CAP.6.

SISTEME ELECTRONICE AUTOTESTABILE

Exist numeroase aplicaii practice de mare sensibilitate i precizie, sau cu grad ridicat de periculozitate, care solicit utilizarea echipamentelor electronice parial sau total autotestabile. Fie c este inclus la nivelul unui modul funcional sau la nivelul ntregului sistem, procedeul autotestrii funcionale, constituie baza implementrii toleranei dinamice a defeciunilor. At t echipamentele electronice autoreparabile c t i cele reconfigurabile includ funcia de autotestabilitate. !rebuie subliniat c problema autotestrii sistemelor electronice digitale este complet diferit de problema testabilitii facile a acestora. Autotestarea presupune o testare complet n timp real a echipamentelor, i din acest motiv secvena de test va fi inclus n ansamblul configuraiei sale. "e menioneaz c implementarea sistemelor electronice tolerante la defectri, presupune realizarea unor structuri complexe autotestabile de mare fiabilitate destinate aplicaiilor speciale.

6.1. DEFINIREA SISTEMELOR ELECTRONICE AUTOTESTABILE

#onsiderm pentru simplificare sistemul electronic autotestabil $"EA!% ca o cutie neagr creia i se aplic la intrare mulimea semnalelor binare X&'xi(, i&)...n i care furnizeaz la ieire semnalele funcionale YF&'yFj( j&1...m i semnalele test YT&'*Tk( k&)...p aa cum se arat n fig.+.).
x) x./!010. ,F) ,F ,Fm ,!)

"EA! ,!p

,F ,!

.E2.0. F3/#4.5/A6E

.E2.0. 7E !E"!

Fig.6.1. Reprezentarea schematic a unui sistem electronic autotestabil !"#T$ 8resupunem c mulimea semnalelor de ieire n funcionare normal aparine unei mulimi de configuraii YF%"F iar variabilele corespunztoare semnalelor de test n funcionare normal aparin unei configuraii de semnale aprioric fixate YT%"T. 8ornind de la acest model de sistem cruia i s9a inclus caracteristica de autotestabilitate, se pot da urmatoarele definiii referitoare la conceptul de autotestabilitate. &e'ini(ia 1. 3n sistem " este autotestabil pentru o mulime de defectri 7, dac i numai dac, pentru orice defectare di 7 exist un vector al semnalelor de intrare Xi aplicat sistemului ", astfel nc t s fie indeplinita condiia:
;<

xn

 )i&, i xiX, YT$xi*)i% %"T $+.)% unde YT$xi*)i% reprezint configuraia binar a ieirilor de test, rezultat la aplicarea secvenei de intrare xi sistemului n prezena defectului )i. &e'ini(ia +. Exist certitudine asupra rspunsului unui sistem autotestabil, coninut n mulimea semnalelor de test, n prezena unei mulimi de defecte 7, dac i numai dac pentru orice defectare )i, exist relaiile de dependen: Y$xi*)i%&YF$xi*)o%= YT$xi*)o%%"F sau *F$xi*)o%= YT$xi*)o%%"T $+.>% $+.-%

unde: YF$xi*)i% este vectorul semnalelor la ieirile funcionale ale sistemului pentru secvena de intrare xi aplicat sistemului afectat de o defectare )i&, iar YF$xi*)o%, YT$xi*)o% sunt vectorii semnalelor de ieire corespunzatori unei funcionri fr defeciuni. 8utem concluziona acum c un sistem electronic este total autotestabil pentru o mulime de defeciuni )i& aprioric cunoscut, dac este autotestabil i exist certitudine asupra rspunsului de test, n prezena existenei mulimii de defeciuni &.

6.2. SCHEMA BLOC DE PRINCIPIU A SISTEMELOR ELECTRONICE AUTOTESTABILE

7in cele prezentate anterior rezult c un sistem electronic autotestabil trebuie s conin pe l ng structura de baza $care realizeaz funcia pentru care a fost proiectat% i circuite auxiliare de supraveghere a funcionrii fr defeciuni. "upravegherea unui sistem electronic autotestabil poate fi realizat de un echipament automat de detecie a defeciunilor, conectat la ieirile de test ale sistemului. #a urmare o schem bloc de principiu simplificat a unui "EA! poate fi reprezentat ca n fig.+.-. "istemul electronic funcional "EF primete la intrare configuraia semnalelor binare Xi i furnizeaz la ieire at t semnalele funcionale YF c t i semnalele de test YT. ?n prezena unor defeciuni echipamentul electronic de supraveghere $EE"% acioneaz comutarea circuitelor electronice de rezerv $#E0% i furnizeaz dup caz semnalele A6A0@1 sau "!58. Atunci c nd sistemul de baz are o structur redondant dinamic, echipamentul electronic de supraveghere trebuie s comande reconfigurarea, sau s activeze sistemul de decizie al "EA!. "tructura de baz a EE" care s ndeplineasc toate aceste functii, poate fi n general destul de complex, mai ales dac numrul variabilelor YT este mare. 5 schem simplificat a EE" este prezentat n fig.+.>. #E0 Alarm "top EE"
;;

,!

.E2.0. 7E !E"!

./!010. 7E F3/#4.5/A0E

xi

"EF ,F
.E2.0. F3/#4.5/A6E

Fig.6.+.!chema bloc simpli'icat a unui !"#T

A65

*!

##
#ircuit de control

7E

"emnale comand "top Alarm

circuit de alarm Fig.6.,.!chema simpli'icat a ""!. "chema conine n principal un circuit de control $##% i un circuit de alarm care formeaz semnalele de comand pentru comutarea rezervelor sau reconfigurarea, precum i semnalele de A6A0@1 i "!58. %ircuitul )e control %%$ trebuie s ndeplineasc n principal urmtoarele condiii: a% !oate semnalele de test ale sistemului autotestabil YT%"T trebuie s fie observabile la ieirea sa= b% 5rice defectare care apare n sistem n funcionarea sa normal trebuie s fie detectat n timp real. Aceste condiii sunt realizate simultan dac circuitul de control este el nsui de tip autotestabil i dac este ndeplinit relaia: YT%"T Y%$YT%%"% $+.A%

unde %"% este mulimea configuraiilor semnalelor la ieirea circuitului de control. %ircuitul )e alarm trebuie s conin n structura sa urmtoarele blocuri funcionale: 9 un circuit 7E care s detecteze erorile, adic configuraia semnalelor de la ieirile circuitului de control care nu aparin mulimii %"%. 9 un circuit de filtrare F care s elimine oscilaiile pe fronturi sau regimurile tranzitorii care pot apare n timpul funcionrii, datorit perturbaiilor prin cuplaBe galvanice, diafonii sau reflexii pe linii lungi= 9 un circuit de memorare @ care asigur nregistrarea erorilor detectate i care formeaz semnalele de comand pentru comutarea rezervelor sau reconfigurarea sistemului. !rebuie menionat c oricare ar fi realizarea fizic a unui sistem electronic autotestabil, nu este posibil de detectat toate defeciunile posibile care pot apare n sistem. #a urmare n practic realizarea unui sistem electronic autotestabil este condiionat de apariia anumitor tipuri de defeciuni aprioric considerate, funcie de tipul aplicaiei i de tehnologia utilizat. 7ei n literatur sunt cunoscute numeroase structuri de sisteme electronice autotestabile, se constat c maBoritatea realizrilor din ultimii ani, utilizeaz structurile redondante. 7in acest motiv, n cadrul acestui curs am preferat clasificarea sistemelor electronice total autotestabile dup tipul redondanei utilizate n:9sisteme electronice total autotestabile

;C

cu structur redondant separabil i respectiv9sisteme electronice total autotestabile cu structur redondant neseparabil.

6.3. SISTEME ELECTRONICE TOTAL AUTOTESTABILE CU STRUCTUR REDONDANT SEPARABIL

"chema general de principiu a a unui sistem electronic total autotestabil cu structur redondant separabil conine un modul funcional $"F% i un modul redondant $"0% conectate ca n fig.+.A. x) xn "F , F) , Fm

"0 ,!) ... ,!D Fig.6.-.!chema bloc )e principiu a unui !"#T cu structur re)on)ant separabil. @odulul redondant "0 are ca intrriEieiri semnalele xi i yFj i genereaz pentru o funcionare normal semnalele de test YTk#E!. 7ei nu exist o soluie general acceptat pentru realizarea unui "EA! cu structur redondant separabil, schema prezentat n fig.+.A. este util ntruc t permite o sistematizare a diferitelor variante practice de sisteme autotestabile. 6.3.1. Sisteme aut testa!i"e #u st$u#tu$% &u!"at% "chema bloc de principiu a unui astfel de sistem este prezentat n fig.+.F. @odulul redondant "0 este construit dup o schem electric identic cu cea dup care este construit modulul funcional. @ulimea semnalelor de test YT conine dou grupe de semnale corespunztoare ieirilor modulului funcional i modulului redondant. Aceste configuraii de semnale vor fi comparate n circuitul de detecie a erorilor i n caz de neconcordan se vor genera semnalele de "!58 sau A6A0@1. x) ./!10. xn "F , F)

"0
CG

.E2.0. F3/#4.5/A6E , Fm , F) , Fm , !) "E@/A6E 7E !E"!

, !n Fig.6...!chema bloc )e principiu a unui sistem electronic autotestabil cu structur )ublat "tructura prezentat este deosebit de simpl i se poate aplica oricrui tip de sistem electronic. !rebuie remarcat ns c sistemele autotestabile cu structur dublat nu pot detecta dec t defeciunile care nu afecteaz n acelai timp funcionarea corect a celor dou module "F i "0. 8entru a detecta i defeciunile cu aceeai probabilitate de apariie simultan $cum ar fi defectele de concepie% se recomand ca modulul redondant "0 s fie realizat dup alt schem de principiu dec t modulul funcional dar care s ndeplineasc desigur aceleai funciuni. 7ei simpl aceast schem de sistem electronic autotestabil, n numeroase cazuri nu se accept, datorit costului ridicat, problemelor de sincronizare ntre semnalele modulelor sistemului ca i numrului mare de semnale de test solicitate9ceea ce desigur complic construcia circuitelor de control. 6.3.2. Sisteme aut testa!i"e #u i'(e$sa$ea )u'#*iei sistemu"ui &e !a+% Aceast categorie de echipamente electronice autotestabile sunt astfel concepute nc t la ieirea modulului redondant s se obin semnalele de intrare primare Xi ale sistemului considerat, formate din semnalele de ieire YF furnizate de modulul funcional. "chema bloc de principiu a sistemele electronice autotestabile cu inversarea funciei sistemului de baz este prezentat n fig.+.+. 7etecia defeciunilor posibile se obine prin compararea informaiei de intrare n sistem cu informaia furnizat de circuitul de inversare, care constituie modulul redondant al sistemului. !rebuie menionat c nu toate sistemele electronice admit un circuit pentru modulul redondant, care s realizeze funcia invers a modulului funcional. 7e exemplu se pot realiza sisteme autotestabile cu o astfel de structur pentru codificatoare, deodificatoare dar nu i pentru sumatoare, deoarece n acest caz informaia primar nu poate fi separat de informaia prezent la ieire.
H)
./!010.

*F) "F
.E2.0. F3/#4.5/A6E

Hn "0

*Fm H) Hn H) Hn
"E@/A6E 7E !E"!

Fig.6.6 !chema bloc )e principiu a unui sistem autotestabil cu in/ersarea 'unc(iei sistemului )e baz #oncepia acestor sisteme autotestabile este ns mai complex dec t cea a sistemelor autotestabile cu structur dublat, modulul redondant av nd o schem electric
C)

diferit de cea a modulului de baz. #a urmare costul sistemului autotestabil este superior dublului costului modulului funcional, iar viteza de funcionare a sistemului este limitat de timpii de propagare a informaiei prin cele dou module. Aceast schem de sistem autotestabil este recomandat a se utiliza la realizarea sistemelor lente sau de vitez medie.

C-