PLANOS CRISTALOGRAFICOS.

Es definido por tres tomos no alineados, en una red cristalina, uniendo tres nudos de una celdilla,
determinados por los ndices de Miller. (cristalografo ingles Hallowes Miller 1801-80) conversin
universal se escogen un plano que no pase por el origen los ndices de un plano cortado los ejes
(no tienen por qu ser ngulos rectos los ejes coordenados) en:
(1) OX, OY, OZ, en los puntos de las coordenadas:
(2) m, n, p, valor de corte del plano a los ejes.
(3) h, k, l, proporcionales a:
(4) 1/m, 1/n, 1/p: son los ms pequeos nmeros enteros
Pueden tener valor negativos pero siempre enteros.
Se expresa entre parntesis por ejemplo (001) si es negativo un numero se le pone un smbolo
menos sobre el.
Distancia interpretada en el sistema cbico entre dos planos paralelos muy cercanos con los
mismos ndices de Miller (h, k, l) se designa d, k, h, l igual a la distancia desde el origen elegido
contenido en un plano y otro plano paralelo con los mismo ndices que sea cercano a l. Siendo el
parmetro de la celdilla.
Familias de Planos a los grupos de planos de redes equivalentes que estn relacionados por la
simetra del sistema cristalino, y a los ndices de una familia de planos son encerrados entre llaves,
por ejemplo en el cbico los planos (100) (010) (001) desiguales pero colectivamente relacionados
por la simetra del sistema se les denominan {100} a esta familia de planos.
A lo largo de este plano es donde ocurren las fallas de un cristal, trayendo consecuencias practicas
como la deformacin o fractura de un material sometido a esfuerzo.
En el sistema hexagonal, los planos reticulares estn definidos de manera ligeramente diferente.
Se toman cuatro ejes de referencia que pasan por el centro del hexgono de la base, tres dirigidos
segn las diagonales de este hexgono forman entre ellos un ngulo de 120 y el cuarto es el eje
del prisma. Esta nomenclatura de cuatro ndices tiene la ventaja de hacer aparecer las simetras.
La forma de obtener los ndices de Miller es igual a lo explicado anteriormente solo que con un eje
ms.
Direccin Cristalogrfica Definida Por Dos Nudos De La Red.
Los ndices de direcciones cristalogrficas corresponden a sus componentes en las direcciones de
tres ejes del sistema, componentes medidos en unidades indivisibles de la malla.
Todas las direcciones paralelas tienen los mismos ndices de Miller de direccin [uvw].
Las direcciones cristalogrficas equivalentes son las que tienen los espacios atmicos a lo largo de
cada direccin igual. Por ejemplo, en un cubo, [100], [010], [001], e igual con valores negativos de
la unidades la familia de ndices.

ndices de Miller
Los tomos en un slido estn empaquetados, con lo que existe un cierto grado de orden:
- de corto alcance (slidos moleculares, con enlaces fuertes- covalentes- entre tomos y ms
dbiles van der Waals- entre molculas ).
- de largo alcance (slidos cristalinos)
En el interior de un slido cristalino existe una estructura cristalina formada por una red espacial,
en cada punto de la cual se sitan grupos de tomos idnticos en composicin y orientacin
(base).
La geometra de la red espacial debe permitir que se llene todo el espacio de tomos sin dejar
huecos, caracterstica que hace que slo existan 14 tipos de redes posibles (redes de Bravais),
caracterizadas por una celda unitaria cada una, que, a su vez viene definida por una serie de
parmetros (a,b,c y , , ).
Para identificar los diferentes planos y direcciones en un cristal se usan los ndices de Miller (para
planos (hkl), para direcciones [hkl]).
La orientacin de una superficie de un cristal plano se puede definir considerando como el plano
corta a los ejes cristalogrficos principales del slido. La aplicacin de un conjunto de reglas
conduce a la asignacin de los ndices de Miller (hkl); un conjunto de nmeros que cuantifican los
cortes y que slo puede usarse para identificar un plano o una superficie.
El siguiente procedimiento que permite asignar ndices de Miller est simplificado y slo sirve para
el sistema cbico (con celda unitaria de dimensiones a x a x a ).

Para ilustrar el procedimiento, consideremos la siguiente superficie /plano:

Paso 1: identificar las intersecciones con los ejes x, y,z.

En este caso la interseccin con el eje x tiene lugar en x=a y la superficie es paralela a los ejes y, z
(consideramos que los corta en ). Los cortes son a, , .
Paso 2: especificar los cortes en coordenadas fraccionarias.
Las coordenadas se convierten en fraccionarias dividindolas por la dimensin de la celda unidad.
Por ejemplo un punto (x,y,z) en una celda unidad de dimensiones a x b x c, tiene las coordenadas
fraccionarias (x/a, y/b, z/c).
En nuestro caso ( celda cbica), las coordenadas fraccionarias sern: a/a, /a, /a, es decir 1,,
.
Paso 3: obtener los reciprocos de las coordenadas fraccionarias
Este paso final genera los ndices de Miller que, por convencin, han de especificarse sin estar
separados por comas. Los ndices se encierran entre parntesis () cuando se especifica una nica
superficie como en este ejemplo.
Los recprocos de 1 y , son 1 y 0, respectivamente, lo que nos conduce a (100). Por tanto el plano
del dibujo es el (100) del cristal cbico.
Otros ejemplos:
1- La superficie (110)

cortes: a,a, ; cortes fraccionarios: 1,1, ; ndices de Miller: (1,1,0)

2- La superficie (111)

cortes: a,a,a ; cortes fraccionarios: 1,1,1 ; ndices de Miller: (1,1,1)

Las superficies consideradas hasta ahora (100), (110) y (111) son las llamadas superfcies de
ndice bajo de un cristal cbico (el termino bajo hace referencia a que los ndices son 0 o 1). Estas
superficies tienen especial importancia, pero hay un nmero infinito de otros planos que pueden
definirse usando los ndices de Miller.
3- Las superficies (210)

cortes: a/2, a,; cortes fraccionarios: 1/2, 1, ; ndices de Miller: (210)

Notas adicionales:
(i) en algunos casos los ndices de Miller se multiplican o dividen por algn factor comn para
simplificarlos. Esta operacin simplemente genera un plano paralelo que est a distancia diferente
del origen de la celda particular considerada (ejemplo: (200) se transforma en (100) al dividir por
dos)
(ii) si algunos cortes tienen valores negativos sobre los ejes, el signo negativo debe aparecer en el
ndice de Miller (ejemplo (00-1) se escribe (001)
(iii) en los cristales hexagonales compactos hay cuatro ejes pricipales, por tanto deben usarse
cuatro ndices de Miller (ejemplo (0001))

En el dibujo las tres superficies estn relacionadas por los elementos de simetra del cristal cbico
y son totalmente equivalentes. De hecho hay un total de 6 caras relacionadas por elementos de
simetra y equivalentes a la superficie (100), cualquier superficie que pertenezca a este conjunto de
superficies de simetra equivalente puede ser descrita por la notacin {100}, en la que los ndices
de Miller de una de las superficies estn representados entre llaves.
En el sistema cbico el plano (hkl) y el vector [hkl], definido con respecto al origen, son
perpendiculares. Esta caracterstica es nica del sistema cbico y no se puede aplicar a sistemas
de simetra inferior.

La distancia entre planos en el sistema cbico viene dada por:

DIRECCIONES DE CELDAS
LA CELDA UNIDAD
Una celda unida es una pequea unidad de cristal que, al repetirla, se reproduce el cristal
completo. La forma de la Celda Unidad debe elegirse de forma que pueda llenarse el volumen
completo del cristal al apilar celdas idnticas, es necesario especificar, para definir el cristal como
un todo, solamente la naturaleza de la celda unidad, sus dimensiones, forma y constitucin.
La eleccin de la celda unidad es arbitraria hasta un cierto punto. Por ejemplo, no necesita ser
siempre primitiva y adems, puede tener formas diferente. Esto se aclara en la figura. Para una red
oblicua en dos dimensiones se ha dibujado tres celdas primitivas, y una que no lo es. Las celdas
primitivas pueden contener tomos solamente en sus vrtices o pueden dibujarse desplazndolas
ligeramente hasta que encierren un tomo.
Tres celdas primitivas y otra que no lo es (a la derecha) para una red oblicua de dos dimensiones.
La celda unidad se elige a menudo de manera que, por su forma, revele por s mismo la simetra
de la red. Esto, algunas veces, da lugar a celdas de mayor tamao, que no son primitivas. Las
celdas cbicas convencionales estn dibujadas con lneas de trazo interrumpido, mientras que las
celdas primitivas rombodricas estn representadas en lneas de trazo grueso, en las que
aparecen los vectores fundamentales de traslacin a, b y c. Las llamadas celdas de Wigner Seitz,

tambin se representan en la figura siguiente y son poliedros que se construyen alrededor de cada
tomo, dibujando planos bisectores perpendiculares a las lneas que unen cada tomo con sus
vecinos ms prximos.
La importancia de la simetra en un punto de la red lo es tanto en relacin con la configuracin de
las fuerzas que obran sobre los tomos. En los cristales, como en relacin con las propiedades
fsicas de los mismos.

NUMERO DE PUNTOS CONTENIDOS EN UNA CELDA

El nmero de puntos de una celda es la suma de todas las fracciones que se encuentran dentro de
su volumen. Si un punto se encuentra en una cara es compartido por dos celdas, esto es un de
punto dentro de cada celda. Si el punto se encuentra en una esquina es compartido
equitativamente por cuatro celdas que poseen un punto comn, por lo tanto, cada celda contiene
un octavo de dicho punto. Si el punto es interno en su totalidad a la celda, o sea, no lo comparte
con ninguna, entonces la contribucin del punto es la unidad.

Es interesante la forma de designar direcciones o planos dentro de un cristal, porque muchas de

las propiedades de los materiales cristalinos dependen del plano o direccin que se considere. Por
ello, resulta especialmente importante encontrar una forma cmoda y rpida de identificar las
direcciones y planos cristalogrficos. La notacin empleada se denomina notacin de ndices de
Miller.

Tal como se procede habitualmente en matemticas, las componentes de cualquier vector pueden
conocerse restando las coordenadas de los puntos final e inicial. Si P1 = (u1, v1, w1) es el punto
de partida y P2 = (u2, v2, w2), el punto final, el vector que va de P1 a P2 se calcular como:

Pero frecuentemente no estaremos interesados en el mdulo del vector, sino slo en su direccin.
La notacin de Miller retiene nicamente este aspecto. Los ndices de Miller de la direccin del
vector

son los componentes de

, pero reducidos a los enteros ms pequeos

posibles: h, k y l. La direccin se representara como

. Ntese que los nmeros no van
separados por comas y que los parntesis se han sustituido por corchetes. Si un nmero es
negativo, por ejemplo, -2, se representa como . Naturalmente, tal y como sucede con los vectores
libres, bajo la designacin
estn incluidos todas las direcciones paralelas a la considerada.
La siguiente figura muestra ejemplos de direcciones en celdillas cbicas.

Notacin de Miller de algunas

direcciones caractersticas de un
cristal cbico. (Se muestran dos
celdillas contiguas para facilitar la
visin tridimensional).

Aun cuando las direcciones estn expresadas mediante ndices de Miller y no en la notacin
vectorial convencional, puede operarse con ellas de la forma habitual. En particular, las direcciones
pueden multiplicarse escalar y vectorialmente.

La ventaja del uso de la notacin de Miller reside en que con ella, y sobre todo en los sistemas
cbicos, resulta muy fcil evidenciar las simetras del cristal. En la figura anterior se puede
observar que la direccin

constituye una diagonal principal de la celdilla, como tambin lo

son las direcciones

,
y
. Como puede verse, los ndices son diferentes y, sin
embargo, todas son diagonales principales del cubo y, en cierto sentido, son todas equivalentes. El
sentido de esta equivalencia obedece, naturalmente, a razones de simetra: a lo largo de dos
direcciones equivalentes en un cristal, la distribucin atmica es idntica; no slo los tomos que
se encuentran a lo largo de ella son los mismos, sino tambin sus distancias relativas.

Deberamos disponer de una manera de designar colectivamente a toda una familia de direcciones
equivalentes. La forma elegida es colocar entre corchetes con ngulo,
cualquier miembro de la familia. Por ejemplo,

, los ndices de Miller de

representa la familia de direcciones

equivalentes de las diagonales principales del cubo. De igual modo,

las aristas del cubo.

representa a todas

ANOTACION DE PLANOS CRISTALOGRAFICOS

Al hablar de materiales cristalinos, a menudo es conveniente especificar algn plano cristalogrfico

de tomos particular o alguna direccin cristalogrfica. Una celdilla unitaria o cristal contiene planos
de los tomos, y esos planos influyen en las propiedades y comportamiento de los cristales. Esta
forma ser ventajosa para identificar los varios planos que existen en un cristal. Un cristal contiene
planos de los tomos, y estos planos influyen en las propiedades y comportamiento de los
cristales.
Esta forma ser ventajosa para identificar los varios planos atmicos que existen en un cristal. La
orientacin de los planos cristalogrficos de la estructura cristalina se presenta de manera similar al
de las direcciones cristalogrficas. Tambin se utiliza un sistema de coordenadas de tres ejes
ortogonales y la celdilla unitaria es fundamental.
Una celdilla o cristal contiene planos de los tomos, y esos planos influyen en las propiedades y
comportamiento de los cristales. Esta forma ser ventajosa para identificar los varios planos
atmicos que existen en un cristal. A veces es necesario referirse a los planos reticulares
especficos de los tomos que se encuentran en una estructura cristalina, o puede ser interesante
conocer la orientacin cristalogrfica de un plano o de grupos de planos en una red cristalina.
Para identificar a los planos cristalinos en una estructura cristalina cbica se utiliza el sistema de
notacin de Miller
Los ndices de Miller de un plano cristalino se definen como
El recproco de las fracciones de interseccin (Con fracciones simplificadas) que el plano presenta
con los ejes cristalogrficos x, y y z de las tres aristas no paralelas dela celdilla unitaria cbica. Las
aristas del cubo en la celdilla unitaria representan longitudes unidad y las intersecciones de los
planos reticulares se miden con base en estas longitudes unidad
El procedimiento para determinar los ndices de Miller para un plano cristalogrfico cubico
1.- se elige un plano que no pase por el origen de coordenadas (0, 0, 0).
2.- se determinan las intersecciones del plano en la funcin de los ejes cristalogrficos x, estas
intersecciones pueden ser fraccionarias.
3.- se obtiene el recproco de las intersecciones.
4.- Se simplifican las fracciones y se determina el conjunto ms pequeo de nmeros que estn en
la misma proporcin que las intersecciones. Este conjunto de nmeros enteros son los ndices de
un plano cristalogrfico y se encierran en parntesis sin utilizar comas. La notacin (h k l) e utiliza
para indicar los ndices de Miller en este plano un sentido general, donde h, k y l son los ndices de
Miller de un plano cristalino cubico para los ejes x, y y z respectivamente

GEOMETRA DE LOS SISTEMAS CRISTALINOS

Existen muchas estructuras diferentes y es conveniente clasificarlas en grupos de acuerdo con las
configuraciones de la celdilla unitaria y/o la disposicin atmica. Uno de estos esquemas se basa
en la geometra de la celdilla unitaria, la forma del paraleleppedo sin tener en cuenta la posicin de
los tomos en la celdilla. Se establece un sistema x, y y z de coordenadas cuyo origen coincide con
un vrtice de la celdilla; los ejes x,y y z
Coinciden con las aristas del paraleleppedo que salen de este vrtice, como se muestra en las
figuras de la Tabla 1. La geometra de la celdilla unitaria se define en funcin de seis parmetros: la
longitud de tres aristas a, b y c y los tres ngulos interraciales a, , y
Estos ngulos se denominan..
Parmetros de red de una estructura cristalina y estn representados en la Tabla 1.En este aspecto
hay siete diferentes combinaciones de: a,b y c y a, y, que representan otros tantos sistemas
cristalinos.
Estos siete sistemas cristalinos son el cbico, tetragonal, ortorrmbico, rombodrico, monoclnico y
triclnico.
SISTEMA CRISTALINO REDES DE VRABAIS
EXAGONAL
CBICO
Triclnico
Monoclnico
Ortorrmbico
Tetragonal
Rombodrico
La geometra de la red espacial debe permitir que se llene todo el espacio de tomos sin dejar
huecos, caracterstica que hace que slo existan 14 tipos de redes posibles (redes de Bravais),
caracterizadas por una celda unitariacada una, que, a su vez viene definida por una serie de
parmetros (a,b,c y a,,)

DIRECCIONES Y PLANOS CRISTALOGRFICOS

Al hablar de materiales cristalinos, a menudo es conveniente especificar algn plano cristalogrfico
particular de tomos o alguna direccin cristalogrfica. Convencionalmente se ha establecido que
para designar las direcciones y planos se utilicen tres ndices enteros. Los valores de los ndices se

determinan basndose en un sistema de coordenadas cuyo origen est situado en un vrtice de la

celdilla unitaria y cuyos ejes (x,y,z) coinciden con las aristas de la celdilla unitaria como lo indica la
Figura 1 (b).
En los sistemas cristalinos hexagonal, rombodrico y triclnico, los tres ejes no son perpendiculares
entre s, como ocurre en el familiar sistema de coordenadas ortogonales o cartesianas.
Puntos, direcciones y planos en la celdilla unitaria
1.- Coordenadas de los puntos
Es posible localizar ciertos puntos, como las posiciones de los tomos en la red o en la celdilla
unitaria, construyendo el sistema de coordenadas dextrgiro.
La distancia se mide en funcin del nmero de parmetros de red que habr que moverse en cada
una de las coordenadas x,y y z.
Para pasar desde el origen hasta el punto en cuestin. Las coordenadas se expresan como tres
distancias, y separando cada nmero concomas
Cuando correlacionamos subsecuentemente varias propiedades y estructuras cristalinas ser
necesario identificarla direccin especfica de los cristales.
Esto puede hacerse relativamente simple si se usa la celdilla unitaria como base.

(a) Coordenadas de puntos seleccionados en la celda unitaria. Los nmeros se refieren a la

distancia desde el origen en funcin de los nmeros de parmetros de red.
(b) Direcciones vectoriales de los puntos.
c) Vista esquemtica de la localizacin de los centros de los tomos en la estructura FCC de un
metal.
Por ejemplo, la muestra de las tres direcciones dentro de una retcula simple ortorrmbica. La
direccin [1 1 1] es aquella que pasa desde el origen y a travs de un punto de la distancia de la
celdilla en cada una de las tres direcciones axiales.
Del mismo modo, las direcciones [1 0 1] y [1 0 0] son rayos (vectores) que partiendo del origen
pasan a travs de los puntos 1, 0, 1 y 1, 0, 0 de las distancias de las celdillas unitarias,
respectivamente. La costumbre ha establecido utilizar parntesis cuadrados [h k l] para indicar la
direccin de las celdillas (cristales).
El parntesis (h k l) indica los planos de las celdillas. No es nada que se desconozca, al menos, se
estipula que una celdilla cbica tiene vrtices cuya ubicacin se define en torno a un origen y a una

disposicin de ejes, atribuidos a su vez a los ngulos, que le dan posicin entre los planos x, y y z.
La distancia se mide en trminos de la cantidad de parmetros de red que hay que recorrer en
cada una de las direcciones para ir del origen al punto en cuestin. Las coordenadas se escriben
como las distancias, y los nmeros se separan por coma.
2.- Direcciones en la celdilla unitaria
Una direccin cristalogrfica se define por una lnea entre dos puntos o por un vector. Se utilizan
las siguientes etapas para determinar los ndices de las tres direcciones. Ciertas direcciones en la
celda unitaria son de particular importancia.
Los metales se deforman, por ejemplo, en aquellas direcciones a lo largo de las cuales los tomos
estn en contacto ms estrecho. Para poder identificar unvocamente un sistema de planos
cristalogrficos se les asigna un juego de tres nmeros que reciben el nombre de ndices de Miller.
Los ndices de Miller son nmeros enteros que pueden ser negativos o positivos, y son primos
entre s. El signo negativo de un ndice de Miller debe ser colocado sobre dicho nmero.
Los ndices de Miller:
Para las direcciones son la notacin abreviada de estas direcciones. El procedimiento que
determina los ndices de Miller para las direcciones es el siguiente:
1. En el origen de coordenadas del sistema se traza un vector de longitud conveniente. Todo vector
se puede trasladar a travs de la red cristalina sin alterarse, si se mantiene el paralelismo.
2. Utilizando un sistema de coordenadas dextrgiro, se determina las coordenadas de dos puntos
que estn en esa direccin.
3. Restando las coordenadas del punto inicial de las coordenadas a las del punto final se obtiene el
nmero de parmetros de red recorridos en la direccin de cada eje del sistema de coordenadas.

4. Se determina la longitud del vector proyeccin en cada uno de los tres ejes; en funcin de las
dimensiones a, b y c de la celdilla unitaria.
5. Estos tres nmeros se multiplican o dividen por un factor comn para reducirlos al valor entero
menor.
6. Los tres ndices, sin separacin, se encierran en un corchete, as: [u v w]. Los nmeros enteros
u, v y w corresponden a las proyecciones reducidas a lo largo de los ejes x, y y z, respectivamente.
Si se obtiene un signo negativo, se representa con una barra sobre el nmero.

Es necesario, adems, tener en cuenta lo siguiente:

La celdilla unitaria intercepta, y no, distancias actuales que se usan. En la retcula ortorrmbica de
la figura 1(b),a b c

Los ejes de los cristales se usan como base de las direcciones.

La direccin A [2 2 2] es idntica a la direccin [1 1 1]. Por lo tanto, la menor combinacin de
enteros es la que se usa
Las direcciones tales como [1 1 2] podrn tambin identificarse. (Esta direccin es un rayo que
parte del origen a travs del centro de la cara superior).
La operacin de simplificacin genera un plano paralelo que est a distancia diferente del origen de
la celda particular considerada (ejemplo: (2 0 0) se transforma en (1 0 0) al dividir por dos).
Si algunos cortes tienen valores negativos sobre los ejes, el signo negativo debe aparecer en el
ndice de Miller (ejemplo (0 0 -1) se escribe (0 0 1).

En los cristales hexagonales compactos hay cuatro ejes principales, por tanto deben usarse cuatro
ndices de Miller (ejemplo (0 0 0 1).
Se muestran nueve planos cristalogrficos dentro de los cuales los siete primeros son
considerados como los ms importantes de una estructura cristalina cbica. Considrese en primer
lugar el plano sombreado de la figura (11 0), que tiene las intersecciones 1, , para los ejes x, y y
z, respectivamente.
Si se toman los recprocos de estas intersecciones para obtener los ndices de Miller, sern, por
tanto,1,0,0 Como estos nmeros no son fraccionarios, los ndices de Miller para este plano son (1 0
0), que se lee como plano uno-cero-cero. Considrese ahora como ejemplo el segundo plano (1 1
0).
Las intersecciones en este plano son1,1,. Dado que los recprocos de estos nmeros son1, 1, 0,
que no presentan fracciones, los ndices de Miller de este plano (1 1 0). Finalmente, un tercer plano
(1 1 1) tiene las intersecciones1,1,1, corresponde a unos ndices de Miller (1 1 1).
Planos cristalogrficos con distintos ndices de Miller
Considere que el plano cbico cristalino presentado en la figura 5 que tiene las intersecciones ,
, 1.

Los recprocos de estas intersecciones son 3, 3/2,1. Dado que estas intersecciones no son enteros,
estas intersecciones deben multiplicarse por dos para simplificar la fraccin3/2. Por tanto, el
recproco de las intersecciones se convierten en 6, 3,2 y los ndices de Miller son (6 3 2).
Si el plano cristalino considerado pasa por el origen de tal forma que una o ms de las
intersecciones son cero, el plano debe ser movido a una posicin equivalente en la misma celdilla
unitaria y el plano debe ser paralelo al plano original. Esto es posible porque todos los planos
paralelos equidistantes se encuentran indicados por los mismos ndices de Miller
Consideraciones a tener en cuenta en los ndices de Miller para las direcciones.
Las direcciones son vectores, una direccin y su negativa no son idnticas. La direccin [100] es
diferente a la direccin [-100].
Una direccin y su mltiplo son idnticos. La direccin [100] es idntica a [200],
Ciertos grupos de direcciones son equivalentes, tienen su ndices particulares dependiendo de la
forma en que se definen las coordenadas y su origen.
Ej. [100] = [010] De acuerdo a lo anterior existen familias de direcciones:
= [110] [-1-10] [101] [-10-1] [011] [0-1-1] [1-10] [-110] [10-1] [-101] [0-1-1] [0-11]
La orientacin de una superficie de un cristal plano
Se puede definir considerando como el plano corta a los ejes cristalogrficos principales del slido.
Ciertos planos de tomos en un cristal tambin son significativos; por ejemplo, los metales se
deforman a lo largo de aquellos planos de tomos que estn empaquetados ms estrechamente.
La aplicacin de un conjunto de reglas conduce a la asignacin de los
ndices de Miller --> (H k l) como una flotacin

Las direcciones en el sistema HC utiliza tres el sistema de 3 ejes. El procedimiento para determinar
los ndices de planos es igual que en el sistema de tres ejes, con la salvedad que requiere de 4
intersecciones, obteniendo ndices de la forma (h i k l). h, i, k corresponden a las intersecciones de
a1, a2 y a3. Las direcciones se indican con el sistema de 3 o 4 ejes.
Conversin de tres ejes a cuatro

Determinacin de los ndices de Miller en la red HC Planos

Planos
1. Determinar las intersecciones de los ejes.
2. Determinar los inversos de cada interseccin

3. Simplificar fracciones
Direcciones
1. Determinar dos puntos de la direccin
2. Restar cabeza con cola
3. Simplificar fracciones
Comportamiento isotrpico y aniso trpico
Material aniso trpico:
Variacin de las propiedades en las direcciones cristalogrficas.
Material isotrpico:
Material que presenta las mismas propiedades en todas las direcciones cristalogrficas.
Ejemplo: Mdulo de Young o rigidez (E) del aluminio =75.9 Gpa = 63.4 Gpa

Sitios intersticiales
Son pequeos sitios (espacios vacios) entre los tomos que forman un estructura cristalina donde
se pueden ubicar tomos mas pequeos. Se les conoce como sitios intersticiales.
NUMERO DE COORDINACIN
CITIO INTERSTICIAL
RELACIN DE RADIOS
2
LINEAL
0-0.155
3
CENTRO DE TRIANGULO
0.155-0.225
4CENTRO DE TETRAEDRO
0.225-0.414
6
CENTRO DE OCTAEDRO
0.414-0.732
8
CENTRO DE CUBO
0.732-1.000

Se produce cuando se inserta un tomo en una estructura cristalina en un espacio producido por
dos o mas tomos en una estructura cristalina.
Los tomos intersticiales son de mayor tamao que los sitios intersticiales, por lo cual la regin
cristalina vecina esta comprimida y distorsionada.
Casos Especiales
El procedimiento de clasificacin de los cristales se completa con los siguientes casos especiales
para los cuales se debe tener en cuenta:
1. Si el plano a indexar es paralelo a un eje coordenado, el punto de interseccin se debe asumir
en el infinito, que luego en los clculos se interpretar cmo 0 (ver imgenes).
2. Si el plano a indexar tiene una interseccin en el lado negativo de los ejes, un signo menos se
pone sobre el correspondiente nmero de ndice. As el plano que interseca los ejes en los puntos
(1 6 -2) tiene un ndice de Miller (1 6 2).
3. Cuando por la simetra del cristal, es imposible distinguir entre planos equivalentes (cmo el
cristal de diamante, por ejemplo). El grupo de planos equivalentes se nota entre llaves (ej. {1 0 0}).
4. No se pueden establecer ndices de Miller para planos que pasan por el origen de coordenadas.
El origen de coordenadas deber ser trasladado a un punto del cristal fuera del plano a indexar.
Este procedimiento es aceptable por la naturaleza equivalente de los planos paralelos.
Ley de Schmidt

DEFORMACIN EN MONOCRISTALES
El deslizamiento en un mono cristal puede producirse segn varios sistemas de deslizamiento
distintos. Cul de ellos se active (y a qu tensin lo hace) cuando se aplica sobre el cristal una
tensin de traccin o compresin s f T T R depende de la geometra del cristal y la
orientacin de ste con respecto al eje de carga (anisotropa). Segn la Ley de Schmidt, para un
sistema de deslizamiento dado, el deslizamiento comienza cuando la tensin de cizalla dura
resuelta, R, para dicho plano y direccin de deslizamiento, alcanza un cierto valor crtico
denominado tensin de cizalla dura crtica,c. Esta tensin de cizalla dura crtica depende
fundamentalmente de la composicin del cristal, de la presencia de defectos y de la temperatura
(este valor puede ser tan bajo como 1 MPa). En ausencia de defectos, el valor de c coincide con
el de la tensin de Peierls.

Para determinar la tensin de cizalla dura resuelta para un sistema de deslizamiento dado basta
con conocer la orientacin del plano y direccin de deslizamiento con respecto al eje de aplicacin
de las tensiones. Para la situacin de la figura, por ejemplo, R viene dada por:

donde es la tensin aplicada.

El factor M = cos cos se denomina factor de Schmidt, y tiene un valor mximo igual a 0.5
debido a la relacin entre los ngulos y puede verificarse fcilmente para el caso en que las 3
direcciones sean coplanarias ya que entonces:
.
Si alguno de los dos ngulos ( o ) es 90 entonces M = 0. Como la tensin crtica c no depende
del sistema de deslizamiento, la activacin de un sistema de deslizamiento es tanto ms probable
cuanto mayor sea su tensin de cizalla dura resuelta, es decir, su factor de Schmidt. Invirtiendo la
ecuacin anterior y particularizando para el inicio de plasticidad se obtiene:

Por tanto, la tensin de lmite elstico obtenida en un ensayo uniaxial sobre un monocristal variar
considerablemente segn su orientacin (ver figura). Esto es especialmente cierto si hay pocos
sistemas de deslizamiento disponibles (p. ej. en metales HCP), ya que entonces se pueden
producir grandes variaciones de orientacin entre el plano de deslizamiento y el eje de carga sin
que se active un nuevo sistema de deslizamiento. En cambio, en cristales FCC hay tantos sistemas
de deslizamiento que slo es posible llegar a duplicar el lmite elstico por variacin de la
orientacin del plano de deslizamiento con respecto al eje de traccin antes de que se active un
nuevo sistema de deslizamiento.

El valor de la tensin crtica de cizalla dura en un cristal est determinado por la interaccin mutua
entre sus dislocaciones y con defectos tales como vacantes, tomos intersticiales e impurezas. De
hecho, se observa un aumento en esta tensin cuando se eliminan dislocaciones del slido, por
ejemplo, mediante recocido. Discutiremos estos mecanismos de endurecimiento al estudiar la
deformacin en poli cristales, donde el nmero de mecanismos es mayor. La tensin de cizalla
dura crtica de un cristal es, por tanto, mayor que la que se necesita para deslizar una dislocacin
aislada (tensin de Peierls), pero sustancialmente menor que la necesaria para producir
deslizamiento en una red perfecta en ausencia de dislocaciones. A continuacin os transcribo
algunos ejemplos de problemas resueltos sobre lo que acabamos de explicar:
Ejemplo 1: Considera (ver figura) una tensin de traccin aplicada en direccin [100] y el sistema
de deslizamiento (111)[101]Se puede verificar haciendo el producto escalar que la direccin
[101] efectivamente est contenida en el plano (111)y calcula su factor de Schmidt:

Si para este cristal, c =5 MPa, determina la tensin que necesitamos aplicar para activar ese
sistema de deslizamiento:

Ejemplo 2: Ests diseando una pieza de una turbina a partir de un mono cristal FCC. Utiliza la ley
de Schmidt para determinar la tensin de cizalla dura crtica que debe tener el cristal para que la
pieza exhiba una tensin de lmite elstico uniaxial de 200 MPa en la direccin [331]: Calculando
los factores de Schmidt correspondientes a cada sistema de deslizamiento del cristal FCC para esa
direccin de aplicacin de la tensin se obtiene:

Ensayos uniaxiales en mono cristales.

La mayora de estudios acerca de las propiedades mecnicas de los mono cristales se realizan
sometindolos a ensayos de deformacin uniaxial. En un ensayo uniaxial convencional, el hecho
de que la muestra est fijada por sus extremos a la cabeza de la mquina impone restricciones a la
deformacin de la muestra, que no puede deformarse libremente por deslizamiento uniforme. En
efecto, como se ilustra en la figura, al deformarse el cristal, los planos de deslizamiento giran (y
cerca de las mordazas se flexionan los escalones de deformacin), tendiendo a alinearse
paralelamente al eje de carga (tanto ms cuanto mayor sea la deformacin de la muestra). As
pues, conforme avanza la deformacin, disminuye el valor del factor de Schmidt para el sistema de
deslizamiento primario, de modo que ha de aplicarse una carga de traccin mayor para superar el
valor de la tensin crtica de cizalla para este sistema de deslizamiento. Pero, mientras el factor de
Schmidt disminuye para el sistema primario, aumenta eventualmente para otros sistemas que giren
hasta formar aproximadamente 45 con el eje de carga. Cuando la tensin de cizalla dura resuelta
sobre el nuevo sistema de deslizamiento es igual (aproximadamente) a la tensin de cizalla dura
sobre el sistema primario original, se activar un nuevo sistema de deslizamiento (secundario), y se
abandonar el primero, que tiene ahora un menor factor de Schmidt. La aparicin de ms de un
sistema de deslizamiento durante la deformacin se denomina en general deslizamiento mltiple.

Otro mecanismo de deformacin plstica: el maclaje. Otro mecanismo que puede dar lugar a
deformacin plstica en cristales es el maclaje o maclado. El maclado (c) difiere del deslizamiento
de dislocaciones (b) descrito ms arriba en varios aspectos fundamentales: - En el deslizamiento,
la orientacin de los cristales por encima y por debajo del plano de deslizamiento es la misma
antes y despus del deslizamiento, mientras que en el maclado se produce una diferencia de
orientacin con respecto al plano de macla, como en el movimiento de dislocaciones parciales. Normalmente, el deslizamiento tiene lugar en mltiplos enteros del espaciado reticular, mientras
que, en el maclado, los movimientos de los tomos son muy inferiores a una distancia reticular. - El
deslizamiento se produce sobre planos aislados, relativamente muy dispersos en el cristal, pero en
la zona maclada de un cristal, todos los planos atmicos intervienen en la deformacin. - Las
maclas se pueden producir por deformacin mecnica (maclas mecnicas) o por tratamientos
trmicos (maclas de recocido). - La deformacin macroscpica por maclado es, en general, muy
inferior a la deformacin por deslizamiento. En efecto, el importante papel que juegan las maclas
en la deformacin plstica no se debe exclusivamente a la magnitud intrnseca de la deformacin
por maclado, sino a que las variaciones de orientacin resultantes pueden producir la activacin de
nuevos sistemas de deslizamiento con una orientacin favorable con respecto al eje de tensin. Es
por esto que el maclado es importante fundamentalmente en cristales con pocos sistemas de
deslizamiento primariospor ejemplo, las maclas mecnicas son tpicas en cristales HCP,
especialmente cuando son deformados a bajas temperaturas y altas velocidades de carga, pero
muy raras en metales FCC. - Cuando se forman maclas en el seno de un cristal, aparecen
dientes en la regin plstica de la curva tensin-deformacin. - En cada estructura cristalina, el
maclado se produce en una direccin definida sobre un plano cristalogrfico especfico, y se
desconoce si existe una tensin crtica de cizalla para el maclado.

Difusin

Fenmeno por el cual las molculas o iones de una sustancia se mezclan con las de alguna otra.
Se debe a la perpetua agitacin que anima a las molculas de que estn compuestos todos los
cuerpos.

En este artculo se tratar la difusin desde el punto de vista de la mecnica de fluidos.

Utilizando las siguientes ecuaciones:
dq/dt = * Nc = * (kT) = k2T
Donde T es la temperatura absoluta y k es una constante.
Ci/t + * (vCi) = * (Diw * Ci) + Si
Donde C es la concentracin de masa, v es el vector velocidad, D es el coeficiente de difusin y S
es el trmino fuente sumidero.
De estas ecuaciones se parametriza la difusin molecular de calor y de masa mediante la
difusividad trmica (a = k/rcp) y el coeficiente de difusin (D ), ambos con dimensiones de L2/t. De
estas estructuras dimensionales se nota que la difusin pura es un proceso de transporte que
consume mucho tiempo, debido a que puede inferir que la escala de longitud para difusin en un
periodo de tiempo dado, To, es proporcional a (D To)1/2 mientras que la correspondiente escala
temporal de difusin para una distancia L o es proporcional Lo2/D . Como ejemplo, el coeficiente de
difusin tpico para el cloro o el oxgeno en agua es del orden de 10 -5 cm/s. Por consiguiente, la
escala temporal de difusin es del orden de 10 9 segundos o aproximadamente 32 aos.
Claramente la difusin molecular es un agente de transporte muy lento pero persistente.

DIFUSIN MOLECULAR PERMANENTE

Las ecuaciones de difusin para calor y masa, eliminando los trminos de adveccin-conveccin,
haciendo que los trminos de fuente y sumidero sean cero son las siguientes:

T/t = a2T = a(2T/x2 + 2T/y2 + 2T/z2)

C/t = D 2C = D (2C/x2 + 2C/y2 + 2C/z2)
Si las condiciones de transporte de calor y de masa son uniformes en un plano yz, perpendicular a
la direccin x, entonces una forma unidimensional se identifica como:
T/t = 2T/x2

C/t = D 2C/x2
La circunstancia posible ms simple es la difusin de estado permanente unidimensional en la cual
todas las derivadas temporales son cero.
Difusin de masa: concentracin baja

Antes de proceder a la solucin de la difusin unidimensional de estado permanente, es necesario

recordar que una mezcla de especies de masa involucra por lo menos dos componentes y se
conoce como una mezcla binaria. En los lquidos, pero no en los gases, las molculas estn muy
juntas. Por consiguiente, las difusividades en los lquidos usualmente son una funcin de la
concentracin de las especie que se est difundiendo y tpicamente son de 10 4 a 105 ms pecunias
que la de los gases. Sin embargo, debido a la mayor concentracin de las especies en los lquidos,
los flujos en lquidos y gases tienen una magnitud parecida.

Para dar inicio a la descripcin de la difusin de masa de estado permanente se requerirn

suposiciones plausibles acerca de la importancia de la adveccin como agente de transporte. El
trmino de transporte de cuerpo para el flujo puede ser muy pequeo bajo una cierta variedad de
circunstancias. La primera es cuando cada especie tiene una velocidad de adveccin finita pero los
flujos son iguales y opuestos. El flujo advectivo resultante neto es cero, y ste es el caso de
difusin contraria. El segundo es cuando una de las especies se supone como una sustancia en
reposo, por lo que la otra especie permanece en el trmino de transporte de cuerpo. Esta
suposicin de baja concentracin unida con el hecho de que una especie est en reposo, da como
resultado la siguiente ecuacin de flujo permanente:

NAz = - D AB CA/z = - D AB ((CA2 CA1)/(z2 z1))

Consecuentemente, la difusin de baja concentracin de una especie en un medio estancado da

como resultado perfiles de concentracin lineales con un flujo constante.

Difusin con una reaccin qumica

Dentro de un volumen de control que contiene la mezcla pueden ocurrir diferentes reacciones
qumicas mientras sucede la difusin. Una reaccin homognea es una reaccin que ocurre
uniformemente en el volumen de control, mientras que una reaccin heterognea tpicamente
ocurre en una interfaz tal como la frontera slida del volumen de control.

La ecuacin de difusin unidimensional (z) de estado permanente, incluyendo un trmino de

fuente-sumidero o reaccin, es
d(D AB dCA/dz)/dz + Si = 0
Para un sumidero (destruccin o remocin) con una tasa de reaccin de primer orden S i = -kACA
De tal manera que:
D AB 2CA/z2 -kACA = 0

2CA/z2 m2CA = 0

Es importante anotar aqu que el flujo ya no es constante sino que ahora vara con z. La figura 1.
contiene una serie de grficas para las siguientes condiciones que representan la difusin de
oxgeno disuelto (OD) en una capa de agua, a medida que es consumido por el zooplancton
durante las respiracin. La concentracin de OD en las superficie (z = 0) es 12mg/L, mientras que
a una profundidad de 40cm el OD es 4mg/L. En el dibujo se indican los diferentes valores del
trmino fuente kOD. Se utiliza un valor de D AB = 100cm2/s. Se nota que una tasa de respiracin
ms fuerte incremente la curvatura de perfil y localiza la zona de mximo gradiente y mxima
curvatura cerca de la superficie z1 = 0.

Concentracin de OD debido a la difusin y al consumo de zooplancton.

Figura 1.
DIFUSIN TURBULENTA

La aproximacin del gradiente o difusin se utiliza extensamente para describir los flujos de
transporte turbulento en funcin de las variables medias del flujo. Otros tipos de cierre estn
disponibles pero, en contraste con la aproximacin del gradiente de difusin, son bastante
complejos y se usan primordialmente en modelos complejos de computador de flujo y transporte.
Los modelos cerrados ms avanzados son necesarios cuando se consideran flujos que tienen altas
irregularidades geomtricas, que son transitorios tanto en las cantidades medidas como en las
turbulentas y que estn completamente acoplados en el sentido de que el calor o la masa pueden
introducir en los flujos, estratificacin o gradientes de densidad fuertes, alterando el patrn de flujo
y circulacin. Esta coleccin de requerimientos para el uso de modelos cerrados turbulentos
avanzados contiene descriptores para flujos geofsicos, y tales flujos y modelos de turbulencia
complejos se tratan en cursos de ciencias atmosfricas, oceanografa e incluso en astrofsica.

Por todo esto, la atencin se centrar en flujos de ingeniera que son razonablemente permanentes
y tienen una geometra uniforme. Para estos casos, la aproximacin del gradiente de difusin es un
cierre excelente. El cierre ms simple, la difusividad de remolino constante, se considera en primer
lugar. Antes de proceder a la difusin turbulenta ,sin embargo, es til reconsiderar el caso de la

difusin molecular. Para un caso unidimensional, considerar una masa M de partculas que estn
marcadas de tal manera que sus trayectorias se puedan seguir durante el tiempo. Teniendo en
cuenta la figura 2. en un tiempo igual a cero, la masa se deposita en el origen y la ecuacin har
que el material se aleje del origen en todas las direcciones. La ecuacin del movimiento
gobernante es:

C/t = D 2C/x2

Esquema de difusin turbulenta con respecto al tiempo

Figura 2.
DIFUSIN Y DISPERSIN EN CANALES

Con excepcin de chorros libres tales como chimeneas o de escapes de humo a la atmsfera, la
mayora de los flujos de chorro se encuentran y son afectados por fronteras. Tal es el caso d las
descargas de efluentes de aguas industriales o de procesos industriales en ros, estuarios o lagos.
La presencia de fronteras originan capas lmites que a su vez hacen que el campo de flujo y sus
caractersticas de turbulencia sean diferentes en las tres direcciones coordenadas posibles. Por
consiguiente, un posible efecto de las paredes es hacer que la turbulencia sea homognea, pero
no isotrpica, en cada una de las tres direcciones. Se puede anticipar que las difusividades de
remolino sern bastante diferentes en cada una de las direcciones del canal.

Un segundo impacto posible de la pared es que el penacho no ser libre de esparcirse en las tres
direcciones, es decir, verticalmente, lateralmente y hacia aguas abajo. La figura 3. presenta un

esquema del proceso de difusin de un efluente que descarga en el centro de la corriente de un

ro. Las fronteras del penacho, intersecarn no solamente el fondo (regin 1 ) sino las paredes del
canal (regin 2 ). En la regin 3 y ms adelante, el transporte todava podr describirse a travs de
modelos simples unidimensionales, pero mediante un mecanismo diferente conocido como
dispersin.

(a) Vista en planta.

(b) Vista lateral

(c) Vista de la seccin transversal, aguas

abajo del canal

Difusin y dispersin turbulenta en una corriente para un efluente descargado centralmente.

Figura 3.
Difusin vertical de remolino.
A partir del esquema mostrado en la figura 3. se puede anticipar que los gradientes de momento y
de transporte sern ms fuertes en la direccin vertical que en la transversal. Por consiguiente, es
razonable esperar que la difusin turbulenta vertical, parametrizada mediante la difusividad vertical
ocurrir ms rpidamente que en la dimensin lateral.

Elder fue el primero en encontrar una expresin para la difusividad vertical de remolino, E z, basada
en las condiciones exactas de capa lmite para el flujo turbulento en canales.
Para encontrar la difusividad de remolino, Elder supuso similaridad entre el transporte turbulento de
momentum y de masa e hizo que h(z) = Ez(z). En ambos casos se nota que la difusividad vara con
la distancia desde el fondo, es decir, no es constante.

Leyes de Fick
Si una sustancia est en equilibrio, el movimiento de zig-zag de cada una de sus partculas se
realiza con la misma probabilidad en todas direcciones. Cuando perturbamos el equilibrio (por
ejemplo, si hay una diferencia de concentraciones), el movimiento de difusin se hace ms
probable en una direccin que en las otras. El resultado es el fenmeno de transporte. Se llama
gradiente de la concentracin a su variacin con la distancia:

Primera ley de Fick

La densidad de flujo de un determinado tipo de partculas es proporcional al gradiente de su
concentracin:

Donde D es el coeficiente de difusin (unidades de m2/s). Si la concentracin vara tambin en las

otras direcciones espaciales, hay un flujo en cada direccin. La expresin anterior da slo la
componente jx.

Ecuacin de continuidad

Ecuacin de la difusin La diferencia entre los flujos que atraviesan las dos secciones iguales S
debe ser la variacin del nmero de partculas:

Segunda ley de Fick: ecuacin de la difusin

Combinado la primera ley de Fick con la ecuacin de continuidad:

Coeficiente de difusin
Depende de la naturaleza, tamao y forma del soluto, la viscosidad del disolvente y la
temperatura T. Para partculas esfricas de radio r, Einstein encontr que:

Distancia cuadrtica media

A partir de la ecuacin de la difusin, mediante anlisis dimensional deducimos que la distancia
media L que recorre una partcula en un intervalo de tiempo t en un movimiento de difusin es:

Instituto Tecnolgico de Cd. Madero.

Departamento de Sistemas y Computacin.
Ingeniera en Sistemas Computacionales.
Materia:
Qumica
Tema:
Investigacin de la unidad 3
Alumnos:
Mrquez vila Jordi
14070501
Rodrguez Mendoza Elas Omar
09071199
Saldaa Reyes Francisco Javier

09071310
Hora:
7:00-8:00 pm
Fecha:
15-Abril-2015