Sunteți pe pagina 1din 40

7

CAROTAJUL ELECTRIC FOCALIZAT DE TIP LATEROLOG 7.1. Domeniile de aplicabilitate ale carotajului electric focalizat de tip laterolog
n investigarea geofizic a rocilor traversate de sonde, unul din obiectivele principale l reprezint determinarea saturaiei n ap, respectiv hidrocarburi pentru care este necesar cunoaterea rezistivitii reale R . Cu ajutorul dispozitivelor nefocalizate, poteniale sau gradiente, rezistivitatea aparent msurat A difer n majoritatea cazurilor de rezistivitatea real a rocilor investigate. Din cauza influenei simultane a coloanei de noroi i a formaiunilor adiacente, forma cmpului electric produs de electrozii de curent A i B ai dispozitivului de investigare sufer deformri importante n dreptul stratului investigat, fa de forma ideal n mediul omogen. O serie de factori de influen asupra cmpului dispozitivelor nefocalizate este analizat mai jos. a) n condiiile sondelor spate cu fluide de foraj de rezistivitate mic (noroaie mineralizate), coloana de noroi are un efect de scurtcircuitare asupra liniilor de curent ale cmpului, impunnd un traseu preferenial al acestora pe un drum de minim rezisten (fig.7.1a) b) n cazul unor strate de rezistivitate mare, mrginite de strate adiacente de rezistivitate mic, liniile de curent au de asemenea un traseu preferenial nspre acestea din urm (fig.7.1c). n cazul a), din cauza deformrii cmpului electric creat de electrodul de curent A, curbele de rezistivitate aparent nregistrate cu dispozitiv potenial AM i cu dispozitiv gradient M0 vor fi foarte aplatizate, prezentnd maxime a cror valoare este mult mai mic dect rezistivitatea real a stratului R (fig.7.1b). Acelai lucru se observ i n cazul c), n care AM << R i M0 << R (fig.7.1d)

CAROTAJUL ELECTRIC FOCALIZAT DE TIP LATEROLOG

c) Pentru determinarea rezistivitii reale a rocilor este necesar investigarea zonei necontaminate, depindu-se zona de invazie. n acest caz sunt necesare dispozitive cu raz de investigare mare, deci cu distane mari ntre electrozii de msur i curent, ceea ce are ca efect, n special n cazul dispozitivelor gradiente, scderea puterii de rezoluie vertical.

Fig.7.1.Distribua cmpului elecric i forma de prezentare a curbelor de rezistivitate


a) Efectul de scurtcircuitare prin coloana de noroi la dispozitivele convenionale: b) diagrafia rezistivitii aparente; c) efectul de mprtiere dat de stratele adiacente; d) diagrafia rezistivitii aparente [5].

Aceste inconveniente sunt rezolvate cu ajutorul dispozitivelor de investigare focalizate de tip Laterolog la care curentul de investigare este focalizat n direcia stratului, astfel nct acesta s ptrund n strat, perpendicular pe pereii gurii de sond. Domeniile de aplicabilitate ale dispozitivelor de tip laterolog sunt: a) n formaiuni traversate de sonde cu fluide mineralizate, putnd merge pn la saturaie sau n formaiuni cu rezistivitate mare, n care 170

CAROTAJUL ELECTRIC FOCALIZAT DE TIP LATEROLOG

exist un puternic contrast ntre rezistivitatea real a formaiunii i rezistivitatea fluidului de foraj:
R 50 n

(7.1)

b) n formaiuni n care rezistivitatea subzonei splate este aproximativ egal cu rezistivitatea real:
io R

(7.2)

c) n formaiuni n care raportul dintre rezistivitatea filtratului de noroi fn i rezistivitatea apei de zcmnt ai are valoarea:
fn < 4. ai

(7.3)

7.2. Macrodispozitive focalizate de tip laterolog


Exist mai multe tipuri de dispozitive focalizate i anume: 1.Laterolog-7- dispozitivul focalizat cu apte electrozi punctiformi; 2. Laterolog-3- dispozitivul ecranat cu trei electrozi alungii; 3. Dual laterolog- DLL; 4. SFL- dispozitivul cu focalizare sferic, (The Spherically Focused Log)

7.2.1. Dispozitivul Laterolog-7 Dispozitivul laterolog cu apte electrozi punctiformi este prezentat n figura 7.2, cu urmtoarea distribuie a electrozilor: - un electrod de curent central A0; - doi electrozi de curent de focalizare A1 i A2 aezai la extremele dispozitivului, simetric fa de electrodul central A0 ; - dou perechi de electrozi de msur M1N1 i, respectiv M2N2, dispui de asemenea simetric fa de A0.

171

CAROTAJUL ELECTRIC FOCALIZAT DE TIP LATEROLOG

Electrozii simetrici sunt scurtcircuitai ntre ei i anume: A1 cu A2, M1 cu M2 i N1 cu N2, constituind astfel un dispozitiv simetric, cu centrul de simetrie n A0. Prin electrodul A0 este transmis n mediul nconjurtor un curent de intensitate I0 , denumit curent de msurare sau curent principal, iar prin electrozii A1 i A2 un curent I1 denumit curent de focalizare (prin fiecare din cei doi electrozi este transmis jumtate din curentul total, adic I1/2).

Fig.7.2. Dispozitivul laterolog 7 [ 5 ].

Dispozitivul de investigaie este completat cu electrozii de curent de ntoarcere B0 i B1 aflai la distan infinit de dispozitiv, de obicei la suprafa i un electrod de referin N0, pentru msurarea potenialelor, aflat de obicei, de asemenea, la suprafa. Fiecare din curenii emii de electrozii A0, respectiv A1 i A2 creeaz cte un cmp electric n mediul nconjurtor i anume: curentul de 172

CAROTAJUL ELECTRIC FOCALIZAT DE TIP LATEROLOG

msurare I0 creeaz un cmp de msurare, iar curentul de focalizare I1 un cmp de focalizare. Cmpul de focalizare este divizat n dou pri care "mbrac" cmpul de msurare, determininndu-l pe acesta s ia forma unei "pnze de curent" dirijate perpendicular pe axa dispozitivului i cuprins ntre dou plane paralele care trec prin punctele O1 i O2 dispuse la mijlocul distanei dintre electrozii M1 i N1, respectiv M2 i N2. Curentul de focalizare I1 este reglat n mod automat de un "sistem de focalizare", astfel nct n orice moment diferena de potenial dintre perechile de electrozi de msur M1N1, respectiv M2N2 s fie nul, adic:
VMN = VM1 V N1 = VM 2 V N 2 = 0 (7.4)

Relaia (7.4) reprezint condiia de focalizare i nseamn c potenialul electrodului M1 este n permanen egal cu potenialul electrodului N1 i potenialul electrodului M2 este egal cu potenialul electrodului N2 (potenialele respective considerndu-se fa de electrodul de la infinit). ndeplinindu-se condiia de mai sus i avnd n vedere c faza (sensul) curentului I0, este n permanen egal cu faza (sensul) curentului I1, liniile de curent adiacente ale cmpurilor de msurare i de focalizare se resping - la nivelul planelor O1 i O2, astfel c liniile de curent ale cmpului de msurare sunt dirijate perpendicular pe axa dispozitivului, deci spre interiorul stratului investigat. Suprafeele echipoteniale V = const. constituie suprafee sferice n apropierea electrozilor de curent A0 , A1 i A2. La distane mai mari sprafeele echipoteniale se unesc sub forma unor "arahide", lund n final, forma de elipsoid de revoluie.

Rspunsul dispozitivului Laterolog 7 n mediul omogen i izotrop


Pentru stabilirea relaiilor analitice de determinarea diferenei de potenial VMN i a condiiei de focalizare (7.4) pentru mediul omogen i izotrop, se pornete de la observaia c dispozitivul focalizat este compus dintr-o serie de dispozitive poteniale AM suprapuse. Potenialele n punctele M1, M2, N1 i N2 se pot determina pe baza superpoziiei strilor

173

CAROTAJUL ELECTRIC FOCALIZAT DE TIP LATEROLOG

electrice, sursele de curent fiind: electrodul A0 alimentat cu un curentul de intensitate I0 i electrozii A1 i A2 alimentai de curenii cu intensitate Potenialul n punctele M1,M2 este:
VM = VM1 = VM2 =
I1 . 2

I0 I1 I1 A M + 2A M + 2 A M 1 1 2 1 0 1

(7.5)

(v.ec. (5.13)), iar n punctele N1,N2:


VN = VN1 = VN2 =

I0 I1 I1 + + A N 2A N 2A N 1 1 2 1 0 1

(7.6)
I1 2I 0

Din condiia de focalizare (7.4) se obine raportul curenilor necesar pentru meninerea configuraiei cmpului focalizat:
n= I1 A 1M1 A 1N1 A 2M1 A 2N1 = 2I 0 A 0M1 A 0N1 A 2M1 A 2N1 A 1M1 A 1N1

(7.7)

Potenialul electrozilor M i N este egal cu:


VM = VN = I0 1 A 1A 2 +n 4 A 0M1 A 1M1 A 2M1

(7.8)

Ecuaia (7.8) permite s se determinare rezistivitatea mediului investigat, daca se cunosc curentul I0 i se msoar potenialul VM sau VN n raport cu electrodul de referin N0, aflat teoretic la infinit:
LL =
4 1 A 0M1 +n A 1A 2 A 1M1 A 2M1

VM V = K LL M I0 I0

(7.9)

unde KLL este coeficientul (constanta) dispozitivului focalizat:


K LL = 4 A 1A 2 1 +n A 0M1 A 1M1 A 2M1

(7.10)

174

CAROTAJUL ELECTRIC FOCALIZAT DE TIP LATEROLOG

Rezistivitatea msurat de dispozitivul laterolog, LL , reprezint o valoare mediat de-a lungul distanei L = 010 2 , echivalent cu grosimea fascicolului de curent I0, denumit lungimea diapozitivului. Un alt parametru important este raportul de extindere sau modulul de focalizare. El msoar gradul n care se realizeaz focalizarea pnzei de curent I0 i este dat de relaia:
s= A 1A 2 010 2 = LE L

(7.11)

unde LE = A 1A 2 (distana dintre electrozii de focalizare) reprezint distana (lungimea) de ecranare. Din ecuaiile (7.7) i (7.11) se poate deduce raportul curenilor n funcie de valoarea modulului de focalizare:
I s2 1 n= 1 = , 2I 0 4s

(7.12)

care arat c, la creterea raportului de extindere, curentul de focalizare crete, n mediul omogen, cu puterea a 3-a a lui s.

175

CAROTAJUL ELECTRIC FOCALIZAT DE TIP LATEROLOG

Fig.7.3. Liniile de contur ale fascicolului de curent de msur pentru dispozitivul focalizat [ 5 ].

Tipuri de dispozitive focalizate Laterolog-7


n figura 7.3 sunt reprezentate liniile de contur, respectiv formele fascicolelor de curent, pentru diferitele tipuri de dispozitive focalizate enumerate mai jos. a) Dispozitivul cu raz de investigaie mic (1) are modulul de focalizare s < 2,5 (L = 0,6 m, LE = 1,2 m i s = 2,0), raportul curenilor 2n = I 1 I 0 = 2,26 i deschiderea fascicolului de curent I0, respectiv 2 = 34 0 . Se observ c fascicolul de curent I0 ajunge la o lime egal cu L = 010 2 la o distan radial r = L, dup care liniile de contur diverg mai departe, tinznd ctre asimptotele cu deschiderea de 34 0 , astfel nct dispozitivul msoar, n special, rezistivitatea mediului apropiat, cuprins n zona r (0,1 2)L . Prin introducerea a doi electrozi de ntoarcere (scurtcircuitai), 176

CAROTAJUL ELECTRIC FOCALIZAT DE TIP LATEROLOG

B1 i B2, n apropierea electrozilor A1 i A2, pentru curentul de focalizare se obine dispozitivul pseudofocalizat (l') denumit i pseudolaterolog, sau laterolog-8, respectiv laterolog cu investigare superficial - LLs, la care fascicolul I0 diverge rapid cu distana radial, astfel nct adncimea de investigaie este limitat la r [0, L], deci la o distan corespunztoare cu aproximativ o lungime de dispozitiv. b) Dispozitivul cu raz de investigaie optim (2) are modulul de focalizare s = 2,5 (n exemplul dat, pentru comparaie L=0,6m i LE=1,5m), raportul curenilor 2n =
2 3

I1 = 5,52 i deschiderea fascicolului I0 este 2 = 18 0 . I0

Se observ c fascicolul I0 ajunge la o lime apropiat de L = 010 2 la o distan r = L , i se menine aproximativ constant pn la
r (3 4)L , dup care se nscrie pe asimptotele de 18, liniile de curent sunt

uor divergente. Acest dispozitiv creeaz un cmp de msur cu o configuraie apropiat de cea ideal, n care liniile de contur ale lui I0 ar trebui s fie paralele cu axa r (de unde i denumirea de dispozitiv optimal). Evident, c la acest dispozitiv adncimea de investigaie este mai mare, msurndu-se rezistivitatea pn la cca. r [0,3 4]L . Dispozitivul optimal utilizat n practic are L = 0,8 m i LE = 2,5 m. c) Dispozitivul cu raz de investigaie mare (3) are modulul de focalizare s > 2,5 (L = 0,6 m; LE = 3 m i s = 5,0),, raportul curenilor
2n =
I1 = 57,6 i deschiderea fascicolului I0 este 2 = 2 0 . Se observ c I0

fascicolul de curent este divergent iniial pn la limea de aproximativ 2/3 L, dup care concentreaz la circa 1/3 L, tinznd la distane radiale mai mari spre asimptotele de 2. n felul acesta se obine o adncime de investigaie mult mai mare, dar datorit concentrrii fascicolului, rezistena electrodului A0 este mai mare, afectnd astfel i rezistivitatea aparent determinat de dispozitiv. Tot n figura 7.4 este reprezentat un dispozitiv (4) cu dou perechi de electrozi de focalizare A1A2 i, respectiv A1 A2 (scurtcircuitai cte doi), care realizeaz o mediere a caracteristicilor fascicolului de curent I0 corespunztoare dispozitivelor (1) i (3), obinndu-se astfel o caracteristic apropiat celei optimale. Acest dispozitiv este cunoscut sub numele de dispozitiv focalizat de adncime (de profunzime ) sau LLa, n varianta n care electrozii A1i A1 sunt de form alungit cilindric (laterolog-9). 177

CAROTAJUL ELECTRIC FOCALIZAT DE TIP LATEROLOG

7.2.2. Dispozitivul Laterolog 3


Dispozitivul ecranat laterolog 3 este un dispozitiv compus din trei electrozi cilindrici (fig.7.4.a), astfel: - un electrod de curent A 0 , scurt, n partea central a dispozitivului, - doi electrozi de curent, A1 i A 2 , alungii, de o parte i de alta a electrodului A 0 , scurtcircuitai ntre ei, denumii electrozi de ecranare sau "de gard " Electrodul central A 0 este alimentat cu un curent I0 numit i curent principal sau curent de msur, iar electrozii A1 i A 2 sunt alimentai cu un curent de focalizare I1. Curentul de focalizare este reglat n mod automat i continuu n aa fel nct electrozii A1 i A 2 de ecranare i electrodul de curent A 0 s fie meninui n permanen la un potenial electric egal unul fa de cellalt. Se formeaz trei cmpuri electrice, dou de focalizare date de electrozii A1 i A 2 i un cmp principal dat de electrodul A 0 . Liniile de curent care ies din cei trei electrozi sunt perpendiculare pe suprafeele exterioare ale acestora, fiind deformate numai la capetele electrozilor de focalizare. Deoarece att curentul principal ct i curenii de focalizare au aceiai polaritate, sunt n permanen n faz, liniile de curent care ies din electrodul central A 0 , sunt paralele i focalizate perpendicular pe peretele gurii de sond. n acest fel se realizeaz focalizarea cmpului de msur.

Fig.7.4. Dispozitivul laterolog 3 (a) electrod elipsoid alungit (b) [5].

178

CAROTAJUL ELECTRIC FOCALIZAT DE TIP LATEROLOG

Tipuri de dispozitive ecranate - laterolog 3


Determinarea rezistivitii cu ajutorul dispozitivelor ecranate poate fi efectuat prin dou procedee, care definesc i tipurile de astfel de dispozitive. a) Dispozitivul ecranat de curent constant. Se msoar potenialul electrodului A0 fa de electrodul de referin N0, aflat teoretic la infinit, curentul I0 fiind meninut constant; rezistivitatea aparent determinat n acest caz va fi egal cu:
LL 3 = K LL 3
V0 , n m I0

(7.13)

unde V0 este potenialul electrodului A0 fa de infinit (electrodul N0), n mV; I0 - intensitatea curentului prin electrodul A0, n mA; K LL 3 - constanta de dispozitiv, care depinde exclusiv de dimensiunile dispozitivului, respectiv: l 0 - lungimea electrodului ; L - lungimea total a dispozitivului i d - diametrul dispozitivului. b) Dispozitivul ecranat cu potenial constant. Se msoar intensitatea curentului I0 prin electrodul A0, potenialul acestuia fa de infinit fiind meninut constant; n acest caz se determina o conductivitate aparent:
LL 3 =
1 K LL 3 I0 V0

(7.14)

Pentru determinarea rezistivitii aparente este necesar s se efectueze transformarea:


LL 3 =
1

LL 3

(7.15)

179

CAROTAJUL ELECTRIC FOCALIZAT DE TIP LATEROLOG

7.2.3. Dispozitivul focalizat - Dual Laterolog


Dispozitivul dual laterolog reprezint un dispozitiv focalizat compus dintr-un aranjament de nou electrozi, constituind de fapt dou dispozitive focalizate (fig. 7.5): a) laterolog de investigare adnc - LLa; b) laterolog de investigare superficial LLs. Electrozii au urmtoarele funcii: - Ao - electrod de curent pentru cmpul de msur focalizat; - M1, M1', respectiv M2, M2' - perechi de electrozi de sesizare (de msur) pentru asigurarea condiiei de focalizare i msurarea parametrului rezistivitate aparent - A1 i A1' - perechi de electrozi de curent pentru cmpul de focalizare; - A2 i A2' - perechi de electrozi de curent, cilindrici alungii, pentru creterea intensitii curentului de focalizare (pentru dispozitivul cu investigare adnc) i, respectiv pentru ntoarcerea curentului de focalizare (n cazul dispozitivului de investigare superficial). Cele dou dispozitive creeaz simultan cte un cmp electric alternativ focalizat - pe dou frecvene diferite, emise de electrodul de curent central (A0), dirijate perpendicular pe pereii gurii de sond, astfel nct s ptrund n formaia investigat, independent de contrastele de rezistivitate existente n raport cu fluidul de foraj sau cu formaiunile adiacente. Electrodul central A0 , este alimentat de un curent I0 , numit curent principal sau curent de msur i creaz cmpul de msur. Forma "focalizat" a cmpului de msur este meninut cu ajutorul cmpului de curent de focalizare. Dup modul de constituire a acestui cmp se asigur cele dou tipuri de investigare: a) investigare superficial - liniile de curent ale cmpului de focalizare sunt emise de electrozii A1 i A1' (alimentai de un curent de focalizare +I1 , cu aceeai polaritate cu I0, sau n faz cu I0) i se ntorc la electrozii A2 i A2' ( care sunt alimentai cu un curent de focalizare -I1) constituind un dispozitiv de tip "pseudolaterolog" sau "laterolog-9" (v. fig.7.3); b) investigare adnc cei patru electrozi de focalizare sunt alimentai cu un curent de focalizare I1 cu aceeai polaritate cu I0 ; liniile de curent ale cmpului de focalizare fiind emise de electrozii A1 i A1', n 180

CAROTAJUL ELECTRIC FOCALIZAT DE TIP LATEROLOG

paralel cu electrozii A2 i A2', care fiind cilindrici alungii, contribuie la creterea intensitii curentului de focalizare, avnd n acelai timp rolul de electrozi de ecranare (similari dispozitivului LL3); liniile de curent se ntorc la armatura cablului geofizic, care constituie electrodul de ntoarcere B0 aflat teoretic la infinit. n modul acesta, dispozitivele de tip laterolog obinute au rapoarte de extindere diferite: s<2,5 pentru dispozitivul de investigare adnc LLa i s>2,5 pentru dispozitivul de investigare superficial (v.fig.7.3). Pentru determinarea rezistivitii aparente indicate de fiecare dispozitiv se msoar diferena de potenial V dintre electrozii M1, sau M1' i electrodul de referin N0 aflat la infinit , utilizndu-se relaia bine cunoscut:
LLa = K LLa
V I0

(7.16)

i respectiv

Fig.7.5. Dispozitivul Dual Laterolog: (a) laterolog de investigare adnc - LLA; (b) laterolog de investigare superficial LLS (pseudolaterolog) [ 49 ].

181

CAROTAJUL ELECTRIC FOCALIZAT DE TIP LATEROLOG

LLs = K LLs

V , I0

(7.17)

unde K LLa i K LLs reprezint constantele dispozitivului determinai conform relaiei (7.10). Valorile V i I0 sunt msurate separat n aparatura de suprafa, asigurnd o cretere substanial a gamei dinamice a rezistivitii aparente determinate: A 0,2L 4 10 4 m . Ca la toate carotajele focalizate de tip laterolog punctul de msur este electrodul central A0. Rezoluia vertical a dispozitivului DLL, este de 24 in. Rezistivitatea aparent determinat de dispozitiv poat fi scris sub forma:

LL 3 =

gn g g n + i i + R R = J n n + J i i + JR R g g g

(7.18)

unde J n , J i i J R reprezint factorii pseudogeometrici pariali relativi i determin contribuia relativ a fiecrei zone asupra rspunsului dispozitivului, a cror sum este unitar:
Jn + Ji + JR = 1

(7.19)

Se poate arta c relaia (7.18) poate fi extins i pentru dispozitivul focalizat (laterolog-7), rezistivitatea aparent determinat de dispozitiv fiind exprimat tot n funcie de factorii pseudo-geometrici pariali :
LL 7 = J n n + J i i + J R R

(7.20)

Pentru J n << J i i respectiv J n << J R , suma factorilor pseudogeometrici ai zonei de invazie i a celei necontaminate, ecuaia (7.19) devine:
Ji + JR 1

(7.21)

de unde rezult:
J R = 1 J i

(7.22)

182

CAROTAJUL ELECTRIC FOCALIZAT DE TIP LATEROLOG

Rezistivitatea aparent msurat de dispozitivele ecranate i focalizate poate fi scris: - pentru dispozitiv ecranat (laterolog-3):
LL 3 = J i ,LL 3 i 0 + (1 J i ,LL 3 ) R

(7.23)

- pentru dispozitivul focalizat (laterolog-7):


LL 7 = J i ,LL 7 i 0 + (1 J i ,LL 7 ) R

(7.24)

unde J i , LL 3 i J i ,LL 7 sunt factorii pseudo-geometrici pentru zona de invazie, determinai n funcie de diametrul zonei de invazie (fig.7.6), pentru diferitele tipuri de dispozitive (inclusiv dispozitivul microlaterolog -MLL, laterologul de investigare superficial - LLs i laterologul de investigare adnc - LLa).

Fig.7.6. Factorii pseudogeometrici pentru dispozitive ecranate i focalizate [ 46 ]

183

CAROTAJUL ELECTRIC FOCALIZAT DE TIP LATEROLOG

7.3. Forma de prezentare a diagrafiei electrice focalizate


Investigarea prin metoda curenilor focalizai a formaiunilor geologice traversate de sonde se efectueaz - practic - cu ajutorul urmtoarelor dispozitive de sonde:

Dispozitive de sond simple - de tip laterolog - 3 sau laterolog - 7


Forma de prezentare a diagrafiei pentru o succesiune teoretic este prezentat n figura 7.7. b. Curba de rezistivitate cu dispozitivele ecranate (LL3) - LL 3 , sau focalizate (LL7) - LL 7 este nregistrat n scar liniar (b) , n scara de msur n = 2 m/div. (0 20 m /10 div.) pe o tras de 10 sau 20 diviziuni, putnd fi utilizat i o scar de reluare 1/10 pentru rezistiviti mai mari ( n = 20 m/div. , respectiv 0 200 m /10 div. ). Pentru a cuprinde o gam dinamic mai mare de valori ale rezistivitii, se utilizeaz scara logaritmic, ntre valorile 0,2 - 2000 m. Diagrafia mai poate fi asociat i de curb de potenial spontan ( E PS la mineralizaii mai mici ale fluidului de foraj), sau o curb gama natural. Dispozitivul combinat dual laterolog + microlaterolog (DLL + MLL). Este compus dintr-un sistem dual laterolog - DLL combinat cu un dispozitiv microlaterolog - MLL. Forma de prezentare a diagrafiei, n aceeai seciune geologic este redat n figura 7.7.c i se compune din urmtoarele curbe: (1): LLa - curba de rezistivitate cu dispozitivul laterolog de investigare adnc - LLa; (2): LLs - curba de rezistivitate cu dispozitivul laterolog de investigare superficial - LLs; (3): MLL curba de rezistivitate cu dispozitivul microfocalizat (microlaterolog - MLL); (4): CAV - o curb de cavernometrie obinut cu dispozitivul MLL. Curbele de rezistivitate sunt nregistrate n scar logaritmic ntre valorile 0,2-2000m, asigurnd o gam dinamic mrit a valorilor nregistrate. Curba de cavernometrie este nregistrat n scar linear ntre valorile 5in - 15in (= 0,127 - 0,381m).

184

CAROTAJUL ELECTRIC FOCALIZAT DE TIP LATEROLOG

Fig.7.7. Forma de prezentare a diagrafiei electrice focalizate: a) coloana litologic; b) curba de rezistivitate LL3 (sau LL7); c) diagrafia dual laterolog + microlaterolog (DLL+MLL). [ 5 ]

185

CAROTAJUL ELECTRIC FOCALIZAT DE TIP LATEROLOG

7.4. Interpretarea i aplicaiile diagrafiei focalizate de tip laterolog


7.4.1.Interpretarea calitativ i cantitativ Interpretarea calitativ cuprinde mai multe aspecte (fig.7.7).
a) Determinarea zonelor poros-permeabile Acestea pot fi puse n eviden prin zonele cu "efect de turt" pe diagrama de cavernometrie ( d s < d n = diametrul nominal) i "anomalie electronegativ" pe E PS ; prezena stratelor poros-permeabile poate fi confirmat prin existena "separaiilor" ntre curbele de rezistivitate pe diagrafia DLL-MLL. b) Estimarea coninutului n fluide a stratelor poros-permeabile. 1) Pe diagrafia laterolog 3 sau 7: - n dreptul stratelor porospermeabile, zonele cu rezistivitate aparent LL 3 sau LL 7 mrit pot indica prezena hidrocarburilor, iar zonele cu rezistivitate aparent sczut - indic prezena apei de zcmnt; 2) Pe diagrafia dual laterolog + microlaterolog - (DLL + MLL): separaie "pozitiv" pe curbele de rezistivitate de investigare adnc, LLa , investigare superficial, LLs i microlaterolog, MLL , respectiv: LLa LLs MLL - reprezint "colector cu hidrocarburi"; aceasta se explic prin faptul c diagrafiile obinute cu dispozitivele de investigare adnc reflect rezistivitatea mai mare a zonei necontaminate, coninnd hidrocarburi, n timp ce, cele cu adncime de investigare redus rezistivitatea mai mic a zonei de invazie coninnd filtrat de noroi (v. distribuia rezistivitilor n stratul poros-permeabil) - separaie "negativ", respectiv: LLa < LLs < MLL - reprezint "roc cu ap de zcmnt"; explicaia este ca mai sus, cu diferena c dispozitivele de investigare adnc msoar rezistivitatea redus a zonei necontaminate coninnd ap de zcmnt mineralizat. Precizm c separaiile prezentate mai sus sunt pur teoretice, n realitate separaia corespunztoare stratelor cu hidrocarburi nu este totdeauna satisfcut, un strat cu hidrocarburi se identific i atunci cnd separaia este corespunztoare stratelor acvifere, dar configuraia curbei este aceia a stratelor cu rezistivitate mare.
186

CAROTAJUL ELECTRIC FOCALIZAT DE TIP LATEROLOG

c) Determinarea limitelor de separaie dintre fluide: petrol/ap i gaze/ap: - limita de separaie dintre fluide, respectiv petrol/ap ntr-un complex poros-permeabil nisipos-grezos sau carbonatat (calcare, dolomite), sau gaze-ap ntr-un complex poros-permeabil argilos, poate fi definit la limita de trecere de la valorile de rezistivitate LL 7 sau LL 3 - mrit, la cele mici, respectiv la nivelul la care are loc trecerea de la separaia "pozitiva" la separaia "negativ" pe diagrafia DLL.

Interpretarea cantitativ - const n determinarea parametrului rezistivitate real - R utilizat n relaia general a interpretrii cantitative, pentru calculul saturaiei n ap, Sa: (1) din diagrafia Laterolog 3 sau 7 - LL3, LL7: rezistivitatea aparent determinat cu ajutorul dispozitivelor respective (LL3 sau LL7) este dat de relaia:
LL = J i i 0 + (1 J i ) R

(7.25)

unde Ji este factorul pseudogeometric al zonei de invazie, care este o funcie a diametrului acestei zone - J i = f (Di ) i i 0 i R - rezistivitiile subzonei splate, respectiv a zonei necontaminate (rezistivitatea real). Din relaia (7.25) poate fi obinut valoarea rezistivitii reale;
R = LL J i i 0
1 J i

(7.26)

astfel nct, cunoscnd rezistivitatea determinat din diagrafia laterolog LL rezistivitatea subzonei splate i 0 - determinat cu ajutorul microdispozitivului focalizat - (microlaterolog - MLL sau microcarotajul cu focalizare sferic - MSFL), precum i factorul pseudogeometric, n funcie de diametrul estimat al zonei de invazie J i = f (Di ) din figura 7.6, poate fi determinat valoarea rezistivitii reale, R ; (2) din diagrafia dual-laterolog + microlaterolog (DLL+ MLL sau MSFL): rezistivitatea aparent determinat cu ajutorul diapozitivelor de diferite raze de investigare poate fi exprimat conform relaiei (7.25): - pentru dispozitivul laterolog de investigare adnc: 187

CAROTAJUL ELECTRIC FOCALIZAT DE TIP LATEROLOG

LLa = J i ,LLa i 0 + (1 J i ,LLa ) R ;

(7.27)

- pentru dispozitivul laterolog de investigare superficial:


LLs = J i ,LLs i 0 + (1 J i ,LLs ) R ;

(7.28)

- pentru dispozitivul microlaterolog:


MLL = J i ,MLL i 0 + (1 J i ,MLL ) R

(7.29)

unde J i ,LLa , J i ,LLs i J i ,MLL sunt factorii pseudogeometrici pentru fiecare din cele trei dispozitive, funcie de Di. Sistemul de ecuaii (7.27), (7.28) i (7.29) poate fi rezolvat, obinndu-se parametrii: rezistivitate real - R , rezistivitatea subzonei splate - i 0 i implicit diametrul zonei de invazie - Di. Diagrafia de Dual Laterolog poate fi utilizat i direct la determinarea saturaiei n ap (fr o diagrafie de porozitate) prin metoda raportului, , valoarea rezistivitii i 0 fiind determinat din MLL , iar R din combinaia MLL LLs LLa .

7.4.2. Aplicaiile diagrafiei electrice focalizate - Laterolog i Dual-Laterolog


Diagrafia electric focalizat - laterolog i dual laterolog, pe baza proprietilor acesteia are urmtoarele aplicaii: - corelarea geologic i litologic a profilelor de sonde forate cu fluide mineralizate; - separarea stratelor poros-permeabile i determinarea limitelor i grosimilor stratelor; - evaluarea coninutului rocilor colectoare i determinarea limitelor de separaie dintre fluide: petrol/ap i gaze/ap. Aplicaia major a carotajului electric focalizat de tip laterolog este determinarea rezistivitii reale a colectoarelor. Aa cum se tie aceast mrime, datorit condiiilor de msurare (influena sondei cu fluid de foraj, i a zonei de invazie ) nu poate fi msurat direct. n condiii favorabile aceast metod de investigare msoar cu dispozitivul cu raz mare de 188

CAROTAJUL ELECTRIC FOCALIZAT DE TIP LATEROLOG

investigaie o valoare apropiat de valoarea real. n unele aplicaii se poate aproxima valoarea citit direct pe diagram, pe curba LLD, cu valoarea real. O mrime exact a rezistivitii reale se obine dup efectuarea coreciilor cu influena sondei i a stratelor adiacente. - Asigurarea investigrii formaiunilor geologice traversate de sonde cu fluide mineralizate, precum i a formaiunilor carbonatate (calcare, dolomite); - Investigarea formaiunilor formate din strate de grosime mic i determinarea coninutului acestora n unele substane minerale utile.

7.5. Microcarotajul focalizat


Microcarotajul focalizat ca i microcarotajul convenional este utilizat pentru a msura rezistivitatea n imediata apropiere a peretelui sondei, subzona splat. Microdispozitivele sunt sisteme de investigare, la care electrozii, sunt montai pe o patin dintr-un material electroizolant. Patina este meninut cu ajutorul unui mecanism cu brae articulate, acionate mecanic i hidraulic din interiorul dispozitivului de investigare de form cilindric. La rndul su electroda este meninut centrat n sond cu ajutorul unui mecanism simetric i a unei contrapatine, diametral opuse. Contrapatina poate fi constituit i dintr-o patin cu dispozitivele de microcarotaj standard, permind nregistrarea simultan cu cele dou metode. De asemenea, mecanismul articulat acioneaz un traductor rezistiv pentru msurarea diametrului gurii de sond, obinndu-se o curb de cavernometrie. Carotajul electric cu microdispozitive focalizate este utilizat n urmtoarele variante: 1. 2. 3. Microlaterolog MLL Micro-proximity log PL Micro carotajul cu focalizare sferic MSFL (Micro Spherical Focused Log)

189

CAROTAJUL ELECTRIC FOCALIZAT DE TIP LATEROLOG

7.5.1. Microlaterologul
Principiul microlaterologului este asemntor carotajului electric focalizat cu apte electrozi punctiformi LL7. Matricea de electrozi este montat pe o patin de cauciuc aa cum este prezentat n figura 7.8. Matricea electrozilor este format dintr-un electrod central A0 circular de forma unui buton i trei electrozi circulari concentrici cu A0. Cei trei electrozi sunt: - doi electrozi de msur M1, M2; - un electrod de focalizare A1.

Fig.7.8.Schema principial a dispozitivului microlaterolog [ 44 ]

Prin electrodul central A0 se emite n roc un fascicol de curent de intensitate I o a crui form de "trompet" este meninut de curentul de intensitate I 1 - numit "de focalizare", emis de electrodul A1, astfel nct fascicolul de curent I o - numit "de msur", ptrunde perpendicular pe peretele sondei, n stratul investigat. Astfel sunt eliminate eventualele pierderi laterale prin turta de colmataj sau stratele adiacente, n cazul cnd rezistivitatea acestora este foarte mic n raport cu rezistivitatea stratului investigat. 190

CAROTAJUL ELECTRIC FOCALIZAT DE TIP LATEROLOG

Liniile de curent ale curentului de focalizare I 1 menin liniile de curent ale curentului de msur I o astfel nct acestea s-i pstreze forma de trompet, pentru orice variaie a rezistivitii stratului investigat, a stratului adiacent i a fluidului de foraj. Condiia de focalizare este ca potenialele electrice ale celor doi electrozi M1 i M2 s fie egale. Rezistivitatea msurat va fi egal cu:
= LL 3
VM 1N I0

(7.30)

unde LL 3 este constanta dispozitivului laterolog 3 LL3 Valorile msurate sunt raportate la nivelul electrodului A0 (punctul de msur). Raza de investigaie este de aproximativ 1-2 in., iar rezoluia vertical de 1,7 in.

7.5.2 Microcarotajul proximity - log


Principiul proximity - log este asemntor carotajului electric focalizat cu trei electrozi - LL3. Matricea de electrozi este montat pe o patin de cauciuc aa cum este prezentat n figura 7.15, i este format dintr-un electrod central de curent A0 de form dreptunghiular, un electrod de msur sau electrod monitor M, i un electrod de focalizareA1. Prin electrodul A se emite n roc un fascicol de curent de intensitate I o a crui form (de "trompet") este meninut de curentul de intensitate I 1 - numit "de focalizare", emis de electrodul A1. Fascicolul de curent I o - numit "de msur", ptrunde perpendicular pe peretele sondei, n stratul investigat. Condiia de focalizare este ca potenialele electrozilor A0 i A1 s fie meninute la aceiai valoare. Acest lucru este realizat prin schema electronic asociat dispozitivului, prin aa numitul sistem de "autocompensare" Rezistivitatea msurat va fi egal cu:
= PL
VA I0

(7.31)

unde PL este constanta dispozitivului proximity - log.

191

CAROTAJUL ELECTRIC FOCALIZAT DE TIP LATEROLOG

Fig.7.9. Microcarotajului focalizat (microlaterolog) [ 5 ]:


a) calcar poros-permeabil nvecinat de calcare compacte; b) corpul dispozitivului; c) cavernograma; d) curba de rezistivitate; e) patina cu electrozi.

7.5.3 Microcarotajul cu focalizare sferic MSFL


Principiul microcarotajului cu focalizare sferic (MSFL) este asemntor carotajului electric focalizat cu focalizare sferic cu macrodispozitive SFL. Matricea de electrozi este montat pe o patin de cauciuc aa cum este prezentat n figura 7.9, i este format din electrozi de form rectangular.

192

CAROTAJUL ELECTRIC FOCALIZAT DE TIP LATEROLOG


Fluid de foraj

Turt de noroi

Formaiunea geologic

A M A M M

Fig. 7.10. Microdispozitivul electric cu focalizare sferic [ 49 ].

7.5.4 Rspunsul dispozitivelor de microcarotaj focalizat i forma de reprezentare a diagrafiei


Se consider o succesiune de roci carbonatice; un strat de calcar poros-permeabil, cu porozitate intergranular, respectiv pori i/sau fisural, avnd practicate o serie de fisuri sau fracturi, nvecinat de dou strate compacte (cu porozitate foarte sczut) - (fig.7.11), traversate de sond. La traversarea acestor formaiuni de ctre sond n dreptul statului poros permeabil a avut loc fenomenul de invazie i ca urmare s-a format zona de invazie, cu subzona splat i subzona de tranziie, precum i turta de colmataj pe peretele gurii de sond. Referindu-ne la figura 7.11a se observ c n dreptul stratului poros-permeabil diametrul gurii de sond este mai mic dect diametrul sapei de foraj, datorit turtei de colmataj, n timp ce n dreptul stratelor compacte diametrul este aproximativ egal cu diametrul sapei. Astfel, curba de cavernometrie obinut, reprezentnd variaia diametrului real al sondei, d s , n funcie de adncime, comparativ cu valoarea diametrului sapei, dnlinia vertical punctat (fig. 7.11c), va avea valori d s < d n n dreptul stratelor poros-permeabile i valori d s d n n dreptul calcarelor compacte. Diagrama de cavernometrie este nregistrat pe trasa I-a, pe 10 div. cu o scar de msur de 1 in/div.(0,0254 m/div.), respectiv 5 in - 15 in pe 10 diviziuni (0,127 - 0,381 m pe 10 div.). 193

CAROTAJUL ELECTRIC FOCALIZAT DE TIP LATEROLOG

Pe trasa a II-a este reprezentat curba de rezistivitate aparent nregistrat cu unul din dispozitivele microfocalizate (MLL, PL, MSFL ), n scara 20 m/div. (0 200 m pe 10 div.). Aa cum s-a vzut mai sus razele de investigaie a dispozitivelor acoper subzona splat, astfel nct n dreptul stratului poros-permeabil rezistivitatea aparenta msurat va fi condiionat n primul rnd de rezistivitatea io a acestei subzone, care conine n spaiul poros filtrat de noroi, sau mai exact filtrat de noroi i ap de zcmnt. n dreptul stratelor compacte, care nu sunt afectate de fenomenul de invazie, rezistivitatea aparent va depinde n primul rnd de rezistivitatea real R a acestor strate, care este mult mai mare dect n dreptul stratelor permeabile.

Fig. 7.11 Reprezentarea diagrafiei de microcarotaj focalizat nregistrat ntr-un pachet de strate poros-permeabile, coninnd intercalaii compacte i impermeabile [5]:
a) coloana litologic; b) curba de Potenial Spontan; c) cavernograma; d) curba de rezistivitate

194

CAROTAJUL ELECTRIC FOCALIZAT DE TIP LATEROLOG

O alt form de prezentare a diagrafiei micro-focalizate este n scara logaritmic, mult mai uzitat dect scara liniar prezentat mai sus. O astfel de diagram este prezentat n figura 7.11d. Avantajul scrii logaritmice este c acoper un domeniu mare de valori de rezistivitate fr s fie nevoie de reluri i prezint o detaliere foarte bun a valorilor mici de rezistivitate.

7.5.5. LUCRAREA NR. 4 Determinarea rezistivitii subzonei splate, io din diagrafia de MSFL

Mod de lucru: - se citesc valorile parametrilor inscrisi in antetul diagramei: - scara adancimilor; - adncimea final Hmax (n m); - temperatura maxim la talpa sondei Tmax (n C); - temperatura medie annual a solului T0 (n C); - rezistivitatea noroiului la suprafa n (la T1) (n m); - diametrul sondei d (n mm sau inch). - se determinara limitele stratelor poros-permeabile si adancimile medii ale acestora: Hsup, Hinf, h, Hmed; - se citiresc pe diagrafie valorile rezistivitatii inregistrate, MSFL; - se determina temperatura formatiei, T cu relatia:
T= H med (Tmax T0 ) + T0 H max

(7.32)

- se face corectia rezistivitatii noroiului cu temperatura formatiei, cu relatia:

( n )T = ( n )T1

T1 + 21,5 T + 21,5

(7.33)

195

CAROTAJUL ELECTRIC FOCALIZAT DE TIP LATEROLOG

- se calculeaza rezistivitatea turtei de noroi, ( tn )T

( tn )T

= 1,5 ( n )T

(7.34)

- se determinara grosimea turtei de noroi, htn dupa cavernograma: se citeste diametrul sondei, d in dreptul stratului analizat pe cavernograma, si diametrul nominal al sapei, dn (daca nu a fost citit in antetul diagrafiei) se calculeaza grosimea turtei de noroi cu relatia:
d d h tn = n 2

(7.35)
MSFL ; tn

se calculeaza raportul

- se determina valoarea rezistivitatii subzonei spalate, io cu ajutorul anexei nr.12: - se introduce in ordonata valoarea raportului - se citeste in abscisa valoarea raportului - se calculeaza io ca fiind:
io = ( MSFL )cor = A MSFL

MSFL ; tn
=A;

( MSFL )cor
MSFL

(7.36)

Aplicaie: Sa se determine rezistivitatea subzonei spalate, io din diagrafia de MSFL, cuprins n Anexa nr.11. Rezultatele obinute se vor nscrie n tabelul urmtor:
Intervalul Hsup - Hinf m h m Hmed m

Nr. strat

MSFL

T
o

( n) T

( tn)T

htn m

MSFL tn
-

( MSFL )cor
MSFL
-

io

196

CAROTAJUL ELECTRIC FOCALIZAT DE TIP LATEROLOG

197

CAROTAJUL ELECTRIC FOCALIZAT DE TIP LATEROLOG

Anexa pentru determinarea rezistivitatii subzonei spalate, io

198

CAROTAJUL ELECTRIC FOCALIZAT DE TIP LATEROLOG

7.5.6. Interpretarea diagrafiei de microcarotaj focalizat


a) Separarea intervalelor poros-permeabile dintr-o succesiune de
strate: Se efectueaz pe baza scderii valorii de rezistivitate aparent cu dispozitiv microcarotaj focalizat n dreptul stratului poros-permeabil, n raport cu rezistivitatea aparent din dreptul stratelor compacte MFOC ,p.p < MFOC ,c i a prezenei "efectului de turt" pe diagrama de cavernometrie - d s < d n ; n cazul stratelor compacte rezistivitatea aparent MLL,c are valori relativ mari, iar cavernometria indic un diametru egal cu cel, nominal d s d n . b) Determinarea limitelor stratelor i a grosimilor acestora, inclusiv determinarea grosimii "efective" a pachetelor de strate poros-permeabile, n intercalaiile cu intervalele compacte. Limitele stratelor pot fi determinate precis n punctele Hs i Hi n care ncepe i se termin zona cu "efect de turt" pe curba de cavernometrie i are loc scderea, respectiv creterea valorii rezistivitii aparente MFOC grosimea stratului fiind dat de diferena dintre adncimile corespunztoare acestor limite, h = H i H s . Rspunsul curbei E PS - potenial spontan, reprezentat mpreuna cu MFOC arat c aceasta poate pune n eviden doar limitele superioar, Hs i inferioar Hi a pachetului de strate, intercalaiile subiri compacte i impermeabile nefiind n mod clar evideniate; n acest mod, se determin o grosime "aparent" a pachetului de strate hA = H i H s , care include i suma grosimilor intervalelor compacte i impermeabile. n acelai timp, diagrafia de cavernometrie (c) i de rezistivitate aparent cu dispozitivul microcarotaj focalizat (d) pune n eviden clar fiecare intercalaie porospermeabil i respectiv, compact sau impermeabil, astfel nct pot fi determinate grosimile h1, h2 , ..., hn ale fiecrei intercalaii poros-permeabile i se obine grosimea "efectiv" a colectorului hef = h1 + h2 + ... + hn < h A .

1.

Determinarea rezistivitii subzonei splate, io

Rspunsul dispozitivului microcarotaj focalizat este o funcie de rezistivitatea turtei de noroi, tn , a grosimii acesteia, htn i a diametrului 199

CAROTAJUL ELECTRIC FOCALIZAT DE TIP LATEROLOG

sondei, ds, astfel nct se poate scrie pentru rezistivitatea aparent o relaie de dependen de forma (normalizat pentru tn ):
MFOC = f io , htn tn tn

(7.37)

Aceast relaie poate fi reprezentat sub forma graficului din figura 7.12.

Fig. 7.12. Rspunsul dispozitivului microcarotaj focalizat n funcie de rezistivitatea turtei de noroi, tn , a grosimii acesteia, htn i a diametrului sondei, ds, [ 5 ]

Acest grafic permite determinarea valorii io , fiind cunoscute rezistivitatea aparent MFOC i grosimea turtei de noroi htn..

2.

Determinarea porozitii i a factorului de formaie.

S-a vzut c saturaia n filtrat de noroi a subzonei splate este data de ecuaia: 200

CAROTAJUL ELECTRIC FOCALIZAT DE TIP LATEROLOG

S ai 0 =

F fn i 0

(7.37)

i legtura ntre acesta i saturaia n hidrocarburi reziduale, de ecuaia (7.39)


S ai 0 + S rh = 1 (7.39)

Factorul de formaie pentru roci consolidate (calcare) care intra n expresia (7.37) este dat de relaia Archie:
F= 1 P2

(7.40)

unde P este porozitatea rocii, astfel nct n ecuaia (7.81) se poate scrie:

(1 S hr )2 =

fn P 2 io

(7.41)

De aici rezult expresia porozitii: P= fn 1 (1 S hr ) io (7.42)

7.5.7. Aplicaiile diagrafiei electrice cu microdispozitive


Diagrafia electric cu microdispozitive are, n general, urmtoarele domenii de aplicabilitate: 1) diagrafia de microcarotaj standard: n roci slab i mediu consolidate, respectiv nisipuri, nisipuri argiloase, gresii slab consolidate i n sonde forate cu fluide de foraj dulci (cu mineralizarea c n 50 g/l); 2) diagrafia de microcarotaj focalizat (microlaterolog): n roci consolidate, respectiv calcare, dolomite i gresii consolidate i n sonde forate fluide de foraj mineralizate ( c n > 50 g/l). n cadrul acestor domenii de aplicabilitate, aplicaiile diagrafiei electrice cu microdispozitive sunt urmtoarele: a) separarea intervalelor poros-permeabile din profilul sondei;

201

CAROTAJUL ELECTRIC FOCALIZAT DE TIP LATEROLOG

b) determinarea limitelor i grosimilor stratelor, inclusiv a grosimii efective a pachetelor de strate poros-permeabile cu intercalaii impermeabile i/sau compacte; c) investigarea formaiunilor geologice cu strate subiri, purttoare de substane minerale utile solide; d) determinarea rezistivitii subzonei splate a formaiunilor porospermeabile, n vederea determinrii rezistivitii reale i a determinrii saturaiei n ap, respectiv hidrocarburi a rocilor colectoare; e) determinarea porozitii rocilor.

7.5.8. LUCRAREA NR. 5 Determinarea rezistivitii reale, R i a diametrului de invazie, D, din carotajul electric Dual-laterolog (DLL)

Mod de lucru: Din antetul diagrafiei se citesc urmtoarele date: - scara adancimilor; - adncimea final Hmax (n m); - temperatura maxim la talpa sondei Tmax (n C); - temperatura medie annual a solului T0 (n C); - rezistivitatea noroiului la suprafa n (la T1) (n m); - diametrul sondei d (n mm sau inch). Pe diagrafie (Anexa nr.13) se citesc: - LLD, rezistivitatea aparent nregistrat cu dispozitiv focalizat de investigare adnc; - LLS, rezistivitatea aparent nregistrat cu dispozitiv focalizat de investigare superficial; - MSFL, rezistivitatea nregistrat cu microdispozitivul cu focalizare sferic; - ad, rezistivitatea stratelor adiacente. Se determinara limitele stratelor poros-permeabile si adancimile medii ale acestora: Hsup, Hinf, h, Hmed; 202

CAROTAJUL ELECTRIC FOCALIZAT DE TIP LATEROLOG

Se determin rezistivitatea subzonei splate, io, din microSFL cu procedeul din lucrarea anterioar (Lucrarea nr.4); Se corecteaz rezistivitile citite din diagrafie, LLD i LLS pentru rezistivitatea noroiului, n i diametrul sapei, d cu ajutorul anexei nr.14 astfel: - se calculeaz rapoartele:
LLD i LLS n n

- se introduce n abscisa valorea acestor rapoarte calculate i se ridic o vertical pn intersecteaz curba a crui modul este egal cu diametrul sondei. Din punctul de intersecie se duce o orizontal, iar n ordonat se citete valorea rapoartelor:
LLD,cor LLS, cor = A i =B LLD LLS i LLS,cor = B LLS

de unde rezult c: LLD,cor = A LLD Valorile odat corectate se vor mai corecta pentru grosimea stratului, h i rezistivitatea stratelor adiacente, ad cu ajutorul anexei nr.15 astfel: - se calculeaz rapoartele:
LLD,cor ad

LLS, cor ad

- se introduce n abscis valoarea corespunztore grosimii stratului, h i se ridic o vertical pn intersecteaz curba corespunztoare raportului calculat anterior. Din punctul de intersecie se duce o orizontal
' ' LLD,cor LLS, cor i se citete n ordonat valoarea rapoartelor: = A i =B LLD,cor LLS, cor

de unde rezult c:
' ' LLD ,cor = A LLD ,cor i LLS ,cor = B LLS ,cor

Cu aceste valori corectate se vor calcula rapoartele:


' LLD ,cor io

' LLD,cor LLS, cor

Se determin rezistivitatea real, R i diametrul de invazie, Di cu ajutorul Anexa nr.16 astfel:

203

CAROTAJUL ELECTRIC FOCALIZAT DE TIP LATEROLOG


' LLD, cor , iar n ordonat - se ia n abscis valorea raportului ' LLS, cor

valoarea raportului

' LLD,cor i se determin punctul P de coordonate io

' ' LLD, cor LLD,cor , ), prin care vor trece trei familii de curbe ( ' LLS, cor io R = ct. , R = ct . i Dct.; ' io LLD,cor

- se calculeaz valorile rapoartelor:

R ' LLD, cor

= a ; R = a ' LLD ,cor

R = b ; R = b i0 io

D=c

Aplicaie: S se determine rezistivitatea real, R i diametrul de invazie D din diagrafia de carotaj electric cu cureni focalizai, (DLL Anexa nr.13).
Nr. crt 1 2 3 4 5 6 Nr. crt 1 2 3 4 5 6
Intervalul Hsup - Hinf m h m

LLD
m

LLS
m

MSFL
m

ad
m

io
m

( n) T

d
mm

LLDco
r

LLScor
m

' LLD ,cor

' LLS ,cor

' LLD ,cor ' LLS ,cor

' LLD ,cor io

R
m

D
m

204

CAROTAJUL ELECTRIC FOCALIZAT DE TIP LATEROLOG

205

CAROTAJUL ELECTRIC FOCALIZAT DE TIP LATEROLOG

206

CAROTAJUL ELECTRIC FOCALIZAT DE TIP LATEROLOG

207

CAROTAJUL ELECTRIC FOCALIZAT DE TIP LATEROLOG

208