Sunteți pe pagina 1din 6

ELECTROTEHNICA, ELECTRONICA, AUTOMATICA, 58 (2010), Nr.

33

Evaluarea fiabilitii arborelui de defectare


Ovidiu-Nicolae NICA
Abstract
In this article are explained some of characteristics regarding fault trees method applied to a systems with
devices power semiconductor, the method used in the design process and which permited a system reliabilty
evalution. For instance, there are presenting a mode of malfunctions graphic realizable for an UPS system,
using a list with defectable electronic components, release in base of malfunctions analyses process, a
malfunctions reports and informations obtain in a test laboratory. Likewise, there are presenting a fault tree
diagram, release by Relex 2009 software, starting from critical system malfunction.
Keywords: fault trees, reliability, boolean functions, Pareto distributions

1. Introducere
Metoda arborilor de defectare pentru
studiul
fiabilitii
previzionale
a
echipamentelor complexe, pornete de la
ideea c procesul de defectare poate fi
cuantificat la nivel structural astfel nct orice
defeciune a echipamentului este rezultatul
unei secvene cuantificate de stri ale
procesului de defectare.
Este o metod de baz n proiectarea
operaional care pornete de la defect cu
probabilitatea specificat i acceptat.
Nivelul de cuantificare este ales de analist,
conform scopului urmrit i preciziei dorite,
putndu-se
merge
pn
la
nivelul
componentelor, rezultatele obinute fiind cu
att mai apropiate de realitate, cu ct nivelul
de cuantificare va fi mai detaliat.
Arborele de defectare reprezint o
diagram logic care indic legtura dintre
un anumit defect al sistemului i defectele
componentelor. Defectarea sistemului se
exprim fa de o caracteristic specificat.
Analiza presupune mai nti o cercetare a
modului de funcionare a sistemului i a
dependenei
acestuia
de
elementele
componente i stabilirea unor criterii de
defectare. n fig. 1, se prezint schema
principial a unui arbore de defectare.

Figura 1. Modelul arborelui de defectare

Ovidiu-Nicolae NICA, drd.ing. Universitatea Politehnic


din Bucureti.

Acesta conine o serie de evenimente


primare independente, interconectate prin
intermediul unei structuri logice booleene,
care indic multitudinea posibilitilor n care
aceste evenimente se pot combina pentru a
genera n final avaria echipamentului studiat.
Din punct de vedere structural, arborele
de
defectare
utilizeaz
urmtoarele
concepte:
elemente primare: compo-nentele sau
blocurile care stau la nivelul de baz al
cuantificrii defectrii (avariei) echipamentului;
defeciuni
primare:
defectele
elementelor primare;
eveniment critic: starea de defect a
echipamentului;
mod de defectare: setul de elemente
defecte simultan care scot din
funciune echipamentul;
mod minim de defectare: setul cel mai
mic de elemente primare care fiind
defecte simultan, conduc la defectarea
echipa-mentului;
nivel ierarhic: totalitatea elementelor
care sunt echivalente structural i care
ocup poziii echivalente n structura
arborelui de defectare.
Metoda presupune defectele cunoscute i,
de asemenea, legtura structural dintre
defecte. Aceste elemente sunt obinute prin
aplicarea metodei AMDE (Analiza Modurilor
de Defectare).
Analiza modului de defectare a produselor
este o analiz intuitiv reprezentnd un prim
pas n abordarea inginereasc a domeniului
fiabilitii i mentenabilitii produsului
respectiv. Fr a utiliza un sistem matematic

34

ELECTROTEHNICA, ELECTRONICA, AUTOMATICA, 58 (2010), Nr. 4

special, analiza modului de defectare poate fi


efectuat numai de specialiti n domeniul de
specialitate respectiv. Aceast metod de
analiz este standardizat i poart diferite
denumiri. Metoda AMDE are drept scop
identificarea defectrilor a cror consecine
afecteaz funcionare produsului. Metoda
este aplicabil fiecrei etape a ciclului de
via:
concepie i proiectare;
fabricaie (ncercri de laborator);
utilizare, service.
Metoda AMDE este indispensabil
concepiei i proiectrii. Pentru concepie i
proiectare, metoda AMDE reprezint o prim
etap, preliminar, de abordare calitativ a
problemelor legate de fiabilitate i de
mentenabilitate. Se analizeaz procesele
fizice care stau la baza defectrii. n faza de
proiectare, se pot preciza cauzele defectrii
cu referiri la solicitri i la rezistena la
solicitri a materialelor.
De asemenea, se poate spune c metoda

arborilor de defectare are la baz logica


binar. n mod formal, o funcie a
echipamentului este asimilat unei funcii
binare ale crei variabile sunt defeciunile
primare i care poate fi sintetizat cu
elemente I, SAU, NU.
Pe baza analizei prin metoda arborelui de
defectare, se pot obine fie probabilitatea de
defectare, fie rata de defectare:
a) Evaluarea probabilitii de defectare
folosete proprietile porilor logice I, SAU,
NU (fig. 2).

Figura 2. Pori logice utilizate n construcia arborelui


de defectare

Astfel, la ieirea celor trei pori logice,


probabilitatea de a avea un defect este:
ieirea porii I = probabilitatea (A
defect i B defect) =

P( A) P(B ); cazul A i B independente


P( A B ) =
P( A / B ) P(B ) = P( A) P(B / A); cazul evenimentelor dependente

ieirea porii SAU = probabilitatea (A

sau B defect) =

P( A) + P (B ) P( A B ); cazul evenimentelor dependente


P( A B ) =
P( A) + P (B ) P( A) P(B ); cazul evenimentelor independente

ieirea porii NU = probabilitatea (A s


nu fie defect) =

P( A )= 1- P(A)

(1.3)

b) Evaluarea intensitii de defectare a


echipamentului ( E ) se face pe baza
ipotezei
c
defectrile
elementelor
componente sunt evenimente independente
i legea de defectare este de tip exponenial
(z(t) = =ct).

funcia

de

RE(t)=1- FE(t)=1- FA(t)- FB(t)+ FA(t) FB(t) =>

(1.5)

RE(t)= [1 FA (t)][1 FB (t)] = RA(t)RB(t)

(1.6)

Cum RA(t)= exp( A t ) i RB(t)= exp( B t ) ,


pentru fiabilitatea echipamentului se obine

(1.2)

Pentru a stabili valoarea ratei de defectare


a echipamentului se pornete de la
urmtoarele considerente:
probabilitatea ca elementul A s se
defecteze n intervalul (0,t) este
P(A)=FA (t);
probabilitatea ca elementul B s se
defecteze n intervalul (0,t) este
P(B)=FB(t).
n aceste condiii, la ieirea unei pori SAU
se obine probabilitatea ca echipamentul s
se defecteze n intervalul (0,t) din cauza
elementului A, sau a elementului B:

P(A B)=P(A)+P(B) -P(A)P(B)=FA(t)+FB(t)-FA(t)FB(t)= FE(t)

Se obine n continuare
fiabilitate a echipamentului:

(1.1)

(1.4)

expresia urmtoare:
RE(t)= exp ( A t B t )

(1.7)

De unde, se obine la ieirea porii logice


SAU:
E = A + B

(1.8)

Pentru a determina rata de defectare la

ELECTROTEHNICA, ELECTRONICA, AUTOMATICA, 58 (2010), Nr. 4

ieirea porii logice I, se consider N


elemente
i
se
reia
corespunztor
raionamentul de mai sus:
N

(
i

E =

1)

i =1

35

frecvente n domenii de activitate variate,


clasificate n funcie de ponderea acestora n
total.

(1.9)

i =1

Figura 3. Diagrama Pareto

unde:

Diagrama
faciliteaz
selectarea
prioritilor
de
aciune,
determinnd
elementele importante n soluionarea unei
probleme.
2. Probabilitatea defectului critic
n domeniul calitii, pionieratul acestei
Echipamentele electronice sunt, n metode i revine lui J. Juran, care a constat
general, ansamble formate din diferite c 80 % din defecte provin din 20 % de
elemente componente cu roluri funcionale aciuni necorespunztoare.
distincte. Pe baza analizei defectelor, a
n construirea diagramei se parcurg
rapoartelor de defectare, a informaiilor din urmtoarele etape:
ncercrile de laborator i din urmrirea
selectarea elementelor supuse analizei
comportrii n exploatare, se ntocmete un
(tipurile de defecte) i clasificarea lor n
tabel cu defectrile Di i probabilitile
funcie de cauz;
previzionale de defectare, P(Di) = i,
stabilirea modalitii de exprimare a
corespunztoare duratei prescrise de
elementelor (valori absolute sau
funcionare.
relative);
Utiliznd metoda arborelui de defectare se
stabilirea perioadei culegerii datelor;
ntocmete graficul defectrilor. Defectele
culegerea i ordonarea datelor, n
considerate sunt compatibile i intependente.
funcie de frecvena apariiei lor;
este
defectul
Defectul
critic,
Dcr,
construirea diagramei utiliznd graficul
echipamentului
datorat
uneia
din
n bare;
componentele respective:
construirea
curbei cumulative a
frecvenelor, prin nsumarea succesiv
n
(2.1)
Dcr = U Di
a ponderilor fiecrui element, de la
i =1
stnga la dreapta (n partea dreapt a
graficului).
Probabilitatea defectului critic conform
Analiza
diagramei
Pareto
permite
teoriei probabilitilor este:
aprecierea
ponderei
cumulative
a
n
n
(2.2)
principalelor tipuri de defecte, formnd
P( Dcr ) = P(U Di ) = 1 [1 P( Di )]
i =1
i =1
prioritatea
soluionrii
problemelor
n
domeniul
calitii.
La
fel,
diagrama
Pareto
Probabilitatea defectului critic trebuie s
poate fi utilizat i pentru evaluarea
ndeplinesc condiia:
rezultatelor
prin
nlturarea
cauzelor
(2.3) principale ale non-calitii. Prin compararea
P (Dcr )
diagramelor realizate naintea i dup
unde:
aciunile corective sau de perfecionare
este probabilitatea de defectare.
poate fi apreciat eficiena activitilor
Ordonarea grafic a defectelor n ordinea respective.
descresctoare a probabilitii de apariie,
3. ntocmirea graficului defectrilor
graficul Pareto, permite o analiz coordonat
pentru un sistem UPS utiliznd
a tipurilor de defecte. Dac exist mai multe
metoda arborelui de defectare
componente de acelai tip, defectul
considerat este caracterizat de probabilitatea
Pentru exemplificare, vom utiliza o surs
reuniunii
defectelor
componentelor de alimentare nentrerupt (UPS
respective.
Uninterruptible Power Supply), conform
Diagrama Pareto (fig. 3) este o prezentare schemei electrice de principiu, prezentat n
grafic a cauzelor diferitor neconformiti fig. 4.
i =

1
1 exp( i t )

(1.10)

ELECTROTEHNICA, ELECTRONICA, AUTOMATICA, 58 (2010), Nr. 4

36

Figura 4. Schema electric de principiu a unui UPS.

Pentru ntocmirea graficului defectrilor,


se
ntocmete
lista
componentelor
defectabile care intr n componena
blocurilor funcionale ale unui sistem UPS,
conform tabelului 4.1, prezentat mai jos.
Tabelul 4.1. Lista componentelor defectabile
Nr. Elementul
crt. component

Lipsa tensiunii
de alimentare

Transformator
n scurtcircuit
Transformator
cu contacte
3
/nfurri
ntrerupte
Tiristoare n
4
scurtcircuit
2

Tiristoare
defecte

Bloc de
6 comand
nefuncional

Defecte
Simbol Rata
caracteristice
defectrilor
(Di)
(i)
scurcircuit
1 = 116 10/defect pe linia
D1
6
de alimentare de
la reea
izolaie
2 = 0,4 10D2
6
mbtrnit
contact
imperfect /oxidat
uzur datorat
cldurii excesive
defectarea
elementelor de
protecie la
supratensiuni
RC
defect intern
/lipsa tensiunii
de alimentare a
blocului de
comand

Semnal de
comand
component
necorespunzto defect
r
Acumulator
8
uzur
defect
diod de
protecie defect
Modul IGBT
9
/uzur datorat
defect
cldurii excesive
arderea
Alte
10
siguranelor
componente
fuzibile
7

D3

3 = 0,044
10-6

D4

4 = 1 10-6

D5

5 = 4,387
10-6

principiu din fig. 4 i tabelul 7.7. din publicaia


Control statistic i fiabilitate, au fost
determinate urmtoarele valori ale ratei
defectrilor (i): 1 = 6 = 116 10 6 h-1.

Lund n considerare faptul c


tensiunea reelei, respectiv tensiunea de
alimentare a blocului de comand va fi
ntrerupt o singur dat ntr-un an
calendaristic, rezult:
1 = 6 =

-1
1
1
=
= 116 106 h ;
12luni 30 zile 24ore 8640

2 = 0 ,4 10 6 h-1, avnd n vedere faptul


c n tabelul 7.7. din publicaia Control
statistic i fiabilitate, media ratei cderilor
pentru transformatoare este de 0,2 10-6h-1,
iar n sistem sunt utilizate 2 transformatoare,
rezult:
2 = 2trafo. 0 ,2 10 6 = 0 ,4 10 6 h-1.

3 = 0 ,044 10 6 h-1, avnd n vedere faptul


D6

6 = 116 106

D7

7 = 0,08
10-6

D8

8 = 6,948
10-6

D9

D10

9 = 0,2 106

10 = 48 106

Conform celor menionate mai sus, a fost


ntocmit lista componentelor defectabile pe
baza analizei defectelor, a rapoartelor de
defectare existente la puntele de service i a
informaiilor obinute din ncercrile de
laborator, aa cum sunt menionate n tabelul
7.7. din publicaia Control statistic i
fiabilitate, Editura Didactic i Pedagogic,
Bucureti, 1982, avnd ca autori pe V.
Panaite i R. Munteanu.
Avnd n vedere schema electric de

c n tabelul 7.7. din publicaia Control


statistic i fiabilitate, media ratei cderilor
pentru conexiunile lipite este de 0,0044 106 -1
h , iar n sistem sunt utilizate 2
transformatoare avnd n total 10 borne de
conexiune
(din
care
6
borne
la
transformatorul trifazat utilizat n blocul
redresor i 4 borne la transformatorul
monofazat utilizat n blocul invertor), rezult:
3 = 10conex. 0 ,0044 106 = 0,044 106 h-1.

4 = 1 10 6 h-1, avnd n vedere faptul c


n tabelul 7.7. din publicaia Control statistic
i fiabilitate, media ratei cderilor pentru
tiristoarele de putere 220 A este de 0,1 106 -1
h , iar n sistem sunt utilizate 10 tiristoare,
rezult:
4 = 10th. 0,1 10 6 = 1 10 6 h-1.

5 = 4,387 10 6 h-1,

avnd n vedere
faptul c n tabelul 7.7. din publicaia Control
statistic i fiabilitate, media ratei cderilor
pentru rezistoarele fixe cu pelicul este de
0,0287 10-6h-1, respectiv pentru condensatoarele fixe cu polistiren este de 0,41 10-6h-

ELECTROTEHNICA, ELECTRONICA, AUTOMATICA, 58 (2010), Nr. 4

37

, rezult:
i fiabilitate, gsim media ratei cderilor
6
6 pentru diodele de 1 W ca fiind de 0,02 10-6h 5 = 10 gr .RC ( 0 ,0287 + 0 ,41 ) 10 = 4 ,387 10 1
, rezult:
h-1.
7 = 4diode 0,02 10 6 = 0 ,08 10 6 h-1.
7 = 0 ,08 10 6 h-1, considernd faptul c
8 = 6 ,948 10 6 h-1, avnd n vedere faptul
semnalul de comand necorespunztor s-ar
datora defectrii unor diode utilizate n blocul c sistemul utilizeaz un numr de 18
de comand. Avnd n vedere acest acumulatori Pb-Acid de 12 V i considernd
considerent, precum i faptul c n blocul de durata medie de funcionare a unui
comand sunt utilizate un numr de 4 diode, acumulator ca fiind de 3 ani, rezult:
n tabelul 7.7. din publicaia Control statistic
8 = 18 acc .

1
1
= 18
= 18 0 ,386 10 6 = 6 ,948 10 6 h 1
3ani 12 luni 30 zile 24 ore
25920
.

9 = 0 ,2 10 6 h-1, avnd n vedere faptul publicaia Control statistic i fiabilitate, media

ratei cderilor pentru siguranele fuzibile este


de 8 10-6h-1, rezult:
10 = 6 sig . 8 10 6 = 48 10 6 h-1.
Dac arborele de defectare este elaborat
de concepie sau proiectare, construcia
graficului pornete considernd iniial
defectul critic, Dcr, al sistemului, aa cum
este prezentat n fig. 5.

c n tabelul 7.7. din publicaia Control


statistic i fiabilitate, media ratei cderilor
pentru tranzistoarele de comutaie de 1 W
este de 0,05 10-6h-1, iar n sistem sunt
utilizate 4 tranzistoare IGBT, rezult:
9 = 4 IGBT 0 ,05 10 6 = 0 ,2 10 6 h-1;

10 = 48 10 6 h-1, lund n considerare


faptul c n sistem se regsesc un numr de
6 sigurane fuzibile, iar n tabelul 7.7. din

Figura nr. 5. Graficul defectrilor pentru un sistem UPS

Dac arborele de defectare este elaborat


de utilizare, funcie de informaiile existente,
construcia graficului poate ncepe fie de la
defecte, fie de la defectul Dcr, motiv pentru
care putem spune c fiecare echipament
este caracterizat de un anumit grafic al
arborelui de defectare, diferit de la un tip la
altul. n cazul de fa, majoritatea defectelor
sunt cauzate de cldura excesiv disipat de
elementele semi-conductoare de putere,
cldur ce conduce la mbtrnirea
prematur a componentelor electronice.
Analiza preliminar a fiabilitii i stabilirea
indicatorilor de baz se face considernd,
ntr-o prim etap, repartiia exponenial.

R=e

unde:

este rata defectrilor;


t este timpul exprimat n uniti de timp
sau cicluri de comutaie.
ntre indicatorii de baz se pot considera
relaiile:

MTTF = MTBF =

Dac se specific, n cazul unui


echipament electric cu o singur funcie, ca
dup un timp de funcionare t0 s se accepte
ca probabilitatea de defectare s fie ,
atunci:

= P( Dcr ) = 1 R( t 0 ) = 1 e t0
(3.1) Se

pot

obine

astfel

valorile

(3.3)

ratei

34

ELECTROTEHNICA, ELECTRONICA, AUTOMATICA, 58 (2010), Nr. 4

defectrilor i ale indicatorilor MTTF sau


MTBF.
n general, fiabilitatea se poate referi la un
sistem sau la o component. Pentru
sistemele cu structura logic tip serie formate
din n componente cu fiabilitile respective Ri,
fiabilitatea sistemului este:

a strilor de defectare sau de funcionare


necorespunztoare ale sistemelor. De
asemenea, se pot diagnostica prin mijloace
automatizate, defectele de tip total sau de
deriv. n acest caz, obiectivul urmrit nefiind
determinarea probabilitilor defectelor, este
necesar s se ia n considerare toate tipurile
de defecte, inclusiv cele secundare de tip
n
(3.4) cauzal;
R=
Ri
c) De asemenea, abaterile parametrilor de
i =1
calitate ale energiei electrice fa de valorile
iar rata defectrii sistemului este
acceptate pot determina daune din cauza
n
reducerii duratei de via a echipamentelor,
(3.5) astfel nct, n anumite situaii, se impune
s = i
i =1
montarea unor echipamente suplimentare de
protecie, eliminndu-se n acest fel
unde i este rata defectrii componentei i.
Prin urmare, revenind la tabelul 4.1, vom probabilitatea de defectare prematur;
d) Analiza fiabilitii prin intermediul
determina rata defectrii sistemului UPS:
modelelor
statistice
globale
necesit
n
UPS = i = 1 + 2 + 3 + 4 + 5 + 6 + 7 + 8 + 9 + 10 asocierea echipamentului cu un obiect
i=1
abstract, descris de un grup de variabile
=(116+0,4+0,044+1+4,387+116+0,08+6,948 accesibile, care constituie singurele legturi
+0,2+48) 10-6 = 293,059 10-6
ale echipamentului cu exteriorul.

MTTFUPS = MTBFUPS =

1
UPS

1
= 3412,28
293,059106

Referine bibliografice

[1] CROWE D. i A.FEINBERG, Design for


reliability, CRC Press, 2001.
Dac considerm t0 = 1129 ore, unde t0 =
[2] BIROLINI A., Reliability Engineering, Theory
tstres, conform exemplului din nr. 4/2009 al
th
and Practice, 5 Edition, Springer Press,
revistei, rezult:
2007.
UPS
t0
(293
,059
1061129
)
(0,3309
)
[3] PHAM
H.,
Handbook
of
Reliability
UPS=1e =1e
=1e =10,7183
=0,2817 Engineering,
Springer Press, 2003.
de unde rezult fiabilitatea sistemului UPS, [4] GRANT IRESON W., C.F. COOMBS Jr., R.Y.
MOSS, Handbook of Reliability Engineering
RUPS ( t 0 ) = 0 ,7183 .
nd
and Management, 2 Edition, McGraw-Hill
Press, 1995.
4. Concluzii
[5] SMITH D.J., Reliability, Maintainability and
th
Risk, Practical methods for engineers, 6
a) n proiectare, metoda arborilor de
Edition, Butterworth-Heinemann Press, 2001.
defectare este utilizat n dou moduri:
1. n faza preliminar de calcul, se [6] POPESCU V., D. LASCU, D. NEGOIESCU,
Surse de alimentare n telecomunicaii,
pornete de la defectul critic a crui
Editura de Vest, Timioara, 2002;
probabilitate este specificat prin
[7] SUCIU D., Electronica de putere. Principii i
condiii
de
fiabilitate
impuse,
aplicaii, Editura Matrix Rom, Bucureti, 2007.
ajungndu-se treptat la stabilirea [8] PANAITE V., M.O. POPESCU, Calitatea
probabilitii
de
defectare
a
produselor i fiabilitate, Editura Matrix Rom,
componen-telor;
Bucureti, 2003.
2. n faza de verificare a proiectului, [9] GOLOVANOV C., M. ALBU, Probleme
moderne de msurare n electroenergetic,
calculul pornete n sens invers, de
Editura Tehnic, Bucureti, 2001.
la probabilitile defectelor stabilite
prin proiectare i se determin [10] PANAITE V., R. MUNTEANU, Control
statistic i fiabilitate, Editura Didactic i
conform unui algoritm eleborat,
Pedagogic, Bucureti, 1982.
probabilitatea defectrii sistemului.
[11] PANAITE V., Proiectarea i construcia
Ca i n cazul de fa, graficul poate
aparatelor
electrice,
Litografia
UPB,
fi efectuat automat cu ajutorul unui
Bucureti, 1988.
program expert.
RELEX 2009, Software utilizat pentru
b) La utilizare, arborele de defectare este ntocmirea
graficului
defectrilor,
deosebit de util pentru diagnosticarea rapid http://www.relex.com/