UNIVERSITATEA

POLITEHNICA
BUCURESTI
Stiina i managementul
testrii materialelor
Acreditarea unui laborator de analize
chimice si fizice
pentru caracterizarea nano-biomaterialelor
Eiia! "
Re#i$ia! %
Pagina 2 din 19
CO&! UPB'SI()PO()%*
Stiina i managementul
testrii materialelor
CO&! UPB'SI()PO()%*
Intocmit
Iordache Vasile Sorin
Semnatura
UNIVERSITATEA
POLITEHNICA
BUCURESTI
Stiina i managementul
testrii materialelor
Acreditarea unui laborator de analize
chimice si fizice
pentru caracterizarea nano-biomaterialelor
Eiia! "
Re#i$ia! %
Pagina 3 din 19
CO&! UPB'SI()PO()%*
Verificat/Aprobat
Conf. Univ. Dr. Ing. Ion Pencea
Acreditarea unui laborator de analize
chimice si fizice
pentru caracterizarea nanobiomaterialelor
4
UNIVERSITATEA
POLITEHNICA
BUCURESTI
Stiina i managementul
testrii materialelor
Acreditarea unui laborator de analize
chimice si fizice
pentru caracterizarea nano-biomaterialelor
Eiia! "
Re#i$ia! %
Pagina 4 din 19
CO&! UPB'SI()PO()%*
Cuprins
Capitolul I
!anomaterialele " generalitati
Pag
#
Capitolul II #
Difractia de raze $ si spectrometria de absorbtie atomica.
%etode de incercare propuse pentru acreditare
Capitolul III 3
Sistemul de management al calitatii
din &aboratorul de Analize Chimice si 'izice
Capitolul IV (
PS ))* Procedura specifica pentru determinarea continutului de
cadmiu din biomateriale
Capitolul V +
PS ))( Procedura specifica pentru determinarea continutului de calciu
din biomateriale
Capitolul VI ,
PS ))- Procedura specifica pentru determinarea continutului de
plumb din biomateriale
Capitolul VII ..
PS ))+ Procedura specifica pentru e/aminarea prin
difractie de raze $ pe pulberi anorganice de nanobiomateriale
Capitolul VIII .+
Concluzii
Capitolul I !anomaterialele
generalitati
Nanomaterialele sunt materiale avansate cu proprietati chimice si fizice superioare,
caracterizate prin dimensiuni de cristalit in scara nanometrica si implicit valori ridicate ale
raportului aria suprafetei/volum. Acestea pot fi metale si aliaje metalice, ceramice, polimeri, compozite
si materiale hibride organic/anorganic. Ceramicele nanostructurate ocupa un loc prioritar datorita
aplicatiilor de inalta tehnicitate in care pot fi folosite.
Nano-biomaterialele sunt biomateriale care au structura cu cristalite de dimensiuni nanometrice.
Nanomaterialele, materiale cu valoare adaugata ridicata isi fac tot mai simtita prezenta in diverse
aplicatii de inalta tehnicitate, iar medicina reprezinta un domeniu cu un potential imens de utilizare a
acestor tipuri de materiale. Piata biomaterialelor si a nanotehnologiilor, antreneaza
deja un spectru larg de specialisti din domeniul medicinei, chimiei, fizicii, stiintei materialelor
etc! cu activitati legate de sinteza, caracterizarea si utilizarea practica a nano-biomaterialelor. Pentru
domeniul de utilizare a biomaterialelor, in Comunitatea "uropeana e#ista $irective care,
impreuna cu standardele europene "N si "N %&' aferente, trebuie sa fie adoptate si in
(omania. Cu toate acestea, chiar si la nivel international legislatia si standardizarea nu au tinut pasul cu
evolutia rapida a nanomaterialelor si nanotehnologiilor destinate aplicatiilor medicale si nu numai.
Prezentul proiect a fost focalizat asupra nanomaterialelor cu aplicatii pentru sistemul de sanatate,
acesta fiind unul dintre domeniile reglementate prin directive europene si legislatia
nationala transpusa. Proiectul a urmarit dezvoltarea si acreditarea unui laborator modern si
competitiv pe plan national si international pentru caracterizare chimica si structurala fizica! a nano-
biomaterialelor.
Capitolul II
Difractia de raze $ si spectrometria de absorbtie atomica.
%etode de incercare propuse pentru acreditare
Cele doua metode de analiza propuse pentru acreditare prin proiectul NAN')%'*A+,A), se preteaza
caracterizarii biomaterialelor nanostructurate, investigatiile $(- pun in evidenta structura nanometrica a
materialului iar AA& reprezinta o metoda eficienta de analiza a elementelor nocive pentru organismul
uman.
$ifractie de raze - este o metoda de analiza versatila, nedistuctiva care poate furniza informatii
structurale si chimice detaliate cu privire la cristalografia unei game largi de materiale. +ehnicile
analitice -($, "$- si -(. sunt tot mai utilizate datorita domeniului mare de aplicabilitate
pentru investigatii cantitative si calitative. $ifractometria de raze - ofera o solutia completa pentru
caracterizarea materialelor celor mai diverse. Aceasta tehnica ofera posibilitatea de/
- a identifica fazele singure sau multiple dintr-o proba data necunoscuta0
- a rezolva structura cristalografica a unui material0
- a cuantifica fazele necunoscute aparute intr-un amestec0
- a analiza transformarile de faza aparute sub influenta modificarii temperaturii,
presiunii sau fazei gazoase0
- a analiza te#tura materialului0
- a analiza suprafata materialului0
- a analiza filme subtiri.
Ca urmare a activitatii in domeniu difracau aparut urmatoarele standarde generale privind
difractia de raza - pe probe policristaline si amorfe/
0! .1,#(. !ondestructive testing $ra2 diffraction from pol2cristalline and
amorphous material Part .3 4eneral principles. %n acest standard sunt definite principiile generale
ale difractiei de raze - pe materiale policristaline si amorfe/ pulberi sau materiale consolidate, etc. &unt
trecute in revista diferite tipuri de materiale, o larga varietate de analize si informatii ce pot fi obtinute
prin -(P$, dar enumerarea nu este completa.
0! .1,#(# !ondestructive testing $ra2 diffraction from pol2cristalline and
amorphous material Part #3 Procedures. &tandardul subliniaza procedurile de baza aplicate
in -(P$. *ajoritatea procedurilor sunt commune celor mai multe tipuri de difractometre si de
analize mentionate in "N 12345-1 6eneral Principles!. Pentru uzul frecvent sunt detaliate procedurile
care utilizeaza difractometrele in geometria )ragg-)rentano cu aplicatie in analiza de faza. &unt incluse
si aspecte legate de pregatirea probelor si de calitatea achizitiei datelor. +otusi, nici acest standard nu
este e#haustiv.
0! .1,#(1 !ondestructive testing $ra2 diffraction from pol2cr2stalline and
amorphous materials Part 13 Instruments. $efineste caracteristicile echipamentelor de
-($ pentru materiale policristaline si amorfe, impunand o serie de indicatori de calitate in aprecierea
difractometrelor.
%n tara, Comitetul +ehnic national pentru incercari nedistructive 7 C+ 48 7 a adoptat prin .ila de
Confirmare, in 4882 primele doua standarde europene, iar in 4885 pe al treilea/
S5 0! .1,#(.3#))1 "#aminari nedistructive. $ifractia radiatiilor - aplicate asupra materialelor
policristaline si amorfe. Partea 1/ Principii generale.
S5 0! .1,#(#3#))1 "#aminari nedistructive. $ifractia radiatiilor - aplicate asupra materialelor
policristaline si amorfe. Partea 4/ Proceduri.
S5 0! .1,#(13#))( "#aminari nedistructive. $ifractia radiatiilor - aplicate asupra materialelor
policristaline si amorfe. Partea 2/ Aparatura.
%n multe domenii de activitate cum ar fi protectia mediului, industria chimica, petrochimica, alimentara,
farmaceutica, cercetari geologice, investigatii criminalistice sunt necesare o serie de determinari de
elemente pe diverse tipuri de probe. Alegerea tehnicii corespunzatoare dintre metodele analitice
e#istente, este un pas important in activitatea oricarui laborator. Cele mai utilizate tehnici sunt
spectroscopia de absorbtie atomica AA! in flacara si cuptor cu grafit, spectroscopia de emisie optica in
plasma cuplata inductiv %CP-'"&! si spectrometria de masa in plasma cuplata inductiv %CP-*&!.
&electia corespunzatoare implica intelegerea fundamentului fiecarei tehnici dar si posibilitatile si
limitarile fiecarei ca si cunoasterea cerintelor de laborator privind capacitatea de detectie,
intervalul de lucru, tipul de proba si calitatea datelor.
%n termeni foarte simpli, absorbtia atomica este procesul care apare cand atomul aflat in stare
fundamentala absoarbe energie sub forma de lumina cu o anume lungime de unda si este trecut
intr-o stare e#citata. Cantitatea de energie luminoasa absorbita, caracterizata de respectiva lungime de
unda, va creste pe masura ce numarul de atomi din elementul selectat aflati in calea luminii, va creste.
(elatia dintre cantitatea de lumina absorbita si concentratia elementului analizat, prezenta in standardele
in vigoare, poate fi folosita pentru a determina concentratia unei probe necunoscute in functie de
cantitatea de lumina absorbita.
Capitolul III
Sistemul de management al calitatii
din &aboratorul de Analize Chimice si 'izice
Prin implementarea sistemului de management al calitatii in ,aboratorul de Analize Chimice si .izice
pentru caracterizarea nanobiomaterialelor, %*N( urmareste atat sustinerea activitatii interne la un
inalt nivel, cat si oferirea unor servicii recunoscute catre alti potentiali utilizatori din tara si strainatate.
Colectivul de lucru al proiectului a elaborat *anualul calitatii *CN) 1! impreuna cu procedurile
care il sustin conform &( "N %&'/C"% 19845/4885!. %n aceste documente sunt descrise in mod adecvat
toate activitatile si responsabilitatile specifice incercarilor chimice si fizice pentru caracterizarea
nanobiomaterialelor.
$in punct de vedere al calitatii, obiectivul principal il reprezinta mentinerea si imbunatatirea continua a
sistemului de management al calitatii in scopul de a satisface permanent cerintele
clientilor care beneficiaza de serviciile oferite de ,aboratorul Analize Chimice si .izice pentru
caracterizarea nanobiomaterialelor din cadrul %NC$*N(-%*N(.
,aboratorul a propus pentru acreditare patru incercari 2 incercari chimice si 1 fizica!/
- P& 884 Procedura specifica pentru determinarea continutului de cadmiu din biomateriale
- P& 885 Procedura specifica pentru determinarea continutului de calciu din biomateriale
- P& 88: Procedura specifica pentru determinarea continutului de plumb din biomateriale
- P& 889 Procedura specifica pentru e#aminarea prin difractie de raze - pe pulberi anorganice de
nanobiomateriale
Aceste proceduri specifice aferente celor patru incercari propuse pentru acreditare sunt sustinute
de o serie de proceduri specifice de lucru si instructiuni de operare/
-P& 881 Procedura de aliniere a difractometrului )ru;er $< A$=ANC" in configuratia )ragg-
)rentano.
- P& 884 Procedura de prelevare a probelor
- P& 882 Procedura specifica pentru determinarea masurarea unei probe standard de corindon
- %* 881 %nstructiuni de operare pentru spectrometru AA& >""nit 988 ANA,?+%C @"NA -
tehnica flacara
- %* 884 %nstructiuni de operare pentru operare baie de nisip *'$", 44, f. lli 6A,,% A P. snc
- %* 882 %nstructiuni de operare balanta analitica - &A(+'(%B& C"(D" A6
- %* 884 (egulament de lucru difractometrul cu radiatii - +%P $< A$=ANC" - )(BCD"(
Brmatoarele capitole ale acestui rezumat prezinta pe scurt cele 4 proceduri specifice de incercare
propuse pentru acreditare.
Capitolul IV
PS ))* Procedura specifica pentru determinarea
continutului de cadmiu din biomateriale
.. SC6P SI D6%0!IU D0 AP&ICA50
Aceasta procedura se aplica la determinarea continutului de Cd din hidro#iapatita utilizata in implanturi
chirurgicale. Cadmiul poate fi determinat in continut de ppm si procente cu precizarea ca dilutiile
probelor sa fie de concentratii corespunzatoare domeniului concentratiilor etaloanelor din curba de
calibrare.
#. 50'05I!70
!65%A7IV0
- *anualul de utilizare al spectrometrului de absorbtie atomica AA& >""nit 988 AnalEtic @ena.
- PEe Bnicam Atomic Absorption $ata )oo;
- &( %&' :355 *etode de analiza prin spectroscopie. "misie in flacara, absorbtie atomica si fluorescenta
atomica 7 vocabular.
- A.N'( N. +81-848 *Fthodes dGanalEse par spectroscopie
- A.N'( N. +81-841 &pectrometrie dGabsorbtion atomiHue
1. P5I!CIPIU&
%076D0I
Proba este adusa in solutie cu ICl si mici cantitati de IN'
2
. &olutia probei este aspirata in flacara
spectrometrului de absorbtie atomica. "nergia absorbita la linia de rezonanta a spectrului
cadmiului este masurata si comparata cu aceea a solutiilor de calibrare. Continutul de Cd poate fi
determinat in flacara C
4
I
4
/aer si se utilizeaza o solutie de DCl tampon care creste sensibilitatea
masurarii.
*.
0C8IPA%0!70
&pectrometrul de absorbtie atomica cu flacara - AA& >""nit 988 ANA,?+%C @"NA, cu o
sensibilitate foarte buna, care asigura liniaritatea curbei de calibrare, semnal stabil, prevazut cu arzator de
titan. Conditiile optime de lucru se stabilesc conform instructiunilor aparatului.
,ampa cu catod cavitar de Cd.
Compresor pentru aer comprimat si butelie de acetilena de inalta puritate. )aie
electrica de nisip.
)alanta analitica.
(.
50AC7IVI
5.1 ICl de concentratie 29J si puritate inalta.
IN'
2
de concentratie :5J si puritate inalta
&olutie 1J de DCl
Apa bidistilata
5.4 &olutie standard primara de Cd.
&e dizolva 8,5g cadmiu metalic spectral pur in 18m, acid clorhidric 5* si 4 picaturi IN'
2
. Cand
solubilizarea este completa se raceste si se trece intr-un balon cotat de 588m,, se adauga apa bidistilata
pana la semn si se omogenizeaza 1888mgCd/,!. &e pastreaza in balon de polietilena.
5.2 &olutie standard secundara de Cd.
&e transfera 18m, solutie 5.4 intr-un balon cotat de 188m, 188mg de Cd/,!. &e adauga apa bidistilata
pana la semn si se omogenizeaza.
5.4 &olutii de Cd pentru calibrare
&e transfera 8,80 8,20 8,50 1,80 40 si 2,8 m, din solutia 5.2 in baloane cotate de 188m,, se adauga
in fiecare cate 1m, solutie 1J DCl, 1m, IN'
2
, apa bidistilata pana la semn si se omogenizeaza.
-. %6DU& D0 &UC5U
&e cantaresc probele de analizat 8,5-1g cu precizie de K8,8881!, se trec in pahare )erzelius
decontaminate, se adauga 18-15m, apa bidistilata. &e solubilizeaza cu ICl 5m,! si mici
cantitati de IN'
2
1m,!, se trec paharele pe baia de nisip la cald, se acopera cu sticle de ceas si se lasa
pana la solubilizare. &olutia obtinuta trebuie sa fie perfect clara. $aca raman suspensii, se filtreaza
prin hartie de filtru banda alba, se spala filtrul cu portiuni mici de apa bidistilata. .iltrul se trece intr-o
capsula de platina, se arde si urmeaza o topitura pentru reziduul ramas cu un amestec fondant
carbonat dublu de Na si Da anhidru si bora#!. +opitura se solubilizeaza cu apa bidistilata si ICl
si se trece intr-un balon separat de filtratul obtinut anterior. &olutiile probelor se trec in baloane
cotate de 58m, cu adaos corespunzator de solutie de DCl 8,5m, sol.1J!, IN'
2
8,5m,!, apa bidistilata
si se omogenizeaza.
+. P504A7I50A APA5A7U&UI P0!75U
D0705%I!A50
&e pregateste spectrometrul conform instructiunilor de lucru pentru determinarea Cd. &e introduce
lampa cu catod cavitar in turela, se activeaza lampa si se seteaza parametrii optici. &e optimizeaza
conditiile de flacara automat prin stabilirea lungimii de unda, a inaltimii arzatorului, a debitelor de
gaze, a tipului de arzator folosit si tipul de flacara C
4
I
4
/aer!.
9. 75ASA50A CU5:0I D0 CA&I:5A50
&e aspira in flacara C
4
I
4
/aer solutiile de Cd premi#ate de la paragraful 5.4, succesiv in ordine
crescatoare a concentratiei de Cd. &e fac cate trei masuratori pe fiecare solutie si se inregistreaza media
lor.
,. %ASU5A50A P56:0&65 D0 A!A&I;A7
&e aspira apa bidistilata acidulata 8,5J IN'
2
!.
&e marcheaza in fereastra &amples numarul de probe pentru masurat. &e aspira solutie de
spalare 8,5J IN'
2
! intre solutiile probelor. &e efectueaza patru determinari pe proba si se noteaza
automat media lor.
.). %6DU& D0 CA&CU&
Continutul de Cd masurat se obtine din formula / Cd,
J L a M c! / b M 18888!
unde/ a 7 volumul balonului probei
b 7 masa in grame a probei luata in lucru c 7
concentratia dupa curba de calibrare
Aparatul AA& >""nit 988 afiseaza un raport de incercare de 4 pagini.
Capitolul V
PS ))( Procedura specifica pentru determinarea
continutului de calciu din biomateriale
.. SC6P
Aceasta procedura se aplica la determinarea continutului de Ca din hidro#iapatita utilizata in implanturi
chirurgicale. Calciul poate fi determinat in continut de ppm, procente si zeci de procente cu
precizarea ca dilutiile probelor sa fie de concentratii corespunzatoare domeniului concentratiilor
etaloanelor din curba de calibrare.
#.D6CU%0!70 D0 50'05I!7A
- *anualul de utilizare al spectrometrului de absorbtie atomica AA& >""nit 988 AnalEtic @ena.
- PEe Bnicam Atomic Absorption $ata )oo;
- &( %&' :355 *etode de analiza prin spectroscopie. "misie in flacara, absorbtie atomica si
fluorescenta atomica 7 vocabular.
- A.N'( N. +81-848 *Fthodes dGanalEse par spectroscopie
- A.N'( N. +81-841 &pectrometrie dGabsorbtion atomiHue
1.P5I!CIPIU&
%076D0I
Proba este adusa in solutie cu ICl si mici cantitati de IN'
2
. &olutia probei este aspirata in flacara
spectrometrului de absorbtie atomica. "nergia absorbita la linia de rezonanta a spectrului calciului
este masurata si comparata cu aceea a solutiilor de calibrare. Continutul de Ca poate fi determinat in
flacara C
4
I
4
/N
4
' sau C
4
I
4
/aer. %n flacara C
4
I
4
/aer se utilizeaza pentru determinarea continutului de
Ca o solutie de ,aCl
4
, care creste sensibilitatea masurarii si inlatura interferenta datorata continutului de
fosfor.
*.
0C8IPA%0!70
&pectrometrul de absorbtie atomica cu flacara - AA& >""nit 988 ANA,?+%C @"NA, cu o
sensibilitate foarte buna, care asigura liniaritatea curbei de calibrare, semnal stabil, prevazut cu arzator de
titan. Conditiile optime de lucru se stabilesc conform instructiunilor aparatului.
,ampa cu catod cavitar de Cd.
Compresor pentru aer comprimat si butelie de acetilena de inalta puritate. )aie
electrica de nisip.
)alanta analitica.
(.
50AC7IVI
5.1 ICl de concentratie 29J si puritate inalta.
IN'
2
de concentratie :5J si puritate inalta
&olutie 4J de ,aCl
4
Apa bidistilata
5.4 &olutie standard primara de Ca.
&e dizolva 1,44<9g carbonat de calciu anhidru in 45m, acid clorhidric 1N2!. Cand solubilizarea este
completa se raceste si se trece intr-un balon cotat de 588m,, se adauga apa bidistilata
pana la semn si se omogenizeaza 1888mgCa/,!. &e pastreaza in balon de polietilena.
5.2 &olutie standard secundara de Ca.
&e transfera 18m, solutie 5.4 intr-un balon cotat de 188m, 188mg de Ca/,!. &e adauga apa
bidistilata pana la semn si se omogenizeaza.
5.4 &olutii de Ca pentru calibrare
&e transfera 8,80 8,50 1,80 4,50 5,8 si 18,8 m, din solutia 5.2 in baloane cotate de 188m,, se adauga in
fiecare cate 1m, solutie 4J ,aCl
4
, 1m, IN'
2
, apa bidistilata pana la semn si se omogenizeaza.
-. %6DU& D0 &UC5U
&e cantaresc probele de analizat corespunzator continutului urmarit, se trec in pahare )erzelius
decontaminate, se adauga 18-15m, apa bidistilata. &e solubilizeaza cu ICl 5m,! si mici
cantitati de IN'
2
1-4m,!, se trec paharele pe baia de nisip, se acopera cu sticle de ceas si se lasa pana
la solubilizare. &olutia obtinuta trebuie sa fie perfect clara. $aca raman suspensii, se filtreaza prin hartie
de filtru banda alba, se spala filtrul cu portiuni mici de apa bidistilata. .iltrul se trece intr-o capsula de
platina, se arde si urmeaza o topitura pentru reziduul ramas cu un amestec fondant carbonat dublu de
Na si Da anhidru si bora#!. +opitura se solubilizeaza cu apa bidistilata si ICl si se trece intr-un
balon separat de filtratul obtinut anterior. &olutiile probelor se trec in baloane cotate de 488m,. &e
fac dilutii corespunzatoare concentrasiilor de Ca din curba de calibrare, cu adaos corespunzator de
solutie de ,aCl
4
, IN'
2
4m,!, apa bidistilata si se omogenizeaza.
+. P504A7I50A APA5A7U&UI P0!75U
D0705%I!A50
&e pregateste spectrometrul conform instructiunilor de lucru pentru determinarea Ca. &e introduce lampa
cu catod cavitar in turela, se activeaza lampa si se seteaza parametrii de lucru. &e optimizeaza conditiile
de flacara prin stabilirea lungimii de unda, a inaltimii arzatorului, a debitelor de gaze, a tipului de
arzator folosit si tipul de flacara C
4
I
4
/aer!.
&e aspira o solutie de etalon premi#at de la jumatatea curbei alternativ cu solutia de calibrare
zero pana cand se obtine un ma#imum de absorbanta si un consum minim de acetilena.
9.75ASA50A CU5:0I D0 CA&I:5A50
&e stabilesc conditiile de calibrare cu solutiile de Ca premi#ate de la paragraful 5.4.
Brmeaza citirea succesiva a solutiilor din seria de etaloane. &e fac cate trei masuratori pe fiecare
solutie si se inregistreaza media lor.
&e aspira solutiile de calibrare in ordinea crescatoare a concentratiei de Ca.
&e vizualizeaza forma curbei de calibrare, intervalul de confidenta si factorul (.
,. %ASU5A50A P56:0&65 D0 A!A&I;A7
&e aspira apa bidistilata acidulata 8,5J IN'
2
!.
&e marcheaza in fereastra &amples numarul de probe pentru masurat. &e aspira solutie de
spalare 8,5J IN'
2
! intre solutiile probelor. &e fac patru determinari pe proba si se noteaza automat
media lor.
.). %6DU& D0 CA&CU&
Continutul de Ca masurat se obtine din formula / Ca,
J L a M c! f / b M 18888!
Bnde/ a 7 volumul balonului probei
b 7 masa in grame a probei luata in lucru c 7
concentratia dupa curba de calibrare
f 7 factorul de dilutie al probei
Aparatul AA& >""nit 988 afiseaza un raport de incercare de : pagini.
18
18
Capitolul VI
PS ))- Procedura specifica pentru determinarea
continutului de plumb din biomateriale
.. SC6P SI D6%0!IU D0 AP&ICA50
Aceasta procedura se aplica la determinarea continutului de Pb din hidro#iapatita utilizata in implanturi
chirurgicale. Plumbul poate fi determinat in continut de ppm si procente cu precizarea ca dilutiile
probelor sa fie de concentratii corespunzatoare domeniului concentratiilor etaloanelor din curba de
calibrare.
#. D6CU%0!70 D0
50'05I!7A
- *anualul de utilizare al spectrometrului de absorbtie atomica AA& >""nit 988 AnalEtic @ena.
- PEe Bnicam Atomic Absorption $ata )oo;
- &( %&' :355 *etode de analiza prin spectroscopie. "misie in flacara, absorbtie atomica si fluorescenta
atomica 7 vocabular.
- A.N'( N. +81-848 *Fthodes dGanalEse par spectroscopie
- A.N'( N. +81-841 &pectrometrie dGabsorbtion atomiHue
1. P5I!CIPIU&
%076D0I
Proba este adusa in solutie cu ICl si mici cantitati de IN'
2
. &olutia probei este aspirata in flacara
spectrometrului de absorbtie atomica. "nergia absorbita la linia de rezonanta a spectrului
plumbului este masurata si comparata cu aceea a solutiilor de calibrare. Continutul de Pb poate fi
determinat in flacara C
4
I
4
/aer si se utilizeaza o solutie de DCl tampon care creste sensibilitatea
masurarii.
*.
0C8IPA%0!70
&pectrometrul de absorbtie atomica cu flacara - AA& >""nit 988 ANA,?+%C @"NA, cu o
sensibilitate foarte buna, care asigura liniaritatea curbei de calibrare, semnal stabil, prevazut cu arzator de
titan. Conditiile optime de lucru se stabilesc conform instructiunilor aparatului.
,ampa cu catod cavitar de Cd.
Compresor pentru aer comprimat si butelie de acetilena de inalta puritate. )aie
electrica de nisip.
)alanta analitica.
(.
50AC7IVI
5.1 ICl de concentratie 29J si puritate inalta.
IN'
2
de concentratie :5J si puritate inalta
&olutie 1J de DCl
Apa bidistilata
5.4 &olutie standard primara de Pb.
&e dizolva 8,5g plumb metalic spectral pur in 18m, acid azotic 4*. Cand solubilizarea este completa se
raceste si se trece intr-un balon cotat de 588m,, se adauga apa bidistilata pana la semn si se
omogenizeaza 1888mgPb/,!. &e pastreaza in balon de polietilena.
5.2 &olutie standard secundara de Pb.
&e transfera 18m, solutie 5.4 intr-un balon cotat de 188m, 188mg de Pb/,!. &e adauga apa bidistilata
pana la semn si se omogenizeaza.
5.4 &olutii de Pb pentru calibrare
&e transfera 8,80 8,50 1,80 4,50 5,8 si 18m, din solutia 5.2 in baloane cotate de 188m,, se adauga
in fiecare cate 1m, solutie 1J DCl, 1m, IN'
2
, apa bidistilata pana la semn si se omogenizeaza.
-. %6DU& D0 &UC5U
&e cantaresc probele de analizat 8,5-1g cu precizie de K8,8881!, se trec in pahare )erzelius
decontaminate, se adauga 18-15m, apa bidistilata. &e solubilizeaza cu ICl 5m,! si mici
cantitati de IN'
2
1m,!, se trec paharele pe baia de nisip la cald, se acopera cu sticle de ceas si se lasa
pana la solubilizare. &olutia obtinuta trebuie sa fie perfect clara. $aca raman suspensii, se filtreaza
prin hartie de filtru banda alba, se spala filtrul cu portiuni mici de apa bidistilata. .iltrul se trece intr-o
capsula de platina, se arde si urmeaza o topitura pentru reziduul ramas cu un amestec fondant
11
11
carbonat dublu de Na si Da anhidru si bora#!. +opitura se solubilizeaza cu apa bidistilata si ICl
si se trece intr-un balon separat de filtratul obtinut anterior. &olutiile probelor se trec in baloane
cotate de 58m, cu adaos corespunzator de solutie de DCl 8,5m, sol.1J!, IN'
2
8,5m,!, apa bidistilata
si se omogenizeaza.
+. P504A7I50A APA5A7U&UI P0!75U
D0705%I!A50
&e pregateste spectrometrul conform instructiunilor de lucru pentru determinarea Pb. &e
introduce lampa cu catod cavitar in turela, se activeaza lampa si se seteaza parametrii optici.
&e masoara in monofascicol, fara corectie de fond.
&e verifica energia lampii, tensiunea acesteia.
&e optimizeaza conditiile de flacara automat prin stabilirea lungimii de unda, a inaltimii
arzatorului, a debitelor de gaze, a tipului de arzator folosit si tipul de flacara C
4
I
4
/aer!.
&e aspira o solutie de etalon premi#at de la jumatatea curbei alternativ cu solutia de calibrare zero
pana cand se obtine un ma#imum de absorbanta si un consum minim de acetilena.
9. 75ASA50A CU5:0I D0 CA&I:5A50
&e aspira in flacara C
4
I
4
/aer solutiile de Pb premi#ate de la paragraful 5.4, succesiv in ordine
crescatoare a concentratiei de Pb. &e fac cate trei masuratori pe fiecare solutie si se inregistreaza media
lor.
&e vizualizeaza forma curbei de calibrare, intervalul de confidenta si factorul (.
,. %ASU5A50A P56:0&65 D0 A!A&I;A7
&e aspira apa bidistilata acidulata 8,5J IN'
2
!.
&e marcheaza in fereastra &amples numarul de probe pentru masurat. &e aspira solutie de
spalare 8,5J IN'
2
! intre solutiile probelor. &e efectueaza trei determinari pe proba si se noteaza
automat media lor.
.). %6DU& D0 CA&CU&
Continutul de Pb masurat se obtine din formula / Pb,
J L a M c! / b M 18888!
Bnde/ a 7 volumul balonului probei
b 7 masa in grame a probei luata in lucru c 7
concentratia dupa curba de calibrare
Aparatul AA& >""nit 988 afiseaza un raport de incercare de 4 pagini.
14
14
Capitolul VII
PS ))+ Procedura specifica pentru e/aminarea prin difractie de raze
$ pe pulberi anorganice de nanobiomateriale
.. SC6P SI D6%0!IU D0 AP&ICA50
"#aminarea prin difractie de raze - a materialelor policristaline si amorfe este frecvent denumita in
literatura de specialitate Difractie de 5aze $ pe Pulberi <$ra2 Po=der Diffraction / $5PD>.
*etodele de e#aminare -(P$ sunt aplicabile unei vaste categorii de materiale/ pulverulente sau
consolidate, organice sau anorganice, naturale sau de sinteza, cristaline sau amorfe, in particular si
nanobiomaterialelor. *etodele de e#aminare -(P$ permit obtinerea unei mari varietati de informatii/
identificarea si cuantificarea fazelor cristaline, estimarea continutului de material amorf fata de total
material cristalin, determinarea parametrilor de retea, determinarea structurii cristaline, determinarea
dimensiunii cristalitelor, a microdeformarilor, si multe altele.
#. 50'05I!70
!65%A7IV0
&( "N 12345-1 "#aminari nedistructive. $ifractia radiatiilor - aplicate asupra
materialelor policristaline si amorfe. Partea %/ Principii generale
&( "N 12345-4 "#aminari nedistructive. $ifractia radiatiilor - aplicate asupra
materialelor policristaline si amorfe. Partea %%/ Proceduri
&( "N 12345-2 "#aminari nedistructive. $ifractia radiatiilor - aplicate asupra
materialelor policristaline si amorfe. Partea %%%/ Aparatura
N. & 34-8:< *atFriau# pour implants chirurgicau#. $Ftermination de la cristallinitF et de la
dimension apparente de poudres, dFpOts et cFramiHues a base dG hEdro#Eapatite
A&+* .11<5-82 &tandard &pecification for Composition of IEdro#Elapatite for &urgical
%mplants
A&+* . 4844-88 &tandard Practice for --raE $iffraction $etermination of Phase
Content of Plasma &praEed IEdro#Elapatite Coatings
N%&+ Certificate of AnalEsis. &tandard (eference *aterial :9:. Alumina %nternal
&tandard for Puantitative AnalEsis bE --raE PoQder $iffraction
!IS7 Certificate of Anal2sis. Standard 5eference %aterial #,.). Calcium
82dro/2apatite.
%C$$ database, PoQder $iffraction .ile, 488:.
1. 705%0!I SI
D0'I!I7II
Pentru cele prezentate ulterior au fost folositi urmatorii termeni, in conformitate cu standardele
europene &( "N 12345 7 1/4882, &( "N 12345 7 4/4882, &( "N 12345 7 2/4885/
*.
40!05A&I7A7I
.enomenul de difractie se produce ca rezultat al interactiei radiatiei - cu electronii atomilor, atomii fiind
considerati centri de imprastiere punctiformi. %n functie de aranjamentul atomilor, radiatia imprastiata
de diferiti atomi interfera. %nterferenta este constructiva daca diferenta de drum dintre doua raze
difractate este un multiplu intreg de lungimi de unda. Aceasta conditie restrictiva este cunoscuta sub
denumirea de legea )ragg ecuatia )ragg!/
2d
hkl
sin
hkl
= n
%n care/
hkl desemneaza familia de plane identificata prin indicii *iller h, ;, l,
d
hkl
distanta dintre planele succesive ale familiei de plane reticulare, numita si distanta
interplanara,
reprezinta lungimea de unda a radiatiei - utilizate, fiind de acelasi ordin de marime cu
distantele interplanare,

hkl
este unghiul facut de fascicolul incident cu planele h;l! si este jumatatea unghiului de
difractie (2) dintre fascicolul incident si cel difractat,
n este ordinul ma#imului de difractie.
(. P50PA5A50A SP0CI%0!0&65
Calitatea datelor colectate intr-un e#periment de difractie depinde foarte mult de modul in care este
12
12
tratata proba dincare se prepara specimenul ce urmeaza sa fie investigat. Prepararea specimenelor din
nanobiomateriale se va face in conformitate cu &( "N 12345-4. Acestea sunt de regula materiale
multifazice. $atorita diferentelor intre proprietatilor diferitelor faze/ densitate, dimensiune si
forma particulelor, duritate, stare de aglomerare, etc. pot aparea neomogeneitati atat la scara
microscopica cat si macroscopica. Pentru a obtine rezultate reprezentative si reproductibile este
necesara omogeneizarea unei cantitati de proba mult mai mare decat cea utilizata in pregatirea
specimenului. Pentru a imbunatati statistica cristalitelor, probele trebuiesc macinate mecanic sau
manual realizand simultan atat omogeneizarea probelor cat si cresterea numarului de cristalite in
volumul specimenului iradiat. &e va evita macinarea e#cesiva ca intensitate si timp caci ar putea
conduce la/
- contaminarea probei cu material din componenta instrumentului de macinare/ mojar,
pistil, bile, etc.,
- amorfizarea partiala a materialului de la suprafata particulelor prezente in proba,
- reactii in stare solida,
- tranzitii catre alte forme polimorfice,
- descompuneri chimice e#./ pierderea continutului structural de I4' sau C'4! $e
regula este suficienta macinarea manuala in mojar de agath.
%n cazul in care este necesara prepararea unui amestec din pulberi individuale, acestea vor fi supuse
macinarii individual, inainte de a fi amestecate, pentru a fi aduse la dimensiuni
micronice. Amestecul trebuie sa fie intim, realizat la scara microscopica. &e va proceda la o noua
macinare cu rol de omogenizare, cu scopul de a distruge aglomerarile formate din
substantele individuale.
&pecimenul trebuie incarcat in suportul de probe in una din variante/
- Rincarcare frontalaS/ pulberea este introdusa in support prin deschiderea frontala si este nivelata
incat sa e#puna radiatiei o suprafata plana0 este cea mai uzitata, dar introduce
orientari preferentiale in cazul unor faze cu habitus specific.
- Rincarcare posterioaraS/ pulberea este introdusa in suport prin partea opusa celei care va fi
e#pusa in fascicol0
- Rincarcare lateralaS/ pulberea este introdusa in suport printr-o deschidere laterala a
acestuia.
-.Achizitia datelor
Achizitia datelor se va face in conformitate cu &( "N 12345-4. %n cazul difractometriei in configuratie
)ragg 7 )rentano trebuie avute in vedere urmatorele/
- alegerea corespunzatoare a intervalului unghiular de achizitie a datelor pentru a evita
pierderea de informatie structurala utila,
- alegerea corespunzatoare a fantei de limitare a divergentei fascicolului incident, a fantei
antiimprastiere si a fantei detectorului pentru a obtine un compromis acceptabil intre
intensitatea difractata si rezolutia unghiulara,
- alegerea pasului unghiular se va face pentru a obtine un numar de puncte de masura suficient
de mare in jumatatea superioara a ma#imului liniei de difractie raportul dintre .CI* si pasul
unghiular!,
- pasul unghiular si divergenta unghiulara a fantei detectorului trebuie corelate pentru a asigura
o buna rezolutie a pea;-urilor,
- timpul de masura pentru fiecare pas trebuie corelat cu scopul masuratorii, cu natura
probei, cu raportul semnal 7 fond.
+. P56C0SA50A DA70&65
Procesarea datelor se va face in conformitate cu &( "N 12345-4. "ste indicata prezentarea grafica
computerizata atat a datelor brute raQ data!, cat si a rezultatelor obtinute in urma aplicarii unor
proceduri de procesare sau evaluare a acestora. $e regula procesarea si evaluarea datelor se va face cu
soft specializat, functie de tipul de analiza care trebuie realizata si de gradul de comple#itate solicitat. %n
procesarea datelor se va tine seama de urmatoarele aspecte/
- .ondul care este privit ca informatie cuprinsa in datele colectate, dar care poate fi
eliminata"liminarea compo din analiza.
- "liminarea componentei DT4.
i
14
14
- 'peratii de cautare a pea;-urilor. 6radul de dificultate al operatiei creste, iar precizia scade
in cazul suprapunerii pea;-urilor. $eterminarea pozitiei si a intensitatii.
- $eterminarea profilului pea;-ului si a intensitatii integrale.
- 'btinerea listei d-I.
- $escompunerea difractogramei in linii de difractie individuale inclusiv e#tragerea
fondului!, al caror profil este fitat cu ajutorul diferitelor tipuri de functii analitice sau prin
prin abordarea parametrilor fundamentali .PA 7 .undamental Parameters Approach!.
Parametrii care definesc modelul ales pentru descrierea profilului sunt rafinati pana la
realizarea minimului functiei/

2
= Uw
2
V(I
obs
)
i
- (I
calc
)
i
W
2
- Calitatea fitarii va fi evaluata prin factorul de incredere/

wp
= VUw
i
V(I
obs
)
i
- (I
calc
)
i
W
2
/ Uw
i
V(I
calc
)
i
W
2
W
!"2
(elatii in care/
- I
obs
este intensitatea observata in punctual i#
- I
calc
este intensitatea calculata in punctual i#
- w
i
= ! " $
2
# factor de pondere asociat fiecarui pas i de intensitate I
obs
- $
2
reprezinta varianta marimii I
obs
9.ID0!7I'ICA50A
'A;0&65
Analiza calitativa de faza <Identificarea fazelor> se refera la identificarea fazelor individuale prezente
intr-un specimen cu scopul stabilirii compozitiei fazice a intregii probe, prin metoda -(P$. Aceasta
metoda se bazeaza pe compararea visuala sau asistata de calculator a unei portiuni a difractogramei cu
difractogramele de referinta e#perimentale sau calculate! ale unei faze. %n mod ideal, aceste
difractograme de referinta trebuie sa provina de la specimene monofazice. Aceasta abordare permite
identificarea oricarui compus policristalin prin distantele interplanare d
hkl
determinate la randul lor de
periodicitatea distantelor interatomice din cristal si de intensitatile relative I ale liniilor de difractie
corespunzatoare determinate de natura atomilor si de pozitia lor in celula unitate. Aceasta XamprentaS
este deci specifica fiecarei faze cristaline, fiind generata ori de cate ori aceasta este prezenta ca faza unica
sau in amestec cu alte faze fie ele cristaline sau amorfe. Comparatia difractogramei provenita de la o
proba cu datele standard se poate face pe o portiune coresunzator aleasa a difractogramei sau pe un set de
date reduse, formate din perechile de distante interplanare si intensitatile ma#imelor asociate, normate,
sub forma asa-numitei liste (d#I
%a&
). Aceasta informatie intreaga difractograma sau lista d,%
ma#
!!
poate fi comparata cu cu listele d,%
ma#
! ale probelor monofazice compilate intr-o baza de date continand
caracteristicile e#perimentale sau calculate ale fazelor cristaline identificate. Cea mai completa si cea
mai utilizata astfel de baza de date este PoQder $iffraction .ile editata de %nternational Centre for
$iffraction $ata %C$$!, reactualizata anual.
Pachetul de programe $%..(AC
plus
)A&%C )ru;er A-&! utilizat in acest laborator include softul de
cautare si comparare "=A &earch/*atch =14. Acest program utilizeaza in algoritmul de
cautare intreaga difractograma, dupa o procesare prealabila a datelor brute e#tragerea fondului,
eventual eliminarea componentei DT4 sau netezirea difractogramei prin reducerea
fluctuatiilor! in locul listelor d#I. %n cursul cautarii programul compara fiecare inregistrare de referinta
din basa de date cu portiunile considerate de intensitate nula de pe difractograma
neelucidata. %nregistrarile de referinta ale caror linii cad in aceste domenii tind sa fie eliminate. %n
paralel, programul permite utilizatorului setarea unor parametri si a unor filtre de cautare. %n
acest mod programul selecteaza din baza de date potentialii candidati care satisfac simulta criteriile
utilizatorului si au cel putin o linie de difractie intr-o portiune de intensitate nenula a
scanarii neelucidate. Pentru fiecare potential candidat din baza de date de referinta, programul continua
compararea cu difractograma e#perimentala analizand in ce masura celelalte linii ale
candidatului se suprapun sau nu peste portiunile de intensitate nenula ale scanarii e#perimentale/
- o linie a potentialului candidat analizat care cade intr-o zona de intensitate nula a scanarii este
sanctionata cu atat mai mult cu cat aceasta linie este mai intensa,
- o linie a potentialului candidat analizat care cade intr-o zona de intensitate nenula a scanarii
este e'identiata, dar evidentierea este partial insensibila atat la intensitatea liniei de referinta cat
si la intensitatea portiunii comparate a scanarii.
Punctele cumulate de fiecare candidat din baza de date prin evidentieri si penalizari conduc la o
clasificare a candidatilor pe baza .'* .igure of *erit! ce permite programului afisarea unui numar a
celor mai buni candidati dintre care utilizatorul face selectia finala.
,.CUA!7I'ICA50A 'A;0&65
Analiza cantitativa de faza <Cuantificarea fazelor> implica determinarea concentratiilor
fazelor identificate in cursul analizei calitative de faza care devine astfel o etapa obligatorie a procedurii
AS7% ' #)#*)) &tandard Practice for --raE $iffraction $etermination of Phase Content of Plasma
&praEed IEdro#Elapatite Coatings!. "#ista numeroase metode de analiza cantitativa care vizeaza
stabilirea concentratiei unei singure faze sau chiar a tuturor fazelor, incluzand si substanta amorfa in
ansamblul ei, prezenta in amestec cu faze cristaline. Bnele metode de analiza utilizeaza curbe de
calibrare, altele presupun introducerea in amestecul de analizat a unei cantitati date de material de
referinta etalon intern! sau utilizarea unui etalon e&tern. Cea mai precisa si mai completa metoda de
cuantificare este metoda (ietveld, fiind si cea mai laborioasa. %n ultimii ani au fost dezvoltate metode
alternative care concureaza prin precizie cu metoda (ietveld. Acestea simuleaza difractograma
e#perimentala a unei mi#turi polifazice, dupa realizarea completa a analizei calitative de faza,
pornind de la lista d,%! specifica fiecarei faze identificate, atribuind fiecarei faze un factor de scala
care este rafinat simultan cu o serie de parametri ce descriu profilul liniilor de difractie.
Prgramul $%..(AC
plus
)A&%C "=A )ru;er A-&! are in compunere un astfel de subprogram numit
()* ((ull )attern *atching) care permite o analiza cantitativa fara introducerea obligatorie a
unui etalon intern, pornind de la inregistrarile de referinta din P$., in particular de la listele d,%!.
Principial difractograma unui amestec plurifazic este suma ponderata a difractogramelor fazelor
componente. Ponderea fiecarei difractograme individuale in difractograma mi#turii +
,
este
denumita factor de scala al fazei ,. %n fiecare punct 2
i
al difractogramei vom avea/
I(2
i
) = -
,
+
,
I
,
(2
i
)
&uma este e#tinsa asupra numarului de faze din mi#tura, iar I
,
reprezinta difractogra%a
digitala construita pe baza listei d,%! a fiecarei faze identificate. Cum in P$. pentru fiecare faza
, sunt date doar valorile relative ale intensitatilor, normate fata de cea mai intensa linie de difractie,
pentru a obtine valori reale, factorul de scala +
,
este definit ca produsul/
+
,
= .
,

,
%n care/
- .
,
reprezinta concentratia fazei ,# satisfacand conditia/
-
,
.
,
= -
,
(+
,
"
,
)= !//0
-
,
reprezinta raportul dintre intensitatea celei mai intense linii de difractie a fazei , si
intensitatea celei mai intense linii a corindonului alumina T! - I"I
cor
- cand cele doua faze sunt in
raport masic 1/1, marime denumita I eference Intensit1 atio!, de asemeni
stocata in P$. alaturi de celelalte informatii referitoare la faza ,.
Pornind de la lista d,%! care este o difractograma schematica! de segmente, digitalizarea
difractogramei se face dezvoltand segmente in profile de ma#ime de difractie prin convolutia
acestora cu functii pseudo-=oigt simetrice sau asimetrice! prin rafinarea parametrilor acestor
functii si a factorilor de scala +
,
a pana la descrierea corecta a profilului scanarii
e#perimentale, adica pana in momentul in care este atins minimul marimii/
-
i
VI
e&p
(2
i
) - -
,
+
,
I
,
(2
i
)W
4
= %in.
' data incheiat procesul de simulare a difractogramei e#perimentale sunt determinate valorile
+
,
din care se determina valorile .
,
$aca proba studiata nu este 188J cristalina sau nu sunt incluse in analiza toate fazele, atunci
este necesara adaugarea unei cantitati cunoscute .
s
de material de referinta standard intern!, care nu
e#ista initial in proba studiata si care va fi tratata ca orice alta faza, cu e#ceptia faptului
ca este cunoscuta concentratia sa. %n aceasta situatie relatia de normare a concentratiilor in amestec
devine/
.
s
2 -
,
(+
,
"
,
)= !//0 2 .
s
%ar concentratiile fazelor in amestecul final pot fi astfel determinate individual din relatii de tipul/
.
,
final
= +
3
"(!2.
s
)
+abloul urmator prezinta e#presia functiilor analitice utilizate in simularea de tip .P*/
.). CA5AC705I;A50A C5IS7A&I!I7A7II
%n cazul bionanomaterialelor este decisiva cunoasterea gradului de cristalizare. Cristalinitatea unui
material este caracterizata de regula din doua puncte de vedere !' S ,*)-9 *atFriau# pour implants
chirurgicau#. $Ftermination de la cristallinitF et de la dimension apparente de poudres, dFpOts et
cFramiHues a base dG hEdro#Eapatite si !IS7 Certificate of Anal2sis. &tandard (eference *aterial
4318. Calcium IEdro#Eapatite!/
- $eterminarea cantitatii de material dezordonat din punct de vedere cristalografic.
- $eterminarea dimensiunilor de cristalit, importante pentru caracteristicile materialelor
cristaline nanostructurate.
Cantitatea de material dezordonat d.p.d.v. cristalografic include in primul rand materialul
amorf, dar si materialul rezultat din rela#area legaturilor chimice sau din e#istenta unor legaturi
nesatisfacute la limita de graunte sau pe suprafata particulelor. Acest material nu va difracta radiatia
- in acelasi mod cu materialul din interiorul volumului cristalitelor, putand fi considerat ca o fractie
de material amorf sau dezordonat. Chiar daca nu poate fi identificat pe difractograme, prin
ma#imele difuze specifice amorfului, prezenta acestui material se manifesta prin diminuarea
ma#imelor de difractie ale fazelor cristalizate. Pentru determinarea sa cantitativa trebuie
utilizata analiza de faza cu etalon intern, descrisa anterior, care va permite determinarea prin diferenta
a continutului de material dezordonat d.p.d.v. cristalografic. Determinarea dimensiunii medii de
cristalit este una din cele mai importante aplicatii ale -(P$. +rebuie specificat ca dimensiunea de
cristalit nu poate fi direct masurata. Ceea ce poate fi determinat prin -(P$ este de fapt o medie
volumetrica puterea de difractie a unei particule depinde de volumul ei! a inaltimilor coloanelor pe o
anumita directie cristalografica hkl, care va fi practic intotdeauna mai mica decat dimensiune cristalitului
pe acea directie. )entru a obtine di%ensiunea de cristalit reala ar trebui cunoscuta ade'arata for%a
%edie a cristalitelor care ar permite deducerea si aplicarea unor corectii marimilor medii ale
coloanelor pentru fiecare hkl# determinate prin -(P$. Bna din modalitatile cele mai utilizate pentru
caracterizarea dimensiunii de cristalit este corelarea acestora cu largimea ma#imului de difractie de catre
&cherrer 131<! si &to;es A Cilson 1344!.
%n care/
(elatia &cherrer/ 4
'ol-(+5*
= k"6
(+5*
cos
- 4
'ol-(+5*
este dimensiune medie a cristalitelor determinata prin masurarea largimii pea;- ului la
semiinaltime,
- 6
(+5*
largimea pea;-ului la semiinaltime,
- lungimea de unda a radiatiei utilizate
- unghiul )ragg corespunzator pozitiei pea;-ului
- k constanta subunitara care depinde de forma particulelor
(elatia &to;es A Cilson/ 4
'ol-I7
= "6
I7
cos
%n care marimile au aceeasi semnificatie cu e#ceptia/
- 4
'ol-I7
este dimensiune medie a cristalitelor determinata prin masurarea largimii integrale a pea;-
ului,
- 6
I7
largimea integrala a pea;-ului,
- (elatia &to;es A Cilson este independenta de forma cristalitelor.
Programul +'PA& =2 )ru;er A-&! aflat in dotarea laboratorului permite determinarea dimensiunilor
dimensiunilor cristalitelor prin analiza profilelor liniilor de difractie e#perimentale. Acestea sunt
descrise cu ajutorul functiilor pseudo =oigt mentionate anterior, cu luarea in consideratie a
caracteristicelor instrumentale ale aparatului pentru a separa contributia instrumentala de contributia
materialului la largimea liniilor de difractie.
Capitolul VIII
Concluzii
%ncercarile propuse pentru acreditare in cadrul prezentului proiect se regasesc in domeniile de
competenta ale ("NA(/ %ncercari Chimice si %ncercari .izice.
$ocumentele care stau la baza sistemului de management al calitatii din ,aboratorul Analize Chimice si
.izice din cadrul %NC$*N(-%*N( au fost ane#ate cererii de inscriere la acreditare in urma careia
laboratorul a semnat cu ("NA( C6!75AC7U& D0 AC50DI7A50 nr.
.*1,/##....#))+.