Documente Academic
Documente Profesional
Documente Cultură
3
CH .
C C C
|
|
|
|
|
|
O unitate structurala poarta denumirea de monomer.
Prin reactia de polimerizare se formeaza polimerul care poate fi considerat ca o molecula gigant
(ce poate creste la infinit).
Cei mai utilizati in tehnica sunt:
PVC (policlorura de vinil);
PS (polistiren)
PE (polietilena); PET= polietilena tratata termic;
Multi sunt cunoscuti si sub denumirea comerciala: nailon PA (poliamida), teflonul PTFE
(politetrafluoroetilena).
Materia prima a polimerilor este foarte abundenta: carbunele sau hidrocarburi.
Se realizeaza cu costuri relativ mici, dar o problema esentiala este reciclarea lor.
Observatie: Reciclarea este mult mai costisitoare decat elaborarea realizandu-se doar din ratiuni
ecologice.
Proprietati mecanice: Sunt foarte plastice insa nu pot fi considerate lipsite de rezistenta
mecanica: suporta sarcini mult mai mari decat propria greutate (intre 500-1000 de ori) asadar
polimerii au rezistenta mecanica specifica foarte mare.
Proprietati fizice: Buni izolatori termici si electrici, dar datorita temperaturii de topire mici,
utilizarease limiteaza la C
200 .
Observatie: Singurul polimer care rezista la temperaturi mai mari ( C
104 .
Se formeaza molecula de diamant foarte stabila.
Pentru sisteme deschise, legatura covalenta se prezinta printr-un schelet format de atomii
de carbon la care se aditioneaza radicali precum: atomi de
Cl ,
S ,
O ,
3
CH .
|
|
|
|
|
|
C C C .
Se formeaza deci un material polimeric, care sta la baza materialelor plastice.
Multe dintre proprietatile polimerilor se explica prin intermediul acestei legaturi: stabilitatea
electrica si chimica, facilitatea distrugerii moleculei la temperaturi mai mari de C
250 ,
caracterul izolator termic si electric.
C. Structura cristalina.
Multe din materiale sunt alcatuite din particule cristaline (cristalite) cu o distributie perfecta,
ordonata in mediul tridimensional.
Alte materiale prezinta o distributie ordonata doar in primele sfere de coordinatie (structura in
stare solida este asemanatoare cu structura lichidelor). Aceste materiale realizeaza categoria
materialelor amorfe.
Structura cristalina este specifica metalelor, iar structura amorfa este specifica ceramicelor.
Tipul de structura in stare solida este decis de comportamentul in faza lichida: daca
topitura este foarte vascoasa tendinta spre amorfizare este inerenta; dimpotriva, daca topitura este
foarte fluida, starea cristalina se obtine mult mai usor in stare solida.
Nu sunt excluse nici exceptii, metale amorfe si ceramice cristaline.
Ceramice cristaline: pentru obtinerea lor este nevoie de o viteza de racire din faza lichida foarte
lenta, de ordinal C
5 5 , 0 pe ora.
Metalele amorfe: au nevoie din faza lichida de o racire ultrarapida extreme de ridicata de ordinul
s C / 10
6
.
Metalele amorfe, pe langa multe din proprietatile tipic metalice, au urmatoarele caracteristici:
-rezistenta mecanica foarte mare;
-rezistenta la coroziune ridicata.
Metalele amorfe mai sunt numite sticle metalice.
Metode si mijloace de investigatie.
Investigatia se face prin metode difractometrice:
-difractia: - de raze X;
- de electroni;
- de neutroni.
Prima experienta de difractie de raze X a fost efectuata in 1912 de von Laue, ulterior Roentgen
(1935) a revolutionat atat medicina cat si stiinta materialelor.
Principiul difractometric se bazeaza pe legea lui Wulff-Bragg:
u sin 2d n = .
Legea considera ca atomii reprezentati prin centrele lor de greutate formeaza in plan un sir
reticular astfel:
d distanta interplanara, ) 10 1 (
10
m
= A A
o constanta a retelei formata din specia respectiva de
atomi;
I radiatia incidenta;
D radiatia difractata.
- lungimea de unda a radiatiei incidente, este determinate de natura elementului care o emite.
Spre exemplu, daca este emisa de Mo,
A = 710 , 0
o
K
Mo
; daca este emisa de Cu:
A = 54 , 1
kd Cu
.
u 2 - unghiul format de prelungirea radiatiei incidente cu radiatia difractata.
Concluzie: Studiile difractometrice urmaresc stabilirea valorii lui d, ce caracterizeaza reteaua
cristalina studiata.
D. Structura microscopica:
Urmareste detalii la nivel micronic la care particulele constitutive, cristalitele, se asociaza in
agregate policristaline numite graunti.
Asadar, structura micronica analizeaza forma, distributia numarul si natura grauntilor care in
ansamblu definesc structura microscopica.
Metode si mijloace de investigare:
1. Microscopia optica: - investigheaza cu ajutorul microscopului optic (metalografic) care
studiaza prin reflexie. Radiatia incidenta utilizata este radiatia liminoasa, cu mm
lum
3
10 5 , 0
= .
Pentru ca suprafata (probei de investigat) sa fie apta sa reflecte lumina, ea trebuie pregatita
special (slefuita, lustruita, atacata cu reactiv chimic).
Sistemul optic al microscopului se reduce la doua lentile: lentila obiectiv si lentila ocular, a caror
putere de marire confera puterea de marire a microscopului.
oc ob
M M M =
Totodata, puterea de marire a microscopului reprezinta un raport
d
d
M
'
= , unde d este rezolutia
ochiului uman; d=0,22 mm (capacitatea ochiului uman de a decela cea mai mica distanta dintre
doua puncte); d- rezolutia microscopului.
o
sin 2n
d = ;
n ordinul de refractie al mediului interpus intre lentila obiectiv si proba; n=1 pentru aer si
n=1,5 pentru ulei de cedru.
- lungimea de unda caracteristica a luminii; ( mm
3
10 5 , 0
= )
o 2 - unghiul de deschidere, sau apertura microscopului.
Teoretic
180 2 = o , practic
144 2 = o , deci
72 = o .
Astfel, puterea de marire 800
10 5 , 0
95 , 0 1 2 2 , 0
72 sin 2
2 , 0 '
3
~
= = =
n
d
d
M
1
~ M . Singura posibilitate de a creste puterea de marire este de a modifica lungimea de unda.
Pe aceste principii a fost creata microscopia electronica.
2. Microscopia electronica: Utilizeaza lungimi de unda mai mici decat cea a luminii, unde de
Broglie care functioneaza pe baza principiului corpuscul-unda.
v m
h
= ;
h constanta lui Planck;
m masa electronului ( kg
31
10 31 , 9
);
v viteza de accelerare.
Acest tip de unda, undele electromagnetice se realizeaza practic prin aplicarea unei diferente de
potential asupra unui filament de Wolfram supraincalzit. C W T
top
3000 ~ .
Aceste unde electromagnetice (formate de fapt dintr-un fascicul de electroni) sunt focalizate cu
ajutorul unor lentile electromagnetice (solenoizi) si apoi centrate pe suprafata de investigat.
u diferenta de potential
[u]=V
u=15 kW
u
150
=
] [
15000
150
A =
A ~ A =
01 , 0 10
2
mm m
7 10
10 10 1
= = A
mm
7
10 01 , 0
=
Asadar, microscopia electronica ofera informatii structurale la un nivel mult mai fin.
In functie de interactiunea radiatiei electromagnetice cu suprafata, exista mai multe variante de
microscopie electronica:
a. Microscopia electronica cu baleiaj=MEB=SEM= Scanning Electronic Microscopy:
Radiatia incidenta va fi refelctata intocmai ca la microscopia optica. Se obtin informatii
referitoare la topografia suprafetei. Puterea de marire este de maxim M=50000X, insa acest tip
de microscopie aduce avantajul ca suprafata de investigat nu trebuie foarte laborios pregatita.
b. Microscopia electronica prin transmisie=MET=TEM=Transmission Electronic Microscopy:
Proba trebuie sa fie insa special pregatita: se lucreaza pe folii subtiri care in prealabil trebuie
subtiate (grosimea in zona de subtiere intre 10-100
A) care in zonele respective vor putea fi
traversate de radiatia electromagnetica.
Informatiile captate ofera date de o mult mai mare profunzime. Puterile de rezolutie:
500000 100000 = M X.
c. Microscopia electronica prin adsorbtie=MEA=EDS=Energy Dispersive Spectometry:
Radiatia incidenta este adsorbita de suprafata de aceasta data se obtin informatii
compozitionale si nu structurale.
Microvolumul analizat este de ordinul
3
1 m .
E. Structura macroscopica:
Analizeaza structura de ansamblu a materialului (studiind suprafata).
Se efectueaza prin analiza macroscopica si se face cu ochiul liber sau cu o lupa la puteri de
marire de maxim 50X.
Analiza macroscopica urmareste mai multe aspecte:
a) Aspectul suprafetelor naturale fara niciun fel de pregatire prealabila urmarind sau
modalitatea formarii unui material (solidificare, condensare, depunere electrochimica), sau
degradarea lui in serviciu;
b) Aspectul pe suprafete de rupere. Ruperea poate fi obtinuta fie prin teste de laborator,
fie accidentala (ruperea accidentala poarta numele de rupere la oboseala);
c) Aspectul suprafetelor special pregatite se investigheaza:
-neomogenitati de compactitate(ex: retasuri, sufluri);
-neomogenitati de structura (ex: degajarea caldurii nu se face uniform);
-neomogenitati de prelucrare (ex: rigidizare prin sudura).