Sunteți pe pagina 1din 388

Fiabilitate funcional n electronic

3
CUPRI NS
1. I NTRODUCERE .......................................................................................... 7
1.1. Generaliti.......................................................................................... 7
1.1.1. Importana fiabilitii funcionale n transporturi ..................... 7
1.1.2. Scurt istoric. Principii de abordare ........................................... 10
1.2. Analiza funcional a proceselor de circulaie i navigaie............... 16
1.2.1. Funciune i rspuns ................................................................. 16
1.2.2. Evaluarea funcional a parametrilor de sistem ........................ 25
1.2.3. Transformarea rspunsului fals n rspuns eronat .................... 30
2. UZUR I DEFECTARE ....................................................................... 33
2.1. Deterioarea componentelor de echipament ...................................... 33
2.2. Modele de analiz a uzurii i defectrii ............................................. 41
3. VARI ABI LI TATEA PARAMETRI C N RELAI A
FUNCI ONAL COMPONENT SI STEM .......................................... 54
3.1. Abordarea sistemic a funcionalitii .............................................. 54
3.2. Modele de variaie parametric......................................................... 59
3.3. Studii de caz ....................................................................................... 63
4. I NDI CATORI I STATI STI CI I I NDI CATORI I PROBABI LI STI CI
AI FI ABI LI TI I ECHI PAMENTELOR. DURATA DE VI A.......... 67
4.1. Aspecte statistice................................................................................. 67
4.2. I ndicatorii probabilistici ................................................................... 70
4.3. Modelarea matematic a duratei de via......................................... 76
4.4. Date primare de fiabilitate................................................................. 81
Cuprins
4
4.4.1. Consideraii generale ............................................................... 81
4.4.2. Solicitri n microambian ...................................................... 83
4.4.3. Solicitri n ambian ............................................................... 92
4.4.4. Solicitri combinate ................................................................ 95
5. STRUCTURI / SI STEME DE FI ABI LI TATE ......................................... 97
5.1. Schema structural pentru sisteme neredundante........................... 97
5.2. Schema structural pentru sisteme redundante............................... 102
5.3. Scheme structurale decompozabile................................................... 105
5.3.1. Structuri serie derivaie (SD) ................................................ 106
5.3.2. Structuri derivaie serie (DS) ................................................ 107
5.3.3. Structuri neuniforme ................................................................ 110
5.4. Scheme structurale nedecompozabile............................................... 112
5.4.1. Structuri tip stea i structuri tip triunghi .................................. 112
5.4.2. Structuri tip punte .................................................................... 114
6. ANALI ZA MODULUI DE DEFECTARE .............................................. 118
6.1. Dedublarea elementelor ..................................................................... 118
6.2. Comportarea elementelor dedublate n perioada normal devia 125
7. PROTECI I FI ABI LI STE PRI N MODUL DE DEFECTARE......... 130
7.1. Protecia simpl.................................................................................. 130
7.1.1. Elemente defectabile exclusiv prin cretere parametric ......... 131
7.1.2. Elemente defectabile dominant prin cretere parametric ....... 133
7.1.3. Elemente defectabile dominant prin scdere parametric ....... 146
7.2. Protectia dubl................................................................................... 149
8. REDUNDANA FI ABI LI ST . TOLERANA LA DEFECTRI ........ 155
8.1. Ordinul defectrii .............................................................................. 155
Fiabilitate funcional n electronic
5
8.2. Redundana de echipament............................................................... 160
8.3. Tolerana la defectri ........................................................................ 176
8.3.1. Sisteme autotestabile ............................................................... 176
8.3.2. Sisteme reconfigurabile ........................................................... 183
9. UNELE TEHNI CI SPECI FI CE DE REALI ZARE A
FUNCI UNI LOR DE PROTECI E........................................................... 196
9.1. Separarea galvanic.......................................................................... 197
9.2. Scurtcircuitarea elementelor / subansamblelor de execuie............ 205
9.3. Protecii n frecven......................................................................... 208
9.4. Protecii prin electroalimentare........................................................ 213
10. SI STEME CU NALT FI ABI LI TATE FUNCI ONAL .................. 219
10.1. Generaliti ...................................................................................... 219
10.2. Analiza i evaluarea rspunsului fals............................................ 224
10.3. Structuri sistemice i tehnologii aplicate pentru realizarea
fiabilitii funcionale ridicate.................................................... 230
10.3.1. Logica majoritar .................................................................. 231
10.3.2. Logica dinamic ..................................................................... 244
10.3.3. Logica de tip cablat ................................................................ 265
11. COSTURI LE FI ABI LI TI I FUNCI ONALE. FI ABI LI TATEA
COST ........................................................................................................ 291
11.1. Costuri generale ........................................................................... 291
11.2. Costuri de implementare............................................................... 294
11.3. Costurile mentenanei ................................................................... 296
12. APLI CAI I .................................................................................................. 303
12.1. Probleme de fiabilitate.................................................................. 303
12.2. Valori ai principalilor indicatori de fiabilitate............................. 316
Cuprins
6
12.3. Fiabilitatea previzional a unui inductor de cale din sistemul
de control automat al vitezei trenului ..................................... 325
12.3.1. Modul de funcionare a sistemului (sintez) ......................... 325
12.3.2. Condiii generale de calcul ..................................................... 334
12.3.3. Fiabilitatea general / clasic ................................................. 335
12.3.4. Fiabilitatea funcional la rspuns eronat ............................... 348
12.3.5. Fiabilitatea funcional la rspuns fals ................................... 356
12.3.6. Unele elemente de defectologie fiabilist .............................. 363
13. NOTAI I , ABREVI ERI I SI MBOLURI GRAFI CE UTI LI ZATE .... 368
13.1. Notaii i abrevieri ......................................................................... 368
13.1.1. Caractere n alfabet latin ....................................................... 368
13.1.2. Caractere n alfabet grec ........................................................ 378
13.2. Simboluri grafice.......................................................................... 381
14. BI BLI OGRAFI E ........................................................................................ 382
Fiabilitate funcional n electronic
7
Fiabilitate functional in electronic

La o prim anali:, din punct de vedere fi:ic, un sistem tehnic


poate fi privit ca fiind un ansamblu organizat de materiale yi energi i
iar din punct de vedere functional ca repre:entand un mifloc de
reali:are a unor operatii pentru atingerea unui scop util. Prima fatet
conduce la notiunea hardware iar cea de-a doua la notiunea software.
Este evident c operatiile (software) nu se pot reali:a fr existenta
unui sistem material (hardware) corespun:tor, iar de comportarea
acestuia depinde reali:area corect a operatiilor programate (perfor-
mantele software).
Inc din antichitate preocuprile de factur inginereasc au fost
orientate, empiric, spre obtinerea unor obiecte, constructii etc. mai
robuste, mai re:istente la u:ur. Aceasta a condus, ulterior, la notiunea
general de fiabilitate. proprietatea de conservare dinamic in timp a
performantelor sistemelor tehnice.
Datorit unor conditii favorabile, primele i ulterior cele mai
de:voltate studii teoretice i experimentale de fiabilitate au fost
reali:ate in domeniul Inginerie electronic i telecomunicatii, la
Universitatea POLITEHNICA din Bucureti .
Astfel, intr-o prim etap, s-au obtinut date experimentale i au
fost elaborate modele matematice de calcul i anali: pentru evaluarea
fiabilittii sistemelor, fr a se face distinctie intre diferitele functiuni
care trebuie indeplinite.
Efectuand o separare intre aceste functiuni s-a afuns la notiunea
de fiabilitate funcjional. proprietatea selectiv a sistemelor tehnice de
a-i conserva dinamic, in timp, performantele in legtur direct cu
Prefat

diferitele functiuni indeplinite. O categorie extrem de important este


cea a functiunilor de protectie in procesul de aplicatie, evaluarea lor
fiabilist necesit anali:e riguroase de proces fi:ic i calcule mate-
matice cu preci:ie foarte ridicat afungand, in unele ca:uri, dup
cerinte, pan la valori voctoprobabile (10
- 24
).
In acest manual este tratat, teoretic i practic, tematica fiabili -
ttii functionale in domeniul echipamentelor electronice, cu aplicatii
directe in trensporturi. Acest aspect are o important actual de prim
rang, avandu-se in vedere coridoarele transeuropene IJ i IX prin care
se vor reali:a legturi stabile de transport, intre nordul i sud-estul
continentului european, prin centrul su.
Dup continut, manualul este adresat, in mod direct, studentilor
i masteran:ilor sectiei Telecomen:i i electronic in transporturi
Universitatea Politehnica din Bucureti.
pentru studenti. capitolele 1-2-4-5-6-8-9-12 i problemele A-G,
pentru masteran:i. capitolele 3-7-10-11-12 i problemele H-R,
pentru doctoran:i. documentri i de:voltri tematice ulterioare,
legate de domeniul fiabilittii functionale in ingineria electronic.
De asemenea, prin generali:area unor aspecte de factur proble-
matic, manualul poate fi utili:at pentru studii i elaborri in cadrul
altor sisteme tenhnice cu mare rspundere functional. centrale
atomoelectrice, aplicatii militare etc.
Prin modalitatea de tratare, materialul expus poate fi util i in
activittile de cercetare tiintific, proiectare - elaborare, fabricatie,
montaf i mentenant pentru echipamente electronice de tip profesional.
Autorii
Fiabilitate functional in electronic

Fiabilitate functional in electronic


7
Capitolul 1
Introducere
1.1. Generalitti
1.1.1. Importanta fiabilittii functionale n
transporturi
n domeniul larg al transporturilor se desIsoar n permanent o
activitate tehnic, iar prin integrarea diIeritelor ramuri se Ior meaz
supersisteme tehnice extinse la scar continental, respectiv pe ntregul
glob terestru.
Se disting astIel sase sisteme Iundamentale de transport (Iig. 1.1).
Eig. 1. 1
Sistemul rutier (R) contine ci de circulatie, de la drumuri
simple pn la autostrzi moderne de mare capacitate si viteze ridicate,
instalatii simple sau complexe de dirijare, de la semaIoare uzuale pn
(A)
(S)
(R)
(E)
(A)
(E)
(C)
(R)
(C)
(N)
(C)
(N)
(R)
(E)
(S)
uscat
apa
geoid
cosmos
aer
1 Introducere
8
la instalatii de pilotare automat a autovehiculelor. Arterele rutiere, n
marea lor majoritate, se construiesc pe uscat, dar si n subteran sau sub
ap (n cazul tunelelor lungi).
Sistemul feroviar (E) este Iormat din linii, aparate de cale si
instalatii de dirijare pe uscat, sub sol sau sub ap (tunele lungi, metro -
uri, mine). De asemenea, acest sistem contine trenuri (vagoane si
locomotive), tramvaie, statii si depouri, linii de alimentare pentru
tractiune electric etc.
Sistemul naval (N) cuprinde navigatia mariti m si Iluvial, pe
canale, ruri si lacuri. Pentru deplasarea corespunztoare a navelor sunt
necesare porturi, instalatii portuare, Iaruri si diIerite instalatii de
dirijare (la uscat sau pe ap).
Sistemul aerian (A) se aIl att la sol ct si n atmosIera terestr:
aeronave care se deplaseaz pe ci aeriene, aeroporturi, mijloace de
protectie a navigatiei aeriene etc.
Sistemul spatial (S) are componente n spatiul cosmic, Iixe sau n
deplasare (Iat de globul terestru): sateliti artiIiciali, rachete, platIorme
etc. De asemenea, la sol , sunt amplasate centre de comand si control,
cosmodromuri etc.
Sistemul de transport prin conducte (C) este cel mai simplu
dintre toate sistemele enumerate si contine rezervoare, conducte, statii
de pompare, instalatii de comand si control servind la transportul
apei, petrolului, gazului metan etc.
Avnd puncte Iixe si puncte mobile, situate la distante mici, medii,
mari sau Ioarte mari, toate sistemele de transport necesit asigurarea
unor protectii la diIerite grade de rigurozitate, deoarece n procesul de
circulatie/navigatie se pot produce accidente, ajungndu-se la catastroIe,
Fiabilitate functional in electronic
9
cu pierderi de vieti omenesti, pagube materiale importante, poluarea
mediului etc.
De asemenea este necesar s se realizeze legturi informationale
(telecomenzi, telecomunicatii, telematic) , dup situatie, de tipul:
vehicul punct de dirijare, vehicul vehicul, punct de dirijare punct
de dirijare. Acest schimb de inIormatie, de care depinde esential
protectia necesar a proceselor de circulatie/navigatie, se realizeaz n
toate mediile de transport, precum si ntre aceste medii: sol-sol, sol-aer,
sol-ap, sol-cosmos, aer-aer, aer-ap, aer-cosmos, ap-ap, ap-cosmos,
cosmos-cosmos.
Toate aceste aspecte impun utilizarea unor echipamente
specializate de tip proIesional, de a cror bun Iunctionare depinde
desIsurarea oricrui tip de transport.
n Iine, si nu n ultimul rnd, n toate procesele de transport este
implicat, direct sau indirect, factorul uman att n activitatea de
manevrare ct si n cea de ntretinere tehnic.
Rezumnd, sistemele de transport reprezint ansambluri cu diIerite
grade de dezvoltare si legturi inIormationale ntre puncte Iixe si puncte
mobile, un rol important, din punct de vedere Iunctional, avndu-l
operatorii umani.
Scopul principal n utilizarea acestor sisteme este realizarea unui
transport n ti mp util, ritmic si comod, n conditii impuse de sigurant si
protectie pentru desIsurarea circulatiei si navigatiei. TraIicul n
transporturi este caracterizat, n mod esential, prin densitatea de
vehicule si prin viteza lor de deplasare. Totodat, mrimea acestuia este
n direct corelatie cu dezvoltarea economic n teritoriu.
Spre a se concretiza aceste cerinte, sunt utilizate ansambluri
tehnice speciale care, n unele cazuri, ajung la un grad ridicat de
1 Introducere
10
dezvoltare supersisteme, bazate pe realizrile moderne din electronic,
telecomunicatii, automatic, inIormatic, cibernetic, ergonomie etc.
AproIundnd, sistemele de regl are a circulatiei si navigatiei au o
serie de caracteristici generale:
- Iunctioneaz n conditii, uneori, extrem de diIicile Iiind aIectate
de perturbri naturale sau artiIiciale (ceat, Iurtuni, tentative de
deturnare, terorism etc. ), n marea lor majoritate avnd o Iunctionare
permanent;
- realizeaz protectia necesar, n primul rnd, pentru pasageri si
pentru personalul implicat Iunctional n proces;
- pentru schimbul si procesarea inIormatiei necesare sunt utilizate
semnale acustice, optice, radioelectrice etc. , cu diIerite Iorme de und si
Irecvente situate ntre limite extrem de largi (Hz
`
GHz);
- eIectueaz operatii cu caracter logic, elabornd decizii n timp
util, majoritatea lor Iiind n timp real;
- n regim de Iunctionare automat, ca de exemplu la pilotri
automate, modeleaz si realizeaz operatiile umane n proces, mai ales
pe cele de manevrare;
- n etapa actual se trece, pe scar larg, la aplicatii ale
inteligentei artiIiciale (n transporturi).
1.1.2. Scurt istoric. Principii de abordare.
Cele mai mari si mai vechi constructii realizate de om, n
antichitate, avnd un anumit rol Iunctional (piramidele egiptene, z idul
chinezesc etc. ), sunt caracterizate printr -o uzur Ioarte lent de-a lungul
timpului, altIel spus printr-o durat Ioarte mare de viat. Ulterior, acest
deziderat a Iost urmrit cu persuasiune de constructorii medievali
(catedrale, castele etc. ) .
Fiabilitate functional in electronic
11
n epoca modern, a industrializrii, inginerii din toate domeniile
de activitate au elaborat si au produs obiecte simple sau complexe
urmrind, intuitiv si euristic, asigurarea unei durate de viat ct mai
mare, n conditiile unor costuri rationale.
n prima jumtate a secolului XX, aceast proprietate ncepe a Ii
implementat cu mult precautie, deoarece progresele rapide nregistrate
au condus la 'demodarea Iunctional relativ rapid a produselor, prin
aparitia unora noi cu perIormante superioare. n acest mod, durata de
viat care implic costuri, mai mult sau mai putin ridicate, ncepe a Ii
calculat n mod riguros, marcnd astIel nceputurile Iiabilittii, n
conceptie actual:
- n anul 1924 Walter A. Stewart, n cadrul Iirmei Western Electric
Co. , introduce Iise pentru inspectia si analiza produselor de mare serie
pe baza statisticii matematice;
- n perioada anilor `30 interbelic, se dezvolt conceptul de
Iiabilitate bazat pe tehnici de determinare cantitativ si evaluare;
- la nceputul si n timpul celui de al doilea rzboi mondial, pentru
aviatia militar a Statelor Unite, este studiat Iiabilitatea sistemului
pilot avion de vntoare;
- dup al doilea rzboi mondial, n anii `50, n primul rnd din
necesitti de ordin militar si ulterior spat ial, se urmreste evaluarea
posibilittilor de realizare a unei misiuni; acum Iiabilitatea este deIinit
ca domeniu stiintiIic propriu, prelund unele modele de analiz din
teoria inIormatiei si elabornd modele noi, aplicabile n domeniul
echipamentului;
- n anii `60, tot n Statele Unite, sunt desIsurate cercetri intense
pentru realizarea unor sisteme de nalt Iiabilitate, cu aplicatii directe n
comutatia electronic, inclusiv a celei realizate cu circuite integrate;
1 Introducere
12
- succesele miniaturizrii componentelor si echipamentelor
electronice, n anii `70, au permis implementarea unor rezervri
Iunctionale (redundant) cu costuri acceptabile; de exemplu, la bordul
navei spatiale cu care a aselenizat primul om, s-a montat si Iolosit un
ansamblu de trei calculatoare de proces n i nterdependent Iunctional
(redundant tripl).
n prezent, unele modele de analiz a Iiabilittii au nceput a Ii
extinse si n alte domenii: biologie, medicin, ergonomie, mediu etc.
Primele rezultate remarcabile n studiul Iiabilit tii, s-au obtinut n
domeniul electronicii, att prin interesul deosebit n dezvoltarea
echipamentelor (telecomunicatii prin cablu, radiocomunicatii,
calculatoare, microprocsoare etc. ) ct si prin existenta unui numr
ridicat de componente elementare din structura dispozitivelor, aparatelor
si ansamblurilor utilizate.
n Romnia, primele studii de acest Iel au Iost realizate n anii
1960-`70, Iiind initiate si conduse de regretatul proIesor Vasile M.
Ctuneanu, la Eacultatea Electronic si Telecomunicatii din cadrul
Universittii Politehnica Bucuresti.
Cu un decalaj de ctiva ani, n cadrul Catedrei Telecomenzi
Ieroviare - n prezent Catedra Telecomenzi si electronic n transporturi
Univeristatea Politehnica Bucuresti, au Iost initiate cercetri n
domeniu, Iinalizate att n procesul didactic studenti, doctoranzi, ct
si n elaborarea unor sisteme cu Iiabilitate ridicat - brevete de inventie,
implementri n calea Ierat, marina civil etc. AproIundrile respective
au condus la dezvoltri teoretice si practice, care stau la baza lucrrii de
Iat - sub denumirea de Iiabilitate Iunctional n transporturi.
Pe plan mondial, notiunea de Iiabilitate s-a impus, ndeosebi, prin
limbile englez - Reliabilitv, Irancez - Fiabilite, rus - Nadefnosti
german - Zuverlssigkeit etc.
Fiabilitate functional in electronic
13
n limba romn este standardizat termenul Iiabilitate, neologism
mprumutat din limba Irancez unde, la rndul su, are la origine
cuvntul arhaic Iiable, neIolosit astzi, avnd o semniIicatie (semantic)
opus cuvntului actual Iaible: lipsit de rezistent, slab, subred.
n ncheierea acestui paragraI sunt precizate, n ordine alIabetic,
unele deIiniri generale necesare expunerii, n continuare si n
introducere, asupra tematicii abordate.
- Atestarea Iiabilittii: demonstrarea, prin metodele teoriei
estimrii, c indicatorii de Iiabilitate depsesc, cu o anumit
probabilitate, un nivel minim admisibil.
- DeIectare: pierderea capacittii sistemului de a-si ndeplini,
partial sau total, Iunctiunile prevzute/ iesirea vectorului per Iormantelor
tehnice din domeniul admisibil prestabilit.
- Durat de viat rmas: intervalul de timp scurs de la un moment
arbitrar pn la deIectarea sistemului.
- Eiabilitatea hardware/ de echipament: proprietatea unui element,
subsistem sau sistem de a-si ndeplini Iunctiunile prevzute, n conditii
de utilizare precizate, pe o durat de timp determinat/ proprietatea
general de conservare n timp a perIormantelor sistemelor tehnice.
- Eiabilitatea soItware: posibilitatea ca un program s Iunctioneze
Ir erori, ntr-o perioad de timp dat, n conditii prestabilite.
- Indicator de Iiabilitate: mri me prin care se precizeaz cantitativ
Iiabilitatea.
- Mecanism de deIectare: proces Iizico-chimic la nivel microsco-
pic, al crui eIect macroscopic este deIectarea elementului, subsiste-
mului sau sistemului.
- Mentenabilitate: capacitatea unui sistem de a Ii readus n stare de
Iunctionare, n conditii determinate si ntr-un interval de timp dat.
1 Introducere
14
- Mentenant: ansamblul actiunilor avnd drept scop recondi -
tionarea sau reducerea uzurii echipamentelor aIlate n exploatare.
- Model global de Iiabilitate: model matematic al Iiabilittii care
descrie evolutia perIormantelor tehnice ale unui sistem, indiIerent de
structura acestuia.
- Model logic de Iiabilitate: model matematic care descrie starea
de bun Iunctionare a sistemului si strile de bun Iunctionare ale
elementelor sale.
- Model structural de Iiabilitate: model matematic care descrie
relatia dintre Iiabilitatea sistemului si cea a elementelor sale.
- Optimizarea Iiabilittii: maxi mizarea sau mini mizarea unor
Iunctii obiectiv ale Iiabilittii.
- Redundant Iiabilist: metod de crestere a Iiabilittii unui
sistem prin utilizarea unui numr mai mare de componente dect cel
strict necesar din punct de vedere Iunctional.
- Rennoire: interventie eIectuat asupra unui sistem, prin care se
restabileste starea de Iunctionare a sistemului sau/si se modiIic nivelul
uzurii sale.
- Rennoire preventiv: rennoire eIectuat nainte de deIectarea
sistemului, n scopul reducerii uzurii sale.
- Rennoire propriu-zis: rennoire prin care sistemul revine la
starea initial, eliminndu-se practic complet uzura.
- Uzur: modiIicare n timp a caracteristicilor de Iiabilitate ale
unui element sau sistem.
- Valoare a Iiabil ittii: mri me previzional sau dedus, cu
caracter probabilistic.
Avnd n vedere aspectele expuse, rezult c evalurile Iiabiliste
se bazeaz pe teoria probabilittilor, cercetarea operational, teoria
Fiabilitate functional in electronic
15
sistemelor si inIormatic, cu accent pe tehnicile electronice si
microelectronice.
n planul Ienomenelor Iizice, trebuie luat n considerare postulatul
verigii celei mai slabe: un 'lant nu poate Ii mai rezistent dect cea mai
slab 'veriga sa. Acest postulat transpus n cazul oricrui sistem cu
elemente 'n serie din punct de vedere Iiabilistic conduce, evident, la
Iormularea: Iiabilitatea sistemului neredundant este mai slab dect
Iiabilitatea celei mai slabe componente din structura sa.
Deci nu trebuie neglijat Iaptul c Iiabilitatea oricrui sistem
depinde att de caracteristicile sale intrinseci, ct si de cele ale
Iactorilor exteriori lui.
Cum Iactorii care inIluenteaz Iiabilitatea subiectivi sau
obiectivi, interni sau externi, sunt aleatorii, conceptul si metodele
Iiabilittii trebuie s Iie probabilistice.
La abordarea analizei Iiabilittii unui sistem tehnic oarecare
trebuie s se tin seama de etapele de desIsurare a analizei, etape ce
sunt precizate prin structura din Iigura 1. 2, unde s-au notat cu:
S sistemul analizat Iiabilistic;
MI modelul Iunctional;
ME modelul de Iiabilitate;
DE date de Iiabilitate;
E
S
Iiabilitatea sistemului analizat.
Sintetiznd, teoria si practica Iiabilittii introduce unitti si
metode de evaluare acolo unde nu exista nici un Iel de msur; permite
trecerea de la criterii pur calitative la determinri cantitative - evaluri.
Dup Iaza n care se Iace analiza (cantitativ), Iiabilitatea poate Ii:
- previzional, precalculat/ n Iaza de concepere, proiectare;
- nominal/ elaborare, Iabricare, montare;
1 Introducere
16
- de mentenant / ntretinere tehnic, exploatare sau servire.
Parametrul de baz al Iiabilittii oricrui sistem, simplu sau
complex, este timpul: nu poate Ii analizat nici un aspect Iunctional n
aIara trecerii timpului ('calitate variabil n timp, respectiv dinamica
n timp a calittii Iunctionale).
1.2. Analiza functional a proceselor de circulatie
yi navigatie
1.2.1. Functiune yi rspuns
n sens larg, orice sistem tehnic reprezint un instrument creat de
om pentru realizarea anumitor procese. Prin urmare, conceperea si
realizarea sistemelor tehnice este impus de anumite necesitti; ele nu-si
pot justiIica aparitia si existenta dect printr-o anumit utilitate.
ntr-o prim analiz, sistemul tehnic poate Ii deIinit ca un an-
samblu de materiale si energii, avnd un grad relativ ridicat de orga-
nizare, orientat spre un anumit scop, Iiind deci caracterizat printr -un
S
MI
ME
E
S
DE
Eig. 1.2
Fiabilitate functional in electronic
17
pronuntat rol Iunctional. Din acest punct de vedere, se poate Iace
urmtoarea ierarhizare: element (component) dispozitiv (aparat)
instalatie sistem supersistem.
Pentru realizarea unui sistem tehnic este necesar crearea unui
anumit echipament, a crui cantitate se aIl n strns legtur cu
complexitatea Iunctional.
ntre diIeritele prti ale sistemului are loc un anumit schimb util
de energii, numite n general semnale (mrimi Iizice purttoare de
inIormatii: electrice, acustice, optice etc. ). Cu ct sistemul este mai
dispersat n spatiu, cu att problema transmiterii de semnale de la un
punct la altul este mai diIicil.
Totodat, nu exist n prezent niciun sistem tehnic care, dup ce a
Iost realizat, s nu necesite interventia omului. Chiar si sistemele
complet automatizate necesit operatii de ntretinere tehnic, regl aje
etc. , care - cel putin n etapa actual, se realizeaz de ctre operatori
umani.
Din punct de vedere strict Iunctional, omul operator apare ca o
verig proprie sistemului, iar pregtirea sa proIesional trebuie s Iie cu
att mai ridicat cu ct sistemul este mai dezvoltat.
Tinnd seama de aceste consideratii, un astIel de sistem tehnic,
ntre intrare i si iesire e, poate Ii reprezentat prin schema din Iigura
1. 3, de unde rezult c Iunctionarea sa normal este asigurat dac sunt
ndeplinite trei conditii:
S C O
p d e
(i) (e)
Eig. 1.3
1 Introducere
18
- Transmisia de semnal (S) s se Iac corect ; principala
diIicultate o constituie perturbatiile (p) care provoac pierderi, partiale
sau totale, de inIormatie util.
- Componentele (C) s se gseasc n bun stare de Iuntionare
pentru a asigura transIerul, prelucrarea si utilizarea corect a semnalelor
utile; principalul impediment, n
acest sens, l prezint deIectrile (d), care pot s apar la diIerite
elemente componente din structura echipamentului.
- Operatorul uman (O) s manevreze s i s ntretin corect sistemul,
n stare de bun Iunctionare (pilotri, manipulri, revizii, reparatii etc. );
principala cauz ce mpiedic realizarea corect a acestor activitti o
constituie inaptitudinea sau incompetenta, maniIestate prin erori de
operator (e).
Desigur, cele trei aspecte Iundamentale se ntreptrund: astIel
deIectarea unei componente poate produce o distorsionare a semnalului
(util), manevrarea necorespunztoare poate provoca o deIectare etc. De
toate aceste dependente trebuie s se tin seama atunci cnd se Iace
analiza Iunctionrii sistemului, sau se realizeaz prognoze asupra
comportrii sale ulterioare.
Pe de alt parte, orice sistem tehnic poate Ii privit ca un
ansamblu de Iunctiuni ce trebuie ndeplinite n anumite condit ii si ntr-
un anumit interval de timp; altIel spus, se poate pune n evident ceea ce
realizeaz un anumit sistem, nu ceea ce este si prin aceasta, se
accentueaz latura Iunctional, util.
n cadrul acestei lucrri, prin functiune se ntelege proprietatea
unui sistem tehnic de a ndeplini un anumit rol util (sarcin), n conditii
date, prin activitate proprie. Aprecierea modului n care se realizeaz o
anumit Iunctiune n sistem se Iace prin intermediul unor caracteristici
Fiabilitate functional in electronic
19
functionale: trsturi speciIice, predominante, care permit evaluarea
unei anumite comportri practice, utile.
Eunctiunea apare, deci, ca rezultat al propriettilor capabile de a
satisIace anumite necesitti. Dup importanta pe care Iunctiunile le au
n cadrul sistemelor, acestea pot Ii:
- esentiale (principale, Iundamentale) care motiveaz nssi
existenta sistemului (pentru realizarea crora sistemul a Iost creat);
- auxiliare (secundare), care permit o utilizare mai usoar si mai
eIicient (acestea sunt, n general, subordonate cel or principale);
- de protectie, care mpiedic evolutia sistemului ntr-o stare cu
consecinte grave n procesul respectiv.
n cadrul sistemelor tehnice de transport, care reprezint sisteme
tehnice cu mare rspundere Iunctional, Iunctiunile de protectie sunt
mult dezvoltate; totodat, aceste sisteme sunt caracterizate printr -un
grad nalt de rigurozitate n ceea ce priveste ndeplinirea uneia sau mai
multor Iunctiuni dintre cele prevzute.
Dup numrul de Iunctiuni pe care trebuie s le ndeplineasc,
sistemele pot Ii:
monofunctionale (nendeplinirea Iunctiunii unice le Iace
inutilizabile);
polifunctionale (pentru a deveni inutilizabile, acestea trebuie
s reIuze ndeplinirea uneia sau mai multor Iunctiuni).
Dup modul n care sunt realizate, Iunctiunile pot Ii:
autonome (nu depind de alte Iunctiuni n sistem);
neautonome (se gsesc n interdependent cu alte Iunctiuni
din sistemul considerat).
Prin urmare, un sistem tehnic poate Ii privit ca un ansamblu de
Iunctiuni, diIerentiate ntre ele, prin intermediul crora se poate aprecia
1 Introducere
20
gradul de utilitate n raport cu scopul pentru care sistemul respectiv a
Iost creat.
Aceast deIinire, sub Iorma cea mai general, conduce la
reprezentarea din Iigura 1. 4, unde cu E s-au notat Iunctiunile sistemului,
att la intrare (i) ct si la iesire (e).
n practic, ndeplinirea Iiecrei Iunctiuni se realizeaz cu diIerite
abateri, ceea ce determin ca la iesire situatia s Iie di Ierit de cea de la
intrare; cu alte cuvinte, n sistemele reale, apar inevitabil anumite
abateri Iunctionale:
F
1i
F
1e
, F
2i
F
2e
, . .. , F
ni
F
ne
Prin urmare, din punct de vedere Iunctional, sistemul poate Ii
apreciat prin intermediul unor Iunctii de transIer:
pentru a cror evaluare este necesar s se exprime cantitativ Iunctiunile
sistemului.
Eunctiunea, deIinit ca activitate proprie, speciIic sistemului, este
caracterizat printr-un grad ridicat de rigurozitate (dup importanta sa
n cadrul sistemului ), n unele cazuri avnd o important extrem de
ridicat. n aceast situatie se aIl sistemele tehnice cu mare rspundere
Iunctional, cum sunt cele de reglare a circulatiei si navigatiei, dar si
E
1i
E
2i
:
E
ni
Sistem
E
1e
E
2e
:
E
ne
Eig. 1.4

F
F
l , ... ,
F
F
l ,
F
F
l
ni
ne
i 2
e 2
i 1
e 1
n 2 1
= = =
Fiabilitate functional in electronic
21
alte sisteme ca, de exemplu, cele de protectie la centrale electrice
nucleare, aplicatii militare etc.
Pentru a analiza dinamica oricrui astIel de sistem, este necesar s
se considere toate strile implicate din punct de vedere Iunctional.
Aceast considerare conduce la notiunea de rspuns functional: stare
de sistem, la nivel macroscopic, deIinit prin mrimi speciIice sau
parametri Iunctionali.
Aceast necesitate conduce la considerarea rspunsului sistemului,
deIinit prin starea acestuia cnd se eIectueaz o anumit comand (se
cere realizarea uneia sau mai multor Iunctiuni). Acest rspuns poate Ii
precizat prin intermediul unor caracteristici Iunctionale: durat,
deplasare, stare a unui element, amplitudinea, Irecventa sau Iaza unui
semnal etc.
Din punct de vedere Iunctional, pentru toate rspunsurile posibile
ale unui astIel de sistem, se poate Iace urmtoarea clasiIicare general:
- Rspunsuri corecte (n concordant cu procesul de circulatie /
navigatie):
- Rspunsul ideal (I) este un rspuns optim, avnd o Iunctie de
transIer egal cu unitatea.
- Rspunsul perfect (P) are o Iunctie de transIer subunitar,
ns cu valori ce se gsesc n domeniul de eroare speciIic msurrii sau
controlului n sistem.
- Rspunsul admisibil (A) are, de asemenea, o Iunctie de
transIer subunitar, dar nu mai mic dect limita admisibil pentru o
Iunctionare considerat corect.
- Rspunsuri necorecte (n neconcordant cu procesul de
circulatie / navigatie):
- Rspunsul eronat (E) are, de asemenea, o Iunctie de transIer
subunitar, cu valori ce se gsesc sub limita ce corespunde unei
1 Introducere
22
Iunctionri corecte, Ir a crea posibilitatea aparitiei unor evenimente
grave n proces.
- Rspunsul fals (E) se deosebeste de rspunsul eronat numai
prin Iaptul c poate crea posibilitatea aparitiei unor evenimente grave n
proces.
De exemplu dac, ntr-un sistem de reglare a circulatiei sau
navigatiei, se urmreste viteza ca parametru de baz, gradul de
sigurant poate Ii exprimat prin intermediul rspunsului instantaneu si
anume prin valoarea vitezei, dup cum este ilustrat n Iigura 1. 5,
unde s-au notat:
v
0
valoarea nominal (comandat) a vitezei;
c
v
eroarea speciIic de control al vitezei;
Av abaterea admisibil a vitezei.
Din aceast diagram se observ c:
- Rspunsului ideal (I) i corespunde un punct (plaj nul), iar
valoarea parametrului Iunctional nici nu poate Ii determinat exact,
deoarece nu exist posibilitatea unui control cu eroare nul (c
v
= 0).
- Rspunsului perIect (P) i corespunde plaja speciIi c de control
n sistem 2
v
, aceast plaj continnd n mod obligatoriu si rspunsul
ideal (v
0
).
2c
v
(P)
2Av(A)
(E) (E)
v
0
-Av
v
0
-c
v
v
0
c
v
v
0
v
0
Av
v
(km/h)
(I)
Eig. 1.5
Fiabilitate functional in electronic
23
- Rspunsului admisibil (A) i corespunde plaja 2v care, la rndul
su, include si plaja 2
v
, respectiv si punctul v
0
.
- Rspunsurilor necorecte le corespund domeniile E si E:
v v
0
- Av; v ~ v
0
Av,
n Iunctie de posibilitatea sau de imposibilitatea de aparitie a unor
evenimente grave.
Este evident Iaptul c, n practic, se pot ntlni si cazuri
particulare caracterizate prin nesimetrie Iat de punctul v
0
, ca de
exemplu, la limit: v
0
c
v
0; v
0
Av 0 etc. Aceste cazuri particulare
nu schimb Iondul problemei si anume, regimul de Iunctionare pentru un
anumit parametru poate Ii exprimat cu ajutorul unei mri mi scalare,
totdeauna Iiind ndeplini t inegalitatea c
v
Av.
n Iigura 1.6 este redat cazul unui regim de Iunctionare dup doi
parametri, de exemplu vitez si spatiu. n aceast situatie regimul de
circulatie poate Ii exprimat (pentru rspunsuri Iunctionale) printr -o
supraIat, sau cu ajut orul unui Iazor u (n coordonate polare).
s
0
-
A
s
2Av
v (km/h)
s (km)
2As
v
0
Av
s
0
-
c
s
s
0
s
0

c
s
v
0
c
v
v
0
v
0
-c
v
v
0
-Av
0

s
0

A
s
Eig. 1.6
1 Introducere
24
Pentru trei parametri Iunctionali se obtine un corp (paralelipi -
ped dreptunghic) care reprezint locul geometric al vrIului vectorului
de stare u al sistemului. n Iigura 1. 7 este reprezentat un astIel de regim
de circulatie continnd parametrii vitez, spatiu si timp (pentru
simpliIicarea desenului nu s-a precizat domeniul perIect P).
n cazul general se obtine un tensor, avnd un numr de
componente egal cu numrul de parametri Iunctionali ce intervin n
procesul de circulatie.
Tensorul este un vector generalizat, cu un numr oarecare de
componente,
v (v
1
, v
2
, .. ., v
m
),
avnd propriettile unei matrice:
v(km/h)
))
v
0
Av
v
0
-Av
v
0
0
t
0
-At
t
0
At

s(km)
t(h)
s
0
-As s
0
As
(A)
2Av
2As
2At
Eig. 1.7
|
|
|
|
|
.
|

\
|
=
mm 2 m 1 m
m 2 22 21
m 1 11
t t t
t t t
t t t
T
12

Fiabilitate functional in electronic


25
unde t
i f
sunt componentele tensorului; ntre aceste componente exist
anumite relatii, ns nu orice matrice este tensor.
De asemenea, trebuie retinut Iaptul c abaterile admisibile ale
parametrilor Iunctionali (v s t etc. ) pot Ii oarecare, asimetrice sau
simetrice Iat de valorile nominale (v
0
s
0
t
0
etc. )
Datorit unor numerosi Iactori ce actioneaz n sistem, tensorul de
stare suIer deplasri care, n interiorul domeniului perIect (P), nu pot Ii
constatate n practic. Eunctionarea corect a sistemului este asigurat
dac tensorul de stare nu prseste domeniul (A), ale crui puncte de
Irontier sunt determinate de alunecrile maxi me admisibile. Aceste
alunecri de parametru - n aIara limitelor admisibile, corespund n
practic abaterilor Iunctionale cu eIecte negative n proces.
Din aceast succint analiz se pot preciza urmtoarele proprietti
Iundamentale:
- Orice abatere Iunctional inadmisibil (indiIerent de cauz) se
maniIest printr-un rspuns necorect, Ials sau eronat.
- Calitatea de rspuns Ials este incompatibil cu cea de rspuns
eronat; unul si acelasi rspuns nu poate Ii si Ials si eronat.
- Rspunsul eronat conduce la o ncetinire sau chiar la o blocare n
desIsurarea procesului de circulatie sau navigatie, pe cnd cel Ials la o
accelerare, putndu-se astIel ajunge la situatii periculoase.
- Din punct de vedere Iunctional, rspunsul optim este cel ideal (n
practic cel perIect), iar rspunsul cel mai dezavantajos este cel Ials.
1.2.2. Evaluarea functional a parametrilor de
sistem
Din punct de vedere Iunctional, numrul de rspunsuri ale unui
sistem oricare ar Ii ele, este Iinit indiIerent dac parametrul n cauz
1 Introducere
26
este de tip discret (discontinuu) sau de tip analogic (continuu). Pentru
acesta din urm, numrul de rspunsuri este limitat prin cuantiIicare;
drept interval de cuantiIicare poate Ii luat abaterea admisibil ( ) sau,
si mai riguros, eroarea de control ().
Pentru a ilustra aceast proprietate se consider, de exemplu,
sistemul de conducere (pilotare) automat a unui tren de metrou la care,
n Iaza de circulatie analizat, eroarea speciIic de control este c
v
+
1km/h, abaterea admisibil Av + 5 km/h, iar viteza maxim posibil
v
max
100 km/h.
AstIel dac, n Iaza respectiv, valoarea vitezei reglate
(comandate, de reIerint n sistem) este v
0
55 km/h, rezult c sunt
posibile urmtoarele rspunsuri (exprimate dup parametrul vitez real
v, n km/h):
- Ideal: v
I
55 (nu poate Ii msurat)
- PerIect: 54 s v
P
s 56
- Admisibil: 50 s v
A
s 60
- Eronat: v
E
50
- Eals: v
E
~ 60
La eroarea admisibil de vitez considerat (2 Av 10 km/h)
rezult c, n situatia artat, din punct de vedere Iunctional, sunt
posibile 5 rspunsuri eronate si 4 rspunsuri Ialse.
Trebuie precizat, ns, c si rspunsurile necorecte de acelasi tip
(eronate sau Ialse) au important Iunctional diIerit, dup cum tensorul
de stare u se gseste mai aproape sau mai departe de domeniul admisibil
(Iig. 1. 7). Pentru evaluarea gradului de important Iunctional, se poate
recurge la introducerea unor coeIicienti de asemnare.
Fiabilitate functional in electronic
27
AstIel, dac un sistem de reglare a circulatiei sau navigatiei are un
numr oarecare N rspunsuri posibile (R
1
R
2
. .. R
N
), Iiecare rspuns
poate Ii caracterizat printr-o important Iunctional exprimat valoric
dup o distributie oarecare (n cazul cel mai simplu liniar): I
1
I
2
. .. I
N
.
Se noteaz cu I
max
importanta Iunctional maxi m pe care o pot
avea unul sau mai multe dintre cele N rspunsuri posibile. CoeIicientul
de asemnare va Ii deci exprimat prin raportul dintre importanta
Iunctional a unui anumit rspuns si importanta Iunctional maxi m
(exprimate valoric):

I
I
a , ... ,
I
I
a ,
I
I
a
max max max
N
N 2 1
2 1
= = =
CoeIicientii de asemnare (a
1
a
2
.. .a
N
), ce pot avea valori
cuprinse ntre zero si unitate, exprim cantitativ gradul de asemnare
dintre diIeritele rspunsuri de acelasi tip (asemnare normat). Cu
ajutorul acestor coeIicienti se poate stabili variatia gradului de
important pentru regimul dinamic al sistemului (legat de variabilitatea
n timp a strilor acestuia). Pentru aceasta, se consider rspunsul corect
instantaneu R
k
(ce trebuie realizat ntr -un anumit moment n sistem)
dintre cele N rspunsuri posibile (k 1, 2, . .. , N). Se presupune, pentru
exempliIicare, c rspunsurile de rang inIerior sunt eronate, iar cele de
rang superior sunt Ialse (evident, poate exista si situatia invers, sau o
situatie oarecare). Notnd cu (f) gradul de important pentru rspunsuri
Ialse (sau, mai scurt coeIicientul de rspuns Ials), se obtin relatiile
evidente:
f
1
f
2
.. . f
k
0,
f
I
a
k1
a
k
, f
I I
a
k2
a
k
, . . . f
F
a
N
a
k

unde F N k reprezint numrul de rspunsuri Ialse posibile n
regimul dinamic dat.
1 Introducere
28
n acelasi mod rezult si relatiile corespunztoare pentru rspuns
eronat: e
k
e
k1
. .. e
N
0,
e
I
a
k
a
k- 1
, e
I I
a
k
a
k- 2
, . . . , e
E
a
k
a
1

unde E k-1 reprezint numrul de rspunsuri eronate posibile n
regimul dinamic dat.
Prin urmare, n orice moment, dintre toate rspunsurile posibile
unul singur este corect; celelalte N-1 rspunsuri necorecte sunt eronate
sau Ialse:
E F 1 N
Totodat, coeIicientii de rspuns Ials (f) respectiv de rspuns
eronat (e) nu trebuie s aib valori negative (pentru o mai bun
concordant cu semniIicatia lor Iizic):
f
i
a
i
a
k
0, e
i
a
k
a
i
0
Cazul cel mai simplu l constituie sistemele cu dou stri (tot
sau nimic), la care
N 2, E 1, F 0 sau F 1, E 0.
Revenind la exemplul anterior, al sistemului de pilotare
(conducere) a utomat la metrou si admitnd o variatie proportional a
coeIicientului de rspuns Ials, rezult valorile din tabela 1.1, respectiv
diagrama din Iigura 1.8.
Tabela 1.1
Ti pul de
rspuns
E k 1 5 k F N k 4
R
i
(N 10)
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
I
i
(I
max
10) 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
a
i
I
i
/I
max
0, 1 0, 2 0, 3 0, 4 0, 5 0, 6 0, 7 0, 8 0, 9 1, 0
f
i
a
i
a
k
> 0 0 0 0 0 0 0 0, 1 0, 2 0, 3 0, 4
e
i
a
k
a
i
> 0 0, 5 0, 4 0, 3 0, 2 0, 1 0 0 0 0 0
Fiabilitate functional in electronic
29
Aceste valori se obtin pentru un numr Iinit de rspunsuri
(distributie discret) desi parametrul considerat are o variatie continu,
deoarece pasul de cuantiIicare Iunctional este, de asemenea, Iinit (10
km/h):
I
1
1, I
2
2, . . . , I
10
I
max
10,
a
1
0 1, a
2
0 2, . . . , a
10
1 0.
Eig. 1.8
Deoarece n regimul dinamic dat v
0
55 km/h, rezult urmtorii
coeIicienti de rspuns Ials:
f
1
f
2
.. . f
6
0
f
I
0 1, f
I I
0 2, f
I I I
0 3, f
I J
0 4
respectiv urmtorii coeIicienti de rspuns eronat:
e
6
e
7
e
8
e
9
e
10
0, e
I
a
6
a
5
0 1, e
I I
a
6
a
4
0 2,
e
I I I
a
6
a
3
0 3, e
I J
a
6
a
2
0 4, e
J
a
6
a
1
0 5.
I
II
III
IV
v(km/h)
0 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100
1,0
0,9
0,8
0,7
0,6
0,5
0,4
0,3
0,2
0,1
a
E E R
k
V
IV
III
II
I
1 Introducere
30
n general, rspunsurile Ialse t rebuie s Iie evitate Ierm
binenteles, n limitele unor mijloace rationale. Rspunsurile eronate,
desi scad eIicienta sistemelor, pot Ii acceptate mai usor datorit Iaptului
c nu conduc la consecinte grave.
1.2.3. Transformarea rspunsului fals n rspuns
eronat
Pentru realizarea cu maxim eIicient a Iunctiunilor de protectie,
n cadrul sistemelor de reglare a circulatiei/ navigatiei si - n general, la
sistemele cu mare rspundere Iunctional, cnd este posibil n mod
rational, rspunsurile Ialse sunt transIormate n rspunsuri eronate:
Spre a ilustra acest aspect, care va Ii dezvoltat n cadrul lucrrii,
n continuare sunt expuse cteva aplicatii ale acestui procedeu.
A. La semaIoarele pentru circulatia rutier se pot produce deIectri
care ar conduce la asa numitul 'conIlict de verde rspuns Ials,
deoarece apare pericolul de coliziune ntre dou sau mai multe
autovehicule care sosesc n intersectie din directii diIerite.
Structura logic a circuitelor de comand a semaIoarelor este
astIel elaborat (prin proiectare si Iabricatie), nct unittile luminoase
galben ale tuturor semaIoarelor s Iie comutate n regim de
semnalizare cu 75 impulsuri / minut (galben clipitor):
V
(galben
clipitor)
G
RE RE
Fiabilitate functional in electronic
31
InIormatia transmis acum participantilor la traIic este de reducere
a vitezei si de conIormare Iat de conditiile prestabilite de prioritate
rspuns eronat, deoarece Iunctiunea de reglare a circulatiei (esential)
nu se mai realizeaz, ceea ce conduce la ntrzieri n traI ic, dar
eliminndu-se astIel pericolul aparitiei 'conIlictului de verde.
B. n traIicul Ieroviar (ci Ierate si metrouri), reglarea uzual a
circulatiei se Iace prin intermediul luminosemnalelor (echivalente, din
punct de vedere Iunctional, semaIoarelor rutiere). Aparitia unor
deIectri n circuitele de comand a semnalizrii optice, poate conduce
la rspuns Ials stare periculoas (RE). Cum energia cinetic a unui
tren n deplasare este proportional cu masa Ioarte mare si cu ptratul
vitezei de asemenea Ioarte mare, pericolul unor coliziuni, deraieri etc.
trebuie evitat n mod riguros, deoarece poate produce o catastroI
(pierderi de multe vieti omenesti si, de asemenea, de Ioarte mari pagube
materiale).
AstIel, n cazul n care indicatia verde vitez normal nu se
poate realiza la un aIisaj de luminosemnal, se comut automat pe
indicatia galben vitez redus, iar dac nici aceasta nu se poate
realiza, comutatia se Iace, tot automat, pe indicatia rosu oprire
neconditioant (vitez zero). AstIel transIormarea rspunsului Ials RE
n rspuns eronat RE se Iace n dou trepte (redu ndant glisant,
alunectoare):
Aceasta are ca eIect realizarea unei Iunctiuni de protectie la un
nivel ridicat, iar Iunctiunea esential - de reglare a circulatiei, se
realizeaz cu eIicient redus (indicatie G galben) sau nul (indicatie
R rosu).
V
G R
1 Introducere
32
C. Motoarele de avion sunt protejate printr-un tub circular cu
lichid igniIug: dac temepratura motorului (n zbor) depseste o valoare
critic, peste care se poate produce o explozie rspuns Ials (RE),
motorul n cauz este inundat cu lichidul igniIug. n acest Iel, rspunsul
Ials grav (explozie sau incendiu n aer) este transIormat n rspuns Ials
mai putin grav: zbor, n continuare, cu celelalte motoare pn la cel mai
apropiat aeroport, sau o aterizare Iortat, pentru avioanele monomotor.
n aceast ultim situatie se recurge tot la un rspuns Ials, dar cu
coeIicient (I) de valoare mai mic (Iig. 1. 8).
D. Este posibil ca, n anumite situatii, rachetele militare
telecomandate sau cu programe la bord, prin aparitia unor deIectri sau
perturbri (de exemplu bruiaj inamic), s nu mai execute zborul corect,
deci s nu ating tinta vizat. Deoarece apare pericolul bombardrii unor
obiective din teritoriul propriu (loc alitti, puncte Iurnizoare de energie
electric, aeroporturi, porturi etc. ) rspuns Ials, racheta respectiv
intr ntr-un regim de pilotare automat pe o astIel de traiectorie
programat anterior la bord, nct cderea sa s se Iac n teritoriul
inamic, ntr-un desert etc. sau, la limit, zbor pn la epuizarea
carburantului, deci pe distanta maxim de punctul de lansare
rspuns eronat.
n ncheierea acestui capitol si anticipnd tematica ce va Ii
tratat n continuare, este de observat c ori ce rspuns necorect este un
eIect avnd drept cauz o defectiune (perturbatii, deIectri, erori) n
Iunctionarea sistemului. Evitarea rspunsurilor necorecte si deci a
nendeplinirii Iunctiunilor prevzute, se poate Iace reducnd, pe ct este
posibil, deIectiunile care pot Ii simple sau combinate. Pentru aceasta
este necesar s existe o bun adaptare Iunctional ntre cei trei Iactori
Iundamentali ai sistemului: componente semnale operatii umane.
Fiabilitate functional in electronic
33
Capitolul 2
Uzur yi defectare
2.1. Deteriorarea componentelor de echipament
Pe durata de existent a oricrei componente, n timpul
Iunctionrii echipamentului care o include, are loc un proces de uzur
datorat, n pri mul rnd, proceselor Iizice si chimice care determin,
inevitabil, o variatie a parametrilor Iunctionali. Aceste procese au loc si
n timpul cnd echipamentul nu Iunctioneaz propriu-zis, Iiind n regi m
de asteptare; deteriorarea este permanent, chiar si n conditii de
depozitare sau conservare, evident, cu intensitate mai mic dect pe
durata Iunctionrii.
Prin urmare, deteriorarea componentelor se produce inevitabil, n
general, cu viteze de variatie diIerite, din momentul iesirii lor din
procesul de Iabricat ie pn n momentul n care devin inutilizabile; toat
aceast durat de existent, prin analogie cu organismele vii, se numeste
durat de viat.
Spre a ilustra acest aspect, se presupune c se eIectueaz
urmtoarea experient (Iig. 2. 1a): un condensator nou C este supus unui
+
C V
_
U
C
U
C
t
T
d
0
U
str
t
d
Eig. 2.1
a) b)
2 U:ur i defectare
34
regi m de ncrcare liniar si lent n timp, sub o tensiune electric
continu U
C
aplicat la bornele sale, si a crei valoare este msurat
instantaneu cu voltmetrul V.
n momentul n care tensiunea U
C
ajunge la valoarea pragului de
strpungere U
s t r
a dielectricului, la momentul t
d
, se produce defectarea
acestuia prin clacare si devine inutilizabil (Iig. 2. 1b). n aceast
experient, t
d
reprezint momentul deIectrii, U
C
sarcina aplicat, iar
intervalul T
d
de timp |0, t
d
| durata de viat a condensatorului C.
n conditii reale de utilizare, componentele din structura
echipamentelor sunt supuse unui ansamblu de solicitri. Pentru
componentele electrice si electronice, ale echipamentelor pentru
dirijarea circulatiei si navigatiei, principalele tipuri de solici tri sunt
electrice, termice si mecanice (socuri, vibrat ii etc. ). Prin urmare,
solicitarea real este complex si const n aplicarea unor energii, dintre
care cel putin una este util n regimul de Iunctionare a echipamentului
respectiv.
Dar, n aIar de energii, componentele sunt supuse si unor
inIluente ale materialelor care exist n mediul ambiant: aer, vapori de
ap, substante corozive etc.
Prin ptrunderea acestora n masa componentelor se pot produce
modiIicri ale unor proprietti Iizice utile; ca si n cazul energiilor,
aceste solicitri se maniIest printr-un proces de uzur (deteriorare).
Cu alte cuvinte, n conditii reale, componentele echipamentelor
sunt expuse unui regi m de uzur, att din partea sarcinii utile ct si din
partea ambiantei. Totodat si componentele exercit o inIluent asupra
mediului ambiant, prin degajri de energii si de materiale (cldur,
vibratii, gaze etc. ). n Iigura 2. 2 este ilustrat modul de interact iune
dintre componente C, sarcin (util) si mediul ambiant deIinit ca
ansamblu de energii e si materiale m.
Fiabilitate functional in electronic
35
Eig. 2. 2
ntruct energia se conserv, pentru orice component este valabil
relatia:
W
i
W
ac
W
e
,
unde W
i
reprezint energia de intrare, W
ac
energia acumulat n masa
componentei, iar W
e
energia de iesire.
De exemplu un tranzistor, montat ntr-un etaj de ampliIicare, este
solicitat termic datorit cldurii rezultate n urma disipr ii energiei
electrice aplicate W
i
; o parte din energia termic dezvoltat este retinut
n masa tranzistorului, ridicndu-i temperatura (W
ac
), iar restul este
degajat n ambiant (W
e
). Dac energia acumulat W
ac
depseste o
anumit valoare (pe ntru care temperatura este mai mare dect limita
admisibil), se produce deIectarea tranzistorului.
Din cele expuse pn acum, inclusiv n cadrul 1. 1. 2, rezult
urmtoarele concluzii:
- DeIectarea unei componente coincide cu momentul n care
aceasta urmeaz o lege complet nou de comportare (din punct
de vedere Iunctional).
- DeIectarea este o consecint a Iaptului c energia nmagazinat
(n component) depseste o anumit valoare critic.
- Punctul la nivelul cruia se maniIest deIectarea poate Ii
apreciat ca Iiind rezistenta componentei; aceast rezistent
trebuie nteleas n sensul unei proprietti de a se opune
deIectrii.
e
m
SARCIN
(util)
Ambiant
e
C
2 U:ur i defectare
36
Uneori, n echipamente, deIectarea unei componente antreneaz si
deIectarea altora din cauza inIluentelor reciproce; n acest caz se
produce o defectare n avalany, cauza Iiind noua repartizare de
energie care se Iace dup aparitia unei deIectri.
Eig. 2. 3
AstIel, dac de exemplu, unui grup de N condensatoare C identice,
conectate n serie (Iig. 2. 3), i se aplic o tensiune continu constant E,
Iiecare condensator suport la bornele sale o tensiune de valoare U iar
energia sa acumulat are expresia:
Se mai presupune, n continuare, c tensiunea aplicat U este
apropiat de valoarea de strpungere; unul dintre condensatoare si
anume cel cu dielectricul mai slab, se va strpunge (claca), determin nd
o nou distributie a energiilor acumulate ntre celelalte exemplare
rmase valide:
U U ,
ac
W CE
) 1 N ( 2
1
CU
2
1
ac
W
2
2
2
> >

= =
Urmeaz o nou strpungere la alt condensator,
... , U U , U U ,

ac
W
"
ac
W > > >
2
2
2
CE
N 2
1
CU
2
1
ac
W = =
E
C
1
C
2
C
3 C
N
U U U U

_
Fiabilitate functional in electronic
37
si asa mai departe pn cnd toate condensatoarele vor ajunge n stare
deIect deoarece, evident, la un moment dat tensiunea aplicat U
depseste valoarea de strpungere a celui mai rezistent condensator
(ultimul).
Acest exemplu ilustreaz, n aIar de eIectul deIectrii n avalans
(care se produce n sistemele reale), si postulatul verigii celei mai slabe
n Iiabilitate (1. 1. 2): n urma solicit rii aplicate cedeaz ntotdeauna
componenta a crei rezistent (la deIectare) este mai mic.
Spre a ilustra mai bine dinamica deIectrii n avalans, n
continuare sunt expuse dou exempliIicri din practic.
- Exemplul I. n circuitele de alimentare cu energie electric ale
diIeritelor etaje din structurile echipamentelor electronice, analogice sau
digitale, pentru decuplare se utilizeaz grupuri simple rezistor -
condensator (Iig. 2. 4). n starea valid (de bun Iunct ionare) rezistorul
R, n general de valoare mic, suport la borne o tensiune U
R
, de
asemenea mic:
U
R
R I
i
.
n component continu, intensitatea curentului de iesire I
e
este
egal cu a celui de intrare I
i
deoarece, cu rare exceptii, pierderile n
dielectricul condensatorului C sunt neglijabile; acesta suport la borne o
tensiune Ioarte apropiat de cea de intrare U
i
.
U
C
R
U
R
U
i
I
i
I
e
C
Eig. 2.4
2 U:ur i defectare
38
I
i
I
e
, U
C
- U
i
~~ U
R
.
Pentru aceasta, n calcule, la proiectarea acestui grup se di men-
sioneaz puterea disipat nominal a rezistorului R:
astIel nct, n starea valid J a grupului RC, puterea electric disipat
pe corpul rezistorului s corespund valorii nominale (de catalog).
Dac se produce clacarea condensatorului C, distributia tensiunilor
si curentilor se modiIic susbstantial:
iar rezistorul R se deIecteaz prin supranclzire (a Iost dimensionat la
valoare nominal).
Eig. 2. 5
- Exemplul II. Dac n structura clasic a unui redresor
monoalternant (Iig. 2. 5), se produce clacarea condensatorului
electrolitic de Iiltrare la iesire C
2
: bobina droselul de Iiltraj Dr
suport, de regul, supracurentul prin C
2
, iar dioda redresoare D se
strpunge; astIel condensatorului C
1
i se aplic tensiunea alternativ U
s
Iurnizat la bornele nIsurrii secundare L
s
a transIormatorului Tr.
,
R
U
2
i
I R P
2
R
R
= =
, P
R
U
P ,
R
U
I , 0 I , U U , 0 U
R R R C
2
i i
i e i
>> = = = = =
S
U
i
U
s
U
e
I
p
L
p
L
s
Tr
D
Dr
C
1
C
2
Fiabilitate functional in electronic
39
Acum este rndul unei solicitri prea mari pentru transIormatorul
Tr, care se deIecteaz, de regul, prin ntreruperea nIsurrii pri mare
L
p
(bobinat cu conductor mai subtire).
Dac siguranta Iuzibil S nu ntrerupe curentul I
p
, se vor produce
deIectri mai departe pe circuit, n amonte spre surs.
Este de observat c, pentru a evita deIectrile n avalans, se
introduc intentionat 'elemente slabe (siguranta S) care, prin deIectare,
protejeaz alte componente mai scumpe din sistem.
De asemenea trebuie retinut Iaptul c sigurant a S, care nu
contribuie la realizarea unei Iunctiuni esentiale, ci a uneia de protectie,
are si ea o durat proprie de viat, ca oricare alt component de
echipament: este solicitat normal pe durata de bun Iunctionare, se
deterioreaz n timp si se poate deIecta Ir suprasolicitare.
Dac se urmreste determinarea cauzei pri mare care a condus la
deIectarea n avalans, n ultimul caz expus, se ajunge la Iactorul uman;
cel putin o eroare st la originea acestui proces, declansat din cauz c
siguranta de protect ie S a avut o rezistent (la deIectare) prea ridicat:
valoarea limit de ntrerupere a circuitului a Iost mai mare dect cea
corect.
Motivele care au condus la aparitia acestei erori (umane) pot Ii:
- eroare de calcul la proiectare;
- marcaj gresit din Iabricatie;
- lipsa atentiei necesare din partea personalului de executie la
montaj;
- grab nejustiIicat a personalului de ntretinere tehnic la ultima
nlocuire a sigurantei;
- neglijent (proIesional) din partea aceluiasi personal, care a
provocat deIectarea sigurantei prin scurtcircuitare ntre borne;
- n Iine, montarea unei sigurante 'mai puternice ca s nu se mai
ard!
2 U:ur i defectare
40
Aceste aspecte ale erorii umane n sistem ( 1. 2. 1; Iig. 1. 3), vor Ii
dezvoltate n lucrare.
n cazul general, pentru o component oarecare, se demonstreaz si
se veriIic experimental urmtoarea relat ie numit ecuatia Iundamental
de deteriorare:
, =
f(v)
m
e t k - r ln r ln
0
unde:
r reprezint rezistenta Iiabilist instantanee a componentei;
r
0
rezistenta sa initial;
k
m
o constant ce depinde de concentratia materialelor n
ambiant si de natura lor;
t parametrul timp;
e baza lagoritmilor naturali;
f(v) o Iunctie ce depinde de energiile care intr n procesul de
reactie dintre substantele componentei si ale ambiantei.
Dac Iactorii din mediul ambiant nu variaz (ambiant constant),
, . const k e k
) v ( f
m
= =

ecuatia anterioar se poate pune sub Iorma:


ln r ln r
0
kt, de unde rezult r r
0
e
kt
.
Deci, n conditii de ambiant constant, rezistenta descreste
exponential n timp. Dac, n aceleasi conditii , solicitarea aplicata s este
egal cu rezistenta componentei, se produce deIectarea. Prin urmare,
dac r s, atunci t T
d
si relatia de mai sus se poate scrie:
) s ln r (ln
k
1
T
0 d
=
Fiabilitate functional in electronic
41
Se observ c pentru s r
0
, rezult c durata de viat este nul
(T
d
0). AltIel spus, dac unui element i se aplic o solicit are egal
(sau mai mare) Iat de rezistenta sa initial, deIectarea se produce n
momentul initial; durata de viat n acest caz este nul. n sIrsit,
deoarece k ~ 0 (chiar si n conditii de depozitare conservare), rezult
T
d
): pot Ii realizate, dac este necesar, componente cu durat de
viat Ioarte mare, dar nu inIinit.
2.2. Modele de analiz a uzurii yi defectrii
Datorit solicitrilor pe care, inevitabil, componentele trebuie s le
suporte pe ntreaga lor durat de viat, are loc un proces de deteriorare,
expri mabil prin starea de uzur, iar aceasta la rndul su conduce, mai
devreme sau mai trziu, la deIectare:
solicitare deteriorare uzur defectare
Aceast modiIicare calitativ de stare a componentei (evaluat prin
valorile parametrilor tehnici), care marcheaz sIrsitul duratei sale de
viat, este important deoarece determin, la nivel macroscopic (de
echipament), producerea unor reIuzuri Iunc tionale - n cazul sistemelor
neredundante (netolerabile la deIectri). DeIectarea componentei se
produce ntr-un interval de timp extrem de mic Iat de durata sa de viat
- si marcheaz trecerea componentei de la starea valid ( J) n starea
nevalid ) (J , compromitnd astIel, la nivel macroscopic, Iunctionarea
ntregului subsistem, sistem etc. ( 1. 2. 1; Iig. 1. 3).
Prin reprezentarea graIic a ecuatiei de durat a vietii, se poate
analiza procesul de deIectare pentru diIerite modele de variatie a
solicitrii, respectiv a rezistentei componentelor. Pentru a usura analiza,
2 U:ur i defectare
42
se reprezint timpul (t) la scar liniar; solicit rile s si rezistentele r,
din ordonat, sunt reprezentate la scar natural logarit mic, tot aici
intrnd si Iactorul constant k.
Eig. 2. 6
AstIel, n Iigura 2. 6 a) este artat modul n care rezult momentul
deIectrii (t
d
) pentru solicitare constant ( s const. ). Este de retinut
Iaptul c n momentul initial, la nceputul duratei de viat T
d
, care
corespunde cu originea de timp t 0, valoarea rezistentei componentei
este maxim, deoarece eIectul de uzur nc nu ncepe s se maniIeste;
ulterior, pe msura trecerii timpului, rezistent a r scade, iar momentul
cnd aceasta devine instantaneu egal cu solicitarea (r s), se produce
deIectarea (t
d
), marcnd epuizarea duratei de viat T
d
.
Cnd deteriorarea este independent de intensitatea solicitrii, la
valori diIerite (constante) de solicitare, rezult durate de viat diIerite
(Iig. 2. 6 b):
s
2
~ s
1
; t
d2
t
d1
; T
d1
~ T
d2
Dac procesul de deteriorare este inIluentat de mri mea solicitrii
(Iig. 2. 7), se vor produce dou moduri de variatie a rezistentei ( r
1
respectiv r
2
):
Fiabilitate functional in electronic
43
s
2
~ s
1
, r
2
r
1
, t
d2
t
d1
, T
d1
~ T
d2
n expri mare calitativ - si n concordant cu procesele Iizico-
chi mice de deteriorare, la o solicitare mai mic s
1
corespunde o
rezistent (la deIectare) mai mare r
1
, iar la o solicitare mai mare s
2
corespunde o rezistent mai mic r
2
; de aici si inegalitatea dintre
duratele de viat corespunztoare (T
d1
si T
d2
). Mai trebuie retinut Iaptul
c la originea de timp (t0) cele dou rezistente r
1
si r
2
au valori egale.
r
01
r
02
r
0
, deoarece procesul de deterioare (inexistent) nu s-a
maniIestat (nc) prin uzur.
Eig. 2. 7
De asemenea, din cele expuse pn acum, pentru solicitri
constante se pot trage dou concluzii generale (si importante):
1. Durata de viat a unei componente nu este o proprietate
exclusiv a sa; ea trebuie evaluat pentru ansamblul component
sarcin (solicit are util) ambiant (Iig. 2. 2).
2. Pentru cresterea duratei de viat a unei componente exist, prin
urmare, trei posibilitti:
- mrirea rezistentei init iale r
0
prin proiectare si Iabricatie;
2 U:ur i defectare
44
- utilizarea componentei ntr-un regim de sarcin usor: imple-
mentarea prin proiectare de sistem;
- reducerea solicitrilor din ambiant: implementarea prin pro-
iectare de sistem si ntretinere tehnic - mentenant (ulterioar)
pe durata de utilizare (t ~ 0).
De cele mai multe ori, n practic, n loc de solici tri constante
(sau aproxi mativ constante) se ntlnesc solicit ri variabile. Dintre
acestea, mai reprezentative sunt cele cu variatie n salt, ciclic si
neregulat.
n diagrama din Iigura 2. 8 a) este artat modelul unei solicitri cu
variatie n salt, de exemplu eIectul unei supratensiuni electrice cauzate
de trsnet; este cazul unei evolutii dinamice de trecere brusc de la un
regi m de solicitare redus la un alt regi m de solicitare intens, din care
cauz durata de viat T
d
este 'curmat n momentul deIectrii t
d
.
n Iigura 2. 8 b) este analizat modul n care se determin durata de
viat pentru solicitri cu variatie ciclic, de exemplu eIectul termic
asupra componentelor din echipamentele Iixe, montate n spatiul
exterior, datorit anoti mpurilor cu perioada de un an.
Fiabilitate functional in electronic
45
Momentul deIectrii poate Ii cel estimat t
de
; este posibil ns ca n
acel moment s existe o diIerent, chiar Ioarte mic, ntre rezistent si
solicitare, astIel c deIectarea se va produce n mod cert la momentul t
dr
moment de deIectare real.
Eroarea absolut care se Iace n estimarea duratei de viat este
t
dr
t
de
.
Dac solicitarea are o variatie neregulat (Iig. 2. 9 a), de asemenea
momentul estimat aldeIectrii t
de
poate s diIere de momentul real al
deIectrii t
dr
, primul Iiind determinat de solicitarea maxi m probabil
s
maxp
, iar ultimul de solicitarea real s
r
.
Eig. 2. 9
Atunci cnd nu este posibil de prevzut variatia exact a solicitrii
(Iig. 2. 9 b), se consider valorile de maxi m s
max
si de mini m s
mi n
, precum
si variatia probabil n timp s
p
ale solicitrilor. Rezult intervalele de
timp |0, t
dmi n
|, |0, t
dp
| si |0, t
dmax
|, care reprezint duratele de viat
mini m, probabil, respectiv maxim. DiIerenta C
s
s
max
s
mi n
poart
denumirea de interval de ncredere pentru solicitare, iar diIerenta C
Td

t
dmax
t
dmi n
interval de ncredere (conIident) pentru durata de viat.
2 U:ur i defectare
46
Dac la determinarea sarcinii utile nu apar, n general, probleme
deosebite, alta este situatia n privinta solicitrilor exercitate de ctre
ambiant: evaluarea acestor solicitri cere mult experient si
discernmnt. n Iunctie de destinatia echipamentului, solicitarea
provenit din mediul ambiant creste n ordinea urmtoare: echipament
stationar pe sol n interior stationar pe sol n exterior nav maritim
- vehicul rutier vehicul Ieroviar echipament alpin avion proiectil
teleghidat nav cosmic.
n cele analizate pn acum, s-au considerat numai situatiile n
care s-au produs deIectri de componente, ntelegnd prin aceasta c
abaterile parametrilor Iundamentali au depsit limitele admisibile n
sistem (din punct de vedere Iunctional). Exist ns si Ioarte multe
situatii n care se produc abateri ale parametrilor Iundamentali, ntre
anumite li mite, Ir ca sistemul s Iie aIectat (s aib alte rspunsuri
dect cele prevzute pentru regimul de Iunctionare corect (1. 2. 1). n
aceste situatii se spune c s-a produs o slbire, ntelegnd prin aceasta
c, datorit uzurii partiale, se modiIic perIormantele sistemului,
rmnnd ns valoric ntre limitele admise la nivel macroscopic. AstIel,
Iormulat, uzura este un proces dinamic n timp, aprecierea sa Icndu-
se prin gradul de deteriorare slbire, ca stare de uzur ntr-un anumit
moment. Cnd aceast uzur atinge o valoare critic se produce
deIectarea, datorit creia la nivel macroscopic apare un reIuz
Iunctional, simplu sau complex. n aceast nlntuire de cauze si eIecte,
pri ma cauz este solicitarea, iar ultimul eIect este deIectarea. Ca
element intermediar, pe durata de viat a unei componente, uzura ca
eIect al deteriorrii, dac este brusc si suIicient de intens, coincide n
timp cu deIectarea; dac este lent, deIectarea intervine n momentul n
care uzura depseste nivelul maxi m admisibil.
Fiabilitate functional in electronic
47
Pentru exempliIicare, se consider cazul cel mai simplu al unei
lmpi (bec) de semnalizare cu Iilament incandescent n vid (Iig. 2. 10).
Eiind alimentat n circuitul de comand cu curentul I, lampa
produce un Ilux luminos u, a crui valoare mini m admisibil
(parametru Iunctional) este u
mi n
: sub aceast valoare, distant a de
semnalizare scade nepermis de mult.
Momentul deIectrii poate s apar n dou moduri distincte:
- prin ntreruperea Iilamentului I impropriu spus ardere, cnd
curentul I devine nul si Iluxul radiat de asemenea u 0; deIectarea este
brusc - instantanee (Iig. 2. 10 b) si se produce n momentul t
d1
;
- prin vaporizarea unor particule metalice de pe Iilamentul
incandescent I, care se depun (lent n timp) pe supraIata interioar a
balonului de sticl; acesta devine opac progresiv, iar cnd Iluxul
radiat u atinge valoarea mini m admisibil u
mi n
, are loc deIectarea t
d2
.
Rezult, din acest exemplu, c uzura (slbirea) unei componente
poate varia brusc sau lent (punctele 1 si 2; Iig.2. 10b). AstIel de
Ienomene se produc, analog, si n alte componente electrice sau
electronice: condensatoare, rezistoare chi mice, diode semiconductoare,
tranzistoare, circuite integrate etc. DeIectarea, ns, este totdeauna
brusc si apare instantaneu atunci cnd parametrul Iunct ional depseste
Eig.2.10
2 U:ur i defectare
48
o valoare admisibil la limit, minim sau maxim, indiIerent de modul
de variatie a slbirii componentei (lent sau rapid).
n continuare este redat o clasiIicare general a deteriorrilor,
corelate cu uzura si deIectarea.
- Dup cauza producerii:
- intern / cauzat de existenta unor vicii inerente de Iabricatie
ale componentei (impuritti n dielectricu l unui condensator,
strangulare la terminalul unui capt de Iilament la o lamp cu
incandescent etc. );
- extern / datorit solicitrilor aplicate att prin sarcin ct si
din ambiant (tensiuni electrice de alimentare, socuri, vibratii
etc. )
- Dup viteza de producere:
- lent (progresiv) / poate Ii detectat printr-o examinare
anterioar a valorilor parametrice (reducerea unei rezistente de
izolatie, scderea rezistentei inverse a unei diode
semiconductoare etc. );
- brusc / nu poate Ii detectat (prevzut) anterior deIectrii
(se produce prin eIect de avalans n microstructur si, de
regul, atinge instantaneu punctul de deIectare (strpung erea
unui condensator sau a unei diode semiconductoare,
ntreruperea Iilamentului unei lmpi cu incandescent etc. ).
- Dup gradul de uzur:
- partial / modiIicarea valorilor de parametru Iunctional nu se
Iace pn la punctul de variatie inadmisibil (opacizarea
partial a balonului de sticl a unei lmpi cu incandescent,
cresterea permisibil din punct de vedere Iunctional a
rezistentei directe a unei diode semiconductoare etc. );
Fiabilitate functional in electronic
49
- total / deIectare, depsirea valorilorprag admisibile pentru
parametrul Iunctional considerat (ntreruperea Iilamentului unei
lmpi cu incandescent, strpungerea clacarea unui
condensator, scurtcircuitarea intervalului colector emitor a
unui tranzistor etc. ).
- Dup modul de maniIestare n timp:
- permanente / deIinitive, stabile (arderea unei sigurante
Iuzibile, strpungerea unui tiristor etc. );
- intermitente / temporare, dac Iunctionarea are ntreruperi
aleatoare (contactul electric de conductie al unui releu,
discontinuitatea accidental a unui contactor electric etc. ) .
- Dup numrul lor:
- singulare / Ir a Ii concomitente cu alte deteriorri
(autodescrcarea unui acumulator electric, strpungerea
jonctiunii baz-emitor a unui tranzistor neprovocat de alt
deteriorare etc. );
- multiple / concomitente cu alte deteriorri, dependente sau
independente ntre ele (deIectri n avalans, deIectarea
simultan a dou sau mai multor componente Ir legtur
cauzal ntre ele etc. ).
- Dup legtura cu alte deteriorri:
- pri mare / independente de alte deteriorri (se produc Ir o
interdependent Iunctional);
- secundare / dependente; sunt cauzate de alte deteriorri
(deIectri n avalans, topirea unei sigurante Iuzibile din cauza
unui scurtcircuit etc. ).
- Dup modalitatea n care pot Ii detectate:
- evidente / prin examinare organoleptic (nclziri excesive,
aIumri etc. );
2 U:ur i defectare
50
- ascunse / nu pot Ii puse n evident dect prin msurri sau
veriIicri speciale (clacarea unui condensator, ntreruperea
jonctiunii unei diode semiconductoare etc. ).
- n raport cu eIectul la nivel macroscopic ( 1. 2. 1) :
- prin rspuns Ials / stare cu caracter periculos (cont actul
intempestiv dintre conductoarele de alimentare cu energie
electric si conductoarele de comand a unittii verde la un
semaIor rutier; o deIectare datorit creia se msoar
(determin) o vitez mai mic dect cea real la pilotarea
automat la metrou - 1. 2. 1; Iig. 1. 5 si 1. 8;
- prin rspuns eronat / stare Ir caracter periculos (contact
intempestiv ntre conductoarele de alimentare si cele ale
unittilor luminoase nepermisive pentru circulatie, de exemplu
rosu: deIectare datorit creia se msoar - determin o vitez
mai mare dect cea real la pilotarea automat a metroului -
1. 2. 1; Iig. 1. 5 si 1. 8).
Dup deIectare, elementele slbite sunt (n general) recuperabile
prin rennoire (dac costul reparatiei este mai mic dect costul unui
element nou).
Eig. 2. 11
Prin reparare (Iig. 2. 11) este nlocuit componenta care determin
atingerea valorii mini me admise a rezistent ei globale pe sistem r
mi n
, n
Fiabilitate functional in electronic
51
momentele t
1
, t
2
, t
3
. .. Aceast rezistent global nu revine la valoarea
initial (sau la cea a reparatiei precedente) deoarece rezistentele
individuale ale celorlalte componente, care nu s-au deIectat nc, scad
(si ele) pe msura trecerii timpului.
Pentru acest motiv, componentele slbite trebuie nlocuite dup un
anumit numr de reparatii. Utilizarea lor, n continuare, nu mai este
rational deoarece produc ntreruperi mai dese n Iunctionare si cresc
cheltuielile de ntretinere tehnic.
Mai trebuie retinut Iaptul c elementele cu deteriorare lent pot Ii
puse n evident prin msurri eIectuate asupra lor (parametrilor
Iunctionali); deIectrile care se produc pe aceast cale pot Ii eliminate
prin nlocuirea din timp a elementului slbit (intervalul |t
d1
- t
d2
|,
Iig. 2. 10 b). Celelalte deIectri (brus te) nu pot Ii detectate nainte de a se
produce, motiv pentru care, n sistemele cu mare rspundere Iunctional,
unele componente sunt nlocuite dup durata de viat estimat sau si mai
repede, chiar dac nu maniIest uzuri msurabile importante.
n structura echipamentelor de reglare a circulatiei si navigatiei,
componentele pot Ii:
- electrice sau electronice;
- mecanice care, la rndul lor, se mpart n:
- cinematice (n miscare, cu tendint Ierm de disparitie n
echipamentele moderne);
- statice / de Iixare, asamblare.
Componentele din aceast ultim categorie sunt practic
nedeIectabile, deoarece durata lor de viat este mult mai mare dect a
celorlalte elemente din sistem (sasiuri, plci metalice, bride, suruburi,
piulite, nituri, carcase etc. ).
Componentele caracterizate prin uzur - deteriorare semniIicativ
n timp, sunt depistate si nlocuite periodic (revizii si reparatii de
echipament).
2 U:ur i defectare
52
Aceste interventii pot Ii Icute n dou moduri:
- Ir scoatere din Iunctiune / n momentele t
1
, t
2
, t
3
, t
4
,. ..
(Ii g. 2. 11);
- cu scoatere din Iunctiune / n intervalele de timp T
1
|t
1
, t
1
|, T
2
|t
2
,
t
2
| . .. (Iig. 2. 12) cnd restabilirea, de asemenea, nu se poate Iace la
parametrii nominali.
Eig. 2. 12
Un parametru i mportant al Iiabilittii, din acest punct de vedere,
este disponibilitatea echipamentelor: indicator sintetic al eIicientei n
utilizare a sistemelor tehnice, care expri m capacitatea lor de a Ii n
stare de Iunctionare la un moment dat (mri me cu caracter probabil ist).
Evaluarea acestei capacitti se Iace cu ajutorul coeIicientului de
disponibilitate (Iig. 2. 12):
n a crui expresie s-au utilizat notatiile:
T intervalul de timp considerat;
T
i
durata reparatiei de rang i;
,
T
T
1
T
T T
k
t
n
1 i
i
D
=

=

=
Fiabilitate functional in electronic
53
T
t
timpul total (cumulat) al reparatiilor eIectuate n intervalul de
timp T.
Valoarea maxi m a acestui coeIicient, egal cu unitatea,
corespunde echipamentelor reparabile Ir scoaterea din Iunctiune ( T
t

0; Iig. 2. 11); la echipamentele cu scoatere din Iunctiune (pe ti mpul
reviziilor si reparatiilor) corespund valori cu att mai mici pentru k
D
, cu
ct scoaterile din Iunctiune sunt mai dese si duratele acestora sunt mai
mari (Iig. 2. 12).
3 Jariabilitatea parametric in relatia functional component - sistem
54
Capitolul 3
Variabilitatea parametric n relatia
functional component - sistem
3.1. Abordarea sistemic a functionalittii
Din cele expuse n cadrul capitolelor anterioare se desprinde
concluzia c din cauza uzurii n timp, nivelul de realizare a diIeritelor
Iunctiuni n cadrul unui sistem depinde, direct sau indirect, de
comportarea (Iunctional) a componentelor sale.
Scopul principal al teoriei si practicii Iiabilittii este ca, prin
calcule corespunztoare, s se demonstreze c sistemul n cauz are
sau va avea, un nivel mini m admisibil, din punct de vedere Iunctional.
Acest lucru este posibil prin utilizarea unor date statistice din
exploatare sau ncercri si prin aplicarea metodelor teoriei estimrii;
se ajunge astIel la rezultat e expri mate probabilistic.
Modelul sistemic, de analiz sau sintez, trebuie s descrie
evolutia perIormantelor Iunctionale n timp, pe baza propriettilor
elementelor sale, de asemenea variabile n timp. n acest scop se
utilizeaz, dup caz, modelele de Iiabilitate structurale, logice sau
globale ( 1. 1. 2).
DesIsurarea normal a proceselor de circulatie/navigatie, la nivel
macroscopic, se bazeaz pe realizarea unor Iunctiuni speciIice, simple
sau complexe, ce trebuie realizate n timp.
Fiabilitate funtional in electronic
55
IndiIerent de natura aplicatiei, domeniul de Iunctionare corect
este deIinit ca Iiind locul geometric al valorilor parametrice pentru care
o anumit Iunctiune F
x
este realizat n conditiile prescrise ( 1. 2. 1
Iig. 1. 7). Pentru determinarea acestui domeniu, trebuie preci zati o serie
de parametri Iunctionali:
o, , y, ., p,
ale cror valori trebuie s corespund rspunsului corect.
Dup Iunctiunea F
x
n cauz, acesti parametri pot Ii: vitez,
deplasare, nltime, Iort, putere, durat de realizare a unui program
etc. , ca de exemplu:
- viteza de deplasare a unui tren;
- nltimea de zbor a unui avion;
- directia de deplasare a unei nave sau a unui autovehicul rutier
etc.
Considernd numai rspunsurile ideal si admisibil ( 1. 2. 1; Iig.
1. 5), se gsesc seriile de va lori:
- nominale (ideale): | o
0
,
0
, y
0
, ., p
0
|
- mini me admisibile: | o, , y, ., p |
- maxime admisibile: | o`, `, y`, ., p` |
Prin urmare realizarea Iiecrei Iunctiuni n sistem este descris de
ecuatiile compuse:
F
x
f
x
( o, , y, ., p) , F
v
f
v
( o, , y, ., p) , etc.
variabilele Iunctionale Iiind discontinue sau continue.
La rndul lor, parametrii Iunctionali sunt dependenti de parametrii
Iizici tehnici care se maniIest, n mod direct, la nivel microscopic si
care prin natura lor, sunt Iunctii de timp: mri mi primare optice,
electrice, magnetice, electromagnetice, mecanice, radioactive, acustice
etc.
3 Jariabilitatea parametric in relatia functional component - sistem
56
n practica dirijrii circulatiei / navigatiei, cele mai utilizate
mri mi n domeniul echipamentelor sunt de natur electric, obtinute
direct sau prin conversie: rezistent electric R, inductivitate L,
capacitate C, reactant X, tensiune U, intensitate I, Irecvent
f, Iaz , ampliIicare A, deviatie de Irecvent Af etc.
Acesti parametri Iizici tehnici, n mod uzual, sunt independenti,
iar variatiile lor n timp sunt provocate, n aIar de elementele utile din
punct de vedere Iunctional si de unii agenti (perturbatori) din micro si
macroambiant: variatii de temperatur, umiditate, socuri, vibratii,
cmpuri electromagnetice etc.
AstIel, de exemplu, parametrul Iunctional o este dependent de
parametrii Iizici:
| p
1
, p
2
, ., p
n
|
crora, n cadrul domeniului de valori corespunztor unei Iunctiuni F
x
,
le corespund seriile de valori:
- nominale (ideale): | p
01
, p
02
, . .., p
0n
|;
- mini me admisibile: | p
1
, p
2
, ., p
n
|;
- maxime admisibile: | p
1
`, p
2
`, ., p
n
` |.
Acest aspect este redat prin poligonul Iunctional avnd n laturi
(Iig. 3. 1), cu precizrile care urmea z.
- Valorile ideale nominale sunt n relatie de determinare
biunivoc:
) p ..., , p p ( o
n 0 02 , 01 0

- Valorile mini me sau maxi me admisibile pot Ii ntr-o relatie
oarecare:
) p ..., , p , p ( o
n 2 1

) " p ..., , " p , " p ( o"


n 2 1
.
Fiabilitate funtional in electronic
57
Aceast proprietate se explic prin aceea c relatiile Iunctionale
impun, uneori, variatii inverse de parametru ca, de exemplu, n cazul
unor Iunctiuni de protectie ( 1. 2. 1):
- n timpul circulatiei unui tren, pericolul de coliziune sau deraier e
creste cu mri mea vitezei sale de deplasare;
- pe durata zborului unui avion, la survolarea unui lant montan,
pericolul de prbusire scade cu mrirea altitudinii, respectiv creste cu
scderea acesteia.
La modul general, legtura dintre parametrii Iunct ionali si cei
Iizici este redat prin ecuatiile compuse:
o f
o
( p
1
, p
2
, ., p
n
)
f

( p
1
, p
2
, ., p
n
)
.......... . ..
p f
p
( p
1
, p
2
, ., p
n
)
Deci dac, prin conditii tehnice, se asigur variatii corecte
admisibile ale parametrilor tehnici :
Eig. 3.1
04
p
,
4
p
, ,
4
p
, ,
3
p
03
p
,
2
p
,
1
p
,
n
p
01
p
02
p
n 0
p
, ,
2
p
, ,
1
p
, ,
n
p
4
p
3
p
n
p
1
p
2
p
0

, ,

,
3
p
o
3 Jariabilitatea parametric in relatia functional component - sistem
58
p
1
_ p
1
_ p
1
`, p
2
_ p
2
_ p
2
`, ., p
n
_ p
n
_ p
n
`,
vor rezulta, de asemenea, valori corecte admisibile pentru parametrii
Iunctionali:
o _ o _ o`, _ _ `, ., p _ p _ p`
Pornind analiza de la nivel macroscopic, vor trebui determinate
succesiv legturile eIect -cauz:
F
x
( o, , ., p ) ( p
1
, p
2
, ., p
n
)
O astIel de procedur se aplic n scopul asigurrii unui anumit
nivel de Iiabilitate la elaborarea unui sistem tehnic nou - sintez. Dac
se pune problema analizei Iiabilittii unui sistem existent, procedura
Iolosit va Ii invers, cauz-eIect (se porneste de la nivel microscopic):
( p
1
, p
2
, ., p
n
) ( o, , ., p ) F
x
Rezult, n consecint, unele aspecte importante de care trebuie s
se tin seam n calcule practice de Iiabilitate:
- mai nti se determin valorile nominale ideale
( p
0
, o
0
,
0
, ., p
0
)
si apoi se veriIic limitele admisibile
(p, p`, o, o`, ., p, p`);
- stabilitatea Iunctional a sistemului este cu att mai bun cu ct
domeniile de variatie parametric sunt mai largi, n latura Iizic -
tehnic si n cea Iunctional:
| p, p` | si | o, o` | ;
- cu ct complexitatea sistemului este mai ridicat, cu att numrul
parametrilor tehnici, respectiv Iunctionali, este mai mare si Iiabilitatea
sa sub aspectul stabilittii, este mai redus ntruct domeniile de
Fiabilitate funtional in electronic
59
variatie admisibil se reduc (se ngusteaz); aceasta deoarece valorile
instantanee trebuie s aib o corespondent compatibil, n ceea ce
priveste buna Iunctionare (Iig. 3. 1).
3.2. Modele de variatie parametric
n practic, evolutia valoric a unui parametru Iizic-tehnic (p) n
timp nu poate Ii determinat cu suIicient exactitate deoarece intervin
Iactori perturbatori, att interni ct si externi, avnd o aparitie
aleatoare. n acest mod, la orice valoare a timpului (t) corespund
valorile parametrice:
p
0
nominal (ideal), p minim admisibil, p` maxi m
admisibil (Iig. 3. 2).
Eig. 3. 2
Sondnd, la o anumit valoare de timp, vecinttile valorilor p,
respectiv p`, se obtine o crestere a preciziei de calcul. Pentru aceasta
este necesar s se cunoasc modelul (legea) de variatie parametric.
AstIel, de exemplu, n cazul unei variatii ce corespunde legii
normale (gaussiene) caz ce corespunde majorittii aplicatiilor ntlnite
n practic, se deIineste o Iunctie parametric f(p) , avnd valorile
p
p`
p
0
p(t)
0 t
3 Jariabilitatea parametric in relatia functional component - sistem
60
centrate p si p` (Iig. 3. 3), ce corespunde unor variatii simetrice. Prin
aceasta se evit erorile de calcul care apar, ndeosebi, la un numr mare
de abateri parametrice Iunctionale (o, , y, ., p ) si la un numr
Ioarte mare de abateri ale parametrilor Iizici -tehnici, toate aceste abateri
Iiind aleatoare.
Eig. 3. 3
n cazul sistemelor tehnice cu mare rspundere Iunctional, aceste
abateri n jurul valorii centrate ( p Iig. 3. 4) sunt mici sau Ioarte mici.
Eig. 3. 4
Eunctia parametric f(p) , prin intermediul creia se stabilesc
valorile n ordonat ale curbei de distributie, se aIl n legtur direct
I(p)
0
p
p` p
0
p``
Fiabilitate funtional in electronic
61
cu valorile parametrului (p), care suIer abateri de la centrul de grupare
al distributiei p si care pot Ii exprimate prin Iunctia densittii de
probabilitate, sau probabilittii pentru care parametrul considerat ( p)
are valori cuprinse ntre p si p Ap :
, )
2
2
2
p p
e
r 2 o
1
) p ( P

'

=
unde o reprezint deviatia medie ptratic, sau deviatia standard care,
n cazul distributiilor continue, are expresia:
, dp ) p ( P ) p p ( o
2 2
}
+

=
iar p este valoarea medie a variabilei aleatoare (speranta matematic):
. dp ) (p P p p
}
+

=
Erorile produse prin modul clasic de calcul nu permit evaluri
suIicient de precise, imperios necesare determinrii parametrilor
Iiabilittii Iunctionale.
Pentru reducerea acestor erori se poate recurge la ecuatia de
legtur
o f
o
( p
1
, p
2
, ., p
n
)
care se poate pune sub Iorma diIerential:
n
n
2
2
1
1
o
p d
p
f
... p d
p
f
p d
p
f
o d
c
c
+ +
c
c
+
c
c
=

.
Considernd variatiile inIinit mici, prin divizare, din aceste dou
relatii se obtine:
3 Jariabilitatea parametric in relatia functional component - sistem
62
) p d
p
f
... p d
p
f
p d
p
f
(
) p ..., , p , p ( f
1
o
o d
o
n
n
2
2
1
1 n 2 1
o
c
c
+ +
c
c
+
c
c
= =

(1)
Aceast pri m expresie (1) permite determinarea deviatiei (erorii)
relative a parametrului Iunctional o n Iunctie de variatiile
parametrilor Iizici-tehnici.
Lund n considerare abaterile admisibile (strnse) ale acestor
parametri (Iig. 3. 1):
Ap
i
p
i
- p
i
, A`p
i
p
i
`- p
i
ecuatia diIerential primar se poate pune sub Iorma
n
n
2
2
1
1
Ap
p
o
... Ap
p
o
Ap
p
o
Ao
c
c
+ +
c
c
+
c
c
=
(2)
ajungndu-se astIel la exprimarea deviatiilor medii ptratice:
2
n
p
2
n
2
2
p
2
2
2
1
p
2
1
o
p
o
... o
p
o
o
p
o
o
2
|
|

\
|
c
c
+ +
|
|

\
|
c
c
+
|
|

\
|
c
c
=

(3)
Aceste trei relatii (1; 2; 3) pot Ii utilizate n calcule, dac sunt
ndeplinite urmtoarele conditii:
- parametrii tehnici (p) sunt reciproc independenti;
- legea de distributie a valorilor parametrilor considerati este
cea normal - gaussian;
- deviatia valorii parametrilor n cauz de la valoarea sa
nominal nu este o Iunctie aleatoare n timp.
Deci rezult c, n aceste conditii, valorile medii care
caracterizeaz centrele de grupare ale deviatiilor (Iig. 3. 3) se adun
algebric, iar deviatiile medii ptratice, care caracterizeaz distributia
abaterilor, se adun ptratic.
Fiabilitate funtional in electronic
63
3.3. Studii de caz
Problema de baz n calculul variatiilor parametrice, la modul
general, se poate Iormula n Ielul urmator: Iiind date, pentru Iiecare
element (component de baz, subsistem etc. ), valorile de probabilitate
ca Iiecare parametru tehnic (p) s se aIle ntre limitele de abatere
admisibile (Iig. 3. 2), s se determine probabilitatea ca sistemul analizat
s Iie n stare valid de bun Iunctionare. n acest scop, pe baza
relatiilor (1; 2; 3) stabilite n subcapitolul anterior, se vor exempliIica
unele cazuri de calcul ntlnite Irecvent la evaluarea parametrilor
Iiabilittii Iunctionale.
Cazul 1. Dac dependenta parametrului Iunctional u de parametrii
tehnici (Iig. 3. 1) se expri m prin relatia de nsumare:

=
+ + + = =
n
1 i
n 2 1 i
, p p p p
conIorm relatiei (2) se obtine:
. 1
p
... ...
p p
n 2 1
=
c
c
= =
c
c
=
c
c
Considernd si relatia (3) rezult:
. ... ...
2
p
2
p
2
p
2
n 2 1

+ + + =
n continuare, dac abaterile admisibile (relative) sunt
caracterizate prin valori egale pentru deviatia medie ptratic o,
aplicnd relatia (1) se ajunge la expresia de calcul pentru deviatia
parametrului Iunctional o considerat:
2
p
2
p
2
p
2
2
n 2 1
... ...

+ + + = |

\
|
=
3 Jariabilitatea parametric in relatia functional component - sistem
64
Cazul 2. n ipoteza c parametrii tehnici (p) sunt n relatie de
produs Iat de parametrul Iunctional (o) considerat
, p ... ... p p p
n 2 1
n
1 i
i
= =
[
=

relatia (3) devine:


2
p
2
n 2 1
2
p
2
n 2 1
2
p
2
n 2 1
2
n 2 1
) p ... ... p p ( ... ... ) p ... ... p p ( ) p ... ... p p (

+ + + =
Diviznd aceast ultim relatie prin expresia , p ... ... p p
2
n
2
2
2
1
2
=
se obtine n Iinal relatia de calcul :
.
p
... ...
p p
2
n
2
2
2 p
2
1
1 p
2
pn
2
|
|

\
|
+ +
|
|

\
|
+
|
|

\
|
= |

\
|
=

Cazul 3. n situatiile n care abaterile parametrilor Iunctionali si


tehnici sunt caracterizate printr-o proportie egal (k) Iat de deviatia
medie ptratic (o):
n
pn
2
2 p
2 p
1
1 p
1 p
p
k , ... ... ,
p
k ,
p
k , k
pn

= = = =
,
se obtine relatia de calcul
2
pn
2
2 p
2
1 p
2
... ...
2

+ + + = |

\
|
=
,
aceeasi ca la cazul 1.
Cazul 4. Dac inIluenta parametrilor tehnici (p) asupra celor
Iunctionali ) , ... , , , ( este neuniIorm, se int roduc coeIicienti de
pondere (k
1
, k
2
, .. . , k
n
) prin care se expri m msura acestei inIluente
(n conditiile n care parametrii tehnici sunt reciproc independenti).
n acest caz relatia (2) mprtit prin o conduce la expresia:
Fiabilitate funtional in electronic
65
n
n
n
2
2
2
1
1
1
p
p
k ... ...
p
p
k
p
p
k

+ + + = = .
Trecnd de la deviatiile relative:
,
p
p
, ... ... ,
p
p
,
p
p
,
n
n
2
2
1
1
A A A A

la variatiile medii ptratice relative


, ..., ... , , ,
pn 2 p 1 p

se obtine n Iinal relatia de calcul:


2
pn
2
n
2
2 p
2
2
2
1 p
2
1
2
pn n
2
2 p 2
2
1 p 1
2
k ... ... k k ) k ( ... ... ) k ( ) k (

+ + + = + + =
Cazul 5. n practic se pot ntlni si situatii caracterizate prin
existenta unor inIluente reci proce ntre parametrii tehnici (p
1
, p
2
, .. ., p
n
).
Pentru aceasta, n calcule, este necesar s se introduc unele corectii
expri mate sub Iorma general
, ) k ( ) k ( k 2
f i
p f p i f / i

n care prin coeIicientul k
i / f
este expri mat ponderat inIluenta dintre
parametrii p
i
si p
f .
Prin urmare, relatia (3) de calcul pentru abaterea medie ptratic, a
parametrului Iunctional o , devine:
) k ( ) k ( k 2 k ... ... k k
pf f pi i f / i
2
pn
2
n
2
2 p
2
2
2
1 p
2
1
2

+ + + =
Alte cazuri. . n ncheierea problematicii cazurilor tratate, mai
trebuie precizate dou situatii care pot s apar n calcule practice de
Iiabilitate Iunctional.
a) Dac relatia de legtur ntre parametrii Iunctionali
) , ... , , , ( si cei tehnici ( p
1
, p
2
, ., p
n
) apare sub Iorm de diIerent
3 Jariabilitatea parametric in relatia functional component - sistem
66
sau raport (ct), calculele se eIectueaz prin analogie cu cazurile nr. 1
(diIerent), respectiv nr. 2 (raport).
b) Atunci cnd survin relatii mai complicate, ce nu pot Ii tratate
prin solutiile expuse, se aplic integral relatiile generale (2; 3) pentru
calculul oricrui parametru Iunctional ) , ... , , , ( .
Fiabilitate functional in electronic
67
Capitolul 4
Indicatorii statistici yi indicatorii
probabilistici ai fiabilittii
echipamentelor. Durata de viat
4.1. Aspecte statistice
Analiza deteriorrii pe baza propriettilor si proceselor Iizice si
chi mice ale componentelor este extrem de la laborioas, iar evaluarea
Iiabilitatii pe aceast cale comport un volum de ncercri experi mentale
si de calcul excesiv de mare. Pentru acest motiv se recurge la o tratare
utiliznd met odele statisticii matematice si teoriei probabilittilor.
AstIel a aprut, si pn n prezent s-a generalizat, conceptul
probabilistic al Iiabilittii. n cadrul acestui concept se consider
deIectrile ca Iiind eveni mente a cror aparitie se determin cantitativ,
Ira s intereseze cauzele singulare ale producerii lor. Disprnd
legtura dintre procesele Iizice si chi mice (cauz) si deteriorare (eIect),
dispare si caracterul determinist al deIectrilor. Caracterul aleatoriu
rezultat, prin aceasta, este justiIicat si de numrul ridicat al elementelor
de acelasi tip ce exi st n electronic, domeniu n care s-au initiat si s-
au realizat cele mai avansate studii de Iiabilitate.
Pentru deIinirea indicatorilor generali de Iiabilitate, se presupune
c se eIectueaz urmtoarea ncercare: unui lot n numr N, suIicient de
mare, de condensatoare identice, li se aplic o tensiune E, n conditii
bine precizate de solicitare ale ambiantei (Iig. 4. 1a).
4 Indicatorii statistici i probabilistici ai fiabilittii echipamentelor. Durata de viat
68
Dac se nregistreaz numrul de deIectri produse n unitatea de
timp At (or, zi, lun, an etc. ), se poate trasa histog rama Irecventei
statistice de repartitie a deIectrilor, a crei expresie este:
t A N
) t ( An
(t) * f = (1)
unde
t A
) t ( An
este numrul de componente care s-au deIectat n unitatea
de timp iar N este numrul total de componente supuse la ncercare.
Reprezentarea graIic a acestei Iunctii statistice (ce are dimen-
siunea unei Irecvente) este redat prin linii continue in Iigura 4. 1 b),
E
C
1 C
2
C
N
a)
An
3
An
1
An
2
At
1
At
2
At
3
n
0
n
1
n
2
n
3
0
c)
Eig.4.1
t
I
*
(t)
1 2 3 4 5 6
1,0
2,0
4,0
3,0
0
b)
t
Fiabilitate functional in electronic
69
unde ordonata poate Ii marcat, de exemplu, n procente sau promii, iar
abscisa n unitti de timp convenabil alese.
Echivalentul statistic al probabilittii de deIectare, care se mai
numeste si proportia defectrilor, se determin prin nsumarea valorilor
Irecventei de repartitie a deIectrilor ntr-un anumit interval de timp
|0, t|,
N
n
N
) t ( An
At ) t ( * f ) t ( * F
t
0
t
0
= = =

, (2)
unde s-a notat cu n numrul de componente care s-au deIectat n
intervalul de timp |0, t| considerat (Iig. 4. 1 c); se observ c acest
parametru este adimensional.
Rata (intensitatea) statistic de deIectare reprezint o alt Iunctie
si are dimensiunea t
- 1
(ca si Irecventa de repartitie a deIectrilor, cu
care se aIl n strns dependent). Spre deosebire de Iunctia f*(t) ,
intensitatea de deIectare se deIineste prin raportul dintre numrul de
elemente deIectate n unitatea de timp si numrul de elemente rmase n
stare de Iunctionare (valide), la nceputul intervalului de timp examinat
(Iig. 4. 1c),
t ) n N (
) t ( n
) t ( * :

= (3)
Echi valentul statistic al probabilittii de Iunctionare (Iunctiei de
Iiabilitate) se obtine cu ajutorul raportului dintre Irecventa de repartitie
a deIectrilor si rata de deIectare:
) t ( * F 1
N
n
1
N
n N
) t ( * :
) t ( * f
) t ( * R = =

= = (4)
Prin analogie cu F*(t), acest parametru exprim 'proportia
nedeIectrilor si, deasemenea, nu are dimensiuni Iizice.
4 Indicatorii statistici i probabilistici ai fiabilittii echipamentelor. Durata de viat
70
Se observ c, n orice moment, multimea de N elemente contine
dou submulti mi: submultimea elementelor deIectate, exprimat statistic
prin parametrul F*(t) si submultimea elementelor n stare de
Iunctionare, exprimat prin parametrul R*(t) . Prin urmare, deIectarea si
buna Iunctionare reprezint dou eveni mente contrarii, Iormnd o grup
complet de evenimente, care sunt independente ntre ele (deIectare a
unui obiect nu inIluenteaz buna Iunctionare a celorlalte). Rezult c
parametrii R*(t) si F*(t) sunt mrimi complementare,
R*(t) F*(t) 1.
Media statistic a timpului de Iunctionare se obtine cu ajutorul
Iunctiei f*(t ):

=
=
n
1 i
1 i- i i i
) t - t ( ) t ( f t * m
*
|ore| (5)
unde t
i
t
i - 1
At const. si reprezint suma produselor dintre toate
valorile timpului de aparitie a deIectrilor si Irecventa de deIectare,
corespunztoare acestor valori.
n aIar de numr de ore (unitti de timp ) toti acesti indicatori pot
Ii expri mati si prin numr de actionri, cicluri de Iunctionare, kilometri
parcursi etc. (mrimi care sunt n relatie direct cu timpul).
4.2. Indicatorii probabilistici
Dac numrul de elemente supuse la ncercare ( 4. 1 Iig. 4. 1a)
este extrem de mare, iar intervalul de nregistrare statistic este extrem
de mic:
N ; 0 t ,
atunci n relatiile stabilite anterior se poate Iace trecerea de la mri mile
statistice la mrimile probabilistice echivalente, obtinndu-se astIel
expresiile indicatorilor generali de Iiabilitate.
Fiabilitate functional in electronic
71
Densitatea de probabilitate a timpului de functionare (Irecventa
de repartitie a deIectrilor) are expresia:
t d
n d
N
1
) t ( f = (1)
Reprezentarea sa graIic este redat n Iigura 4. 1b) curba trasat
prin linie continu si reprezint repartitia continu a deIectrilor n
timp. Se retine Iaptul c aria nchis de curba f(t) si axa ti mpului
(pentru s s t 0 ), este egal cu unitatea :
1 N
N
1
t d
dt
dn
N
1
dt ) t ( f
0 0
= = =
} }

Aceast proprietate se explic prin Iaptul c durata de viat Iiind Iinit
( 2. 1 ), dup o durat de timp extrem de mare toate elementele se vor
deIecta datorit deteriorrii (n timp, N n ) .
Probabilistic, acest indicator se deIineste ca Iiind limita raportului
dintre probabilitatea de deIectare n intervalul |t, tAt| si mri mea
intervalului cnd 0 t :
t
t) t T t ( P
lim ) t ( f
0 t

+ s <
=

.
Functia de repartitie a timpului de functionare (probabilitatea
de deIectare) are expresia:
}
=
t
0
, dt ) t ( f ) t ( F (2)
Iiind reprezentat graIic prin supraIata |0, t
1
| din Iigura 4. 2.
Evident, acest indicator este expri mat printr-o Iunctie cresctoare
n timp, valoarea maxi m posibil Iiind egal cu unitatea ] 1 ) t ( F 0 [ s s .
4 Indicatorii statistici i probabilistici ai fiabilittii echipamentelor. Durata de viat
72
Deoarece derivata acestuia n raport cu timpul este Irecventa de
repartitie a deIectrilor,
) t ( f
t d
) t ( F d
= ,
rezult c f(t) reprezint densitatea de probabilitate a timpului de
Iunctionare.
Expri marea probabilistic a Iunctiei de repartitie a timpului de
Iunctionare se asociaz cu probabilitatea ca un element s se deIecteze
n intervalul |0, t| :
) t T ( P ) t ( F s = ,
sau ntr-un interval oarecare de timp [t
1
, t
2
] :
) t T t ( P ) t ( F ) t ( F
t
t
) t ( F
2 1 1 2
1
2
s s = = .
Acest indicator mai poart denumirea si de functie a nonfiabilittii.
Rata (intensitatea) de defectare , ca Iunctie continu, are expresia
t d
n d
n N
1
) t ( :

= , (3)
Eig.4.2
E(t)
R(t)
I (t)
t
1
0
t
Fiabilitate functional in electronic
73
Iiind deIinit probabilistic ca limita raportului dintre probabilitatea de
deIectare n intervalul [t, tAt], conditionat de buna Iunctionare n
intervalul [0, t] si mri mea intervalului At, cnd 0 t :
t
) t T , t t T t ( P
lim ) t ( :
0 t

> + s <
=

.
Ca indicator mediu ntr-un interval oarecare [t
1
, t
2
], acesta se
deIineste ca raportul dintre probabilitatea de deIectare n acel interval,
conditionat de buna Iunctionare n intervalul [0, t
1
] si mri mea
intervalului (t
2
- t
1
) :
1 2
1 2 1
1
2
t t
) t T , t T t ( P
t
t
) t ( :

> s <
=
.
Functia de fiabilitate reprezint cel mai important indicator:
} }

= = =
t
0 t
dt ) t ( f dt ) t ( f 1 ) t ( F 1 ) t ( R (4)
deoarece
}

=
0
1 t d ) t ( f .
Indicatorul R(t ) poate Ii reprezentat graIic prin supraIata [t
1
, ]
(Iig. 4. 2), nchis de curba f(t) ntre valorile t
1
si din abscis.
Valoarea sa este maxi m (egal cu unitatea) pentru t 0 si scade n
raport cu timpul, tinznd spre zero:
] 1 ) t ( R 0 [ s s .
Prin urmare, Iunctia de Iiabilitate se deIineste ca reprezentnd
probabilitatea ca un produs s Iunctioneze Ir deIectare n intervalul
[0, t], n conditii determinate:
) t T ( P ) t ( R > = .
4 Indicatorii statistici i probabilistici ai fiabilittii echipamentelor. Durata de viat
74
Aceast Iunctie are urmtoarele proprietti:
R(0) 1, deoarece T ~0 (eveni ment sigur).
R(t) 0, dac t , deoarece T ~ reprezint un eveni ment
imposibil.
Media timpului de functionare este dat de integrala improprie,
}

=
0
t d ) t ( f t m (5)
nlocuind Iunctia f(t) prin parametrul R(t) si integrnd prin prti,
se obtin succesiv:
} } } }

= + = = =
0 0 0
0
0
t d ) t ( R t d ) t ( R ) t ( R t ) t ( R d t t d
t d
) t ( F d
t m ,
deoarece 0 ) t ( R t lim
t
=

.
Acest lucru se explic prin Iaptul c durata de viat Iiind Iinit (
2. 1), toate elementele se deIecteaz ntr-o durat de asemenea Iinit;
deci R(t) 0, nainte ca t s devin inIinit (n timp n N).
Spre a se preciza conditiile de deIinire a acestui indi cator, care
reprezint momentul de ordinul 1 al variabilei aleatoare timp de
Iunctionare, n literatura de specialitate se ntlnesc urmtoarele trei
notatii:
- MTTF (valoarea medie a timpului de Iunctionare pn la
deIectare n cazul produselor nereparabile);
- MTFF (valoarea medie a timpului de Iunctionare pn la pri ma
deIectare - n cazul produselor reparabile);
- MTBF (valoarea medie a timpului de Iunctionare ntre dou
deIectri succesive dac repararea poate Ii asimilat cu nlocuirea).
n continuare se precizeaz si alti indicatori de Iiabilitate, utilizati
mai putin n studiul Iiabilitt ii Iunctionale n transporturi .
Fiabilitate functional in electronic
75
Dispersia timpului de functionare reprezint momentul centrat de
ordinul 2 al timpului de Iunctionare:
] ore [ t d ) t ( f ) m t ( D
2 2
0
}

=
Abaterea medie ptratic a timpului de functionare este dat de
expresia,
D o =
Cuantila timpului de functionare t
F
reprezint timpul n care
un produs Iunctioneaz cu o anumit probabilitate (1 F):
P (T _ t
F
) F
n general, la determinri practice, nu sunt cunoscuti toti
indicatorii de Iiabilitate. Spre a reduce volumul de calcul, se recurge la
utilizarea unor relatii de legtur ntre acesti indicatori, rel atii ce sunt
redate n tabelul de mai jos.
1
Frecventa de
repartitie
a defectrilor
)] t ( F 1 [ ) t ( : ) t ( R ) t ( :
t d
) t ( R d
t d
) t ( F d
) t ( f = = = =
2
Probabilitatea
de defectare
) t ( :
) t ( f
1 ) t ( R 1 ) t ( F = =
3
Rata (intensitatea)
de defectare
) t ( F 1
) t ( f
) t ( R
) t ( f
t d
) t ( R d
) t ( R
1
t d
) t ( F d
) t ( F 1
1
) t ( :

= = =

=
4
Functia de
fiabilitate
) t ( :
) t ( f
) t ( F 1 ) t ( R = =
5
Media timpului
de functionare
} } }

= = =
0 0 0
t d ) t ( R t d )] t ( F 1 [ t d ) t ( f t m
4 Indicatorii statistici i probabilistici ai fiabilittii echipamentelor. Durata de viat
76
4.3. Modelarea matematic a duratei de viat
Dac se determin experi mental indicatorul :(t) pentru un numr
suIicient de mare de elemente de acelasi tip, pe toat durata lor de viat,
se obtine curba tipic din Iigura 4. 3, avnd trei zone distincte cu privire
la propriettile Iiabiliste.
Zona I este numit perioada initial a duratei de viat (T
d
; 2. 1
Iig. 2. 1). n intervalul de timp [0, t
1
] are loc un proces de deIectare,
imediat dup Iabricare (inclusiv con trolul tehnic de calitate).
Valoarea relativ ridicat a intensittii de deIectare se explic prin
Iaptul c la aplicarea sarcinii, elementele cu rezistent initial scazut
se deIecteaz ( 2. 1). Aceste deIecri initiale sunt determinate,
ndeosebi, de greselile de Iabricatie si au drept cauze principale
utilizarea unor materii pri me (semiIabricate) necorespunztoare, sau
nclcarea regulilor tehnologice. AstIel, deIectiunile ascunse scap
controlului Iinal de uzin , dar nu intrzie s se maniIeste ntr-un timp
relativ scurt, de regul sub Iorma unor deteriorri bruste si totale din
cauze interne ( 2. 2 ).
n cazul echipamentelor proIesionale si n special la cele cu mare
rspundere Iunctional se aplic un rodaj, numit antrenament
artiIicial, care include mai multe Iaze: eliminarea elementelor cu
t
1
t
2
t
3

z(t)
0
t
I
II
III
Eig.4.3
Fiabilitate functional in electronic
77
rezistent initial redus, veriIicri pe subansamble, veriIicri n
conditii reale dup montaj etc. In acest rstimp, cnd nu se conteaz pe
aportul sistemului tehnic n desIasurarea procesului respecti v, este
instruit personalul care urmeaz s manevreze si s ntretin ulterior
echipamentele respective.
La echipamentele de tip neproIesional (de larg consum), perioada
initial corespunde (de regul) perioadei de garantie, cnd reparatiile se
execut gratuit, castul lor Iiind estimat anterior si inclus, binenteles, n
pretul de vnzare.
Modelul matematic ce coresunde acestei prime etape initial, a
duratei de viat, este legea normal (Gauss), deIectrile avnd o
distributie normal trunchiat pe ramura descendent (Iig. 4. 4 a).
Eig. 4. 4
Corespunztor acestei legi de repartitie, indicatorii de Iiabilitate
sunt Iunctii de parametrii m si o, avnd expresiile precizate n
continuare, conIorm relatiilor de deIinire ( 4. 2).
- Densitatea de probabilitate a timpului de Iunctionare:
2
O
2
o
2
(
-
o
) m - t
e
a 2 o
1
) t ( f

=
- Eunctia de repartitie a timpului de Iunctionare:
b) c)
z(t)
t
0
R(t)
t
0
0
m
0
t
I(t)
a)
4 Indicatorii statistici i probabilistici ai fiabilittii echipamentelor. Durata de viat
78
t d e
a 2 o
1
dt ) t ( f ) t ( F
t
o
2
) (
o
o
2
0
2
0
m t
t
} }

= =

.
- Rata (intensitatea) de deIectare:
}

=
t
t d e
e
) t ( :
2
0
2
0
2
0
2
0
2
2
) (
) m t (
m t

- Eunctia de Iiabilitate:
} }

= =
t t
t d e
a 2 o
1
t d ) t ( f ) t ( R
2
0
2
0
2
o
) m t (

- Media timpului de Iunctionare:


o
o
m t d ) t ( f t m = =
}

In Iigura 4. 4 sunt reprezentati indicatorii f(t) , :(t) si R(t) pentru


parametrii m si o de valoare constant (m
0
, o
0
).
Zona II se numeste perioad de baz (de utilizare, de maturitate -
Iig. 4. 3) si corespunde intervalului normal de exploatare Iiind, de regul,
comparabil cu durata de viat. In acest interval de timp [t
1
, t
2
], marea
majoritate a deIectrilor sunt bruste (in stantanee) si se datoresc unor
cauze externe (modiIicri bruste ale conditiilor de sarcin sau de
ambiant). Ca si n perioada precedent , deIectrile au un caracter
ntmpltor, ns sunt mai rare, iar intensitatea lor este practic
constant; pentru acest motiv se aplic legea de repartitie exponential.
AstIel, dac o component sau un echipament au Iunctionat pn la
un anumit moment t, probabilitatea ca el s Iunctioneze n continuare
Fiabilitate functional in electronic
79
este aceeasi ca si cum ar Ii Iost pus n Iunctiune n momentul t (dup
rodaj). Rezult c dac acesta se aIl n Iunctiune n momentul t, nu are
nici o important vrsta lui, adic valoarea ti mpului de Iunct ionare
anterioar.
Repartitia exponential corespunde modelelor de deIectare
complexe, cnd intensitatea global de deIectare (n microstructur sau
n macrostructur) este constant. Din practic rezult o bun
concordant a acestei repartitii, ndeosebi n cazul produselor
electronice si al unor utilaje tehnologice complexe (cum sunt, de
exemplu, cele utilizate pentru reglarea circulatiei, respectiv navigatiei ) .
Prin urmare n intervalul de timp [t
1
, t
2
], distributia deIectrilor
este uniIorm, Iiind caracterizat printr-o rat (intensitate) de deIectare
constant. :(t) const.
Tinnd seama de relatiile,

) t ( f
) t ( R , ) t ( R
t d
d
) t ( F
t d
d
) t ( f = = = ,
rezult :
) t ( R
t d
d
) t ( R
1
) t ( R
) t ( f
= =
Integrnd aceast ecuatie ntre limitele 0 si t, se obtine:
}
=
t
0
t d ) t ( R ln , sau
}

=
t
0
dt
e ) t ( R
Deoarece intensitatea deIectrilor este constant, rezult :

s
>
=

0 t pentru 1
0 t pentru e
) t ( R
t

<
>
= =

0 t pentru 0
0 t pentru e
e
t d
d
) t ( f
t
t
4 Indicatorii statistici i probabilistici ai fiabilittii echipamentelor. Durata de viat
80

1
t d e m
0 t pentru 0
0 t pentru e 1
) t ( F
0
t
t
= =

<
>
=
}

n Iigura 4. 5 sunt redate reprezentrile graIice ale intensittii de


deIectare (a), Iunctiei de Iiabilitate respectiv Iunctiei de nonIiabilitate
(b) si densittii de probabilitate a timpulu i de Iunctionare (c).
Eig. 4. 5
Zona III numit perioad de uzur (de imbtrnire): intensitatea
deIectrilor creste datorit Iaptului c n structura elementelor apar
schimbri Iizico-chi mice importante, care conduc la variatii continue ale
unor parametri i mportanti din punct de vedere Iunctional (intervalul [t
2
,
t
3
], Iig. 4. 3). DeIectrile care apar acum provin, mai ales, din deteriorri
lente (progresive - 2. 2) si corespun d unei distributii n timp dup
legea normal-trunchiat, ramura ascendent (Iig. 4. 4a).
ntruct aceste deIectri pot Ii prevzute anterior, la sistemele
tehnice proIesionale se aplic un program riguros de revizii (ntretinere
tehnic), avnd drept scop eli minarea si nlocuirea elementelor care
prezint semne de slbire. Dac aceste msuri cu caracter proIilactic se
iau pe toat perioada de baz-II, se obtine prelungirea duratei de viat a
sistemului prin reparatii (2. 2; Iig 2. 11 si 2. 12).
De asemenea, n perioada de baz sunt nlocuite si elementele care
ating durata de viat estimat (sau o durat si mai mic n cazul
t
a)
1/m
const.
0
z(t)
0
t
R(t)
E(t)
1-e
- t
e
- t
1,0
0,5
b)
e
- t
t
0
I(t)

c)
Fiabilitate functional in electronic
81
sistemelor tehnice cu mare rspundere Iunctional), chiar dac nu
prezint semne evidente de uzur. AltIel spus, unele echipamente de tip
proIesional, cu o ntretinere tehnic mentenant de calitate se bucur
de 'tinerete Ir batrnete (Iig. 4. 6), parcurgnd succesiv etapele de
baz II II` II`` II``` etc.
Totusi durata de viat este limitat, chiar si n aceste conditii , din
dou motive principale:
- rennoirea partial repetat conduce la o scdere general a
Iiabilittii pe sistem, uzura Iiind progresiv si cumulativ;
- aparitia unor noi echipamente moderne cu perIormante tehnice si
economice superioare n raport cu costul lor, impune
implementarea acestora, elaborate recent, prin nlocuirea celor
de generatie tehnologic anterioar.
4.4. Date primare de fiabilitate
4.4.1. Consideratii generale
IndiIerent de categoria Iiabilittii (previzional, nominal sau de
mentenant - 1. 1. 1), calculele eIectuate pentru evaluare trebuie s
nceap cu stabilirea datelor primare, date care contin inIormatia de
baz cu privire la comportarea diIeritelor componente de echipament,
Eig. 4.6
t
1
t
2
t
3
z (t)
0 t
II II` II II`

4 Indicatorii statistici i probabilistici ai fiabilittii echipamentelor. Durata de viat


82
care intr n structurile Iiabiliste respective. Deoarece ntre procesul de
uzur si momentul deIectrii nu se poate st abili o relatie determinist
(1. 1. 2) datele primare se obtin pe cale statistic, urmnd a Ii utilizate
n calcule probabiliste.
Pe de alt parte, n timpul Iunctionrii, componentele de
echipament sunt supuse unor multitudini de Iactori care, n domeniul
transporturilor, au limite de variatie parametric extrem de largi
(problematic tratat pe larg n capitolul 3) ; prin aceasta, pe lng
inIormatia de provenient statistic, este necesar ca specialistul de
proces pe baza experientei sale ingineresti, s contribuie cu
competent la completarea acestei inIormatii pri mare spre a se obtine
date cu valori ct mai apropiate de cele reale. n unele situatii acest
aport tehnic poate cpta si un caracter euristic util.
O alt diIicultate, caracteristic proceselor de circulatie /
navigatie, o constituie Iaptul c regimul de solicitare al echipamentelor
deci si al componentelor, se desIsoar n mod continuu dar mai
ales, n mod discontinuu : echipamentele de bord ale vehiculelor
(rutiere, Ieroviare, naval e, aeriene, spatiale) sunt supuse, pe durata
deplasrii lor, unor solicitri extrem de variate, n Iunctie de etapa de
circulatie / navigatie.
Spre a lua n considerare acest aspect, n calcule, se introduce un
Iactor temporal numit timp relativ de functionare 1
r
:
] 1 , 0 [
T
T
T
fe
r
=
unde cu T
f e
se noteaz durata de Iunctionare eIectiv a echipamentului
n cauz, iar cu T durata total pentru care se eIectueaz calculele de
Iiabilitate. Limitele valorice ale acestui Iactor adimensional sunt zero
Fiabilitate functional in electronic
83
(de exemplu, n timpul unor depozitri, reparatii capitale etc. ) sau egale
cu unitatea atunci cnd Iunctionarea este continu permanent, n tot
intervalul de timp T considerat n calcule.
Totodat echipamentele de dirijare a circulat iei / navigatiei Iac
parte din categoria cu mare rspundere Iunctional ; aceasta impune
tratarea Iiabilittii lor (din punct de vedere Iunctional) pe durata
normal de viat (4. 3). Prin urmare indicatorul caracteristic pentru
calcule este :
:(t) const . ,
iar repartitia timpului de Iunctionare corespunde legii exponential
negativ (Iig. 4. 5).
Valorile nominale ale parametrului de calcul

, pentru Iiecare tip


de component a echipamentului (rezistor, diod, tranzistor, circuit
integrat etc. ), se obti n ndeosebi prin :
- ncercri de Iiabilitate (normale sau accelerate) ;
- date statistice privind comportarea n exploatare (pentru
componentele respective) ;
- echivalri valorice de parametru prin similitudine Iizic ntre
componente cu date Iiabiliste cunoscute (de generatie
tehnologic mai veche sau mai des ntlnite n practic) si
componente mai putin cunoscute pentru care, n literatura de
specialitate, nu se gsesc date suIiciente.
4.4.2. Solicitri n microambiant
Ansamblul structurat de componente care Iormeaz un bloc
Iunctional (aparat, instalatie etc. ) este totdeauna amplasat ntr -un corp
de protectie (carcas, pichet, dulap metalic etc. ). Realizarea acestuia, la
proiectare si Iabricatie, este astIel Icut nct s asigure un anumit
4 Indicatorii statistici i probabilistici ai fiabilittii echipamentelor. Durata de viat
84
regi m Iizic de Iunctionare ; prin aceasta sunt obtinute anumite limite de
solicitare intern asupra componentelor continute.
n cazul echipamentelor electrice si electronice solicitrile
principale sunt de natur electric si se gsesc n microambianta proprie
sub Iorm de curenti, tensiuni si puteri electrice, inclusiv disipatie de
cldur.
Solicitrile de acest tip au, n general, un caracter util deoarece
sunt inerente proceselor Iizice n cauz, constituind latura lor intrinsec.
Pentru a se tine seam de uzura introdus prin aceste solicitri se
deIineste, la nivelul componentei n cauz, Iactorul de solicitare
electric n microambiant k
s
(adi mensional) :
o
r
s
S
S
k = ;
S
r
Iiind solicitarea ncrcarea real, iar S

solicitarea ncrcarea
nominal (precizat n catalogul de produs).
n Iunctie de valorile acestui coeIicient se deIinesc trei regimuri de
solicitare :
k
s
1 : regim descrcat ;
k
s
1 : regim nominal ;
k
s
~ 1 : regim ncrcat.
Pentru echipamentele de tip proIesional si mai ales pentru cele
cu mare rspundere Iunctional, regi mul de solicitare trebuie s Iie
descrcat (k
s
1), la valori cu att mai mici cu ct Iunctiunile n care
sunt implicate (componentele respective) sunt mai i mportant e.
Analiznd modurile concrete de solicitare electric, pentru Iiecare
component, se va stabili expresia coeIicientului k
s
avndu-se n vedere
solicitarea care produce uzura maxim si care, n consecint conduce
Fiabilitate functional in electronic
85
mai repede la momentul deIectrii (2. 2 Iig. 2. 6). Pentru
exempliIicare, n tabela 4. 1 sunt redate aceste expresii pentru unele
componente ntlnite curent n echipamentele de dirijare a circulatiei /
navigatiei.
Tab. 4. 1
Tipul componentei k
s
S
r
/ S
0
Rezistor P
r
/ P
0
Condensator U
r
/ U
0
Diod redresoare
I
r di r
/ I
0 di r
U
r i nv
/ U
0 i nv
Diod
electroluminiscent
I
r
/ I
0
Diod Zenner I
r
/ I
0
Tranzistor
I
r c
/ I
oc
U
r c
/ U
oc
P
r c
/ P
oc
Bec cu incandescent P
r
/ P
0
Conector simplu I
r
/ I
0
TransIormator P
r
/ P
0
Notatiile Iolosite sunt :
S
r
, S
0
solicitarea real, respectiv nominal ;
P
r
puterea electric real aplicat ;
P
0
puterea electric nominal (de catalog) ;
U
r
tensiunea electric real aplicat ;
U
0
tensiunea electric nominal ;
I
r di r
, I
0 di r
curentul mediu direct real, respectiv direct nominal ;
U
r i nv
, U
0 i nv
tensiunea invers real, aplicat, respectiv
nominal ;
I
r
, I
0
curentul real aplicat, respectiv nominal ;
I
r c
, I
oc
curentul de colector real aplicat, respectiv nominal ;
U
r c
, U
oc
tensiunea real aplicat colector emitor, respectiv
nominal ;
P
r c
, P
oc
puterea electric real disipat, respectiv nominal.
4 Indicatorii statistici i probabilistici ai fiabilittii echipamentelor. Durata de viat
86
Atunci cnd se determin valoarea Iactorului k
s
este necesar s se
considere modul de solicitare cel mai deIavorabil pentru component :
n curent, n tensiune sau n putere. De asemenea, pentru oricare alt tip
de component, care nu se aIl n tabela 4. 1, valoarea Iactorului de
solicitare electric n microambiant se va stabili n aceeasi modalitate
si anume, pentru parametrul cel mai deIavorabil (din punct de vedere
Iiabilist).
Dup determinarea valorii Iactorului k
s
se trece la stabilirea valorii
unui Iactor de calcul pentru microambiant o :
o f(k
s
),
Iactor care este cu att mai apropiat valoric de k
s
cu ct acesta din urm
se apropie mai mult de unitate (solicitri electrice mai mari).
n tabela 4. 2, spre exempliIicare, este redat aceast dependent
pentru tranzistoare si care este, n general, caracteristic dispozitivelor
semiconductoare.
Tab. 4. 2
k
s
I
r c
/ I
oc
0, 125
0, 250 0, 375 0, 500 0, 675 0, 750 0, 800
u I(k
s
) 0, 100 0, 120 0, 160 0, 240 0, 360 0, 615 0, 775
Mai trebuie precizat c la stabilirea acestei dependente intervine si
competenta euristic inginereasc ; zon interioar mai cald sau mai
rece, umiditate mai ridicat sau mai sczut etc.
n toate situatiile practice ntlnite este valabil relatia de
dependent :
o _ k
s
.
Fiabilitate functional in electronic
87
n Iinal, pentru determinarea valorii de calcul a intensittii (ratei)
deIectrilor, pentru solicitri (reale) n microambiant
e
, se suprapun
cele dou eIecte ale regimului de solicitare, electric si temporal :

e
o
0
T
r e
|deIectri/h|
unde

este valoarea nominal (de catalog, n cazurile extrem de rare


cnd este precizat), iar 1
r e
reprezint timpul relativ de Iunctionare
pentru solicitri electrice n microambiant.
Din motive obiective sau subiective, n cataloagele de productor
nu sunt precizate (pe lng alte valori parametrice) valorile par ametrului

; aceast lips este justiIicat, n primul rnd, de Iaptul c evolutia


tehnologiei de Iabricatie este extrem de rapid, iar ncercrile de
Iiabilitate respective necesit durate relativ mari si costuri care nu sunt
neglijabile.
Pentru calcule curente de Iiabilitate, parametrul

se stabileste
utiliznd intervalul de conIident (ncredere), expus n subcapitolul 2. 2
(Iig. 2. 9b). n acest mod se stabilesc limite inIerioar sau superioar,
respectiv valori mini me sau maxime, ntre care se aIl valorile
respective.
O metod practic cu bune rezultate, pentru obtinerea valorilor

,
este aceea a comparatiei (din punct de vedere Iiabilist ) a oricrei
componente cu rezistoarele chimice. Deoarece, n echipamentele
electronice, aceste rezistoare au cea mai larg rspndire inIormatia
despre comportarea lor este mai usor de obtinut. Aplicnd metoda
coeIicientilor de comparatie (k
i
) se expri m intensittile de deIectare
nominale
oi
ale diIeritelor componente n raport cu intensitatea
nominal
oR
a rezistoarelor :
k
i

0i
/
0R
,
i Iiind indice de rang.
4 Indicatorii statistici i probabilistici ai fiabilittii echipamentelor. Durata de viat
88
Pentru rezistoarele de tip proIesional valoarea recomandat este :

0R
0, 03 10
- 6
[buc. /h],
aceast valoare Iiind ncadrat n plaja de valori dintre cea mini m si
cea maxi m.
n tabela 4. 3 sunt redate limitele domeniilor de valori pentru
coeIicientul de comparatie k
i
, ca si pentru intensitatea (rata de
deIectare) nominal :

oi
k
i

0R
[10
- 6
h
- 1
].
Spre a usura cutarea de date, denumirile componentelor cele
mai des utilizate n cadrul echipamentelor de telecomenzi si electronic
n transporturi, sunt precizate n ordine alIabetic, iar indicele de rang i
are valori cuprinse ntre 1 si 54 inclusiv.
Pentru conexiuni clasice cu conductoare metalice, monoIilare sau
litate, se consider c i ntensitatea de deIectare este practic nul ;
inIluenta lor Iiabilist este inclus prin capete la suduri cu Iludor,
conectori etc.
Tab. 4. 3
k
i

oi
[x 10
- 6
h
- 1
] Nr.
crt .
Denumirile componentelor
min. max. min. max.
1
Acumulatori electrici de capacitate
mic
2, 10 5, 20 0, 063 0, 156
2 Ampermetre magnetoelectrice 4, 00 20, 00 0, 120 0, 600
3 AmpliIicatori magnetici 6, 30 10, 80 0, 189 0, 324
4
Ansamble mecanice cinematice
simple
14, 70 20, 50 0, 441 0, 615
5 Bobine de nivel mic 1, 10 1, 50 0, 033 0, 045
6 Circuite impri mate (1 dm
2
) 1, 20 2, 40 0, 036 0, 072
7
Circuite integrate de complexitate
medie
8, 20 12, 10 0, 246 0, 363
8 Circuite integrate simple 2, 50 3, 30 0, 075 0, 099
Fiabilitate functional in electronic
89
9 Comutatori 5, 20 9, 40 0, 156 0, 282
10 Condensatori ceramici 0, 33 2, 70 0, 001 0, 081
11 Condensatori cu hrtie 0, 33 3, 20 0, 001 0, 096
12 Condensatori cu 4 borne 0, 20 2, 05 0, 006 0, 062
13 Condensatori electrolitici 0, 58 5, 33 0, 018 0, 160
14 Condensatori semireglabili (trimeri) 0, 52 4, 80 0, 016 0, 144
15
Condensatori variabili cu dielectric
aer
3, 90 8, 75 0, 117 0, 263
16 Conectori de putere 10, 70 15, 30 0, 321 0, 459
17 Conectori multipli 5, 20 9, 40 0, 156 0, 282
18 Conectori simpli de nivel mic 3, 80 7, 40 0, 114 0, 222
19 Conexiuni prin wrapare 0, 02 0, 04 0, 001 0, 002
20 Contactori termobimetal 3, 66 8, 50 0, 110 0, 255
21 Contactori uzuali 3, 33 8, 62 0, 100 0, 259
22 Cuple electrice de putere 10, 70 15, 30 0, 321 0, 459
23 Diode de nivel mic 1, 50 3, 10 0, 045 0, 093
24 Diode de putere 11, 70 15, 40 0, 351 0, 462
25 Diode Zenner 6, 48 11, 20 0, 195 0, 336
26 Electromotoare de mic putere 17, 22 22, 00 0, 517 0, 660
27
Lmpi cu incandescent pentru
semnalizare
1, 20 6, 20 0, 036 0, 186
28 Microcomutatori 3, 00 12, 80 0, 090 0, 384
29 Potentiometri bobinati reglabili 12, 80 23, 50 0, 384 0, 705
30 Potentiometri cu pelicul de carbon 7, 20 12, 00 0, 216 0, 360
31 Relee miniatur 1, 80 8, 33 0, 054 0, 250
32 Relee Reed 1, 23 2, 42 0, 037 0, 073
33 Relee speciale 0, 23 0, 40 0, 007 0, 012
34 Relee termice 4, 00 23, 60 0, 120 0, 708
35 Relee uzuale 3, 30 5, 50 0, 099 0, 165
36 Rezistori bobinati Iicsi 0, 66 2, 61 0, 020 0, 079
4 Indicatorii statistici i probabilistici ai fiabilittii echipamentelor. Durata de viat
90
37 Rezistori bobinati reglabili 12, 80 23, 50 0, 384 0, 705
38 Rezistori cu 4 borne 0, 15 1, 95 0, 005 0, 059
39
Rezistori cu pelicul de carbon
(chi mici)
0, 50 1, 50 0, 015 0, 045
40 Rezistori metalici 0, 30 1, 33 0, 009 0, 040
41 Selsine 3, 00 17, 80 0, 090 0, 534
42 Servomotoare de mic putere 3, 33 33, 30 0, 100 0, 999
43 Sigurante Iuzibile 1, 05 4, 90 0, 032 0, 147
44 Socluri simple 3, 80 7, 40 0, 114 0, 222
45 Suduri cu Iludor 0, 20 0, 30 0, 006 0, 009
46 Tahometri 8, 33 17, 10 0, 250 0, 513
47 Termistori 5, 80 12, 62 0, 174 0, 379
48 Tiristori 2, 30 9, 75 0, 069 0, 293
49 TransIormatori de impulsuri 6, 30 10, 80 0, 189 0, 324
50 TransIormatori de nivel mic 1, 10 1, 50 0, 033 0, 045
51 Tranzistori de nivel mic 1, 50 3, 10 0, 045 0, 093
52 Tranzistori de putere 11, 70 15, 40 0, 351 0, 462
53 Tuburi electronice speciale 18, 30 26, 60 0, 549 0, 798
54 Volt metre electromagnetice 4, 00 20, 00 0, 120 0, 600
n vederea stabilirii valorii indicatorului
oi
pentru circuite
integrate, cu structuri orict de dezvoltate, se recomand urmtoarea
metod:
a) se analizeaz schema electric detaliat a circuitului integrat n
cauz (din catalog);
b) se Iace o echivalare cantitativ n structuri elementare de circuit
basculant simplu sau poart logic, bazate pe 2 tranzistoare cu
componentele aIerente;
Fiabilitate functional in electronic
91
c) se multiplic intensitatea (rata) de deIectare a unui astIel de
circuit elementar cu numarul A de circuite elementarecontinute
(echivalente):
= '
CI 0
N
0i
, unde

0i
(0, 075 ~ 0, 099)10
- 6
h
- 1
,
valori ce se gsesc la nr. crt. 8 din tabela 4. 3.
n Iapt, prin aceast metod, datele obtinute vor conduce la o
Iiabilitate mai sczut Iat de cea real; pentru calcule curente este
suIicient deoarece, astIel, se veriIic Iaptul c nivelul de Iiabilitate
obtinut este superior unui anumit grad necesar mini m obligatoriu
(atestarea Iiabilittii, 1. 1. 2).
O alt metod, mai putin laborioas dar si cu rezultate avnd erori
mai mari, al cror sens nu se poate cunoaste, pleac de la Iaptul c
circuitele integrate moderne, ndeosebi cele de tipul LSI (Large Scale
Integration) pot Ii considerate ca avnd o intensitate (rat) a deIectrii
inIerioar cu trei ordine de mrime Iat de aceeasi structur de
echipament care este realizat cu componente discrete (CD):
, 10
CD 0
3
CI 0


= ' '
valorile indicatorului
CD
se obtin prin calcul pentru schema de
Iiabilitate care ar Ii realizat n mod clasic numai cu componente
discrete.
Mai este necesar s se retin Iaptul c dac, n structura circuitului
integrat respectiv, exist redundant (cap. 5), ace asta va Ii redus prin
calcul Iiabilist la o structur echivalent neredundant (pentru care
intensittile de deIectare, pe durata normal de viat, se nsumeaz).
4 Indicatorii statistici i probabilistici ai fiabilittii echipamentelor. Durata de viat
92
4.4.3. Solicitri n ambiant
Aceste solicitri sunt extrem de dure si - n transporturi - se
maniIest la scar global ( 1. 1. 1 Iig. 1. 1). Pentru evaluarea lor s-
au eIectuat si se Iac, n continuare, studii dedicate diIeritelor ramuri de
transport n Iunctie de tipul de ambiant n cadrul creia se deplaseaz
vehiculele, respectiv navele.
Metoda unitar, care cuprinde practic toate situatiile reprezentative
de calcul, pleac de la o valoare de reIerint pentru ambiant, egal cu
unitatea, si care reprezint ambianta existent n ncperi amenajate,
unde si desIsoar activitatea operatori umani; majoritatea
echipamentelor Iunctioneaz n astIel de conditii, motiv pentru care
inIormatia necesar stabilirii datelor de Iiabilitate este mai usor de
obtinut, iar erorile sunt mini me. Se poate observa c acest procedeu este
similar celui utilizat pentru microambiant, acolo rezistorul Iiind
element de reIerint (4. 4. 2).
Pentru calcule Iiabiliste, considernd solicitrile care provin din
ambiant, se introduce un coeIicient de calcul a crui valoare este
determinat de raportul dintre int ensitatea de solicitare concret (real)

a
a ambiantei si cea de reIerint (n ncperi amenajate)
1
:

f

af
/
1
,
f Iiind variabila de rang.
Valorile parametrului de calcul
f
, n Iunctie de tipul ambiantei a
f ,
sunt redate n tabela 4. 4, valori care expri m solicitarea relativ la
Iiecare tip de ambiant n raport cu solicitarea de reIerint a
1
.
Tab. 4. 4
Ambiant - a
j
a
1
a
2
a
3
a
4
a
5
a
6
a
7
a
8
CoeIicient de calcul -
j
1 16 28 36 50 140 280 700
Fiabilitate functional in electronic
93
Ambiant a
1
: echipament interior n ncperi amenajate unde
temperatura, umiditatea si ceilalti Iactori climatici sunt speciIici
operatorilor umani ; aceste conditii exist si la bordul unui vehicul
/ nav n cabin / habitaclu de conducere pe durata de stationare.
Ambiant a
2
: echipament exterior la sol montat n dulapuri sau
coIrete, amplasate n lungul arterelor rutiere sau Ieroviare, pe
aeroporturi etc. n acest caz solicitarea se maniIest si periodic
anual temperatur si umiditate, variatiile corespunznd unui
model sinusoidal ( 2. 2, Iig. 2. 8b) : pri mvar, var, toamn,
iarn. Este evident Iaptul c, n cadrul acestui model sinusoidal,
sunt excluse abaterile climatice intempestive care, de altIel, nu au
o important statistic (de exemplu pe un interval de 100 ani).
Ambiant a
3
: echipament maritim amplasat pe nave. Solicitarea
este complex astIel c pe lng Iactorii de la tipul precedent (a
2
)
mai actioneaz si coroziunile (ceat salin), socuri, vibratii, pozitii
nclinate etc.
Ambiant a
4
: echipament la bordul vehiculelor ruti ere.
Solicitrile mai importante, n aIara celor termice si hidrologice,
sunt datorate socurilor si vibratiilor, rulrii pe teren accidentat,
virajelor strnse, accelerrilor sau Irnrilor bruste, coroziunilor
etc.
Ambiant a
5
: echipamente la bordul vehiculelor Ieroviare, mai
ales pe vehicule motor : locomotive, automotoare, drezine
motor. Eat de unele solicitri speciIice ambiantelor precedente
(a
3
, a
4
) care se mentin sau se ampliIic, pe cile Ierate cu
tractiune electric mai intervin si solicit ri electrice n salt ( 2. 2,
Iig. 2. 8a).
4 Indicatorii statistici i probabilistici ai fiabilittii echipamentelor. Durata de viat
94
Ambiant a
6
: echipamente la bordul avioanelor. Eactorii de
solicitare ambiental (prezenti n ambiantele precedente) se
aspresc mult, iar pericolul electric creste prin descrcri
atmosIerice care pot aIecta buna Iunctionare a echipamentului n
timpul zborului.
Ambiant a
7
: echipament la bordul rachetelor telecomandate. n
mod evident solicitrile depsesc, n acest caz, pe toate cele
existente la bordul avioanelor.
Ambiant a
8
: echipament la bordul rachetelor puternice moderne ;
solicitrile sunt cele mai intense dintre toate tipurile de ambiant
enumerate.
Spre a ilustra, pentru tara noastr, conditiile de solicitare termic
si de umiditate, n tabela 4. 5 sunt reproduse limitele statistice
corespunztoare celor 8 tipuri de ambiant.
n acelasi timp trebuie nvederat Iaptul c delimitrile valorice nu
sunt absolute pentru parametrii caracteristici unor anumite solicitri din
ambiant sau din microambiant. AstIel de exemplu, ntre transportul
Ieroviar de supraIat (cale Ierat propriu -zis) si cel Ieroviar subteran
(metrou) exist si unele deosebiri esentiale : n tunelul subteran
solicitrile ambientale sunt, n general, mult reduse, unele dintre ele
chiar n totalitate. n primul rnd metroul dispune de un t eritoriu propriu
de organizare a procesului de transport, iar Iactorii perturbatori meteo,
practic, nu exist : ceat, ninsori abundente, zpad, ploi torentiale etc.
Totodat, la metrou, vehiculele sunt practic uniIorme, iar reteaua
Ieroviar este mult mai simpl.
Aceste particularitti se traduc prin valori statistice mici cu privire
la accidentele de circulatie produse, metroul Iiind cel mai sigur mijloc
de transport.
Fiabilitate functional in electronic
95
Tabela 4. 5
Ambiant a
j
1 2 3 4 5 6 7 8
Temperatur
ambiant (
o
C)
0
25
-20
50
-30
50
-30
80
-20
70
-40
100
-45
110
-50
190
Umiditate
relativ ()
10
40
15
85
20
100
15
100
15
100
5
90
5
70
0
75
Dispunnd de valorile Iactorului pentru solicitri n ambiant se
trece la calculul intensittii (ratei) de deIectare ce corespunde tipului de
ambiant n cauz :

af

f

1

f

0
,
deoarece n conditiile nominale (normale) de Iunctionare, intensitatea de
deIectare are valoarea prescris de productor :

1

0
.
Dar, ntr-o anumit ambiant, echipamentele pot Iunctiona
continuu permanent sau discontinuu : vehicule n statii sau pe parcurs,
regi m de interactiune sol bord etc. Introducnd timpul relativ de
Iunctionare (T
r
- 4. 4. 1) se obtine pentru ambiant :

a

0
T
r a
,
T
r a
Iiind timpul relativ de Iunctionare cu solicitri speciIice de
ambiant, iar

valoarea intensittii (ratei) de deIectare nominale (


4. 4. 2, tab. 4. 3).
4.4.4. Solicitri combinate
n general, pe timpul Iunctionrii echipamentului, componentele
sale suport att solicitri n microambiant interioare ct si n
ambiant exterioare. Prin suprapunerea celor dou eIecte se obtine
eIectul solicitrii totale, att electric (z
e
) ct si ambiental (z
a
) :
4 Indicatorii statistici i probabilistici ai fiabilittii echipamentelor. Durata de viat
96

e

a
o
0
T
r e

0
T
r a

0
(o T
r e
T
r a
).
n transporturi cazul general corespunde, prin natura procesului,
situatiei n care echipamentul trece prin etape diIerite de solicitare,
electric dar si de ambiant, cu ponderi corespunztoare de la o etap la
alta ; Iunctionarea si deci solicitarea poate Ii intermitent periodic
sau neperiodic :

1

0
( o
1
T
r e1

1
T
r a1
)

2

0
( o
2
T
r e2

2
T
r a2
)
. . .. .. .. .. .. .. .. .. .. .. .. .. .. . .. .. .

n

0
( o
n
T
r en

n
T
r an
)
Rezult c ntr-un anumit interval de timp (n valoare maxi m egal
cu durata de viat - 4. 3), pentru valoarea intensittii (ratei) totale de
deIectare se obtine :

= = =
+ = + = =
n
1 k
k ra re 0 rak k
n
1 k
rek k 0
n
1 k
k t
) T T ( ) T T (
,
unde k reprezint variabila de rang. n acest mod se tine seam , n
calcul, de ntreg Ienomenul de solicitare asupra componentelor de
echipament ( 2. 1 Iig. 2. 2 si 2. 2 Iig. 2. 11 si 2. 12), iar datele
pri mare luate n calcul vor Ii cele reale.
Procednd astIel se pot corecta unele aproxi mri grosiere n
calcule de Iiabilitate clasic, considerndu-se un singur mod de uzur
(deIectare) pe sistem, indiIerent de gradul de solicitare (n
microambiant si n ambiant), iar Iunctionarea ca Iiind permanent
Ir ntrerupere.
De asemenea, spre deosebire de Iiabilitat ea Iunctional, n
Iiabilitatea clasic nu se Iace nicio deosebire ntre rspunsurile Ialse si
cele eronate, ambele Iiind caracterizate la Iel de necorecte Ir
discriminare.
Fiabilitate functional in electronic
97
Capitolul 5
Structuri / sisteme de fiabilitate
5.1. Schema structural pentru sisteme
neredundante
Dac un sistem tehnic contine, n structura sa, numai elementele
strict necesare pentru o bun Iunctionare, acest sistem este numit
neredundant (din punct de vedere Iiabilist ).
Un astIel de sistem se gseste n stare de bun Iunctionare pn la
pri ma aparitie a uneia sau mai multor deIectri, categoric simultane,
cnd sistemul nu mai poate ndeplini una sau mai multe dintre
Iunctiunile prevzute.
Prin urmare, pentru durata de Iunctionare nu intereseaz eIectul de
deIectare n avalans ( 2. 1), care inIluenteaz rennoirea ( 1. 1. 2).
n consecint aparitia deIectrilor reprezint eveni mente
independente si compatibile; pri mul element care se deIecteaz nu este
inIluentat de deIectarea celorlalte, iar deIectarea acestuia nu exclude
deIectarea simultan sau ulterioar a altora ( 2. 2).
Pe de alt parte, transIerul corect al mri mii (sau mri milor)
Iizice, importante din punct de vedere Iunctional, este conditionat de
Iunctionarea tuturor elementelor componente, dac n sistem nu exist
elemente de rezerv (sistem neredundant).
Notnd cu J starea valid a sistemului si cu c starea valid a
componentei respective, rezult relatia logic:
5 Structuri / sisteme de fiabilitate
98
s
c ... c ... c c J
f 2 1
=
n care c
j
este starea valid a componentei (elementului) de rang j, iar s
reprezint numrul total de componente (elemente) ale sistemului. Prin
urmare, Iunctia de Iiabilitate corespunztoare va Ii:
R(t) R
1
(t) R
2
(t) R
f
(t) R
s
(t),
prin R
1
, R
2
, . . . , R
s
notndu-se Iunctiile de Iiabilitate ( 4. 2) ale elemen -
telor de rang 1, 2 etc.
Eig. 5. 1
Din punct de vedere Iiabilist , acestei situatii i corespunde schema
structural (model structural - 1. 1. 2) de tip serie (I ig. 5. 1a), la care
corespunde graIul de Iiabilitate redat n Iigura 5. 1b. AstIel se ntelege
c elementele sistemului sunt conectate ntre ele n serie din punct de
vedere Iunctional asigurnd validitatea J ntregului sistem prin starea
de Iunctionare a Iiecrui element, realizndu-se astIel transIerul necesar
de 'Ilux Iunctional, simbolizat prin cele dou sgeti, la intrare i si la
iesire e (Iig. 1.4 - 1. 2. 1); aceasta indiIerent de structura schemei
electrice, cinematice etc.
Notnd cu
S
R Iunctia de Iiabilitate pentru structuri de tip serie (S)
se poate scrie relatia general:
[
=
=
s
1 f
(t), R (t) R
f s
iar pentru s elemente identice:
1 2 j s
a)
(i)
(e)
1 2 j s
b)
Fiabilitate functional in electronic
99
R
s
(t) R
s
(t)
Din aceste expresii se observ c:
- Iunctia de Iiabilitate R
s
(t) are o valoare cu att mai mic cu ct
numrul de componente s este mai mare;
- indicatorul R
s
(t ) are ntotdeauna o valoare mai mic dect
oricare indicator partial (R
1
, R
2
etc. );
- indicatorul R
s
(t ) este cu att mai mare cu ct sunt mai mari
valorile indicatorilor partiali (R
1
, R
2
etc. ).
Pentru Iunctia de repartitie a timpului de Iunctionare rezult
expresia (pentru simpliIicarea scrierii, nu se mai precizeaz c
indicatorii R si F sunt Iunctii de timp, subntelegndu-se acest lucru):
, ) F (1 1 R 1 R 1 F
s s
1 f 1 f
f f s s [ [
= =
= = =
iar pentru elemente identice
s
F) (1 1 F

s
=
Dac valorile partiale ale indicatorului F sunt suIicient de mici,
prin dezvoltarea termenului F
S
si neglijnd termenii de ordin superior,
rezult
_
=
~
s
1 f
f s
F F
respectiv

s
F ~ sF pentru elemente identice
(F
1
F
2
.. . F
f
.. . F
s
F).
n perioada de baz, cnd se aplic legea exponential negativ de
repartitie ( const. - 4. 3), expresia Iunctiei de Iiabilitate devine:
t A
s
t
S
f
e e e (t) R
1 f
s
1 f
t
f
s

=
=

=
_
= =
[

5 Structuri / sisteme de fiabilitate
100
respectiv pentru elemente identice,
t
S
e e ) t ( R
t s
S
A
= =
Prin urmare, n acest caz, sistemul care corespunde unei structuri
serie de Iiabilitate se comport n timp ca un singur element caracterizat
printr-o intensitate de deIectare, de asemenea constant si care este
egal cu suma intensittilor de deIectare partiale:
A
S

1

2
.. .
s
, A s
S
=
Pentru media timpului de Iunctionare rezult:
_
} }
=

= = = =
s
t A
1 f
f
S
0 0
S

1
A
1
dt e dt (t) R m
S
iar dac elementele sunt identice:

S
1/A 1/s m = = .
Acest indicator este mentinut, pe ct posibil, la o valoare ridicat
si constant n sistemele proIesionale, prin msuri proIilactice care se
iau n cadrul programului de ntretinere tehnic.
Dar, indiIerent de tipul reparatiei (dac are un caracter proIilactic
sau de interventie la deranjament), aceasta introduce o discontinuitate n
variatia exponential a indicatorului R
S
(t) , situatie ilustrat n Iigura
5. 2. Aceast discontinuitate apare deoarece n momentele t
1
, t
2
etc.
sistemul reintr n Iunctionare cu o valoare apropiat de valoarea
initial R(0) 1. Pentru acest motiv, Iunctia R
S
(t ) variaz continuu
(si exponential) numai n intervalele de ti mp dintre dou reparatii
succesive ( 2. 2; Iig. 2. 11); nivelul mini m admis R
mi n
al Iiabilittii
globale poate Ii cu att mai sczut cu ct rspunderea Iunctional este
mai redus n cadrul sistemului.
Fiabilitate functional in electronic
101
Eig. 5. 2
Dac durata de reparare este comparabil cu media timpului de
Iunctionare, variatia indicatorului R
S
(t) este de asemenea exponential,
cu ntreruperile T
1
, T
2
etc. (Iig. 2. 12 - 2. 2).
n ncheiere, cu privire la structurile Iiabiliste de tip serie, trebuie
retinut clar Iaptul c Iluxul Iunctional este ntrerupt la aparitia pri mei
deIectri: trecerea sistemului din starea de bun Iunctionare valid
(J) n stare deIect ( J ) este eIectul pri mei deIectri; deIectrile
ulterioare, indiIerent de modul n care se produc, nu mai pot inIluenta
Iunctionalitatea sistemului, acesta rmnnd n continuare n aceeasi
stare nevalid J .
n cazul sistemelor complexe poliIunctionale ( 1. 2. 1), va exista
cte o schem de tip serie pentru Iiecare Iunctiune n parte (Iig. 1. 4 -
1. 2. 1).
Mai este de precizat Iaptul c stabilirea schemei Iiabiliste trebuie
s se Iac la nivelul de sistem la care se deIineste Iunctiunea n cauz.
De exemplu, la nivelul unei simple diode, schema serie va contine, n
analiz general, trei elemente n serie: terminal I jonctiune pn (np)
terminal II. Dar sunt i mplicate (Iunctio nal) si sudurile cu Iludor (sau
conexiunile prin wrapare, borne cu surub etc. ) ale celor dou terminale
n circuitul aIerent, astIel c schema serie se dezvolt la 5 elemente:
sudur I terminal I jonctiune pn (np) terminal II sudur II.
R
S
(t
)

R
min
1,0
t
1
t
2
t
3
t
0
5 Structuri / sisteme de fiabilitate
102
Aceast schem se poate realiza, analog, la oricare alt
component de echipament pasiv sau activ:
- de tip uniport (dipol): rezistori, condensatori, bobine etc. ;
- de tip diport (cuadripol): tiristori, transIormatori, Iiltre, circuite
integrate etc.
Dac este necesar analiza se va Iace la nivel de macrosistem: de
exemplu, un ampliIicator va avea ca elemente, n schema structural
serie de Iiabilitate, circuitul de alimentare, etajele de semnal la nivel
mic, nivel mediu, nivel mare de putere etc.
La un sistem complex, elementele 'serie vor reprezenta ele nsele
sisteme mai simple subsisteme. n cazul unui sistem de calcul
monoIunctional, la nivel macroscopic, aceste elemente vor Ii: unitatea
central de procesare memoria unitatea de intrare unitatea de iesire
magistralele de adrese, de date, de control si binenteles blocul de
electroalimentare.
n Iine, dac ne reIeri m la structura neredundant a unui sistem
spatial de navigatie, schema serie va contine sateliti artiIiciali, centre de
urmrire si control la sol, statii de transmitere a datelor la sateliti,
centre de calcul, utilizatori.
5.2. Schema structural pentru sisteme
redundante
Un sistem tehnic caracterizat prin redundant Iiabilist ( 1. 1. 2)
contine n structura sa de echipament si elemente care nu contribuie, n
mod direct, la realizarea Iunctiunilor sistemului.
Din punct de vedere strict Iunctional, aceste elemente ar putea
lipsi; totusi componentele redundante au un caracter util (din punct de
vedere Iunctional), iar existenta lor r eprezint principala diIerentiere
Iat de sistemele neredundante.
Fiabilitate functional in electronic
103
Pentru a ilustra electric aceast proprietate Iiabilist, n Iigura 5. 3a
este redat un grup de dou condensatoare, conectate n serie, avnd rolul
de a separa galvanic ramurile unui circuit electric oarecare I si II,
transIernd numai semnalul I
~
(variabil n timp) si blocnd componenta
continu (de Irecvent nul).
Dac condensatorii C
1
si C
2
au tensiuni de strpungere superioare
celei dintre ramurile separate, atunci clacarea unui singur condensator
nu apare ca deIectare. Aceeasi proprietate o are si grupul de
ampliIicatoare n impulsuri de amplitudine constant A
1
si A
2
(Iig. 5. 3b),
unde semnalul de iesire dispare numai dac sunt deIecte ambele
ampliIicatoare.
Aceast proprietate, n ceea ce prieste Iiabilitatea, este proprie istemelor
ce au o schem structural (model) de tip derivatie, avnd reprezentarea
din Iigura 5. 3c, iar graIul corespunztor n Iigura 5. 3d.
j
d
2
1
(e) (i)
d)
1
2
j
k
d
k
a)
b)
c)
I
I I
~ ~
C
1
C
2
II
A
2
A
1
U
i
U
e
Eig. 5.3
5 Structuri / sisteme de fiabilitate
104
SemniIicatia Iiabilist este: pentru ca ntreg ansamblul s nu Iunctioneze
este necesar s se deIecteze toate cele d componente (elemente):
d
c ... c ... c c J
f 2 1
=
Prin bare se precizeaz starea de deIectare (nevalid) a sistemului
( J ), respectiv strile de deIectare ale componentelor elementare, ntr-
un numr oarecare d.
ntruct eveni mentele respective (deIectrile) sunt independente si
compatibile ( 5. 1), Iunctia de repartitie a timpului de Iunctionare are
expresia:
, F ...F ...F F F F
d
d f 2 1 D
1 f
f [
=
= =
d
F F

D
=
unde F
1
, F
2
etc. reprezint probabilittile de deIectare ce corespund
componentelor c
1
, c
2
, etc. , iar expresia

D
F este Iunctia de nonIiabilitate
pentru sisteme redundante cu elemente identice:
F
1
F
2
.. . F
f
. .. F
d
F
Pentru Iunctia de Iiabilitate a schemei derivatie rezult:
[
=
= =
d
D D
1 f
f
) R (1 1 F 1 R
sau
R
D
1- (1-R)
d
pentru elemente identice.
Analiznd aceste expresii se pot trage urmtoarele concluzii:
- Iunctia de Iiabilitate are o valoare cu att mai mare cu ct
numrul de componente d este mai mare;
- indicatorul R
D
are ntotdeauna o valoare mai mare dect oricare
valoare R
f
partial;
- indicatorul R
D
este cu att mai mare cu ct sunt mai mari
valorile indicatorilor R
f
;
Fiabilitate functional in electronic
105
- indicatorul R
D
este oricum mai mare dect indicatorul R
S
, pentru
acelasi numr de elemente indentice (d s).
Ca si structurile serie ( 5. 1) structurile de tip derivatie reprezint
scheme simple (Iundamentale, de baz). Spre deosebire de schemele
serie, la cele de tip derivat ie se aplic criteriul ultimei deIectri: starea
pe sistem J apare atunci cnd se deIecteaz ultima component
elementar (din cele d existente).
n Iine se mai observ c structurile derivatie nu mai sunt
caracterizate, ca cele serie, printr-o variatie pur exponential (pe durata
de baz) a Iunctiei R
D
(t) ; aceast variatie rezult din nsumarea
algebric a unor Iunctii exponentiale, numrul lor Iiind cu att mai mare
cu ct structura derivatie este mai dezvoltat.
Cu ajutorul celor dou structuri simple (serie, derivatie) se pot
realiza diIerite structuri complexe.
5.3. Scheme structurale decompozabile
Aceste structuri corespund sistemelor tehnice complexe si au
proprietatea c sunt reductibile (decompozabile) la structuri simple de
tip serie ( 5. 1), respectiv derivatie ( 5. 2).
La analiza si calculul parametrilor de Iiabilitate, aceast
posibilitate oIer avantajul unor calcule mai reduse ca si a unor
interpretri usoare directe, putndu-se ajunge, prin intermediul
structurilor si mple, la propriettile de Iiabilitate ale unui singur element
echivalent.
Invers, plecnd de la elemente de baz si trecnd prin scheme serie
respectiv derivatie, la sintez se pot Iace dezvoltri succesive,
ajungndu-se la structuri complexe.
5 Structuri / sisteme de fiabilitate
106
5.3.1. Structuri serie - derivatie (SD)
Unei astIel de structuri i corespund grupuri conectate n serie S
(1, 2, . .. i, . .. s), iar aceste grupuri sunt constituite din componente
elementare conectate n derivatie D (1, 2, . . . f, . .. d), i respectiv f Iiind
variabilele de rang.
n desenul expus (Iig. 5. 4a) este redat structura de Iiabilitate, iar
alturat graIul corespunztor (Iig. 5. 4 b).
Eig. 5. 4
Expresia Iunctiei de Iiabilitate (R
SD
) se obtine relativ simplu, dac
se utilizeaz relatiile stabilite ant erior pentru Iunctiile de Iiabilitate
ale structurilor serie (R
S
- 5. 1) si derivatie ( R
D
- 5. 2):
i
s
1 i
s
1 i 1 f
f
d
Di D S SD
) R (1 1 R ) (R R R
[ [ [
= = =
1
1
]
1

= = =
1 2 i s
1
2
j
d
(D)
(S)
j
d
2
1
(i)
2
i s
(e)
a)
b)
Fiabilitate functional in electronic
107
Dac sistemul tehnic n cauz este realizat cu componente
elementare identice:
R
i
R
f
R,
expresia se simpliIic:
R
SD
[1-(1-R)
d
]
s
Propriettile de Iiabilitate ale acestei structuri sunt mai usor de
interpetat din graIul corespunztor (Iig. 5. 4b). Eiabilitatea sa este cu
att mai bun cu ct creste numrul componentelor conectate n
derivatie (d) si cu att mai slab cu ct este mai mare numrul
grupurilor conectate n serie (s).
Se mai observ c structurile simple serie (S) si derivatie ( D)
reprezint cazuri particulare ale acestui tip de structur complex.
AstIel, dac se consider valoarea s 1 se gseste structura derivatie
D ( 5. 2), iar valoarea indicatorului R
SD
este maxi m. Pentru valoarea d
1 se obtine structura serie S ( 5. 1), valoarea R
SD
Iiind mini m.
5.3.2. Structuri derivatie - serie (DS)
SpeciIic acestui tip de structur este Iaptul c se compune din
lanturi n derivatie (D), ntr -un numr oarecare d, iar Iiecare lant are
conectate n serie cte s componente de baz (Iig. 5. 5a).
Analog cazului precedent ( 5. 3. 1), expresia indicatorului R
DS
se
deduce considernd mai nti structura de sistem derivatie si, n
continuare, cele ale elementelor nseriate:
i
d
1 i
d
1 i
s
1 f
Si f S D DS
R 1 1 ) R (1 1 ) (R R R
[ [ [
= = =
|
|
.
|

= = =
iar pentru elemente identice:
R
DS
1 (1-R
s
)
d
5 Structuri / sisteme de fiabilitate
108
Propriettile Iiabiliste ale acestei structuri sunt complementare
Iat de cele ale schemei serie-derivatie (SD), proprietti ce sunt relativ
usor de observat din graIul corespunztor (Iig. 5. 5b):
- Iunctia R
DS
atinge valoarea maxi m pentru valoarea s 1, cnd
corespunde structurii simple derivatie (D);
- R
DS
ia valoarea mini m pentru d 1, caz n care se reduce la
structura simpl serie (S).
Un exemplu de structur derivatie serie aplicat la realizarea
unui circuit integrat special pentru prelucrarea semnalelor digitale, n
utilizri la zboruri spatiale, este redat n Iigura 5. 6.
Dup cum se observ, lantul S serie contine un numr (mare) de
etaje: 1, 2, . .. s-1, s si din aceast cauz nu se poate atinge valoarea
ridicat necesar a Iiabil ittii de sistem. Spre a se ajunge la valorile
(i)
(e)
1
2 j
s
1
2
i
a)
b)
d
Eig. 5.5
j
(D
)
s 1 2
1
2
i
d
(S)
Fiabilitate functional in electronic
109
necesare ale indicatorilor, sunt puse n derivatie 4 lanturi identice;
Iunctionnd n regim de i mpulsuri cu amplitudine constant, semnalul de
intrare U
i
este aplicat celor patru intrri conectate n paralel, iar la cele
patru iesiri, de asemenea conectate n paralel, se obtine semnalul
procesat U
e
.
Eig. 5.6
Cele patru lanturi sunt identice si astIel realizate (n straturi
diIerite cuprinznd, n Iapt, patru circuite integrate identice montate n
aceeasi capsul), nct orice deIectare aprut la oricare etaj, din oricare
strat-lant, conduce la disparitia semnalului de iesire (din lantul
respectiv). Este evident Iaptul c disparitia semnalului (valid) U
e
se
produce numai dac apare cte un deIect (oriunde) n Iiecare lant ceea
ce este Ioarte putin probabil.
ntr-adevr, notnd cu F Iunctia de nonIiabilitate (probabilitatea de
deIectare, 5. 1) a unui lant si cu d 4, rezult graIul din Iigura 5. 6b,
iar elementele Iiind identice rezult ( 5. 2):
a)
3
4
2
1
(e) (i)
(S)
U
e
U
i
1
2
3
4
S-1 S
b)
5 Structuri / sisteme de fiabilitate
110
[
=
= =
4
4
DS
1 i
i
F F F
Presupunnd c F 10
- 2
(valoare usor de atins la a stIel de circuite
integrate), se obtine n Iinal:

DS
F (10
- 2
)
4
10
8
,
ceea ce se interpreteaz c la un astIel de circuit integrat se poate
produce o deIectare (total), n intervalul de ti mp considerat, ntr -un lot
de 100 de milioane bucti.
Aceast problematic (a redundantei) si a echipamentelor cu
Iiabilitate extrem de ridicat, va Ii reluat si dezvoltat ulterior n
lucrare.
5.3.3. Structuri neuniforme
n aplicatii curente apare Irecvent necesitatea utilizrii unor
structuri dezvoltate inegal n diIerite zone ale lor, astIel nct nu
corespund celor uniIorme serie-derivatie (SD), respectiv derivatie -serie
(DS), dar pot Ii aduse la acestea prin transIormri succesive.
Un astIel de exemplu este redat n Iigura 5. 7a) elementele 1 si 2 au
n derivatie elementele 6 respectiv 7; elementul 4 are n paralel
elementul 9, iar elementul 8 este dublat de elementul 12.
Pentru a obtine o structur uniIorm se pleac de la graIul
corespunztor (Iig. 5. 7b) si se parcurg succesiv eta pele de calcul:
- se determin Iunctia de Iiabilitate pentru structurile redundante
ale elementelor 1-6 si 2-7 ( 5. 2);
- se obtin astIel elementele echivalente 1`-2` (Iig. 5. 7c);
- urmeaz rezolvarea structurii redundante pentru elementele 4-9,
conducnd la elementul echivalent 4` (reprezentat n Iigura
5. 7c);
Fiabilitate functional in electronic
111
a)
- n acelasi mod se trateaz elementele 8 si 12, ajungnd la
elementul 12`;
- n Iinal se obtine structura uniIorm derivatie-serie (DS)
reprezentat n desenul din Iigura 5. 7c), care este tratat
conIorm celor expuse anterior ( 5. 3. 2).
Pentru a nu complica inutil notarea diIeritelor elemente de sistem,
n expunerea etapelor de descompunere s-au notat cu indice pri m
elementele echivalente rezultate; acestea nu trebuie s I ie conIundate cu
elemente identice pentru care s-a utilizat aceeasi notare; n situatia
(i) (e)
1`
2`
3
4`
Eig. 5.7
b)
c)
10
11
12`
13
14
5
3
4 1 2 5
6 7
8
9
12
13 10 11 14
1
2
3
4
5
14
13
8
12
11 10
6
7
9
(i)
(e)
5 Structuri / sisteme de fiabilitate
112
existentei unor elemente identice se va proceda ca atare, aplicndu-se
relatiile particulare stabilite anterior ( 5. 2; 5. 3. 2).
5.4. Scheme structurale nedecompozabile
n majoritatea cazurilor ntlnite n practic, analiza respectiv
sinteza n cadrul studiilor de Iiabilitate pot Ii eIectuate prin intermediul
celor patru scheme expuse n paragraIele precedente. AstIel se ajunge,
prin analiz, la un element echivalent (din punct de vedere Iiabilist), ai
crui indicatori au valorile structurii de la care se pleac, orict de
dezvoltat ar Ii aceasta (analiz). Invers, se pleac de la un element
echivalent si se dezvolt sistemul, cu structuri orict de complexe
(sintez).
Exist ns si cazuri, mai putin ntlnite n aplicatii, care nu pot Ii
tratate pe baza relatiilor stabilite anterior ( S, D, SD, DS ); aceasta
deoarece structurile respective nu sunt reductibile prin descompunere,
sau invers, nu pot Ii dezvoltate de la simplu la complex, datorit
propriettilor Iiabiliste ale sistemelor n cauz. Aceste scheme
structurale pot Ii de tip stea, triunghi sau punte.
5.4.1. Structuri tip stea yi structuri tip triunghi
n aceste cazuri, rezolvrile curent e se bazeaz pe utilizarea unei
metode aproxi mative, elaborat prin Iolosirea unor teoreme de
echivalent. n acest mod se pot eIectua, dup cum este necesar,
transIigurrile stea-triunghi si triunghi -stea (Iig. 5. 8), pstrndu -se
identittile punctelor notate cu literele o, | si .
Notnd cu F probabilittile de deIectare (Iunctiile de
nonIiabilitate) ale elementelor respective, n ipoteza c valorile acestor
Fiabilitate functional in electronic
113
probabilitti sunt mult mai mici ca unitatea (n practic F 0, 2), rezult
relatiile de calcul utilizabile pentru echipamente cu mare rspundere
Iunctional:
Eig. 5. 8
- pentru transIigurarea triunghi -stea ( A ):
F
1
~ F
12
F
31
, F
2
~ F
23
F
12
, F
3
~ F
31
F
23
- pentru transIigurarea stea-triunghi ( A ):
2 1 3 31 1 3 2 23 3 2 1 12
/F F F F , /F F F F , /F F F F ~ ~ ~
AstIel Iunctia de nonIiabilitate din structura tip stea este practic
egal cu produsul Iunctiilor de nonIiabilitate din laturile adiacente din
structura tip triunghi (considernd aceleasi noduri o, |, ).
Pentru eroare minim este de preIerat transIigurarea triunghi -stea,
care conduce la erori de ordinul F
3
( F1); transIigurarea invers stea -
triunghi este caracterizat prin erori de ordinul F
2
(termeni de la al cror
rang se ncepe neglijarea).
Aceast metod de aproxi mare permite obtinerea unei precizii
suIiciente ntotdeauna conditionat prin relatia:
F
apr ox
~ F
exact
; |F(t) 0, 2|
o
E
1
E
1 E
2
E
3
|

o |

E
12
E
31 E
23
5 Structuri / sisteme de fiabilitate
114
Atunci cnd este necesar o analiz exact, sau dac eroarea
propus prin echivalenta stea-triunghi este inadmisibil, se Ioloseste
metoda probabilittii totale (Bayesian), care este ns mult mai
laborioas pentru astIel de calcule.
5.4.2. Structuri tip punte
Si aceste structuri, prin transIigurare, pot Ii aduse la Iorme
decompozabile.
n desenul din Iigura 5. 9 a) este redat structura tip punte, avnd
diagonala ntre nodurile | - . Modul de interconectare ale celor 5
elemente se poate reda mai usor prin graIul aIerent (Iig. 5. 9b). Din cauza
elementului avnd Iunctia de nonIiabilitate E
5
, care se gseste ntre
nodurile | - , acest tip de structur nu este decompozabil.
Pentru a se elimina acest impedi ment, se pot aplica transIigurrile
stea-triunghi sau triunghi -stea.
o
|
o

E
1
E
2
E
3
E
4
E
5
a)
(i)
1
3
Eig. 5.9
2
4
(e)
b)
o o
|

Fiabilitate functional in electronic


115
- Prin transIigurare de tip triunghi -stea se poate pleca de la
oricare dintre cele dou triunghiuri componente: A(o, |, ) sau A(o,
|, ). Opernd dup pri ma variant, graIul din Iigura 5. 9b) se
transIorm ajungnd la o Iorm decompozabil (Iig. 5. 10 . a),
respectiv la structura de Iiabilitate redat n Iigura 5. 10. b).
Eig. 5. 10
- Aplicnd transIigurarea stea triunghi, rezult graIul
corespunztor (Iig. 5. 11a) si schema de Iiabilitate avnd structura
redat n Iigura 5. 11b). Se observ c tratarea prin aceast a doua
variant este mai complicat, motiv pentru care este de preIerat cea
anterioar (transI igurarea triunghi stea).
(i)
u
3.5
2
4
(e)
a)

y
1.3
1.5
o
E
1
E
5
E
2
E
3
E
5
E
4
E
1
E
3
b)
2 / 5 1-
o
o

(i)
(e)
5 / 2 1-
1 / 5 2-
3 4
5 2 1
/ F F F
E
3
E
4
2 5 1
/ F F F
1 5 2
/ F F F
Eig. 5.11
a) b)
5 Structuri / sisteme de fiabilitate
116
Orice alt structur nedecompozabil, orict de dezvoltat, poate Ii
adus la o Iorm decompozabil. n Iigura 5. 12a) este reprezentat o
astIel de schem complex nedecompozabil, avnd graIul
corespunztor (Iig. 5. 12b) .
Rezolvarea acestei probleme se Iace prin etapele expuse n
continuare.
(i)
(e)
14
2
3 8
Eig. 5.12
d)
47
17
5
68
36

o
c
u

|
o

E
2
E
5
E
6
E
8
c
o

E
1
E
4
E
1
E
7
E
4
E
7
E
3
E
8
E
3
E
6
(i)
(e)
|
o c
o
7 8
2
5
1
4
3
6
|
o

E
1
E
2
E
4
E
5
E
7
E
3
E
6
c
o
a)
b)
c)
E
8
Fiabilitate functional in electronic
117
- Triunghiul ( o, |, o ) de la intrare ( i) se transIigureaz n
structura stea ( o, |, o ).
- Triunghiul ( , c, ) de la iesire ( e) se transIigureaz n st ea ( ,
c, ).
- Rezult graIul echivalent din Iigura 5. 12d).
- ConIorm acestui graI se obtine structura decompozabil de
Iiabilitate (5. 12c ).
- Tratarea acestei scheme, n continuare, se Iace n conIormitate
cu calculul structurilor neuniIorme ( 5. 3. 3).
- n Ii nal, dac este necesar, structura uniIorm (si
decompozabil) se aduce la Iorma cea mai simpl, necesar n
studii Iiabiliste de analiz sau sintez, respectiv n calcule
uzuale.
6 Anali:a modului de defectare
118
Capitolul 6
Analiza modului de defectare
6.1. Dedublarea elementelor
Din cele tratate pn acum, cu Ioarte rare except ii, rezult c o
component de echipament care se deIecteaz trece din starea valid J
n starea nevalid J , acest mod de analiz corespunde, cu suIicient
precizie, tratrii Iiabilitt ii echipamentelor de larg consum
(neproIesionale), ca re nu sunt caracterizate prin rspuns Ials ( 1.2. 1).
La echipamente proIesionale, ndeosebi la cele cu mare rspundere
Iunctional, calitatea rspunsului rezultat n urma aparitiei unei
deIectri, depinde de: nat ura componentei deIectate, pozitia sa n
schem, modul n care aceasta se deIecteaz, Iaza Iunctional (st are
valid) n care se aIl n momentul respectiv ca si de simultaneitatea
deIectrii altor componente n raport cu cea considerat.
Din practica circuitelor electrice si electronice este cunoscut Iaptul
c elementele componente se comport diIerit atunci cnd se deIecteaz;
pentru Iiecare dintre ele se poate observa, n general, un anumit mod
dominant de deIectare. n cazul echipamentelor ut ilizate pentru reglarea
circulatiei/navigatiei, n marea majoritate a cazurilor ntlnite, modul de
deIectare este rezultatul variat iei parametrului Iundamental al
componentei n cauz: rezistent, capacitate, inductivitate (inductan t),
reactant, impendant, Iactor de ampliIicare etc.
Fiabilitate functional in electronic
119
n cazul general, la un el ement oarecare (rezistor, bobin, conden -
sator, diod, tranzistor, circuit integrat, contact de releu etc. ) se admite
o anumit abatere maxi m p a parametrului Iundamental, n limitele
creia buna Iunct ionare a ansamblului nu este aIectat. Dac ns
parametrul Iundamental satisIace relat iile:
0 p p
0
- p, p
0
p p
este declarat starea de deIect are - Iig. 6. 1, unde cu p
0
s-a notat valoarea
nominal a parametrului Iundamental p.
Prima relatie corespunde deIectrii prin scdere |-|, iar cea de a
doua deIectrii prin crestere ||. Deoarece Ienomenele Iizice care au loc
sunt total diIerite si eIect ele se exclud ntre ele, cele dou moduri de
deIectare sunt incompatibile (pentru acelasi element si pentru acelasi
parametru).
Eig. 6. 1
Tinnd seama de sensul Iizic, n orice moment numrul total de
deIectri (cap. 4) este egal cu suma deIectrilor prin crestere || si / sau
prin scdere |-|:
) t ( n ) t ( n ) t ( n , ) t ( n ) t ( n ) t ( n
+ +
+ = A + A = A
p
p Ap
p
0
p - Ap
0
()
(-)
t
d -
t
d
t
6 Anali:a modului de defectare
120
Raportat la numrul total N de elemente, pentru intensitatea
statistic de deIectare vor rezulta dou expresii:
,
t ) n N (
) t ( n
) t ( : ,
t ) n N (
) t ( n
) t ( :
* *
A
A
=
A
A
=

+
+
corespunznd mrimilor numit e rata (instensitatea) statistic a
deIectrilor prin crestere, respectiv rata (intensitatea) statistic a
deIectrilor prin scdere. Legtura dintre aceste dou intensitti si
intensitatea deIectrilor n general este redat prin relat ia evident:
Procednd ca n cazul general ( 4. 2), se trece la mrimile
probabilistice corespunztoare:
. ) t ( : , ) t ( : , ) t ( :
+
Pentru studiul Iiabilittii sistemelor cu mare rspundere Iunctio-
nal (inclusi v cele pentru dirijarea circulatiei/navigat iei) este de
asemenea i mportant, n primul rnd, analiza modului de deIectare pe
durata normal de viat ( 4. 3), c nd
:(t) const.
Rezult n continuarea celor expuse, prin echivalent si n
concordant cu semniIicatia Ienomenului Iizic, o dedublare a int ensittii
de deIectare n Iunct ie de modul de deIectare:
. const = + =
+

n scopul eIecturii unor calcule teoretice sau practice de
Iiabilitate, au Iost realizate studii statistice prin care s-au stabilit
valorile relative ale ratei (intensitt ii) deIectrilor prin crestere /
+
,
respectiv prin scdere /

. Aceste valori relative, pentru marea


t ) n N (
) t ( n
) t ( : ) t ( : ) t ( :
* * *
A
A
= + =
+
Fiabilitate functional in electronic
121
majoritate a tipurilor de component e ale echipamentelor electrice si
electronice sunt precizate n tabela 6. 1 (ordine alIab etic).
Tab. 6. 1
Nr. c
rt.
Denumirea componentei
+
/
-
/
1 Acumulator (electric) 0, 64 0, 36
2 AmpliIicator magnetic - n impulsuri 0, 31 0, 69
3
Ansamblu cinematic simplu (act ionat
electric)
0, 48 0, 52
4 Bec cu incandescent pentru semnalizri 0, 98 0, 02
5 Bobin la nivel mic de semnal 0, 84 0, 16
6 Circuit imprimat 0, 72 0, 28
7 Circuit integrat simplu 0, 30 0, 70
8
Comutator complex la nivel mic de
semnal
0, 89 0, 11
9 Condensator Iix ceramic 0, 70 0, 30
10 Condensator electrolitic 0, 33 0, 67
11 Condensator Iix cu hrtie 0, 41 0, 59
12 Condensator cu 4 borne 0, 01 0, 99
13 Condensator variabil 0, 75 0, 25
14
Conector complex la nivel mic de
semnal
0, 79 0, 21
15 Conector simplu la nivel mic de semnal 0, 58 0, 42
16 Conexiune prin wrapare 1, 00 0, 00
17 Contactor de putere medie 0, 30 0, 70
18 Contactor termobimetal 0, 80 0, 20
19 Cupl electric - de putere 0, 60 0, 40
20 Diod semiconductoare de putere medie 0, 28 0, 72
21
Diod semiconductoare la nivel mic de
semnal
0, 19 0, 81
6 Anali:a modului de defectare
122
22 Diod Zenner 0, 30 0, 70
23 Electromotoare de mic putere 0, 39 0, 61
24 Instrument electric Iix de msurare 0, 82 0, 18
25 Microcomutator 0, 95 0, 05
26 Potentiometru bobinat 0, 90 0, 10
27 Potentiometru cu pelicul de carbon 0, 83 0, 17
28 Releu miniatur 0, 60 0, 40
29 Releu tip Reed 0, 55 0, 45
30 Releu special cu contacte argint/graIit 0, 90 0, 10
31 Releu termic 0, 85 0, 15
32 Releu uzual 0, 84 0, 16
33 Rezistor cu 4 borne 0, 01 0, 99
34 Rezistor Iix bobinat 0, 60 0, 40
35 Rezistor Iix cu pelicul de carbon 0, 94 0, 06
36 Rezistor Iix metalic 0, 90 0, 10
37 Rezistor variabil bobinat 0, 95 0, 05
38 Selsin 0, 98 0, 02
39 Servomotor electric 0, 32 0, 68
40 Sigurant Iuzibil 1, 00 0, 00
41 Soclu pentru dispozitiv electronic 0, 58 0, 42
42 Sudur cu Iludor 1, 00 0, 00
43 Tahometru Iix 0, 40 0, 60
44 Termistor 0, 95 0, 05
45 Tiristor de putere medie 0, 72 0, 28
46 Tiristor la nivel mic de semnal 0, 50 0, 50
47
TransIormator de electroalimentare
putere medie
0, 40 0, 60
48
TransIormator de impulsuri putere
medie
0, 31 0, 69
Fiabilitate functional in electronic
123
49 TransIormator la nivel mic de semnal 0, 54 0, 46
50 Tranzistor de putere medie 0, 28 0, 72
51 Tranzistor la nivel mic de semnal 0, 19 0, 81
52 Tub electronic special cu vid 0, 64 0, 36
n legtur cu diIerent ele, relativ mari, de valori ale rapoartelor
/
+
si /

, se i mpun unele precizri; la stabilirea valorilor de calcul


este necesar mult discernmnt, specialistul n Iiabilitate avnd nevoie
de o bun cunoastere a propriettilor Iizice (s i tehnologice) ale
componentelor.
Valorile medii precizate n tabel trebuie adaptate n Iunctie de
parametrul Iunctional considerat, ca de exemplu:
- la acumulatoare electrice (si n general la surse autonome de
energie pentru electroalimentare): tensiunea la borne U
b
, rezistenta
intern R
i
, capacitatea energetic C(Ah);
- n cazul componentelor pasive de tip uniport (dipol): rezistent a,
inductanta, capacitatea, impedanta etc. ;
- la componentele pasive de tip diport (cuadripol), n aIar de
rezistent, inductant, capacitate si impedant, mai pot prezenta interes
n aplicatii: rezistenta sau impendanta de intrare/iesire, impedant a
caracteristic etc. ;
- componentele active de tip diport (cuadripol), pe lng
parametrii enumerati mai pot Ii considerat i, prin natura aplicatiei
(Iunc tionale), sub aspectele: Iactor de ampliIicare, distorsiuni, deIazaj
etc. ;
- n cazul componentelor de tip multipol, pasive sau act ive,
parametrii care intereseaz trebuie evaluati ntre toate intrrile si
iesirile de care depinde ndeplinirea Iunctiunii n cauz;
6 Anali:a modului de defectare
124
- dac se ntlnesc unele componente care nu sunt cuprinse n
tabela 6. 1, tinnd seama de comportamentul lor Iunctional, complexitate
si proprietti Iundamentale, se vor adopta valori de calcul ( /
+
si
/

) prin ana logie cu acele componente al cror comportament la


deIectare este cel mai apropiat.
Din cele analizate pn acum rezult c o component (element)
oarecare, la orice valoare a timpului, se poate gsi ntr-una dintre
urmtoarele trei stri distincte (din punct de vedere Iiabilistic):
- starea valid J, caracterizat prin indicatorul R(t) ;
- starea de deIectare (nevalid) prin scdere

J , caracterizat prin
indicatorul F

(t),
- starea de deIectare (nevalid) prin cres tere
+
J , caracterizat prin
indicatorul F

(t) .
Cum cele trei stri Iormeaz o grup complet de evenimente,
rezult c este valabil relatia general:
, 1 ) t ( F ) t ( F ) t ( R = + +
+
din care rezult imediat:
, ) t ( F ) t ( F ) t ( F , 1 ) t ( R ) t ( R ) t R(
+ +
+ = + =
. 1 ) t ( F ) t ( R , 1 ) t ( F ) t ( R = + = +
+ +
Notatiile utilizate au urmtoarele semniIicatii:
R

( t ), ) t ( R

Iunctiile de Iiabilitate pentru deIectare prin


crestere, respectiv prin scdere;
F

( t ), ) t ( F

Iunctiile de reparti tie a timpului de Iunctionare


pentru deIectare prin crestere, respectiv prin scdere.
Cea mai si mpl reprezentare si cea mai direct interpretare, din
punct de vedere Iiabilist, le oIer relatia
F( t ) F

( t ) ) t ( F

,
Fiabilitate functional in electronic
125
din care rezult c o component (element) oarecare s e comport, prin
dedublare, ca dou componente (elemente), unul deIectndu -se numai
prin scdere, iar cellalt numai prin crestere (Iig. 6. 2).
Prin urmare, un asemenea element este echivalent cu dou
elemente, semnul avnd semniIicatia c Iunctia de repartitie a
timpului de Iunctionare, pentru elementul respectiv, se obtine nsumnd
cele dou Iunctii de repartitie F

( t ) si ) t ( F

.
6.2. Comportarea elementelor dedublate n
perioada normal de viat
Date Iiind propriettile rezultate prin eIectul de dedublare, rezult
c si indicatorii generali ai Iiabilitt ii (deIini ti anterior - 4. 2) se
dedubleaz n Iunct ie de modul de deIectare.
AstIel pentru deIectare prin crestere parametric || se obtin
expresiile matematice generale, respectiv cele corespunztoare duratei
normale de Iunct ionare ( 4.3).
- Erecventa de repartitie a deIectrilor:
- Probabilitatea de deIectare (Iunctia de nonIiabilitate):
}
+

= =
+ + +
t
t
0
e 1 ) t ( F , dt ) t ( f ) t ( F

t
e ) t ( f ,
dt
dn
N
1
) t ( f
+

+ +
+
+
= =

E(t)
(, -)
E

(t) E
-
(t)
Eig.6.2
6 Anali:a modului de defectare
126
- Rata (intensitatea) de deIectare:
- Eunctia de Iiabilitate (probabilitatea de bun Iunct ionare):
- Media timpului de Iunct ionare
cu cele trei variante speciIice ( 4. 2):
MTTE

; MTEE

; MTBE
.
n acelasi mod rezult relatiile de calcul pentru deIectri prin
scdere de parametru |-|.
- Erecventa de aparitie a deIectrilor:
t
e ) t ( f ,
dt
dn
N
1
) t ( f

= =

- Eunctia de nonIiabilitate:
}

= =

t
t
0
e 1 ) t ( F , dt ) t ( f ) t ( F

- Intensitatea deIectrilor:
. const ) t ( : ,
dt
dn
n N
1
) t ( : = =


- Eunctia de Iiabilitate:
}

= = =

t
t
e ) t ( R ), t ( F 1 dt ) t ( f ) t ( R

. const ) t ( : ,
dt
dn
n N
1
) t ( : = =

=
+ +
+
+

}

= = =
+ + + +
t
t
e ) t ( R ), t ( F 1 dt ) t ( f ) t ( R

}

= = =
+
+ + +
0
. const
1
m , dt ) t ( R m

Fiabilitate functional in electronic


127
- Media timpului de Iunct ionare:
}

= = =


0
. const
1
m , dt ) t ( R m

cu variantele speciIice si acestui mod de deIectare:


MTTE ; MTEE ; MTBE .
Aceast dedublare, considerat pentru zona de baz a duratei de
viat normal a componentelor, este utilizat la analiza si sinteza
Iiabilittii sistemelor de dirijare a circulatiei/navigat iei, permitnd o
interpretare direct a propriett ilor Iunctionale.
AstIel, dac se deriveaz n raport cu timpul expresiil e
indicatorilor de Iiabilitate si se transIorm succesiv aceste expresii, se
obtine (pentru simpliIicarea Iormal a relatiilor, acolo unde parametrul
timp este evident, acesta nu se mai scrie):
1 R R
dt
dR
R
dt
dR
n N
dt
dR
N
n N
dt
dn
(t)
,
dt
dR
N
dt
dn
,
N
n(t)
1 R
+
= =

=
= =
+
Se dedubleaz corespunztor modului de deIectare:

= + +
= + +
+ + + +
+
+



R R
dt
dR
R R
dt
dR
si se consider sistemul omogen atasat:

= + +
= + +
+ + +
+
+

0 R R
dt
dR
0 R R
dt
dR


6 Anali:a modului de defectare
128
Determinnd valorile proprii si vectorii proprii, si gsind solutia
particular ce corespunde condi tiilor impuse, rezult n Iinal:
. ) e 1 ( 1 ) t ( R , ) e 1 ( 1 ) t ( R
t t


= =
+
+

De asemenea, se gsesc mri mile complementare:


, ) e 1 ( 1 ) t ( F , ) e 1 ( 1 ) t ( F
t t


= =
+
+

Iiind, de asemenea, valabile si n acest caz variati ile stabilite anterior:


t
e 1 - ) t ( R ) t ( R ) t R(
-

= + =
+
;
t
e - 1 ) t ( F ) t ( F ) t F(
-

= + =
+
;
. 1 ) t ( F ) t ( R , 1 ) t ( F ) t ( R = + = +
+ +
n Iigura 6. 3 sunt redate variatiile acestor mri mi n Iunctie de
timp, n ipotezele:
0 , = <
+

Se pune astIel n evident, mai bine, Iaptul c n timp ce indica-
torii deIectrii n general R(t) i F(t) variaz, ca n teoria clasic, ntre
limitele 0 si 1, indicatorii celor dou moduri de deIectare, au variat ii
R, E
E(t)
R
-
(t)
E

(t)
R

(t)
E
-
(t)
R(t)
1,0
1-/
1-

/
0
Eig.6.3
t
Fiabilitate functional in electronic
129
limitate jos (

R si
+
R ), respectiv limitate sus (

F si
+
F ), ns toate
valorile posibile ndeplinesc conditia de mri me probabilistic si
veriIic relatiile Iundamentale. Aceste variatii limitate se explic prin
Iaptul c un anumit mod de deIectare nu poate aIecta toate
componentele sistemului, n aIar de cazul particular n care deIectarea
complementar nu este posibil (

0 sau
+
0).
De asemenea, se remarc Iaptul c variat iile indicatorilor
) t ( R

, ) t ( R
+
, ) t ( F

si ) t ( F
+
n Iunctie de timp, pe toat durata de baz,
sunt exponentiale ca si cele ale indicatorilor
R ( t ) si F ( t ) ceea ce corespunde unei solicitri constante ( 2.2).
Totodat, pentru orice valoare a timpului n aIar de zero, pentru
un anumit element (component ) , care se poate deIecta at t prin
crestere ct si prin scdere, sunt valabile inegalitt ile:
) t ( R

~ R ( t ), ) t ( R
+
~ R ( t )
Aceasta revine la a spune c dac un anumit mod de deIectare nu
are important Iunctional n sistem, deIectrile dup modul respectiv
pot s nu Iie considerate; pe aceast cale se poate obtine o crestere
substantial a Iiabilittii n raport cu un anumit tip de rspuns (de
exemplu Ials), respectiv n raport cu anumite Iunctiuni esent iale sau de
protectie ( 1. 2. 1).
7 Protectii fiabiliste prin modul de defectare
130
Capitolul 7
Protectii fiabiliste
prin modul de defectare
7.1. Protectia simpl
Din cuprinsul capitolului precedent, unde s-a analizat modul de
deIectare si propriettile Iiabiliste remarcabile ale dedublrii
elementelor, se desprinde Ierm ideea Iolosirii eIiciente a acestor
proprietti n vederea obtinerii unei cresteri substantiale a Iiabilittii de
sistem / subsistem.
AstIel, dac un element (component) trebuie neutralizat Iat de un
anumit mod de deIectare, se poate alege o structur corespunztoare,
serie sau derivatie, prin care s se ating scopul propus; n practic
aceasta se numeste protectie simpl (Iat de un singur mod de deIectare,
prin crestere sau prin scdere de parametru), iar elementele din structura
respectiv sunt, de regul, identice.
AproIundnd acest aspect, se vor ntlni unele situatii speciIice
care, n practic, impun rezolvri stringent necesare, mai ales n cazurile
de producere a unor rspunsuri Ialse ( 1. 2. 1).
n acest sens pot Ii date ca exemplu contactele de releu, care se pot
deIecta prin variatia inadmisibil a rezistentei (de contact):
a. dac releul este comandat astIel nct un anumit contact sau
grupuri de contacte s Iie stabilite, deIectarea n aceast stare
nu se poate produce dect prin crestere de parametru ||;
Fiabilitate functional in electronic
131
b. dac acelasi releu pri meste comand pentru contact sau
grupuri de contacte ntrerupte, deIectarea nu poate surveni dect
prin scdere de parametru |-|;
Acest comportament Iiabilist , oarecum curios, se poate ntlni si la
alte componente, cum sunt ansamblurile cinematice cu comand
electric, la care deIectarea se poate produce prin:
a. disparitia sarcinii (mecanice), cnd mecanismul merge numai
n gol, iar rezistenta (sau i mpendanta) de intrare cr este /
deIectare prin crestere ||;
b. blocarea mecanismului (gripare mecanic ), iar la intrarea
electric, n acest caz, se produce o scdere a rezistentei (sau
impedantei) / deIectare prin scdere |-|.
AstIel de proprietti, n Iunctie de starea pe care elementele o au
n momentul deIectrii sunt caracterist ice si altor elemente ntlnite n
echipamentele electrice si electronice, utilizate n regi m de comutatie:
diode, tranzistori, tiristori, transIormatori, condensatori, rezistori, Iiltre
electrice etc.
7.1.1. Elemente defectabile exclusiv prin creytere
parametric
Dac n relatia general
R(t) F
-
(t) F

(t) 1 ,
stabilit anterior ( 6. 1), se anuleaz Iunctia de nonIiabilitate pentru
deIectri prin scdere de parametru:
F
-
(t) 0, R(t) F

(t) 1,
rezult imediat c sunt valabile relatiil e:
7 Protectii fiabiliste prin modul de defectare
132
F(t) F

(t), R(t) R

(t),
:
-
(t) 0, :

(t) :(t) = 0,

,
-
0, m

m, m
-
1/
-

SemniIicatia Iizic a procesului de deIectare conduce la concluzia
c acele componente care satisIac relatiile de mai sus nu se pot deIecta
dect prin cresteri de parametru, ca de exemplu: mrirea rezistentei de
trecere (conductie) la conexiuni prin wrapare, suduri cu Iludor,
sigurante Iuzibile, Iise de conductori conventionali sau trase impri mate
de conexiune, contacte de reglete cu surub sau cleste etc.
Evidentierea acestui caz particular de Iiabilitate se poate observa
si n Iigura 6. 2 (6. 1), dac F

(t) 0 . De asemenea, n reprezentrile


graIice din Iigura 6. 3 ( 6. 2), Icnd

0 si

, dispar valorile
semniIicative intermediare din ordonate:
1 1

, 0 1
+

Avnd la baz aceast proprietate, au Iost elaborate si se Iolosesc


n practic unele relee de sigurant pentru sisteme de dirijare n traIicul
Ieroviar. La aceste relee armtura mobil, care este comandat electric
prin bobine cu excitatie magnetic, antreneaz mecanic contactele
(mobile) care sunt utilizate pentru comutatie n circuite logice, cu
Iunctiuni de protectie (1. 2. 1).
Pentru a se evita deIectrile prin scdere de parametru ( sudura
metal metal a pastilelor de contact), ceea ce n sistem ar provoca
aparitia de rspunsuri Ialse, perechile de contacte se construiesc cu o
pastil din argint, respectiv cealalt din graIit; aceste materiale n
contact mecanic si electric nu permit sudura ntre ele, prin urmare este
evitat deIectarea (perechilor de contacte) prin scdere de parametru,
Fiabilitate functional in electronic
133
rmnnd numai posibilitatea deIectrii prin crestere parametric (a
rezistentei de contact), deIectare ce poate duce la rspuns eronat,
eliminndu-se practic total rspunsul Ials ( 1. 2. 3).
Aceste relee (speciale de sigurant) au o Iunctionare n regi m de
comutatie bazat pe eIect gravitational terestru, care este considerat
absolut sigur (disparitia gravittii terestre este imposibil).
7.1.2. Elemente defectabile dominant prin creytere
parametric
O alt categorie de elemente (componente) se caracterizeaz prin
aceea c au un mod dominant (statistic majoritar) de deIectare prin
crestere, Ir ca cellalt mod complementar prin scdere s Iie nul (
6. 2 Iig. 6. 3):
0 = >
+
;

+
+
= < =

1
m
1
m ;
R

(t ) R

(t), F

(t ) ~ F

(t),
R

(t ) F

(t) 1 , R

(t ) F

(t) 1 .
Acestui tip de componente, numeroase n practic, i corespund
rapoartele

/ ~ 0, 5 respectiv

/ 0, 5 (tabela 6. 1): acumulatoare


electrice, becuri cu incandescent, trase de circuit impri mat, conden-
satori ceramici, conectori, contactori termobi metal, microcomutatori,
potentiometri, relee, rezistori, termistori, tiristori, tuburi electronice
speciale etc.
O aplicatie practic a acestei proprietti (

) este Iolosit la
elaborarea unui tip de diod redresoare (cu indicativ ul de catalog
RA220), destinat si electroali mentrii la bordul unor autovehicule
rutiere.
7 Protectii fiabiliste prin modul de defectare
134
n Iigura 7. 1 este redat, si mpliIicat, schema de principiu care
cuprinde:
U
ca
tensiunea curentului alternativ pri mit de la generatorul de
bord (alternator);
Ac bateria de acumulatoare Iunctionnd n regi m tampon;
U
cc
tensiunea curentului continuu obtinut ca eIect al redresrii
curentului alternativ de ctre dioda D;
I
a
curentul electric continuu debitat pentru ali mentarea circui -
telor aparatelor electrice si electronice la bord.
Dioda D este astIel elaborat, n structura sa intern, nct
deIectarea sa se produce, cu o mare probabilitate, prin ntrerupere (ntre
bornele sale) si nu prin scurtcircuitare. AstIel este evitat alimentarea
bateriei de acumulatoare Ac n curent alternativ / rspuns Ials
(periculos), lsnd loc unui rspuns eronat ( 1. 2. 3), prin aceea c
ncrcarea acumulatoarelor nu se mai realizeaz.
Aceast proprietate (

) poate Ii accentuat prin utilizarea


unor structuri de Iiabilitate n elaborri corespunztoare. Dac, de
exemplu, dou componente de acelasi Iel (becuri, bobine, rezistori etc. )
se aIl conectate electric n paralel (Iig. 7. 2), prin dedublare se obtin
dou grupuri echivalente, ce corespund relatiilor de Iiabilitate:
+ + +
+ O = O =
2 1 2 1 2 1
F F F F F F F F F .
U
ca
U
cc
I
a
D
Ac
Eig. 7.1
Fiabilitate functional in electronic
135
Dac cele dou elemente (componente) sunt identice:
, )
+ +
O = O = F 2 F F F F F
2
Din punct de vedere Ienomenologic, un astIel de grup va asigura
ndeplinirea Iunctiunii prevzute, n conditiile deIectrii prin crestere
parametric a oricrei dintre cele dou componente. Pe de alt parte,
dac de deIecteaz prin scdere parametric, oricare component, grupul
n cauz nceteaz a mai Ii n stare valid.
Generaliznd aceast proprietate la un grup compus din n
elemente, conectate n derivatie (D) , se obtine dedubalrea din Iigura 7. 3,
caracterizat prin relatiile ( 5. 1 5. 2):
+
O = F F F ;
[
=
+ +
=
n
1 i
i
F F ; , )
[
=

=
n
1 i
i
F 1 1 F ,
iar dac elementele sunt identice:

F F F
+
O = ;
n
F F
+ +
= ; , )
n

F 1 1 F

=
E
1
E
2
||
|-|
E
1
E
2
Eig. 7.2
E
1
E
2
E
n
E
2
E
1
E
n
E
2
E
1
~ E
1-
~ E
2
E
n
Eig. 7.3
7 Protectii fiabiliste prin modul de defectare
136
Si circuitele care contin elemente de tip diport (cuadripol) sau
multiport (multipol), pot Ii protejate n raport cu acest mod de deIectare,
dac prezint dou borne n circuitul analizat: tranzistori, tiristori,
Iiltre, circuite integrate etc. Un exemplu este redat n Iigura 7. 4: a) cu
doi tranzistori; b) cu doi tiristori. n circuitele de iesire, Iunctiunea
ndeplinit (actionare, alimentare, comutatie etc. ) se realizeaz si n
conditiile deIectrii prin crestere a rezistentei de iesire pentru oricare
tranzistor sau tiristor (T
1
, T
2
).
Prin urmare se poate remarca existenta urmtoarelor reguli si
proprietti ale structurilor respective.
- DeIectarea predominant prin crestere de parametru (

~ )
necesit, pentru protectie, structuri Iiabiliste derivatie, elementele
electrice respective || Iiind conectate n paralel.
- Structurile Iiabiliste corespunztoare || reprezint cazuri
particulare ale celor generale redundante ( 5. 2): d 2 (Iig. 7. 2); d n
(Iig. 7. 3).
- Sporul de Iiabilitate prin protectie Iat de crestere parametric
este cu att mai mare cu ct inegalitatea

~ este mai pronuntat


(deoarece

; 6. 1).
- Cresterea parametric pn la valoarea de deIectare se poate Iace
lent sau brusc (2. 2); val oarea extrem pe care o poate lua parametrul n
cauz este inIinit ceea ce, n plan Iizic, corespunde cu ntreruperea
T
1
T
2
T
1 T
2
Eig. 7.4
a) b)
Fiabilitate functional in electronic
137
elementului la deIectare partial, respectiv a ntregului grup la deIectare
total.
- Si acest mod de aplicare se numeste protectie simpl (Iiabilist)
deoarece este avantajos Iat de un singur mod de deIectare ||.
O aplicatie eIicient a protectiei si mple prin crestere de parametru
este aceea a structurilor redundante la realizarea conexiunilor dintre
componente. Cu toate c nu reprezint componente (piese) propriu -zise,
conexiunile (clasice sau impri mate) ca si sudurile cu Iludor, nu pot Ii
neglijate n calcule riguroase de Iiabilitate, cum sunt si trebuie s Iie
cele eIectuate pentru echipamente de tip proIesional.
Cablajul dublu impri mat constituie un mijloc eIicient, att din
punct de vedere tehnic ct si economic, pentru a se obtine o bun
protectie n raport cu deIectarea prin crestere (

).
Modul de realizare este artat n desenul din Iigura 7. 5a), n care
s-au notat:
C
1
, C
2
componente propriu-zise (piese);
t terminale;
c conexiuni prin trase imprimate;
s suduri cu Iludor.
Trasele i mprimate se deterioreaz, mai ales, prin corodri
chi mic, prin ruperi (socuri si vibratii) mecanic, ca si prin contractii si
dilatatii termic. Toti cei trei Iactori (chi mic, mecanic, termic) solicit
intens echipamentele de reglare a circulatiei si navigatiei, cu
preponderent pe cele montate la bord (nave si vehicule).
La sudurile cu Iludor, de asemenea datorit acelorasi solicitri si
n plus, din cauza unui eIect de cristalizare (lent n timp) n masa
metalic, rezistenta electric creste progresiv pn se ajunge la limita de
deIectare.
7 Protectii fiabiliste prin modul de defectare
138
Variatia parametric pozitiv este, de regul, rapid la trasele
impri mate, ajungnd brusc la ntrerupere. Sudurile cu Iludor au, n
general, o variatie lent sau rapid, cu contact electric intermitent,
provocnd o Iunctionare / deIectare cu ntreruperi si reveniri, deci
slbiri sau intensiIicri pentru curentii electrici care le parcurg.
Structura de Iiabilitate (Iig. 7. 5b) pentru legtura electric dintre
cele dou terminale t ale componentelor C
1
si C
2
, ca si graIul
corespunztor (Iig. 7. 5c), conduc la schema de Iiabilitate derivatie
serie (DS - 5. 3. 2; Iig. 5. 6), pentru c are: s 3; d 2. Se mai observ c
trasele imprimate, respectiv sudurile, sunt identice ntre ele pe ambele
Iete ale plcii suport.
C
1
C
2
t
s
c
c
Eig. 7.5
s
s
c
c
s
s
b)
a)
c)
(i
e
s s c
s c s
Fiabilitate functional in electronic
139
Notnd Iunctiile de Iiabilitate ale legturii electrice dintre cele
dou componente C
1
si C
2
, cu R
o
(partea plantat / Iat ) si cu R
|
(partea
neplantat / spate), rezult:
R
o
R
|
R
1
R
s
R
c
R
s
R
c
R
s
2
,
iar pentru conexiunea dubl (Iat si spate):
R
2
R
o
R
|
- R
o
R
|
R
1
(2 R
1
)
Deoarece paranteza (2 R
1
) are valoare supraunitar, R
1
Iiind o
probabilitate, rezult c R
2
~ R
1
.
Pentru a evalua eIicienta Iiabilist a acestei structuri, se recurge la
determinarea valoric a raportului R
2
/ R
1
, numit Iactor de eIicient
Iiabilist si Iiind notat cu q
f
:
1 R 2
R
R
1
1
2
f
> = = q
Conectarea multipl este un alt procedeu care, aplicat, permite
ameliorarea Iiabilittii n raport cu cresterea parametric. n general
comutatoarele, conectoarele, de tot Ielul, cuplele electrice, contactele de
releu etc. , prin uzur mecanic dar si prin corodare chi mic, si mresc
rezistenta electric de trecere si astIel se produc deIectri prin crestere
parametric.
n Iigura 7. 6a) este redat cuplajul mobil electric cu ajutorul unei
perechi de Iise (banan electric si bucs / pin, lam sau piciorus si
contact metalic elastic etc. ). n acest desen s-au notat:
k supraIetele de contact electric metal metal;
s suduri cu Iludor;
c conexiuni pentru legare n paralel a celor dou Iise.
7 Protectii fiabiliste prin modul de defectare
140
Dac se noteaz cu R
o
si R
|
Iunctiile de Iiabilitate ale Iiselor
(sperioar respectiv inIerioar) , n conIormitate cu structura de
Iiabilitate (Iig. 7. 6b) si graIul corespunztor (Iig. 7. 6c) se obtine succesiv
( 5. 3. 3):
R
o
R
k
R
2
s
, R
|
R
k
R
s
2
R
c
2
,
R
2
R
o
R
|
- R
o
R
|
R
k
R
s
2
(1 R
c
2
- R
k
R
s
2
R
c
2
)
R
o
R
o
R
c
2
- R
o
2
R
c
2
)
q
f
R
2
/ R
o
1 R
c
2
- R
o
R
c
2
1 R
c
2
( 1- R
o
) ~ 1.
Tot o aplicatie eIicient a acestui mod de protectie simpl (prin
crestere parametric) este realizarea de componente speciale cu
terminale duble.
c
c
k
s
s
s s
s
a)
s s k
s k s
c c
b)
s
s
k s
(i)
c c
(e)
k s
Eig. 7.6
c)
Fiabilitate functional in electronic
141
n echipamentele utilizate la reglarea circulatiei/navigatiei, un
numr relativ mare de deIectri se produc datorit ruperii terminalelor la
unele componente de tip uniport cum sunt, de exemplu, condensatorii si
rezistorii. Aceste ruperi se produc la exteriorul componentelor, sau la
interior, cnd au loc desprinderi ale capt ului de terminal Iat de
materialul rezistiv sau capacitiv.
Toate aceste deIectri apar din cauza socurilor si vibratiilor (cu
intensitti mari la bord, dar si la sol) si au ca eIect cresterea brusc a
rezistentei electrice de cuplaj galvanic pn la inIinit - ntrerupere (cu
intermitent sau permanent).
Rezistorul cu terminale duble, numit si rezistorul cu 4 borne,
diIer de rezistorul uzual cu 2 borne (R
2
Iig. 7. 7a) prin aceea c pe
acelasi corp rezistiv, realizat n tehnologie uzual se monteaz cte dou
perechi de terminale (b
1
b
4
si b
2
b
3
), obtinndu-se astIel o
component cu 4 terminale (R
4
Iig. 7. 7c).
Rezistoarele, n general, nu se deIecteaz prin scdere de
parametru (6. 1 tab. 6. 1), iar deIectarea prin crestere este redus
(e)
a)
t j R j t
(i)
(b
1
) (b
2
)
(R
2
)
b
1
(b
2
)
t
j t
R j
j
t j
t
(b
1,
b
4
)
d)
b)
c)
(R
4
)
b
1
b
4
b
3
b
2
t
j
t
j
(i)
(e)
Eig. 7.7
j
(b
2,
b
3
)
7 Protectii fiabiliste prin modul de defectare
142
substantial probabilist prin aceast dublare a bornelor (poz. 3 3
tab. 6. 1); rezult deci o proprietate Iiabilist remarcabil a acestui tip de
component.
Aceast proprietate se poate pune n evident, calitativ, prin
graIurile reprezentate n Iigura 7. 7b) pentru rezistorul uzual si n Iigura
7. 7d) pentru rezistorul cu protectie n raport cu cresterea parametric.
Cantitativ, aceast protectie se poate determina cu ajutorul
expresiilor Iunctiei de Iiabilitate. n acest scop s-au notat cu:
b bornele componentelor;
j jonctiunile interne dintre terminalele t si corpul rezistiv R.
ntruct Iiecare jonctiune f este cuplat la cte un terminal t, se
noteaz cu R
t f
Iunctia de Iiabilitate a dubletului terminal jonctiune, cu
schem a Iiabilittii de tip serie neredundant (5. 1):
R
t f
R
t
R
f
n aceste conditii, pentru rezistorul uzual cu dou terminale ( R2),
expresia Iunctiei de Iiabilitate (Iig. 7.7b) este
2
tf R 2
R R R = ,
R
R
reprezentnd Iunctia de Iiabilitate a elementului rezistiv propriu-zis
R, acelasi (identic) pentru ambele tipuri de component.
La rezistorul cu terminale duble (Iig. 7. 7d), considernd structura
neuniIorm a acestuia ( 5. 3. 3), rezult:
R
4
R
R
(R
t f
R
t f
R
t f
2
)
2
R
2
(2 R
t f
)
2
~ R
2
Prin urmare eIicienta Iiabilist va Ii dat de relatia
q
f
R
4
/ R
2
(2 - R
t f
)
2
~ 1
Fiabilitate functional in electronic
143
care nu depinde de elementul comun R (caracterizat prin Iunctia de
Iiabilitate R
R
).
Lund cteva valori semniIicative pentru Iunctia de Iiabilitate a
dubletului terminal jonctiune R
t f
, rezult valorile corespunztoare ale
eIicientei Iiabiliste q
f
(tab. 7. 1).
Tab. 7. 1


1 0, 9 0, 7 0, 3 0, 1
q
f
1 1, 21 1, 69 2, 89 3, 61
Se observ c eIicienta Iiabilist creste neliniar cu scderea
termenului R
t f
: procedeul '4 borne este mai eIicient pentru elemente
cu Iiabilitate slab, cum este cazul, n pri mul rnd, al rezistorilor.
Condensatorul cu terminale duble este realizat, de asemenea, n
tehnologia '4 borne si anume - condensatorul cu armturi plane
(Iig. 7. 8b), respectiv condensatorul cu armturi n spiral - corp cilindric
(Iig. 7. 8c). La extremittile Iiecrei armturi se aIl cte o pereche de
jonctiuni cu terminalele respective: b
1
b
3
si b
2
b
4
.
j
t
t
b
1
b
2
j
j
t t
C
4
b
1
b
2 b
3
b
4
a) b)
C
2
b
4
b
2
j
b
1
b
3
j
c)
Eig. 7.8
7 Protectii fiabiliste prin modul de defectare
144
Structura de Iiabilitate si graIul aIerent sunt la Iel cu cele ale
rezistorului cu 4 borne (Iig. 7. 7), cu singura deosebire c n locul
corpului rezistiv R apare corpul capacitiv C.
Acesta, majoritar, se deIecteaz prin scdere de parametru
(scderea rezistentei de izolare a dielectricului ), iar la limit apare
strpungerea (clacarea). O exceptie o constituie condensatoarele
electrolitice care, n timp, suIer reactii chimice si pierderi de electrolit;
n practic se spune c 'se usuc. Pentru acest motiv aceste
condensatoare, pe lng deIectri prin scdere, au si o cot relativ
important a deIectrilor prin crestere (n corpul capacitiv propriu -zis).
Cu aceste precizri, relatiile Iiabiliste ce caracterizeaz aceast
component sunt:
R
t f
R
t
R
f
, R
2
R
C
R
t f
2
,
R
4
R
2
(2 -R
t f
)
2
~ R
2
,
q
f
R
4
/ R
2
( 2- R
t f
)
2
~ 1
Notatiile utilizate sunt aceleasi ca n graIurile rezistorului cu 2
borne, respectiv cu 4 borne, iar R
C
este Iunctia de Iiabilitate a corpului
capacitiv propriu-zis C.
Exceptnd pe acestea din urm, celelalte concluzii calitative si
cantitative sunt valabile ca n cazul rezistorului cu 4 borne.
O aplicatie n care sunt Iolosite componente cu terminale duble
este ilustrat, simpliIicat, cu ajutorul schemei di n Iigura 7. 9a). La
iesirea ampliIicatorului operational A se gseste, cuplat la mas, grupul
rezistor condensator care sustine o constant de timp t R
4
C
4
,
imperios necesar pentru procesarea semnalului aplicat la intrarea ( i) si
Iurnizat la iesirea (e).
Fiabilitate functional in electronic
145
Cele patru conexiuni ale condensatorului (C
4
4 borne) asigur o
protectie eIicient Iat de deIectri prin crestere parametric
(ntrerupere), att la jonctiuni ct si la terminale (notate cu x), dac se
produc urmtoarele deIectri singulare sau duble:
- deIectare singular n oricare dintre cele patru ramuri (b):
b
1
b
2
b
3
b
4
;
- deIectare dubl simultan pe ramurile:
b
1
b
4
sau b
1
b
3
sau b
2
b
3
sau b
2
b
4
.
Prin urmare, numai deIectrile duble b
1
b
2
sau b
3
b
4
,
triple b
1
b
2
b
3
sau b
1
b
2
b
4
, sau cuadrupl b
1
b
2
b
3
b
4
pot aIecta buna Iunctionare a grupului t R
4
C
4
.
Alta este situatia n ramurile superioare, unde buna Iunctionare
este aIectat de deIectrile singulare b
5
b
6
, respectiv dubl b
5
b
6
.
Aceste deIectri nu pot provoca dect rspuns eronat n sistem (1. 2),
deoarece disparitia semnalului la iesire (e) anuleaz producerea unui
rspuns Ials (1. 2. 3).
Dac n locul grupului R
4
C
4
s-ar gsi grupul R
2
C
2
t R
4
C
4
, cu
aceeasi valoare a constantei de timp (Iig. 7. 9b), distributia si eIectele
deIectrilor ar Ii cu totul diIerite. n acest caz, constanta de timp se
a)
b)
b
5
b
6
b
1
b
2
b
3
b
4
(C
4
)
(R
4
)
(i) (e)
A
-

b
1
b
2
b
3
(R
2
)
(C
2
)
(i) (e)
Eig. 7.9
7 Protectii fiabiliste prin modul de defectare
146
anuleaz (t 0 / rspuns Ials) pentru orice deIectri (prin crestere),
singulare sau mult iple: b
1
b
2
b
3
, b
1
b
2
sau b
1
b
3
sau b
2

b
3
, b
1
b
2
b
3
; semnalul nu dispare oricum la iesire (rspuns Ials).
Acest mod de analiz a deIectrilor (singulare sau multiple) ca si
inIluenta lor asupra rspunsurilor la nivel macroscopic pe sistem (rol
Iunctional) va Ii dezvoltat n unele capitole ulterioare.
7.1.3. Elemente defectabile dominant prin scdere
parametric
Acest mod de deIectare, complementar Iat de cel care se produce
prin crestere parametric, are o Irecvent de aparitie ceva mai redus n
cadrul echipamentelor electrice si electronice.
n acest Iel, dominant, se deIecteaz o serie de componente
(tab. 6. 1) , ca de exemplu: condensatorii electrolitici, condensatorul si
rezistorul cu 4 borne (7. 1. 2), contactorii de pute re medie, diodele
semiconductoare, tranzistorii etc.
EIectul lor nu este neglijabil deoarece aIecteaz, n pri mul rnd,
rezistenta de izolatie la elemente de montaj: Iire n cablu, trase de cablaj
impri mat, socluri (relee, circuite integrate, tuburi electr onice speciale),
borne de reglete, Iise de conector multiplu etc.
Tuturor acestor deIectri le sunt caracteristice relatiile generale de
Iiabilitate:
0 = >
+
;
+
+

= < =

1
m
1
m ;
R (t) R

(t), F (t) ~ F

(t),
R(t) F(t) 1, R

(t ) F

(t ) 1
5 . 0 >

; 5 . 0 <
+

Fiabilitate functional in electronic


147
Un exemplu tipic, n acest sens, poate Ii dat prin grupul de dou
condensatoare conectate n serie (5. 2; Iig. 5. 3a), la care separarea
galvanic ntre bornele extreme dispare numai dac se strpung ambele
condensatoare (la limit), sau scad ambele rezistente de izolatie n
dielectric sub limita total admisibil (protectie simpl).
n schimb, alunecarea parametric n sens pozitiv (la limit
ntrerupere), Iace neutilizabil ntregul grup.
Aplicnd metoda dedublrii, n acest caz, rezult schema
echivalent din Iigura 7. 10 : primul grup se deIecteaz numai prin
scdere ||, iar cel de al doilea numai prin crestere ||, relatiile de
calcul Iiind:
F F O F

F
1
F
2
O F
1
F
2
- F
1
F
2
Dac cele dou componente sunt identice, aceast relatie devine
mai simpl:
, )
+ + +
O = ' O ' = ' F 2 F F F F F
2
Eig. 7.11
E
n-
E
2-
E
1-
~ E
1
~ E
2
E
n
~ E
1
~ E
2
E
n
||
(S)
|-|
E
1 E
2 E
1
E
2
||
||
E
1
E
2
Eig. 7.10
7 Protectii fiabiliste prin modul de defectare
148
Prin generalizare se obtine eIectul de dedublare din Iigura 7. 11,
pentru un numr oarecare n elemente conectate n serie (S), rezultnd
expresiile de calcul ( 5. 1 si 5. 2):
[
=

=
n
1 i
i
F F ; , )
[
=
+ +
=
n
1 i
i
F 1 1 F
Pentru componente identice, aceste relatii devin:
, ) , F 1 1 F , F F
n n
+ +
= =
, )
n n
F 1 1 F F F F
+ +
O = O =
Ca si pn acum, aici si n continuare, la scrierea relatiilor este
omis parametrul timp, spre a se obtine expresii Iormale mai simple si,
prin urmare, mai usor de interpretat.
Pentru componente de tip diport sau multiport, acest mod de
protectie simpl se aplic, de regul, n circuitul de iesire unde
Iunctiunile de executie impun unele rigori speciIice. n Iigura 7. 12 este
redat maniera de realizare a acestei protectii simple, Iat de deIectri
Eig. 7.12
a)
T
1
T
2
T
1
T
2
b)
Fiabilitate functional in electronic
149
prin scdere parametric ||: a) circuit cu tra nzistoare; b) circuit cu
tiristoare.
7.2. Protectia dubl
Acest tip de protectie, att prin crestere || ct si prin scdere ||
de parametru, este mai putin utilizat deoarece are un cost, volum si
greutate de valori relativ ridicate. Totusi, n unele situatii, reprezint
singura cale de a obtine perIormante Iiabiliste superioare pentru unele
circuite de executie sau de validare a bunei Iunctionri la nivel
macroscopic de sistem.
n schemele de conectare electric din Iigura 7. 13 este redat modul
de protectie pentru patru tipuri de componente reprezentative, structurile
de Iiabilitate Ir dedublare Iiind serie-derivatie (SD; Iig. 5. 4; 5. 3. 1),
respectiv derivatie serie (DS; Iig. 5. 5; 5. 3. 2).
Este usor de observat c cele 8 grupuri de componente (s tructuri
SD si DS), si pstreaz propriettile Iundamentale pentru deIectri,
dependente de modul n care acestea se produc ||, |-|, singulare dar si
unele multiple.
a) Grupul de condensatori C
1
. . . C
4
reprezint o rezolvare 'total
a problematicii anali zate anterior pentru doi condensatori
nseriati ( 5. 2; Iig. 5. 3). Dintre cele dou variante, este de
preIerat varianta DS pentru tipurile de condensatori precizati la
pozitiile 10 si 11 n tabela 6. 1).
b) La Iel, prin cei patru rezistori sunt rezolvate problemele de
Iiabilitate ale protectiei simple, ndeosebi pentru varianta SD,
deoarece acest tip de component se deIecteaz dominant prin
crestere parametric (t ab 6. 1 poz. 34 . . . 37).
7 Protectii fiabiliste prin modul de defectare
150
a)
b)
c)
d)
Structuri SD Structuri DS
Eig. 7. 13
c) Pentru diode este de preIerat varianta DS deoarece, pentru
acestea, deIectarea dominant este prin scdere de paramet ru (la
limit strpungere: tab. 6. 1 poz. 20. . . 22).
d) O problematic mai larg o ridic diIeritele contacte electrice,
care intr n constructia unor componente cu utilizri multiple:
C
1
C
2
C
3
C
4
C
1
C
3
C
2
C
4
R
4
R
3
R
2
R
1
R
4
R
2
R
3
R
1
D
4
D
3
D
2
D
1
D
4
D
2
D
3
D
1
K
4
K
3
K
2
K
1
K
4
K
2
K
3
K
1
Fiabilitate functional in electronic
151
relee uzuale sau speciale, butoane de comand, chei de control,
comutatori, conectori mobili cu Iise etc. n Iunctie de valoarea
rapoartelor

/ si

/ (tab. 6. 1 poz. 8; 14; 15; 18; 25; 28
. . . 32), se alege o variant sau alta (SD, DS), astIel nct
Iunctia de Iiabilitate s aib valoarea cea mai mare.
Pentru calculul indicatorilor de Iiabilitate este necesar s se
deduc relatiile corespunztoare structurilor SD si DS si aplicnd
metoda dedublrii.
n Iigura 7. 14 sunt redate structurile echivalente serie derivatie
(SD), pentru care se deduc urmtoarele relatii de calcul ( 5. 3. 1):
F

(F
1
F
2
F
1
F
2
) (F
3
F
4
F
3
F
4
)
F

F
1
F
2
F
3
F
4
F
1
F
2
F
3
F
4
Deoarece, n general, elementele sunt identice,
, ) , ) , )
2
2 2 2
F F 2 F F 2 F F 2 F

= = '
F

2F

2
F

4
F

2
(2 F

2
)
rezult c:
, ) , )
2 2
2
2
SD
F 2 F F F 2 F F F
+ + +
O = O = .
Procednd n acelasi Iel, se obtin structurile echivalente derivatie
serie (DS) si relatiile de calcul corespunztoare (Iig. 7. 15):
||
|-|
Eig. 7.14
E
3
E
4 E
2
E
1
E
3
E
4 E
2
E
1
(SD)
E
2
E
4 E
3
E
1
7 Protectii fiabiliste prin modul de defectare
152
F

F
1
F
2
F
3
F
4
F
1
F
2
F
3
F
4
F

(F
1
F
2
F
1
F
2
) (F
3
F
4
F
3
F
4
)
iar pentru elemente (componente) identice:
n cazul general, cnd numrul de elemente (componente) este
oarecare, se obtin structuri serie sau derivatie care, la rndul lor ,
Iormeaz structuri de tipul SD sau de tipul DS. De asemenea, dup
situatie, pot s apar cu necesitate structuri neuniIorme, pentru tratarea
crora sunt valabile aspectele expuse anterior ( 5. 3. 3) continuate cu
cele reIeritor la dedublare.
*
n ncheierea problematicii de protectie Iiabilist prin modul de
deIectare, se impun unele precizri cu caracter de generalitate.
-Protectia simpl, dup un singur mod de deIectare | , |
reprezint cazuri particulare, structurile de Iiabilitate reducndu-se la
cele de tip serie (S) pentru deIectri prin scdere de parametru,
respectiv la cele de tip derivatie (D) pentru deIectri prin crestere
parametric.
||
|-|
Eig. 7.15
E
2
E
4 E
3
E
1
E
2
E
4 E
3
E
1
(DS)
E
3
E
4 E
2
E
1
, ) , ) . F F 2 F 2 F F F F
2
2 2 2
DS + + +
O = O =
, ) , F F 2 F , ) F 2 ( F F
2
2 2 2
+ + +
= =
Fiabilitate functional in electronic
153
- Elementele conectate electric n serie se reprezint n schemele
de dedublare) n derivatie pentru modul de deIect are prin scdere || si
n serie pentru modul de deIectare prin crestere ||.
- Elementele conectate electric n derivatie se reprezint (n
schemele dedublate) n serie pentru modul de deIectare prin scdere ||
si n derivatie pentru modul de deIectare prin crestere ||.
- Rezult c, pentru a se obtine o eIicient Iiabilist, este necesar
ca elementele care se deIecteaz dominant prin crestere de parametru ||
s Iie conectate electric n derivatie,

/ ~ 0, 5 ,
iar cele care se deIecteaz dominant prin scdere de parametru || s Iie
conectate electric n serie .


/ ~ 0, 5.
- Protectia simpl este numit (n unele lucrri de specialitate) si
redundant simpl; aceast a doua denumire conduce, uneori, la
conIuzie atunci cnd nu se precizeaz modul de deIectare. De aceea, n
aceast lucrare, vom pstra denumirea de protect ie simpl, iar
problematica redundantei va Ii tratat n proIunzi me, ntr-un capitol
consacrat exclusiv.
- Protectia dubl mai este numit si redundant n cuadratur, de
asemenea i mpropriu att n sens semantic, ct si prin conIuzia care se
poate produce cu privire la propriettile de redundant.
n toate structurile de protectie, simpl sau dubl, se remarc unele
proprietti de dualitate complementaritate, att n schemele structurale
de Iiabilitate ct si n relatiile de calcul respective. Acest aspect poate Ii
ilustrat si prin urmtoarea schem sinoptic general (Iig. 7. 16) :
7 Protectii fiabiliste prin modul de defectare
154
(cnccvc
cccicv in
.cic
cncnv {ivii.v
vc i vci.v;ic
cnv vc{ccvc
in .cvvcc
vvncicv []
cncnv {ivii.v
vc i .cic cnv
vc{ccvc in
cc,cc
vvncicv [-]
(cnccvc
cccicv in
vvc
cncnv {ivii.v
vc i .cic cnv
vc{ccvc in
.cvvcc
vvncicv []
cncnv {ivii.v
vc i vci.v;ic
cnv vc{ccvc
in cc,cc
vvncicv [-]
Eig. 7.16
Fiabilitate functional in electronic
155
Capitolul 8
Redundanta fiabilist.
Toleranta la defectri
8.1. Ordinul defectrii
Atunci cnd se analizeaz eIectele aparitiei deIectrilor , n cadrul
unui sistem, se constat trecerea acestuia din starea valid - J n starea
nevalid - J ( criteriul primei deIectri, 2. 2). Producerea deIectrilor,
cu eIect negativ pentru Iiabilitatea sistemului n cauz, poate avea loc
printr-o distributie oarecare. Pentru a determina aceast distributie se
introduce notiunea de ordin al deIectrii.
- DeIectri de ordinul I, caracterizate prin Iaptul c este suIicient
s se deIecteze o singur component, oarecare, pentru ca ntregul
sistem s Iie aIectat; deIectrile de acest Iel sunt singulare.
- DeIectri de ordinul II, cnd ntregul sistem este aIectat numai
dac se produc dou deIectri, simultane sau consecutive.
- DeIectri de ordinul III, ordinul IJ, .. . , ordinul M, caracterizate
prin aceea c produc eIecte negative dac apare n grup deIectarea a 3,
4, .. ., M componente, avnd acelasi eIect negativ asupra sistemului si
anume, trecerea acestuia din starea J n starea J (deIectri de asemenea
simultane).
n urma unei astIel de analize, rezult o structur general de
Iiabilitate redat n Iigura 8. 1, unde cu i, f, k, .. ., r s-au notat variabilele
8 Redundanta fiabilist / toleranta la defectri
156
de rang asociate Iiecrui ordin al deIectrii (I, II, III, . .. , M). Dac
rezult si structuri neuniIorme, acestea vor Ii tratate ca atare (5. 3. 3).
Mai trebuie precizat Iaptul c la stabilirea ordinului deIectrii,
pentru sisteme cu mare rspundere Iunctional - si, mai ales, n cazul
Iunctiunilor de protectie (1. 2. 1), este necesar a se cunoaste, teoretic si
practic, aspectele tehnologice proprii sistemului analizat. Calitatea de
ordin al deIectrii rezult, n esent, ca eIect al unor proprietti
Iunctionale de sistem, dintre care cele mai importante sunt expuse n
continuare.
- Unele dintre componentele sistemului sunt prevzute ca Iiind
rezerve Iunctionale ale altora; de exemplu n dubletul II
f
, unul dintre
elemente poate Ii rezerva celuilalt, motiv pentru care, n multe
cazuri, cele dou componente sunt identice.
- Alte elemente apar ca eIect al modului de deIectare (6. 1).
AstIel, dac o anumit component aIecteaz Iunctionali tatea
sistemului numai la deIect are prin crestere de parametru ||,
deIectarea sa prin scdere parametric |-| nu se poate produce.
- n Iine, o serie de deIectri multiple se maniIest n sistem
datorit interdependentei Iunctionale; acest aspect este ntlnit
Irecvent la sistemele poliIunctionale (1. 2. 1) .
La stabilirea apartenentei componentelor la ordinul deIectrii este
necesar ca unul si acelasi element s apar o singur dat si anume la
II
j
II
j
III
k
III
k
M
r
M
r
M
r
I
i
Eig. 8.1
:
:
III
k
(i)
(e)
Fiabilitate functional in electronic
157
ordinul inIerior; orice aparitie ulterioar, ntr-o combinatie de ordin
superior, va Ii eliminat (pe baza criteriului pri mei deIectri - 5. 1).
Dup stabilirea structurii Iiabiliste, n Iunctie de ordinul deIectrii
(Iig. 8. 1), se trece la calculul indicatorilor de Iiabilitate.
I) DeIectrile singulare au propriettile sistemelor neredundante
(5. 1). Dac se noteaz cu o numrul total al elementelor ce apartin
acestui ordin, rezult rel atiile de calcul:
n aceste relatii R
I
reprezint Iunctia de Iiabilitate, iar F
I
Iunctia
de nonIiabilitate, pentru ordinul I al deIectrilor. Prin semnul x este
precizat Iaptul c deIectrile considerate n cadrul analizei pot Ii:
generale (indiIerent de modul de deIectare, att prin crestere ct si prin
scdere parametric), dominant sau exclusiv prin crestere parametric ,
dominant sau exclusiv prin scdere parametric (7. 1).
Eiind mri mi probabilistice n relatie de produs, ndeosebi la
sisteme complexe, Iunctia de Iiabilitate este aIectat (valoric) de aceste
deIectri singulare, care reprezint singurul ordin posibil la sisteme
neredundante. De asemenea se reaminteste Iaptul c parametrul timp t se
subntelege dar nu se mai scrie, ca si n continuare, spre a nu complica
inutil Iorma expresiilor.
II) DeIectrile n dublet , caracteristice sistemelor redundante
(5. 2) a par prin eIect de redundant general sau n Iunctie de modul de
deIectare ca, de exemplu, n situatia a dou componente n relatie de
protectie simpl (7. 1). Dac numrul unor astIel de grupuri de cte
dou componente (Iig. 8. 1) este |, rezult expresiile:
[ [
= =
= =
o o
1 i
x
Ii
1 i
x
Ii I
) F 1 ( R R
8 Redundanta fiabilist / toleranta la defectri
158
III) DeIectrile multiple n triplet, la aceeasi distributie a valorilor
de Iiabilitate ca n cazul dubletilor, au o Iiabilitate mai bun dect n
ordinul inIerior: R
I I I
~ R
I I
unde este numrul total de tripleti cuprins n ordinul III.
n acelasi Iel se determin relatiile de calcul pentru ordinul IJ,
ordinul J etc.
IV) Notnd cu numrul grupurilor corespunztor ordinului
general M, se obtin relatiile de calcul:
Teoretic, acest ordin general notat cu M poate Ii Ioarte mare, mai
ales la sistemele complexe multiIunctionale; practic, ns, analiza se
opreste la acel ordin pentru care valorile Iunctiei de nonIiabilitate F
M
sunt neglijabile. Acest aspect rezult din expresia general
[
=
= =

1 r
Mr
M
M
, 0 ) F 1 ( 1 R 1 F
dac M ~~ 1 si termenii
x
M
x
3
x
2
x
1
F , , F , F , F au valori reduse, ceea ce este
valabil n cazul echipamentelor de tip proIesional.
Pe de alt parte se observ c Iunctia de Iiabilitate creste cu
mrirea ordinului deIectrii (n aceleasi conditii):
R
M
1 F
M
1
[ [ [ [
= = = =
= = = =

1 r
Mr
1 r
r
x
M
x
3
x
2
x
1
1 r
r
x
M
x
3
x
2
x
1
1 r
Mr M
) F 1 ( ) F ... F F F 1 ( )] R 1 ( ... ) R 1 ( ) R 1 ( ) R 1 ( 1 [ R R
[ [ [ [
= = = =
= = = =
y y y y
1 k
IIIk
1 k
k
x
3
x
2
x
1
1 k
k
x
3
x
2
x
1
1 k
IIIk III
) F 1 ( ) F F F 1 ( )] R 1 ( ) R 1 ( ) R 1 ( 1 [ R R
[ [ [ [
= = = =
= = = =
| | | |
1 f
IIf
1 f
f
x
2
x
1
1 f
f
x
2
x
1
1 f
IIf II
) F 1 ( ) F F 1 ( )] R 1 ( ) R 1 ( 1 [ R R
Fiabilitate functional in electronic
159
Aceasta conduce la stabilirea urmtoarelor inegalitti:
R
M
~ R
M- 1
~ R
M- 2
~ . .. ~ R
I I I
~ R
I I
~ R
I
respectiv
F
M
F
M- 1
F
M- 2
. .. F
I I I
F
I I
F
I
Explicatia Iizic, de Ienomen, rezid n Iaptul c deIectarea
simultan a mai multor componente este cu att mai putin probabil , cu
ct numrul acestora M este mai mare (coinci denta eveni mentelor
aleatoare). Aceast proprietate se pune si mai bine n evident prin
graIul corespunztor, redat n Iigura 8. 2a). Tot de aici se observ c
Iiecare grup, determinat prin deIectare multipl (II, III, . .. , M) si evaluat
prin relatiile de calcul determinate anterior:
R
I
, F
I
, R
I I
, F
I I
, R
I I I
, F
I I I
, . .. , R
M
, F
M
,
se aIl ntr-o structur Iiabilist de tip serie (Iig. 8. 2b).
Rezult c, pe ntregul sistem, Iunctiilor de Iiabilitate R si de
nonIiabilitate F le corespund expresiile de calcul (5. 1):
, ) F 1 ( 1 F
, R R ... R R R R
M
1 v
v
M
1 v
v M III II I
[
[
=
=
=
= =
(i)
(e)
I(u) II() III()
M()
a)
(i) (e)
I
II III M
b)
Eig. 8.2
:
8 Redundanta fiabilist / toleranta la defectri
160
unde v reprezint variabila de rang asociat tuturor celor M ordine de
deIectare considerate n calcul. Bilantul (Iinal) arat c analiza pe
sistem cuprinde o componente cu deIectri si ngulare si (2| 3y .. .
M) componente cu deIectri multiple. Toate aceste deIectri multiple
(de ordin II, III, . . ., M) nu sunt deIectri n avalans (2. 1), deoarece
acestea din urm se produc secvential si nu simultan (n timp).
De asemenea, din graIul redat n Iigura 8. 2a) rezult c, pentru
ameliorarea Iiabilittii, este necesar s Iie reduse la mini mum grupurile
de componente corespunztoare ordinelor inIerioare (o, |, . .. ); aceasta,
binenteles, n limitele unor costuri rationale, deoarece aceste reduceri
sunt urmate de cresteri numerice ale unor grupuri cu ordin de deIectare
superior (|, y, o, c, .. ., ) care, inevitabil, contin multe elemente n
structurile lor.
Tot pe aceast cale, a eliminrii din structurile Iiabiliste de sistem
a ordinelor inIerioare ale deIectrilor, se obtine si o crestere
substantial a disponibilittii echipamentelor (2. 2), proprietate ce va Ii
aproIundat n continuare.
8.2. Redundanta de echipament
Dac la un sistem tehnic neredundant, avnd o structur serie, au
Iost epuizate toate posibilittile rationale de crestere a Iiabilittii
(elemente rezistente, regim descrcat de solicit are procedeu numit
uneori redundant simpl), ameliorarea acesteia se poate Iace (aparent
paradoxal) prin mrirea numrului de elemente componente, adic prin
introducerea unor elemente n plus Iat de necesittile strict Iunctionale
(redundant multipl). AltIel spus, pe aceast cale, se poate obtine un
ansamblu mai sigur cu ajutorul unor elemente mai put in sigure. Pentru
Fiabilitate functional in electronic
161
aceasta se prevd n sistem elemente (subansambluri) de rezerv, care
pot s compenseze din punct de vedere Iunctional deIectrile produse la
elementele de baz.
n concordant cu deIinitia din paragraIul 1. 1. 2, n acest subcapitol
se vor expune procedeele de realizare a redundantei, cu unele
exempliIicri din practica sistemelor de reglare a circulatiei/navigatiei.
A Redundanta individual (rezervare pe elemente) const n
Iolosirea unor componente sau subansambluri de rezerv, de regul
identice cu cele de baz. Schema general de Iiabilitate corespunde
structurii sistemelor redundante (5. 2 Iig. 5. 3c), avnd un numr
oarecare (d-1) elemente de rezerv.
n desenele din Iigura 8. 3 sunt redate, simpliIicat, unele aplicatii
ale acestui procedeu.
a) Unittile luminoase ale semaIoarelor electrice utilizate n
dirijarea circulatiei rutiere nc mai au, ca surse de lumin, becuri cu
incandescent. Deoarece deIectrile acestor componente sunt bruste
(2. 2 Iig. 2. 10), prin ntreruperea Iila mentului, exist semaIoare cu 4
unitti luminoase: verde, galben si dou rosu (R). Acestea din urm au o
R
1
R
2
Cm
a)
Cm
R
1
R
2
b)
b
1
b
2
I
c)
I
1
b
c
I
2
d)
RE Red
EA
Ac
(e)
e)
Ac
Red
RE
(e) (i)
Eig. 8.3
8 Redundanta fiabilist / toleranta la defectri
162
Iunctionare simultan n paralel, Iiind comandate prin acelasi element
de comutatie Cm (Iig. 8. 3a). n acest Iel este evitat disparitia indicatiei
cele mai restrictive rosu, prin deIectarea oricrei lmpi (ordinul II al
deIectrii - 8. 1).
Relatia de calcul a Iunctiei de Iiabilitate R
R
pentru ca aIisajul rosu
s se produc,
R
R
R
1
R
2
R
1
R
2
,
se simpliIic deoarece cele dou entitti luminoase (si lmpi) sunt
identice:
R
1
R
2
R;

R
R R(2-R) ~ R,
unde R reprezint Iunctia de Iiabilitate a unei unitti luminoase.
AstIel dac, pentru un anumit interval de timp, se ia R(t ) 0, 7
Iunctia de Iiabilitate pentru indicatia rosu va avea valoarea R
R
0, 91 -
cu o eIicient Iiabilist
3 , 1
R
) R 2 ( R
R
R

R
f
=

= = q
b) n Iigura 8. 3b) este, de asemenea, redat un exemplu practic de
redundant individual si ordin II al deIectrii. La pasajele de nivel cu
calea Ierat (intersectie arter rutier/cale Ieroviar la acelasi nivel),
semnalizarea intersectiei de circulatie rutier se eIectueaz prin
intermediul a dou unitti luminoase rosu R
1
si R
2
actionate n
contratimp (push pull) prin comutatorul Cm care, la rndul su, este
comandat n impulsuri de Iorm dreptunghiular (75 impulsuri/minut).
Eat de exemplul precedent, aceast aplicatie diIer numai prin Iaptul c
interdictia de circulatie rutier se Iace prin indicatie de rosu - clipitor,
pentru a se obtine o at entionare mai eIicient a operatorilor umani -
conductori de vehicule rutiere (grad de pericol mai mare). n domeniul
Fiabilitate functional in electronic
163
strict al echipamentului, relatiile de calcul si eIicienta Iiabilist sunt
aceleasi ca n cazul precedent.
c) Pentru dirijarea navigatiei , n domeniul naval, uneori sunt
utilizate surse de lumin cu lentile cilindrice, si Iocare IiliIorme. Spre a
se obtine o bun Iiabilitate, n anumite aplicatii, se Iolosesc lmpi cu
incandescent, avnd dublu Iilament IiliIorm n acelasi balon de sticl.
Schema simpliIicat este redat n Iigura 8. 3c), unde cu f
1
si f
2
sunt
notate cele dou Iilamente (identice), cu b
1
si b
2
bornele capetelor
separate ale Iilamentelor, iar cu
c
b borna lor comun.
Eiind alimentate sub tensiune electri c constant, curentul de
excitatie I, pentru starea valid, se mparte egal ntre Iilamentele f
1
si f
2
;
dac se ntrerupe unul (oricare) dintre cele dou Iilamente, unitatea
luminoas va continua s Iunctioneze cu ajutorul Iilamentului rmas n
stare valid J. Si n acest caz relatiile de calcul si concluziile de natur
Iiabilist sunt aceleasi ca n exemplele precedente.
d) Tot pe propriettile redundantei individuale se bazeaz si
sistemele de electroali mentare a unor dispozitive sau instalatii utilizate
pentru reglarea circulatiei sau navigatiei . Un astIel de exemplu este
redat n Iigura 8. 3d), cu notatiile:
EA sistem de electroali mentare;
RE reteaua electric de ali mentare n curent alternativ (de regul
n cablu subteran sau subacvatic);
Red redresor pentru obtinerea unui curent electric continuu;
Ac baterie de acumulatori cu o capacitate electric suIicient
pentru a asigura electroalimentarea (la iesirea e) pe o durat prestabilit
(de exemplu 24 ore).
Deoarece bateria de acumulatori Ac Iunctioneaz n regi m tampon
(este cuplat permanent n paralel la bornele de iesire ale redresorului
8 Redundanta fiabilist / toleranta la defectri
164
Red), aceasta asigur alimentarea la iesire ( e) pentru intervalul de timp
prevzut, n conditii de ntrerupere a retelei RE sau de deIectare a
redresorului Red.
Pe baza graIului aIerent (Iig. 8. 3e), se pot scrie relatiile Iunctiei de
Iiabilitate a electroalimentrii EA (structuri neuniIorme - 5. 3. 3):
R
EA
R
RE
R
Red
R
Ac
R
RE
R
Red
R
Ac
Deoarece bateria de acumulatori Ac are Iiabilitatea cea mai bun
(Iat de reteaua electric RE, respectiv Iat de redresorul Red), iar
Iunctiile de Iiabilitate Iiind mrimi probabilistice, rezult c sunt
valabile inegalittile:
R
EA
~ R
Ac
~ R
RE
R
Red
care expri m, calitativ, sporul de Iiabilitate prin acest procedeu de
electroali mentare Iat de cele dou modalitti mai simple: numai retea
electric RE cu redresor Red sau numai baterie de acumulatori Ac.
B Redundanta general (rezervare pe sistem) este caracterizat
prin existenta unuia sau mai multor sisteme/susbsisteme de rezerv,
Iiecare dintre ele avnd, de asemenea, o structur serie ca si sistemul de
baz (5. 3. 2 Iig. 5. 6). n cazul general vor exista ( d-1) sisteme de
rezerv.
Ca exemplu de rezervare pe sistem, poate Ii dat radioIarul de
directie pentru aterizare dup instrumente ILS (Instruments Landing
Svstem); la captul opus al pistei de aterizare si n prelungirea axei
longitudinale a acesteia sunt montate dou astIel de radioIaruri
(identice), unul Iiind cel de baz, iar cellalt rezerva sa.
n practic pot Ii ntlnite si situatii pentru care structura de
Iiabilitate este neuniIorm, ceea ce nu schi mb Iondul problemei.
Fiabilitate functional in electronic
165
C Redundanta combinat (rezervare mixt) const n utilizarea,
n cadrul aceluiasi sistem, att a redundantei individuale ct si a
redundantei generale. n acest caz schema de Iiabilitate are alura celei
din Iigura 5. 7 5. 3. 3.
D Redundanta permanent (rezervare activ) se realizeaz prin
conectarea unittilor de rezerv la cele de baz pe tot intervalul de
Iunctionare, toate elementele (de baz si de rezerv) avnd acelasi regim
de lucru (exemplele din Iigura 5. 3 - 5. 2). Prin Iaptul c elementele de
rezerv Iunctioneaz concomitent cu cele de baz si n aceleasi conditii
de solicitare, redundanta permanent se mai numeste si rezervare cald
sau rezervare prin conectare permanent. Acest procedeu de rezervare
este simplu si economic, ns prezint dezavantajul c la deIectarea unui
element (subansablu, sistem etc. ) se produc variatii de rezistent
electric, reactant sau impedant, ceea ce conduce la modiIicarea
regi murilor de solicitare ale celorlalte elemente si creeaz (n anumite
cazuri) conditiile declansrii unei deIectri n avalans (2. 1).
O astIel de rezervare activ este aplicat si n cazul sistemului de
electroali mentare (Iig. 8. 3d), unde bateria de acumulatoare Ac este
conectat n permanent la iesirea redresorului Red (regi m tampon). Se
observ c aparitia unei deIectri prin scdere de parametru |-| n
circuitul de iesire din redresorul Red, sau n bateria de acumulatoare Ac,
poate provoca un proces de deIectare n avalans.
E Redundanta succesiv (rezervare pasiv) const n conectarea
unittilor de rezerv n locul delor de baz numai dup deIectarea
acestora; se mai numeste si redundant prin nlocuire, rezervare rece sau
rezervare prin conectare temporar. n Iigura 8. 4a) este artat o astIel
de situatie: sistemul de baz S
1
urmeaz a Ii nlocuit , n momentul
deIectrii, de ctre elementul S
2
(de rezerv).
8 Redundanta fiabilist / toleranta la defectri
166
Aceast nlocuire se Iace cu ajutorul elementului u - care se numeste
element (dispozitiv) de supraveghere si comutare. Deoarece n operatia
de trecere de la elementul (sistemul) de baz la elementul (sistemul) de
rezerv intervine (intr n Iunctiune) elementul (sistemu l) u, este
evident c Iiabilitatea global va depinde si de Iiabilitatea acestuia.
Presupunnd c acest element, n starea sa normal, are o inIluent
neglijabil asupra Iunctionrii elementului de baz S
1
(ceea ce n
practic, uneori, se ntmpl), schema structural de calcul Iiabilist
corespunde celei din Iigura 8. 4b), elementul u Iiind considerat att prin
circuitul de comutare de la intrare u
i
ct si prin circuitul de iesire u
e
.
n aceste conditii, considernd graIul din Iigura 8. 4c), pentru
Iunctia de Iiabilitate rezult expresia:
R R
1
R
0
R
2
R
1
R
0
R
2
Trebuie amintit Iaptul c probabilittile R
1
, R
2
i R
0
sunt Iunctii de
timp, iar solicitarea elementelor respective variaz, de la unul la altul,
pe msura trecerii timpului (2. 2).
Pentru orice valoare a timpului, cu exceptia t 0 si t , Iunctia
R ndeplineste conditi ile (1) si (2) :
S
1
S
2
0
i
0
e
(i) (e)
1
2
0
(i) (e)
a) b)
c)
0 2
Eig. 8.4
(i)
(e)
1
Fiabilitate functional in electronic
167
R ~ R
1
, (1)
R R
1
R
2
R
1
R
2
R
D
, (2)
deci aplicnd o redundant succesiv, n practic se obtine oricum o
crestere a Iiabilittii (e vident numai dac R
u
= 0). Deoarece R
u
1,
rezult c Iiabilitatea obtinut prin redundant succesiv este oricum
mai mic dect aceea care se obtine prin redundant permanent D,
utiliznd acelesi elemente, de baz S
1
si de rezerv S
2
.
Prin urmare, n orice moment, indicatorul R satisIace inegalitatea
R
1
R R
D
; pentru Iiabilitate global ridicat, este necesar ca
elementul u s aib caracteristici de nalt Iiabilitate.
n comparatie cu redundanta permanent, cea succesiv oIer
urmtoarele avant aje:
- n momentele de deIectare nu se produc variatii ale parametrilor
de circuit (rezist ent electric, reactant, impedant).
- Elementele de rezerv au o vitez de deteriorare sczut
deoarece, n asteptare, sunt solicitate numai de Iactorii din ambiant.
-Acelasi element poate Ii utilizat pentru a rezerva mai multe
elemente de baz din sistem.
n schimb, acest tip de redundant, necesit dispozitive de
supraveghere si comutare ce reduc eIicienta redundantei, ridic costul
sistemelor si perturb Iunctionarea normal a acestora pe durata de
comutare (n anumite cazuri).
Un exemplu de aplicare a redundantei succesive este ilustrat n
Iigura 8. 5a), prin utilizarea separat a bornelor de intrare la becul de
semnalizare cu dublu Iilament (Iig. 8. 3c).
n regi m normal, pn n momentul producerii deIectrii, este
activat Iilamentul de baz f
b
prin ampliIicatorul de baz A
b
; la aparitia
deIectrii (Iilament, soclu, ampliIicator A
b
etc. ) circuitele de
8 Redundanta fiabilist / toleranta la defectri
168
supraveghere si comutatie la intrare (0
i
) comand, prin ampliIicatorul de
rezerv A
r
, activarea Iilamentului de rezerv f
r
. Datorit bornei separate
b
r
nu mai este necesar o comutare de iesire 0
e
(Iig. 8. 4a).
F Redundanta automat este n acelasi timp si succesiv, avnd
particularitatea c depistarea si nl ocuirea unittii deIecte se Iace
automat cu ajutorul unor dispozitive speciale.
Acest procedeu este larg rspndit n structurile de echipament ale
sistemelor de circulatie si navigatie. Spre exemplu, n structura unui
sistem electronic de balizare luminoas automat a senalelor navigabile
(Iig. 8. 5b) sunt continute urm toarele subansambluri, avnd notatiile:
A
b
, A
r
ampliIicator de baz, respectiv de rezerv;
L
b
, L
r
lmpi cu incandescent, de baz respectiv de rezerv;
C
s c
circuit de supraveghere si comutatie (0
i
).
Dac trebuie activat lampa de baz L
b
, iar aceasta este deIect,
prin circuitul C
s c
este activat ampliIicatorul A
r
care comand lampa de
rezerv L
r
.
b
c
I
r
I
b
b
b
b
r
A
r
A
b
(0
i
)
a)
b)
A
b
C
sc
A
r
L
b L
r
(0
i
) (0
e
)
(0)
L
r
(i)
(e)
L
b
A
r
C
sc
c)
Eig. 8.5
Fiabilitate functional in electronic
169
GraIul de Iiabilitate Iiind cel din desenul 8. 5c), rezult expresia
Iunctiei de Iiabilitate pe sistem:
R R
Lb
R
Cs c
R
Ar
R
Lr
R
Lb
R
Cs c
R
Ar
R
Lr
~ R
Lb
,
diIerenta dintre termenii al doilea si al treilea Iiind pozitiv.
G Redundata manual este, de asemenea, succesiv si se
deosebeste de cea aut omat prin Iaptul c depistarea si nlocuirea
unittii deIecte este executat de ctre operatori umani. n cazul cel mai
simplu operatorul de serviciu manevreaz un comutator si mplu sau
complex 0 (Iig. 8. 4a, b), cu ajutorul c ruia izoleaz (Iunctional) sist emul
de baz S
1
si introduce n Iunctiune sistemul de rezerv S
2
(valid).
H Redundanta programat (temporizat) se realizeaz prin
trecerea pe unitatea de rezerv dup un anumit timp de Iunctionare,
dinainte stabilit pentru unitatea de baz. Acest tip de redundant, cu
utilizri mai reduse n practic, este Iolosit acolo unde nu sunt conditii
de aplicare pentru redundanta automat (F) sau manual ( G).
I Redundanta maforitar (selectiv) repr ezint un caz particular
al redundantei permanente. Schema general corespunde celei din Iigura
8. 6a), existnd un numr total L 2n-1 elemente, de regul identice, si
un subsistem (dispozitiv) de decizie SSD (voter).
Eunctionarea sistemului, n ansamblu, este considerat ca Iiind
corect dac se obtine acelasi tip de rspuns (1. 2. 1) la majoritatea
iesirilor elementelor (1, 2, . . . , l, .. . , L); rezult c, spre a nu exista
incertitudine, L trebuie s Iie impar: starea de Iunctionare nu este
aIectat dac, din cele 2n-1 canale, Iunctioneaz cel putin n canale (n
Iiind un numr ntreg). n literatura de specialitate aceast structur de
redundant, cu numeroase si importante aplicatii, este ntlnit sub
abrevierea NMR (N- Modular Redundancv).
8 Redundanta fiabilist / toleranta la defectri
170
Dac, teoretic, numrul total de elemente L poate Ii orict de mare,
n cadrul sistemelor cu mare rspundere Iunctional acest numr
depseste rareori ciIra 4, deoarece la valori mari subsistemul de decizie
SSD trebuie dezvoltat corespunztor, ceea ce conduce la o Iiabilitate
redus a acestuia (5. 1). Acest aspect va Ii dez voltat si aproIundat
ulterior n lucrare. Pentru moment trebuie retinut Iaptul c, n Iinal,
Iiabilitatea ntregului sistem depinde decisiv de aceste structuri de
decizie, aspect extrem de i mportant dac se pune problema aparitiei
unor rspunsuri Ialse (1. 2. 3).
ntruct studiul acestor structuri se va Iace n alte capitole, n
diagrama graIurilor aIerente (Iig. 8. 6b), zona subsistemului de decizie
SSD este redat prin arce cu linii ntrerupte.
n implementri uzuale, cea mai larg rspndire o are varianta ,2
din 3: L3, n2. Aceast variant, denumit si TMR Triple Modular
Redundancv, are structura de graI redat n Iigura 8. 6 c), iar analiza
strilor de subsistem valid (J ), respectiv nevalid ( J ), se poate eIectua
(sintetic) si prin intermediul celor expuse n tabela 8. 1.
S
S
D
1
2
:
:

L
:
:
:
1
3
2
(i)
(e)
(SSD)
b)
c)
a)
(i)
(e)
1
2
l
L
(SSD)
Eig. 8.6
Fiabilitate functional in electronic
171
Tab. 8. 1
Parcurgnd toate strile posibile,
din punct de vedere Iiabilist, se
observ c buna Iunctionare de sistem
este asigurat (J) chiar dac se
deIecteaz unul (oarecare) dintre cele
trei subsisteme (1; 2; 3). n aceast
categorie nu intr subsistemul SSD,
deoarece acesta are rolul de a decide, logic, dac semnalul obtinut la
iesire (e) este rezultatul unei Iunctionri corecte la nivel mac roscopic
(din punct de vedere I unctional).
1 Redundanta cu multiplicitate reprezint, n Iapt, o extindere a
redundantei majoritare (I) ; Iunctionarea sistemului este asigurat dac
dintre cele L canale (Iig. 8. 6 b) Iunctioneaz un anumit numr k L .
Numrul k se numeste ordin de multiplicitate (pondere) si care, evident,
are valoarea minim egal cu 2.
K Redundanta glisant (alunectoare ) poate Ii n acelasi timp si
individual (A), general ( B), succesiv ( E), respectiv automat ( F).
DiIerenta esential Iat de alte tipuri de redundant const n aceea
c, n acest caz, este admis Iunctionarea sistemului, dup producerea
uneia sau mai multor deIectri ( 1. 1. 2), cu perIormante tehnico
economice inIerioare celor caracteristice Iunctionrii normale. n acest
Iel sistemul va continua s Iunctioneze cu o capacitate redus de
operare: numr mai mic de Iunctiuni ndeplinite, durate mai mari de
executie etc.
Acest tip de redundant este convenabil a Ii utilizat n anumite
aplicatii, deoarece nu necesit dezvoltri importante de echipament: cost
redus, Iiabilitate bun, volum si greutate mini me, mentenant usoar etc.
Subsisteme
Valide (J)
Nevalide
( J )
1 2 3 SSD -
1 2 SSD 3
1 3 SSD 2
2 3 SSD 1
8 Redundanta fiabilist / toleranta la defectri
172
De asemenea, datorit acestor caracteristici, utilizarea sa este
eIicient n anumite situatii, extrem de importante n domeniul
tranporturilor, cnd sistemul se blocheaz sau se deconecteaz automat,
oprind procesul. Acest procedeu, cunoscut n literatura de specialitate
sub denumirea fail - safe, permite realizarea Iunctiunilor de protectie
prin evitarea producerii unor rspunsuri Ialse si, eventual, transIormarea
acestora n rspunsuri eronate ( 1. 2. 3).
Un exemplu clasic, n acest sens, l constituie utilizar ea releelor
gravitationale ( 7. 1. 1) n sistemele de dirijare a traIicului Ieroviar
(trenuri si metrouri), unde procesul de circulatie se desIsoar pe baza
unor coduri de vitez.
Deplasarea trenurilor, crora le este caracteristic o cantitate mare
de energie cinetic ( 2 /
2
mv ), se Iace dup indicatiile color aIisate la
luminosemnale:
V verde: liber cu viteza stabilit, luminosemnalul urmtor este
pe indicatia liber;
G galben: liber cu viteza stabilit, pregteste oprirea deoarece
luminosemnalul urmtor ordon oprirea;
R royu: oprire Ir a depsi luminosemnalul (oprire necondi -
tionat).
Prin urmare dac, n urma aparitiei unor deIectri, un
luminosemnal ar aIisa, prin glisare, succesiunea de indicatii:
R G J ,
rspunsul n sistem ar Ii Ials (periculos). De aceea, structurile de
comand ale acestor luminosemnale (elemente de iesire din instalatia de
reglare a circulatiei) sunt astIel proiectate si realizate nct, la
producerea uneia sau mai multor deIectri, s Iie posibil numai glisarea
J G R,
ceea ce conduce la rspuns eronat (Ir pericol - 1. 2. 3).
Fiabilitate functional in electronic
173
n Iigura 8. 7, prin intermediul unei diagrame de spatiu, este redat
modul de glisare a indicatiilor (strilor Iunctionale) la un anumit
luminosemnal care este prevazut cu 4 unitti luminoase: verde J,
galben G, rosu de baza R
b
si rosu de rezerv R
r
.
S-au mai notat cu:
i
J
, i
G
, i
Rb
- intrri de comand ale unittilor luminoase, prin care
acestea sunt activate n regim de Iunctionare normal (n stare valid) ;
v, g, r
Rb
, r
Rr
- variabile logice (booleene) asociate strilor unitti -
lor luminoase (1 stare activ, unitate aprins; 0 stare pasiv, unitate
stins).
W
J
, W
G
, W
Rb
, W
Rr
- Iunctiile logice de comand ale unittilor
luminoase;
i
V
V
G
R
b
i
G
i
Rb
R
r
LS
n
v1
W
V
1
r
Rb
1/0
g1
W
G
1
r
Rb
1
W
Rb
1
r
Rr
1
W
Rr
1
v1/0
g1/0
r
Rr
1/0
LS
n-1
LS
n-1
LS
n-2
r
Rb
1
W
Rb
1
r
Rr
1
W
Rr
1
r
Rb
1/0
r
Rr
1/0
Eig. 8.7
i
Rb
R
b
R
r
8 Redundanta fiabilist / toleranta la defectri
174
LS
n
, LS
n- 1
, LS
n- 2
- luminosemnale amplasate la anumite distante
ntre ele, numerotate cresctor n sensul de deplasare a trenurilor (n
lungul liniei).
Dac la luminosemnalul LS
n
este comandat, de exemplu, activarea
unittii J, iar aparitia deIectrii mpiedic existenta acestei stri
(unitatea trebuie s Iie aprins dar nu este posibil, v 1/0), se produce
un aIisaj prin glisare cu o treapt la unitatea G, care devine activ n
locul celei verde J: g 1; W
G
1.
Dac nici unitatea G nu rspunde corect, indiIerent dac semnalul
de comand provine de la intrarea normal (i
G
) sau din circuitul unittii
J (v 1/0), se produce o alt glisare la unitatea R
b
, care va intra n
Iunctiune: r
Rb
1 ; W
Rb
1.
n situatia n care nici aceasta (R
b
) nu se activeaz, desi acest
lucru ar trebui s se produc (r
Rb
1/0), se alunec la unitatea R
r
care
intr n Iunctiune, cu acelasi continut inIormational rosu ca si la
unitatea de baz; aceast unitate este rezerva propriu-zis a celei de
baz , motiv pentru care nu are o intrare proprie i.
n sIrsit, dac nici aceast ultim unitate (R
r
) de la
luminosemnalul LS
n
, care ar trebui s Iie aprins, dar nu este posibil
(r
Rb
1/0), inIormatia se transIer, cu acelasi continut in Iormational
(rosu), la luminosemnalul precedent LS
n- 1
; aici se reiau, dup caz,
etapele de glisare R
b
R
r
, iar apoi, dac este necesar, se produce un
alt transIer la LS
n- 2
etc. (Iig. 8. 7). Dinamica acestor glisri, obligatorii
n situatia de deIectare, este artat n Iigura 8. 8 unde, n ordonat, s-a
notat cu Af aIisajul color executat la luminosemnale, prin unittile J,
G, R
b
, R
r
.
Dac la momentul t
1
unitatea J se deIecteaz (pct. 1. 1), se produce
glisarea n punctul 1. 2, activnd unitatea G (t > t
1
); dac, ipotetic,
aceast unitate si celelalte dou (R
b
, R
r
) ar Ii deIecte, n punctul 1. 4 se
Fiabilitate functional in electronic
175
produce transIerul la unitatea R
b
de la luminosemnalul precedent (LS
n- 1
),
luminosemnalul propriu (LS
n
) rmnnd Ir aIisaj (complet stins
pct. 1. 5).
La Iel se produc glisri dac deIectarea, produs instantaneu, apare
la nivelul G n momentul t
2
(pct. 2. 2 2. 3 2. 4 2. 5), la nivelul R
b
n
momentul t
3
(pct. 3. 3 3. 4 3. 5), sau la nivelul R
r
n momentul t
4
(pct. 4. 4 4. 5).
IndiIerent de evolutia anterioar, transIerul de inIormatie
restrictiv (rosu oprire neconditionat) de la un luminosemnal la altul
(n sensul invers celui de circulatie), se produce la nivelul R
r
(eveni ment
marcat cu sgeat trasat cu linie dubl ntrerupt Iig. 8. 7 si 8. 8).
Trebuie retinut si Iaptul c, n conditii ceva mai putin dure a unei
circulatii Ieroviare, se renunt la nivelul R
r
(reducere de echipament),
astIel c transIerul ntre luminosemnale se Iace la nivelul R
b
(dispar
pct. 1. 4 2. 4 3. 4 4. 4 din diagrama de timp Iig. 8. 8). Aceast
redundant glisant (redus) este aplicat la metrouri si la unele ci
Ierate.
V
G
R
b
R
r
Af
t
1
t
2
t
3
R
b
t
4
1.2
1.1
1.3
1.4
1.5
2.2
2.3
2.4 4.4
2.5
3.3
3.5
3.4
4.5
R
b
R
b
R
b
Eig. 8.8
t
0
8 Redundanta fiabilist / toleranta la defectri
176
Pe de alt parte epuizarea Iiabil ittii prin glisare reprezint
evenimente rare; n practic este putin probabil ca un luminosemnal s
ajung n stare complet stins, aceasta si datorit activittii de
mentenant proIilactic ( 2. 2 Iig. 2. 11 si 2. 12 ).
Din cauza consecintelor unor rspunsuri Ialse n sistem, chiar si
aceast probabilitate mini m este, practic, redus la zero printr-o
redundant glisant ,total:
LS
n
(J G R
b
R
r
) LS
n- 1
( R
b
R
r
)
LS
n- 2
( R
b
R
r
) LS
n- 3
( R
b
R
r
) etc.
8.3. Toleranta la defectri
Prin aceast proprietate, la nivel de macrosistem, este asigurat
ndeplinirea partial sau total a programului Iunctional prevzut ,
inclusiv n prezenta unor deIectri.
Sistemele n cauz si pot mentine starea valid, Ir interventie
din exterior. DeIectrile care apar la orice nivel (component,
subansamblu etc. ), nu produc eIecte negative, din punct de vedere
Iunctional, dar reduc rezerva de Iiabilitate a sistemului.
Implementarea tolerantei la deIectri se bazeaz, deci, pe
redundant ( 8. 2) si este mai
usor de realizat dac aparitiile deIectrilor reprezint eveni mente
independente si compatibile.
8.3.1. Sisteme autotestabile
Eunctiunile de autotestare n cadrul sistemelor tehnice sunt
necesare, ca o prim treapt, pentru a se obtine toleranta la deIectri. n
Fiabilitate functional in electronic
177
acest scop se urmreste punerea n evident a producerii deIectrilor,
inclusiv a celor mascate care nu se maniIest la nivel macroscopic.
Dup cerinte, autotestarea poate Ii urmat de identiIicarea
elementului sau subansamblului deIect n cauz, identiIicare n urma
cruia se obtine inIormatie necesar pentru reconIigurarea sistemului
(de exemplu, pentru aplicarea redundantei glisante Iig. 8. 7; 8. 2) sau
pentru activitatea de mentenant deoarece, n marea majoritate a
aplicatiilor, deIectele aprute trebuie nlturate spre a se restabili
nivelul de Iiabilitate normal (i mpus).
n situatiile cele mai simple, autotestarea se realizeaz prin
indicarea strii de deIectare Ir a Ii necesar blocarea procesului (spre
exemplu la desIsurarea, n continuare, a circulatiei sau navigatiei).
Un astIel de caz poate Ii ntlnit la sisteme de prelucrare automat
a inIormatiei, bazat pe procedeul redundantei permanente (Iig. 8. 9 ).
Subsistemele SS
1
si SS
2
sunt identice si opereaz n paralel (on line),
att pentru semnalele primite la intrare (i), ct si pentru cele Iurnizate la
iesire (e). Celelalte notatii au semniIicatiile:
U
B1
M1
U
A2
P2
U
A1
P
1
U
B2
M2
SSV
SS
1
SS
2
(i)
(e)
(e
v
)
v
1 v
2
Eig. 8.9
8 Redundanta fiabilist / toleranta la defectri
178
P
1, 2
procesoare; U
A1, 2
, U
B1, 2
unitti de calcul;
M
1, 2
memorii.
Semnalele pentru veriIicare v
1
si v
2
, provenite din subsistemele
SS
1
respectiv SS
2
, sunt aplicate subsistemului de veriIicare SSJ care, n
cele mai multe situatii practice, ndeplineste Iuntia de comparator logic;
la iesirea de veriIicare (e
v
) se obtine, n permanent, inIormatia cu
privire la starea valid a sistemului sau la starea de deIectare a unui
subsitem (oricare), ca si identitatea acestuia.
Dac n cadrul unui sistem exist si Iunctiuni de protectie, care
impun blocarea procesului la aparitia deIectrilor singulare sau multiple
( 8. 1. ), se recurge la utilizarea unor dubleti Iunctionali; o astIel de
structur este redat n Ii gura 8. 10 a), din care se observ c cele dou
module Iunctionale identice, MI
1
si MI
2
proceseaz semnalele pri mite
la intrarea comun (i).
La iesirea (e) se obtin semnalele procesate prin subsistemul MI
1
,
necesare unor Iunctiuni esentiale ( 1. 2. 1), iar la iesirea de veriIicare
(e
v
) se obtin semnalele de autote stare prin comparare ntre semnalele de
iesire ale celor dou module Iunctionale, n comparatorul C; n cazul
(i)
Mf
1
Mf
2 C
(e)
(e
v
)
a)
b)
(i) (e
v
)
1 2
C
Eig. 8.10
Fiabilitate functional in electronic
179
aparitiei unei necoincidente, semnalele de veriIicare (e
v
) sunt utilizate
ca semnale de comand pentru blocarea procesului (stop) si, n acest Iel ,
se obtine producerea de rspunsuri eronate n locul unora Ialse ( 1. 2. 3).
Prin urmare rspunsul pe sistem, pentru Iunctiunea de protectie,
este corect dac sunt n stare valid toate cele trei subsisteme: MI
1
,
MI
2
, C. Aceast conditionare logic corespunde graIului din Iigura
8. 10b), respectiv relatiei de calcul pentru Iunctia de Iiabilitate n raport
cu rspunsul Ials R
v
(t ).
R
v
(t) R
1
(t) R
2
(t) R
C
(t).
Deoarece modulele Iunctionale Mf
1
si Mf
2
sunt identice, Iunctiile
lor de Iiabilitate vor Ii, de asemenea, identice:
R
1
(t ) R
2
(t) R(t),
iar expresia de mai sus devine:
R
v
(t ) R
2
(t) R
C
(t).
Rezult c pentru Iunctia de Iiabilitate Iat de rspuns Ials sunt
valabile inegalittile:
R
v
(t ) R(t), R
v
(t) R
C
(t)
Pentru acest motiv, n general, semnalul la iesire (e
v
) se anuleaz
n caz de necoincident, n urma comparrii, avnd ca eI ect blocarea
procesului si deci evitarea unui rspuns Ials n sistem.
Mai este de observat Iaptul c aceast structur nu permite
identiIicarea subsistemului deIect (MI
1
sau MI
2
), ceea ce, n anumite
aplicatii, poate Ii un dezavantaj important.
O crestere a Iiabilittii, att pentru Iunctiuni esentiale ct si pentru
Iunctiuni de protectie, se obtine dac se Iolosesc trei module Iunctionale
8 Redundanta fiabilist / toleranta la defectri
180
(MI
1
, MI
2
, MI
3
Iig. 8. 11), cu trei ci de veriIicare (TMR redundant
modular tripl; I - 8. 2).
n acest caz sunt utilizate un subsistem de procesare a datelor SSD
si trei comparatoare C
1, 2, 3
: iesirile de veriIicare (e
v1, 2, 3
), prin semna -
lele Iurnizate, permit identiIicarea automat a modulului Iunctional
deIect.
De asemenea, prin aplicarea procedeului de redundant majoritar
tripl (Iig. 8. 6. c - 8. 2), n varianta ,2 din 3, blocarea procesului la
aparitia unor deIectri se produce numai dac ordinul deIectrii este II
sau III ( 8. 1):
e
v1
e
v2
, e
v1
e
v3
, e
v2
e
v3
, e
v1
e
v2
e
v3
.
Prin aceasta se obtine o bun disponibilitate pentru Iunctionarea
sistemului ( 2. 2), iar mentenanta est e mult usurat: interventia pentru
restabilire nu este strict necesar imediat dup producerea deIectrii, iar
Mf
1
Mf
2
Mf
3
C
1
(
2
C
3
S
S
D
(i)
(c)
Date

v3

v2

v1
Stop
Eig. 8.11
Fiabilitate functional in electronic
181
nlocuirea modulului deIect se Iace ntr-un interval mic de timp
deoarece identitatea acestuia este cunoscut.
n cazul sistemelor complexe, categorie din care Iac parte si cele
de dirijare a traIicului n transporturi (rutiere, Ieroviare, navale, aeriene,
spatiale - 1. 1. 1; Iig. 1. 1), problema autotestrii este de asemenea
complex, rezolvarea sa opti mal necesitnd o analiz riguroas a
caracteristicilor tehnico economice de sistem, ca si a speciIicului
Iunctiunilor n cauz. n pri m analiz, strategia de elaborare a
secventelor de testare se poate Iace plecnd de la nivelul microscopic /
subsistem sau de la nivelul macroscopic / sistem.
A - Strategia start - small presupune nceperea testrii la cel mai
mic modul din sistem astIel nct, secvential, la Iiecare pas de testare s
se realizeze veriIicarea altui modul (Iig. 8. 12).
S-a
identiIicat un
deIect
START
Test B
Test A
STOP
STOP
Sistemul nu are
deIecte
S-a
identiIicat un
deIect
S-a
identiIicat un
deIect
Test N
STOP
STOP
Da
Nu
Da
Da
Nu
Nu
(A.1)
(N.1)
(B.1)
Eig. 8.12
8 Redundanta fiabilist / toleranta la defectri
182
n cadrul acestei strategii se opereaz veriIicarea modulelor de jos,
la nivel orizontal (A. 1 B. 1 . . . N. 1), dup care se trece la nivelul
orizontal superior etc. Aceast strategie prezint avantajul unei
localizri (si identiIicri) relativ rapide a deIectrilor. Dezavantajul
const n aceea c apar unele diIicultti n ordonarea circuitelor
rezultate pentru optimizarea testrii, ndeosebi la sisteme cu structuri de
Iiabilitate neuniIorme (5. 3. 3).
B - Strategia start - big este caracterizat prin Iaptul c procedura
de testare se desIsoar invers Iat de start small : testarea ncepe cu
o portiune mare din sistem; n cazul n care aceasta are o bun
Iunctionare, se testeaz o alt unitate mare etc.
A.2
(A.1)
A.3
Test A.1
Test A.3 Test A.2
S-a
identiIicat
un deIect
S-a
identiIicat
un deIect
S-a
identiIicat
un deIect
Test A.1.2
Test A.1.1
A.2
A.3
STOP Sistemul
este deIect
STOP Sistemul
este deIect
Da
Da
Da
Nu
Nu
Nu
Eig. 8.13
Fiabilitate functional in electronic
183
Dac se detecteaz o deIectare, secventele de test se ramiIic spre
a diagnostica decupajele din ce n ce mai mici, pn la gsirea unui
deIect (Iig. 8. 13). Dup testri secventiale, pe vertical n pri mul modul
mare (A. 1 A. 2 A. 3 etc. ), se trece din nou, la nivel macroscopic
pentru veriIicri n urmtorul modul B, C etc.
Avantajul aplicrii acestui tip de strategie este acela c, n scopul
realizrii unei mentenante preventive, se obtin variantele opti me.
Dezavantajul principal const n aceea c generarea testrii este
complicat si nu se poate aplica deIectrilor multiple ( 8. 1).
n concluzie, la adoptarea strategiei de testare trebuie s se tin
seama de particularittile tehnice, Iunctionale si economice ale
sistmului analizat.
8.3.2. Sisteme reconfigurabile
Posibilitatea de reconIigurare a unui sistem, atunci cnd apar
deIectri, are la baz unele structuri redundante de tip dinamic. Dup
msura n care este realizat, reconIigurarea poate Ii:
- total, cnd se obti ne reIacerea n ntregi me a structurilor
hardware si soItware, pe care sistemul le-a avut naintea
aparitiei deIectrilor;
- partial, dac sistemul revine la o Iunctionare corect pe
ansamblu, dar avnd o capacitate redus de operare.
n cazul reconIigurrii partiale, unele module de echipament
deIecte nu sunt nlocuite; consecinta este c programul Iunctional nu se
poate realiza n ntregi me: unele programe si/sau date se pierd astIel c
unele Iunctiuni, pentru a Ii ndeplinite, necesit durate mai mari dect
cele admisibile.
Aceast proprietate, de reconIigurare, este mai usor de realizat la
sistemele care au o organizare modular, corespunznd structurilor de
8 Redundanta fiabilist / toleranta la defectri
184
Iiabilitate uniIorme ( 5. 3). Pentru a putea Ii realizat, orice
reconIigurare trebuie s Iie precedat de autotestare ( 8. 3. 1).
Utilizarea reconIigurrii reprezint singura solutie n situatia n
care nu este posibil interventia operatorului uman pentru eIectuarea
restabilirii ( reparrii ), cum este cazul
echipamentelor de pe vehicule care se deplaseaz Ir conducere uman:
pilotri automate n circulatia rutier sau Ieroviar, respectiv n
navigatia naval, aerian, spatial.
A - Sistemele reconfigurabile rigide au, n general, structuri
invariabile la nivel de subsistem: subsistemele de baz Iunctioneaz n
regi m on line, iar cele de rezerv n regim off line. Cnd unul sau
mai multe subsisteme dintre cele de baz se deIecteaz, intervine o
nlocuire automat cu unitti de rezerv (redundant automat succesiv
8. 2).
Datorit procedeelor de i mplementare aceste sisteme mai sunt
numite, n literatura de specialitate, sisteme reconIigurabile n regi m de
comutatie, n asteptare (standbv redundancv), autoreparabile etc.
Trecerea de la subsistemele de baz la cele de rezerv se Iace cu
ajutorul unui subsistem de comutatie corespunztor, comandat de
subsistemul de supraveghere.
n desenul din Iigura 8. 14 este redat structura unui astIel de
sistem, structur ce provine din sistemul reconIigurabil descris anterior
n Iigura 8. 9, Iat de care s-au operat unele simpliIicri si modiIicri
necesare.
AstIel subsistemele SS
1
si SS
2
sunt notate SS
b
(baz) si SS
r
(rezerv), iar semnalele de veriIicare (pentru autotestare) v
1
si v
2
devin semnal de comand (Cd) respectiv de control (Ct) pentru
reconIigurare.
Fiabilitate functional in electronic
185
ReconIigurarea este comandat si controlat prin subsistemul
auxiliar SS
aux
care, la rndul su, este compus din dou prti:
SS
vc
subsistemul de veriIicare si comand a comutrii;
SS
c
subsisteme de comutatie, comandat prin semnalul de
comutare S
c
(Iigurat prin sgeat dubl cu lin ii ntrerupte).
n momentul n care se deIecteaz subsistemul de baz SS
b
se
modiIic n mod adecvat semnalul de comand (Cd), modiIicare
procesat de subansamblul SS
vc
care genereaz, n consecint, semnalul
de comutare S
c
. n urma comutrii este izolat subsistemul de baz SS
b
si se activeaz subsistemul de rezerv SS
r
, care astIel intr n regim de
Iunctionare on line.
Tot pe baza unor reconIigurri rigide Iunctioneaz si sistemele
automate de reglare a circulat iei Ieroviare cu redundant glisant (K
U
A1
P
1
U
A2
P
2
SS
vc
(SS
b
) (SS
r
)
(i)
(e)
(Cd) (Ct)
(SS
aux
)
SS
c
Eig. 8.14
on - line off - line
S
c
8 Redundanta fiabilist / toleranta la defectri
186
8. 2). Din unele motive ce tin de speciIicul cii Ierate, nu este posibil
reconIigurarea cu subsisteme de rezerv identice cu cele de baz: volum
mai mare, practic imposibil de montat pe poduri metalice, tunele, n
statii pe spatiul dintre linii etc., dar si de cost. De aceea sunt de preIerat
reconIigurri n structuri existente, cu grad Iunctional mai redus,
caracterizat prin rspuns eronat, ns practic imposibil de a se produce
rspuns Ials.
Relund o exempliIicare anterioar ( 8. 2; Iig. 8. 7 8. 8), Ir a
repeta aspectul Iunctional va Ii analizat, n continuare, modul de
reconIigurare rigid (Iig. 8. 15).
Pentru o expunere adecvat, selectiv, schema electric este
simpliIicat la mini mum necesar, avnd notatiile:
V unitate luminoas verde, parcurs de curentul I
V
, Iiind aprins
n stare normal;
R
V
(L) bobin de excitatie a releului de supraveghere pentru
unitatea V (n stare normal are armtura atras, deoarece I
V
= 0);
R
V
(k) contacte ale releului R
V
; acestea sunt deschise n stare
normal (I
G
0);
V
R
V
(L)
G
R
G
(L)
R
V
(k)
S
v
S
g
I
V
I
G
(R)
( + )
( - )
Eig. 8.15
Fiabilitate functional in electronic
187
G unitate luminoas galben ;
S
v
- semnal de comutare a luminosemnalului de pe unitatea V pe
unitatea G;
R
G
(L) bobina de excitatie a releului de supraveghere pentru
unitatea G;
S
g
- semnal de comutare a luminosemnalului de pe unitatea G pe
unitatea R (rosu).
n stare normal, circulatia Iiind permis cu viteza stabilit,
curentul de alimentare I
V
, care parcurge Iilamentul lmpii respective,
determin starea activ de semnalizare, stare precizat prin cele 4 ,raze
asociate cercului aIerent. Tot curentul I
V
, care parcurge nIsurarea de
excitatie a releului R
V
(L) , produce un cmp magnetic de atragere a
armturii gravitationale ( 7. 1. 1). La rndul su, aceasta act ioneaz
asupra contactelor propriului releu R
V
(k), mentinndu-le n stare
deschis (I
G
= 0), iar unitatea G este stins.
Dac, dintr-o cauz oarecare, curentul I
V
se anuleaz sau scade sub
limita admisibil (determinat de valoarea de revenire pentru releul R
V
), starea valid nceteaz (apare deIectarea) si releul R
V
se dezexcit
gravitational, aprinzndu-se unitatea G n locul celei V (I
V
= 0; I
G
= 0).
Aceasta are, ca eIect, excitarea releului R
G
, de care depinde semnalul
de comutare S
g
la unitatea (R) etc. IdentiIicnd aceste elemente cu cele
din structura general (Iig. 8. 14) se constat c releele de supraveghere
reprezint subsistemul auxiliar SS
aux
:
- nIsurrile de excitatie (L) au rolul de veriIicare si comutare
(SS
vc
), cmpul magne tic Iiind Iorma sub care se produce semnalul S
c
;
- contactele acestor relee execut comutatia propriu-zis (SS
c
),
eIectul Iiind glisarea pe unitatea luminoas inIerioar.
Eiabilitatea glisrii depinde de Iiabilitatea releelor respective, care
au nIsurri de excitatie si contacte. Dac se noteaz cu:
8 Redundanta fiabilist / toleranta la defectri
188
R
L
(t) Iunctia de Iiabilitate a subansamblului bobin armtur
magnetic mobil;
R
k
(t) Iunctia de Iiabilitate a sistemului de contacte ale releelor,
rezult c Iunctia de Iiabilitate pentru glisare (pe o treapt) are expresia:
R(t) R
L
(t ) R
k
(t ).
Valoarea acestui indicator de Iiabilitate este extrem de ridicat
(tinde ctre unitate ), motiv pentru care, n mod uzual, Iiabilitatea unui
astIel de releu (gravitational, cu contacte argint graIit ) se expri m
prin Iunctia de nonIiabilitate (pe durata de 1 or n regi m de Iunctionare
normal):
. 10 ) ( 1 ) (
13
= = t R t F
Revenind la situatia general (Iig. 8. 14) , supravegherea
Iunctionrii unui subsistem de baz, dup modul de deIectare (prin
crestere sau prin scdere parametric - 6. 1), se poate Iace:
- prin Iormarea semnalului de comutare (S
c
) n intensitate,
corespunznd modului de deIectare dominant prin scdere
parametric (SS
v-
; Iig. 8. 16a);
- prin Iormarea semnalului de comutare (S
c
Iig. 8. 14) n
tensiune, corespunznd modului de deIectare dominant prin
crestere parametric (SS
v
; Iig. 8. 16b).
Pentru simpliIicarea notatiilor si deci si a relatiilor de calcul, mai
departe, se noteaz prin:
b, r elementul de baz, respectiv de rezerv;
v - elementul de veriIicare (testare);
c - elementul de comutare.
GraIul de Iiabilitate (Iig. 8. 16c) este acelasi pentru ambele
variante (Iig. 8. 16a, b); conIorm acestui graI, Iunctia de Iiabilitate a
structurii auxiliare SS
aux
(Iig. 8. 14) are expresia:
Fiabilitate functional in electronic
189
R
aux
R
v
R
c
,
si deci Iunctia de Iiabilitate, pentru ntregul sistem, este:
.
aux r b aux r b sist
R R R R R R R + =
Dac se tine seama de Iaptul c, n general, elementele de baz si
cele de rezerv sunt identice,
R
b
R
r
R ,
expresia de calcul devine:
. R )] R 1 ( R 1 [ R R
aux sist
> + = '
Din aceast expresie se pot pune n evident dou valori limit:
- R
aux
0 . R
s i s t
R R
b
,
caz n care valoarea Iunctiei de Iiabilitate pe sistem este mini m;
- R
aux
1 . R
s i s t
R(2 - R) ~ R
b
,
Iunctia de Iiabilitate pe sistem are valoarea maxim si corespunde
redundantei permanente (D - 8. 2).
a)
SS
b
SS
r
SS
v-
SS
c
SS
b
SS
v
SS
c
SS
r
b)
c)
(i)
(e) b
r
v c
Eig. 8.16
8 Redundanta fiabilist / toleranta la defectri
190
Cu privire la eIicienta Iiabilist a acestui tip de reconIigurare
rigid, se obtine:
), R 1 ( R 1
R
R
aux
sist
f
+ = = q
de unde se vede c, pentru o bun eIicient, este necesar ca
echipamentul auxiliar s Iie (el nsusi) Iiabil, motiv pentru care la
implementarea acestuia se aplic procedee si tehnologii speciale.
Pentru aceasta, n cazul unor sisteme de complexitate redus, este
eliminat echipamentul auxiliar, astIel c glisarea se realizeaz prin
nsusi modul de deIectare si prin structura schemei n cauz.
La unele autovehicule rutiere, ntregul echipament de bord este
alimentat electric de la un alternator triIazat care ncarc permanent
(cnd motorul este pornit), o baterie de acumulatori prin intermediul
unui redresor triIazat n punte.
Schema electric, cu simpliIicrile necesare expunerii, este
reprodus n Iigura 8. 17a) cu notatiile:
X
a
D
1
Y
a Z
a
D
2
D
3 D
4
D
5
D
6
D
1
D
2
D
3
D
4
D
3
D
2
X
a
Y
a
Y
a
(+) R
S
(-)
(+) R
S
(-)
(+) R
S
(-)
X
a
a) b) c)
Eig. 8.17
Fiabilitate functional in electronic
191
X
a
, Y
a
, Z
a
conexiuni la cele trei nIsurri de Iaz ale alterna-
torului;
D
1
, . . . , D
6
diode redresoare;
R
S
rezistenta echivalent a circuitului de sarcin (regulator de
tensiune, baterie de acumulatori, sigurante Iuzibile de protecti e etc. ).
n regi m de Iunctionare normal (stare valid), Iiecare diod
conduce cte o alternant pe Iaz; rezult c, n orice moment, conduc
(simultan) dou diode: cea cu potentialul anodului cel mai pozitiv si cea
cu potentialul catodului cel mai negat iv. Prin urmare, se obtin pe R
S
, n
curent continuu, impulsuri periodice cu un unghi de trecere
) (
3 6
2
radiani
t t
u = = .
Toate cele 6 diode au modul de deIectare dominant prin crestere de
parametru (la limit ntrerupere ntre anod si catod 7. 1. 2; Iig. 7. 1).
AstIel, deIectarea unei singure diode (oricare) determin disparitia
unui singur i mpuls de curent redresat, din cele 6 existente ntr-o
perioad a curentului alternativ triIazic (2 ); rezult c deIectrile de
ordin I (8. 1) conduc la o pri m reconIigurare a sistemului de redresare
cu numai 5 diode, iar eIectul asupra electroali mentrii, la nivel de
sistem, este practic neglijabil deoarece regulatorul de tensiune (inclus n
R
S
) va determina pstrarea unei tensiuni practic constante l a bornele
bateriei de acumulatori (uzual 12V).
Dac ns se produce o deIectare de ordin II, de exemplu la oricare
dintre perechile de diode D
1
D
2
, D
3
D
4
, D
5
D
6
, se produce o alt
reconIigurare rigid, mai proIund dect cea analizat anterior. Acest
aspect este redat n Iigura 8. 17b), pentru situatia n care s-ar deIecta
(simultan) diodele D
5
si D
6
. Structura care rezult este aceea a unui
redresor monoIazat dubl alternant cu punte clasic de 4 diode.
8 Redundanta fiabilist / toleranta la defectri
192
EIectul negativ asupra circuitului de sarci n R
S
este compensat, ca
si n cazul precedent, de ctre regulatorul de tensiune care, acum, va
Iunctiona ntr-un regi m de reglare mai adnc.
n Iine, dac s-ar produce deIectarea simultan a 4 diode (de
exemplu, D
1
D
4
D
5
D
6
), ceea ce corespunde ordinului IV al deIectrii,
se realizeaz o redresare monoIazat monoalternant, iar structura
reconIigurat este Ioarte simpl (Iig. 8. 17c). n acest caz regulatorul de
tensiune va avea o Iunctionare n regim ncrcat, la Iel si diodele rmase
valide (D
2
si D
3
).
Solicitarea intens asupra acestora va conduce, ntr-un interval
relativ mic de timp, la deIectare (tot prin ntrerupere ntre anod si
catod). Acum apare pericolul deIectrii n avalans ( 2. 1), motiv pentru
care toate cele 6 diode sunt supradi mensionate, Iat de o Iunctionare
normal (valid), prin stabilirea unui curent nominal redresat de 30A /
diod.
Analiza expus cuprinde numai unele exempliIicri pentru ordinele
de deIectare I, II, IV; procednd n aceeasi modalitate de analiz, se va
constata existenta si a altor ordine de deIectare: III, V, VI.
B - Sistemele reconfigurabile flexibile, au caracteristic Iaptul
esential c, n structura lor, contin dou sau mai multe subsisteme
(module) identice (cu aceleasi Iunctiuni), o parte dintre ele Iiind active,
iar o alt parte n asteptare (pasive). La aparitia deIectrilor, prin
reconIigurare, se realizeaz o nou distribuire Iunctional ntre cele
dou categorii de echipament, astIel nct Iunctionarea la nivel de
sistem s nu Iie aIectat n niciun Iel. n literatura de specialitate
acestea se mai ntlnesc si sub denumirile: sisteme cu reorganizare, cu
autoreparare, cu tolerant la deIectri.
n vederea analizei unei astIel de structuri, se pleac de la sistemul
pentru prelucrare automat a inIormat iei redat n Iigura 8. 9, pentru care
Fiabilitate functional in electronic
193
se pstreaz subsistemele avnd Iunctiune de veriIicare (autotestare),
dar se prevd si alte subsisteme auxiliare. AstIel se ajunge la structura
din Iigura 8. 18, n care s-au utilizat urmtoarele notatii:
SS
1
, SS
2
subsisteme Iunctionale identice n regi m on line sau
off line;
P
1, 2
procesoare;
U
A1, 2
, U
B1, 2
unitti de calcul;
M
1, 2
memorii;
SS
aux
subsistem auxiliar ;
SS
c i nt
subsistem de comutatie interior ;
SS
c ext
subsistem de comutatie exterior ;
SSV subsistem de veriIicare (supraveghere, autotestare) ;
v
1, 2
semnale de veriIicare ;
S
c i nt
semnal de comutare n interiorul sistemului ;
S
c ext
semnal de comutare n exteriorul sistemului ;
U
B1
M
1
U
A2
P2
U
A1
P
1
U
B2
M2
SSV
SS
c int
SS
2
(i)
(e)
v
1 v
2
Eig. 8.18
SS
c ext
SS
1 SS
aux
S
c ext
S
c int
8 Redundanta fiabilist / toleranta la defectri
194
Dup cum se poate observa, n starea normal (valid) a
sistemului, opereaz subsistemul SS
1
cu subansamblurile P
1
U
A1
si
M
1
U
B1
. Dac apar deIectri n aceste subansambluri (oricare), n
Iunctie de localizarea deIectrilor (prin intermediul semnalelor v
1
si v
2
), se comand comutarea automat n:
- exterior, prin SS
c ext
ntre subsistemele SS
1
si SS
2
;
- interior, prin SS
c i nt
si deci conIiguratiile posibile pot Ii :
P
1
U
A1
cu M
1
U
B1
P
1
U
A1
cu M
2
U
B2
P
2
U
A2
cu M
2
U
B2
P
2
U
A2
cu M
1
U
B1
Toate aceste combinatii de Iunctionare posibil, care la unele
sisteme mai dezvoltate cresc numeric n mod corespunztor, conIer
calitatea de Ilexibilitate cu privire la structura nou obtinut, ceea ce
reprezint un avantaj esential al acestor sisteme n raport cu cele
reconIigurabile rigide.
`
Datorit unei dezvoltri cronologice n domeniul Iiabilittii,
problematica redundantei (de echipament) se ntreptrunde cu cea a
sistemelor tolerante la deIectri, astIel c uneori chi ar si terminologia
Iolosit nu coincide n totalitate. Pentru aceasta se impun unele
precizri, Ir a introduce aspecte noi Iat de cele tratate anterior.
- Prin deIinirea ordinului deIectrii ( 8. 1) se introduce o procedur
riguroas, cantitativ si calit ativ, de analiz a Iiabilittii
sistemelor redundante sau tolerante la deIectri.
- Toleranta la deIectri are un pronuntat caracter de sistem (din
punct de vedere Iiabilistic), ceea ce cu privire la redundant nu
Fiabilitate functional in electronic
195
este totdeauna valabil. Spre exemplu, o component (de
echipament) supradi mensionat contribuie la cresterea redundantei
sistemului dar nu-i conIer acestuia calitatea de tolerant la
deIectri.
- Structurile cu redundant static au dezavantajele c deIectrile
sunt mascate, iar aparitia acestora antreneaz probleme de fan
out si fan in.
- La structurile digitale cu redundant dinamic, deIectrile pot
provoca desincronizri ntre subsisteme (module).
- Unele dezavantaje, dintre cele enumerate mai sus, pot Ii evitate
prin utilizarea de structuri hi bride (mixte, statice sau dinamice);
un exemplu, n acest sens, sunt sistemele cu logic majoritar.
- n raport cu existenta rspunsului Ials, redundanta poate Ii
neprotectiv (de exemplu, la sistemele de procesare a datelor Ir
protectie) sau protectiv ( cnd rezultatul operrii este validat sau
nevalidat stop).
- De asemenea, redundanta poate Ii de tip cablat respectiv de tip
programat (prin codare). n cazul structurilor si mple, sistemele cu
logic de tip cablat sunt mai eIiciente (mai Iiabile, la un cos t mai
mic) dec t cele cu logic programat.
- Din cauza existentei unor aspecte contradictorii, nu exist solutii
universal valabile pentru i mplementarea redundantei, respectiv a
tolerantei la deIectri. n Iiecare situatie trebuie analizate
conditiile speci Iice existente, urmrind o eIicient maxi m la un
cost acceptabil; aceste implementri cost.
9 Unele tehnici specifice de reali:are a functiilor de protectie
196
Capitolul 9
Unele tehnici specifice de
realizare a functiunilor
de protectie
n urma celor tratate n capitolele anterioare se desprinde ideea c,
n general, exist 5 ci principale de crestere a Iiabilittii sistemelor:
a) utilizarea unor componente cu rezistent proprie mare la
deIectri (Iiabile);
b) asigurarea unui regi m de solicitri redus (descrcat);
c) adoptarea de structuri cu complexitate redus (scheme simple);
d) Iolosirea redundantei, inclusiv cresterea ordinului deIectrii;
e) aplicarea unor strategii de mentenant corespunztoare.
Desigur toate aceste ci vor Ii utilizate si n activittile de i mplementare
a sistemelor cu mare rspundere Iunctional; dar, n majoritatea
cazurilor, acest lucru nu este suIicient spre a atinge nivelul necesar de
Iiabilitate Iunctional, nivel impus de cerintele severe riguroase ale
proceselor n cauz.
Pentru acest motiv, n astIel de situatii, sunt aplicate unele metode
si procedee speciIice care permit asigurarea unei Iiabilitti Iunctionale
ridicate, la un cost acceptabil. Modul de rezolvare, concluziile si
avantajele obtinute prin adoptarea acestor tehnici, ca si unele
exempliIicri, sunt expuse n continuare.
Fiabilitate functional in electronic
197
9.1. Separarea galvanic
Acest procedeu, de izolare electric ntre diIeritele struct uri de
subsistem, este larg utilizat mai ales n cazul sistemelor dispersate la sol
si la distant, interconectate prin linii electrice n cablu pentru
transmiterea inIormatiei de proces (telecomand, telecontrol, telemetrie
etc. ): transport prin conducte, circulatie rutier, circulatie Ieroviar,
navigatie portuar etc. Pe lng Iaptul c se evit ncrcarea liniei de
transmisiune cu alti curenti electrici (perturbatori) dect cei care
corespund semnalelor utile, prin separare galvanic se evit ca n
circuitele de executie, Ioarte i mportante din punct de vedere Iunctional,
s ajung mri mi duntoare pentru proces, care pot conduce la rspuns
eronat sau si mai ru, la rspuns Ials ( 1. 2).
Acest lucru este relativ usor de realizat dac semnalele (utile) sunt
sub Iorm de i mpulsuri (variabile n amplitudine, Iaz, Irecvent, durat
etc. ), iar perturbatiile nu au caracteristici compatibile (din punct de
vedere Iunctional). Datorit acestui Iapt, se obtine un transIer corect al
semnalelor si se blocheaz trecerea perturbatiilor dintre care, mai
importante, sunt:
- componentele curentului de ali mentare n curent continuu sau n
curent alternativ de joas Irecvent;
- curentii telurici, deosebit de duntori n cazul echipamentelor
amplasate la sol sau n subteran, conectate prin cabluri electrice
subterane sau subacvatice;
- alte semnale electrice provenite din sistemul propriu sau din
sisteme nvecinate, care pot avea eIecte duntoare.
Principala metod de separare galvanic, utilizat larg n practic,
este redat n Iigura 9. 1. a), avnd notatiile:
9 Unele tehnici specifice de reali:are a functiilor de protectie
198
Cd circuite cu semnale de comand;
SG elemente (componente) de separare galvanic;
Ex circuite/subansamble de executie.
Un separator, de orice tip ar Ii, trebuie s transIere semnalele
(utile) cu atenuare mini m si s blocheze, n mare sau n Ioarte mare
msur, trecerea tuturor curentilor perturbatori. Pe de alt parte acesta
inIluenteaz direct Iiabilitatea sistemului, n ansamblul su; de aceea
este necesar ca proprietti le sale Iiabiliste s Iie, pe ct posibil, de
valoare ridicat, deziderat care este atins, n pri mul rnd, prin structuri
simple ( 5. 1).
Cteva astIel de structuri, cu numeroase aplicatii n practic, sunt
redate n continuare.
(Cd)
S
G
(Ex)
C
1
C
2
(Cd) (Ex)
(Cd) (Ex)
Tr
SG
ET
R
I
e
(Ex)
D
I
i
(Cd)
Ea
a)
b)
c)
d)
Eig. 9.1
Fiabilitate functional in electronic
199
- Separarea capacitiv se apl ic ntotdeauna pe ambele Iire ale
circuitului, prin cei doi condensatori C
1
si C
2
(Iig. 9. 1b). n
anumite cazuri, cnd circuitele de comand (Cd) sau circuitele de
executie (Ex) au caracter inductiv, valorile de capacitate se
calculeaz la rezonant, dac aceasta este necesar (de exemplu, la
circuite cu caracteristici n Irecvent de tip band ngust).
Utilizarea condensatorilor este avantajoas deoarece necesit cost
si volum reduse dar, cu rare exceptii, nu satisIace conditiile de transIer
maxi m de putere pentru semnale cu spectru larg de Irecvent.
- Separarea inductiv (Iig. 9. 1c) impune utilizarea unui
transIormator Tr, astIel dimensionat nct s asigure adaptarea
ntre circuitul de comand (Cd) si cel de executie (Ex). De
asemenea are caracteristici bune pentru un spectru relativ larg de
Irecvent, dar prezint dezavantajele unui cost, volum si greutate
mai mari.
- Separarea optic se obtine cu ajutorul optocuplorilor (Iig. 9. 1d).
Semnalul de comand I
i
excit dioda electroluminiscent D
(intrare ) care la rndul su comand, de regul n impulsuri,
Iototranzistorul ET. Separarea galvanic (SG) se realizeaz n
spatiul interior al capsulei, iar semnalul de iesire I
e
are o
amplitudine bun datorit ampliIicrii, Iiind protejat Iat de
perturbatii de orice natur: electrice, magnetice, optice, acustice,
electromagnetice, radioactive etc. Prezint avantajele de cost,
greutate si volum mini me, regimul de Iunctionare Iiind n
impulsuri. Nu poate Ii utilizat n circuite de executie cu regi m de
putere necesitnd, n acest caz, o ampliIicare supli mentar.
9 Unele tehnici specifice de reali:are a functiilor de protectie
200
O aplicatie simpl a separrii inductive este ilustrat n Iigura 9. 2a
unde elementul de executie Ex este cuplat n circuitul de iesire al unui
tranzistor ampliIicator T. Notatiile Iolosite sunt:
I
Cd
curentul de comand n jonctiunea baz emitor a
tranzistorului T;
I
Ex
curentul de actionare a elementului de executie Ex;
+E
a
tensiunea (continu) de alimentare;
Tr transIormator de separare galvanic;
D diod redresoare;
C condensator de netezire a pulsatiilor curentului redresat
(Iiltraj).
Dup cum se poate usor observa din schema reprodus (cu unele
simpliIicri) n Iigura 9. 2b), n urma deIectrii tranzistorului T prin
strpungere n spatiul colector-emitor (mod do minant de deIectare (
6. 1; tab. 6. 1; poz. 50), elementul de executie este actionat intempestiv
prin curentul I
Ex
, care apare si se mentine indiIerent de variatiile
curentului de comand I
Cd
.
I
Cd
I
Cd
D
Tr
(-Ea)
Ea
I
Ex
Ea
-Ea
Ex
I
Ex


C
Eig. 9.2
a)
b)
T
T
Ex

Fiabilitate functional in electronic
201
Spre a se evita aceast situatie, care poate conduce la rspuns Ials,
elementul de executie este separat galvanic de circuitul de alimentare
(E
a
) prin transIormatorul Tr (Iig. 9. 2a). Deoarece tranzistorul T este
excitat n impulsuri avnd o Iorm oarecare (uneori n curent alternativ
sinusoidal), n secundarul transI ormatorului Tr se obtine o tensiune
indus care, redresat si Iiltrat, determin actionarea elementului de
executie prin I
Ex
.
n aceast structur, se observ c deIectarea tranzistorului, n
orice modalitate, conduce la disparitia (sau diminuarea) curentului I
Ex
;
L
i
L
c
L
e
(i) (e)
L
1
L
2
C
1
C
2
L
1
C
1 L
2
C
2
(i) (e)
L
i
L
e
Tr
i
Tr
e
Tr
e
L
si
L
pc
L
c
L
pe
f (H:)
B
u |Np|
u
A
0
V
V
(i)
(e)
ri
rc
re
b)
d)
Eig. 9.3
a)
c)
9 Unele tehnici specifice de reali:are a functiilor de protectie
202
acelasi eIect, de protectie n proces, se produce si n cazul deIectrii
altor componente: dioda D, condensatorul C, nIsurrile transIormato-
rului Tr, conexiuni, suduri etc.
Pe lng separare galvanic, prin util izarea transIormatorului Tr,
se obtine si o adaptare pentru transIer maxi m de putere, adaptare mai
diIicil de realizat n structura din Iigura 9. 2b).
n alte situatii este necesar o separare galvanic multipl, cnd
schema n cauz suIer modiIicri mai proIunde. Un astIel de exemplu l
reprezint Iiltrul pasiv clasic, de tip trece band, cu schema din Iigura
9. 3a), avnd notatiile:
L
i , e
bobine de intrare respectiv de iesire;
L
c
bobin de cuplaj ntre celulele rezonante ale Iiltrului, acordate
n Irecvent prin grupurile L
1
C
1
si L
2
C
2
.
O separare galvanic tripl se obtine dac n locul bobinelor L
i

L
c
L
e
se introduc transIormatoare (Iig. 9. 3b):
Tr
i
transIormator de intrare cu nIsurarea primar L
i
si
secundar L
s i
;
Tr
c
transIormator de cuplaj avnd nIsurrile primar L
pc
si
secundar L
c
;
Tr
e
transIormator de iesire la care L
pe
este nIsurarea pri mar,
L
e
Iiind cea secundar.
Pentru ca, n urma acestei reconIigurri, caracteristicile de transIer
ale Iiltrului s nu se modiIice este necesar ca cele trei transIormatoare
s aib raportul de transIormare 1/1, respectiv:
L
s i
L
i
; L
pc
L
c
; L
pe
L
e
.
n structura pri mar ( Iig. 9. 3a ), deIectarea prin ntrerupere a
bobinelor transversale L
i
L
c
L
e
( 6. 1 tab. 6. 1; poz. 5) nu conduce
la disparitia semnalului la iesire (e), iar selectarea acestuia este
Fiabilitate functional in electronic
203
compromis; acum, n structura reconIigurat (Iig. 9. 3b), orice
ntrerupere la oricare component, inclusiv conexiuni si suduri, conduce
la disparitia semnalului de iesire / rspuns eronat ( 1. 2. 1).
De asemenea deIectrile prin scurtcircuitare la oricare dintre cele 6
nIsurri de transIormator (L
i
L
s i
L
pc
L
c
L
pe
L
e
) determin
anularea semnalului de iesire. n Iinal, scurtcircuitarea condensatorilor
C
1
sau C
2
, respectiv a bobinelor L
1
sau L
2
, conduce la o slbire
puternic a semnalului de iesire. Acest aspect este ilustrat n
caracteristica atenuare-Irecvent a Iiltrului pentru cele dou stri (Iig.
9. 3c):
J stare valid, Ir deIectri, pentru care atenuarea este
mini m n mijlocul benzii de trecere (B) si creste substantial n aIara
acestei benzi (
A
> ); cu
A
s-a notat valoarea admisibil a atenurii
pentru aceast stare ( 1. 2).
J stare nevalid, provocat de deIectare prin scdere parametr ic
(la limit scurcircuitare ( 6. 1).
Dup cum se poate observa, deIectrile provoac o crestere a
atenurii peste valoarea admisibil, pentru un regi m de Iunctionare ce
corespunde unui rspuns corect; aceast atenuare ridicat, att n banda
de trecere ct si n benzile de oprire, determin slbirea semnalului de
iesire (la limit anularea sa) si, prin aceasta, se evit aparitia unui
rspuns Ials ( 1. 2. 3).
Revenind la Iunctiunea vizat, aceea de separare galvanic ntre
intrare (i) si iesire ( e), se noteaz cu E
r i
, E
r c
si E
r e
Iunctiile de
nonIiabilitate ale cror valori sunt egale cu probabilittile de deIectare
prin scdere parametric |-| ale transIormatoarelor respective
(strpungere ntre circuitele pri mare si cele secundare). GraI ul de
Iiabilitate (Iig. 9. 3d) corespunde unei structuri redundante ( 5. 2 Iig.
5. 3d), respectiv deIectrilor de ordin III ( 8. 1 Iig. 8. 1) si, n
9 Unele tehnici specifice de reali:are a functiilor de protectie
204
consecint, Iunctia de nonIiabilitate pentru separare gal vanic tripl
(SG3) are expresiile:
re rc ri /
3
! /
III 3 SC
F F F F F F = = =
=
[
.
Dac, Iat de strpungere, cele trei transIormatoare sunt identice,
F
r i
F
r c
F
r e
F
Tr
,
expresia Iunctiei de nonIiabilitate devine
3
Tr

3 SC
F F = .
Presupunnd c E
Tr
are, pentru un anumit interval de timp,
valoarea de !0
- 2
, rezult:
6 3 2
3 SC
!0 ) !0 ( F

= = ' .
Deci Iunctia de Iiabilitate, pentru Iunctiunea de separare galvanic
tripl, are valoarea:
999999 , 0 F ! R

3 SC
3 SC
= = ' ,
n acelasi interval de timp.
Deci trebuie retinut Iaptul c, n raport cu o anumit Iunctiune, n
structura de Iiabilitate sunt cuprinse numai elementele de care depinde
ndeplinirea Iunctiunii n cauz; datorit acestui Iapt, valoarea Iunctiei
de Iiabilitate (pentru Iunctiunea respectiv) poate s ajung la valori
mari sau Ioarte mari. Acest aspect va Ii reluat ulterior si aproIundat,
constituind diIerenta esential ntre teoria clasic a Iiabilittii (n care
sistemele analizate sunt tratate ca Iiind monoIunctionale) si teoria
Iiabilittii Iunctionale.
Fiabilitate functional in electronic
205
Pe de alt parte mai trebuie observat Iaptul c separarea galvanic
reduce, ntr-o anumit msur, Iiabilitatea la nivel de subsistem. De
exemplu, n cazul Iiltrului cu tripl separare (Iig. 9. 3), scderea
Iiabilittii generale se poate evalua determinnd eIicienta Iiabilist
f
,
ca raport al celor dou Iunctii de nonIiabilitate:
E
a
- pentru varianta primar, Ir separare galvanic (Iig. 9. 3a);
E
b
- pentru varianta reconIigurat (Iig. 9. 3b),
re rc ri
a
b
f
F F F
F
F
= =
deoarece E
a
1 sau R
a
0.
Pe ansamblu, din cauza introducerii unor componente supli mentare
(L
s i
, L
pc
, L
pe
), Iiabilitatea general la nivel de sistem scade; aceast
scdere este si trebuie s Iie compensat printr-o crestere
corespunztoare datorit Iaptului c, prin separare galvani E
a
c, se
asigur si o protectie a componentelor echipamentului din aval: dispar,
sau sunt drastic atenuati, curentii de amplitudine ridicat (mai ales n
tensiune) care pot provoca deIectarea acelor componente.
9.2. Scurtcircuitarea elementelor / subansamblelor
de executie
Spre deosebire de izolarea galvanic, n alte situatii se aplic un
procedeu complementar: scurtcircuitarea prtii de executie n stare
pasiv care, prin activare inoportun, poate duce la rspuns Ials. AstIel
de solutii se aplic la nivel de component sau, mai des, la nivel de
subsistem.
Procedeul Iolosit este ilustrat n desenul din Iigura 9. 4a) cu
notatiile:
Ex element sau subansamblu de executie;
9 Unele tehnici specifice de reali:are a functiilor de protectie
206
Cd contact al circuitului de comand (releu, tast, comutato r,
cheie etc. );
Pr contact din circuitul (subansamblu l) de protectie;
+E
a
tensiune continu de alimentare cu energie electric.
Comanda executiei nu se poate Iace dect prin contactul Cd, dar
mai nainte este necesar, absolut obligatorie, deschiderea contactului
Pr. La anularea comenzii (revenire) cele dou Iaze (secve ntiale) se vor
desIsura invers.
Notnd cu simbolul () starea activ (actionat) si cu ( ) starea
pasiv (revenit) a elementelor de comutatie Cd si P r, Iazele
secventiale, notate I si II, se vor desIsura, n timp, conIorm strilor
precizate n tabela 9. 1. Aceast Iunctionare secvential se obtine prin:
- temporizri corespunztoare n circuitele de comand sau/si
protectie;
- pozitii succesive (obligatorii) ale comutatoarelor de comand
etc.
Tab. 9. 1
Starea
contactelor
Starea elementului
Ex
Cd Pr
Pasiv
Comand pentru actionare:
- Iaz I
- Iaz II

Comand pentru revenire:


- Iaz I
- Iaz II

Fiabilitate functional in electronic


207
n Iigura 9. 4b) este exempliIicat modul de aplicare a acestui
procedeu la comanda unei unitti luminoase pentru aIisaj verde (V) la
luminosemnale circulatie trenuri / metrouri, respectiv la semaIoare
luminoase circulatie rutier.
Eat de desenul precedent aici mai apar, n plus, notatiile:
RV releu de executie pentru aprinderea unittii verde (V);
RV
1
contact de executie al aIisajului verde (V).
Producerea suntrii bobinei de excitatie a releului RV se Iace prin
contactul Pr, exterior subansamblului de executie Ex (marcat prin
conturul cu linii ntrerupte).
-Ac
Ac PA
1
Ex
L
2
L
1
-Ac
Eig. 9.4
c)
(IT)
PA
2
RV
E
a
V
RV
1
Ex Pr
Cd ()
()
()
()
b)
E
a
Cd
Pr
E
a
Ex
a)
()
()
9 Unele tehnici specifice de reali:are a functiilor de protectie
208
Un alt exemplu, n acest sens, este expus n Iigura 9. 4c. Schema
(simpliIicat) a circuitelor electrice de pornire aprindere (PA) a
motorului unui autovehicul rutier contine:
L
1
nIsurarea de joas tensiune a bobinei de inductie (ali mentat
n impulsuri de curent continuu);
L
2
nIsurarea de nalt tensiune (IT) pentru producerea scn -
teilor la bujii;
+Ac tensiunea continu de ali mentare, Iurnizat de bateria de
acumulatori ( 8. 3. 2 Iig. 8. 17);
PA
1
contact de comand pornire aprindere;
PA
2
contact de protectie pornire aprindere;
n stare de repaus motor oprit, prin pozitia cheii de contact,
alimentarea bobinei L
1
(pri mar) este ntrerupt (PA
1
); aparitia
intempestiv a tensiunii +Ac la borna superioar a bobinei L
1
(prin
deIectri n sistemul electric de bord) este mpiedicat datorit
contactului PA
2
(nchis la mas -Ac).
n momentul pornirii motorului, prin rotirea cheii de contact, n
Iaza I, mai nti se deschide PA
2
, iar n Iaza urmtoare II se stabileste
PA
1
(simultan cu actionarea electromotorului demaror). La oprirea
motorului succesiunea de comutare este invers: rotind cheia de contact
n sens invers, spre pozitia de repaus, nti se ntrerupe PA
1
si apoi se
stabileste PA
2
, aducnd astIel subansamblul de executie Ex n stare
protejat.
9.3. Protectii n frecvent
Un alt exemplu de protectie Iunctional Iat de rspuns Ials este
prevenirea eIectelor unor deIectri, de regul partiale, care pot provoca
abateri de Irecvent ale semnalelor utile, abateri ce pot avea un
Fiabilitate functional in electronic
209
caracter periculos pentru aplicatia de proces. AstIel de situatii pot Ii
ntlnite la echipamente care Iunctioneaz pe baza unor coduri de
Irecvent (reglarea circulatiei trenurilor si metrourilor, controlul
automat al vitezei trenurilor etc. ).
Aceast problem este expus, la modul general, n Iigura 9. 5a),
unde s-au notat cu:

0
Irecventa nominal a semnalului discret;
A abaterea admisibil a Irecventei pentru o Iunctionare corect,
Ir deIectri;
B
E
banda de Irecvent n care se poate produce aparitia unor
rspunsuri eronate;
B
E
banda de Irecvent n interiorul creia pot s apar unul sau
mai multe rspunsuri Ialse.
Rezult c orice abatere n Irecvent:
f f f , f f f
0 E 0 F
+ > <
poate provoca un rspuns necorect (din punct de vedere Iunctional),
Iiind necesar evitarea n Ioarte mare msur a acelor abateri care pot
provoca rspunsuri Ialse.
Aparitia intempestiv a unor componente de semnal, n practic,
este mai probabil n banda superioar de Irecvente din cauza
distorsiunilor neliniare (n circuite cu componente active). Aceste
distorsiuni se produc atunci cnd unii parametri de circuit, datorit
deIectrilor partiale sau totale ale unor componente (att active ct si
pasive), conduc la un regi m de Iunctionare neliniar.
AstIel, de exemplu n cazul cel mai simplu, dac un semnal (
0
)
care are o Iorm de und sinusoidal este deIormat, n circuitul
respectiv vor aprea componente, tot sinusoidale, n raport armonic:
9 Unele tehnici specifice de reali:are a functiilor de protectie
210
n Iiind un numr ntreg pentru care amplitudinea devine neglijabil. Din
acest motiv, la sistemele respective, rspunsurile eronate se plaseaz n
banda superioar (B
E
), iar cele Ialse n banda inIerioar (B
E
).
Un exemplu, n acest sens, este codul de Irecvent utilizat n
cadrul unui sistem de control automat continuu al vitezei trenurilor (Iig.
9. 5b). Valorile corespondente dintre semnalul modulator de Irec vent
m
si treptele de vitez-limit, pe care le poate avea trenul, sunt astIel
stabilite nct la Irecvente mai mari s corespund viteze mai mici.
n acest mod, dac la distorsionarea neliniar a semnalului
m
10
Hz se produce aparitia componentelor armonice cu Irecventele de 20 /
I
0
-AI I
0
I
0
AI
B
E
B
E
Af Af
v (km/h)
STOP STOP
10 15 22 29 36
210 160 110 70 30
II I
C
n-1
C
n
C
2
C
1
( Cm )
CM
I
m
(Hz)
a)
b)
c)
Eig. 9.5
I
L
0
0 0 0
nf , ...., , f 3 , f 2
Fiabilitate functional in electronic
211
30 / 40 Hz, n circuitele de executie se va regla automat viteza pn la
treptele corespondente: 110 / 70 / 30 km/h n loc de 210 km/h (rspuns
eronat n loc de rspuns Ials - 1. 2. 3). De asemenea pentru alte
componente cu Irecvente situate n aIara benzii de lucru (10 ~ 36 Hz),
intervine sistemul de Irnare automat STOP.
n Iigura 9. 5c) este artat modul de realizare tehnologic a acestui
procedeu, n structura unui echipament al sistemului de control automat
discontinuu al vitezei trenului, aplicat si la metrou. Interactiunea sol -
bord se realizeaz prin intermediul unui cuplaj magnetic ntre circuite
rezonante, avnd bobine cu miez magnetic deschis, codul utilizat Iiind
de Irecvent. n schema, mult simpliIicat, apar not atiile:
L bobin cu miez magnetic din Ierit tip cilindru (deschis);
C condensatori de acord la rezonant a bobinei L (cu conectare
Iix de grup n paralel);
CM cmp magnetic de interactiune sol bord;
(Cm) subsistem de comutare, cu transmisie de la luminosemnalul
curent de aIisaj pentru regimul de circulatie;
I, II grupuri de condensatori care aduc bobina L la acord prin
conectare de grup.
Aici, nainte de a aborda problema protectiei prin abatere de
Irecvent, sunt necesare urmtoarele precizri (succint):
- sistemul de comutatie (Cm) este realizat cu relee gravitationale
si contacte argint graIit;
- comutatia de grup se Iace astIel nct Irecventa de rezonant s
basculeze de la 1 kHz la 2 kHz si invers:
; 2
2
1
; 1
) ( 2
1
02
01
kH:
LC
f
kH:
C C L
f
II
II I
= =
=
+
=

9 Unele tehnici specifice de reali:are a functiilor de protectie


212
- Irecventa de 1 kHz este comandat de la luminosemnalul curent
de circulatie (prin Cm) si corespunde inIormatiei de aIisaj galben
(G 8. 2; Iig. 8. 7 8. 8), cu aceeasi semniIicatie privind regi mul
de circulatie;
- Irecventa de 2 kHz, comandat de asemenea prin Cm, corespunde
inIormatiei de aIisaj rosu (R) si reprezint mesajul de oprire
neconditionat (STOP).
n aceast aplicatie protectia Iat de rspuns Ials este dubl: la
nivel de component (un condensator) si la nivel de subsisteme ( grup de
condensatori).
Acest aspect, la nivel de component (inclusiv terminalele,
sudurile si conexiunile sale 6. 1; tab. 6. 1. : poz. 16 si 42), se pune n
evident prin expresia relatiei de rezonant n circuitul echivalent,
pentru Irecventa de 1 kHz (G).
Toate condensatoarele sunt n stare valid:
_
_
=
=
= = = =
n
! i
i t
t
n
! i
i
0!
C C , kH: !
LC 2
!
C L 2
!
f

.
Dac se deIecteaz un condensator (prin crestere parametric ,
ntrerupere):
0!
! t
0!
f
) C C ( L 2
!
f >

= '

.
La cel de al doilea condensator deIectat (dup pri mul):
02 0!
2 ! t
02
f f
) C C C ( L 2
!
f > ' >

= ' '

.
Continund rationamentul pn cnd, ipotetic, prin reducerea capacittii
de grup (n salturi) se ajunge la valoarea C
I I
(corespunztoare Irecventei
Fiabilitate functional in electronic
213
de rezonant de 2 kHz), inIormatia de proces, la nivel de sistem, va
corespunde aIisajului rosu (R n loc de G), rspunsul n cauz Iiind
eronat.
Acelasi eIect se produce, dar numai n salt unic, dac se deIecteaz
(tot prin ntrerupere) sistemul de comutatie (Cm ); este, deci, deconectat
ntreg grupul de condensatori C
I
, rmnnd activ numai condensatorii
din grupul C
I I
:
kH:
LC
f
II
2
2
1
02
= =

.
Se mai observ c grupul de condensatori C
I I
este activ indiIerent
de starea sistemului de comutatie (Cm); Iiind conectat n permanent,
probabilitatea ca s se realizeze, n circuit, Irecventa de rezonant la 2
kHz (R) este mai mare dect la 1 kHz (G) si prin aceasta rezult
eIicienta procedeului.
De asemenea se mai poate usor observa c, n aceast aplicatie,
prin abatere de Irecvent sunt Iolosite propriettile sistemelor
reconIigurabile ( 8. 3. 2).
9.4. Protectii prin electroalimentare
Deoarece, n echipamente, tensiunea de electroalimentare este
comun tuturor etajelor, sau marii majoritti a acestora, este posibil ca
producerea anumitor deIectri s aib drept consecint penetrarea
intempestiv a acestei tensiuni n puncte sau zone ,interzise; unele pot
determina producerea unor rspunsuri Ialse ( 1. 2).
Spre a se evita aceast situatie sunt aplicate unele procedee prin
care sunt eliminate, partial sau total, eIectele nepermise ale acestor
tipuri de penetrri.
9 Unele tehnici specifice de reali:are a functiilor de protectie
214
Un astIel de procedeu se bazeaz pe inversarea polarittii tensiunii
de electroali mentare (general, comun); n acest Iel circuitelor sau
etajelor protejate li se aplic o alimentare cu polaritate inversat.
Structura unui circuit inversor de polaritate, cu Iunctionare n
regi m de i mpulsuri, este redat n Iigura 9. 6a), avnd notatiile
urmtoare:
Ea tensiunea de alimentare (pozitiv Iat de masa montajului);
I
b, c
curentii de baz respectiv de colector ai tranzistorului T;
R rezistor n emitor;
D
1
- diod de ncrcare a condensatorului C
1
;
I
b
I
c E
a
U
e
T
()
()
()

R
D
1
D
2
C
2
C
1


T
pr
I
c
I
b
U
e
U
eo
t
0
0
0
a)
Eig. 9.6
()
b)
t
t
Fiabilitate functional in electronic
215
D
2
diod de descrcare a condensatorului C
1
pe condensatorul C
2
;
U
e
tensiunea de iesire (negativ Iat de masa montajului).
n diagramele de semnal (Iig. 9. 6b) se obse rv c la Iiecare i mpuls
(I
b
) pri mit n jonctiunea baz emitor a tranzistorului T, care
Iunctioneaz n regi m de comutatie, se obtine ncrcarea
condensatorului C
1
prin dioda D
1
. n pauzele dintre impulsuri C
1
se
descarc pe condensatorul C
2
prin dioda D
2
care, acum, se deschide.
ncrcarea progresiv a condensatorului de la iesire C
2
este un
eIect de pompare electronic: la Iiecare perioad (a semnalului de
intrare I
b
) C
1
se ncarc si cedeaz o parte din cantitatea de electroni
(acumulat) condensatorul ui C
2
, care astIel integreaz impulsurile
pri mite si Iurnizeaz tensiunea de alimentare U
e
cu polaritate inversat
(n raport cu E
a
):
e
2
C
!
C
U U U = ,
deoarece condensatorul C
1
are o capacitate mai mic dect condensa-
torul C
2
(C
1
C
2
).
Totodat, n Iunctie de raportul capacittilor C
2
/C
1
se obtine si un
eIect de protectie Iat de eventuale impulsuri perturbatoare, impulsuri
care se pot propaga pe circuitul de intrare odat cu semnalul I
b
; acestea
neIiind periodice sunt singulare, nu pot i nIluenta eIectul de pompare
electronic astIel nct s se ating pragul de tensiune inversat U
eo
Acest prag reprezint tensiunea mini m de alimentare a etajului
(subsistemului) care trebuie s Iie protejat. Cu ct raportul C
2
/C
1
este
mai mare cu att durata de protectie T
pr
este mai lung (Iig. 9. 6b), si
deci gradul de protectie mai ridicat.
n acelasi ti mp sursa tensiunii U
e
, Iiind local - proprie unui
anumit etaj sau subsistem, practic este imposibil ca aceasta s
alimenteze intempestiv alte unitti care, n mod normal, sunt conectate
9 Unele tehnici specifice de reali:are a functiilor de protectie
216
la sursa general de tensiune; la rndul su tensiunea inversat este
incompatibil cu cea general (+E
a
).
Totusi este de observat c aplicarea unui astIel de procedeu este
mai putin eIicient la puteri mari (de alimentar e) din cauza
randamentului redus, problem care nu se pune pentru puteri mici sau
Ioarte mici.
Tot o bun protectie, prin electroalimentare, la puteri mai mari
ndeosebi pentru circuite de executie, se obtine prin cresterea valoric a
tensiunii Iurnizate utiliznd un invertor ridictor de tensiune (Iig. 9. 7).
n acest desen sunt Iolosite notatiile:
T tranzistor ampliIicator n putere;
I
b
, I
c
curentii n baz, respectiv n colector;
R rezistor n emitor (pentru limitarea curentului prin tranzistor);
Tr transIormator ridictor n tensiune, avnd nIsurrile pri mar
L
p
si secundar L
s i
;
I
b
T
R
Tr
Lp
Ls
I
c
PR
C
E
a
()
()
U
e
t
I
b
U
e
0
0
U
eo
T
Ex
a)
b)
Eig. 9.7
t
Fiabilitate functional in electronic
217
PR punte redresoare;
C condensator de Iiltraj al tensiunii redresate.
Dup cum se vede din diagramele redate n Iigura 9. 7b),
impulsurile de la intrare (I
b
) sunt ampliIicate n putere (I
c
) si ridicate n
tensiune (L
s
). AstIel se obtine o tensiune alternativ n secundarul
transIormatorului Tr, a crui expresie este:
p U s
U n U = ,
unde n
U
este raportul de transIormare n tensiune. La iesire rezult
tensiunea continu de valoare ridicat U
e
:
a p p U r s r e
E kU U n k U k U > = = = ,
unde k
r
reprezint Iactorul de redresare, iar k Iactorul total de
transIormare, att pentru redresare ct si pentru ridicare n tensiune,
Iactor care este supraunitar:
1 > =
U r
n k k .
Acest procedeu de protectie se bazeaz pe Iaptul c penetrarea
tensiunii joase E
a
n circuitele de executie care, pentru a actiona,
necesit o tensiune ridicat; E
a
nu are niciun eIect Iunctional (la nivel
macroscopic). Gradul de protectie obtinut se exprim prin raportul
U
e
/E
a
; n practic valoarea minim a acestuia, pentru o protectie
ridicat, trebuie s Iie egal cu cel putin 10 unitti exprimate n modul:
a e
E !0 U > .
Prin urmare durata de executie T
Ex
(Iig. 9. 7b) ncepe cnd
tensiunea de iesire U
e
depseste valoarea de prag U
eo
si se termin cnd
scade sub acest prag.
9 Unele tehnici specifice de reali:are a functiilor de protectie
218
Dac n procesul de aplicatie este necesar o protectie si mai
ridicat (dect se obtine prin aplicarea oricrui procedeu expus) se poate
utiliza un procedeu combinat.
AstIel dac, de exemplu, n structura cu protectie prin tensiune
ridicat (Iig. 9. 7a) se conecteaz borna pozitiv ( +) la masa general a
echipamentului, se obtine si o protectie prin inversarea polarittii (+E
a
si -U
e
; Iig. 9. 6).
Totodat n aceast structur, cu tensiune ridicat, prin utilizarea
transIormatorului Tr , se obtine si o protectie prin separare galvanic (
9. 1 Iig. 9. 1c).
Fiabilitate functional in electronic
219
Capitolul 10
Sisteme cu nalt fiabilitate
functional
10.1. Generalitti
n concordant cu cele expuse pn la acest capitol rezult c
exist, aproape ntotdeauna, mai multe solutii teoretice si practice care
pot conduce la o crestere a Iiabilittii Iunctionale. Stabilirea unei solutii
opti me, n raport cu cerintele aplicatiei de proces, este cu att mai greu
de realizat cu ct sistemul n cauz este mai dezvoltat, iar nivelul
necesar de Iiabilitate este mai ridicat; n domeniul transporturilor
sistemele sunt, n general, poliIunctionale, deci cu structuri complexe,
iar Iiabiltatea necesar este caracterizat prin valori ridicate ale
indicatorilor si, caracteristic tuturor sistemelor cu mare rspundere
Iunctional.
Asigurarea unui nivel nalt al Iiabilittii Iunctionale nu poate Ii
obtinut, n mod rational, dect prin structuri speciale-dedicate care s
corespund att unor cerinte Iunctionale deosebite ct si conditiilor
restrictive impuse echipamentelor, ndeosebi celor de la bordul
vehiculelor si navelor: greutate si volum mini me, consum redus de
energie electric, disponibilitate maxi m, mentenant Iacil, cost sczut
etc.
Din cauza acestor cerinte, diIicil de ndeplinit n practic, se
preIer atingerea unor perIormante Iiabiliste nalte pentru anumite
10 Sisteme cu inalt fiabilitate functional
220
Iunctiuni, cum sunt de exemplu cele de protectie (1. 2) si asigurarea
altora la nivele uzuale, dac sunt permise n cadrul procesului de
circulatie sau navigatie. Procednd astIel sunt evitate structurile
,stuIoase de sistem, adoptate uneori n mod justiIicat din considerente
de dezvoltare cronologic sau pe baz de rutin empiric. AltIel spus,
sunt de preIerat aceste solutii care asigur o Iiabilitate general ridicat,
speciIic echipamentelor de tip proIesional, dar si o nalt Iiabilitate
pentru acele Iunctiuni care trebuie s Iie realizate la nivele Iiabiliste,
uneori, extrem de ridicate.
Spre a putea aborda aceast problematic, n continuare, va Ii
expus analiza eIectelor deIectrii unui circuit logic uzual, cu nivel
redus al Iiabilittii, utilizat n aplicatii curente, Ir cerinte deosebite
(Iig. 10. 1).
Pentru acest circuit, de uz curent, realizat n varianta DTL (Diod -
Tranzistor-Logic) de tipul SAU / NU NICI, sunt utilizate notatiile :
i, e - intrri, respectiv iesire (unic);
D - diode pentru cuplaj la intrare (permit numai transIerul impul -
surilor de polaritate pozitiv si separ ntre ele circuitele surs de
semnal) ;
R
1
- rezistor de cuplaj si amortizare a impulsurilor la intrare ;
i
1
i
2
i
n
D
1
D
2
D
n
R
1
R
3
R
2
E
c
- E
p
e
T
Eig. 10.1
Fiabilitate functional in electronic
221
R
2
- rezistor de polarizare a bazei cu tensiunea negativ - E
p
(pen -
tru evitarea deschiderii intempestive a tranzistorului prin i mpulsuri
perturbatoare de amplitudine minor provenite de la intrri );
T tranzistor ampliIicator cu Iunctionare n regi m de comutati e ;
R
3
- rezistor de colector ;
E
c
tensiune de alimentare (pozitiv Iat de mas).
Din punct de vedere logic, tranzistorul T are dou stri semni -
Iicative :
- stare blocat (!) n regim de asteptare sau n pauza dintre
impulsurile de intrare (perio dice):
, E U , 0 I
c e c
+ ~ ~
cnd variabila logic de iesire are valoarea e 1 ;
- stare de conductie la saturatie () pe duratele impulsurilor de
intrare (pozitive) :
. 0 e , 0 U , 0 I
e c
= ~ =
IndiIerent de modul de realizare tehnologic, cu componente
discrete sau n variante de circuit integrat, Iunctia logic proprie are
aceeasi expresie :
n 2 1
i . . . i i e + + + =
iar rezolvarea sa corect depinde de strile valide ale tuturor
componentelor de echipament (inclusiv jonctiuni, terminale, conex iuni
etc. )
Spre a evidentia acest aspect, se va analiza eIectul deIectrii
tranzitorului T n spatiul colector-emitor si inIluenta acestei deIectri n
circuitul de iesire (e ). DeIectarea se poate produce n dou modalitt i:
( 6. 1) :
10 Sisteme cu inalt fiabilitate functional
222
- prin crestere parametic || , la limit ntrerupere (R
ce
~ );
- prin scdere parametic ||, la limit scurcircuitare (R
ce
~ O).
n Iunctie de starea Iizic instantanee a tranzistorului T, rezult 4
situatii semniIicative (din punct de vedere logi c), situatii ce sunt
exprimate n tabela 10. 1.
Tal. 1O. 1
Ini ti al Fi nal
St are T
Mod
deIect are
St are
Ii zi c
Val oare
l ogi c
St are
Ii zi c
Val oare
l ogi c
0 ! 1

II ! 1 ! 1
III 0 0

! 1 0
n cazul I starea instantanee de dinaint ea deIectrii este, sub
semnal activ la intrare, de conductie () ceea ce corespunde la ies ire
valorii logice e 0. n momentul deIectrii ( 2. 2) compor tarea
tranzistorului corespunde strii blocate, ceea ce are ca eIect schimbarea
valorii variabilei logice la iesire (e) din valoarea 0 n 1.
Dac ns tranzistorul T se gseste instantaneu n starea blocat II
(e 1), iar deIectarea || survine n acest moment, eIectul deIectrii va
Ii nul; eroarea va aprea n ti mpul urmtorului impuls (pozitiv) aplicat
la intrare, eroare ce se va mentine pn la nlocuirea tranzistorului T
deIectat.
n continuare, analiznd etapele deIectrii prin scdere parametric
| ste c, n cazul III, deIectarea este mascat (ca si n cazul II),
eroarea mentinndu-se, de asemenea, pn n momentul depanrii.
Fiabilitate functional in electronic
223
Continund analiza cu ultima situatie semniIicativ IV, rezult c
se modiIic (total) valoarea logic a variabilei de iesire; acest eIect, ca
si n cazul I, este pus n evident cu marcare prin Iond gri.
n urma acestei analize rezult c dac unul din cazurile I sau IV
determin, de exemplu, rspuns eronat n situatiile complementare (II,
III) se ajunge, prin deIectare, la rspuns Ials ( 1. 2. 1).
Prin modiIicarea (necorect) a valorii logice la iesire este
modiIicat - radical continutul inIormational de proces, ceea ce nu este
permis la sisteme cu mare rspundere Iunctional.
Procednd la Iel si pentru deIectrile care pot surveni la orice alt
component, din structura acestui circuit logic (inclusiv conexiuni cu
Iludor, trase de circuit impri mat etc. ), se determin r spunsurile
corespunztoare si deci valorile logice la iesire. De exemplu, dac se
deIecteaz prin ntrerupere rezistorul R
1
(6. 1- tab6. 1, poz. 35),
rspunsul circuitului logic este necorect si corespunde situatiei
semniIicative II; oricare alt deIectare determin evolutia logic n una
dintre cele 4 stri redate n tabela 10. 1.
Din aceast cauz, astIel de circuite logice uzuale nu sunt permise
n utilizri pentru procese caracterizate prin stri care pot conduce la un
rspuns Ials (consecinte grave); n astIel de aplicatii sunt utilizate
structuri logice cu nalta Iiabilitate Iunctional, n elaborri speciale,
protejate Iat de rspuns Ials ( n caz de deIectare).
*
Obtinerea acestor structuri se bazeaz pe analiza modului de
deIectare (cap. 7), prin aplicarea redund antei Iiabiliste (cap. 8), a unor
tehnici de realizare a Iunctiunilor de protectie (cap. 9), Iiind valabile si
toate celelalte considerente expuse n capitole anterioare.
10 Sisteme cu inalt fiabilitate functional
224
10.2. Analiza yi evaluarea rspunsului fals
Pentru a se stabili ct de ridicat trebuie s Iie Iiabilitatea
Iunctional, ntr-o anumit aplicatie, este necesar s se plece de la
evaluarea Iiabilittii n raport cu rspunsurile Ialse posibile ( 1. 2. 2).
CuantiIicarea coeIicientului de rspuns Ials se poate eIectua prin
stabilirea corelat iei dintre domeniul echipament (componente Iizice) si
domeniul Iunctional (rspunsuri Ialse); n Iapt este o extindere la nivel
macroscopic, de sistem, plecnd de la nivelul microscopic.
Ilustrarea modalittii de determinare este Icut n diagrama 10. 2
cu notatiile :
C componentele de echipament care, prin deIectare, pot conduce
la rspunsuri Ialse ;
RE rspunsurile Ialse care se pot produce prin deIectri ;
I coeIicientul de rspuns Ials determinat.
AstIel n Iunctie de caracteristicile sistemului analizat, exist un
numr oarecare n de componente, totdeauna mai mic dect numrul total
al componentelor sistemului.
RE
2
0 0.2 0.4 0.6 0.8 1.0 f
RE
n-1
RE
1
RE
3
RE
4
RE
5
RE
6 RE
n
. . . . .
.
C
1
C
n-1
C
2
C
3 C
4
C
5
C
6
C
7 C
n
. . . . .
.
Eig. 10.2
Fiabilitate functional in electronic
225
Analiznd eIectul deIectrii Iiecrei componente ( C
1,
. . ., C
n
) se
stabilesc rspunsurile Ialse posibile (RE
1,
. . . , RE
N
). Acestea, la rndul
lor, sunt caracterizate, Iiecare n parte, printr-o anumit valoare normal
a coeIicientului de rspuns Ials (n domeniul de valori 0 . . . 1).
Rezult c rspunsurile Ialse RE sunt selective Iat de deIectrile
componentelor C, deIectri care se pot produce prin crestere parametric
|| sau prin scdere parametric |-| ; n practic se pot intlni, mai rar,
si situatii de aparitie a unor rspunsuri Ialse indiIerent de modul de
deIectare, att prin crestere ct si prin scdere de parametru | ; -|.
Dac se asociaz Iiecrui rspuns Ials RE, n parte, probabilitatea
sa de producere:
|
|
.
|

N 3 2 1
N 3 2 1
P . . . P P P
R . . . R R R
se poate obtine valoarea Iunctiei de nonIiabilitate pentru rspunsul Ials
la nivel de sistem:
,
f
f P
) t ( F
N
1 i
i
N
1 i
i i
RF
_
_
=
=
=
unde f
i
reprezint Irecventa de repartitie a rspunsurilor Ialse (densitatea
de prababilitate a timpului de Iunctionare - 4. 2), deIinit acum n
domeniul Iunctional.
Limitele valorice ale Iunctiei de nonIiabilitate la rspunsul Ials are
valorile teoretice (ideale) :
. 0 F
RF
= sistem total sigur, Ir pericol Iunctional;
. 1 F
RF
= sistem total nesigur, total periculos.
Este evident c, n practic, valoarea egal cu zero nu poate Ii
atins ( 2. 2) dar, dup cerinte, se urmres te obtinerea unor valori ct
mai mici, prin mijloace rationale, pentru indicatorul E
RE
. Totodat,
10 Sisteme cu inalt fiabilitate functional
226
pierznd proprietatea de selectivitate (corespondent direct component
- rspuns Ials), acest mod de evaluare conduce si la o apreciere de ordin
calitativ, apreciere care este necesar at unci cnd se compar Iiabilist
dou sau mai multe sisteme avnd aceleasi Iunctiuni.
n vederea obtinerii protectiei necesare Iat de rspuns Ials
sistemul n cauz va contine, n structura echipamentului su, dou
subsisteme distincte sau i mplicite. Aceasta caracteristic, de import ant
major pentru sistemele cu nalt Iiabilitate Iunctional, n procese de
circulatie / navigatie, este artat n Iigura 10. 3 unde s-au Iolosit
notatiile :
i, d intrare respectiv iesire pentru semnalele necesare realizrii
Iunctiunilor esentiale
SSE subsistem pentru procesarea semnalelor sub Iorma datelor
necesare procesului de aplicati e, avnd variabila logic notat cu d ;
SSP subsistem de protectie prin care se veriIic procesarea co-
rect a semnalelor de date d;
e
v
iesire pentru semnalele rezultate prin veriIicare.
n situatia n care procesarea corect este compromis prin aparitia
unei deIectri (simple sau multiple - 8. 1), la iesirea de veriIicare e
v
SSE
SSP
( i )
( e
v
)
date - d
STOP - s
Eig. 10.3
Fiabilitate functional in electronic
227
apare o variatie a semnalului logic s prin care se blocheaz procesul,
partial sau total, n Iunctie de conditiile Iunctionale impuse.
Un exemplu care ilustreaz aplicarea Iiabilist a acestui procedeu
l constituie circuitul Iinal de aIisare, la bordul avianelor, a regimului de
aterizare: corect sau necorect. Structura de baz a acestui circuit, din
sistemul de aterizare instrumental (Instruments Landing Svstem-ILS )
este redat n Iigura 10. 4a), cu notatiile:
C
1,
C
2
circuite Iinale, din echipamentul de bord, care Iurnizeaz
curentii I
1
si I
2
pe baza semnalelor radio emise de la sol ;
I instrument indicator, de tip magneto-electric, montat n
diagonala de iesire a unei punti cu dou brate active (C
1
si C
2
) ;
R
1
, R
2
rezistoare identice constituind cele dou brate pasive ale
puntii ;
Av dispozitivul de avert izare asupra regimului de zbor n timpul
aterizrii.
Avertizorul Av este un transductor electro-optic de tip binar :
actionat-activ, respectiv revenit -pasiv. n Iapt este un electromagnet,
actionat n curent continuu, pe armtura sa mobil Iiind Iixat un sector
alb-rosu n dungi cu Iante n drept ul unui vizor, care este montat lng
instrumentul I.
(C
1
)
(C
2
)
I
(R
2
)
(R
1
)
I
1
I
2
U
2
U
1
A
v U
Av
I
I
0
A
Eig. 10.4
a) b)
10 Sisteme cu inalt fiabilitate functional
228
Eunctionarea ansamblului instrument I - avertizor Av se bazeaz
pe dou stri.
Stare activ : avionul se aIl pe traiectoria corect, puntea
electric este n echilibru, iar instrumentul I aIiseaz valoarea zero
marcat n centrul scalei :
. U 2 U U U , U U U , 0 I I I
2 1 Av 2 1 2 1 I
= + = = = = =
Deoarece valoarea 2U a tensiunii apl icate la bornele avertizorului
Av este mai mare dect valoarea de prag pentru actionare, electro-
magnetul si atrage armtura si n vizor se aIiseaz culoarea alb; pozitia
de aterizare a avionului este corect deoarece abaterea de traiectorie
este nul (Iig. 10. 4 b):
. 0 ) ( f I
I
= A =
Stare pasiv: dac se produce o abatere dincolo de limitele
admisibile, diIerenta dintre curentii I
1
si I
2
apare ntr-un sens sau
n altul, n Iunctie de dezechilibrul puntii :
, U 2 U U U , U U , 0 I I I
2 1 Av 2 1 2 1 I
< + = = = =
iar armtura mobil a electromagnetului revine; acum n vizor se
aIiseaz culoarea rosu (stare periculoas): avionul este redre sat si
aterizarea se reia sau se realizeaz dup alte proceduri dect cea
prevzut pentru sistemul ILS.
Din diagrama 10. 4b) se observ c acum excursia de semnal I
I
se
Iace pe dreapta caracteristic
, 0 ) ( f I
I
= A =
cu o variatie corespunznd polarittii si amplitudinii curentului n
Iunctie de sensul si mri mea abaterii a zborului. Revenind la structura
Fiabilitate functional in electronic
229
general din Iigura 10. 3, se poate pune n evident Iaptul c subsistemul
SSE corespunde instrumentului I (si tuturor circuitelor conexe, inclusiv
radioIarurilor de la sol), iar subsistemul de protectie SSP este
reprezentat de avertizorul Av mpreun cu rezistoarele R
1
si R
2
;
structura extrem de simpl ( 5. 1) ca si elaborarea tehnologic special
a acestor elemente (rezistent ridicat la deIectare - 2. 2), conIer
ntregului sistem o Iiabilitate Iunctional Ioarte ridicat.
Pentru obtinerea acestui eIect, de protectie, este necesar s se
cunoasc modul de procesare a semnalelor de date n subansamblul
Iunctional SSE (Iig. 10. 3). n acest scop structura unui astIel de sistem
se dezvolt corespunzator celor N semnale pri mite de la subsistemul de
procesare a datelor SSE (Iig. 10. 5) :
d semnale de date care aduc inIormatia necesar asupra modului
de procesare ;
I circuite de intrare ;
x, y variabile logice asociate intrrilor respectiv iesirii n si din
subsistemul de protectie SSP ;
s semnal de supraveghere si protectie (STOP);
E circuit de iesire.
I
1
I
2
I
N
.

.

.

.
.

.

.

.
d
N
d
2
d
1
x
1
x
2
x
N
y
s
STOP
Eig. 10.5
S S P
E
10 Sisteme cu inalt fiabilitate functional
230
n aceast structur, prin adaptarea corespunztoare a semnalelor,
se realizeaz o tratare a inIormat iei de protectie dup o Iunctie logic de
lucru :
, ), x , . . . , x , x W v
N 2 1
=
astIel nct pentru s 0 s Iie asigurat starea de protectie STOP
(sigurant).
La sistemele complexe, multiIunctionale, este necesar o procesare
separat - distinct pentru Iiecare variabil logic n parte; n acest scop
se recurge la o tratare prealabil a semnalelor de veriIicare pentru
conditiile de protectie. AstIel, subsistemul de protectie SSP este
prevzut cu dou serii de intrri, avnd structura din Iigura 10. 6, unde
mai apar semnalele de veriIicare si protectie v
1
, v
2
, . . . , v
n
, semnale
care se obtin n urma unor procesri anterioare, selective, dup cerintele
impuse pentru protectia necesar.
10.3. Structuri sistemice yi tehnologii aplicate
pentru realizarea fiabilittii functionale ridicate
Din cele tratate anterior se desprinde ideea c, n decursul
dezvoltrii Iiabilittii echipamentelor, au Iost uti lizate o multitudine de
metode si procedee n scopul ameliorrii parametrilor Iiabilisti. Dac
.

.

.

.
. . . .
v
n
v
2
v
1
d
m
d
2
d
1
STOP - s
Eig. 10.6
S S P
Fiabilitate functional in electronic
231
aceste ameliorri vizeaz n mod di rect unele Iunctiuni de protectie,
datorit eIectului de redundant (aplicat sub diIerite Iorme), structurile
generale de sistem se dezvolt n mod corespunztor.
Prin aceste dezvoltri, teoretic, se pot atinge nivele extrem de
ridicate pentru Iunctiunile de protectie; dac nu se au n vedere eIectele
cresterii probabilittii de apari tie a rspunsurilor eronate ( 1. 2),
sistemul n cauz, pe ansamblul su, va pierde din disponibilitate (
2. 2). Al tIel spus, de exemplu n procese de circulatie / navigatie, se
poate ajunge la sisteme extrem de protejate dar cu o Iiabilitate nepermis
de scazut pentru Iunctiuni esentiale ( 1. 2. 1): procesul este Irecvent
blocat, prin transIormarea rspunsurilor Ialse n rspunsuri eronate (
1. 2. 3).
n etapa actual de dezvoltare si aplicare pe scar larg a
tehnologie microelectronice ca si de trecere la tehnologia
nanoelectronic, costul echipamentelor pe unitate Iunctional scade
Ioarte mult, astIel c utilizarea redundantei reprezint o cale dominant
pentru obtinerea unei Iiabilitti Iunctionale ridicate, n Iunct ie de
cerintele aplicatiei de proces. O crestere substantial se produce dac
sunt utilizate si subsisteme de protectie cu o Iiabilitate proprie extrem
de ridicat.
O abordare si o tratare sistemic a acestei problematici se Iace, n
continuare, pe trei direct ii dominante: logicile majoritar, dinamic,
respectiv de tip cablat.
10.3.1. Logica majoritar
Unele aplicatii ale acestei metode au Iost expuse, sub alte aspecte,
n capitolele anterioare. n acest paragraI vor Ii tratate sistemic, la
modul general, toate variantele bazate pe o astIel de logic, inclusiv
10 Sisteme cu inalt fiabilitate functional
232
evaluarea eIicientei Iiabiliste corespunzatoare gradului de Iiabilitate
Iunctional ce se poate obtine.
A - Sistemele cu redundant simpl n structur modular de tip
dublet au schema general din Iigura 10. 7a), Iiind Iolosite notatiile:
MI
1
, MI
2
module Iunctionale identice, care primesc aceleasi
semnale - identice, la intrrile separate i
1
si i
2
;
P
L
poart logic avnd dou intrri la care pri meste semnalele de
veriIicare v
1
si v
2 .
n aceast schem, ca si n cele ce vor urma, se subntelege c
semnalele de date (d), procesate n modulele Iunctionale MI
1
si MI
2
,
sunt transIerate la subsistemele corespunztoare implicate n realizarea
Iunctiunilor esentiale, dac sunt ndeplinite conditiile de protectie,
conditii care sunt validate sau invalidate prin semnalul logic s.
Cu toate c aceast variant nu corespunde logicii majoritare
propriu-zise ( 8. 2), dar are numeroase aplicatii n practic, din motive
de dezvoltare sistemic, este inclus n acest paragraI. Caracterizarea de
MI
1
MI
2
P
L
v
2
v
1
i
2
i
1
s
v
1
v
2
s v
1
v
2
SAU
(i)
(e)
v
1
v
2
a) b)
c)
SI
v
1
v
2
s v
1
v
2
d)
(i) (e)
v
1 v
2
e)
~1 / 2
~2 / 2
Eig. 10.7
Fiabilitate functional in electronic
233
redundant simpl corespunde Iaptului c, strict Iunctional, este
suIicient un singur modul MI; evident, din acest punct de vedere, oricare
dintre ele este redundant (baz si rezerv).
- Varianta ,1/2 ( unul din doi ) are structura logic tip SAU ( v
1
v
2
), din Iigura 10. 7b), si tabel a de adevr 10. 2, de unde au Iost
excluse combinatiile logice extreme 0 - 0 si 1-1 deoarece nu corespund
cazului analizat.
Tab. 10. 2
Prin urmare procesul protejat poate
continua, n cazul producerii unor deIec-
tri, dac este aIectat numai unul din cele
dou module Iunctionale MI
1
sau MI
2
;
aceast proprietate este pus n evident prin graIul corespunztor
(Iig. 10. 7c). Combinational, n acest caz, se obtin dou stri tolerante la
deIectri :
iar unele ilustrri practice au Iost Icute n cadrul capitolului 8, prin
desenele 8. 1, 8. 2a), 8. 3, 8. 14.
- Varianta ,2/2 (doi din doi) corespunde unui comparator logic de
tipul SI (v
1
| v
2
), avnd schema logic din Iigura 10. 7d) si tabela de
adevr 10. 3.
Tab. 10. 3
Spre deosebire de varianta precedent,
acum protectia este mult mai ridicat
deoarece, pentru a nu interveni starea STOP
este necesar ca ambele module s Iunctioneze corect - Ir deIectri.
Aceasta corespunde combinational relatiei : , 1 C
2
2
=
v
1
v
2
s
1 0 1
0 1 1
v
1
v
2
s
1 1 1
! n )! n m (
! m
C , 2 C
n
m
1
2

= =
10 Sisteme cu inalt fiabilitate functional
234
graIul Iiabilist corespunztor Iiind redat n Iigura 10. 7e). Unele ilustrri
ale aplicrii acestei variante au Iost Icute anterior ( 8. 3. 1, Iig. 8. 10).
B - Sistemele cu redundant dubl au structura general modula-
r n triplet (Iig. 10. 8a), n care un modul Iunctional (oricare) este d e
baz, iar celelalte dou sunt de rezerv (activ).
- Varianta ,1/3 este caracterizat prin perIormante Iiabiliste
mini me, la aceast categorie (triplet). Relatia ntre variabilele logice de
veriIicare este de Iorma :
, v v v
3 2 1

iar numarul de combinatii este : . 3 C
1
3
=
Tab. 10. 4
Tabelei de adevr 10. 4 i cores-
punde schema logic din Iigura 10. 8b),
respectiv graIul din Iigura 10. 8c).
Propriettile acestei variante corespund
structurii III
k
al ordinului deIectrii
(8. 1; Iig 8. 1), graIul corespunztor Iiind III ( ) din Iigura 8. 2a).
v
1
v
2
v
3
s
1 0 0 1
0 1 0 1
0 0 1 1
MI
3
MI
1
P
L
v
2
v
1
i
2
i
1
s
v
1
v
3
s v
1
v
2
v
3
SAU
(i)
a) b)
c)
~1 / 3
Eig. 10.8
MI
2
i
3
v
3
v
2
(e)
v
1
v
2
v
3
Fiabilitate functional in electronic
235
- Varianta ,2/3, din punct de vedere Iiabilist, are perIormante
medii (Iig. 10. 9a) :
. v v , v v , v v
3 1 3 2 2 1

n tabela de adevr 10. 5, ce corespunde acestor relatii, se vede c
numrul de combinatii este: . 3 C
2
3
=
Acestor relatii le corespunde graIul din Iigura 10. 9b).
Tab. 10. 5
- Varianta '3/3 (Iig. 10. 9c) se
caracterizeaz prin cea mai ridicat
Iiabilitate Iunctional la categoria cu
redundant dubl. Variabila logic de
protectie s depinde de produsul logic ale
celor trei variabile de veriIicare ( v
1
, v
2
, v
3
), care se gasesc n relatia de
coincident tripl, iar din punct de vedere combinational rezultatul se
reduce la o singur stare :
. 1 C , v v v s , v v v
3
3 3 2 1 3 2 1
= =
v
1
v
2
v
3
s
1 1 0 1
1 0 1 1
0 1 1 1
v
1
v
2
v
3
SI
3
SI
2
SI
1
SAU
s

1
v

2
v

3
v
v
1
v
2
v
2
v
3
v
1 v
3
SI
v
1
v
2
v
3
s v
1
v
2
v
3
v
1 v
2 v
3
(i)
(e)
~3 / 3
Eig. 10.9
a)
b)
c)
d)
~2 / 3
(i) (e)
10 Sisteme cu inalt fiabilitate functional
236
Procesarea logic necesar se realizeaz n dou trepte si anume
nti compararea a cte dou semnale - logic SI, iar apoi nsumarea
celor trei semnale intermediare - logic SAU :
, v v v , v v v , v v v
3 1 3 3 2 2 2 1 1
= ' = ' = '
. v v v s
3 2 1
' + ' + ' =
Structura portii l ogice de procesare este redat n Iiugura 10. 9c) cu
graIul corespunztor din Iigura 10. 9d).
C - Sistemele cu redundant tripl corespund unor structuri mo-
dulare in cuadruplet (Iig. 10. 10). Dintre cele 4 module Iunctionale MI
identice unul este de baz (oricare), iar celel alte trei sunt de rezerv
(redundant permanent 8. 2).
- Varianta ,1/4 asigur cea mai slab protectie (Iig 10. 11a) :
. v v v v s , v v v v
4 3 2 1 4 3 2 1
+ + + =
Relatiile de deIinire corespund tabelei de adevr 10. 6, iar graIul
corespunztor este redat in Iigura 10. 11b). Cele patru stri de protectie
corespund combinrilor : . 4 C
1
4
=
v
1
v
3
SAU
(i)
a)
b)
~1 / 4
Eig. 10.10
v
2
(e)
P
L
s
MI
3
MI
1
v
2
v
1
i
2
i
1
MI
2
i
3
v
3
MI
4
i
4
v
4
v
4
s v
1
v
2
v
3
v
4
v
1
v
2
v
3
v
4
Eig. 10.11
Fiabilitate functional in electronic
237
Tab. 10. 6
O astIel de situatie este
ilustrat prin circuit ul integrat
complex pentru procesarea date-
lor, circuit realizat pe baza a
patru structuri identice ( 5. 3. 2-
Iig. 5. 6).
- Varianta '2/4este caracterizat printr-o protectie mai bun in
raport cu cea precedent. n concordant cu tabela de adevr 10. 7
expresia Iunctiei logice de lucru corespunde celor sase stri :
, v v v v v v v v v v v v v v v v v v s
, v v v v v v v v v v v v
6 5 4 3 2 1 4 3 4 2 3 2 4 1 3 1 2 1
4 3 4 2 3 2 4 1 3 1 2 1
' + ' + ' + ' + ' + ' = + + + + + =

sau relatiei combinatorii : . 6 C
2
4
=
Tab. 10. 7
v
1
v
2
v
3
v
4
s
1 1 0 0 1
0 1 1 0 1
0 0 1 1 1
1 0 1 0 1
1 0 0 1 1
0 1 0 1 1
n Iigura 10. 12 a) este reprodus graIul caracterist ic acestui nivel
de Iiabilitate; structura schemei logice este Iormat dintr-o prim
treapt cu porti de tip SI, respectiv dintr-o a doua treapt de tip SAU
(Iig. 10. 12b).
Atunci cnd cerintele aplicatiei o cer, sau permit, se poate recurge
la o subvariant ,2/4 mai selectiv, cum este cazul structurii logice din
v
1
v
2
v
3
v
4
s
1 0 0 0 1
0 1 0 0 1
0 0 1 0 1
0 0 0 1 1
10 Sisteme cu inalt fiabilitate functional
238
Iigura 10. 13a), obtinut prin reducerea treptei logice SI la numai dau
unitti (n loc de sase). GraIul corespunztor este redat n Iigura
10. 13b), iar expresia Iunctiei logice la iesire devine :
4 3 2 1 6 1
v v v v v v s + = ' + ' =
Este de observat Iaptul c, pe aceast cale, se obtin dou avantaje
importante :
- schema logic se simpliIic (dispar portile logice SI
2
, SI
3
, SI
4
, SI
5
);
-gradul de protectie obtinut este mai ridicat, deoarece sunt pstrate
numai dou combinatii (duble) n loc de sase.
v
1
v
2
v
3
SI
6
SI
1
SAU
s

1
v

6
v
v
1
v
2
v
3
(i)
(e)
Eig. 10.13
a) b)
v
4
v
4
(

1
v )
(

6
v )
(i)
(e)
v
1
v
2
v
1
v
3
v
1
v
4
v
2
v
3
v
2
v
4
v
3
v
4
v
1
v
2
v
3
v
4

1
v

2
v

3
v

4
v

5
v

6
v
s
SAU
SI
1
SI
2
SI
3
SI
4
SI
5
SI
6
a)
b)
Eig. 10.12
Fiabilitate functional in electronic
239
- Varianta '3/4are la baz tabela de adevr 10. 8, cnd se obtin
patru stri combinatorii : . 4 C
3
4
=
ConIorm acestei tabele de adevr, expresia Iunctiei logice de
protectie este :
, v v v v v v v v v v v v s
4 2 1 4 3 1 4 3 2 3 2 1
+ + + =
avnd variabile logice intermediare:
. v v v v , v v v v , v v v v , v v v v
4 2 1 4 4 3 1 3 4 3 2 2 3 2 1 1
= ' = ' = ' = '
Tab. 10. 8
Structura schemei logice va
contine trepte logice SI respectiv
SAU (Iig. 10. 14a), iar graIul este
cel din Iigura 10. 14b).
Si n acest caz, pentru unele
alpicatii, n strict concordant cu
cerintele de protectie, se poate utiliza schema logic mai si mpl din
Iigura 10. 15, pentru care este valabil relat ia general:
, v v v v v v v v s
4 3 2 3 2 1

1
+ = + =
v
1
v
2
v
3
v
4
s
1 1 1 0 1
0 1 1 1 1
1 0 1 1 1
1 1 0 1 1
(i) (e)
v
1
v
4
v
1
v
3
v
2
v
3
v
4
v
2
v
2
v
1
v
2
v
3
v
4
s
SAU
SI
1
SI
2
SI
3
SI
4
a)
Eig. 10.14
v
1
v
3
v
4
b)

1
v

2
v

3
v

4
v
10 Sisteme cu inalt fiabilitate functional
240
Si graIul corespunztor se simpliIic, rmnnd valabile numai pri mele
dou ramuri din cel redat n Iigura 10. 14b).
Totodat trebuie remarcat c aceast structur logic
simpliIicat, oIer o protectie mai bun n raport cu cea din care
provine, oricare ar Ii cele dou ramuri utilizate (din cele patru).
- Varianta '4/4 este cea mai restrictiv, asigurnd o protectie
maxi m Iat de celelalte variante din categoria sa (Iig 10. 16a) :
. 1 C , v v v v s
4
4 4 3 2 1
= =
Aceast perIormant se pune mai bine n evident prin graIul din
Iigura 10. 16b).
D - Sisteme neomogene
Ca si n cazul general al sistemelor cu scheme de Iiabilitate
neuniIorme ( 5. 3. 3) si sistemele de protec tie pot avea si structuri Ir
v
1
v
2
Eig. 10.15
SI
2
SAU
s

1
v

4
v
SI
1
v
3
v
4
v
1
v
2
v
3
v
4
s
SI
v
1
v
2
v
3
v
4
(i) (e)
Eig. 10.16
a)
b)
Fiabilitate functional in electronic
241
omogenitate; situatii de acest Iel se ntlnesc, mai ales, n procesrile
care au loc la prelucrrile si/sau ale transmisiunilor din cadrul
sistemelor teleinIormatice, de telemetrie, telecomand sau telecontrol.
Pentru astIel de aplicatii sunt Iolosite dou tipuri de semnal
determinist - Ir continut inIormational n proces:
-semnale standard de sincronizare, de tact etc;
-semnale speciale de protectie Iat de perturbatii care, de regul,
moduleaz supli mentar semnalul purtt or la emisie, iar la receptie se
veriIic aceast modulatie supli mentar.
Dac pri mul tip de semnal este des ntlnit n practic, cel de al doilea
are o arie mai restrns de aplicare Iiind, aproape exclusiv, utilizat n
protectii Iat de perturbatii.
Un exemplu, n acest sens, este modulatia de lumin aplicat n
scopul eliminrii perturbatiilor optice n procesele de identiIicare
automat a autovehiculelor rutiere (Iig. 10. 17).
Semnalul emis A
e
, care este o radiatie luminoas, se obtine printr-
o modulatie cu deplasare de amplitudine - MDA aplicat curentului care
alimenteaz sursa de lumin:
t
i
- durata impulsului luminos;
t
p -
pauza dintre dou impulsuri consecutive;
T
o
- perioada de repetitie a impulsurilor elementare;
A
e
A
r
0
0
t
t
t
i
t
p T
o
Eig. 10.17
10 Sisteme cu inalt fiabilitate functional
242
A
r
- semnalul receptionat care contine inIormatia de identitate a
vehiculului.
Semnalul optic obtinut prin identiIicarea autovehiculului, la
receptie, este convertit n semnal electric avnd aceleasi caracteristici
deterministe ca si n cel emis:
,
2
T
t t
o
p i
= =
o
o p i
f
1
T t t = = + ,
I
0
Iiind Irecventa de repetitie a impulsurilor elementare.
nainte de decodare (pentru a obtine inIormatia de identitate)
semnalul receptionat (de natur electric) este trecut printr -un Iiltru
trece-band avnd Irecventa central I
0
: n acest Iel sunt eliminate
perturbatiile care, practic, nu pot s apar n i mpulsuri, opti ce sau
electrice, cu Irecventa I
0.
Asociind acestui semnal de veriIicare notatia v
0
, n schema logic
din Iigura 10. 18 a) este exempliIicat modul de injectare a acestuia la
pri ma treapt de procesare logic de tip SI; n Iapt se realizeaz o
veriIicare de protectie la nivelul Iiecrei porti logice. Deoarece aceast
veriIicare se Iace simultan-sincron, la toate cele trei porti logice,
semnalul v
0
apare o singur dat n relatia de coincident:
v
2
v
3
v
1
v
0
SI
1
SI
2
SI
3
SAU
s
(i) (e)
v
0
a) b)
Eig. 10.18

1
v

2
v

3
v

1
v

2
v

3
v
Fiabilitate functional in electronic
243
, ). v v v v v v v v v v v v v s
3 2 1 0 3 0 2 0 1 0 3 2 1
+ + = + + = ' + ' + ' =
Aceast proprietate este ilustrat prin graIul 10. 18 b), iar aplicatia
respectiv corespunde, prin extindere, logicii majoritare ,1/3- cenzurat
(Iig. 10. 8). Aceast modalitate de protectie se ntlneste la procesri
sincrone prin impulsuri de tact - sincronizri.
n situatii de realizare a unor protectii speciale - particulare, cum
este cazul modulatiei de lumin (Iig. 10. 17), semnalul de veriIicare este
injectat la treapta a doua de procesare (Iig. 10. 19a):
, ) , v v v v v v s
3 2 1 0 0
+ + = ' =
rezult c Iunctia logic de lucru are aceeasi expresie, dar semnalul de
protectie v
0
nchide graIul corespunztor (Iig. 10. 19b) .
*
n ncheiere la cele expuse cu privire la propriettile structurilor
Iiabiliste omogene de protectie, bazate pe logica majoritar, se poate
observa c modelul matematic general poate s contin sumatoare
logice,
_
=
=
M
1 i
i
, v s
comparatoare logice,
[
=
=
N
1 f
f
, v s
sau, n cazul general, pe ambele:
_ _ [
= = =
= ' =
M
1 i
M
1 i
N
1 f
f i
. v v s
(i) (e)
v
0
v
1
v
2
v
3
v
1
v
2
v
3
SAU
SI
v
0
s
v
`
Eig. 10.19
a)
b)
10 Sisteme cu inalt fiabilitate functional
244
Din motive de cost, att initial prin investitii ct si ulterior prin
mentenant, aplicatiile ingineresti , pn n prezent, se opresc la valorile
maxi me M6 si N4. Desigur odat cu scderea costurilor tehnologice,
de Iabricare a echipamentului, va Ii rational utilizarea unor circuite
bazate pe logica majoritar cu structuri omogene mai dezvoltate, numai
atunci cnd cerintele de protectie vor impune aceast a.
10.3.2. Logica dinamic
Principiul Iundamental pe care se bazeaz realizarea sistemelor de
acest Iel const in utilizarea unor semnale si circuite logice, astIel
elaborate nct s se obtin controlul integrittii sistemului protejat.
Regi mul de Iunctionare este n impulsuri -comutatie, iar protect ia
se realizeaz, dup conditiile impuse, Iat de deIectrile prin crestere
parametric ||, prin scdere parametric |-| sau prin ambele moduri (
6. 1). n practic se ntlnesc s i rezolvri tehnice cnd se utilizeaz,
pentru realizarea Iunctiunilor de protectie, att unele semnale proprii de
date (Iig. 10. 5; 10. 2) c t si altele care sunt special generate n acest
scop (Iig. 10. 6; 10. 2). Dar indiIerent de categoria semnalelor aplicate
la intrare, conditi a logic a semnalului s la iesire este ca disparitia sa
Iizic, indiIerent de cauz, s conduc la starea STOP; n literatura de
specialitate aceast conditie este cunoscut sub denumirea ,procedeul
semnalului permanent pentru strile Iunctionale permisive ale
procesului protejat.
Prin eli minarea detalierilor din structurile generale, ale unor astIel
de sisteme, se obtin reprezentrile generale din Iigura 10. 20:
a) sistemul cu semnale proprii de date, Ir semnale auxiliare
elaborate pentru protectie;
b) sisteme cu semnale auxiliare-speciale pentru protectie.
Fiabilitate functional in electronic
245
Ca si n cazul celor expuse anterior, notatiile utilizate n acest
desen sunt:
SSP - subsisteme de protectie;
d - semnale de date;
v - semnale de veriIicare;
s - semnale de supraveghere si protectie.
Avnd la baz logica dinamic, au Iost elaborate unele circuite cu
structuri TEL (tranzistor -Ierit-logic), n cazul crora sunt utilizat e dou
tipuri de semnale standard (Iig. 10. 21a):
T
i
- perioada de repetitie a impulsurilor;
t
i
, t
p
- durata impulsului, respectiv pauzei dintre dou i mpulsuri
consecutive.
a) b)
0
0
t
t
U
A
U
B
T
1
T
2
U
B
U
A
T
i
t
p t
i
Eig. 10.21
S S P
d s
STOP
S S P
v s
STOP
d
b)
a)
Eig. 10.20
10 Sisteme cu inalt fiabilitate functional
246
IndiIerent de tipul de semnal standard, U
A
sau U
B
, parametrii lor
Iundamentali sunt identici:
. t t , s 5 3 t
, kH: 5 1
T
1
f , ms 0 , 1 2 , 0 T
i p i
i
i i
>> =
= = =


Singura diIerent esential const n Iaptul c polaritatea lor
instantanee Iiind invers, deIazajul dintre ele este:
. 180 rad
o
B A
= =
Generarea unor astIel de Iorme de und se realizeaz relativ simplu
prin Iolosirea unui circuit basculant astabil -multivibrator (Iig. 10. 21b),
realizat printr-o schem cu dou tranzistoare; cele dou semnale, U
A
si
U
B
, se obtin din colectori dup care se axeaz n raport cu axa timpului
(pierderea componentei continue).
Pe de alt parte aceste semnale, prin procesare n circuite pasive -
bobine cu circuit magnetic nchis construit pe Ierit de Iorm toroidal,
suIer unele atenuri care trebuie compensate prin ampliIicri
corespunztoare. Aceasta se realizeaz cu ajutorul unui tranzistor
ampliIicator, n regi m de comutatie, cu montaj emitor comun.
Schema acestui etaj este simpl, aproape identic cu cea din Iigura
10. 1 (nu mai sunt necesare diodele D, aplicarea semnalelor U
A
si U
B
Iiind Icut pe baza tranzistorului prin rezistorul R
1
); semnalul, astIel
ampliIicat, este transIerat din colector pe nIsurarea de comand a unei
Ierite de comutatie, nIsurare care nlocuieste rezistorul R
3
. Datorit
Iaptului c tranzistorul ampliIicator debiteaz pe un circuit inductiv cu
separare galvanic ( 9. 1; Iig. 9. 2a), se obtine o protectie eIicient Iat
de deIectarea tranzistorului, att prin crestere || ct si prin scdere |-|
de parametru.
Fiabilitate functional in electronic
247
n acest Iel circuitul de sarcin al tranzistorului este o nIsurare
de intrare - comand L
i 1
sau L
i 2
(Iig. 10. 22a), semnalul logic U
e
Iiind
obtinut la bornele nIsurrii de iesire L
e
, evident, tot n i mpulsuri.
Pentru a usura expunerea, n acest desen ca si n cele ce vor urma,
nIsurrile bobinate pe miezul de Ierit sunt reprezentate printr -o
singur spir, sensul de solenatie Iiind precizat prin borna polarizat
care este marcat cu un punct.
Din punct de vedere electric aceast structur corespunde unui
transIormator de impulsuri cu mai multe nIsurri pri mare si cu mai
multe nIsurri secundare (dac fan-out impune acest lucru).
Pentru a analiza modul de Iunctionare a acestui dispozitiv logic cu
nalt Iiabilitate Iunctional, este necesar cercetarea caracteristicii B
f(H) care este redat n Iigura 10. 22 b), avnd notatiile:
B - inductia magnetic;
H - intensitatea cmpului magnetic produs prin aplicarea i mpulsu-
rilor I
i 1
si I
i 2
;
B
S
- valoarea inductiei magnetice la saturatie, care este pract ic
egal cu valoarea inductiei remanente;
H
c
-valoarea intensittii cmpului magnetic coercitiv necesar pro-
ducerii basculrii Ieritei;
Eig. 10.22
L
i1
L
i2
- L
e
I
i1
-
U
e
I
i2
-
a)
b)
-B
s
B
s
H
c
-H
c
B
H
0
Q
-
Q

10 Sisteme cu inalt fiabilitate functional


248
Q

- punct de maxi m care se atinge la cele mai mari valori prin


variatii parametrice pozitive;
Q

- punct de maxi m care se atinge la cele mai mari valori prin


variatii parametrice negative.
Pentru cele dou stri pasive - stabile ale miezului de Ierit
corespund punctele B
S
sau B
S
, n Iunctie de sensul de variatie ante-
rioar a cmpului magnetic (H
c
sau H
c
).
La o parcurgere complet a unui ciclu histerezis se revine la
aceeasi stare pasiv (B
S
sau B
S
), iar la parcurgerea a cte unui
semiciclu complet se produce o basculare ntre cele dou stri pasive -
stabile; la valorile maxime ale amplitudinii impulsurilor de intrare (I
i 1
sau I
i 2
) se ating punctele extreme de basculare Q

respective Q
-
, cnd
semnalul la iesire U
e
are amplitudinea cea mai mare, deoarece variatia
inductiei magnetice este maxi m si egal cu 2B
S
.
Pe de alt parte impulsurile de comand provenite de la
tranzistorul ampliIicator (n regim de comutatie) au aceeasi polaritate;
pentru a se produce parcurgerea unui ciclu histerezis complet este
necesar aplicarea semnalelor U
A
si U
B
la nIsurri cu solenatie
invers. Pentru aceasta sunt prevzute dou nIsurri (L
i 1
si L
i 2
) cu
sensuri de solenatie inversate (Iig. 10. 22a).
n Iine mai trebuie precizat c, atunci cnd este necesar, unul din
cele dou semnale (I
i 1
, I
i 2
) aplicate celor dou nIsurri de intrare cu
sens de solenatie inversat (L
i 1
, L
i 2
) poate Ii utilizat ca semnal de tact -
sincronizare n sistem; ns indiIerent de atribuirea semniIicatiei logice,
disparitia oricrui semnal (U
A
sau U
B
), indiIerent de cauz, conduce la
disparitia semnalului logic la iesire (U
e
). EIectul, la nivel macroscopic
de sistem este, n aceast situatie, producerea unui rspuns eronat n
locul unuia Ials (STOP; Iig. 10. 20).
Fiabilitate functional in electronic
249
Din motive de eIicient la producerea acestor dispozitive, toate
nIsurrile, de intrare si de iesire, oricare ar Ii numrul lor, se
bobineaz n acelasi sens; schi mbarea sensului de solenatie, atunci cnd
este necesar, se Iace prin inversarea celor dou borne ale bobinei n
cauz, deci prin schi mbarea bornei polari zate la realizarea montajului de
sistem.
A - Circuitul logic tip SI
n acest caz sunt suIiciente trei nIsurri bobinate pe miezul
toroidal din Ierit si anume dou de intrare si una de iesire (Iig. 10. 22a).
Asociind semnalele logice cu variabilele logice :
v U , x I U , x I U
e 2
2
i B 1
1
i A

si corelnd cu ciclul complet histerezis (Iig. 10. 22b), rezult tab ela de
adevr 10. 9, respectiv Iunctia logic de lucru :
. x x v
2 1
=
Tab. 10. 9
Calitatea semnalului de iesire, U
A
sau U
B
, este
n Iunctie de modul de conectare a bornelor
inIsurrii de iesire L
e
(stabilirea bornei polarizate
se Iace dup cerinte). Aceast structur este cea mai
simpl (2 intrri /1 iesire 2i /1e) si st la baza altor
structuri logice mai mult sau mai putin dezvoltate.
n acest mod se obtine parcurgerea complet - succesiv a ciclului
histerezis ntre punctele Q

si Q

, starea remanent pasiv stabil


(B
S
sau B
S
) instalndu-se atunci cnd H 0, n urma excitrii
magnetice produse de ultimul i mpuls de comand.
Dac dispare unul din cele dou semnale oricare, n Iunctie de
semnalul rmas activ, excursia punctului de Iunctionare pe caracteristica
x
1
x
2
y
1 1 1
0 1 0
1 0 0
0 0 0
10 Sisteme cu inalt fiabilitate functional
250
B f(H) se Iace repetat, la Iiecare impuls sosit, ntre punctele B
S
si Q

pentru I
i 1
, respective ntre punctele B
S
si Q

pentru I
i 2
; deoarece n
aceste situatii variatia de inductie este practic nul (B 0), semnalul la
iesire este, de asemenea, nul :
, 0 B k U
e
~ A ~
unde k este o constant de proportionalitate.
B - Circuitul logic tip SAU
Spre a se obtine structura corespunztoare sunt necesare trei
inIsurri de intrare si o nIsurare de iesire (3i/1e). Aceast structur
este redat n Iigura 10. 23a), ia r valorile variabilelor logice apar n
tabela 10. 10.
Tab. 10. 10
Pentru a realiza baleiajul ci clic integral pe
caracteristica B f(H) , pe lnga cele dou
intrri necesare variabilelor logice propriu-zise
x
1
si x
2
, este necesar o a t reia intrare la care se
aplic n permanent semnalul standard
complementar determinist . ) 1 x (
3
=
x
1
x
2
x
3
y
1 1 1 1
0 1 1 1
1 0 1 1
0 0 1 0
SI
SAU
x
1
x
2
x
3
y
x
`
L
i1
L
i2
L
i3
L
e
U
e
I
i1
I
i2

I
i3

Eig. 10.23
a)
b)



Fiabilitate functional in electronic
251
, v U , 1 x I U
, x I U , x I U
e 3
3
i B
2
2
i A 1
1
i A
=

sau:
, v U , 1 x I U
, x I U , x I U
e 3
3
i A
2
2
i B 1
1
i B
=

n aceste conditii pentru semnalul de iesire v rezult Iunctia
logic de lucru :
, ) , x x x x x x x x x x x v
2 1 3 2 3 1 2 1 3 3
+ = + = + = ' = deoarece x
3
1.
Se observ c, n acest caz, este necesar o dezvoltare de la
circuitul logic de tip SI (Iig. 10. 22a) la structura dubl SAU / SI
(Iig. 10. 23b); aceast redund ant de echipament este justiIicat de
cerintele severe impuse pentru realizarea unui nalt grad de Iiabilitate
Iunctional.
Totodat trebuie retinut Iaptul c utilizarea semnalului suplimentar
I
i 3
, asociat variabilei logice deterministe x
3
, este caracteristic si altor
procedee ca, de exemplu, n cazul logicii majoritare ( 10. 3. 1; semnalul
v
0
- Iig. 10. 18 si Iig. 10. 19).
C - Circuitul logic tip NU
Dac se analizeaz rspunsul unui circuit de negare, n variant
uzual (tab. 10. 11), se observ c :
Tab. 10. 11
- semnalul de iesire U
e
0 (dispare) att pentru starea
valid, prin eIect de negare, ct si n situatia aparitiei
unor deIectri ;
- nu este posibil ca n lipsa semnalului la intrare (x 0)
s se obtin semnal la iesire (Ir o protectie special).
x y
1 0
0 1
10 Sisteme cu inalt fiabilitate functional
252
Controlul supli mentar conduce, obligatoriu, la dezvoltri multiple,
Iiind necesare dou iesiri. O astIel de structur este redat n Iigura
10. 24, cu notatiile:
U
A
, U
B
semnale standard complementare deIazate cu 180
o
(Iig.
10. 21a) ;
I-SI , II-SI circuite logice de tip SI (Iig. 10. 22a) ;
U
e1
, U
e2
semnale obtinute la cele dou iesiri n urma procesrii
de negare logic a semnalului de intrare U
i
aleatoriu (de tip U
A
) ;
T tranzistor comutator pentru protectie prin electroali mentare
(9. 4, Iig. 9. 6) ;
D
1
, D
2
diode pentru separare n polaritate a ali mentrii circuite-
lor logice I- SI, II- SI ;
E
a
, E
a
tensiunile sursei duble de alimentare cu polaritti diIe-
rite Iat de zero (masa montajului) ;
R
1
, R
2
rezistoare de limitare a curentilor de ali mentare pentru
circuitele logice de tip SI;

I - SI
()
()
D
1
D
2
R
1
R
2
E
a
T
-E
a
0

I I - SI
U
B
U
A
U
e2
U
e1
U
B
U
i
(U
A
)
EA
x
y
1
x
y
2
x
NU
Eig. 10.24
a) b)
Fiabilitate functional in electronic
253
EA structur de electroalimentare comandat prin semnalul logic
de intrare U
i
.
Pentru a analiza rspunsul logic al acestui circuit complex este
necesar s se cunoasc, n prealabil, modul n care se realizeaz
alimentarea controlat prin intermediul structurii EA (care este redat cu
unele simpliIicri si ncadrat prin linii ntrerupte ).
u - stare pasiv n asteptare Ir semnal U
i
la intrare : tranzistorul
T este polarizat n jonctiunea baz-emitor si corespunde strii de
blocare, stare precizat prin semnul ; ca atare sursa de polaritate E
a
este inactiv, iar sursa E
a
(cu zero la mas) alimenteaz circuitul II -SI
prin rezistorul R
2
si dioda D
2
- si n consecint, acesta Iurnizeaz un
semnal logic de iesire (U
e2
0), Iiind excitat la cele dou intrri cu
semnalele deterministe U
A
si U
B
.
- stare activ, cnd la intrare apare semnalul aleatoriu U
i
(de tip
U
A
) : etajul precedent celui basc ulant T subnteles simpliIicat n schem
printr-o linie curb ntrerupt, care Iunctioneaz n regi m de pompare
electronic ( 9. 4, Iig. 9. 6a), provoac intrarea n conductie la saturatie
() a tranzistorului T care, astIel, ntrerupe alimentarea circuitului II-
SI (de la E
A
) si stabileste alimentarea circuitului I -SI, prin rezistorul
R
1
si dioda D
1
(de la - E
A
). NeIiind alimentat circuitul II-SI, cu toate c
are aplicate la intrare ambele semnale, U
i
-aleatoriu de tip U
A
si U
B

determinist, nu Iurnizeaz semnal la iesire (U
e2
0). n schimb circuitul
I-SI, avnd la intrare aplicate ambele semnale U
A
si U
B
ca si alimentare
de la surs E
A
(cu zero la mas), va Iurniza la iesire semnalul logic:
U
e1
0.
Rezult c la iesirea circuitului I-SI se repet semnalul logic de la
intrare (v
1
x), iar la iesirea circuitului II -SI se obtine valoarea negat a
celui de la intrare (v
2
x ), situatie redat prin structura logic din Iigura
10. 24b).
10 Sisteme cu inalt fiabilitate functional
254
La nivelul de macrosistem se observ c cele dou circuite logice
de tip SI au o Iunctionare n contratimp, proprietate pus n evident
prin analiza Iunctionrii dinamice redat sintet ic n tabela 10. 12 unde
sunt Iolosite urmatoarele simboluri graIice :
Tab. 10. 12
Intrare Starea elementelor Iesire
S
t
a
r
e
g
e
n
e
r
a
l

U
i
x T D
1
D
2
I-SI II-SI U
e1
U
e2
y
1
y
2
pasiv
(u)
0 0 1
activ
()
1 1 0
- lipsa semnalului (amplitudine nul) ;
- prezenta semnalului la amplitudine nominal ;
- stare blocat (T, D
1
, D
2
), respectiv stare pasiv (I -SI, II-SI);
- stare de conductie (T, D
1
, D
2
), r espectiv stare activ (I -SI,
II- SI).
Eiabilitatea Iunctional ridicat caracterizeaz si aceast structur
NU, la Iel ca si precedentele de tip SI, respectiv SAU. AstIel, la aparit ia
oricrei deIectri, nu se produce la iesire Iurnizarea simultan a perechi-
lor de valori logice v
1
x, v
2
x , Iiind excluse perechile (x, x) s i
( x , x ), care nu veriIic Iunctional produsul 0 x x v v
2 1
= = , indiIerent de
starea valid sau de avarie a structurii logice.
Aceast ridicat redundant de echipament, util din punct de
vedere Iunctional, se obtine cu pretul unei structuri complexe si deci a
Fiabilitate functional in electronic
255
unui cost ridicat. Dac la nivel macroscopic, de sistem, varianta
constructiv comport o intrare si dou iesiri (1i /2e), la nivel micro -
scopic apar 5 intrri si 2 iesiri (5i / 2e), Iiind necesare 6 tranzistoare, 2
miezuri de Ierit, 2 diode ca si alte componente pasive aIerente.
De asemenea trebuie remarcat c si acest circuit, n logic
dinamic, ndeplineste conditia de lucru n regi m de semnal permanent.
D - Circuite logice compuse
Prin integrarea circuitelor Iundamentale SI-SAU-NU, tratate
anterior, se obtin unele structuri compuse, avnd o arhitectur care s
corespund cerintelor n procesul de aplicatie vizat.
Un astIel de exemplu, cu i mplicat ii n structurile logice ale
sistemelor de dirijare a circulatiei / navigatiei, este circuitul logic de tip
NICI (SAU / NU), care se obtine prin ansamblarea unuia sau mai multor
circuite tip SAU cu un circuit tip NU (Iig. 10. 25). Tabela de adevr
10. 13 corespunde cu relatiile logice :
. x x x v , x x x v , x x x
2 1 2 2 1 1 2 1
+ = ' = + = ' = + = '
Tab. 10. 13
Aceast structur, n variant 2i / 2e, are
o complexitate cu mult mai mare (9 tran -
zistoare, 4 Ierite cu bobine aIerente si mai
multe componente pasive) dect circuitul NICI
uzual - Ir Iiabilitate Iunctional ridicat
x
1
x
2
y
1
y
2
1 0 0 1
0 1 0 1
1 1 0 1
0 0 1 0
y
1
x'
x
2
x
1
y
2
x'
x'
SAU
NU
Eig. 10.25
10 Sisteme cu inalt fiabilitate functional
256
(Iig. 10. 1: un tranzistor, dou diode, trei rezistoare).
O alt structur compus este cea a memorrii binare care, de
asemenea, este protejat printr-un eIect de redundant util a
echipamentului corespunztor. Eunctionarea ei se bazeaz pe Ienomenul
de reactie pozitiv, care permite mentinerea dinamic a inIormatiei
memorate. Schema general a acestei celule de memorie - binar este
redat n Iigura 10. 26a), utilizndu-se notatiile urmtoare :
x
m
variabil logic asociat mrimii care trebuie memorat
(semnalul de intrare ) ;
SL structura logic de procesare a mri mii memorate ;
x
r
variabil logic asociat mri mii de react ie pozitiv ;
y variabil logic asociat mri mii de iesire memorate (semnal
obtinut la iesirea celulei de memorare).
Spre deosebire de memoriile uzuale-statice, la care nu se
controleaz aparitia deIectrilor sau acest lucru se controleaz prin
intermediul unor semnale exterioare, la aceste memorii dinamice
controlul se eIectueaz prin semnalul de reactie x
r
.
n Iigura 10. 26b) este desIsurat - simpliIicat structura compus a
celulei binare de memorie, unde mai apar notatiile :
U
B
semnal standard de tip B - determinist (Iig. 10. 21) ;
2 1
x , x ' ' mrimi logice intermediare ;
x
m
U
B
x
r
U
B
I T
SAU
SI
y
x
IT
1
x'
2
x'
x
m
x
r
y
S L
a) b)
Eig. 10.26
Fiabilitate functional in electronic
257
x
IT
variabil logic asociat subansamblului de electroali mentare
IT (inversarea polarittii si temporizare).
Circuitul logic tip SAU are trei intrri si dou iesiri (3i / 2e), Iiind
realizat pe un miez toroidal din Ierit de comutatie pe care sunt bobinate
5 nIsurri (Iig. 10. 23) :
1 la prima intrare L
i 1
, cu variabila logic x
m
, se aplic semnalul
standard de tip U
A
- aleatoriu numai atunci cnd celula de memorie
trebuie s Iie activat, adic s treac din starea pasiv (y 0) n starea
activ (y 1) ;
2 la cea de a doua intrare L
i 2
, se aplic semnalul x
r
provenit din
bucla de reactie, semnal standard de tip U
A
- aleatoriu n Iunctie de
starea celulei de memorie; acest semnal trebuie, n mod obligatoriu, s
Iie n Iaz cu semnalul de intrare avnd variabila logic n x
m
;
3 la intrarea a treia (L
i 3
) este aplicat n permanent semnalul
standard de tip U
B
- determinist (Iig. 10. 21a) , pentru a realiza
parcurgerea ntregului ciclu hi sterezis n miezul de Ierit (Iig. 10. 22b) ;
n aceeasi situatie se aIl si cea de a doua intrare la circuitul de tip SI,
valoarea logic a variabilei corespunztoare Iiind n permanent egal
cu unitatea ;
4 la pri ma iesire (L
e1
) cu variabila logic (
1
x' ), se obtine un
semnal care ajunge la prima nIsurare de intrare n circuitul SI ;
5 la cea de a doua iesire (
2
x' ) este Iurnizat un semnal de
impulsuri care comand subansamblul IT; astIel se obtine o protectie
prin separare galvanic ( 9. 1 ; Iig. 9. 1c) Iat de prima intrare (
1
x' ) n
circuitul SI.
De asemenea este asigurat o prot ectie eIicient cu ajutorul
etajului IT ;
10 Sisteme cu inalt fiabilitate functional
258
- acesta Iurnizeaz o tensiune (continu) de alime ntare cu
polaritate inversat pentru etajul SI (negativ Iat de mas a montajului,
n locul celei pozitive Iat de mas - 9. 4; Iig. 9. 6a) ;
- de asemenea momentul Iurnizrii acestei tensiuni inversate, la
valoare nominal, este ntrziat Iat de primul i mpuls de comand
aplicat la intrarea etajului (
2
x' ); prin aceasta se asigur un interval de
protectie T
pr
Iat de perturbatii ( 9. 4; Iig. 9. 6b).
Etajul IT, Iiind comandat cu semnal logic intermediar
2
x' , are
caracterul Iunctional al unui etaj logic (binar): Iurnizeaz o tensiune
inversat cu amplitudine mai mare de pragul de amorsare a oscilatiilor
ntretinute, prin bucle de reactie (x
I T
1) sau sub acest prag (x
IT
0).
Rezult c Iunctia logic de lucru la nivel de sistem - macroscopic,
conIorm schemei din Iigura 10. 26b), are expresia :
, ) , x x x x x v
IT r m IT 1
+ = ' =
deoarece cele dou semnale standard U
B
, aplicate n mod permanent, au
valoare logic constant si egal cu unitatea (sunt deterministe).
n aceste conditii, analiznd Iunct ionarea logic la modul concret,
se ajunge la o deIalcare temporal n 5 etape care sunt redate n tabela
10. 14.
u - Montajul este alimentat normal de la sursa general, tensiunea
inversat este nul, nu exist semnal n bucla de reactie.
- Sosesc primele impulsuri ale semnalului de memorat, dar nc
nu se atinge valoarea de anulare a autooscilatiilor (U
eo
- Iig. 9. 6b; 9. 4).
- Se atinge amplitudinea de amorsare U
eo
a tensiunii inversate de
alimentare, avnd loc autoexcitarea celulei de memorie binar; din acest
moment poate s dispar semnalul pri mit de la intrarea x
m
(de memorat),
ncheindu-se regimul tranzitoriu la setare.
Fiabilitate functional in electronic
259
Tab. 10. 14
Etapa funcjional x
m
x
I 1
x
r
y
u stare pasiv, n asteptare (t 0) 0 0 0 0

imediat dup sosirea semnalului de


memorat (0 t T
pr
)
1 0 0 0
n momentul amorsrii (t T
pr
) 1 1 1 1
o dup amorsare, Ir semnal de intrare 0 1 1 1
c n momentul anulrii (resetare) 0 0 0 0
o - Este anulat semnalul de memorat la intrare, iar celula de
momorie trece n regi m stationar - permanent, Iunctionnd ca un
genarator de i mpulsuri: la iesirea circuitului SI se obtine semnal de tip
U
A
sau U
B
dup sensul de solenatie ales la conectarea celor dou borne
ale nIsurrii de iesire - n conditia sinIazrii cu semnalul de la intrarea
general (x
m
).
c - Este comandat, din exterior, stergerea memoriei - resetare,
prin ntreruperea circuitului de reactie (x
r
) sau a celui de alimentare cu
tensiune inversat (
2
x' sau x
I T
).
Se poate observa relativ usor c aparit ia oricrei deIectri n
Iiecare subansamblu al memoriei dinamice, inclusiv la conexiuni ntre
componente, conduce la disparitia semnalului de iesire (y), producnd
transIormarea unui rspuns Ials posibil n rspuns eronat (RERE;
1. 2. 3).
Unele circuite logice compuse se pot obtine si prin completarea
anumitor echipamente cu structuri dinamice de veriI icare, cu ajutorul
crora se obtine continuarea Iunctionrii corecte a sistemului chiar si
atunci cnd se produc deIectri care, Ir aceste completri, ar
determina blocarea procesului de circulatie / navigatie. Aceste perIectio-
nri, care conduc la cresterea si mai accentuat a Iiabilitt ii Iunctionale,
10 Sisteme cu inalt fiabilitate functional
260
sunt posibile datorit introducerii unei redundante de echipament, care
poate deveni util - n anunmie conditii, realiznd astIel o crestere a
gradului de tolerant la deIectri .
Spre a expune acest procedeu se poate pleca de la structur a
general a unui sistem, cu mare rspundere Iunctional, protejat Iat de
rspuns Ials ( 10. 2; Iig. 10. 3).
La producerea unor deIectri n subsistemul de procesare a
semnalelor de aplicatie - SSE, intervine subsistemul de protectie - SSP
care genereaz semnalul s - STOP si, n consecint, blocheaz procesul.
n anumite Iaze de desIsurare a procesului, aceast blocare poate avea
urmri grave; spre a se putea continua evolutia de Iaz n proces, se
recurge la procedeul numit al deIectrii contradictorii.
n acest scop, echipament ul din subsistemul de protectie SSP se
completeaz cu dou subansamble comandate prin acelasi semnal s, dar
care au structuri n elaborare special astIel nct o categorie de
deIectri s conduc la starea logic 0, iar o alt cat egorie la starea
logic 1, indiIerent de valoarea variabilei logice s, considerat variabil
de intrare.
Aceast structur, care nu trebuie conIundat cu cea a circuitului
logic de tip NU (Iig. 10. 24), este re dat la modul general n Iigura 10. 27
avnd, n completare, notatiile:
S S P
(SSE)
0/
/1
s
a
s
b
s
a/b
s
Eig. 10.27
Fiabilitate functional in electronic
261
0/ - circuit logic dinamic care, la producerea unor anumite
deIectri, introduce starea logic zero ;
/1 - circuit logic dinamic care, la producerea unor anumite
deIectri, introduce starea logic unu.
La cele dou iesiri se obtine dubletul de semnale s
a
si s
b
ntre care
exist coincident logic (1/1 sau 0/0) n situatiile :
sistemul se aIl n stare normal de Iunctionare, Ir deIectri,
stare valid (V);
sistemul se gaseste n stare deIect (V) pentru care circuitul
logic dinamic 0/ are valoarea logic zero;
sistemul se aIl n stare de deIecatare J pentru care circuitul
dinamic /1 are valoarea logic egal cu unitatea .
Analiza Iunctionrii acestei structuri logice este expus n tabela
10. 15, unde cu J este notat starea valid, Ir deIectri, iar cu J
starea nevalid, de dup aparit ia unor deIectri.
Tab. 10. 15
Stri s
a
s
b
s
a/ b
Contradictii
1 1 1/1
J
0 0 0/0
1 1 0/1
0/
0 0 0/0
1 1 1/1
/1
0 0 0/1
1 1 0/1
J
0/
/1
0 0 0/1
Considernd toate strile logice semniIicative, rezult 4 contra-
dictii care sunt marcate n ultima coloan. Numai n aceaste situatii
10 Sisteme cu inalt fiabilitate functional
262
contradictorii, Ir coincident logic, procesul va Ii blocat -STOP; n
toate celelalte cazuri procesul controlat poate Ii initiat sau poate
continua deoarece corespund strii valide (J) sau nu se modiIic
inIormatia logic de proces n starea de deIectare J . AltIel spus,
procesul se poate desIsura, Ir pericol, chiar si n starea de deIectare a
echipamentului, dac nu este modiIicat continutul inIormational.
O alt protectie utilizat n logica dinamic se obtine prin
introducerea pe circuitele de alimentare, n curent continuu, la Iiecare
unitate de baz (SI, SAU) a unei celule de protectie cu rezistor
condensator (Iig. 10. 28a) :
E
a
, I
a
tensiunea respectiv curentul de alimentare de la sursa
general ;
R
pr
, C
pr
celul rezistor - condensator pentru protectie (si
decuplare) n circuitul de alimentare ;
R rezistor pentru amortizarea i mpulsurilor de curent ;
L
i
nIsurare de intrare (comand) montat pe inelul de Ierit (E) ;
I
c
curentul de colector al tranzistorului ampliIicator T (care
Iunctioneaz n regi m de comutatie).
Dup cum se observ, din punct de vedere strict Iunctional, grupul
R
pr
C
pr
nu ar Ii necesar; dar, pe lng eIectul de decuplare Iat de alte
etaje logice (care Iunctioneaz, de asemenea, n impulsuri), prin acest
grup se obtine si o bun protectie Iat de cresterea accidental a
Irecventei impulsurilor standard (de lucru).
Pentru analiza acestui mod de protectie trebuie pus n evident
Iaptul c, la Iunctionare normal, pe durata unei perioade T
i
de repetitie
a impulsurilor (I
c
) se consum dou Iaze (Iig. 10. 28b) :
- Iaza de ncrcare a condensatorului C
pr
prin rezistorul R
pr
, cnd
tranzistorul T este blocat; aceast ncrcare se produce n timpul pauzei
dintre dou impulsuri consecutive t
p
, cu o constant de timp :
Fiabilitate functional in electronic
263
, C R
pr pr inc
=
- Iaza de descrcare a condensatorului C
pr
, pe durata impulsului t
i
,
prin componentele nseriate R - L
i
- T, avnd constanta de timp:
, ), R Z R C
T Li pr desc
+ + =
unde cu Z
Li
se noteaz modulul impedantei nIsurrii excitate L
i
iar cu R
T
rezistenta de trecere a tranzi storului T n stare de saturatie.
I
a
E
a
R
pr R
C
pr
U
C
I
c
T
L
i
(E)
-
I
c
U
C
E
a
E
a
E
o
E
o
U C
0
0
0
T
i T
i

t
nc
t
desc
t
i
t
p
t
t
t
a)
b)
Eig. 10.28
10 Sisteme cu inalt fiabilitate functional
264
Acest eIect periodic de ncrcare-descrcare este descris graIic
prin diagrama
, ), t f U
C
=
unde U
C
reprezint variatia, de asemenea periodic, a tensiunii la
bornele condensatorului C
pr
iar E
0
valoarea de prag pentru care se obtine
bascularea n ciclul histerezi s al miezului diIerit (Iig. 10. 22b).
Duratele inegale de ncrcare - descrcare corespund celor dou
constante de timp t
nc
si t
des c
care, de asemenea, nu sunt egale. AstIel, la
proiectarea echipamentului, este obligatoriu s se respecte relatiile :
. R Z R , R R ,
T
i
L pr desc inc
+ > < >
AltIel spus, condensatorul C
pr
se descarc rapid pe timpul i mpul -
sului standard si se ncarc lent pn la sosirea impulsului urmtor.
Dac se produce o crestere nepermis de mare a Irecventei de
aparitie a impulsurilor, care comand deschiderea tranzistorului T,
tensiunea U
C
la bornele condensatorului de protectie scade, relativ
repede, sub valoarea de prag E
0
; aceast reducere de tensiune are ca
eIect nerealizarea ciclului histerezis in miezul de Ierit si, n consecint,
disparitia semnalului la iesirea structurii logice protejate (rspuns
eronat; 1. 2. 3).
Aceast modalitate de protectie este analizat n diagrama , ) t f U
C
= '
din cadrul Iigurii 10. 28b), unde se presupune, pentru exempliIicare, c
Irecventa i mpulsurilor s-a dublat, dublare marcat prin impulsurile
intercalate ce sunt desenate cu linie ntrerupt n diagrama , ) t f I
c
= :
, f 2 f ,
2
T
T
i i
i
i
= ' = '
duratele si amplitudinile impulsurilor Iiind aceleasi .
Fiabilitate functional in electronic
265
Spre a se obtine eIicient maxi m, n dinamica de protectie,
trebuie s se dimensioneze cele dou constante de timp ( t
nc
si t
des c
)
astIel nct variatia exponential a tensiunii U
C
s aib limitele
. E U E
a C 0
s s
n acelasi timp trebuie remarcat Iaptul c acest procedeu de
protectie n Irecvent ( 9. 3) asigur si o protectie prin electro -
alimentare ( 9. 4). DiIere nta esential const n aceea c semnalul logic
- nsusi asigur protectia necesar, prin variatia nepermis a Irecventei
sale (cauz); eIectul este reducerea tensiunii de alimentare, reducere
care este controlat prin numrul de i mpulsuri standard: dac se
urmreste o protectie mai bun se va reduce valoarea constantei de ti mp
t
des c
; n acest Iel tensiunea

C
U va scdea mai repede (dup un numr
mai mic de i mpulsuri standard), atingnd valoarea de prag U
0
printr-un
regi m tranzistoriu de durat mai mic.
10.3.3. Logica de tip cablat
Acest tip de logic cu i mplementri eIiciente de aproape un secol
se mentine si azi , n anumite aplicatii , datorit Iaptului c oIer o
Iiabilitate ridicat la ndeplinirea unor Iunct iuni relativ simple.
Cea mai larg rspndire se gseste n struct urile de veriIicare -
validare a semnalelor de protectie - STOP (Iig. 10. 3), unde trebuie s Iie
asigurat un nivel extrem de ridicat al Iiabilittii Iunctionale.
Obtinerea unittilor de echipament cu logic de tip cablat se
bazeaz, n general, pe procedee de redundant static, procedee
devenite clasice (chiar si n cauz ul unor aplicatii moderne).
n cadrul capitolelor anterioare au Iost expuse numeroase
exempliIicri asupra metodelor si procedeelor Iolosite n scopul obtine-
10 Sisteme cu inalt fiabilitate functional
266
rii unui grad mare de Iiabilitate Iunctional; s-a putut observa c o
caracteristic principal a unui astIel de echipamente este simplitatea
schemelor utilizate si - pe aceast cale, realizarea unei Iiabilitti
ridicate ( 5. 1). Aceast proprietate combinat cu cea de reconIigurare
( 8. 3. 2; Iig. 8. 15 si 8. 16), ca si asigurarea unor protectii prin modul de
deIectare, au permis obtinerea unor structuri cu larg rspndire n
dirijarea traIicului Ieroviar ( 8. 2; Iig. 8. 7 si 8. 8).
Realizarea acestora conIorm cu cerintele riguroase de proces se
obtine, n general, prin circuite electrice de comutatie cu contacte argint
- graIit sau metal - metal: relee, comutatoare, chei, taste, contactoare,
butoane etc.
Proprietatea Iunctional de baz, n realizarea unor Iunctiuni de
protectie, este aceea de a avea Iizic o stare stabil - pasiv la care, dac
se ajunge, rspunsul Ials este evitat n Iavoarea celui eronat (dac n alt
mod nu se poate realiza o Iunctionare corect); aceast proprietate este
caracteristic, aproape n totalitate, si altor dispozitive logice de tip
cablat, bazate pe o stare stabil (monostabile).
Desenul mult simpliIicat, al structurii de constructie, pentru un
releu gravitational Iolosit n echipamentele de automatizare n circulatia
Ieroviar (ci Ierate si metrouri) este red at n Iigura 10. 29 cu notatiile:
b
L
bornele bobinei de excitatie L ;
U
i
, I
i
tensiunea respectiv intensitatea curentului de comand la
intrarea releului ;
AE armtura magnetic Iix ;
AM armtura magnetic mobil ;
AA ax de articulatie pentru armtura mobil care se poate
deplasa unghiular ntr-un plan vertical ;
G Iorta gravitational de actiune asupra armturii mobile
(vertical) ;
Fiabilitate functional in electronic
267
S
d
cele dou sensuri de deplasare ale armturii mobile: n sus sub
actiunea Iortei electromagnetice, respectiv n jos sub actiunea Iortei de
gravitatie (G) ;
k grup de contacte pentru comutat ie (triplet) ;
b
I 1
born pentru conectare la contact ul Iix superior (contact
simplu) ;
b
I 2
born pentru conectare la contact ul Iix inIerior (contact
simplu) ;
b
m
born pentru conectare la contactul mobil (dublu) care este
Iixat pe o lam elastic (metal); actionarea sa se Iace de ctre armtura
mobil AM printr-un cuplaj cinematic electroizolant (reprezentat n
desen prin linie ntrerupt).
n contextul realizrii unor structuri logice de nalt Iiabilitate
Iunctional sunt expuse, n continuare, caracteristicil e esentiale
corespunztoare celor dou stri de comutatie, bazate pe existenta unui
triplet de contacte, Iormnd dou contacte inverse: unul stabil it - nchis,
cellalt ntrerupt -deschis.
> Starea dezexcitat (de revenire, stabil, pasiv) :
b
L
b
L
U
i
I
i
L
b
I1
b
m
b
I2
k
G
AA
AM
AE
S
d
Eig. 10.29
10 Sisteme cu inalt fiabilitate functional
268
- curentul de comand la intrare I
i
este nul sau sub pragul de
revenire ;
- armtura mobil AM este czut ( ntreIierul este maxim) ;
- contactele mobil (b
m
) si inIerior (b
I 2
) sunt stabilite: rezistenta
electric de trecere este practic nul ;
- contactele mobil (b
m
) si superior (b
I 1
) sunt desIcute: rezistenta
electric de trecere este, teoretic, inIinit.
> Starea excitat (de act ionare, activ, nestabil) :
- curentul de comand la intrare I
i
are valoarea necesar act io-
nrii armturii ;
- armtura mobil AM este atras (ntreIierul este mini m) ;
- contactele mobil (b
m
) s i cel superior (b
I 1
) sunt stabilite, cu
rezistent de trecere practic nul ;
- contactele mobil (b
m
) s i cel inIerior (b
I 2
) sunt desIcute, cu
rezistent electric de trecere, teoretic, inIinit .
Modul de basculare de la o stare la alta este diIerit n Iunctie de
sensul de trecere (act ionat / revenit sau revenit / actionat) dup o
caracteristic histerezis (10. 3. 2; Iig. 10. 22b). Deosebirea esential
const n Iaptul c, bobina L Iiind alimentat n curent continuu cu o
singur polaritate, punctul B
S
corespunde strii de actionare / excitat,
iar punctul B
S
0, care se gseste n originea axelor de coordonate
(teoretic) , corespunde strii de revenire / dezexcitat.
Totodat se i mpune o protectie deosebit pentru evitarea strii de
actionare activ, dac aceasta se instaleaz n mod intempestiv: cnd I
i
0 si armtura mobil se aIl n pozitie superioar, contactele b
m
- b
I 1
Iiind stabilite; aceast protectie se obtine pe dou ci:
- contactul mobil (b
m
) este Iabricat dintr -un aliaj de argint, iar cel
Iix-superior (b
I 1
) din graIit; argintul cu graIitul nu se pot suda (datorit
Fiabilitate functional in electronic
269
unor supracurenti accidentali), astIel c armtura mobil nu poate
rmne n pozitia de sus prin eIect de sudur (contact permanent);
- tot un eIect de contact electric intempestiv, ntre contactele b
m
-
b
I 1
, poate s se produc dac cuplul rezistent n axul de articulatie AA
(Iat de lagrul su) este egal sau mai mare dect cuplul dat de greutatea
G a armturii mobile AM. Evitarea acestei cauze care, de asemenea,
poate conduce la rspuns Ials se Iace printr-o mentenant ( 4. 3; Iig. 4. 6)
riguros programat si executat (n conditii de laborator specializat).
Mai trebuie adugat Iaptul c acest tip de releu trebuie s Iie
montat (n echipament) ntr -o pozitie vertical, astIel ca armtura Iix
AE s Iie n pozitie orizontal: axul bobinei de excitatie L ca si cel al
miezului magnetic din carcasa acestuia s coincid ntr-un plan
orizontal; acest aspect, de ordin constructiv, a determinat ca utilizrile
practice s se Iac n echipamente Iixe la sol, situatie Iavorabil
existent n transportul Ieroviar.
Pentru alte domenii de transport (aerian, naval, rutier, spatial) au
Iost elaborate astIel de dispozitive, adaptate la conditiile speciIice, dar
avnd aceeasi caracteristic Iundamental: Iizic, au o stare stabil-
pasiv care nu poate conduce la un rspuns Ial s, rezultnd ntr-o astIel
de situatie un rspuns eronat. Principiul constructiv de baz este acelasi
ca la releul gravitational, cu deosebire c eIectul gravitatiei (G) este
nlocuit prin eIectul unuia sau mai multor resoarte (arcuri). De tip
gravitational sau cu resoarte, toate aceste dispozitive sunt echivalente,
la nivel macroscopic, cu circuitul electronic basculant monostabil.
n continuare vor Ii expuse unele circuite n logic de tip cablat
(realizate cu astIel de dispozitive), n variante Iundament ale sau
derivate (compuse), ca si anumite aplicatii tehnologice mai rspn dite n
transporturi.
10 Sisteme cu inalt fiabilitate functional
270
A - Circuitul logic repetor DA este Iolosit, mai ales, pentru
injectarea unor semnale de protectie n echipamente de procesare a
inIormatiei la un nivel ridicat de Iiabilitate Iunctional.
Structura sa electric se bazeaz pe utilizarea unui singur releu
gravitational (Iig. 10. 29) Ir a se utiliza contactul Iix inIerior (b
I 2
).
n Iigura 10. 30 este redat structura electric si logic, unde s-au
mai notat cu :
R bobina de comand a releului parcurs de curentul la intrare I
i
;
x variabila logic de intrare asociat tensiunii U
i
si curentului I
i
;
r contactul mobil al releului R conectat electric la borna b
m
(Iig. 10. 29) ;
r
1
contactul Iizic superior conectat electric la borna b
I 1
;
y variabil logic de iesire prin care se repet valoarea logic a
celui de la intrare (x).
n tabela 10. 16 sunt precizate valorile celor dou variabile logice x
si y pentru o Iunctionare normal - Ir deIectri, cnd se obtin dubletii
x / y de valori 0/0 si 1/1 Iiind excluse,
pentru starea valid, perechile de valori 0/1 si 1/0.
Se mai precizeaz c, asa cum s-au reprezentat si n capitolele
anterioare, starea pasiv-stabil este indicat prin sageat vertical ( ),
R
b
L
b
L
I
i
x
U
i
y x
r
r
1
k
Eig. 10.30
Fiabilitate functional in electronic
271
respectiv starea activ-nestabil prin sgeat orizontal () ; acest mod
de reprezentare graIic va Ii mentinut si n continuare.
Tab. 10. 16
Cu ajutorul acestui repetor logic, care are o intrare
si o iesire (1i / 1e), se mai pot realiza si urmtoarele
operatii :
1 transIormarea unei mri mi electrice cu variatie
continu, aplicat la int rare (x), n mri me electric avnd variatie salt-
discontinu (Iunctie tip treapt cresctoare sau descresctoare - y) ;
2 corectarea distorsiunilor n Iorma de und a unor i mpulsuri
dreptunghiulare ;
3 separare galvanic ntre circuitul de intrare (x) s i circuitul de
iesire (y) ;
4 ampliIicare n putere, intensitate sau tensiune dac n circuitul
de iesire este necesar aceast operatie ; n general semnalul de
comand - intrare (x) are o putere mai mic decat cea a semnalului
comandat n circuitul de executie - iesire (y).
Tot o Iunctie de repetor logic de tipul (1i / 1e), cu proprietti
tehnice asemntoare, ndeplineste si optocuplorul ( 9. 1; Iig. 9. 1d):
conditia logic este ca intensittile curentilor I
i
(x) si I
e
(y) s aib
variatii n acelasi sens (de crestere sau descrestere).
O aplicare extrem de larg a acestor posibilitti n protectia
circulatiei Ierovi are este la circuitul de cale: traductor parametric pentru
controlul strii de liber sau de ocupat a unor portiuni de linie Ierat, cu
lungi me de la ctiva metri pn la 3 km (Japonia). Inventat si brevet at n
anul 1908, pri mul circuit de cale a Iost implementat n Statele Unite ale
Americii n anul 1921. De atunci si pn azi acest traductor a suIerit
numeroase perIectionri , n pas cu dezvoltrile tehnologice, dar prin-
x y
0 0
1 1
10 Sisteme cu inalt fiabilitate functional
272
cipiul de Iunctionare al circuitului la iesire a rmas acelasi si anume -
de circuit logic repetor (monostabil ) cu releu gravitational.
n desenul din Iigura 10. 31a) este re produs circuitul de cuplaj
Iunctional dintre linia Ierat si echipament (Ech) care proceseaz
semnalul electric provenit din cale si comand reglarea (manual sau
automat) a circulatiei Ieroviare. Aici mai apar urmatoarele notatii :
RC releu de cale comandat prin curentul I
i
;
r
c
contactul mobil al releului de cale (argint) ;
r
c1
contactul Iix al releului de cale (graIit) ;
(EA) surs de alimentare cu energie electric (de regul, cu o
tensiune mai mare dect tensiunea maxi m a semnalului de intrare U
i
);
I
e
curentul de iesire din repetorul logic prin contactul k;
(Ech) echipament de reglare a circulatiei Ieroviare.
r
c
r
c1
I
e
I
e
y
(EA)
(Ech.)
k
RC
U
i (linie)
I
i
x
U
i
U
act
U
rev
I
e
I
eo
AU
0 t
0
t
t
act
t
rev
linie liber
linie liber
linie ocupat
Eig. 10.31
a)
b)
Fiabilitate functional in electronic
273
Echipamentul (Ech) apartine unei instalatii din structura creia pot
s Iac parte :
- centralizare electrodinamic (CED) ;
- centralizare electronic (CE) ;
- bloc de linie automat (BLA) ;
- automatizare triaje (AT) ;
- pasaje la nivel cu calea Ierat (SAT, BAT) etc .
Circuitul de cale, care este un traductor binar |0, 1|, Iunctioneaz
pe baza unui semnal electric aplicat la intrarea port iunii de linie
controlat, semnal care este injectat n permanent (determinist). Dup
propagare prin circuitul electric, Iormat din cele dou sine ale cii,
acesta devine aleatoriu, continnd inIormatie de dou Ieluri :
- util, cu privire la starea de ocupare sau de liber a liniei, datorit
eIectului de suntare electric de ctre perechile de roti si osiile
dintre ele ;
- neutil, perturbatoare din multiple cauze: ploaie, ninsoare, n-
ghet, topirea zpezii, descrcri electrice accidentale etc.
Rolul Iunctional al releului de cale RC este acela de a discri mina
ntre cele dou variatii de amplitudine si de a repet a logic, la iesire,
numai semnalul util. Aceast procesare este explicat prin diagramele
amplitudine - ti mp din Iigura 10. 31b), unde sunt considerate cele dou
stri - rspunsuri Iunctionale; cu U
r ev
s-a notat valoarea tensiunii de
revenire (cdere), iar cu U
act
valoarea celei de actionare (atragere) a
releului RC.
> Starea activ, normal - linie liber :
- nu exist sunt pe linie (S );
- semnalul U
i
la intrare are amplitudine ridicat, suIicient pentru
aceast stare :
10 Sisteme cu inalt fiabilitate functional
274
, 1 x , U U
rev i
= >
- releul de cale RC este actionat () ;
- contactele r
c
si r
c1
sunt stabilite ;
- curentul de iesire are amplitudinea nominal (I
eo
) pentru starea
activ a repetorului
v x 1.
> Starea pasiv, suntat - linie ocupat:
- exist suntul pe linie ( S ~ 0) ;
- semnalulul U
i
la intrare se aIl la o amplitudine sczut:
0 x , U U
rev i
= < ;
- releul de cale RC este revenit () ;
- contactele r
c
si r
c1
sunt deIcute ;
- curentul de iesire este anulat :
, ). 0 x v , 0 I
e
= = =
Din pri ma diagram (b) care reprezint relatia ), p , S ( f U
i
= se vd
Iluctuatiile cauzate de Iactorii perturbatori din linie (p) si variatiile de
amplitudine provocate de eIectul de suntare (S). Din diagrama I
e
f(t )
se observ c la iesire semnalul I
e
este constant si egal cu I
eo
, care
corespunde valorii de prag U
r ev
pn n momentul revenirii releului de
cale (t
r ev
). De asemenea, semnalul I
e
este nul ntre momentele t
r ev
si t
act
(momentul actionrii releului) care ncadreaz durata de ocupare a liniei
de ctre tren.
Varitiile relativ rapide prin pragurile de tensiune U
r ev
si U
act
depind de viteza de deplasare a trenului si de lungimea sa (numrul de
osii): aceste variatii sunt descresctoare la ocuparea (progresiv) a
liniei, respectiv cresctoare la eliberarea (tot progresiv) a liniei.
DiIerenta de ampl itudine (Iig. 10. 31b)
rev act
U U U = A
Fiabilitate functional in electronic
275
se explic prin caracteristica histerezis a releului de cale RC carac-
teristic necesar pentru a asigura o stabilitate Iunctional pe duratele
de trecere ,linie liber / linie ocupat si 'linie ocupat / linie liber.
Se mai remarc Iaptul c cele dou rspunsuri necorecte se pot
produce dac :
x 1 , v 0 ; (eronat, RE)
x 0 , v 1 ; (Ials, RE),
adic stri care logic se expri m prin dubletii 1/0 si 0/1 ceea ce, dup
cum s-a artat, este Ioarte improbabil.
La Iel ca n cazul avertizorului de alarm din sistemul de aterizare
dup instrumente - ILS, aici releul de cale RC veriIic si starea valid a
tuturor elementelor de sistem (emittor, linie - inclusiv continuitatea
electric a sinelor, receptor): orice deIectare aprut determin reve-
nirea releului RC (rspuns eronat).
B - Circuitul logic inversor NU care se mai numeste si de negare
este, constructiv si Iunct ional, varianta complementar a repetorului
logic avnd, de asemenea, o intrare si o iesire (1i / 1e).
Asa cum se vede n structura sa, reprodus n Iig. 10. 32, este conectat la
iesire contactul Iix r
2
; n tabela de adevr 10. 17, pentru Iunctionare
R
b
L
b
L
I
i
x
U
i
r
r
2
k
Eig. 10.32
y x
_
10 Sisteme cu inalt fiabilitate functional
276
normal, corect, sunt redate cele dou stri speciIice, conIorm
expresiei . x v =
Tab. 10. 17
Caracteristic este Iaptul c nu admite ntre
intrare si iesire (i/e), dubletii de valori 1/1 si 0/0.
Tot un circuit logic inversor se poate obtine cu
ajutorul optocuplorului ( 9. 1; Iig. 9. 1d), dac se ia ca
mri me de iesire semnalul de tensiune U
e
, ntre colectorul si emittorul
Iototranzistorului ET, mrime ce are o variati e invers Iat de mri mea
de intrare I
i
:
. RI E U
e a e
=
Cele dou stri extreme, de regim permanent, ale Iototranzis-
toarelor ET deIinesc valorile logice de negare (x, y) ; n tabela 10. 18
sunt redate valorile de stare ale mrimilor de circuit, unde s-a mai notat
cu u Iluxul luminos generat de dioda electroluminiscent D.
Tab 10. 18
Intrare (i) Ieyire (e)
x I
i
u
FT
I
e
U
e
y
0 0 0 0 E
a
1
1 0 0 0 0 0
C - Circuitul logic de comutare DA / NU
Acest circuit, numit si de distribuire sau de repartizare, se
realizeaz n logic de tip cablat, cu o intrare si dou iesiri (1i / 2e).
Reprezint, n Iond, o combinatie dintre un circuit repetor (DA) s i un
circuit de negare (NU), Iiind utilizat n scopul ramiIicrii inIormatiei n
Iorm logic de la intrarea unic (x) la cele doua iesiri (y
1
, y
2
).
x y
0 1
1 0
Fiabilitate functional in electronic
277
Schemele electrice si logice sunt redate n Iigura 10. 33 a) pentru
varianta cu triplet de contacte (releu gravitational), respectiv pentru
varianta Ir contacte electrice (Iig. 10. 33b) ce corespunde avertizorului
ILS ( 10. 2 ; Iig. 10. 4).
n vederea si mpliIicrii expunerii, aici si n continuare, nu se mai
reprezint circuitul de intrare (x), subntelegnd exist enta acestuia.
Din punct de vedere strict logic si Iunctional circuitul logic de
comutare este echivalent celui de negare, cu dou iesiri, din logica
dinamic ( 10. 3. 2; Iig 10. 24).
n tabela de adevr 10. 19 sunt redate valorile celor dou stri
logice; si aceast tabel este Ioarte redus n raport cu cea din logica
dinamic: sunt suIiciente, pentru analiza variantei n logic de tip
cablat, numai trei coloane (x, y
1
, y
2
).
De asemenea acest circuit logic nu admite dubleti i (1/1) si (0/0)
ntre cele dou iesiri (y
1
/ y
2
), deoarece
0 x x v v
2 1
= =
Tab 10. 19
Se poate, relativ usor, observa c ntre
intrare (unic) si ies ire (dubl) sunt admisi dubletii de
valori (x / y
1
,
2
) :
- repetor logic : x / y
1
: 1 / 1 si 0 / 0;
- inversor logic : x / y
2
: 1 / 0 si 0 / 1.
x y
1
y
2
0 0 1
1 1 0
r
1
r
2
r
y
1
x
k
x
I
Av
y
2
x
_
y
1
x y
2
x
_
a) b)
Eig. 10.33
10 Sisteme cu inalt fiabilitate functional
278
La Iel, acestui circuit logic de repartizare avnd, de asemenea, o
intrare si dou iesiri i corespunde avertizorul sistemului de aterizare
dup instrumente-ILS. Asa cum s-a vzut, mri mea de intrare este, de
asemenea, electric - n bobina unui electromagnet.
DiIerenta esential, din punct de vedere constructiv, const n
Iaptul c acest dispozitiv, destinat aIisajului pentru piloti, nu are
contacte electrice n circuitele de iesire; armtura sa mobil actioneaz,
prin deplasarea ntre cele dou pozitii extreme, sectorul de aIisaj cu
dungi albe si dungi rosii.
n Iigura 10. 33b) este redat structura logic, de asemenea, Iar a
mai reprezenta n detaliu circuitul de intrare (x), iar n tabela 10. 20 sunt
precizate, din punct de vedere Iunctional, cele dou stri logice si
Iizice.
Tab. 10. 20
y
1
x y
2
x
St are
Ii zi c
x
Val oare
l ogi c
AIi saj
Val oarea
l ogi c
AIi saj
act i onat

1 1
alb
0

reveni t

0 0

1
rosu
Curentul prin bobina avertizorului I
Av
, care reprezint mri mea
Iizic de intrare determin, dac depseste valoarea de prag la actionare,
atragerea armturii magnetice si, prin aceasta, aIisarea culorii alb (y
1

1); scderea acestui cur ent sub valoarea de revenire permite bascularea
armturii magnetice si deci aIisaj de culoare rosu (y
2
1).
Caracteristica sa general corespunde, de asemenea, unui circuit
basculant monostabil, avnd o corespondent Iunctional direct cu
releul circuitului de cale:
Fiabilitate functional in electronic
279
- aIisaj alb circuit de cale liber ;
- aIisaj rosu circuit de cale ocupat.
D - Circuit logic sumator - SAU
Numit si colector sau de disjunctie, are dou intrri si o singur
iesire (2i/1e), Iiind necesare dou relee (R
a
, R
b
) pentru realizarea sa, cu
contacte utilizate a - a
1
respectiv b - b
1
(Iig. 10. 34a).
Structura logic, n circuitul de iesire, este echivalent cu dou
repetoare conectate n derivatie (Iig. 10. 30), iar Iunctia logic de lucru
este :
. x x v
b a
+ =
Reprezentarea logic si graIul sunt identice cu cele de tip SAU din
logica majoritar (10. 3. 1; Iig. 10. 7 b, c). Are patru stri logice,
corespunznd unei Iunctionri corecte - Ir deIectri, care sunt redate
U
ia
U
ib
x
a
x
b
I
ia
I
ib
R
a
R
b
a
a
1
b
b
1
y
k
a
1
a
b
1
b
k
y
Eig. 10.34
a)
b)
10 Sisteme cu inalt fiabilitate functional
280
n tabela 10. 21, unde n pri ma linie este prezentat starea schemei
electrice din Iigura 10. 34a).
Tab. 10. 21
Mai trebuie precizat c cele dou relee
gravitationale au contacte active a - a
1
si b - b
1
de
tipul argint-graIit (conectate n paralel); cele doua
intrri (x
a
si x
b
) sunt complet separate, logic si
electric.
E - Circuitul logic de coincident SI
Este numit si produs logic, de conjunctie si are, ca si circuitul de
tip SAU, dou intrri independente si o singur iesire; pentru aceasta
sunt necesare dou relee, ale cror contacte sunt legate n serie la iesire
(Iig. 10. 34b) Iiind echivale nte, din acest punct de vedere, cu dou cir-
cuite logice repetoare (Iig. 10. 30) care sunt conectate n serie; la Iel ca si
n cazul precedent, contactele de lucru a - a
1
si b - b
1
sunt din argint -
graIit.
Tab. 10. 22
Eunctia logic de lucru este :
, x x v
b a
=
cu reprezentarea logic din Iigura 10. 7d) si graIul
desenat n Iigura 10. 7e) - 10. 3. 1. Cele patru stri
logice, pentru Iunctionare norma-l, sunt redate n
tabela 10. 22, prima linie corespunznd desenului
din Iigura 10. 34b).
F - Circuitul logic NUMAI
Este derivat dintr-un circuit SAU si reprezint o sum de dou
semnale logice negate:
, x x v
b a
+ =
x
a
x
b
y
0 0 0
1 0 1
0 1 1
1 1 1
x
a
x
b
y
0 0 0
1 0 0
0 1 0
1 1 1
Fiabilitate functional in electronic
281
n concordant cu tabela de adevr 10. 23 si schema (simpliIicat) din
Iigura 10. 35a).
Tab. 10. 23
Din punct de vedere logic este echivalent cu
un ansamblu NU/SAU, respectiv cu dou circuite
de negare NU conectate n paralel, avnd dou
intrri si o singur iesire (2i / 1e). AltIel spus,
prin grupul de contacte k (doi dubleti), se poate
obtine semnal logic y 1 la iesire numai dac este
actionat releul x
a
sau (numai) releul x
b
.
Prin nsumarea unui singur semnal negat (NU) cu cellalt Ir
negare (DA) se obtine un circui t logic partial - NUMAI (Iig. 10. 35b):
semnalul logic la iesire este activ (y 1) numai dac este actionat releul
x
a
, releul x
b
Iiind revenit :
. x x v
b a
+ =
x
a
x
b
y
0 0 1
1 0 1
0 1 1
1 1 0
a
2
a
b
2
b
y
a
1
a
b
2
b
y
a
2
a
b
1
b
y
k
k
k
k
a) b)
c)
Eig. 10.35
10 Sisteme cu inalt fiabilitate functional
282
Tab. 10. 24
n acest caz valorile semnalul ui logic la
iesire (y) se obtin pentru Iiecare din cele patru
stri, ale acestei structuri, n Iunctie de semnalele
logice aplicate la intrare (x
a
si x
b
), situatie descris
n tabela 10. 24, unde linia a doua reprezint starea
schemei desenate n Iigura 10. 35b).
Procednd n mod strict complementar, se obtine o a doua variant
de circuit partial NUMAI
, x x v
b a
+ =
cu schema din Iigura 10. 35c), respectiv tabela de adevr 10. 25, n care
linia a treia corespunde strii schemei logice si electrice.
Tab. 10. 25
Adoptarea uneia sau celeilalte variante
partiale se Iace dup aspecte de elaborare practic
si economice deoarece, asa cum se poate observa,
din punct de vedere logic - Iiabilist, nu sunt
diIerente esentiale.
G - Circuitul logic NICI
Eace, de asemenea, parte din categoria celor cu dou intrri si cu o
iesire (2i / 1e) avnd o larg utilizare, n logica de tip cablat, pe ntru
protectii la rspuns Ials. Este complementar Iat de circuitul logic SI, cu
o structur bazat pe utilizarea a dou relee de tip gravitat ional.
n schema din Iigura 10. 36a), unde este redat structura logic a
acestui circuit, de asemenea simpliIicat la maxi mum, se vede c sunt
conectate n serie contactele stabilite pentru cele dou relee n stare
x
a
x
b
y
0 0 1
1 0 1
0 1 0
1 1 1
x
a
x
b
y
0 0 1
1 0 0
0 1 1
1 1 1
Fiabilitate functional in electronic
283
revenit: pentru a obtine semnal activ la iesire (y) este necesar ca nici
unul dintre cele dou relee (x
a
si x
b
) s nu Iie excitate.
Din punct de vedere structural circuitul NICI este echivalent cu
ansamblul a dou circuite elementare de tip NU/SI, respectiv cu dou
circuite de negare nseriate; din tabela de adevr 10. 26, unde pri ma linie
corespunde cu starea schemei desenate (Iig. 10. 36a), rezult expresia
Iunctiei logice a semnalului de iesire:
b a
x x v = .
Tabela 10. 26
Expresia reprezint produsul a dou variabile
logice negate. Pe de alt parte, aplicnd Iormula
lui De Morgan :
, x x x x
b a b a
+ =
rezult c aceast structur NICI, n logic de tip
x
a
x
b
y
0 0 1
1 0 0
0 1 0
1 1 0
a
a
2
b
b
2
y
k
a
a
b
b
a
1
a
2
b
2
b
1
y
y
k
k
Eig. 10.36
a)
b)
c)
10 Sisteme cu inalt fiabilitate functional
284
cablat, corespunde celei n logic uzual DTL - diod transistor logic de
tipul SAU / NU - NICI (cu dou intrri i
1,
i
2
), circuit care a Iost
analizat anterior ( 10. 1; Iig. 10. 1) si care reprezint suma negat a dou
variabile logice.
Tab. 10. 27
O alt structur n logi c de tip cablat,
derivat din circuitul SI, este numit de interdictie
care, n practic, mai poart si denumirile de anu-
lare, blocare sau oprire. Valorile logice ale
variabilelor, pentru cele patru stri valide, se
gsesc n tabela 10. 27, iar structura logic,
simpliIicat, este redat n Iigura 10. 36b).
Eunctia logic de lucru are expresia:
b a
x x v =
si corespunde unui circuit partial - NICI: releul R
b
interzice, prin
actionare, activarea marimii de iesire y chiar dac releul R
a
este n stare
activ. Structura sa logic se obtine prin nserierea unui circuit de tip
repetor - DA cu unul de tip inversor - NU.
Tab. 10. 28
Varianta complementar, derivat tot dintr-
un circuit NICI, este redat n tabela de adevr
10. 28 si prin schema logic din Iigura 10. 36c).
Este tot un circuit de interdictie (anulare,
blocare, oprire), deosebindu-se de cel precedent
prin negarea celeilalte variabile logice de intrare:
b a
x x v =
n acest caz mrimea x
a
, prin activare, interzice mrimea x
b
. Ca
structur logic este Iormat dintr-un circuit de tip NU nseriat cu unul
de tip DA.
x
a
x
b
y
0 0 0
1 0 1
0 1 0
1 1 0
x
a
x
b
y
0 0 0
1 0 0
0 1 1
1 1 0
Fiabilitate functional in electronic
285
` ` `
Toate aspectele abordate si tratate pn acum si ndeosebi cele cu
privire la logica de tip cablat, conduce la concluzia c, pentru Iunctiu-
nile de protectie, n cazul sistemelor cu mare rspundere Iunctional,
este necasar ca Iunctia de Iiabilitate Iat de rspuns Ials R
RF
(t) s Iie ct
mai mare (posibil):
, 1 ) t ( R
RF

respectiv Iunctia de nonIiabilitate Iat de rspuns Ials s aib valori ct
mai mici (posibil);
. 0 ) t ( R 1 ) t ( F
RF RF
=
n practica acestor sisteme este necesar evaluarea indicatorilor
R
RF
(t) si F
RF
(t) n timpul normal de viat ( 4. 3) si pe durate crit ice de
proces, cnd pot s apar stri caracterizate prin rspuns Ials; aceste
durate sunt precizate pe Iaze procesuale - etape si au valori, n general,
mult mai mici dect durata normal de viat. Spre exemplu, la sistemul
ILS (aterizare dup instrumente) Iaza critic are un timp cel mult egal
cu durata aterizrii avionului.
Pentru exprimarea Iiabilittii Iunctionale se preIer valorile
(probabiliste) ale Iunctiei F
RF
(t ) care, Iiind Ioarte mici, pot Ii precizate
mai usor prin puteri negative ale bazei 10, Iat de cele ale Iunctiei
R
RF
(t) care sunt expri mate prin valori apropiate de unitate.
n tabela 10. 29 sunt precizate categoriile deIectrilor si , n Iunctie
de acestea, valorile probabiliste al e Iunctiei de nonIiabilitate n raport
cu rspunsurile Ialse F
RF
(t), pentru durata de o or (t 1h). n acest Iel
se Iace si o conexiune direct cu Ienomenul de deIectare ( 2. 2) care
poate provoca aparitia unui rspuns Ials. Se Iace precizarea c att
preIixele, ct si simbolurile utilizate corespund submultiplilor zeci mali
10 Sisteme cu inalt fiabilitate functional
286
n conIormitate cu standardul SR ISO 31-0, iar categoriile prin care se
deIinesc valoric clasele, n raport cu trei ordine de mrime, sunt marcate
spre a Ii puse n evident.
Tab. 10. 29
Nr
crt.
Categoria defectrii
F
RF
(t 1h)
Denumire Simbol
1 probabil 10
- 1
deci d
2 Ioarte probabil 10
- 2
centi c
3 miliprobabil 10
- 3
mili m
4 uzual probabil 10
- 4
- -
5 putin probabil 10
- 5
- -
6 microprobabil 10
- 6
micro u
7 Ioarte putin probabil 10
- 7
- -
8 improbabil 10
- 8
- -
9 nanoprobabil 10
- 9
nano n
10 Ioarte improbabil 10
- 10
- -
11 ultraimprobabil 10
- 11
- -
12 picoprobabil 10
- 12
pico p
13 suprai mprobabil 10
- 13
- -
14 extrem de i mprobabil 10
- 14
- -
15 femtoprobabil 10
- 15
femto f
16 attoprobabil 10
- 18
atto a
17 zeptoprobabil 10
- 21
zepto z
18 yoctoprobabil 10
- 24
yocto y
AstIel, de exemplu, releul de sigurant cu armtur gravitational,
din acest punct de vedere, Iace parte din categoria supraimprobabil a
deIectrii (10
- 13
), clasa picoprobabil (10
- 12
).
Fiabilitate functional in electronic
287
Tot valori extreme de mici se impun si n tehnica zborurilor spati -
ale, mergnd pn la valoarea 10
- 24
pentru o component (la durata de 1
or).
Asemenea conditii Iiabiliste severe trebuie s ndeplineasc si alte
elemente de circuit ca, de exemplu, subsistemul de decizie SSD (voter)
n structurile cu redundant majoritar (8. 2 ; Iig. 8. 6), dac cerintele de
sistem i mpun acest lucru.
Notnd cu F
pr
(t) Iunctia de nonIiabilitate a subsistemului de
protectie si cu F
s i s t
(t) Iunctia de nonIiabilitate ce corespunde subsis-
temului protejat, se poate evalua gradul (eIicienta) de protectie q
pr
:
.
F
F
pr
sist
pr
=
n practic, tinnd seam de cerintele aplicatiei n cauz, se
consider c acest grad de protectie, expri mat prin raportul Iunctiilor de
nonIiabilitate, trebuie s corespund, mini mum, cu trei ordine de
mri me :
. F 10 F ,
10
F
F
sist
3
pr
3
sist
pr

s s
AstIel, la limit, dac un subsistem prot ejat oarecare este
caracterizat prin valoarea (probabi list) a Iunctiei de nonIiabilitate
, 10 ) h 1 t ( F
6
sist

= =
subsistemul de protectie trebuie s aib o Iunctie de nonIiabilitate de cel
putin
. 10 10 10 ) h 1 t ( F
9 6 3
pr

= = =
Rationnd (teoretic) se poate aIirma c este cu att mai bine cu ct
valoarea Iunctiei de nonIiabilitate pentru protectie F
pr
(t) este mai mic;
10 Sisteme cu inalt fiabilitate functional
288
totusi, n planul practicii, aceast valoare mini m este limitat jos din
considerente tehnico - economice.
Protectia excesiv Iat de rspunsuri Ialse are ca eIect direct o
scdere a protectiei Iat de rspunsurile eronate (de asemenea
necorecte); prin aceasta procesul protejat suIer o ncetinire sau chiar o
blocare ceea ce, n domeniul transporturilor, determin scderi
inadmisibile ale coeIicientului de disponibilitate (k
D
; 2. 2).
Pe de alt parte este necesar a observa c, atunci cnd este necesar,
si unele structuri simple - extrem de Iiabile, pot suIeri dezvoltri - cu
precautie deosebit; astIel, de exemplu, la releul gravitational
(Iig. 10. 29) pot exista mai multe grupuri de contacte, dublet sau triplet,
cu izolare galvanic ntre circuitele conectate la iesire.
De asemenea i mplementrile contactelor argint - graIit se Iac
numai n cazul n care trebuie evitat sudura dintre contacte. n Iine
trebuie precizat Iaptul c n schema de Iiabilitate este necasar s Iie
incluse si componentele secundare de circuit : suduri de Iludor, Iire sau
trase de conexiune, borne etc.
n ncheierea unei aprecieri globale asupra logicii de tip cablat,
n raport cu logica majoritar ( 10. 3. 1) respectiv cu logica dinamic (
10. 3. 2), sunt enumerate avantajele si dezavantajele utilizrii procedeelor
respective la realizarea echipamentelor cu nalt Iiabilitate Iunctional.
Avantaje :
1 prezint o mare rezistent la deIectare, att la nivel de
component (microscopi c) ct si la nivel de subsistem sau sistem
(macroscopic) ;
2 se caracterizeaz prin structuri relativ simple, cu numr redus
de componente n echipament ;
Fiabilitate functional in electronic
289
3 permite, relativ simplu, obtinerea unor protectii eIiciente ca,
de exemplu, separarea galvanic sau scurtcircuitarea elementelor /
subansamblelor de executie; aceast ultim operatie se obtine usor
utiliznd perechea de contacte r - r
2
ale unui simplu circuit de negare
(Iig. 10. 32) ;
4 semnalele logice n stare Iizic au amplitudini i mportante
(tensiuni, intensitti, puteri electrice), ceea ce le conIer o bun
stabilitate Iunctional Iat de perturbatii ;
5 au o durat mare de viat, de ordinul anilor, unele ajungnd la
cateva decenii (30 de ani) ;
6 avnd acumulat, n timp, o lung experient de ordin teoretic
dar mai ales de ordin practic, comportamentul Iiabilistic previzional al
ecestor echipamente, n elaborare actual, nu las loc unor surprize
Iunctionale neavenite.
Dezavantaje :
1 echipamentele n cauz au volum si mase relativ mari ;
2 consum i mportant de energie electric ;
3 sunt construite cu elemente n miscare; aceast caracteristic,
ct si cele de la punctele precedente (1 s i 2) le Iac improprii pentru
utilizri la bordul vehiculelor (socuri, vibrati i, accelerri etc. );
4 avnd o inertie mare nu pot asigura durate mici si Ioarte mici
de comutatie; de aici apare i mposibilitatea de a Ii Iolosite la procese
rapide ;
5 pentru Iabricarea lor sunt necesare si de unele materiale
deIicitare - scumpe (ar gint, aur, cupru, aliaje speciale etc. ) care cresc,
uneori, substantial costul echipamentelor respective.
n concluzie Iinal cu privire la problematica logicii de tip cablat,
trebuie subliniat Iaptul c are la baz, teoretic dar mai ales practic,
10 Sisteme cu inalt fiabilitate functional
290
mult experient inginereasc i mbogtit cronologic ; cu toate c acest
tip de logic a cedat si cedeaz, n continuare, locul altor tipuri de
logic (mai ales de tip programat), unele procedee se mentin n utilizri
pentru dirijarea circulatiei / navigatiei . Totodat se impune a Ii
reamintit Iaptul c asa cum, n general, nu poate exista Iiabilitate
absolut, nici n tehnicile de realizare a logicii de tip cablat nu se poate
atinge valoarea zero pentru Iunctia de nonIiabilitate F
pr
(t), dar se pot
obtine valori extrem de mici - dup cerinte.
Fiabilitate functional in electronic
291
Capitolul 11
Costurile fiabilittii functionale.
Fiabilitatea cost
11.1. Costuri generale
Ca un corolar la aspectele problematicii Iiabilittii tratate n cele
zece capitole se concluzioneaz, indubitabil, c toate procedeele si
metodele de crestere a Iiabilittii Iunctionale se bazeaz pe utilizarea
redundantei de echipament ; pe de alt parte, aplicarea unei redundante
excesive, nejustiIicat n raport cu gradul de Iiabilitate Iunctional ce
trebuie atins conduce, n general, la cresterea greuttii , volumului si
costului echipamentelor.
Acest cost este n legtur direct cu conditiile Iunctionale de
proces. De exemplu costurile echipamentelor de protectie pentru dirijare
orientare a zborului unui avion de pasageri transoceanic sunt cu mult
mai mari dect cele ale echipamentelor de la bordul unui mic avion
utilitar sau de turism.
Pentru a estima aceste costuri, n prim Iaz, este necesar s se
considere principalele etape de analiz a Iiabilittii ( 1. 1. 2 ; Iig. 1.2).
n continuare se introduce un criteriu cantitativ, evaluabil, cu
denumirea de pertinent: calitatea (proprietatea) unui sistem tehnic de a
satisIace anumite cerinte obiective n raport cu costul necesar:
C
Ef
Pert .
11 Costurile fiabilittii functionale. Fiabilitatea cost
292
n aceast relatie Ef este eIicienta care reprezint produsul
ponderat al perIormantelor Iunctionale ale sistemului, exprimate printr -o
mri me msurabil, iar C este costul corespunztor.
Pentru a optimiza pertinenta este necesar ca eIicienta s Iie maxi -
m, iar costul minim. Aceast problem se poate rezolva considernd
urmtoarele criterii (conditii impuse, cerinte de proces) :
a cerinte Iunctionale (Iunctiuni es entiale ; 1. 2) ;
b conditii de protectie (mai ales Iat de rspuns Ials) ;
c conditii economice speciIice ;
d greutate si volum ;
e grad de complexitate ;
I mentenant.
Dac, de exemplu, se urmreste obtinerea unui anumit nivel de
Iiabilitate este necesar o analiz previzional a costurilor n raport cu
nivelul respectiv. Acest aspect este redat n Iigura 11. 1 avnd notatiile :
C costuri ;
C
C
t min
C
t
C
i
C
m
R(t)
0
0,4 1,0 0,6
0,2
0,8
R
opt
Eig. 11.1
Fiabilitate functional in electronic
293
C
i
costuri de implementare (proiectare, Iabricatie, montaj etc. ) ;
C
m
costuri de mentenant (revizii, reparatii etc. ) ;
C
t
cost total ;
R(t) valorile Iunctiei de Iiabilitate.
Curbele costului de implementare C
i
respectiv al costului de
mentenant C
m
au variatii inverse, una Iat de cealalt, n raport cu
valorile Iunctiei de Iiabilitate R(t) ; rezult c la un cost total,
C
t
C
i
C
m
,
de valoare mini m C
t mi n
corespunde o valoare optim pentru Iunctia de
Iiabilitate (R
opt
).
La echipamentele sistemelor cu mare rspundere Iunctional
trebuie s se ia n calcul timpul pe toate etapele duratei de viat, dar,
mai ales, pe durata normal de viat ( 4. 3).
Atunci cnd se are n vedere gradul de complexitate (g) al
echipamentului, pentru o anumit valoare a Iunctiei de Iiabilitate (de
exemplu R R
opt
const. ), analiza se Iace cu ajutorul curbelor din
Iigura 11. 2 ; n cazul n care conditiile economice speciIice impun
costuri egale pentru implementare (C
i
) si pentru mentenant ( C
m
) :
C
m
C
i
, R(t) const. ,
C
C
opt
C
m
C
i
g
opt
0
g
Eig. 11.2
11 Costurile fiabilittii functionale. Fiabilitatea cost
294
rezult valorile optime ale gradului de complexitate g
opt
respectiv costul
optim C
opt
corespunztor echipamentului.
Dac pn la intersectarea celor dou curbe (C
m
si C
i
) valorile
costurilor sunt oarecum apropiate, dup punctul de intersectare costurile
diIer substantial. AstIel variatia costului de implementare C
i
este Ioarte
lent datorit, n primul rnd, productiei moderne robotizate a
echipamentului ; variatia costului de mentenant C
m
este rapid (creste
exponential n Iunctie de gradul de complexitate g) din cauza manoperei
de ntretinere tehnic ce nu poate Ii automatizat (calibrri, revizii,
reparatii etc. ).
Pentru usurarea analizei costurilor Iiabilittii, n Iunctie de
precizia necesar, poate Ii utilizat metoda cuantiIicrii cheltuielilor
prin stabilirea unor cuantumuri standard, metod ce este recomandat,
ndeosebi, structurilor modulare de echipament (de exemplu pentru cele
n logic majoritar ; 10.3. 1). n Iapt este o operatie de transIormare a
unor variatii continue n variatii tip treapt, avndu-se n vedere valorile
admisibile ( 1. 2.2 ; Iig. 1. 8).
11.2. Costuri de implementare
Aceste costuri includ toate cheltuielile antrenate de conditiile
impuse Iiabilittii Iunctionale, inclusiv cheltuielile de prototip
experimental, atunci cnd acesta este necesar.
Toate costurile trebuie s Iie determinate n ordinea Iazelor de
elaborare, ncepnd cu nivelul impus al Iiabilittii Iunctionale si
terminnd cu concluziile care se reIer la modelul de laborator (de
regul, electronic).
Fiabilitate functional in electronic
295
Succesiunea determinrilor necesare este redat prin organigrama
din Iigura 11.3, cu semniIicatiile urmtoare :
I Modelarea Iiabilittii Iunctionale necesare la nivel macroscopic
de sistem (cap. 1).
II Modelarea solicitrilor exterioare (n ambiant ; 4. 4. 3).
II. 1 Modelarea proiectiv a activittii de mentenant pentru toat
durata de viat a echipamentului ( 4. 3).
II. 1.1 Analiza valorilor statistice.
II. 1.2 Stabilirea si rezolvarea ecuatiilor diIerentiale (cap. 3).
II. 2 Modelarea ncercrilor de Iiabilitate necesare.
II. 2.1 Analiza solicitrilor deterministe.
II. 2.2 Analiza solicitrilor aleatoare.
III Modelarea solicitrilor interioare (n microambiant; 4. 4. 2).
III. 1 Modelarea Ienomenelor de deIectare (cap. 2).
III. 1.1 Modelarea proceselor nereversibile.
III 1.1
III 1.2
III 2.1
III 2.2
II 1.1
II 1.2
II 2.1
II 2.2
II. 1
II. 2
III. 1
III. 2
II
III
I
Eig. 11.3
11 Costurile fiabilittii functionale. Fiabilitatea cost
296
III. 1.2 Modelarea proceselor reversibile.
III. 2 Analiza consecintelor deIectrilor ( 10. 2).
III. 2.1 Structuri necesare si concluzii asupra echipamentului real
(cap. 5).
III. 2. 2 Concluzii Iinale asupra comportrii probabiliste a
modelului de laborator (prototip experimental sau model simulat).
Dac rezult, n Iinal, c nivelul necesar al Iiabilittii Iuncti onale
nu este atins se reiau, partial sau total, unele Iaze si anume, cele care
sunt mai slabe n aportul lor Iiabilistic ; aceste reluri, cu modiIicrile
pe care le antreneaz, trebuie s se gseasc ntre limitele unor costuri
rationale.
11.3. Costurile mentenantei
Echipamentele de tip proIesional si ndeosebi cele cu mare
rspundere Iunctional, necesit o riguroas activitate de ntretinere
tehnic si deci importante cheltuieli (aparatur specializat, materiale,
salarii pentru personal cu grad ridicat al caliIicrii etc. ).
Aceast activitate este orientat, n general, spre dou domenii
distincte, ambele avnd o important major pentru asigurarea
Iiabilittii necesare ; eIectuareea operatiilor de mentenant trebuie s Iie
asigurat pe toat durata de viat a echipamentelor ( 4. 3).
Un prim domeniu este cel al activittii preventive, proIilactice,
avnd scopul de a reduce substantial probabilitatea de aparitie a
deIectrilor ; acest eIect se obtine prin veriIicri tehnice, calibrri,
reglaje, revizii si reparatii toate periodice, programate riguros n timp
( 2. 2). Stabilirea costurilor necesare are un caracter determinist,
urmrindu-se evitarea celor dou tendinte contradictorii :
Fiabilitate functional in electronic
297
- ndesirea nejustiIicat a interventiilor care conduce la costuri
sporite n mod inutil (2.2 ; Iig. 2. 11 ; 2.12) ;
- rrirea excesiv a interventiilor, desi aparent determin o
reducere a costurilor de mentenant, inIluenteaz negativ
Iiabilitatea provocnd, n transporturi, pagube cu costuri mult
mai mari, inclusiv pierderi de vieti omenesti.
Un alt domeniu de activitate, de asemenea, la Iel de important
pentru asigurarea Iiabilittii necesare sistemelor, este cel al restabilirii
Iunctionrii echipamentelor la parametrii nominali, restabilire impus de
aparitia uneia sau mai multor deIectri, inclusiv n cazul sistemelor
tolerante la deIectri ( 8. 3). Acest Iel de activitate, n literatura de
specialitate si n practica echipamentelor, se mai numeste ridicarea
deranjamentelor sau pur si simplu reparatia.
Desi aparitia deIectrilor este aleatoare, calculul costurilor nece-
sare restabilirii se Iace determinist, dup modul n care este prevzut
operatia de restabilire.
n schema din Iigura 11. 4 sunt expuse cele patru procedee princi -
pale de restabilire.
A
B
C
D
X Y
a
d r
I
Eig. 11.4
11 Costurile fiabilittii functionale. Fiabilitatea cost
298
Notatiile Iolosite sunt urmtoarele:
a
d
aparitia deIectrii n sistem ;
X detectarea, identiIicarea si eventual izolarea deIectrii (pentru
evitarea eIectului de deIectare n avalans ; 2.1) ;
A reparare pe cale manual, la locul de amplasare, a suban-
samblului deIect ;
B reparare pe cale manual a echipamentului n unitti specia-
lizate (ateliere, laboratoare) ;
C trecerea manual pe un sistem sau subsistem de rezerv ;
D reconIigurarea automat a subsi stemului deIectat sau a n-
tregului sistem (8. 3. 2) ;
Y restabilirea strilor de sistem de dinaintea aparitiei deIectrii,
sau altor stri instantanee necesare pentru desIsurarea procesului
n conditii normale prevzute ;
r
I
reluarea Iunctionrii normale, n bune conditii.
Procedeul A este, relativ, cel mai simplu pentru ridicarea deran-
jamentelor : se realizeaz la Iata locului, n teren, Ir a necesita
transportul echipamentului la o unitate specializat.
Etapele necesare realizriii restabilirii, pe aceast cale, sunt
urmtoarele :
A1 Observarea aparitiei deIectrilor de ctre personalul opera-
tional care utilizeaz manevreaz (manipuleaz) echipamnetul respec -
tiv.
A2 Anuntarea personalului rspunztor de mentenant si depla-
sarea acestuia la locul de amplasare a echipamentului n teren.
A3 Izolarea zonei deIectrii, tehnic si / sau operational (operatie
extrem de i mportant n unele situatii din transporturi).
A4 Stabilirea cauzei producerii deIectrii (sau deIectrilor) ; sta-
bilirea eIectelor, desi necesar, nu este suIicient.
Fiabilitate functional in electronic
299
A5 IdentiIicarea deIectrii prin diagnoz tehnic neautomat.
A6 EIectuarea reparatiei propriu-zise.
A7 ncercri prin probe, veriIicri, reglaje si calibrri prin care
se conIirm c reparatia a Iost bine eIectuat, iar sistemul, n ansamblul
su, este n stare de bun Iunctionare.
A8 Repunerea operational n Iunctiune si predarea ctre
personalul care utilizeaz echipamentul respectiv n proces.
Acest procedeu de restabilire se reduce, n practic, la ridicarea
unor deranjamente simple, care nu necesit msurri si veriIicri
complicate sau operatii de separare diIicile : nlocuirea unor sigurante
Iuzibile, relee sau altor componenete amovibile, modulare etc.
De asemenea necesit durate de deplasare mai mult sau mai putin
lungi pentru personalul de interventie, timp n care sistemul n cauz nu
Iunctioneaz deloc sau Iunctioneaz cu deIiciente.
Procedeul B de reparare este cel mai laborios si se aplic numai
dac restabilirea nu poate Ii realizat prin procedeul A ; cronologic, a
Iost primul aplicat si se caracterizeaz prin durate mai mari de
restabilire si costuri ridicate ale mentenantei. Etapele necesare reparrii
sunt si etapele cii precedente (A), dar intervin si altele n plus, dup
cum este artat n algoritmul care urmeaz.
B1 Observarea aparitiei deIectrilor de ctre personalul care
utilizeaz manevreaz (manipuleaz) echipamnetul respectiv.
B2 Anuntarea personalului rspunztor de mentenant si depla-
sarea acestuia la locul de amplasare a echipamentului.
B3 Izolarea zonei deIectrii, tehnic si / sau operational (operatie
extrem de i mportant n unele situatii din transporturi).
B4 Stabilirea producerii deIectrii sau deIectrilor (stabilirea
eIectelor, desi necesar, nu este suIicient).
11 Costurile fiabilittii functionale. Fiabilitatea cost
300
B5 IdentiIicarea deIectrii prin diagnoz tehnic neautomat.
B6 Stabilirea procedurii optime de reparare.
B7 Demontarea subansamblului deIect.
B8 Transportul acestuia la atelier sau laborator.
B9 EIectuarea reparatiei propriu-zise.
B10 Transportul invers al subansamblului reparat la locul de
amplasare.
B11 Montarea subansamblului reparat.
B12 ncercri prin probe, veriIicri, reglaje si calibrri prin
care se conIirm c
reparatia a Iost bine eIectuat, montarea echipamentului este corect si
sistemul este n stare de bun Iunctionare.
B13 Repunerea operational n Iunctiune si predarea ctre
personalul care utilizeaz echipamentul respectiv n proces.
Deoarece nu necesit alte echipamente specializate de teren,
locale, apare ca evident avantajul unui cost de implementare redus, dar
necesit durate relativ mari de scoatere din Iunctiune, ceea ce are ca
eIect direct o valoare sczut a Iactorului de disponibilitate k
D
(2.2).
Procedeul C eli min dezavantajul duratelor lungi de scoatere din
Iunctiune ; timpul necesar de comutare manual pe un subsistem de
rezerv, de regul identic cu cel de baz, este cu mult mai scurt, dar nu
are totdeauna o durat neglijabil.
Eat de cazul precedent (B) sunt eliminate n teren etapele B4
B5B6 care sunt transIerate laboratorului sau atelierului de reparatii.
Alte etape pot Ii rezolvate Ir caracter de urgent (B7 B8B9B10).
Procedeul D este cel mai eIicient avnd, practic, toate avantajele
existente la cele trei procedee expuse anterior ; mai mult, timpul necesar
reconIigurrii automate (rigid sau Ilexibil) este neglijabil, ndeosebi
Fiabilitate functional in electronic
301
la echipamentele electronice. Nu mai sunt necesare n teren etapele B1-
B2-B3, iar altele sunt transIerate la atelierul sau laboratorul de reparatii
(B4-B5-B6-B9).
Cu cheltuieli de mentenant minime se asigur o disponibilitate
maxi m (k
D
1). n schimb necesit costuri relativ ridicate pentru
echipament la implementare; acest neajuns devine din ce n ce mai putin
important odat cu dezvoltarea tehnologiilor de Iabricatie a
echipamentelor electronice si implicit, cu scderea pretului de cost la
productia robotizat.
`
Prin speciIicul su tehnic, activitatea de mentenant nu poate Ii
automatizat total sau mcar partial dominant; operatii extrem de
simple ca, de exemplu, strngerea unui surub la cuplu sau ajustarea unei
componente reglabile sau semireglabile (trimer, potentiometru rezistiv
etc. ) nu sunt posibile n regim automatizat la interventi i n echipament,
mai ales amplasate n teren.
De asemenea operatiile de detectare si identiIicare a
componentelor sau subsistemelor deIectate si mai ales nlocuirea
acestora (demontare, montare) pun probleme insurmontabile pentru
eIectuarea automat (ch iar si n conditii de laborator specializat).
Pe de alt parte, n toate domeniile de transport, echipamentele de
orientare dirijare sunt amplasate la bord sau la sol, acoperind zone
(distante) mari sau Ioarte mari: linii si statii de cale Ierat, auto strzi,
artere si zone rutiere metropolitane, porturi, aeroporturi si rute de zbor
sau navigatie etc. n aceste conditii costurile mentenantei sunt
importante, necesitnd studii si analize de pret complexe n activitatea
de inginerie electronic aplicat.
11 Costurile fiabilittii functionale. Fiabilitatea cost
302
Optimizarea previzional si operativ a acestei activitti presupune
maxi mizarea avantajelor si minimizarea dezavantajelor prin :
- organizarea procesual sistemic corespunztoare ;
- Iunctionalitate, perIormant, eIicientizare ;
- idei si contributii ingi neresti novatoare prin valoriIicri realiste
ale laturii euristice imaginative n procesul de gndire
problematic.
Fiabilitate functional in electronic
303
Capitolul 12
Aplicatii
12.1. Probleme de fiablilitate
Ca orice activitate de acest Iel, rezolvarea unor probleme de
Iiabilitate conduce la o ntelegere mai bun si la o aproIundare a
notiunilor de ordin teoretic ; totodat constituie un exercitiu de calcul
pentru proiectare (analiz si sintez).
Urmrind acest scop, problemele sunt expuse n ordinea tematicii
din capitolele anterioare, acest lucru Iiind precizat si prin numrul de
capitol ce corespunde Iiecrei probleme.
Se recomand ca la abordarea oricrei probleme s se nceap cu
stabilirea graIului de Iiabilitate ; evident cnd este necesar ; astIel se
evit o pierdere de timp prin desIsurarea unor calcule n alt ordine
dect cea logic (si corect).
De asemenea, pentru o veriIicare rapid si eIicient asupra
corectitudinii de rezolvare, la Iiecare problem este indicat rezultatul.
Spre a elimina unele calcule laborioase, ce nu sunt necesare pentru acest
Iel de exercitii, se opereaz cu valorile medii, exprimate cu trei
zecimale, ale intensittii (ratei) de deIectare
0
, ale Iunctiei de
nonIiabilitate F(t) si ale Iunctiei de Iiabilitate R(t) . Valorile acestora
sunt precizate n tabelele 12. 2-12.3-12. 4.
12 - Aplicatii
304
ntruct aceste probleme Iac obiectul studiului Iiabilittii
Iunctionale, caracteristic sistemelor cu mare rspundere Iunctional
si echipamentelor de tip proIesional, calculele se Iac pentru durata de
baz (normal de exploatare - 4.3).
Avnd n vedere Iaptul c aceste probleme sunt necesare studiului,
att Iiabilittii clasice (gene rale) ct si Iiabilittii Iunctionale, se
recomand rezolvarea lor n dou etape:
- prima etap, pentru disciplinele din anii III IV, ndeosebi la
cursul Calitate, fiabilitate i securitat e in transporturi: problemele
A . . . G;
- a doua etap, de aproIundare, la activitatea de pregt ire prin
masterat: problemele H . .. R.
Precizia de calcul trebuie s corespund scopului urmrit: pentru
rezolvri curente, uzuale, este suIicient s se opereze cu trei zecimale,
pentru valori medii, asa cum sunt redate n tabela din cadrul
paragraIului urmtor. n unele situatii de evaluare expeditiv
previzional se pot utiliza numai primele dou zecimale dar nu mai
putin de att.
Pentru precizie ridicat este necesar s se utilizeze mai multe
zecimale, dup cerintele de calcul ajungnd pn la 6 zecimale (ca de
exemplu, la problema I).
n Iine, n calculele cu precizie Ioarte ridicat nalt se poate
opera cu pn la 24 zecimale. Aplicatiile respective, desi sunt mai putin
ntlnite n practic, au o important deosebit n cadrul Iiabilittii
Iunctionale; un exemplu semniIicativ este cel al logicii de tip cablat,
putndu-se ajunge la categoria yoctoprobabil ( 10. 3; tab. 10. 29).
Fiabilitate functional in electronic
305
PROBLEMA A (cap. 1)
n cadrul unui sistem de reglare automat a circulatiei rutiere dup
procedeul DDC Direct Digital Control (Reglare digital direct) este
detectat un autovehicul care se deplaseaz n localitate cu viteza instan-
tanee de 61 km/h.
Stiind c:
- viteza ideal este de 50 km/h;
- eroarea de msurare: + 3 km/h;
- abaterea admisibil: + 9 km/h,
s se determine:
a) valoarea limit minim a vitezei instantanee la care se
nregistreaz un rspuns Ials;
b) valoarea limit maxi m a vitezei instantanee pentru care se
nregistreaz un rspuns eronat;
c) domeniul valorilor de vitez care corespunde rspunsului
perIect.
Rezultate:
a) 59 km/h; b) 41 km/h; c) 47~53 km/h.
PROBLEMA B (cap. 4)
Pentru un lot de 1000 componente identice, supuse la ncercare, se
nregistreaz deIectrile aprute la intervale de timp egale cu o
sptmn. Aceste componente se gsesc n durata de baz (normal de
exploatare), iar numrul de deIectri care s -au produs n prima
sptmn este egal cu 10.
n aceste conditii s se calculeze, pentru sIrsitul Iiecreia dintre
primele 6 sptmni, Irecventa statistic de deIectare, echivalentul
12 - Aplicatii
306
statistic al probabilittii de deIectare (Iunctiei de nonIiabiliate) si
echivalentul statistic al probabilittii de Iunctionare (Iunctiei de
Iiabilitate).
Rezultatele se vor prezenta sub Iorma unei tabele si se vor
comenta.
Rezultate: Tab. 12. 1
At 1 2 3 4 5 6
I*(t) || 10, 000 9, 900 9, 800 9, 700 9, 600 9, 510
E*(t) 0, 010 0, 020 0, 030 0, 039 0, 049 0, 058
R*(t) 0, 990 0, 980 0, 970 0, 961 0, 951 0, 942
PROBLEMA C (cap. 4)
O component are, dup 15 ani de Iunctionare n regim de baz
(etapa nor mal de exploatare), o valoare a Iunctiei de Iiabiliate egal cu
0, 874.
S se determine care au Iost valorile Iunctiei de Iiabilitate:
a) n momentul intrrii n Iunctiune;
b) dup primul an;
c) dup cel de al saselea an de Iunctionare.
Rezultate: a) 1, 0; b) 0, 990; c) 0,947.
PROBLEMA D (cap. 5)
Un echipament electronic Ir redundant, cu Iunctionare n durata
normal de viat, este realizat cu urmtoarele componente:
- rezistori cu 4 borne: 1 buc.
- tranzistori de nivel mic: 6 buc.
- sigurante Iuzibile: 1 buc.
Fiabilitate functional in electronic
307
- rezistori bobinati Iicsi: 9 buc.
- diode Zenner: 2 buc.
- conectori simpli de nivel mic: 1 buc.
- circuite integrate simple: 3 buc.
- condensatori trimer: 2 buc.
- condensatori cu 4 borne: 1 buc.
- bobine de nivel mic: 2 buc.
- suduri cu Iludor: 38 buc.
- circuite impri mate (1 plac): 120 cm
2
.
Se mai precizeaz c acest echipament constituie un subsistem
montat la bordul unui vehicul Ieroviar si are o utilizare intermitent cu
timpul relativ de Iunctionare (solicitri speciIice de ambiant):
T
r a
0, 7
De asemenea solicitrile n microambiant sunt neglijabile Iat de
cele din ambiant (durate Ioarte scurte de Iunctionare).
n aceste conditii s se calculeze:
a) durata medie de Iunctionare Ir deIectri;
b) valoarea Iunctiei de Iiabilitate pentru o lun (30 zile);
c) valoarea Iunctiei de Iiabilitate pentru un trimestru (3 luni x 30
de zile).
Rezultate: a) 11091 ore ; b) 0,937; c) 0,823.
PROBLEMA E (cap. 5)
Pentru circuitul de cale cu schema Iunctional neredundant din
Iigura 12.1 se dau urmtoarele valori ale Iunctiei de Iiabilitate pe
subsisteme:
- emittorul (E): R
E
0, 750;
12 - Aplicatii
308
- diportul de cuplaj la emisie (C
e
): R
e
0, 900;
- diportul de cuplaj la receptie (C
r
): R
r
0, 950;
- receptorul (R): R
R
0, 800.
Stiind c Iunctia de nonIiabilitate a ntregului circuit de cale (n
acelasi interval de timp) este egal cu 0, 565 s se calculeze
probabilitatea de deIectare a liniei (L), inclusiv joantele izolante.
S se interpreteze rezultatul obtinut.
Rezultat: E
L
0,152.
PROBLEMA F (cap. 5)
Un sistem de reglare automat a circulatiei rutiere dup procedeul
semaIoare sincronizate unda verde are urmtoarele valori ale Iunctiei
de Iiabilitate pentru primele 5 posturi, care Iunctioneaz n tandem
ncepnd cu postul pilot P
1
Iig. 12. 2:
R
1
0, 999; R
2
0, 995; R
3
0, 999; R
4
0,995;
R
5
0, 980.

U
1

U
2

C
r
C
e
E R
(X) (Y) (L)
I
1
I
2
Eig.12.1
Fiabilitate functional in electronic
309
Stiind c aceste valori de probabilitate corespund unei
Iunctionri permanente cu durata de un an (360 zile), pentru lantul de 5
posturi, s se determine:
a) probabilitatea de deIectare pentru durata unui an;
b) valoarea Iunctiei de Iiabilitate pentru aceeasi durat.
Rezultate: a) 0,0317; b) 0, 9683.
PROBLEMA G (cap. 8)
Un sistem cu structur de redundant permanent general are
Iunctia de Iiabilitate R(t) ~ 0, 950.
S se determine care este valoarea minim a Iunctiei de Iiabilitate
(pentru acelasi interval de timp) a echipamentului de baz, stiind c cele
5 echipamente de rezerv sunt identice cu cel de baz.
Rezultat: 0, 435.
PROBLEMA H (cap. 1)
n cazul general al sistemelor de telecomand si electronic n
transporturi, la nivel macroscopic, Iiabilitatea Iunctional este aIectat
de:
- perturbri p ale semnalelor S (inIormationale);
- deIectri (d) ale componentelor ( C) de echipament;
- erori (e) ale oper atorilor umani (O).
P
1
P
2
P
3
P
4
P
5
Eig. 12.2
(A) (B)
12 - Aplicatii
310
S se determine numrul de deIectiuni posibile, simple sau
multiple, dac n Iiecare caz particular perturbrile, deIectrile si erorile
sunt considerate o singur dat.
Rezultat: 7.
PROBLEMA I (cap. 5)
Un sistem de telecomand cu Iunctionare permanent este compus
din trei subsisteme Iunctionale pentru un anumit punct de executie Iig.
12. 3.
Valorile intensittilor (ratelor) de deIectare ce corespund
subsistemelor sunt:

PCd
0, 05010
- 6
h
- 1
pentru postul de comand PCd;

CT
0, 15010
- 6
h
- 1
pentru canalul de transmitere a inIormatiei de
comand / control;

PEx
0, 0175 10
- 6
h
- 1
pentru punctul de executie PEx.
Stiind c sistemul se aIl n durata de baz (normal de exploatare)
s se determine, cu 6 zecimale exacte, valoarea Iunctiei de Iiabilitate
pentru ntregul sistem la sIrsitul primei luni (30 de zile).
Rezultat: 0, 999843.
PEx
CT PCd
Eig. 12.3
Fiabilitate functional in electronic
311
PROBLEMA 1 (cap. 5)
Un sistem care Iunctioneaz n durata de baz este caracterizat
printr-o valoare a Iunctiei de Iiabilitate R 0, 435.
S se determine:
a) structura necesar de redundant permanent general, utiliznd
echipamente produse n serie identice, astIel nct valoarea Iunctiei de
Iiabilitate, raportat la acelasi interval de timp, s Iie mai mare de
0, 950;
b) pstrnd acele asi conditii s se determine structura necesar
pentru un interval de timp de trei ori mai scurt.
S se reprezinte graIic structura respectiv si s se discute
aspectele tehnico-economice care pot s apar n privinta rezolvrilor
posibile ale problemei .
Rezultat: a) d 6; b) d 3.
PROBLEMA K (cap. 6)
Dou componente electronice de acelasi tip identice sunt
caracterizate prin indicatorii de Iiabilitate proprii:

1
= m ; , e 1 ) t ( F
t
= . e ) t ( R
t
=
Eiecare component, prin propriettile sale, nu se poate deIecta
dect prin scurtcircuitare|-| nte bornele sale, iar ambele sunt conectate
ntr-o schem electric derivatie.
S se determine sensurile de variatie pentru cei trei indicatori,
precizati mai sus, n ipoteza adoptrii unei structuri Iiabiliste de tip
serie.
Rezultate: a) m
1
2
1
m

s
< =

; b) F ) F 2 ( F F

s
> = ; c) . R R R
2
s
< =
12 - Aplicatii
312
PROBLEMA L (cap. 7)
Dou componente electronice de acelasi tip identice sunt
caracterizate prin indicatorii de Iiabilitate proprii:

1
= m ; , e 1 ) t ( F
t
= . e ) t ( R
t
=
Eiecare component, prin propriettile sale, nu se poate deIecta
dect prin ntrerupere || nt re bornele sale, iar ambele sunt conectate
ntr-o schem electric serie.
S se determine sensurile de variatie pentru cei trei indicatori,
precizati mai sus, n ipoteza adoptrii unei structuri Iiabiliste de tip
serie.
Rezultate: a) m
1
2
1
m

s
< =

; b) F ) F 2 ( F F

s
> = ; c) . R R R
2
s
< =
PROBLEMA M (cap. 7)
Dou componente electronice de acelasi tip identice sunt
caracterizate prin indicatorii de Iiabilitate proprii:

1
= m ; , e 1 ) t ( F
t
= . e ) t ( R
t
=
Eiecare component, prin propriettile sale, nu se poate deIecta
dect prin ntrerupere || nte bornele sale, iar ambele sunt conectate
ntr-o schem electric derivatie.
S se precizeze structura Iiabilist ce corespunde unei ameliorri a
Iiabilittii de grup si s se determine sensurile de variatie pentru cei trei
indicatori precizati mai sus.
Rezultate: a) m
1
2
3
m

D
> =

; b) F F F
2
D
< = ; c) . R ) R 2 ( R R

D
> =
Fiabilitate functional in electronic
313
PROBLEMA N (cap. 8)
S se determine structura cea mai simpl a unui sistem care
Iunctioneaz n perioada de baz si pentru care durata medie a timpului
de Iunctionare se dubleaz n raport cu o singur component (toate
componentele sunt identice). S se interpreteze rezultatul obtinut.
Rezultat: 3 d 4.
PROBLEMA O (cap. 8)
Un echipament de identiIicare automat a autovehiculelor Id,
avnd Iunctionare permanent, este alimentat cu energie electric dintr -
o baterie de acumulatoare Ac cuplat n regim tampon la un redresor
Red (Iig. 12. 4); la rndul su, redresorul Red este conectat n
permanent la reteaua general de electroalimentare (220V-50Hz) astIel
c alimentarea echipamentului de identiIicare este asigurat din redresor
sau din acumulatoare (p e durata de autonomie prevzut).
Se mai precizeaz c bateria de acumulatori Ac se poate deIecta
numai prin crestere parametric ||: la limit rezistenta sa intern creste
Ioarte mult (R
i
). De asemenea si redresorul Red se deIecteaz
numai prin crestere parametric deoarece n circuitul su de iesire este
montat o sigurant Iuzibil (n serie).
Red Ac
I
d
220 V
50Hz ~
Eig. 12.4
12 - Aplicatii
314
Se cunosc urmtoarele valori ale Iunctiei de Iiabilitate pentru
durata de un an (360 zile):
R
Red
0, 970 (inclusiv reteaua de electroalimentare);
R
Ac
0,990 (inclusiv conexiunile sale la redresorul Red);
R
I d
0, 980 (inclusiv cablul de legtur la bateria de acumula tori).
n aceste conditii s se determine care este valoarea probabilittii
de nerealizare a Iunctiunii esentiale, de identiIicare automat pentru
durata de un an.
Rezultat: 0, 0203.
PROBLEMA P (cap. 9)
Un echipament de comand (C
d
Iig. 12. 5) este separat galvanic
de cel de executie (Ex) prin doi condensatori identici (C
1
, C
2
). Ambii
condensatori de separare se pot deIecta numai prin clacare |-|
(scurtcircuitare la strpungerea dielectricului).
Principalii indicatori de Iiabilitate ai celor doi condensatori sunt:
a) media timpului de Iunctionare:

1
= m ;
b) Iunctia de Iiabilit ate: , e ) t ( R
t
=
c) Iunctia de nonIiablitate: . e 1 ) t ( F
t
=
Deoarece separarea galvanic este necesar numai n curent
continuu, n regim permanent, s se precizeze structura Iiabilist care
Cd
Ex
C
1
C
2
Eig. 12.5
Fiabilitate functional in electronic
315
corespunde diportului de separare galvanic, s se determine expresiile
de calcul ale celor trei indicatori de Iiabilitate, de mai sus, ca si
sensurile de variatie ale acestora.
Rezultate: a) m
1
2
3
m

D
> =

; b) , R ) R 2 ( R R

D
> = c) F F F
2
D
< = .
PROBLEMA Q (cap. 10)
Un sistem cu mare rspundere Iunctional, avnd categoria
deIectrii nanoprobabil, este protejat printr-un subsistem cu logic de
tip cablat, eIicienta protectiei Iiind de 10
6
.
S se determine valoarea Iunctiei de nonIiabilitate si categoria
deIectrii pentru protectie Iat de rspuns Ials, n intervalul de timp de o
or.
Rezultat: E
RE
(t 1h) 10
- 15
/ Iemtoprobabil.
PROBLEMA R (cap. 12)
n structura echipamentului unui sistem de reglare automat a
circulatiei rutiere dup procedeul und-verde (semaIoare sincronizate),
care este compus din 9 posturi, se produce o deIectare ce conduce la o
Iunctionare partial prin dou subsisteme, cu 4 respectiv cu 5 posturi de
intersectie.
S se precizeze:
a) numrul postului probabil deIect din amonte;
b) numrul postului probabil deIect din aval;
c) tipul de rspuns Iunctional n aceast situatie.
Rezultate: a) nr. 4; b) nr. 5; c) eronat.
12 - Aplicatii
316
12.2. Valori ale principalilor indicatori de
fiabilitate
n tabela 12. 2 sunt redate valorile medi i aproximative ale
intensittii (ratei) deIectrilor pentru 54 componente care sunt mai des
ntlnite n structurile echipamentelor pentru telecomenzi si electronic
n transporturi. Aceste valori provin din tabela 4. 3 - 4. 4. 2 prin
considerarea solicitrilor medii probabile ( 2. 2 Iig. 2. 9) si ale
valorilor nominale parametrice ( 3.2).
n vederea utilizrii acestor date primare se recomand
considerarea urmtoarelor aspecte:
- aceste valori corespund duratei normale de viat (de exploatare,
4. 3);
- prin utilizarea n calcule a unei precizii medii, reduse la trei
zecimale, se urmreste obtinerea unor rezultate estimative:
rezolvarea problemelor cu caracter didactic (12.1), respectiv
evaluri orientative n vederea estimrilor Iiabiliste pentru
echipamente ce urmeaz a Ii elaborate sau ameliorate etc. ;
- n situatiile n care se cere atestarea Iiabilittii ( 1.1. 2) aceste
date nu asigur precizia necesar; pentru aceasta vor Ii Iolosite
valorile maxime ale indicatorului
oi
din tabela 4.3 - 4. 4. 2,
ceea ce permite determinarea valorii probabile care corespunde
nivelului Iiabilist minim probabil;
- n practic pot Ii ntlnite si alte componente care nu sunt
cuprinse n tabel: componente vechi cu Irecvent mic de
utilizare, componente din noile generatii tehnologice etc.;
pentru acestea, valorile de calcul se vor aproxima prin
Fiabilitate functional in electronic
317
comparatie cu cele existente n tabel, lund ca reIerint
componentele cele mai apropiate privind procesul de uzur
deIectare (cap. 2 si cap. 3);
- n acelasi mod va Ii stabilit adaosul valoric de calcul pentru
solicitrile din ambiant: plecnd de la datele din tabela 4. 4 -
4. 4. 3 se vor creste sau scdea valorile coeIicientului
f
n
Iunctie de conditiile concrete: regim mai greu sau mai usor, mai
dur sau mai putin dur etc. ; aici intervine si aspectul euristic
ingineresc bazat pe o cunoastere competent a conditiilor
privind desIsurarea procesului de transport.
Tab. 12. 2
Nr.
crt .
Denumirile componentelor
oi
medie |x10
- 6
h
- 1
|
1 Acumulatori electrici de capaci tate mic 0, 109
2 Ampermetre electromagnetice 0, 360
3 AmpliIicatori magnetici 0, 256
4 Ansamble mecanice cinematice simple 0, 528
5 Bobine de nivel mic 0, 039
6 Circuite impri mate (1 dm
2
) 0, 054
7 Circuite integrate de complexitate medie 0, 304
8 Circuite integrate simple 0, 087
9 Comutatori 0, 219
10 Condensatori ceramici 0, 045
11 Condensatori cu hrtie 0, 048
12 Condensatori cu 4 borne 0, 034
13 Condensatori electrolitici 0, 089
14 Condensatori semireglabili (trimeri) 0, 080
15 Condensatori variabili cu dielectric aer 0, 190
16 Conectori de putere 0, 390
12 - Aplicatii
318
17 Conectori multipli 0, 219
18 Conectori simpli de nivel mic 0, 168
19 Conexiuni prin wrapare 0, 001
20 Contactori termobimetal 0, 182
21 Contactori uzuali 0, 179
22 Cuple electrice de putere 0, 390
23 Diode de nivel mic 0, 069
24 Diode de putere 0, 406
25 Diode Zenner 0, 265
26 Electromotoare de mic putere 0, 588
27 Lmpi cu incandescent pentru
semnalizare
0, 111
28 Microcomutatori 0, 237
29 Potentiometri bobinati reglabili 0, 544
30 Potentiometri cu pelicul de carbon 0, 288
31 Relee miniatur 0, 152
32 Relee Reed 0, 055
33 Relee speciale 0, 001
34 Relee termice 0, 414
35 Relee uzuale 0, 132
36 Rezistori bobinati Iicsi 0, 049
37 Rezistori bobinati reglabili 0, 544
38 Rezistori cu 4 borne 0, 032
39 Rezistori cu pelicul de carbon (chimici) 0, 030
40 Rezistori metalici 0, 024
41 Selsine 0, 312
42 Servomotoare de mic putere 0, 549
43 Sigurante Iuzibile 0, 089
44 Socluri simple 0, 168
Fiabilitate functional in electronic
319
45 Suduri cu Iludor 0, 008
46 Tahometri 0, 381
47 Termistori 0, 276
48 Tiristori 0, 181
49 TransIormatori de impulsuri 0, 256
50 TransIormatori de nivel mic 0, 039
51 Tranzistori de nivel mic 0, 069
52 Tranzistori de putere 0, 406
53 Tuburi electronice speciale 0, 673
54 Voltmetre electromagnetice 0, 360
Tabelele care urmeaz 12.3 a, b contin valorile indicatorului de
repartitie a timpului de Iunctionare E(t); acesta se evalueaz prin
probabilitatea de deIectare si depinde de variabilele compuse ( t) si
(A t) n care:
- reprezint intensitatea (rata) de deIecta re (pe durata normal de
viat) ce corespunde unei singure componente de circuit;
A - suma intensittilor (ratelor) de deIectare ale elementelor pentru
un model structural de Iiabilitate serie ( 1. 1. 2), avnd o variatie
Iiabilist dup legea exponentialnegativ ( 4.3).
Se reaminteste c mri mile si A sunt constante (pe durata
normal de viat): const. ; A const. , si deci variabilele compuse
( t) si (At) sunt proportionale cu timpul t.
ntruct valorile tabelate ale Iunctiilor E(- t) si E(-A t) reprezint
o etap de calcul, avnd date primare ce provin din tabela anterioar
12. 2, sunt valabile toate aspectele expuse anterior. n plus trebuie
precizate urmtoarele:
12 - Aplicatii
320
- prin esenta lor indicatorii E(- t) si E(-At) exprim
probabilitatea de deIectare n timp; aceast proprietate este
utilizat, ndeosebi, pentru a calcula Iiabilitatea n raport cu
rspunsul Ials ( 1. 2.1, 10. 2 si 10. 3);
- pentru echipamentele sistemelor cu mare rspundere Iunctional
inidicatorul E(t) rareori deps este valoarea probabilist 0,5
motiv pentru care tabelul cuprinde numai intervalul 0, 000 ~
0, 503; pentru valori mai mari, pn la unitate, se vor Iolosi alte
tabele sau se vor calcula Iunctiile exponentiale n cauz;
- pentru a usura eIortul de calcul, n tabela 12. 3a), domeniul de
precizie ridicat cuprinde limitele 0,000 ~ 0,100 cu pasul 0, 001,
cu 6 zecimale exacte pentru Iunctiile de nonIiabilitate E( - t) si
E(-A t);
- dac valoarea cutat nu coincide cu cea tabelat, se va
interpola liniar ntre cele dou valori limit ale plajei care
contine valoarea respectiv;
- precizia de calcul este mai bun la valori mici si medii ale
variabilelor ( t) si (At) ; la valori mari ale acestora, dac
precizia de calcul o cere, se va considera un numr cores-
punztor de zecimale.
Valorile Iunctiei de Iiabilitate R(t), exprimat prin probabilitatea
de bun Iunctionare, avnd variabilele compuse ( t) si (A t) sunt
redate n tabelele 12. 4 a, b.
Fiabilitate functional in electronic
321
Tab. 12. 3a
t F(- t) t F(- t) t F(- t)
A t F(-A t) A t F(-A t) A t F(-A t)
0,000 0,000000 0,040 0,039211 0,080 0,076884
0,001 0,001000 0,041 0,040171 0,081 0,077806
0,002 0,001998 0,042 0,041130 0,082 0,078728
0,003 0,002996 0,043 0,042089 0,083 0,079649
0,004 0,003992 0,044 0,043046 0,084 0,080569
0,005 0,004988 0,045 0,044003 0,085 0,081488
0,006 0,005982 0,046 0,044958 0,086 0,082406
0,007 0,006976 0,047 0,045913 0,087 0,083323
0,008 0,007968 0,048 0,046866 0,088 0,084239
0,009 0,008960 0,049 0,047819 0,089 0,085154
0,010 0,009950 0,050 0,048771 0,090 0,086069
0,011 0,010940 0,051 0,049721 0,091 0,086982
0,012 0,011928 0,052 0,050671 0,092 0,087895
0,013 0,012916 0,053 0,051620 0,093 0,088806
0,014 0,013902 0,054 0,052568 0,094 0,089717
0,015 0,014888 0,055 0,053515 0,095 0,090627
0,016 0,015873 0,056 0,054461 0,096 0,091536
0,017 0,016856 0,057 0,055406 0,097 0,092444
0,018 0,017839 0,058 0,056350 0,098 0,093351
0,019 0,018821 0,059 0,057293 0,099 0,094257
0,020 0,019801 0,060 0,058235 0,100 0,095163
0,021 0,020781 0,061 0,059177 0,101 0,096067
0,022 0,021760 0,062 0,060117 0,102 0,096970
0,023 0,022738 0,063 0,061057 0,103 0,097873
0,024 0,023714 0,064 0,061995 0,104 0,098775
0,025 0,024690 0,065 0,062933 0,105 0,099675
0,026 0,025665 0,066 0,063869 0,106 0,100575
0,027 0,026639 0,067 0,064805 0,107 0,101474
0,028 0,027612 0,068 0,065740 0,108 0,102372
0,029 0,028584 0,069 0,066673 0,109 0,103270
0,030 0,029554 0,070 0,067606 0,110 0,104166
0,031 0,030524 0,071 0,068538 0,111 0,105061
0,032 0,031493 0,072 0,069469 0,112 0,105956
0,033 0,032461 0,073 0,070399 0,113 0,106849
0,034 0,033428 0,074 0,071328 0,114 0,107742
0,035 0,034395 0,075 0,072257 0,115 0,108634
0,036 0,035360 0,076 0,073184 0,116 0,109525
0,037 0,036324 0,077 0,074110 0,117 0,110415
0,038 0,037287 0,078 0,075036 0,118 0,111304
0,039 0,038249 0,079 0,075960 0,119 0,112192
12 - Aplicatii
322
Tab. 12. 3b
t F(- t) t F(- t) t F(- t)
A t F(-A t) A t F(-A t) A t F(-A t)
0,100 0,095163 0,305 0,262877 0,505 0,396494
0,110 0,104166 0,310 0,266553 0,510 0,399504
0,115 0,108634 0,315 0,270211 0,515 0,402499
0,120 0,113080 0,320 0,273851 0,520 0,405479
0,125 0,117503 0,325 0,277473 0,525 0,408445
0,130 0,121905 0,330 0,281076 0,530 0,411395
0,135 0,126284 0,335 0,284662 0,535 0,414331
0,140 0,130642 0,340 0,288230 0,540 0,417252
0,145 0,134978 0,345 0,291780 0,545 0,420158
0,150 0,139292 0,350 0,295312 0,550 0,423050
0,155 0,143585 0,355 0,298827 0,555 0,425928
0,160 0,147856 0,360 0,302324 0,560 0,428791
0,165 0,152106 0,365 0,305803 0,565 0,431640
0,170 0,156335 0,370 0,309266 0,570 0,434475
0,175 0,160543 0,375 0,312711 0,575 0,437295
0,180 0,164730 0,380 0,316139 0,580 0,440102
0,185 0,168896 0,385 0,319549 0,585 0,442894
0,190 0,173041 0,390 0,322943 0,590 0,445673
0,195 0,177165 0,395 0,326320 0,595 0,448437
0,200 0,181269 0,400 0,329680 0,600 0,451188
0,205 0,185353 0,405 0,333023 0,605 0,453926
0,210 0,189416 0,410 0,336350 0,610 0,456649
0,215 0,193459 0,415 0,339660 0,615 0,459359
0,220 0,197481 0,420 0,342953 0,620 0,462056
0,225 0,201484 0,425 0,346230 0,625 0,464739
0,230 0,205466 0,430 0,349491 0,630 0,467408
0,235 0,209429 0,435 0,352735 0,635 0,470065
0,240 0,213372 0,440 0,355964 0,640 0,472708
0,245 0,217295 0,445 0,359176 0,645 0,475337
0,250 0,221199 0,450 0,362372 0,650 0,477954
0,255 0,225084 0,455 0,365552 0,655 0,480558
0,260 0,228948 0,460 0,368716 0,660 0,483149
0,265 0,232794 0,465 0,371865 0,665 0,485726
0,270 0,236621 0,470 0,374998 0,670 0,488291
0,275 0,240428 0,475 0,378115 0,675 0,490844
0,280 0,244216 0,480 0,381217 0,680 0,493383
0,285 0,247986 0,485 0,384303 0,685 0,495910
0,290 0,251736 0,490 0,387374 0,690 0,498424
0,295 0,255468 0,495 0,390429 0,695 0,500926
0,300 0,259182 0,500 0,393469 0,700 0,503415
Fiabilitate functional in electronic
323
Tab. 12. 4a
t R(- t) t R(- t) t R(- t)
A t R(-A t) A t R(-A t) A t R(-A t)
0,000 1,000000 0,040 0,960789 0,080 0,923116
0,001 0,999000 0,041 0,959829 0,081 0,922194
0,002 0,998002 0,042 0,958870 0,082 0,921272
0,003 0,997004 0,043 0,957911 0,083 0,920351
0,004 0,996008 0,044 0,956954 0,084 0,919431
0,005 0,995012 0,045 0,955997 0,085 0,918512
0,006 0,994018 0,046 0,955042 0,086 0,917594
0,007 0,993024 0,047 0,954087 0,087 0,916677
0,008 0,992032 0,048 0,953134 0,088 0,915761
0,009 0,991040 0,049 0,952181 0,089 0,914846
0,010 0,990050 0,050 0,951229 0,090 0,913931
0,011 0,989060 0,051 0,950279 0,091 0,913018
0,012 0,988072 0,052 0,949329 0,092 0,912105
0,013 0,987084 0,053 0,948380 0,093 0,911194
0,014 0,986098 0,054 0,947432 0,094 0,910283
0,015 0,985112 0,055 0,946485 0,095 0,909373
0,016 0,984127 0,056 0,945539 0,096 0,908464
0,017 0,983144 0,057 0,944594 0,097 0,907556
0,018 0,982161 0,058 0,943650 0,098 0,906649
0,019 0,981179 0,059 0,942707 0,099 0,905743
0,020 0,980199 0,060 0,941765 0,100 0,904837
0,021 0,979219 0,061 0,940823 0,101 0,903933
0,022 0,978240 0,062 0,939883 0,102 0,903030
0,023 0,977262 0,063 0,938943 0,103 0,902127
0,024 0,976286 0,064 0,938005 0,104 0,901225
0,025 0,975310 0,065 0,937067 0,105 0,900325
0,026 0,974335 0,066 0,936131 0,106 0,899425
0,027 0,973361 0,067 0,935195 0,107 0,898526
0,028 0,972388 0,068 0,934260 0,108 0,897628
0,029 0,971416 0,069 0,933327 0,109 0,896730
0,030 0,970446 0,070 0,932394 0,110 0,895834
0,031 0,969476 0,071 0,931462 0,111 0,894939
0,032 0,968507 0,072 0,930531 0,112 0,894044
0,033 0,967539 0,073 0,929601 0,113 0,893151
0,034 0,966572 0,074 0,928672 0,114 0,892258
0,035 0,965605 0,075 0,927743 0,115 0,891366
0,036 0,964640 0,076 0,926816 0,116 0,890475
0,037 0,963676 0,077 0,925890 0,117 0,889585
0,038 0,962713 0,078 0,924964 0,118 0,888696
0,039 0,961751 0,079 0,924040 0,119 0,887808
12 - Aplicatii
324
Tab. 12. 4b
t R(- t) t R(- t) t R(- t)
A t R(-A t) A t R(-A t) A t R(-A t)
0,105 0,900325 0,305 0,737123 0,505 0,603506
0,110 0,895834 0,310 0,733447 0,510 0,600496
0,115 0,891366 0,315 0,729789 0,515 0,597501
0,120 0,886920 0,320 0,726149 0,520 0,594521
0,125 0,882497 0,325 0,722527 0,525 0,591555
0,130 0,878095 0,330 0,718924 0,530 0,588605
0,135 0,873716 0,335 0,715338 0,535 0,585669
0,140 0,869358 0,340 0,711770 0,540 0,582748
0,145 0,865022 0,345 0,708220 0,545 0,579842
0,150 0,860708 0,350 0,704688 0,550 0,576950
0,155 0,856415 0,355 0,701173 0,555 0,574072
0,160 0,852144 0,360 0,697676 0,560 0,571209
0,165 0,847894 0,365 0,694197 0,565 0,568360
0,170 0,843665 0,370 0,690734 0,570 0,565525
0,175 0,839457 0,375 0,687289 0,575 0,562705
0,180 0,835270 0,380 0,683861 0,580 0,559898
0,185 0,831104 0,385 0,680451 0,585 0,557106
0,190 0,826959 0,390 0,677057 0,590 0,554327
0,195 0,822835 0,395 0,673680 0,595 0,551563
0,200 0,818731 0,400 0,670320 0,600 0,548812
0,205 0,814647 0,405 0,666977 0,605 0,546074
0,210 0,810584 0,410 0,663650 0,610 0,543351
0,215 0,806541 0,415 0,660340 0,615 0,540641
0,220 0,802519 0,420 0,657047 0,620 0,537944
0,225 0,798516 0,425 0,653770 0,625 0,535261
0,230 0,794534 0,430 0,650509 0,630 0,532592
0,235 0,790571 0,435 0,647265 0,635 0,529935
0,240 0,786628 0,440 0,644036 0,640 0,527292
0,245 0,782705 0,445 0,640824 0,645 0,524663
0,250 0,778801 0,450 0,637628 0,650 0,522046
0,255 0,774916 0,455 0,634448 0,655 0,519442
0,260 0,771052 0,460 0,631284 0,660 0,516851
0,265 0,767206 0,465 0,628135 0,665 0,514274
0,270 0,763379 0,470 0,625002 0,670 0,511709
0,275 0,759572 0,475 0,621885 0,675 0,509156
0,280 0,755784 0,480 0,618783 0,680 0,506617
0,285 0,752014 0,485 0,615697 0,685 0,504090
0,290 0,748264 0,490 0,612626 0,690 0,501576
0,295 0,744532 0,495 0,609571 0,695 0,499074
0,300 0,740818 0,500 0,606531 0,700 0,496585
Fiabilitate functional in electronic
325
Eiind, de asemenea, Iunctii exponentiale, aspectele precizate
anterior sunt valabile; n plus este necesar a se remarca cele ce urmeaz.
- Indicatorii R(- t) si R(-At) exprim, probabilistic, proprietatea
de bun Iunctionare (corect) n timp; utilizarea lor este
eIicient, mai ales, pentru calculul Iiabilittii generale (clasice)
si Iiabilittii n raport cu rspunsul eronat ( 1.2.1).
- Sistemele cu Iiabilitate ridicat si ndeosebi, cele de nalt
Iiabilitate sunt caracterizate, n general, prin valori mari ale
Iunctiei R(t ); pentru acest motiv valorile tabelate se o presc la
limita inIerioar 0, 496.
- De asemenea, ca si n tabela 12. 3, pentru precizie ridicat,
domeniul 0, 000~0, 100 este extins pentru Iunctiile R(- t) si
R(-At).
12.3. Fiabilitatea previzional a unui inductor de
cale din sistemul de control automat al vitezei
trenului
12.3.1. Modul de functionare a sistemului (sintez)
Pentru a putea calcula aceast Iiabilitate (Iunctional) previzional
este necesar s se cunoasc principiul pe care se bazeaz Iunct ionarea
sistemului la nivel macroscopic, ca si procedeele aplicate la nivel
microscopic. Er a intra n detalii, n prealabil, se abordeaz si se
expun (sintetic) aspectele Iunctiona le pentru rspunsuri corecte ( 1. 2. 1).
12 - Aplicatii
326
n desenul din Iigura 12.6 est e redat schema general, simpli -
Iicat la maxi mum, a structurii electrice de sistem, cu notatiile :
G
b
generatorul (electronic) al semnalului de control ; acest gene-
rator Iace parte din echipamentul de bord (Ech. b ord) ;
L
b
bobina inductorului de bord parcurs de curentul, la bord, I
b
;
L
s
bobina inductorului de sol adus la rezonant prin condensa-
torul C
s
care, mpreun cu bobina L
s
, Iace parte din
echipamentul de sol (Ech. s ol) ;
v contact al releului de comand a unittii verde din lumino-
semnalul de circulatie ; acesta reprezint sursa de inIormatie
pentru controlul automat al vitezei.
n Iapt cele dou bobine, pe durata cuplajului sol bord, au
propriettiile unui transIormator (special) cu cuplaj variabil ntre
nIsurarea L
b
primar si nIsurarea L
s
secundar ; astIel se induce
curentul I
s
(semnal de control al vitezei la sol).
Cuplajul sol-bord se poate produce asociat cu Ienomenul de
rezonant electric, atunci cnd contactul de releu v este deschis releu
~
G
b
L
b
I
b
I
s
C
s
v
Bord
Sol
(Ech. bord)
(Ech. sol)
L
s
Eig.12.6
Fiabilitate functional in electronic
327
dezexcitat (), sau I r rezonant dac contactul v este nchis (stabilit)
releu excitat (): contactul v scurtcircuiteaz condensatorul C
s
iar
eIectul n aceast situatie este de crestere substantial a amplitudinii
curentului I
s
(transIormator cu nIsurarea secundar n scurtciruit).
ntr-o prim analiz Iunctional de sistem, rezult ca Iiind
caracteristice patru stri distincte.
I Stare Ir cuplaj sol -bord, cnd vehiculul motor Ieroviar nu se
aIl n punctul de amplasare a inductorului n cal e (sol). Regimul
electric de Iunctionare este de transIormator cu nIsurarea secundar n
gol: curentul I
b
la bord este prereglat la valoarea nominal I
0
(de stare
pasiv):
I
b
I
0
~ I
act .
I
act
este valoarea - prag de activare a echipamentului de bord
pentru controlul unei anumite trepte de vitez. Aceste valori sunt
precizate n Iigura 12. 7, prin diagrama de interactiune sol bord.
S-au mai utilizat notatiile:
T
p
perioada semnalului de control al vitezei (I
b
) gener at n
echipamentul de bord (G
b
Iig. 12. 6);
I
b
t
0
I
max
I
o
I
act
I
o
I
min
I II
III
II
t
i
T
p
Eig. 12.7
12 - Aplicatii
328
t
i
durata impulsului de interactiune sol -bord (durat care depinde
de viteza instantanee a vehiculului motor n punctul de cuplaj).
Circulatia, n aceast stare, se poate Iace la orice vitez
instantanee Vit
i ns t
pn la cea maxim permis Vit
per m
, indiIerent de
starea inductorului de sol:
Jit
i ns t
_ Jit
per m
.
II Stare de cuplaj sol -bord cnd contactul v (al releului de
comand pentru aIisaj verde la luminosemnalul de circulatie din cale)
este stabilit - releu excitat (Iig. 12. 6). Regimul de Iunctionare este
echivalent unui transIormator cu nIsurarea secundar n scurtcircuit:
curentul I
b
creste progresiv n amplitudine pn la valoarea maxim I
max
(Iig. 12.7):
I
max
~ I
0
~ I
act
.
Acest eIect este reprezentat prin nIsurtoarea de modulatie
trasat ntrerupt ngrosat II (la alternantele pozitive si la alternante le
negative). La nivel macroscopic de sistem, din punct de vedere
Iunctional, situatia este echivalent celei anterioare de la starea I:
pragul de amplitudine pentru activare (I
act
) Iiind depsit nu se produce
nici o restrictie de vitez (instantanee): vehiculul Ieroviar se poate
deplasa cu viteza prestabi lit si permis Vit
per m
.
III. 1 Stare de cuplaj sol - bord cnd contactul v este ntrerupt
(releu dezexcitat ). Dup cum se poate vedea n Iigura 12. 6 bobina L
s
,
a inductorului de la sol, este acordat la rezonant cu condensatorul C
s
:
~ kH: 2
1
1
C L 2
1
f
2 p
2 s s
2 p
= = =
t
.
n aceast Iormul s-au notat cu:
Fiabilitate functional in electronic
329
I
p2
Irecventa semnalului purttor de 2 kHz, semnal care este de
Iorm sinusoidal (~);
T
p2
perioada semnalului purttor corespunznd Irecventei de 2
kHz (Iig. 12.7);
C
s 2
valoarea capacittii condensatorului C
s
(Iig. 12.6) pentru care
Irecventa circuitului rezonant derivatie, astIel Iormat, are valoare de 2
kHz.
Acest circuit prezint ntre bornele sale, la rezonant, o rezistent
Ioarte mare (teoretic inIinit),
,
r C
L
Z
2 s
s
2 s
=

unde r reprezint rezistenta de pierderi a circuitului; pentru a avea o


valoare ct mai mic, miezurile bobi nelor L
s
si L
b
sunt conIectionate din
Ierit de calitate corespunztoare.
Prin urmare, pe durata cuplajului sol - bord, n bobina L
b
se va
reIlecta o rezistent electric de valoare ridicat provocnd, astIel, o
scdere important a amplitudinii curentului I
b
(nIsurtoarea III din
diagrama 12.7). Aceast variatie n timp a semnalului I
b
, cu Irecventa de
2kHz, are loc sub valoarea limit de prag I
act
, pe durata t
i
; la nivel
macroscopic inIormatia transmis este total restrictiv pentru circulatie:
dac se depseste, n acest regim, luminosemnalul din teren (care nu
aIiseaz verde) intervine, la bord, Irnarea automat total -oprire de
urgent neconditionat, deoarece:
I
b
I
act
I
0
I
max
.
III. 2 Stare de cuplaj sol - bord atunci cnd este necesar ca
vehiculul motor Ieroviar s circule ntr-un regim de restrictie partial a
vitezei instantanee:
0 Jit
i ns t
_ Jit
per m
.
12 - Aplicatii
330
Acum viteza (maxim) permis vit
per m
are o valoare mai mic dect
n situatia precedent (III. 1); aceasta, deoarece, n teren, luminosem-
nalul de circulatie are unittile luminoase verde-pasiv (releu
dezexcitat / contact v ntrerupt) si galben - activ (releu excitat / contact
g stabilit).
Schema respectiv este reprodus n Iigura 12. 8 si se obtine, prin
dezvoltare, din schema 12. 6. Notatiile care apar n plus, Iat de cele
Iolosite anterior, au urmtoarele semniIicatii:
C
s 1
condensator pentru modiIicarea Irecventei de rezonant a
circuitului derivatie de la valoarea de 2 kHz la valoarea de 1 kHz;
A, B, C bornele de cuplaj la cablul de legtur cu luminosem-
nalul din teren.
Acest cablu este de constructie special, astIel nct s Iie protejat
Iat de scurtcircuit ntre Iirele sale.
n aceast stare, restrictiv pentru vitez, Irecventa semnalului
purttor (sinusoidal) este:
L
s
I
s
C
s2
C
s1
A
B
C
Cablu
v
g
Eig. 12.8
Fiabilitate functional in electronic
331
,
2 p
1 s 2 s s
1 p
1 p
f kH: 1
) C C ( L 2
1
1
1
f < =
+
= =
t
deoarece contactele de l a luminosemnalul din cale sunt: v ntrerupt;
g stabilit.
Aceast schimbare a Irecventei de rezonant, n inductorul de la
sol, este detectat la bord, eIectul de variatie a amplitudinii semnalului
de control Iiind acelasi ca n situatia precedent (III. 1 Iig. 12. 7). n
consecint se controleaz (automat) treapta de vitez inIerioar: dac
viteza instantanee este mai mare dect cea permis se produce o Irnare
automat.
Momentul n care intervine aceast actiune, n echipamentul de
bord (Ech. b ord), este precizat n diagrama I
b
f(t) din Iigura 12. 7 prin
semnul x pe coordonata timpului. Durata impulsului t
i
este de ordinul
milisecundelor; Iiind mai lung la viteze mici de circulatie utilizarea
acestui procedeu se preteaz, mai ales, pentru controlul vitezei la ramele
de metrou si la trenuri cu viteze mici si medii.
Mai trebuie retinut Iaptul c realizarea echipamentului se bazeaz
pe logica de tip cablat ( 10. 3. 3) , iar contactele v si g sunt de tipul
argint - graIit (relee gravitationale ).
n Iigura 12. 9 este reprezentat schema electric complet a unui
inductor de cale cu structura 1 kHz / 2 kHz (valori rotunjite). Pentru o
bun protectie Iat de solicitrile din ambiant, ntregul echipament este
montat ntr-o carcas de siluminiu cu impregnare n poli uretan.
Eat de aspectele precizate si analizate anterior sunt de remarcat
cele ce urmeaz.
- Bobina L
s
(Iig. 12. 8) este realizat prin dou bobine identice L `
si L, conectate n serie si n Iaz, dar care au miezuri magnetice (Ierit)
separate. Eiind cuplate strns (ntre ele) se obtine o valoare ridicat a
12 - Aplicatii
332
inductantei totale, deoarece Iactorul de cuplaj este Ioarte apropiat de
unitate,
1
" L L
M
k ~

= ,
unde cu M se noteaz inductanta mutual.
Cele dou bobine Iiind identice (L L` L), rezult pentru induc-
tanta total
L
t
L L` 2M - 4 L,
ntruct, la cuplaj strns, inductanta mutual este egal cu cea a unei
bobine M L L` L.
C
1
C
2
C
3
C
4
C
5
C
6
C
7
C
8
L`
L``
D
4
D
1 D
2
D
3
s
1
s
2
s
3
s
4
A
B
C
b
1
b
2
b
4
b
6
b
3
b
5
b
7
b
9
b
11
b
13
b
15
b
8
b
10
b
12
b
14
b
16
b
17
b
18
b
19
C
s2
C
1
C
2
C
3
Eig. 12.9
_
=
= =
8
4 f
2 s f 1 s
C 3 C C
kH: 1
) C C ( L 2
1
f
2 s 1 s t
1
=
+
=
t
U
inv
5 kV
kH: 2
C L 2
1
f
2 s t
2
=

=
t
Fiabilitate functional in electronic
333
AstIel se obtine o reducere a volumului , greuttii si costului pentru
bobina inductorului de sol (L
s
L
t
). Spre a Ii protejate la ntrerupere si
la scurtcircuit are ntre spire, bobinajele sunt executate cu conductor de
cupru dublu emailat, cu diametrul de 0, 6 mm.
- Capacitatea necesar acordului pe Irecventa de 2 kHz (C
s 2
) este
obtinut cu ajutorul a trei condensatori (C
1
, C
2
si C
3
), care sunt cuplati
n permanent la bornele extreme ale bobinelor L` si L.
- Spre a se obtine Irecventa de rezonant de 1 kHz se Iolosesc
condensatorii C
4
~ C
8
care sunt cuplati n paralel la grupul C
1
~ C
3
prin
bornele B-C; la rndul lor, acestia sunt cuplati prin cablu la contactul de
releu g (Iig. 12. 8). Toti condensatorii Iac parte din c ategoria compo-
nentelor de tip proIesional, avnd dielectric din mic, pierderi Ioarte
mici si o tensiune nominal de 500V.
- Pentru a se putea mri distanta dintre punctul de amplasare a
inductorului si luminosemnalul de circulatie a Iost prevzut grupul de
diode D
1
~ D
4
(identice) , prin care se realizeaz o redresare monoalter-
nant a semnalului de control. AstIel distanta inductor luminosemnal
poate creste datorit Iaptului c atenuarea, n cablul de legtur, este
mai mic (n component continu de ct n component alternativ). Si
diodele sunt de tip proIesional, cu tensiune nominal invers de 5 kV si
curent nominal direct de 10 A.
Celelalte notatii, care mai apar n schem, sunt:
s
1
~ s
4
puncte de conexiune prin suduri cu Iludor ;
b
1
~ b
19
puncte de conexiune prin born metalic cu Iilet .
Bornele de interconectare A B C sunt duble pentru a obtine o
interconectare Iiabil ntre Iirele interioare cablaj conventional
(clasic) si Iirele exterioare (capt de cablu).
12 - Aplicatii
334
12.3.2. Conditii generale de calcul
1 Durata medie de interactiune bordsol: t
i
60s (Iig. 12.7 - 12. 3.1).
2 Intervalul mediu de timp ntre trenuri succesive: T
s uc
10 minute.
3 Solicitri n ambiant dur la nivelul solului.
4 Toate evalurile vor Ii Icute dup criteriul primei deIectri ( 2.1).
5 Se iau n calcul toate deIectrile de ordin I ( 8. 1).
6 Regimul de Iunctionare corespunde duratei normale de viat a
echipamentului ( 4.3).
7 Sunt neglijabile probabilittile de ntrerupere sau de scurtcircuitare
ale conexiunilor conventi onale din interiorul carcasei de siluminiu
(4. 4. 2).
8 Valorile de timp pentru care se va calcula Iiabilitatea:
- 1 zi 24 ore;
- 1 lun 720 ore;
- 1 trimestru 2.160 ore;
- 1 semestru 4. 320 ore;
- 1 an 8. 640 ore.
9 Indicatorii de Iiabilitate pentru care se Iac calculele de determinare
sunt:
- valoarea medie a timpului de Iunctionare ntre dou
deIectri succesive m (MTBE);
- Iunctia de Iiabilitate R(t);
- Iunctia de nonIiabilitate E(t).
10 Se vor stabili graIurile Iiabiliste pe baza crora se calcul eaz indi-
catorii de Iiabilitate precizati la pct. 9:
- Iiabilitatea general (clasic);
- Iiabilitatea Iunctional la rspunsuri eronate;
- Iiabilitatea Iunctional la rspunsuri Ialse.
Fiabilitate functional in electronic
335
12.3.3. Fiabilitatea general/clasic
Calculele si analiza rezultatelor se Iac, n acest caz, pentru o
evaluare prospectiv, ncadrat ntr-un anumit interval de conIident
(cap. 2 si cap. 3), considerat ca Iiind suIicient pentru studii Iiabiliste
previzionale.
O alt modalitate sigur de rezolvare a evalurii Iiabilittii se
obtine prin considerarea valorilor maxime ale intensittilor (ratelor) de
deIectare. AstIel se realizeaz atestarea Iiabilittii: indicatorii Iiabilisti
depsesc, probabilistic, un nivel minim admisibil ( 1.1. 2). Deoarece
inductorul de cale este un echipament de tip proIesional, cu mare
rspundere Iunctional, n determinrile care urmeaz se va utiliza
aceast modalitate.
Dup gradul de complexitate al sist emului n cauz, s-au impus
dou metode: o metod de calcul pentru si steme complexe prin
evaluri preliminare pe subsistem si o alta pentru sisteme (relativ)
simple prin evaluri directe la nivel de sistem.
IndiIerent de metoda aplicat, sunt necesare unele calcule
pregtitoare, obligatorii, plecnd de la date primare l a nivel de
component si opernd succesiv se ajunge la evaluarea Iiabilist de
sistem (nivel macroscopic). Spre a se evita unele omisiuni, ndeosebi la
sistemele complexe, aceste calcule se Iac etapizat (n etape principale
sau n etape secundare).
A - Calculele la solicitri n microambiant ( 4. 4. 2) sunt, de
regul, laborioase si se reIer la caracteristici electrice, stati ce si
dinamice, la nivel de component.
I n prima etap se stabileste valoarea timpului relativ de
Iunctionare ( 4. 4.2):
12 - Aplicatii
336
1
1
fe
1
re
= ,
unde T
I e
este timpul de Iunctionare eIectiv, iar T este timpul total
considerat.
ntruct, prin enuntul temei, se consider c circul, n medie, 6
trenuri ntr-o or, iar durata medie de interactiune (de Iunctio nare
eIectiv) este de 1 minut/tren, rezult:
1 , 0
60
6
1
re
= = .
Aceast valoare reprezint un coeIicient de calcul pentru toate
componentele din schema electric a inductorului de la sol (solicitri
electrice).
II n etapa urmtoare se trece l a determinarea coeIicientului de
solicitare (k
s
), pentru Iiecare component n parte ( 4. 4. 2), n Iunctie
de gradul de ncrcare prin solicitrile electrice pe care le suport
componenta n cauz. De exemplu, se produc solicitri intense n etajele
de putere (electric): blocuri de electroalimentare, etaje Iinale, etaje de
iesire etc.
n cazul inductorului de la sol gradul de ncrcare este redus si
toate componentele de acelasi tip suport solicitri practic egale.
a Bobinele L` si L sunt parcurse, pe durata de interactiune sol -
bord, de un curent electric cu intensitatea eIectiv:
I
s
30 mA~.
Conductorul cu care acestea sunt bobinate are diametrul, respectiv
sectiunea:
u 0,6mm; mm S 28 , 0
4
=

=
2
| t
2
.
Fiabilitate functional in electronic
337
Deoarece ncrcarea nominal a unui astIel de conductor este de
2A/mm
2
, rezult c Iirul bobinelor poate Ii parcurs de un curent nominal
I
0
560 mA si deci, pentru coeIicientul de solicitare al bobinelor,
rezult valoarea:
054 , 0
mA 560
mA 30
I
I
k
o
s
sL
= = = .
b Punctele de sudur cu Iludor pot Ii considerate c suport o
solicitare electric real tot de 30 mA (ca si bobinele), valoarea
nominal Iiind ns cu mult mai mare; n practic aceasta este
considerat ca Iiind de 1A (la echipamente de tip proIesional). Rezult
un coeIicient de solicitare (pentru suduri):
03 , 0
1000
30
I
I
k
o
s
ss
= = = .
c Conexiunile prin born metalic cu Iilet (b; Iig. 12. 9) sunt
echivalente celor prin wrapare, avnd acelasi coeIicient de solicitare ca
si conexiunile prin sudur cu Iludor:
k
s b
0, 03.
d Condensatorii suport solicitri egale, avnd tensiunea
nominal de lucru egal cu 500V~ si o tensiune eIectiv la borne de
aproximativ 5V~:
01 , 0
~ J 500
~ J 5
k
sC
= = .
e Diodele, aparent, au un coeIicient de solicitare cu un ordin de
mri me mai mic dect condensatorii :
001 , 0
~ kJ 5
~ J 5
k
sD
= = ,
dar, la nivel de component singular, ele necesit o echivalare a
solicitrii electrice si, deci, o corectie a Iactorului k
s D
.
12 - Aplicatii
338
Dup cum se observ din schema electric (Iig. 12.9), acestea se
aIl ntr-o structur de redundant permanent: diodele D
1
-D
2
si D
3
-D
4
,
care sunt corectate cte dou n derivatie, suport solicitri mai mici (la
nivel individual). n aceast privint trebuie retinut c (Iig. 12.10):
diodele ambelor perechi sunt identice, iar eIectul de redundant
se maniIest numai prin structurile derivatie;
ambele diode dintr-o anumit pereche suport, la borne, aceeasi
tensiune direct, respectiv aceeasi tensiune invers;
curentul principal I se divide n mod egal prin curentii I
D1
si I
D2
:
I
D1
I
D2
I/2.
Acest Iapt conduce la concluzia c solicitarea, numai de natur
electric, pe care o suport Iiecare diod (din Iiecare dublet) se reduce,
n mod real, la jumtate din intensitatea curentului principal I.
Prin urmare se echivaleaz (ech) valoarea Iactorului k
s
(tab. 4. 1):
0005 , 0
2
001 , 0
2
k
k
sD
sDech
= = = .
n acest Iel Iiecare pereche derivatie, de diode, este echivalent
cu cte o singur diod conectat n serie pe circuitul principal; aceast
echivalent se va reprezenta astIel:
D
ech
D
1. 2
D
3. 4
I I I/2
I
D1
I
D2
D
1
D
2
D
1.2
Eig. 12.10
Fiabilitate functional in electronic
339
Spre a nu complica (inutil) notatiile de calcul pentru diode, mai
departe, acestea se vor nota Ir indicele ech, subntelegndu-se acest
lucru:
k
s D
k
s D1. 2
k
s D3. 4
0, 0005.
III n aceast etap se stabilesc, tot pe tipuri de componente,
valorile de calcul ale coeIicientilor u, ale intensittilor (ratelor) de
deIectare nominale si ale intensittilor de calcul n Iunctie de toate
solicitrile electrice suportate.
a n cazul inductorului din cale, dup cum se constat din
valorile coeIicientilor de solicitare (cuprinse ntre limitele 0, 0005 si
0, 054), regimul de solicitare electric este descrcat ( 4.4. 2).
Din acest motiv valorile Iactorului de calcul u, pentru Iiecare
component n parte, vor Ii egale cu cele ale Iactorului k
s
:
u
L
k
s L
0,054 ; u
s
k
ss
0, 03 ; u
b
k
s b
0, 03 ;
u
C
k
s C
0, 01; u
D
k
s D
0, 0005;
b Acum este momentul introducerii valorilor intensittii (ratei)
nominale de deIectare pentru Iiecare tip de component. Deoarece se
urmreste obtinerea valorii previzionale (deduse) pentru atestarea unui
nivel mini m al Iiabilittii, valorile nominale luate n calcul vor Ii cele
maxi me ( 4. 4. 2, tab. 4. 3):
Nr. crt. 5:
OL
0, 04510
- 6
h
- 1
;
Nr. crt. 45:
Os
0, 009 10
- 6
h
- 1
;
Nr. crt. 19:
Ob
0,002 10
- 6
h
- 1
;
Nr. crt. 10:
OC
0, 08110
- 6
h
- 1
;
Nr. crt. 24:
OD
0, 462 10
- 6
h
- 1
.
Trebuie precizat c acele componente care nu se gsesc exprimate
explicit n tabela 4. 3 vor Ii echivalate, prin proprietti comune de
Iiabilitate, cu componente ale cror valori
0
se gsesc n tabel. n
aceast situatie sunt componentele:
12 - Aplicatii
340
condensatorii cu dielectric din mic sunt echivalati cu
condensatorii ceramici (nr. crt. 10);
conexiunile prin borne metalice cu surub Iiletat sunt echivalente
celor prin wrapare (n r. crt. 19).
c Dispunnd de datele partiale, ale Iiecrui tip de component, se
trece la determinarea valorilor Iinale de calcul ale intensittilor (ratelor)
de deIectare pentru solicitri electrice:

ei
o
i
1
r e

oi
0, 1 o
i

oi
,
relatie n care cu i s-a notat variabila de rang. ConIorm Iormulei de
calcul rezult:

eL
0, 1u
L

OL
(0, 1x0, 054x0,045) 10
- 6
h
- 1
0, 000.243 10
- 6
h
- 1
;

es
0, 1 u
s

os
(0, 1x0,03x0, 009) 10
- 6
h
- 1
0,000. 027 10
- 6
h
- 1
;

eb
0, 1 u
b

ob
(0, 1x0,03x0, 002) 10
- 6
h
- 1
0,000. 006 10
- 6
h
- 1
;

eC
0, 1u
C

oC
(0, 1x0, 01x0, 081) 10
- 6
h
- 1
0,000. 081 10
- 6
h
- 1
;

eD
0, 1 u
D

OD
(0, 1x0, 0005x0, 462) 10
- 6
h
- 1
0, 000. 023 10
- 6
h
- 1
.
Pentru o evident mai bun, nainte de a se trece la calcule pe
subsistem, rezultatele obtinute pn acum sunt nregistrate centralizat n
tabela 12. 5 (pe tipuri de componente).
Tab. 12.5
Tipul
componentei
o
i

oi
|x10
- 6
h
- 1
|

ei
|x10
- 6
h
- 1
|
Bobine (L) 0,054 0, 045 0, 000.243
Suduri cu Iludor (s) 0,03 0, 009 0, 000.027
Borne cu surub metalic (b) 0,03 0, 002 0, 000.006
Condensatori (C) 0,01 0, 081 0, 000.081
Diode (D) 0,0005 0, 462 0, 000.023
Fiabilitate functional in electronic
341
B - Calculele la solicitri n ambiant ( 4.4. 3) sunt, relativ, mai
simple Iat de cele din microambiant deoarece toate componentele
inductorului suport aceleasi tipuri de solicitare care, practic, se aIl la
acelasi nivel.
I Ca si la solicitrile de microambiant calculele ncep cu timpul
relativ de solicitare n ambiant; dar, spre deosebire de microambiant,
unde solicitrile electrice exist numai pe durata de cuplaj sol -bord, aici
exist dou tipuri de solicitri .
a) O solicitare permanent variabil, de natur meteo-climatic,
pentru care . 1 1
ra
= '
b) O alt solicitare, cu intermitente, de asemenea variabil, de
natur mecanic, la trecerea trenului: vibratii, oscilatii n plan vertical
etc. Deoarece aceast solicitare exist, practic, pe durata trecerii
locomotivei (la amplitudini maxi me), timpul relativ 1
r a
este egal cu cel
din microambiant:
. 1 , 0 1 1
re ra
= = ' '
II Determinarea Iactorului de ambiant se Iace, de asemenea,
considernd cele dou tipuri de solicitri.
a) Spre deosebire de echipamentele montate n dulapuri, coIrete
etc. , inductorul este amplasat la nivelul cii, unde pot exi sta ploi
torentiale, inundatii, zpad nghetat, temperaturi care, vara sub
radiatia solar direct, pot atinge valori ridicate de pn la 85
0
C. Din
cauza acestui climat dur, la nivelul solului, se va lua n calcule
(acoperitor) dublul valorii Iactorului ( 4. 4. 3; tab. 4.5):
2
2
2x16 32.
b) Solicitrile de natur mecanic, la trecerea trenului, sunt
inIerioare celor care se maniIest asupra echiapmentului corespunztor
de bord; n sens acoperitor se consider c la sol, sub tren, aceste
12 - Aplicatii
342
solicitri reprezint 50, n intensitate, din cele de la bord. Utiliznd
datele din tabela 4. 4 - 4.4. 3 se obtine:

5
50, . 25
2
50
2
"
5
= = =
|
|
III Cea de a treia caracteristic este reprezentat prin asocierea,
n calcule, a intensittii nominale de deIectare
0
:



ra
1
0
32 1
0
32
0
,

a
`

ra
1
0
25 0, 1
0
2, 5
0
nsumnd cele dou intensitti de deIectare se obtine relatia:

a


a

a
+ 32
0
2, 5
0
34, 5
0
,
care conduce la relatia general de calcul:
ai
34, 5
oi
, unde i este
variabil de rang, iar
oi
reprezint valoarea intensittii nominale de
deIectare ce corespunde componentei de rang i (tab. 12. 5).
Prin urmare, pentru cele 5 tipuri de componente, rezult valorile:

aL
34, 5
OL
34, 5 x 0, 045 10
- 6
h
- 1
1,552 10
- 6
h
- 1
;

as
34, 5
as
34, 5 x 0,009 10
- 6
h
- 1
0,311 10
- 6
h
- 1
;

ab
34,5
ab
34, 5 x 0,002 10
- 6
h
- 1
0,069 10
- 6
h
- 1
;

acC
34,5
OC
34, 5 x 0, 081 10
- 6
h
- 1
2,794 10
- 6
h
- 1
;

aD
34, 5
OD
34, 5 x 0, 462 10
- 6
h
- 1
15, 939 10
- 6
h
- 1
.
C - Calculele la solicitri combinate se Iac nsumnd valorile (la
Iiecare tip de component), obtinute n etapele precedente, p entru
solicitri n microambiant si pentru solicitri n ambiant:

t i

ei

ai
.
n aceast relatie
t
reprezint intensitatea total a de deIectrilor,
iar i este variabila de rang n Iunctie de tipul componentei:
Fiabilitate functional in electronic
343

t L

eL

aL
(0, 000.2431, 552)10
- 6
h
- 1
1,552. 243 10
- 6
h
- 1
;

t s

es

as
(0, 000. 0270, 311) 10
- 6
h
- 1
0, 311.027 10
- 6
h
- 1
;

t b

eb

ab
(0, 000.0060, 069)10
- 6
h
- 1
0, 069.006 10
- 6
h
- 1
;

t C

eC

aC
(0, 000.0812, 794)10
- 6
h
- 1
2, 794.081 10
- 6
h
- 1
;

t D

eD

aD
(0, 000. 02315, 939)10
- 6
h
- 1
15, 939. 023 10
- 6
h
- 1
.
D
SS
Metoda de calcul pe subsistem presupune stabilirea, n
prealabil, a graIurilor corespunztoare Iiecrui subsistem; dac totusi
exist subsisteme de mare complexitate se va recurge la utilizarea de
Iractiune graI a subsistemului, astIel nct s poat Ii evitate erorile
prin omisiuni sau prin repetare (pentru unele componente). Aceast
metod este eIicient n cazul sistemelor mari, cu grad ridicat de
complexitate, avnd structuri neomogene si o varietate important a
tipurilor de componente.
I n cazul inductorului de cale (Iig. 12.9), primul subsistem
abordat n calcul este ansamblul bobinelor de cuplaj sol -bord: bobinele
L - L` si punctul de sudur dintre ele s
1
.
GraIul de Iiabilitate este simplu Iigura 12. 11 a). Intensitatea de
deIectare a subsistemului ( 5. 1) este:
A
L
2
t L

t s
(2 x 1, 552. 243 0,311.027) 10
- 6
h
- 1

3, 415.513 10
- 6
h
- 1
,
deoarece bobinele sunt identice.
II Urmtorul subsistem este Iormat di n condensatorii C
1
- C
2
- C
3
(acord pe Irecventa de 2kHz) ca si din bornele de conexiune aIerente
(Iig. 12.11b):
A
C1. 3
3
t C
7
t b
(3x2, 794. 081 7x0, 069.006) 10
- 6
h
- 1

8, 865.285 10
- 6
h
- 1
.
12 - Aplicatii
344
Si aici, ca si n continuare, componentele identice se grupeaz
pentru calcul.
III Subsistemul condensatorilor pentru acord la rezonant pe
Irecventa de 1 kHz are graIul cel mai dezvoltat Iig. 12. 11c):
A
C4. 8
= (5
t C
11
t b
) 10
- 6
h
- 1
(5x2, 794.081 11x0,069.006) 10
- 6
h
- 1

14, 729. 471 10


- 6
h
- 1
L`
s
1
L``
(i) (e)
(i)
(i) (e)
(e)
(i)
(i)
(e)
(e)
b
1
C
1
b
2
b
3
C
2
b
4
b
5
C
3
b
6
b
19
b
7
C
4
b
8
b
9
C
5
b
10
b
14
C
7
b
13
b
12
C
6
b
11
b
15
C
8
b
16
b
18
s
2
s
2
D
1
D
2
s
3
D
3
D
4
s
4
b
17
D
1.2
s
3
D
3.4
s
4
b
17
d)
c)
b)
a)
e)
Eig. 12.11
Fiabilitate functional in electronic
345
IV Ultimul subsistem, abordat n calcul, este cel al diodelor D
1~4
cu punctele de sudur s
2
~ s
4
si borna de conexiune cu exteriorul b
17
(Iig. 12. 11d). ConIorm transIigurrii eIectuate anterior (Iig. 12. 10),
graIul acestui subsistem are structura din Iigura 12.11e) n care D
1. 2
si
D
3. 4
reprezint diodele echivalente avnd, Iiecare n parte, intensitatea
de deIectare (echivalent):

t D
15, 939.023 10
- 6
h
- 1
.
Prin urmare, pentru structura serie (transIigurat), rezult u rmtoa-
rea relatie de calcul:
A
D
(3
t s

t b
2
t D
) 10
- 6
h
- 1
(3x0, 311.027 0, 069. 006
215,939. 023) 10
- 6
h
- 1
32, 880.133 10
- 6
h
- 1
.
V Dup eIectuarea calculelor pentru toate subsistemele, din
structura sistemului n cauz, se trece la elaborarea graIului de sistem si
la calculul intensittii (ratei) deIectrilor pentru ntregul sistem A
s i st
(Iig. 12.12):
_
=
= + + + = =
4
1 f
D
8 . 4
C
3 . 1
C L f sist
A A A A A A
(3, 415. 513 8,865.285 14, 729. 471 32, 880. 133) 10
- 6
h
- 1

59, 890. 402 10


- 6
h
- 1
.
D
S
Metoda de calcul direct pe sistem este eIicient n cazurile
sistemelor relativ simple si Ir o mare varietate a componentelor
utilizate.
(i) (e)
L C
1.3 C
4.8
D
Eig. 12.12
12 - Aplicatii
346
n cazul tratat, al inductorului de cale, avnd putine componente,
calculele vor Ii relativ simple; graIul corespunztor este reprezentat n
Iigura 12. 13 unde, pentru reducerea dimensiunii desenului, sunt redate
prin linii ntrerupte urmtoarele componente (Iig. 12. 9):
- conexiunile prin borne metalice b
2
~ b
5
si b
8
~ b
15
;
- condensatorii C
5
- C
6
- C
7
.
Succesiunea calculelor ca si rezultatele care se obtin sunt concen-
trate n tabela 12.6, unde s-au notat cu:
n numrul de componente care sunt de acelasi tip (practic
identice);
Tab. 12.6
Componente

t i
(x10
- 6
h
- 1
)
n
(buc)
A
k
(x10
- 6
h
- 1
)
Bobine (L) 1, 552.243 2 3, 104.486
Suduri cu Iludor (s) 0, 311.027 4 1, 244.108
Conexiuni metalice (b) 0, 069.006 19 1, 311.114
Condensatori (C) 2, 794.081 8 22, 352. 648
Diode (ech D) 15, 939. 023 2 31, 878. 046
L`
(i)
(e)
s
1
L``
b
1
b
6
C
1
C
2
s
2
C
8
C
4
b
16
b
7
C
3
D
1.2
s
3
D
3.4
s
4
b
17
b
18
b
19
Eig. 12.13
Fiabilitate functional in electronic
347

t i
intensitatea (rata) deIectrilor ce corespunde Iiecrui tip de
component pentru solicitare total (n microambiant si n
ambiant);
A
k
intensitatea total de deIectare ce corespunde grupului de n
componente, practic identice.
Relatiile de calcul, direct pe sistem, sunt:
ti k
n = A
_
=
= A + A + A + A + A = A = A
5
1 k
D C b s L k sist
(3, 104. 486 1,244.108 1,311. 114 22, 352.648
31, 878. 046) 10
- 6
h
- 1
59,890. 402 10
- 6
h
- 1
Trebuie remarcat Iaptul c rezultatul obtinut A
s i s t
, pentru suma
intensittilor de deIectare, prin calcul direct pe sistem, este (si trebuie
s Iie) egal cu cel de la paragraIul precedent (D
SS
).
Dac este necesar, se recomand eIectuarea calculelor prin ambele
metode (D
SS
si D
S
) pentru a se veriIica Iaptul c nu s -au strecurat erori;
acest calcul dublu este, practic, obligatoriu ndeosebi n cazul sistemelor
mari (complexe) neomogene.
E - Calculul indicatorilor de fiabilitate
Media timpului de Iunctionare ntre deIectri succesive (MTBE) :
= =

= = ore 697 . 16
402 . 890 , 59
1 1
m
sist
sist
1 - 6 -
h 10
A
695 :ile 23 luni 1, 93 ani.
Eunctia de Iiabilitate: R
s i s t
(t) exp. (-A
s i s t
t)
R
s i s t
(1zi) exp( -59, 890.402 10
- 6
24) exp(-0,001. 437) 0, 999
R
s i s t
(1 lun) exp(-59,890. 40210
- 6
720) exp(-0,043.121) 0, 957
R
s i s t
(1trim) exp(-59,890. 40210
- 6
2. 160) exp(-0, 129.360) 0, 879
R
s i s t
(1sem) exp(-59, 890. 402 10
- 6
4. 320) exp(-0,258.720) 0, 773
R
s i s t
(1an) exp(-59, 890.402 10
- 6
8.640) exp(-0, 517. 450) 0, 596.
12 - Aplicatii
348
Eunctia de nonIiabilitate: E
s i s t
(t) 1-exp(-A
s i s t
t)
E
s i s t
(1zi) 1-exp(-0, 001.437) 0, 001
E
s i s t
(1 lun) 1-exp(-0, 043. 121) 0, 043
E
s i s t
(1trim) 1-exp(-0, 129.363) 0,121
E
s i s t
(1sem) 1-exp(-0, 258.726) 0,227
E
s i s t
(1an) 1-exp(-0, 517. 453) 0, 404
Pn acum, la inductorul de cale, este de remarcat Iaptul c solici -
trile electrice sunt Ioarte mici Iat de cele ale ambiantei; explicatia
const n aceea c semnalele electrice au valori mici, iar aparitia si
existenta lor sunt conditionate de duratele scurte ale cuplajului sol -bord.
12.3.4. Fiabilitatea functional la rspuns eronat
Cu toate c strile de sistem caracterizate prin rspuns eronat
(necorect) nu au consecinte grave n desIsurarea proceselor de
circulatie/navigatie ( 1. 2), rspunsurile eronate reduc eIicienta tehnico -
economic; pentru acest motiv, n primul rnd, acestea trebuie
controlate si deci evaluate.
Spre deosebire de Iiabilitatea general/clasic ( 12. 3. 3) a unui
sistem, care cuprinde totalitatea componentelor de echipament,
Iiabilitatea la rspuns eronat are un caracter selectiv: din multimea
componentelor care Iormeaz un sistem, numai o anumit submultime (a
aceluiasi sistem) este implicat n producerea rspunsurilor eronate.
Pentru acest motiv, n cadrul sistemelor neredundante, indicatorii
acestei Iiabilitti sunt superiori celor ai Iiabilittii clasice (5. 1).
De asemenea, n raport cu Iiabilitatea clasic, Iiabilitatea
Iunctional, prin deIinire, trebuie s contin inIormatia reIeritoare la
Iunctiunile ndeplinite de sistem. Aceast conditie conduce la
necesitatea realizrii unei analize de discriminare a deIectrilor:
aIecteaz sau nu aIecteaz o anumit Iuncti une a sistemului.
Fiabilitate functional in electronic
349
Avnd n vedere toate aceste considerente rezult c metoda de
calcul eIicient este cea de evaluare pe subsistem ( 12.3. 3 D
SS
),
evaluare ce implic o analiz complex bazat pe cunoasterea compe-
tent a procesului n cauz ca si a echipamentelor care sunt utilizate la
realizarea acestuia.
Pentru a nu se produce unele conIuzii la notarea etapelor de
analiz si calcul, n continuare, acestea sunt notate cu caractere ale
alIabetului grec (u, |, ), Ir legtur direct cu notatiile paragraIelor
D
SS
si D
S
.
o) Pentru inductorul de cale (2.000 / 1. 000Hz) se porneste
evaluarea de la cele trei stri ale aIisajului la luminosemnalul LS din
cale, de la care se obtine inIormati a necesar pentru controlul automat
discontinuu al vitezei: V verde, G galben, R rosu. Aceast
inIormatie, de tip binar, este injectat n structura inductorului prin
intermediul contactelor de releu v verde si g galben (Iig. 12.8).
n tabela 12.7 este redat sintetic analiza rspunsurilor eronate
care se pot produce prin aparitia deIectrilor de echipament; stabilirea
acestor rspunsuri se Iace prin comparare cu starea de rspuns corect (
12. 3. 1 Iig. 12. 9).
Notatiile utilizate n tabel sunt:
V, G, R indicatiile asupra regimului de circulatie aIisate prin
luminosemnalul de cale (LS); prin ncadrare n cte un cerc, n tabel,
se pune n evident starea corect (de bun Iunctionare) n sistem;
v, g contacte ale releelor de comand a aIisajului la lumino-
semnalul din cale (conectate printr -un cablu electric special Iig. 12. 8);
A, B, C bornele inductorului prin intermediul crora se realizea-
z conectarea la luminosemnal (Iig. 12. 9);
12 - Aplicatii
350
RE rspuns eronat care se poate produce n urma aparitiei unei
deIectri (aleatoare) n Iiecare din cele trei stri de baz (V, G, R);
1, 2 stare Iiabilist asociat regimului de circulatie corespunztor
aIisajului la luminosemnal.
Tab. 12. 7
Contacte
de relee
Borne suntate
AIisaj
LS
cale v g A B C
Rezonant
Tip de
rspuns
Observatii
C - A - corect Eig. 12. 9
1) Componente implicate:
L`

, L

, b
1
, s
1
, b
2
, b
15
, s
2
, s
3
, s
4
, b
17
, b
19
, b
6
RE
Eig.
12. 6- 12. 9
- C B 1 kHz corect Eig. 12. 9
1) Componente implicate:
C
1
, C
2
, C
3
, b
1
, .. ., b
6
RE Eig. 12. 9
2) Componente implicate:
C
4
, . .. , C
8
, b
7
, .. ., b
16
, b
18
, b
19
, b
6
RE Eig. 12. 9
- - - 2 kHz corect Eig. 12. 9
V-1) Aceast stare este caracterizat printr-un rspuns eronat
atunci cnd luminosemnalul LS aIiseaz verde; n prima linie a tabelei
este precizat rspunsul corect (Ir deIectri) n raport cu care este
deIinit rspunsul eronat.
Rspunsul necorect eronat poate Ii provocat de deIectarea
oricrei componente din cele 12 implicate si anume, deIectare prin
crestere parametric ||, problem ce a Iost tratat anterior:
V
G
R
Fiabilitate functional in electronic
351
elemente deIectabile exclusiv prin crestere parametric ( 7. 1. 1. )
cum sunt, n acest caz, sudurile cu Iludor (s
1
, s
2
, s
3
, s
4
) si
conexiunile prin borne metalice (b
1
, b
2
, b
15
, b
17
, b
19
, b
6
);
elemente deIectabile dominant prin crestere parametric (
7. 1. 2); din aceast categorie Iac parte bobinele
+
' L si
+
' ' L .
Pentru a justiIica starea de rspuns eronat este necesar o
aproIundare a procesului de cuplaj sol-bord n dou situatii -limit
distincte (Iig. 12. 14):
a Situatia n care vehiculul motor se aIl la distant de
inductorul din cale ( 12. 3. 1 I):
L
b
L
I
,
. o
I
b
LI
b
bI
I
L
U
X
U
L = = =
e
.
Trebuie precizat c, n aceste relatii, L
I
este valoarea inductantei
proprii a bobinei de bord L
b
, U
b
este tensiunea semnalului de control
aplicat la bornele bobinei L
b
(tensiune care este practic constant), iar
X
LI
reprezint reactanta inductiv a bobinei L
b
(n situatia a). Deoarece
ntreIierul o are, acum, valoarea maxim o
max
, inductanta proprie L
I
si
reactanta proprie X
LI
au valori corespunztoare amplitudinii de regim
stationar constant I
0
.
b Cealalt situatie limit corespunde cuplajului maxi m sol -
bord, cnd cele dou armturi magnetice (mobil bord si Iix sol)
L
b
I
b
L
b
I
b
o
max
o
min
a) b)
Eig. 12.14
12 - Aplicatii
352
sunt simetric suprapuse n plan vertical (Iig. 12. 6). ntruct, acum,
nIsurarea L
s
este ntrerupt (eIect perIect echivalent cu lipsa ei),
rezult:
L
b
L
I I I
,
o
III
b
LIII
b
bIII
I
L
U
X
U
I < = =
e
.
Aceast relatie este justiIicat prin Iaptul c ntreIierul o are, n
acest moment, valoarea mini m o
mi n
(egal cu 140 mm spre a se evita o
coliziune ntre cele dou bobine, L
b
si L
s
, din cauza oscilatiilor bobinei
de bord, n plan vertical, la deplasarea vehiculului pe linie).
n echipamentul de bord, la plecarea n curs a vehiculului motor,
se veriIic si / sau se regleaz valoarea de prag I
act
(pentru activarea
Irnrii automate) la valoarea:
I
act
0, 7 I
0
.
Cnd amplitudinea semnalului de control I
b
scade si atinge pragul
I
act
(Iig. 12. 7 III) un releu electronic rapid cu memorie retine aceast
inIormatie, declansnd si executnd Irnarea automat.
Acelasi eIect, de Irnare automat, se produce la deIectarea
oricrei componente din circuitul de suntare, prin contactul v stabilit,
respectiv prin bornele A - C de conectare la cablul de legtur (cnd
luminosemnalul LS din cale aIiseaz verde).
G - 1) Un alt rspuns eronat se produce dac starea inductorului
corespunde aIisajului galben G n cale, iar n schema sa apar deIectri
(de asemenea de ordin I - 8. 1). Cele 9 componente implicate n acest
rspuns necorect eronat, datorit deIectrii prin crestere parametric
||, anuleaz posibilitatea obtinerii rezonantei inductorului pe Irecventa
de 1 kHz; prin aceasta, la bord, nu se poate obtine inIormatia corect de
circulatie, astIel c se introduce Irnarea automat care nu este necesar
(n acest caz).
Fiabilitate functional in electronic
353
G - 2) Acest rspuns eronat poate Ii provocat la deIectarea oricrei
componente dintre cele precizate: grupul celor 5 condensatoare (C)
respectiv al conexiunilor prin borne metalice (b). Pentru a se produce
eIectul de anulare a realizrii rezonantei pe Irecventa de 1 kHz,
deIectrile n cauz sunt caracterizate prin crestere parametric ||, iar
starea de sistem, la nivel macroscopic este echivalent celei din cazul
precedent (G 1).
n ultima linie din tabela 12. 7 este precizat starea de rspuns
corect atunci cnd aIisajul luminosemnalului LS din cale este rosu, iar
n structura indicatorului se produce rezonanta pe Irecventa de 2 kHz:
oprire neconditionat. O alt restrictie Iunctional mai important nu
poate exista.
Este de observat c rspunsurile eronate, n cazul inductorului, pot
s apar prin schimbri de stare n sensul V G R, ceea
ce corespunde propriettilor Iunctionale de sistem ( 1. 2. 3).
) n Iigura 12.15 a) este redat graIul corespunztor rspunsului
eronat V - 1) pentru care sunt necesare, n calcul, urmtoarele valori ale
datelor primare:
84 , 0
L
L
=
+

( 6.1; tab. 6. 1);


t L
1, 552. 243 10
- 6
h
- 1
( 12. 3. 3);

t b
0, 069.006 10
- 6
h
- 1
(12.3.3);
t s
0,311. 027 10
- 6
h
- 1
(12. 3. 3).
Aceste valori primare sunt identice cu cele ale Iiabilittii
generale/clasice, deoarece deIectrile de component e sunt cauze ale
solicitrilor, iar rspunsul reprezint eIectul deIectrilor, indiIerent de
caracteristicile solicitrilor.
Pentru structura de Iiabilitate neredundant de tip serie cores-
punde relatia de calcul (pe subsistem):
= + + = A
+
+ ts tb tL
L
L
L
4 6 2

12 - Aplicatii
354
(2 0,84 1, 552. 243 6 0,069. 006 4 0, 311. 027) 10
- 6
h
- 1

4,265. 912 10
- 6
h
- 1
.
Rspunsul eronat G - 1) corespunde cu graIul de Iiabilitate din
Iigura 12. 15 b) si relatia de calcul cu rezultatul:
= + =
+
+ tb tC
C
C
3 . 1 C
6 3

A
(3 0, 70 2, 794. 081 6 0, 069.006) 10
- 6
h
- 1
6, 281. 606 10
- 6
h
- 1
.
Aici mai apar datele primare:
70 , 0
C
C
=
+

( 6. 1; tab. 6.1);

t C
2,794. 081 10
- 6
h
- 1
,

t b
avnd valoarea din cazul precedent.
(i)
(e)
L`

L``

b
1
s
1
b
2
b
15
b
6
b
19
b
17
s
4
s
3
s
2
(i) (e)
C
1
C
2
C
3
b
1
b
6
(i) (e)
C
4
C
8
b
7
b
16
b
18
b
19
b
6
L

C
1.3
C
4.8
D
1.4
(i) (e)
a)
b)
d)
Eig. 12.15
c)
Fiabilitate functional in electronic
355
Pentru rspunsul eronat G - 2) rezult graIul Iiabilistic din Iigura
. 12. 15c), cruia i corespunde relatia de calcul si rezultatul:
= + = A
+
+
tb tC
C
C
8 . 4
C
13 5

(5 0,70 2,794.081 13 0, 069.006) 10


- 6
h
- 1
10, 676. 36110
- 6
h
- 1
,
cu datele primare, n cauz, care au aceleasi valori ca si n cazurile
precedente.
nainte de a trece la calculul Iinal pentru rspuns eronat pe sistem,
trebuie analizat situatia diodelor D
1. 4
(Iig. 12.9). Prin structura
schemei, dup care sunt conectate, se vede c acestea sunt protejate
dublu: att la cresterea parametric || ct si la scdere parametric | -|
(7. 2).
Datorit acestei tolerante la deIectri, care acoper orice deIectare
de ordin I si de ordin II, ca si unele deIectri de ordin III, intensitatea
total a deIectrii (rate i) acestor diode este nul:
A
D
A
D -
A
D -
A
D1. 4
0
Se reaminteste conditia c, prin tem la acest studiu de caz, se
consider toate deIectrile de ordin I ( 12. 3. 2).
) n desenul din Iigura 12. 15 d) este expus graIul de Iiabilitate cu
toate cele 4 grupe de componente (subsisteme) din structura inducto -
rului. ConIorm valorilor de calcul obtinute pentru subsisteme, n Iinal
pe sistem se determin:
A
RE
A
L
A
C1. 3
A
C4. 8
A
D1. 4

(4, 265. 912 6, 281. 606 10, 676. 361 0) 10
- 6
h
- 1
21, 223.879 10
- 6
h
- 1
.
Acum se pot calcula valorile principalilor indicatori ai Iiabilittii
Iunctionale la rspuns eronat.
12 - Aplicatii
356
Media timpului de Iunctionare ntre deIectri succesive (MTBE)
la rspuns eronat:
ani 45 , 5 luni 65 :ile 963 . 1 ore 116 . 47
h 10 879 . 223 , 21
1 1
m
1 6
RE
RE
= = = =

=
A
=

Eunctia de Iiabilitate la rspuns eronat:
R
RE
(t) exp(-A
RE
t)
R
RE
(1zi) exp(-21,223.87910
-6
24) exp(-0,000.509) 0,999.5
R
RE
(1lun) exp(-21,223.87910
-6
720) exp(-0,015.281) 0,985
R
RE
(1trim) exp(-21,223.87910
-6
2.160) exp(-0,045.843) 0,955
R
RE
(1sem) exp(-21,223.87910
-6
4.320) exp(-0,091.687) 0,912
R
RE
(1an) exp(-21,223.87910
-6
8.640) exp(-0,183.370) 0,834
Eunctia de nonIiabilitate la rspuns eronat:
F
RE
1-exp(-A
RE
t)
E
RE
(1 zi) 1-exp(-21,223.87910
-6
24) 1-exp(-0,000.509) 0,000.5
E
RE
(1 lun) 1-exp(-21,223.87910
-6
720) 1-exp(-0,015.281) 0,015
E
RE
(1 trim) 1-exp(-21,223.87910
-6
2.160) 1-exp(-0,045.843) 0,045
E
RE
(1 sem) 1-exp(-21,223.87910
-6
4.320) 1-exp(-0,091.687) 0,088
E
RE
(1 an) 1-exp(-21,223.87910
-6
8.640) 1-exp(-0,183.370) 0,166
12.3.5. Fiabilitatea functional la rspuns fals
Aceasta reprezint punctul Iorte al Iiabilittii Iunctionale:
indicatorii si trebuie s Iie mult superiori ( 10. 3. 3 tab. 10. 29) celor
ai Iiabilittii Iunctionale la rspuns eronat si, cu att mai mult, celor
ai Iiabilittii generale/clasice.
Prin aceasta se impune ca, atunci cnd orice alt solutie rational
(din punct de vedere Iunctional, tehnic, economic) nu este posibil, s
se recurg la transIormarea rspunsului Ials n rspuns eronat ( 1.2.3).
Fiabilitate functional in electronic
357
Cum nici aceast transIormare nu este totdeauna posibil
rational, restul de nonIiabilitate Iunctional trebuie admis, dar numai la
nivelul cerintelor de proces. AstIel, de exemplu, Iiabilitatea la rspuns
Ials a sistemului de control automat al vitezei trenului nu va trebui, cu
orice pret, s ating nivelul unui vehicul spatial, cu reIerire la o
Iunctiune analoag. Cu alte cuvinte Iiabilitatea cost si atunci cnd sunt
tratate problemel e rspunsului Ials (cap. 11).
Avnd n vedere aceste aspecte, rezult c Iiabilitatea Iunctional
la rspuns Ials are trei trsturi comune cu cea la rspuns eronat:
este, de asemenea, selectiv dar mai restrictiv;
metoda de calcul, mai eIicient, este cea de subsistem;
algoritmul de desIsurare a calculului este, n general, identic
dar cu prevederile care se impun.
o) n tabela 12. 8 este redat structura sinoptic a analizei
rspunsurilor Ialse posibile n conditiile considerrii tuturor deIectrilor
de ordin I (12. 3. 2). Notatiile Iolosite sunt (Iig. 12. 8 si Iig. 12. 9):
v, g contacte ale releelor de comand a aIisajului la luminosem-
nalul LS din cale;
A, B, C borne de conectare la cablul electric de legtur cu con-
tactele v si g din echipamentul de luminosemnal LS;
RE stare de rspuns Ials la inductor;
L`
-
, L
-
bobine de cuplaj sol -bord;
C
1. 3-
condensatori pentru rezonant la Irecventa de 2 kHz;
C
4. 8-
condensatori pentru rezonant la 1 kHz (conectati n paralel
cu C
1. 3-
).
De la nceput trebuie remarcat Iaptul c, n privinta rspunsului
Ials, inductorul este expus la deIectri prin scdere parametric | -|;
aceasta este o prim deosebire esential Iat de rspunsul eronat (
12. 3. 4).
12 - Aplicatii
358
Tab. 12. 8
Contacte
de relee
Borne suntate
AIisaj
LS
cale v g A B C
Rezonant
Tip de
rspuns
Observatii
C - A - corect Eig. 12. 9
- C B 1 kHz corect Eig. 12. 9
1 Componente implicate: L`
-
, L
-
RE Eig. 12. 6
2 Componente implicate C
1-
, C
2-
, C
3-
RE Eig. 12. 8
3 Componente implicate: C
4-
, .. .., C
8-
RE Eig. 12. 8
- - - 2 kHz corect
Datorit acestui mod de deIectare, la limit, se produce un eIect de
scurtcircuitare a nIsurrii secundare (L
s
) a transIormatorului echiva -
lent ( 12. 3. 1 Iig. 12.6).
Acest eIect, la bobinele L`
-
si L
-
, apare prin strpungerea
izolatiei dintre spire; spre a se diminua acest Ienomen, la
conIectionarea bobinajelor, este Iolosit un conductor de
cupru dublu emailat ( 12.3.1);
Condensatorii C
1. 3-
si C
4. 8-
, prin strpungerea dielectricului
dintre armturi, produc acelasi eIect; spre a se micsora
probabilitatea de aparitie a unei astIel de deIectri sunt
utilizati, la Iabricatia inductorului, condensatori cu tensiune
nominal ridicat (500V).
O prim consecint a acestor deIectri, la nivel de sistem, este
aceea c , prin cresterea intensittii curentului I
s
, la cuplaj sol-bord (Iig.
V
R
G
Fiabilitate functional in electronic
359
12. 6) se produce o crestere corespunztoare a intensittii curentului I
b
din inductorul de bord (Iig. 12. 7 II):
I
b max
~ I
0
~ I
act
.
Ori acelasi eIect se obtine (la Iunctionare valid) dac sunt
stabilite contactul v (aIisaj verde la LS), respectiv contactul g (aIisaj
galben la LS). n consecint, pentru starea de aIisaj verde la
luminosemnalul LS, la aparitia unor astIel de deIectri, nu se pot
produce rspunsuri Ialse.
DeIectrile (acestor componente) prin crestere parametric || nu
pot produce, de asemenea, dect rspuns eronat ( 12. 3. 4 tab. 12. 7),
astIel c sunt excluse la analiza rspunsului Ials ( 6. 1).
n prima linie a tabelei 12.8 este redat sintetic starea de bun
Iunctionare (normal, Ir deIectri) a inductorului, prin care se
conIirm concluziile la cele analizate anterior.
G - 1) Acest rspuns Ials se poate produce, deci, la deIectarea
oricreia din cele dou bobine, prin care se realizeaz cuplajul sol -bord
(Iig. 12.6).
Celelalte componente (ca, de exemplu, sudura s
1
) sunt excluse
deoarece, prin deIectare, nu pot provoca eIectul de scurtcircuitare n
nIsurarea secundar a transIormatorului echivalent.
Caracterul de rspuns Ials const, n acest caz, n Iaptul c o
inIormatie cu caracter permisiv limitat (pentru vitez) ce corespunde
aIisajului galben la sol, este interpretat la bord ca Iiind o inIormatie
permisiv total, care corespunde unui aIisaj verde (la s ol):
G V
G - 2) Tot un rspuns Ials se produce la deIectarea, prin clacare, a
oricrui condensator C
1-
, C
2-
, C
3-
(Iig. 12. 9).
12 - Aplicatii
360
EIectul este anularea oricrei posibilitti de restri ctionare a
vitezei (G V).
G - 3) Rspunsul Ials , n acest caz, este selectiv deoarece se poate
produce numai atunci cnd contactul g este stabilit (Iig. 12. 8). Si n
aceast situatie se maniIest o modiIicare periculoas a inIormatiei prin
trecere intempestiv de la vitez limitat (G) la vitez nelimitat (V).
) n diagrama din Iigura 12. 16a) este reprezentat graIul cores -
punztor rspunsului Ials G-1, pentru calculul cruia sunt necesare
datele:
16 , 0
L
L
=

( 6.1 tab. 6.1 poz. 5);

t L
1, 552. 24310
- 6
h
- 1
( 12. 3.3 C).
ntruct datele primare pentru bobine, la nivel mic de semnal, sunt
precizate pentru conductor de cupru cu un singur strat de email, se
impune o corectie prin trecere la dublu strat (de email); aceast corectie
a)
(i)
d)
c)
b)
(i)
(i)
(i)
(e)
(e)
(e)
(e)
L`
-
L``
-
C
1-
C
2-
C
3-
C
4-
C
5-
C
6-
C
7-
C
8-
L
-
C
1.3-
C
4.8-
D
1.4
Eig. 12.16
Fiabilitate functional in electronic
361
prin echivalent (ech) const n reducerea intensittii de deIectare prin
scdere parametric |-| la 50:
. 08 , 0 16 , 0
2
1
) ech (
L
L
= =

Prin urmare, pentru subsistemul celor dou bobine identice



L

si

L

rezult relatia de calcul,


tL
L
L
L
) ech ( 2

= A

,
sau introducnd valorile corespunztoare:
A
L-
(2 0,08 1, 552. 243)10
- 6
h
- 1
0,248. 350 10
- 6
h
- 1
.
Rspunsul Ials G - 2) are graIul Iiabilistic din Iigura 12. 16 b),
Iiind necesare datele celor trei condensatori (identici):
30 , 0
C
C
=

;
t C
2, 794. 081 10
- 6
h
- 1
.
Relatia de calcul si eIectuarea acestuia conduce la rezultatul:
tC
C
C
3 . 1
C
3

= A ;
A
C1. 3-
(3 0,30 2,794. 081) 10
- 6
h
- 1
2, 514.673 10
- 6
h
- 1
Aceleasi date primare de calcul sunt necesare si n cazul
rspunsului Ials G - 3), acesta diIerind de cel anterior prin numrul de
condensatori identici (Iig. 12.16c):
tC
C
C
8 . 4
C
5

= A ;
A
C4. 8-
(5 0,30 2,794. 081) 10
- 6
h
- 1
4,191. 12110
- 6
h
- 1
.
Ca si n cazul rspunsului eronat, toleranta la deIectri |, -| a
diodelor D
1. 4
se mentine: A
D1. 4
0.
12 - Aplicatii
362
) GraIul Iiabilistic din Iig. 12. 16d) reprezint structura de calcul
pentru indicatorii precizati n tem; acest graI conduce la relatia
urmtoare, cu rezultatul:
A
RE
A
L-
A
C1. 3-
A
C4. 8-
A
D1. 4

(0, 248.350 2, 514. 673 4, 191.121 0) 10
- 6
h
- 1
6,954.144 10
- 6
h
- 1
.
Avnd n analiz si calcul o structur de sistem si mpl (2 bobine si
8 condensatoare identice), numai n aceast situatie, se poate aplica
metoda de calcul direct pe sistem ( 12. 3. 3 D
S
). Dup graIul
corespunztor reprodus n Iigura 12. 17 se obtine relatia general de
calcul:
.
tC
C
C
tL
L
L
RF
8 ) ech ( 2


+ = A
Introducnd valorile adecvate se obtine (la al doilea calcul):
A
RE
(2 0,08 1,552.243 8 0, 30 2,794. 081) 10
- 6
h
- 1

6, 954. 144 10
- 6
h
- 1
,
conIirmnd astIel c nu s-au produs erori de calcul.
Cu valoarea intensittii (ratei) deIectrilor A
RE
, pentru ntregul
inductor, se poate trece la calculul principalilor indi catori ai Iiabilittii
Iunctionale la rspuns Ials.
Media timpului de Iunctionare ntre deIectri succesive
(MTBE) la rspuns Ials:
L
1-
L
2-
C
1-
C
2-
C
3-
C
4-
C
8-
(i) (e)
Eig. 12.17
Fiabilitate functional in electronic
363
=

= =
1 6
RF
RF
h 10 144 . 954 , 6
1 1
m

143.799 ore 5.991 zile 199 luni 16,6 ani.


Eunctia de Iiabilitate la rspuns Ials:
R
RF
(t) exp ( -A
RF
t),
R
RE
(1zi) exp(-6,954.144 10
-6
24) exp(-0,000.167) 0,999.866;
R
RE
(1lun) exp(-6,954.144 10
-6
720) exp(-0,005.007) 0,995.011;
R
RE
(1trim) exp(-6,954.144 10
-6
2.160) exp(-0,015.020 0,985.101;
R
RE
(1 sem) exp(-6,954.144 10
-6
4.320) exp(-0,030.041) 0,970.441;
R
RE
(1an) exp(-6,954.144x10
-6
8.640) exp(-0,060.083) 0,941.763.
Eunctia de nonIiabilitate la rspuns Ials:
F
RF
1- exp (-A
RF
t),
E
RE
(1 zi) 1-exp(-6,954.14410
-6
24) 1-exp(-0,000.167) 0,000.134;
E
RE
(1 lun) 1-exp(-6,954.14410
-6
720) 1-exp(-0,005.007) 0,004.989;
E
RE
(1 trim) 1 -exp(-6,954.14410
-6
2.160) 1-exp(-0,015.020) 0,014.899;
E
RE
(1 sem) 1-exp(-6,954.14410
-6
4.320) 1-exp(-0,030.041) 0,029.559;
E
RE
(1 an) 1-exp(-6,954.14410
-6
8.640) 1-exp(-0,060.083) 0,058.237.
12.3.6. Unele elemente de defectologie fiabilist
Plecnd de la aspectele importante analizate n manual, pn acum,
rezult necesitatea mbinrii unei activitti practice, de Ienomen Iizic,
cu o activitate de Iactur teoretic bazat pe model matematic;
armonizarea si mbinarea cu ingeniozitate inginereasc a acestor dou
laturi conduce la obtinerea unor bune sau Ioarte bune rezultate.
Avnd la baz studiul uzurii si al deIectrii, ca si consecintele
Iunctionale ale acestora, inginerul de proces hardware (specializat) are
posibilitatea de a obtine un rezultat previzional corect asupra compor -
12 - Aplicatii
364
trii unui anumit echipament, pe o durat oarecare, mai mult sau mai
putin ndelungat.
Aceast previziune tehnic, ce se poate realiza n domeniul
ingineriei electronice, poate Ii obtinut prin deIectologie Iiabilist,
notiune nteleas ca reprezentnd o analiz tehnico-stintiIic aplicat n
Iiabilitatea Iunctional cu reIerire, n aceast lucrare, la procesele de
circulatie / navigatie.
Algoritmul de analiz a acestei cauzalitti complexe, ca relatie
Iunctional ntre cauz si eIect, cuprinde (cu necesitate) urmtoarele
etape: component solicitare uzur deIectare rspuns Iunctional
la nivel de macrosistem ( 10.2 Iig. 10.2). Aceste etape au Iost
parcurse la determinarea:
Iiabilittii generale/clasice ( 12. 3. 3),
Iiabilittii Iunctionale la rspuns eronat ( 12. 3. 4),
Iiabilittii Iunctionale la rspuns Ials ( 12. 3.5),
etape care, la rndul lor, au desIsurare bazat pe studiile teoretice si
practice, parcurse anterior n cadrul lucrrii.
Rezultatele obtinute sunt concentrate n tabela 12.9, unde s-au
notat cu:
R(t), E(t) Iunctia de Iiabilitate respectiv de nonIiabilitate;
R
s i s t
, R
RE
, R
RE
Iunctia de Iiabilitate general/clasic, la rspuns
eronat respectiv la rspuns Ials;
E
s i s t
, E
RE
, E
RE
Iunctia de nonIiabilitate general/clasic, la rs-
puns eronat respectiv la rspuns Ials;
m(MTBE) media timpului de Iunctionare ntre deIectri succesive.
Valorile din tabel, sub aspect analitic, pun n evident unele
rapoarte ale nivelului de Iiabilitate atins, ca de exemplu:
Fiabilitate functional in electronic
365
58 , 1
596 , 0
763 . 941 , 0
) an 1 (
R
R
sist
RF
= = ; 60 , 8
93 , 1
6 , 16
m
m
. sist
RF
= = .
Tab. 12.9
Indicator
timp
R
s i s t
R
RE
R
RF
zi 0, 999 0, 999.5 0, 999.866
lun 0, 957 0, 985 0, 995.011
trim. 0, 879 0, 955 0, 985.101
sem. 0, 773 0, 912 0, 970.441
R(t)
an 0, 596 0, 834 0, 941.763
Indicator
timp
F
s i s t .
F
RE
F
RF
zi 0, 001 0, 000.5 0, 000.134
lun 0, 043 0, 015 0, 004.989
trim. 0, 121 0, 045 0, 014.899
sem. 0, 227 0, 088 0, 029.559
F(t)
an 0, 404 0, 166 0, 058.237
m MTBE (ani) 1, 93 5, 45 16, 6
Concluzii directe, mult mai cuprinztoare, se desprind dac se
reprezint graIic datele respective pentru Iunctia de Iiabilitate n relatie
cu duratele standard ale timpului (Iig. 12. 18):
- zi (24h)
- lun (720h)
- trimestru (2. 160h)
- semestru (4. 320h)
- an (8.640h)
Din motive de spatiu al reprezentrii pe orizontal, abscisa este
marcat la scar ptratic ) h ( t ; prin aceasta alura curbelor trasate este
12 - Aplicatii
366
modiIicat, Ir ns a aIecta valorile parametrice nscrise ca si
variatiile lor:
R
s i s t
I ( t ), R
RE
I ( t ), R
RE
I ( t ).
Er a intra n detalii, care desi au importanta lor, din aceast
diagram se poate concluziona c, mai ales, nivelul de Iiabilitate la
rspuns Ials (protectie) este insuIicient ( 10. 3).
0.4
0.3
0.2
0.1
0.5
0.6
0.7
0.8
0.9
1.0
R(t)
10 20 30 40 50 60 70 80 90 100
An
R
RE
R
RE
R
sist
Zi Lun
1rim. Sem.
) h ( t
Eig. 12.18
Fiabilitate functional in electronic
367
Ca n orice elaborare de sistem tehnic (nainte de Iabricare,
montare etc. ) si n cazul inductorului de cale se pot Iace ameliorri ale
Iiabilittii Iunctionale; principalele ci de realizare sunt expuse n
continuare.
- ModiIicarea structurilor Iiabiliste permite utilizarea mai eIicient a
propriettilor modului de deIectare; astIel se pot limita si mai multe
eIecte neIaste ale deIectrilor ( 6.2 Iig. 6. 3).
- Cresterea redundantei, ndeosebi, prin mrirea ordinului deIectrii;
eliminarea deIectrilor de ordin inIerior permite cresterea
substantial a Iiabilittii Iunctionale (cap. 8).
- Utilizarea unor tehnici speciIice de realizare a Iunctiunilor de
protectie (cap. 9).
- Introducerea unor componente Ioarte Iiabile n structuri electrice
simple ca, de exemplu, logica de tip cablat (cap. 10).
Un alt aspect, care nu este deloc neglijabil, este cel al mentenantei
pe toat durata de viat a echipamentului. Pe baza valorilor indicatori lor
de Iiabilitate pentru durate standard de timp (zi, lun etc. ) este necesar
s se prevad un regim optim de revizii si reparatii prin care s se
asigure nivelul minim obligatoriu de Iiabilitate Iunctional, cu costuri
economice rationale, n direct legtur cu gradul de mare rspundere
Iunctional al sistemului n cauz.
13 Notatii, abrevieri i simboluri grafice utili:ate
368
Capitolul 13
Notatii, abrevieri yi
simboluri grafice utilizate
13.1. Notatii yi abrevieri
13.1.1 Caractere n alfabet latin
A aerian, ampliIicare, ampliIicator, amplitudine, rspuns admisibil
(Iunctional), unitate alb de aIisaj.
A/D analog / digital
Ac acumulator (electric)
AI aIisaj
Av avertizor
a ambiant , coeIicient de asemnare (Iunctional)
ac acumulare, mrime acumulat
act actionat, de actionare
ad admisibil, valoare admisibil
a
d
aparitia deIectrii
am amorsare, de amorsare
aux auxiliar
B band de Irecvent, baterie electric, bobin , buton (electric),
inductie magnetic
A
B
Fiabilitate functional in electronic
369
BL sector de bloc de linie automat
b born electric
bl blocare, de blocare
C capacitate electric, circuit electric, comparator logic, componen-
te de echipament, condensator (electric), cost (n general)
CHD ciclu histerezis dreptunghiular
CM cmp magnetic
C
SC
circuit de supraveghere si comutatie
Cd mri me (semnal) de comand
Ch cheie pentru contact elect ric, cheltuieli, costuri
C
i
cost de implementare
Cm element de comutatie, comutator
C
m
cost al mentenantei
C
s
interval de conIident (ncredere) pentru solicitri
Ct mri me (semnal) de control
C
t
cost total
c conexiune, cuplaj, de cuplaj, element comun, mrime comun
ca curent alternativ (electric)
cc curent continuu (electric)
D diod, dispersia timpului de Iunctionare, disponibilitate Iunctio-
nal, structur derivatie de Iiabilitate (redundant ).
D/A digital / analog
DS structur de Iiabilitate derivatie- serie
D
C
13 Notatii, abrevieri i simboluri grafice utili:ate
370
DI date de Iiabilitate
Dr drosel (bobin) de Iiltrare
d conexiune derivatie (paralel ), date, deIectare, diIerential , semnal
de date
din dinamic
dir direct, mrime direct
E element (circuit) de iesire, emittor, rspuns eronat, tensiune
electric constant
EA electroalimentare
E
a
tensiune de alimentare (constant)
Ech echipament
EI eIicient, produsul ponderat al perIormantelor Iunctionale
E
o
tensiune de reIerint
E
p
tensiune de polarizare
Ex element ( semnal, subansamblu) de executie
e coeIicient de rspuns eronat, energie, eroare uman, estimat ,
iesire , mri me de iesire, tensiune electromotoare variabil
ec economic
ech echivalent
eI eIectiv, valoare eIectiv
el electric
e
v
iesire de veriIicare
ext exterior
E Ieroviar, Iunctie matematic compus, Iunctiune, rspuns Ials
EE Iunctiune esential
F
E
Fiabilitate functional in electronic
371
E
RE
(t) Iunctia de nonIiabilitate la rspuns eronat
E
RE
(t) Iunctia de nonIiabilitate la rspuns Ials
E
S
Iiabilitate de si stem
ET Iototranzistor
ETB Iiltru trece band
E(t) Iunctia de repartitie a timpului de Iunctionare (Iunctia de non -
Iiabilitate, probabilitatea de deIectare)
E

(t) Iunctia de nonIiabili tate pentru deIectri prin crestere


parametric
E
-
(t) Iunctia de nonIiabilitate pentru deIectri prin scdere
parametric
E
*
(t) Iunctia statistic de nonIiabilitate
I coeIicient de rspuns Ials, Irecvent, Iunctional
I
i
Irecventa de repetitie a impulsurilor
I
m
Irecventa semnalului modulator
I
o
Irecvent central, Irecvent de reIerint
I
p
Irecventa semnalului purttor
I (t) densitatea de probabilitate a timpului de Iunctionare (Irecventa
de repartitie a deIectrilor)
I

(t) Irecventa de repartitie a deIectrilor prin crestere parametric


I
-
(t) Irecventa de repartitie a deIectrilor prin scdere parametric
I
*
(t) Irecventa statistic de aparitie a deIectrilor
G generator de semnal, unitate galben de aIisaj
g grad de complexitate (al unui sistem sau echipament)
H histerezis, intensitatea cmpului magnetic
G
H
13 Notatii, abrevieri i simboluri grafice utili:ate
372
I cantitate de inIormatie, element (circuit) de intrare, important
Iunctional, instrument de msurare, intensitatea curentului
electric, rspuns ideal (Iunctional)
ILS Instruments Landing Svstem (Aterizare dup instrumente)
IT nalt tensiune
I
a
curent de alimentare (electric)
I
e
intensitatea curentului de iesire
I
i
intensitatea curentului de intrare
I
o
curent de repaus, curent electric nominal
i curent electric variabil, impuls, intrare, mri me de intrare,
variabil de rang
id caracteristic ideal, ideal, mrime ideal
int de interior, interior, intern
j variabil de rang
K comutator, contactor (electric), contor, Iunctie de transIer
Iunctional, ntreruptor
k coeIicient , constant, contact electric, de contact, Iactor,
variabil de rang
k
D
Iactor de disponibilitate
k
s
coeIicient de solicitare
L bobin, inductant, nIsurare (electric), lamp cu
incandescent, linie de transmisie
I
1
K
L
Fiabilitate functional in electronic
373
LS luminosemnal (dispozitiv pentru semnalizare luminoas)
L
c
nIsurare (bobin) de cuplaj
L
e
nIsurare (bobin) de iesire
L
i
nIsurare (bobin) de intrare
L
p
nIsurare primar
L
s
nIsurare secundar
l variabil de rang
lim de limitare, limitor
M maxim, memorie, numr constant, numr oarecare (major),
valoare maxi m
MTBE Mean Time Between Failures / valoarea medie a timpului de
Iunctionare ntre dou deIectri succesive, dac repararea poate Ii
asimilat cu nlocuirea.
MTEE Mean Time to First Failure /valoarea medie a timpul ui de
Iunctionare pn la prima deIectare, n cazul elementelor
reparabile.
MTTE Mean Time To Failure / valoarea medie a timpului de
Iunctionare pn la prima deIectare, n cazul elementelor nerepa-
rabile.
MI model de Iiabilitate, modul Iunctional
Mv multivibrator (circuit basculant astabil)
m materiale, media timpului de Iunctionare, mentenant, minim,
numr oarecare (minor), numr variabil, valoare mini m
m
RE
media timpului de Iunctionare la rspuns eronat
m
RE
media timpului de Iunctionare la rspuns Ials
max maxim, valoare maxim
med mediu, valoare medie
M
13 Notatii, abrevieri i simboluri grafice utili:ate
374
min mini m, valoare minim
m

media timpului de Iunctionare pentru deIectri prin crestere


parametric
m
-
media timpului de Iunctionare pentru deIectri prin scdere
paramentric
m
*
media statistic a timpului de Iunctionare
N naval, numr oarecare (major)
NMR-N Modular Redundancv / redundant cu N module
NU circuit logic de negare
n indice de rang, numr oarecare (minor), numr variabil
n

numrul componentelor deIectate prin crestere parametric


n
-
numrul componentelor deIectate prin scdere parametric
O operare uman, operator, oscilator
o de reIerint, de rezonant, nominal, rezidual, unitar, valoare
ideal, valoare initial, valoare medie
op operational
opt optim, valoare optim
P probabilitate, procesor, punte (electric), rspuns perIect
(Iunctional), unitate de procesare
P
L
poart logic
PR punte redresoare
Pr element de protectie
P(t) probabilitate de bun Iunctionare
N
O
P
Fiabilitate functional in electronic
375
p mri me perturbatoare, paramentru Iunctional, permanent,
perturbatie, primar (element, semnal), valoare de prag
pr de protectie, protectie
Q(t) probabilitate de deIectare
R rspuns Iunctional, receptor, releu, rezistent electric constant,
rezistor, rutier, unitate rosu de aIisaj
R
D
(t) Iunctia de Iiabilitate a unei structuri Iiabiliste derivatie
RE rspuns eronat, retea electric
RE rspuns Ials
R
RE
(t) Iunctia de Iiabilitate la rspunsuri eronate
R
RE
(t) Iunctia de Iiabilitate la rspunsuri Ialse
R
S
(t) Iunctia de Iiabilitate a unei structuri serie
R
b
unitate rosu de aIisaj - baz
Red redresor
R
k
rspuns corect ( Iunctional)
R
r
unitate rosu de aIisaj rezerv
R
s
rezistent de sarcin (electric)
R(t) Iunctia de Iiabilitate (probabilitatea de bun Iunctionare)
R

(t) Iunctia de Iiabilitate pentru deIectri prin crestere parametric


R
-
(t) Iunctia de Iiabilit ate pentru deIectri prin scdere
parametric
R
*
(t) echivalentul statistic al probabilittii de Iuncti onare (Iunctiei
de Iiabilitate)
r caracteristic real, de rezerv, mri me (semnal) de reactie, real,
reparare, reparatie, rezerv, rezistent electric variabil,
rezistent instantanee la deIectare
Q
R
13 Notatii, abrevieri i simboluri grafice utili:ate
376
rev revenire (dezexcitare), revenit
rez de rezerv, rezerv
S semnal (oarecare ), sigurant Iuzibil, sistem te hnic, spatial,
structur serie de Iiabilitate (neredundant )
SAU circuit logic de nsumare
SD structur de Iiabilitate serie - derivatie
SG separare galvanic
SI circuit logic de coincident
SL structur logic
SR Standbv Redundancv / redundant n asteptare / rezervare pasiv
sau semiactiv
SS subsistem (tehnic)
SSD subsistem de decizie
SSP subsistem de protectie (supraveghere)
SSV subsistem de veriIicare (control)
STOP ncetinire sau blocare n desIsurarea procesului de aplicatie
S
m
semnal modulator
S
p
semnal purttor
Sz de semnalizare, semnalizare
s conectare prin sudur cu Iludor, de sarcin, sarcin, secundar
(element, semnal), semnal logic de blocare (STOP), serial, serie,
solicitare, spatiu
sat de saturatie, saturat, saturatie
st static
str de strpungere, strpungere (electric)
T durat, interval de timp, perioad (ciclu), tolerant, transistor
T
Ex
durat de executie (Iunctional)
S
T
Fiabilitate functional in electronic
377
TMR Triple Modular Redundancv / redundant modular tripl
TTL tranzistor - tranzistor - logic
T
d
durat de viat
T
i
perioad de repetitie a impulsurilor
Tr transIormator (electric)
T
r
timp relativ de Iunctionare
Tr
e
transIormator de iesire
T
t
durat de temporizare, durat total
t timp variabil, total, valoare total
t
E
cuantila timpului de Iunctionare
t
d
momentul deIectrii
t
i
durata impulsului
t
p
durata pauzei dintre dou impulsuri consecutive
U tensiune electric constant, unitate de calcul, unitate Iunctional
U
b
tensiune la borne
U
e
tensiunea semnalului de iesire
U
i
tensiunea semnalului de intrare
U
o
tensiune de prag, tensiune nominal
u tensiune electric variabil, util, utilizare
J stare valid (Ir deIectri) a unui sistem (subsistem , componen-
t), tensiune electric constant, unitate verde de aIisaj, vehicul,
volt metru
J stare nevalid (cu deIectri) a un ui sistem (subsistem,
component)
U
V
13 Notatii, abrevieri i simboluri grafice utili:ate
378
v semnal de veriIicare, tensiune electric variabil, vitez, vitez
instantanee, vitez variabil
W energie, Iunctie logic de lucru
X reactant
x mri me variabil, variabil de intrare, variabil logic
y mri me variabil, variabil de iesire, variabil logic
z(t) rata (intensitatea) de deIectare
z

(t) intensitatea (rata) deIectrilor prin crestere parametric


z
-
(t) intensitatea (rata) deIectrilor prin scdere parametric
z
*
(t) rata (intensitatea) statistic de deIectare.
13.1.2 Caractere n alfabet grec
u atenuare, coeIicient de solicitare electric (n microambiant),
parametru Iunctional, unghi
coeIicientul de solicitare n ambiant, parametru Iunctional, unghi
A,o
W
X
Y
Z
B,
Fiabilitate functional in electronic
379
y - parametru Iunctional, unghi
AI deviatie de Irecvent
Ap abatere parametric Iunctional
At interval de timp (repetitiv sau nerepetitiv), unitate de timp
parametru Iunctional
c - baza logaritmilor naturali, eroare
q - eIicient, randament
q
I
eIicient Iiabilist
0 element (dispozitiv) de supraveghere si comutare
A - suma intensittilor (ratelor ) de deIectare la structuri Iiabiliste
neredundante
A
s
- intensitatea echivalent de deIectare a unei structuri Iiabiliste
de tip serie
valoare constant a ratei (intensittii) de deIectare

a
- intensitate (constant) de deIectare datorit solicitrilor din
ambiant
I, y
A,
E, c
H, q
O, 0
A,
13 Notatii, abrevieri i simboluri grafice utili:ate
380

e
- intensitate (constant) de deIectare datorit solicitrilor e lectrice
(n microambiant)

o
- intensitate (rat) nominal a deIectrilor (constant)

- intensitate (rat) constant a deIectrilor prin crestere


parametric

-
- intensitate (rat) constant a deIect rilor prin scdere
parametric
L - sum, nsumare
o - abaterea medie ptratic a timpului de Iunctionare
t constant de timp
- Iaz, unghi
4 - Ilux, tensor de stare
L, o
T, x
d,
Fiabilitate functional in electronic
381
13.2. Simboluri grafice
1
- born functional (de intrare, ieire)
2
- circuit logic NU / de negare
3
- circuit logic SAU / de insumare
4
- circuit logic SI / de coincident
5
- condensator cu 4 borne
6
- conectare la mas, respectiv la pmant
7
||, |-| - cretere, respectiv scdere parametric
8
- element de reglaf continuu, respectiv in trepte
9
- fi / conector
10
- impuls triunghiular exponential de polaritate
po:itiv, respectiv negativ
11
- inversor de impulsuri in polaritate
12
- insumarea (suprapunerea) efectelor
13
- relatie de echivalent intre mrimi fi:ice, parametri,
componente sau structuri
14
- re:istor cu 4 borne
15
- schimbarea strii functionale de sistem la nivel
macroscopic
16
- sigurant fu:ibil
17
- stare activ, respectiv pasiv a unui element de
comutatie
18
- unitate de semnali:are cu lumin alb, respectiv
cromatic (de culoare C)
C
Fiabilitate funtional in electronic
382
14. Bibliografie
( n ordine alIabetic )
Alexandrescu, C.M.
Boicu, I.
Pascu, V.
Sisteme de comand centrali:at a circulatiei. Centrul de Documentare
si Publicatii Tehnice MTTc, Bucuresti, 1973
Alexandrescu, C.M.
Earini, D.
Bdescu, I.
Posibilitti de reali:are a unui sistem de teletransmisie cu fiabilitate
functional ridicat pentru instalatia de B.L.A. Buletin inIormativ al
OIiciului de InIormare Documentar pentru Transporturi si
Telecomunicatii, nr. 2/1987, p. 37-45
Alexandrescu, C.M.
Bdescu, I.
Sistem automat de semnali:are rutier cu fiabilitate functional ridicat
cu microcalculator MISAF-80. Buletinul StiintiIic al Asociatiei
Oamenilor de Stiint de pe lng Academia Romn, sectia Sisteme
Generale, nr. 1/1988, p. 17-25
Alexandrescu, C.M.
Earini, D.
Bdescu, I.
Protectia informatiei prin codare polinomial - ciclic in sisteme de
telecomand pentru traficul feroviar. Revista Cilor Eerate Romne nr.
3/1993, p.25-29
Alexandrescu, C.M. Semnale, circuite i sisteme. Universitatea Politehnica Bucuresti, 2002
Alexandrescu, C.M.
Earini, D.
Bdescu, I.
Control of Road and Railwav Transport with Svstems base on Mind
Microcomputer. Buletinul Universittii Politehnica din Bucuresti, 1995
Aron, I.
si altii
Sisteme de navigatie aerospatial. Editura Scrisul Romnesc, Craiova,
1988
Bdescu,I.
Alexandrescu, C.M.
Automat de semnali:are rutier cu microprocesor, cu inalt fiabilitate
functional. ConIerinta National de Electronic, Telecomunicatii,
Automatic si Calculatoare, Bucuresti, 1986, Vol. CNETAC, p.305-
311.
Bdescu, I. Microprocesoare. Editura Printech, Bucuresti, 2002
Bazovsky, I. Fiabilite. Theorie et pratique de la surete de fonctionnement. Dunod,
Paris, 1996
Boicu, I. Fiabilitate functional in transporturi, curs. Universitatea Politehnica
Bucuresti, 2008
Fiabilitate funtional in electronic
383
Boicu, I. Model boolean de anali: a tolerantei de defectri pentru sisteme
tehnice cu fiabilitate functional ridicat. Revista inginerilor de
automobile, nr.1, 1999
Boicu, I.
Stnciulescu, S.
Stan, A.I.
Unele aspecte ale anali:ei fiabilittii functionale la instalatiile de
centrali:are electrodinamic. Conferinta National de Electronic,
Telecomunicatii, Automatic si Calculatoare, Bucuresti, 1984
Boicu, I. Evaluarea influentei abaterilor parametrice asupra fiabilittii
functionale. Revista inginerilor de automobile, nr.5/1997
Boicu, I.
si altii
Dictionarv of standardi:ed electrotechnical terminologv / Dictionarul
terminologiei electrotehnice standardi:ate. Editura tehnic, Bucuresti,
1996
Boicu, I.
si altii
Anali:a fiabilittii functionale a instalatiei de franare la autoturismul
Dacia 1300. Revista inginerulului de automobile, nr. 4-5/1992 si nr.
1/1993
Boicu, I.
Stoian, Z.
Aproximarea functiei de fiabilitate pentru structuri redundante utili:and
metoda elementului finit. Buletinul tehnic al Registrului Naval Romn,
nr. 2/1989
Boicu, I. Sisteme de reglare a circulatiei. Universitatea Politehnica Bucuresti,
1982
Boicu, I. Despre probabilitatea de bun functionare a sistemelor radioelectronice
cu mare rspundere functional. Revista Telecomunicatii, nr. 9/1967
Boicu, I. On the operational reliabilitv of remote control svstems. ConIerence on
synthesis and analysis oI the man-machine system, SoIia, 1971
Boicu, I.
si altii
Fiabilitatea, securitatea tehnic i eficienta economic a blocului de
linie automat cu transmiterea informatiei fr circuite fi:ice. Revista
Cilor Eerate, nr. 7/1970
Boicu, I. Dispo:itiv electronic automat de semnali:are i averti:are. Brevet de
inventie, nr. 67.377/1974
Boicu, I. Bloc de linie automat i instalatii speciale. Editura Didactic si
Pedagogic, Bucuresti, 1965
Boicu, I.
si altii
Eclipsor electronic de tip maritim. Cercetri in tehnologie electronic i
fiabilitate. Editura Didactic si Pedagogic, Bucuresti, 1979
Boicu, I.
Stan, A.
Electroalimentare. Universitatea Politehnica Bucuresti, prtile I-II,
1977
Boicu, I. Despre influenta tipului de defectare asupra probabilittii de bun
functionare a aparaturii electronice. Revista Telecomunicatii, nr.
8/1967
Fiabilitate funtional in electronic
384
Boicu, I. Anali:a fiabilittii functionale a sistemelor electronice de comand.
Tez de doctorat, Universitatea Politehnica Bucuresti, 1970
Boicu, I. Cu privire la modul de defectare a elementelor componente utili:ate in
echipamente electronice i de telecomunicatii. Revista Telecomunicatii,
nr. 5-6/ 1969
Boicu, I. Unele aspecte teoretice ale anali:ei fiabilittii functionale. A II-a
ConIerint a electricienilor, Bucuresti, 23-26.09.1969
Boicu, I.
Stoian, Z.
Metode de determinare a parametrilor de fiabilitate cu controlul
preci:iei de calcul. ConIerinta National de Electronic,
Telecomunicatii, Automatic si Calculatoare, Bucuresti, noiembrie,
1986
Boicu, I.
Nemes, C.
Teleaverti:or. Brevet de inventie, nr. 74.654/1978
Boicu, I.
Stoian, Z.
Determinarea functiei de fiabilitate cu eroare controlat in ca:ul
structurilor derivatie. Revista Telecomunicatii, nr. 6/1990
Buciuman, I. Sigurant i securitate la cile ferate. Jurnal Ieroviar, nr. 7/2003
Clin, S.
si altii
Automati:ri i protectie prin relee. Editura Didactic si Pedagogic,
Bucuresti, 1977
Ctuneanu, V.M.
Mihalache, A.
Ba:ele teoretice ale fiabilittii. Editura Academiei Romne, Bucuresti,
1983
Ctuneanu, V.M.
BacivaroI, A.
Structuri electronice de inalt fiabilitate. Editura Militar, Bucuresti,
1989
Ctuneanu, V.M.
Popentiu, E.
Optimi:area fiabilittii sistemelor. Editura Academiei Romne,
Bucuresti, 1989
Contensou, J.N.
Picot, Y.
Svstemes. surete de fonctionnement et securite. Revue Iranaise
d`inIormatique et de recherche operationnelle, nr. 9/1968
Coteanu, I.
si altii
Dictionarul explicativ al limbii romane. Editia a II-a. Editura Univers
Enciclopedic, Bucuresti, 1996
Dragomirescu , M.
si altii
Constructia i fiabilitatea aparaturii radiotehnice. Partea a II-a.
Eiabilitate, Universitatea Politehnica Bucuresti, 1977
Drujinin, G.V. Siguranta in functionare a sistemelor. Editura Tehnic, Bucuresti, 1968
Drut, Gh. Radiodirifarea. Editura tehnic, Bucuresti, 1987
Gnedenko, B.V.
Beleaev, I.K.
Soloviev, A.D.
Metode matematice in teoria sigurantei. Editura tehnic, Bucuresti,
1968
Fiabilitate funtional in electronic
385
Godza, G. Contributii la elaborarea sistemelor distribuite tolerante la defecte.
Tez de doctorat, Universitatea Politehnica Bucuresti, 2006
Haviland, R.P. Techniques de fiabilite et duree de vie des equipements. Eyrolles, Paris,
1966
Hayward, R.H. Reliabilitv predictions. Assessment of failure rate leads to svstem
securitv. Electrical times, nr. 5/1968
Hladiuc, E.
Popescu, A.V.
Navigatie aerian. Editura Junimea, Iasi, 1977
Hoyland, A.
Rausand, M.
Svstem reliabilitv theorv. models and statistical methods. Wiley, New
York, 1994
Ionescu, T. Asupra fiabilittii echipamentelor de automati:are feroviar tratat pe
ba:a datelor de exploatare. Revista Cilor Eerate, nr. 2/1972
Ionescu, T. Fiabilitatea circuitelor de cale. Revista Cilor Eerate, nr. 4/1971
Isaic Maniu, Al.
si altii
Fiabilitate ans i risc. Bucuresti, Editura Tehnic, 1986
Jireghie, C.
Danci, T.
Semafori:area intersectiilor stradale. Editura Tehnic, Bucuresti, 1987
Koppehele, E. Erhhung der Zuverlssigkeit von Nachrichtenanlagen durch
Redundan:. Nachrichtentechnische ZeitschriIt, nr. 4/1964
Lzroiu, D.E.
si altii
Fiabilitatea sistemelor. Teorie i proiectare. Universitatea Politehnica
Bucuresti, 1982
Lorin, P. Le train a grande vitesse. Eernand Nathan - SNCE, Paris, 1981
Martens, H. Zuverlssigkeit im Eisenbahnsicherungswesen. Der Eernmelde
Praktiker, nr. 11/1966
Mihoc, Gh.
si altii
Ba:ele matematice ale teoriei fiabilittii. Editura Dacia, Cluj-Napoca,
1976
Minea, M. Tehnologia i fiabilitatea echipamentelor. Indrumar pentru activitti de
laborator. Universitatea Politehnica, Bucuresti, 1997
Momete, C.T.
Simion, G.
Inductor de cale RS 80.883 SF184. Electromagnetica, Bucuresti, 2001
Pankaj, J. Fault tolerance in distributed svstems. Prentice Hall Inc., 1994
Sinha, S.K.
Kale, B.K.
Life testing and reliabilitv estimation. New Delhi, Wiley Eastern
Limited, 1979
Stan, A.I.
Boicu, I.
Sisteme de reglare a circulatiei. Indrumar de laborator i culegere de
probleme. Universitatea Politehnica Bucuresti, 1984
Fiabilitate funtional in electronic
386
Stan, A.I.
David, S.
Centrali:ri electrodinamice i bloc de linie automat. Editura Didactic
si Pedagogic, Bucuresti, vol. 1/1983 si vol.2/1984
Stanciulesco, E. La conception et la realisation electronique des schemas logiques a
grande fiabilite. Bulletin mensuel de l`Association internationale du
Congres des Chemins de Eer, Cybernetique et electronique dans les
Chemins de Eer, nr. 7/1967
Sterian, C. Circuit logic NICI cu fiabilitate sporit prin redundant activ tip
serie. Revista Cilor Eerate Romne, nr. 3 / 1973
Sterian, C. Criteriu de alegere a schemei de redundant activ aplicate la
mrirea fiabilittii circuitelor electronice. Revista Cilor Eerate
Romne, nr. 12 / 1971
Sterian, C. Circuit logic NICI cu fiabilitate sporit prin redundant activ tip
derivatie. Revista Cilor Eerate Romne, nr. 4 / 1973
Turbut, Gh.
Boicu, I.
Spirea, E.
si altii
Inginerie de sistem, automati:ri i informatic in transporturi. Editura
Tehnic, Bucuresti, vol.1/ 1988 si vol.2/1989
Vtsescu, V.
si altii
Scheme de sigurant intrinsec de functionare pentru automati:ri
feroviare. Sesiunea de comunicatii stiintiIice ICPTT, vol. III, Bucuresti,
1979
* * * Instalatia INDUSI pentru controlul punctal al vite:ei. Centrul de
Documentare si Publicatii Tehnice - Ministerul Cilor Eerate, vol.1,
1969