ANALIZA CHIMIC A PULBERILOR METALICE

Analiza chimic a pulberilor metalice se poate realiza prin analiz spectral, difracie pe baz de raze X i absorbie atomic. Aceste tehnici sunt folosite n industria metalurgic i n industria chimic rezolvnd problemele legate de lubrifiere, aderen, coroziune i rezistena materialului metalic la fracturare. Cu ajutorul acestor tehnici s-a demonstrat faptul c pulberea metalic poate fi omogen n interiorul materialelor metalice i neomogen n apropierea suprafeei acestor materiale. Aplicarea tehnicilor de analiz este foarte important pentru dezvoltarea i cunoaterea suprafeelor pulberilor metalice. 1. Analiza spectral a pulberilor metalice n anul 1925 Pierre Auger a observat fenomenul electronilor rotativi emii din atomii de argon care erau iradiai cu raze X. n 1953 Lander a descoperit o tehnic prin care folosea electronii rotativi pentru studiul suprafeei unui solid. n anul 1967 s-au dezvoltat metode prin care se monitoriza i msura spectrul electronilor. Proprietile mecanice ale pulberilor metalice depind n mare parte de proprietile suprafeei materialului.

n analiza spectral a electronilor, proba care trebuie analizat este bombardat cu electroni. Dac un electron ntmpltor se lovete cu o energie suficient de mare de un alt electron, atomul eliberat este ionizat. Dac atomul este n apropierea suprafeei materialului, cei doi electroni emit energie de aproximativ 25 eV. Atomul ionizat schimb aezarea electronilor pentru a obine o configuraie stabil, astfel un alt electron ocup locul lsat liber. Energia este emis ori ca raz X ori este preluat de un alt electron. Dac atomul este la o distan de aproximativ 5 nano milimetri de suprafaa materialului, electronul poate scpa din prob i astfel poate fi msurat. n funcie de energia emis de electroni se poate identifica compoziia chimic a suprafeei unui material metalic. 2. Analiza chimic a pulberilor metalice prin difracie pe baz de raze X Emisia de fotoni a nceput a fi studiat n anul 1914 cnd s-a observat faptul c electronii erau eliberai dintr-un material metalic sub aciunea razelor X. n anul 1958, difracia pe baz de raze X se folosea pentru a identifica elementele i compuii chimici dintr-un material metalic. n 1967 se putea determina cantitatea de elemente chimice de la suprafaa materialului analizat.
2

Aceste descoperiri succesive au dus la dezvoltarea comercial a difraciei pe baz de raze X ntre anii 1960-1970 cnd se folosea pentru descoperirea caracteristicilor chimice ale materialelor metalice. Cnd un foton este absorbit de solid, un fotoelectron este emis n apropierea suprafeei materialului metalic, astfel energia fotonului poate fi calculat cu relaia: hv=Ek+Eb+ unde: hv - energia fotonului; Ek - energia cinetic a electronului; Eb - energia de legtur a electronului; - spectrometru. Energia de legtur se definete ca energia ce deplaseaz electronul din miezul materialului la suprafa. Cunoscnd energia fotonului, msurnd energia cinetic i cu un spectrometru se determin energia de legtur cu ajutorul creia se identific elementele chimice care alctuiesc materialul metalic. Cu ajutorul difraciei pe baz de raze X se pot detecta i recunoate toate elementele chimice, cu excepia hidrogenului, i toi compuii chimici. Recunoaterea compuilor chimici este foarte folositoare deoarece suprafeele pulberii atomizate sunt alctuite, n general, din compui chimici pe baz de oxigen, azot sau carbon. Dei aceast tehnic prezint multe avantaje difracia pe baz de raze X se folosete foarte puin.
3

Analiza chimic a pulberilor metalice prin difracie poate fi folosit pentru a schimba i mbunti proprietile materialelor metalice, de exemplu prin creterea rezistenei la coroziune. Difracia pe baz de raze X penetreaz suprafaa materialului n adncime doar 3 nano milimetri astfel microanaliza este limitat datorit slabei rezoluii. Aceast tehnic afecteaz foarte puin suprafaa materialului analizat n comparaie cu celelalte tehnici.