5.

5 Metode de determinare a rezistivitii electrice a materialelor

Determinarea rezistivitii electrice a materialelor se face msurnd rezistena
electric a unei probe i folosind apoi o relaie care exprim legtura dintre rezistena
electric, dimensiunile geometrice ale probei i rezistivitatea electric a materialului probei.
Pentru cele mai multe situaii practice se pot folosi probe cilindrice, mai uor de confecionat,
caz n care rezistivitatea electric se calculeaz cu relaia:
=

RS d2 R
=
4l
l

(5.12)

unde R este rezistenta electric a probei, l, S i d sunt lungimea, respectiv seciunea i

diametrul probei.
Pentru situaii speciale, ndeosebi n cazul dielectricilor, se pot folosi i probe de alte
forme geometrice, caz n care se definesc alte relaii ntre rezistivitatea electric (de suprafa,
de volum), dimensiunile geometrice ale probei, poziia electrozilor de msurare i rezistena
electric msurat (v. paragraful 5.4.1).
Alegerea metodei i mijloacelor de msurare a rezistenei electrice depind de
caracteristicile geometrice ale probei a crei rezistivitate dorim s o msurm. n practic
probele pot s fie sub form de fire, bare, plci, corpuri masive etc., de diferite dimensiuni i
pe care nu se pot face msurtori directe. n aceste cazuri se preleveaz o epruvet din corpul
respectiv, de dimensiuni care s aib o rezisten electric n gama de msur a mijlocului de
msurare. Aceast operaie se face n aa fel nct s nu se modifice structura original a
materialului a crei rezistivitate electric dorim s o determinm, o prelevare incorect
ducnd la modificarea termenului componentei reziduale r, la msurare rezultnd date
eronate ale rezistivitii.
Dei la ora actual exist o varietate foarte mare de aparate electronice pentru
msurarea rezistenei electrice, mijloacele clasice de msurare a rezistenei cu ajutorul
metodelor de punte rmn nc actuale n laborator.
Prezentm n cele ce urmeaz trei metode experimentale pentru determinarea
rezistivitii electrice, folosite n cazul materialelor conductoare i semiconductoare.
5.5.1 Determinarea rezistivitii electrice cu puntea Wheathstone
Msurarea precis a rezistenelor electrice se face cu ajutorul punilor electrice, dintre
care cea mai larg rspndire o are puntea Wheathstone. Aceasta permite msurarea
rezistenelor de valori cuprinse ntre 10-1 i 107 cu o eroare mai mic dect 0,1%.
Schematic o punte Wheathstone este prezentat n figura 5.9. Puntea, (de forma unui
patrulater), are dou diagonale: diagonala

C
IG

RX

IX
A

R2

RG

I4

R4

I2
I3

K2

R3
D

+ K1
E
Figura 5.9. Schema unei puni Wheathstone.

AB de alimentare i diagonala CD de msurare, unde este montat un galvanometru sensibil

sau un detector de nul.
Msurarea unei rezistene necunoscute RX situat n braul AC al punii se face prin varierea
rezistenelor R2, R3 i R4 pn cnd prin galvanometru nu mai trece curent (IG=0). n acest caz
se zice c puntea este adus la echilibru. n situaia de echilibru potenialele punctelor C i D
sunt egale, adic VC=VD (ca i cum ar fi legate mpreun). Rezult c : VA-VC=VA-VD i VCVB=VD-VB, adic IXRX=I4R4, I2R2=I3R3. Deoarece curentul nu se bifurc n punctele C i D
rezult c IX=I2 i I3=I4. Din acestea rezult valoarea rezistenei necunoscute :
B

R X = R2

R4
R3

(5.13)

Se observ din relaia de mai sus c echilibrul punii poate fi atins n dou moduri :
variind raportul R4/R3 i meninnd constant pe R2 sau meninnd constant raportul R4/R3 i
variind pe R2. n punile de precizie se menine, de obicei constant raportul R4/R3 i se variaz
R2 pn IG devine egal cu zero la echilibru. Din relaiile (5.12) i (5.13) rezult :
=

R2 S R4
l R3

(5.14)

Conform anexei A1, relaia (A1.18), eroarea relativ maxim la determinarea

rezistivitii va fi :

=2

d l R x
+
+
d
l
Rx

(5.15)

Punile Wheathstone se folosesc mai mult la msurarea rezistivitii firelor metalice

(de seciune mic i lungime mare), termistorilor, semiconductorilor etc.

5.5.2 Determinarea rezistivitii electrice cu puntea dubl Thomson

Msurarea rezistenelor foarte mici (ntre 1 i 10-7 cu eroare relativ mai mic de
0,1%), cum apar n practic n cazul barelor scurte i seciune mare se face cu puntea dubl
Thomson (lord Kelvin). Schema de principiu a punii este prezentat n figura 5.10.
Rezistena de msurat RX are o valoare foarte mic (ntre 1-10-7) comparativ cu rezistena
care apare la contactul a doi conductori, conductor born, etc. Aceast rezisten de contact
(circa 10-2), fiind cu cteva ordine de mrime mai mare dect rezistena probei ce se
msoar poate s o mascheze i rezultatul msurtorii s fie eronat.

3
4

R1

2,5

IG
4

R4

1,8

R3

8
I

R2

5
RX
+-

7
6

Re

Figura 5.10. Schema unei puni duble Thomson.

Eliminarea rezistenelor de contact din circuitul de msur se face prin separarea alimentrii
n curent a probei, de msurarea cderii de tensiune pe rezistena necunoscut. Astfel, prin
bornele 5 i 8 proba se alimenteaz n curent, iar de pe cuitele 1 i 2 se culege cderea de
tensiune, principiul de msur fiind similar celui de la metoda celor patru puncte (paragraful
5.6.3).
Circuitul auxiliar al punii este alimentat de sursa E, prin reostatul Re i ampermetrul
de control al curentului. ntre punctele 3 i 4 se intercaleaz un galvanometru sensibil sau un
detector de nul care indic echilibrul punii (IG=0). Datorit dublrii contactelor la prob i
puntea se dubleaz, astfel c aceast punte mai este cunoscut i ca puntea celor nou
conductoare, (figura 5.10). Deoarece punctele 2 i 5 sunt practic la acelai potenial, distana
dintre punctele 2 i 5 fiind foarte mic n comparaie cu distana 1-2, se observ c
rezistenele r, R3 i R4 sunt legate n triunghi.
Aplicnd transformarea triunghi-stea, puntea dubl Thomson se transform ntr-o
punte Wheathstone (figura 5.11), relaiile de trecere triunghi-stea fiind :

rx =

r R4
;
R3 + R4 + r

rN =

r R3
;
R3 + R4 + r

rG =

R3 R4
R3 + R4 + r

(5.16)

Din condiia de echilibru pentru puntea Wheathstone :

(5.17)

R1 ( rN + R ) = R2 ( R X + rX )

R1

IG

R2
4
rG

1,8
I

2,5
RX
+ -

7
rX

rN

Re

Figura 5.11. Puntea dubl Thomson transformat n punte Wheathstone.

nlocuind rX, rN i rG din relaiile (5.16) n relaia (5.17) i efectund calculele rezult :
RX =

R R R2 R4
R1
r
R+ 1 3

R2
R2
R3 + R4 + r

(5.18)

Pentru reducerea erorii la determinarea lui RX ar trebui ca termenul al doilea din

relaia (5.18) s fie zero. Dar diferena (R1R3-R2R4), dei este mic, este totui diferit de zero
i practic datorit erorilor constructive nu poate fi egal cu zero. Din acest motiv se caut ca
rezistena r s fie ct mai mic posibil. Practic, aceast condiie se realizeaz legnd punctele
5 i 6 cu o bar de cupru scurt i de seciune mare. n aceast situaie, neglijnd termenul al
doilea din relaia (5.18), ca fiind produsul a dou numere foarte mici, relaia (5.18) devine :
RX =

R1
R
R2

(5.19)

n practic, punile Thomson sunt astfel construite nct raportul R1/R2 s fie variabil
n trepte de puteri ale lui 10 i s determine ordinul de mrime al rezistenei msurate, iar
rezistena R s poat fi variat ntr-un domeniu foarte larg, n trepte variabile. De exemplu,

modelul de punte Thomson "VEB Metechnic Mellenbach" are rezistenele R1 i R2 astfel

nct raportul lor s ia valori ntre 100 i 10-6. Pentru a realiza aceast condiie, R1 i R2 sunt
cutii de rezistene cu valorile 101 , 10-2 , 10-3 , respectiv 101 , 102 i 103 .
Rezistena R este format din 4 cutii de rezistene legate n serie, fiecare cutie avnd cte 10
rezistene. Ordinul de mrime al rezistenelor din cele 4 cutii este, respectiv, de 102, 101, 100
i 10-1.
Pentru efectuarea unei msurtori se alimenteaz puntea Thomson n curent continuu
i se determin ordinul de mrime al rezistenei de msurat, alegnd raportul R1/R2 astfel
nct spotul luminos al galvanometrului s fie n scal. Se echilibreaz apoi puntea, variind
rezistena R ncepnd cu cutia cu rezistene de ordinul 102 i terminnd cu cea cu rezistene
de ordinul 10-1, pn cnd spotul galvanometrului rmne pe diviziunea 0 a scalei (IG = 0).
n acest moment valoarea rezistenei de msurat este aceea dat de relaia (5.19).
Sensibilitatea punii depinde de sensibilitatea galvanometrului (circa 10-7 A/div) i de
mrimea curentului I prin circuitul auxiliar, care mrete cderea de tensiune pe rezistena RX.
n general curentul I este de 1-5 A i nu are voie s nclzeasc proba. Msurtorile se fac
pentru dou sensuri diferite ale curentului pentru a elimina efectele de redresare de la
contactele metal-metal.
5.6 Studiul rezistivitii electrice a metalelor i aliajelor
n cele ce urmeaz ne propunem s exemplificm prin msurtori experimentale
consideraiile teoretice prezentate succint n paragraful 5.2, i anume dependena rezistivitii
electrice a metalelor i aliajelor de natura materialului, de concentraia de impuriti a
acestuia, de gradul de deformare plastic, de tipul de tratamentul termic aplicat i de
temperatur.
5.6.1 Influena naturii materialului asupra rezistivitii electrice
S-a artat n paragraful 5.2 , exemplificnd pe metale mono- i bivalente, c nu numrul
electronilor de valen influeneaz valoarea conductivitii electrice, ci structura energetic
de benzi obinut prin despicarea nivelelor energetice din structura electronic a atomului
liber. Pentru studiu propunem folosirea a 3 materiale diferite: dou metale pure i un aliaj CuZn (alam), toate sub form de bar rotund. Ca metale pure se pot utiliza Cu, metal
tranziional cu structura electronic (Ar) 3d10 4s1 i Al, metal normal din grupa a III-a cu
structura electronic (Mg) 3s2 3p1.
Msurnd rezistena electric cu puntea Thomson (montajul experimental din figura
5.10, relaia (5.19)), iar diametrul barelor cu ublerul sau micrometrul, rezistivitatea
electric va fi determinat cu relaia (5.12). Se vor face pentru fiecare material cel puin
trei msurtori de rezistivitate, considernd lungimi diferite ale barei de prob. Proba are
aceeai lungime, difer doar distana dintre punctele ntre care se face msurtoarea. Se
va calcula valoarea medie a rezistivitii i eroarea de determinare. Eroarea relativ
maxim a metodei de msurare va fi determinat cu relaia (5.15), conform celor

prezentate n Anexa A1. Un exemplu de determinare a rezistivitii electrice cu puntea

Thomson este prezentat n tabelul 5.1
Tabelul 5.1 Determinarea rezistivitii electrice a cuprului cu puntea Thomson.

Nr.

Material

d
[mm]

1.

Cu

10

l
[mm]
300
600
1000

R104
[]
0,649
1,314
2,175

108
[m]
1,732
1.754
1,742

108
[m]

/
[%]

1,743

1,3

Rezultatele obinute trebuie examinate i discutate n raport cu natura materialelor

folosite pentru studiu. Se va putea remarca modificarea puternic a rezistivitii electrice prin
aliere
5.6.2 Influena concentraiei de impuriti asupra rezistivitii electrice
S-a artat c impuritile influeneaz n mod negativ conducia electric n metale i
aliaje, ducnd la creterea rezistivitii prin intermediul creterii rezistivitii reziduale.
Efectul cantitativ al influenei impuritilor asupra rezistivitii electrice poate fi studiat pe
bare din oel carbon cu concentraii diferite de Si (0,01%, 0,22%, 0,26% i 0,28%, procente
masice). S-a ales ca impuritate Si pentru c efectul acestuia este considerabil mai mare, fiind
din punct de vedere electric un semiconductor. Epruvetele pentru studiu trebuie s fie n stare
recoapt pentru a elimina efectul influenei defectelor structurale.
Msurtorile de rezistivitate electric se fac utiliznd puntea Thomson pentru msurarea
rezistenei electrice. Rezultatul pentru fiecare valoare a concentraiei de Si fiind considerat ca
media aritmetic a cel puin trei determinri. Rezultatele studiului pot fi prezentate tabelar
sau grafic.
5.6.3 Influena gradului de deformare plastic asupra rezistivitii electrice
Prin deformare plastic n materialul metalic se produc un numr mare de defecte
structurale (vacane, dislocaii), care influeneaz semnificativ rezistivitatea rezidual i prin
aceasta rezistivitatea electric a materialului. Pentru studiu se vor utiliza patru bare din Al,
din care una va fi proba martor, iar celelalte trei vor fi deformate plastic la ntindere pe o
main de ncercat la traciune, alegnd trei fore de deformare, calculate astfel nct efortul
unitar s nu depeasc limita de curgere a materialului. Ca parametru ce poate caracteriza
influena defectelor structurale asupra rezistivitii electrice putem considera gradul de
deformare plastic , definit prin relaia:
= l / l 0

(5.22)

unde l este variaia lungimii n urma deformrii plastice, iar l0 este lungimea iniial.
Utiliznd puntea Thomson, rezistena electric se va msura pentru cel puin trei
lungimi n regiunea deformat plastic a fiecrei bare de aluminiu (evitnd deci zona din bar
prins n bacurile mainii de ncercat la traciune). Trebuie avut n vedere i faptul c

diametrul barelor va fi diferit ca urmare a deformrii plastice cu fore diferite. Influena

gradului de deformare plastic asupra rezistivitii electrice poate fi prezentat tabelar i
grafic.
5.6.4 Influena tratamentelor termice asupra rezistivitii electrice
Tratamentele termice influeneaz puternic rezistivitatea electric prin urmtoarele
procese:

eliminarea sau reducerea defectelor de structur (vacane, dislocaii) - cazul

tratamentelor termice de recoacere;

aducerea la temperatura camerei a unei faze dezordonate, existent la temperaturi

mai mari dect o temperatur de tranziie ordine-dezordine - cazul tratamentului
termic de clire (rcire cu vitez mare);
mpiedicarea transformrilor cu difuzie n aliaje i formarea unei faze de

neechilibru, neprezent altfel n diagrama de echilibru fazic - cazul tratamentului

termic de clire.
Pentru studiu se vor utiliza dou bare cilindrice din acela oel cu 0,6 %C (% masice),
una n stare clit, iar cealalt n stare normalizat. Bara clit are n structur martensit
(soluie solid suprasaturat de C n Fe, cu structur tetragonal n care raportul c/a depinde
de coninutul de C) i austenit rezidual (soluie solid de C n Fe, rmas netransformat),
n timp ce bara normalizat va avea o structur de echilibru format din perlit i ferit.
Rezistivitile celor dou bare vor fi determinate din msurtori de rezisten electric
efectuate cu puntea Thomson. Pentru creterea preciziei de determinare rezistivitatea electric
va fi determinat ca media aritmetic a cel puin trei determinri de rezisten electric
efectuate pe prob la trei distane de msur diferite. Rezultatele, prezentate tabelar, necesit
o discuie particularizat privind influena tratamentelor termice asupra rezistivitii electrice.