Documente Academic
Documente Profesional
Documente Cultură
1
MATERIALE DIELECTRICE SOLIDE
1. Scopul lucrrii
Scopul lucrrii este nsuirea metodei de determinare a permitivitii
complexe relative a materialelor dielectrice solide uzuale i analiza comportrii
acesteia n frecven folosind analizorul RF de impedan/ material, model
E4991A.
2. Noiuni teoretice
Dielectricii sunt materiale care se caracterizeaz prin stri de polarizaie
cu funcie de utilizare. Prin stare de polarizaie electric se nelege starea
materiei caracterizat prin momentul electric al unitii de volum diferit de zero.
Starea de polarizaie poate fi temporar dac depinde de intensitatea local a
cmpului electric n care este situat dielectricul i poate fi de deplasare
(electronic sau ionic) sau de orientare dipolar. Indiferent de mecanismul de
polarizare, n domeniul liniar, interaciunea unui dielectric izotrop cu cmpul
electric este caracterizat de permitivitatea complex relativ:
r
D
r j r
0 E
(1)
1
10 9 F / m ,
36
permitivitatea vidului.
(2)
CATEDRA TEF
LU C R AR E A N R . 1
aceleai dimensiuni geometrice, capacitatea condensatorului obinut fiind :
Ce = ' rCo
(3)
1
rC0
(4)
Pa
Pr
U IR
U IC
IR
IC
C
1
r 0 r
Ce Re rC0 r
(5)
1
CR r
tg
r
(6)
LABORATORUL DE MATERIALE
CATEDRA TEF
LU C R AR E A N R . 1
"
'
r 1 j r'
r
(7)
n acest caz, partea imaginar ne d o informaie complet asupra
pierderilor totale (pierderi prin polarizare, pierderi prin conducie electric,
pierderi prin ionizare) n dielectric. Din punct de vedere al utilizatorului de
componente, pentru materialul dielectric aceti doi parametri 'r i tg sunt
eseniali.
Datorit structurii fizice i fenomenelor complexe ce se petrec n
dielectric cnd asupra acestuia se aplic un cmp electric, permitivitatea
dielectric real ' i tangenta unghiului de pierderi tg sunt dependente puternic
de frecven i temperatur.
n Tabelul 1 sunt date caracteristicile tipice ale ctorva materiale studiate
n lucrare (msurate la = 20 C si f = 50 Hz), iar n Figurile 2 i 3 este
prezentat dependena de frecven a permitivitii, 'r si a tangentei unghiului de
pierderi, tg, la temperatura constant de = 20 C, pentru 2 materiale
dielectrice uzuale: polietilentereftalat i policarbonat.
Tabelul 1
Material
Tip de polarizare
polarizare de orientare
Polietilentereftalat
Polimetacrilat
de
"
metil (plexiglas)
Policarbonat
"
Hrtie de conden"
sator
Politetrafluretilen
polarizare de deplasare
(teflon)
'r
tg
(45)10-3
3,5
0,020,08
(812)10-4
6,6
(67)10-3
1,92,2
(14)10-4
electronic
LABORATORUL DE MATERIALE
CATEDRA TEF
'
r
LU C R AR E A N R . 1
3. Scurt prezentare a aparaturii de msur i control
3.1 Destinaia
Aparatul de msur i control cu ajutorul cruia se execut msurarea
permitivitii complexe relative a materialelor dielectrice este Analizorul RF de
impedan/material, model E 4991A. Acesta este destinat pentru msurarea
impedanei, a permitivitii complexe relative a materialelor dielectrice i a
permeabilitii magnetice relative a materialelor magnetice. Lucrarea se ocup
de msurarea permitivitii complexe relative a materialelor dielectrice solide
ntr-o gam larg de frecvene.
3.2 Configuraia analizorului pentru msurarea permitivitii materialelor
dielectrice
n scopul msurrii permitivitii complexe relative a materialelor
dielectrice, analizorul de materiale E 4991A folosete urmtoarele accesorii:
capul de test E4991A, dispozitivul de fixare a materialelor dielectrice 16453A,
suportul de fixare, tastatura, penseta, mouse-ul, proba standard de material
dielectric i probele de material dielectric solid de msurat,
Figura 4.
Opional, se folosete un display, care se conecteaz la panoul din spate al
analizorului.
CATEDRA TEF
LU C R AR E A N R . 1
a)
b)
Ce gC e
C0 0 S
(8)
1
g
Re C0 0 SRe
( 9)
r
r
LABORATORUL DE MATERIALE
(10)
CATEDRA TEF
LU C R AR E A N R . 1
4. Desfurarea lucrrii
Executarea msurrii permitivitii complexe relative a materialelor dielectrice
cu analizorul de materiale E 4991A este prezentat n schema logic din
Figura 6.
Modul de executare n detaliu a fiecrui pas din schema logic este descris n
ANEXA 1 a lucrrii de laborator.
START
PASUL 1. Pregtirea pentru
msurare.
PASUL 2. Selectarea modului
de msurare.
PASUL 3. Selectarea
condiiilor de msurare.
PASUL 4. Montarea 16453A.
PASUL 5. Introducerea
grosimii PROBEI standard.
PASUL 6. Calibrarea
Diferit
Grosimea probei
de msurare
PASUL 7. Introducerea
grosimii probei de msurare.
Aceeai
Puterea i
frecvena stabilite
de utilizator
PASUL 9. Msurarea i
analizarea rezultatelor.
Dup schimbare
Nu se schimb
SFRIT
LABORATORUL DE MATERIALE
CATEDRA TEF
LU C R AR E A N R . 1
4.1
Plexiglas g= 0,95mm
Pertinax g= 1mm
Steclotextolit g= 3mm
Teflon
F [MHz]
r
r
100
900
1000
tg
Q
r
r
tg
Q
r
r
tg
Q
r
r
tg
LABORATORUL DE MATERIALE
CATEDRA TEF
g= 2,1mm
r
r
g=1mm
Alumina
LU C R AR E A N R . 1
tg
Q
100
500
800
r1 , r 2 , re
r1
r 2
re msurat
( g1+2 = 1,95mm)
Sandwich pertinax +
steclotextolit
Sandwich pertinax +
re calculat
re ms - re calc =
steclotextolit
Se calculeaz re cu relaia urmtoare:
LABORATORUL DE MATERIALE
CATEDRA TEF
LU C R AR E A N R . 1
re'
g1 g 2
g1 g 2
r' 1 r' 2
(11)
'
r f (), r f
"
, r tg f
Figura 10.
4. S se calculeze rezistena echivalent de pierderi serie i paralel,
pentru fiecare condensator auxiliar folosit la dou din frecvenele pentru care sau efectuat msurtorile.
LABORATORUL DE MATERIALE
CATEDRA TEF
LU C R AR E A N R . 1
7. Bibliografie
Marin Drgulinescu, Adrian Manea, Materiale pentru electronic, Editura
MATRIXROM, Bucureti 2002.
*** Agilent E4991A RF Impedance/Material Analyzer- Operation Manual,
Eighth Edition Agilent tehnologies, July 2006.
***Agilent E4991A RF Impedance/Material Analyzer - Installation and Quick
Start Guide, Ninth Edition, Agilent tehnologies, July 2006.
LABORATORUL DE MATERIALE
10
CATEDRA TEF
LU C R AR E A N R . 1
ANEXA A
Executarea msurrii permitivitii complexe relative a materialelor
dielectrice cu analizorul de materiale E 4991A
Pasul 1 - Pregtirea analizorului pentru msurtori
Conectarea i deconectarea analizorului se execut cu butonul
,
plasat n stanga-jos. Simultan cu cuplarea analizorului se activeaz i softul
acestuia.
Observaie: Pe durata nefuncionrii se recomand ca aparatul s fie
deconectat de la reea, pentru evitarea ocurilor tensiunii reelei.
Iniializarea softului aparatului. Analizorul folosete Windows 2000
Professional. n fereastra de dialog, pe linia user name se tasteaz
agt_instr n loc de Administrator i apoi, fr password se apas
butonul OK. n etapa aceasta analizorul este pregtit pentru msurtori de
impedan i de material.
Pasul 2- Selectarea modului de msurare
Pe display apare fereastra de msurare, aa cum este prezentat n
Figura A1.
Trace 1 - E4991A Impedance/Material Analyzer
Trace Meas/Format Scale Display Marker Stimulus
Trigger Utility Save/Recal System
11
CATEDRA TEF
LU C R AR E A N R . 1
1. n meniul System se apas caseta Preset pentru iniializarea
analizorului.
2. n meniul Utility se apas caseta Utility....
3. Se apas caseta Material Option Menu.
4. Se selecteaz Permittivity n csua Material Type.
La sfritul pasului 2 analizorul este pregtit pentru efectuarea
msurtorii permitivitii materialului.
Pasul 3. Se selecteaz condiiile de msurare
3.1 Setarea parametrilor de msur i a formatului desfurrii se execut
pentru r, r, tan n felul urmtor:
1. n meniul Display se activeaz caseta Display....
2. Se selecteaz 3 Scalar din csua Num of Traces;
3. n meniul Meas/Format se activeaz caseta Meas/Format... i
se atribuie fiecrei desfurri un parametru;
4. Astfel, cnd desfurarea Trace 1 este activ apare (* marca) pe
display i selecteaz r` n csua Meas Parameter;
5. n csua Format se selecteaz Lin Y-Axis sau
Log YAxis;
6. Similar se procedeaz pentru desfurrile 2 i 3 pentru r" i respectiv
tan.
3.2 Setarea punctelor de msur, a parametrilor de baleiaj
Se parcurg urmtoarele etape:
1. n meniul Stimulus se activeaz butonul Sweep Setup;
2. n csua Number of Points se introduce numrul de puncte
necesare msurtorilor, pentru asigurarea preciziei dorite. Exemplu: pentru 201
puncte, se tasteaz [2] [0] [1] si [Enter];
3. n csua Sweep Parameter se selecteaz Frequency;
4. n csua Sweep Type se selecteaz Linear pentru scala lineara
de frecvene sau Log, pentru scala logaritmic de frecvene;
3.3 Setarea sursei i a nivelului oscilatorului se execut n felul urmtor:
1. n meniul Stimulusse activeaz Source
2. n csua Osc Unit se selecteaz Voltage
3. n csua Osc Level se introduce nivelul de 100 mV, se tasteaz [1]
[0] [0] [m] si [Enter].
3.4 Setarea gamei de frecven se execut n felul urmtor:
1. n meniul Stimulus se activeaz Start/Stop....
2. Cu csua Start se introduce frecvena de start, 1 MHz, pentru
aceasta, se tasteaz [1] [M] si [Enter].
LABORATORUL DE MATERIALE
12
CATEDRA TEF
LU C R AR E A N R . 1
3. Cu csua Stop se introduce frecvena de stop, 1 GHz, se tasteaz
[1][G] si [Enter].
La sfritul pasului 3 analizorul este pregtit pentru conectarea
dispozitivului de fixare 16453A
Pentru protecia antistatic a analizorului, operaiunile de la pasul 4 la pasul
10 se execut cu brara ESD conectat la mn.
Pasul 4 Conectarea dispozitivului de fixare 16453A
Aceast activitate se execut numai de personalul didactic din cadrul
laboratorului
Conectarea dispozitivului 16453A se realizeaz astfel:
1. Se fixeaz dispozitivul 16453A pe capul de test, cu uruburile
prizonier ale suportului de fixare;
2. Se cupleaz dispozitivul 16453A la mufa N 7-mm rotind piulia
conectorului n sensul invers acelor de ceasornic;
3. Piulia se strnge cu cheia dinamometric, n sensul invers acelor de
ceasornic pn la obinerea cuplului de 1,36 Nm, marcat pe cheie i semnalizat
prin rabaterea braului cheii.
Dup pasul 4 analizorul este pregtit pentru calibrare.
Pasul 5. Introducerea grosimii probei standard de material
1. n meniul Stimulus se apas Cal/Comp....
2. Se apas butonul Cal Kit Menu.
3. n csua Thickness se introduce valoarea grosimii probei standard
de material. Exemplu: dac grosimea probei standard de material este de 0.75
mm, se tasteaz [0] [.] [7] [5] [m] i [Enter].
Observaie: Proba standard de material este realizat din teflon i are
permitivitatea relativ r = 2,1. De aceea, iniial analizorul E4991A are setat
valoarea r n csua Real n bara de comenzi Cal Kit de 2,1000 i valoarea
pierderilor n csua r Loss r= 0,0000.
Pasul 6 Calibrarea analizorului
Calibrarea se realizeaz n planul suprafeelor de contact ale
dispozitivului de fixare pentru test 16453A. Calibrarea este obligatorie i se
execut n scopul nlturrii erorilor introduse de elementele de circuit din
schema echivalent a capului de msur, Figura A2.
LABORATORUL DE MATERIALE
13
CATEDRA TEF
LU C R AR E A N R . 1
14
CATEDRA TEF
LU C R AR E A N R . 1
3. n csua Thickness se introduce grosimea probei. De exemplu
pentru grosimea de 1 mm, se tasteaz [1] [m] i [Enter].
Pasul 8 Conectarea probei de msur (MUT)
Se execut prin introducerea probei ntre electrozii dispozitivului de test.
Se verific contactul electrozilor, dispozitivul de fixare i (numai daca este
cazul) se regleaz presiunea electrodului superior cu rozeta Pressure
Adjustment. Cu parcurgerea pailor 7 i 8 analizorul este pregtit pentru
msurarea i analiza rezultatelor.
Pasul 9. Msurarea i analiza rezultatelor
Odat introdus grosimea probei de msurat n csua i cu materialul
fixat ntre electrozi, dup activarea Autoscale all, rezultatele msurtorilor se
afieaz pe ecran. Explorarea rezultatelor se realizeaz cu bara de comenzi
Marker, pentru determinarea valorilor specifice de interes. Folosind
Marker Fctn (function), bara de comenzi arat analiza care se efectueaz cu
ajutorul markerilor activai. Pentru afiarea rapid a rezultatelor, din Scale, se
activeaz autoscalarea cu autoscale i autoscale all.
n Figura A3 se prezint o imagine a ecranului cu unele rezultate ale
msurtorilor privind permitivitatea, (r [U], r [mU] si tg ), n intervalul de
frecvene 1MHz 1GHz.
15
CATEDRA TEF
LU C R AR E A N R . 1
msurtoarea se pornete cu pasul 9. Dac se msoar i alte probe cu aceeai
grosime, msurtoarea se pornete de la pasul 8. Dac probele au grosimi
diverse msurtoarea se pornete de la pasul 7.
LABORATORUL DE MATERIALE
16
CATEDRA TEF