Difraccin de electrones La Difraccin de electrones es una tcnica utilizada para estudiar la materia haciendo que un haz de electrones incida

sobre una muestra y observando el patrn de interferencia resultante. Este fenmeno ocurre gracias a la dualidad onda-partcula, que establece que una partcula de materia (en este caso el electrn que incide) puede ser descrita como una onda. Por esta razn, un electrn puede ser considerado como una onda muy similar al sonido o a ondas en el agua. Esta tcnica es similar a la difraccin de los rayos-X o la difraccin de neutrones. Utilizacin La Difraccin de electrones es frecuentemente utilizada en fsica y qumica de slidos para estudiar la estructura cristalina de los slidos. Estos experimentos se realizan normalmente utilizando un microscopio electrnico por transmisin (MET o TEM por sus siglas en ingls), o un microscopio electrnico por escaneo (MES o SEM por sus siglas en ingls), como el utilizado en la difraccin de electrones por retrodispersin. En estos instrumentos, los electrones son acelerados mediante electrosttica potencial para as obtener la energa deseada y disminuir su longitud de onda antes de que este interacte con la muestra en estudio. La estructura peridica de un slido cristalino acta como una rejilla de difraccin, dispersando los electrones de una manera predecible. A partir del patrn de difraccin observado es posible deducir la estructura del cristal que produce dicho patrn de difraccin. Sin embargo, esta tcnica est limitada por el problema de fase. Aparte del estudio de los cristales, la difraccin de electrones es tambin una tcnica til para el estudio de slidos amorfos, y la geometra de las molculas gaseosas. Historia La hiptesis de De Broglie, formulada al final de 1926, propone que las partculas tambin se comportan como ondas. Tres aos ms tarde, la frmula de De Broglie se comprob para los electrones (que poseen masa en reposo) mediante la observacin de la difraccin de electrones en dos experimentos independientes. Uno realizado por George Paget Thomson en la Universidad de Aberdeen, quien hizo pasar un haz de electrones a travs de una delgada capa de metal y observ los patrones de interferencia predichos. El otro experimento lo realizaron Clinton Joseph Davisson y Lester Halbert Germen en los Laboratorios Bell, ellos hicieron pasar un haz

de electrones a travs de una rejilla cristalina. Por este trabajo, Thomson y Davisson compartieron el Premio Nobel de Fsica en 1937. Teora Interaccin de los electrones con la materia A diferencia de otros tipos de radiacin utilizados en estudios de difraccin de materiales, tales como los rayos-X y los neutrones, los electrones son partculas que poseen carga e interactan con la materia a travs de la fuerza elctrica. Esto significa que los electrones que inciden son influenciados tanto por la carga positiva del ncleo atmico como por los electrones que rodean el ncleo. En comparacin, los rayos-X interactan con la distribucin espacial de los electrones en las capas exteriores (electrones de valor), mientras que los neutrones son dispersados por la fuerza de la interaccin nuclear fuerte del ncleo. Adems, el momento magntico de los neutrones es diferente de cero, por lo que tambin son dispersados por campos magnticos. La diferencia en la manera en la que las tres formas de radiacin interactan con la materia permite que se puedan utilizar en diferentes tipos de anlisis. Intensidad del haz difractado En la aproximacon cinemtica para la difraccin de electrones, la intensidad del haz difractado esta dada por:

Aqu es la funcin de onda del haz difractado y estructural que es dado por:

es el llamado factor

donde es el vector de dispersin del haz difractado, es la posicin de un tomo dentro de la celda unidad,1 y es la capacidad de dispersin de un tomo, tambin llamado factor de forma atmico. El total es la suma de todos los tomos en la celda unidad. El factor estructural describe la forma en que un haz de electrones ser dispersado por los tomos de la celda unidad del cristal, tomando en cuenta las diferencias en la capacidad de dispersin de los elementos en el trmino . Dado que los tomos estn distribuidos espacialmente en el grupo atmico, habr una diferencia en la fase cuando se considere la amplitud de

dispersin de dos tomos dados. Este desplazamiento de la fase est tomado en cuenta en el trmino exponencial de la ecuacin. El factor de forma atmico, o capacidad de dispersin, de un elemento depende del tipo de radiacin que se utilize dado que los electrones interactan con la materia en forma diferente de como lo hacen, por ejemplo los rayos-X. Longitud de onda de los electrones La longitud de onda de un electrn esta dada por la ecuacin De Broglie:

Donde es la constante de Planck y el momento del electrn. Los electrones son acelerados en un potencial elctrico (eV) hasta la velocidad deseada:

Aqu es la masa del electrn, y es la carga elemental. La longitud de onda del electrn ser:

Sin embargo, en un microscopio de electrones la aceleracin potencial es usualmente de varios miles de voltios lo que acelera al electrn a una considerable fraccin de la velocidad de la luz. Un microscopio electrnico por escaneo puede operar con una aceleracin potencial de 10,000 voltios (10 kV) con lo que el electrn alcanza una velocidad de aproximadamente un 20% de la velocidad de la luz, mientras que un microscopio electrnico de transmisin puede operar a 200 kV elevando la velocidad del electrn hasta un 70% de la velocidad de la luz. Por consiguiente, necesitamos tomar en cuenta los efectos relativistas. La ecuacin de la longitud de onda del electrn quedara modificada de esta forma:

Donde es la velocidad de la luz. El primer trmino en esta expresin se reconoce como la expresin derivada no-relativista, mientras que el ltimo trmino se conoce como el factor de correccin relativista. La longitud de onda de los electrones en un microscopio electrnico de escaneo a 10 kV es entonces de 12.3 x 10-12 m (12.3 pm) mientras que en un microscopio electrnico de transmisin operando a 200 keV la longitud de onda es de 2.5 pm. En comparacin, la longitud de onda de los rayos-X utilizados en un difraccin de rayos-X est en el orden de los 100 pm (Cu k: =154 pm). Difraccin de electrones en un microscopio electrnico de transmisin La difraccin de electrones en slidos se realiza usualmente con un microscopio electrnico de transmisin donde los electrones pasan a travs de una pelcula ultra delgada del material en estudio. El patrn de difraccin resultante es observado en una pantalla fluorescente, fotografiado en pelcula o en forma digital. Beneficios Como se ha mencionado arriba, la longitud de onda de un electrn acelerado en un microscopio electrnico por transmisin es bastante ms pequea que la de la radiacin utilizada en los experimentos de difraccin de rayos-X. Una consecuencia de esto es que el radio de la esfera Ewald es mayor en la difraccin de electrones que en la difraccin de rayos-X, con lo que el experimento de difraccin puede revelar ms de la distribucin bidimensional de los puntos en la trama. Adems, el lente electrnico permite modificar la geometra del experimento de difraccin. Conceptualmente, la geometra ms simple es un haz paralelo de electrones incidiendo perpendicularmente sobre la muestra. Sin embargo, cuando los electrones inciden sobre el blanco en forma de cono permiten, en efecto, realizar una difraccin con diferentes ngulos de incidencia al mismo tiempo. Esta tcnica es llamada Difraccin de Electrones de Haz Convergente (CBED por sus siglas en ingls), y puede revelar la simetra tridimensional del cristal. En un microscopio electrnico de transmisin, se puede seleccionar un simple grano de cristal o partcula para realizar el experimento de difraccin. Esto significa que estos experimentos pueden realizarse sobre cristales de tamao nanomtrico, mientras que otras tcnicas de difraccin deben utilizar una muestra multicristalina limitando la observacin. Adems, la difraccin de electrones en un MET puede ser combinada con imgenes directas de la muestra, incluyendo imgenes de alta resolucin de

la trama del cristal, y otras tcnicas tales como el anlisis qumico de la composicin de la muestra mediante una espectroscopa de dispersin de energa con rayos-X, investigacin de la estructura electrnica y atraccin con una espectroscopa por prdida de energa electrnica, y estudios del potencial promedio interno con una holografa de electrones. Funcionamiento

1: Esquema del recorrido de un haz de electrones en un MET.

2: Patrn de difraccin tpico obtenido en un MET con un haz de electrones paralelo. La figura 1 a la derecha es un esbozo simple del camino que sigue un haz de electrones paralelo en un MET, iniciando justo por encima de la muestra y hacia abajo hasta la pantalla fluorescente. Conforme los electrones pasan a travs de la muestra son dispersados por el potencial electromagntico establecido por los elementos que constituyen la muestra. Despus que los electrones abandonan la muestra pasan a travs del objetivo (lente) electromagntico, que colecta los electrones dispersados en una misma direccin y los enfoca en un solo punto, este es el plano focal del microscopio y es aqu donde se forma la imagen. Manipulando el lente magntico del microscopio es posible observar el patrn de dispersin

proyectado en la pantalla en lugar de la imagen. Un ejemplo de una imagen obtenida en esta forma se muestra en la figura #2. Si la muestra se inclina con respecto al haz de electrones, se obtiene un patrn de difraccin con diferente orientacin. De esta forma, la trama recproca del cristal puede ser delineado en tres dimensiones. Estudiando la ausencia sistemtica de puntos de difraccin se puede determinar la presencia de la trama Bravais, de cualquier eje de rotacin as como planos de reflexin. Limitaciones La difraccin de electrones con un MET tiene varias limitaciones importante. Primero, la muestra debe ser transparente a los electrones, lo que significa que el ancho de la muestra de ser del orden de 100 nm o menos. Por consiguiente, puede que se necesite una preparacin lenta y cuidadosa de la muestra. Adems, muchas muestras son vulnerables a los daos de la radiacin del haz de electrones. El estudio de materiales magnticos es difcil dado que los campos magnticos desvan los electrones por la fuerza Lorentz. A pesar de que este fenmeno pude ser utilizado para estudiar el dominio magntico de los materiales mediante la microscopa de fuerzas de Lorentz, hace virtualmente imposible determinar la estructura del cristal. Adems, la difraccin de electrones es a menudo considerada una tcnica adecuada para determinar simetra, pero inexacta para determinar parmetros del tramado as como para determinar posiciones atmicas. En principio, este no es el caso exactamente: se ha demostrado que se pueden obtener parmetros del tramado con un error relativo menor al 0.1%. Sin embargo, es muy difcil obtener las condiciones experimentales adecuadas. Este procedimiento sigue siendo considerado como lento y los resultados son difciles de interpretar, por lo que es comn que se prefiera utilizar la difraccin con rayos-X o de neutrones para determinar parmetros de tramado y posiciones atmicas. No obstante, la mayor limitacin de la difraccin de electrones en un MET es el alto nivel de interaccin que se requiere del usuario, comparativamente. La difraccin con rayos-X o neutrones est muy automatizada, al igual que la interpretacin de los datos obtenidos. Por el contrario, la difraccin de electrones necesita un alto nivel de interaccin por parte del usuario.