Davit Karapetyan

Master Reabilitarea implanto-protetica

Histologia implantului dentar cu

conexiunea implant-abutment (platform
switched )
INTRODUCERE

Schimbrile la nivel osos, devin din ce n ce mai frecvent observate la

implanturile dentare, iar dup expunerea n mediul oral au devenit un
subiect de interes n cretere. Etiologia acestei resorbii osoase nc este
necunoscut, chiar dac au fost propuse mai multe cause precum:
traumatisme chirurgicale, peri-implanturi, suprasarcin ocluzal, formarea
unei limi biologice, caracteristicile macroscopice i microscopice ale gtului
implantului, infiltrarea bacterian a microspaiului, poziia microspaiului.
Creterea cererilor estetice necesit, n mod frecvent, o destinaie de plasare
subgingival a marjelor de restaurare (2). Poziionarea mai apical a fost,
totui, asociat cu o resorbie crestal crescut a osului alveolar (2). S-a
artat c o pierdere osoas de aproximativ 2 mm apare la implanturi cu
avatment, n funcie de locaia microspaiului n raport cu creasta osoas (3).
n ultimele dou decenii, acest microspaiu a cauzat un mare interes pentru
cercetare.
Pierderea osoas i inflamaia au fost mai puine n cazul implanturilor din 2
piese, care au fost plasate cu microgap exact la nivelul crestei osoase, iar cel
mai puin resorbia osoas i inflamaia peri-implantului au avut loc dac
microgapul a fost localizat la 1 mm deasupra crestei. Plasarea unei interfee
ntr-o locaie apical a crestei alveolare ar duce la cea mai mare cantitate de
pierdere osoas.
O colonizare bacterian a microgapului a fost descris cu prezena unui
infiltrat celular inflamator la nivelul jonciunii-implant bont (IAJ). Prezena
esutului conjunctiv infiltrat (ICT) arat, probabil, un rspuns al sistemului
imunitar la bacteriile colonizatoare IAJ.
n cazul n care ICT este responsabil pentru remodelarea osoas, schimbarea
microgapului interior, probabil ar schimba ITC n continuare din creasta
alveolar. Mutarea IAJ-ului departe de marginea exterioar a umrului
implant i din os crestal, ar putea ajuta la reducerea resorbiei osoase,
pentru c celulele inflamatoare sunt departe de osul crestal adiacent. Mai
mult dect att, o platform pornit implantat, cu un unghi de 90 este
creat, n comparaie cu ceea ce se ntmpl la implanturile cu diametru de
potrivire (implant-bont), unde unghiul de 180 este prezent; i ca rezultat

poate s produc o restricie de ICT pentru aceast regiune . Acest lucru

poate fi obinut prin utilizarea de platform pornit implantat (PLS), n care
este utilizat un abutment mai mic dect umrul implantului. Scopul
prezentului studiu a fost o analiz histologic a unui implant cu o platform
pornit implantat. (Fig 1)

Fig.1
MATERIALE SI METODE
Un pacient de sex masculin (32 de ani) a participat la acest studiu. Protocolul
de studiu a fost aprobat de ctre Comitetul Etic Ung (Universitatea din
Guarulhos, So Paulo, Brazilia), iar pacientul a semnat un formular scris de
consimmnt informat. Pacientul a fost edentat parial i a avut nevoie de o
restaurare mandibular (posterior, bilateral). Au fost inserate dou implanturi
n mandibula dreapta (3i implant cu Suprafa Nanotite; Inovatii Implant,
West Palm Beach, FL, Statele Unite ale Americii), i 2 implanturi n mandibula
stnga (Ankylos plus implant; Dentsply-Friadent, Mannheim, Germania).
Toate implanturile au fost ncrcate, far contact ocluzal, cu o protez
provizorie fix n aceeai zi a interveniei chirurgicale de implant i imediat n
aceeai zi de inserie. Un implant 3i a fost preluat, mpreun cu opritorul
care nu a fost niciodat ndeprtat, dup o perioad de vindecare de 6
sptmni. Implantul a fost introdus la 1 mm sub creast.
REZULTATE
1 mm resorbia osului peri-implantar a fost prezent pe o partea a osului, care
a fost situat n aceeai nlime a umrului de implant. Un decalaj de 0,6
mm a fost observant, pe de o parte, ntre implant i os, la o nlime de
umrul implant. n interiorul acestui decalaj a fost observate nou formate
trabecule osoase. Localizarea primul os la implant contact (BIC) a fost gsit
la aproximativ 0,7 mm nlime de umrul implantului (fig. 2).

Fig.2
n interiorul acestui decalaj, nu au existat celule inflamatorii i infiltrat,
osteoclaste sau zone de resorbie osoas. Trabeculele osoase au fost
observate la 1 mm deasupra nivelului umrului implantului, aproximativ 1
mm de la implant.Un decalaj de 0,2 mm a fost prezent ntre umrul de
implant i osul nou format, pe de cealalt parte a implantului. n interiorul
acestui decalaj, osteoblastele au depozitat matricea osoas ntr-o direcie
apico-coronal.
La nivelul acestei poriuni a interfeei, situate n apropierea umrului implantului, a
fost observat numai prezena unui os nou format. BIC care a fost localizat la 0,3
mm de umrul implantului (fig. 3).

Fig 3

De asemenea, n interiorul acestui decalaj nu au fost observate celule inflamatoare,

osteoclaste, sau zone de resorbie osoas. La interfaa cu opritorul a fost posibil s
se observe prezena esutului conjunctiv. A fost observant o detaare de acest
esut conjunctiv de la suprafaa metalic probabil datorat unui artefact produs n
timpul regsirii sau prelucrrii probei, a putut fi observat n anumite zone. n acest
esut conjunctiv s-au observat doar cteva celule inflamatoare i puine vase mici
(fig. 4).

Fig 4

Osul nou format, a fost gsit la interfaa cu implantul, i osteoblastele au depus

osteoid matrice direct pe suprafaa implantului (fig. 5, 6).

Fig 5

Fig 6

Fig 7

n unele poriuni ale interfeei, osul nou format a fost n contact strns cu suprafaa
metalic (fig. 7).
Tesutul conjunctiv fibros, fr spaii, a fost gsit la interfaa i au fost prezente
descreteri epiteliale. Procentul BIC a fost de 65,1 6,3 %.