0 evaluări0% au considerat acest document util (0 voturi)
3 vizualizări4 pagini
Fotoelectronii sunt analizaţi în funcţie de unghiul de emisie şi de energia cinetică. Deoarece doar electronii care părăsesc proba fără pierderi de energie prin ciocniri inelastice poartă informaţii directe despre structura electronică a solidului, XPS analizează doar un strat de ordinul zecilor de Ǻ de la suprafaţa probei, fiind o tehnică foarte sensibilă de analiză a sprafeţelor
Fotoelectronii sunt analizaţi în funcţie de unghiul de emisie şi de energia cinetică. Deoarece doar electronii care părăsesc proba fără pierderi de energie prin ciocniri inelastice poartă informaţii directe despre structura electronică a solidului, XPS analizează doar un strat de ordinul zecilor de Ǻ de la suprafaţa probei, fiind o tehnică foarte sensibilă de analiză a sprafeţelor
Fotoelectronii sunt analizaţi în funcţie de unghiul de emisie şi de energia cinetică. Deoarece doar electronii care părăsesc proba fără pierderi de energie prin ciocniri inelastice poartă informaţii directe despre structura electronică a solidului, XPS analizează doar un strat de ordinul zecilor de Ǻ de la suprafaţa probei, fiind o tehnică foarte sensibilă de analiză a sprafeţelor
Spectroscopia fotoelectronic, iniiat de Siegbahn i colaboratorii si [13], constituie una
dintre cele mai importante tehnici experimentale utilizate pentru obinerea de informaii asupra structurii electronice ale atomilor, moleculelor i solidelor [1,1!]" #ntr$un experiment de fotoemisie, fotonii pro%enii de la o surs monocromatic interacioneaz cu atomii de la suprafaa probei produc&nd emisia de electroni prin efect fotoelectric" 'otoelectronii sunt analizai (n funcie de unghiul de emisie i de energia cinetic" )eoarece doar electronii care prsesc proba fr pierderi de energie prin ciocniri inelastice poart informaii directe despre structura electronic a solidului, *+S analizeaz doar un strat de ordinul zecilor de , de la suprafaa probei, fiind o tehnic foarte sensibil de analiz a sprafeelor" -a.oritatea fotoelectronilor sufer ciocniri inelastice (n prob i formeaz fondul spectrelor de fotoemisie" Spectroscopia fotoelectronic (n doemniul razelor * /*+S0 const (n analiza energiei fotoelectronilor emii (n urma iradierii probei cu un fascicol monoenergetic de raze * /h1 2 1000 e30" 4el mai des se utilizeaz radiaiile * ale -g 56 /17!3,! e30 i 8l 56 /19:,: e30, ale cror ad&ncime de penetrare (n proba solid este de ordinul 1$10 ;m" )e$a lungul deceniilor de dez%oltare a fotoemisiei ca tehnic spectroscopic de analiz au fost elaborate numeroase teorii asupra caracteristicilor spectrale" < descriere riguroas a fotoemisiei implic o tratare cuantic a procesului de emisie al unui electron de pe un orbital atomic dintr$un solid, fotoelectron care este detectat dup ce prsete suprafaa probei" -ai puin riguros, dar extrem de util (n interpretarea spectrelor *+S, este modelul (n trei sec%ene, care (mparte experimentul de fotoemisie (n trei procese distincte i independente= fotoexcitarea electronilor (n solid, transportul fotoelectronilor spre suprafaa probei i e%adarea fotoelectronilor (n %id" #n cadrul unui experiment obinuit de *+S se msoar energia cinetic a fotoelectronilor, din care se determin energiile de legtur a electronilor emii" )atele se reprezint ca un grafic al intensitii /de obicei exprimat (n numr de e%enimente reprezent&nd numrul de electroni0 (n funcie de energia electronilor fotoemii" )eoarece fiecare element chimic are un set specific energii de legtur, metoda *+S este utilizat pentru identificarea elementelor chimice de la suprafaa probelor" #n consecin spectrul obinut reproduce structura electronic a unui compus" +rimul pas (n studiul prin *+S al unui material (l constituie (nregistrarea unui spectru (n inter%alul de %alori ale energiei de legtur cuprins (ntre 0 i 100 e3, care conine toate liniile caracteristice strilor energetice ale elementelor chimice componente" 8cest spectru general permite stabilirea inter%alelor energetice pentru care se %or (nregistra ulterior spectrele liniilor de interes" >n spectru *+S poate fi (mprit (n spectru primar, care pro%ine de la fotoelectronii care prsesc proba fra a suferi ciocniri inelastice i spectru secundar sau fondul spectrului *+S, care pro%ine de la fotoelectronii care au pierdut o parte din energia lor cinetic (n urma ciocnirilor inelastice (n drumul spre suprafaa probei" 'otoelectronii care pro%in de pe ni%elele interne ale atomilor determin cele mai intense linii (n spectrele *+S" +oziiile acestora sunt specifice fiecrui atom i fiecrui ni%el energetic i sunt adesea utilizate pentru identificarea elementelor chimice" Spectrele benzii de %alen sunt caracterizate printr$o structur de band situat la energii de legtur mici /? 70 e30" )in banda de %alen se pot obine informaii asupra structurii electronice, a gradului de ocupare cu electroni, a densitii de stri la ni%elul 'ermi"