador vertical y el y el mando variable asociado hasta
que la amplitud pico a pico del pulso coincida con las lneas punteadas ( las
sealadas como 0% y 100%). Se mide el intervalo de tiempo que existe entre
que el impulso corta a la lnea sealada como 10% y el 90%, ajustando el
conmutador de la base de tiempos para que dicho tiempo ocupe el mximo de
la pantalla del osciloscopio.
FUENTE HTTP://USUARIOS.IPONET.ES/AGUSBO/OSC/OSC_5.HTM
FIGURA 137. MEDICIN DE LOS FLANCOS Y TIEMPOS DE SUBIDA
MEDIDA DEL DESFASE ENTRE SEALES
La seccin horizontal del osciloscopio posee un control etiquetado como X-Y,
que nos va a introducir en una de las tcnicas de medida de desfase (la nica
que podemos utilizar cuando solo disponemos de un canal vertical en nuestro
osciloscopio).
El periodo de una seal se corresponde con una fase de 360. El desfase
indica el ngulo de atraso adelanto que posee una seal con respecto a otra
(tomada como referencia) si poseen ambas el mismo periodo. Ya que el
osciloscopio solo puede medir directamente los tiempos, la medida del desfase
ser indirecta.
Uno de los mtodos para medir el desfase es utilizar el modo X-Y. Esto implica
introducir una seal por el canal vertical (generalmente el I) y la otra por el
canal horizontal (el II). (Este mtodo solo funciona de forma correcta si ambas
seales son senoidales). La forma de onda resultante en pantalla se denomina
figura de Lissajous (debido al fsico francs denominado Jules Antoine
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Lissajous). Se puede deducir la fase entre las dos seales, as como su
relacin de frecuencias observando la figura 138.
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FIGURA 138. FIGURAS DE LISSAJOUS
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LECCIN 4 INTRODUCCIN PARA LAS MEDICINES EN DOMINIO
DE LAS FRECUENCIA
EL ANALIZADOR DE ESPECTRO
DIAGRAMA DE BLOQUES DE UN ANALIZADOR DE ESPECTRO
La funcin del analizador de espectro consiste en, teniendo una seal compleja
visualizar en un tubo de rayos catdicos las frecuencias de las armnicas que
componen la seal.
Se observar un bastn principal de mayor amplitud que corresponde a la
componente fundamental, y bastones a la derecha que son proporcionales a la
amplitud de la armnica respectiva.
El analizador de espectro permite realizar mediciones del ndice de modulacin
de AM y FM y determinan sus componentes en frecuencia, adems de hacer
mediciones de ruido
El diagrama de bloques del analizador de espectro se muestra en la figura 139.
FUENTE HTTP://USUARIOS.IPONET.ES/AGUSBO/OSC/OSC_5.HTM
FIGURA 139. DIAGRAMA DE BLOQUES DEL ANALIZADOR DE ESPECTRO.
La seal de entrada despus de pasar por el atenuador entra a un filtro
pasabajos, este elimina la imagen de entrada la cual representa la banda de
frecuencias de 800 a 1100 Mhz. Posteriormente se ubica un primer mezclador
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de seal que se conecta a un oscilador de frecuencia local, este se sintoniza
con un diodo Varactor.
El monitor del analizador de espectro es logartmico, se encuentra en
decibeles, generalmente dBm. Necesitndose entonces un amplificador
logartmico.
Generalmente el monitor logartmico tiene de 60 a 90 db, requirindose entre 6
y 9 amplificadores logartmicos en circuitos integrados. Este amplificador
tambin proporciona la ganancia del analizador.
La figura 140 muestra una seal tpica visualizada por el analizador de
espectro se puede observar las componentes de la seal en diferentes valores
de frecuencia
FUENTE HTTP://USUARIOS.IPONET.ES/AGUSBO/OSC/OSC_5.HTM
FIGURA 140. DIAGRAMA DE UNA SEAL TPICA CON SU COMPONENTE PRINCIPAL Y
FUNDAMENTALES.
CARACTERSTICAS GENERALES Y CLASIFICACIN
1. Analizadores de espectro de tiempo real o multicanal
Esta compuesto por una serie de filtros pasabanda con frecuencia central
corrida, de esta manera cada filtro permitir el paso de una banda, el
posterior dejar pasar la banda siguiente y as sucesivamente. Posterior a
cada filtro se ubica un detector y un filtro pasabajos. Si la seal analizada
cuenta con componentes en cada uno de los filtros pasabanda, en la
pantalla se mostrar una seal vertical.
La resolucin depender del ancho de banda de cada filtro (a menor ancho
de banda mayor resolucin), si se quiere tener un analizador con una buena
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resolucin se necesita un gran nmero de filtros, por tal razn la banda de
frecuencia a analizar no puede ser muy grande. Se emplea este tipo de
analizador para seales con frecuencias bajas.
2. Analizadores de espectro de sintona barrida
Cuentan con solo un filtro pasabanda pero con una frecuencia central que
es mvil, permitiendo esto que la frecuencia sea desplazada a travs de un
generador de barrido.
Los analizadores de espectro cuentan con un SCAN que dan la frecuencia
por divisin (Hz, Khz, o Mhz por divisin).
Los analizadores de espectro tienen la capacidad adicional de presentar
seales de niveles altos y bajos en forma simultnea, esta capacidad se
conoce como rango dinmico, presentado en db. La seal de entrada al
analizador cuenta con componentes armnicas con diferentes frecuencias y
amplitudes, se debe por lo tanto amplificar las seales dbiles y fuertes al
mismo tiempo. Cuando se busca amplificar lo suficiente para detectar
seales pequeas, es posible que se saturen las seales fuertes. Se busca
que la ganancia del amplificador sea variable en funcin de la amplitud de la
seal recibida, amplificando ms las seales dbiles que las fuertes. El
rango dinmico consiste en la capacidad de presentar niveles altos y bajos
simultneamente. El empleo de amplificadores logartmicos permite
conseguir una ganancia variable. Se utilizan entonces 2 escalas verticales
una lineal (LIN) y otra logartmica (LOG).
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LECCION 5 INTRODUCCIN A LA INSTRUMENTACIN VIRTUAL
El concepto de instrumentacin virtual nace a partir del uso del computador
personal (PC) como "instrumento" de medicin de tales seales como
temperatura, presin, caudal, etc.
Es decir, el PC comienza a ser utilizado para realizar mediciones de fenmenos
fsicos representados en seales de corriente (Ej. 4-20mA) y/o voltaje (Ej. (0-
5Vdc). Sin embargo, el concepto de "instrumentacin virtual" va ms all de la
simple medicin de corriente o voltaje, sino que tambin involucra el
procesamiento, anlisis, almacenamiento, distribucin y despliegue de los
datos e informacin relacionados con la medicin de una o varias seales
especficas. Es decir, el instrumento virtual no se conforma con la adquisicin
de la seal, sino que tambin involucra la interfaz hombre-mquina, las
funciones de anlisis y procesamiento de seales, las rutinas de
almacenamiento de datos y la comunicacin con otros equipos.
Veamos un ejemplo; el osciloscopio tradicional tiene una funcionalidad ya
predefinida desde la fbrica donde lo disean, producen y ensamblan. Es decir,
la funcionalidad de este tipo de instrumento es definida por el fabricante del
equipo, y no por el usuario mismo. El trmino "virtual" nace precisamente a
partir del hecho de que cuando se utiliza el PC como "instrumento" es el
usuario mismo quin, a travs del software, define su funcionalidad y
"apariencia" y por ello decimos que "virtualizamos" el instrumento, ya que su
funcionalidad puede ser definida una y otra vez por el usuario y no por el
fabricante.
Para construir un instrumento virtual, slo requerimos de un PC, una tarjeta de
adquisicin de datos con acondicionamiento de seales (PCMCIA, ISA, XT,
PCI, etc.) y el software apropiado, los tres (3) elementos clave en la
conformacin de un instrumento virtual, teniendo un chasis de
acondicionamiento de seales como elemento opcional.
Decimos que el "acondicionamiento de seales" es opcional, porque
dependiendo de cada seal y/o aplicacin, se puede o no requerir
amplificacin, atenuacin, filtraje, aislamiento, etc. de cada seal. Si la seal
est en el rango de los +/- 5Vdc y no se requiere de aislamiento o filtraje, la
misma puede ser conectada directamente la tarjeta de adquisicin de datos.
En el instrumento virtual, el software es la clave del sistema, a diferencia del
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instrumento tradicional, donde la clave es el hardware. Con el sistema indicado
anteriormente, podramos construir un osciloscopio "personalizado", con la
interfaz grfica que uno desee, agregndole inclusive ms funcionalidad. Sin
embargo, este mismo sistema puede tambin ser utilizado en la medicin de
temperatura, o en el control de arranque/parada de una bomba centrfuga. Es
all donde radica uno de los principales beneficios del instrumento virtual, su
flexibilidad. Este instrumento virtual no slo me permite visualizar la onda, sino
que a la vez me permite graficar su espectro de potencia en forma simultnea.
Para finalizar, la siguiente tabla (Tabla 10) nos indica algunas de las principales
diferencias entre el instrumento convencional o tradicional, y el instrumento
virtual:
Instrumento Tradicional Instrumento Virtual
Definido por el fabricante Definido por el usuario
Funcionalidad especfica, con
conectividad limitada.
Funcionalidad ilimitada, orientado a
aplicaciones, conectividad amplia.
Hardware es la clave. Software es la clave
Alto costo/funcin Bajo costo/funcin, variedad de
funciones, reusable.
Arquitectura "cerrada" Arquitectura "abierta".
Lenta incorporacin de nuevas
tecnologa.
Rpida incorporacin de nuevas
tecnologas, gracias a la plataforma
PC.
Bajas economas de escala, alto
costo de mantenimiento.
Altas economas de escala, bajos
costos de mantenimiento.
FUENTE: WWW.NI.COM/LABVIEW
TABLA 10. INSTRUMENTO TRADICIONAL Vs INSTRUMENTO VIRTUAL
La flexibilidad, el bajo costo de mantenimiento, la reusabilidad, la
personalizacin de cada instrumento, la rpida incorporacin de nuevas
tecnologas, el bajo costo por funcin, el bajo costo por canal, etc. son algunos
de los beneficios que ofrece la instrumentacin virtual.
La instrumentacin virtual puede tambin ser implementada en equipos mviles
(laptops), equipos distribuidos en campo (RS-485), equipos a distancia
(conectados va radio, Internet, etc.), o equipos industriales (NEMA 4X, etc.).
Existe una tarjeta de adquisicin de datos para casi cualquier bus o canal de
comunicacin en PC (ISA, PCI, USB, serial RS-232/485, paralelo EPP,
PCMCIA, CompactPCI, PCI, etc.), y existe un driver para casi cualquier sistema
operativo (WIN 3.1/95/NT, DOS, Unix, MAC OS, etc.).
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FUENTE WWW.NI.COM/LABVIEW
FIGURA 141. INSTRUMENTOS VIRTUALES EN LA INDUSTRIA
Comparacin del instrumento virtual versus el tradicional las tcnicas utilizadas
normalmente para evaluar las caractersticas de medicin de un multmetro
digital (DMM) pueden ser utilizadas para evaluar las caractersticas de
medicin de un instrumento virtual (VMM). Las caractersticas se encuentran
en la tabla 11.
Al estudiar profundamente la configuracin de los sistemas de adquisicin de
datos modernos DAQ (Data Acquisition System), basados en equipos PC
(Personal Computer), se aprecia que una de las partes que componen dichos
sistemas, es el software quien controla y administra los recursos del
computador, presenta los datos, y participa en el anlisis.
Vindolo de este modo, el software es un tpico muy importante que requiere
de especial cuidado. Para los sistemas DAQ se necesita de un software de
instrumentacin, que sea flexible para futuros cambios, y preferiblemente que
sea de fcil manejo, siendo lo mas poderoso e ilustrativo posible.
DMM VMM con tarjeta
especializada
VMM con tarjeta
de propsito
general
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Hardware utilizado HP 34401 A DMM DAQCard 4050 PCI-MIO-16XE-10
No. de Canales 1 1 16 (Diferencial)
Conversin AC True RMS True RMS True RMS (por
software)
Resolucin
(convertidor de 16-
bits)
61/2 - 41/2 dgitos 51/2 dgitos 41/2 dgitos
Rango de entrada
(ACV)
100 mV - 750 V 20 mV - 250 V 100mV - 250 V (con
acondicionamiento
SCXI)
Sensibilidad (ACV) 0.1 uV 0.1 uV 1.5 uV
Rango de Entrada
(DCV)
100 mV - 1000 V 20 mV - 250 V 100 mV - 250 V
Sensibilidad (DCV) 0.1 uV 0.1 uV 1.5 uV
NMRR 60 dB 80 dB variable (80-120 dB)
CMRR 70 dB (AC), 140 dB
(DC)
90 dB (AC), 30 dB
(DC)
variable (80-120 dB)
Velocidad de
medicin
(lecturas/seg.)
5-1 K lecturas/seg 10, 50 , 60 K
lecturas/seg
100 K lecturas/seg
FUENTE: WWW.NI.COM/LABVIEW
TABLA 11. INSTRUMENTO TRADICIONAL Vs INSTRUMENTO VIRTUAL
Programas y lenguajes de programacin que cumplan con lo dicho existen en
gran nmero en el mercado actual, como por ejemplo el Visual Basic, el C, el
C++, el Visual C++, Pascal, LabWindows CVI, Labview, y muchos otros
confeccionados especficamente para las aplicaciones que los necesiten.
VENTAJAS DE LabVIEW COMO SOFTWARE DE INSTRUMENTACIN
VIRTUAL
Es muy simple de manejar, debido a que est basado en un nuevo sistema
de programacin grfica, llamada lenguaje G.
Es un programa enfocado hacia la instrumentacin virtual, por lo que cuenta
con numerosas herramientas de presentacin, en grficas, botones,
indicadores y controles, los cuales son muy esquemticos y de gran
elegancia. Estos seran complicados de realizar en bases como c++ donde
el tiempo para lograr el mismo efecto sera muchas veces mayor.
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Es un programa de mucho poder donde se cuentan con libreras
especializadas para manejos de DAQ, Redes, Comunicaciones, Anlisis
Estadstico, Comunicacin con Bases de Datos (til para una
automatizacin de una empresa a nivel total).
Con este las horas de desarrollo de una aplicacin por ingeniero, se reducen
a un nivel mnimo.
Como se programa creando subrutinas en mdulos de bloques, se pueden
usar otros bloques creados anteriormente como aplicaciones por otras
personas.
Es un programa que permite pasar las aplicaciones entre diferentes
plataformas como Macintosh y seguir funcionando.
INTRODUCCION AL LABVIEW
El LabView es un lenguaje de programacin de alto nivel, de tipo grfico, y
enfocado al uso en instrumentacin. Pero como lenguaje de programacin,
debido a que cuenta con todas las estructuras, puede ser usado para elaborar
cualquier algoritmo que se desee, en cualquier aplicacin, como en anlisis,
telemtica, juegos, manejo de textos, etc.
Cada programa realizado en LabView ser llamado Instrumento Virtual (VI), el
cual como cualquier otro programa ocupa espacio en la memoria del
computador.
USO DE LA MEMORIA:
La memoria usada la utiliza para cuatro bloques diferentes como son:
EL PANEL FRONTAL: Donde se ven los datos y se manipulan y controlan.
EL DIAGRAMA DE BLOQUES: En este se aprecia la estructura del
programa, su funcin y algoritmo, de una forma grfica en lenguaje G, donde
los datos fluyen a travs de lneas.
EL PROGRAMA COMPILADO: Cuando se escribe en LabView, el algoritmo
escrito de forma grfica no es ejecutable por el computador, por tanto,
LabView lo analiza, y elabora un cdigo asembler, con base en el cdigo
fuente de tipo grfico. Esta es una operacin automtica que ocurre al
ejecutar el algoritmo, por tanto no es importante entender como sucede esto.
Lo que si es algo para apreciar, es que en este proceso, se encuentran los
errores de confeccin que son mostrados en una lista de errores, donde con
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solo darle doble click al error, se aprecia en el diagrama de bloques, donde
ocurre ste, para su correccin.
LOS DATOS: Como el algoritmo maneja datos, requiere de un espacio en
memoria para estos, lo que hace tomar en cuenta que el computador usado
debe tener la memoria suficiente para manejarlos. Por ejemplo, cuando se
usan grandes matrices en calculos se puede requerir de mucho espacio.
Nota: A un programa VI terminado se le puede borrar el diagrama de bloques
para que ocupe menos memoria, y no pueda ser editado, y seguir
funcionando. El panel nunca puede ser borrado.
FUENTE WWW.NI.COM/LABVIEW
FIGURA 142. APLICATIVOS LabVIEW
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FUENTE WWW.NI.COM/LABVIEW
FIGURA 143. MEDICIONES VIRTUALES CON LABVIEW
INSTRUMENTOS VIRTUALES
Un programa creado en LabVIEW es llamado como Instrumento Virtual y
consta de tres partes a crear.
El Panel frontal, donde estarn ubicados todos los indicadores y controles
que el usuario podr ver cuando el programa este en funcionamiento. Por
ejemplo botones, perillas, grficas,etc.
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Barra de
desplazamiento
Grfica
Ttulo
Icono
Menus
Paleta de
herramientas
Boton
Control
FUENTE WWW.NI.COM/LABVIEW
FIGURA 144.EL PANEL FRONTAL
El diagrama de bloques muestra el programa en cdigo grfico G. Se usan
en este diagrama estructuras de programacin, y flujo de datos entre las
diferentes entradas y salidas, a travs de lneas. En este las subrutinas son
mostradas como iconos de cajas negras, con unas entradas y unas salidas
determinadas, donde en el interior se cumple una funcin especfica. El flujo
se aprecia, como se dibujara en un bosquejo de sistemas, cuando se habla
de teora de sistemas, donde cada subsistema se representa como un
cuadro con entradas y salidas.
Todos los indicadores y controles ubicados en el panel frontal estn
respaldados por un terminal de conexin en el diagrama de bloques tal como si
se tuviera un tablero de control de una mquina o un avin, donde por el frente
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se ven los indicadores y por el lado posterior se aprecian todos los cables y
terminales de conexin.
FUENTE WWW.NI.COM/LABVIEW
FIGURA 145. DIAGRAMA DE BLOQUES
El icono de conexin. Se usa para utilizar el programa creado como
subrutina en otro programa, donde el icono ser la caja negra, y las entradas
son las conexiones a los controles del programa subrutina, y las salidas son
las conexiones a los indicadores del mismo subprograma. Al crear el icono,
se conecta a travs del alambre de soldadura a los indicadores y controles
en la forma que se desee que se distribuyan las entradas y salidas en la caja
negra, tal como en un circuito integrado algunos pines corresponden a
alguna funcin en l. La idea es crear un sistema de programacin modular,
donde cada rutina creada llame otras rutinas, y estas a su ves otras de
menor nivel, en una cadena jerrquica con cualquier lmite deseado. As
cuando se use un mdulo, no se requiere saber como funciona
interiormente, simplemente solo basta conocer sus entradas y salidas para
ser as usado.
Para saber el uso de los subvis, la ventana de help ofrece la informacin
pertinente a las entradas y salidas. Esta ventana se puede obtener presionando
Ctrl-h o por medio del menu Windows
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FUENTE WWW.NI.COM/LABVIEW
FIGURA 146. VENTANA HELP DE INFORMACIN
PALETAS DE TRABAJO
Tanto en el panel frontal como en el diagrama de bloques, existe una paleta de
herramientas, que sirve tanto para editar el VI, o ejecutarlo segn el modo de
trabajo que se tenga.
Cuando se trabaja en modo de ejecucin, la paleta es la de la figura 147.
Ejecutar
Modo
Stop
Corrido
sucesivo
Punto
de paro
Modo de
corrido
Highlight
Imprimir
Panel
Grabar
Panel
FUENTE WWW.NI.COM/LABVIEW
FIGURA 147. PALETA DE EJECUCIN DE PROGRAMA
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Con el botn Ejecutar se corre una vez el programa. Cuando est
ejecutando, se cambia a rayado como se aprecia en la figura y aparece un
botn de Stop con el cual se pede detener el programa. No es
recomendado hacer esto, es preferible crear un algoritmo de paro del
programa, con un botn destinado exclusivamente para esto.
Algunos programas al terminar deben de ejecutar algunas operaciones de
cierre, como puede ser en la programacin de tarjetas de adquisicin de datos,
o en el cierre de archivos, por tanto si se usa el botn de stop, este parar el
programa totalmente, en el punto en el que se encontraba y no permitir que
complete sus rutinas de cierre, pudiendo incurrir en errores y perdida de la
informacin.
Cuando la flecha aparece rota indica que hay un error en el programa. Al hacer
clic se muestra una lista de errores, y al hacer clic en cada uno de los errores
se apreciar en el diagrama la ubicacin de la falla.
Modo cambia entre modo de edicin y modo de ejecucin. As est en
modo de ejecucin.
Corrido sucesivo hace que el programa ejecute una ves tras otra hasta
que se le de un paro con el botn de stop.
Punto de paro al ser presionado cambia a !, as, al ser llamado como
subrutina, abrir el panel frontal para mostrar como cambia, para encontrar
errores de lgica, o por simple visualizacin.
Modo de corrido Al ser presionado cambia a una lnea por pasos, as el
programa ejecutar paso a paso. cada paso se dar al oprimir el icono de un
solo paso.
Highlight Muestra como fluyen los datos y que datos, a travs de las
lneas del diagrama de bloques.
Imprimir Panel Imprime el panel frontal actual cuando termina de ejecutar
el programa.
Grabar Panel Almacena en un archivo .LOG el estado actual del panel
frontal.
En el modo de edicin la paleta es la de la figura 148.
Operador Sirve para accionar los controles e indicadores.
Posicionador Sirve para cambiar de posicin los diferentes elementos en
las diferentes pantallas. Tambin permite cambiar el tamao de estos.
Texto Permite crear textos y etiquetas, tanto como cambiar los valores de
las escalas de las grficas.
Alambrador Sirve para conectar los elementos en el diagrama de
bloques, y para conectar los controles e indicadores a los pines del cono del
programa.
Color Permite colorear los diferentes elementos.
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Ejecucin
Modo
Operador
Posicionador
Texto
Alambrador
Color
FUENTE WWW.NI.COM/LABVIEW
FIGURA 148. PALETA DE EDICIN
En realidad esta es una pequea resea del poderoso programa LabVIEW; no
obstante en esta leccin se tomaron tips muy importantes los cuales son base
para una posterior profundizacin del tema.
CONCLUSIONES
Un instrumento virtual puede realizar las tres (3) funciones bsicas de un
instrumento convencional: adquisicin, anlisis y presentacin de datos. Sin
embargo, el instrumento virtual me permite personalizar el instrumento, y
agregarle mucha ms funcionalidad sin incurrir en costos adicionales. Quiere
conectividad de su instrumento con Ethernet? Quiere almacenar sus datos en
una tabla o archivo compatible con MS Excel? Quiere agregarle a su
instrumento un nuevo algoritmo o funcin que necesita en su experimento? La
respuesta a todas estas preguntas est en sus manos, ya que todo ello puede
hacerse y, mejor an, puede hacerlo usted mismo.
El instrumento virtual le apalanca en la flexibilidad y poder del PC, y mediante
el software que lo acompaa, el nivel de adaptabilidad y personalizacin del
instrumento virtual es casi ilimitado.
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CAPTULO 3. INTRODUCCIN DE LA INSTRUMENTACIN
PARA MEDICIONES DE INTERFERENCIAS
ELECTROMAGNTICAS - REFLECTOMETRA
LECCIN 1. MODELAMIENTO DE UNA LNEA DE TRANSMISIN
MODELAMIENTO DE UNA LNEA DE TRANSMISION
Al analizar los parmetros distribuidos en un conductor se toman en cuenta la
distribucin espacial de sus componentes (sus dimensiones fsicas), por el
contrario los circuitos elctricos y electrnicos se denominan circuitos de
parmetros concentrados.
Tengamos en cuenta que una lnea de transmisin, esta formada por dos
conductores adyacentes separados por un dielctrico, uno de los conductores
se puede denominar positivo y el otro, tierra o negativo.
Al tomar como base este modelo de lnea de transmisin se observa que sus
caractersticas son similares a la de un condensador (unin de conductor
aislante conductor). Dicha lnea de transmisin tendr tambin un
comportamiento inductivo, al considerarse la lnea de transmisin como una
espira cerrada con un generador en un extremo y en el otro la carga.
Teniendo en cuenta entonces las caractersticas no ideales de dicha lnea de
transmisin, debemos tener encuentra adems la resistencia, la cual
aumentara a medida que se tenga una mayor longitud (la resistencia es
directamente proporcional a la longitud).
Obtendremos as un modelo de la lnea de transmisin con una resistencia R,
una Inductancia L y una Capacitancia C
Este modelo se distribuir a travs de toda la lnea de transmisin, tenindose
n trozos del modelo base distribuidos a travs de la longitud de la lnea como
se muestra en la Figura 149:
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FUENTE ELEC.ITMORELIA.EDU.MX/TOVAR/2MODLINEAS-01.HTM
FIGURA 149. PARMETROS DISTRIBUIDOS EN UNA LNEA DE TRANSMISIN
- Se tiene un componente capacitivo distribuido (expresado en faradios
por unidad de longitud) se ilustra en la figura como un condensador en
paralelo, es debido al campo elctrico existente en el dielctrico entre
los conductores de lnea, este modela el procedimiento de
almacenamiento energtico en forma de campo elctrico que se produce
en la lnea.
- El componente inductivo distribuido (expresado en henrios por unidad de
longitud) se ilustra en la figura como una bobina en serie, es debida al
campo magntico alrededor del conductor y modela el proceso de
almacenamiento de energa en forma de campo magntico que se
produce en la lnea.
- La resistencia distribuida del conductor (expresada en ohmios por
unidad de longitud), se ilustra en la figura como la resistencia en serie R,
es causada por las caractersticas no lineales de los conductores.
- La conductividad distribuida (expresada en Mohs por unidad de longitud
o Siemens por unidad de longitud), se ilustra en la figura por un
conductor en paralelo G, este modela la disipacin de potencia que se
produce por la no linealidad del dielctrico.
Para este modelamiento suponemos entonces unas caractersticas
homogneas a lo largo de la lnea de transmisin, los parmetros R y G son
pequeos, y sus efectos se pueden ignorar, se tendr entonces que cada
tramo que integra el modelo cuenta con una inductancia (L) y una
capacitancia (C) unitaria, como se ilustra en la figura 150
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FUENTE ELEC.ITMORELIA.EDU.MX/TOVAR/2MODLINEAS-01.HTM
FIGURA 150. MODELO APROXIMADO DE UNA LNEA DE TRANSMISIN
Se puede representar una lnea de transmisin como una sucesin de
cuadripolos, con una longitud infinitesimal, para cada uno de estos elementos
se emplea un modelo circuital, donde las tensiones y corrientes de entrada y
salida son los parmetros descriptivos. Si la longitud de la lnea de transmisin
se extiende a travs del eje z, cada seccin de la lnea de transmisin tendr
una longitud dz. Tal como se muestra en la figura 151
FUENTE ELEC.ITMORELIA.EDU.MX/TOVAR/2MODLINEAS-01.HTM
FIGURA 151. SECCIN DE LA LNEA DE TX (CUADRIPOLO)
Se asume una lnea sin perdidas de energa, donde el dielctrico tampoco
tendr perdidas.
Las corrientes y cargas en el conductor provocan campos elctricos y
magnticos cuya representacin sern componentes reactivos: capacidad e
inductancia. La Capacitancia representar el campo elctrico que se crea por
las cargas en los conductores de la lnea y la inductancia representar el
campo magntico generado por las corrientes circulantes.
Ldz ser entonces la inductancia del tramo y Cdz su capacidad.
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FUENTE ELEC.ITMORELIA.EDU.MX/TOVAR/2MODLINEAS-01.HTM
FIGURA 152. COMPONENTES INDUCTIVAS Y CAPACITIVAS
Al aplicar la ley de corrientes de Kirchoff en el segmento de la figura 152 :
z
t
v
Cdz z i dz z i
c
c
+ + ) ( ) ( = 0
El ltimo termino es la corriente que sale del Capacitor Cdz
De donde:
) ( ) ( z i dz z i + dz
z
i
c
c
Entonces: z
z
i
c
c
-C z
t
v
c
c
Al aplicar la ley de voltajes de Kirchoff en la malla del segmento:
) ( ) ( z v
t
i
Ldz dz z v
c
c
+ + = 0
De donde
z
z
v
c
c
-L z
t
i
c
c
Resumiendo:
z
z
i
c
c
-C z
t
v
c
c
y z
z
v
c
c
-L z
t
i
c
c
Estas dos ecuaciones diferenciales se conocen como ecuaciones para una
lnea ideal.
Para analizar estas expresiones se deriva la primera con respecto al tiempo y
la segunda con respecto a z:
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2
2 2
t
v
C
t z
i
c
c
=
c c
c
y
z t
i
L
z
v
c c
c
=
c
c
2
2
2
Las derivadas cruzadas son iguales, de tal forma que:
0
2
2
2
2
=
c
c

c
c
t
v
LC
z
v
Esta expresin diferencial se denomina ecuacin de onda o ecuacin de
DAlembert. Esta ecuacin diferencial de lineal homognea, tiene la solucin
del tipo
) ( ) , ( ct z f t z v = Donde
LC
c
1
=
Es la representacin de una onda que se propaga a lo largo del eje z con
velocidad c. Si se emplea el signo (-) la onda se propaga en sentido +z, si se
toma el signo (+) la onda se propaga segn z.
Se tendr una ecuacin semejante para la corriente i(z,t) a lo largo de la lnea.
- LNEAS DE TRANSMISIN CON PRDIDAS:
En los sistemas reales se tiene prdidas de energa causadas por:
- Perdidas dielctricas
- Perdidas por Efecto Joule en los conductores.
FUENTE ELEC.ITMORELIA.EDU.MX/TOVAR/2MODLINEAS-01.HTM
FIGURA 153. REPRESENTACIN DE UN SEGMENTO DE LA LNEA DE TX CON PERDIDAS
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Al modelo empleado anteriormente se le agrega una resistencia en serie que
representa las perdidas por efecto Joule causadas por la circulacin de
corriente en los conductores de la lnea y una conductancia en paralelo que
representa las perdidas dielctricas, como se muestra en la figura 153.
Al aplicar la ley de corrientes de Kirchoff:
z
t
v
Cdz z Gdzv z i dz z i
c
c
= + ) ( ) ( ) ( de donde : z
t
v
C z Gv z
z
i
c
c
=
c
c
) (
Al aplicar la ley de voltajes de Kirchoff:
z
t
i
Ldz z Rdzi z v dz z v
c
c
= + ) ( ) ( ) ( De donde: z
t
v
L z Ri z
z
v
c
c
=
c
c
) (
Para resolver estas ecuaciones se desacoplan mediante las derivadas
cruzadas obtenindose:
z
t
v
L z Ri z
z
v
c
c
=
c
c
) ( Entonces:
z t
i
L
t
v
RC RGv
z t
i
L
z
i
R
z
v
c c
c

c
c
+ =
c c
c

c
c
=
c
c
2 2
2
2
Y z
t
v
C z Gv z
z
i
c
c
=
c
c
) ( Entonces:
2
2 2
t
v
C
t
v
G
t z
i
c
c

c
c
=
c c
c
En donde:
2
2
2
2
) (
t
v
LC
t
v
LG RC RGv
z
v
c
c
+
c
c
+ + =
c
c
2
2
2
2
) (
t
i
LC
t
i
LG RC RGi
z
i
c
c
+
c
c
+ + =
c
c
Estas ecuaciones diferenciales de tipo ondulatorio quedan ecuaciones de
DAlembert si se considera que R=G=0. La solucin simple, en notacin
fasorial, para variaciones armnicas ser:
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jwt
s
e z v t z v ) ( ) . ( =
jwt
s
e z i t z i ) ( ) . ( =
La ecuacin diferencial para la tensin tendr la forma:
s
s
v LC w LC RC jw RG
dz
v d
] ) ( [
2
2
2
+ + = Entonces: 0
2
2
2
= +
s
s
v
dz
v d

Donde ) )( ( ) (
2
jwC G jwL R LG RC jw RG LC w i + + = + = =
La corriente tendr una ecuacin similar.
Estas expresiones son conocidas como ecuaciones de Helmholtz; a i =
se le denomina numero de onda, tiene una componente compleja que indica
una propagacin con atenuacin causada por las perdidas en el trayecto del
conductor.
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LECCION 2. PROPAGACION DE SEALES A TRAVES DE UN
CONDUCTOR
Si tenemos en cuenta la propagacin de la seal tendremos dos ondas: una
onda incidente (o progresiva) y una onda reflejada (o regresiva), de tal forma
que la expresin que muestra este comportamiento ser:
Donde:
k =w/v
Se llama nmero de onda y posee unidades de radianes por metro,
es la frecuencia angular o natural, en radianes por segundo,
f
1
y f
2
pueden ser cualesquiera funciones imaginables, y
v =
LC
1
: Representa la velocidad de propagacin de la onda.
f
1
representa una onda viajera segn la direccin positiva de x, mientras que f
2
representa una onda viajera segn la direccin negativa de x. Se puede decir
que la tensin instantnea en cualquier punto x de la lnea, V(x), es la suma de
las tensiones de ambas ondas.
Dado que la corriente I guarda relacin con la tensin V, podemos escribir
I (x,t) =
Z
kx wt f ) ( 1
-
Z
kx wt f ) ( 2 +
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179
LECCION 3: IMPEDANCIA CARACACTERISTICA EN UN CONDUCTOR
Se define la impedancia caracterstica como la relacin existente entre la
diferencia de potencial aplicada y la corriente absorbida por la lnea, en el caso
hipottico de que esta tenga longitud infinita, o donde siendo finita no se
presenten reflexiones.
Su valor lgicamente depender de los parmetros de dicha lnea, relacionados
mediante la siguiente expresin:
Z=
c jw G
L jw R
*
*
+
+
Si tenemos en cuenta que los valores de R y G son muy pequeos, la
expresin se resume en:
Z =
C
L
Es la impedancia caracterstica en ohmios, esta no depende de la longitud sino
de la disposicin geomtrica de los conductores. No debe confundirse entonces
la impedancia caracterstica de un cable determinado (funcin del tipo de
cable), con su impedancia, la cual si depende de su longitud. Son tpicas las
impedancias caractersticas de 600 ohmios para pares telefnicos, de 75
ohmios para cables coaxiales normalmente usados en televisin y de 50
ohmios, para coaxiales empleados en redes locales.
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LECCION 4 SONDA ATENUADA EFECTO CAPACITIVO E INDUCTIVO
Las sondas funcionan en conjunto con el osciloscopio como parte de un
sistema de medida, las sondas se convierten entonces en parte del circuito,
generando cargas capacitivas, inductivas y resistivas. Para minimizar estos
efectos se debe buscar ofrecer una sonda que presente una carga mnima.
Revisemos los tipos de sondas:
SONDAS PASIVAS
Si se realizan medidas en un rango de frecuencias medias estas ofrecen por un
bajo costo un buen desempeo; la mayora tienen factores de atenuacin 10x,
100x. La sonda atenuada 10x minimiza la carga del circuito en comparacin de
una sonda 1x. La sonda atenuadora 10x funciona balanceando las
caractersticas elctricas de la sonda con las caractersticas elctricas del
osciloscopio. Antes de emplearse es necesario ajustar este balance para cada
osciloscopio en particular. Este ajuste se denomina compensacin de la sonda.
Uno de los limitantes de esta sondas es cuando se tienen seales con flancos
de subida excesivamente rpidos, y pueden cargar circuitos excesivamente
sensibles.
Las sondas pasivas de atenuacin de tensin deben ser compensadas con el
osciloscopio, esto es, balacear sus caractersticas elctricas con las de un
osciloscopio en particular. Si las sondas no se compensan no se tendrn
medidas precisas.
Muchos osciloscopios tienen una seal de referencia de onda cuadrada, que se
emplea para compensar la sonda, siguiendo los siguientes pasos:
- Conectar la sonda a un canal vertical.
- Conectar la punta de la sonda al punto de compensacin de la sonda,
por ejemplo a la seal de referencia de onda cuadrada.
- Conecte la pinza de la sonda de tierra al punto de sonda al osciloscopio.
- Visualice la seal de referencia de onda cuadrada.
- Realice los ajustes adecuados en la sonda para que las esquinas de la
onda cuadrada tengan un ngulo recto.
La Figura 154 ilustra el ajuste correcto de la sonda y las variaciones de seal si
no se tiene el ajuste adecuado.
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FIGURA 154. AJUSTE DE SONDAS
SONDAS ACTIVAS Y DIFERENCIALES
Estas emplean circuitos especialmente desarrollados para conservar la seal
durante su acceso y transmisin al osciloscopio, asegurando la integridad de
las mismas. Cuando se tengan seales con tiempo de subida rpidos se
tendrn resultados precisos con este tipo de sondas.
COMPENSACION DE EFECTOS CAPACITIVOS E INDUCTIVOS
Las sondas se construyen para que tengan un efecto mnimo sobre el circuito
de medida. Esta facultad de la sondas recibe el nombre de efecto de carga,
para minimizarla se utiliza un atenuador pasivo, generalmente de x10.
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FIGURA 155. COMPENSACIN DE EFECTOS DE CARGA
Mediante el condensador variable que se muestra en la Figura 155 se
compensa el efecto de carga generada por la sonda, la calibracin se debe
realizar con una seal de entrada de prueba.
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LECCIN 5 REFLECTOMETRA.
La forma ms general a evaluar la respuesta en el dominio de tiempo de
cualquier sistema electromgnetico es solucionar las ecuaciones de Maxwell en
el dominio de tiempo. Tal procedimiento considerara todos los efectos de la
geometra del sistema y de las caractersticas o propiedades elctricas,
incluyendo efectos de las lneas de la transmisin. Sin embargo, esto sera
algo complicado para un conector simple y an ms para una estructura tal
como una plaqueta multicapa de un sistema de alta velocidad. Por esta razn,
varios mtodos de prueba se utilizan para asistir al ingeniero electrnico para
analizar la integridad de la seal.
La reflectometria del dominio de tiempo TDR proporciona en forma ms
intuitiva y ms directa las caractersticas del sistema bajo prueba. Usando un
generador de escaln y un osciloscopio, una elevacin rpida de tensin se
enva a la lnea de la transmisin bajo investigacin. Las seales, la onda
incidente y las ondas reflejadas de tensin son observadas con un osciloscopio
en un punto particular en la lnea.
Esta tcnica del eco, revela de un vistazo la impedancia caracterstica de la
lnea, y muestra la posicin y la naturaleza (resistente, inductivo, o capacitivo)
de cada discontinuidad a lo largo de la lnea. TDR tambin demuestra si las
prdidas en un sistema de la transmisin son prdidas serie o prdidas en
paralelo. Toda esta informacin est inmediatamente disponible en el
osciloscopio. TDR tambin da una informacin ms significativa referente a la
respuesta de banda ancha de un sistema de transmisin que cualquier otra
tcnica.
La figura 156 nos muestra el principio de esta medicin,
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FIGURA 156. TENSION EN FUNCIN DEL TIEMPO EN UN PUNTO PARTICULAR DE UNA LINEA DE
TRANSMISION
El generador de escaln produce una onda incidente positivo que se aplique al
sistema de transmisin bajo prueba. El escaln viaja por la lnea de la
transmisin con la velocidad de la propagacin de la lnea. Si la impedancia de
la carga es igual a la impedancia caracterstica de la lnea, no se refleja
ninguna onda y lo que ver en el osciloscopio es el escaln de tensin
incidente.
Si la impedancia de carga no es igual a la impedancia caracterstica, parte de la
onda del incidente se refleja. La onda reflejada de tensin aparecer en el
osciloscopio sumada a la onda incidente.
Esta tcnica requiere el uso de un osciloscopio caro con especificaciones
avanzadas, para el comn de los anlisis a realizar lo mismo que generador de
escaln de tensin, en general con especificaciones de tiempo del orden del
nanosegundo.
CONSTRUCCIN DE UN GENERADOR DE PULSOS
Es posible experimentar con estos conceptos utilizando un generador de
pulsos no tan exigente y fcil de obtener como el mostrado en la figura 157
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FIGURA 157. GENERADOR DE PULSOS
El transistor Q3 forma parte de un generador de tensin, con seales del orden
del milisegundo, el generador de escaln con un tiempo de elevacin rpido es
el realizado por el transistor Q2 y el acople entre etapas realizada por C1 y R1.
El sistema esta formado por un generador de escaln, con un tiempo de subida
muy pequeo, un osciloscopio y la lnea a estudiar, el generador de escaln
genera una seal, que avanza, como una onda a travs de la lnea con una
velocidad que depende de la misma y llega a la carga en un determinado
tiempo,
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FIGURA 158. DIAGRAMA DE BLOQUES DEL SISTEMA
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Si la impedancia de carga ZL es igual a la impedancia caracterstica de la
lnea, no se produce una reflexin y la seal vista en el osciloscopio es la
siguiente,
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FIGURA 159. SEAL REFLEJADA NULA
Si la impedancia de carga ZL no es igual a la impedancia caracterstica, ocurre
una reflexin, que se propaga de nuevo hacia el generador y al llegar al mismo
se suma a la seal original como se muestra a continuacin,
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FIGURA 160. SEAL REFLEJADA
PRUEBAS DE REFLECTOMETRIA
Las siguientes seales fueron observadas para un largo de la lnea de L=1000
cm , en la primera foto la resistencia de carga fue de RL= 0 omhios y Vcc=12 V
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FIGURA 161. PRUEBA DE REFLECTOMETRIA N1
y para la siguiente la carga fue circuito abierto y Vcc= 12 V,
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FIGURA 162. PRUEBA DE REFLECTOMETRIA N2
Las siguientes seales fueron medidas con una lnea de 67 metros y adems
se fotografi la seal del colector de Q3 de la etapa de excitacin,
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FIGURA 163. PRUEBA DE REFLECTOMETRIA N3
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Experimento con la linea de 67 metros.
Esta lnea nos permite estudiar las propiedades de este sistema con un
instrumental relativamente fcil de conseguir como un generador de seales
rectangulares con un periodo de 150 mseg y un osciloscopio con una base de
tiempo de 1 mseg/div, los siguientes puntos abarcan diferentes experimentos,
variando la impedancia de carga ZL.
ZL capacitiva.
En el siguiente experimento, en el cual se observa la seal vsal, se utilizo una
carga ZL capacitiva, utilizando un capacitor de 0.013 mF, la seal del
generador realizado por el transistor Q3, es rectangular con un periodo de 150
microsegundos.
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FIGURA 164. GRAFICA RESULTANTE DE LA PRUEBA DE REFLECTOMETRIA
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Los proyectos descriptos utilizan tensiones elctricas elevadas que pueden
resultar mortales, como igualmente las sustancias, mtodos y equipos pueden
resultar peligrosos. No trabajar o experimentar en estos proyectos si no esta
familiarizado con estas tcnicas o no puede adoptar medidas de seguridad,
consulte a profesionales, en cualquier caso quien quiera trabajar en cualquiera
de estos proyectos debe asumir la responsabilidad, por daos a uno mismo, a
terceros o a propiedades.
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BIBLIOGRAFA
LIBROS CONSULTADOS
Cooper, Helfrick, Instrumentacin electrnica moderna y tcnicas de medicin,
Prentice Hall.
Bopton, Mediciones y pruebas elctricas y electrnicas, Alfaomega
Lzaro, Manuel, Problemas resueltos de instrumentacin y medidas electrnicas,
Paraninfo.
Manuales de los equipos de laboratorio seleccionados
Guas del profesor
Lzaro, Manuel, Problemas resueltos de instrumentacin y medidas electrnicas,
Paraninfo.
Cooper, Helfrick, Instrumentacin electrnica moderna y tcnicas de medicin,
Prentice Hall.
Buchla, David y Mc Lachlan, Wayne, Applied electronic instrumentation and
measurement,
Macmillan publishing company, New York.
Cooper, Helfrick, Instrumentacin electrnica moderna y tcnicas de medicin,
Prentice Hall
Creus, Antonio. Instrumentacin Industrial. Sexta edicin Alfaomega Marcombo
1998.
Doebeling, E. O. Measurement Systems Applicationand Design. McGraw Hill New
York 1990.
Lion, K. S. Elements Of Electrical And Electronic Instrumentation. McGraw Hill
New York 1975.
Ogata, Katsuhiko. Modern Control Engineering. Segunda edicin Englewood Cliffs
Prentice Hall New York 1990.
PAGINAS WEB CONSULTADAS
Pagina Web de Fsica
http://www.sc.ehu.es/sbweb/fisica/unidades/unidades/unidades.htm
Pagina Web de Metrologa
www.cem.es/cem/es_es/metrologia/sme.pdf
Pagina Web de Procedimientos de Referencia
www.quimica.urv.es/quimio/general/crms.pdf
Pagina Web de la Superintendencia de Industria y Comercio
http://www.sic.gov.co/metrologia/Electrica/Potencia.php
Pagina Web Instrumentacin Electrnica
http://www2.ate.uniovi.es/13996/
Pagina Web con documentacin tcnica de medidores anlogos
www.labc.usb.ve/mgimenez/lab_circ_electronicos_guia_teorica/cap6.pdf
Pagina Web de consulta personalizada
www.monografias.com/trabajos17/sistemas-adquisicion-dato/sistemas-
adquisicion-dato.shtml
Pagina Web de Nacional Instruments, LabVIEW
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193
www.ni.com/labview
Pagina Web con documentacin tcnica de Tubos de Rayos catdicos
personales.unican.es/perezvr/pdf/tubos%20de%20rayos%20catodicos.pdf
Pagina Web con documentacin tcnica sobre el manejo del osciloscopio
http://usuarios.iponet.es/agusbo/osc/osc_5.htm
Pagina Web con documentacin tcnica sobre Reflectometra
elec.itmorelia.edu.mx/tovar/2modlineas-01.htm

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