Documente Academic
Documente Profesional
Documente Cultură
3. S se realizeze circuitul prezentat n figura 10.4:
Figura 10.4
78
ndrumtor de laborator
4. Completai tabelul de adevr corespunztor funcionalitii circuitului
prezentat n figura 10.4:
A B C D Led2
Interpretai rezutatele obinute:
5. n figura 10.5 s-a prezentat o schem complet pentru aplicaia
propus n acest laborator:
79
Circuite integrate digitale
80
Figura 10.5
6. Completai tabelul de adevr corespunztor:
A B C D Led2 Led1
Interpretai rezutatele obinute:
LABORATORUL 11
ELEMENTE DE TESTARE A CIRCUITELOR LOGICE - ,,Defecte
de tip scurtcircuit n funcionarea circuitelor logice
11.1 OBIECTIVE
1. Definirea conceptului de testare
2. Definirea principalelor defecte de tip scurtcircuit
3. Utilizarea programului OrCAD pentru simularea ctorva circuite
logice.
11.2 INTRODUCERE TEORETIC
Prin testare se urmrete s identificm prezena unui anumit tip de
defect (sau un set de defecte). Aceste defecte sunt generate de puni de
legtur ce apar ntre trasee diferite. Ele se pot gsi fie pe placheta cu trasee
de cablaj imprimat, fie n interiorul chipului. Dac defectele sunt prezente la
nivelul cablajului imprimat ele sunt cauzate fie n procesul tehnologic de
realizare a cablajului, fie n procesul tehnologic de realizare a lipiturilor.
Scurtcircuitele pot apare ntre mai multe categorii de trasee:
ntre trasee de alimentare
ntre traseu de semnal i traseu de alimentare
ntre dou trasee de semnal
Scurtcircuite ntre bare de alimentare diferite
Acest tip de scurtcircuit provoac creterea excesiv a curentului
debitat de sursa de alimentare. Deci, echipamentul de test trebuie s posede
surse de alimentare cu limitarea curentului debitat i semnalizare a
procesului de limitare. Acest tip de scurtcircuit nu implic nici un fel de
tratare logic deoarece circuitele nu devin funcionale pn la nlturarea
defectului.
81
Circuite integrate digitale
Scurtcircuit ntre traseu de semnal i bara de alimentare
Din punct de vedere logic defectul este echivalent cu PP0 sau PP1.
Defectul de tip PP0 este nsoit i de urmtoarea comportare electric. Dac
ieirea circuitului este comandat s ia valoarea ,,0 scurtcircuitul nu
provoac efecte neplcute circuitului (tranzistorul Q
1
fiind blocat i Q
2
saturat). n schimb, dac ieirea este comandat s ia valoarea ,,1, apare un
curent de valoarea foarte mare care se nchide de la bara de alimentare prin
R, Q
1
, D spre mas. Diferena de potenial dintre cele dou bare de
alimentare se divide pe cele trei elemente amintite mai sus. Defectul de tip
PP1 determinat de scurtcircuitul la bara de alimentare este nsoit de
urmtoarea manifestare electric. Dac ieirea este comandat s ia
valoarea ,,1 nu apare o anomalie electric n funcionarea porii,
tranzistorul Q1 fiind comandat s fie saturat, iar Q2 blocat. ns n
momentul n care ieirea este comandat s ia valoarea ,,0 apare un curent
excesiv de mare prin tranzistorul Q2. Acesta are colectorul fixat la tensiunea
barei de alimentare i emitorul la potenialul barei de mas, deci nu mai are
nici o posibilitate de a se satura. Curentul injectat n baza lui este de valoare
mare pentru a impune saturarea n condiiile funcionrii normale.
Ca efect secundar apare creterea curentului absorbit de la sursa de
alimentare i nclzirea circuitului datorit puterii mari disipate.
Figura 11.1. Scurtcircuite la barele de alimentare a ieirilor bipolare
n cazul circuitelor CMOS manifestarea este simetric pentru ambele
situaii de scurtcircuit. Se poate deduce c i de aceast dat apare un
conflict electric ntre comanda dat la ieire i scurtcircuitul existent, exact
n aceleai situaii ca i n cazul precedent. n situaia n care Q
1
este
comandat deschis scurtcircuitul la mas determin apariia unui curent prin
acest tranzistor limitat numai de rezistena sa n conducie. Acelai lucru
82
ndrumtor de laborator
este valabil i pentru situaia n care Q
2
este comandat deschis i exist un
scurtcircuit la bara VDD.
Pentru a evita distrugerea circuitelor se execut operaiile de testare cu
modulele alimentate la tensiunea VDD=5V, chiar dac n sistem aceste
module vor fi alimentate la o tensiune mai mare. Evident, testele funcionale
de performan, cele care se execut la frecvene ridicate, vor putea fi
realizate numai dup eliminarea defectelor de tip scurtcircuit i alimentarea
modulelor la tensiunile nominale prevzute.
Figura 11.2. Scurtcircuite la barele de alimentare a ieirilor MOS
Cele dou tranzistoare au rezistene dren-surs comparabile atunci
cnd sunt deschise. Drept urmare, ele vor disipa puteri comparabile. Aceste
puteri sunt dependente de valoarea tensiunii de alimentare VDD:
ON
DD
R
V
P
2
=
Scurtcircuit ntre dou trasee de semnal
Aa cum se poate observa n figura 11.3, ntre traseele scurtcircuite
apare un conflict numai atunci cnd ieirile porilor P1 i P3 sunt comandate
n stri diferite. Trebuie s vedem ce nivel logic se poate detecta n aceast
situaie n cele dou noduri. n funcie de acesta se poate deduce dac
defectul este vizibil n nodurile care urmeaz spre ieiri sau este obligatorie
investigarea direct a nodului defect. Nivelul logic stabilit n nodurile
scurtcircuitate este dependent de natura ieirilor porilor care comand
aceste noduri.
Din punct de vedere logic defectul este echivalent cu introducerea
funciei logice OR, dac n nod se impune nivelul logic H, sau AND, dac
n nod se impune nivelul logic L.
Ca efect secundar apare creterea curentului absorbit de la sursa de
alimentare i nclzirea circuitului datorit puterii mari disipate.
83
Circuite integrate digitale
n figurile urmtoare sunt prezentate dou situaii posibile n funcie de
natura porilor cu ieiri scurtcircuitate.
Figura 11.3. Ilustrarea scurtcircuitului ntre dou trasee de semnal
n cazul circuitelor bipolare n general ntre nodurile scurtcircuitate
se realizeaz funcia AND.
Acest tip de scurtcircuit nu reprezint o defect care poate conduce la
distrugerea circuitului.
Figura 11.4. Scurtcircuit ntre dou ieiri bipolare
Dac ambele pori au ieiri CMOS (figura 11.5), atunci n prezena
conflictului la ieire sunt deschise dou tranzistoare n diagonal, de
exemplu Q
1
din P1 i Q
2
din P3.
Figura 11.5. Scurtcircuit ntre dou ieiri CMOS
84
ndrumtor de laborator
Un alt efect secundar care poate aprea este transformarea
circuitului combinaional n unul secvenial. Aa cum poate fi urmrit n
figura 11.6 scurtcircuitul de la ieirea porii spre intrare va determina ca
circuitul s aib o comportare secvenial, strile ieirilor vor depinde i de
valorile lor anterioare. Pentru a pune n eviden acest tip de defect trebuie
adoptat o metod adecvat de test care eventual s nu presupun aplicarea
unei succesiuni de semnale de test.
Figura 11.6. Scurtcircuitul transform circuitul n unul secvenial
Dac scurtcircuitul apare ntre dou puncte ntre care exist un
numr impar de inversri, atunci circuitul poate oscila. Dac timpul de
propagare prin porile din bucla creat este mic, rezult oscilaii de
frecven ridicat care pot determina pentru semnalele din noduri valori
intermediare celor dou nivele logice.
Figura 11.7. Apariia oscilaiilor datorit scurtcircuitelor
n exemplul din figura 11.7 valorile logice din nodurile circuitului
permit propagarea variabilei u pe bucla creat prin existena scurtcircuitului.
Dac n schimb la intrrile primei pori I, P1 ambele valori ar fi 0, atunci
propagarea variabilei ar fi blocat la trecerea prin poarta P3.
85
Circuite integrate digitale
11.3 DESFURAREA LUCRRII DE LABORATOR
11.3.1 Efectuarea lucrrii
1. Se analizeaz prin simulare OrCAD urmtoarea schem care
modeleaz prezena unui scurtcircuit la una din barele de alimentare.
Prezena rezistenelor R1 i R2 determin activarea interfeei digital-
analogice, n felul acesta se pot urmri tensiunile ce apar la ieirea
porii. Dac R1 se alege de valoare foarte mic, de exemplu 1 i
R2 de valoare foarte mare, va fi simulat situaia prezenei unui
scurtcircuit la mas. Dac R2 se alege de valoare foarte mic, de
exemplu 1 i R1 de valoare foarte mare, va fi simulat prezena
unui scurtcircuit la bara de alimentare. La intrarea porii se va aplica
un tren de impulsuri pentru a putea observa modificarea nivelelor
logice la ieire n cele dou situaii. Se vor considera mai multe pori
din diferite familii logice.
a. Se vizualizeaz tensiunile de la ieirea porii i se noteaz
nivelul logic care este modificat n prezena defectului.
b. Se determin puterea disipat n poart n situaiile de defect
i se apreciat care situaiei este mai grav n funcionare.
Pentru determinarea acestor puteri se vizualizeaz:
- Pentru scurtcircuitul la mas I(R1)*(5-V
O
)
- Pentru scurtcircuitul la bara de alimentare I(R2)*V
O
c. n situaia n care alegei o poart din familia CMOS, variai
i tensiunea de alimentare VDD mpreun cu V2. Urmrii
efectul produs asupra puterilor disipate de poart.
Figura 11.8
86
ndrumtor de laborator
87
2. Se analizeaz prin simulare OrCAD urmtoarea schem care
modeleaz prezena unui scurtcircuit ntre dou trasee de semnal. Se
vor considera pe rnd pori din diferite familii logice. Sursa V1 va
aplica un semnal dreptunghiular pentru a urmri modul n care
defectul alterneaz nivelele logice. Pentru sursa V2 se vor alege pe
rnd tensiuni continue corespunztoare celor dou nivele logice.
d. Se vor analiza semnalele din nodul scurtcircuitat i de la
ieirile porilor U2 i U4.
e. Se vor determina puterile disipate pe porile cu ieirile
scurtcircuitate.
f. Pentru porile din familia CMOS se variaz tensiunea de
alimentare urmrindu-se modificrile care apar n puterea
disipat pe porile cu ieiri scurtcircuitate.
Figura 11.9
3. Se analizeaz apariia oscilaiilor n circuitul urmtor. Sursa V2
aplic un impuls de scurt durat. Iar prin sursa V1 se urmrete
modul n care se poate invalida apariia oscilaiilor. Rezistena R2
modeleaz scurtcircuitul.
Figura 11.10
LABORATORUL 12
CIRCUITE BASCULANTE BISTABILE
12.1 OBIECTIVE
Obiectivele acestui laborator sunt:
1. Identificarea tipurilor de circuite basculante bistabile ;
2. nelegerea funcionrii bistabilului ,,RS;
3. nelegerea funcionrii bistabilului ,,JK;
4. Determinarea expresiei la ieirea unui bistabil de tipul ,,T / ,,D;
5. Determinarea tabelului de adevr pentru un bistabil de tipul ,,T/
,,D;
6. Determinarea formelor de und pentru un bistabil ,,T / ,,D;
12.2 INTRODUCERE TEORETIC
Circuitele bistabile sunt circuite care au dou stri stabile, trecerea
dintr-o stare n alta fcndu-se numai la apariia unei comenzi din exterior.
Prin examinarea strii ieirilor se poate deduce ultima comand primit de
circuit.
Circuitele basculante bistabile sunt cele mai simple circuite
secveniale. Ele sunt realizate cu pori logice cu legturi de reacie de la
ieire la intrare. Prezena legturilor de reacie confer acestor circuite
proprietatea de memorare, n sensul c semnalul de ieire va fi o funcie
care depinde de starea curent a circuitului precum i de comenzile primite
pe intrare (starea circuitului memoreaz de fapt ultimele comenzi primite).
12.2.1 Circuite basculante bistabile de tipul ,,RS
Circuitele basculantele bistabile sunt de dou tipuri: asincrone i
sincrone. Obiectivul acestui laborator este ns de a studia funcionarea
circuitelor asincrone, care pot fi de dou feluri: circuit cu comenzi active
pe 1; circuit cu comenzi active pe 0.
88
ndrumtor de laborator
a) circuitul cu comenzi active pe 1
n figura 12.1 este prezentat circuitul basculant bistabil realizat cu
pori ,,SAU-NU mpreun cu schema bloc i tabelul de adevr. Se
observ c un asemenea circuit are dou intrri de comand S i R cu
urmtoarea semnificaie:
- R(Reset) terge informaia;
- S(Set) nscrie informaia.
Bistabilul are dou ieiri complementare i Q Q. Aducerea
simultan a intrrilor S i R pe ,,1 determin comutarea ambelor ieiri pe
,,0 (fapt posibil, dar lipsit de sens deoarece acestea trebuie s fie
complementare). Din acest motiv, aceast stare nu este permis.
Figura 12.1
Examinnd tabelul de funcionare putem spune c dac avem pe
intrri (R
n
= 0 S
n
= 0) n lipsa unui semnal de intrare starea circuitului nu
se schimb, astfel circuitul pstreaz starea sa anterioar. n cazul n care
R
n
= 0 i S
n
= 1 se nscrie informaia n circuit, n situaia cnd avem R
n
=
1 i S
n
= 0 se terge informaia. Cnd ambele intrri sunt pe nivel logic
,,1 este vorba de o comand interzis.
Funcia de transfer este dat mai jos:
n n n n
n n n n
Q R S Q
Q S R Q
+ + =
+ + =
+
+
1
1
89
Circuite integrate digitale
b) circuit cu comenzi active pe 0
Analiza exact a circuitului secvenial asincron reprezentnd
bistabilul R-S realizat cu pori NOR a fost fcut la punctul a. O analiz
similar poate fi fcut i pentru circuitul basculant bistabil realizat cu
pori NOR. n figura 12.2 este reprezentat schema bloc, schema logic i
tabelul de funcionare a unui astfel de circuit:
Figura 12.2
Dac analizm tabelul de funcionare vom constata ca atunci
cnd pe ambele intrri avem nivel logic ,,0 circuitul este blocat, n
situaia n care 1 ; 0 = = n n S R informaia se terge din circuit, n cazul
cnd 0 ; 1 = = n n S R informaia se nscrie n circuit, iar n ultimul caz cnd
11 = n n S R circuitul pstreaz starea sa anterioar. Astfel starea de
nedeterminare n acest caz este 00 = n n S R . Se poate spune c n acest caz
circuitul funcioneaz contrar comparativ cu cazul circuitului ,,cu comenzi
active pe 1.
Expresiile ieirilor sunt:
n
n n
n
n
n n
n
Q S R Q
Q R S Q
* *
* *
1
1
=
=
+
+
12.2.2 Circuite basculante bistabile de tipul ,,JK
Acest tip de bistabil poate fi realizat n mai multe variante
tehnice, printre care i asincron i sincron. Deoarece este larg utilizat la
realizarea numrtoarelor i registrelor, se poate afirma c este cel mai
rspndit tip de bistabil. Scopul urmrit la realizarea lui este legat i de
eliminarea strilor de nedeterminare. Cele dou variante de circuite
propuse pentru studiu sunt:
90
ndrumtor de laborator
a) asincron
Bistabilul pe care-l vom descrie va ti s se comporte coerent n
cazul n care primete o comand neuzual de a trece simultan n starea
,,0 i n starea ,,1, astfel c mai jos sunt prezentate schema bloc, tabelul
de funcionare i schema logic:
Figura 12.3
Schema logic se obine din schema bistabilului RS asincron prin
eliminarea strii de nedeterminare. Fa de bistabilul asincron (cu comenzi
active pe 1) mai are la intrare nc dou pori I. n acest caz intrrii J
n
i
revine funcia de nscriere a informaiei n circuit pe cnd celeilalte intrri
K
n
i revine funcia de tergere din circuit. n urma minimizrii s-au
obinut i expresiile ieirilor:
n n n n n n
n n n n n n
Q Q K Q J Q
Q J Q Q K Q
+ + =
+ + =
+
+
1
1
b) sincron
Bistabilul J-K se obine prin completarea latch-ului R-S cu dou
pori I-NU. Acesta permite funcionarea, n anumite condiii, i n cazul
n care intrrile sunt aduse simultan n starea ,,1. Tabelul de funcionare,
schema bloc i schema logic sunt prezentate n figura 12.4:
91
Circuite integrate digitale
Figura 12.4
Circuitul bistabil JK sincron este obinut dintr-un bistabil RS
sincron, prin utilizarea unor bucle suplimentare de reacie. Caracteristic
acestui bistabil este faptul c, aducerea simultan a intrrilor n stare ,,1
determin comutarea ieirii n starea anterioar negat (
n n
Q Q =
+1
). Dac
intrrile sunt meninute un timp prea ndelungat n aceast stare, ieirea va
comuta de mai multe ori sau chiar va ncepe s oscileze. Pentru prevenirea
acestor fenomene se recomand ca acest interval de timp s fie de ordinul
timpilor de propagare prin circuit (latch). Comutarea nesimultan a
intrrilor J i K poate duce, de asemenea, la apariia, la ieire, a altor
nivele logice dect cele ateptate. Trecerea n starea 1 a unei intrri
naintea celeilalte furnizeaz timp ieirii s comute i (cnd cea de-a doua
intrare a ajuns pe ,,1) s se stabilizeze pe un alt nivel logic dect cel dorit
fenomen numit hazard 1 logic n bistabilul JK. Aceeai situaie poate
aprea i la comutarea intrrilor n 0.
Circuitul JK sincron basculeaz numai pe durata tactului conform
tabelului de funcionare. Cnd tactul trece n 0 circuitul nu mai basculeaz
rmnnd n starea pe care a avut-o n acel moment. Se observ c i n
acest caz se elimin starea de nedeterminare.
12.2.3 CBB de tip T
O alt variant de circuit basculant cu o unic intrare de date
sincron este bistabilul de tip T. El este obinut prin efectuarea legturii
T = J = K. Potrivit tabelului de funcionare dac intrarea T este la nivelul
1, dup aplicarea tactului, ieirea i complementeaz starea avut anterior,
n caz contrar se menine starea anterioar. Aa cum se poate remarca,
bistabilele T sunt circuite care mpart la 2 frecvena semnalului aplicat la
intrarea de tact i din acest caz sunt utilizate foarte des n circuite
secveniale de numrare. Acest tip de circuit nu este disponibil sub form
integrat, dar ele pot fi uor implementate pe baza circuitelor JK MS sau
D. Ieirea acestui bistabil poate oscila dac intrarea T este meninut prea
92
ndrumtor de laborator
mult n starea ,,1 dar nu apar probleme datorate hazardului (exist o
singur ieire). Aducerea ieirii ntr-o anumit stare nu este posibil fr
cunoaterea, n prealabil, a strii anterioare (latch-ul nu este deosebit de
folositor fr un circuit de iniializare).
Figura 12.5
12.2.4 CBB de tip D
Bistabilul D este un circuit folosit pentru stocarea temporar sau
realizarea unei ntrzieri de un tact. Exist mai multe variante constructive
i anume:
a) asincron
Se obine dintr-un CBB de tip RS sau JK n urma efecturii
legturilor:
- R S D = =
- K J D = =
Avem de a face cu un circuit pentru care condiia de neoperare nu
exist. Circuitul va urmri, prin ieirea sa, tot timpul valoarea de pe
intrare. n figura 12.6 este prezentat schema bloc i tabelul de funcionare
al acestui tip de circuit:
Figura 12.6
Se observ c ieirea copiaz intrarea Q
n+1
= D
n
i de aceea nu se
utilizeaz n practic.
93
Circuite integrate digitale
b) sincron
O structur mai complicat, ns mai eficient este ce a unui circuit
sincron. n figura 12.7 este prezentat schema bloc i cea logic pentru
acest tip de circuit:
Figura 12.7
Funcionarea:
-T = 0, porile 1 i 2 sunt blocate,
n n
Q Q R S = =
+1
11 *
-T = 1, porile 1 i 2 sunt deschise
-D
n
= 0S
n
R
n
= 01Q
n+1
= 0
-D
n
= 1S
n
R
n
= 10 1
1
=
+ n
Q
Pe durata tactului ieirea copiaz intrarea, iar cnd tactul trece n
zero circuitul rmne zvort n starea pe care a avut-o n acel moment i
de aceea acest circuit se mai numete D ,,cu zvorre sau D ,,latch.
Structura simpl a bistabilelor D i utilizarea lor ca elemente de memorie a
impus realizarea acestui tip de circuite n cadrul familiilor logice.
Ca circuite integrate avem circuitele SN 7474N, 2 bistabili cu
tergere i setare i SN 7475N 4 bistabili.
94
ndrumtor de laborator
12.3 DESFURAREA LUCRRII DE LABORATOR
12.3.1 Obiective
1. Determinarea ieirii pentru circuit de tipul ,,RS / ,,JK;
2. Determinarea tabelului de adevr;
3. Analiza diagramelor de timp;
4. Analizarea funcionrii unui bistabil de tipul ,,T / ,,D cu ajutorul
diagramelor de timp.
12.3.2 Echipament necesar
1. un cadru de baz PU 2000
2. o plac EB 133
Placa EB 133
12.3.3 Efectuarea lucrrii
1. Localizai pe placa EB-132 circuitul prezentat n figura 12.8. Realizai
toate conexiunile necesare folosind cablurile aflate n dotarea standului
de laborator.
95
Circuite integrate digitale
Figura 12.8
2. n cazul circuitului cu comenzi active pe ,,1, dac ambele intrri
sunt pe nivel logic ,,0, atunci ieirea va semnaliza ?
R:
3. Starea interzis pentru un circuit cu comenzi active pe ,,0, este:
R:
4. n figura 12.9 este prezentat diagrama de timp a circuitului bistabil
,,RS (cu comenzi active pe 1). Sunt trasate strile intrrilor
circuitului. Setai intrarea circuitului RS conform diagramei de timp.
Completai n diagrama de timp succesiunea strilor ieirilor F1 ( Q)
i F2 ( Q).
Figura 12.9
5. Notai n tabelul urmtor starea ieirilor. n determinarea ieirilor se
va ine cont de urmtoarele convenii ,,0 low, 1 high, 2 fr
schimbare:
OPERAIA R S Q
Q
HOLD 0 0
SET 0 1
RESET 1 0
ILLEGAL 1 1
96
ndrumtor de laborator
6. n figura 12.10 este prezentat diagrama de timp a circuitului bistabil
,,RS (cu comenzi active pe 0). Sunt trasate strile intrrilor
circuitului. Setai intrarea circuitului RS conform diagramei de timp.
Completai n diagrama de timp succesiunea strilor ieirilor F1 ( Q)
i F2 ( Q).
Figura 12.10
7. Notai n tabelul urmtor starea ieirilor. n determinarea ieirilor se
va ine cont de urmtoarele convenii ,,0 low, 1 high, 2 fr
schimbare.
8.
OPERAIA
R S
Q
Q
ILLEGAL 0 0
RESET 0 1
SET 1 0
HOLD 1 1
9. Starea interzis pentru un circuit cu comenzi active pe ,,1, este:
R:
10. Dac la intrrile unui circuit cu comenzi active pe ,,1 avem
1 ; 0 = =
n n
S R , atunci ieirea va semnaliza:
R:
11. Dac la intrrile unui circuit cu comenzi active pe ,,0 avem
1 ; 0 = = n n S R , atunci ieirea va semnaliza:
R:
97
Circuite integrate digitale
12. Dac la intrrile unui circuit cu comenzi active pe ,,1 avem
0 ; 1 = =
n n
S R , atunci ieirea va semnaliza:
R:
13. Dac la intrrile unui circuit cu comenzi active pe ,,1 avem
0 ; 1 = = n n S R , atunci ieirea va semnaliza:
R:
14. Pentru ce stri de intrri la un bistabil ,,JK asincron i pstreaz
starea sa anterioar?
R:
15. Pentru ce combinaii ale intrrilor bistabilul ,,JK asincron i
complementeaz starea:
R:
16. n ce condiii un bistabil de tip ,,JK sincron basculeaz ?
R:
17. Starea de nedeterminare pentru un bistabil ,,JK sincron este ?
R:
18. S se precizeze n ce condiii bistabilul ,,JK sincron oscileaz ?
R:
19. Propunei o soluie pentru nlturarea oscilaiilor la un bistabil ,,JK
sincron :
R:
20. Localizai pe placa EB-132 circuitul prezentat n figura 12.11.
Realizai toate conexiunile necesare folosind cablurile aflate n
dotarea standului de laborator.
Figura 12.11
98
ndrumtor de laborator
21. Notai n tabelul urmtor starea ieirilor. n determinarea ieirilor se
va ine cont de urmtoarele convenii ,,0 , 1, 2 fr schimbare, 3
schimbare .
OPERAIA J K S CLK Q
SET X X 0 X
HOLD 0 0 1 Front
descresctor
RESET 0 1 1 Front
descresctor
SET 1 0 1 Front
descresctor
TOGGLE 1 1 1 Front
descresctor
22. S se precizeze ce legturi trebuie fcute pentru a obine un
basculant de tip ,,T:
R:
23. Ce legtur trebuie fcut pentru ca bistabilul de tip ,,T definit prin
expresia urmtoare:
n n n
n
n
Q T Q T Q + =
+1
, s se realizeze cu un
bistabil de tip ,,D de tipul SN 7474N ?
R:
24. Pe ce front va comuta bistabilul realizat la punctul anterior ?
R:
25. Proprietatea cea mai important a unui bistabil ,,T este:
R:
26. n ce condiii poate oscila un bistabil ,,T ?
R:
27. n ce cazuri apar probleme datorate hazardului la un CBB de tip ,,T ?
R:
28. Ce circuit trebuie folosit pentru ca un bistabil de tip ,,T s fie ct mai
eficient ?
R:
99
Circuite integrate digitale
29. Formele de und la ieirea unui bistabil ,,T vor fi:
Figura 12.12
30. Un CBB de tip ,,D asincron, se obine n urma efecturii legturilor :
R:
31. La un bistabil ,,D asincron ieirea circuitului va copia ?
R:
32. La un CBB de tip ,,D sincron, cnd tactul trece n ,,0 circuitul
rmne ?
R:
33. Bistabilele ,,D sunt folosite n cea mai mare parte ca i:
R:
34. S se deseneze schema logic a unui circuit basculant bistabil ,,D
sincron obinut n urma cuplrii R S D = = :
R:
35. Ce diferene exist ntre bistabilii SN 7474N i SN 7475N n privina
frontului impulsului de tact care le determin funcionarea ?
R:
36. Localizai pe placa EB-133 circuitul prezentat n figura 12.13.
Realizai toate conexiunile necesare folosind cablurile aflate n
dotarea standului de laborator.
100
ndrumtor de laborator
Figura 12.13
37. Completai ieirile circuitului bistabil de tip ,,D utiliznd diagramele
de timp:
Figura 12.14
38. Notai n tabelul urmtor starea ieirilor, utiliznd i conveniile 2
Set, 3 Reset, rise front cresctor:
OPERAIA S R D
1
CLK Q
1
Q
SET 0 1 X X
RESET 1 0 X X
3 1 1 0 rise
2 1 1 1 rise
39. Tabelul de adevr al bistabilului ,,D va avea urmtoarele ieiri:
101
Circuite integrate digitale
102
S R D
1
CLK Q
1
Q
0 1 X X
1 0 X X
1 1 0 rise
1 1 1 rise
40. Completai ieirile circuitului bistabil de tip ,,D din figura 12.15
utiliznd diagrammele de timp:
Figura 12.15
LABORATORUL 13
NUMRTOARE ELECTRONICE
13.1 OBIECTIVE
Dup parcurgerea acestui laborator studentul trebuie s poat:
1. Clasifica numrtoarele;
2. Defini cteva caracteristici mai importante ale numrtoarelor;
3. Proiecta numrtoarele asincrone.
13.2 INTRODUCERE TEORETIC
Circuitele de numrare sunt circuite de memorie realizate cu CBB-
uri ce memoreaz numrul de impulsuri de tact aplicate la intrarea lor.
Codul care este furnizat la ieirea numrtorului depinde de aplicaia n care
se dorete a fi utilizat circuitul. Despre numrtor se poate afirma c este un
automat, deoarece primind aceeai comand de mai multe ori la rnd trece
de fiecare dat n alt stare.
n funcie de structura intern, distingem dou categorii de
numrtoare:
- numrtoare asincrone, caracterizate prin faptul c bistabilii de stare
comut progresiv, pe msur ce ,,se ia decizia ca ei s comute;
bistabilii vor ajunge cu toii n stare final ntr-un timp proporional cu
numrul lor.
- numrtoare sincrone, caracterizate prin faptul c toi bistabilii de
stare primesc n acelai timp comanda de comutare, drept urmare a unei
,,decizii luate prin analiza strii globale a numrtorului.
Structura mai simpl a numrtoarelor asincrone le recomand
pentru aplicaiile unde viteza de comutare a strii nu este important.
Pentru aplicaii de vitez, numrtoarele sincrone reprezint singura
soluie, chiar dac pltim preul unor structuri de dimensiuni mai mari.
n funcie de modul n care i modific coninutul avem:
103
Circuite integrate digitale
- numrtoare directe, care i cresc coninutul cu o unitate la fiecare
impuls de tact.
- numrtoare inverse, care i scad coninutul cu o unitate la fiecare
impuls de tact.
- numrtoare reversibile, care pot funciona att ca numrtoare
directe ct i ca numrtoare inverse.
Foarte important de tiut este c:
1. Celulele binare componente ale unui numrtor sunt bistabili de tip T,
care au proprietatea de a diviza cu 2 frecvena semnalului aplicat la intrare.
Starea numrtorului la un moment dat este caracterizat printr-un cuvnt
de cod de lungime egal cu numrul celulelor binare componente i
reprezentnd coninutul acestora. Succesiunea cuvintelor de cod d codul n
care numr numrtorul. Exist mai multe coduri: binar, binar zecimal,
Gray etc. Ne vom referi numai la numrtoarele binare.
2. Numrul strilor distincte posibile ale unui numrtor cu ,,n celule
binare este 2
n
. n multe aplicaii nu se folosesc toate cele 2
n
stri distincte
posibile srindu-se peste un numr ,,k de stri. Va rezulta un numrtor cu
2
n
k stri numit ,,modulo p, unde p = 2
n
k.
3. Capacitatea unui numrtor este dat de numrul strilor distincte ale
acestuia.
4. Raportul dintre numrul impulsurilor aplicate la intrare i cel al
impulsurilor obinute la ieire se numete factor de divizare.
104
ndrumtor de laborator
13.3 DESFURAREA LUCRRII DE LABORATOR
13.3.1 Obiective
1. Proiectarea unui numrtor asincron ,,modulo p;
2. Analizarea funcionrii numrtoarelor asincrone;
3. Analizarea funcionrii numrtoarelor sincrone;
4. Studiul diagramelor de timp.
13.3.2 Echipament necesar
1. un cadru de baz PU 2000
2. o plac EB 133
Placa EB 133
13.3.3 Efectuarea lucrrii
1. n funcie de structura lor intern numrtoarele pot fi ?
R:
2. n funcie de modul n care i modific coninutul numrtoarele
sunt ?
R:
105
Circuite integrate digitale
3. Celulele binare componente ale unui numrtor sunt bistabili de
tipul ?
R:
4. Factorul de divizare la un numrtor este ?
R:
5. Capacitatea unui numrtor reprezint ?
R:
6. La numrarea n binar starea urmtoare strii 001, este:
R:
7. La numrarea n binar starea precedent strii 111, este:
R:
8. Numrul strilor distincte posibile ale unui numrtor cu ,,n celule
binare este ?
R:
9. Se d structura numrtorului pe 3 bii din figura 13.1. Identificai
pe placa EB-133 circuitul si cu ajutorul cablurilor aflate in dotarea
standului face-i conexiunile de rigoare pentru cazul cnd circuitul
numr inainte de la 0 7 :
Figura 13.1
10. Tabelul de adevr corespunztor ieirilor numrtorului este:
106
ndrumtor de laborator
Count Q
3
Q
2
Q
1
0
1
2
3
4
5
6
7
11. Trasai diagramele de timp corespunztoare acestui circuit.
R:
12. Se d structura numrtorului pe 3 bii din figura 13.1. Identificai
pe placa EB-133 circuitul si cu ajutorul cablurilor aflate in dotarea
standului face-i conexiunile de rigoare pentru cazul cnd circuitul
numr napoi de la 7 0 :
13. Tabelul de adevr corespunztor ieirilor numrtorului este:
Count Q
3
Q
2
Q
1
0
1
2
3
4
5
6
7
14. Trasai diagramele de timp corespunztoare acestui tip de circuit.
R:
15. n figura 13.2 se d structura unui numrtor asincron care numr
direct de la 0 la 5.
107
Circuite integrate digitale
Figura 13.2
16. Tabelul de adevr corespunztor ieirilor acestui tip de numrtor
este:
Count Q
3
Q
2
Q
1
0
1
2
3
4
5
17.S se proiecteze un numrtor asincron care numr napoi de de 4 la
0.
18. S se realizeze un numrtor asincron modulo 13.
Numrtorul se realizeaz prin tehnica aducerii la zero, a crei
considerente teoretice au fost prezentate n partea de curs a acestei lucrri.
Amintim doar c numrtorul se las s evolueze normal pn n starea
p 1 (aici p 1 = 12). n momentul n care se atinge starea p (aici 13) se
aplic un impuls de tergere tuturor celulelor, pe borna CLEAR. Numrul
celulelor binare, care sunt bistabile de tip T , care compun numrtorul se
determin cu relaia , deci pentru p = 13 rezult n = 4. Ieirile
numrtorului sunt cuplate la un circuit de recunoatere a strii p, o port
I-NU, care comand aducerea sa n zero.
p
n
2
Figura circuitului este prezentat mai jos:
108
ndrumtor de laborator
Figura 13.3
Examinnd diagramele observm c numrtorul trece succesiv prin
strrile 0, 1, 2, ... , 12 i ajunge n starea 13 (Q
3
= 1, Q
2
= 1, Q
1
= 0, Q
0
= 1).
Dup ce numrtorul a trecut n starea 13 circuitul de recunoatere a acestei
stri (poarta I-NU cu intrrile Q
0
, Q
2
, Q
3
) se activeaz i comand
aducerea la zero a numrtorului. Rezult c numrtorul este efectiv n
starea 13 un timp necesar recunoaterii acestei stri dup care, avnd n
vedere c aducerea la zero este o comand prioritar, va trece n starea 0 (
Q
3
= Q
2
= Q
1
= Q
0
= 0).
19. S se realizeze un numrtor asincron modulo 10.
109
Circuite integrate digitale
20. La numrtoarele sincrone aplicarea impulsurilor de tact se face ?
R:
21. La numrtoarele sincrone bistabilii componeni vor comuta ?
R:
22. De cine este determinat timpul de propagare la numrtoarele
sincrone ?
R:
23. Circuitul integrat SN 74193N este un numrtor reversibil, avnd
structura prezentat n figura 13.4:
Figura 13.4
Intrri:
- CU (Cout Up) este intrarea care comand, pe frontul pozitiv al
semnalului, numrarea nainte.
- CD (Count Down) este intrarea care comand, pe frontul negativ al
semnalului, numrarea napoi.
Obs: Sensul de numrare este determinat de intrarea activat, n timp ce
cealalt intrare este n starea 1.
- CL (Clear) este intrarea prioritar de tergere care foreaz ieirile n
0000, atunci cnd este n starea 1.
- LD (LoaD) este intrarea de ncrcare care permite schimbarea secvenei
de numrare astfel:
-pt. LD = 1, N numr normal nainte sau napoi.
-pt. LD = 0, N se ncarc cu datele de pe A, B, C, D.
110
ndrumtor de laborator
- A, B, C, D sunt intrrile pe care apar datele ce trebuie nscrise n
numrtor.
Celelalte conexiuni ale circuitului sunt:
- Q
A
, Q
B
, Q
C
, Q
D
sunt ieiri care pot fi citite simultan, dac circuitul
lucreaz ca numrtor , sau numai cte una, dac este un divizor de
frecven.
- CY (CarrY), ieire care semnalizeaz trecerea prin 1111(15) la
numrarea nainte.
- BR (BoRow), ieire care semnalizeaz trecerea prin 0000(0) la
numrarea napoi.
24. S se deseneze graful de tranziii i forma de und la ieire pentru
circuitele de mai jos, tiind c numrtoarele sunt complet sincrone
iar ncrcarea i numrarea, LD, se fac pe frontul pozitiv al tactului.
figura 13.5
Vom nota intrrile, iar dup aceea ncepem analiza circuitului:
A = 0 0000 0110 1110 0001 0111 1111 0000
B = 1
C = 1
LD = Q
D
D = Q
D
1000 0110 1001 0111
0100 0110 0101 0111
1100 0110 1101 0111
0011 1011 - 0111
111
Circuite integrate digitale
112
Figura 13.6
Figura 13.7
25. Pentru circuitul din figura 13.8 s se deduc formele de und la
ieire i graful de tranziii tiind c circuitul este un numrtor
sincron:
Figura 13.8
26. n afar de numrtoare reversibile, numrtoarele sincrone mai pot
fi ?
R:
LABORATORUL 14
REGISTRUL DE DEPLASARE (shiftare)
14.1 OBIECTIVE
Dup parcurgerea laboratorului studentul trebuie s poat face:
1. Cunoasc funcionarea registrului de deplasare;
2. Cunoasc aplicaiile acestor tipuri de registre;
14.2 INTRODUCERE TEORETIC
Acest tip de registru se realizeaz cu ajutorul bistabilelor de tip D,
conform figurii 14.1:
Figura 14.1
Registrele de deplasare sunt folosite pentru stocare i transmiterea
informaiei. Este un dispozitiv de memorie foarte important fiind capabil sa
stocheze informaii sub form de 1 i 0 logic. n acest registru de deplasare
intrarea de date este serial. Aceasta nseamn c datele sunt aplicate la
intrarea D cte un bit la un moment dat.
Ieirea acestui registru de deplasare este la fiecare dintre ieirile Q
ale bistabilelor i sunt numite ieiri paralele. Ledul este aprins pentru a
indica 1 logic i este stins pentru a indica 0 logic. De ndat ce ntregul
numr este aplicat la intrarea D al bistabilului ,,1, starea ieirilor va aprea
la ieire.
113
Circuite integrate digitale
14.3 DESFURAREA LUCRRII DE LABORATOR
14.3.1 Obiective
1. Analiza funcionrii registrului de deplasare
14.3.2 Echipament necesar
1. un cadru de baz PU 2000
2. o plac EB 133
Placa EB 133
14.3.3 Efectuarea lucrrii
1. Localizai pe placa EB 133 circuitul prezentat n figura 14.2:
Figura 14.2
114
ndrumtor de laborator
2. Conectai trei jumperi n locul indicat de sgeat pentru intrrile A,
C i clock. Setai comutatorul A pe 0 iar comutatorele B i C pe
1. Aplicai cteva impulsuri de tact pentru a reseta cele patru
bistabile de tip D.
3. Setai comutatorul A pe 1 i aplicai un impuls de clock pentru a
seta primul bistabil de tip D pe 1. Deconectai jumperul A i
conectai-l la ieirea porii logoice 9. Acest circuit i modific
sincron cu clockul strile de la ieire la fiecare tact aplicat la intrare.
4. Folosii comutatorul CLK pentru a schimba starea intrrilor de tact
i completai diagrama de stare din figura 14.3. Ledul este aprins
pentru a indica starea logic 1.
Figura 14.3
5. Completai tabelul de adevr de mai jos:
115
Circuite integrate digitale
COUNT Q
4
Q
3
Q
2
Q
1
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
6. Observai n diagrama de timp c ieirile Q se schimb numai pe
front cresctor al intrrii clock.
7. n figura 14.4 este prezentat un numrtor n inel:
Figura 14.4
116
ndrumtor de laborator
8. Aducei momentan comutatorul B pe 0 apoi trecei-l din nou pe
1. Aplicai impulsul de tact ca i n figura 14.5 i completai
diagrama de timp:
Figura 14.5
9. Completai tabelul de adevr al Ring Counter Syncronous:
COUNT Q
4
Q
3
Q
2
Q
1
1
2
3
4
5
6
7
8
10. Urmeaz s implementm un registru de deplasare. Reconectai
circuitul din figura 14.4, astfel nct acesta s deplaseze informaiile
aplicate primului bistabil de tip D la fiecare impuls de tact. Setai
comutatorele B i C pe 1. Setai comutatorul A pe 0 i aplicai
cteva impulsuri de clock pentru a reseta patru bistabile de tip D.
11. Aducei comutatorul A pe 1. Aplicai un impuls de clock apoi
mutai comutatorul A pe 0. Aplicai patru impulsuri de clock,
apoi mutai comutatorul A pe 1 pentru a aplica alte patru
impulsuri ceasului.
12. Completai diagrama de timp din figura 14.6:
117
Circuite integrate digitale
118
Figura 14.6
13. Completai tabelul de adevr al registrului de deplasare:
DATA
IN
CLK Q
4
Q
3
Q
2
Q
1
1
0
0
0
14. Folosii comutatorele pentru a completa diagrama de timp din figura
14.7:
Figura 14.7
15. Funciile unui registru sunt ?
R:
16. Tipurile de registre existente pe pia sunt ?
R:
ANEX
STANDUL DE LABORATOR PU - 2000
Lucrrile de laborator se realizeaz practic folosind standul PU -
2000 al firmei DEGEM SYSTEMS. Standul este compus din dou pri
distincte:
unitatea de baz pe care se vor asambla plcile de baz
specifice fiecrei lucrri de laborator;
unitatea de msur cu ajutorul careia se pot efectua operaiile
de msurare necesare.
Unitatea de msur este compus din trei instrumente de msur
diferite: un frecvenmetru, un generator de semnal i un multimetru digital.
Unitatea de msur este alimentat direct de la unitatea de baz.
n figura de mai jos este prezentat panoul frontal al unitii de
msur:
1. Afiaj digital pentru afiarea frecvenei respectiv a perioadei
semnalului de intrarea sau a semnalului generat de generatorul de
semnal
2. Display test buton de testare a afiajului digital
3. Reset buton de reiniializare a frecvenmetrului
4. Display indication buton de selecie a semnalului de intrare -
comut semnalul de intrare n frecvenmetru ntre generatorul intern
de semnal i un semnal extern de intrare
5. Function buton de selecie frecven/perioad - comut ntre
msurarea frecvenei sau msurarea perioadei semnalului de intrare
6. Range - selecteaz rezoluia frecvenmetrului
7. External input conectori de intarea pentru conectare unui semnal
extern la intrarea frecvenmetrului
8. Mas conector de mas
9. Waveforms selecteaz forma de und a semnalului generat de ctre
generatorul de semnal (sinusoidal, triunghiular, dreptunghiular,
dreptunghiular nivel TTL)
10. Freq. range selecteaz domeniul de frecven pentru generatorul
de semnal
11. Frequency coarse permite reglare frecvenei, n limitele
domeniului de frecven, a semnalului generat de ctre generatorul
de semnal
119
Circuite integrate digitale
120
12. Frequency fine permite reglarea fin a frecvenei semnalului
generat de ctre generatorul de semnal
13. Amplitude permite reglarea amplitudinii semnalului generat de
ctre generatorul de semnal
14. DC offset permite ajustarea devierii de curent continuu
15. 50 output born de ieire cu impedan intern de 50
16. High output born de ieire cu impedan intern de 600
17. Low output born de ieire cu impedan intern de 600 , semnal
atenuat cu 20dB
18. TTL aut born de ieire pentru semnal nivel TTL
19. +5V,+12V,-12V conectori alimentare a unitii de msur dac
unitate de msur nu se folosete mpreun cu unitatea de baz
20. DMM multimetru digital