Documente Academic
Documente Profesional
Documente Cultură
Atributo
Lote
Muestra
Aleatoriedad
Homogeneidad
Aquellos casos en los que s es posible hacer mediciones, pero no se realizan debido al tiempo o costo. Por ejemplo, medir el dimetro de un orificio utilizando un patrn que directamente indique pasa/no pasa y, determinar as si se cumple o no con la especificacin respectiva.
Es la inspeccin realizada a cada unidad de producto para ser clasificada como conforme o no conforme de acuerdo a los requerimientos especificados.
LOTE
Es un conjunto de unidades del productos del cual se toma muestra para ser inspeccionada.
MUESTRA
Una muestra consiste de una o ms unidades de producto tomadas de un LOTE, las unidades de la muestra son seleccionadas aleatoriamente sin considerar su calidad.
MUESTREO ALEATORIO
El muestreo se considera aleatorio si cada unidad de producto que constituye la muestra es seleccionada de tal forma, que cada una de estas unidades de producto tenga la misma oportunidad de ser seleccionada.
Objetivo de los planes de muestreo es encontrar el tamao de muestra (n) y el nmero de aceptacin (Ac) apropiados para cubrir los niveles estipulados de calidad.
Simple Doble
Mltiple
n = 100
Ac = 2 (o menos)
Un plan de muestreo doble involucra la decisin de aceptar o rechazar un lote en la primera muestra o de inspeccionar una segunda muestra para aceptar o rechazar el lote.
n1= 40
Ac1< 1 n2= 60 *
Re1= 4
Re2= 6
* Acumulados
Ac2 < 5
Re2 > 6
Un plan de muestreo mltiple involucra la decisin de aceptar o rechazar un lote considerando dos, tres, cuatro o las muestras que se deseen.
n1= 20
1ra Muestra
Ac1= 0
Re1> 3
2da Muestra
n2= 20
Re1= 3
n3= 20 Ac3= 4 Re3= 5
Re2= 4
Ac2 < 1
Re2 > 4
n3= 20
3ra Muestra
* Acumulados
Ac2 < 4
Re3 > 5
Esta norma establece planes de muestreo y procedimientos de inspeccin por atributos, cuando sea especificado por la autoridad responsable, est norma deber ser referenciada en la especificacin, contrato instrucciones de inspeccin u otros documentos que as lo especifquen. La autoridad responsable debe ser designada en los documentos mencionados anteriormente y de acuerdo con comprador y vendedor o productor y usuario.
Por ejemplo: MEP-53.02
Los planes de muestreo diseados en esta norma son aplicables, y no limitados, a la inspeccin de lo siguiente:
a. Producto terminado b. Componentes y materias primas c. Operaciones
d. Materiales en proceso
% de defectuosos=
X 100
Nivel de Calidad Aceptable (NCA, AQL) Nivel de Calidad Lmite (NCL, LTPD)
Curva de Operacin (OC) para un plan de muestreo sencillo N=3000, n=89, c=2
1 0.9 0.8 0.7 0.6 Pa 0.5 0.4 0.3 0.2
(AQL,
(LTPD,
0.1
0 0 1 2 3 4 5 6 100p 7 8 9 10 11 12
INICIAR
Reducida
Lotes rechazados, o Lotes aceptados pero el nmero de defectuosos se encuentra entre el Ac y Re del Plan de Muestreo, o Produccin irregular u Otras condiciones de garanta
Normal
Rigurosa
(a ) (b)
II I
Rigurosa Normal
1.5 % 6.5 %
1,400 115
(c)
(d)
III
III
Reducida
Normal
4.0 %
2.5 %
160,000
27