LUCRAREA NR.

MATERIALE DIELECTRICE SOLIDE

1.

Scopul lucrrii: Lucrarea permite determinarea permitivitii relative complexe i

analiza comportrii acesteia n frecven (100Mhz - 1Ghz), pentru materiale dielectrice cu polarizare temporar, folosite frecvent n industria electronic, fie ca material dielectric pentru condensatoare, fie ca suport de cablaj imprimat. 2. Noiuni teoretice Dielectricii sunt materiale izolatoare, care se caracterizeaz prin stri de polarizaie cu funcii de utilizare; prin stare de polarizaie electric se nelege starea materiei caracterizat prin momentul electric al unitii de volum diferit de zero. Starea de polarizaie poate fi temporar, dac depinde de intensitatea local a cmpului electric n care este situat dielectricul i poate fi de deplasare (electronic sau ionic) sau de orientare dipolar. Indiferent de mecanismul de polarizare, n domeniul liniar, interaciunea unui dielectric izotrop cu cmpul electric este caracterizat de permitivitatea relativ complex (rel. 1 ):

r =
unde: D este inducia electric,

D = r jr E 0

(1)

E este intensitatea cmpului electric, iar

0 =

1 10 9 F / m , permitivitatea vidului. 36

Dac un material dielectric cu permitivitatea complex relativ r, se introduce ntre armturile unui condensator care are n vid capacitatea C o, n aproximaia c liniile de cmp se nchid n ntregime prin material (efectele

LABORATORUL DE MATERIALE 1

CATEDRA TEF

LUCRAREA NR.1

de margine sunt neglijabile), admitana la bornele condensatorului astfel format are expresia:

Y = j r C = j( r jr ) C = C + jr C r 0 0 0 0 (2)

Schema echivalent a condensatorului cu material dielectric i diagrama fazorial sunt date n Figura 1. Din schema echivalent se observ c partea real a permitivitii complexe relative caracterizeaz dielectricul din punct de vedere al proprietilor sale de a se polariza (indiferent de mecanismul de polarizare) i are ca efect creterea de 'r ori a capacitii condensatorului la aceleai dimensiuni geometrice, capacitatea condensatorului obinut fiind : Ce = ' r Co (3)

Figura 1. Schema echivalent i diagrama fazorial pentru un condensator cu dielectric ntre armturi Partea imaginar a permitivitii complexe relative ''r, caracterizeaz dielectricul din punct de vedere al pierderilor de energie n material, pierderi modelate prin rezistena

Re =

1 rC 0

(4)

n diagrama fazorial din Figura 1, unghiul este unghiul dintre tensiunea U aplicat condensatorului i curentul I care l strbate. Complementarul unghiului de fazaj se numete unghi de pierderi i se noteaz cu .

LABORATORUL DE MATERIALE 2

CATEDRA TEF

LUCRAREA NR.1

Se definete tangenta unghiului de pierderi a materialului dielectric, ca fiind raportul:

tg =

Pa Pr

U IR U IC

IR IC

C 1 = r 0 = r C e R e r C 0 r

(5)

unde: Pa = puterea activ la bornele condensatorului, Pr = puterea reactiv la bornele condensatorului. Inversul tangentei unghiului de pierderi se numete factor de calitate al materialului dielectric i se noteaz cu

Q =

1 = CR = r tg r

(6)

Permitivitatea complex relativ poate fi pus i sub forma:

"r ' r = 1 j ' = r (1 j tg ) r

' r

(7)

n acest caz, partea imaginar ne d o informaie complet asupra pierderilor totale (pierderi prin polarizare, pierderi prin conducie electric, pierderi prin ionizare) n dielectric. Din punct de vedere al utilizatorului de componente, pentru materialul dielectric aceti doi parametri 'r i tg sunt eseniali. Datorit structurii fizice i fenomenelor complexe ce se petrec n dielectric, cnd asupra acestuia se aplic un cmp electric, permitivitatea dielectric real 'r i tangenta unghiului de pierderi tg sunt dependente puternic de frecven i temperatur. n Tabelul 1 sunt date caracteristicile tipice ale ctorva materiale studiate n lucrare (msurate la = 20 C si f = 50 Hz), iar n Figurile 2 i 3 este prezentat dependena de frecven a permitivitii, 'r , si a tangentei unghiului de pierderi, tg , la temperatura constant de = 20 C, pentru 2 materiale dielectrice uzuale: polietilentereftalat (mylar) i policarbonat.

LABORATORUL DE MATERIALE 3

CATEDRA TEF

LUCRAREA NR.1

Tabelul 1 Material Tip de polarizare Polietilentereftalat polarizare de orientare Polimetacrilat de " metil (plexiglas) Policarbonat " Hrtie de conden- " sator Politetrafluretilen (teflon) 'r 3 3,5 3 6,6 tg (4 5)10-3 0,02 0,08 (8 12)10-4 (6 7)10-3 (1 4)10-4

polarizare de deplasare 1,9 2,2 electronic

Figura 3. Dependena de frecven a lui r' si tg Figura 2. Dependena de frecven a lui r' si tg pentru pentru policarbonat la temperatura de polietilentereftalat la temperatura de 200C 200C

Fig.2
3.

Fig.3

Aparatura utilizat: analizorul RF de impedan/ material, model E4991A, Agilent.

Aparatul de msur i control cu ajutorul cruia se execut msurarea permitivitii complexe relative a materialelor dielectrice este analizorul RF de impedan/material, model E 4991A. Acesta este folosit pentru msurarea impedanei, a permitivitii complexe relative a materialelor dielectrice i a permeabilitii magnetice relative a materialelor magnetice. Lucrarea se ocup de msurarea permitivitii complexe relative a materialelor dielectrice solide ntr-o gam larg de frecvene. n scopul msurrii permitivitii complexe relative a materialelor dielectrice, analizorul de materiale E 4991A folosete urmtoarele accesorii:

LABORATORUL DE MATERIALE 4

CATEDRA TEF

LUCRAREA NR.1

capul de test E4991A, dispozitivul de fixare a materialelor dielectrice 16453A, suportul de fixare, tastatura, penseta, mouse-ul, proba standard de material dielectric i probele de material dielectric solid de msurat, Figura 4. Opional, se folosete un display, care se conecteaz la panoul din spate al analizorului.

Figura 4 Analizorul E4991A i accesoriile folosite la msurarea permitivitii Analizorul E 4991A msoar, calculeaz i vizualizeaz valoarea permitivitii complexe relative a materialului dielectric solid si a tangentei unghiului de pierderi din valoarea capaciti condensatorului echivalent. Condensatorul echivalent, Ce este realizat fizic din: electrozii superior si inferior ai dispozitivului pentru test, 16453A i materialul testat (MUT Material Under Test) MUT se poziioneaz ntre electrozii dispozitivului de fixare pentru test, 16453A, aa cum este prezentat n Figura 5.

LABORATORUL DE MATERIALE 5

CATEDRA TEF

LUCRAREA NR.1

a) b) condesatorul echivalent.

b)

Figura 5 a) dispozitivul de fixare a materialului dielectric 16453A;

Partea real a permitivitii complexe relative se determin cu relaia:

'r =

C e gC e = C 0 0S

(8)

unde: S = Si - suprafaa electrodului inferior, cu diametrul de 7mm, g - grosimea materialului dielectric; Partea imaginar a permitivitii complexe relative esre data de relaia:

'' r =

1 g = R e C 0 0 SR e

(9)

iar, tangenta unghiului de pierderi a materialului dielectric rezulta din raportul celor doua marimi

tg =

r r

(10)

4. Desfurarea lucrrii Modul de executare n detaliu a fiecrui pas din schema logic de masura este descris n ANEXA 1 a lucrrii de laborator. 4.1 Mod de lucru i prelucrarea rezultatelor

LABORATORUL DE MATERIALE 6

CATEDRA TEF

LUCRAREA NR.1

4.1.1 Se msoar permitivitatea complex, partea real i imaginar ale acesteia i tangenta unghiului de pierderi, pentru urmtoarele materiale: politetrafluoretilena (teflon), polimetacrilat de metil (plexiglas), stratificat pe baz de hrtie (pertinax), stratificat pe baz de sticl (sticlotextolit) i a oxidului de aluminiu (alumina) n gama de frecvene de la 100 MHz la 1GHz. Materialele se fixeaz, pe rnd, n dispozitivul de fixare a probei de test 16453A (Figura 5) i se parcurge algoritmul din ANEXA 1. Calibrarea analizorului se execut o singur dat. Valorile msurate ( , ,tg) la r r diferite valori ale frecvenei de lucru, se trec n Tabelul 2. Ultima linie din tabel se completeaz cu valorile factorului de calitate, care se calculeaz cu relaia (6). 4.1.2 Se va reprezinta, n trei grafice separate, evoluia , si tg pentru r r cele cinci materiale msurate, teflon, sticlotextolit, pertinax i plexiglas i se va comenta modul n care se modific parametrii menionai n gama de frecven. Tabelul 2 F [MHz] Teflon 100 200 300 400 500 600 700 800 900 1000

r r
tg Q

Steclotextolit g= 3mm g= 1mm

r r
tg Q

LABORATORUL DE MATERIALE 7

CATEDRA TEF

LUCRAREA NR.1

Pertinax Plexiglas g= 0,95mm Alumina g= 2,1mm g=1mm

r r
tg Q

r r
tg Q

r r
tg Q

4.1.3 Se msoar 1 , 2 ale probelor din plexiglas i steclotextolit la r r frecvenele date n Tabelul 3 i rezultatele se trec n tabel. Se realizeaz din cele dou probe un sandwich care se introduce ntre electrozii dispozitivului de fixare i se msoar valorile r e care se nscriu n tabel, pentru trei valori ale frecvenei. Tabelul 3 f[MHz] Material Pertinax (g1 = 0,95mm) Steclotextolit 100 500 800

r1 , r 2 , re
r1 r 2

LABORATORUL DE MATERIALE 8

CATEDRA TEF

LUCRAREA NR.1

(g2 = 2,1mm) Sandwich pertinax + steclotextolit ( g1+2 = 1,95mm) Sandwich pertinax + steclotextolit Sandwich pertinax + steclotextolit

re msurat

re calculat re ms - re calc =

Se calculeaz cu relaia urmtoare: re

' re =

g1 + g 2 g1 g 2 + r' 1 r' 2

(11)

unde: valorile lui g1 i g2 se n mm Se compar rezultatele obinute prin msurtori cu cele calculate i se justific eventualele diferene.
5.

Coninutul referatului

1. scopul lucrrii;
2.

valorile msurate i valorile calculate (Tabele 2 i 3); se folosete formula (6) pentru calculul factorului de calitate Q; reprezentarea grafic r = f (), 'r = f ( ) , " tg = f ( ) r materialele msurate; fiecare grafic va fi comentat.

3.

pentru

4.

determinarea att prin msurare ct i prin calcul (Tabelul 3); se re vor comenta rezultatele;

5. concluzii i observaii personale privind fenomenul fizic analizat.

6.

ntrebri i probleme

LABORATORUL DE MATERIALE 9

CATEDRA TEF

LUCRAREA NR.1

1.

Comentai comportarea materialelor msurate in domeniul de frecventa utilizat. S se deduc formula de calcul a tangentei unghiului de pierderi echivalente a dou condensatoare legate n paralel i n serie cnd se cunoate capacitatea i tangenta unghiului de pierderi pentru fiecare condensator.

2.

3.

S se calculeze permitivitatea complex echivalent a unui dielectric format din dou straturi de materiale diferite, cnd se cunoate permitivitatea complex a fiecruia (vezi Figura 6).

Fig.6
4.

Dac 1 = 2.1, 2 = 3.5 si g1 = (1/4)g2, s se determine echivalent pentru structura din Fig 7.

Fig 7.
5.

Determinai valoarea prii reale a permitivitii complexe relative 'r1 a unei probe de mic cu grosimea de 0,1mm cu ajutorul unei probe de teflon cu grosime de 0.8mm i 'r2 = 2.1 i 'rechivalent= 2.23.

6.

Intre armaturile condensatorului plan - paralel cu capacitatea in vid de C 0 = 100pF, se introduce un dielectric avand permitivitatea relativa complexa cu termenii =5 si ''r =5 10 4 ; sa se calculeze admitanta r

LABORATORUL DE MATERIALE 10

CATEDRA TEF

LUCRAREA NR.1

si elementele schemei echivalente paralel pentru condensatorul astfel obtinut, la frecventa de 1MHz.
7.

Pentru acelasi condensator cu dielectricul intre armaturi, sa se calculeza factorul de calitate Q si tangenta unghiului de pierderi tg, la frecventa de 1MHz .

8.

Intre armaturile unui condensator plan - paralel cu capacitatea in vid C

0

= 68 pF, se introduce un dielectric avand permitivitatea relativa

complexa cu termenii =3,5 si ''r =410 4 ; r a) sa se calculeze admitanta si elementele schemei echivalente paralel pentru condensatorul astfel obtinut, la frecventele de 500 kHz si 5 MHz; comentati rezultatele. b) sa se calculeze factorul de calitate Q si tangenta unghiului de pierderi tg, la frecventele de 500 kHz si 5 MHz; comentati rezultatele.

LABORATORUL DE MATERIALE 11

CATEDRA TEF

LUCRAREA NR.1

ANEXA 1.1 Executarea msurrii permitivitii complexe relative a materialelor dielectrice cu Analizorul RF de impedan / materiale , Model 4991A, Agilent Pasul 1 - Pregtirea analizorului pentru msurtori Conectarea i deconectarea analizorului se execut cu butonul acestuia. Observaie: Pe durata nefuncionrii se recomand ca aparatul s fie deconectat de la reea, pentru evitarea ocurilor tensiunii reelei. Iniializarea softului aparatului. Analizorul folosete Windows 2000 Professional. n fereastra de dialog, pe linia user name se tasteaz agt_instr n loc de Administrator i apoi, fr password se apas butonul OK. n etapa aceasta analizorul este pregtit pentru msurtori de impedan i de material. Pasul 2- Selectarea modului de msurare Pe display apare fereastra de msurare, aa cum este prezentat n Figura A1. Trace 1 - E4991A Impedance/Material Analyzer Trace Meas/Format Scale Display Marker Stimulus Trigger Utility Save/Recal System , plasat

dreapta - jos. Simultan cu cuplarea analizorului se activeaz i softul

LABORATORUL DE MATERIALE 12

CATEDRA TEF

LUCRAREA NR.1

Figura A1. Imaginea ferestrei de msurare. Pentru msurarea permitivitii se procedeaz astfel: 1. n meniul System se apas caseta Preset pentru iniializarea analizorului. 2. n meniul Utility se apas caseta Utility.... 3. Se apas caseta Material Option Menu. 4. Se selecteaz Permittivity n csua Material Type. La sfritul pasului 2 analizorul este pregtit pentru efectuarea msurtorii permitivitii materialului. Pasul 3. Se selecteaz condiiile de msurare 3.1 Setarea parametrilor de msur i a formatului desfurrii se execut pentru r, r, tan n felul urmtor: 1. n meniul Display se activeaz caseta Display.... 2. Se selecteaz 3 Scalar din csua Num of Traces; 3. n meniul Meas/Format se activeaz caseta Meas/Format... i se atribuie fiecrei desfurri un parametru; 4. Astfel, cnd desfurarea Trace 1 este activ apare (* marca) pe display i selecteaz r` n csua Meas Parameter; 5. n csua Format se selecteaz Lin Y-Axis sau Log Y-Axis;

LABORATORUL DE MATERIALE 13

CATEDRA TEF

LUCRAREA NR.1

6. Similar se procedeaz pentru desfurrile 2 i 3 pentru r" i respectiv tan. 3.2 Setarea punctelor de msur, a parametrilor de baleiaj Se parcurg urmtoarele etape: 1. n meniul Stimulus se activeaz butonul Sweep Setup; 2. n csua Number of Points se introduce numrul de puncte necesare msurtorilor, pentru asigurarea preciziei dorite. Exemplu: pentru 201 puncte, se tasteaz [2] [0] [1] si [Enter]; 3. n csua Sweep Parameter se selecteaz Frequency; 4. n csua Sweep Type se selecteaz Linear pentru scala lineara de frecvene sau Log, pentru scala logaritmic de frecvene; 3.3 Setarea sursei i a nivelului oscilatorului se execut n felul urmtor: 1. n meniul Stimulusse activeaz Source 2. n csua Osc Unit se selecteaz Voltage 3. n csua Osc Level se introduce nivelul de 100 mV, se tasteaz [1] [0] [0] [m] si [Enter]. 3.4 Setarea gamei de frecven se execut n felul urmtor: 1. n meniul Stimulus se activeaz Start/Stop.... 2. Cu csua Start se introduce frecvena de start, 1 MHz, pentru aceasta, se tasteaz [1] [M] si [Enter]. 3. Cu csua Stop se introduce frecvena de stop, 1 GHz, se tasteaz [1] [G] si [Enter]. La sfritul pasului 3 analizorul este pregtit pentru conectarea dispozitivului de fixare 16453A Pentru protecia antistatic a analizorului, operaiunile de la pasul 4 la pasul 10 se execut cu brara ESD conectat la mn.

LABORATORUL DE MATERIALE 14

CATEDRA TEF

LUCRAREA NR.1

Pasul 4 Conectarea dispozitivului de fixare 16453A Aceast activitate se execut numai de personalul didactic din cadrul laboratorului Conectarea dispozitivului 16453A se realizeaz astfel: 1. Se fixeaz dispozitivul 16453A pe capul de test, cu uruburile prizonier ale suportului de fixare; 2. Se cupleaz dispozitivul 16453A la mufa N 7-mm rotind piulia conectorului n sensul invers acelor de ceasornic; 3. Piulia se strnge cu cheia dinamometric, n sensul invers acelor de ceasornic pn la obinerea cuplului de 1,36 Nm, marcat pe cheie i semnalizat prin rabaterea braului cheii. Dup pasul 4 analizorul este pregtit pentru calibrare.

Pasul 5. Introducerea grosimii probei standard de material 1. n meniul Stimulus se apas Cal/Comp.... 2. Se apas butonul Cal Kit Menu. 3. n csua Thickness se introduce valoarea grosimii probei standard de material. Exemplu: dac grosimea probei standard de material este de 0.75 mm, se tasteaz [0] [.] [7] [5] [m] i [Enter]. Observaie: Proba standard de material este realizat din teflon i are permitivitatea relativ r = 2,1. De aceea, iniial analizorul E4991A are setat valoarea r n csua Real n bara de comenzi Cal Kit de 2,1000 i valoarea pierderilor n csua r Loss r= 0,0000. Pasul 6 Calibrarea analizorului Calibrarea se realizeaz n planul suprafeelor de contact ale dispozitivului de fixare pentru test 16453A. Calibrarea este obligatorie i se execut n

LABORATORUL DE MATERIALE 15

CATEDRA TEF

LUCRAREA NR.1

scopul nlturrii erorilor introduse de elementele de circuit din schema echivalent a capului de msur, Figura A2.

Figura A2 Schema echivalent a dispozitivului de fixare 16453A Calibrarea se execut astfel: 1. n meniul Stimulus se tasteaz Cal/Comp.... 2. n csua Fixture Type se confirm tipul dispozitivului de fixare pentru test 16453. 3. Se apas butonul Cal Menu. 4. n csua Cal Type se selecteaz punctele de msur cerute de datele de calibrare. Observaie: Pe durata calibrrii apare mesajul Wait-Measuring Cal Standard la stnga barei de calibrare. 5. Pentru calibrarea n gol se trage n sus butonul de partea superioar a dispozitivului 16453A, pentru deprtarea electrozilor. n aceast poziie, se apas butonul Meas Open i se ateapt aproximativ 10 sec pn la apariia bifei la stnga Meas Open; 6. Pentru calibrarea n scurtcircuit electrozii dispozitivului de fixare sunt n contact, (electrodul superior este eliberat). Se apas butonul Meas Short i se realizeaz calibrarea n gol care se finalizeaz la apariia bifei la stnga Meas Short;

LABORATORUL DE MATERIALE 16

CATEDRA TEF

LUCRAREA NR.1

7. Cu brara ESD conectat la mn i folosind penseta se introduce proba de material etalon n dispozitivul de fixare. Se activeaz butonul Meas Load i se msoar proba de material etalon, care se finalizeaz la apariia bifei n stnga Meas Load. 8. Se apas butonul Done i analizorul calculeaz datele de calibrare i le salveaz n memoria intern. Dup finalizarea pasului 6, analizorul este pregtit pentru introducerea grosimii MUT. Pasul 7 Introducerea grosimii probei de msur (MUT) Grosimea probei se msoar cu ublerul i se introduce n programul de msurare astfel: 1. n meniul Utility se activeaz Utility... . 2. Se activeaz butonul Material Option Menu. 3. n csua Thickness se introduce grosimea probei. De exemplu pentru grosimea de 1 mm, se tasteaz [1] [m] i [Enter]. Pasul 8 Conectarea probei de msur (MUT) Se execut prin introducerea probei ntre electrozii dispozitivului de test. Se verific contactul electrozilor, dispozitivul de fixare i (numai daca este cazul) se regleaz presiunea electrodului superior cu rozeta Pressure Adjustment. Cu parcurgerea pailor 7 i 8 analizorul este pregtit pentru msurarea i analiza rezultatelor. Pasul 9. Msurarea i analiza rezultatelor Odat introdus grosimea probei de msurat n csua i cu materialul fixat ntre electrozi, dup activarea Autoscale all, rezultatele msurtorilor se afieaz pe ecran. Explorarea rezultatelor se realizeaz cu bara de comenzi Marker, pentru determinarea valorilor specifice de interes. Folosind Marker Fctn (function), bara de comenzi arat analiza care se efectueaz cu ajutorul markerilor activai. Pentru afiarea rapid a

LABORATORUL DE MATERIALE 17

CATEDRA TEF

LUCRAREA NR.1

rezultatelor, din Scale, se activeaz autoscalarea cu autoscale i autoscale all. n Figura A3 se prezint o imagine a ecranului cu unele rezultate ale msurtorilor privind permitivitatea, (r [U], r [mU] si tg ), n intervalul de frecvene 1MHz 1GHz.

Figura A3 Display-ul cu rezultatele msurtorilor Pasul 10. Modificarea condiiilor de baleiere Cnd punctele de msur la calibrare sunt definite de utilizator, msurtoarea se pornete cu pasul 6. Cnd calibrarea nu este necesar msurtoarea se pornete cu pasul 9. Dac se msoar i alte probe cu aceeai grosime, msurtoarea se pornete de la pasul 8. Dac probele au grosimi diverse msurtoarea se pornete de la pasul 7.

LABORATORUL DE MATERIALE 18

CATEDRA TEF

LUCRAREA NR.1

Pasul 11. Deconectarea analizorului Pentru deconectarea analizorului se procedeaz n felul urmtor:
1.

Se scoate proba de material, cu ajutorul pensetei dintre armturile dispozitivului de fixare 16453A, prin ridicarea electrodului superior.

2. Se pune proba etalon, n cutia sa de plastic, n trusa dispozitivului de fixare 16453A i probele de material n cutia de depozitare ale acestora.
3.

Se pune penseta n locaul ei din trusa aceluiai dispozitiv. Se scoate mnua de protecie, brara de la mn prin slbirea ncheietorii brarei.

4.

n meniul System se apas caseta Preset pentru resetarea analizorului. Se decupleaz soft-ul analizorului cu Ctrl+Alt+Delete i Shut Down.

5.

6.

Dup nchiderea soft-ului se decupleaz butonul jos, pe panoul analizorului.

, plasat dreapta

7. Se decupleaz tensiunea de alimentare de la panoul d for a laboratorului. Atenie! n caz de nefuncionare analizorul nu se ine sub tensiune. Pericol de defectare, ca urmare a ocurilor din reeaua electric.

LABORATORUL DE MATERIALE 19

CATEDRA TEF