Metode experimentale de studiu a

suprafeţelor şi interfeţelor

curs opţional

2009-2010

C1
 Introducere. Relatia dintre fizica suprafetelor si
interfetelor si alte domenii ale cunoasterii

1.  Ce este “suprafata”?

2.  Cum se poate sonda
suprafata?
3.  Ce categorii de particule
sonda tebuie folosite?
4.  Ce tipuri de particole extrase
din regiune de suprafata?
-  electronii, ionii, neutrii de joasa
energie: 1-10 ML
-  fotonii imprastiati, absorbiti,
emisi – sursa esentiala de
informatie
Excitare cu fotoni

Adancime de patrundere:
MARE…
dar…
Adancime de sondare:
MICA
Surse de fotoni:
• Lampi cu incandescenta
• Lampi de descarcare
• Laseri
• Surse de raze X
Spectrul radiatiilor electromagnetice de interes in FS.
• Radiatia de sincrotron
Interactiunea FS cu alte domenii ale fizicii si cu
domeniile aplicative

FSC
Lista ţărilor care utilizeaza fizica suprafetelor
(1993, sursa: Briggs, Seah, v. Bibliografia)

-  Jurnale
-  1 milard USD investitii
(1997)
-  2500 instalaţii
Inter-relatia dintre fizica suprafetelor si diverse
domenii ale tehnicii (UK, 1997)
Cateva tehnici de suprafata si tipurile de informatii
pe care le furnizeaza
Tehnici pentru care se poate opta în acest curs

1. Temperature programmed techniques (TPD)

1a. Temperature programmed reduction (TPR)
1b. Temperature programmed sulfidation (TPS) – cataliza
1c. Temperature programmed reaction spectroscopy (TPRS).

2. Spectroscopii de fotoemisie
2a. X-ray Photoelectron spectroscopy (XPS)
2b. Ultraviolet photoelectron spectroscopy (UPS)
- Auger Emission spectroscopy

3. Spectroscopii ionice
3a. Secondary ion mass specrometry (SIMS)
3b. Secondary neutral mass spectrometry (SNMS)
3c. Rutherford backscattering (RBS)
3d. Low-energy ion scattering (LEIS)
 Tehnici care ar putea fi devoltate în acest curs (II)

4. Spectroscopii Moessbauer
4a. Moessbauer absorption spectroscopy (MAS)
4b. Moessbauer emission spectroscopy (MES)

5. Metode de difractie (X-ray diffraction=XRD, Low-energy electron

diffraction=LEED) si EXAFS (Extended X-ray absorption fine structure).

6. Microscopie si imagistica
6a. Transmission electron microscopy (TEM)
6b. Scanning electron microscopy (SEM)
6c. Electron microprobe analysis (EMA)
6d. Energy dispersive X-ray Analysis (EDX/EDAX)
6e. Field emission microscopy (FEM)
Tehnici care ar putea fi devoltate în acest curs (III)

6f. Field ion microscopy (FIM)

6g. Atomic force microscopy (AFM)
6h. Scanning tunneling microscopy (STM)
6i. Photoemission electron microscopy (PEEM)
6j. Ellipsometry microscopy for surface imaging (EMSI)

7. Spectroscopii de vibratie
7a. Infrared spectroscopy (IS)
7b. Transmission infrared spectroscopy (TIS)
7c. Diffuse reflectance infrared spectroscopy (DRIS)
7d. Raman spectroscopy
7e. Electron energy loss spectroscopy (EELS)

8. Wettabilitate, unghi de contact, energia libera de suprafata

8a. Sessile drop: metode statice, metode dinamice
8b. Hidrofobicitate-hidrofilicitate