Documente Academic
Documente Profesional
Documente Cultură
0
relatie de mare important ntre indicatorii de fiabilitate.
Media timpului de functionare este
m tf t dt =
}
( )
0
si dup o integrare prin prti
m R t dt =
}
( )
0
Aceasta este media timpului pn la defectare (Mean Time To Failure MTTF). Defectarea
este presupus unic. n cazul readucerii (repetate) a sistemului la parametrii initiali, dup
fiecare defectare se poate vorbi de timpul mediu ntre dou defectri succesive (Mean Time
Between Failure MTBF). n cazul readucerii sistemului ntr-o stare diferit de cea initial
media m se refer la timpul mediu pn la prima defectare (Mean Time To First Failure
MTTFF). S-au dat aici si denumirile n limba englez si prescurtrile lor deoarece n multe
lucrri din domeniu att denumirile ct si prescurtrile sunt utilizate ca atare.
O alt medie important este
m t R t t x dx
R t
R u du
t
( ) ( , )
( )
( ) = + =
} }
0
1
Aceasta este media timpului de functionare rmas pn la defectarea unui sistem. Pentru t =
0, media ultim coincide cu media din relatia anterioar.
0 2 4 6 8 10 12 14 16 18 20
0
0.2
0.4
0.6
0.8
1
1.2
1.4
R(t)
f(t)
z(t)
Durata (u.t.)
D
e
n
s
i
t
a
t
e
,
F
i
a
b
i
l
i
t
a
t
e
,
R
a
t
a
d
e
f
e
c
t
a
r
i
i
Se calculeaz uneori si o dispersie a timpului de functionare
D t m f t dt D = =
}
( ) ( ) ;
2
0
o
Aceast dispersie msoar gradul de uniformitate a performantelor unor sisteme identice. O
tenhologie bine pus la punct n productia acelor sisteme conduce la dispersii mici.
Se pot defini, de asemenea, cvantile ale timpului de functionare ca solutii ale ecuatiei
F t ( )
o
o = cu o probabilitate specificat, legat de cele mai multe ori de un timp de
garantie.
n evaluarea a dou sisteme sub aspectul fiabilittii se compar mai multi parametri,
n raport cu situatia concret. n figura alturat sistemul 1 este potrivit pentru o durat de
utilizare limitat, inferioar celei care corespunde punctului de intersectie a graficelor pentru
fiabilitti; sistemul 2 este potrivit unei misiuni tehnologice nedefinite ca durat. Se mai pot
compara mediile timpilor de functionare pn la prima defectare si alte valori caracteristice.
0 2 4 6 8 10 12 14 16 18 20
0
0.1
0.2
0.3
0.4
0.5
0.6
0.7
0.8
0.9
1
R1(t)
f1(t)
R2(t)
f2(t)
Durata (u.t.)
D
e
n
s
i
t
a
t
i
,
F
i
a
b
i
l
i
t
a
t
i
Metode de estimare a calitii metoda demeritelor
Metoda se recomand n urmtoarele cazuri: produse complexe i finite; fabricaie de serie; n
etapa final a procesului de fabricaie; la producia nefracionat n loturi. Principiul metodei
const dintr-o clasificare a defectelor i adoptarea unui sistem de ponderi corespunztoare
(tabelul 1). Un produs poate avea unul sau mai multe defecte din categorii diferite. n mod
arbitrar se adopt un anumit sistem de ponderi. Dac se noteaz numrul defectelor pe
categorii:
c
n
,
p
n
,
m
n
,
m
n
i ponderile respective
c
,
p
,
s
i
m
(1) , unde
Grupul de fiabilitate al rezistorilor (G2)
Grupul de fiabilitate al condensatoarelor (G3)
Grupul de fiabilitate al tranzistorului (G4)
Calculnd rata de defectare pentru fiecare grup obinem : = 0,052 , = 0,725 ,
= 0,486 , = 0,138
Putem deci considera schema echivalent :
0.115 0.115 0.125 0.125 0.245
0.013 0.013 0.013 0.013
0.243 0.243
0.138
d) Estimarea calitii utiliznd metoda demeritelor
Se consider un numr N de 80 de circuite identice. La acestea se constat un numr de defecte,
conform tabelului urmtor:
Categoria Defectelor Numr defecte Puncte de penalizare
Critic 13 100
Principal 14 50
Secundar 12 10
Minor 15 1
Demeritul se va calcula utiliznd relaia :D =
(2)
Astfel : D =
= 26,68
e) innd cont de MTBF a circuitului prezentat i de schema echivalent de fiabilitate , se poate obine
un circuit cu MTBF superior astfel :
1. Se vor nlocui lipiturile manuale cu lipituri automate
2. Se vor nlocui rezistoarele cu pelicul de carbon cu rezistoare cu pelicul metalic
Astfel : MTBF =