Interferometrul Michelson cu propagare

n spaiu liber, respectiv fibr optic

Onica Rzvan
2241/2

1. Introducere
Interferometrul Michelson este utilizat n metrologie pentru msurarea cantitilor fizice
neelectrice de amplitudini mici datorit caracterului acestuia precis, neinvaziv i fr
necesitatea unui contact direct cu obiectul de interes. Exist multe lucrri care presupun
uzul unui interferometru i se concentreaz pe rezultate msurate, dar nu sunt multe care
s ofere cunotine practice despre modul de construcie i utilizare a unui interferometru
Michelson.
Creterea aleatoare a amplitudinii unui semnal poate descalifica aplicabilitatea multor
tehnici n cazul msurrii deplasamentului sau a vibraiilor. Metoda interferometric este
potrivit unor semnale care cer o metod neinvaziv, unde contactul direct ar putea duce
la semnale de zgomot cauzatoare de erori mai mari dect valorile de msurat. Astfel de
semnale pot fi ntlnite n aplicaii industriale (construcii, minerit), n msura
frecvenelor rezonante a mainriilor sau podurilor i nu n ultimul rnd, a deformrilor
mici sau a distribuiilor spaiale de temperatur. De asemenea, exist situaii n care
mediul neprimitor ar putea distruge un eventual aparat de msur.
2. Principiul metodei
Condiia necesar i suficient pentru a observa fenomenul de interferen luminoas este
aceea ca lungimea de coeren s fie mai mare dect diferena de traseu optic a dou
fascicule aflate n superpoziie.
O schem bloc a interferometrului Michelson este prezentat n Figura 1. Pe baza aceastei
scheme, se prezint n continuare modelul matematic al interferenei luminoase ntr-un
interferometru Michelson cu propagare a radiaiei n spaiul liber.

Figura 1. Diagrama schematic a unui interferometru Michelson. M2

oglind 50% (separator de fascicul), M1, M3 oglinzi dielectrice
2.1 Interferena luminii observat ntr-un interferometru Michelson
Se consider o und care ptrunde n ansamblul interferometrului, prezentat n Figura 1.
E E 0 sin( kz t 0 ) (1)

n ecuaia (1), k este numrul de und unghiular, iar pentru dielectrice, are urmtoarea
form:
2
k
(2)

De asemenea, este frecvena unghiular. Cunoscnd frecvena luminii

und i viteza c, pulsaia se poate exprima ca:
2 2

c
(3)

Pentru simplitate, vom considera faza iniial egal cu 0:

E E 0 sin( kz t ) (4)

, lungimea de

Unda luminoas este divizat la separatorul de fascicule, formndu-se cele dou unde
rezultante E1 i E2. Unda parial reflectat la nivelul separatorului M 2 i reflectat de
oglinda M1 se poate scrie ca:
E1 E 01 sin( kz1 t ) (5)

Unda transmis prin separator i reflectat de M3 va fi:

E 2 E 02 sin( kz 2 t ) (6)

Aici, z1 este lungimea traseului optic de la separator la oglinda M1, iar z2 este lungimea
distanei optice de la separator, la oglinda M3.
Amplitudinea E0 este divizat n E01 i E02. Aceast separare se consider asimetric i cu
introducerea unui defazaj :
E 01 E 0 r2 r1 (7)
E 02 E 0 t 2 r3 (8)

E1 E 01 sin(kz1 t ) (9)
E 2 E 02 sin( kz 2 t ) (10)

n (7), (8), r2 este coeficientul de reflexie a separatorului de fascicul, r1 este coeficientul de

reflexie al lui M1, t2 coefiecientul de transmisie a separatorului, r 3 coeficientul de
reflexie al lui M3.
Superpoziia undelor aflate n interferen la nivelul separatorului este suma celor dou,
notat cu E3:
E3 E1 E 2 E 01 sin(kz1 t ) E 02 sin(kz 2 t ) (11)

Un fotodetector va detecta o intensitate luminoas I proporional cu ptratul intensitii

cmpului electric E:
I ~ E 2 (12)
Pentru o intensitate I3 corespunztoare lui E3, se poate scrie:
I 3 ~ [ E 01 sin( kz1 t ) E 02 sin( kz 2 t )] 2 (13)
2

I 3 ~ E 01 sin 2 (kz1 t ) 2 E 01 E 02 sin( kz1 t ) sin(kz 2 t ) E 02 sin 2 (kz 2 t )

(14)
2

I 3 ~ E01 sin 2 (kz1 t ) E01E02 cos[k ( z1 z2 ) ] E01E02 cos[k ( z1 z2 ) 2t ]

2

E02 sin 2 (kz2 t )

(15)
Avnd n vedere c termenul cu sinus a primului i ultimului termen oscileaz la
frecvena unghiular , iar termenul cu cosinus oscileaz la dublul acestei frecvene,
variaiile sunt prea rapide pentru ca un fotodetector s reacioneze. Acesta va msura, n
schimb, valoarea medie a acestor termeni:
I~

1
1
2
2
E 01 E 02 sin 2 ( kz 2 t ) E 01 E 02 cos[ kz ] (16)
2
2

Intensitatea I este maxima dac i numai dac termenul cos este egal cu 1, adic dac
argumentul este 0 sau multiplu de 2 . Intensitatea minim se obine pentru termenul cos
egal cu -1.
Intensitatea luminoas depinde de diferena traseului optic z . Dac aceasta este egal
cu un multiplu de 2 , apare fenomenul de interferen constructiv, iar intensitatea
franjelor de interferen este maxim.
Modelul matematic corespunztor unui interferometru Michelson cu fibr optic poate fi
mai complex, din moment ce trebuie inut cont de reflexiile la conectori, dispersia n
fibr, proprietile polarizoarelor, respectiv ale cuplorului i prezena opional a unui
alungitor de fibr. Cu toate acestea, modelul prezentat reflect ideea general a
interferenei luminoase n cadrul oricrui interferometru Michelson.
3. Aranjamentul experimental
Alegerea unui interferometru (Michelson, Mach-Zehnder, Sagnac, Fabry Perot, Fizeau,
Twyman-Green, Nomarski) nu e ntotdeauna arbitrar. Interferometrele Michelson i
Mach-Zehnder sunt cele mai utilizate. Interferometrul Michelson este folosit pentru
simplitatea, acurateea i numrul mic de componente. Spre deosebire de cel MachZehnder, care este mai simplu de implementat, ambele fascicule se propag de dou ori
de-a lungul braelor de msur. Cel Michelson ofer de asemenea o calibrare mai uoar
i un control mbuntit al stabilitii.
Obinerea franjelor de interferen este doar primul pas din procedura de msur. Altul
este integrarea obiectului de msurat n cadrul interferometrului. Obiectele transparente
se pot introduce pe direcia de propagare a undei luminoase de-a lungul unui bra. Alte
obiecte pot fi plasate la captul braului sau ataate unei oglinzi.
3.1. Interferometrul Michelson cu propagare n spaiu liber
n cadrul interferometrului Michelson cu propagare n spaiu liber, este potrivit utilizarea
unui laser din spectrul vizibil pentru a uura procesul de calibrare i citirea datelor. De
exemplu, un laser He-Ne asigur i o stabilitate bun a lungimii de und. Dei acest
aranjament este foarte vulnerabil la instabilitate mecanic, franjele pot fi obinute
utiliznd o abordare sistematic. Creterea lungimii unui bra cu o distan egal cu
jumtatea lungimii de und utilizate (316.4 nm) duce la schimbarea defazajului dintre

cele doua fascicule cu 2 (o franj). Astfel, interferometrul este capabil de a msura un

deplasament de ordinul sutelor de nanometri (corespunzator abilitii de a distinge o
franj).
n Fig. 2, semnalul msurat afecteaz poziia oglinzii M3 plasate la capt i duce la variaii
ale lungimii traseului optic corespunztor braului de msur. Fasciculul de referin i
cel de msur vor interfera la separatorul de fascicul. Un defazaj adiional duce la
schimbarea distribuiei franjelor de interferen care vor fi numrate i monitorizate.
Informaii legate de numrul franjelor sunt stocate pe un calculator unde vor facilita
calculul diferenei de traseu optic. Numrul franjelor care trec prin apertura planului de
observaie este proporional cu cantitatea msurat. O mostr a interferogramelor obinute
este prezentat n Fig. 3.

Figura 2. Diagrama schematic a unui interferometru Michelson. M2

oglind 50% (separator de fascicul), M1, M3 oglinzi dielectrice

Figura 3. Exemplu de distribuie a franjelor de interferen.

Figura 4. Mostr a variaiei n timp a intensitii luminoase la ieirea unui

interferometru, reprezentat pe un osciloscop. Dou puncte de maxim marcheaz o
perioad de franj corespunztoare unui defazaj de 2 .

3.2. Interferometrul Michelson cu fibr optic

Conceptul unui interferometru Michelson cu fibr optic i detector conectat este
prezentat n Fig. 5.

Figura 5. Diagrama schematic a unui interferometru Michelson cu fibr optic. M 1,

M2 oglinzi dielectrice.
4. Exemple experimentale
4.1. Msura expansiunii liniare i calculul coeficientului de varia ie cu temperatura
utiliznd interferometrul Michelson cu propagare n spaiu liber.

Figura 6. Diagrama schematic a unui interferometru Michelson cu propagare n spaiu liber

pentru msura coeficientului de variaie cu temperatura a cuprului. M2 oglind 50% (separator
de fascicul), M1, M3 oglinzi dielectrice

Figura 7. Diagrama schematic a unui interferometru Michelson cu propagare n spa iu

liber pentru msura coeficientului de variaie cu temperatura a cuprului. 1, 3 oglinzi
dielectrice, 2 separator de fascicul, 4 planul de observaie (stnga) i o vedere
detaliat a obiectului de investigat (1) plasat pe un suport (2) cu un urub micrometric (3),
izolaie de plastic (4), bobin de nclzire i o oglind (6)

Figura 8. Mostr a intensiii luminoase msurate n funcie de numrul de eantioane. T 1

este temperatura iniial, iar T2 este temperatura final a msurtorii

4.2. Msura frecvenei de vibraie a unei membrane folosind un interferometru

Michelson cu fibr optic.

Figura 9. Diagrama schematic a unui interferometru cu fibr optic pentru msurarea

frecvenei de vibraie a unei membrane. M1, M2 oglinzi de fibr

Figura 10. Aranjamentul practic al unui interferometru Michelson cu fibr optic pentru
msura frecvenei de vibraie a unei membrane. 1 osciloscop, 2 generator de semnal, 3
amplificator electric, 4 termostat, 5 controller de putere al laserului, 6 obiectul de
investigat, 7 fotodiod, 8 mas optic, 9 cuplor de fibr, 10 polarizor, 11 laser
DFB, 12 oglind de fibr

5. Concluzii
Principalul avantaj al metodei interferometriei cu laser este precizia sa, procedura lipsit
de contact i aplicarea la nivelul obiectelor specifice cu variaii mici ale semnalelor
msurate pe acestea.
Considernd lungimea de coeren, interferometrul poate fi distribuit pentru a permite
msurarea obiectelor aflate la distan. Mai mult, interferometrul poate fi miniaturizat sau
construit ca senzor bazat pe fibr optic.
6. Bibliografie
Fiber Optic and Free Space Michelson Interferometer Principle and Practice
Michal Lucki, Leos Bohac i Richard Zeleny
http://dx.doi.org/10.5772/57149