INTERFERMETRO DE MICHELSON

INTRODUO
A luz constituda de ondas em que campos eltrico e magntico oscilantes se propagam no
espao. Quando dois feixes de luz se encontram no espao, esses campos eletromagnticos
superpem-se e o campo resultante determinado pela soma vetorial dos campos de cada onda.
Essa superposio de ondas chamada de interferncia.
Quando as duas ondas se originam de uma mesma fonte, h uma correlao entre as fases dos
campos oscilantes. Nesse caso, em determinados pontos no espao, as ondas podem se superpor em
fase crista com crista ou vale com vale , produzindo uma onda resultante com amplitude
mxima, e um ponto brilhante ser visto. Em outros pontos, a luz dos dois feixes podem-se
encontrar fora de fase crista com vale e um mnimo de intensidade um ponto escuro
ser visto.
O fenmeno de interferncia uma evidncia importante da natureza ondulatria da luz e os
dispositivos que permitem observar esse efeito so chamados de interfermetros. Alguns desses
dispositivos so usados para medir o comprimento de onda da luz e, quando este conhecido,
podem, tambm, ser usados para medir distncias extremamente pequenas, da ordem de 10
6
m. Em
1881, A. A. Michelson construiu um interfermetro para testar a existncia do ter um meio
hipottico em que a luz poderia se propagar. Seus trabalhos foram cruciais para demonstrar que essa
hiptese no era vivel, contribuindo, assim, para consolidar a posio, hoje aceita, de que a luz
uma onda que no necessita de um meio para se propagar.
Neste experimento, o interfermetro de Michelson ser utilizado para medir o comprimento de
onda da luz de um laser e para medir o ndice de refrao do ar. Na Fig. 1 mostra-se um diagrama
desse interfermetro. O feixe de um laser incide sobre um divisor de feixe em um ngulo de 45.
Esse divisor consiste em um espelho semitransparente, que reflete 50% da luz incidente e transmite
o restante. O feixe incidente, ento, divide-se em dois outros feixes: um deles refletido em direo
ao espelho E
1
e o outro transmitido em direo ao espelho E
2
. Os espelhos E
1
e E
2
refletem o feixe
de volta ao divisor de feixe. Metade da luz proveniente do espelho E
1
transmitida atravs do
divisor em direo tela e metade da luz proveniente do espelho E
2
refletida pelo divisor, tambm
em direo tela. Na tela, esses feixes superpem-se produzindo um ponto brilhante ou escuro
dependendo de se chegam ambos em fase ou fora de fase, respectivamente. Como os dois feixes se
originam da mesma fonte, inicialmente, eles esto em fase. Ao se superporem em qualquer ponto da

tela, a diferena de fase entre eles depende da diferena de caminho caminho tico percorrida
por eles at a tela.

laser
lente
E
2
(espelho
mvel)
E
1
(espelho fixo)
tela
divisor de
feixe


Figura 1 - Diagrama esquemtico de um interfermetro de Michelson; o feixe de um laser
expande-se ao passar atravs de uma lente e, em seguida, incide sobre um divisor de feixe, onde se
divide em dois outros feixes um deles refletido em direo ao espelho E
1
e o outro
transmitido em direo ao espelho E
2;
os espelhos E
1
e E
2
refletem o feixe de volta ao divisor de
feixe e eles se superpem na tela; produzindo franjas circulares de interferncia.

Colocando-se uma lente divergente na frente do laser, o feixe de luz expande-se e um padro de
anis claros e escuros visto na tela, como representado na Fig. 2.


Figura 2 - Padro de franjas de interferncia que so observadas na tela do interfermetro.
Movendo-se o espelho E
2
, por meio de um micrmetro, possvel alterar-se a distncia
percorrida por um dos feixes. Como esse feixe passa duas vezes pelo caminho entre o espelho E
2
e
o divisor de feixe, movendo-se E
2
a distncia de /4 na direo do divisor, altera-se o caminho tico

de /2. Nesse caso, no padro de interferncia, as regies antes ocupadas por um mximo de
intensidade passam a ser escuras e vice-versa. Movendo-se E
2
novamente a distncia de /4, obtm-
se um padro de franjas idntico ao original. Assim, movendo-se E
2
, lentamente, uma distncia d,
obtm-se o mesmo padro de franjas original sempre que
2d m ,
em que o comprimento de onda da luz no ar e m =1, 2, 3, ... determinando contando-se o
nmero de vezes que o padro de franjas original restaurado.
Dessa forma, medindo-se d, pode-se determinar o comprimento de onda da luz ou, se este
for conhecido, o interfermetro pode ser utilizado para se medir o deslocamento do espelho.
O interfermetro de Michelson tambm pode ser usado para se determinar o ndice de
refrao em funo da presso de um gs. Isso pode ser feito fazendo um dos feixes de luz
atravessar uma cmara transparente preenchida com o gs, como mostrado na Fig. 3.
laser
lente
E
2
(espelho
mvel)
E
1
(espelho fixo)
para a bomba
de vcuo
tela
divisor de
feixe

Figura 3 - Diagrama do interfermetro de Michelson utilizado para se determinar o ndice de
refrao de um gs; o gs est no interior de uma cmara transparente, colocada no caminho de um
dos feixes do interfermetro; alterando-se a presso do gs na cmara, modifica-se o padro de
franjas de interferncia.

Fora dessa cmara, os caminhos ticos dos dois feixes de luz do interfermetro no se alteram.
Entretanto, no interior da cmara, o comprimento de onda da luz modifica-se medida que a
presso do gs alterada. Toda vez que o caminho tico de um dos feixes for alterado de um
comprimento de onda, cada franja clara torna-se escura e, novamente, clara e vice-versa.

Considere uma cmara de espessura d que contm um gs presso inicial p
i
e que, nessa
situao, o comprimento de onda da luz no gs
i
. Como o feixe passa duas vezes atravs da
cmara, o nmero m
i
de comprimentos de onda no interior dela dado por
2
i
i
d
m

.
Alterando-se a presso do gs para p
f
, o nmero m
f
de comprimentos de onda
f
na cmara passa a
ser dado por
2
f
f
d
m

.
Sejam n
i
e n
f
os ndices de refrao do gs nas presses p
i
e p
f
, respectivamente, e
0
o comprimento
de onda da luz no vcuo. Ento, com
0
i
i
n

e
0
f
f
n

, obtm-se
0
2
i f
m
n n
d

,
em que
i f
m m m o nmero de franjas de interferncia contadas quando a presso do gs
passa de p
i
, para p
f
.
O ndice de refrao n de um gs igual a 1 no vcuo (p=0) e, para baixas presses,
razovel supor que esse ndice aumenta linearmente com a presso p do gs, sendo dado por
( ) 1
n
n p p
p

.
Assim, o grfico de n versus p uma reta com inclinao
p d
m
p p
n n
p
n
o
f i
f i

PARTE EXPERIMENTAL
Objetivos
Determinar o comprimento de onda da luz de um laser.
Determinar o ndice de refrao do ar em funo da presso.


Material utilizado
Laser de He-Ne, interfermetro de Michelson, cmara transparente e bomba de vcuo.

Procedimentos
Ateno: No toque na superfcie dos componentes ticos utilizados neste experimento. Os
espelhos so aluminizados na superfcie frontal e podem ser facilmente danificados. Se tiver de
limp-los, use somente e um tecido macio embebido em lcool.

Medio do comprimento de onda da luz de um laser
O interfermetro deve estar montado como mostrado na Fig. 4. Identifique, na montagem, todos
os componentes mostrados na figura. Nesta primeira parte do experimento, a cmara no
necessria, podendo, pois, ser removida. Em seguida, ligue o laser e verifique se, na tela,
aparecem anis circulares concntricos de interferncia. Se no aparecerem, dever ser feito o
alinhamento do interfermetro. As instrues para isso devem estar junto ao equipamento.

cmara
tela
micrmetro
lente
E
2
E
1
conexo para a
bomba de vcuo

Figura 4. Interfermetro de Michelson utilizado neste experimento

Procure familiarizar-se com o micrmetro utilizado para movimentar o espelho E
2
veja
instrues junto montagem e observe as alteraes produzidas nas franjas de interferncia
ao se mover esse espelho.

Gire o tambor do micrmetro lentamente e conte as franjas medida que elas passam pela
marca de referncia. Mea o deslocamento do espelho E
2
que necessrio para se observar a
passagem de pelo menos 100 franjas. Com esse resultado, determine o comprimento de onda da
luz do laser e sua respectiva incerteza. Compare o valor obtido com o que especificado pelo
fabricante do laser.

Medio do ndice de refrao do ar em funo da presso
Coloque a cmara transparente no percurso do feixe do laser, entre o divisor de feixe e um dos
espelhos, como mostrado na Fig. 4; a espessura dessa cmara deve estar especificada junto
montagem.
Utilizando a bomba de vcuo, retire, lentamente, o ar do interior da cmara, enquanto observa
as mudanas no padro de interferncia. Explique o que voc observa.
Ateno: A maior parte dos medidores de presso fornece essa medida em relao presso
atmosfrica local. Nesse caso, o valor da presso absoluta determinado subtraindo-se da presso
atmosfrica local que deve ser fornecido - a medida obtida.
Preencha a cmara novamente com ar. Lentamente, bombeie o ar para fora, enquanto conta o
nmero m de franjas que passam pela marca de referncia em funo da presso p do gs na
cmara. Faa o grfico de m em funo de p e determine a inclinao deste. Escreva, ento, a
equao de n (p). Determine, em seguida, o ndice de refrao do ar presso atmosfrica, com
sua respectiva incerteza.