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!a difraccin es el fenmeno que se produce cuando las ondas "mecnicas, electroma#n$ticas o asociadas a partculas% alcanzan un obstculo o abertura de dimensiones comparables a su propia lon#itud de onda, y que se manifiesta en forma de perturbaciones en la propa#acin de la onda, bien sea rodeando el obstculo, bien sea produci$ndose una diver#encia a partir de la abertura &n nuestro caso consideraremos la difraccin de las ondas electroma#n$ticas, y en un sentido amplio, podemos decir que la difraccin se define como toda desviacin de los rayos luminosos que no pueda explicarse ni como reflexin ni como refraccin 'uando se observa la difraccin producida por un objeto proyectando sobre una pantalla a una distancia muy #rande del propio objeto, la distribucin de intensidades observada se conoce como patrn de difraccin de Fraunhofer (atrn de difraccin de Fraunhofer de una rendija estrecha 'onsideremos un haz plano de luz monocromtica de lon#itud de onda que en su propa#acin encuentra perpendicularmente una rendija estrecha de anchura )b *e acuerdo con el principio de +uy#ens, cada punto de la rendija se convierte en un emisor de ondas secundarias (uesto que por hiptesis el haz incidente es plano y la rendija se encuentra perpendicular a $l, todas estas ondas secundarias se encuentran en fase , si reco#emos sobre una pantalla lejana la radiacin procedente de todos estos focos emisores, encontraremos una distribucin de intensidad donde cada punto de la pantalla estar ms o menos iluminado dependiendo de las fases de las ondas secundarias que alcanzan el punto dado- fases que a su vez dependern del camino que cada uno de los rayos ori#inados en estas fuentes secundarias haya tenido que recorrer para lle#ar all .parecern mximos y mnimos en la pantalla, y puntos con una intensidad intermedia, que constituyen el patrn de difraccin de la rendija 'onsideremos el esquema presentado en la fi#ura / &n el centro de la pantalla "punto O% aparecer un mximo de intensidad, porque todos los focos secundarios que forman la rendija son equidistantes y las ondas secundarias que ori#inan lle#an en fase . medida que nos alejamos de ese punto central, hacia un lado y otro hay desfases en las ondas secundarias que alcanzan cada punto y en consecuencia aparecen variaciones en la intensidad 'onsideremos se#uidamente el rayo que forma un n#ulo con la direccin perpendicular a la rendija y la pantalla, cuya trayectoria es la hipotenusa de un trin#ulo rectn#ulo cuyos catetos son *, y !lamando 0 a la intensidad del mximo central, si la rendija est lo suficientemente lejos de la pantalla y la distancia d es pequea comparada con * puede demostrarse "v$ase ap$ndice% que la intensidad de la luz difractada se#2n la direccin dada por el n#ulo es3
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+az plano )b * "*77y% "*77)b% Fi#ura / &squema de difraccin de un haz plano por una rendija estrecha O (ant alla y
)bsin
8$ase en la fi#ura / que si D77y, entonces es un n#ulo pequeo, y por consi#uiente se verifica que sin 9tg , como tg 6y4D, la ecuacin "/% puede escribirse3 ) ) b y 6 ")%
I I
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b y
ap$ndice "de una forma ms compacta se denomina 6")b/D%y, y la funcin "/4%sin se conoce como sinc % (or lo tanto la ecuacin ")% puede escribirse en la forma alternativa
")bis%3 ")bis% I 8$ase en la ecuacin ")% que la intensidad se anula siempre que ")b/D%y 6 m "m6:/,
:), :; % (or lo tanto, si se mide la distancia entre mnimos de intensidad, siendo conocidas y D, es posible determinar la anchura )b de la rendija O alternativamente, si se
PARTE EXPERIMENTAL Observaciones cualitativas +#ase pasar un haz lser a trav$s de los si#uientes objetos difractantes3 una rendija
estrecha, un cabello, varios cabellos cruzados y una abertura circular de pequeo tamao
medidas sobre el mximo central "&sta !*= debe estar previamente calibrada para utilizar las lecturas de resistencia en el clculo de la iluminacin% *ebe medirse cuidadosamente la distancia de la rendija a la !*=, y ase#urarse de que el haz lser est dispuesto perpendicularmente a $sta
y !*= <ximo principal de difraccin >hmetro =endija +az difractado (letina de desplazamiento "se desplaza se#2n eje y% Fi#ura )a &squema del dispositivo experimental para medidas de difraccin +az incidente
'omenzando en el primer mnimo iremos moviendo la !*= en pasos de 1 ? mm, de manera que recorramos completamente el mximo principal de difraccin 'ada 1 ? mm anotaremos las lecturas de posicin y resistencia medida por el hmetro "@er necesario cambiar la escala del hmetro a lo lar#o de la serie de medidas, ya que la resistencia cambia rdenes de ma#nitud desde el mnimo hasta el mximo de iluminacin% &n las fi#uras )b y )c se muestran foto#rafas de la pletina de desplazamiento y del sistema de medida
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LDR
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de
lu Fi#ura )b *etalle del sistema de medida (letina de desplazamiento con tornillo microm$trico
Tornillo micromtrico
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TRATAMIENTO DE DATOS !a intensidad de difraccin de una rendija en una pantalla lejana est dada por la ecuacin ")% (or lo tanto ajustaremos los valores obtenidos "I ,en lux, en funcin de y, en mm% a una ecuacin de la forma3 I 6 I1sinc)"my% ";% donde I1 es la intensidad del centro del mximo principal y donde )b es la anchura de la rendija, D la distancia a la pantalla de observacin y la lon#itud de onda de la luz utilizada
. partir de la tabla de resistencias de la !*= frente a distancia y que se ha obtenido
conforme se indica en la parte experimental se calcular la iluminacin usando el calibrado de la !*=, y lue#o habr que ajustar los datos se#2n la ecuacin ";% (ara realizar este ajuste el paso previo es representar #rficamente I frente a y para localizar el mximo de la curva de difraccin y restar a todas las abscisas "valores de y% la abscisa de ese mximo, a fin de obtener una curva centrada de la forma que aparece en la ecuacin ";% . este proceso lo denominaremos correccin de centrado, y es necesario para el ajuste porque la fi#ura de difraccin debe estar centrada sobre el ori#en del eje de abscisas
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distancia
Fi#ura ; . la izquierda, representacin #rfica de datos sin correccin de centrado, esta forma no es adecuada para efectuar un ajuste por mnimos cuadrados, ya que la fi#ura no est centrada sobre el ori#en del eje de abscisas . la derecha, los mismos datos con la correccin de centrado . cada valor de la abcisa se le
han restado 5 unidades "v$anse los valores en el eje horizontal%, con lo que se obtiene una forma apta para el
ajuste de mnimos cuadrados indicado por la ecuacin ";%, a fin de obtener los dos parmetros I , m
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Bna vez realizado el centrado llevaremos a cabo el ajuste usando el pro#rama Caleida#raph . partir de los datos del ajuste se determinar la anchura )b de la rendija con su error correspondiente
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In te nsi d ad In te nsi d ad
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EJEMPLO &n la tabla &D/ se presentan las medidas de resistencias de la fi#ura de difraccin de una rendija colocando el detector !*= a una distancia * 6 "; );:1 1/% m @e han tomado lecturas de resistencia en funcin de la iluminacin cada 1 ?1 mm &n la columna rotulada I "lux% se han convertido estas resistencias en iluminaciones usando la correspondiente recta de calibrado 'alibracin del detector !*= utilizado3 1 ?EE lo# I 61 EADlo#=
Fabla &D/ y "mm% I "lux% y "mm% R "CG% R "CG% 1 ;/ E 1 1HAH) /) ? 1 I1; I; A/;AI )? 1 / ;/H /I H5??? 1 ? )? ) 1 //15E /; 1 1 ?5/ I? I/EHH )? ? / AIA /A 1)5A
/ 1 /H ) 1 )/)A5 /; ? 1 ?H5 IH 5AEA/ )I 1 / I?A // A11)
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// I 1 A/?)/ /A 1 1 ?IE H1 )1/? )I ? / EAI 5 A?H5A E /) 1 HI/?H /A ? 1 ?I) H/ AE1E5 )H 1 ) 1H H HEA1H I 1H / )A5/I /? 1 1 ?I/ H/ I5HH) )H ? ) ;E I /;5?) A ?I ) 1;/E/ /? ? 1 ??5 H) /;A?; )E 1 ) HA A E;/IH ; ?E ; 1II/? /I 1 1 ?I/ H/ I5HH) )E ? ; ) ; H/1E? ) E5 A A/)5E /I ? 1 ?I) H/ AE1E5 )5 1 ; E ) HH1A) ) A/ I 1/1// /H 1 1 ?H/ I5 ?H?;E )5 ? A ?; ) 1?AH? ) 1) E //A?5 /H ? 1 ?HE IE /AEAI ;1 1 ? A / ?)A1H / HA /1 A?EI/ /E 1 1 ?5; I? )A)EA ;1 ? I ?? / 15H? I1 / ?/ /; ;/1;; /E ? 1 I1H I) H1AA) ;/ 1 E /H 1 H?;II I? / ;A /I ;1E); /5 1 1 I)? ?5 IIA)I ;/ ? /1 A/ 1 A55/;
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5 1 1 EAA ;? H5IA )/ ? 1 HE A1 5;;5E 5? 1 H5/ ;5 5H1I /1 1 1 HA; AA AI15 /1 ? 1 H1? AE I/;15 // 1 1 IH; ?) I15;A // ? 1 IAI ?I A1;;5 /) 1 1 I); ?5 551;H
)) 1 )) ? ); 1 ); ? )A 1 )A ?
.l realizar la correccin de centrado utilizando un ajuste a polinomio de )J #rado para los valores centrales de la curva de difraccin se encuentra que a cada abscisa se le debe restar y 6 /? A?? mm !os valores corre#idos se presentan en la tabla &D)
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Fi#ura &FD/ .juste por mnimos cuadrados de los datos de la tabla &D)
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en I 6 I1sinc m y M yc "que aparece fi#ura representado #rficamente &FD/% son3 H/ 1 A m "1 )//H : 1 11/A% mm r 6 I? lux 6 1 55EEH :
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BIBLIO RAF!A / & +echt, . Pajac, ptica, cap /1 .ddisonDQesley, /5EI ) R * Sraus, Electromagnetismo, cap /) <cTraUD+ill, /5EI ; = Q *itchburn, ptica, cap I 'ompaa &d =evert$, /5E) A < ,uste, ' 'arreras, Difraccin de Fraunhofer por una rendija. Estudio e perimental de la distribucin de intensidades en el m! imo central BV&*, /551 ? Tran &nciclopedia !arousse &ditorial (laneta Warcelona /5EE
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AP"NDICE
dada por el n#ulo es & dy4)b, ya que dy4)b es la fraccin de la rendija ocupada por la rendija elemental "Vtese que decir pantalla lejana implica despreciar cualquier dependencia de la amplitud que lle#a a la pantalla con el n#ulo %
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&l campo el$ctrico en la pantalla correspondiente a la fraccin de la onda que lle#a desde la rendija elemental mostrada en la fi#ura . / "camino )% es3 dy M O % 6)ysen 6 1) ej" t " dE E b y6b y61 dy y 6 Db y sen &l campo total en el punto de la pantalla indicado por el n#ulo que es debido a la suma de todos los campos infinitesimales vale3 E Ob M O % 1 E6 Y ej"t " dy )b M b 'onviene inte#rar en funcin de , no en funcin de y3 cambio de variable y cambio de lmites de inte#racin *espejando y diferenciando3 6 d y 6 ) sen 'uando y 6 :b 6 : ")b4%sen dy ) sen y
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