Sunteți pe pagina 1din 17

Masterand: Vldulescu (Axinte) Iuliana Lcramioara

1. 2. 3. 4. 5. 6.

Introducere

Consideraii generale
Principiul metodei Metoda dispersiei radiailor Xdup lungimea de und Msurarea dispersiei dup energie a radiaiilor X Analiza chimic cantitativ

7.
8. 9.

Prepararea probelor pentru analiz prin tehnica spectroscopiei de fluorescen a radiaiilor X


Aplicaii Concluzii.

Spectrometria analitic de fluorescen cu radiaii/raze X i poate identifica originea n lucrrile publicate de Charles Barkla (1877-1944) ncepnd cu 1904 acum mai bine de 100 de ani.
Fig.1. Charles Barkla (1877-1944)

o o o o o

o
o

Aceast metod este utilizat la scar larg pentru determinarea cantativ i calitativ a compoziiei chimice elementare a unei probe Pot fi analizate elemente de la B la U din probe solide, pulberi i probe lichide Determinarea elementelor chimice din : Praf din atmosfera Din ape i soluri Din plante etc Avantaje: Metod rapid Cost sczut Limit de detecie mic Metod nedistructiv Dezavantaje: necesit surs de radiaii

Metodele de analiz bazate pe spectrometria de radiaii X au la baz fenomenele fizice produse la interaciunea radiaiilor X cu substana.
Fluorescena de radiaii X are la baz emisia de radiaii X, atunci cnd se utilizeaz ca surs pentru excitarea emisiei de radiaii X, un fascicul incident (primar) de radiaii X

Fig. 2. Schema modului de producere a semnalului razelor X caracteristice din XRF

Electronii interiori ai atomilor probei sunt expulzai datorit ciocnirilor cu fotonii X ai sursei de raze X primare Electronii din straturile exterioare ocup locurile rmase vacante de pe straturile inferioare (K, L, M) n urma tranziiilor care au loc, se elibereaz cuante de energie din domaniul razelor X care prsesc proba n toate direciile

Fig. 3. Tranziiile care provoac principalele linii utilizate n analiza prin FFRX

Lungimea de und (), respectiv frecvena (u) a radiaiei emise depinde de numrul de ordine (numrul atomic) al unui element (Z) din sistemul periodic dup legea:

Unde, R- constanta Rydberg Z- nr atomic al elementului emitator n i K nr cuantice principale ale nivelelor ntre care are loc tranziia - constanta de ecran

Se bazeaz pe determinarea lungimilor de und a radiaiilor de fluorescen cu ajutorul cristalelor analizoare i msurarea intensitii in funcie de lungimea de und Radiaiile X emise de prob sunt reflectate de cristalul analizor, dup care junge pe analizor- fenomenul de difracie- dup care ajund pe detector Cristalul analizor separ radiaia X caracteristic emis de prob n funcie de lungimea ei de und ().

Fig.4. Principiul constructiv al unui spectrometru XRF dispersiv dup lungimea de und

Radiaia X caracteristic emis de prob este specific unui element chimic i are o anumit lungime de und Nivelul prezentei cantitative ale acestui element este dat de intensitatea radiaiei nregistrat de detector Se inregistreaz spectrul ca intensitatea radiaiei X caracteristice n funcie de lungimea de und Confirmarea prezentei unui element chimic n prob se bazeaz pe existena n spectru a minim dou linii pentru radiaia caracteristic a elementului chimic respectiv

Fig. 5. Spectrograma de fluorescen X a unui oel inoxidabil obinut prin procedeul dispersiv dup lungimea de und

Se bazeaz pe msurarea energiei radiaiilor de fluorescen. Metoda permite obinerea unor valori mai mari ale intensitii radiaiilor de fluorescen, deoarece aceste radiaii sunt msurate direct cu ajutorul unor detectoare semiconductoare (Si, Ge)

Fig. 6. Principiul constructiv al unui spectrometru XRF dispersiv dup energie

Sub aciunea radiaiei X caracteristice un detector semiconductor produce un anumit numr de perechi de goluri i prin aceasta un anumit impuls de curent

Impulsurile de curent sunt repartizate de un analizor multicanal i dau un spectru specific, ce are pe ordonat numrul de impulsuri i pe abcis energia (KeV)
confirmarea unui element chimic n prob se bazeaz pe existena n spectru a minim dou linii pentru radiaia caracteristic a elementului respectiv.

Detectorul msoar fotonii X plecai din probe n urma tranziiilor i care sunt numrai de un numrtor de pulsuri iar acest numr este afiat digital sau introdus ntr-un sistem de procesare a datelor sub denumirea de intensitate, I. Detectori cu gaze sau contoarele proporionale care nregistreaz un puls de curent rezultat din colectarea perechilor de ion-electron; Detectori cu semiconductori care nregistreaz un puls de curent rezultat din formarea perechilor electron-gol; Detectorul cu scintialatii care numr pulsurile luminoase create atunci cnd o radiaie x trece printrun material fosforescent.

Pentru determinarea concentraiilor unor elemente n probe de compoziie necunoscut este necesar trasarea curbelor de calibrare. Acestea sunt obinute dintr-un numr de probe standard, pentru care concentraia C a elementului cutat este cunoscut.
Se msoar intensitatea I a probei standard, apoi pe baza unui program se traseaz curba de calibrare liniar sau ptratic pentru perechi de valori ale intensitii i concentraiei. Pentru un element oarecare i, expresia de calcul este:

Probele solide- minimum de pregtire, n unele cazuri este necesar doar curarea i lustruirea acestora . Metalele pot oxida la contactul cu aerul. Pulberile o tehnic const n a presa pulberea la persiuni ridicate i a le analiza n suporturi speciale.

Lichidele sunt turnate n suporturi speciale. Msurarea lichidelor n vid este imposibil deoarece acestea s-ar evapora iar n aer exist fenomenul de absorbie. Camera spectrometrelor este umplut cu heliu. Materialele pe filtre filtrele conin doar o cantiate mic de material.Acestea nu necesit o pregatitre specific i pot fi analizate direct.

Spectroscopia analitic de fluorescen a radiaiilor X este avantajoas, n raport cu alte tehnici analitice: se poate aplica la analiza elemental a materialelor de interes industrial i nu numai, probele investigate necesit o pregtire relativ simpl sau chiar pot fi investigate ca atare fr nici o pregtire, aparatura este relativ ieftin dac se consider raportul performan/cost. Marele succes al acestei metode de analiz provine din faptul ca eantioanele nu se distrug n urma analizei iar probele, n special cele metalice sau pulberile, nu necesit un tratament chimic prealabil.

[1] Dne, A., Analiz instrumental, Ed. Universitii din Bucureti, 2010; [2] Nacu, H., Lorentz, J., Chimie analitic i instrumental, Academic Pres, 2006; [3] Dumitrescu, V., Prodnescu, C., Analiz instrumental. Aspecte teoretice i practice ale fluorescenei de radiaii X, Ed. Universitii Bucureti, 1988; [4] Pancea, I., Metode i tehnici instrumentale de analiz elemental a materialelor, Ed. Agir, 2011; [5] XRF, online url: http://www.scribd.com/doc/120461609/xrf; [6] Spectroemetria de fluorescen, online url: http://www.scribd.com/doc/172469682/TEMASpectrometria-de-fluorescen%C5%A3%C4%83-X

V multumesc pentru atenie!