LUCRAREA NR.

2
__________________________________________________________________________________________1

MATERIALE FEROELECTRICE
2.1 Scopul lucrrii
Scopul acestei lucrri este determinarea dependenei de frecven i temperatur a
permitivitii complexe relative i studiul efectului piezoelectric pentru materiale ceramice
feroelectrice.

2.2 Noiuni teoretice

2.2.1 Feroelectricitatea
Materialele cu polarizare spontan sunt materiale care se caracterizeaz prin existena
unui moment electric nenul al unitii de volum n absena unui cmp electric exterior. Celula
elementar a unui asemenea material prezint moment dipolar spontan printr-unul din
urmtoarele mecanisme:
- polarizarea de deplasare a electronilor atomici;
- polarizarea de deplasare a ionilor celulei elementare.
Vectorul polarizaie spontan

se caracterizeaz prin simetria limit de tip m care

conine urmtoarele elemente de simetrie:

- o ax de rotaie de ordinul care conine dreapta suport a vectorului
- o infinitate de plane de oglindire care conin aceast dreapt.
Pentru ca ntr-un material s existe polarizaie spontan este necesar ca simetria
structural a materialului s constituie, conform principiului lui Neumann, un subgrup al
clasei de simetrie limit m; din cele 32 de clase de simetrie cristalin existente n natur,
numai 10 ndeplinesc aceast condiie i anume: 1, 2, 3, 4, 6, m, mm, 3m, 4mm, 6mm.
Starea feroelectric reprezint o stare de ordine a materiei, rezultat spontan din
tendina ctre stabilitate care corespunde unui minim al energiei libere totale a materialului.
Din acest motiv temperatura influeneaz starea de polarizaie spontan prin efectul
perturbator. n consecin exist o temperatur limit, numit temperatur Curie T C, la care
agitaia termic distruge starea de ordine dielectric, materialul pierznd polarizarea sa
spontan.
Prefixul fero nu are legtur cu materialul fier, dar reprezint o analogie cu
fenomenul de feromagnetism care se va studia la materiale magnetice. n anumite materiale,
dipolii electrici nu sunt distribuii aleator, ci interacioneaz unul cu altul, astfel c se pot

LUCRAREA NR. 2
2__________________________________________________________________________________________

alinia, unul dup altul, chiar n absena unui cmp electric aplicat. Va rezulta, prin urmare, o
polarizare spontan i o constant dielectric r mare. Asemenea proprieti sunt foarte utile la
realizarea condensatoarelor dar, la fel ca n cazul feromagnetismului, nu sunt multe materiale
care au aceste proprieti.
Dup modul n care are loc tranziia de faz la temperatura Curie T C materialele
feroelectrice se mpart n dou categorii:
-materiale cu tranziie de faz de ordinul I caracterizate prin anularea cu salt a
polarizaiei spontane la TC (Fig. 2-1a);
-materiale cu tranziie de faz de ordinul II caracterizate prin scderea monoton i
continu a polarizaiei spontane la TC (Fig. 2-1b).
Structura materialelor feroelectrice poate fi monocristalin sau policristalin.
Indiferent de structura cristalin se constat c n aceste materiale ordinea dielectric spontan
se caracterizeaz prin formarea de domenii dielectrice n interiorul crora momentele electrice
ale celulelor elementare sunt orientate n aceeai direcie i sens, dar diferite domenii pot avea
orientri diferite. Drept rezultat polarizaia macroscopic prezentat de material este n general
mai mic dect valoarea corespunztoare orientrii
homoparalel a tuturor momentelor dipolare elementare, putnd fi i nul.

Fig. 2-1. Materiale feroelectrice de spea I i II.

Principalele caracteristici ale materialelor feroelectrice sunt dependena de tip

histerezis a induciei electrice de intensitatea cmpului electric aplicat i dependena
permitivitii complexe relative de intensitatea cmpului electric, de frecven i temperatur.
2.2.2 Piezoelectricitatea
Materialele feroelectrice care prezint polarizaie remanent nenul se caracterizeaz
prin efect piezoelectric direct i invers, care const n interaciunea dintre mrimile electrice
(intensitatea cmpului electric
mecanic

i inducia electric

i deformaia mecanic relativ

) i mrimile mecanice (tensiunea

). n domeniul liniar, de semnal mic, n regim

LUCRAREA NR. 2
__________________________________________________________________________________________3

armonic (cnd mrimile cauz mecanice i electrice variaz sinusoidal n timp) efectul
piezoelectric poate fi descris cantitativ prin urmtorul sistem de ecuaii:
[D]=0[T][E]+[d][T]

(2.1)

[S]=[dt][E]+[sE][T]
unde [E] este reprezentarea n complex simplificat a vectorului cmp electric;
[T] - reprezentarea n complex simplificat a tensorului tensiune mecanic;
[D] - reprezentarea n complex simplificat a vectorului inducie electric;
[S] - reprezentarea n complex simplificat a tensorului deformaie elastic. Factorii de
proporionalitate sunt parametri de material.
Rezonatoarele piezoelectrice (rezonatoare cu cuar i rezonatoare ceramice) fac parte
din categoria dispozitivelor piezoelectrice funcionale alturi de filtrele piezoelectrice, liniile
de ntrziere piezoelectrice i transformatoarele piezoelectrice. Din punct de vedere al
domeniului frecvenelor de lucru, rezonatoarele piezoelectrice se ncadreaz n dispozitivele
piezoelectrice neliniare, dispozitive care funcioneaz n aproprierea rezonanei elastice unde
amplitudinea undei staionare de natur elastic are amplitudine mare; amplitudine care scade
puternic n afara rezonanei.
Metoda de determinare a proprietilor materialelor piezoelectrice este o metod
dinamic de rezonan. Ea se bazeaz pe faptul c prin aplicarea unui cmp electric sinusoidal
de frecven f punctele materiale ale unei probe piezoelectrice vor oscila elastic forat cu
aceeai frecven f. Amplitudinea oscilaiilor elastice este maxim dac nu exist fore elastice
externe care s le atenueze. Unda elastic determinat de oscilaiile elastice se propag fie pe
o direcie paralel cu direcia de oscilaie, n acest caz unda elastic numindu-se und
longitudinal, fie pe o direcie perpendicular, corespunztor obinndu-se o und elastic
transversal.
Lungimea de und care caracterizeaz propagarea undei elastice este dat de
relaia:

vf
f

(2.2)

unde: vf este viteza de propagare a undei elastice n materialul piezoelectric, iar f frecvena
oscilaiei elastice.
n cazul cnd dimensiunea probei pe direcia de propagare a undei elastice este un
multiplu al jumtii lungimii de und, n proba piezoelectric se stabilete un regim de und

LUCRAREA NR. 2
4__________________________________________________________________________________________

elastic staionar, determinnd fenomenul de rezonan elastic. n acest caz oscilaiile sunt
maxime, singurul fenomen care limiteaz amplitudinea lor fiind frecarea intern. Deci,
rezonatorul piezoelectric este un dispozitiv electronic care funcioneaz la frecvena electric
corespunztoare regimului de und staionar. El este construit dintr-o structur de form i
dimensiuni oarecare, confecionat din material piezoelectric i dou armturi metalice pe care
aplicnd o tensiune electric de frecven dorit se induce n structur un cmp electric
corespunztor de comand care va genera oscilaii i unde elastice. Modul fundamental de
vibraie la rezonan este caracterizat de frecvena fs dat de urmtoarea relaie:
fs

vf

vf
2l

(2.3)

Indiferent de forma constructiv i tipul de material piezoelectric, schema electric

echivalent, general valabil, a unui rezonator piezoelectric n regiunea rezonanei
fundamentale este prezentat n Fig. 2-2.

Fig.2-2. Schema echivalent a unui rezonator piezoelectric.

Elementele din schema echivalent au urmtoarele semnificaii:

C S0 este capacitatea electric prezentat de rezonator dac se mpiedic, printr-o

metod oarecare (de exemplu ncastrare), oscilaia elastic;

R0 este rezistena echivalent a pierderilor de putere activ de natur dielectric;
Reactana L-C modeleaz electric rezonana elastic; inductana L este determinat
de masa rezonatorului, iar C de coeficientul de elasticitate;
R este o rezisten care atenueaz oscilaia electric a circuitului serie L-C, fiind
determinat de pierderile de putere activ de natur elastic, datorate vscozitii interne a
materialului piezoelectric.
Circuitul serie R-L-C este activ numai n apropierea rezonanei elastice, n orice alt
domeniu de frecven el fiind pasiv, prezentnd o impedan mult mai mare dect circuitul
derivaie C S0 -R0: pentru frecvene mult mai mici dect fs impedana mare este determinat de

LUCRAREA NR. 2
__________________________________________________________________________________________5

C, iar pentru frecvene superioare lui fs impedana mare este determinat de L. Dependena
admitanei de intrare a unui rezonator piezoelectric de frecvena electric este caracterizat de
un grup de ase frecvene cu urmtoarele semnificaii:
fs - frecvena de rezonan serie a circuitului L-C;
fp - frecvena de rezonan derivaie a circuitului (L-C)- C S0 ;
fm - frecvena la care modulul admitanei este maxim;
fn - frecvena la care modulul admitanei este minim;
fr i fa - frecvenele la care susceptana este nul.
n cazul rezonatoarelor piezoelectrice cu pierderi de natur dielectric i elastic
neglijabile cele trei perechi de frecvene coincid:
fm = fn = fs
fr = fa = fp
La rezonatoarele piezoelectrice realizate din materiale ceramice piezoelectrice cu
coeficient de cuplaj piezoelectric mare i cu factori de calitate electrici i elastici de valori
medii, dei aceste frecvene sunt foarte apropiate, nu mai pot fi neglijate pierderile elastice
care separ frecvenele fs i fp de fn i fm astfel:
f p fs

fn fm
4
1 2
Qm

(2.4)

unde Qm este factorul de calitate elastic.

Diferena ntre aceste dou frecvene este mai mic de 1% dac este ndeplinit
condiia urmtoare:
Qm2 f p f s
fs

100

(2.5)

Caracteristica de frecven a modulului admitanei de intrare a unui rezonator

piezoelectric ceramic este prezentat n Fig. 2-3.

LUCRAREA NR. 2
6__________________________________________________________________________________________

Fig. 2-3. Caracteristica de frecven a modulului admitanei de intrare a unui rezonator piezoelectric ceramic

Rezonatoarele piezoelectrice sunt dispozitive la care impedana electric de intrare

este puternic dependent de frecven, motiv pentru care sunt utilizate ca circuite rezonante cu
factori de calitate mari i foarte mari (103 108).
Funcionarea rezonatoarelor piezoelectrice se bazeaz pe efectul piezoelectric i
fenomenul de rezonan elastic, caracteristic materialelor cu structur cristalin.
Materialele cu structur cristalin sunt materiale solide, anizotrope, monocristaline
(cuarul, sarea Seignette) sau materiale ceramice policristaline (titanatul de bariu, titanatul de
plumb) i care sunt denumite materiale piezoelectrice.
Rezonatoarele piezoelectrice prezint avantajul unei mari stabiliti a frecvenei de
oscilaie datorit excelentei combinaii ntre proprietile piezoelectrice i cele mecanice,
termice i chimice ale materialelor monocristaline sau policristaline cu proprieti
piezoelectrice.
Oscilaiile (vibraiile) mecanice care apar n materialele piezoelectrice se manifest n
interiorul cristalului sub forma undelor elastice (mecanice) de volum sau la suprafaa
cristalului sub forma undelor elastice de suprafa.

2.3 Aparatura folosit

Aparatele folosite n cadrul acestei lucrri sunt:
- Analizorul de reele E 5061 A Agilent descris n Anexa 2.
- Punte de msur RLC de precizie E 4980A, Agilent. Utilizarea punii pentru
executarea msurtorilor este prezentat n Capitolul 8 (Materiale pentru Electronic,
ndrumar )

LUCRAREA NR. 2
__________________________________________________________________________________________7

2.4 Desfurarea lucrrii

2.4.1 Determinarea dependenei de frecven a permitivitii complexe relative
2.4.1.1 Metoda de msur
Se utilizeaz plachete din material feroelectric ceramic de tip PZT (soluie solid de
titanat- zirconat de plumb) de suprafa S i grosime b, avnd armturile depuse pe suprafeele
mari (al). Schema electric echivalent a probei este compus dintr-un condensator plan C S0
i un rezistor R0 , n paralel conform Fig. 2-4.

Fig. 2-4. Schema echivalent a unei probe de material ceramic de tip PZT.

Valorile condensatorului plan C S0 i a rezistorul R0 se msoar cu ajutorul

Analizorului de Reea E 5061A, ntr-o gam de frecvene date, la temperatura ambiant.
T
1
Analizor de
reea
E 5061 A

Port 1

U
a
b

CS0

R0

Fig. 2-5. Schema de msur a a unei probe de material ceramic de tip PZT.

Schema de msur din Fig. 2-5 evideniaz c, proba de material ceramic de tip PZT
este un uniport

cuplat printr-un cablu coaxial la Portul 1 (radiofrecven) RF al

Analizorului de Reea E 5061A, care prin msurarea parametrului S 11 determin prin calcul
s
valorile lui C0 i R 0 (pentru detalii vezi anexa).

Se determin permitivitatea relativ real ', permitivitatea relativ imaginar '' i

tangenta unghiului de pierderi tg cu relaiile:

1
C 0S b
C Sb
; 0 ; tg
Qe
S 0
S 0 Qe

(2.6)

LUCRAREA NR. 2
8__________________________________________________________________________________________

unde 0 este permitivitatea electric absolut a vidului:0=8,85610-12 F/m.

2.4.1.2 Mod de lucru
Se folosete o plachet de PZT cu grosimea b = 3 mm care se introduce ntr-un
dispozitiv de prob cu aria armturilor A = 80 mm2. Acest dispozitiv de prob se monteaz la
portul 1 al Analizorului de Reele E5061A (Fig. 2-3).
Pentru aceasta se execut urmtoarele operaii pregtitoare asupra analizorului de
reele E5061A n conformitate cu precizrile fcute privind funcionarea acestuia n anex :
a) Se stabilete domeniului de frecven 300kHz 40MHz astfel:
Se selecteaz cu ajutorul mouse-ului din meniul Stimulus comanda Start i se
introduce, fie de la tastatura valoarea 300k urmat de ENTER, fie prin acionarea
butoanelor de tip Up/ Down din fereastra de dialog. Dup aceasta se selecteaz comanda
Stop i procednd n mod similar, se introduce valoarea de 40MHz.
b) Programarea markeri-lor se execut astfel:
Se selecteaz din meniul Marker, pe rnd, cte un marker i se stabilete frecvena
acestuia similar cu punctul anterior. Dup ce s-au programat markerii care sunt afiai se apas
comanda More Marker i se continu programarea lor. Frecvenele sunt cele din Tabelul 21.
c) Afiarea rspunsului necesit urmtoarele comenzi dup ce s-a selectat meniul
Response:

Comanda Avg la care se stabilete valoarea de 100Hz (banda filtrului de

mediere a msurtorii i viteza de variaie a frecvenei);

Comanda Format la care se selecteaz subcomanda Smith i R+JX;

Comanda Meas se seteaz la S11

Comanda Scale la care se selecteaz subcomanda Auto.

d) Se noteaz n tabel datele citite n dreptul fiecrui marker i se efectueaz calculele

pentru , i tg
Ultima seciune a Tabelului 2-1 se completeaz folosind relaiile (2.6).

LUCRAREA NR. 2
__________________________________________________________________________________________9

Tabelul 2-1.
F [MHz]
C S0 [pF]
R
'
"
tg

0.3

0.5

10

20

40

Se traseaz diagramele '(f), ''(f), tg(f) i diagrama Cole-Cole "(').

2.4.2 Determinarea dependenei de temperatur a permitivitii complexe

relative
2.4.2.1 Metoda de msur
Se determin variaia cu temperatura a capacitii C S0 i a conductanei G0 = 1/R0 cu
ajutorul montajului din Fig. 2-6.
2

R
4
3

~130V/50Hz

~ 220V/50Hz

Fig. 2-6. Montajul folosit pentru determinarea dependenei de temperatur a permitivitii.

Cuptorul (1) este nclzit cu o rezisten (3) aflat n pereii cuptorului. Rezistena de
nclzire este alimentat de la reea prin intermediul unui autotransformator (4). Temperatura
din interiorul cuptorului se determin cu ajutorul termometru (5). Cuptorul gliseaz pe in
astfel nct s poat fi introdus proba (2) care este fixat cu ajutorul a dou tije de ceramic
refractar care apas elastic asupra probei. Prin aceste tije trec dou fire de conexiune, fiecare
fiind n contact cu cte o armtur a probei. Cele dou fire sunt conectate la o punte RLC (6)
care msoar elementele C S0 i G0 ale probei.
Se determin variaia lui C S0 i G0 n intervalul de temperaturi 20300C.
Se calculeaz parametrii de material cu urmtoarele relaii:

LUCRAREA NR. 2
10_________________________________________________________________________________________

'

G0
''
bC 0S

; tg
S
0C0 '
S 0

(2.7)

unde 0 este frecvena unghiular a semnalului de lucru al punii: 0=104 rad/s.

Temperatura Curie corespunde maximului curbei '(T), reprezentnd temperatura la
care dispare ordinea dielectric n material.
Conform teoriei fenomenologice a feroelectricitii pentru materialele feroelectrice
cu tranziie de faz de ordinul II dependena permitivitii relative reale de temperatur este de
tipul:

'

1
4 0 A0 TC T

pentru T<TC

(2.8)

i
1
pentru T>TC
2 0 A0 T TC
unde A0 este o constant fenomenologic.

'

Conform acestei teorii graficul

drepte ale lui

(2.9)

1
f (T ) arat ca n Fig. 2-7, pantele celor dou
'

1
pentru T<TC i T>TC avnd raportul:
'
tg 2
2
tg 1

Fig. 2-7. Dependena

(2.10)

1
f (T ) pentru materiale feroelectrice.
'

2.4.2.2 Mod de lucru

Proba are grosimea b=3 mm i aria armturilor S=80 mm2.
Se execut montajul din Fig. 2-6 i se efectueaz o determinare la temperatura
ambiant.
Se regleaz autotransformatorul pe poziia de ~ 110V/ 50Hz astfel nct cuptorul s-i
modifice lent temperatura i se fac citiri din 5C n 5C pn la temperatura de 250 C (pn

LUCRAREA NR. 2
_________________________________________________________________________________________11

la o temperatur cu aproximativ 50 C mai mare dect TC). La fiecare valoare a temperaturii se

msoar C S0 i R0. Valorile acestora se trec n Tabelul 2-2.
Tabelul 2-2.
T [C]
C S0 [nF]
R0 [K]

"
tg

ambiant

80

85

90

95

...

245

250

Se calculeaz ', " i tg cu ajutorul relaiilor (2.7) i tiind c factorul de calitate al

probei este Qe = 0R0 C S0 , iar 0 este frecvena unghiular de lucru a punii de msur.
Valorile calculate se trec n seciunea a doua din Tabelul 2-2.
Se traseaz diagramele '(T), ''(T) i tg(T).
Se traseaz diagrama

calculeaz raportul

1
f T determinnd TC i pantele celor dou drepte. Se

tg 2
.
tg 1

Se calculeaz constanta A0 la T1 = TC - 5 C i la T2 = TC + 5 C.
2.4.3 Determinarea parametrilor de material elastici i piezoelectrici
2.4.3.1 Metoda de msur
Metoda de determinare a proprietilor materialelor piezoelectrice este o metod
dinamic de rezonan. Ea se bazeaz pe faptul c prin aplicarea unui cmp electric sinusoidal
de frecven f punctele materiale ale unei probe piezoelectrice vor oscila elastic forat cu
aceeai frecven f. Amplitudinea oscilaiilor elastice este maxim dac nu exist fore elastice
externe care s le atenueze. Unda elastic determinat de oscilaiile elastice se propag fie pe
o direcie paralel cu direcia de oscilaie, n acest caz unda elastic numindu-se und
longitudinal, fie pe o direcie perpendicular, corespunztor obinndu-se o und elastic
transversal.
Pentru determinarea caracteristicii de frecven a rezonatorului piezoelectric ceramic
vom utiliza Analizorul de Reea E 5061A. Schema de legtur simplificat a rezonatorului la
analizor este prezentat n Fig. 2-8.

LUCRAREA NR. 2
12_________________________________________________________________________________________

Fig. 2-8. Schema de legtur a rezonatorului piezoelectric ceramic cu Analizorul de Reea E 5061A.

Analizorul de reea determin caracteristica de frecven pornind de la msurarea

termenului S11, care este factorul de reflexie la intrarea rezonatorului la portul 1 i a
termenului S21 ,care este coeficientul de transfer al semnalului transmis de rezonator de la
portul 1 la portul 2.
2.4.3.2 Mod de lucru
Schema efectiv de msur este prezentat n Fig. 2-9.
a. Se vor determina frecvenele fn i fm pentru un rezonator piezoelectric cu cuar,
conform diagramei din Fig. 2-3.
Pentru aceasta, se stabilesc la analizorul de reele, urmtorii parametrii:
Frecvena de start 4,8MHz;
Frecvena de stop 5,2MHz;
Formatul pe LogMag;
Meas pe S21;
Scala pe Auto;
Avg pe 10Hz .
Se mut jumperii de pe placa de msur, astfel nct s fie n circuit rezonatorul cu
cuar i cu ajutorul unui marker se stabilete i se noteaz ntr-un tabel( Tabelul 2-3) frecvena
maximului curbei (fn) i a minimului curbei (fm) i de asemeni se noteaz 3 puncte naintea lui
fn , 2 puncte ntre fn i fm i 3 puncte superioare lui fm , pe baza crora se va trasa un grafic.
Tabelul 2-3.
f(MHz)
A(db)

fn

fm

LUCRAREA NR. 2
_________________________________________________________________________________________13

Se schimba apoi valoarea pentru Avg i se face o comparaie ntre curbe. Valorile
pentru Avg sunt: 30Hz, 100Hz, 1KHz, 3kHz, 10kHz, 30kHz.

Fig. 2-9. Montajul pentru determinarea caracteristicii de frecven.

unde: RZ - rezonator piezoelectric; FC 1, FC 2, FC3 sunt filtre ceramice realizate in moduri diferite.

b. Se mut jumperii pe unul dintre filtrele ceramice i se ncearc determinarea benzii

de trecere i a neuniformitii n band i se ncearc s se rspund la ntrebarea Cte
elemente rezonatoare compun filtrul?.

2.5 Coninutul referatului

1. Scopul lucrrii.
2. Tabelul 2-1 mpreun cu relaiile da calcul folosite, precum i graficele de la
punctul 2.4.1.2.
3. Tabelul 2-2 i relaiile de calcul folosite, mpreun cu graficele de la punctul 2.4.2.2,
mpreun cu calculul constantei A0 i al raportului

tg 2
.
tg 1

4. Tabelul 2-3 i graficul de la punctul 2.4.3.2.a.

5. Concluzii i comentarii personale i rspunsurile la ntrebri.

LUCRAREA NR. 2
14_________________________________________________________________________________________

2.6 ntrebri i probleme

1. Prezentai elementele de simetrie caracteristice cristalelor dielectrice din clasele de
simetrie mm, 3m i 6mm. Cror sisteme cristalografice le aparin aceste cristale?
2. S se determine configuraia concret a tensorului de permitivitate pentru cristalul
de niobat de litiu care face parte din clasa de simetrie 3m.

3. S se prezinte dependena de tip histerezis a induciei electrice ( D ) de

intensitatea cmpului electric ( E ) caracteristic unui material feroelectric.

4. Prin ce proprieti fizice difer materialele feroelectrice cu tranziie de faz de
ordinul I de materialele feroelectrice cu tranziie de faz de ordinul II?
5. Pe baza rezultatelor msurtorilor efectuate la punctul 2. 2.3.b s se calculeze
impedana corespunztoare a rezonatorului msurat la frecvenele fn i fm i s se precizeze ce
reprezint aceste impedane. Pentru aceasta trebuie inut cont de urmtoarele:
- 0dB corespunde unei tensiuni de 226mV.
- n paralel cu cele dou rezistente de 780 este prezent i impedana de intrare
a portului 2 a analizorului de reele in valoare de 50 .

ANEXA 2

LUCRAREA NR. 2
_________________________________________________________________________________________15

Analizorul de reea E 5061A

ATENIE!
Nu se execut upgradarea Windows-ului i a softului VBA (Visual Basic for
Applications) instalat, pentru a nu afecta programul implementat i rezultatele msurtorilor
efectuate de analizor.
Atenie! Windows-ul instalat nu are program anti-virus, de aceea este interzis
salvarea datelor pe supori hard neverificai privind virusarea acestora.
Descrcrile electrostatice( ESD) pot fi un pericol pentru microcircuitele sensibile ale
Analizorului de reea 1,5 GHz, model E 5061A. Acest pericol poate aprea mai ales la
montarea i demontarea probelor de test la bornele de intrare ale analizorului ( mufe N ).
Pentru protecia Analizorului de reea 1,5 GHz, trebuie asigurat legtura la mas a
utilizatorului, prin purtarea unei brri la mn legat la pmnt printr-o rezisten mare.

Cuplarea Analizorului de reea E5061A/E5062A.

nainte de cuplare, analizorul este legat la reeaua de 220 V AC/ 50Hz la priz
Shuko prin cablul de reea cu trei fire. Analizorul se utilizeaz doar n locuri cu protecie
antistatic (ESD), Fig. 1, amenajate n felul urmtor: covor antistatic sub aparat i pe
pardoseal, legate printr-un fir la bara de mpmntare a reelei, brar de mn legat la
pmnt printr-o rezisten 1M, legtur suplimentar a aparatului la bara de mpmntare

a reelei printr-un cablul la borna

de pe panoul frontal.

Fig. 1 Loc de lucru cu protecie antistatic.

La analizor se cupleaz la bornele corespunztoare de pe panoul din spate: mouse,

tastatur i monitor suplimentar, pentru a uura lucru la aparat.

LUCRAREA NR. 2
16_________________________________________________________________________________________

Cuplarea tensiunii de alimentare se face cu ajutorul comutatorului Power, de pe

panoul din spate al aparatului, pe poziia ON ( 1 ) i cu butonul Standby (

respectiv de pe poziia

pe

) apsat,

Executarea msurtorilor
Pentru executarea msurtorilor cu analizorul de reea E 5061A se procedeaz aa
cum este prezentat n schema logic din Fig. 2.

Pasul 1. Determinarea condiiilor de msur

a) Iniializarea E5061A. Dup cuplarea tensiunii, pe ecranul analizorului, pe baza
software-lui Windows 2000 Professional apare o imagine grafic cu dou bare de meniu.
Pe bara de meniu, din partea superioar a ecranului, se deplaseaz sgeata, cu mouse-ul, pe
Instr. state, iar n cadrul etichetei aprute pe ecran se apas Preset care asigur
iniializarea datelor.
b) Selectarea parametrilor S. Pe bara de meniu din partea superioar a ecranului se
deplaseaz sgeata cu mouse-ul pe Response i n cadrul etichetei aprute pe ecran se
apas pe Meas , iar n bara de meniu din dreapta ecranului se apas :
pentru determinarea dependenei de frecven a permitivitii complexe relative
pe: S11;
pentru determinarea parametrilor de material elastici i piezoelectrici pe:
S21.
c) Selectarea formatului datelor. Pe bara de meniu din partea superioar a ecranului
se deplaseaz sgeata cu mouse-ul pe Response i n cadrul etichetei aprute pe ecran se
apas pe Format , iar n bara de meniu din dreapta ecranului se apas :

LUCRAREA NR. 2
_________________________________________________________________________________________17

Fig. 2. Schema logic de msur cu analizorul de reea E 5061A.

pentru determinarea dependenei de frecven a permitivitii complexe relative

pe Smith i R +jX;
pentru determinarea parametrilor de material elastici i piezoelectrici pe Log
Mag.
d) Specificarea gamei de frecven. Pe bara de meniu din partea superioar a
ecranului se deplaseaz sgeata cu mouse-ul pe Stimulus i n cadrul etichetei aprute pe
ecran se apas pe Start , iar frecvena iniial se stabilete n felul urmtor:

LUCRAREA NR. 2
18_________________________________________________________________________________________

pentru determinarea dependenei de frecven a permitivitii complexe

relative, cu ajutorul tastaturii se tasteaz [3][0][0][k] i [Enter] sau cu sgeile din csua de
meniu a frecvenei, din partea superioar a ecranului, cu mouse-ul, brut i fin, se stabilete
frecvena: 300 kHz.
Not: Frecvena de 300kHz este i limita inferioar a gamei de lucru a analizorului i
apare la iniializarea aparatului;
pentru determinarea parametrilor de material elastici i piezoelectrici

cu

ajutorul tastaturii se tasteaz [4][.][8][M] i [Enter] sau cu sgeile din csua de meniu a
frecvenei, din partea superioar a ecranului, cu mouse-ul, brut i fin, se stabilete frecvena:
4.8 MHz.
n cazul frecvenei finale se apas pe Stop i se procedeaz n felul urmtor:
-pentru determinarea dependenei de frecven a permitivitii complexe relative,
cu ajutorul tastaturii se tasteaz [4][0][M] i [Enter] sau cu sgeile din csua de meniu a
frecvenei, din partea superioar a ecranului, cu mouse-ul, brut i fin, se stabilete frecvena:
40 MHz.
-pentru determinarea parametrilor de material elastici i piezoelectrici cu ajutorul
tastaturii se tasteaz [5][.][2][M] i [Enter] sau cu sgeile din csua de meniu a frecvenei,
din partea superioar a ecranului, cu mouse-ul, brut i fin, se stabilete frecvena: 5.2 MHz.
e) Specificarea numrului de puncte de msur. Analizorul, la iniializare (2.4.1.2
a), stabilete un numr de 201 de puncte de msur care asigur o precizie de determinare a
rezultatelor ridicat. Aceste puncte de msur se verific prin deplasarea sgeii, cu mouse-ul,
pe bara de meniu superioar, pe Stimulus i n cadrul etichetei aprute pe ecran se apas
pe Sweep Setup , iar n bara de meniu din dreapta va apare: Points 201.
Dac dorim s modificm numrul de puncte, apsm pe bara de meniu din dreapta
Points i tastm, de exemplu: [4] [0] [1] [x 1] i [Enter], pentru 401 puncte de msur. De
asemenea, cu sgeile din csua de meniu a punctelor de msur, din partea superioar a
ecranului, cu mouse-ul, brut i fin, se stabilesc cele 401 puncte.
f) Specificarea nivelului puteri sursei de semnal. Analizorul, la iniializare (2.4.1.2
a), stabilete un nivel al puteri semnalului de radiofrecven de 0 dBm. Aceast putere se
verific deplasnd sgeata cu mouse-ul pe Stimulus i n cadrul etichetei aprute pe ecran

LUCRAREA NR. 2
_________________________________________________________________________________________19

se apas pe Sweep Setup , iar n bara de meniu din dreapta va apare: Power

dBm.
Dac dorim s modificm puterea, apsm pe bara de meniu din dreapta Power Power Ranges i tastm, de exemplu: [-] [5] [x 1] [d] i [Enter], pentru o putere de
-5dBm. De asemenea, cu sgeile din csua de meniu a puterii, din partea superioar a
ecranului, cu mouse-ul, brut i fin, se stabilete puterea la -5dBm.
g) Specificarea bandei IF a receptorului. Analizorul, la iniializare (2.4.1.2 a),
stabilete banda IF a receptorului la 30 kHz. Aceast band IF a receptorului se verific
deplasnd sgeata cu mouse-ul pe Response i n cadrul etichetei aprute pe ecran se apas
pe Avg. , iar n bara de meniu din dreapta va apare: IF Bandwidth 30 kHz.
Modificarea bandei IF a receptorului, dup ce am intrat n csua IF Bandwidth ,
se execut n felul urmtor:
pentru determinarea dependenei de frecven a permitivitii complexe relative,
cu ajutorul tastaturii se tasteaz [1][0][0][H] i [Enter] sau cu sgeile din csua de meniu a
frecvenei, din partea superioar a ecranului, cu mouse-ul, brut i fin, se stabilete frecvena:
100 Hz.
pentru determinarea parametrilor de material elastici i piezoelectrici cu ajutorul
tastaturii se tasteaz [1][0][H] i [Enter] sau cu sgeile din csua de meniu a frecvenei, din
partea superioar a ecranului, cu mouse-ul, brut i fin, se stabilete frecvena: 10Hz.
Asemenea se procedeaz i pentru frecvenele IF de: 30Hz, 100Hz, 1Khz.
Determinarea dependenei de frecven a permitivitii complexe relative
Activm n meniul din dreapta 8 markeri: Marker 1, Marker 2, pn la
Marker 8. n dreptul fiecrui marker stabilim, n ordine, frecvenele de msur din tabelul
2-1 al lucrrii fie cu tastatura (exemplu [1] [M] pentru 1MHz), fie cu sgeile brut i fin din
csua de meniu a markerului. Formatul ales pentru rezultatele acestei determinri este
Smith, R+jX care deschide o etichet n stnga ecranului cu urmtoarele valori: prima
este frecvena n kHz sau MHz, a doua este rezistena n , a treia este reactana n , iar
ultima este capacitatea sau inductana corespunztoare reactanei la frecvena dat i calculat
cu ajutorul diagramei Smith. Pentru ca citirile s fie uor de interpretat IF Bandwidth
trebuie s fie pe 100Hz
Dup citirea rezultatelor, interpretarea i dup caz salvarea lor, n vederea trecerii la
urmtoarele msurtori, n bara de meniu din dreapta ecranului se activeaz Clear Marker

LUCRAREA NR. 2
20_________________________________________________________________________________________

Menu , All Markers i n bara de meniu din partea superioar a ecranului activm
Response i prin Format pe Log Mag
Determinarea parametrilor de material elastici i piezoelectrici.
Activm n aceeai ordine, din meniul din dreapta Marker 1 i cu ajutorul mouseului deplasm markerul pe frecvenele stabilite n lucrare pentru determinarea caracteristici de
frecven a modulului admitanei de intrare a rezonatorului piezoelectric ceramic i a filtrelor
ceramice. n eticheta din stnga ecranului apar n ordine frecvena n MHz i amplitudinea n
dB. De asemenea, se poate activa meniul Marker Search ( din eticheta meniului Mkr/
Analysis i cu Min, Max sau Peak Value markerul se deplaseaz pe caracteristica
de frecven a rezonatorului i filtrelor ceramice i n eticheta din stnga ecranului citim
valorile minime, maxime sau de vrf a caracteristicilor de frecven .
Pentru ca citirile s fie uor de interpretat IF Bandwidth trebuie s fie pe 10Hz
i ulterior pe: 30Hz, 100Hz, 1Khz.

Decuplarea Analizorului de reea E5061A/E5062A

La terminarea msurtorilor se face n mod obligatoriu decuplarea Analizorului de
reea de la reeaua de tensiune.
Operaiile sunt urmtoarele:
- Se apas butonul Standby (

),acesta trecnd din poziia

n poziia

.
- Se ateapt ca analizorul s execute subrutinele de oprire. La terminarea acestora
ecranul analizorului se stinge.
- Comutatorul Power, de pe panoul din spate al aparatului, se trece de pe poziia
ON ( 1 ) pe poziia OFF ( 0 ).

Diagrama Smith
Schema de msur din Fig. 3 evideniaz c, proba de material ceramic de tip PZT
este un uniport

cuplat printr-un cablu coaxial la Portul 1 (radiofrecven) RF al

Analizorului de Reea E 5061A.

LUCRAREA NR. 2
_________________________________________________________________________________________21
T
1
Analizor de
reea
E 5061 A

Port 1

U
a
b

CS0

R0

Fig. 3. Schema de msur a unei probe de material ceramic de tip PZT.

n planul T de referin al uniportului pentru tensiunea U i curentul I echivalent

semnalului RF aplicat, impedana echivalent a probei materialului de tip PTZ este dat de
relaia:
Z S R0 j

1
C0S

(1)

unde: 2 f , iar f este frecvena semnalului (radiofrecven) RF al analizorului de reea.

Pentru a determina valoarea capacitii C S0 i a rezistor R0 din schema echivalent a
probei, analizorul de reea determin parametrul S11 care se egal cu factorul de reflexie la
sarcin definit de relaia:
S

b
a

unde: a este unda direct a semnalului (radiofrecven) RF;

b este unda reflectat a semnalului (radiofrecven) RF.
Dup determinarea factorului de reflexie, avnd n vedere legtura dintre acest factor
i impedana echivalent a probei materialului de tip PTZ dat de relaia:
ZS
1
ZS Z0 Z0
z 1
S

n
ZS Z0 ZS
zn 1
1
Z0

(3)

unde: Z0 = 50 este impedana caracteristic a cablului coaxial de legtur i a conectorul

(radiofrecven) RF al analizorului de reea,
zn rn jxn este impedana normalizat a impedanei echivalente a probei materialului
de tip PTZ, cu ajutorul diagramei Smith, din Fig. 4, determinm valorile condensatorului plan
C S0 i a rezistorului R0.

LUCRAREA NR. 2
22_________________________________________________________________________________________

Fig. 4 Diagrama Smith.

Diagrama Smith, pe baza relaiei (3), prezint legtura dintre factorul de reflexie S
cu impedana de sarcin normalizat a analizorului de reea. Impedana normalizat este
determinat cu ajutorul cercurilor R constant i a liniilor curbe X constant . n semicercul
superior al diagramei Smith, liniile X constant au un caracter inductiv i n semicercul inferior
al diagramei, liniile X constant au un caracter capacitiv .
Diametrul diagramei Smith este strbtut doar de cercurile R constant , iar liniile X
constant sunt tangente la acest diametru. Aceasta arat c impedana cu valorile pe acest
diametru are un caracter rezistiv n urmtoarele limite:
S 1,Z S ,sarcin n gol,
S 0 ,Z S Z 0 50 ,sarcin adaptat,

(4)

S 1,Z S 0 ,sarcin n scurtcircuit

Pe baza datelor obinute pentru impedana normalizat cu ajutorul diagramei Smith
analizorul va afia pe ecran valorile condensatorului plan C S0 i a rezistorului R0.

Parametrii S ai unui diport

Pentru determinarea caracteristicii de frecven a rezonatorului piezoelectric ceramic
vom utiliza Analizorul de Reea E 5061A. Schema de legtur simplificat a rezonatorului la
analizor este prezentat n Fig. 5.

LUCRAREA NR. 2
_________________________________________________________________________________________23
Analizor de reea
E 5061 A
Port 1

a1
b1

S11

Port 2

S21

a2
b2

1
2
Fig. 5. Schema de legtur a a rezonatorului piezoelectric ceramic cu Analizorul de Reea E 5061A

Analizorul de reea determin caracteristica de frecven pornind de la msurarea

termenului S11, care este factorul de reflexie la intrarea rezonatorului la portul 1 i a
termenului S21 ,care este coeficientul de transfer al semnalului transmis de rezonator de la
portul 1 la portul 2. Termenii S 11 i S21 aparin matricei de repartiie [S] a diportului echivalent
rezonatorului piezoelectric ceramic i se determin cu relaia:
b1 S11a1 S12 a 2
b 2 S21a1 S22a 2
din aceast relaie rezult :
S11

b1
a 0
a1 2

S12

b1
a1 0
a2

(6)

unde: S11 este factorul de reflexie la intrare, cnd la ieire exist sarcin de adaptare;
S12 este coeficientul de transfer al semnalului transmis de rezonator de la portul 1 la
portul 2, cnd la intrare exist adaptare;
a1 i a2 reprezint unda incident a semnalului analizorului;
b1 i b2 reprezint unda reflectat de rezonator a semnalului analizorului;
Similar se definesc i parametri S21 i S22 respectiv:
S 21

b2
a1 a2 0

S 22

b2
a2 a1 0

unde: S22 este factorul de reflexie la ieire, cnd la intrare este adaptare;
S21 este coeficientul de transfer al semnalului transmis de la portul 2 la portul 2, cnd
la intrare exist adaptare. Rezonatorul piezoelectric ceramic este un diport echivalent reciproc
i n acest caz:

S12 S 21

(8)