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MICROSCOPIA TICA 1 INTRODUO

A observao das estruturas encontradas na natureza utilizando microscopia tica, como uma extenso natural da observao a olho nu, representou papel importante no surgimento das cincias da natureza, tanto das cincias biolgicas, como a histologia, anatomia, etc. assim como em mineralogia, petrografia, gnese de rochas, etc. e continua uma tcnica importante hoje em inmeras reas da cincia, complementada pelas tcnicas de microscopia eletrnica. A partir de 1863, quando Sorby apresentou Royal Society suas observaes sobre as estruturas dos aos, a observao dos materiais por microscopia tica esteve sempre presente no centro do conjunto das tecnologias e de campos da cincia que viriam a se aglutinar no que hoje conhecido como Cincia e Engenharia dos Materiais .

OS MICROSCPIOS PTICOS
O tipo mais simples de microscpio uma lente de aumento, que permite a observao

de estruturas com diversas vezes de aumento; muito utilizado para a observao de gros e minrios, de superfcies de fratura de metais, de amostras de fibras txteis, papel e outros produtos da indstria qumica e metalrgica. Os microscpios compostos j so instrumentos mais poderosos, que permitem desde a observao com aumentos de algumas dezenas de vezes at um mximo de 1500 a 2000 vezes, o limite da observao com luz visvel. O microscpio composto tem basicamente dois conjuntos de lentes, a ocular ( que fica prximo ao olho do observador, ou do dispositivo fotogrfico) e a objetiva ( que fica perto do objeto a ser examinado). Unindo os dois conjuntos de lente fica um tubo tico com comprimento tico padronizado , geralmente com 160 mm. Na prtica os microscpios modernos tem um grande nmero de outros elementos ticos incorporados ao caminho da luz dentro do tubo, como filtros, analisadores, prismas, espelhos , lentes Zoom, etc. A Figura 1 mostra o esquema de um microscpio moderno, indicando os diversos elementos. Os primeiros microscpios desenvolvidos para Biologia e Petrografia usavam ( e usam ainda nestes campos do conhecimento) uma iluminao por luz transmitida. Assim a luz gerada por uma fonte (lmpada + espelho parablico, em geral) colimada por lentes
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condensadoras e passa atravs de aberturas variveis, chamadas diafragmas, por filtros e depois, na microscopia por luz transmitida, atravessa a amostra que nestes casos deve ser preparada como uma lmina fina o suficiente e de faces paralelas, para que seja transparente.

Figura 1: Microscpio de Luz transmitida com seus principais elementos indicados Para a observao de metais, porm , este esquema no foi possvel de ser utilizado. Os eltrons da camada condutora dos metais interagem fortemente com os ftons, tornando estas amostras pouqussimo transparentes. Por este motivo foi desenvolvido um tipo de microscpio em que a iluminao por meio de luz refletida, seja iluminao oblqua com sistemas de iluminao independentes do microscpio ou, nos microscpios mais sofisticados, atravs de um sistema de iluminao pelo prprio tubo e objetiva do microscpio, usando engenhosos sistemas de espelhos, prismas e vidros semi-espelhados que deixam passar a luz em uma direo e a refletem na outra. A Figura 2 mostra o esquema de um microscpio de luz refletida.

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Luz com incidncia perpendicular amostra

Figura 2: Esquema de um microscpio de Luz transmitida. No detalhe direita v-se a prensa usada para alinhar as amostras usando massa plstica Cada sistema de lentes produz um determinado aumento. As objetivas so descritas pela sua distncia de trabalho f, ou distancia focal, a distncia do objeto at a lente correspondente ao foco e seu aumento dado pela expresso M = t/f onde t o comprimento do tubo tico e tambm pela sua abertura numrica NA. A NA obtida a partir do angulo 2, o ngulo mximo em que a luz coletada pela objetiva quando a distancia at o objeto f, atravs da frmula NA = n sen , onde n o ndice de difrao do meio, que 1 para o caso do ar. Um truque muito utilizado para conseguir trabalhar com grandes aumentos e alta resoluo colocar entre o objeto e a objetiva um outro meio, em geral um leo com ndice de refrao n maior do que o ar, tipicamente 1,4. A Figura 3 mostra esquematicamente a relao entre o aumento e a NA de uma lente objetiva. Limite de resoluo a capacidade da objetiva de separar detalhes individuais que esto em posies adjacentes no objeto; corresponde menor distncia entre dois detalhes que pode ser distinguida na imagem ou seja, que pode ser resolvida.

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Figura 3: Esquema das lentes objetivas

O poder de resoluo a recproca do limite de resoluo e expresso em nmero de linhas resolvidas por milmetro. Pode-se demonstrar usando as leis da tica que o limite de resoluo LR = K / 2NA onde K uma constante que pode chegar a 1,22 com o uso de um condensador adequado e o comprimento de onda da luz utilizada para iluminar a amostra. Quando uma lente est focada em um dado plano do objeto, pontos que esto um pouco acima e um pouco abaixo deste plano podem ainda ser vistos com um foco aceitvel. Profundidade de foco ento, outro conceito importante, que corresponde distancia atravs da qual o plano da imagem pode ser movido sem que a imagem perca a nitidez. Em outras palavras profundidade de foco a diferena entre a mxima e a mnima distncia no objeto que podem ser observados com determinada lente. Campo-de-viso de uma lente uma outra grandeza importante, que descreve o tamanho da rea que enxergada pela lente. Nos microscpios modernos as lentes so projetadas para ter um campo-de-viso compatvel com o ngulo de viso mximo que o olho humano acomoda, que de cerca de 50.

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O aumento total do microscpio obtido multiplicando o aumento da objetiva pelo da ocular e ainda multiplicando por eventuais aumentos introduzidos por outros sistemas de lentes introduzidos no tubo, como sistemas Zoom. A maioria dos microscpios tem diversas lentes objetivas colocadas em um porta-objetivas de tipo revolver, permitindo a troca rpida do aumento. Do outro lado do tubo a maioria dos microscpios tem um sistema binocular, com uma ocular para cada olho, ajustavel para as distncias interpupilares dos observadores, que costumam variar entre ~50 e ~80 mm para os seres humanos. Para adaptao de cmaras fotogrficas, cmaras digitais CCD ou cmaras de vdeo, alguns microscpios apresentam um sistema trnocular, com uma terceira ocular vertical ou horizontal. As amostras ficam montadas sobre uma placa chamada de platina, sobre um portaamostra , tambm chamado de charriot. Geralmente o porta-amostra tem vrios sistemas de cremalheiras (coroa e pinho) para movimentar a amostra; dois nas direes X e Y e muitas vezes um outro para rodar a amostra (platina giratria) nos microscpios que utilizam analisadores de luz polarizada. O conjunto do porta-amostra, platina e parte do sistema de iluminao nos microscpios de luz transmitida, movimenta-se na direo Z paralela ao tubo tico, atravs de outros dois sistemas de cremalheiras, que correspondem ao foco grosso e ao foco fino. A Lupa estereoscpica (Figura 4) um tipo de microscpio utilizada para a observao de amostras com grandes relevos, como gros, partculas ou superfcies de fratura. Como o nome (estereoscpica) diz, ela formada por dois sistemas ticos independentes, dois tubos, objetivas e oculares, o que permite ver imagens tridimensionais de objetos com relevo. As Lupas estereoscpicas podem ser de luz transmitida ou luz refletida. Em alguns casos elas permitem que sejam feitas pares de fotografias do mesmo objeto, usando os dois tubos, obtendo-se um par estereoscpico de imagens, que observado com um dispositivo que os separa permite que cada foto seja vista com um olho formando uma imagem tridimensional graas ao efeito da paralaxe entre as duas imagens.

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Figura 4: Lupas estereoscpicas com iluminao incidente e transmitida Alm das tcnicas comuns de iluminao, freqentemente se usa em microscopia as propriedades da luz polarizada para obter efeitos especiais e mesmo para identificar fases. A ondas eletromagnticas em um feixe de luz convencional vibram em todas as direes; pode-se tratar este feixe de luz de forma que algumas direes de vibrao sejam eliminadas ou rodadas de tal forma que as vibraes ocorram em um plano s (luz com polarizao plana) ou em duas direes (luz com polarizao elptica). Quando a luz convencional atravessa um cristal com simetria cbica ou materiais no cristalinos como o vidro ela mantm suas propriedades. Mas quando atravessa um cristal anisotrpico (no cbico) em uma direo que no seja um eixo tico deste cristal, so gerados dois feixes de luz, que caminham por dois caminhos diferentes. Isto devido ao fenmeno da refrao dupla, ou birefringncia, conseqncia dos coeficientes de refrao destes cristais serem diferentes em diferentes direes do cristal. Este efeito pode ser utilizado para criar um feixe de luz com polarizao plana, isolando um dos feixes. Antigamente os filtros polarizadores ou polares eram feitos com um prisma duplo do cristal calcita, que tem a propriedade de ser bi6 Por Prof. Dr. Hlio Goldenstein

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refringente, um arranjo chamado de Nicol em homenagem ao fsico italiano que inventou este polarizador. Hoje em dia so produzidos filtros polarizadores muito mais baratos atravs do uso de filmes de polmeros anisotrpicos. Estes filmes so utilizados tambm em fotografia, em culos escuros ou em monitores de computador para filtrar os reflexos e os feixes secundrios de luz. Em um microscpio polarizador existem pelo menos dois filtros polarizadores, um (polarizador) no percurso do feixe de luz antes de atingir o objeto e o segundo (analisador) no tubo entre a objetiva e a ocular. Pelo menos um destes filtros, de preferencia os dois, podem ser girados de forma controlada; em muitos casos a amostra tambm pode ser rodada (platina giratria). Se olharmos atravs do microscpio polarizador sem nenhum objeto no porta amostra e girarmos um dos filtros veremos que a luz extinta duas vezes em uma volta completa; isto acontece quando os planos de vibrao dos polarizadores esto perpendiculares entre si. Se observarmos um cristal bi-refringente por microscopia de luz transmitida, com os polarizadores cruzados e rodarmos o cristal verificaremos que ocorre quatro eventos de extino da luz, a 45 cada uma, correspondentes s posies em que os planos de polarizao do cristal ficam paralelos aos dos filtros polarizadores. Quando usamos luz branca, com um espectro de freqncias, o cristal bi-refringente vai aparecer colorido, com as cores variando medida que o cristal rodado. Este fenmeno devido interferncia entre os dois feixes de luz gerados pela bi-refringencia. Outro fenmeno interessante o pleocroismo, onde na observao sem o filtro analisador a cor do cristal varia continuamente de claro para escuro com a rotao; o caso extremo o fenmeno do dicroismo, quando um dos feixes de luz refratados desaparece completamente. A principal aplicao destes fenmenos na microscopia de luz transmitida, na caracterizao de lminas finas de minerais, cermicas e mais recentemente de polmeros.

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Figura 5: Micrografia tica de Transmisso com Luz Polarizada de Si3N4

As Figuras 5 e 6 mostram respectivamente reprodues de e de esferulitos (ndulos cristalinos ) de polipropileno em filmes finos, em ambos os casos a imagem foi obtida com os filtros polarizadores cruzados e o contraste devido bi-refringencia dos cristais.

Figura 6: Filme de polietileno cristalino; esferulitos revelados pelos polarizadores cruzados Na microscopia por luz refletida, a observao de superfcies polidas de metais, ligas e cermicas com estrutura cristalina anisotrpica (no cbica), utilizando polarizadores cruzados, produz contraste entre gros com diferentes orientaes no espao e mostra claramente maclas, defeitos de empilhamento, bandas de deformao e orientaes
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preferenciais (texturas), geralmente impossveis de serem vistas com iluminao convencvional. Para isto necessrio obter uma superfcie sem riscos, pites de corroso ou deformao superficial, o que as vezes exige tcnicas especiais de preparao como o polimento eletroltico dos metais dcteis. Metais cbicos, com estrutura isotrpica, tambm podem ser observados com luz polarizada desde que seja possvel crescer um filme de xido ou precipitados epitaxiais (coerente com o substrato) em sua superfcie. A tcnica muito til ainda para caracterizar incluses no metlicas transparentes sob luz convencional; nestes casos muitas vezes com polarizadores cruzados aparecem cores caractersticas, anis concntricos escuros e claros ou cruzes de malta que permitem a identificao das fases. Uma outra tcnica importante na microscopia de luz refletida campo escuro, que permite atravs da iluminao oblqua (obtida colocando um obstculo no centro do feixe de luz) obter um contraste brilhante em regies que apresentam uma pequena inclinao em relao superfcie, como as valetas formadas nos contornos de gro pelo ataque metalogrfico. Existem ainda tcnicas baseadas na interferncia da luz entre dois feixes, teis para a observao qualitativa ou quantitativa de pequenos relevos na superfcie da amostra; as mais importantes so o contraste de interferncia, que usando mltiplos feixes provoca o aparecimento de franjas de interferncia que montam um mapa do relevo da amostra e o

contraste de interferncia ou interferncia Nomarski, que usa luz polarizada e uma objetiva especial que tem um prima duplo de quartzo (prisma Wollaston) para produzir contraste de cor e de luminosidade entre estruturas e tambm para revelar pequenos relevos, como os produzidos por deformao plstica na superfcie polida dos metais.

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MICROSCOPIA QUANTITATIVA
Em todos os ramos das cincias e tecnologias que usam microscopia tica

desenvolveram-se tcnicas para a realizao de medidas quantitativas. Estas tcnicas envolvem alguns problemas interessantes de estatstica e principalmente alguns raciocnios de topologia, para obter informaes sobre a estrutura no volume do material a partir de medidas feitas em observao de projees em lminas finas ou mais freqentemente, de superfcies opacas polidas. Ao conjunto de problemas cientficos envolvidos na microscopia quantitativa chama-se estereologia. Em cada campo do conhecimento desenvolveram-se terminologias especficas; aqui ser utilizada a terminologia adotada por Underwood (4), utilizada em metalografia quantitativa, normalizada pelas normas ASTM. As medidas bsicas que so feitas em microscopia em geral envolvem a sobreposio sobre a estrutura de um conjunto de pontos, linhas ou figuras geomtricas ou reas, que so usadas para realizar medidas ou contagens de aspectos morfolgicos. Assim possvel sobrepor um conjunto de pontos que esto ao acaso em relao ordem da microestrutura e realizar contagens da frao de pontos que caiu sobre uma determinada estrutura em relao ao total de pontos ( PP). De forma anloga podese superpor linhas teste de comprimento conhecido sobre a estrutura e medir a frao do comprimento da linha teste que esto sobre determinada estrutura ( LL ) ou o nmero de interseces da linha teste com alguma estrutura (NL ); pode-se ainda medir a frao de rea de uma dada fase ( AA ) ou o nmero de partculas ou gros por unidade de rea (PA). A partir desta medidas so reconstitudas as grandezas por volumtricas, como tamanho mdio de gro, nmero de partculas ou incluses por unidade de volume frao volumtrica de fases, comprimento de defeitos lineares ( discordncias) por unidade de volume, etc. A Tabela I ilustra os principais grandezas medidas e/ou calculadas a partir de outras medidas. Como o assunto vasto, sero abordados a seguir apenas dois problemas muito comuns em metalografia, a medida de frao volumtrica e a medida do tamanho de gro. Recomenda-se a quem quiser se aprofundar o livro Tcnicas de Anlise Microestrutural, de A. F. Padilha e F. Ambrsio, pginas 113 a 141.

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3.1

Medidas de frao volumtrica Para determinar a frao volumtrica ou as propores em volume entre fases existem

diversas medidas possveis de serem realizadas em uma seco polida. A Estereologia mostra que a frao de rea entre fases em uma seco polida AA idntica frao em volume VV, desde que as fases estejam distribudas ao acaso. Aplicando-se linhas teste ao acaso sobre a superfcie da amostra, a frao do comprimento das linhas teste LL que cai sobre a fase ser igual AA e a VV. Da mesma forma, se colocarmos pontos ao acaso sobre a superfcie, a frao de pontos que cai sobre a fase PP igual a AA e VV. Assim, o mtodo mais empregado para medir frao volumtrica de uma fase a contagem de pontos. Para isto se usa um reticulado sobre as micrografias, ou na ocular do microscpio, com um certo nmero PT de pontos. Conta-se ento o nmero de pontos que caem sobre uma determinada fase no plano de polimento. O nmero de pontos P que caem sobre a fase, dividido pelo nmero total de pontos P/PT a frao de pontos, PP. Este procedimento, repetido para diferentes campos da amostra at obter uma mdia e um desvio padro previamente definidos por clculos estatsticos para um dado grau de confiana, permite obter um valor de PP igual frao volumtrica VV. A Figura 7 ilustra o procedimento. 3.2 Medidas de Tamanho de Gro Um contorno de gro a superfcie divisria entre dois cristais adjacentes de orientaes cristalogrficas diversas. Os contornos de gros existentes em materiais policristalino podem ser revelados por ataque qumico, eletro-qumico e trmico. Outra maneira de se visualizar um contorno de gro atacando-se as superfcies dos gros da amostra policristalina. Os contornos de gro aparecero indiretamente como a juno entre dois gros de colorao diferente como esquematizado na figura 8a. Os gros individuais so claramente identificveis pois as superfcies de cada um dos gros reflete a luz incidente de maneira diferente, como esquematizado na figura 8.b.

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Figura 8b: Esquema ilustrando os diferentes ngulos de reflexo da luz incidente, em cada um dos gros de Figura 8a: Ao inoxidvel uma amostra policristalina. austentico com maclas de recozimento 100 X. Vrios mtodos tem sido utilizados para medir tamanho ou dimetro de gros em amostras policristalinas. Na verdade as formas dos gros so em geral irregulares, o que faz com que a definio de dimetro de gro seja arbitrria e dependente de hipteses simplificadoras sobre a geometria dos gros. Felizmente possvel obter uma medida que embora no seja exatamente o dimetro, correlaciona-se muito bem com as propriedades dos materiais. Este parmetro, de muito maior generalidade e independente de qualquer hiptese, vlido para qualquer estrutura granular que preencha o espao, independentemente da forma, do tamanho e da posio dos gros. Este "dimetro" o comprimento de interseo mdio L3 obtido de medidas do nmero de interseces L2 de uma linha teste de comprimento conhecido com os contornos de gro, no plano de polimento. Para grande nmero de medidas ao acaso a mdia dos valores da interceco torna-se o valor real, tridimensional L3. Para gros que preenchem o espao o comprimento de interseo mdio definido como: L3 = 1/NL = LT/P*M onde, LT igual ao comprimento total de linha teste, M o aumento, P o nmero de intersees de contornos de gro com a linha teste e portanto NL - nmero de intersees por comprimento de linha teste, como na Figura 9.
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Figura 7: Contornos de gro e linha teste usada para contar nmero de interseces L2 Fisicamente L3 corresponde ao livre caminho mdio, ou seja distncia mdia entre dois contornos de gro em toda a amostra.

Um outro mtodo de medida popular tamanho de gro ASTM, N: N = (log. n/log. 2) + 1,000

onde, n o nmero de gros por polegada quadrada com 100 X de aumento. Normalmente, para se obter o tamanho de gro ASTM necessrio contar-se um mnimo de 50 gros em trs reas diferentes, e este valor deve ser convertido para nmero de gros por polegadas quadrada e para um aumento de 100 X. Existe uma relao entre N, o tamanho de gro ASTM e o L3, o livre intercepto mdio dado em centimetros: N = -10,0 6,64 log L3

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APLICAES
Na Caracterizao de Matrias Primas Minerais, as principais aplicaes da Microscopia tica so:

Identificao de fases minerais; Quantificao de fases minerais; Composio de fases minerais; Formas de intercrescimento e associaes minerais
Na Caracterizao de Materiais de Engenharia, as principais aplicaes da Microscopia tica so:

Controle de qualidade atravs do controle de parmetros estruturais Medida das quantidades e distribuio de fases em metais e cermicas Medida dos tamanhos de gro dos materiais policristalinos Medida da espessura de camadas depositadas, modificadas ou tratadas Identificao de materiais e de seu processo de fabricao Caracterizao dos reforos e cargas minerais em materiais compsitos

REFERNCIAS BIBLIOGRFICAS
Haines, R. Optical Microscopy of Materials, International Textbook Company, Glasgow, 1984. Est disponvel na Biblioteca PMT da EPUSP Bradbury, S. An Introduction to the Optical Microscope, Royal Microscopy Society, microscopy Handbooks 01, Oxford Science Publications1989. Est disponvel na Biblioteca da Geocincias. Van der Voort, G. Optical Microscopy, verbete em Metals Handbook Vol. 9, (th edition, American Society for Metals, 1985. Pg 71, disponvel na Biblioteca PMT-EPUSP

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Underwood, E.E., Quantitative Metallography, verbete em Metals Handbook Vol. 9, (th edition, American Society for Metals, 1985. Pg 123, disponvel na Biblioteca PMTEPUSP Padilha, A.F. e Ambrsio Filho F., Tcnicas de Caracterizao em Cincia dos Materias, Editora Hemus , 1986. Disponvel na Biblioteca PMT-EPUSP Colpaert, H. Metalografia dos Produtos Siderrgicos Comuns, Edgard Blucher, So Paulo, 2 ed. 1953. Disponvel na Biblioteca PMT-EPUSP Tschiptschin, A.P., Goldenstein, H., Sinatora, A. Metalografia dos Aos. ABM 1987. Disponvel na Biblioteca PMT-EPUSP

EXERCCIOS
1. Explique como possvel observar os contornos de gro na seco polida de um metal 100% denso, usando microscopia tica. 2. Utilizando microscopia tica somente possvel observar gros de dimetro maiores do que aproximadamente 1m (10-6 m). Que fenmeno fsico responsvel por esta limitao? 3. Polmeros cristalizados apresentam acentuado dicroismo, ao passo que polmeros amorfos so isotrpicos. Explique como este fato pode ser usado para observar a cristalizao de polmeros ao microscpio. 4. Que tipo de microscpio tico voc usaria para: a) caracterizar se o p recolhido na bateia de um garimpeiro contm ouro b) observar a superfcie de fratura de uma pea quebrada de automvel c) Medir o tamanho de gro de uma chapa de ao d) Medir a frao volumtrica de quartzo, feldspato e mica em um granito decorativo

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