Laboratorio 6 Difraccin de la luz

6.1 Objetivo
1. Estudiar el patrn de difraccin dado por rendijas rectangulares sencillas y dobles, aberturas circulares, y rejillas de difraccin. 2. Medir las constantes correspondientes en cada caso

6.2 Preinforme

1. En qu consiste el fenmeno de difraccin de la luz? 2. Qu condiciones debe cumplir una fuente de luz para que produzca un patrn de difraccin observable? 3. Cuales son las frmulas que definen la posicin de los mximos y mnimos en un patrn de difraccin? 4. Cul es la diferencia entre la difraccin de Fresnel y la difraccin de Fraunhofer?.Estn fundamentadas en principios fsicos diferentes?

6.3 Materiales

Lser de Helio Nen = 632, 8 109m Rendijas rectangulares sencillas 46991 Rendijas rectangulares dobles 46984 y 46985 Rejillas de difraccin 46987, 46988 y 46986 Rendijas circulares 46996 6.4. FUNDAMENTO TERICO 43 Banco ptico Soporte para diapositivas Pantalla blanca

6.4 Fundamento Terico

En general el fenmeno de la difraccin se presenta cuando una onda interacta con objetos cuyas dimensiones son comparables con su longitud de onda. Desde el punto de vista de la teora, que considera la luz como un fenmeno ondulatorio, el estudio de la ptica se divide en dos grandes campos: el de la ptica geomtrica y el de la ptica

fsica. Si el objeto con el cual interacta la luz posee dimensiones muy grandes comparadas con su longitud de onda, se estar en el campo de la ptica geomtrica; pero si las dimensiones del objeto son comparables con la longitud de onda de la luz se estar en el campo de la ptica fsica. La longitud de onda de la luz visible est en el rango entre 780 nm y 390 nm aproximadamente. Para que la luz pueda producir un patrn de difraccin observable, sta debe interactuar con objetos que posean dimensiones comparables con estos valores; es por esta razn que el fenmeno no es fcilmente apreciable a simple vista siendo necesarias ciertas condiciones de laboratorio para ser observado. A su vez el estudio de la difraccin puede dividirse en dos partes: la difraccin de Fraunhofer y la difraccin de Fresnel. En la difraccin de Fraunhofer se supone que las ondas incidentes al objeto son planas al igual que las ondas emergentes del mismo. La distancia entre el objeto y la pantalla sobre la cual se observa el patrn, debe ser grande comparada con las dimensiones del objeto. La difraccin de Fresnel tiene lugar cuando la fuente puntual de las ondas incidentes, o el punto de observacin desde el cual se las ve, o ambos, estn a una distancia finita del objeto. El dispositivo experimental que se utiliza en este laboratorio coincide con la concepcin de Fraunhofer de la difraccin.

6.4.1 Difraccin de Fraunhofer por una rendija rectangular

La teora asociada con la difraccin por una rendija rectangular considera una rendija muy angosta (de las dimensiones de la longitud de onda de la luz) y muy larga. En concordancia con el principio de Huygens, cada punto del frente de onda plano se convierte en fuente de pequenas ondas esfricas secundarias; estas onditas, llamadas ondas difractadas, luego se recombinan constructiva o destructivamente en una pantalla sobre la cual es posible observar un patrn de difraccin cuya distribucin de intensidad luminosa a lo largo de ella, corresponde al dibujo de la figura 6.1.

Figura 6.1: Distribucin de intensidad en el diagrama de difraccin de una rendija angosta y larga. En la practica lo que se observa en la pantalla es una zona muy brillante central acompaada de una serie de zonas brillantes y oscuras (las brillantes cada vez de intensidad menor), alternadamente alrededor de dicho mximo. (Figura 6.2.) Puede demostrarse que la condicin para que haya interferencia destructiva en la pantalla debe cumplir la siguiente condicin:

bsen = m

m = 1, 2, 3, ....

(6.1)

Donde: b es el ancho de la rendija, es la separacin angular entre el centro del mximo central y el centro de los mnimos observados, m es el orden del patrn de difraccin para mnimos de intensidad y es la longitud de onda de la luz incidente.

6.4.2 Difraccin de Fraunhofer por una rendija doble

El patrn de difraccin por dos rendijas paralelas iguales, resulta de la interferencia de los dos patrones de difraccin provenientes de cada una de las rendijas. Lo que se observa en la pantalla es un patrn de interferencia de Young producido por dos rendijas rectangulares modulado por un patrn de difraccin de Fraunhofer por una rendija rectangular. En este caso los mximos de interferencia estn dados por la siguiente expresin : dsen = m m = 1, 2, 3 (6.2) Donde: d es la distancia entre las dos rendijas, es la separacin angular entre el mximo de interferencia central y los mximos secundarios, m es el orden del 6.4. FUNDAMENTO TEORICO 45

Figura 6.2: Diagrama de difraccin de Fraunhofer producido por una rendija angosta y larga. Figura 6.3: Diagrama de difraccin de Fraunhofer debido a dos rendijas paralelas angostas y largas. patrn de difraccin para los bf mximos de interferencia y la longitud de onda de la luz.

6.4.3 Difraccin de Fraunhofer por una abertura circular

La difraccin de Fraunhofer por una abertura circular presenta muchas carcter sticas similares a la difraccin de Fraunhofer por una rendija rectangular, solo que en el caso de la abertura circular el patrn de difraccin consiste en una serie de crculos similares de intensidad decreciente. La condicin de interferencia destructiva correspondiente al primer disco oscuro est dada por la expresin: Dsen = 1.22 (6.3)

Aqu D es el dimetro de la abertura circular, es la separacin angular entre el centro del disco brillante central y el primer disco oscuro y es la longitud de

Figura 6.4: Difraccin de Fraunhofer por una rendija circular 6.4. FUNDAMENTO TERICO

Figura 6.5: Distribucin de intensidad producida por una red de difraccin sobre un plano normal a la luz incidente y paralelo a la red. onda de la luz utilizada para obtener el patrn de difraccin. As, midiendo y conocida la longitud de onda, se puede determinar el dimetro de la abertura circular.

6.4.4 Rejilla de Difraccin

La rejilla de difraccin consiste en un gran numero de rendijas paralelas idnticas de ancho b y separadas una distancia d. Cuando la rejilla es iluminada convenientemente, el patrn observado en la pantalla consiste en la distribucin de interferencia producida por N rendijas, modulado por un patrn de difraccin de una sola rendija. En la practica lo que se observa es una forma parecida al patrn de difraccin para la rendija doble extendida al caso de N rendijas. En este caso la condicin para interferencia constructiva est dada por la expresin: dsen = m (6.4)

Donde: d es la distancia entre las rendijas o constante de la rejilla, es la separacin angular entre los mximos secundarios y el mximo central, m es el orden del patrn de difraccin para mximos de intensidad, es la longitud de onda de la luz utilizada para obtener el patrn de difraccin.

Figura 6.6:

6.5 Procedimiento

IMPORTANTE: LA FORMA CORRECTA DE MANIPULAR LAS DIAPOSITIVAS ES COMO SE MUESTRA EN LA FIGURA 6.6. SI SE TOCA LA DIAPOSITIVA SE DESTRUYE POCO A POCO.

6.5.1 Difraccin por una rendija rectangular

1. Monte en el soporte para diapositivas la rejilla 46991. Ilumnela con el lser y ubique todo el montaje en el banco ptico como se muestra en la figura 6.7.

2. Para asegurarse de que la pantalla este perpendicular al haz lser, observe el reflejo del lser (sin rejilla) y gire o mueva la pantalla muy lentamente hasta que el reflejo incida de nuevo sobre la abertura frontal del lser. Este procedimiento debera repetirse todas las veces que sea necesario si durante la toma de datos la pantalla es movida. 3. Coloque la rejilla lo mas alejada posible de la pantalla acrlica y trate de ubicar un patrn de difraccin con el mayor nmero de mnimos posible. Escoja una de las rendijas A, B o C.

4. Mida la distancia entre el alambre y la pantalla. 6.5. PROCEDIMIENTO

Figura 6.7: Montaje de la diapositiva en el banco ptico.

Figura 6.8: Pantalla acrlica semirefrectiva. 5. Para la toma de todas las medidas debe dibujar el espectro de difraccin tal como se ve por detrs de la pantalla acrlica (lado opaco de la pantalla) pero NO ESCRIBA sobre ella, coloque una hoja de papel pegada con cinta. 6. Mida la distancia entre el centro del mximo central y cada uno de los primeros cinco (5) mnimos del patrn de difraccin. Organice estos datos en una tabla (No mida ngulos directamente)

6.5.2 Difraccin por rendija doble

1. Monte la diapositiva 46984. En esta diapositiva hay tres rendijas dobles. La diferencia entre ellas est en el ancho de las rendijas, mas no en la distancia entre rendijas (variable g en la diapositiva) pues esta es constante e igual a 0,25 mm. 2. Haga incidir el lser sobre la primera doble rendija hasta observar en la pantalla un patrn claro de difraccin. La distancia entre la diapositiva y la pantalla debe ser la mxima posible. 3. Dibuje lo mas fielmente posible el espectro de difraccin. 4. Calcule la distancia angular entre el mximo central y los mximos secundarios consecutivos. Organice los datos en una tabla. 5. Haga lo mismo para las siguientes dos rendijas dobles. 6. Monte la diapositiva 46985. En esta diapositiva hay tres rendijas dobles. 7. La diferencia entre ellas est en la distancia entre las rendijas, mas no en el ancho de las rendijas (variable b en la diapositiva) pues esta es constante e igual a 0,20 mm. 8. Haga incidir el lser sobre la primera doble rendija hasta observar en la pantalla un patrn claro de difraccin. La distancia entre la diapositiva y la pantalla debe ser la mxima posible. 9. Dibuje lo ms fielmente posible el espectro de difraccin. 10. Calcule la distancia angular entre el mximo central y los mximos secundarios consecutivos. Organice los datos en una tabla. 11. Haga lo mismo para las siguientes dos rendijas dobles.

6.6. ANLISIS

6.5.3 Rejillas de Difraccin

1. Con el mismo montaje utilizado en el numeral anterior haga incidir la luz del lser sobre la primera ventana que aparece en la parte izquierda de la diapositiva 46987. El patrn observado es el correspondiente a una rejilla de difraccin. 2. Calcule la separacin angular entre el mximo central y los mximos secundarios consecutivos. Organice los datos en una tabla. 3. Haga lo mismo para las siguientes dos (2) rejillas. Observe que el nmero de lneas por centmetro va aumentando de de la rejilla izquierda a la derecha. 1. Monte la rejilla 46996. Esta rejilla contiene tres agujeros circulares de diferente dimetro. 2. Ilumine el agujero ms pequeo con el lser y trate de obtener un patrn de difraccin consistente en un crculo central muy brillante rodeado de crculos oscuros y brillantes alternativamente.

6.5.4 Difraccin por una abertura circular

3. Calcule la separacin angular entre el centro del disco central y el centro del primer disco oscuro. Registre estos datos. 4. Repita el procedimiento para los otros dos agujeros.

6.6 Anlisis

Con los datos obtenidos en el numeral 6.5.1 y con la ecuacin 6.1. Encuentre el ancho de la rendija rectangular usada. Compare el valor obtenido con el proporcionado por la tabla 6.1. Estime el error en la medida de b, teniendo en cuenta que b es funcin de . Con los datos obtenidos en el numeral 6.5.2 y con la ecuacin 6.2, encuentre la separacin d y el ancho b para cada una de las rendijas dobles. Halle el error respectivo. Compare con los valores escritos en las diapositivas. Con los datos obtenidos en el numeral 6.5.3 y con la ecuacin 6.4, encuentre el nmero de lneas por centmetro para cada una de las rejillas. Compare estos resultados con los proporcionados en la diapositiva. Utilizando los datos del numeral 6.5.4 y con la ecuacin 6.3, determine el dimetro de los agujeros ubicados en la diapositiva 46991. Compare con los valores proporcionados por la tabla 6.1. Estime los errores en las medidas.

Tabla 6.1: Medidas de las rendijas usadas en el laboratorio Rendija 46991 A 120 m B 240 m C 480 m Rendija 46984 b (mm) g (mm) 0.10 0.25 0.15 0.25 0.20 0.25 Rendija 46985 b (mm) g (mm) 0.20 0.25 0.20 0.50 0.20 0.75 0.20 1.00 Rendijas 46987 Lneas/cm g (mm) 20 0.50 40 0.25 80 0.125 Rendija Circular 46996 A D = 120 m B D = 240 m C D = 480 m