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3.3.2.3.

La prospection lectrique
3.3.2.3.1. Principe de la mthode lectrique La prospection lectrique, comme la prospection magntique, est trs largement utilise en archologie375. Elle mesure les variations de la rsistivit lectrique () du sol qui traduit la difficult avec laquelle un courant lectrique peut traverser un volume de terrain donn. La rsistivit lectrique dpend essentiellement de la porosit des sols, c'est--dire de la taille et de lhomognit des grains constitutifs du sdiment. Un sol trs htrogne, avec une part de gravier grossier importante est donc trs rsistant. Une couche sdimentaire alluviale argileuse, o les grains sont fins et bien tris, prsente une plus faible rsistivit. Un des avantages de la mthode lectrique dcoule de cette relation entre la porosit dun sol et sa rsistivit. Elle est trs efficace pour dtecter des diffrences, mme minime, de la composition sdimentaire. Les valeurs de rsistivit lectrique et de permittivit dilectrique, dont dpend la mthode radar-sol, sont de plus trs lies. Les deux mthodes donnent donc des rsultats complmentaires et sont souvent couples, comme nous lavons fait au pied de la terrasse de Perspolis. Prenons lexemple dun vestige archologique de rsistivit suprieure son encaissant, il provoque une augmentation de la valeur de rsistivit mesure (Fig. 3-5). Si les mesures sont prises sur lensemble de la surface, le long de profils, il est alors possible de cartographier lanomalie de rsistivit et ainsi dobtenir une image du vestige. Pour effectuer la mesure de rsistivit, un courant lectrique est inject dans le sol, grce deux lectrodes dinjection. Un champ lectrique se cre et des lignes de courant se forment dans le sol entre les deux lectrodes dinjection. Le long de ces lignes de champ, dintensit lectrique connue (exprime en Ampre), une mesure de potentiel (exprime en Volt) est effectue entre deux lectrodes de mesure. Une simple application de la loi dOhm (le potentiel lectrique est gal la rsistance du milieu multipli par lintensit mesure) permet de calculer la valeur de rsistivit du sol. Cette rsistivit tant mesure entre deux points, le long des lignes de champ lectrique, elle est exprime en .m. La valeur de rsistivit mesure prend en compte un volume de sol htrogne et intgre lensemble des contributions de lensemble des milieux de rsistivit propre. La valeur mesure est donc appele rsistivit apparente du sol, une mme mesure peut en effet correspondre des ralits gologiques trs diffrentes.

Figure 3-5 : Principe de la prospection lectrique (adapte de Dabas 2006 : 187fig.4) Lun des principaux avantages de la mthode lectrique est la possibilit de modifier la gomtrie des lectrodes et donc la forme des lignes de champ cres dans le sol. Le plus souvent, on joue sur lcartement des lectrodes. Plus les lectrodes de mesure sont cartes, plus le volume de sol pris en compte est important (Fig. 3-5). La profondeur dinvestigation est de ce fait directement proportionnelle lcartement des lectrodes. Cette profondeur peut tre estime proche de la distance qui spare les lectrodes. Donc un cartement dlectrode de 1 m permettra une profondeur dinvestigation proche du mtre. Si une structure archologique se trouve 1 m de profondeur, il faut donc opter pour un cartement des lectrodes de mesure de 1 m. En faisant varier lcartement des lectrodes, il est donc possible dobtenir des informations des profondeurs diffrentes. Toutefois, plus les lectrodes sont cartes, plus le volume de sol pris en compte est important donc la rsolution des cartes de rsistivit diminue. La taille des structures dtectes est donc galement proportionnelle lcartement des lectrodes. Linconvnient principal de la mthode lectrique est la lourdeur et lencombrement du matriel de prospection lectrique. La ncessit dinjecter un courant dans le sol consomme beaucoup dnergie et il est indispensable de transporter de lourdes batteries relies aux lectrodes par des mtres de fil lectrique. La mthode lectrique peut tre utilise dans tous les types de milieu mais elle est gnralement rserve de petites surfaces. Notes 375.

Pour une prsentation complte des principes physiques sous-jacents la prospection lectrique voir Scollar et al. 1990 : 307-372

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