Física del Estado Sólido

DIFRACCIÓN DE RAYOS X

Dr. Andrés Ozols

Facultad de Ingeniería
Universidad de Buenos Aires

2009
TEMARIO

• Objetivo
• Naturaleza de los rayos X
• Generación de los rayos X
• Interacción con la materia
• Difracción de rayos X
• Equipo experimental
• Factor de estructura y funciones de distribución

• Estructura de los materiales: orden de corto rango, de

rango intermedio y de largo rango
OBJETIVO

Determinación de la Estructura Cristalina por

Difracción de Rayos X

Longitud de onda ≈ distancia inter-atómica

NATURALEZA DE LOS RAYOS X

0.5 - 5 Å
 Tubo de GENERACIÓN RAYOS X

Rayos X

Haz de
Agua de refrigeración Electrones
- Filamento
Anticátodo
Colima dor de haz
Fe, Mo, Cu
Ventana de Berilio

Rayos X
EQUIPO de DIFRACCIÓN de RAYOS X
 DIFRACTOMETRO de RAYOS X

Goniómetro tipo ”Θ−Θ”

Radiación Molibdeno ( línea Kα )
GENERACIÓN RAYOS X
Energía cinética Ec = e V
de los electrones 10-50 KeV
los electrones
frenados generan

Disipación de energía transiciones electrónicas

en el frenado en los átomos

E0
hν
CALOR RAYOS X
e-
Ef
 ESPECTRO DE RAYOS X

Espectro continuo + Espectro característico

Kα
Intensida d de la ra dia ción

Intensida d de la radiación
Kβ

Longitud de onda Longitud de onda

Es función del potencial V

líneas de series K, L, M, N
Cuando este supera un valor Vc
(dependiente del material) aparece
el espectro característico
ESPECTRO DE RAYOS X

Kα
Intensid ad de la radiación

Kβ

Longitud de onda
LONGITUDES DE ONDA CARACTERÍSTICAS
Elemento λα λβ
Ca 3.357 3.085
Ti 2.766 2.528
V 2.521 2.302
Cr 2.295 2.088
Mn 2.117 1.923
Fe 1.945 1.765
Co 1.796 1.635
Ni 1.664 1.504
Cu 1.548 1.403
Zn 1.448 -
 FILTRADO de Líneas de RAYOS X

Radiación X Kα Kβ , Filtros + monocromador

Kα Radiación Filtro
Kα
Cu Ni

Intensida d de la radia ción

Intensida d de la radiación

Mo Zr
Kβ Co Fe

Longitud de onda Longitud de onda

Línea Kα filtrada
 DIFRACCION de RAYOS X en CRISTALES

∆caminos ópticos = 2d sin θ

Si hay interferencia
constructiva
θ
d dsenθ θ Ley de Bragg

2d sin θ = λ

d1 cada familia (d, d1, d2)

de planos tiene un
d2 ángulo θ que satisface
Familias de planos con separaciones d 1 y d 2 esta ley
 DIFRACTOGRAMAS de RAYOS X
100

80

60
Intensidad

Si O2 Cuarzo policristalino (en polvo)

Radiación Kα del Cu
40

20

0
20 30 40 50 60 70 80 90
2θ
POSICIONES de las REFLEXIONES en DISTINTOS PLANOS
IDENTIFICACION de COMPUESTOS Base de compuestos inorgánicos
y orgánicos)

Tarjeta del Joint Committee of Powder Diffraction Files (JCPDF)

TARJETA de IDENTIFICACIÓN de COMPUESTO
Joint Committee of Powder Diffraction Files (JCPDF)
APLICACIONES de la DIFRACCION de RAYOS X

La difracción de rayos X es una técnica versátil,

no-destructiva y analítica para la determinación
de:
•Fases
•Estructura
•Textura
•Tensiones
Que pudieran estar presentes en materiales
sólidos, polvos, y líquidos