Documente Academic
Documente Profesional
Documente Cultură
Materiale
Materiale
D
r jr
E
0
(1)
1
10 9 F / m , permitivitatea vidului.
36
LABORATORUL DE MATERIALE 1
CATEDRA TEF
LU C R AR E A N R . 1
(2)
(3)
1
rC 0
(4)
LABORATORUL DE MATERIALE 2
CATEDRA TEF
LU C R AR E A N R . 1
tg
Pa
Pr
U IR
U IC
IR
IC
1
r 0 r
C e R e r C 0 r
(5)
1
CR r
tg
r
(6)
"
'r 1 j 'r
r
(7)
n acest caz, partea imaginar ne d o informaie complet asupra
pierderilor totale (pierderi prin polarizare, pierderi prin conducie electric,
pierderi prin ionizare) n dielectric. Din punct de vedere al utilizatorului de
componente, pentru materialul dielectric aceti doi parametri 'r i tg sunt
eseniali.
Datorit structurii fizice i fenomenelor complexe ce se petrec n dielectric,
cnd asupra acestuia se aplic un cmp electric, permitivitatea dielectric
real 'r i tangenta unghiului de pierderi tg sunt dependente puternic de
frecven i temperatur.
LABORATORUL DE MATERIALE 3
CATEDRA TEF
'r
LU C R AR E A N R . 1
'r
3
3,5
tg
(45)10-3
0,020,08
metil (plexiglas)
Policarbonat
"
Hrtie de conden- "
3
6,6
(812)10-4
(67)10-3
sator
Politetrafluretilen
(teflon)
electronic
(14)10-4
Fig.2
Fig.3
LABORATORUL DE MATERIALE 4
CATEDRA TEF
LU C R AR E A N R . 1
LABORATORUL DE MATERIALE 5
CATEDRA TEF
LU C R AR E A N R . 1
a)
b)
'r
C e gC e
C 0 0S
(8)
1
g
R e C 0 0 SR e
(9)
tg
4.
r
r
(10)
Desfurarea lucrrii
LABORATORUL DE MATERIALE 6
CATEDRA TEF
LU C R AR E A N R . 1
r
r
100
900
1000
tg
Q
r
r
tg
Q
g= 1mm
Steclotextolit g= 3mm
Teflon
F [MHz]
LABORATORUL DE MATERIALE 7
CATEDRA TEF
g=1mm
Alumina g= 2,1mm
Plexiglas g= 0,95mm
Pertinax
LU C R AR E A N R . 1
r
r
tg
Q
r
r
tg
Q
r
r
tg
Q
100
500
800
r1 , r 2 , re
r1
r 2
LABORATORUL DE MATERIALE 8
CATEDRA TEF
LU C R AR E A N R . 1
(g2 = 2,1mm)
Sandwich pertinax +
re msurat
steclotextolit
( g1+2 = 1,95mm)
Sandwich pertinax +
re calculat
steclotextolit
Sandwich pertinax +
re ms - re calc =
steclotextolit
re'
g1 g 2
g1 g 2
r' 1 r' 2
(11)
'
r f (), r f
grafic
"
, r tg f
pentru
materialele
LABORATORUL DE MATERIALE 9
CATEDRA TEF
LU C R AR E A N R . 1
6. ntrebri i probleme
1.
utilizat.
2. S se deduc formula de calcul a tangentei unghiului de pierderi
echivalente a dou condensatoare legate n paralel i n serie cnd se
cunoate capacitatea i tangenta unghiului de pierderi pentru fiecare
condensator.
3. S se calculeze permitivitatea complex echivalent a unui dielectric
format din dou straturi de materiale diferite, cnd se cunoate
permitivitatea complex a fiecruia (vezi Figura 6).
Fig.6
4. Dac 1 = 2.1, 2 = 3.5 si g1 = (1/4)g2, s se determine echivalent
pentru structura din Fig 7.
Fig 7.
5. Determinai valoarea prii reale a permitivitii complexe relative 'r1 a
unei probe de mic cu grosimea de 0,1mm cu ajutorul unei probe de teflon
cu grosime de 0.8mm i 'r2 = 2.1 i 'rechivalent= 2.23.
LABORATORUL DE MATERIALE 10
CATEDRA TEF
LU C R AR E A N R . 1
LABORATORUL DE MATERIALE 11
CATEDRA TEF
LU C R AR E A N R . 1
ANEXA 1.1
Executarea msurrii permitivitii complexe relative a materialelor
dielectrice cu Analizorul RF de impedan / materiale , Model 4991A,
Agilent
Pasul 1 - Pregtirea analizorului pentru msurtori
Conectarea i deconectarea analizorului se execut cu butonul
, plasat
LABORATORUL DE MATERIALE 12
CATEDRA TEF
LU C R AR E A N R . 1
LABORATORUL DE MATERIALE 13
CATEDRA TEF
LU C R AR E A N R . 1
LABORATORUL DE MATERIALE 14
CATEDRA TEF
LU C R AR E A N R . 1
LABORATORUL DE MATERIALE 15
CATEDRA TEF
LU C R AR E A N R . 1
LABORATORUL DE MATERIALE 16
CATEDRA TEF
LU C R AR E A N R . 1
LABORATORUL DE MATERIALE 17
CATEDRA TEF
LU C R AR E A N R . 1
LABORATORUL DE MATERIALE 18
CATEDRA TEF
LU C R AR E A N R . 1
, plasat dreapta
LABORATORUL DE MATERIALE 19
CATEDRA TEF