Sunteți pe pagina 1din 14

1

Universitatea Al.I.Cuza Iai


Facultatea de Geografie i Geologie
Departamentul de Geologie
Disciplina: METODE INSTRUMENTALE DE ANALIZ N GEOTIINE
An universitar: 2011 2012
Anul de studii: II / Semestrul I
Secia: Geochimie
VI. METODE DE SPECTROMETRICE DE ANALIZA- partea I
Spectrometria de emisie atomic
VI.1. Analiza spectrografic (spectrometria de emisie atomic)
VI.1-1. Principii teoretice
VI.1-2. Pregtirea pentru analize
VI.1-2.1. Prepararea standardelor i a setului de etaloane
VI.1-2.2. Pregtirea probei pentru analiz
VI.1-2.3. Pregtirea electrozilor pentru analiz
VI.1-3. Obinerea spectrelor de emisie atomic
VI.1-3.1. Aparatura - spectrograful cu reea plan PGS-2
VI.1-3.2. Alegerea sursei de excitare
VI.1-3.3. Receptorii spectrali
VI.1-4. Analiza spectrografic calitativ
VI.1-4.1. Principiul metodei
VI.1-4.2. Aparatura i procedeul de lucru
VI.1-5. Analiza spectrografic semicantitativ
VI.1-5.1. Metoda comparrii
VI.1-5.2. Metoda perechilor omoloage
VI.1-5.3. Metoda liniilor sensibile
Bibliografie general
Curs Conf. univ. dr. Bulgariu Dumitru
Lucrri practice Conf. univ. dr. Bulgariu Dumitru




















2
VI.1. ANALIZA SPECTROGRAFICA

VI.1-1. PRINCIPII TEORETICE

Spectroscopia de emisie are la baza excitarea sistemelor chimice (atomice sau moleculare) printr-un
anumit procedeu i nregistrarea spectrului radiaiei emise la dezexcitarea sistemului. Metodele
spectrochimice de analiz permit obinerea de informaii referitoare la compoziia chimic unui mineral pe
baza analizei (interpretrii) spectrelor de emisie caracteristice. Spectrul de emisie a unei substane red
dependena dintre intensitatea radiaiei emise n funcie de frecven (numr de und, lungime de und
etc.). Spectrele de emisie atomic sunt spectre discontinue (spectre de linii).
Spectrele de emisie atomic sunt generate de tranziiilor electronilor de pe straturile periferice ale
atomilor, ionilor sau moleculelor care compun un mineral. Prin excitarea unui atom, aflat iniial n starea
fundamental E
k
, acesta absoarbe energie trecnd n starea excitata E
i
(instabil) - figura 1. La revenirea
atomului n starea fundamental, acesta emite energia absorbit sub form de energie radiant. Conform
mecanicii cuantice, absorbia i emisia de energie are loc cuantificat, intensitatea radiaiei emise fiind
direct proporional cu diferena de energie dintre nivelele energetice ntre care are loc tranziia:
h
E E
h
E
h E E E
k i ik
ik ik k i ik

=
A
= = = A v v .
(1)
n care: E
i
, E
k
energia nivelului i, respectiv k;
ik
frecvena radiaiei emise la dezexcitare; h
constanta lui Planck. innd cont c:
c
ik ik
= v . (2)
relaia (1) se poate rescrie sub forma:
ik
ik
E
h c
A
=
.

(3)
n care:
ik
lungimea de und a radiaiei emise; c viteza de propagare a radiaiei electromagnetice n
vid.

(Absorbtie)
(Emisie)
E=h.v
ik
Nivel electronic fundamental (E
k
)
Nivel electronic excitat (E
i
)

Din punct de vedere cuantic, intensitatea radiaiei emise (intensitatea liniilor spectrale) va fi
dependent de o serie de factori: (a) energia emis de atomii excitai; (b) modul de populare a nivelurilor
energetice cu electroni; (c) probabilitatea de tranziie:
ik i ik ik
A n h E . . .v = (4)
n care: E
ik
- intensitatea radiaiei emise; n
i
- numrul de atomi aflai n starea excitata i"; A
ik
-
probabilitatea de tranziie de pe nivelul "i" pe nivelul "k"; v
ik
- frecvena radiaiei emise la tranziia de pe
nivelul "i" pe nivelul "k".
ntr-un sistem gazos aflat n stare de plasm emisiv (la temperatur ridicat), n condiii de
echilibru termodinamic, distribuia electronilor pe nivelurile energetice este dat de legea lui Boltzmann:
|
.
|

\
|
=
T k
E
A g n n
i
i o i
.
exp . . . (5-a)

|
.
|

\
|
=
T k
E
A g n n
k
k o k
.
exp . . . (5-b)
n care: n
i
; n
k
- numrul atomilor de un anumit tip aflai pe nivelul energetic E
i
, respectiv E
k
, n unitatea de
volum; g
i;k
- ponderea statistic a atomilor din unitatea de volum a plasmei emisive; n
o
- numrul atomilor
de un anumit tip dat prezeni n unitatea de volum a plasmei emisive; A - constant; red probabilitatea
de tranziie; k constanta lui Boltzmann; T temperatura absolut.
Dac n plasma emisiva n
o
= n
i
, atunci se poate scrie c:
(

|
.
|

\
|

|
|
.
|

\
|
=
T k
E E
g
g
n
n
k i
k
i
k
i
.
exp (6)
Figura 1. Reprezentarea
simplificat a mecanismului
de obinere a spectrelor de
emisie atomic.

3

(

|
.
|

\
|

|
|
.
|

\
|
=
T k
E E
g
g
n A h E
k i
k
i
o ik ik ik
.
exp . . . . v
(7)
Relaia (7) indic faptul c intensitatea absolut a liniilor spectrale (radiaiei emise) obinute prin
excitare termic este dependent de: (a) concentraia atomilor de un anumit tip din proba de analizat; (b)
temperatura la care are loc excitarea. Ca urmare:
(1) analiza spectrografic calitativ - are la baz faptul c unui element dat i corespund n spectrul
de emisie atomic un set de linii spectrale bine determinate i caracteristic, dat fiind dependena v = 1/
= f(Z); Z numr atomic;
(2) analiza spectrografic cantitativ - are la baz dependena intensitii radiaiei emise (liniei
spectrale), n unitatea de timp, de numrul atomilor de un anumit tip prezeni n proba analizat:
Principial, o analiz spectrografic presupune urmtoarele etape: (1) evaporarea unei cantiti mici
din proba de analizat i obinerea atomilor n stare liber (n arc electric sau n flacr); (2) aducerea
atomilor n stare de plasm emisiv; (3) captarea radiaiei emise, trecerea ei printr-un sistem de dispersie
i nregistrarea spectrului (lniilor spectrale caracteristice elementelor prezente n proba de analizat).

VI.1-2. PREGTIREA PENTRU ANALIZ

Principalele etape ale unei analize spectrochimice: (1) pregtirea pentru analiz: (a) pregtirea
setului de etaloane, (b) pregtirea probei, (c) pregtirea electrozilor i ncrcarea probelor n electrozi; (2)
obinerea spectrelor (arderea probei i nregistrarea spectrelor); (3) analiza i interpretarea spectrelor
obinute.

Tabelul 1. Componenii utilizai la prepararea etaloanelor n analiza spectrochimic.
Elementul Compusul utilizat Greutatea compusului [g]
Co Co
2
O
3
0,1362
Cr Cr
2
O
3
0,1461
Cu CuO 0,1252
Ga Ga
2
O
3
0,1344
Ge GeO
2
0,1440
La La
2
O
3
0,1173
Mo MoO
3
0,1500
Ni NiO 0,1273
Sn SnO
2
0,1270
Ti TiO
2
0,1668
V V
2
O
5
0,1785
Y Y
2
O
3
0,1270
Zn ZnO 0,1245

1
1,8043 [g]
*

*
In
1
fiecare element este prezent n procent de 5,5423 [%, grav.].

VI.1-2.1. Prepararea standardelor i a setului de etaloane

Pentru scopurile analizei spectrochimice sunt necesare o serie de etaloane. Deoarece natura i
concentraia componenilor majori dintr-o roc influeneaz emisia componenilor minori i n urm, se
impune ca matricea etaloanelor s fie foarte apropiat de cea corespunztoare probelor necunoscute.
Pentru rocile silicatice matricea trebuie s conin: SiO
2
; Al
2
O
3
; Fe
2
O
3
; MgO; CaO; Na
2
O i K
2
O. Orice
matrice trebuie s fie de puritate spectral (impuriti: maxim 1 ppm). Amestecul de oxizi se
omogenizeaz cu foarte mare atenie ntr-un mojar de agat pn la obinerea unei mase omogene. Apoi
se supune sinterizrii la 1000 1100
o
C, timp de 6 ore. In aceste condiii se formeaz mineralele prezente
n mod obinuit n rocile silicatice. Topitura format se rcete i se mojareaz cu grij pn la o
granulaie de (-200) mesh (< 0,075 mm). Matricea astfel obinut se utilizeaz n analizele spectrochimice
curente.
Pentru analizele spectrografice este necesar un set de etaloane n care trebuie s intre anumite
elemente - tabelul 1. Fiecare dintre componenii utilizai trebuie s fie de puritate spectral. Se trec oxizii
(tabelul 1) ntr-un mojar de agat i se mojareaz minim un sfert de or sub metanol, fr pierderi.
Obinerea setului de etaloane se realizeaz prin diluia succesiv n faza solid a lui
1
cu matricea M, setul
de etaloane avnd concentraiile cuprins intre 1 [%, grav.] i 1 ppm. Diluia se efectueaz dup o rat
egal cu
3
10 dup procedeul descris n tabelul 2.

4
Tabelul 2. Obinerea setului de etaloane n analiza spectrochimic.
Diluia Concentraia componenilor

1
= 1,8043 [g]

2
= 1,8043 [g]
1
+ 0,1957 [g]M = 2,0000 [g]
A
1
= 1,0000 [g]
2
+ 4,0000 [g]M = 5,0000 [g]
A
2
= 0,3160 [g]A
1
+ 0,6838 [g]M = 1,0000 [g]
A
3
= 0,3160 [g]A
2
+ 0,6838 [g]M = 1,0000 [g]
A
4
= 0,3160 [g]A
2
+ 0,6838 [g]M = 1,0000 [g]
A
5
= 0,3160 [g]A
4
+ 0,6838 [g]M = 1,0000 [g]
.a.m.d
5,5423 [%]
5,0000 [%]
1,0000 [%] (10
4
ppm)
3160 [ppm]
1000 [ppm]
316 [ppm]
100 [ppm]
0,01 [%] (1 ppm)

VI.1-2.2. Pregtirea probei pentru analiz

O cantitate de 50 mg prob de analizat (fin mojarat) i 50 mg pulbere de grafit se amestec i se
omogenizeaz foarte bine ntr-un mojar de agat (omogenizarea dureaz minim un sfert de or). Proba
astfel pregtit se ncarc n electrozii spectrali. In mod similar se amestec i se omogenizeaz foarte
bine, n mojar de agat, 50 mg etalon cu 50 mg pulbere de grafit. Amestecul obinut este apoi ncrcat n
electrozii spectrali. In timpul preparrii etaloanelor i n timpul pregtirii amestecului de prob i grafit,
respectiv etalon i grafit, trebuie s se ia toate msurile pentru a se evita, att contaminarea probei sau a
etaloanelor, ct i pierderile de substan (prob, respectiv etalon). In acest scop, cntrirea probei de
analizat, a grafitului i a etaloanelor se va face n fiole speciale din cuar.

VI.1-2.3. Pregtirea electrozilor pentru analiz

In mod curent, pentru confecionarea electrozilor spectrali se utilizeaz carbonul sau grafitul. Din
punct de vedere chimic carbonul i grafitul sunt identice, ns diferenele structurale dintre acestea
determin comportri diferite n arc electric. In analizele spectrochimice se pot utiliza i alte materiale
pentru confecionarea electrozilor spectrali: Fe; Cu; Ag; carbura de wolfram etc. Preferina pentru
electrozii de grafit este justificata de avantajele oferite de acesta:
(1) carbonul sublimeaz fr s treac printr-o stare intermediar lichid i nu manifest tendina de
nmuiere, pstrndu-i permanent forma rigid;
(2) temperatura de sublimare este suficient de ridicat, astfel nct pot fi volatilizate aproape toate
substanele uzuale, iar pentru cele refractare poate furniza suficieni vapori n arc electric astfel nct s
produc un spectru de emisie detectabil;
(3) att carbonul, ct i grafitul, se pot obine ntr-o stare avansat de puritate i la un pre
convenabil.
Dezavantajul major al electrodului de crbune este c arcul de carbon n aer emite trei benzi
moleculare ale cianului CN
-
), care acoper poriunea UV a spectrului de emisie (capetele corespunztoare
celor trei benzi ale cianului sunt: 3590 ; 3893 i 4216 ), fapt care produce interferene serioase n
spectrele de linii. Un alt dezavantaj a electrozilor de grafit este dat de faptul c, n timpul analizei
(descrcarea arcului electric) acetia se consum, ceea ce influeneaz n mod negativ reproductibilitatea
analizelor prin varierea distanei dintre electrozi.
Pentru fiecare tip de analiz spectrochimic exist anumite tipuri de electrozi standardizai. Modelul,
tipul i forma electrozilor sunt dependente de tehnica de lucru ce urmeaz a fi aplicat. In general, pentru
confecionarea electrodului purttor de prob se utilizeaz baghete de grafit cu diametrul de 56 mm n
care se practic o adncitur (crater) de dimensiuni convenabile. Pentru confecionarea contra-electrodului
se utilizeaz baghete de grafit cu diametrul de 3 3,2 mm, crora li se d la un capt o form conic.
In practic, forma i dimensiunile craterului electrodului purttor de prob reprezint doi parametrii
importani care influeneaz foarte mult calitatea spectrelor obinute. Dac pereii craterului sunt prea
groi, proba de analizat se poate consuma mai rapid dect electrodul, n special n cazul probelor cu
componeni volatili n cantiti importante. Aceste situaii nu au neaprat consecine negative asupra
calitii spectrului dac arcul electric este ntrerupt n momentul n care exist certitudinea c toat proba
de analizat din crater a fost consumat (volatilizat). In astfel de cazuri arderea complet a electrodului nu
este absolut necesar, cu att mai mult cu ct limitarea arderii conduce la o limitare a benzilor cianului.
Unele elemente refractare din proba de analizat, n timpul descrcrii electrice (n timpul arderii probei),
tind s formeze un mic reziduu la baza craterului, fapt ce determin adoptarea unui timp de ardere care s
asigure vaporizarea complet, att a craterului, ct i a elementelor refractare. Grosimea pereilor

5
craterului electrodului purttor de prob se alege astfel nct consumarea probei de analizat i a craterului
s aib loc aproximativ cu aceeai vitez. O grosime a pereilor craterului de 0,5 mm asigur, de obicei, o
rezisten suficient i o vitez de ardere adecvat pentru electrozii de grafit.

Observaii
Forma i dimensiunilor optime pentru electrozii spectrali se determin experimental. Electrozii
spectrali se confecioneaz cu ajutorul unui strung special, prevzut cu burghie i accesorii care s
permit obinerea formei i dimensiunilor cerute pentru electrozi. In timpul pregtirii electrozilor
spectrali (confecionarea, umplerea cu prob, respectiv cu etaloane), ct i pe tot parcursul
manipulrii lor, trebuie s se evite contaminarea acestora. Din aceste motive este indicat c
electrozii s se ncarce cu prob imediat naintea efecturii arderii, iar la manipularea acestora s se
evite contactul n zona de ardere cu mna liber, sau cu alte obiecte (este recomandat s se poarte
mnui).
ncrcarea electrozilor cu proba de analizat se poate efectua automat (cu dispozitive speciale)
sau manual. In ambele cazuri proba trebuie s fie uniform distribuit n volumul craterului i bine
tasat, pentru a se evita mprocarea materialului din crater i arderea neuniform a acestuia.
Electrozii cu proba de analizat se vor aranja pe o plac de lemn n poziii bine stabilite. Poziia
electrodului cu proba pe placa de lemn i numrul probei vor fi notate neaprat n caietul de
laborator, pentru a nu se crea confuzii i pentru a ti cu exactitate locul probei analizate pe placa
spectral.

VI.1-3. OBINEREA SPECTRELOR DE EMISIE ATOMIC

VI.1-3.1. Aparatura - spectrograful cu reea plan PGS-2

Spectrograful cu reea plan este un aparat pentru analiza spectrochimic de emisie i pentru
cerecetri spectroscopice n domeniile UV i VIS. In figura 2 este dat schema simplificat a drumului optic
n spectrograful cu reea plan PGS-2 .

Figura 2. Schema simplificat a drumului optic n spectrograful cu reea plan PGS-2 (1) sursa de lumin; (2; 3)
condensatori; (4) fanta de intrare n spectrograf; (5) oglinda de deviere a fluxului luminos; (6) lampa pentru
iluminarea scalei; (7) lentila pentru proiecia scalei: (8) scala lungimilor de und; (9) oglinda de deviere pivotant;
(10) partea din oglinda concav folosit pentru reproducerea scalei; (11) oglind concav (f = 2.m); (12) parte din
oglinda concav folosit pentru reproducerea spectrului; (13) reea plan de difracie; (14) planul plcii spectrale
(detectorul de radiaii); (15) masa rotitoare pentru reea; (16) oglind plan; (17) obturator electromagnetic. Fluxul
luminos intr prin fanta (4), este dirijat de oglinda (5) ctre partea inferioara a oglinzii sferice (10), care reflect fluxul
luminos sub form de fascicul paralel ctre reeaua de difracie plan (13). Pe reeaua de difracie, fluxul luminos este
reflectat (reea prin reflexie) ctre partea superioar (12) a oglinzii sferice (11). Oglinda colimatoare (12) focalizeaz
fasciculul de radiaii paralel ctre detectorul de radiaii (placa spectral) unde se formeaz spectrul. Reeaua de
difracie (13) poate fi rotit n jurul unui ax vertical avnd astfel posibilitatea de a aduce pe detectorul de radiaii (placa
spectral) domeniul spectral urmrit (intervalul de lungimi de und vizat).

Posibiliti de lucru cu spectrograful PGS-2:
1. Dispersia i puterea de rezoluie a spectrografului pot fi variate pentru valorificarea diverselor
ordine spectrale ale spectrului reelei sau prin schimbarea reelei de difracie.

6
2. Fanta de intrare n spectrograf formeaz imaginea stigmatic n raport 1:1, astfel c nlimea
spectrului este practic egal cu nlimea fantei de intrare n spectrograf.
3. Datorit sistemului de oglinzi acromatice (ceea ce nseamn c nlimea spectrului corespunde
exact nlimii fantei) intensitile liniilor spectrale sunt independente de lungimile de und.
4. Cmpul de formare a imaginii spectrului este aproape plan astfel c nu este necesar ncovoierea
plcilor spectrale.
5. Liniile spectrale nu apar frnte n spectru; acestea pot apare aplecate - nclinarea liniilor spectrale
n spectru poate fi compensat prin nclinarea n sens contrar a fantei de intrare n spectrograf.
6. Spectrograful cu reea plan PGS-2 este prevzut cu un dispozitiv suplimentar care permite ca
fluxul luminos s fie condus de dou ori prin reea. O parte din fluxul luminos care a suferit difracia pe
reeaua (13, figura 2), cade pe o oglind plan care l reflect napoi la reea, de unde, dup o nou
difracie, este trimis ctre oglinda colimatoare (11, figura 2). Spectrul obinut pe aceasta cale se numete
"al doilea spectru" i este varianta amplificat a primului spectru (obinut prin drumul optic simplu). In
acest mod apare o reeditare a primului spectru dublat n cel de al doilea spectru prin dublarea drumului
optic. Pentru primul spectru, ordinul spectral m = 1; pentru al doilea spectru, ordinul spectral m = 2
s.a.m.d. In acest mod se poate obine o succesiune de ordine spectrale. Utilizarea drumului dublu conduce
la dublarea dispersiei i la o putere de rezoluie mai bun. Cea mai important proprietate a drumului
dublu este aceea c intensitatea celui de al doilea spectru este apropiat de cea a primului spectru cu
toate c dispersia practic s-a dublat. In cel de al doilea spectru, pe lng liniile spectrale de ordinul I, apar
concomitent i liniile spectrale ale celorlalte ordine spectrele superioare. Aceste spectre au ns
intensitatea mult mai redus.

VI.1-3.2. Alegerea sursei de excitare

Exactitatea rezultatelor obinute prin analiza spectrochimic depinde ntr-o msur foarte mare de
alegerea corect a sursei de excitare. Ca surse de excitare, cele mai utilizate sunt: (1) flacra; (2)
descrcrile electrice (scnteie sau arc electric, de curent continuu sau de curent alternativ; arc
intermitent etc.); (3) radiaii laser.
1. Flacra - datorit puterii sale mici de excitare se utilizeaz ca surs de excitare numai n cazuri
particulare - dozarea elementelor cu poteniale de excitare sczute: elementele alcaline i elementele
alcalino - pmntoase.
2. Arcul electric - alturi de scnteia electric, reprezint una dintre cele mai des utilizate surse de
excitare n analiza spectrochimic. Acest tip de surs de excitare poate fi utilizata n trei variante: (a) arc
de curent continuu; (b) arc de curent alternativ; (c) arc intermitent.
(a) Arcul de curent continuu - prezint o sensibilitate de detecie excepional fiind recomandat la
dozarea elementelor urm. Ins, datorit nclzirii puternice a electrozilor n timpul funcionrii, este
necesar un control permanent al funcionrii sale. Se remarc printr-o stabilitate mare a determinrilor
majoritii elementelor chimice - liniile spectrale, n majoritatea cazurilor, apar n arc chiar cnd coninutul
lor n proba de analizat este foarte mic (cca. 10
-6
%). In generale este:
- indicat - la analiza calitativ i cantitativ a metalelor cu punct de topire ridicat i a substanelor ru
conductoare de electricitate (sticle; produse ceramice; zgur; minereuri; roci etc.);
- contraindicat - la analiza materialelor cu punte de topire sczute.
La utilizarea arcului de curent continuu se lucreaz la 315 Amperi, cu distana ntre electrozi de 25
mm. Deoarece anodul se nclzete mai puternic dect catodul, atunci este indicat ca anodul s s fie
electrodul purttor de prob. In cazul analizei unor metale, cu excepia argintului i cuprului, in mod
obligatoriu metalul va fi anodul (+). Reproductibilitatea n arc de curent continuu este foarte bun pentru
analiza elementelor urm.
(b) Arcul de curent alternativ comparativ cu arcul de curent continuu, prezint avantajul ca cei doi
electrozi se nclzesc la fel de puternic, nu se produc caviti adnci n electrozi i se formeaz mai puine
picturi de material topit. Reproductibilitatea n arc de curent alternativ este mai bun, n schimb
sensibilitatea deteciei este ceva mai slab dect in arcul de curent continuu. Este indicat pentru cazul
analizelor care presupun utilizarea a doi electrozi confecionai din acelai material.

7
3. Scnteia electric - este mai puin sensibil dect arcul electric de curent continuu, ns prezint
o reproductibilitate foarte bun. Cea mai bun reproductibilitate se obine la scnteia electric de nalt
tensiune. Interaciunile elementelor n scnteie sunt mai reduse dect n arc, nu se formeaz topituri sau
adncituri n electrozii spectrali, materialul de analizat este ndeprtat uniform sub form de vapori i nu
sub form de picturi, ceea ce determin o cretere a reproductibilitii metodei.
n practic, la alegerea surselor de excitare trebuie s se in cont i de urmtoarele aspecte:
1. Natura probei de analizat - astfel: (a) pentru probele solide bune conductoare de electricitate
este recomandat analiza n arc sau scnteie electric; (b) pentru probele solide cu o conductibilitate
electric slaba este recomandat analiza n arc electric de curent continuu; (c) pentru probele solide sub
form de pulberi fine i a celor uor fuzibile este recomandat analiza n scnteie electric; (d) pentru
probele lichide este recomandat analiza n arc sau n scnteie electric; (e) pentru probele gazoase este
recomandat analiza n scnteie electric.
2. Scopul urmrit prin analiz - astfel: (a) liniile spectrale ale elementelor metalice apar bine, att n
arc ct i n scnteie electric; (b) spectrele halogenilor, carbonului, sulfului i, n general, ale elementelor
greu excitabile, apar mai bine n scnteie electric; (c) dac proba de analizat conine un procent mic
dintr-un element care intereseaz, diferena de concentraie este sesizat mai bine n arc electric; (d)
dac n proba analizat concentraia elementelor este mai ridicat, sensibilitatea n privina concentraiei
este mai ridicat la utilizarea scntii electrice etc.
3. Domeniul spectral n care se lucreaz - astfel: (a) pentru determinarea fosforului i siliciului n
domeniul vizibil este recomandat s se lucreze n scnteie electric; (b) pentru determinarea fosforului i
siliciului n domeniul ultraviolet este recomandat s se lucreze n arc electric.

VI.1-3.3. Receptorii spectrali

Ca detectori de radiaii (receptori spectrali), in analiza spectrochimic se pot utiliza: emulsii
fotografice (cazul spectrografului cu reea plan PGS-2); termoelemente; fotoelemente;
fotomultiplicatoare etc.
Stratul fotosensibil a unei plci spectrale (fotografice) este format dintr-un strat de gelatin special
preparat cu cristale fine de halogenur (bromur) de argint uniform distribuite n masa acesteia.
Dimensiunile cristalelor de halogenur de argint variaz ntre 15 . Sub aciunea luminii la nivelul acestor
cristale are loc descompunerea bromurii de argint i separarea atomilor de argint, care formeaz centrii
imaginii fotografice latente (nc invizibil). Sub aciunea developanilor cristalele de halogenur de argint,
care cuprind centrele imaginii latente, se reduc foarte repede (n cteva minute) la argint metalic.
Cristalele care nu au fost supuse aciunii luminii, adic acele cristale care sunt lipsite de centrele imaginii
latente, se reduc foarte lent. In ansamblu, primele cristale dau o imagine vizibil de culoare neagr i
alb, celelalte cristale, n cazul cnd se reduc ntr-o oarecare msur, sub aciunea developantului, conduc
la o imagine voalat i la o nnegrire mai mult sau mai puin pronunat pe ntreaga plac fotografic.
In fotometria fotografic, nnegrirea plcii spectrale reprezint o mrime care msoar" intensitatea
luminii ce a determinat nnegrirea dat. Mrimea nnegririi depinde de o serie de factori, dintre care mai
importani sunt: intensitatea radiaiei care a acionat asupra stratului fotosensibil, timpul de expunere a
plcii, modul de efectuare a developrii plcii (compoziia i temperatura soluiei revelatoare, durata
procesului de revelare etc.). In condiii bine determinate, nnegrirea (S) a plcii spectrale este o funcie
reproductibil ce poate caracteriza intensitatea luminoas a radiaiei care a impresionat placa fotografic.
Mrimea S a negririi plcii spectrale revelate i fixate se msoar cu microfotometrul pe baza absorbiei
luminii n stratul nnegrit.
Calitatea unei plci spectrale, implicit utilitatea ei n raport cu scopul unei analize spectrochimice,
este determinat de caracteristicile emulsiilor fotografice utilizate: contrastul, sensibilitatea chimic,
grosimea emulsiei, granulaia, sensibilitatea spectral, aureola, puterea de rezoluie, reacia la iluminarea
intermitent etc. Alegerea tipului de plac spectral se face n funcie de scopul urmrit prin analiz i
domeniul spectral n care urmeaz s se lucreze. Dup impresionarea plcii spectrale (expunerea ei la
radiaia emis n timpul arderii probei de analizat), aceasta se supune unui tratament chimic adecvat
(developare). Placa spectral astfel obinut este utilizat la interpretarea rezultatelor analizei efectuate
(analiza calitativ, semicantitativ i cantitativ).


8
VI.1-4. ANALIZA SPECTROGRAFIC CALITATIV

VI.1-4.1. Principiul metodei

Pentru obinerea spectrelor de emisie atomic, electrozii spectrali, ncrcai cu proba de analizat sunt
introdui ntr-un dispozitiv de ardere (n care are loc excitarea probei) adecvat cu natura probei i scopul
urmrit prin analiza, radiaia emis n timpul arderii este preluat de sistemul dispersiv i transformat n
radiaii monocromatice, ulterior acestea fiind nregistrate de un detector de radiaii figura 3. Analiza
spectrografic calitativ are la baz faptul c fiecare element chimic emite radiaii de lungimi de und bine
determinate. Deoarece spectrele de emisie atomic sunt spectre optice, acestea sunt determinate de
tranziiile pe care le pot realiza electronii periferici ai atomilor. Ca urmare, lungimea de und a radiaiilor
emise de un atom va fi direct corelat cu structura electronic a straturilor de valen ale atomilor,
respectiv cu numrul atomic (Z). Practic, n analiza spectrografic calitativ se valorific, sub diferite
aspecte, aceasta dependen.



La prima vedere analiza spectrografic calitativ pare foarte dificil de realizat deoarece ar necesita
identificarea unui numr foarte mare de linii spectrale. Practic nu este necesar identificarea tuturor liniilor
spectrale emise de un element, ci numai identificarea liniilor spectrale ultime". Liniile ultime ale unui
element sunt acele linii spectrale care dispar ultimele din spectrul probei analizate cnd se micoreaz
concentraia elementului din proba supus analizei. Liniile ultime din orice spectru de emisie atomic apar
la tranziiile electronice ntre strile s i p. Configuraiile electronice cele mai favorabile pentru ca aceste
tranziii s dea o linie ultim sunt acelea n care n starea iniial de emisie se afl un singur electron.
Liniile ultime sunt, de obicei, liniile de referin care sunt generate la tranziia atomilor de pe nivelul
fundamental pe primul nivel excitat. Experimental s-a evideniat faptul c la cca 70 de elemente li se
poate stabili prezena prin metode spectrale de excitare i nregistrare obinuite, deoarece liniile lor ultime
sunt plasate n domeniul VIS sau UV. Stabilirea prezenei celorlalte elemente, fie c necesit metode i
aparatur special de analiz, fie se utilizeaz linii spectrale mai puin caracteristice. De exemplu, liniile
cele mai sensibile ale unor elemente ca: P (1774 ), As (1890 ), Sb (2068 ), Zn (2138 ) etc., se
gsesc n UV ndeprtat. Identificarea lor se poate face utiliznd un spectrograf cu prism de fluorin sau
lucrnd sub vid. Un alt exemplu l constituie liniile Cs (8521 ) i K (7699 ) situate n IR ndeprtat.
Punerea lor n eviden se poate face utiliznd plci spectrale cu emulsii fotografice sensibile n infrarou.
Evaluarea sensibilitilor relative ale liniilor spectrului unui element este complicat, ntr-o anumit
msur, de ionizarea care apare n arcul electric. Teoretic sunt indicate ca linii sensibile cele atomice i
Figura 3. Schema
general de funcionare a
unui spectrograf.

9
cele ionice, fr a se face vreo precizare asupra diferenelor dintre acestea sub aspectul sensibilitii lor.
Elementele care au un singur electron excitabil pe nivelurile energetice externe (cazul metalelor alcaline)
nu emit spectre ionice n arc electric. Elementele care posed mai mult de un electron pe nivelurile
energetice exterioare sunt capabile de a emite, att spectre ionice, ct i spectre atomice. Gradul de
ionizare determin care dintre liniile spectrale, cele ionice sau cele atomice, sunt cele mai sensibile n
anumite condiii de lucru impuse.
Din punct de vedere al sensibilitilor liniilor spectrale, atomice i ionice, n arc electric de curent
continuu, elementele pot fi grupate n patru clase:
1. Elemente la care liniile atomice sunt cele mai sensibile, liniile ionice fiind absente sau foarte slabe -
n aceast categorie intr majoritatea elementelor din cele 70 de elemente excitabile n arc electric: Li; K;
Rb; Cs; Ag; Au; Cu; Cd; Zn; Ga; In; Tl; B; Te; Sn; W; Si; elementele din grupa metalelor platinice etc.
2. Elemente la care liniile atomice sunt cele mai sensibile, liniile ionice avnd o sensibilitate
rezonabil: Mn; Ni; V; Mg; Cr; Mo; Be; Nb; Fe (aceste consideraii sunt n funcie de temperatura arcului
electric, deoarece in arcurile relativ fierbini liniile ionice pot avea, uneori, o persisten destul de mare).
3. Elemente la care liniile de emisie atomic i cele de emisie ionic au sensibiliti comparabile: Ca;
Sr; Ba. Dup cum intensitile linilor Ca (4226 ) i Ca(3933 ) se modific n funcie de temperatura
arcului, modificrile de temperatur determin variaia sensibilitilor liniilor de emisie atomice i ionice ale
acestor dou elemente.
4. Elemente la care, n mod obinuit, liniile ionice sunt cele mai sensibile: Ti; Sc; Zr; Y; un numr
relativ mare dintre lantanide i actinide. Uneori, liniile de emisie atomic au o sensibilitate mai mare n
arcurile electrice reci".
In practic, analiza spectrografic calitativ se poate realiza n dou cazuri limit:
A. Cazul cnd nu se cunoate compoziia chimic a probei. In astfel de cazuri se
nregistreaz spectrul probei necunoscute pe aceeai plac spectral alturi de spectrul de emisie a fierului
(sau a unui al element de referin - avnd spectrul de emisie bine cunoscut). Cu ajutorul spectrului
obinut n arc electric a fierului i utiliznd cataloagele cu liniile cele mai sensibile ale elementelor, se
identific la spectroproiector liniile spectrale ale diferitelor elemente prezente n prob. Identificarea se
face ncepnd cu liniile cele mai intense. Pentru siguran este necesar s se identifice ct mai multe linii
care aparin fiecrui element, pentru a nltura eventualele erori determinate de suprapunerea peste
aceste linii, a liniilor altui element.
B. Cazul cnd se cunoate compoziia chimic a probei. n cazul cnd proba de analizat este
cunoscut descifrarea spectrului de emisie este uurat mult dac sub spectrul probei se nregistreaz
spectrele elementelor presupuse a fi prezente. In acest scop se pot utiliza combinaii ale acestor elemente
nu de puritate spectral ci de puritate analitic. Descifrarea spectrelor este mai comod dac se utilizeaz
diafragma Hartonann, care permite nregistrarea ctorva spectre succesive fr micarea plcii spectrale.
Prezena sau absena liniilor celor mai intense ale elementului cutat, prin observarea spectrului astfel
obinut.

Observatii
1. Cele mai multe probe de roci si soluri conin minerale care au o concentraie suficient de mare de fier,
pentru a produce multe dintre liniile fierului. De aceea nu este necesar spectrografierea separat a
spectrului fierului.
2. In afara liniilor fierului se pot utiliza liniile spectrale ale altor elemente care pot fi recunoscute uor i
relativ rapid: Ca; Mn; Mg; Ti etc.
3. Valoarea spectrului fierului emis de proba nsi este avantajoas, deoarece n cursul analizei placa
spectral este deplasat continuu sau la anumite intervale. Este aproape imposibil s se utilizeze un
spectru de referin al fierului pentru a msura liniile care apar n diferite spectre necesare, deoarece
acestea nu se suprapun.

VI.1-4.2. Aparatura i modul de lucru

In analiza spectrografic calitativ se pot utiliza pentru identificarea elementelor din proba de
analizat spectroproiectorul (proiectorul de spectre) i comparatorul Abbe. Informaii privind prezena sau
absena unor elemente n proba de analizat se pot obine prin observarea atent a culorii arcului electric i
a caracteristicilor arderii probei n cursul efecturii analizei.

10
VI.1-4.2.A. Proiectorul de spectre

Aparatul realizeaz o mrire de 20:1 a spectrului nregistrat pe o plac fotografic, fiind utilizat n
analiza spectrografic calitativ i n cea semicantitativ. Avnd la dispoziie imaginea mrit a spectrului
de emisie, identificarea liniilor spectrale i determinrile semicantitative se realizeaz foarte uor prin
compararea spectrului analizat cu spectrele unor probe etalon (avnd compoziii cunoscute), sau cu un
atlas de spectre avnd nregistrate spectrele la acelai ordin de mrime i fr aberaii cromatice sau de
sfericitate. Aparatul este prevzut cu un dispozitiv micrometric de micare pentru suportul plcii n plan
orizontal dup dou direcii, care permite deplasarea uoar de la o linie la alta a unui spectru, sau de la
un spectru la altul pe placa spectral. De asemenea, aparatul este prevzut cu un sistem de marcare a
liniilor spectrale pe placa, linii care ulterior sunt utilizate la determinrile cantitative.


Figura 4. Fil din atlasul de spectre.

Variante de lucru: (1) se identific n spectrul probei fiecare linie spectral; (2) se caut n spectrul
probei numai liniile anumitor elemente.
Modul de lucru. Se alege din atlasul de spectre foaia cu domeniul de lungimi de und n care este
prezent linia spectral analizat i apoi se fixeaz foia atlasului pe platanul de lucru a
spectroproiectorului. Pe fiecare foaie de atlas este fotocopiat spectrul de referin i are marcate
principalele linii ale elementelor care emit n acea regiune spectral (figura 4). Se proiecteaz spectrul de
pe placa spectral pe foaia de atlas i se suprapun spectrele de referin, cel de pe foaie cu cel proiectat,
cu ct mai mult acuratee. Pentru o identificare mai uoar se fixeaz linia spectral cutat pe marcajul
liniar rou de pe platan. Manipulnd butoanele de deplasare a suportului plcii spectrale se caut linia n
spectrul de referin i se citete pe scala lungimilor de und, valoarea la care apare aceasta. Valoarea
astfel determinat se utilizeaz la identificarea elementelor cu ajutorul unor cataloage spectrale.

VI.1-4.2.A. Comparatorul Abbe

Aparatul este format dintr-o tblie de oel, care poart n stnga obiectul de msurat (placa
spectral, film fotografic etc.), iar n dreapta etalonul de sticl cu o divizare de precizie de 200 mm
lungime. Deasupra obiectului de msurat este plasat microscopul de reglare, iar deasupra etalonului este
plasat microscopul de msur. Ambele microscoape sunt susinute de un suport puternic, construit din
acelai material ca i tblia mesei. Oelul din care este confecionat suportul i tblia aparatului are
aproximativ acelai coeficient de dilatare termic ca i sticla din care este construit etalonul. Suportul

11
aparatului este prevzut cu o manta de protecie (o acoperire polimeric) contra radiaiei termice. Tblia
mesei se poate mica manual dup slbirea urubului-clem de blocare plasat sub microscopul de msur,
n direcia de msurare. Aceasta gliseaz uor i uniform deasupra suportului de oel pe un sistem de
lagre sferice. Dup blocarea urubului-clem, se poate face reglajul fin i exact al unei poziii de
msurare cu ajutorului unui urub fin, plasat n dreapta tbliei de oel. Deplasarea fin total a mesei este
de 9 mm. Pentru deplasarea planului mesei perpendicular pe direcia de msurare se utilizeaz un urub
situat n stnga tbliei de oel. Obiectul de msurat este sprijinit pe tblia mesei de o in care poate fi
deplasat n adncime cu un urub dinat i a unei cremaliere. Deplasarea total este de aproximativ 70
mm. Cu un urub-clem ina este prins fix. Obiectul de msurat poate avea o lungime maxima de 24 cm.
Obiectul de msurat este fixat pe tblia de otel cu o clema elastica. Dup mrimea i poziia
acestuia, clema se poate introduce in diferite poziii (orificii) ale mesei. Obiectele mai nguste de 24 mm
trebuie s fie susinute cu ajutorul unor placi de sticl aezate deasupra deschiderii mesei. O comparare
exact ntre poriunea msurat i etalonul de msur din aparat presupune ca ambele s fie situate la
aceeai nlime. Poriunea de msurat trebuie s fie plasat la cca 14 mm deasupra tbliei de oel i
paralel cu aceasta. Sub masa de oel a aparatului, la ambele microscoape sunt montate dou oglinzi care
permit iluminarea cmpului vizual a microscopului. La msurarea unui obiect netransparent (opac),
iluminarea se va face perpendicular pe acesta i nu oblic (iluminare unilateral) sau din flanc.
Microscopul de msur (microscopul spiral) - permite proiectarea simultan n cmpul ocularului a
trei imagini: (a) imaginea mrit a diviziunilor i cifrele etalonului de msur din sticl; (b) o plac ocular
divizat cu un calculator numeric orizontal; (c) o plac ce se poate roti din exterior care are o spiral dubl
de tip Arhimede i un cerc divizat figura 5. Diviziunea liniar care se poate vedea n interiorul
calculatorului numeric indic, prin cifra sa milimetrii ntregi, iar prin poziia sa fa de cifrele calculatorului,
zecimile de milimetru. Mrirea total a microscopului de msur este de 35X.
La baza funcionrii comparatorului Abbe st principiul de comparaie a lui Abbe, conform cruia:
poriunea msurat i cea de comparaie trebuie s fie dispuse liniar n sensul de msurare, pe un suport
comun, la aceeai nlime. Avantajele acestei dispuneri constau n faptul c abaterile mici de la
conducerea n linie dreapt a micrii mesei nu influeneaz dect ntr-o msur foarte mic precizia
msurtorii, n raport cu poriunile de comparaie.



Modul de lucru:
1. Se fixeaz placa spectral sub microscopul de msur, plasat n partea stng a tbliei de oel a
mesei aparatului: (a) placa spectral se aeaz pe platina de ghidaj i se fixeaz cu clemele cu resort; (b)
placa spectral se aeaz astfel nct scara i distana de msurat s se gseasc pe aceeai direcie i la
aceeai nlime; (c) placa spectral se fixeaz astfel nct la deplasarea liniar (longitudinal) a platinei
spectrul sau s nu se deplaseze pe direcia vertical a microscopului de msur; (d) liniile spectrale
trebuie s fie paralele cu firele din cmpul vizual; dac este nevoie se acioneaz urubul de reglaj i se
modific uor nclinarea firelor fa de liniile spectrale; (e) se focalizeaz microscopul de msur pe liniile
spectrale cu ajutorul rotiei plasat pe microscopul de msur care acioneaz asupra mecanismului cu
clemaliera.
Figura 4. Modul de citire a indicaiilor
din microscopul de msur la
comparatorul Abbe.

12
2. Determinarea constantei aparatului:
a) se aleg dou linii cu lungimi de und diferite de pe spectrul de referin; de obicei se alege
tripletul fierului: 3100,666 ; 3100,304 i 3099,971 ;
b) se msoar pentru linia spectral de la 3100,666 i linia de la 3099,971 , astfel:
- se fixeaz linia spectral ntre firele reticulare ale microscopului de msur, exact la jumtatea
distanei dintre acestea (figura 4);
- se privete n microscopul din dreapta i se fixeaz firul reticular ntre dou repere circulare (cele
mai apropiate de firul reticular vertical), la mijlocul distanei dintre ele;
- se citete numrul de milimetri corespunztori liniei spectrale n microscopul din dreapta; naintea
virgulei (partea ntreag) - indicaia dat de vernierul vertical; prima zecimal - prima cifr de pe scala
orizontal citit n stnga vernierului vertical; a doua i a treia zecimal - se citesc pe scala gradat din
stnga cmpului vizual a microscopului de msur; a patra zecimal - se citete (se aproximeaz)
pe scala gradat din stnga cmpului vizual a microscopului de msur.
c) se calculeaz diferenele i l:

1
= 3100,666 A . . . . . . . l
1
= 35,1248 mm

2
= 3099,971 A . . . . . . . l
2
= 35,2268 mm
--------------------------------------------------------------------
= 3100,6660 - 3099,9710 = 0,6950
l = 35,1248 - 35,2268 = 0,1020 mm
d) se calculeaz constanta aparatului - raportul dintre i l calculate anterior:
K = / l = 0,6950 / 0,1020 = 6,8137 [/mm]
3. Determinarea lungimilor de und pentru liniile spectrale necunoscute:
a) se fixeaz firul reticular al microscopului din dreapta tbliei de oel a aparatului pe linia spectral
care se citete;
b) se citete distana (n mm) a acestei linii spectrale pe plac: ex. l
x
= 35,0186 mm
c) se calculeaz diferena l
x
fa de unda dintre liniile spectrale cunoscute din spectrul de referin;
de ex., dac se msoar distana fa de linia de la 3100,666 din spectrul fierului: l
x
= 35,1248 -
35,0186 = 0,1062 mm;
d) se multiplic valoarea diferenei l
x
cu valoarea constantei aparatului (determinat anterior):
Y
x
= K . l
x
= 6,81 . 0,1062 = 0,7223
e) se adun sau se scade valoarea lui Y
x
la valoarea lungimii de und a liniei de referin aleas:

x
= 3100,666 + 0,7223 = 3101,3892
Valoarea astfel determinat reprezint lungimea de und a liniei spectrale msurate.
4. Se caut n cataloagele spectrale valoarea cea mai apropiat valorii
x
astfel determinat i pe baza
acesteia se identific elementul chimic cruia i aparine aceasta; de ex., = 3101,392 ; corespunde la
elementul Cs (i =10).
Datele experimentale se nregistreaz n tabelul 3.

Tabelul 3. Rezultatele experimentale obinute la analiza spectrografic calitativ.
Referina: tripletul fierului:

1(Fe)
= 3100,666 ; l
1
= mm; K = / l = [ / mm]

2(Fe)
= 3100,304 ;

3(Fe)
= 3099,971 ; l
2
= mm
-----------------------------------------
= ; l = mm

Nr. plac spectral:
Nr. spectru:
Nr.
det.
l
x
,
mm
l
x
, mm Y
x
, mm
x
, Element identificat
1.
2.
3.
4.
5.


13
VI.1-5. ANALIZA SPECTROGRAFICA SEMICANTITATIVA

Deosebirea dintre analiza spectrografic semicantitativ i cea cantitativ este determinat n esen
de precizia rezultatelor. In cazul analizei semicantitative rezultatele determinrilor sunt indicate ntre dou
limite. Cu toate acestea, n foarte multe cazuri, precizia determinrilor este acceptabil; limitele
rezultatelor pot s varieze pn la un ordin de mrime, ns se pot obine i intervale mai nguste.
Metoda de analiz: procedee fotografice; sunt utilizate att n domeniul UV ct i n domeniul VIS.
Aparat spectral: spectrgraf cu reea plan P.G.S-2. Receptor spectral: placi spectrale cu sensibiliti
corespunztoare domeniului spectral n care se afl liniile analizate. Metode: (1) metoda comparrii; (2)
metoda perechilor omoloage; (3) metoda apariiei liniilor ultime (sensibile).

VI.1-5.1. Metoda comparrii

Pe aceeai plac spectral, n condiii identice, se nregistreaz spectrul unei probe de concentraie
cunoscut (etalon) i spectrul probei de analizat. Dup prelucrarea plcii se compar vizual nnegrirea
liniei spectrale a elementului din proba analizat cu nnegrirea aceleiai linii din etalon. In cazul cnd
concentraia elementului n etaloanele succesive nu variaz mai mult de trei ori, atunci exista totdeauna
dou etaloane ntre care s fie cuprins concentraia elementului din proba necunoscut. In acest mod se
poate stabili concentraia pn la un factor mai mic ca trei. Pentru a mri ncrederea n rezultat este
indicat s se fac compararea pe baza a 23 perechi analitice.
Aparatura - comparatorul de spectre (spectroproiectorul). Datele experimentale se nregistreaz n
tabelul 4.

Tabelul 4. nregistrarea rezultatelor experimentale la analiza spectrografic semicantitativ.
Nr. plac spectral:
Nr. spectru:
Element chimic , Concentraia, ppm






VI.1-5.2. Metoda perechilor omoloage

Se alege o pereche de linii spectrale care sunt omoloage ntre ele, adic raportul intensitilor acelor
linii, I
1
/I
2
, nu depind de condiiile de excitare i de proprietile spectrale ale plcii fotografice. O linie
spectral aparine rocii, sau elementului introdus special n proba (standard intern), iar a doua linie
spectral aparine elementului urmrit.
Aceasta este tot o metod de comparaie, ns, comparndu-se negririle perechilor omoloage se
elimin influenele variaiilor sursei de excitare. Criteriul de comparaie este urmtorul: la o anumit
concentraie n prob, negrirea liniei bazei este egal cu negrirea liniei omoloage a elementului urmrit.
Experimental s-au realizat tabele pe baza crora se pot realiza analizele semicantitative. Pentru a se
obine o precizie corespunztoare este necesar s fie reproduse exact condiiile experimentale n care au
fost stabilite egalitile de nnegrire prezentate n tabel: tipul spectrografului, regimul de funcionare a
sursei de excitare, forma i dimensiunile electrozilor etc.

VI.1-5.3. Metoda liniilor sensibile

n principiu, metoda const n utilizarea liniilor ultime ale elementelor. La nceput se nregistreaz
spectrele unui ir de etaloane n care concentraia elementului urmrit crete, de obicei, n progresie
geometric, cu o anumit raie. Pe baza acestor etaloane se stabilete la ce concentraie a elementului
devin vizibile (observabile) diferitele linii analitice ale acestuia. Pe baza etaloanelor se stabilete
concentraia elementului din prob.
O alt variant a acestei metode const n nregistrarea spectrului etaloanelor prin filtru cu 6 sau cu
10 trepte, sau folosind o alt metod de determinare a fluxului luminos ntr-un raport cunoscut. Pe baza

14
spectrelor obinute se poate stabili o coresponden ntre apariia liniilor ultime pentru o anumit treapt a
filtrului i o anumit concentraie. Analiza spectrului se face cel mai comod la spectroproiector. Este
necesar ca spectrul probei cu concentraie necunoscut s fie excitat i nregistrat n aceleai condiii ca i
etaloanele.

Bibliografie
Ahrens L.H., Taylor S.R. (1961). Spectrochemical Analysis. Addison-Wesley Publ. Comp., Inc.
Massachusetts - SUA, London - England.
Alexeevski E.V., Gol R.K., Musakin A.P. (1955). Analiza cantitativ. Ed. Tehnic, Bucureti.
Eliasevici M.A. (1966). Spectroscopia atomic i molecular. Ed. Acad. R.S.R., Bucureti.
Armeanu V. (1971). Analize fizico-chimice. Ed. Didactic i Pedagogic, Bucureti.
Clement R.E., Yang P.W. (2001). Environmental Analysis. Anal. Chem., 73, 2761-2790.
Damian Gh. (2003). Tehnici de analiz. Ed. Univ. De Nord, Baia Mare.
Demetrescu A., Tutoveanu A., Ionescu M. (1966). Analiza tehnic a minereurilor. Ed. Tehnic, Bucureti.
Gill R. (1997). Modern Analytical Geochemistry. An Introduction to Quantitative Analysis Techniques for
Earth, Environmental and Materials Scientists. Addison Wesley Longman Ltd., Essex, England.
Hargis L.G. (1988). Analytical Chemistry. Principles and Techniques. Pretince Hall, Englewood Cliff, New
Jersey.
Iorga N. (1985). Metode fizice de analiz a mineralelor i rocilor. Ed. Univ. Al.I.Cuza Iasi.
Jeffery P. (1983). Metode chimice de analiz a rocilor. Ed. Tehnic, Bucureti.
Smales A.A., Wager L.R. (eds.) (1960). Methods in Geochemistry, Interscience, New York.
Toggart J.E. (2002). Analytical Methods for chemical analysis of geologic and other materials.
U.S.Geological Survey Open-File Report 02-02230, ver. 5.0 [available online at URL
http://pubs.usgs.gov/of/2002/ofr-02-0223].