Sunteți pe pagina 1din 9

LUCRAREA NR.

2
M ATE R I A L E F E R O E L E C T R I C E
I.

Scopul lucrrii

Scopul acestei lucrri este determinarea dependenei de frecven i


temperatur a permitivitii complexe relative i studiul efectului piezoelectric
pentru materiale ceramice feroelectrice.
II.

Mod de lucru

2.1 Determinarea dependenei de frecven a permitivitii complexe


relative
2.1.a Metoda de msur
Se utilizeaz plachete din material feroelectric ceramic de tip PZT (soluie
solid de titanat- zirconat de plumb) de lungime l, lime a i grosime b, avnd
armturile depuse pe suprafeele mari (al). Schema electric echivalent a
probei este compus dintr-un condensator plan C S0 i un rezistor R0 , n paralel
conform Figurii 1:

Figura 1. Schema echivalent a unei probe de material ceramic de tip PZT.

Valorile condensatorului plan C S0 i a rezistorul R0 se msoar cu ajutorul


Analizorului de Reea E 5061A, ntr-o gam de frecvene date, la temperatura
ambiant, aa cum este prezentat n Capitolul IV din anexa.
Schema de msur din Figura 2 evideniaz c, proba de material ceramic
de tip PZT este un uniport cuplat prinr-un cablu coaxial la Portul 1
(radiofrecven) RF al Analizorului de Reea E 5061A, care prin msurarea
parametrului S11 determin prin calcul valorile lui Cs0 i R 0 (pentru detalii vezi
anexa).

LABORATORUL DE MATERIALE
CATEDRA TEF

LUCRAREA NR. 2
MATERIALE FEROELECTRICE

T
1
Analizor de
reea
E 5061 A

Port 1

U
a
b

R0

CS0

Figura 2 Schema de msur a a unei probe de material ceramic de tip PZT.

Se determin permitivitatea relativ real ', permitivitatea relativ


imaginar '' i tangenta unghiului de pierderi tg cu relaiile:

C S0 b
;
al 0

C S0 b
;
al 0 Q e

tg

1
Qe

(1)

unde 0 este permitivitatea electric absolut a vidului:0=8,85610-12 F/m


2.1.b Mod de lucru
Se folosete o plachet de PZT cu grosimea b = 3 mm care se introduce
ntr-un dispozitiv de prob cu aria armturilor A = 80 mm 2. Acest dispozitiv de
prob se monteaz la portul 1 al Analizorului de Reele E5061A (Figura 3).
Pentru aceasta se execut urmtoarele operaii pregtitoare asupra
analizorului de spectru E5061A n conformitate cu precizrile fcute privind
funcionarea acestuia n capitolul 4.1 din anex :
a) Se stabilete domeniului de frecven 300kHz 40MHz astfel:
Se selecteaz cu ajutorul mousului din meniul Stimulus comanda
Start i se introduce, fie de la tastatura valoarea 300k urmat de ENTER,
fie prin actionare butoanelor de tip Up/ Down din fereastra de dialog. Dup
aceasta se selecteaz comanda Stop i procednd n mod similar, se introduce
valoarea de 40MHz.
b) Programarea markerilor se execut astfel:
Se selecteaz din meniul Marker, pe rnd, cte un marker i se
stabilete frecvena acestuia similar cu punctul anterior. Dup ce s-au programat
markerii care sunt afisai se apas comanda More Marker i se continu
programarea lor. Frecvenele sunt cele din Tabelul 1.
c)

Afiarea rspunsului necesit urmtoarele comenzi dup ce s-a selectat


meniul Response:

Comanda Avg la care se stabilete valoarea de 100Hz (aceasta


reprezint banda filtrului de mediere a masurtorii dar in acelai timp
determin i viteza de variaie a frecvenei);

LABORATORUL DE MATERIALE
-2CATEDRA TEF

LUCRAREA NR. 2
MATERIALE FEROELECTRICE

Comanda Format la care se selecteaz subcomanda


R+JX;

Smith i

Comanda Meas se seteaz la s11


Comanda Scale la care se selecteaz subcomanda Auto.

d) Se noteaz n tabel datele citite n dreptul fiecrui marker i se efectueaz


calculele pentru , i tg
Ultima seciune a Tabelului 1 se completeaz folosind relaiile (1).
Tabelul 1.
F [MHz]
C S0 [pF]
R
'
"
tg

0,3

0,5

10

20

40

Se traseaz diagramele '(f), ''(f), tg(f) i diagrama Cole-Cole "(').


2.2 Determinarea dependenei de temperatur a permitivitii complexe
relative
2.2.a Metoda de msur
Se determin variaia cu temperatura a capacitii C S0 i a conductanei
G0 = 1/R0 cu ajutorul montajului din Figura 3.
6

R
4
3

~130V/50Hz

~ 220V/50Hz

Figura 3. Montajul folosit pentru determinarea dependenei de


temperatur a permitivitii.

Cuptorul (1) este nclzit cu o rezisten (3) aflat n pereii cuptorului.


Rezistena de nclzire este alimentat de la reea prin intermediul unui
autotransformator (4). Temperatura din interiorul cuptorului se determin cu
ajutorul termometru (5). Cuptorul gliseaz pe in astfel nct s poat fi
introdus proba (2) care este fixat cu ajutorul a dou tije de ceramic refractar

LABORATORUL DE MATERIALE
-3CATEDRA TEF

LUCRAREA NR. 2
MATERIALE FEROELECTRICE

care apas elastic asupra probei. Prin aceste tije trec dou fire de conexiune,
fiecare fiind n contact cu cte o armtur a probei. Cele dou fire sunt conectate
la o punte RLC ( 6) care msoar elementele C S0 i G0 ale probei.
Se determin variaia lui C S0 i G0 n intervalul de temperaturi
20300C.
Se calculeaz parametrii de material cu urmtoarele relaii:
'

bC S0
;
al 0

tg

G0
0 C S0

' '
'

(2)

unde 0 este frecvena unghiular a semnalului de lucru al punii: 0=104 rad/s.


Temperatura Curie corespunde maximului curbei '(T), reprezentnd
temperatura la care dispare ordinea dielectric n material.
Conform teoriei fenomenologice a feroelectricitii pentru materialele
feroelectrice cu tranziie de faz de ordinul II dependena permitivitii relative
reale de temperatur este de tipul:
'

1
4 0 A 0 TC T

pentru T<TC

(3)

'

1
2 0 A 0 T TC

pentru T>TC

(4)

unde A0 este o constant fenomenologic.


Conform acestei teorii graficul
celor dou drepte ale lui

1
'

1
f (T )
'

arat ca n Figura 4, pantele

pentru T<TC i T>TC avnd raportul:

Figura 4. Dependena

tg 2
2
tg1

(5)

1
f (T ) pentru materiale feroelectrice.
'

LABORATORUL DE MATERIALE
-4CATEDRA TEF

LUCRAREA NR. 2
MATERIALE FEROELECTRICE

2.2.b Mod de lucru


Proba de material feroelectric are grosimea b=3 mm i aria armturilor
A=80 mm2.
Se execut montajul din Figura 3 i se efectueaz o determinare la
temperatura ambiant.
Se regleaz autotransformatorul pe poziia de ~ 110V/ 50Hz astfel nct
cuptorul s-i modifice lent temperatura i se fac citiri din 5C n 5C pn la
temperatura de 250 C (pn la o temperatur cu aproximativ 50 C mai mare
dect TC). La fiecare valoare a temperaturii se msoar C S0 i R0. Valorile
acestora se trec n Tabelul 2.
Tabelul 2
T [C] ambiant
C S0 [nF]
R0 [K]
'
"
tg

80

85

90

95

.....

245

250

Se calculeaz ', " i tg cu ajutorul relaiilor (2) i tiind c factorul de


calitate al probei este Qe = 0R0 C S0 , iar 0 este frecvena unghiular de lucru a
punii de msur. Valorile calculate se trec n seciunea a doua din Tabelul 2.
Se traseaz diagramele '(T), ''(T) i tg(T).
Se traseaz diagrama

1
f T
'

determinnd TC i pantele celor dou

tg 2

drepte. Se calculeaz raportul tg .


1
Se calculeaz constanta A0 la T1 = TC - 5 C i la T2 = TC + 5 C.

2.3

Determinarea parametrilor de material elastici i piezoelectrici

2.3.a Metoda de msur


Metoda de determinare a proprietilor materialelor piezoelectrice este o
metod dinamic de rezonan. Ea se bazeaz pe faptul c prin aplicarea unui
cmp electric sinusoidal de frecven f punctele materiale ale unei probe
piezoelectrice vor oscila elastic forat cu aceeai frecven f. Amplitudinea
oscilaiilor elastice este maxim dac nu exist fore elastice externe care s le

LABORATORUL DE MATERIALE
-5CATEDRA TEF

LUCRAREA NR. 2
MATERIALE FEROELECTRICE

atenueze. Unda elastic determinat de oscilaiile elastice se propag fie pe o


direcie paralel cu direcia de oscilaie, n acest caz unda elastic numindu-se
und longitudinal, fie pe o direcie perpendicular, corespunztor obinndu-se
o und elastic transversal.
Pentru determinarea caracteristicii de frecven a rezonatorului
piezoelectric ceramic vom utiliza Analizorul de Reea E 5061A. Schema de
legtur simplificat a rezonatorului la analizor este prezentat n Figura 5.
Analizor de reea
E 5061 A
Port 1

a1
b1

S11

1
S
1

Port 2

S21

a2
b2

2
2

Figura 5 Schema de legtur a a rezonatorului piezoelectric ceramic cu


Analizorul de Reea E 5061A

Analizorul de reea determin caracteristica de frecven pornind de la


msurarea termenului S11, care este factorul de reflexie la intrarea rezonatorului
la portul 1 i a termenului S21 ,care este coeficientul de transfer al semnalului
transmis de rezonator de la portul 1 la portul 2.
2.3.b Mod de lucru
Schema efectiv de msur este prezentat n figura 6.
b) Se vor determina frecvenele fn i fm pentru un rezonator piezoelectric cu
cuar, conform diagramei din Figura x din anex.
Pentru aceasta, similar cu cap. 2.3.b se stabilesc la analizorul de reele,
urmtorii parametrii:
Frecvena de start 4,8MHz;
Frecvena de stop 5,2MHz;
Formatul pe LogMag;
Meas pe S21;
Scala pe Auto

LABORATORUL DE MATERIALE
-6CATEDRA TEF

LUCRAREA NR. 2
MATERIALE FEROELECTRICE

Avg pe 10Hz
Se mut trapurile de pe placa de msur, astfel nct s fie n circuit
rezonatorul cu cuar i cu ajutorul unui marker se stabilete i se noteaz ntr-un
tabel(Tabelul 3) frecvena maximului curbei (fn) i a minimului curbei (fm) i de
asemeni se noteaz 3 puncte naintea lui f n , 2 puncte ntre fn i fm i 3 puncte
superioare lui fm , pe baza crora se va trasa un grafic.
Se schimba apoi valoarea pentru Avg i se face o comparaie ntre
curbe.Valorile pentru Avg sunt: 30Hz, 100Hz, 1KHz.
c) Opional
Se mut trapurile pe unul dintre filtrele ceramice i se ncearc
determinarea benzii de trecere i a neunifirmitii n band i se ncearc s se
rspund la ntrebarea Cte elemente rezonatoare compun filtrul?.

Figura 6 Montajul pentru determinarea caracteristicii de frecven.


unde: RZ - rezonator piezoelectric;
FC 1, FC 2, FC3 sunt filtre ceramice realizate in moduri diferite

III Coninutul referatului


3.1 Scopul lucrrii;
3.2 Tabelul 1 mpreun cu relaiile da calcul folosite, precum i graficele de la
punctul 2.1.b;

LABORATORUL DE MATERIALE
-7CATEDRA TEF

LUCRAREA NR. 2
MATERIALE FEROELECTRICE

3.3 Tabelul 2 i relaiile de calcul folosite, mpreun cu graficele de la


tg 2

punctul 2.2.b, mpreun cu calculul constantei A0 i al raportului tg ;


1
3.4 Tabelul 3 i graficul de la punctul 2.3.b, precum i calculul elementelor
schemei echivalente pentru cele dou rezonatoare;
concluzii i comentarii.
VII ntrebri i rspunsuri
1. Prezentai elementele de simetrie caracteristice cristalelor dielectrice din
clasele de simetrie mm, 3m i 6mm. Cror sisteme cristalografice le aparin
aceste cristale?
2. S se determine configuraia concret a tensorului de permitivitate pentru
cristalul de niobat de litiu care face parte din clasa de simetrie 3m.

3. S se prezinte dependena detip histerezis a induciei electrice ( D ) de


intensitatea cmpului electric ( E ) caracteristic unui material feroelectric.
4. Prin ce proprieti fizice difer materialele feroelectrice cu tranziie de faz
de ordinul I de materialele feroelectrice cu tranziie de faz de ordinul II?
5. S se calculeze coeficientul de cuplaj piezoelectric n cazul unei plci din
PZT cu dimensiunea n lungul axei x1 mult mai mare dect celelalte
dimensiuni, tiind c polarizaia spontan P i cmpul electric de comand
E se afl pe direcia x3 (vezi Figura 20) .
S

Indicaie: Configuraia geometric determin componentele tensorului de


tensiune mecanic: T10, T2= T3= T4= T5= T6= 0.
x3

x2

U
x1

Figura 20.

6. S se calculeze matricea de repartiie S corespunztoare diportului din figur.


Bibliografie

LABORATORUL DE MATERIALE
-8CATEDRA TEF

LUCRAREA NR. 2
MATERIALE FEROELECTRICE

1. O. Iancu- Materiale i componente electronice, Ed. UPB, Bucureti, 1988


2. P. chiopu, S. Vasilescu Teoria i proiecterea componentelor pasive, Ed.
UPB, Bucureti, 1976
3. I. S. Jeludev Cristale electrice, Bucureti, Editura Tehnic, 1973
4. O. Iancu, P. chiopu, S. Vasilescu Dispozitive dielectrice i magnetice,
Editura UPB, Bucureti, 1976
5. M. Drgulinescu, A. Manea Materiale pentru electronic, Ed Matrix,
Bucureti, 2002

LABORATORUL DE MATERIALE
-9CATEDRA TEF