A.

INVESTIGAREA UNEI PROBE PRIN MICROSCOPIE ELECTRONICA Metoda microscopiei electronice permite cercettorului obinerea unor informaii structurale multiple i variate, datele accumulate n aceast direcie fiind imense. Diagrama prezentata contine principalele tipuri de informaii care se pot obine prin microscopie electronic n domeniul materialelor polimere

DIMENSIUNILE CRISTALITELOR

TOPOGRAFIA SUPRAFEEI

DETERMINAREA MASEI MOLECULARE

CRISTALINITATE LOCAL

FRACTOGRAFIA FIBRELOR

DETERMINRI DIMENSIONALE DE (NANO) PARTICULE

MICROSCOPIE ELECTRONIC

TEXTUR SFERULITIC

MORFOLOGIA FIBRELOR

MORFOLOGIA FAZEI DISPERSE

CARACTERIZAREA LATEXURILOR

MODIFICRI PRODUSE SUB ACIUNEA UNOR FACTORI FIZICO CHIMICI

POROZITATE:FORM, DISTRIBUIE I DIMENSIUNI

Informaii care se pot obine prin microscopie electronic.

Studiile realizate prin metoda de microscopiei electronice, necesit nelegerea modului de formare al imaginii, al efectului fasciculului de electroni asupra probei i cunoaterea aparatului.

Tehnicile de microscopie electronic utilizate in laboratorul nostru:

TIPUL DE MICROSCOP UTILIZAT
TIPUL DE PROB MODUL DE PREGTIRE AL PROBEI MODUL DE VIZUALIZARE DOMENIUL TENSIUNII DE ACCELERARE (KV) MRIMEA UTILIZAT REZOLUIA IMAGINII

SEM
SUBIRE UOR BALEIAJ 1 - 40

TEM
ULTRSUBIRE FOARTE DIFICIL TRANSMISIE 50 80 - 100 4200 100 000 X 0,2 - 0,02 nm

20 50 000 X 3 - 4 nm

INFORMATII OBTINUTE topografia suprafeei

morfologie interna structura cristalina aggregate elemenmtare structura faze diferite

Investigarea completa unei probe de material polimer natural sau sintetic prin microscopie electronica implica: I. Alegerea tipului de investigatie in functie de caracteristicile probei si tipul de informatie urmarit: - investigatie prin microscopie electronica de transisie (TEM); - investigatie prin microscopie electronica de baleiaj (SEM); Determinarea conditiilor optime de pregatire a probei si pregatirea efectiva a acesteia; Examinarea probei prin metoda stabilita; Interpretarea rezultatelor obtinute.

II. III. IV.

B.EVALUAREA UNEI INVESTIGATII PRIN MICROSCOPIE ELECTRONICA