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7 "Protocolo de teste para dispositivos de presso diferencial para medio de presso" E subsequentemente testado para atender aos requisitos adicionais do API 22 "protocolo de teste" Seo 2 - " Dispositivos de presso diferencial para medio de presso " (Em edio de API 5.7)
O American Petroleum Institute Manual of Petroleum Measurement Standards(Instituto Manual de Normas de Medio de Petrleo), Captulo 5.7 (API 5.7) especifica um protocolo de teste para o fluxo de presso diferencial dispositivos de medio. O protocolo foi escrito para aplicar a todos os dispositivos de fluxo de medio que medem o fluxo de fluido monofsico com base na deteco de uma presso diferencial criado na corrente de fluxo do fluido. Este padro foi publicado em Janeiro de 2003 "para abastecer a indstria com uma descrio comparvel das capacidades destes dispositivos para a medio de fase nica de fluxo do fluido quando eles so usados em condies de funcionamento semelhantes. " Um laboratrio para rastreveis NIST ou um equivalente nacional ou internacional necessrio. McCrometer escolheu para realizar as provas do V-Cone Wafer, em acordo com a API 5.7 a CEESI, Os resultados dos testes do API 5.7 foram apresentados em um documento conjunto McCrometer e CEESI em Flomeko 2004 [1] em Guilin, China, em 14 17 de setembro de 2004. McCrometer escolheu para realizar os testes do padro V-Cone, de acordo com API 5.7 a Southwest Research Institute, em San Antonio Texas e Utah State University. Os resultados dos testes de API 5.7 foram apresentados em um documento conjunto por McCrometer e Southwest Research Instituto no Mar do Norte Oficina de Medio de Fluxo em St Andrews. Esccia em 26 28 de Outubro de 2004 [2].
API 22 "Protocolo de Teste" - Seo 2 " Diferenciais de medio de presso dispositivos de fluxo ", publicado em agosto de 2005 ", Esta norma uma reviso da API 5.7 [2] e foi publicada em agosto de 2005 "para abastecer a indstria com uma descrio comparvel das capacidades destes dispositivos para a medio de fase nica de fluxo do fluido quando eles so utilizados sob semelhante condies ". Um laboratrio para rastreveis NIST ou um equivalente nacional ou internacional necessrio. McCrometer escolheu para realizar os testes adicionais do Wafer VCone e a norma V-Cone, para trazer o regime de testes anteriores em conformidade com os requisitos adicionais de 22,2 API, em CEESI, como o inicial testes da pastilha VCone metros para 5,7 API tinha sido realizada l. O resultados destes Wafer V-Cone testes ser apresentado em um documento conjunto McCrometer e CEESI, a medio
do fluxo de fluidos 6 Simpsio Internacional em Queretaro, Mexico em 16 18 de Maio de 2006 [3] Quando o relatrio de teste padro V-Cone concludo em Maio de 2006, um documento ser apresentado em um documento conjunto na prxima conferncia apropriada.
A 12 Conferncia Internacional sobre Medio de Vazo Setembro 14-17,2004 Guilin,China Testando os Wafer V-Cone Fluxmetros de acordo com API 5.7 "Protocolo de teste para dispositivos de presso diferencial para medio de vazo" na instalao de ensaio CEESI Colorado
Dr R.J.W.Peters Flow Measurement Technology Manager, McCrometer Dr Richard Steven Multiphase Meter Development Manager, McCrometer Steve Caldwell Vice President, CEESI Bill Johansen Engineering Manager, CEESI
"0.5 beta resultados do teste de razo mostrar pequenas diferenas entre a presso alta e a linha de base resultados do teste. 7.4 teste lquido foi realizada sobre as 4 "0.65 e 0.45 beta relao Wafer V-Cone metros, bem como o 2" 0.45 beta rcio Wafer medidor V-Cone. O teste lquido foi realizada utilizando gua. As diferenas entre os ensaios de fluxo de lquidos e os testes realizados sobre os basais metros, juntamente com as incertezas associadas a essas diferenas so mostrados na Figura A1. Os 4 "0.65 e 0.45 beta relao Wafer VCone resultados do teste do medidor no mostram diferenas entre o fluxo de lquido e de desempenho metros de linha de base. Os 2" 0.45 rcio beta Wafer V-Cone resultados do teste do medidor mostrar uma diferena entre o fluxo de lquido e fluxo de ar os resultados do teste de linha de base de 1.93% 0.644%. 7.5 testes no-padro foi realizada sobre a 4 0.45 beta "metros rcio Wafer V Conepara determinar a sensibilidade da bolacha metros V Cone-a perfis de velocidade assimtricos e redemoinho. Os testes foram conduzidos com um gerador de turbulncia no 0D, dobrar-se de avio, os cotovelos em 0D, uma vlvula de porta semiaberta em 3.1d, e uma vlvula de porta semi-aberta em 0E. As diferenas entre estes testes e os resultados dos exames iniciais na 4 0.45 beta "medidor de taxa de Wafer VCone ao longo com a incerteza associada com as diferenas mostrado na Figura A1. O nico teste que mostra uma diferena estatstica significativa entre os resultados do teste e os dados de referncia a vlvula gaveta semi-aberta no 0D. Estes resultados indicam que a Wafer V-Cone exibe um elevado grau de insensibilidade a efeitos da instalao. 7.6 Medio do rudo foram feitas durante todo o teste de baixa presso de ar realizada sobre as quatro Wafer V-Cone metros. No foi possvel diferenciar entre o rudo de fundo na rea de teste e do rudo produzido pelas Wafer V-Cone metros. 7.7 Em concluso, o McCrometer Wafer metros V-Cone nesses testes conheci as reivindicaes feitas pelo fabricante e exibiu uma habilidade excepcional para operar de forma eficaz a jusante de distrbios de fluxo.
De 26 28 de Outubro de 2004
"Testes do medidor de fluxo V-Cone em Southwest Research Institute e do Estado de Utah University em conformidade com a nova API Captulo 5.7 Protocolo de teste "
Authors: Dr. Darin L. George Senior Research Engineer, Southwest Research Institute Mr. Edgar B. Bowles Fluid Systems Engineering Manager, Southwest Research Institute Ms. Marybeth Nored Research Engineer, Southwest Research Institute Dr. R.J.W. Peters Flow Measurement Technology Manager, McCrometer Dr. Richard Steven Multiphase Development Manager, McCrometer
concluses
Os testes do medidor de fluxo V-Cone de acordo com a API Captulo 5.7 demonstraram a V-Cone Fluxmetro desempenho de gs de alta presso no MRF e na gua na Utah State University. Os resultados do teste mostraram repetibilidade metros boa, resultando em uma margem de incerteza de medio pequeno no coeficiente de descarga calibrado. Alm disso, os ensaios mostraram concordncia excelente entre a MRF, o estado de gua Utah University Research Laboratory eo laboratrio de gua McCrometer. O medidor de vazo V-cone conheceu as alegaes do fabricante como um dispositivo de 0,5% em relao a uma gama grande nmero de Reynolds. A equao expansibilidade fornecido para o medidor foi eficaz em toda a gama de presses de teste, presses diferenciais e tamanhos de linha de metro. Teste no -padro 2 demonstraram que dois, 90 fora do plano-cotovelos poderia ser colocado no tubo de aspirao do medidor com um deslocamento mximo do coeficiente de descarga de no mais do que 0,15%. Um fluxo com um ngulo de redemoinho at 30 na entrada para o medidor de fluxo de V-cone ir produzir resultados semelhantes, com uma alterao mnima ( 0,15%) no coeficiente de descarga calibrado. Quando uma meia lua placa de orifcio colocado no 5D a montante do contador, a mudana no coeficiente de descarga pode ser esperado a ser no mais do que 0,5%, dentro da tolerncia reivindicado pelo fabricante.
o teste de rudo acstico indicou que no havia nenhum rudo significativo do medidor, mas no o nvel de rudo conclusivo pde ser determinado para o medidor devido ao rudo de fundo da instalao de ensaio.
Medio de Vazo
6 Simpsio Internacional 16 18 de Maio de 2006, QUERETARO, MEXICO
Testando a pastilha V-Cone fluxmetro em conformidade com a API 22 "protocolo de teste" SECO 2 - "presso diferencial dispositivos para medio de vazo" na instalao de ensaio CEESI Colorado Instalaes de teste.
Dr R.J.W.Peters Flow Measurement Technology Manager McCrometer, Inc. Casey Hodges Staff Engineer CEESI Steve Caldwell Vice President CEESI
instalao de teste valores acima de toda a gama nmero de Reynolds de 50 000 a 500 000. Isto mostra que existe uma diferena significativa entre os valores de Cd mediana de cada teste efeitos instalao a partir do teste de linha de base. Devido nolinearidade do Cd vs nmero curvas Reynolds a maneira correta de comparar os valores de Cd Mid comparar os efeitos dos testes de instalao sobre o mesmo intervalo que o teste inicial foi executado.
Estes resultados, limitando a instalao efeitos gama nmero de Reynolds de 90 000 a 500 000, esto em mostrado como uma seco separada na parte inferior da Tabela 2.
2 "0.45 m No existe nenhuma diferena estatstica a partir do teste de linha de base quando Placa Meia Lua 5D Montante Placa Meia lua 1D Jusante Placa Meia Lua 5D a montante e 1D a jusante
4 " 0.45 m No existe nenhuma diferena estatisticamente do teste de linha de base quando Placa Meia Lua 5D Montante Placa Meia Lua 2D Jusante Conclui-se que no haveria diferena estatstica se houver Placa Meia Lua 5D a montante e 1D a jusante
4 "0.50 m No existe nenhuma diferena estatisticamente do teste de linha de base quando Placa Meia Lua 5D Montante Placa Meia Lua 1D a jusante Meia Lua Prata 5D a montante e 1D a jusante
4 "0,65 m Re gama restrita de 90.000 para 500.000 No existe nenhuma diferena estatisticamente do teste de linha de base quando Placa Meia Lua 5D Montante Placa Meia Lua 2D Jusante Conclui-se que no haveria diferena estatstica se houver Meia Lua Prata 5D a montante e 1D a jusante
8.5 medies do rudo foram feitas durante todo o teste de baixa presso de ar realizada sobre as quatro Pastilhas V-Cone metros. No foi possvel diferenciar entre o rudo de fundo na rea de teste e do rudo produzido pela Pastilha V-Cone metros. 8,5 medies do rudo foram feitas durante todo o teste de baixa presso de ar realizada sobre as quatro Pastilhas V-Cone metros. No foi possvel diferenciar entre o rudo de fundo na rea de teste e do rudo produzido pela Pastilha V-Cone metros. 8.6 Em concluso, o McCrometer Pastilha V-Cone metros nestes testes demonstrado uma capacidade excepcional para operar de forma eficaz a jusante do fluxo de extrema perturbao. McCrometer agora vai aconselhar os seus clientes a montante e a jusante requisitos de trechos retos entre tais distrbios e a Pastilha medidora VCone para alcanar a incerteza afirmou.