INTRODUO

Os interfermetros so configuraes experimentais que usam a interferncia entre dois feixes para fazer medidas bastante precisas de comprimentos de onda ou outras grandezas. O presente relatrio retrata as actividades desenvolvidas na aula laboratorial da cadeira de ptica e Ondas que tem como objectivos estudar o fenmeno da interferncia da Luz pelo mtodo de Michelson atravs de um gerador quntico ptico e elementos de metrologia, estudar o funcionamento do Laser He-Ne e definir o metro padro.

Objectivos:

Estudar o fenmeno da interferncia da Luz pelo mtodo de Michelson atravs de um gerador quantico ptico e elementos de metrologia; Estudar o funcionamento do Laser He-Ne e, Definir o metro padro.

RESUMO TERICO O Interfermetro de Michelson O interfermetro de Michelson o tipo mais fundamental de interfermetro de dois feixes. Ele pode ser utilizado para medir comprimentos de onda com grande preciso. Este aparelho foi originalmente construdo por A. Michelson em 1881 e visava comprovar a existncia do ter, o meio no qual se supunha na poca deveria se propagar a luz. O experimento, como se sabe, no foi bem sucedido e anos mais tarde, em 1905, A. Einstein publicou o seu famoso trabalho intitulado Sobre a eletrodinmica dos corpos em movimento rejeitando definitivamente a existncia do ter. A Fig. 1 a seguir mostra esquematicamente, a montagem do interfermetro. Espelho mvel M1 Espelho semiprateado d 1

F d 2

Um feixe de luz num espelho semi-transparente M (reflecte sensivelmente metade da radiao e

deixa passer a outra metade) que o divide em dois (d1 e d2). O primeiro refletido num espelho mvel M1 percorendo uma distancia d1 e o segundo num espelho fixo M2 percorendo uma distancia d2. Orientam-se os espelhos para que ambos os feixes iniciam no mosmo ponto doalvo produzindo interferencia. O padro de interferencia formado depende da diferena de fase entre os feixes ,em conasequncia dos diferentes percursos efectuados por cada feixe, i.e., d1 e d2.

Interfer encia

O fenmeno de interferncia ocorre quando duas ondas tentam ocupar o mesmo espao. Se estas ondas estiveram em fase elas se somaro e obterse- o que chamamos de interferncia construtiva e amplitude da onda resultante sera a soma da amplitude das ondas caso a fase corresponda exactamente a meio periodo teremos uma interferncia destructiva e as ondas se anularo mutuamente. Se dois feixes de luz se sobrep oem numa determinada regi ao do espa co e nessa regi ao a irradiancia luminosa variar de ponto para ponto, entre m aximos que excedem a soma das irradi ancias dos dois feixes e m nimos que podem ser zero, estamos perante um fenomeno denominado interferencia. Mas nem sempre a sobreposi cao de dois ou mais feixes de luz produzem fen omenos de interfer encia. Quando n ao existe interfer encia diz-se que os feixes s ao incoerentes, e quando existe interfer encia diz-se que os feixes s ao completa ou parcialmente coerentes. Luz proveniente de fontes diferentes ou de pontos diferentes da mesma fonte extensa sao geralmente incoerentes, e luz que viajou percursos diferentes pode tamb em ser

incoerente, dependendo da diferen ca de percursos e do grau de monocromaticidade da luz. A condio para a observncia dos maximos = m e dos minimos = (m + ) , o o comprimento da onda e a diferena do percurso ptico;

m=1,2,3,4 o nmero de ordem. A diferena e percurso ptico dada por =2(l2-l1). O espelho M2, pode ser deslocado por meio de um parafuso

micromtrico para frente ou para trs. Este deslocamento equivalente a uma alterao de . Suponha que o centro de franjas (circulares) aparea claro e que M2 seja deslocado a superficie para fazer comque a primeira franja clara circular se desloque para o centro da figura da interferencia. O percurso do feixe de luz que incide sobre o M2 deslocado. Este facto fez com que os padres de metro e segundo fossem alterados e se exprimissem como multiplos de um dado comprimento de onda de certa luz, dadas s dificuldades de reproduo dos mesmos. Sugere-se uma definio de metro padro como mltiplo do comprimento de onda do laser HeNe.

Procedimento e Modos de Execuo 1. Observadas as condies Laboratoriais, ligou-se o Laser; 2. Ajustou-se o espelho semi-reflector 45o com o feixe do laser; 3. Em seguida colocou-se a tela a 6,5 metros do interfermetro; 4. Verificou-se que os raios incidiam nos espelhos e na tela 5. Atravs dos parafusos ajustou-se a sobreposio dos dois feixes na tela; 6. Mediu-se o comprimento de onda e contou-se o nmero de franjas que iam sucedendo na tela; 7. Voltou-se o micromtrico para a posio zero e efectuaram-se mais cinco medies diferentes. 8. Registou-se os valores na tabela abaixo e obteve-se o valor mdio.

Tabela 1. Medies 1 2 3 4 5 Valor mdio D(m) 0 1 2 3 4 -----Nro de franjas 20 18 21 20 15 18.8

Calculo de Erro:

n=5

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CONCLUSO Feito o trabalho pode-se verificar atravs da anlise dos dados obtidos o uso e a importncia do interfermetro em ptica para medir a variao do comprimento de onda. Um feixe de luz atinge um bloco de vidro onde uma das superfcies coberta com um filme reflector que aumenta a reflectividade da interface. Essa interface actua como um divisor de feixes. Um segundo bloco de vidro (idntico ao primeiro, mas sem o filme reflector) e dois espelhos completam o interfermetro de Michelson. O erro da experiencia relativamente maior que o esperado, mas pode-se dizer com um bom grau de confiana que os objectivos da experiencia foram atingidos com sucesso.

BIBLIOGRAFIA 1. Fsica HALLIDAY D. E RESNICK R. TOMO 4 2. ptica LANDSBERG G. S. TOMO 1 3.