CAP1.

1. Cum se definete un testor?

Testoarele ( Echipamentele pentru testare automat) se bazeaz pe utilizarea unui
sistem numeric computerizat, care ncorporeaz un sistem multiprocesor. Unitatea
testat UT este conectat prin intermediul matricii de conectare MC, care are rolul de
a furniza alimentarea UT i de a furniza canalele de comunicare ntre generatorul de
stimuli de test GST i UT, respectiv ntre UT i dispozitivele de msurare rupate n
blocul de evaluare a rspunsurilor BER. !ntreaa operare este controlat prin
calculator, care are sarcina de a colecta i evalua rezultatele testului " este prevzut cu
memorie de rezerv MR i cu dispozitive uzuale de intrare-ieire DI/E care s
permit interac#iunea cu operatorul.
2. Care este diferena ntre un testor parametric i un testor logic?
$tructura ilustrat n %i. 1.& se resete, ca principiu, at't n cazul circuitelor
analoice c't i a celor diitale. !n primul caz structura corespunde unui
( Testor parametric se foloseste in circuite analoice unde aplic stimuli analoici i
msoar rspunsuri analoice.
( Testor logic se foloseste in circuite diitale,unde stimulii de test aplica#i sunt
semnale loice de intrare, care formeaz un set de vectori binari de test, iar
rspunsurile sunt semnale loice de ieire.
3. Ce reprezint conceptul de proiectare pentru testabilitate?
(proiectare pentru testabilitate (implementarea unor facilit#i speciale procesului de
testare) care se aplic ncep'nd cu faza proiectrii ini#iale a circuitelor interate i p'n la
faza proiectrii ec*ipamentelor comple+e. Acest lucru se face prin includerea n faza de
proiectare a unor concepte de enul,
semnalizare a strii unor linii sau indicatori"
ntrerupere a reac#iilor pentru facilitarea testrii separate la nivelul fiecrui bloc, fr
posibilitatea proparii unui defect ctre un bloc anterior datorit reac#iilor"
condi#ionare a intrrilor unor blocuri componente n scopul asiurrii posibilit#ii de
introducere a unor semnale speciale de test.
4. escriei elementele care tre!uie luate n considerare dac pe o linie de producie
electronic se efectueaz o testare iniial a tuturor componentelor utilizate.
". escriei tipurile de conectare posi!ile ntre testor i unitatea testat.
Testoare cu conectare prin pat de cuie
Conectarea prin pat de cuie const n utilizarea unei matrici de palpatoare, situate
n oc*iurile unei re#ele rectanulare, cu pasul eal cu cel de la proiectarea automat a
cabla-elor imprimate. Prin plasarea unit#ii testate pe acest pat de cuie, fiecare palpator
asiur contactul cu unul din nodurile plac*etei ec*ipate, permi#'nd at't in-ectarea de
stimuli de test pe plac*eta testat, c't i culeerea rspunsurilor unit#ii testate. .a
circuitele comple+e, numrul acestor noduri poate a-une la c'teva mii, ceea ce conduce
la o comple+itate mare a testorului " fiecare palpator trebuie s poat fi proramat
independent ca intrare(ieire, respectiv ca activ(inactiv. /istan#ele mici dintre palpatoare
fac deosebit de dificil i costisitoare realizarea acestora ( ele trebuie s realizeze un
contact de calitate). Permi#'nd in-ectarea stimulilor de test n orice nod al unit#ii testate
i culeerea rspunsurilor din orice nod, metoda prezint avanta-ul simplit#ii de enerare
a vectorilor stimul de test i de prelucrare a rezultatelor. 0etoda nu este avanta-oas dec't
n cazul unei produc#ii de serie foarte mare.
Testoare cu conectare prin conectorul e#terior al unitii testate.
Conectarea prin intermediul conectorului e+tern al unit#ii testate este cea mai
ieftin modalitate de realizare a unui testor. 0etoda permite accesul doar la intrrile
primare ale unit#ii testate i la ieirile observabile ale acesteia. Aceasta conduce la
dificult#i n enerarea stimulilor de test adecva#i i n implementarea proramelor de
test. 0etoda e cea mai des utilizat i a conduce la dezvoltarea unor metode asistate de
calculator pentru elaborarea vectorilor stimuli de test.
CAP1.
1.Ce se nelege prin defecte logice?
Un defect se refer la o eroare fizic la nivelul circuitului respectiv (de e+emplu
scurtcircuit ntre linii de semnal, ntreruperi de linii de semnal, erori ale componentelor,
etc.).
Un defect logic face ca valoarea loic ntr(un anumit punct al circuitului s devin
opus celei specificate.. aloarea unui defect loic ntr(un punct al circuitului indic dac
defectul creaz o valoare loic eronat fi+ sau variabil. E!tinderea unui defect
specific dac efectul defectului este local sau distribuit. Un defect local afecteaz o
sinur variabil " un defect loic este un defect local. Durata unui defect indic dac
eroarea este permanent sau temporar. efectele nelogice include restul
erorilor, ca de e+emplu func#ionrile necorespunztoare ale semnalului de tact, cderile
tensiunii de alimentare, etc Extinderea unui defect specific dac efectul defectului este
local sau distribuit " un defect distribuit afecteaz mai multe variabile ( func#ionarea
necorespunztoare a tactului este un defect distribuit).
2.Care sunt modelele de defectare utilizate pentru ela!orarea sec$enelor de test n
realizarea testoarelor automate?
Utilitatea modelului este determinat de acurate#ea cu care acesta reprezint efectul de
sc*imbare pe care defectul l are asupra semnalelor circuitului. 0odelele cele mai
utilizate n prezent n te*nica testrii pentru reprezentarea defectelor n circuitele loice
sunt,
1. modelul %punere&pe'
0odelul presupune c un defect al unei por#i loice se manifest prin faptul c una dintre
intrrile sau ieirile sale este blocat fie pe starea loic 2 ,punere-pe-0, (p-p-0) fie pe
starea loic 1 ,punere-pe-1( p-p-1 ).
(emnalele de test )$ectorii stimuli de test* trebuie s fie astfel enera#i nc't s permit
testarea fiecrui nod pentru cazul unui defect de p(p(1 i, respectiv, de p(p(2
1. modelul %punte'
Un defect de tip punte apare atunci c'nd dou linii de semnal dintr(o re#ea loic sunt
conectate accidental d'nd natere unei cablri loice. /ependent de tipul de loic
utilizat, efectul defectului const n realizarea func#iei loice 3! 4 cablat ntre semnalele
implicate, pentru loica pozitiv, i respectiv a func#iei loice $AU 4 cablat n cazul
loicii neative
/efectele de tip punte (scurtcircuit) se pot clasifica n dou tipuri,
scurtcircuite pe intrare"
scurtcircuite cu reac#ie.
&. modelul %ntrerupere'
/efectele de tip ntrerupere sunt caracteristice circuitelor realizate n te*noloie C05$.
6le apar atunci c'nd un tranzistor 05$ se bloc*eaz pe starea de nalt impedan#,
indiferent de starea intrrii sale
3.Ce se nelege printr&un defect de scurtcircuit?
/efectele de tip punte (scurt(circuit) reprezint o clas important de defecte permanente,
care nu pot fi modelate ca i defecte de punere(pe. Un defect de tip punte apare atunci
c'nd dou linii de semnal dintr(o re#ea loic sunt conectate accidental d'nd natere unei
cablri loice.
/efectele de tip punte (scurtcircuit) se pot clasifica n dou tipuri,
scurtcircuite pe intrare"
scurtcircuite cu reac#ie.
4.eterminai modelul de testare a unei pori logice +,&-U pentru un defect de p&p&..
".eterminai modelul de testare a unei pori logice (/U pentru un defect de p&p&1.
0. Ce nelegei prin controlabilitate i observabilitate a unei sc1eme electronice numerice?
Controlabilitate" pentru a realiza condi#iile de testare ale por#ii respective, trebuie s putem
seta astfel intrrile primare nc't s enereze semnalele de test necesare la intrrile por#ii
testate. Pe de alt parte, trebuie s putem transmite rezultatele testului ctre una dintre
ieirile observabile, n vederea evalurii. Aceast condi#ie poart denumirea de
bservabilitate , capacitatea de a transmite rezultatele testului ctre una dintre ieirile
observabile, n vederea evalurii.
2. Care este diferena ntre extinderea i durata unui defect?
Extinderea unui defect specific dac efectul defectului este local sau distribuit. Un defect
local afecteaz o sinur variabil, n timp ce un defect distribuit afecteaz mai multe
variabile. /e e+emplu, un defect loic este un defect local, n timp ce func#ionarea
necorespunztoare a tactului este un defect distribuit.
!urata unui defect indic dac eroarea este permanent sau temporar.
3. ai e#emple de defecte parametrice i de defecte logice.
CAP&
1.Considerai cazul testrii unui circuit com!inaional cu reacie glo!al. ,maginai o
facilitate care poate fi implementat n faza de proiectare pentru testa!ilitate4 care s ofere
posi!ilitatea testrii separate a porilor componente.
2.Ce nelelegei prin recon$ergen poziti$ i negati$?
"econvergen pozitiva ,modificarea simultan a celor dou semnale care reconver
permite realizarea condi#iei de propaare a defectului.
A
7 8
P 1
P 1
P &
C
1
1 2
1
1 2
1 2
1 2
1 2
1 2
5econ$ergen negati$ ,Cazul n care efectul defectului propaat pe o cale este
contracarat de propaarea sa pe o alt cale.
A
7 8
P 1
P 1
P &
C
1
1 2
1 2
1 2 1 1
11
1 2
2
2
3.6#emplificai cazuri de circuite cu reconvergen.
4.7entru sc1ema din 8ig. 3.34 determinai $ectorii de test pentru defectele simple de p&p&1 n
nodul 64 respecti$ n nodul 8.
P 1
P 1
P &
P 9
8
1
1
1
1
1
1
1
A
7
C
2
/
6
%
1 2
1
2
:
Fig. 3.8. Circuit cu defect nedetectabil
;.ai e#emple de circuite logice com!inaionale cu fan-out reconvergent.
8an&out , Caracteristica circuitelor de a e+ista cel pu#in un nod din care semnalul
sinular este transmis ctre intrarea a dou sau mai multe por#i , i pooate conduce la
posibile complica#ii din punctul de vedere al testrii circuitului.
/iferen#a dintre un fan(out reconverent i un fan(out nereconverent este important din
punctul de vedere al testrii, la ec*ivalarea defectelor.
0.Care sunt consecinele asupra strategiei de testare a e#istenei unei reacii glo!ale ntr&un
circuit logic com!inaional?
CAP.4
1. Ce condiii tre!uie s satisfac blocul sondelor de date?
. Culeerea flu+ului informational, care constituie pentru analizorul de semntur datele
de intrare, se face prin intermediul blocului sondelor de date (#$!).7locul trebuie s
poat identifica nivelul loic al datelor preluate, fr a ncrca ns suplimentar
maistralele de pe care culee date i fr a afecta n vreun fel flu+ul recep#ionat
2. Ce rol are fereastra n generarea semnturii?
Prin intermediul #locului selec$ie fronturi %BS&) se va enera un semnal numit fereastr
(%E"), care permite accesul datelor de la &' pe perioada n care este activ.
((fereastr desc)is* pe durata culeerii datelor, (fereastr +nc)is* atunci c'nd dateele
nu mai sunt preluate de ctre analizor.)
$emntura enerat va fi sta#il at'ta timp c't fereastra i informa#ia prelevat de pe
maistralele 'T vor fi repetabile.
3. efinii rolul !locului de autotest.
bloc de autotest (#,), poate efectua periodic verificarea corectitudinii sale de
func#ionare. .a trecerea analizorului n reim de autotest, blocul #, preia controlul
asupra ntreii func#ionri. $unt decuplate toate leturile cu unitatea testat. At't datele
prelevate c't i semnalele de control sunt enerate local i inserate n analizor prin
intermediul #$! i a #$C. Toate informa#iile ve*iculate corespunz'nd proramului de
autotest al analizorului, semntura rezultat va controla de aceast dat corectitudinea de
func#ionare a analizorului de semntur.
4. 6fectuai o comparaie ntre analiza de semntur de tip serial i cea de tip paralel.
". Cum poate fi influenat lungimea semnturii generate?
CAP.5
1.6#emplificai c9te$a cauze de eroare care pot s apar n reelele numerice.
& perturba#ii la nivelul mediului de transmisie utilizat
( emisia i recep#ia sunt foarte ndeprtate
( Coder(ul din eneratorul de test nu furnizeaza codul corect
( reistrul rm'ne n starea 2 permanent
( caracterul aleator al zomotului
(perturbatii electromanetice
2.e ce este necesar transmiterea tactului ctre terminalul de recepie?
:enneratorul lucreaza pe baza tactului recep#ionat, pentru a nu e+ista diferen#e de vitez de
lucru
CAP.6
1.Care este diferena ntre o metod de msurare cu fir !un i una cu fir au#iliar?
&metoda de msurare cu fir !un, n compozi#ia cablului afectat de defect trebuie sa e+iste
un fir corect care s fie utilizat ca i fir de ntoarcere pentru realizarea msurtorilor,
&metoda de msurare cu fir au#iliar utilizarea unui fir cu alte caracteristici dec't cel
defect. $olu#ia este metoda pun#ii 0urra< cu fir au!iliar, care const n utilizarea unui fir
dintr(un cablu instalat alturi de cablul defect, oricare ar fi lunimea sau diametrul
conductoarelor.
2.Care sunt factorii de eroare la localizarea defectelor prin impulsuri?
3.Ce semnificaie are amplitudinea impulsului reflectat?
4.educei sc1ema punii :raf cu fir calibrat.
%ig- .-/- 0untea 1raf cu raport constant
2& 21
21 21
1
r r
r r
( l

=
i
2& 21
2& 21
1
r r
r r
( l

=
".educei sc1ema punii :raf cu raport variabil
2.educei sc1ema punii ;arle< cu fir auxiliar i considerarea efectului cordonului de
conectare.
%ig- .-2- 0untea 3arle4 cu cordon de conectare
3.Calculai efectul cordonului de conectare pentru sc1ema dedus anterior.
/ac se consider p ) *, atunci,

=
c #m
R R
r
( l
2
1
1
=. educei sc1ema punii >urra< cu fir auxiliar i considerarea efectului cordonului de
conectare.

%ig- .-5- 0untea 6urra4 cu fir auxiliar
1.. Calculai efectul cordonului de conectare pentru sc1ema dedus anterior.
&
1
12
1
1

+ =
#
a
R
R
a ( l
CAP.7
1.Cum se definesc distorsiunile de neliniaritate?
Pentru determinarea neliniarit#ii unui sistem de telecomunica#ii se utilizeaz dou
metode,
( aplicarea unei sinure tensiuni sinusoidale,
( aplicarea concomitent a mai multor tensiuni sinusoidale cu frecven#e diferite.
Coeficientul glo!al de distorsiune armonic este raportul dintre valoarea efectiv sau
media ptratic a tensiunilor tuturor armonicelor de la ieirea cuadripolului i valoarea
efectiv a tensiunii tuturor frecve#elor (armonicele i fundamentala),
U U U U
U U U
1
nf
1
&f
1
1f
1
f
1
nf
1
&f
1
1f
...
...
=
+ + + +
+ + +
=
a) Coeficientul de distorsiune de intermodulaie
$e definete astfel,
122(>)
U
) U (U ) U (U
m
1
1 1 1 1 1 1 1 1
f
1
1f f 1f f
1
f f f f

+ + +
=
+ +
(?.11)
1
f
U
( tensiunea cu frecven#a f
1
mai nalt "
1 1
f f
U
( tensiunea cu frecven#a f
1
(f
1
2.Care sunt parametrii prin care se apreciaz cantitati$ aceste distorsiuni?