Sunteți pe pagina 1din 7

6.

NCERCRI DE FIABILITATE
6.1 CLASIFICARE
6.1.1 Dup scopul urmrit
De investigare
Pentru determinarea indicatorilor de fiabilitate
De omologare
6.1.2 Dup importa!a "ispo#iti$%lor supus% &c%rcrii
Standuri simple
ncercri asupra dispozitivelor simple N
0
mare
Nivel de ncredere ridicat
ncercri asupra dispozitivelor cu standuri mai complexe
grad mijlociu de complexitate (subansambluri) N
0
mai mic
standuri complexe
ncercri asupra dispozitivelor complexe N
0
mic
Nivel de ncredere sczut
6.1.' Dup co"i!iil% & car% ar% loc (uc!ioar%a "ispo#iti$%lor
ondi!ii de func!ionare n cazul automobilelor"
- clim # temperatura $i presiunea atmosferice% umiditate% precipita!ii% v&nt'
- ncrcare # ncrcarea automobilului% intensitatea traficului% declivitatea
drumului
- mediu ambiant # starea drumului% densitatea prafului atmosferic'
- materiale utilizate # combustibili% lubrifian!i% lic(id de rcire etc'
- utilizator # nivel de calificare% stil de conducere% calitatea $i frecven!a
opera!iilor de mentenan!)
n condi!ii normale
*ccelerate # condi!iile de func!ionare se nspresc n scopul grbirii
apari!iei defec!iunilor' aceasta nu trebuie s afecteze natura fenomenelor
ci numai intensitatea lor
6.1.) Dup proc%"ura utili#at
ncercri cenzurate # se derulaz p&n la producerea unui numr de
defec!iuni stabilit ini!ial'
+runc(iate # se deruleaz o perioad de timp stabilit ini!ial'
Secven!iale # la producerea fiecrei defec!iuni se compar timpul total de
func!ionare cu dou valori limit corespunztoare nivelurilor ,acceptabil-%
respectiv ,neacceptabil- ale fiabilit!ii dispozitivelor ncercate' dac timpul
total de func!ionare se situeaz ntre cele dou valori de referin!% testul
de consider neconcludent $i se continu p&n la producerea urmtoarei
defec!iuni% c&nd procedura se repet)
26.*).2*1'
6.2 NCERCRI CEN+,RATE
Caract%ristica &c%rcrilor c%#urat%-
S% "%rula# p. la pro"uc%r%a uui umr "% "%(%c!iui/ 0r1/ stabilit
iniial.
r . N
/)
Scopuri-
57
Determinarea valorii aproximative a MTBF pentru un eantion de
dispozitive la care se nregistreaz un numr r de defec!iuni'
Determinarea intervalului de timp n care se afl valoarea MTBF pentru
ntreaga populaie de dispozitive% accept&ndu0se un nivel de risc (sau
un nivel de ncredere p = 1 0 ).
a) c%rcri c%#urat% (r &locuir% # dispozitivele defectate nu se nlocuiesc)
2 ncercare efectuat asupra unui e$antion alctuit din N
/
dipozitive este
cenzurat la nivelul ,r- dac se nc(eie n momentul t
r
de apari!ie a celei de a r # a
defec!iuni% numrul r N
/
fiind ales nainte de nceperea ncercrii)
N
N
0
N
0
# r . . .
r+1
r
r - 1
. . .
3
4
1
t
1
t
4
t
3
t
r-1
t
r
t
Timpul total de bun funcionare:
b) c%rcri c%#urat% cu &locuir% # dispozitivele defectate se nlocuiesc
imediat dup producerea defec!iunii i se urmre te evolu ia noilor dispozitive)
N
N
0
*
N
0
*

-1
. . .
r
. . .
3% N
0
*
53
4% N
0
*
+4% N
0
*
5r01
1% N
0
*
+1%N
/
6
5r04
t
1
t
4
t
3
. . . t
r-2
t
r-1
t
r
t
S0a notat cu N
0
*
numrul de dispozitive din care a fost alctuit ini!ial e$antionul)
Timpul total de bun funcionare:

7ela!iile urmtoare sunt valabile pentru oricare din cele dou tipuri de ncercri
cenzurate)
Valoarea aproximativ a MTBF pentru eantion:
58
T = N
0
*
t
r
r
T
=
( )
r
r
i
i
t r N t T + =
=
/
1
Limitele intervalului n care se afl valoarea MTBF pentru ntreaga
populaie de dispoitive
!elaiile preentate n continuare sunt aplicabile n caul n care
dispoitivele se afl n perioada vieii utile" atunci c#nd acionea legea
exponenial$
a) cazul intervalului centrat"
% limita inferioar'
% limita superioar%
unde este pragul de semnifica!ie' nivelul de ncredere este p 8 1 0 .
b) cazul intervalului necentrat"
% limita inferioar'
% limita superioar)
6.' NCERCRI TR,NC2IATE
Caract%ristica &c%rcrilor truc3iat%-
Se deruleaz p&n la un moment% 0t
%
&% fixat a priori)
Scopuri-
Determinarea valorii aproximative a MTBF pentru un %4atio de
dispozitive la care% pe durata t
*
, se nregistreaz un numr r de defec!iuni'
Determinarea intervalului de timp n care se afl valoarea MTBF pentru
ntreaga populaie de dispozitive% accept&ndu0se un nivel de risc (sau
un nivel de ncredere p = 1 0 )
a5 c%rcri truc3iat% (r &locuir% # dispozitivele defectate nu se
nlocuiesc)
N
N
0
N
0
# r . . .
r+1
r
r - 1
. . .
3
4
1
59

=
4
% 4
4
4
1

r
T
m
c

=
4
1 % 4
4
4
4

r
T
m
c
( ) % 4
4
4
1
r
T
m
n
=
( )
=
1 % 4
4
4
4
r
T
m
n
t
1
t
4
t
3
t
r-1
t
r
t
*
t
Timpul total de bun funcionare:
b) c%rcri truc3iat% cu &locuir% # dispozitivele defectate se nlocuiesc
imediat dup producerea defec!iunii)
N
N
0
*
N
0
*

-1
. . .

. . .
3% N
0
*
53
4% N
0
*
+4% N
0
*
5r01% N
0
+r
1% N
0
*
+1%N
/
6
5r04
/ t
1
t
4
t
3
. . . t
r-2
t
r-1
t
r
t
*
t
Timpul total de bun funcionare:

7ela!iile urmtoare sunt valabile pentru oricare din cele dou tipuri de ncercri
trunc(iate)
Valoarea aproximativ a MTBF pentru eantion:
" unde r este numrul de dispoitive defectate n
timpul experimentului$
Limitele intervalului n care se afl valoarea MTBF pentru ntreaga
populaie de dispoitive
!elaiile preentate n continuare sunt aplicabile n caul n care
dispoitivele se afl n perioada vieii utile" atunci c#nd acionea legea
exponenial$
a) cazul intervalului centrat"
% limita inferioar'
% limita superioar%
unde este pragul de semnifica!ie' nivelul de ncredere este p 8 1 0 .
b) cazul intervalului necentrat"
60
( ) 6
/
1
t r N t T
r
i
i
+

=
=
T = N
0
*
t
*
r
T
=

+
=
4
% 4 4
4
4
1

r
T
m
c

=
4
1 % 4
4
4
4

r
T
m
c
( ) % 4 4
4
4
1
+
=
r
T
m
n
% limita inferioar'
% limita superioar)
Dac o ncercare cenzurat la nivel 0r1 dureaz prea mult% ea se poate
transforma ntr0o ncercare trunc(iat la momentul 0t
%
&)
*6.*7.2*12
6.) NCERCRI SEC8EN9IALE
Scop-
Se urmre$te verificarea nivelului de fiabilitate al unor dispozitive pe baza 9+:;)
Caract%ristica &c%rcrilor s%c$%!ial%-
n cazul ncercrilor secven!iale se adopt ini!ial dou valori de referin!
pentru 9+:; # una inferioar% respectiv una superioar) <a apari!ia fiecrui defect se
compar timpul cumulat de func!ionare nregistrat la e$antionul studiat pentru
dispozitivele care s0au defectat cu valorile corespunztoare momentului respectiv
calculate pe baza celor dou limite ale 9+:; alese ini!ial) Dac timpul cumulat de
bun func!ionare nregistrat experimental este mai mare dec&t cel calculat
corespunztor valorii superioare a 9+:;% atunci produsele sunt acceptate' dac el
este mai mic dec&t timpul calculat pentru valoarea inferioar a 9+:;% produsele sunt
declarate necorespunztoare) n cazul n care valoarea ob!inut experimental se afl
ntre cele calculate% rezultatul este considerat neconcludent% iar testul se continu
p&n la producerea defec!iunii urmtoare% c&nd analiza se reia n acela$i mod)
Se iau n considera!ie riscul productorului $i al beneficiarului"
- reprezint probabilitatea de respingere a unui dispozitiv corespunztor
(riscul productorului)'
- 1 este probabilitatea de acceptare a unui dispozitiv corespunztor'
- este probabilitatea de acceptare a unui dispozitiv necorespunztor
(riscul beneiciarului)'
- 1 este probabilitatea de respingere a unui dispozitiv necorespunztor)
Se definesc"
- M
i
# limita inferioar a MTBF'
- M
s
# limita superioar a MTBF!
Dac MTBF = m > M
s
, dispozitivele sunt declarate corespunztoare)
Dac MTBF = m < M
i
, dispozitivele sunt declarate necorespunztoare)
Se formuleaz ipotezele"
=
/
# ipoteza potrivit creia m M
s
, n care caz dispozitivele sunt acceptate'
=
1
# ipoteza potrivit creia m M
i
, n care caz dispozitivele se resping)
Se noteaz" $i )
Probabilitatea de producere a r defec!iuni atunci c&nd dispozitivele se afl n
p%rioa"a $i%!ii util% se determin cu ajutorul legii Poisson pentru cazul legii
exponen!iale"
% n care"
61
( )
=
1 % 4
4
4
4
r
T
m
n
1
1
>

a
1
1
<

b
m
T
r
r
m
T
r

= e
>
1
P
T este timpul cumulat de func!ionare pentru cele r dispozitive care s0au defectat'
m # MTBF)
Pentru situa!iile corespunztoare celor dou valori de referin! ale MTBF rezult"
i
M
T
r
i
ri
M
T
r
"

= e
>
1
'
s
M
T
r
s
rs
M
T
r
"

= e
>
1
'
T
M M
r
i
s
rs
ri s i
M
M
"
"

=
1 1
e
)
*cest raport se compar cu mrimile a $i b definite anterior)
Dac
a
"
"
rs
ri
>
% se respinge =
/
$i se accept =
1
(dispozitivele se resping))
Dac
b
"
"
rs
ri
<
% se respinge =
1
$i se accept =
/
(dispozitivele sunt acceptate))
Dac
a
"
"
b
rs
ri
< <
% se continu testul)
ondi!ia de continuare a testului se mai poate scrie $i sub forma"
a
M
M
b
T
M M
r
i
s s i
<

<


1 1
e
)
Prin logaritmare se ob!ine"
a T
M M M
M
r b
s i i
s
ln
1 1
ln ln <

<
% sau
T
M M
a
M
M
r T
M M
b
s i i
s
s i

+ < <

+
1 1
ln ln
1 1
ln
% rela!ie ce poate fi scris $i sub
forma"

care reprezint% la limit% ecua!iile a dou drepte ce delimiteaz trei domenii n planul
graficului"
# + BT $ r$ % + BT!
?nde i )
<a limit% rezult valorile de referin pentru timpul cumulat de func ionare
corespunztor numrului r de dispozitive defectate"
B
#
r
B
T =
1
sup
;
B
%
r
B
T =
1
inf
.
62
T
M
M
M M
M
M
a
r T
M
M
M M
M
M
b
i
s
s i
i
s
i
s
s i
i
s

+ < <

+
ln
1 1
ln
ln
ln
1 1
ln
ln
i
s
M
M
b
#
ln
ln
=
,
i
s
s i
M
M
M
&
M
&
B
ln

=
i
s
M
M
a
%
ln
ln
=

ondi!iile de acceptare sau respingere a dispozitivelor devin"


0 dac % dispozitivele sunt acceptate'
0 dac % dispozitivele se resping)
2 reprezentare grafic a desf$urrii unui astfel de test poate avea una din
formele prezentate n figura urmtoare)
T Dispo#iti$%l% s%
acc%pt T%st
:ipot%#a 2* %st% %coclu"%t
$ala;il5
Dispo#iti$%l%
sut r%spis%
:%st% $ala;il ipot%#a 215
/ 1 4 3 @ A B C D E 1/ 11 14 r
63
B
#
r
B
&
T T = >
sup
B
%
r
B
&
T T = <
inf
B
#
r
B
T =
1
sup
B
%
r
B
T =
1
inf