Sunteți pe pagina 1din 14

MICROSCOPIA ELECTRONIC

Microscopia electronic este una dintre metodele moderne de studiere a unor


aspecte structurale foarte fine, de ordinul a 10
-5
- 10
-7
cm, pe baza unor mriri de pn la
300000 ori, prin utilizarea proprietilor de propagare i focalizare ale fasciculelor de
electroni sub aciunea cmpurilor magnetice sau electrice
Microscopul electronic, caracterizat printr-o putere separatoare de ordinul 10
-!
cm, folosete, "n locul radiaiilor luminoase, fascicule de electroni rapizi, iar "n locul
lentilelor optice lentile magnetice sau lentile electrostatice #up procedeul de cercetare al
obiectelor, microscoapele electronice se clasific "n urmtoarele tipuri$
5.6.3.1. MICROSCOPUL ELECTRONIC CU TRANSMISIE
%cest tip de microscop electronic este comparabil cu microscopul &optic cu
dou eta'e de lentile, "n figura 550 sunt ilustrate comparati(, mersul radiaiilor luminoase "n
microscopul optic )fig 550 a) i mersul fasciculelor de electroni "n microscopul electronic
magnetic )fig 550 b) i microscopul &electronic electrostatic )fig 550 c). *rincipiul de
funcionare al microscoapelor electronice este relati( simplu +lectronii emii de catod ,
sunt accelerai "n drumul lor spre anod de o diferen de potenial V i apoi
focalizai prin intermediul condensorului C. -asciculul de electroni astfel focalizat,
tra(erseaz obiectul . )lam subire, amprenta suprafeei metalice/, fiind "n ansamblu
transmii de obiect i primii de obiecti(ul O, cu e0cepia celor absorbii i difuzai "n fiecare
punct "n cantitate proporional cu iregularitile reliefului, cu constituia sau structura
obiectului
%stfel, obiecti(ul O produce o prim imagine intermediara mrit a obiectului R, care
(a fi ulterior din nou mrit i proiectat prin intermediul ocularului P pe un ecran
*rincipiul microscopului electronic i drumul
fasciculului de electroni "n microscopul electronic
magnetic )b/ i microscopul electronic cu lentile
electrostatice )c/ comparati( cu drumul radiaiilor
optice la microscopul clasic )a/
fluorescent sau pe o plac fotografic #atorit lungimii de und de 1roglie, asociat
electronilor "n micare, mult mai mic )de ordinul 0,05 %/ dect cea a undelor luminoase,
acest tip de microscop ar trebui s aib o putere de rezoluie de 10
5
ori mai mare dect cea a
microscoapelor optice, dar care are practic o (aloare mai mic datorit aberaiilor sferice
produse de imperfeciunile pieselor polare ale lentilelor care impun desc2ideri ale fasciculului
de electroni foarte mici
3n cadrul microscopului electronic prezint interes$
Sursa de electroni. 3n cele mai multe microscoape electronice, sursa de electroni,
denumit 4tun electronic5 )fig 6/, este constituit dintr-un filament de tungsten, "nclzit sub
un curent de 10 7 800 mA. 9tilizarea acestor catode cu "nclzire direct si nu a catozilor cu
strat de o0id cu "nclzire indirect, este determinat de faptul c "n cazul catozilor reci
electronii emii au (iteze ridicate si prezint salturi brute care fa(orizeaz aberaia
cromatic
-ig 6 :unul electronic
Lentilele. *entru a obine refracia undelor asociate electronilor, se utilizeaz fie
cmpuri magnetice fie cmpuri electrice
;entilele magnetice utilizeaz cmpuri magnetice produse de electromagnei sau de
magnei permaneni <mpul magnetic acioneaz "ntr-un inter(al "ngust dintre dou
piese polare cu simetrie a0ial, ce "ndeplinesc rolul lentilelor i produc att o focalizare a
flu0ului de electroni ct i o rotire a imaginii
-ig 66 a/ lentile elctrostatice= b/ lentile magnetice
;entilele electrostatice sunt piese de re(oluie de form con(enabil crora li se aplic
un potenial determinat i care, prin cmpul pe care-l creeaz, de(iaz electronii i-i
focalizeaz <ele mai simple lentile electrostatice sunt formate din trei discuri paralele,
gurite "n centrul lor, electrodului central aplicndu-i-se un potenial negati( puternic, iar
ceilali doi fiind pui la pmnt 3nalta tensiune necesar accelerrii electronilor poate fi
aplicat, de asemenea, lentilelor, "n microscopul electrostatic distana focal este determinat
de spaiul dintre prile lentilei )partea ce se afl sub "nalta tensiune i partea pus la pmnt/,
ori o (ariaie a acesteia este mai con(enabil s se fac printr-o mrire a (idului dect printr-o
reducere a distanei disrupti(e
-igura 551 > ,c2ema de principiu a microscopului electronic de transmisie cu trei eta'e
c/ Ecranul *entru (izualizarea imaginii obiectului, fasciculul de electroni ce o
formeaz cade pe un ecran acoperit cu un strat subire de sulfura de bariu, care sub aciunea
flu0ului de electroni se e0cit emind lumin
d/ Microscopul electronic cu transmisie cu trei etaje Microscopul electronic cu
transmisie cu dou eta'e a fost utilizat iniial "n metalografie aproape e0clusi( la obser(area
amprentelor suprafeelor metalice %ceste amprente, la "nceput foarte grosiere, au de(enit din
ce "n ce mai fine, permind atingerea unor rezoluii mult mai ridicate, fr "ns a reda
(reodat limitele de rezoluie pe care le permite microscopul electronic %meliorarea
calitii acestor microscoape prin creterea densitii flu0ului de electroni i a tensiunii
acceleratoare a lsat nerezol(at problema (arierii grosismentului, care nu se poate realiza
dect cu a'utorul proiectorului i aceasta "ntre limite relati( "nguste *entru obinerea
grosismentului optic, cruia "i corespunde cea mai slab aberaie, s-au realizat microscoapele
electronice de transmisie cu trei eta'e )fig 551/ "n cadrul crora "ntre obiecti( i proiector
s-a plasat o lentil intermediar, constituind cel de al treilea eta' al microscopului #e
aceast dat este suficient ca grosismentul lentilei intermediare s (arieze "ntre limite "nguste
pentru a obine o mare (ariaie a grosismentului final al proiectorului, corespunztor
grosismentului optic

e/ ondul !ntunecat 3n mod curent "n microscopia electronic prin transmisie,
ca i "n cea optic, pentru studiul imaginii se utilizeaz metoda cmpului luminos
generat de electronii care tra(erseaz normal obiectul ,unt, "ns, cazuri "n care se utilizeaz i
metoda cmpului "ntunecat, care permite o mrire a contrastului imaginii, astfel c din natura
imaginii obinute se poate defini structura obiectului <mpul "ntunecat "n microscopia
electronic prin transmisie se obine$ prin deplasarea diafragmei desc2iderii iluminaiei, prin
"nclinarea sistemului de iluminare sau prin introducerea unei diafragme inelare "ntre tunul
electronic i condensor ?maginea este, "n acest caz, format de electronii difuzai, "n cazul
obiectelor cu structur slab ordonat, sau de electronii difractai de feele cristalografice ale
cristalului Metoda de obser(aie "n cmp "ntunecat este indicat la punerea "n e(iden a
cristalelor mici, pentru care refle0iile selecti(e de tip 1ragg, "n cazul cmpului luminos, sunt
"nglobate )"necate/ "n fondul general al cmpului luminos
3n cazul obiectelor care difuzeaz electronii, metoda cmpului "ntunecat permite i
depistarea particulelor ale cror dimensiuni, "n special grosimea, sunt mai mici dect ale celor
depistate "n cmp luminos, dar calitatea imaginii "n cmp "ntunecat este inferioar celei din
cmpul luminos
3n condiii identice de lucru, calitatea i intensitatea imaginii "n cmp "ntunecat a
obiectelor cristaline sunt sensibil mai bune dect cele ale obiectelor cu structur slab ordonat
;a substanele cristaline studiul "n cmp "ntunecat permite att punerea "n e(iden a tuturor
detaliilor structurii lor ct i determinarea structurii interne a acestora )punerea "n e(iden a
incluziunilor/, "n timp ce studiul "n cmp luminos a acestor substane permite a se (edea
numai conturul imaginii
MICROSCOPIA ELECTRNIC DE BALEIAJ (SEM)
,pre deosebire de microscopia electronic de transmisie, ,+M este utilizat e0clusi(
pentru e0aminarea suprafeei probelor, obinndu-se informaii e0trem de (aloroase pri(ind
morfologia membranelor
3n microscopul electronic de baleia', fascicolul de electroni produs de tunul electronic
este micorat la ma0imum prin intermediul unor lentile electromagnetice, urmrindu-se
obinerea unui fascicul e0trem de "ngust, cu diametrul de ma0im 100 @, care este proiectat pe
suprafaa membranei de analizat +l este obligat s efectueze o micare de zigzag, realiznd
astfel o baleiere a suprafeei membranei 3n urma impactului fascicolului primar cu proba
rezult o serie de semnale, materializate mai ales "n electroni secundari %cetia sunt captai
de un detector, iar curentul aprut este amplificat i trimis "ntr-un tub catodic, unde se
moduleaz intensitatea fasciculului i este trimis semnalul la un monitor -iecrui punct de pe
prob "i (a corespunde un punct de pe ecranul tubului catodic, e(ideniindu-se astfel suprafaa
membranei ,tabilirea unui punct pe ecran depinde de numrul de electroni secundari ce
prsesc suprafaa probei "n punctul corespunztor
<u a'utorul acestei metode pot fi determinate forma i dimensiunile porilor unei
membrane
MICROSCOPIA ELECTRONIC DE BALEIAJ PRIN EFECT
TUNEL (STM)
*rincipiul metodei const intr-o sond microscopic micat cu precizie pe suprafaa
membranei de e0aminat de ctre un element piezoelectric, sub control electronic 3n timpul
baleierii se realizeaz, practic, condiii pentru o interaciune sau o separare constant "ntre
atomi terminali ai sondei i cei ai suprafeei e0aminate ?nformaia principal este profilul
tridimensional de interaciune constant
Microscopia de baleia' prin efect tunel furnizeaz imagini tridimensionale de "nalt
rezoluie ale suprafeei unei probe conductoare, prin msurarea curentului aprut prin efect
tunel "ntre prob i sond, cnd (rful acesteia baleiaz e0ponenial cu distana dintre (rf i
prob ,:M poate lucra "n dou moduri$
Varianta cu curent constant > "n care curentul prin efect tunel este msurat la un (olta'
con(enabil, cnd (rful metalic este destul de aproape de suprafa ;a scanarea suprafeei de
ctre (rf, o reea de feed>bacA (ariaz "nlimea (rfului pentru a menine curentul constant
Varianta de !n"l#ime constant" > cnd (rful scaneaz suprafaa la o "nlime aproape
constant i (olta' constant i se msoar curentul rezultat prin efect tunel
*rocedeul este caracterizat de o "nalt rezoluie, imaginile obinute fiind la o scar
subnanometric, dar este limitat de conducti(itatea probei, ceea ce restrnge aplicaiile
considerabil, a(nd "n (edere faptul c cele mai multe membrane sunt realizate din materiale
polimerice neconducti(e :otui pot fi (izualizate structurile unor materiale precum
polietilena atunci cnd sunt depuse pe un strat conducti( )grafit pirolitic "nalt orientat sau
aur/ Metoda este folosit la analiza membranelor impermeabile )membrane de solubilitate sau
folii/
5.6.3.2. MICROSCOPUL ELECTRONIC CU REFLEXIE
?mposibilitatea de a obser(a la microscopul electronic cu transmisie suprafaa
obiectelor masi(e a impus ideea e0aminrii acestora pe baza unui proces de refle0ie
1ombardnd suprafaa obiectului cu un flu0 monocinetic de electroni i utiliznd electronii
reflectai, pe baza unui sistem electrooptic identic cu cel al microscopului electronic cu
transmisie, se poate obine imaginea suprafeei, "n realitate, dac un fascicul de electroni cade
pe suprafaa unui obiect nu e0ist un proces de refle0ie, "n sensul optic al cu(ntului, ci o
difuzie a electronilor #eoarece electronii sunt difuzai "n toate direciile nu se reculeg "n
direcia obiecti(ului dect o fraciune din electronii incideni, fapt ce determin o iluminare a
imaginii mult mai slab, "n plus, electronii difuzai nu sunt monocinetici, iar absorbia
cromatic a obiecti(ului limiteaz rezoluia *entru a elimina, cel puin parial, parte din
aceste dificulti i pentru a diri'a pe o direcie preferenial o fraciune ct mai important din
electronii difuzai, "n microscopul electronic cu refle0ie, a0a fasciculului electronic care
bombardeaz suprafaa obiecti(ului, este "nclinat "n raport cu a0a obiectului, cu un anumit
ung2i
5.6.3.4. MICROSCOPUL ELECTRONIC CU EMISIE
3n acest tip de microscop, imaginea este format de electronii emii de suprafaa
obiectului i focalizarea lor printr-un sistem electrooptic adec(at, astfel "nct toi electronii
emii de un punct al suprafeei obiectului s fie concentrai "ntr-un singur punct al imaginii
+lectronii emii de suprafaa analizat, a(nd o foarte slab energie, trebuie s fie accelerai
"nainte de focalizare #e aceea, obiectul, care constituie catodul, este urmat de doi electrozi de
slab desc2idere= primul electrod este conceput ca un cilindru Be2nelt i se afl la un
potenial identic sau foarte apropiat de cel al obiectului, iar la ieirea din acesta electronii sunt
accelerai de ctre cmpul electrostatic creat "ntre acest cilindru Be2nelt i anod *rima lentil
a microscopului electronic cu emisie este, astfel, o lentil electrostatic care poart numele de
4obiecti( de imersie5 <onsecina cea mai important i imediat a (itezei mici pe care o au
electronii emii de suprafaa de analizat const "n faptul c i cei emii dup o traiectorie
foarte "nclinat fa de a0a optic sunt totui suficient de refractai "n cmpul lentilei obiecti(
pentru a putea participa i ei la formarea imaginii
%ceste microscoape se utilizeaz curent la obser(area transformrilor de faz,
creterea cristalelor etc, c2iar la temperaturile la care aceste procese au loc
5.6.3.5. MICROSCOPUL AUTOELECTRONIC
%cest tip de microscop folosete emisia electronic proprie a suprafeei de analizat a
obiectului sub aciunea unui cmp electric puternic, de ordinul 3C10
7
77C10
7
DEcm ,pre
deosebire de emisia termoelectronic la care pot prsi metalul prin salt peste bariera de
potenial numai electronii de o anumit energie, sub aciunea cmpului pot prsi suprafaa
considerat prin efect tunel i electronii de energie mult mai mic #ar i de aceast dat
emisia de electroni este direct influenat de starea suprafeei ce emite, moti( pentru care acest
tip de microscop este utilizat la studiul fenomenelor de suprafa *entru a obine cmpuri de
o asemenea intensitate, se utilizeaz "n locul catodului emitor, fire fine al cror (rf are o
raz de curbur de ordinul a l 000 @ i poteniale de ordinul F G 5 AD +lectronii ce se gsesc
mai departe de bariera de potenial fiind caracterizai printr-o energie cinetic de (aloare
redus (or urma liniile de for ale cmpului, care, "n cazul "n care suprafaa emitoare este o
suprafa ec2ipotenial, (or fi perpendiculare la aceasta, iar electronii se (or "ndeprta radial
de la (rf #ac (rful emitor este "ncon'urat de un ecran conductor, ce "ndeplinete i
funcia de anod, electronii care di(erg de la (rf (or forma pe ecran o imagine mult mrit
)apro0imati( 10
H
ori/ a suprafeei (rfului )fig 55F/
Microscopia bazat pe emisia de electroni sub aciunea cmpurilor electrice puternice
permite$ msurarea emisiei diferitelor fee ale unui cristal dac se calculeaz potenialul de
e0tracie= msura (itezei la care (rful de emisie se tocete "n funcie de temperatur= punerea
"n e(iden a moleculelor izolate sau strnse "n grupe, care pro(oac apariia unor pete
strlucitoare ce se suprapun peste imaginea obinuit= studiul creterii fazelor de toate
genurile= punerea "n e(iden a tuturor constituenilor ce sunt absorbii a
-ig 55F > Drful emitor i formarea imaginii pe ecran la microscopul autoelectronic
5.6.3.6. PREGTIREA PROBELOR N EDEREA
CERCETRII !"#$ %#&"'(&'!#)
Metoda direct.
*robele care se cerceteaz la microscopul electronic trebuie s prezinte transparen
suficient fa de electroni )grosimi sub 10-5cm/, s nu se distrug "n (id sau sub aciunea
fasciculului de electroni i s nu se "ncarce electric sau s se ionizeze *roba se aeaz direct
pe o pelicul transparent ca suport sau poate fi inclus "n pelicule subiri *robele ce
"ndeplinesc aceste condiii sunt introduse "n microscopul electronic fiind aezate pe grile
suport care pot fi, fie site metalice de form rotund cu un diametru de 3 mm i cu oc2iuri cu
un diametru de 0,1 mm, ce sunt stanate dintr-o reea fin de srm de nic2el sau bronz
fosforos cu diametrul de 0,07 mm, fie diafragme metalice rotunde cu diametrul de 3 mm
*eliculele de suport sunt confecionate obinuit din$ materiale plastice ca poli(inil, colodiu,
polistirol= din metale ca beriliu, aluminiu= sau din cuar, carbon a
3n cazul pulberilor, acestea sunt mcinate fin apoi dispersate "ntr-un mediu care s nu
dizol(e suportul pe care se aeaz proba i care s se e(apore complet e(itnd aglomerarea
particulelor
Metode indirecte
%ceste metode, denumite i metodele replicilor, utilizate "n cazul materialelor opace la
flu0urile de electroni, folosite mult "n metalografia electronic, constau "n obinerea unor
amprente de pe suprafaa de analizat, cu un material din genul celor utilizate ca suport "n cazul
-ig 553 > Ibinerea replicii cu o singur treapt )a/ i cu dou trepte )b/
metodelor directe %ceste replici, care aezate pe suprafaa probei primesc relieful probei, au
grosimi de ordinul 500 G 1 000 @ 3n cazul "n care se folosete replica luat direct de pe prob
)fig 553 a/ care d 4negati(ul5 reliefului probei, aceasta este numit replica cu o

singur
treapt, iar "n cazul cnd de pe aceast replic se ia o a doua replic, care are acelai relief cu
proba )fig 553 b/, replica se numete cu dou trepte *entru determinarea "nlimii detaliilor
ct i pentru punerea "n e(ident a unor detalii cu "nlimi, sub puterea de rezoluie a
microscopului, se folosete metoda de umbrire, care permite mrirea contrastului imaginii
prin dispunerea "n (id, pe prob sau pe replic, a unei pelicule metalice )%u, <r, *t, *d etc/
sub un anumit ung2i
5.6.3.*. STUDIUL STRUCTURII PRIN METODA REPLICILOR
*e lng multiplele aplicaii ale microscopiei electronice redate "n detaliu "n cadrul
fiecrui tip de microscop electronic, prin folosirea replicilor se obin detalii structurale
inaccesibile altor metode, "n felul acesta, microscopia electronic permite, prin utilizarea
metodei replicilor, s fie studiate forma i dimensiunile diferitelor microgranule i
microcristalite a celor mai diferii compui c2imici organici i anorganici, precum i ale
di(erselor incluziuni nemetalice insolubile care se aglomereaz la limita dintre granule "n
metale i alia'e, uurnd identificarea lor
:ot pe aceast cale se studiaz structura domeniilor de magnetizare a substanelor
feromagnetice, se determin grosimea pereilor 1loc2 ce separ domeniile magnetice i se
stabilete forma i dimensiunea benzilor 1itter-%Aulo( la limita dintre aceste domenii
T)+$#&, -) ,&'!)"#") .$ -/01/ (2",2 !)$2"/ %#&"'(&'!#,
)1)&2"'$#&3 -) )%#(#) 4# &"#'(&,$,")
?magistica probelor obinute prin "ng2eare rapid este cea mai direct abordare pentru
microscopia electronic a materialelor organice, putnd s pre(in fi0area c2imic i erorile
datorate uscrii probelor *robele "ng2eate pot fi replicate i analizate imagistic "n :+M sau
pot fi direct (izualizate utiliznd crio-,+M :e2nica de acoperire "n dublu strat combin
aceste dou te2nici i prezint multe dintre a(anta'ele lor %stfel proba "ng2eat este
acoperit, "n acelai mod utilizat "n :+M, cu un strat de platin )sub un ung2i de 85
o
/ i cu un
strat de carbon, ulterior fiind transferat "n ,+M ec2ipat cu o suprafa rece i analizat
imagistic prin microscopie electronic de emisie care (a rele(a modul de distribuie al
platinei
*rin aceast metod sunt reduse semnificati( erorile datorate "ncrcrii i efectele
distructi(e ale fasciculelor incidente #ei pn "n prezent rezoluia te2nicii de replicare nu a
putut fi "mbuntit, aceast metod faciliteaz mult procesarea probelor "ng2eate, cu
fragilitate mare, reducnd semnificati( manipularea materialelor analizate
Microscopia electronic de baleia' ),+M/ de rezoluie "nalt are potenial unic de a
(izualiza structurile de la rezoluia macroscopic pn la ni(el molecular %stfel este capabil
s umple golul dintre te2nicile moleculare biologice, precum difracia cu raze 6 pe de o parte
i te2nicile de microscopie optic )cu rezoluii de ordinul micronilor/, pe de alt parte %stfel
,+M cu rezoluie "nalt permite studiul macromoleculelor "n conte0tul comple0 al celulelor,
organitelor i organismelor mici
:e2nica ,+M este capabil s redea doar imaginea suprafeei fizice ;a ma'oritatea
probelor biologice "ns, structurile de interes sunt situate profund )"n interiorul celulelor sau al
esuturilor/ sau sunt acoperite de o pelicul apoas *entru a a(ea acces la aceste structuri,
specimenul trebuie desc2is prin fracturare sau prin secionare sau trebuie "nlturat pelicula de
ap, aceste procedee fiind (alabile doar "n cazul probelor solide <el mai simplu mod de a
solidifica o prob biologic este "ng2earea :otui microscopia de "nalt rezoluie cu baleia' a
probelor "ng2eate ridic o serie de probleme specifice cum ar fi des2idratarea datorat
iradierii cu fasciculul electronic i "ncrcrii %ceste probleme sunt parial soluionate
utiliznd te2nica de acoperire "n dublu strat
Obinerea de imagini cu ajutoru micro!co"iei eectronice de
emi!ie.
*robele neconductoare sunt acoperite cu un strat metalic subire cu scopul creterii
conducti(itii lor electrice, fcnd astfel posibil localizarea semnalului pe suprafaa probei
%cest procedeu are o serie de limite "n sensul c pentru studiile de "nalt rezoluie, stratul
metalic trebuie s fie suficient de subire pentru a nu masca caracteristicile morfologice de
mici dimensiuni *e de alt parte conducti(itatea electric scade odat cu scderea grosimii
stratului metalic, fenomen ce duce la apariia erorilor de "ncrcare "n cazul folosirii semnalului
electronilor secundari emii de probele (oluminoase i cu asperiti 3n plus, probele 2idratate
prin "ng2eare prezint fragilitate crescut la penetrarea de ctre fasciculul electronic I
alternati( o constituie folosirea semnalului electronilor "mprtiai de material pentru
obinerea imaginilor
3n figura 1a, este prezentat imaginea suprafeei unei frunze, "ng2eat "n azot lic2id i
acoperit prin pul(erizare cu un strat de platin cu o grosime de 5 nm, obinut prin captarea
semnalului electronilor secundari ,e obser( un semnal foarte luminos care nu corespunde cu
morfologia suprafeei i poate fi interpretat ca un efect de "ncrcare )sarcin/ ?maginile
obinute prin 1,+ sunt "ns mult mai uor de interpretat, depresiunile aprnd "ntunecate iar
proeminenele luminoase, fr ca "ncrcarea probei s afecteze imaginea
-ig 1 > ?maginea unei frunze de mr obinut prin ,+ )1a/ i 1,+ )Do J 10AD/ )1b/ K1!L
:otui contrastul imaginii obinute prin 1,+ este relati( slab, fapt demonstrat "n figura
F ,-a utilizat o folie de carbon acoperit prin pul(erizare cu un strat de platin cu grosimea de
F nm ;a o magnificaie semnificati( granulele indi(iduale de platin sunt (izibile clar "n
imaginea obinut prin ,+ <omparati( cu aceasta, imaginea obinut prin 1,+ prezint un
zgomot de fond accentuat %stfel, pentru a putea e0ploata la ma0imum semnalul 1,+, este
ne(oie de un detector foarte sensibil
-igF > -olie de carbon acoperit cu un strat de platin ?magine mrit 0 500000 K1!L
Fa > ?magine obinut prin ,+
Fb > ?magine obinut prin 1,+
Aco"erirea #n dubu$!trat a "robeor %idratate &i #ng%eate '(LC)
*robele biologice acoperite cu un strat uniform sunt frec(ent distruse la penetrarea de
ctre fascicolul electronic, fapt care creeaz probleme de acoperire i semnal 1,+ slab
-igura 3 > comparaie "ntre imagini ale fragmentelor de esut pulmonar murin obinute prin te2nicile
,+ i 1,+ K1!L
3a > ,emnal ,+ generat la suprafa
3b > ,emnal generat de electronii disperai la ni(elul stratului de platin aflat "n contact intim cu
structurile biologice de interes
3c > ?magine obinut prin ,+ ,e obser( distorsiunile generate de (aporii de ap contaminani
3d > ?magine obinut prin 1,+ ,tructurile biologice sunt clar (izibile, fr distorsiuni
#e aceea se poate folosi o metod de acoperire similar cu te2nica de replicare pentru
:+M *roba este iniial acoperit cu un strat de metal greu gros de 1-3 nm, care (a genera
contrastul i ulterior cu o manta de carbon de 5-10 nm care (a stabiliza mecanic proba i (a
reduce semnificati( pierderea de mas cauzat de fasciculul electronic K1M,F0L <nd o astfel
de prob acoperit "n dublu strat este in(estigat cu electroni secundari )fig3a/ se obine
imaginea mantalei de carbon la suprafaa creia se acumuleaz frec(ent (apori de ap
contaminani 3ns electronii dispersai la ni(elul stratului de platin reuesc s penetreze att
stratul de carbon, ct i contaminanii )fig 3b/
-igurile 3c i 3d prezint o zon de esut pulmonar "ng2eat aflat sub presiune "nalt
3n imaginea obinut prin ,+ )fig 3c/, suprafaa probei prezint zone neclare "ntinse, cauzate
de (aporii de ap contaminani %ceast contaminare s-a produs "n mare parte "n timpul
proceselor premergtoare analizei ?maginea obinut prin 1,+ )3d/ este mult mai puin
contaminat, iar distribuia platinei este (izibil, e(ideniind straturile fracturate i porii
nucleari
1?1;?IN.%-?+
1 1allO, #, Metode $i%ice !n studiul corpului solid, +dit didactic i pedagogic,
1ucureti, 1MHH
F <olan, P, -ilipescu, M, 1icsaA, +, Studiul metalelor, +dit didactic i
pedagogic,,1ucureti, 1MH!
3 -reund, P, &andbuc' der Mi'ros(opie in der )ec'ni(, *ms'an Verla+, -ranAfurt
Main, 1M57
8 N"dea, ,uzana i colab, ,ndrumar de laborator pentru metalur+ie $i%ic", +dit
didactic i pedagogic, 1ucureti, 1MH7
5 Nlazuno(, D, Metallo+rap'ie, #unod, *aris, 1M51
H PabraAen, ;, de 1rouQer, ; R, -ases de la metalo+rap'ie, #unod, *aris, 1MH!
7 Pall, ++, .ntroduction to electron microscop/, McNraQ Pill, SeQ TorA, 1M53
! Peindenrei2, # ., undamentall o$ transmission electron microscop/, ?nterscience
*ublis2ers, SeQ TorA, 1MH8
M Magnan, <, )raite de microscopie electroni0ue, Permann, *aris, 1MH1
10 Mic2el, U, 1ie Mi(rop'oto+rap'ie, Sprin+er Verla+, Bien, 1M57
11 Sestler, <N, +infu2rung in die +leAtronenmetallograp2ie, VE- 1eutsc'er Verla+,
;eipzig, 1MH1
1F Sitzsc2e, U, 2er(sto$$pru$un+ 3on Metallen, D+1 #eutsc2er Derlag, ;eipzig, 1MHM
13 *ic2t, R, PeOdenreic2, R, Einju'run+ in die Ele(tronenmi(ros(opic, D+1 Derlag
:ec2niA, 1MHH
18 *op, ? i colab, Structura corpului solid, +dit %cademiei, 1ucureti, 1M71
15 .oss, %, Precis de metallo+rap'ie appli0uee, #unod, *aris, 1M51
1H ,c2umann P, Metalur+ia $i%ic" )traducere din limba german/, +dit te2nic,
1ucureti, 1MH8
17 BOcAoff, NB., Electron Microscop/ )ec'ni0ue and Applications,
?nterscience, SeQ TorA, 1M8M
1! * Balt2er, M MVller - 1ouble La/er Coatin+ $or ield Emission Cr/o Scannin+
Electron Microscop/ 4 Present State and Applications ,<%SS?SN Dol1M, 383-38! )1MM7/
1M Balt2er *, Pentsc2el R$ .mpro3ed representation o$ cell sur$ace structures b/ $ree%e
substitution and bac(scattered electron ima+in+. Scannin+ Microsc 1M!M, 3, ,upplement 3,
F01-F11 )1M!M/
F0 Balt2er *, <2en T, MalecAi M, ,teffen Woran ,;, ,c2atten N*, *aQleO R1$
Scannin+ Electron Microscop/ o$ &i+' Pressure ro%en Sea *rc'in Embr/os. Scannin+
Microsc 7, 1F!3-1FM3 )1MM3/