Documente Academic
Documente Profesional
Documente Cultură
Cantilever
Oglinda
Vrf
Matrice de fotodiode
Modul NON-CONTACT
Distanta vrf-suprafa este meninut constant m.
Sunt implicate doar fore individuale de
interactiune intre UN ATOM din varful tip-ului (cel mai apropiat
de suprafa) si eantion, ca ntreg.
Microscopia de forta magnetica masoara gradientul fortei
magnetice de pe suprafata probei.
Astfel, MFM poate f folosit pentru obtinerea
imaginilor de morfologie a suprafetelor cat si pentru a creea ha
rti magnetice.Imaginile MFM sunt obtinute un urma
masurarii diferentei de amplitudine a
oscilatiilor cantilevului.
Aceste imagini contin informatii despre distributia domeniilor
magnetice la suprafata probei. In timpul masuratorii MFM
exista doua forte ce
actioneaza asupra varfului: magnetica si van der Waals.
Avantaje
Proba nu are trebuie s fe conductoare de electricitate.
Msurarea poate f efectuat la temperatura ambiant, n
vid (UHV), n mediu lichid, la temperaturi diferite i n
prezena cmpurilor magnetice exterioare variabile.
Depunerile de straturi de baz magnetice subiri de pe
proba nu modifc rezultatele
-14
N, cu
Dezavantaje
Imaginea nregistrat depinde de tipul de vrf i
acoperirea magnetic.
Intervalul de scanare lateral este relativ scurt
Inaltimea scanarii afecteaza imaginea.
Distanta dintre varf si suprafata creste,
forta magnetica este predominanta