Sunteți pe pagina 1din 27

O

L
Ii
Ob
P
Iv
ochi
Oc
Ir
1
MICROSCOPUL METALOGRAFIC OPTIC.
PREGTIREA PROBELOR METALOGRAFICE
I. MICROSCOPUL METALOGRAFIC OPTIC
In general, simpla cunoatere a compoziiei chimice a unui material metalic, nu
permite determinarea proprietilor fizice, mecanice sau tehnologice ale acestora. Pentru o
bun i corect caracterizare a materialului studiat este necesar i cunoaterea structurii
metalografice a metalului sau aliajului respectiv, a constituenilor din care este alctuit, a
naturii i a formei lor, a dimensiunilor i a modului de repartiie a acestora.
Structura materialului metalic, fiind influenat de modul de elaborare i de
tratamentele termice ulterioare, poate pune n eviden eventualele abateri de la procesul
tehnologic normal de fabricaie cu ajutorul ei pot fi e!plicate o serie de caracteristici
anormale i pot fi scoase n eviden anumite incluziuni i neomogeniti pe care le conin.
"bservarea structurii metalice se poate face fie cu ochiul liber sau cu lupa #e!amen
macroscopic$, fie cu ajutorul microscopului optic sau electronic #e!amen microscopic$. Pentru
a se obine rezultate concludente n studiul structurii este necesar ca probele cercetate s fie
pregtite dup o tehnic special, evit%ndu&se influena factorilor e!terni.
'aterialele metalice fiind corpuri opace #se opun trecerii luminii$, chiar sub form de
foi subiri, cercetarea structurii lor nu poate fi fcut dec%t n lumin reflectat, spre deosebire
de esuturi sau alte preparate biologice care sunt cercetate prin transparen. In consecin,
microscoapele metalografice lucreaz n lumin reflectat.
I.1. Pri componn!
In principal, microscopul metalografic este format din sistemul de iluminare, sistemul
optic i sistemul mecanic de reglare. Principiul de funcionare a microscopului metalografic
este prezentat n figura (.(.
Fig.1.1. Schm" op!ic " micro#cop$%$i m!"%o&r"'ic.
(
)umina reflectat de proba metalografic #obiect * O$ trece prin obiectiv, care
formeaz o imagine real mrit a obiectului #I
i
$, numit imagine intermediar. +ceast
imagine intermediar este situat la o distan L, n funcie de planul focal al obiectivului #P$.
,istana L reprezint lungimea tubului optic. -aportul dintre dimensiunile liniare ale
imaginii intermediare i obiectului

"
I
i
indic scara de mrire proprie a obiectivului.
Imaginea intermediar #I
i
$ este mrit din nou de ocular i observat cu ochiul #I
v
$ sau
este proiectat pe film sau plac fotografic #I
r
$
I.1.1. Si#!m$% op!ic "% micro#cop$%$i
Sistemul optic este format din obiectivele i ocularele microscopului.
Obiectivul reprezint un sistem pozitiv i convergent format dintr&o lentil plan&
conve! care realizeaz imaginea mrit a obiectului i o serie de lentile care corecteaz
defectele primei lentile. .ele mai frecvente defecte sunt aberaia cromatic i aberaia de
sfericitate.
Aberaia cromatic se datoreaz dispersiei luminei albe la trecerea prin lentil i a
indicelui de refracie invers proporional cu lungimea de und. In consecin, se formeaz o
serie de imagini monocromatice dispuse n plane succesive #violet cea mai apropiat, roie
cea mai ndeprtat$. Punerea la punct a imaginii se poate face pe una din imaginile
monocromatice acest lucru produce ns micorarea claritii imaginii, deformarea ei i
colorarea marginilor. /liminarea aberaiei cromatice se realizeaz prin utilizarea luminii
monocromatice i a obiectivelor corectate. ,up gradul de corecie, obiectivele sunt0
& acromatice, corectate pentru zona central #galben&verde$ a spectrului se folosesc cu
filtru galben&verde i material fotografic ortocromatic
& semiapocromatice, cu corecie ameliorat fa de obiectivele acromatice i se utili&
zeaz pentru microfotografiere n lumin alb marginile unei structuri incolore au o irizaie
verde
& apocromatice, corectate pentru ntreg spectrul se folosesc fr filtru i cu orice
material fotografic. Imaginea nu prezint irizaii marginale.
Aberaia de sfericitate apare n condiiile fasciculelor largi de lumin i este
determinat de curbura suprafeelor lentilelor. -azele centrale sunt mai puin refractate dec%t
cele marginale. Se formeaz o serie de imagini n plane succesive, ceea ce conduce la o
luminare neuniform. +beraia de sfericitate se elimin prin asocierea a dou lentile, una
conve! i cealalt concav, astfel nc%t aberaiilelor s se compenseaz.
Ocularul este o lentil plan&conve!, care mrete imaginea intermediar dat de
obiectiv i corijeaz unele defecte optice. "cularele pot fi0
& obinuite #tip 1u2gens$, care se asociaz cu obiective acromatice ele nu corecteaz
imaginea dat de obiectiv
& de compensaie, asociate cu obiective apocromatice, crora le corectez defectele
rmase realizeaz o imagine plan
& de proiecie #fotooculare$, utilizate cu obiective semiapocromatice i apocromatice
asigur o imagine clar pe ecranele de proiecie i microfotografii.
Caracteristicile optice ale microscoapelor. +cestea sunt0 puterea de mrire, apertura
obiectivului, puterea de separare i adncimea de ptrundere.
a) Puterea de mrire #mrirea$, M, a sistemului optic reprezint capacitatea de a mri
de un anumit numr de ori obiectul real luat n studiu i este egal cu produsul dintre puterile
de mrire ale obiectivului #M
ob
$ i ocularului #M
oc
$0
1)

oc ob
M M M =
#(.(.$
Puterea de mrire a obiectivului se calculeaz cu relaia0
ob
ob
F
L
M =
#(.3.$
unde0 L este lungimea optic a tubului microscopic #mm$, F
ob
* distana focal a obiectivului
#mm$.
Puterea de mrire a ocularului se determin cu relaia0
oc
oc
F
%
M =
#(.4.$
n care0 % este distana vederii normale a omului #d 5 367 mm$, F
oc
* distana focal a
ocularului #mm$.
In cazul fotografierii, mrimea imaginii proiectate se calculeaz cu relaia0
%
M M *
M
oc ob
'

= #(.8.$
unde0 * este distana de proiecie #mm$ M
ob
, M
oc
* puterea de mrire a obiectivului, respectiv
a ocularului.
"cularele i obiectivele au gravate pe montur puterile de mrire. )a unele
microscoape, pe montura obiectivelor este gravat distana focal, urm%nd a se calcula
mrirea, funcie de lungimea tubului optic.
Puterea de mrire a microscopului se poate controla cu ajutorul plcilor de control care
au diviziuni din 7,7( n 7,7( mm.
b) apertura obiectivului #deschiderea numeric$, A, este capacitatea acestuia de a
str%nge razele de lumin. .u c%t apertura este mai mare #adic cantitatea de lumin care intr
n obiectiv este mai mare$, cu at%t crete mai mult capacitatea obiectivului de a evidenia
detaliile. +pertura se calculeaz cu relaia0
= #in n A #(.6.$
n care0 n este indicele de refracie al mediului dintre prob i obiectiv & jumtate din
unghiul deschiderii conului de lumin #fig.(.3.$.
Fig.1.2. Smi$n&hi$% con$%$i + %$min.
11
Prob
Obic!iv

R1 R,
Obic!iv
R1
R,
Ar
n - 1.)

R1 R,
Obic!iv

R1 R,
.%nd mediul dintre prob i obiectiv este aerul #n 5 ($, obiectivul primete o anumit
cantitate de lumin #conul delimitat de razele -
(
$, figura (.4.a., ns prin nlocuirea aerului cu
un ulei de imersie #fig.(.4.b.$, indicele de refracie poate crete #conul delimitat de razele -
3
$.
Fig.1.3. Cr/!r" $n&hi$%$i
+ r'r"ci prin 'o%o#ir" $%i$%$i +
imr#i.
.el mai mare indice de refracie #n 5 (,948$, se obine prin folosirea ca lichid
refrigerent a naftalinei monobromat, dar cel mai utilizat ulei de imersie este ns uleiul de
cedru, cu indicele de refracie n 5 (,6(:. .el mai mare unghi de deschidere a conului de
lumin ce poate fi realizat constructiv este 3 5 (88

# 5 93

$, acesta duc%nd la sin 5 7,;6


deci, rezult c obiectivele cu apertura mai mare de 7,;6 trebuie s utilizate lichide de imersie.
Pe montura obiectivului este gravat i valoarea aperturii.
c) puterea de separare #de rezoluie$, +, reprezint distana minim dintre dou puncte
pentru care sistemul optic d imagini distincte. Puterea de separare se calculeaz cu relaia0

=
#in n , A ,
+
<m= #(.>.$
unde0 este lungimea de und a luminii folosite, m.
.u c%t + este mai mic cu at%t sistemul optic are o capacitate mai mare de a reda
detaliile obiectului n studiu. Pentru aceasta, trebuie s fie minim, iar A ma!im. In cazul
folosirii luminii albe # 5 7,>$, a uleiului de cedru #n 5 (,6(:$ i sin 5 7,;6 se obine0
, . )
(0 . ) 011 . 1 ,
2 . )
+ =

=
m
Puterea de separare a ochiului omenesc este d
(
5 7,4 mm i ca atare mrirea total a
microscopului la puterea de separare ma!im va fi0
10))
))), . )
3 . )
+
+
M
1
m
= = =
.onform regulii lui +bbe #677+ < ' < (777+$ mrirea ma!im a microscopului este
limitat la valoarea (777+ peste aceast valoare #care corespunde mririi de (677!$,
creterea puterii de mrire nu duce la evidenierea altor detalii.
d) Adncimea de ptrundere sau puterea de separare pe vertical reprezint
posibilitatea obiectivului de a reda clar imaginea unor puncte ce se gsesc n plane diferite
#distana minim dintre dou plane ntre care toate punctele pot fi observate distict$. Puterea
de separare pe vertical este invers proporional cu puterea de mrire i cu apertura. ,e
1,
Prob
U%i
n - 1.011
" b
Prob
P
Ob
Ob
O&
e!emplu, la o mrire de 477!, folosind un obiectiv cu apertura + 5 7,47, ad%ncimea de
ptrundere este de 7,: m la o mrire de (777! cu un obiectiv cu apertura + 5 7,;6,
ad%ncimea de ptrundere este de numai 7,796 m.
+d%ncimea de ptrundere pentru aceeai prob depinde de atacul metalografic
efectuat. )a un atac puternic, puterea de separare pe vertical este mai mare la mriri reduse i
mic la mriri mari. +ceasta este cauza pentru care, n vederea studierii la mriri mari, proba
trebuie atacat mai slab ca s se obin imagini clare.
I.1.,. Si#!m$% + i%$min"r
Sistemul de iluminare se compune din sursa de lumin, diafragme, lentile, prisme,
oglinzi, filtre de lumin.
Sursa de lumin poate fi o lamp cu incandescen sau cu arc electric. ,e regul,
alimentarea sursei de lumin se face prin intermediul unui transformator de tensiune #obinuit
>? sau (3?$.
Iluminarea probei metalice poate fi perpendiculoar #fig.(.8.$ sau oblic #fig.(.6.$.
Fig.1.4. I%$min"r prpn+ic$%"r. Fig.1.5. I%$min"r ob%ic.
Iluminarea perpendicular, numit i n cmp luminos, red suprafeele plane
luminoase, iar cele nclinate ntunecate #fig.(.>.a.$. Iluminarea oblic, sub unghi de inciden
mic, determin suprafee plane uor ntunecate, iar suprafeele nclinate parial luminoase
#fig.(.>.b.$. In cazul iluminrii oblice multilaterale sub un unghi mare de inciden, numit
n cmp ntunecat suprafeele plane apar ntunecate, iar cele nclinate, puternic luminate
#fig.(.>.c.$.
)a microscoapele cu obiective cu mriri proprii mici #sub (7!$, distana frontal
prob&obiectiv este mare. Iluminarea perpendicular se realizeaz printr&o lentil cu fee para&
lele #P$ montat ntre prob #'$ i obiectiv #"b$, figura (.8. Iluminarea oblic se face prin
dirijarea oblic a razelor de lumin orizontale de ctre o oglind intermediar #"g$, figura (.6.
)a microscoapele cu obiective cu mriri proprii mari #peste (7!$ i distan focal
mic, iluminarea se realizeaz prin obiectiv, cu ajutorul unei lentile plane cu fee paralele
plasat dup obiectiv #fig.(.9.$. Prin tratarea superficial a lentilelor aceast iluminare asigur
13
M M
Ob Ob Ob
Ob
P
lumin perpendicular sau oblic, cu imagine nedeformat i randament luminos de p%n la
67@.
Fig.1.6. M!o+ + i%$min"r4
"5 prpn+ic$%"r6 b5 ob%ic6 c5 7n c8mp 7n!$nc"!.
Fig.1.7. I%$min"r
prpn+ic$%"r c$ %n!i% p%"n c$ ' p"r"%%4
S 9 #$r# + %$min6 M 9 prob6 P 9 %n!i%6
Ob 9 obic!iv.
'icroscoapele metalografice utilizate n prezent, pentru mriri mari, sunt construite
dup sistemul de iluminare !"#$%& #fig.(.:.$. Imaginea sursei de lumin S se formeaz prin
intermediul lentilelor colectorului C, n planul diafragmei de apertur *
,
, care permite
reglarea aperturii i deci a luminozitii probei. 'iafragma de cmp *
3
limitez zona analizat
n c%mpul ocularului. Pentru contrast ma!im, se recomand deschiderea minim permis a
diafragmelor. $entilele L
3
, P i obiectivul transmit imaginea sursei de lumin pe suprafaa
analizat.
(iltrele de lumin au rolul de a mbunti calitatea imaginii. +legerea lor depinde de0
tipul obiectivului, sursa de lumin, materialul analizat, placa fotografic.
"biectivele acromatice corectate pentru domeniul galben&verde al spectrului, necesit
filtrul galben&verde. Ailtrul gri&negru reduce intensitatea sursei de lumin fr a&i modifica
culoarea filtrul bleu d cea mai bun putere de rezoluie #de separare$.
Ailtrele de lumin slbesc anumite domenii din spectrul luminii albe, nerealiz%nd o
lumin perfect monocromatic. +stfel filtrul galben absoarbe mai puternic captul albastru al
spectrului dec%t cel rou. ,e aceea se folosete pentru lmpile cu arc electric, cu componenta
1:
M M M
" b c
M
S
B
S
P
albastr n e!ces i la utilizarea plcilor fotografice ortocromatice sensibile la albastru i
galben&verde.
Fig.1.8. Si#!m$% + i%$min"r ;<=LER4
S 9 #$r# + %$min6 L1 >
?
1
L 9 %n!i%% co%c!or$%$i C6 *1 9 +i"'r"&m" #$r#i + %$min6
F 9 'i%!r + %$min6 *, 9 +i"'r"&m" + "pr!$r6 *3 9 +i"'r"&m" + c8mp6 L, 9 %n!i% +
cn!r"r6 L3 >
?
3
L 9 %n!i% "$@i%i"r6 P 9 %n!i% p%"n c$ ' p"r"%%6 Ob 9 obic!iv6
M 9 prob m!"%o&r"'ic.
Ailtrele de contrast transform, la fotografiere, contrastul de culoare n contrast alb&
negru prin slbirea culorii proprii i ntunecarea celei complementare.
I.1.3. Si#!m$% mc"nic + r&%"A
"rice microscop prezint un stativ pe care sunt dispuse sistemul optic, de iluminare i
msua cu probe.
Sursa de lumin i diafragmele au posibiliti de centrare fa de a!ul optic, ceea ce
asigur o iluminare perpendicular, uniform. Prin deza!area diafragmei de apertur se
realizeaz iluminarea oblic.
In scopul punerii la punct a imaginii, prin sisteme de reglare rapid i fin, se
deplaseaz reciproc msua cu proba i tubul iluminator cu obiectivul.
'sua se poate deplasa n plan dup dou direcii perpendiculare cu ajutorul unor
uruburi micrometrice. 'sua poate fi inferioar, sub obiectiv i n acest caz proba trebuie s
prezinte fee paralele sau s fie presat pe o plcu n plastelin, cu ajutorul unei prese de
m%n. Se realizeaz astfel paralelismul suprafeei de observaie cu cea de aezare i claritatea
imaginii n tot c%mpul. 'sua superioar, deasupra obiectivului #principiul lui )e .hatelier$
permite utilizarea probelor de orice form.
I.,. M!o+ op!ic + "n"%iB
a) )icroscopia n cmp luminos este cea mai utilizat n metalografie, pentru analiza
calitativ i cantitativ a structurii materialelor metalice #mrire peste (77$.
b) )icroscopia oblic se folosete mai ales n analiza macroscopic #mrire sub (77$ a
metalelor i aliajelor la stereomicroscop i mai puin, n analiza microscopic a structurii,
#pentru evidenierea unor aspecte de relief ale suprafeei$.
10
L1 L1
C *1
F L,
*,
*3
L3 L3
Ob
M
M
c) )icroscopia n cmp ntunecos are ca scop evidenierea microreliefului suprafeei
metalografice0 constitueni structurali polifazici, incluziuni nemetalice transparente, fisuri etc.,
care apar puternic luminai pe fond ntunecat . ,e asemenea, se vd culorile naturale ale unor
constitueni structurali, la care n c%mp luminos, culorile sunt denaturate prin refle!ii i
absorbii necontrolate. +stfel, .u
3
" apare albastru n c%mp luminos, n timp ce n c%mp
ntunecat apare la culoarea natural * rou granat.
+naliza n c%mp ntunecat necesit iluminarea din afara obiectivului #fig.(.;.$ cu
ajutorul unei oglinzi plane #1$ obturat central i a unei oglinzi parabolice #,$ ataat
obiectivului.
Fig.1.9. Si#!m + i%$min"r 7n c8mp 7n!$nc"!.
d) )icroscopia n lumin polarizat este utilizat pentru studiul metalelor ce
cristalizeaz n sistemul he!agonal sau pentru studiul fazelor i incluziunilor nemetalice cu
caracter puternic anizotrop.
Polarizatorul este aezat l%ng sursa de lumin deasupra diafragmei de apertur, iar
analizorul la ocular sau sub obiectiv. )umina incident este polarizat plan i dac cade pe o
suprafa izotrop este reflectat ca lumin plan polarizat, iar prin rotirea analizorului se
stinge. ,ac ns cade pe o supraafa anizotrop lumina reflectat va fi polarizat eliptic i va
apare o component luminoas.
I.3. Micro#cop$% m!"%o&r"'ic op!ic MC ,
'icroscopul metalografic '. 3 #produs de I"- Cucureti$ este un microscop vertical,
cu msu inferioar, care permite studiul n c%mp luminos, n c%mp ntunecat, n lumin
polarizat i fotografierea microstructurii pe film. Sursa de lumin este un bec cu
incandescen de >?D47 E, alimentat printr&un transformator.
"biectivele sunt acromatice, iar ocularele sunt tip 1u2gens i realizeaz mriri de la
46! la (777! la observare vizual i de la 47! la 847! la fotografiere #tab.(.(.$.
In figura (.(7. este prezentat schema optic a microscopului, iar n figura (.((. prile
constructive.
Pentru analize n c%mp luminos se monteaz obiectivul i ocularele necesare pentru
mrirea dat, conform tabelului (.(. "biectivul se introduce prin glisarea plcii de ghidare n
partea inferioar a iluminatorului *+. Proba se preseaz cu o pres de m%n, n plastelin, pe o
plac metalic, care se fi!eaz pe msua *, prin clemele *-. Poziionarea mesei pe vertical
12
,
1
Ob
se face prin glisare, dup deblocarea urubului *.. Prin intermediul butoanelor */ i *0 se
realizeaz deplasarea mesei n plan.
Tab. 1.1. Mriri c$ obic!iv% /i oc$%"r% micro#cop$%$i m!"%o&r"'ic op!ic MC ,
Oc$%"r Ob#rv"r viB$"% Fo!o&r"'ir
Obic!iv 0@ C@ 1)@ F1 9 P - :.3
C @ 46 8; 97 47,(7
1, @ >7 :8 (37 6(,>7
,, @ ((7 (68 337 ;8,>7
:: @ 337 47: 887 (:;,37
1)) @
c$ imr#i
677 977 (777 847
Fig.1.10. Schm" op!ic " micro#cop$%$i m!"%o&r"'ic op!ic MC ,4
1. #$r# + %$min6 ,. p%"c m"!6 3. con+n#or6 :. o&%in+6 0. o&%in+6 2. +i"'r"&m + c8mp6
C. %n!i%6 1. 'i%!r$ + c$%ori6 (. po%"riB"!or6 1). +i"'r"&m r"b"!"bi% " c8mp$%$i 7n!$nc"!6
11. +i"'r"&m + "pr!$r6 1,. m"#"6 13. prob"6 1:. obic!iv6 10. p%"c + r'%@i6
12. "n"%iBor6 1C. pri#m6 11. oc$%"r.
Punerea la punct a imaginii se face prin deplasarea pe vertical a mesei cu proba cu
ajutorul tamburilor de reglare rapid 1* i de reglare fin 11. ?iteza de deplasare a mesei se
regleaz prin urubul 12.
Pentru centrarea sursei de lumin se scoate tubul ocular ** i se centreaz imaginea
filamentului n lentila de ieire a obiectivului, cu ajutorul uruburilor de centrare 1/.
.oncentrarea spotului luminos se asigur prin reglarea condensorului 3. Pentru uniformizarea
luminii se introduce sticla mat
)a partea posterioar a iluminatorului *+ se gsete maneta . a diafragmei de apertur.
Privind prin tubul ocular fr ocular se deschide diafragma de apertur astfel nc%t 3D4 din
c%mpul ocular s fie luminat.
Ailtrele de lumin se pot monta n locaul / practicat n tubul iluminator.
Pentru analize n cmp ntunecat se deschid diafragmele de c%mp i de apertur i se
rabate placa *2 a diafragmei de c%mp ntunecat.
Pentru studiul n lumin polarizat se introduce polarizatorul 0 n locaul din tubul
iluminator. )a partea inferioar a dispozitivului ** se nurubeaz analizatorul. Planul de
polartizare se modific prin rotirea monturii polarizatorului.
1C
1 , 3 :
0 2 C 1 ( 1) 11 11
1C
12
10
1:
13
1,
In scopul fotografierii, n locul tubului ocular i al prismei ** se ataeaz tubul
fotografic 13, la captul cruia se monteaz fotoocularul i aparatul de fotografiat 1-. .larul
imaginii se realizeaz prin tamburul de reglaj fin 11, iar e!punerea prin aparatul de
fotografiat.
Fig.1.11. Micro#cop$% m!"%o&r"'ic op!ic MC ,4
1. !"%p micro#cop6 ,. +i#poBi!iv + i%$min"r6 3. p%"c m"!6 :. con+n#or6 0. br" micro#cop6
2. +i"'r"&m + c8mp6 C. 'i%!r$ + %$min6 1. po%"riB"!or6 (. +i"'r"&m + "pr!$r6 1). +i"'r"&m
+ c8mp 7n!$nc"!6 11. !$b oc$%"r c$ pri#m + r'%@i6 1,. oc$%"r6 13. i%$min"!or6 1:. obic!iv6
10. m"#" micro#cop$%$i6 12. c%m6 1C. b$!on pn!r$ +p%"#"r" %on&i!$+in"% " m#i6
11. b$!on pn!r$ +p%"#"r" !r"n#vr#"% " m#i6 1(. /$r$b pn!r$ 'i@"r" m#i p vr!ic"%6
,). /$r$b b%oc"r6 ,1. !"mb$r r&%"r r"pi+6 ,,. microm!r$ + r&%"A 'in6
,3. !r"n#'orm"!or6 ,:. !$b 'o!o6 ,0. 'o!ooc$%"r6 ,2. "p"r"! 'o!o6 ,C. /$r$b$ri + cn!r"r bc.
I.:. Micro#cop$% m!"%o&r"'ic op!ic MC 2
'icroscopul metalografic '. > #produs de I"- Cucureti$ este un microscop vertical,
cu msu inferioar, pentru analiza structurii metalelor i aliajelor n c%mp luminos, n c%mp
ntunecat, n lumin polarizat i fotografiere sau proiecii pe ecran.
Sursa de limin este un bec cu incandescen de >?D47E sau (3?D(77E. Se pot
monta ambele dispozitive de iluminare, cel de al doilea n orificiul *0 #fig.(.(3.$. Introducerea
unui dispozitiv de iluminat n circuitul optic se face prin acionarea butonului 1..
"biectivele sunt acromatice, iar ocularele 1u2gens i realizeaz mriri de la 67! la
(367! la observare vizual i de la 37! la 677! la fotografiere #tab.(.3.$.
11
Schema optic a microscopului este principial aceeai ca la microscopul '. 3 prile
constructive sunt prezentate n figura (.(3.
Tab. 1.2. Mriri c$ obic!iv% /i oc$%"r% micro#cop$%$i m!"%o&r"'ic op!ic MC 2
Oc$%"r Ob#rv"r viB$"% Fo!o&r"'ir
Obic!iv 1@ 1,.0@ 3.,C@ 0@
2.3 @ 67,87 9:,96 37,>7 4(,67
12 @ (3: 377 63,43 :7
:) @ 437 677 (47,:7 377
1)) @
c$ imr#i
:77 (367 439 677
Fig.1.12. Micro#cop$% m!"%o&r"'ic op!ic MC 24
1. #$r#" + %$min6 ,. /$r$b$ri + cn!r"r " #$r#i6 3. p%"c" m"!6 :. con+n#or6 0. +i"'r"&m" +
"pr!$r6 2. /$r$b$ri + cn!r"r " +i"'r"&mi + c8mp6 C. +i"'r"&m" + c8mp6 1. %oc"/$%
"n"%iBor$%$i6 (. corp + r'%@i6 1). !$b binoc$%"r6 11. oc$%"r6 1,. /$r$b + 'i@"r6 13. !iA" pn!r$
in!ro+$cr" +i"'r"&mi + c8mp 7n!$nc"!6 1:. m"#" micro#cop$%$i6 10. b$!on pn!r$
+p%"#"r" !r"n#vr#"% " m#i6 12. b$!on pn!r$ +p%"#"r" %on&i!$+in"% " m#i6 1C. /$r$b +
'i@"r m"#6 11. ori'ici$ + mon!"r "% +i#poBi!iv$%$i + i%$min"!6 1(. corp6 ,). !"%p6 ,1. !"mb$r +
r&%"r r"pi+6 ,,. microm!r$ + r&%"A 'in6 ,3. /$r$b + r&%"r " +p%"#rii m#i p vr!ic"%6
,:. obic!iv6 ,0. c"p rvo%vr c$ obic!iv6 ,2. i%$min"!or6 ,C. %oc"/ pn!r$ po%"riB"!or6 ,1. %oc"/
pn!r$ 'i%!r$ + %$min6 ,(. /$r$b + #chimb"r " #$r#i + %$min6 3). !r"n#'orm"!or.
Pentru observaii vizuale n cmp luminos se monteaz obiectivul i ocularele pentru
mrirea dat, conform tabelului (.3. "biectivul se nurubeaz n locaul capului revolver 1,.
Proba se aeaz pe masa *3, care poate glisa n plan. Poziionarea pe vertical a mesei se face
prin glisare dup deblocarea urubului */.
Punerea la punct a imaginei se face prin deplasarea pe vertical a mesei cu proba, prin
acionarea tamburului de micare rapid 1* i a celui de reglaj fin 11. ?iteza de deplasare a
mesei se regleaz prin urubul 1+.
Pentru centrarea sursei de lumin se scoate tubul binocular i se centreaz imaginea
filamentului n lentila de ieire a obiectivului, cu ajutorul uruburilor de reglaj 1. Fotodat se
concentreaz spotul luminos prin reglarea poziiei lentilelor colectorului 3.
Pentru reglajul diafragmelor de apertur , i de c%mp / acestea, mai nt%i, se nchid.
Prin uruburile - se centreaz diafragma de c%mp i se deschide p%n i dispare conturul din
1(
1 , 3 : 0 2 C 1 ( 1) 11
1,
13
1: 10 12 1C 11 1( ,) ,1 ,, ,3
,:
,0
,2
,C ,1 ,( 3)
c%mpul vizual. Privind apoi prin tubul ocular fr ocular, se deschide diafragma de apertur
astfel nct ma!im 3D4 din c%mpul ocular s fie iluminat.
+naliza metalografic n cmp ntunecat este posibil prin acionarea tijei *+ n poziia
limit e!terioar, care introduce n c%mpul optic diafragma de c%mp ntunecat. Se deschid
apoi la ma!im diafragmele de apertur i de c%mp.
"bservaiile vizuale n lumin polarizat se fac prin introducerea polarizatorului n
locaul 1/ i al analizorului n locaul 0 de deasupra capului revolver. Polarizatorul i
analizorul au posibiliti de rotire i de citire a unghiurilor de rotire.
'icrofotografierea necesit ndeprtarea corpului de refle!ie . prin deblocarea
urubului *1. Se monteaz apoi tubul fotografic cu fotoocularul i se fi!eaz aparatul de
fotografiat. .larul imaginii se realizeaz prin micrometrul de reglaj fin 11, iar e!punerea prin
aparatul de fotografiat.
I.0. Micro#cop$% m!"%o&r"'ic op!ic DOp!chE. mo+% IMFIMT
'icroscopul metalografic G"ptechH model I'DI'F #produs n Iermania$ este un
microscop vertical, binocular sau trinocular, cu msu superioar, pentru analiza structurii
metalelor i aliajelor n c%mp luminos, n c%mp ntunecat, n lumin polarizat i fotografiere
pe film sau cu aparat foto digital #fig.(.(4.$.
Fig.1.13. Micro#cop$% m!"%o&r"'ic op!ic EOp!chE4
1. m"#" micro#cop$%$i6 ,. p%"c ro!$n+ pn!r$ prob% m!"%o&r"'ic6 3. p%"c" m"!6 :. con+n#or6
0. +i"'r"&m" + "pr!$r6 2. +i"'r"&m" + c8mp6 C. /$r$b$ri + cn!r"r " +i"'r"&mi + c8mp6 1. c"p
rvo%vr c$ obic!iv6 (. !"mb$r + r&%"r r"pi+6 1) microm!r$ + r&%"A 'in6 11. corp$% micro#cop$%$i6
1,. b$!on pn!r$ r&%"r" in!n#i!"! %$min6 13. b$!on pn!r$ +p%"#"r" %on&i!$+in"% " m#i6
1:. b$!on pn!r$ +p%"#"r" !r"n#vr#"% " m#i6 10. 7n!rr$p!or #$r# + %$min6 12. 'i%!r$ + %$min6
1C. #$r#" + %$min6 11. obic!iv6 1(. c"p binoc$%"r6 ,). oc$%"r.
Sursa de limin este un bec cu halogen de >?D37E. "biectivele sunt acromatice, iar
ocularele 1u2gens i realizeaz mriri de la (77! la (>77! la observare vizual i de la 87! la
(777! la fotografiere pe film #tab.(.4.$.
Tab. 1.3. Mriri c$ obic!iv% /i oc$%"r% micro#cop$%$i m!"%o&r"'ic op!ic EOp!chE
Oc$%"r Ob#rv"r viB$"% Fo!o&r"'ir
Obic!iv 1)@ 12@ :@ 1)@
,)
1 , 3 :
0 2 C 1 ( 1) 11 1, 13 1: 10 12 1C
11
1( ,)
1) @ (77 (>7 87 (77
,) @ 377 437 :7 377
,0 @ 367 877 (77 367
:) @ 877 >87 (>7 877
=I 1)) @
c$ imr#i
(777 (>77 877 (777
I.0. Con+iii + %$cr$ 7n %"bor"!or
'etoda de analiz0 n c%mp luminos i n c%mp ntunecat
Probe metalografice0 lefuite, lustruite, cu atac metalografic
+paratura0 microscoapele metalografice optice '. 3, '. > i "ptech.
I.2. Mo+$% + %$cr$ 7n %"bor"!or
In cadrul lucrrii, studenii vor identifica prile componente, schema optic n c%mp
luminos i n c%mp ntunecat ale microscopului metalorafic studiat i vor face reglaje pentru
diferite metode de analiz. Se vor calcula0 puterea de separare #d$ i semiunghiul deschiderii
conului de lumin #$, n funcie obiectivele i ocularele cu care sunt dotate un microscoapele
metalografice '. 3, '. > i "ptech.
I.C. L$cr"r" pr"c!ic GprBn!"r" rB$%!"!%or5
)ucrarea practic a studenilor va conine0
& aspectul probei analizate n c%mp luminos i a celei n c%mp ntunecat cu indicarea
pentru fiecare prob a urmtoarelor condiii de analiz0
& mrirea obiectivului
& mrirea ocularului
& apertura obiectivului
& mrirea microscopului
+spectul probei analizate
n c%mp luminos
+spectul probei analizate
n c%mp ntunecat
& tabele cu rezultate0
P$!r" + #p"r"r G+5 /i #mi$n&hi$% +#chi+rii
con$%$i + %$min G5 pn!r$ micro#cop$% m!"%o&r"'ic op!ic MC ,
,1
'
ob
9! (3! 33! 88! (77!
+ 7,( 7,4 7,8 7,>6 (
d
#n 5 ($
#n 5 (,6(:$
P$!r" + #p"r"r G+5 /i #mi$n&hi$% +#chi+rii
con$%$i + %$min G5 pn!r$ micro#cop$% m!"%o&r"'ic op!ic MC 2
'
ob
>,4! (>! 87! (77!
+ 7,(7 7,46 7,67 (
d
#n 5 ($
#n 5 (,6(:$
P$!r" + #p"r"r G+5 /i #mi$n&hi$% +#chi+rii
con$%$i + %$min G5 pn!r$ micro#cop$% m!"%o&r"'ic op!ic Op!ch
'
ob
(7! 36! 87! 1I (77!
+ 7,36 7,87 7,>6 (,36
d
#n 5 ($
#n 5 (,6(:$
,,
II. PREGTIREA PROBELOR METALOGRAFICE
+naliza microscopic constituie una din cele mai rsp%ndite metode de control a
materialelor metalice. Pentru cunoaterea proprietilor fizice, mecanice sau tehnologice ale
unui metal sau aliaj este necesar cunoaterea constituenilor structurali din care este alctuit,
a naturii, numrului, formei, dimensiunilor i distribuiei lor.
,eoarece materialele metalice sunt opace chiar i n seciuni foarte subiri, e!aminarea
lor la microscop se face aproape e!clusiv n lumin reflectat i de aceea este necesar o
pregtire prealabil a suprafeei unei probe, numit prob metalografic #eantion, epruvet,
lif$.
Pregtirea probelor metalografice se face conform SF+S 8374&98 i const din
urmtoarele operaii0 prelevarea, planarea, lefuirea, lustruirea i atacul metalografic.
II.1. Pr%v"r" prob%or m!"%o&r"'ic
)a prelevarea probelor metalografice trebuie avut n vedere alegerea corect a locului
de prelevare i a metodei de tiere #debitare$. +legerea locului se face n funcie de tipul i
dimensiunile produsului conform tabelului (.8. pentru semifabricate i tabelului (.6. pentru
piese.
Tab.1.4. Mo+$% + pr%v"r " prob%or +in #mi'"bric"!.
Tip$% pro+$#$%$i Mo+$% + pr%v"r " probi
Semifabricate i
bare
& p%n la 87 mm
inclusiv
& de la 87 mm p%n la
:7 mm inclusiv
& peste :7 mm.
& prin secionarea longitudinal a produ&
sului n dou pri #fig.(.(8.a.$
& prin secionarea unui cadran al unei sec&
iuni transversale #fig.(.(8.b.$
& se face o reforjare sau relaminare p%n la
diametrul sau latura de :7 mm dup care
se iau probe conform figurei (.(8.b.
Fable, platbande
i benzi
& p%n la 87 mm
inclusiv
& peste 87 mm
& prob paralelipipedic se vor pregti 3
fee0 n direcia laminrii i perpendicular
pe aceast direcie #fig.(.(8.c.$
& se vor lua probe de la (D4 din lime se
va seciona produsul de la jumtatea
grosimii #fig.(.(8.d.$.
Produse n colaci & conform tipului i dimensiunii produ&
sului, dup ndeprtarea primului r%nd de
,3
spire de material
Jevi & prin secionarea longitudinal
#fig.(.(8.e.$
Semifabricate care nainte de laminare au
fost gurite mecanic grosimea peretelui
ma!. 367 mm
& se iau 6 probe de control dimensiunea
fiecrei probe n direcia radial este (D6
din grosimea peretelui #fig.(.(8.f.$.
Fig.1.14. A%&r" %oc$%$i + pr%v"r " prob%or m!"%o&r"'ic +in #mi'"bric"!.
,imensiunile i forma probelor se determin n funcie de necesitile de cercetare,
gabaritul i configuraia produsului, precum i de tipul microscopului din dotare. "binuit se
taie probe cilindrice sau prismatice cu nlimea de (6 * 37 mm i aria suprafeei de studiat de
3 * 4 cm
3
.
In cazul materialelor fragile, greu prelucrabile #de e!emplu, fonte albe sau pestrie$,
probele se preleveaz prin spargere #lovire cu ciocanul$ n aceast situaie, probele nu se aduc
,:
" b
c +
'
la o form special, pregtindu&se doar o suprafa pe bucata de material rezultat. Inlimea
trebuie s fie sub 36 mm, pentru ca proba s ncap ntre obiectiv i msua microscopului.
,ac semifabricatele sau piesele sunt de dimensiuni mari, se detaeaz prin procedee
mecanice sau o!igaz o bucat de material, din care se taie ulterior probe pentru analiza
microscopic. ,ac se debiteaz prin procedeul o!iacetilenic, se va lsa un adaos de la linia
de tiere la marginea probei de apro!. (6 * 37 mm care se va ndeprta ulterior prin achiere.
+daosul prevzut va cuprinde zona influenat termic n care structura este modific.
Tab.1.5. Mo+$% + pr%v"r " prob%or +in pi#.
H"!$r" pi#%or Loc$% + pr%v"r " prob%or Ob#rv"ii
Piese defecte
In imediata vecintate a locului cu
defecte se va lua o prob i din partea
sntoas pentru cercetarea comparativ.
,efectul va fi inclus
obligatoriu n prob #cel
puin parial c%nd are
dimensiuni mari$.
Piese decarbu&
rate, piese cu
stratul superfi&
cial tratat chi&
mic sau elec&
trochimic
Proba va conine seciunea transversal a
suprafeei e!terioare care urmeaz a fi
cercetat.
&
Piese turnate
,up necesitate, din zonele caracteristice
de solidificare a metalului topit #zona
marginal, zona transcristalizare, zona
central ori zona cu retasur sau pori$.
Pentru e!aminarea se&
gregaiei dendritice se
recomand probe trans&
versale, iar pentru e!a&
minarea segregaiei zo&
nale probe longitudinale
sau transversale.
Piese cu sec&
iuni variabile
,in regiunile masive i din cele subiri ale
piesei, pentru cercetarea comparativ.
&
Piese cu crp&
turi sau cu rup&
turi
Proba va cuprinde defectul n toat
lungimea #ad%ncimea$ lui dac lungimea
defectului nu permite includerea lui n
prob, se iau mai multe probe transver&
sale cuprinz%nd defectul, pe c%t posibil pe
toate lungimea lui, inclusiv v%rful lui.
Proba trebuie s ilus&
treze i s defineasc
defectul n ansamblului
lui marginea defectului
nu trebuie turtit sau ro&
tunjit n timpul preg&
tirii probei.
Piese sferice
matriate #bile$
Se determin mai nt%i prin atac macro&
scopic direcia iniial a fibrajului barei
din care a fost obinut bila, dup aceasta
proba metalografic lu%ndu&se prin sec&
ionarea bilei la unghiul dorit fa de
aceast direcie.
&
Piese sudate
Proba trebuie s cuprind principalele
zone caracteristice ale mbinrii sudate0
custura, zona de trecere, zona influenat
termic, materialul de baz seciunea se
face transversal pe lungimea custurii.
Seciunea se realizeaz
transversal pe a!a cus&
turii pentru custurile
mari se detaeaz probe
din fiecare zon carac&
teristic.
,0
In cazul debitrii probelor cu foarfeca, zona de material deformat prin strivire trebuie
ndeprtat prin achiere. )a materialele metalice moi nu se recomand prelevarea probelor cu
dalta #manual su pneumatic$ deoarece structura lor se deformeaz, modific%ndu&se forma,
orientarea i dimensiunile cristalelor, precum i caracteristicile mecanice.
In cazul materialelor metalice cu duriti mari #peste 877 1C$ ca i la cele ce se
durific considerabil prin ecruisare n timpul achierii #de e!emplu, oelurile nalt aliate cu
mangan$, tierea se realizeaz prin procedee neconvenionale.
Probele din materiale metalice prelucrabile prin achiere se obin, n majoritatea
cazurilor, prin debitare pe maini&unelte uzuale. Pentru a nu se modifica structura ca urmare a
nclzirii n procesul de achiere, tierea se realizeaz n mod obligatoriu cu rcire abundent
cu ap, emulsie de spun, ulei sau aer comprimat.
II.,. P%"n"r" prob%or m!"%o&r"'ic
"binerea suprafeei plane se realizeaz prin pilire, frezare sau polizare. )a aceast
operaie trebuie avut grij ca piesa s nu se deformeze sau s se nclzeasc, mai ales n cazul
metalelor puternic deformate la rece sau tratate termic, deoarece se produce uor o modificare
a structurii originale. ,ac proba a fost debitat pe maini&unelte sau cu ferstrul de m%n,
aceast faz nu mai este necesar.
In cazul probelor mici, care nu pot fi inute cu m%na se folosesc dispozitive speciale de
prins at%t pentru planare, c%t i pentru lefuire i aezare pe microscop. +stfel, probele subiri
#de e!emplu, table$, se fi!eaz cu ajutorul unor cleme speciale, formate din dou lamele
metalice a cror distan poate fi reglat prin dou uruburi, n scopul fi!rii dup grosimea
probelor #fig.(.(6.$.
Probele foarte mici #de e!emplu, s%rme, granule$ se pot fi!a ntr&un cadru #de
e!emplu, ntr&o bucat de eav$ cu ajutorul unor aliaje uor fuzibile, rini sintetice, materiale
plastice, bachelit, polimeri etc. #fig.(.(>.$.
Fig.1.15. Fi@"r" prob%or c$ c%m #pci"%4
1. c%m6 ,. prob".
Fig.1.16. Fi@"r"
prob%or c$ "%i"A $/or '$Bibi%.
II.3. I%'$ir" prob%or m!"%o&r"'ic
Klefuirea are ca scop obinerea unei suprafee perfect plane, fr zg%rieturi, cu grad
nalt de luciu. +ceast operaie se e!ecut cu ajutorul h%rtiilor metalografice #particule
,2
,
1
abrazive de carbur de siliciu sau electrocorund pe suport de h%rtie$ notate dup mrimea
liber a ochiului sitei n sutimi de milimetru sau dup notaia internaional * numr de
ochiuriDol liniar #tab.(.>.$.
Klefuirea se poate realiza manual sau mecanic, uscat sau umed.
In cazul lefuirii manuale h%rtia metalografic se aeaz pe o plac de sticl montat
prin intermediul unei plci de cauciuc pe un suport de lemn. Proba uor apsat se mic
numai ntr&o singur direcie printr&o micare alternativ, poziia de lucru corect fiind
prezentat n figura (.(9.
Tab.1.6. Simbo%iB"r" h8r!ii m!"%o&r"'ic.
Tip + "br"Biv
Simbo%
C%"#" Mrim" %ibr ochi$%$i
#i!i G7n #$!imi + mm5
H$mr$% +
ochi$riFo% %ini"r
Iranule
37
(>
97
:7
fin
Pulberi
(3
(7
(77
(37
:
>
6
8
(67
(:7
387
3:7
foarte fin
'icropulberi
' 87
' 3:
' 37
' (8
' (7
' 9
' 6
437
877
677
>77
977
:77
;77
e!trafin
&
&
&
(777
((77
(377
(677
3777
Fig.1.17. PoBii" + %$cr$ %" /%'$ir" m"n$"%.
,C
Klefuirea se e!ecut pe minim : h%rtii metalografice pornindu&se de la granulaia (67
sau (:7 p%n la :77 * (377. )a fiecare schimbarea a h%rtie proba va fi tears i rotit cu ;7

astfel ca noile rizuri s formeze un unghi drept cu cele precedente. Se trece la urmtoarea
h%rtie metalografic atunci c%nd s&a constatat c toate rizurile de la lefuirea anterioar au
disprut.
1%rtia de lefuit se cur, prin scuturare, de praful metalic sau abraziv ori de c%te ori
se folosete nu se admite utilizarea aceleai h%rtii metalografice pentru materiale feroase i
neferoase.
)a sf%ritul operaiei, proba se splat sub jet de ap pentru a ndeprta urmele de
abraziv sau praf metalic i se usuc prin tergere.
In cazul lefuirii mecanice se folosesc maini de lefuit verticale sau orizontale la care
h%rtia se fi!eaz pe discuri rotative #fig.(.(:.$.
Fig.1.18. M"/in + /%'$i! prob m!"%o&r"'ic.
4lefuirea umed, aplicat mai ales la lefuirea mecanic, se e!ecut sub jet continuu
de ap, utiliz%nd h%rtii metalografice hidrofile. In timpul lefuirii proba nu trebuie s se
nclzeasc peste temperatura m%inii.
II.:. L$#!r$ir" prob%or m!"%o&r"'ic
)ustruirea are ca scop nlturarea ultimelor urme ale lefuirii i obinerea unei
suprafee plane cu luciu oglind. +ceast operaie se poate e!ecuta mecanic sau electrolitic.
$ustruirea mecanic se realizeaz pe maini prevzute cu un disc rotitor pe care se
fi!eaz p%sl de l%n merinos, postav, fetru sau catifea n funcie de materialul probei
metalografice. In timpul lustruirii p%sla se mbib cu o suspensie apoas de o!id de alumin
sau o!id de crom. .el mai adesea se utilizeaz o suspensie fin de alumin #+l
3
"
4
$ n ap,
foarte slab acidulat cu c%teva picturi de acid azotic la un litru de suspensie. Suspensia
original trebuie diluat cu ap, dup prescripiile firmei productoare.
Suspensiile de alumin sunt de trei clase de finee, i anume0
& nr.(., este suspensia cu particulele cele mai grosolane se utilizeaz pentru lustruirea
materialelor metalice dure
& nr.3., de finee mijlocie, se folosete pentru metalele i aliajele cu duritate mijlocie
& nr.4., este cea mai fin i este destinat materialelor metalice moi #neferoase$.
.a ageni de lustruire mai pot fi utilizate suspensii de o!id de crom #.r
3
"
4
$, o!id de
fier #Ae
3
"
4
$, o!id de magneziu #'g"$ sau pulbere de diamant #pentru materiale foarte dure0
oeluri clite, fonte albe etc.$.
Pentru a se obine o suprafa uniform lustruit proba se rotete i se deplaseaz n
sens invers sensului sensului de rotaie a discului. -ezultate foarte bune se obin dac se
procedeaz n felul urmtor0 se aeaz, la jumtatea razei discului, o prob metalografic
,1
> J
"p
"p
paralelipipedic, cu una din laturi contra sensului de rotire a discului i se menine sub apsare
relativ puternic un minut se rotete apoi proba cu ;7

aduc%nd o nou latur n poziia


iniial i se menine sub apsare un minut. ,up patru minute se ajunge n poziia iniial. Se
menine nc un minut, n zona marginal a discului, sub o apsare foarte uoar i se rotete
uor dup cele patru laturi. Pentru o prob cilindric se respect aceleai etape n raport cu
dou diametre perpendiculare ale suprafeei de lustruit. Inclzirea probei n timpul lustruirii
mecanice se evit prin rcire cu ap.
,up apro!. 6 minute, lustruirea se consider terminat aceast operaie nu trebuie s
dureze prea mult, deoarece constituenii structurali moi sunt erodai. In continuare, proba se
spal cu ap cu un tampon de vat, se degreseaz cu alcool, se usuc prin tamponare pe h%rtie
de filtru sau n curent de aer cald i se verific la microscop #mrire (77!$ suprafaa trebuie
s fie neted, fr zg%rieturi i s aib luciu metalic. Probele lustruite se pstreaz n e!icator
pentru a nu se o!ida suprafaa datorit umezelii din aer.
,in punct de vedere fizic, lustruirea este diferit de lefuire. Klefuirea are la baz un
proces de abraziune a suprafeei, n timp ce la lustruirea mecanic asperitile se niveleaz
prin GcurgereaH a materialului. Suprafaa probei este puternic deformat la rece #ecruisat$ cu
formarea unui strat subire amorf, numit Lstrat Ceilb2L. +cest strat, care d aspect de oglind
suprafeei, este ndeprtat n mare msur prin atac metalografic.
$ustruirea electrolitic, n comparaie cu cea mecanic este mai productiv, evit
ecruisarea superficial i denaturarea structurii i permite prelucrarea simultan a dou
suprafee perpendiculare. +ceast metod este recomandat pentru lustruirea probelor din
materiale metalice monofazice #cupru, alam , bronz etc.$.
Principiul lustruirii electrolitice const n dizolvarea anodic a suprafeei probei,
schema instalaiei fiind prezentat n figura (.(;.
Fig.1.19. Schm"
in#!"%"ii + %$#!r$ir %c!ro%i!ic4
1. v"#6 ,. %c!ro%i!6 3. v"# + rcir6 :. c"!o+6
0. prob6 2. "&i!"!or6 C. !rmom!r$6
1. rBi#!n r&%"bi%.
/lectrolitul i regimul de lucru #temperatura, tensiunea, densitatea de curent, timpul, i
materialul catodului$ se aleg n funcie de natura materialului probei metalografice #tab.(.9.$.
II.0. A!"c$% m!"%o&r"'ic
,(
K
A
1
,
3
C
:
0
2
1
+tacul metalografic are drept scop punerea n eviden a structurii microscopice.
Suprafaa lustruit se atac cu reactivi corespunztori care dizolv sau coloreaz selectiv
diferiii constitueni prezeni n structur fc%ndu&i s se disting unul de cellalt. +tacul
metalografic se poate realiza c5imic sau electrolitic reactivii utilizai difer n funcie de
natura materialului i scopul atacului.
Atacul c5imic. 'icrostructura materialelor metalice, caracterizat de dimensiunile,
forma, distribuia reciproc i proporia constituenilor structurii, se pune n eviden prin
tratarea probei lustruite cu un reactiv care atac selectiv diferitele elemente structurale.
Principiul atacului chimic se bazeaz deci pe faptul c materialele metalice prezint
neomogeniti chimice i structurale care se comport diferit fa de reactivii de atac.
Tab.1.7. E%c!ro%ii pn!r$ %$#!r$ir %c!ro%i!ic " m"!ri"%%or m!"%ic.
M"!ri"% CompoBii" %c!ro%i!$%$i
*n#i!"!"
+ c$rn!
LAFcm
,
M
Tn#i$n"
LKM
*$r"!" Ob#rv"ii
+luminiu
i aliajele
sale
377 cm
4
acid percloric,
:77 cm
4
anhidrid #d 5
(,8:$, 4 * 6 g aluminiu
4 & 6 67 & (77
6 * (6
minute
.atod de aluminiu
temperatura sub
67

.
+luminiu
i aliajele
sale
377 cm
4
acid percloric,
:77 cm
4
alcool etilic, 36
cm
4
eter
377 & 877 47
: * (3
sec.
.atod de aluminiu
+lam
377 g acid cromic, (777
cm
4
ap
367 & & .atod de platin
"el
ino!idabil
377 cm
4
anhidrid aceti&
c, (77 cm
4
acid per&
cloric, 7,6 g aluminiu
> 67
8 * 6
minute
+mestec e!plosiv.
.atod de fier sau
aluminiu. Fempe&
ratura sub 47

.
+liaje
Ae * Mi
977 ml acid acetic
#glacial$, 477 ml acid
percloric #>7@$
7,7> 87 & (77
( &6
minute
&
.upru +cid ortofosforic
7,>6 *
7,36
3
6
minute
.atod de cupru
Cronz ;;7 gDl acid ortofosforic ( & 3 & & &
Staniu
(;8 cm
4
acid percloric,
:7> cm
4
anhidrid ace&
tic
; & (6 36 & 87
: * (7
minute
.atod de staniu.
Femperatura sub
(6 * 33

.
Ninc
377 g acid cromic, (77
cm
4
ap
367 & & .atod de platin
Plumb
977 cm
4
anhidrid ace&
tic, 477 cm
4
acid per&
cloric
( & 3 & &
+mestec e!ploziv.
.atod de cupru
+tacul chimic se realizeaz prin imersionarea i agitarea probei n reactiv sau prin
tamponarea cu vat nmuiat n reactiv p%n la dispariia luciului oglind. Proba se spal n
ap sau alcool i se usuc prin tamponare pe h%rtie de filtru sau n curent de aer cald. ,urata
atacului variaz de la c%teva secunde la c%teva minute n funcie de compoziia i structura
materialului probei.
In tabelul (.:. sunt prezentai principalii reactivi de atac chimic, domeniul de utilizare
i condiiile de atac.
3)
Atacul electrolitic. ,atorit caracterului electrochimic diferit, la materialele metalice
cu mai muli constitueni se formeaz n timpul atacului chimic, micropile, poriunile anodice
dizolv%ndu&se mai repede. Aenomenul st la baza atacului electrolitic, tehnic ce utilizeaz n
general aceleai instalaii ca i lustruirea electrolitic. In acest caz, tensiunea aplicat
depete mult potenialele diferitelor microelemente i determin o dizolvare anodic
difereniat a constituenilor structurali n funcie de conductivitatea lor electric poriunile
fr conductivitate sau cu conductivitate mic se vor dizolva comparativ mai slab #ca de pild
carburile$, pe suprafaa corodat rm%n%nd un relief al masei metalice. ?itezele absolute de
dizolvare a constituenilor structurali depind de natura lor, de compoziia electroliilor i de
parametrii de desfurare a procesului.
In tabelul (.;. sunt prezentai diferii reactivi de atac electrolitic, precum i condiiile
de aplicare.
Tab.1.8. R"c!ivi + "!"c chimic pn!r$ "n"%iB" micro#copic.
*n$mir" /i compoBii"
r"c!iv$%$i
Con+iii + "!"c In!rb$in"r. Ob#rv"ii
6ital
+cid azotic conc. ( * 6 cm
4
+lcool etilic (77 cm
4
Prin imersie "eluri i fonte nealiate
Picral
+cid picric 8 g
+lcool etilic (77 cm
4
Prin imersie "eluri i fonte nealiate
Persulfat de amoniu
Persulfat de amoniu (7 g
+p distilat (77 cm
4
Prin imersie 67 * >7 s. Se
prepar proaspt
.upru, bronzuri cu
aluminiu, alame recoapte,
aliaje .u&Mi
Soluie de acizi
+cid azotic conc. : cm
4
+cid clorhidric conc.(3 cm
4
+lcool (777 cm
4
"eluri austenitice
ino!idabile
Soluie de acizi
+cid azotic conc. (6 cm
4
+cid clorhidric conc.47 cm
4
Ilicerin 86 cm
4
Aiecare acid se dizolv n
glicerin i apoi se ames&
tec. Se prepar proaspt
se utilizeaz la 87

.
"eluri nalt aliate cu crom
oeluri rapide
&eactiv 7ilella
+cid clorhidric conc. 6 cm
4
+cid picric ( g
+lcool etilic ;6 cm
4
"eluri cu crom, crom&
nichel, crom&nichel&
mangan pune n eviden
structurile martensitice
&eactiv cu clorur feric
.lorur feric (7 g
+cid clorhidric conc.47 cm
4
+p distilat (37 cm
4
+lame i bronzuri
&eactiv cu clorur cupric
amoniacal
.lorur cupric amoniacal
(7 g
+p distilat (37 cm
4
Se adaug amoniac p%n
c%nd precipitatul care se
formeaz se dizolv
)a ntrebuinare se poate
dilua cu ap
Structuri i n alame,
alame speciale, bronzuri cu
aluminiu
&eactiv Palmerton
+cid cromic 37 g
+liaje ale zincului
31
Sulfat de sodiu (,6 g
+pa distilat (77 cm
4
&eactiv cu acid clor5idric
+cid clorhidric (7 cm
4
+pa distilat (77 cm
4
+liaje de aluminiu, aliaje de
nichel, aliaje de plumb
Acid fluor5idric
+cid fluorhidric ( * (7 @ n
ap sau alcool
Preferabil de aplicat prin
tergere
+liaje de aluminiu, aliaje de
magneziu
&eactiv 7ilella
+cid fluorhidric 37 cm
4
+cid azotic conc. (7 cm
4
Ilicerina 47 cm
4
+liaje de aluminiu
Tab.1.9. R"c!ivi + "!"c %c!ro%i!ic.
M"!ri"% CompoBii" %c!ro%i!$%$i
*n#i!.
+
c$rn!
LAF+m
,
M
Tn#i$>
n"
LKM
*$r"!"
L#M
Tmp>
r"!$r"
L

CM
"eluri carbon i slab
aliate
+cid clorhidric 8 ml
+cid picric ( g
+lcool (77 ml
:&(3 3&6 (7&37 (7&37
"eluri .r&Mi #(:&:$ +cid azotic conc. (7&37 >&: 87&>7 (7&(6
Cronzuri 7,96 (&3 (7&37 37&36
+lame, bronzuri cu
aluminiu
+cid ortofosforic
concentrat
4 3 6&37 37&36
.upru i aliaje de cupru > (,6&(,: (7&(6 37&36
+luminiu i aliaje de
aluminiu
+cid ortofosforic 64 ml
+cid fluorhidric #8:@$
(ml
,iet2len gl2col mono&
et2l eter 37 ml
3(7 (3&(6 4&6 36&47
+liaje de magneziu
1idro!id de sodiu (7 g
+p ;7 ml
.u 7,7> gD(777ml
7,64 8 & &
Fitan i aliaje de titan
+nhidrid cromic : g
+p (7 ml
7,6 3&4 (7&>7 37&47
Ninc i aliaje de zinc
+cid ortofosforic
43,6 ml
+lcool etilic >9,6 ml
7,6&7> >&(3 (7&36 37
Michel i cobalt +cid azotic, o parte (3&(6 3&4 9&(7 37
.rom i aliaje de crom +lcool metilic, 3 pri ( :&(3 & (6
II.2. Con+iii + %$cr$ 7n %"bor"!or
'etoda de lucru0 lefuirea manual, lustruire mecanic atac metalografic #chimic$
Probe metalografice0 din oel, font i aliaje neferoase
+paratura0 main de lustruire mecanic, microscop metalografic optic.
3,
II.C. Mo+$% + %$cr$ 7n %"bor"!or
Aiecare student va face pregtirea unei probe metalografice parcurg%nd etapele0
& lefuirea manual pe h%rtiile metalografice0 (67, 437, 877, 677, >77, :77, (777
& splarea probei i a m%inelor n curent de ap
& lustruire mecanic
& splarea probei n ap i uscarea prin tamponare pe h%rtie de filtru
& analiza la microscop i schiarea imaginii probei dup lustruire
& atac chimic cu reactivul specificat materialului probei
& analiza la microscop i schiarea structurii.
II.1. L$cr"r" pr"c!ic GprBn!"r" rB$%!"!%or5
Schia imaginii observate la microscop a probei lustruite i dup atacul cu reactiv
chimic0
Proba lustruit Proba atacat cu reactiv
chimic
'aterialul analizat0 .......................
1%rtiile metalografice utilizate0 .............................
+gentul de lustruire folosit0 ............................................
-eactivul chimic utilizat la atacul metalografic0 ....................................
'rirea microscopului0 ............................
33
Bibliografie
(. +brudeanu, '., Studiul metalelor8 9ndrumar de laborator, Oniversitatea din Piteti,
(;;6.
3. Cibu, '., )etalografia alia:elor feroase i neferoase, /ditura Oniversitii G)ucian
ClagaH, Sibiu, 3777.
4. .olan, 1., s.a., Studiul metalelor, /.,.P., Cucureti, (;>:.
8. ,rugescu, /., Odvuleanu, +., )etalurgie fizic i tratamente termice8 $ucrri de
laborator, Oniversitatea din Ialai, (;:(.
6. ,ulucheanu, .., Cncescu, M., )ateriale mecatronice8 9ndrumar de laborator,
Oniversitatea GKtefan cel 'areH Suceava, 3778.
>. ,ulucheanu, ., 4tiina i ingineria materialelor8 $ucrri de laborator, Proiectul0
GKcoal universitar de formare iniial i continu a personalului didactic i a trainerilor din
domeniul specializrilor tehnice i inginereti * ,idaFecH, P"S,-OD:9D(.4DS>7:;(,
PPP.didatec.ro, 37(4.
9. ,umitrache, .., Crhlescu, '., 4tiina materialelor8 9ndrumar de laborator,
/ditura 'atri! -om, Cucureti, 377;.
:. I%dea, S., Ieru, M., s.a., )etalografie, /.,.P., Cucureti, (;98.
;. Ieru, M., Cane, '., s.a., +naliza structurii materialelor metalice, /ditura Fehnic,
Cucureti, (;;(.
(7 Iramaticu, '., ,ulucheanu, .., Kauga, ?., )etalografia practic a oelurilor i
fontelor, Oniversitatea GKtefan cel 'areH Suceava, (;;4.
((. )evcovici, S., ,rugescu, /., s.a., Studiul materialelor metalice8 9ndumar de
laborator, Oniversitatea din Ialai, (;;(.
(3. )evcovici, S., s.a., 4tiina i ingineria materialelor8 9ndrumar de lucrri de
laborator pentru studenii facultii de mecanic, Oniversitatea G,unrea de QosH din Ialai,
377>.
(4. 'angra, '., ,iaconu, ?., Fr, ,., Studiul metalelor8 9ndrumar pentru lucrri de
laborator, Oniversitatea din .raiova, (;:;.
(8. 'itelea I., Cudu, ?., Studiul metalelor8 9ndrumtor pentru lucrri de laborator,
Institutul Politehnic GFraian ?uiaH Fimioara, (;:3.
(6. 'itelea I., Cudu, ?., Studiul metalelor8 9ndreptar te5nic, /ditura Aacla, Fimioara,
(;:9.
(>. Popa, './., 'ihu, I., 4tiina materialelor n e;perimente, /d. Politehnica,
Fimioara, 37(3.
(9. -dulescu, '., ,rgan, M., s.a., Atlas metalografic, /ditura Fehnic, Cucureti,
(;9(.
3:
(:. Fruculescu, '., Fache, +.'., s.a., Studiul metalelor8 <e5nici de laborator, /ditura
Aacla, Fimioara, (;99.
(;. R R R, )icroscop de cercetare metalografic )=>-8 =arte te5nic, Intreprinderea
"ptica -om%n Cucureti.
37. R R R, 9nstruction manual8 9nverted microscope model 9)?9)<, /!acta * "ptech
Imb1, 'Snchen.
30