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CARTAS DE CONTROL PARA ATRIBUTOS

Control estadstico de procesos, mediante grficos de atributos.

control para

Muchas caractersticas de calidad no pueden ser representadas numricamente, denominndose atributos, cuando la caracterstica que se analiza solo puede tomar dos valores, no o s, correcto o incorrecto, adecuado o inadecuado, pasa o no pasa, malo o bueno, discrepante o no discrepante se habla de control por atributos. En tales casos cada artculo completo se clasifica segn una excelente organizacin de la inspeccin (para ello es necesario estandarizar los mtodos y criterios en las decisiones de aceptacin y rechazo) y de la informacin recolectada (permita investigar las causas asignables de variacin) para el anlisis de los mismos, de tal forma que las decisiones no se sustenten en meras conjeturas, por lo que utilizando fundamentalmente grficos que permitan monitorizar la estabilidad (calidad) de un proceso de produccin o de suministro de un servicio, de forma que se detecte, cuanto antes, cualquier situacin inadecuada en la produccin de dos o ms caractersticas de calidad que no puedan ser llevadas a una escala de medicin; ante esta situacin se pueden aplicar los grficos de control de calidad, lo que permitir una oportunidad de mejora continua sobre las causas especiales de variabilidad en la obtencin del resultado final. Se clasifican en: Cantidad de defectos o disconformidades por unidad (p,np) Cantidad de unidades defectuosas o disconformes (u,c) Unidad Disconforme: Es una unidad que no cumple con la norma de produccin, y que por lo tanto no puede ser aceptada. Aunque esta no contenga ningn defecto. Y etas se catalogan en crticas, mayores, menores e incidentales, esta clasificacin es necesaria para efectuar control sobre aquellos atributos que realmente merecen atencin. Unidad Defectuosa: Es una unidad que no cumple con la norma de produccin, y que por lo tanto posee defectos que pueden o no ser corregidos conllevando a un reproceso o a un desecho parcial o total del producto. Para controlar productos defectivos o no conformes, se utiliza la carta de control p de fraccin defectiva o la np para el nmero de defectivos o de no conformes. Se aplica a productos simples (tornillos, lpices, botellas, etc.)Cuando ms bien se controla el nmero de defectos o disconformidades que se observan en un producto, se utiliza la carta de control para disconformidades o defectos c cuando la muestra es constante o la u cuando es variable o constante. Se aplica a productos complejos (coches, TV, cmaras de video, escritorios, refrigeradores, etc.) Un defecto o disconformidad es una discrepancia respecto a los estndares establecidos o a las especificaciones
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Tipos de grficos. A. GRFICO PARA FRACIN DEFECTUOSA O DISCONFORME o Carta p La fraccin disconforme o defectuosa se define como el cociente del nmero de artculos disconformes de la poblacin entre el nmero total de artculos que componen dicha poblacin. Este grfico es conveniente aplicarlo a aquellos procesos que no tengan porcentajes superiores al 10% de defectos o disconformidades. El artculo puede tener varias caractersticas de calidad que son examinadas por un inspector, si el artculo no est de acuerdo a los estndares, se le considera como defectuoso o disconforme. La fraccin defectiva o disconforme en la muestra se define como la relacin entre el nmero de unidades disconformes D entre el tamao de muestra n, o sea:

pi =

Di ni

(1)

La distribucin de este estadstico sigue la distribucin binomial por tanto:

=p
2 p =
p(1 p ) n

__

(2) (3)

Del modelo general para la carta de control de Shewhart, si w es un estadstico 2 que mide una caracterstica de calidad, con media w y varianza w , los lmites de control son: LSC = w + Lw LC = w LIC = w - Lw

(4)

Donde L es la distancia de la lnea central hasta los lmites de control, es comn usar L = 3.
2

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Por tanto los lmites de control de la carta p considerando L = 3 son: p (1 p ) LSCp = p + 3 n

__ __ __ __

LCp = p p (1 p ) LICp = p 3 n
__ __ __

(5)

Durante la operacin, se toman muestras de n unidades, se calcula la fraccin defectiva pi y se grfica en la carta, mientras no se observe ningn patrn anormal y pi se localice dentro de lmites de control, se puede concluir que el proceso est en control, de otra forma, se concluir que la fraccin no conforme se ha desplazado de su valor original y el proceso se encuentra fuera de control. Cuando la fraccin defectiva del proceso es desconocida, se estima de los datos observados en m muestras iniciales, cada una de tamao n, por lo general se toman 20 a 25 de estas. As si Di son unidades no conformes en la muestra i , la fraccin defectiva de la muestra i - sima estar dada como: pi = Di / n i = 1, 2, 3,....., m (6)

Se calcula el promedio de las fracciones individuales disconformes cuando p es desconocida, as:

m i

p=

D
i =1

mn

p
i =1

(7)

Una vez hecha la grfica trazando los lmites anteriores, cualquier punto que se encuentre fuera de control debe ser investigado, si se encuentra una causa asignable o especial, deben tomarse medidas correctivas para prevenir su recurrencia, los puntos correspondientes a la situacin fuera de control se eliminan y se calculan de nuevo los lmites de control preliminares.

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B. GRFICO PARA NMERO DE DEFECTUOSOS o CARTA DE CONTROL np

En lugar de tener fracciones disconformes se basa en unidades disconformes, si el tamao de muestra es constante, se pueden utilizar directamente el nmero de artculos defectivos o disconformes np, para evitarle operaciones aritmticas al operador, los parmetros de esta carta son:

LSC np = np + 3 np (1 p )
LC np = np
LIC np = np 3 np(1 p )

(8)

Si no se conoce el valor de p, se puede estimar con la p . El nmero de defectivos o no conformes es un entero.

Por otra parte si la variable se utilizan estos enfoques Si el tamao de la muestra es variable. En algunas aplicaciones para la fraccin defectiva, la muestra es la inspeccin 100% de los lotes producidos en un periodo de tiempo, por tanto la muestra ser variable. Para estos casos los lmites son variables entonces se calculan lmites de control para cada muestra en base en la fraccin defectiva promedio p y su tamao de muestra con p 3 p (1 p) / ni . La amplitud de los lmites es inversamente proporcional a la raz cuadrada del tamao de muestra. La fraccin defectiva media se calcula:
25

p=

D
i =1 25

n
i =1

Y los lmites de control se calculan como sigue: LSCp= p + 3 p LC = LICp= p 3 p

4

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Cuando se toman lmites de control variables, el anlisis de patrones de anormalidad no tiene sentido ya que la desviacin estndar en cada muestra esta variando y no es posible visualizar corridas o tendencias. Si el tamao de muestra es el promedio de las muestras variables, entonces se toma el promedio de los tamaos de muestra para calcular los lmites de control aproximados, se asume que los tamaos de muestra no diferirn en forma apreciable de los observados, aqu los lmites de control son constantes. Si existen grandes diferencias mayores al promedio ms o menos 25%, este mtodo no es adecuado.
m

n=

n
i =1

Con lmites de control basados en n LSCp= p + 3 p = p + 3 LC = LICp= p 3 p = p 3 .

p (1 p ) ni

p(1 p ) ni

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C. GRFICO PARA DEFECTOS O DISCONFORMIDADES POR MUESTRA (c) TAMAO DE MUESTRA CONSTANTE - CARTA c Este grfico sirve para el control de defectos que se examinan por muestra extrada. Estos grficos permiten analizar a fondo aquellos defectos que se presentan con ms frecuencia, cuya reduccin y posible eliminacin, conlleva a la eliminacin o reduccin de la cantidad de defectos. El xito en este tipo de control est en la eficiencia y eficacia de la inspeccin.

Una unidad de inspeccin es simplemente una entidad para la cual es conveniente registrar el nmero de defectos, puede formarse con 5 unidades de producto, 10 unidades de producto, etc. Suponiendo que los defectos o disconformidades ocurren en la unidad de inspeccin de acuerdo a la distribucin de Poisson, o sea: e c c x p( x ) = (9) x!

Donde la media y la desviacin estndar tienen valor c; para x = 0, 1, 2, ....... Por tanto considerando L = 3-sigma. Los lmites de control para la carta de disconformidades o defectos con un valor estndar dado son: LSCc = c + 3 c LCc = c LICc = c - 3 c

(10) en el caso que sea negativo toma el valor cero.

Si no hay estndar definido c se estima con el promedio de no conformidades observadas en una muestra preliminar inspeccionada, o sea con c , en este caso los parmetros de la carta son: LSCc = c + 3 c LCc = c LICc = c - 3 c

(11) en el caso que sea negativo toma el valor cero

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Si el tamao de la muestra es variable los lmites se calculan as:

LSC nc = nc + 3 nc

LC nc = nc

(13)

LICnc = nc 3 nc

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D. GRFICO PARA DEFECTOS O DISCONFORMIDADES POR UNIDAD (u) Carta u Si se encuentra un total de x promedio de disconformidades por n unidades de inspeccin, entonces el promedio de disconformidades por unidad de inspeccin u es: x u= (14) n Como u es una variable aleatoria que sigue la distribucin de Poisson, los parmetros de la carta u de nmero de disconformidades o defectos por unidad. La lnea central y los lmites individuales de control se calculan como sigue:

LSCu = u + 3
LC u = u

u n
(15)

LSC u = u + 3

u n

Donde u representa el nmero promedio de no conformidades por unidad en un conjunto de datos preliminar. Los lmites anteriores se consideran lmites preliminares. En algunos casos las cartas de control para disconformidades se utilizan en la inspeccin 100% de la produccin o lotes de producto, por tanto las unidades de inspeccin no son constantes, adems de que eleva los costos. En esta carta se tiene una lnea central constante y los lmites de control varan inversamente con la raz cuadrada del tamao de muestra n.