Teza Doctorat Florin Prutianu

CONTRIBUII
PRIVIND STRUCTURILE DE
TESTARE AUTOMAT CU
APLICAII N AUTOMOTIVE

Tez destinat obinerii
titlului tiinific de doctor inginer
la
Universitatea Politehnica din Timioara
n domeniul INGINERIE ELECTRONIC
I TELECOMUNICAII
de ctre

Ing. Florin PRUTIANU

Conductor tiinific: prof.univ.dr.ing. Viorel POPESCU
Refereni tiinifici: prof.univ.dr.ing. Adrian GRAUR
prof.univ.dr.ing. Dorin PETREU
prof.univ.dr.ing. Dan LASCU

Ziua susinerii tezei: 20.12.2012

Seriile Teze de doctorat ale UPT sunt:
1. Automatic 9. Inginerie Mecanic
2. Chimie 10. tiina Calculatoarelor
3. Energetic 11. tiina i Ingineria Materialelor
4. Ingineria Chimic 12. Ingineria sistemelor
5. Inginerie Civil 13. Inginerie energetic
6. Inginerie Electric 14. Calculatoare i tehnologia informaiei
7. Inginerie Electronic i Telecomunicaii 15. Ingineria materialelor
8. Inginerie Industrial

Universitatea Politehnica din Timioara a iniiat seriile de mai sus n scopul
diseminrii expertizei, cunotinelor i rezultatelor cercetrilor ntreprinse n cadrul
colii doctorale a universitii. Seriile conin, potrivit H.B.Ex.S Nr. 14 / 14.07.2006,
tezele de doctorat susinute n universitate ncepnd cu 1 octombrie 2006.

Copyright Editura Politehnica Timioara, 2012

Aceast publicaie este supus prevederilor legii dreptului de autor. Multiplicarea
acestei publicaii, n mod integral sau n parte, traducerea, tiprirea, reutilizarea
ilustraiilor, expunerea, radiodifuzarea, reproducerea pe microfilme sau n orice alt
form este permis numai cu respectarea prevederilor Legii romne a dreptului de
autor n vigoare i permisiunea pentru utilizare obinut n scris din partea
Universitii Politehnica din Timioara. Toate nclcrile acestor drepturi vor fi
penalizate potrivit Legii romne a drepturilor de autor.

Romnia, 300159 Timioara, Bd. Republicii 9,
tel. 0256 403823, fax. 0256 403221
e-mail: editura@edipol.upt.ro

Cuvnt nainte

Aspectele tiinifice abordare n cadrul tezei de doctorat Contribuii privind
structurile de testare automate cu aplicapabilitate n automotive se nscriu n
tendina actual a cercetrilor privind implementarea sistemelor de testare
automat n cadrul laboratoarelor de cercetare dezvoltare a productorilor
internaionali vest europeni de componente electronice.
Studiul de fa, prin aspectele de cercetare fundamental abordate,
contribuie la mbuntirea procesului de testare validare al laboratoarelor R&D, prin
introducerea unui sistem de testare automat controlat de la distan de calculator.
Caracteristicile acestui sistem de testare automat sunt conforme cu cerinele
modelului V, proces care ghideaza dezvoltarea unei uniti de control electronic de
la stadiul de proiect pn la integrarea acestuia n autoturism i respect
standardele automotive n vigoare.
Contribuiile aduse de autor, n cadrul acestei teze de doctorat, au stat la
baza mbuntirii performanelor acestor sisteme. n cadrul proiectelor unde a fost
folosit acest sistem, cu structura prezentat n acest studiu, rezultatele au fost
satisfctoare fiind acceptate de un mare productor vest european de autoturisme.
Desfurarea cercetrilor i elaborarea lucrrilor s-a fcut sub ndrumarea
domnului prof. Univ. Dr. Ing. Viorel POPESCU, membru al catedrei de Electronic
Aplicat, al Universitii Politehnica din Timioara. Cercetrile experimentale au fost
realizate n laboratorul de cercetare dezvoltare al unui productor de componente
electronice, att n ar ct i n strintate n cadrul unui productor de autoturisme
german.
Teza de doctorat s-a materializat prin crearea unui sistem de testare
automotive implementat ntr-un laborator de cercetare dezvoltare cu rezultate
acceptate de inginerii proiectani ai concernului.
Teza de doctorat a fost realizata cu sprijin partial din grantul strategic
POSDRU/88/1.5/S/50783, Proiect ID50783 (2009), cofinantat din Fondul Social
European "Investeste in oameni", in cadrul Programului Operational Sectorial
Dezvoltare Resurse Umane 2007-2013.

Timioara, Decembrie 2012 ing. Florin PRUTIANU

Destinatarii dedicaiei.

Alese mulumiri i profund recunotin se cuvin adresate conductorului
de doctorat prof.dr.ing. Viorel POPESCU pentru consilierea permanent i
ndrumarea atent pe tot parcursul realizrii lucrrii.
Mulumesc ,de asemenea, mebrilor comisie pentru observaiile i sugestiile
date privind elaborarea acestei teze. Aduc mulumiri Facultii de Electronic i
Telecomunicaii din Timioara i cadrelor didactice i colegilor de departament care
au contribuit la formarea mea profesional.
Nu n ultimul rnd mulumesc familiei, soiei pentru rbdarea i susinerea
moral n momente dificile i prinilor mei crora le dedic aceast lucrare.

Florin, PRUTIANU
Contribuii privind sistemele de testare automat cu
aplicaii n automotive
Teze de doctorat ale UPT, Seria 7, Nr. 59, Editura Politehnica,
2012, 179 pagini, 113 figuri, 10 tabele.
ISSN: 1842-7014
ISBN: 978-606-554-592-2
Cuvinte cheie: sisteme de testare automat, structura ATS
hardware, algoritmi software
Rezumat,
Prin subiectul abordat, teza de doctorat rspunde unor
probleme de maxim actualitate privind sistemele de testare
automate din industria automotive. Acest domeniu tinde spre
perfecionare, n aceast lucrare fiind aduse contribuiile originale
ale autorului privind structurile de testare automate destinate
industriei automotive. Tema vine n ajutorul validrii din punct de
vedere electric al unitilor de control electronice integrate in
autovehicule.

Cuprins:

Abrevieri: .......................................................................................... 8
Lista de figuri: ................................................................................... 9
Lista de tabele: ............................................................................... 14
INTRODUCERE ................................................................................. 15
Capitolul I. Stadiul actual al testrii n industria automotive .......... 18
1.1 Automotive. Tipuri de dispozitive electronice ........................................... 19
1.2 Modelul de testare adoptat n industria automotive ................................ 21
1.3 Nivele de testare ale sistemelor de control electronic in industria
automotive ............................................................................................................... 24
1.3.1 Nivel de component hardware ................................................................ 24
1.3.2 Nivel de component software ..................................................................... 24
1.3.3 Nivel de component integrat ..................................................................... 24
1.3.4 Nivel de subsistem .......................................................................................... 25
1.3.5 Nivel de sistem ................................................................................................. 25
1.4 Tipuri de testare .............................................................................................. 25
1.4.1 Testarea manual ............................................................................................ 26
1.4.2 Testarea automat .......................................................................................... 27
1.5 Metode, tehnici i strategii de testare ........................................................ 28
1.5.1 Testare Automata n circuit ICT .................................................................... 28
1.5.2 Testare funcional ......................................................................................... 29
1.5.3 Testare non-funcional ................................................................................. 30
1.5.4 Testare de tip rspuns la stimuli .................................................................. 30
1.5.5 Testare de tip regresie ................................................................................... 31
1.5.6 Strategii de testare ......................................................................................... 32
1.6 Concluzii i contribuii personale .................................................................. 34
6 Cuprins

Capitolul II. Conceptul sistemului de testare automat pentru
industria automotive ....................................................................... 36
2.1 Motivaia apariiei ATS-urilor n procesul de validare/testare/integrare
automotive ............................................................................................................... 36
2.2 Prezentarea sistemelor de testare automate din perspectiva tehnicilor
folosite ...................................................................................................................... 37
2.2.1 Sisteme de testare HiL Hardware in the loop .............................. 40
2.2.2 Sisteme de testare SiL Software in the loop ............................... 42
2.2.3 Sisteme de testare MiL Model in the loop ................................... 43
2.2.4 Sisteme de testare ICT In circuit test ......................................... 43
2.3 Caracteristicile i proprietile ATS-urilor n industria automotive ....... 45
2.4 Prile componente ale ATS-urilor ............................................................... 47
Capitolul III. Structura hardware pentru sistemele de testare
automat din industria automotive ................................................. 52
3.1 Arhitectura hardware ...................................................................................... 53
3.2 Prezentarea/specificaii ale prilor componente ...................................... 56
3.2.1 Standul de testare ........................................................................................... 56
3.2.2 Patul de cuie ..................................................................................................... 60
3.2.3 Sursa de alimentare ........................................................................................ 70
3.2.4 Echipamente de interfaare/routare ............................................................ 72
3.2.5 Echipamente de msur ................................................................................. 77
3.2.6 Echipamente de comunicaie ....................................................................... 83
3.2.7 Echipamente de calcul ................................................................................... 86
3.2.8 Echipamente de injectare a semnalelor ...................................................... 87
3.3 Particulariti hardware ale ATS-ului ........................................................... 89
Capitolul IV. Structura software: algoritmi, cazuri de testare,
particulariti .................................................................................. 96
4.1 Medii de programare folosite ........................................................................ 96
Cuprins 7

4.2 Interfaa grafic ............................................................................................. 103
4.3 Algoritmii programului operaional ............................................................ 106
4.4 Drivere pentru echipamentele HW ............................................................. 114
4.5 Cazuri de testare implementate ................................................................. 130
4.6 Rezultate obinute ......................................................................................... 143
4.7 Concluzii i contribuii personale ................................................................ 157
Capitolul V. Concluzii ..................................................................... 161
Capitolul VI. Contribuii personale ................................................ 165
Bibliografie ................................................................................... 170

Abrevieri:

ATS = Sistem de testare automat (automated testing system)
CAN = Controller Area Network
CAN_H = CAN High
CAN_L = CAN Low
CI = condiii iniiale
DMM = multimetru digital (digital multimeter)
DUT = dispozitiv supus testrii ( device under test)
ECU = sistem de control electronic (electronic control unit)
EPROM = Memorie cu posibilitate de scriere citire (erasable programable read only
memory)
FG = generator de semnale (function generator)
FRT = teste de reacie la stimuli
FT = teste funcionale
HW = hardware
ICT = testare n circuit (in circuit testing)
ID = nume propriu atribuit pentru un semnal
MEP = Message exchange protocol
MP = memorie primar
MS = memorie secundar
OEM = productor original de echipament (original equipment manufacturer)
OSC = osciloscop (oscilloscope)
OVC = protecie la supracurent ( over current protection)
OVP = protecie la supratensiune (over voltage protection)
PCB = circuit imprimat (printed circuit board)
PS = surs de alimentare (power supply)
REQ = cerine (requirements)
RF = frecvene nalte - radio frequency
SW = software
SCPI = Comenzi standard pentru Instrumente Programabile (Standard Commands
for Programmable Instruments)
TA = testare automat (autoamted testing)
TC = caz de testare ( test case)
TS = specificaii de testare (test specifications)
uC = microcontroler

Lista de figuri:

Figura 1.1 Dispozitive electronice componente ale unui autovehicul...................... 19
Figura1.2 Funciile ndeplinite de sistemele de control electronic .......................... 19
Figura1.3.a. Vedere habitaclu autoturism .......................................................... 20
Figura1.3.b. Vizualizare tahometru ................................................................... 20
Fig.1.4 ECU din industria automotive ................................................................ 21
Figura1.5 Modelul V ( V-Cycle) dezvoltat de Hughes Aircraft................................ 22
Figura 2.1 Sistem de testare automat de tip HiL ............................................... 41
Figura2.2 Structur de testare de tip SiL ........................................................... 43
Figura2.3 Structur de testare de tip ICT .......................................................... 44
Figura2.4 Sistem de testare automat control de calculator................................. 48
Figura3.1 Schema bloc a ATS-ului ................................................................... 54
Figura3.2 Schema bloc pentru msurarea eficienei surselor de tensiune n
comutaie ..................................................................................................... 55
Figura3.3 Structur rack and stack. ................................................................. 57
Figura 3.4 Sistem de testare de tip stack and rack ............................................. 59
Figura3.5a Pat de cuie cu placa de multiplexoare integrat ................................. 60
Figura3.5b Pat de cuie cu placa de repetoare pe emitor integrat ....................... 60
Figura 3.6 Exemplu de hara a punctelor de testare, de sprijin i de testare .......... 62
Figura 3.6a Schema electric a repetorului pe emitor din cadrul patului de cuie... .. 63
Figura 3.6b Schema electric a conectorului de scriere a softwareului JTAG......... . 64
Figura 3.6c Configuraia conectrii semnalelor la conectorul patului de cuie.......... 64
Figura 3.6d Schema electric a unui multiplexor din modulul de multiplexoare
integrat n patul de cuie ................................................................................. 65
Figura 3.7 Pri componente ale probelor / sondelor de testare ........................... 65
Figura3.8 Compresia unei sonde de testare.. ..................................................... 67
Figura 3.9 Vrf ascuit.................................. .................................................. 67
Figura 3.10 Vrf plat........................................... ........................................... 68
Figura3.11 Vrf conic invers .............................................. ............................ 68
Figura3.12 Vrf coroan................................................ ................................. 69
10 Lista de figuri

Figura3.13 Vrf bullet .................................................................................... 69
Figura 3.14 Vrf stea .................................................... ................................ 70
Figura 3.15 Vrf pentru paduri de trecere (via points) ............... ........................ 70
Figura 3.16 Sursa de alimentare Agilent 3645A / Caracteristica tensiune-curent .. . 71
Figura 3.17a Echipamente de interfaare folosite n dezvoltarea ATS-ului ...... ....... 73
Figura 3.17b Echipamente de interfaare folosite n dezvoltarea ATS-ului .... ......... 73
Figura 3.18a Agilent 34970A partea frontal ................................... .............. 74
Figura 3.18b Agilent 34970A partea dorsal ........................................ .......... 74
Figura 3.19a Agilent 34903A schema electric .... .......................................... 75
Figura 3.19b Agilent 34903A unitatea fizic de multiplexare cu 20 de relee . ..... 76
Figura 3.20a Implementarea CAD a unitii de multiplexare ................................ 76
Figura 3.20b Mrirea interiorului unitii de routare a semnalelor ......................... 77
Figura 3.21 Schema bloc a multimetrului digital Agilent 34410A .......... ............... 80
Figura 3.22 Multimetrul Digital 34410A ............................................................. 81
Figura 3.23 Transmisia datelor prin GPIB .......................................................... 85
Figura 3.24 Principiu de funcionare CAN .......................................................... 86
Figura 3.25 Instrumente generatoare/amplificatoare de semnal .... ...................... 88
Figura 3.26 Plan de mas de tip stea ................................................................ 91
Figura 4.1 Integrarea programului ECU-Test n industria automotive .................... 97
Figura 4.2 Crearea cazurilor de testare n ECU-Test ............................................ 98
Figura 4.3 Mod de execuie a cazurilor de testare cu ECU Test ............................ 99
Figura 4.4 Mediu de programare LABView ...................................................... 100
Figura 4.5 Structuri logice folosite n LABView ................................................ 101
Figura 4.6 Interfaa grafic dezvoltat n LABView (GUI)................................... 104
Figura 4.7 Fereastra Pop-up: Selecia cazurilor de testare ................................ 105
Figura 4.8 Algoritmul programului operaional ................................................ 107
Figura 4.9 Algoritm pentru execuia unui caz de testare .................................... 110
Figura 4.10 Structur pentru cazurile FT ......................................................... 111
Figura 4.11 Algoritm / Structur pentru cazurile de reacie la stimuli FRT............ 112
Figura 4.12 Conexiune ECU Test cu fiierele de mapare ................................... 114
Figura 4.13 Driver pentur DMM-ul Agilent 34410A............................................ 115
Figura 4.14 Driverul pentru unitatea de routare ............................................... 116
Lista de figuri 11

Figura 4.15a Comanda trimis de dezvoltator pentru configurarea FG-ului .......... 116
Figura 4.15b Driverul care demultiplexeaz linia de comand a FG-ului .............. 117
Figura 4.16 Atribuirea de ID pentru formele de und posibile a fi generate
cu FG-ul ..................................................................................................... 117
Figura 4.17a Comanda din panoul frontal pentru generarea semnalelor modulate cu
generatorul de funcii .................................................................................. 118
Figura 4.17b Implementarea n diagrama bloc a comenzilor SCPI pentru generarea
semnalelor modulate cu generatorul de funcii ................................................. 118
Figura4.18a Linia de comand trimis pentru configurarea osciloscopului LeCroy . 119
Figura 4.18b Interpretarea liniei de comand n diagrama bloc pentru setarea
osciloscopului Lecroy .................................................................................... 119
Figura 4.19a Linia de comand trimis pentru configurarea bazei de timp a
osciloscopului LeCroy ................................................................................... 120
Figura 4.19b Interpretarea liniei de comand pentru configurarea bazei de timp a
osiloscopului LeCroy ..................................................................................... 120
Figura 4.20 a Linia de comand trimis pentru configurarea condiiilor de declanare
n cazul osciloscopului LeCroy ........................................................................ 121
Figura 4.20b Interpretarea linie de comand pentru configurarea condiiilor de
declanare n cazul osciloscopului LeCroy ........................................................ 121
Figura 4.21a Linia de comand trimis pentru apelarea panoului frontal al
Figura 4.21b Interpretarea liniei de comand pentru apelarea panoului frontal al
Figura 4.22 a Linia de comand pentru msurarea unui parametru electric al
semnalelor prezente pe unul din cele 4 canale ale osciloscopului LeCroy ............. 123
Figura 4.22 b Interpretarea liniei de comand pentru msurarea unui parametru
electric al semnalelor prezente pe unul din cele 4 canale ale osciloscopului LeCroy 124
Figura 4.23 Linii de comand ce trebuiesc trimise ctre osciloscop pentru citirea mai
multor parametrii, pentru fiecare canal al osciloscopului ................................... 124
Figura 4.24 a Linie de comand trimis pentru afiarea unui parametru cu ajutorul
osciloscopului Tektronix DPO2000 .................................................................. 125
Figura 4.24 b Interpretarea liniei de comand trimis pentru afiarea unui
parametru cu ajutorul osciloscopului Tektronix DPO2000 .................................. 125
Figura 4.25a Linia de comand ce trebuie trimis pentru efectuarea unei msurtori
de ntrziere delay cu osciloscopul Tektronix................................................. 125
12 Lista de figuri

Figura 4.25b Interpretarea liniei de comand ce trebuie trimis pentru efectuarea
unei msurtori de ntrziere delay cu osciloscopul Tektronix ......................... 126
Figura 4.26 Construirea unei comenzi SCPI cu mediul de programare LABView
pentru osciloscopul Tektronix DPO2000 .......................................................... 127
Figura 4.27a Linie de comand pentru salvarea pozelor pe hard disk-ul local cu
aplicaia de testare ...................................................................................... 128
Figura 4.27b Interpretarea liniei de comand pentru salvarea pozelor pe hard disk-ul
local cu aplicaia de testare ........................................................................... 128
Figura 4.28a Linie de comand necesar pentru etichetarea canalelor osciloscopului
Tektronix ................................................................................................... 128
Figura4.28b Interpretarea liniei de comand necesar pentru etichetarea canalelor
osciloscopului Tektronix ................................................................................ 129
Figura 4.29 Structura Buck, prezentare forme de und ..................................... 132
Figura 4.30 Algoritm pentru testarea eficienei unui convertor BUCK .................. 134
Figura 4.31 Forma de und generat la intrarea ECU-ului pentru ntreruperi de
scurt durat ale tensiunii de alimentare ........................................................ 136
Figura 4.32 Form de und generat pentru testul profilului de start .................. 137
Figura4.33 Conectarea echipamentelor la magistrala CAN ................................. 138
Figura4.34 Strile dominante i recesive pentru magistrala CAN ........................ 139
Figura 4.35 Topologia circuitelor CAN ............................................................. 142
Figura 4.36 Msurarea ieirii sursei principale de 5V la tensiunea minim i
maxim a tensiunii de alimentare .................................................................. 144
Figura 4.37 Msurarea parametrilor semnalelor n cazul testului de ncrcare i
descrcare treptat a bateriei ........................................................................ 144
Figura 4.38 Msurarea imunitii ECU-ului la tensiuni nalte ............................ 145
Figura 4.39 Validarea unitii de control electronice pentru tensiune de alimentare
sub tensiunea minim admis ....................................................................... 145
Figura 4.40 Validarea unitii de control electronice n cazul apariei unei
ntreruperi scurte pe tensiunea de alimentare a ECU-ului .................................. 146
Figura 4.41 Detecia pragurilor de protecie pentru tensiune sub limita admis . 146
Figura 4.42 Funcionarea unitii de control electronice n cazul aplicrii unei
tensiuni de alimentare peste limita admis overvoltage .................................. 147
Figura 4.43 Verificarea funcionalitii ECU-ului atunci cand avem o tensiune de
intrare perturbat ....................................................................................... 147
Figura 4.44 Funcionarea ECU-ului n cazul aplicrii unei tensiuni de alimentare
inverse reversed voltage ............................................................................ 148
Lista de figuri 13

Figura 4.45 Testarea sursei BUCK de 5V pentru tensiune de intrare de 18V ...... 148
Figura 4.47 Testarea sursei BUCK de 5V pentru tensiune de intrare de 32V ..... 149
Figura 4.48 Rspunsul ECU-ului la impulsuri de tipul profilului de start ............ 150
Figura 4.50 Msurarea nivelelor de tensiune pentru comunicaia CAN .............. 151
Figura 4.51 Msurarea duratei unui bit pe magistrala CAN ................................ 151
Figura 4.52 Msurarea tensiunii de mod comun pentru starea dominant a
comunicaiei CAN ........................................................................................ 152
Figura 4.53 Msurarea nivelelor de tensiune pentru starea recesiv a comunicaiei
CAN ........................................................................................................... 152
Figura 4.54 Msurarea nivelulului de tensiune Vdiff a comunicaiei CAN n starea
dominant .................................................................................................. 153
Figura 4.55 Msurarea nivelului de tensiune Vdiff pentru comunicaiei CAN n stare
recesiv ...................................................................................................... 153
Figura 4.56 Testarea automat cu ECU Test utiliznd structura veche de testare 156
Figura 4.57 Testarea automat cu ECU Test utiliznd structura nou de testare 156

Lista de tabele:

Tabelul 3.1 Liniile interfeei GPIB .................................................................. 84
Tabelul 3.2 Nivelurile logice ale protocolului GPIB ............................................ 84
Tabelul 4.1 Tensiuni de alimentare pentru sisteme automotive Vi=12V ............ 135
Tabelul 4.2 Tensiuni de alimentare pentru sisteme automotive Vi = 24V .......... 135
Tabelul 4.3 Tensiunile Vdrop care trebuie atinse pentru discontinuiti ale Vin .. 136
Tabelul 4.4 Tensiuni ale formei de und pentru profilul de start ...................... 136
Tabelul 4.5 Parametrii de tensiune ai magistralei n stare recisiv ................... 140
Tabelul 4.6 Parametrii de tensiune ai magistralei n stare dominant ............... 140
Tabelul 4.7 Parametrii minimi i maximi pentru tensiunile liniilor CAN_H&CAN_L 140
Tabelul 4.8 Parametrii DC pentru starea recesiv pentru un nod al magistralei.. 141
Tabelul 4.9 Parametrii DC pentru starea dominant a unui nod CAN ................ 141
Tabelul 4.10 Msurtori efectuate cu DMM-ul .................................................. 154

INTRODUCERE

Automotive reprezint domeniul tehnologic al dispozitivelor electronice
utilizate n industria producatoare de maini. Sistemele de control electronic (ECU)
din industria automotive fac parte din categoria dispozitivelor cu fiabilitate ridicat
deoarece pe primul loc este sigurana pasagerilor i a mainii pe durata de
funcionare. Astfel, fiecare ECU din industria automotive se supune unui proces
riguros de testare standardizat dupa legislaia american, respectiv european.
Fiecare companie productoare de dispozitive electronice destinate acestei industrii
trebuie s ndeplineasc standardele la zi impuse industriei automotive. Totodat,
timpul procesului de testare din industria automotive, se scurteaz. Numai in ultimii
ani asistm la o injumtire a timpului de dezvoltare alocat pentru o componenta
electronica, rezultnd o nevoie de mbuntire a sistemelor de testare.
Aceast tez are ca obiect domeniul testrii la diferite nivele ale industriei
automotive. Domeniul poate prea ngust la nceput, dar este deosebit de interesant
si provocator pentru implementarea de noi soluii.
Industria automotive este structurat pe mai multe nivele, descrise in
paginile urmatoare. Astfel, fiecare nivel este reprezentat de o mulime de
particulariti unde pot fi aduse mbuntiri. Autorul dorete ca aceast lucrare s
prezinte imbuntirile aduse n acest domeniu pentru testarea ECU-urilor.
Etapele dezvoltrii unei uniti de control electronice presupune urmtoarele
etape: dezvoltarea (development phase), testare i verificare (test un validation) i
integrare la diferite nivele (integration). Datorit globalizrii i adaptrii
autovehiculelor la noile concepte de pia, etapele dezvoltrii unui ECU au un ciclu
de dezvoltare curpins ntre 2 i 3 ani, comparativ cu anul 1990 cand ciclul de
dezvoltare ajungea la 5 ani. Totodat pentru noile ECU-uri exist standarde si
norme care trebuiesc indeplinite. Abaterea de la aceste standarde i norme impuse
de consiliile europene pot face un produs neutilizabil n industria automotive. Practic
atingerea unor norme din punct de vedere calitativ atrage sigurana in utilizare a
autovehiculului. Dar pentru a putea pune in evidena comportamentul unui produs,
din punct de vedere calitativ, procesul de testare si validare din cadrul
producatorilor de componente si autovehicule trebuie sa fie structurat pe mai multe
nivele, eficient i suficient de fiabil.
Autorul dorete s pun n eviden importana testrii automate,
caracteristicile procesului de testare / validare n domeniile electrice si electronice
din industria automotive, ct i din domeniile conexe.
O definiie a testrii ne exemplific faptul c un produs trebuie sa
ndeplineasca un minimum de cerine, cerine care constituie punctul de plecare
pentru dezvoltarea produsului. La aceste cerine, denumite n englez requirements,
se aplic normele i standardele n vigoare eliberate ce consiliile europene sau
16 Introducere

americane. Autorul dorete s arate c pentru realizarea unui sistem de testare
automat nu mai sunt suficiente numai cunotinele de electronic, acum sunt
insoite i de cunotine ale mediilor de programare.
Practic n ultimele decenii electronica pur a disparut, apariia
microcontrollerelor i a microprocesoarelor (uP) rezultand n interconectarea celor
doua domenii majore hardware i software. n esen, la nceputul anilor 70,
majoritatea circuitelor electrice erau doar cu componente electronice pasive.
Apariia primelor circuite CMOS, dezvoltarea microcontroller-elor (uC), apariia
memoriei RAM i a uP-lor a fcut posibil comandarea dispozitivelor electronice cu
ajutorul software-ului. Posibilitatea de comandare a circuitelor electrice i
electronice a oferit o mobilitate mai mare i o uurin n proiectarea de circuite.
Treptat s-au dezvoltat i limbaje de programare, n care se scriu linii de cod pentru
comandarea acestor circuite. Acestea au reprezentat principalele invenii care au
contribuit la progresul tehnologic la care asistm n zilele noastre.
Dar odat cu acest progres tehnologic apare nevoia tot mai mare de testare.
O problema major a dezvoltrii echipamentelor electronice o constituie timpul.
Traim n secolul vitezei, ca n orice industrie, timpul alocat dezvoltrii de
echipamente i componente electronice este tot mai comprimat. Produsele care
conin circuite electronice devin tot mai complexe iar funcionalitatea lor se testeaz
tot mai dificil. Acest progres tehnologic asimilieaza noi tehnologii: de realizare, de
construire i de verificare a echipamentelor electronice. Testarea echipamentelor i
componentelor electronice trebuie s in pasul cu progresul tehnologic, astfel noi
tehnici de testare/verificare trebuiesc dezvoltate, trebuiesc adaptate cerintelor
actuale i adoptate n timpul mersului. Pentru dezvoltarea unui produs este nevoie
de faza testare att n etapa de dezvoltare ct i n etapa de producie.
Aceste caracteristici prezentate, tendinele de optimizare din acest domeniu
precum i opinia autorului referitoare le varietatea de tehnici i soluii n precesul de
inglobare a noilor tehnologii n procesul de testare / validare reprezint principala
linie de ghidare pentru aceast tez.
Autorul a participat la elaborarea documentaiei de testare pentru mai multe
proiecte din domeniul automotive fiind implicat n toate fazele procesului de testare,
precum i n fazele de dezvoltare a produsului. De asemenea s-a participat la
realizarea sistemului de testare automat, la analiza sistemelor, la proiectarea
interfeelor, la implementarea algoritmilor software fiind conectat n permanen cu
comunitatea tiinific din domeniu. Sistemul creat se dorete a fi reutilizabil pentru
o gama cat mai larga de ECU-uri cu eforturi minime de adaptare pentru diferite
proiecte.
Teza a fost alcatuit pe scheletul a cinci capitole care evideniaz punctele
forte ale sistemelor de testare din automotive:
Capitolul I. Stadiul actual n testarea automat n industria automotive
trece n revist domeniul i componentele sale importante, metode de
testare, nivelele de testare din domeniul automotive precum si punctul de
vedere al autorului cu privire la aceste sisteme;
Introducere 17

Capitolul II. Conceptul sistemului de testare automat pentru industria
automotive definete procesul de testare din faza de descriere a cazurilor
de testare pn la execuia propriu-zis. Autorul prezint elementele care
asigura reutilizarea sistemului n cadrul altor proiecte;
Capitolul III. Structura hardware pentru sistemele de testare automat
din industria automotive. Se prezint tipurile de echipamente folosite
pentru realizarea sistemului, arhitectura acestora, instrumentele frecvent
utilizate si punctul de vedere al autorului n privina echipamentelor;
Capitolul IV. Structura software: algoritmi, cazuri de testare,
particularitati se prezint arhitectura programului operaional de comand
a sistemului de testare automat, algoritmul de selecie i executare a
cazurilor de testare , contribuiile autorului referitor la particularitile
programului pentru a-i conferi portabilitatea necesar unui sistem de
testare din acest industrie. Tot n cadrul acestui capitol sunt prezentate
mediul de programare, driverele construite de autor precum i cazuri de
testare realizate n cadrul proiectului avand ca urmare rezultatele obinute
de autor cu acest sistem de testare automat i prezentate in cadrul
capitolului;
Capitolul V Concluzii se prezinta principalele concluzii ale autorului cu
privire la sistemul de testare automat, posibiliti de muntire a
sistemului din perspectiva autorului;

Capitolul I. Stadiul actual al testrii n industria
automotive

n acest capitol autorul prezint n form succint cteva elemente definitorii
pentru activitatea de testare/validare a unor dispozitive electronice complexe.
Asistarea oferului n diferite situaii ajutnd la evitarea unor accidente n momentul
conducerii autovehiculului reprezint o ncununare a electronicii aplicate n domeniul
automotive. n decursul a doua decenii electronica a preluat execuia mecanica i a
transformat-o n execuie comandat de sisteme electronice. Funcii simple precum
deschiderea ferestrei, semnalizare la schimbarea benzii de mers, funcii de comfort
pentru pasageri i oferi dar mai ales funciile de siguran sunt preluate de sisteme
de comand electronice. Ca urmare a complexitii acestor sisteme electronice
precum i a funciilor ndeplinite, rezult ca fiind necesar asigurarea fiabilitii
maxime pentru aceste dispozitive (ECU = electronic control unit).
Automotive este sectorul care cuprinde dezvoltarea dispozitivelor electronice
construite pentru diferite autovehicule: autoturisme, autoutilitare, microbuze,
autobuze precum i maini dedicate unor operaiuni speciale, precum serviciul de
ambulan. n funcie de particularitile diferitelor autovehicule se vor crea noi
ECU-uri de complexitate diferit adaptate acestor cerine.
Testarea funcional a acestor dispozitive decide utilizarea lor n autoturism,
fiind validate dup standardele in vigoare. Parte dintre dispozitive indeplinesc funcii
de siguran n cadrul autovehiculului rezultnd necesar testare funcional pe mai
multe nivele care vor fi prezentate n acest capitol.
Testarea se realizeaz cu ajutorul unor standuri de testare care vor forma
un sistem de testare automat. Pentru realizarea unui stand de testare automat
este necesar un program, rulat pe un calculator destinat operaiilor zilnice, cu
ajutorul caruia va fi comandat standul de testare. Standul de testare va conine
aparatura necesar pentru generarea de semnale electrice, aparatura de simulare i
masur.
n mod uzual programele de testare sunt construite pe baza unor algoritmi
implementai n medii de programare specializate. Necesar pentru aceste programe
este s permit comanda de la distan a standului de testare iar implementarea
cazurilor de testare s fie realizat ntr-un mod ct mai simplu. Execuia acestor
cazuri de testare se face realizeaz printr-o aplicaie de tip test executive.
Concluziile la acest capitol sublinieaz, dup opinia autorului, dezvoltarea
accelerat din acest domeniu precum i nevoia muntirii procesului de testare din
cadrul industriei automotive, pentru realizarea testrii/validrii automate a ECU-
urilor.

1.1 Automotive. Tipuri de dispositive electronice 19

1.1 Automotive. Tipuri de dispozitive electronice

Dispozitivele electronice folosite n construcia autovehiculelor realizeaz
funcii de siguran pasiv i activ, funcii de comfort precum i funcii de control.
La nceputurile industriei automotive comunicaia ntre doua dispozitive electronice
se realiza pe protocolul de comunicaie LIN (Local Interconect Network). Dezvoltarea
ulterioar din domeniul a facut ca sa fie adoptate rnd pe rnd i urmatoarele
standarde: n proporie ridicat protocolul de comunicaie CAN (Controlled Area
Network), Ethernet, MOST (Media Oriented System Transport) folosit doar pentru
aplicaii de infotainment, FlexRay reprezentnd viitorul datorit vitezei de
comunicare ridicate.

Figura1.1 Dispozitive electronice componente ale unui autovehicul[193]

Figura1.2 Funciile ndeplinite de sistemele de control electronic[17]
20 Cap I. Stadiul actual al testrii n industria automotive
n figura 1.2 se pot observa varietatea de funcii ndeplinite de sistemele
electronice de control componente ale unui autovehicul de generaie actual. Autorul
a reprezentat doar funciile principale, existnd posibilitatea ca anumite funcii sa fie
omise.
n figura 1.3 a. i b. autorul dorete s pun n eviden dispozitivele din
habitaclu componente ale autovehiculului.

Figura1.3.a. Vedere habitaclu autoturism [17]

Figura1.3.b. Vizualizare tahometru [17]
1.2 Modelul de testare adoptat n industria automotive 21

Dup cum se poate observa in figurile anterioare componena dispozitivelor
electronice din componena unui autoturism depaesc astazi 80%. Afiajele sunt
realizate cu ajutorul unor ecrane de tip LCD precum i funcia de navigare. Autorul
dorete s sublinieze faptul ca majoritatea funciilor din main au n componen
un dispozitiv electronic care trebuie testat/validat.

Figura1.4 ECU din industria automotive [205]

n figura 1.4 este prezentat un dispozitiv electronic de control (ECU) din
cadrul industriei automotive. Dupa cum se poate observa acest dispozitiv este
constituit din carcasa metalic (dur aluminiu), conectori i placa electronic (printed
circuit board). Incapsularea ECU-urilor este importanta deoarece acestea sunt
supuse unor teste de umiditate i ocuri mecanice. Principalii producatori de
echipamente electronice din cadrul industriei automotive sunt: BOSCH, Continental
AG, Autolive, Yazaki, Hella, Magnetti Marelli, Delphi.

1.2 Modelul de testare adoptat n industria automotive

n anii 80 complexitatea mare a echipamentelor electronice n industria
avionic, i care este ntr-o continu cretere aduce n prim plan pentru prima dat
necesitatea unui model de testare. Pn n acel moment majoritatea
testrilor/verificrilor din domeniul electronicii se efectuau manual fr o strategie
prestabilit. n anul 1982 pentru prima dat apare strategia de testare numit
modelul V (V-cycle) ,figura 1.5, adoptat de compania Hughes Aircraft. Practic acest
model de testare a fost creat pentru a pune n evidena lacunele software din
dezvoltarea unui produs, din perspectiva testrii i integrrii[23][44][64].

Figura1.5 Modelul V ( V-Cycle) dezvoltat de Hughes Aircraft [23]

n acest V-cycle se poate observa c sunt cuprinse atat faze din dezvoltarea
produsului, ct i nivelele la care se face testarea produsului. Practic, punctele de
referin a acestui model sunt abordarea din punct de vedere al proiectului,
ncercarea de delimitare a fiecarei etape precum i nivelul de interpretare pentru
diferite etape din viaa proiectului.
Acest model este folosit n continuare pn n anul 1991 doar n proiecte ce
cuprind dezvoltarea de sisteme de satelii. Dupa anul 1991, majoritatea companiilor
cu profil de testare adopt o astfel de tehnologie de testare , dup modelul V-cycle.
n paralel cu modelul american este dezvoltat un model asemanator n Germania,
pentru Ministerul Federal de Aprare. n anul 1992, un astfel de model devine public
i este folosit la scal larg de companiile de profil.
Majoritatea punctelor sunt comune pentru cele dou V-cycle-uri, n zilele de
astzi modelul fiind implementat n cadrul companiilor cu profil electronic care au n
cadrul lor i departamente de testare i verificare.
1.2 Modelul de testare adoptat n industria automotive 23

O sumarizare a punctelor importante din strategia V este prezentat de
ctre autor n cele ce urmeaza:
Cerine la nivel de sistem;
Cerine la nivel de componenta;
Cerine de proiectare;
Verificare/Testare hardware nivel de baza;
Verificare/Testare software nivel de baza;
Integrare la nivel de component nivel de component;
Verificare/Testare la nivel de component nivel de component;
Verificare/Testare la nivel de subsistem nivel de subsistem;
Verificare/Testare la nivel de sistem nivel de sistem.
Practic dup acest model, procesul de verificare/testare dorete s confirme
c ceea ce a rezultat ca produs finit, cu proporietti fizice i msurabile, satisface
cerinele de sistem pentru respectivul produs. Practic verificarea bazata pe modelul
V dorete s confirme o ndeplinire a cerinelor de la fiecare nivel, pornind de la
nivelul de baza pana la nivelul de sistem. Dezvoltarea produselor se face pe etape,
astfel ca pentru a realiza un produs finit sunt etape intermediare de integrare a
diferitelor componente n ansamble mai mari. Practic n industria automotive
activitatea de testare este complex i implic mai multe tipuri de activiti:
Analiza folosirea modelelor matematice i analitice pentru a prezice
comportamentul produsului bazat pe modele matematice sau pe date
primite de la nivelul de component aparinnd sistemului. Analiza
presupune atat activitti de modelare ct i activiti de simulare;
Inspecia cel mai intalnit tip de inspecii n industria electronic este
inspecia vizual de la cel mai mic nivel la cel mai inalt. E.g. n producie
este important inspecia vizual pentru verificarea amplasrii
componentelor, la nivel de hardware inspecia este doar pentru a fi
observat integritatea dispozitivului, la nivel de subsistem se dorete
inspecie pentru integritatea subsistemului iar la nivel de sistem de cele
mai multe ori este pentru a vedea forma finit a produsului.
Demostraia pentru a vizualiza dac sistemul respect toate cerinele
care au stat la baza dezvoltrii proiectului. n timpul demonstraiilor se
creaz o prim impresie despre maturitatea produsului.
Testarea efectiv aici se adun date care sa ateste funcionarea n
parametrii impui de cerine. Dac n timpul demonstraiilor nu au putut fi
catalogate rezultatele sistemului, n aceast etap se poate determina
starea de maturitate a proiectului.
Pentru a ajunge la un produs finit fiecare produs cunoaste mai multe cicluri
de via, n termenii din industrie numite bucle de cercetare i dezvoltare. Natural,
aceste bucle exist i n cadrul testrii. Modelul de testare a cunoscut o dezvoltare
exponential, cerinele fiind de cele mai multe ori imprite pn la nivelul de baza,
astfel strategia de testare de tip V este folosit acum pentru fiecare nivel. Testarea
la fiecare nivel, se supune modelului V prezentat anterior, existnd pentru fiecare
bucla de testare un nou ciclu V.
n rndurile urmatoare se dorete exemplificarea metodelor de testare la
nivel hardware, la nivel software, nivel de componenta, la nivel de subsistem si la
nivel de sistem.

1.3 Nivele de testare ale sistemelor de control
electronic in industria automotive

n cele ce urmeaz autorul acestei teze dorete s prezinte principalele
caracteristici ale nivelelor de testare existente n industria automotive.

1.3.1 Nivel de component hardware

Acest nivel de testare presupune testarea componentei electronice din punct
de vedere al parametrilor electrici. La acest nivel sunt testate: amplasarea corect a
componentelor pe poziia corespunztoare, modulele principale n funcionarea ECU-
ului existente pe PCB. Pentru testare este nevoie de o surs de tensiune (PS),
osciloscop (OSC) sau multimetru digital (DMM). La acest nivel rezultatele testrii se
compar cu valorile nominale ale parametrilor electrici. n cadrul acestui nivel pentru
primele sample-uri (A0 prima bucla de testare) se adopta tipul de testare manual
deoarece nc nu sunt cunoscute toate detaliile proiectului. n paralel se poate
ncepe dezvoltarea ATS-ului. n cadrul acestui nivel sunt descoperite primele greeli
majore din cadrul proiectului cum ar fi: nefuncionarea n paramaterii a surselor de
tensiune, routarea greita a unor trasee, poziionarea incorect a unor componente.

1.3.2 Nivel de component software

n mod tradiional dezvoltarea software se efectueaz cu o intarziere mic
fa de nivelul componentei hardware sau chiar n paralel cu aceasta. Partea de
testare la nivel de component software se efectueaz atunci cand partea hardware
este suficient de matur pentru ca partea software sa fie scris n ECU. Se folosesc
metode de testare prezentate de autor n randurile urmtoare. Se identific
principalele greeli la nivel de algoritm, daca exist probleme de configurare a ECU-
ului.

1.3.3 Nivel de component integrat

Pentru prima dat la acest nivel mai multe pari componente sunt intgrate i
pregatite pentru o testare funcional. n aceast etap ECU-ul se afl n stare
matur att din punct de vedere hardware ct i din punct de vedere software.
Acum se verific pentru prima dat ECU-ul din punct de vedere funcional dar
1.3 Nivele de testare ale sistemelor de control electronic n industria automotive 25

mpotriva specificaiilor de proiectare oferite de producatorul original (ex: BMW).
Trebuiesc ndeplinite cerine legate de timp, consum de putere, tensiuni de
alimentare, posibiliti de diagnoz, management al erorilor, compatibilitate
electromagnetic, comportamentul ECU-ului la condiii de mediu, la vibraii respectiv
la ocuri mecanice.

1.3.4 Nivel de subsistem

n aceast etap producatorul ECU-ului livreaz productorului original un
produs complet testat dupa primele nivele adoptate de industria automotive. Acum
este rndul productorului automotive (ex: BMW) s observe comportamentul ECU-
ului n subsistemul din care face parte (ex: infotainment).Sistemul de infotainment
este reprezentat de unittile de control electronice ce vin in ajutorul ghidrii
conductorului auto, e.g. sistemul de navigaie impreun cu sistemul de sonorizare
al autoturismului. n cadrul acestui nivel se poate vedea maturitatea produsului,
deoarece funcionarea ECU-ului se efectueaz ntr-un mediu de testare n care
ceilalti senzori sunt prezeni sau simulai. Nivelul de dezvoltare al tuturor
componentelor este aproape de cel n care vor fi montate n autovehicul. Din cadrul
testelor efectuate n aceast etap autorul dorete s evidenieze testele funcionale
FT i testele de reacie la diferii stimuli FRT. Remedierea unei defeciuni n aceast
etap va crete costurile de dezvoltare ntr-un mod exponenial dac greeala
descoperit este hardware. Pentru greelile de tip software exist posibiliti de
remediere cu costuri sczute.

1.3.5 Nivel de sistem

n cadrul acestei etape, ECU-ul va fi testat n mediul real de funcionare
alaturi de celelalte componente constitutive ale sistemului. Acum se realizeaz
integrarea autoturismului i se dorete testarea din punct de vedere funcional. n
aceast etap greelile de proiectare din cadrul celorlalte nivele va conduce la
creterea costurilor de producie ct i a celor de dezvoltare. Testarea sistemlui se
efectueaz n condiii de mediu reale, autoturismul fiind la nivel de prototip avnd
posibilitatea de a circula pe strada.

1.4 Tipuri de testare

Autorul acestei teze dorete s pun n eviden cele dou tipuri de testare
prezente n industria automotive: automat i manual. n urm cu dou decenii
testarea manual era predominant n industria automotive, raportul inversandu-se
n ultimii ani datorit dezvoltrii tehnologice dar i datorit reducerii timpilor de
dezvoltare a unui produs din aceast industrie. n urmtoarele paragrafe autorul
dorete s prezinte principalele caracteristici ale acestor dou tipuri de
testare[153][192][194].

1.4.1 Testarea manual

n industria automotive un produs trebuie s parcurg anumite stadii de
dezvoltare n funcie de complexitatea produsului. Astfel n cazul testrii unui produs
n fazele incipiente prototip este preferat testarea manual. n aceast faz
cerinele produsului mai pot fi modificate iar testarea ntregului produs nu este
posibil, datorit posibilelor greeli aparute n proiectare. n concluzie pentru
evaluarea rapid a stadiului n care se afl produsul este aleas metoda de testare
manual. n urmtoarele rnduri autorul dorete s pun n eviden principalele
avantaje ale testrii manuale.
Avantaje:
Validare rapid a unor circuite, posibiltatea ca toate circuitele s fie
complet funcionale este redus;
Posibilitatea de manipulare ridicata, operatorul poate efectua msurarea
parametrilor electrici ale ECU-urilor n diferite condiii i medii;
Posibilitatea de intervenire n circuit, operatorul poate modifica cu uurin
componente ale circuitului electric, de exemplu acesta poate taia trasee
ntre circuite iar modificarea traseelor se poate efectua cu fire de cupru;
Posibilitatea de a efectua mai multe teste ad-hoc;
Costuri pe termen scurt reduse, costurile fiind reprezentate doar din orele
petrecute de inginerul de testare pentru testarea produsului i utilizarea
unor echipamente minimale
Operatorul uman poate gasi mai multe defecte, paleta de teste posibile de
efectuat fiind mai ridicat in faza incipent a produsului;
Inspectie vizual la costuri reduse pentru o singura bucla de testare
prototip;

Dezavantaje:
Consumatoare de timp, prin adoptarea ca fiind principala metod de
testare din cadrul proiectului;
Pentru fiecare bucla de testare rularea aceluiasi test, pe un numar mare
de sample-uri (mostre) poate deveni monoton iar ca durata de testare, n
mod sigur va fi mai lung n comparaie cu testarea automat;
Posibilitatea aparitiei unor erori in procesul de masurare datorita
operatorului uman, erori de tip: grosolan sau erori de manipulare;
1.4 Tipuri de testare 27

1.4.2 Testarea automat

Testarea automat datorit faptului c n procesele moderne de testare
timpul alocat testrii este n cele mai multe instane limitat, a aprut nevoia de
dezvoltare a unor produse de testare automate. Astfel crescnd interesul , din
partea producatorilor i a dezvoltatorilor de echipamente, pentru diverse sisteme de
testare automate au aprut i primele produse pentru testare automat dedicate.
Firmele producatoare de echipamente electronice i de sisteme de testare pun la
dispoziia clienilor o gam larg de variante. Problema major este reprezentat de
faptul ca aceste variante trebuiesc adaptate cerinelor clientului, iar clientul are
posibilitatea s dezvolte pe aceast platform un unic produs supus testrii. Din
firmele producatoare a sistemelor de testare automat putem aminti: ETAS, dSpace,
National Instruments cu produsul LABView precum i alte produse, Agilent,
Terradyne.
Avantaje:
In cazul proceselor cu mai multe bucle de testare bazat pe modelul V
este rentabil investiia ntr-un sistem de testare automat;
Eliminarea posibilitii de introducere a unor erori de tip grosolan,
aleatoare sau de manipulare;
Posibilitatea de atasare a unei camere video pentru inspectie vizuala
pentru productia de serie;
Efectueaza teste de compatibilitate pentru mai multe configuratii cu
modificri minore efectuate asupra sistemului;
Timpii de testare pentru mai multe sample-uri sunt optimizai la maxim;
Permite efectuarea unor teste de regresie ntr-un timp relativ scurt;
Costuri pe termen lung reduse, costurile fiind foarte ridicate n faza
incipient;
Repetabilitate crescuta pentru acelasi caz de testare, n aceleai condiii;
Posibilitatea de generare automat a raporturilor de testare;
Posibilitatea de reutilizare a unor parti componente din sistem,
echipamente de masura, surse de tensiuni, amplificate, generatoare de
semnal, sisteme de comunicaie;
Posibilitate de folosire a metodei de testare boundry scan cu vizualizare
imediat;
Adaptibilitate rapid pentru mai multe produse cu adaptri mici ale
sistemului;
Timp de lucru eficientizat 24/7, n cadrul sistemelor de testare automat
cazurile de testare pot fi efectuate fr supervizarea operatorului uman;

Dezavantaje:
Aparitia de erori sistematice;
Limitari legate de performantele echipamentelor si a tool-urilor folosite;
Nu are gandire proprie, interpretarea rezultatelor se face pe baza unor
algoritmi implementai n soft-ul operaional;
Costuri ridicate pe termen scurt, investiie mare n faza incipient a
sistemului de testare automat pentru prima bucl de testare a
produsului;
Dezvoltarea lent, experiena operatorului/inginerului aducnd un aport
important n dezvoltarea ATS-ului;
Flexibilitate scazuta la transport, manipulare, prindere;
Nu se pot automatiza toate cazurile de testare;

Pentru o testare complet a unui produs electronic n industria automotive este
necesar o interploare a celor doua metode de testare. n contextul cerinelor
actuale i a timpilor dedicai testrii/validrii produsului este preferat metoda de
testare automat n proprotie de 70%.
1.5 Metode, tehnici i strategii de testare

Dup nivelul dorit pentru testarea unui ECU exist mai multe moduri de
testare. Decizia de a adopta un mod de testare sau altul depinde managementului
proiectului iar aceasta va fi comunicat inginerului de test. Binenteles iniginerul de
test este implicat n adoptarea aceste decizii deoarece va putea aduce argumente
pro i contra n funcie de necesitile produsului[25][26][27][176][190][191].

1.5.1 Testare Automata n circuit ICT

Testarea n circuit este metoda de testare standard pentru producatorii de
echipamente electronice. Prin aceast metod de testare producatorul de
echipamente electronice poate stabili calitatea unui produs. Pentru o serie mare de
plci electronice PCB-uri testarea n circuit se poate efectua pe eantioane, analiza
unui lot fcndu-se pe baza statisticii. Metoda aceasta de testare permite testarea
fiecarei componente electronice montata deja pe placa. Informaia de defect se
poate realiza la nivel de pin de componenta pentru o remediere uoar a defectului.
Recomandat pentru majoritatea producatorilor, de obicei se implementeaz,
este ca produsul sa fie testat ICT. Pe lang posibilitatea de testare n cazul acestei
metode de testare se poate introduce posibilitatea de scriere a software-ului necesar
funcionrii echipamentului electronic. Aceast modalitatea de testare a fost
adoptat i de ctre centrele de development unde numarul produselor de testare
este sensibil mai scazut. Principalul avantaj este reprezentat de gradul ridicat de
reutilizare, pentru fiecare produs fiind necesar doar un singur pat de cuie.
1.5 Metode, tehnici i strategii de testare 29

Avantaje:
Posibilitate de testare a unui mare de PCB-uri, numrul depinde de fiecare
producator n parte;
Testarea foarte rapida, avnd acces la nodurile circuitului electronic;
Indicarea defectului ntr-un timp rapid, pe baza algoritmului;
Timp de functionare 24/7;
Elimin erorile datorate operatorului uman: grosolane i aleatoare;
Costuri reduse pentru perioade lungi de testare;
Posibilitate de reutilizare n cadrul mai multor proiecte.

Dezavantaje:
Datorit faptului ca accesul la nodurile electronice se face cu ajutorul
sondelor de testare, patul de cuie trebuie schimbat atunci cnd accesul la
un nod de testare (pad) este modificat, un nou sampel/model/produs;
Limitarea performanelor la nivelul echipamentelor componente;
Cost iniial ridicat;
Experiena operatorului / dezvoltatorului un criteriu important.
1.5.2 Testare funcional

Prin aceast metod se dorete testarea funcional a produsului pentru a fi
observat gradul de dezvoltare a acestuia, dac cerinele OEM-ului sunt ndeplinite.
n funcie de nivelul la care se efectueaz testarea funcional cerinele de la produs
sunt diferite. Acest tip de testare se efectueaz ntr-o anumit ordine a funciilor.
Teoretic acest tip de testare funcional reprezint procesul de verificare a unui ECU
pentru a fi observat capabilitatea de execuie a funciilor pentru care dispozitivul a
fost creat. Testarea funcional se efectueaz printr-o nlnuire de experimente
succesive n care funciile unitii sunt verificate. Pentru testarea funcional sunt
folosite strategiile de testare expuse de autor la punctul 1.5.6.
Avantaje:
Defectele identificate pot fi izolate usor;
n cadrul testelor de regresie aceste defecte pot fi retestate uor;
Ofer o trasabilitate ridicat, deoarece cerinele vor fi ntotdeauna legate
de funcionalitate.
Dezavantaje:
Testarea funcional depinde foarte mult de claritatea cerinelor;
n cadrul unor funcii complexe testarea se cere a fi amnunit existnd
posibilitatea ca testarea automat s nu fie posibil.
1.5.3 Testare non-funcional

Acest tip de testare nu va testa din funcionalitile ECU-ului dar va testa c
produsul ndeplinete cerinele non-funcionale ale OEM-ului. Aceste cerine non-
funcionale ale ECU-ului vor reprezenta constrngerile pentru dezvoltarea
produsului. n cele mai multe cazuri dac aceste cerine nu sunt ndeplinite produsul
este neutilizabil. Dintre aceste cerine autorul dorete s ofere cteva exemple
pentru o mai bun nelegere: parametrii de intrare, parametrii de ieire, timpii de
raspuns, fiabilitate, portabilitate, etc.
Avantaje:
mpreun cu testarea funcional pot fi oferite date foarte precise despre
produs;
OEM-ul poate impune cerinele dorite pentru integrarea ECU-ului;
Dezavantaje :
Nerespectarea cerinelor face ca produsul s fie neutilizabil;
1.5.4 Testare de tip rspuns la stimuli

Aceast metod de testare se folosete n industria automotive pentru
observarea comportamentului ECU-ului n anumite condiii de stres pentru acesta.
n felul acesta sunt evitatea producerea unor evenimente nedorite n funcionarea
autoturismului. Aceast metod este folosit cu precdere n toate nivelele
modelului V, avnd un rol important n integrarea ECU-ului n arhitectura
autovehiculului.
Autorul dorete s pun n eviden cele mai folosite metode de testare de
tip rspuns la stimuli:
Rspunsul ECU-ului la scurt-circuit cu planul de mas. Aceast situaie se
poate ntalni cu precdere din cauza unor fire dezizolate, a unor contacte
imperfecte sau a unor factori externi ce au produs scurt circuitul;
Rspunsul ECU-ului la scurt-ciurcuit cu planul de alimentare. Aceast
situaie poate fi ntalnit la conectarea greit a unui conector sau a unei
alte surse de tensiune suplimentare;
Rspunsul ECU-ului la scurt-circuitarea comunicaiei, n special a liniei de
CAN;
Rspunsul ECU-ului la tensiuni de alimentare mai mare (overvoltage);
Rspunsul ECU-ului la tensiuni de alimentare mai mici (undervoltage);
Rspunsul ECU-ului la semnale perturbatoare pe liniile de alimentare;
Autorul dorete s sublinieze faptul c aceast testare de tip rspuns la
stimului nu face parte din testarea compatibilitii electromagnetice. Testarea
compatibilitii electromagnetice se efectueaz n laboratoare acreditate, special

construite pentru executarea unor asemenea teste dup nite standarde
internaionale definite de consiliile europene/americane.
Acest tip de testare servete pentru dezvoltarea diagnozei, urmnd ca la
final autovehiculul s ofere posibilitatea atelierelor specializate s constate defectele
ntr-un mod rapid i cat mai exact posibil. Componenta defect va fi evideniat, iar
standardele automotive nu ofer alt posibilitate dect schimbarea cu o component
nou.
Avantaje:
Efectuat la toate nivelele ajut la constituirea diagnozei;
Evit posibilitatea apariiei unor situaii neplacute n comportamentul ECU-
ului sau a autovehiculului;
Cerine concrete legate de comportamentul ECU-ului.
Dezavantaje :
Mrete perioada alocat pentru testare;
Exist posibilitatea ca unele teste s nu poat fi automatizate.
1.5.5 Testare de tip regresie

Acest tip de testare este unul dintre cele mai folosite n industria
automotive. Autorul dorete s sublinieze faptul ca una dintre cele mai eficiente
metode de testare din industria automotive este cea de tip regresie deoarece
permite o urmrire a istoriei unei componente automotive. Astfel, fiecare ECU atunci
cnd va trece ntr-o nou bucl de testare va avea parte de o prim testare, numit
testare de regresie. n aceast tez autorul va prezenta un caz de testare de tip
regresie implementat cu succes la nivel de component hardware. La nivelele
superioare majoritatea testelor fac parte din aceast categorie, deoarece funciile
noi sunt dezvoltate n timp si integrate ntr-un ciclu de via de 3 ani. Autorul ofer
urmtoarele exemple pentru o mai bun nelegere: cutia automat integrat n
autovehicule de OEM acioneaz poziia parcare n momentul n care se ndeplinesc
condiiile: este apsat butonul P (parcare), viteza este mai mic decat 2 km/h.
Datorit introducerii noilor tipuri de cheie de tip key-less (fr cheie) o condiie
suplimentar devine atunci cnd cheia se afl la o distan mai mic de 1.5 m de
antena receptoare. n cazul n care cheia nu este prezent la mai puin de 1.5 m,
autovehiculul nu poate porni.
n cazul nivelului de componente hardware la modificarea unui condensator
de ieire din cadrul unei surse de alimentare de tip SMPS sau a altei componente se
efectueaz teste de regresie care s evidenieze: tensiunea de ieire, forma tensiunii
de ieire, eficiena sursei, frecvena de operare, pulse width.
n cadrul nivelelor de componente software o importan major o constituie
testele de regresie asupra funciilor ndeplinite. Schimbarea unei componente
hardware, de tip EPROM sau uC pot avea un impact important asupra funciei SW.

Avantaje:
Creaz o istorie a comportamentului unui modul, ECU sau autovehicul;
Poate identifica unele defecte n faz incipient fiind uor de identificat ca
modul sau component;
Costuri reduse privind testarea, nu implic dezvoltarea de noi cazuri de
testare;
Eficien ridicat dup prima bucl de testare a prototipului att n gsirea
defectelor ct i n execuia testelor.
Dezavantaje :
Trebuie efectuat atunci cand situaia o impune, de exemplu schimbare
orict de minor;
n cazul descoperirii unor defecte modul se retesteaz n ntregime fiind
nevoie de investigaii suplimentare.

1.5.6 Strategii de testare

Aceste strategii de testare sunt folosite cu precdere la nivel de component
software dar pot fi extinse i la celelalte nivele precum subsistem sau sistem.

Testare de tip cutie neagr(Black-box testing)

Strategia de testare de tip black-box testing este asemantoare metodei de
testare funcionale cu precizarea c specificaiile de testare trebuie s fie realizate n
strans legatur cu cele non-funcionale. Prin aceast strategie nu se ine cont de
componena unei componente/sistem. Black-box testing presupune observarea unui
rezultat la ieire prin aplicarea unor anumii stimuli la intrare. Autorul subliniaz
importana acestei strategii de testare deoarece este foarte des folosit n industria
automotive. La nceput a fost folosit doar de nivelul de component software mai
tarziu fiind adoptat i la celelalte nivele cu succes. Cazuri de testare ce pot fi
construite pe baza acestei strategii sunt numeroase n funcie de nivelul de testare
la care se aplic strategia.

Testare de tip cutie alba (White box testing)

Strategia de testare este folosit n industria automotive n special la nivelul
de component SW. Aceast strategie dorete s evidenieze structura/logica
programului examinat exprimand gradul de acoperire a funciilor/instruciunilor
componente. Un criteriu de folosire a funciei/instruciunii n cadrul programului este

numarul minim de executri per funcie/instruciune. Fiecare funcie/instruciune
trebuie executat minim o dat. Alt criteriu de testare se alege un set de date astfel
ncat s se apeleze fiecare rutin/subrutin a programului. Testarea automat a
facut posibil ca aceast strategie s fie aplicat pe ntreaga plaj de valori a unei
declaraii de intrare sau a unei ieiri.

Testare de tip Bottom-Up (Bottom-Up testing)

Strategia de testare este rspandit n cadrul componentelor automotive
foarte complexe. Originea strategiei de testare este nivelul componentei SW dar a
fost aplicat cu succes i n cadrul celorlalte nivele de testare/validare automotive.
Strategia presupune testarea ncepnd cu nivelul inferior (de baz) avansnd spre
nivelul superior. Astfel este important de vizualizat comportamentul fiecrui nivel de
importan. Evident aceast strategie are un mare avantaj care const n: un defect
identificat la nivelul de baz duce automat la oprirea dezvoltrii i conduce la
aplicarea de soluii corective localizate la nivel de modul. Totodat acesta reprezint
i dezavantajul principal deoarece ultimul nivel al unui produs nu poate fi testat
dect dup rezolvarea problemelor din cele anterioare.

Testare de tip thread

Thread testing urmrete cerinele SW pe blocuri. Este folosit atunci cnd
se dorete vizualizarea rspunsului unei componente n timp real. De obicei acest
strategie de testare este folosit n cadrul funciilor critice care se doresc a fi n timp
real. Cazurile de testare sunt create n stransa legatur cu specificaiile de sistem.

Testarea de tip ncredere (Reliability testing)

Un obiectiv al acestei strategii de testare este msurarea statistic n timp a
maturitii produsului n comparaie cu nivelul de ncredere dorit. n general testele
pentru msurarea ncrederii in gradul de dezvoltare se pot efectua prin teste
repetitive, alese la ntamplare prin sondaj sau teste alese n funcie de un model
statistic cu probleme comune ntalnite.

Testarea eficienei (Efficiency testing)

Testele de eficien sunt cele care se bazeaz pe evaluarea produsului din
punct de vedere al timpului i al folosirii resurselor. Este evident trendul actual al
industriei automotive de a ngloba ct mai multe funcii electronice n arhitectura
autovehiculului, dar testele de eficien vor demonstra eficiena implementrii
acestor funcii. Dintre teste efectuate pentru stabilirea eficienei autorul dorete s
le prezinte succint:
Teste de performan n conformitate cu cerinele non-funcionale.
Exemplu: sistemul trebuie s rspund la stimulii de intrare ntr-o
perioad de timp bine stabilit;
Teste de incrcare sunt testele care anticipeaz nivelul de ncrcare al
unei componente automotive;
Stress testing teste de capabilitate a componentei automotive de a
accepta vrfuri de sarcin;
Teste de reutilizare a resurselor capabilitatea unei componente de a
reutiliza din resursele devenite libere pe parcurs. Exemplu: memorie,
spaiu, conexiuni.

Testarea portabilitii (Portability testing)

Astfel de teste se efectueaz pentru a fi observat comportamentul
componentei automotive din punct de vedere al reutilizrii n alt sistem. De obicei
componentele sunt create pentru a fi compatibile pentru mai multe sisteme
aparinnd unui OEM. Testele de portabilitate vor include ntotdeauna teste
referitoare la: instabilitate, compatibilitate, adaptibilitate i nlocuire.
Recenzia (Review)

Dei nu este o metod efectiv de testare n industria automotive la nivelul
fiecrui nivel sunt implementate mai multe tipuri de review. Practic ntalnirile pentru
review efectuate asupra cerinelor se efectueaz ntre OEM, productorul de
component i inginerii de testare n funcie de nivelul la care se efectueaz. Autorul
dorete s sublinieze importana existenei acestei strategii deoarece poate conduce
la reducerea costurilor de dezvoltare nc din faza incipient atunci cand testarea
efectiv nu este posibil. n cadrul acestor tipuri de review pot fi descoperite defecte
la nivel de cerine, REQ incomplete, defecte la nivel de specificaii precum i lipsa
unor rezultate relevante pentru documentarea produsului. Partea de review este
integrat i ancorat att n modelul V ct i n alte modele i procese de testare.

1.6 Concluzii i contribuii personale

n acest capitol s-a realizat un studiu sintetic al tehnicilor de testare, al
metodelor i strategiilor de testare utilizate n industria automotive. Datorit faptului
c perioada de dezvoltare a unui produs electronic din cadrul industriei automotive a
sczut, apare iminenta nevoie de mbuntire a procesului de
validare/testare/integrare prin adoptarea de noi sisteme de testare, automate sau
semiautomate la diferitele nivele de testare. Autorul prezint n acest capitol
principalele caracterisitici ale procesului de validare/testare/integrare adoptat n
industria automotive de marii productori ai industriei automotive: BMW, Mercedes,
VW, Audi, Porsche, Volvo, Dacia, Seat, Skoda, Opel, Mazda, Toyota, Ford.

1.6 Concluzii i contribuii personale 35

Procesul de validare/ testare/integrare este aplicat doar componentelor
electronice, ECU-uri, att n cadrul productorilor de echipamente originale (OEM),
cei amintii mai sus, ct i a furnizorilor de componente electronice (ECU-uri). Dintre
furnizorii de componente electronice n care este aplicat procesul de
validare/testare/integrare se menioneaz: Bosch, Continental, Hella, Autolive,
Delphi, Magnetti Marelli, Brusa, Valeo, iar lista poate continua. Autorul a realizat un
studiu asupra modelulului V cycle, adoptat i aplicat n industria automotive de ctre
producatorii de autovehicule precum i de productorii de componente electronice.
Au fost prezentate principalele caracteristici ale acestui model V, au fost evideniate
cerinele i specificaiile ce trebuiesc ndeplinite n cadrul procesului de validare
testare al unei componente electronice din cadrul industriei automotive. De
subliniat, c nerespectarea etapelor de testare prezentate n tez poate conduce la o
validare eronata a unei componente electronice, respectiv a imposibilitii de
integrare a componentei n autovehicul.
Totodat trebuie evideniat c procesul de testare este unul complex i este
structurat pe mai multe nivele. Rezultatele obinute dup testarea n funcie de
nivel, poate determina starea de maturitate a unei produs/componente electronic/e.
n urma experienei dobndite de autor n activitatea de testare a industriei
automotive, la rand de axiom este valabil concluzia: corectarea erorilor
descoperite n timpul testrii din nivelele de baz , pn la nivelul de subsistem, se
realizeaz cu costuri mult mai mici comparativ cu descoperirea i corectarea unei
erori ntr-un nivel superior.

Contributii personale:
Studiu sintetic asupra modelului V cycle adoptat n industria autmotive;
Evidenierea de ctre autor a nivelelor de testare prezente n industria
automotive;
Studiu sintetic asupra tipurilor de testare cu prezentarea principalelor
avantaje i dezavantaje;
Studiu sintetic asupra metodelor/tehnicilor i strategiilor de testare utilizate
n industria automotive, cu fiind prezentarea principalelor caracteristici sub
forma de avantaje si dezavantaje n utilizarea acestora.

Capitolul II. Conceptul sistemului de testare
automat pentru industria automotive

n acest capitol, autorul prezint principalele caracteristici ale sistemelor de
testare automate, prezente pe pia la ora actual, precum i cele patru tipuri de
sisteme de testare automat: testarea Hardware in the loop (testarea unei
componente hardware in bucl), Software in the loop- (testarea unei componente
software n bucl), Modell in the loop- (testarea unui model n bucl) i ICT
testare n circuit (in circuit test).
n acest capitol se evideniaz proprietile i echipamentele ce stau la baza
construciei unui sistem de testare automat, n strns legtur cu modelul V
prezentat anterior. Sistemele de testare automat au la baz documente oficiale i
cerine provenite din industria automotive, utilizate la marii productori de
autovehicole.
n cele ce urmeaz se prezint necesitatea folosirii sistemelor de testare
automat precum i tipurile de testare folosite de acestea. Se vor descrie procesele,
aplicaiile i documentele care particip la identificarea proprietilor componente ale
sistemelor de testare automat.
Se vor prezenta sistemele de testare automate folosite n industria
automotive la diferitele nivele, fiind identificate n urma studiului caracteristicile
principale ale acestora, acestea fiind parte integrat a sistemului de testare propus
de autor pentru laboratorul de cercetare dezvoltare.

2.1 Motivaia apariiei ATS-urilor n procesul de
validare/testare/integrare automotive

Un ECU (electronic control unit), prinde contur n momentul n care poate fi
satisfcut o nevoie, ce acoper o marte parte din potenialul cumprtorilor, cei
pentru care este destinat autovehicolul. Spre exemplu, se prezint: recunoaterea
semnelor de circulaie cu limitare de vitez. De cele mai multe ori conductorul
autovehicolului trece prin zone cu resticii de viteza, primete penalizarea iar ca
scuz este folosit venicul Nu am vzut semnul. Astfel datorit dorinei
conductorilor de a avea n echiparea mainii un astfel de sistem care s recunoasc
astfel de semne de circulaie, productorii OEM ncep dezvoltarea produsului. Astfel,
cerinele de acest tip ajung pe masa de lucru i ncepe construcia specificaiilor de
proiectare. n acest moment putem spune ca suntem n primul pas al modelului V,
cerinele de sistem i subsistem. Aici sunt incluse nivelele de sistem i subsistem.
Urmtorul pas: ntlnirea dintre productorii de componente i productorii de
autovehicule. Dup primirea acestor specificaii de sistem, productorii de
2.2Prezentarea sistemelor de testare automate din perspectiva tehnicilor folosite 37

componente compun specificaiile atribuite diferitelor nivele existente n industria
automotive. Productorii de componente vor construi specificaiile pentru nivelul de
component integrat, produsul livrat de acetia, nivelul de component software i
nivelul de component hardware. Dup construirea acestor specificaii numite
Design specification, se trece efectiv la procesul de proiectare hardware, software,
algoritmi. Binenteles intercalate ntre aceste etape sunt folosite tehnicile de testare
de tip review pentru sigurana ntelegerii detaliilor de proiectare. Despre proiectarea
ECU-ului autorul menioneaz c se efectueaz pe durata a mai multor cicluri de
via, numite bucle. Astfel apar mai multe bucle de via care se succed, toate
avnd la baza modelul V. Astfel avnd specificaiile de proiectare de la diferite nivele
se vor construi diferite cazuri de testare pentru a valida gradul de maturitate al
produsului. Putem s observam c n modelul V avem dou pri, prima de
construire a specificaiilor i una de testare mpotriva specificaiilor de testare. Un
prototip al unui ECU va conine n mod obligatoriu o parte de testare, numit n
industria automotive proces de testare i validare. Mai mult, n industria automotive
la toate nivele s-a trecut la adoptarea acestui model V dar pe o scara mai mic.
Pentru fiecare nivel din industria automotive se poate identifica o parte stang a
modelului, partea de specificaii i o parte dreapt, partea de testare.
Pn la mijlocul anilor 90 testarea manual era preferat n locul celei
automate, deoarece era mai eficient din punct de vedere al costurilor i al timpului
investit. Autorul ine s menioneze c durata de proiectare a unui produs a sczut
treptat de la nceputul anilor 90 cnd era de 5 ani la 4 respectiv 3 ani. Dupa anul
2000 rar se poate ntalni un produs dezoltat pentru industria automotive pe
parcursul a mai mult de trei ani [119]. Astfel apare nevoia de mai mult timp alocat
proiectrii, soluia gsit fiind reducerea timpului de testare. Prin reducerea timpilor
de testare industria ncepe s adopte sistemele de testare automat construite pe
baza modelului V n ritm accelerat. Eforturile autorului au fost ndreptate spre
dezvoltarea unui nou sistem de testare automat, acesta fiind destinat
laboratoarelor de cercetare dezvoltare. Reducerea acestor timpi de testare pn la
un nivel aproape de minim reprezint principalul el al acestui sistem. Astfel, dup
2010 se pot identifica sisteme de testare automat la fiecare nivel din industria
automotive. ATS-urile sunt parte reprezentativ a procesului de
testare/validare/integrare a industriei automotive ncepnd cu producia i pn la
nivelul de autoturism prototip.

2.2 Prezentarea sistemelor de testare automate din
perspectiva tehnicilor folosite

Datorit apariei diferitelor sisteme de testare automat, datorate reducerii
timpului de dezvoltare a unui produs al industriei automotive, sistemele de testare
automat pot fi clasificate n funcie de scopul testrii. O clasificare a acestor
sisteme de testare automat este prezentat de autor n rndurile urmtoare [60]:
38 Cap II. Conceptul sistemului de testare automat pentru industria automotive
Sisteme de testare automat hardware n bucl (Hardware in the Loop -
HiL);
Sisteme de testare automat software n bucl (Software in the Loop - SiL);
Sisteme de testare automat model n bucl (Model in the Loop - MiL);
Sisteme de testare automat de tip ICT (In circuit testing - ICT);

Aceste sisteme de testare automat se folosesc pentru a valida gradul de
dezvoltare a unui produs al industriei automotive, concomitent fiind ndeplinite
standardele i cerinele legislative aflate n vigoare. Se evideiaz tipurile de testare
folosite de aceste ATS-uri n cadrul nivelelor constitutive ale industriei productoare
de autovehicule. Pentru fiecare nivel al industriei automotive, aceste tehnici sunt
folosite pentru a testa diferite cerine legate de produsul final al etapei de
proiectare. Pentru o mai bun exemplificare, voi prezenta folosirea tehnicilor de tip
regresie, rspuns la stimuli pentru dieferite validri, funcional i non-funcional
pentru urmtoarele nivele:
Component hardware;
Component software;
Component electronic ( partea hardware are integrat partea software);
Subsistem;
Sistem.

Pentru primul nivel al industriei automotive, de testare a componentei la
nivel de component hardware, cele mai rspndite sisteme de testare automat
sunt cele de tip ICT. n urma analizei fcute, a unor proiecte dezvoltate la acest
nivel, am constatat c principalele tehnici de testare automat folosite pentru
dezvoltarea sistemelor sunt:
Tehnici de testare de tip regresie valori ale semnalelor electrice, pentru
nivelul hardware, trebuiesc testate pentru fiecare ECU n cadrul fiecrei noi
bucle de testare. Avantajul principal al acestei tehnici este vederea de
ansamblu a comportamentului ECU-ului, dup ce s-a efectuat primul ciclu
complet de testarea/validare asupra ECU-ului;
Tehnici de testare de tip rspuns la stimuli pentru a valida
comportamentul anumitor module, din cadrul unui ECU, trebuiesc injectate
semnale electrice cu parametrii de tip amplitudine, frecvena, durat, forma
n sistem. Avatantajul acestei tehnici de testare este validarea ECU-ului, din
punct de vedere hardware, la diferii stimuli provenii din mediul exterior;
Tehnici de testare de tip funcional acest tip de testare este folosit
pentru a valida comportamentul a doua sau a mai multor module hardware,
din cadrul unui ECU. Avantajul acestei tehnici de testare este validarea
ECU-ului mpotriva cerintelor funcionale existente. Practic se poate observa
gradul de respectare a cerinelor avute de productor, cerine transpuse
evident n cadrul nivelului respectiv.


La nivelul de component software, al industriei automotive, sunt ntlnite
sistemele de testare automat de tip SiL si MiL. Dezvoltarea acestor sisteme avnd
la baz urmtoarele tehnici de testare:
Testare de tip regresie anumite funcionaliti ale aplicaiei software sunt
testate n cadrul fiecrei bucle de testare pe fiecare produs. Avantajul
principal al acestui tip de testare, la acest nivel, este validarea
funcionalitii software pe funcii, deoarece pe durata de dezvoltare a unei
aplicaii software au loc multe modificri (bug fixing);
Testare de tip funcional aceast metod este util pentru a fi observat
gradul de acoperire al cerinelor de produs. Avantajul major al acestei
tehnici este c prin folosirea unor indicatori de proces se poate observa
gradul de implementare al funciilor.

La nivelul de component electric, al industriei automotive - nivel la care
are loc integrarea aplicaiei software pe hardware-ul existent, se pot observa
urmtoarele tipuri de sisteme de testare automat: ICT i HiL. Trebuie precizat c n
cadrul acestui nivel, structura hardware a HiL-urilor este minimal, dar
asemntoare cu cea de la nivelele superioare. n funcie de obiectivele testrii,
acestea fiind alese de fiecare dezvoltator, voi evidenia urmtoarele tehnici de
testare folosite pentru dezvoltarea sistemelor de testare automat, de tip HiL i ICT
n funcie de nivelul pentru care este dedicat sistemul:
Testare de tip regresie aceast metod se folosete pentru testarea
anumitor parametri electrici i funcionali ai ECU-urilor, ECU-uri care
urmeaz a fi livrate spre dezvoltatorii de software, hardware, algorimi i
cateodat ctre OEM. Avantajul acestei metode este identificarea rapid a
ECU-urilor cu probleme.
Testare de tip rspuns la stimuli aceast metod este folosit la acest
nivel pentru identificarea unor probleme ale funciilor de diagnoz ale ECU-
ului. Avantajul acestei metode este identificarea imediat a problemelor de
diagnoz existente. Identificarea defectelor ntr-o faz relativ prematur a
produsului;
Testare de tip funcional aceast metod este folosit pentru a verifica
gradul de implementare a cerinelor produsului la nivel de component
electric, practic software-ul fiind integrat i funcional mpreun cu
hardware-ul. Avantajul aceste metode este vederea de ansamblu oferit,
aceasta ajutnd la planificarea urmtoarelor bucle de proiectare si testare;
Testare de tip non-funcional metod folosit pentru identificarea
anumitor cerine care nu aparin domeniului electric. Aceste cerine vor
contribui la integrarea produsului electric de tip ECU n produsul finit, pentru
industria automotive produsul finit este reprezentat de autovehicul.

La nivelul de subsistem, al industriei automotive, nivel n care componenta
electronic este parte a unui subansamblu n care anumii senzori i actuatori sunt
prezeni sau simulai, autorul evideniaz urmtoarele sisteme de testare automat:
sisteme de tip HiL. Pentru dezvoltarea acestor sisteme de testare automat la baz
se afl urmtoarele tehnici de testare:
Testare de tip regresie folosit pentru a identifica problemele aprute n
urma procesului de integrare a unor ECU-uri noi, urmare a livrrii unei noi
variante de hardware sau de software. Avantajul principal este identificarea
problemelor aprute la integrarea ECU-ului ntr-un cadru restrns. Coroborat
cu schimbarile aprute n software-ul sau hardware-ul ECU-ului cauza
defectului poate fi depanat rapid.
Testare de tip rspuns la stimuli folosit pentru a observa comportamentul
ECU-ului n cadrul subsistemului n cazul unor defeciuni aprute la o alt
componenta, parte integrat a sistemului. Prin simularea unor defeciuni ce
pot aprea n timpul funcionrii la o alt component mpreun cu
observarea rspunsului la aceti stimuli asupra ECU-ului pot valida sau
invalida integrarea ECU-ului n autovehicul. Dac rspunsul sistemului poate
influena din punct de vedere al siguranei comportamentul autovehicului
sau al subsistemului ECU-ul nu va fi integrat. Acesta este marele avantaj al
acestei tehnici de testare folosite la nivel de subsistem.
Testare de tip funcional folosit pentru a verifica funciile principale ale
subsistemului. Acest tip de testare ofer un grad de acoperire al
specificaiilor de subsistem. Avantajul major al acestei tehnici de testare
este c testarea efectiv a produsului nu este consumatoare de timp. Timpul
pentru pregtirea testelor este timpul alocat unei noi bucle de testare, timp
n care se depaneaz problemele gsite.
Testare de tip non-funcional folosit pentru a verifica anumii parametrii
ai subsistemului.

La nivel de sistem, n cadrul industriei automotive la nivel de autovehicul,
sistemele de testare automat sunt constituite din software-uri care verific anumite
proprieti. Pentru fiecare autovehicul n parte, sistemul de testare este adaptat
individual, o structur ATS de un anumit tip neputnd fi identificat. La acest nivel
pot fi ntalnite doar urmtoarele tipuri de tehnici de testare: regresie, funcional i
non-funcional.
n cele ce urmeaz voi prezenta sistemele de testare automate folosite n
industria automotive scond n eviden ntr-o manier succint principalele
caracteristici, precum i avantaje/ dezavantaje ale sistemelor de testare automat
amintite.

2.2.1 Sisteme de testare HiL Hardware in the loop

Sistemele de testare de tip HiL se folosesc n situaiile n care este nevoie de
simularea unei reele de senzori sau simularea ntregului autoturism. Autorul
prezint aceste sisteme pentru a identifica principalele componente ale acestor
sisteme, componentele folosite n dezvoltarea ulterioar a sistemului de testare
propus i integrat n industria automotive. La aceste tipuri de sisteme, autorul aduce

contribuii la nivelul softului de comand al HiL-ului prin impunerea unor algoritmi ai
cazurilor de testare i propunnd modificri ale modelelor respectnd cerinele
autorului. Astfel folosind mediul de programare, numit ECU Test, precum i la
modelele dezvoltate mpreun cu colaboratorii unui mare productor automotive,
modele ce stau n spatele arhitecturii hardware, se implementeaz cazurile de
testare funcionale i de rspuns la stimuli folosind o nou arhitectur. Situaiile n
care se folosesc aceste sisteme sunt cele de tipul n care se dorete testarea unor
componente complexe n timp real. Pentru domeniul automotive testarea HiL
nseamn evaluarea performanelor i diagnosticarea funcionalitilor dinamice din
cadrul sistemelor, oferind posibilitatea dezvoltatorilor s valideze noi soluii
hardware i software, respectnd cerinele de calitate precum i cerinele legate de
timpul alocat dezvoltrii [29][47][63][105][117][160][168][187][195][203].
Aceste sisteme de tip HiL sunt dezvoltate in principal de firme ca dSPACE
(cea mai mare firma productoare de sisteme de acest tip) i microNOVA.
Dezvoltarea se efectueaz de aceste firme pe baza cerinelor de sistem oferite.
Aceste cerine sunt dezvoltate de inginerul de test mpreun cu inginerii
rspunztori de componente i de funcii. n procesul de dezvoltare al sistemelor
HiL, proprietile dinamice ale motorului cu combustie sau hibrid (combustie
mpreun cu cel electric) sunt dezvoltate n cadrul unui model matematic complex,
executat de un procesor n timp real. Pe lng acest model sistemul ofer i
posibiliti de conectare de tip intrare/ieire (I/O) la care se conecteaz/simuleaz
anumii senzori i actuatori, care de obicei prezint un caracter neliniar. n final prin
conectarea ECU-ului supus testrii se poate valida comportamentul acestuia, iar pe
baza rezultatelor se poate lua o decizie cu privire la integrarea acestuia.

Figura 2.1 Sistem de testare automat de tip HiL [46]

n figura 2.1 se poate observa structura unui sistem de testare automat de
tip HiL. Aceste sisteme pot fi folosite pentru a testa urmtoarele:
Teste funcionale strategie de control i validare;
Teste de diagnoz;
Teste de integrare software;
Teste de acceptare si livrare;
Teste de comunicare i distribuire a funciilor, testarea unui ECU ntr-o reea
de senzori.
n rndurile urmtoare voi evidenia zonele industriei automotive unde pot fi
ntalnite astfel de sisteme, sisteme de testare automat:
n zona senzorilor pentru sigurana n timpul conducerii autovehicolului: ESP
(electronic stability program), ABS ( anti-lock braking system), ASR
(assisted system regulator), TCS (traction control system);
n zona senzorilor pentru sigurana n staionare a autovehicolului: frn de
mn electronic;
n zona senzorilor de asistare la conducerea autovehicolului: virare asistat
electronic EPAS (electronic power assisted stearing);
n zona senzorilor de comand a motorului: EEM (electric engine
management);
n zona siguranei pasive i active : airbag-uri i sisteme de radar, lidar
(sistem de detecie al obstacolelor cu laser), ACC (automatic cruise control);
n zona de comand a autovehicolului: sisteme hibrid, ECU-ul cutiei de
viteze automate.
2.2.2 Sisteme de testare SiL Software in the loop

Sistemele de testare de tip SiL evalueaz funciile codului scris manual sau
generat de compilatoare dedicate, simulate cu un model de testare sau cu
echipamentul original. Sistemele de tip SiL folosesc de obicei MiL-urile dezvoltate n
faza de prototip a proiectului. Platforma de baz pentru testarea software este
constituit din MiL-urile existente. Acest tip de verificare este foarte util atunci cnd
codul pentru o anumit aplicaie este constituit din structuri mixe de cod generat de
compilatoare i cod generat manual. Totodat testarea de tip SiL se folosete la
retestarea unor algoritmi deja existeni pe o platform nou. n figura 2.2 este
prezentat o structur de testare de tip SiL.


Figura 2.2 Structur de testare de tip SiL [16]
2.2.3 Sisteme de testare MiL Model in the loop

Aceste sisteme testeaz acurateea sau acceptabilitatea unui model sau a
unui algoritm de control. Practic prin dezvoltarea de modele este posibil testarea
de software sau funcii naintea de a fi accesibil hardware-ul. Principalele firme
productoare sunt Mathworks si ACERA. Practic dup dezvoltarea unui MiL se poate
trece la testarea in bucl software. MiL-ul poate simula comportamentul
autovehiculului, sau comportamentul neliniar al unor sisteme mpreun cu senzorii i
actuatorii afereni. Dezvoltarea unui Model pentru testarea SiL este complex
presupunnd integrarea unor funcii matematice de complexitate ridicat
[121][148][165][196].

2.2.4 Sisteme de testare ICT In circuit test

Sistemele de testare de tip ICT sunt predominante n producia produselor
electronice dar sunt ntalnite i n laboratoarele de dezvoltare a produselor
electronice [13][14][59][71][108] [109][120][124][177]. Aceste structuri de
testare prezentate n figura 2.3 sunt preluate i de industria automotive ajutnd la
validarea produselor hardware. Astfel aria de rspndire a acestor sisteme de
testare automat n industria automotive este zona produciei ECU-urilor i a
nivelului de testare component hardware.

Figura 2.3 Structur de testare de tip ICT [172]

Sistemele de testare ale companiei Teradyne sunt de obicei dedicate unui
produs anume, adaptarea presupunnd modificarea componentelor. Aceast
modificare se efectueaz cu unele costuri ridicate, necesare a fi efectuate pentru ca
sistemul s testeze noile produse. De obicei aceste tipuri de sisteme se prefer a fi
folosite n producie unde se testeaz mii sau zeci de mii de produse, amortizarea
sistemului fiind posibil testnd unitile de control electronice pe durata mai multor
bucle de testare. Din configuraia acestor sisteme pot fi identificate urmtoarele
componente: pat de cuie, surs de tensiune, calculator, unitate de multiplexare,
aparat de msur digital. Acest sistem poate fi folosit pentru msurarea rezisteelor
pe plac, a unor tensiuni DC sau testarea unor ntreruperi de circuit.
2.3 Caracteristicile i proprietile ATS-urilor n industria automotive 45
2.3 Caracteristicile i proprietile ATS-urilor n
industria automotive

Datorit faptului c exist mai multe firme productoare de sisteme de
testare automat, voi prezenta proprietile i caracteristicle unui ATS adaptat
industriei automotive.
Astfel, ATS-urile din cadrul industriei automotive trebuie s ndeplineasc
urmtoarele[42]:
Eroare de msur ct mai mic;
Trasabilitate;
Repetabilitate
Portabilitate;
Utilizare uoar;
Grad de ocupare ridicat;
Actualizare rapid;
Posibilitate de relocare;
Costuri de dezvoltare i ntreinere ct mai reduse.
Aceste caracteristici pot diferenia un sistem de testare automat cu caliti
excepionale de media ATS-urilor prezente n industria automotive. Principala
caracteristic a ATS-urilor din industria automotive este o rat mic a erorilor.
Indiferent de nivelul la care este implementat ATS-ul acesta trebuie sa ofere o
calitate a rezultatelor obinute. Astfel dup studiul efectuat asupra sistemelor de
testare automat din industria automotive, n cadrul laboratorelor unor productori
internaionali de componente automotive, autorul a ajuns la concluzia c n
obinerea unor rezultate finale calitative trebuie urmrite sursele de erori ce pot
aprea. Pentru ATS-uri sursele de erori ce pot aprea n cadrul procesului de
validare/testare sunt:
Dispozitiv supus testrii;
Echipamentele de msurat;
Interaciunea dintre echipament supus testrii i aparatul de msur;
Influene exterioare;
Operatori.
Erorile de tip influene exterioare sunt datorate perturbaiilor care intervin n
funcionarea dispozitivului supus testrii din exterior. Aceti factori sunt de obicei
prezeni n mediul nconjurtor n care se efectueaz testarea. Perturbaiile
electromagnetice sunt cel mai bun exemplu al acestor tipuri de erori, iar msurile de
corecie aplicate n acest caz sunt reprezentate de tehnicile de ecranare.
Erori ale operatorilor umani, numite i erori subiective, sunt erorile datorate
manipulrii greite a dispozitivului supus testrii, introducerea unor parametrii
eronai sau prelucrarea greit a rezutatelor.
Sursele de erori prezentate de autor n rndurile de mai sus sunt
caracterizate de urmtoarele tipuri de erori ce pot aprea n interpretarea
rezultatelor finale.

Tipurile de erori ce pot aprea sunt:
eroarea absolut este reprezentat de diferena dintre valoarea msurat i
valoarea adevrat a msurandului. Unitatea de msur a rezultatului este
chiar unitatea de msur a msurandului.

(2.1)
eroarea relativ este raportul dintre eroarea absolut i valoarea
msurandului. Aceast eroare este adimensional. n domeniul automotive
este preferat exprimarea n procente a acestei erori.

(2.2)
eroarea raportat reprezint raportul dintre eroarea absolut i o valoare
convenional a msurandului. Acest tip de eroare este mai puin folosit n
industria automotive, n procesul de testare/msurare/validare.
(2.3)
O important caracteristic a sistemelor de testare automat este
trasabilitatea. Aceasta stabilete legtura ntre specificaiile de produs i cazurile de
testare create pentru validarea cerinelor. Produs este termenul general folosit
pentru a descrie finalitatea material a proiectului de dezvoltare. Produsul, pentru
un nivel din cadrul industriei automotive, nseamn componenta (hardware i
software) mpreun cu rapoartele de testare. Raportul de testare reprezint
validarea unei cerine legate de produsul final, prin rezultate sub forma unor
msurtori manuale sau automate. Sistemul reprezint o nsumare a
componentelor, de aceea trasabilitatea rapoartelor de testare i a cerinelor este
foarte important pentru fiecare produs n parte.
Repetabilitatea reprezint posibilitatea ca execuia unui caz de testare
implementat pentru un ATS s genereze aceleai rezultate, cu deviaii minore,
respectnd condiiile de mediu anterioare. Aceast caracteristic face posibil
utilizarea testrii regresive folosit la toate nivelele industriei automotive.
Portabilitatea reprezint caracteristica ATS-urilor de a trece uor de la o
platforma la alta. Acest lucru permite mbuntirea caracteristicilor ATS din punct
de vedere al performanelor acestora. Un alt avantaj al portabilitii este legat de
utilizarea unor pri sau chiar n totalitate a programului software. Aceast
caracteristic reprezint punctul de plecare n dezvoltarea noilor sisteme de testare
automat, din industria automotive, din punct de vedere al reducerii costurilor de
dezvoltare.
Pentru a avea un grad de ocupare ct mai ridicat, ATS-urile trebuie sa fie
caracterizate de o utilizare ct mai uoar. Prin utilizarea unei interfee umane ct
mai prietenoase, intuitive din punct de vedere al operaiunilor posibile i posibilitata
de vizualizare rapid a rezultatelor sistemele de testare automat pot deveni
atractive n utlizarea zilnic. O interfa realizat doar din linii de cod, efectuarea
sau nceperea cazurilor de testare i cutarea rezultatelor n multe fiiere este de
evitat, deoarece utilizarea devine greoaie iar uneori inaccesibil pentru utilizatorii
neiniiai. Teoretic, posibilitatea unui sistem de testare automat de a
efectua/executa teste este de 24 de ore pe zi, 7 zile pe sptmn. Un procent mai
2.4 Prile componente ale ATS-urilor 47

aproape de realitate este aproximativ de 70%. Gradul de ocupare al sistemelor de
testare automat reprezint raportul dintre unitatea de timp n care sistemul este
utilizat i unitatea de timp maxim posibil pentru utilizare. Un grad de ocupare al
unui sistem de testare automat sub 40% reprezint o investiie inutil din punct de
vedere al domeniului testrii automotive.
(2.4)
Totodat pentru ca un sistem de testare automat s reprezinte o investiie
viabil, cu un grad de ocupare ridicat acesta trebuie s includ i posibilitatea de
relocare a acestui sistem ntr-o alta locaie. n acest mod investiia, reprezentnd
costurile de dezvoltare i fora de munc depus, poate fi acoperit prin adoptarea
sistemului ca metod de testare n cadrul altor proiecte.
Sistemele de testare automat care ndeplinesc cerinele de mai sus,
asigurnd i posibilitarea de actualizare a software-ului precum i o mentena facil
reprezint un sistem de testare complet, potrivit industriei automotive.

2.4 Prile componente ale ATS-urilor

n general un sistem de testare automat, destinat industriei automotive,
este alctuit din dou prti componente: partea hardware (HW) i partea software
(SW). Cele dou pri nu pot funciona independent una de cealalt, imixtiunea
dintre cele dou fiind ntalnit la produsele electronice actuale.
Principiul de baz al acestor sisteme este controlul de la distan a prii
hardware cu ajutorul unei componente software. Componenta software presupune
realizarea unei interfee grafice cu operatorul uman i implementarea unor algorimi
software pentru programul operaional i rularea cazurilor de testare. Interfaa
grafic cu operatorul uman, termenul n englez graphical user interface (GUI), va
permite accesul la modificarea sau setarea unor parametri premergtori testrii,
alegerea cazurilor de testare precum i vizualizarea unor rezultate preliminare.
Toate acestea contribuie la utilizarea, manipularea uoar a sistemului, crescnd n
acest mod gradul de ocupare al sistemului de testare automat. Totodat, parte a
componentei SW este protocolul de comunicare cu componenta HW. Pentru
comanda la distan, n englez remote control, exist urmtoarele protocoale de
comunicaie: Local Area Network (LAN/Ethernet), GPIB, RS232. O prezentare mai
ampl a acestor pri va fi fcut n capitolele urmtoare ale acestei lucrri.
Partea hardware comandat de partea software este compus din
echipamente care s ajute la fixarea dispozitivului supus testrii (DUT), alimentarea
DUT-ului, injectarea de semnale n DUT, msurarea anumitor parametrii electrici ai
DUT-ului i stocarea rezultatelor testrii. Totodat pentru instalarea componentei
software i pentru rularea cazurilor de testare automatizate este nevoie de un
calculator de ultim generaie. O putere de calcul ridicat atrage dup sine
mbuntirea performanelor ATS-ului. n figura 2.4 este prezentat o structur de
tip ATS controlat de la distan de un calculator.

Figura 2.4 Sistem de testare automat controlat de calculator [40]

Prile componente ale sistemului de testare prezentat n figura 2.4 sunt:
1. Osciloscop digital din seria Tektronix;
2. Sarcina electronic;
3. Analizor de timp/zgomot;
4. Surs Curent Continuu (CC);

5. Panoul de conexiune;
6. Aparat de msur digital
7. Analizor de putere;
8. Calculator:
9. Circuit de protecie la scurtciurcuit/ la supratensiune;
10. Comutator ON/OFF;
11. Surs de tensiune alternativ;
12. Priz de alimentare;
13. Siguran;
14. Filtru Electromagnetic.
O structur precum cea de mai sus este utilizabil doar n cadrul unui
proiect, iar costurile de dezvoltare sunt foarte ridicate. Structuri similare exist n
laboratoarele de testare a subsistemelor sau a sistemelor. Autorul a lucrat cu o
structur similar n cadrul unui productor de autovehicule din Vestul Europei.
Exist productori specializai care dezvolt astfel de sisteme pe baza specificaiilor
primite de la client. Aceast lucrare dorete s ofere o alternativ la sistemele
existente, soluie care s permit utilizarea unei structuri pentru mai multe proiecte
n cadrul aceleai companii.


Concluzii

Testarea n industria automotive este prezent att n uniti de producie
ct i n laboratoarele de cercetare i dezvoltare. La nceputul dezvoltrii sistemelor
de testare automat, acestea erau dedicate doar unitilor de producie a
componentelor electronice. n laboratoarele de cercetare dezvoltare sistemele de
testare automat erau prezente doar ntr-un grad foarte sczut la nivelul de sistem.
Odat cu reducerea timpilor dedicai dezvoltrii proiectelor de noi senzori destinai
autoturismelor, se dorete implementarea sistemelor de testare automat ntr-un
grad ct mai ridicat n laboratoarele de cercetare dezvoltare.
Pentru dezvoltarea acestor sisteme de testare automate dedicate
laboratoarelor de cercetare dezvoltare, s-au identificat tehnicile de testare manuale
folosite la diferite nivele pe care ATS-urile propuse pentru aceast ramur s le
ndeplineasc ca nivel de funcionalitate. Astfel dac n primul capitol s-au prezentat
principalele avantaje i dezavantaje ale acestor tehnici, n acest capitol s-a
prezentat cum se folosesc aceste tehnici de testare la nivelurile industriei
automotive, urmrind ciclul V. Aceste tehnici de testare sunt integrate n sistemele
de testare automate dedicate laboratoarelor de cercetare dezvoltare [201].
Astfel n acest capitol pot fi identificate principalele sisteme de testare
automate destinate laboratoarelor:
SiL software in the loop;
MiL model in the loop;
HiL hardware in the loop;
ICT in circuite test;
Pentru fiecare din cele 4 sisteme, amintite mai sus, se folosesc tehnicile de
testare prezentate n acest capitol. Sistemele dezvoltate n acest mod fiind dedicate
unui singur nivel de testare al ciclului V. Marele dezavantaj al acestor sisteme este
reprezentat de faptul c nu pot fi folosite pentru testarea unui produs la fiecare nivel
al ciclului V, de aceea paleta de sisteme de testare fiind att de diversificat. Scopul
fiecrui ATS este de a testa cerinele unui produs prin tehnicile de testare amintite
mai sus doar la un anumit nivel, cu meniunea ca sistemul este limitat din cauza
caracteristicilor fizice.
Dup studiul efectuat, am identificat elementele comune ale acestor sisteme
de testare automate, elemente care vor constitui baza de plecare pentru sistemul de
testare propus i implementat. Astfel principalele componente / elemente
identificate sunt:
Surs de alimentare;
Generatoare de funcii;
Aparate de msur: multimetru digital i osciloscop;
Aparate de injectare a semnalelor;
Elemente de routare a semnalelor;
Elemente de filtrare;
Elemente de software pentru implementarea aplicaiei sau pentru testarea
de algoritmi;
Elemente de siguran activ;
Prezentarea acestor ATS-uri, destinate produciei sau nivelurilor superioare
de testare automotive, conduce la identificarea cerinelor pentru un ATS destinat
nivelurilor de baz ale industriei automotive.
Echipamentele i elementele identificate mai sus sunt folosite pentru
implementarea ATS-ului destinat laboratorului de cercetare-dezvoltare.

Contribuii personale:

Autorul a realizat n acest capitol, un studiu sintetic al echipamentelor de
testare destinate industriei automotive, identificnd:
necesitatea introducerii unui nou sistem de testare automat care s
integreaze mai multe tehnici de testare, de tip regresiv, de tip funcional,
de tip non-funcional, de tip exploratory testing;
tehnicile i metodele de testare folosite la diferitele nivele prin specificarea
fiecrui rol la acel nivel;
prezentarea sistemelor de testare automat prezente i destinate industriei
automotive, fiecare fiind destinat unui anumit nivel, avnd ca obiectiv
testarea unui produs dintr-un singur punct de vedere:
o SiL va testa doar software-ul;
o MiL va testa doar modelul;
o HiL va testa nivelul de component la nivel de funcionalitate;

o ICT va testa doar nivele de tensiuni DC, msurri de rezistee i
ntreruperi de circuit.
Consider ca obligatorie existena n componena unui ATS a urmtoarelor
blocuri funcionale, care vor constitui arhitectura unui nou ATS comandat
de la distan: surs de alimentare, aparate de msur, echipamente de
injectare a semnalelor, echipamente de routare a semnalelor, echipamente
de legtur ntre PCB i ATS, echipamente de calcul, echipamente de
comunicaie.

Capitolul III. Structura hardware pentru
sistemele de testare automat din industria
automotive

n acest capitol, autorul prezint structura acestui sistem de testare
automat destinat industriei automotive. Pe baza schemei bloc a acestui sistem, se
pot dezvolta diferite sisteme de testare automat destinate unor aplicaii speciale
sau cu caracter general pentru diferite industrii. Sistemul de testare automat este
compus dintr-o parte hardware i o parte software. Structura hardware a sistemului
de testare automat este compus din: sursa de alimentare a ECU-urilor, interfaa
sistemului, echipamente destinate msurrii parametrilor electrici a semnalelor, pat
de cuie destinat conectrii sistemului la semnalele electrice ale ECU-urilor,
echipamente de injectare a semnalelor electrice. Totodat, n capitolul urmtor se
prezint caracteristicile i proprietile echipamentelor electronice destinate ATS-
ului.
Sistemul prezentat n acest capitol a fost creat i dezvoltat de autor i folosit
cu succes pentru testarea ECU-urilor, n cadrul unui productor internaional de
componente automotive, din punct de vedere al parametrilor electrici i al
caracteristicilor funcionale la nivel de baz hardware i nivel de component.
Sistemul de testare a fost folosit la testarea tensiunilor de alimentare, la testarea
parametrilor electrici a surselor de tip comutaie, la testarea protocolului de
comunicaie CAN, msurarea eficienei surselor de tip comutaie, precum i a altor
module din cadrul ECU-urilor automotive.
n capitolele anterioare s-au amintit principalele erori ce pot afecta rezultate
finale, astfel n acest capitol doresc s imi exprim punctul de vedere legat de
propagarea erorilor n sistemul de testare automat. Prin prezentarea
particularitilor ntlnite pe durata dezvoltrii ATS-ului i respectarea regulilor
rezultate, la dezvoltarea unui nou ATS se vor reduce sursele de erori ce pot afecta
rezultate finale. n ncheierea capitolului, se prezint particularitile de natur
electric ct i din punct de vedere al construciei ntlnite pe durata de dezvoltare a
ATS-ului.
Sistemul propus de autor, destinat laboratoarelor de cercetare-dezvoltare
ale industriei automotive, a fost integrat cu succes pentru validarea produselor de
development. Firma productoare de sisteme electronice a folosit sistemul propus i
creat de autor, pentru validarea produsului n mai multe bucle de testare, rezultatele
fiind acceptate de ctre inginerii proiectani.

3.1 Arhitectura hardware 53

3.1 Arhitectura hardware

Practic un sistem de testare automat, din industria automotive, nseamn
un ansamblu de subsisteme care lucreaz mpreun, coordonate de un operator
uman, pentru a testa un produs sau o gam de produse electronice, n cazul de fa,
componentele electronice din industria automobilistic. nainte de selectarea
echipamentelor electronice trebuiesc studiate cu atenie specificaiile dispozitivelor
electronice (requirement-uri) dar i caracteristicile echipamentelor electronice. Dup
felul n care se realizeaz comunicarea i reacioneaz ca ntreg sistem pot fi
afectate costurile, performanele, ntreinerea dar i utilizarea sistemului. De obicei
timpul alocat dezvoltrii sistemului de testare automat, de la arhitectura sistemului
pn la realizarea fizic, este timpul care poate fi salvat din cadrul viitoarelor
proiecte. Analiza minuioas a cerinelor dispozitivului de testat, nglobarea lor n
capabilitatea de testare a sistemului precum i posibilitatea ATS-ului de a include
alte cazuri de testare, generate ulterior, poate conduce la reduceri de costuri,
reducerea timpului alocat dezvoltrii ATS-ului dar i reducerea timpului destinat
debbuging-ului software. n final trebuie avut n vedere posibilitatea de testare cu
acuratee ridicat a dispozitivului supus testrii.
n funcie de structura hardware a ATS-ului acesta va fi folosit n laboratoare
de cercetare dezvoltare (R&D Lab) pentru validarea proiectrii (design validation)
sau n unitile de producie (manufacturing test)[41][61]. Structura sau arhitectura
ATS-ului reprezint suma echipamentelor constructive ale sistemul de testare
automat. Pentru adoptarea ATS-ului n unitile de producie structura software va fi
adaptat corespunztor. Arhitectura folosit de autor n aceast lucrare poate fi
integrat cu uurin n toate locaiile amintite mai sus. Fa de celelalte sisteme de
testare automat, aceast arhitecur folosete protocolul de comunicaie Ethernet
pentru conectarea aparatelor de msur de tip osciloscop LeCroy [19][107].
Pentru testarea ECU-urilor, n laboratoarele de cercetare-dezvoltare, este
nevoie de construirea unor cazuri de testare singulare, pentru validarea proiectrii
sau a produsului. De asemenea, uneori, este necesar repetarea a sute de teste
parametrice iar utilizarea unui sistem de acest tip aduce mbuntiri notabile din
punct de vedere al timpului economisit pentru livrarea rezultatelor. n producie, se
dorete testarea a sute de ECU-uri ntr-un mod ct mai rapid i eficient. Acest
sistem de testare poate fi folosit cu succes i pentru producie, deoarece are la baz
patul de cuie care poate fi adaptat la cerinele proiectelor aflate n producie. Dac la
nivel de arhitectur hardware mpreun cu cea software, prezentate n teza de
doctorat pot fi folosite fr probleme n laboratoarele de cercetare dezvoltare,
pentru unitile de producie arhitectura hardware poate fi pstrat cu meniunea c
arhitectura software trebuie modificat. Moficarea const n implementarea unor
algoritmi pentru rularea n bucl a aceluai caz de testare dup ndeplinirea
condiiilor de declanare a testului [28].
Sistemele de testare automat, destinate testrii produselor automotive,
trebuie s cuprind n arhitectura hardware urmtoarele tipuri de echipamente
electronice [8][10][31-33] [69]:
54 CapIII. Structura HW pt. sistemele de testare automat din ind. automotive
Surse de alimentare pentru ECU-uri;
Echipamente destinate msurrii parametrilor semnalelor electrice;
Echipamente destinate achiziiei semnalelor electrice;
Echipamentate destinate injectrii de semnale de o anumit form,
parametrii semnalelor electrice stabilii de ctre OEM (productor original de
echipamente);
Echipamente destinate protocoalelor de comunicaie;
Echipamente destinate routrii semnalelor electrice;
Calculator.
n figura 3.1 este prezentat schema bloc a sistemului de testare automat,
dezvoltat de autor pentru industria automotive.

Figura3.1 Schema bloc a ATS-ului

Pornind de la figura 3.1, autorul a contribuit la dezvoltarea mai multor
structuri de testare automat avnd ca obiectiv principal validarea/msurarea sau
testarea unor module ale ECU-urilor. n funcie de obiectivul testrii, numrul de
echipamentele care sunt pri componente ale ATS-ului poate crete sau se poate
diminua. Schema bloc, prezentnd arhitectura ATS-ului, prezentat n figura 3.1
poate integra pn la 16 echipamente electronice: dintre care 14 echipamente prin
3.1 Arhitectura hardware 55

intermediul protocolului de comunicare GPIB, 1 echipament prin intermediul
protocolului de comunicare Ethernet i 1 echipament prin intermediul protocolului de
comunicare RS-232. Din considerente de vitez ale protocoalelor de comunicaie
sunt preferate echipamentele cu posibilitate de comunicare pe GPIB sau Ethernet.
Protocolul de comunicaie RS-232 este folosit doar n cazul integrrii n sistem a unei
camere de temperatur. Majoritatea cazurilor de testare automate, din industria
automotive, trebuiesc executate ntr-o plaj de temperaturi de la -40C la +105C.
Pentru testarea ECU-ului n toata plaja de temperaturi, necesare domeniului
automotive, este suficient introducerea ECU-ului n camera de temperatur
mpreun cu patul de cuie.
Dac pentru majoritatea cazurilor de testare schema bloc prezentat n
figura 3.1 este suficient, exist anumite cazuri de testare unde aceast schem
trebuie modificat prin numrul echipamentelor folosite. Pentru exemplificare,
autorul prezint figura 3.2, schem bloc folosit pentru msurarea/testarea
eficienei surselor de alimentare.

Figura3.2 Schema bloc pentru msurarea eficienei surselor de tensiune n comutaie

Cea mai mare provocare n dezvoltarea unei arhitecturi de testare automate,
pentru industria automotive este reprezintat de algerea echipamentelor electronice
pentru o funcionare optim ca sistem de testare, dar care s respecte cerinele
industriei automotive de testare genernd totodat un cost redus de testare
[66][103][116][118][142][151].

3.2 Prezentarea/specificaii ale prilor componente

3.2.1 Standul de testare

Dup alegerea arhitecturii hardware, urmtoarea decizie este legat de tipul
structurii folosite pentru ATS. Pentru realizarea unui sistem de testare automat,
folosit n industria automotive, sunt posibile urmtoarele tipuri de structuri [8]:
Structuri de tip liber rack and stack;
Structuri de tip ncapsulate cardcage.
Autorul prezint principalele argumente pentru a decide ce tip de structur
va fi folosit n cadrul acestui ATS. Urmtoarele aspecte trebuiesc luate n
considerare la alegerea echipamentelor i a tipului de structur folosite pentru ATS
[38][141][180]:
Ce tipuri de echipamente se potrivesc profilului companiei i numrul lor;
Sursa de alimentare a echipamentelor;
Greutatea echipamentelor;
Posibilitatea de ventilare, disiparea puterii;
Accesul la instrumente;
Perturbaii electromangetice;
Protecii electrice i mecanice.
Din punctul de vedere al autorului, o structur de tip liber este mai
avantajoas decat o structur de tip ncapsulat pentru dezvoltarea ATS-ului. n
aceste structuri de tip rack and stack, echipamentele pot fi folosite ca echipamente
de sine stttoare. Cnd proiectul nu cere o testare amnunit, echipamentele pot
fi folosite n cadrul departamentului n cadrul altor teste de tip manual. Ventilaia
sistemelor se realizeaz n mod natural prin cureni de aer, disiparea cldurii
realizndu-se prin carcasa echipamentului. Aceast carcas pentru echipamentele
electronice are rol si de ecranaj electromagnetic, nefiind necesar o protecie
suplimentar mpotriva perturbaiilor electromagnetice. Echipamentele ncorporate
in carcas sunt mai rezistente la ocuri mecanice i sunt construite cu protecii
electrice. Totodat, comportamentul echipamentelor este mai uor observabil n
timpul executrii cazurilor de testare.
Dac se dorete ncapsularea ntr-o carcas atunci trebuie avut grija la
aspectele de alimentare, ventilaie, putere disipat i distribuire a greutii
echipamentelor n cutie.
Autorul, dorete s prezinte avantajele i dezavantajele unei structuri de tip
cardcage. Echipamentele sunt de obicei de forma unei plci care se conecteaz prin
PXI/LXI la celelalte echipamente cu ajutorul unui calculator special dedicat
[49][50][53][102].
Principalele avantaje ale acestui tip de structur sunt reprezentate de:
3.2 Prezentarea / specificaii ale prilor componente 57

gabaritul redus datorit ncapsulrii ntr-o singur capsul;
vitez de comunicaie superioar datorit interfarii echipamentelor;
putere disipat mic;
consum de energie redus.
Dezavantajele acestei structuri sunt constituite din :
imposibilitatea utilizrii echipamentelor n mod de sine stttor;
greutate n nelegerea defectelor aprute n funcionare. Echipamentele
sunt interfaate cu operatorul doar prin intermediul unui monitor fiind foarte
greu observabil funcionarea necorespunztoare a unui dispozitiv.
surs de alimentare adaptat pentru o anumit configuraie, deoarece toate
echipamentele sunt alimentate dintr-o singur surs de alimentare;
configuraia nu poate fi modificat cu uurin ulterior, fiind necesar
schimbarea carcasei n mod obinuit i o redimensionare a sursei de
alimentare;
trebuie avute suplimentar n vedere tehnici de ecranare electromagnetic
speciale;
risc de scurt circuit mai ridicat;
risc de distrugere mecanic mai ridicat.
n cazul alegerii unui stand de testare de tip rack and stack (echipamente
ncarcasate sau nu sub form de stiva), aezarea echipamentelor electronice se
efectueaz ntr-un mod asemntor celui prezentat n figura 3.3.

Figura 3.3 Structur rack and stack
n figura 3.3 se poate observa n partea stng a imaginii structura unei
carcase neechilibrate, iar n partea dreapt se poate observa structura unei carcase
echilibrate. n cazul construciei unei structuri de tip rack and stack, fr o
echilibrare a standului de testare n timp aceasta va conduce la o funcionare
defectuoas datorat puterii disipate n cazul unei folosiri ndelungate. Un alt
dezavantaj al utilizrii unei structuri neechilibrate este reprezentat de posibilitatea
de rsturnare a carcasei datorit greutii, cazul n care greutatea este poziionat
n partea superioar. n figura 3.3, n cazul rack-ului de testare neechilibrat se pot
observa urmtoarele greeli de poziionare: amplasarea echipamentelor /
instrumentelor grele n partea superioar a standului, spaiu liber care permite
ventilarea nu este distribuit uniform. n cazul rack-ului de testare echilibrat se pot
observa urmtoarele: echipamentele / instrumentele grele sunt aezate la baza
standului de testare, spaiul liber este distribuit n mod egal, contribuind astfel la o
ventilare superioar a echipamentelor. O situaie periculoas, de evitat n mod
normal, este integrarea multor echipamente ntr-un stand de testare. Datorit
funcionrii echipamentele electronice degaj cldur. Prin degajarea de cldur n
interiorul rack-ului de testare, condiiile iniiale de testare nu mai sunt valabile,
temperatura din interiorul rack-ului poate depi temperatura mediului ambiant. n
aceast situaie testele pot fi influenate, temperaturile ridicate pot conduce la o
funcionare necorespunztoare a echipamentelor electronice. Cea mai bun metod
pentru a elimina cldura din interiorul unui rack este echilibrarea din punct de
vedere al spaiului liber, sau construirea sistemului n afara unui rack. O alt metod
de reducere a cldurii este instalarea unui ventilator care s ventileze interiorul
rack-ului.
Pe baza acestor considerente autorul a ales dezvoltarea unui sistem de
testare automat de tip stack and rack de la zero, diferena constnd n
nencapsularea acestuia ntr-un rack, iar pentru cellalt tip de sistem de tip cardcage
(echipamente ncapsulate sub forma unor plci de achiziie) aducnd contribuii doar
la partea de arhitectur software. Sistemele de tip cardcage sunt de forma unei
carcase iar fiecare modul din carcas reprezint un echipament al sistemului,
interaciunea cu echipamentele fiind efectuat prin intermediul monitorului. De
asemenea la aceste sisteme rezultatele sunt vizibile doar pe monitor, mediul de
programare fcnd stocarea acestora i interpretarea lor. La aceste tipuri de sisteme
nu exist posibilitatea de verificare a parametrilor echipamentelor, pentru fiecare
parametru fiind necesar o validare suplimentar prin software. Sistemul de tip
stack and rack este prezentat n figura 3.4.


Figura 3.4 Sistem de testare de tip stack and rack

n figura 3.4 se pot observa principalele echipamente constructive ale ATS-
ului, pe structur de tip stack and rack:
1. Calculator;
2. Surs de alimentare exterioar;
3. Monitor;
4. Vector CAN-caseXL;
5. Pat de cuie;
6. Interfa semnale;
7. Multimetru digital;
8. Unitate de relee;
9. Generator de semnale electrice;
10. Surs de alimentare ECU;
11. Osciloscop;
12. Amplificator de semnal.
n rndurile urmtoare, se prezint principalele caracteristici i proprieti
ale echipamentelor electronice ce compun sistemul de testare automat din figura
3.4.
3.2.2 Patul de cuie

n sistemele de testare automat de acest tip, structura patului de cuie este
asemantoare cu cea a unui sistem de testare de tip ICT. Aceste paturi de cuie au
rolul de fixare a cablajului imprimat (PCB) oferind accesul la punctele de testare de
pe partea de jos a ECU-ului (bottom side). Prin atingerea punctelor de testare cu
probele de testare se realizeaz achiziia semnalelor electrice i routarea lor n
interfaa sistemului. n figura 3.5 se pot observa paturile de cuie, realizate de autor
pentru senzori din industria automotive. n funcie de tipul de senzor testat i n
funcie de testele ce urmeaz a fi efectuate aceste paturi de cuie pot avea forme i
structuri diferite.

Figura 3.5a. Pat de cuie cu placa de multiplexoare integrat

Figura 3.5b Pat de cuie cu placa de repetoare pe emitor integrat
La realizarea unui pat de cuie trebuie avut n vedere tipul de alimentare al
ECU-ului. Alimentarea ECU-ului supus testrii se poate realiza prin patul de cuite sau

printr-un cablu exterior. De preferat este alimentarea ECU-ului doar cu o singur
modalitate, alimentarea prin ambele modaliti poate avea efecte nedorite n
testare. Din experienele anterioare avute de autor, n dezvoltarea acestor paturi de
cuie, alimentarea printr-un cablu exterior este metoda cel mai des folosit pentru
punerea n funciune.
Din figura 3.5 se pot distinge i principalele pri componente ale paturilor
de cuie folosite la realizarea acestora:
1. Placa de multiplexoare;
2. Conectorul dintre patul de cuie i interfaa sistemului;
3. Sisteme de prindere a PCB-urilor;
4. Conector de alimentare ECU;
5. Sisteme de ghidare a PCB-urilor.
Autorul prezint principalii pai pentru realizarea patului de cuie al acestui
sistem de testare automat:
Alegerea unei carcase n care va fi poziionat patul de cuie;
Crearea unei hri cu poziia punctelor de testare de pe partea de jos a ECU-
ului ntr-un program de tip CAD care poate genera fiiere gerbber;
Poziionarea gurilor pentru suporii de ghidare;
Poziionarea gurilor pentru sprijinul PCB-ului. Nu este indicat ca placa sa fie
sprijinit doar pe probele de testare;
Se alege poziia conectorului pentru semnalele electrice pe carcasa patului
de cuie i a plcii de multiplexoare, daca este integrat aceast plac.
Integrarea plcii de multiplexoare este n funcie de complexitatea
proiectului;
Generarea fiierelor gerbber;
Verificarea pentru validarea poziionrii gurilor patului de cuie referitor la
poziia punctelor de testare prin suprapunerea fiierelor gerbber cu schema
cablajului imprimat;
Generarea unui fiier de tip date la purttor cu coordonatele (x,y) ale
poziiei gurilor cu originea ntr-un col al plcii de macrolon care va fi trimis
pentru gurire unei firme specializate. Macrolonul reprezint un material
plastic rezistent la ocuri de temperatur n gama -50 +150 C;
Dup primirea plcii de macrolon se ncepe construcia efectiv a patului de
cuie prin adugarea componentelor selectate anterior.
Pentru a realiza un pat de cuie sunt necesare ntre 2 i 8 sptmni n
funcie de disponibilitatea echipamentelor i a furnizorilor.
Pentru a realiza un nou pat de cuie pentru un proiect automotive sau pentru
o nou bucl de testare voi crea o structur de tip proiect Orcad cu structur
ierarhic. n acest proiect vor putea fi urmrite traseele semnalelor prin sistemul de
msur, precum i celelalte informaii legate de componentele folosite n ATS. Astfel
pentru realizarea patului de cuie sunt necesare cunoaterea layout-ului sau a
fiierelor de tip Gerbber ale dispozitivului supus testrii. Din aceste fiiere se extrag
coorodonatele de tip (x,y) ale punctelor de testare. Doar cu ajutorul acestor puncte
de testare se poate realiza achiziia sau conexiunea la semnalele electrice ale
dispozitivului. Aceste coordonate se introduc apoi ntr-un proiect de tip CAD, autorul
a preferat ORCAD Layout Plus, proiect unde se construiete harta punctelor de test.
Exemple cu aceste hri ale punctelor de test pot fi observate n figura 3.6.

Figura 3.6 Exemplu de hart a punctelor de testare, de sprijin i de ghidare

Dup cum se poate observa n figura 3.6, harta punctelor de test reprezint
o copie a punctelor de testare fa de o origine selectat de cel care construiete
patul de cuie. Astfel pot fi gndite concepte de routare a firelor fizice n patul de cuie
sau integrarea altor tipuri de circuite electrice necesare diferitelor cazuri de testare.
Dac placa de macrolon nu poate fi gurit cu o precizie foarte ridicat n cadrul
unitii unde este realizat ATS-ul, atunci aceste fiiere se trimit unor ateliere
specializate care vor executa aceast plac de material plastic sau macrolon.
Datorit probabilitii ridicate ca acest pat de cuie s fie introdus n camera de
temperatur, principala proprietate a materialului din care este construit patul de
cuie este accea de a nu fi deformabil la schimbri de temperatur. Menionez c
intervalul de temperatur la care se efectueaz testele pentru industria automotive
este de la -40C la + 105C.
Realizarea acestui proiect CAD, n care se reintroduc coordonatele punctelor
de testare are rol de verificare. Astfel suprapunerea unor fiiere gerbber generate
din programul CAD cu fiierele originale pot conduce la identificarea unor puncte de
testare deplasate sau a altor nereguli. Totodat se poate identifica poziionarea
corect a punctelor de sprijin amplasare n locuri libere, fr componente i fr
trasee. Dup verificare fiierul cu punctele de testare, respectiv punctele de gurire
la diferite dimensiuni, se trimit productorilor de plci de macrolon sau material
plastic specializai.

Datorit faptului c n anumite proiecte se testeaz semnale de nalt
frecven, semnale care pot perturba alte semnale de natur electric, deseori n
interiorul patului de cuie se integreaz cablaje imprimate care rezolv aceste
probleme. Pentru proiectul de fa, autorul a realizat un cablaj imprimat care
conine 4 multiplexoare, mpreun cu buffere digitale care realizeaz o adaptare pe
50 de ohmi. Cablajul imprimat cu sistemul de multiplexoare ofer posibilitatea user-
ului de a routa orice semnal ctre osciloscop.
Pentru anumite semnale , este important tipul de cablu folosit : pentru
semnale de DC, se folosesc cabluri simple, iar pentru semnale de AC sau de nalt
frecven se folosesc cabluri ecranate. Pentru semnalele de nalt frecven trebuie
luat in considerare si lungimea cablului.
O soluie original propus de autor pt patul de cuie, este scrierea softului
de aplicaie i a bootloader-ului microcontrollerelor a ECU-ului printr-un sistem de
tip JTAG anexat acestui dispozitiv. Avnd acces nelimitat la punctele de testare de
pe "Bottom" , se pot extrage n exteriorul patului de cuie semnalele JTAG folosite la
construcia unei panglici de scriere (flash) , iar prin intermediul acesteia , la
nceputul testrii automate se poate realiza scrierea memoriei flash a
microcontrolerului.
Este important de tiut c se pot prelua, de pe bottom-ul ECU-ului supus
testrii, maxim 120 de semnale, deoarece aceasta este capabilitatea conectorului
pentru patul de cuie, folosit la dezvoltarea acestui sistem de testare automat. Pt o
mai bun culegere a informaiilor furnizate de patul de cuie am proiectat o interfa
ce face legtura ntre dispozitivul supus testrii i echipamentele de msur. n
figura 3.6 este redat componena acestei interfee.

Figura 3.6a Schema electric a repetorului pe emitor din cadrul patului de cuie


Figura 3.6b Schema electric a conectorului de scriere a softwareului JTAG

Figura 3.6c Configuraia conectrii semnalelor la conectorul patului de cuie


Figura 3.6d Schema electric a unui multiplexor din modulul de multiplexoare integrat n patul
de cuie

Semnalele electrice sunt preluate cu ajutorul unor sonde, dezvoltate de
firma german Ingun. Sondele de testare sunt alctuite din mai multe pri, fiecare
parte avnd un rol foarte important n alctuirea patului de cuie. n figura 3.7 se pot
observa principalele pri componente ale unei probe / sonde de testare, pentru
industria automotive:

Figura 3.7 Pri componente ale probelor / sondelor de testare

1. Tipul probei de testare;
2. Acul de testare vrf;
3. Acul de testare cma exterioar;
4. Acul de testare arc interior;
5. Cma pentru fire care se muleaz;
6. Cma pentru fire care se lipesc cu cositor;
7. Cma pentru fire care se lipesc prin presare;
8. Cma pentru fire de tip Plug in;
n funcie de obiectivul testrii, se consult catalogul actualizat al firmei
Ingun, din acesta alegndu-se variaii ale tipurilor de sonde, folosite ulterior la
alctuirea patului de cuie. Pentru a putea fi integrate n aplicaiile de testare
automotive, trebuie alese acele sonde care pot conduce cureni mai mari de minim
2A iar temperatura la care pot fi folosite s fie mai mare de 105C. Astfel la
alegerea unei sonde de testare, se au n vedere urmtoarele aspecte:
Cum se conecteaz cablajul la sond ( pentru acest sistem de testare
automat a fost folosit metoda de lipire cu cositor);
Presiunea exercitat prin apsare asupra sondei;
Parametrii semnalelor electrici ce se doresc a fi msurai;
Temperatura de operare;
Cureni maximi;
Aliajul din care este construit sonda;
Vrful sondei trebuie s fie construit din acelai aliaj.
n urma unor numeroase experimente, subliniez importana alegerii unor
puncte de sprijin exterioare PCB-ului, sprijinirea PCB-ului doar n sondele de testare
fiind o practic de evitat. Totodat este important fora de apsare n partea
superioar a ECU-ului. Sunt de evitat situaiile n care apar tensionri ale PCB-ului,
PCB-ul se curbeaz datorit unor fore de apsare superioare. Curbarea PCB-ului
poate conduce la apariia fisurilor n plac sau la dezlipirea unor componente, deci o
funcionare defectuoas a ECU-ului. Acest tip de manipulare a PCB-ului se
ncadreaz la erori grosoloane, dar pot fi evitate printr-o proiectare corespunztoare
a patului de cuie.
Pentru a ntelege compresia unei sonde din patul de cuie, se prezint figura
3.8.

Figura3.8 Compresia unei sonde de testare [96]

n cele ce urmeaz sunt prezentate cele mai folosite vrfuri de sond,
folosite n industria automotive, pentru construirea paturilor de cuie [96]:
Proba ascuit este folosit cel mai des, pentru a atinge punctele de
testare de pe partea inferioar a ECU-ului. Este preferat deoarece
suprafaa de contact este foarte mic.

Figura 3.9 Vrf ascuit [96]

Proba plat este folosit ca alternativ la proba ascuit, pentru situaii n
care se dorete o suprafa de contact mare i n cazul unor puncte de
testare pe materiale care prezint riscul de strpungere prin folosirea unor
probe cu vrf ascuit.

Figura 3.10 Vrf plat [96]

Prob conic invers o prob folosit atunci cnd se doresc a fi preluate
semnale electrice direct de pe pinii unor componente electronice. Situaiile
n care sunt folosite aceste vrfuri ale probei sunt de evitat, deoarece
poziionarea exact a probei n pinul componentei este foarte dificil.
Punctele de testare de pe cablajele imprimate pot msura pn la 2 mm iar
probele de testare nu trebuiesc perfect centrate, dar n cazul utilizrii unor
probe cu vrf conic invers aceasta trebuie s fie centrat cu precizie de
micrometri n pinul componentei electrice. Utilizarea acestor probe cu vrf
conic invers introduc un grad de risc ridicat, existnd pericolul iminent de a
produce un scurt circuit. Rezultatul n acest caz fiind distrugerea
iremediabil a ECU-ului. Datorit faptului c sistemul de testare automat
este destinat laboratoarelor de cercetare dezvoltare, este dorit evitarea
distrugerilor iremediabile a unitilor de control electronice din cauza
numrului mic al ECU-urilor n faza aceasta.

Figura 3.11 Vrf conic invers [96]

Proba coroan se folosete atunci cnd dorim s verificm prezena unor
componente pe circuitul integrat. Acest tip de prob este mai pretenios,

deoarece placa trebuie sa fie foarte bine curat. Pentru cazul cnd exist
diferite impuriti pe plac, semnalul de pe plac nu poate fi preluat, iar
depunerea impuritilor n coroan va genera eroare dup eroare in procesul
de testare.

Figura3.12 Vrf coroan [96]

Proba bullet folosit la detectarea traseelor

Figura3.13 Vrf bullet [96]

Proba stea este folosit pentru detecia anumitor componente dar i a
preluri de semnale electrice

Figura 3.14 Vrf stea [96]

Prob pentru puncte de trecere (via points) sunt anumite situaii n care se
cere folosirea unor probe de acest tip pentru preluarea unor semnale care
trec de pe o parte a plcii pe cealalt parte. De cele mai multe ori aceast
prob este folosit pentru preluarea semnalului de mas.

Figura 3.15 Vrf pentru paduri de trecere (via points) [96]
Evident pe parcursul dezvoltrii unor paturi de cuie mai avansate se pot
folosi mai multe tipuri de probe. Pentru cazul prezentat n aceast tez, au fost
folosite doar tipurile de prob prezentate mai sus.

3.2.3 Sursa de alimentare

Sursele de alimentare pentru sistemele de testare automat pot fi de curent
alternativ (AC) sau de curent continuu (DC). Deoarece n autovehicul sursa de
tensiune este de tip DC, autorul alege pentru sistemul de testare automat
implementat n industria automotive, o surs de tip DC, produs de Agilent. n
figura 3.16 este prezentat panoul frontal al sursei de alimentare Agilent 3645A [2].
Pentru acoperirea unor plaje de tensiuni de alimentare mai larg se pot
alege alte surse de alimentare al productorului Agilent, driverele software
implementate de ctre autor fcnd posibil schimbarea sursei de alimentare cu una
similar a productorului, cu observaia urmtoare: sursa trebuie s aib un singur

canal de ieire [6]. Aceste surse de alimentare pot fi comandate prin GPIB i
prezint urmtoarele caracteristici:
Programarea tensiunii la ieire;
Programarea curentului la ieire;
Posibilitate de declanare n urma unui eveniment;
Controlul prezenei la ieire;
Limitarea curentului i a tensiunii;
Funii de salvare i rechemare;
Livrare la ieire a unei puteri de 80W;

Figura 3.16 Sursa de alimentare Agilent 3645A / Caracteristica tensiune-curent

Am ales s foloseasc aceast surs de tensiune deoarece caracteristica
curent tensiune, prezentat n figura 3.16 este potrivit aplicaiilor automotive. Plaja
de tensiune acoperit de aceast surs este: 0-35V la 2.2 A sau 0-60V la 1.3 A.
Pentru proiectele unde a fost implementat acest sistem de testare automat,
aceast surs de alimentare ndeplinea cerinele proiectului. n continuare voi
prezenta termenii uzuali folositori n descrierea surselor de alimentare:
Nivel de tensiune: tensiunea pe care o genereaz aceast surs la ieirea
ei;
Protecie la supratensiune (OVP): protecie la tensiuni mari. n cazul
aclanrii OVP-ului sursa nu mai genereaz tensiune la ieirea acesteia.
Protecie la supracurent (OVC): protecie la curent. Intesitatea curentului
electric nu poate depi o anumit valoare la ieirea sursei de alimentare. n
momentul generrii acestei protecii sursa intr n regim de surs de curent.
Mod de tensiune constant: la ieirea sursei de alimentare se menine o
valoare constant a sursei de alimentare dar variaz curentul de ieire.
Mode de curent constant: sursa se folosete n acest mod atunci cnd se
dorete o anumit intensitate a curentului la ieire. Aceast operaiune se
efectueaz prin reglarea valorii tensiunii de la ieirea sursei.
n caractersitica tensiune curent prezentat n figura 3.16 se pot observa
att modul de tensiune constant, protecia la supratensiune, protecia la
supracurent precum i modul de curent constant.

3.2.4 Echipamente de interfaare/routare

Echipamentele pentru routare sunt echipamente care comut semnale DC
de la zeci de Heri (Hz) la 25 de GHz, de la milivoli la sute de voli sau de la cureni
de miliamperi la zeci de amperi. De cele mai multe ori un sistem de testare
automat nu poate exista fr posibilitatea de routare a unor semnale nspre i
dinspre dispozitivul supus testrii. Deoarece exist att de multe cerine, exist i
numeroase topologii de routare. Principalele cerine pe baza crora se alege
topologia de routare a ATS-ului sunt:
Ce trebuie testat?
Cum este executat testul?
Ct de des trebuiesc schimbate anumite pri ale circuitului?
Pe baza acestor consideraii se alege o topologie de routare adecvat care
este implementat n proiectarea sistemului de testare automat. n figura 3.2 se
poate observa c partea principal a sistemului de testare automat este
reprezentat de interfa mpreun cu sistemul de routare. Evideniez importana
routrii semnalelor ntre numeroasele puncte de testare i aparatele de msur,
activarea unor sarcini, conectarea unor anumite semnale la dispozitivul supus
testrii sau chiar conectarea tensiunii de alimentare necesare ECU-ului.
Dispozitivul de interfaare i elementul de routare, au urmtoarele funcii:
Meninerea conectivitii dintre punctele de testare i aparatele de msur;
Posibilitatea conectrii unor semnale la dispozitivul supus testrii.
Prima cerin este s asigure pentru sistemul de testare automat calea
semnalelor electrice de la punctul de testare la aparatul de msur dorit, n cazul de
fa, osciloscopul sau DMM-ul. A doua cerin legat de posibilitatea de conectare a
unor stimuli la DUT (dispozitiv supus testrii), const n ndeplinirea unor condiii
pentru efectuarea unor cazuri de testare.
Autorul evideniaz importana introducerii elementelor de routare n
sistemul de testare automat, nseamnnd practic o reducere a timpilor de lucru i o
reducere a costurilor de dezvoltare pentru ATS. Pentru o situaie ideal, ntr-un
sistem de testare automat, ar trebui s existe un aparat de msur pentru fiecare
punct de testare, dar o asemenea abordare ar conduce la o cretere exagerat a
costurilor de dezvoltare. Prin folosirea elementelor de routare se reduce practic
numarul aparatelor de msur necesare pentru dezvoltarea ATS-ului [18][65][73].
n figura 3.17 autorul prezint dou interfee realizate pentru diferite
proiecte din cadrul industriei automotive, cu meniunea c interfaa prezentat n
figura 3.17 b poate fi folosit ca nlocuitor pentru prima interfa din figura 3.17 a.

Figura 3.17 a Echipamente de interfaare folosite n dezvoltarea ATS-ului

Figura 3.17 b Echipamente de interfaare folosite n dezvoltarea ATS-ului

Din figura 3.17 b se pot observa doi conectori, care fac legtura ntre patul
de cuie i unitatea de routare. ntre patul de cuie i interfa exist un cablu care
este construit de autor. Autorul menioneaz c interfaa din figura 3.17b a fost
folosit cu paturile de cuie prezentate n figura 3.5 b.
Pentru unitatea de routare autorul a ales s foloseasc echipamentul Agilent
34970A, la care pot fi adugate unitile de multiplexare Agilent 34901A [11]. n
figura 3.18 este prezentat aparatul Agilent 34970A.

Figura 3.18a Agilent 34970A partea frontal

Figura 3.18b Agilent 34970A partea dorsal

n figura 3.18 a este prezentat partea frontal a echipamentului de
routare. Pe acest panou frontal se pot observa principalele caracteristici ale
aparatului:
Posibilitate de a efectua masuratori de tensiune cu multimetrul intern al
aparatului;
Monitorizare pentru testele n desfurare;
Funcie de scalare pentru msurtori;

Alarm pentru limitele superioare, respectiv inferioare ale modulelor;
Alegerea intervalului de timp dintre dou msurtori;
50 K poate salva n memoria nevolatil;
De asemenea orice releu poate fi acionat de pe panoul frontal.
n figura 3.8 b este prezentat partea dorsal a aparatului. n aceast figur
se pot observa porturile de comunicare disponibile pentru acest echipament: RS232
sau GPIB precum i posibilitatea de conectare a 3 module n interiorul aparatului.
Prin alegerea unor module corespunztoare se va construi un cablu special cu care
vor fi efectuate cazurile de testare.
n figura 3.19 este prezentat unitatea de relee Agilent 34903A, cu
topologia de routare folosit n sistemul de testare propus. n momentul activrii
unui releu, acesta trece de pe starea normal nchis n starea normal deschis,
conectnd semnalul la aparatul de msur dorit sau realiznd conectarea unui
stimul extern la dispozitivul supus testrii. Echipamentul Agilent 34970A poate
integra trei asemenea uniti de routare, nsumnd o capabilitate de routare de 60
de semnale. Prin alegerea altor module de multiplexare, echipamentul Agilent
34970A poate avea o capacitate de multiplexare de maximum 120 de semnale.
Avantajul major al modulului Agilent 34903A l constituie faptul c toate releele pot
fi comandate n poziia nchis simultan, celelalte module avnd o singur ieire
multimplexat, aceasta nsemnnd c o singur intrare poate fi prezent la ieire.
Puterea nsumat a semnalelor routate de acest modul poate fi de maxim 50W.

Figura 3.19 a Agilent 34903A schema electric


Figura 3.19 b Agilent 34903A unitatea fizic de multiplexare cu 20 de relee

n figura 3.20 autorul prezint implementarea unitii de multiplexare /
routare n cadrul proiectului CAD. Acest proiect ofer partea de documentare a
implementrii ATS-ului, ajutnd totodat la urmrirea uoar a semnalelor prin
intermediul sistemului de testare.

Figura 3.20 a Implementarea ORCAD a unitii de multiplexare - vedere de
ansamblu


Figura 3.20 b Mrirea interiorului unitii de routare a semnalelor

3.2.5 Echipamente de msur

Pentru alegerea corect a echipamenteleor de msurat, parte integrant a
ATS-ului, trebuiesc avute n vedere caracteristicile statice i dinamice ale aparatelor
de msurat. n fapt, caracteristicile metrologice ale aparatelor de msurat vor
reprezenta capacitatea acelui aparat de a furniza o valoare corect a unui msurand
fr influene electromagnetice.
Din nenumratele teste efectuate de autor a reieit c la alegerea unui aparat de
msurat, potrivit aplicaiei de testare, trebuie avute n vedere urmtoarele
considerente [15][79][104]:
Caracteristica de transfer static definete relaia dintre semnalul de ieire
i msurand;
Intervalul de msurare reprezint intervalul dintre limita inferioar de
msurare i limita superioar de msurare;
Rezoluia reprezint cea mai mic valoare a unui msurand care poate fi
apreciat la ieirea acestuia;
Sensibilitatea reprezint raportul dintre variaia mrimii de ieire i
variaia corespunztoare mrimii de intrare;
Eroarea absolut tolerat reprezint sensibilitatea unui aparat de msurat
la erorile sistematice;
( ) (3.1)
) (3.2)
t
eroarea absolut tolerat
t
eroarea relativ tolerat
x valoarea msurat a semnalului de intrare
n numrul de procente din valoarea msurat
m valoarea ultimului digit 3
1/2

Eroarea de decalaj reprezint o eroare absolut constant n domeniul de
msurare folosit la aparat pentru msurarea unui msurand;
Eroarea de sensibilitate reprezint o eroare de instrumental proporional
cu valoarea msurat, fiind constant n intervalul de msurare folosit;
Eroarea de linearitate eroare instrumental care depinde neliniar de
valoarea msurat;
Eroarea de histerezis reprezint deviaiile aparatului pentru aceeai
valoare a msurandului dar depinznd de sensul n care se efectueaz
msurtoarea.
Caracteristicile dinamice ale unui aparat de msurat definesc dependena
dintre mrimea sa la ieire (y) i mrimea de la intrare (x). Ecuaia diferenial cu
coeficieni constani 3.3, caracterizeaz funcionarea aparatelor de msurat:

(3.3)
Soluia acestei ecuaii este:
()
()
() (3.4)
n care y
tr
(t) reprezint soluia ecuaiei omogene iar y
p
(t) reprezint o soluie
particular a ecuaiei difereniale. Pentru rezolvarea ecuaiei difereniale 3.3 este
nevoie de cunoaterea condiiilor iniiale. De aceea, studiul comportamentului
dinamic al unui aparat de msur se va efectua att n domeniul frecven ct i
timp. Pentru domeniul timp la intrarea aparatului se aplic un semnal de tip treapt:
() {

(3.5)
Astfel n regim static, atunci cnd X
0
are valoarea constant soluia se obine cnd
toate derivatele mrimilor x i y n raport cu timpul sunt nule.
()
(3.6)
S
0
reprezint sensibilitatea aparatului.
Pentru a afla rspunsul n frecven a unui aparat se folosete ecuaia 3.7 :
()
()
()
(3.7)

() ()
()
(3.8)
A() reprezint caracteristica amplitudine frecven;
() reprezint caracteristica faz frecven.
Din cele prezentate mai sus se pot concluziona urmtoarele:

Rspunsul unui aparat de msur nu este unul de tip treapt sau indicial
deoarece regimul tranzitoriu este ntotdeauna prezent ntr-o operaie de
msurare;
Datorit rspunsului aparatului de msur n frecven rezult c dac
frecvena semnalului de intrare depete o anumit valoare variaia la
ieire nu poate reda variaia de la intrare, rezultnd o form distorsionat.
Datorit erorilor ct mai reduse care trebuiesc introduse de aparatul de
msur, avnd n vedere cele prezentate mai sus, acurateea sistemului de testare
automat dorindu-se a fi ct mai ridicat n acest caz, autorul a ales pentru
dezvoltarea sistemului de testare automat urmtoarele instrumente: Agilent DMM
(multimetru digital) 34410A i osciloscoapele LeCroy WaveSurfer 64Xs i Textronix
DPO7200.
n figura 3.21 se prezint schema bloc a multimetrului digital produs de
Agilent 34410A, folosit n sistemul de testare conceput de autor.
Din schema bloc se poate observa c aparatul este construit din circuite cu
legare la pmnt i circuite cu mas flotant. Faptul c o parte a circuitelor sunt
conectate la o mas flotant fa de punctele de msura l face extrem de util n
cadrul sistemelor de testare automat din cadrul industriei automotive. Datorit
echipamentului de interfaare prezentat mai sus, la acest multimetru pot fi
conectate majoritatea semnanelor preluate de pe partea inferioar a ECU-ului.
Multimetrul are posibilitatea de a msura continuiti, tensiuni continue, tensiuni
alternative, rezistene, frecvene, impedane sau ali parametri electrici ai
semnalului.
Productorul Agilent, ofer toate informaiile referitoare la acest produs
astfel erorile aparatului sunt cunoscute: termice, de ncrcare, scurgeri de curent,
erori datorate rejeciei de mod normal ( DMM-ul msoar i integreaz valoarea
medie ntr-un interval de timp), erori datorate rejeciei de mod comun imperfecte,
datoarate buclelor de cmp magnetic, datorit buclelor de mas. Astfel de erori pot
fi diminuate prin circuite de msur corecte care reduc mrimea acestora
comparativ cu valoarea util. O alt msur pentru a reduce erorile de msurare
este folosirea aparatului pe domeniul de msur potrivit.
n cadrul ATS-ului dezvoltat n lucrare sunt folosite urmtoarele funcii ale
DMM-ului:
Tensiuni de intrare n domenii de la 100mV la 1000V;
Rezistena msurat la 2 fire n domenii : 100 1000M;
Rezistena msurat la 4 fire n domenii : 100 1000M;
Curent continuu n domenii de la 10mA la 3A;
Tensiuni AC n domenii : 100mV 750V (frecvene de la 3Hz 300KHz);
Cureni AC True RMS n domenii : 100mA 3A (frecvene de la 3Hz
5KHz).


Figura 3.21 Schema bloc a multimetrului digital Agilent 34410A[176]

Figura 3.22 Multimetrul Digital 34410A

Multimetrul ofer posibilitatea ca acest aparat s fie setat att n mod
manual, ct i n mod control de la distan (remote controll) prin intermediul
interfeelor RS-232 sau GPIB [5]. Pentru programarea aparatului, n modul control
de la distan aparatul poate fi comandat cu ajutorul unor drivere create n mediul
de programare LABView sau folosind comenzi SCPI n format C (Standard
Commands for Programable Instruments). Pentru ca multimetrul digital s fie
comandat de la distan n condiii de siguran se execut urmtoarea secven:
1. Se aduce DMM-ul ntr-o stare cunoscut (iniializare);
2. Trecerea n control de la distan;
3. Se alege domeniul de msur, ce tip de mrime electric se ateapt la
intrare;
4. Se seteaz condiiile de declanare a msurrii, dac exist;
5. Se iniealizeaz msurtoarea;
6. Se execut msurarea;
7. Se extrage valoarea msurat din buffer-ul instrumentului;
8. Se salveaz datele pe calculator.
Msurtoarea propriu-zis se execut de la pasul 3 la pasul 5.
n cadrul standului de testare creat este nevoie de un osciloscop care s
poat msura urmtorii parametrii de semnal:
Rise time 10-90;
Fall time 90-10;
Delay;
Duty cycle;
Period;
Frequency;
Overshoot positive;
Overshoot negative;
Amplitude;
Mean;
Base;
Top;
Average;
Peak-to-peak;
Minimum;
Maximum;
Width positive;
Witdh negative;
Area;
Duration.

Pe lng posibilitatea de msurare a parametrilor semnalelor electrice
aplicate la intrare, aceste osciloscoape mai ofer i urmtoarele posibiliti utile
ATS-ului:
Efectuare de trigger dup diferite funcii;
Posibilitatea efecturii unor transformate Fourier;
Posibilitate de operaii matematice ntre dou semnale: adunri, scderi,
nmuluiri, impriri;
Posibilitatea comandrii aparatelor prin GPIB sau ethernet;
Posibilitatea salvrii de poze pe hard disc-ul local al calculatorului;
Posibilitatea salvrii unor setri a panoului frontal i rechemarea setrilor;
Posibilitatea etichetrii canalelor;
Posibilitatea de citire a parametrilor msurai;
Posibilitatea selectrii impedanei de intrare.

ATS-ul cel mai folosit, i cu cele mai reduse costuri este cel construit cu
osciloscopul LeCroy WaveSurfer 64Xs. Osciloscopul Tektronix poate fi folosit pentru
aplicaii speciale unde sunt necesare msuri de precizie ridicat, spre exemplu rise
time de ordinul nanosecundelor. Dintre parametrii osciloscopului LeCroy WaveSurfer
64Xs autorul i menioneaz pe cei mai importani:
Bandwidth-ul de la 200MHz 1GHz;
2.5GS/s (pn la 5GS/s la 1GHz);
Ecran de 10.4 cu senzor tactil;
Funcii matematice de tip G(f(x));
Posibilitate de analiz a semnturilor pe SPI i I2C;
Impedana de intrare 1M/50;
Intrare AC sau DC;
Comanda automat prin interfa LAN.


3.2.6 Echipamente de comunicaie

Pentru realizarea acestui sistem de testare automat, autorul alege folosirea
unui convertor USB la interfaa General Purpose Interface Bus GPIB
[3][37][62][99][100][166]. Acest convertor este produs de firma Agilent, numit
Agilent 82357A, i poate comanda 14 dispozitive pe magistrala GPIB [7][74]. Pe
lng acest convertor GPIB, folosit la comanda de la distana a echipamentelor
electronice, autorul mai integreaz i un sistem de comunicaie pe Control Area
Network CAN iar osciloscopul poate fi comandat pe magistrala Ethernet [9][75].
Firma Hewlett-Packard, devenit ulterior Agilent Company, a implementat
pentru prima dat, n anul 1975, protocolul de comunicaie ntre un calculator i
diverse instrumente de msur definind standardul IEEE 488.1 denumit interfa
digital standard pentru instrumente programabile. n acest standard pot fi regsite
specificaii pentru elemente electrice, mecanice i funcionale pentru sistemul de
interfaare. Deoarece acest prim document standard nu impunea standardizri
privind protocolul de comunicaie, n anul 1990, apare IEEE 488.2 denumit
Comenzi standard pentru Instrumente Programabile sau SCPI care reglementeaz
standardul privind comenzile specifice pentru fiecare clas de instrumente. Acest
standard trebuie respectat de ctre productorii de echipamente, pentru ca
echipamentele s devin portabile i interschimbabile. Astfel n momentul actual
standardul IEEE 488 este specificat complet, IEEE 488.1 i IEEE 488.2, definind
toate prile protocolului de comunicaie GPIB. Datorit faptului c protocolul a
devenit foarte rspndit, n momentul actual majoritatea sistemelor de testare
automat au n componena lor diferite instrumente comandate pe GPIB,
productorii integrnd n toate instrumentele acest protocol de comunicaie. Marele
avantaj ale acestui convertor este faptul c orice instrument poate fi conectat sau
deconectat n orice moment, este de tip hot-PlugIn/PlugOut.
Pentru o mai bun nelegere a protocolului de comunicaie GPIB, se
prezint principalele caractersitici ale celor dou specificaii pentru standardele:
IEEE 488.1 i IEEE 488.2 [89][90].
Standardul IEEE 488.1
Standardul IEEE 488.1 definete prile fizice ale GPIB-ului, astfel interfaa
GPIB trebuie neleas ca o interfa digital paralel pe 8 bii, cu o vitez de
transfer de pn la 1MB/s. Aceast magistral poate comanda maxim 14
instrumente cu un controler de sistem, legtura fizic fiind constituit dintr-un cablu
compus din 24 de fire ecranate, avnd ca terminaie un conector standard.
Din cele 24 de fire ecranate, fiecare fir reprezentnd practic o linie de
semnal, se pot distinge:
16 linii de semnal, dintre care 8 linii de date, 5 linii de comand i 3 linii de
handshake;
8 linii de mas.

Tabel 3.1 Liniile interfeei GPIB
Categoria Linia Nume
8 linii de date DIO 1-8 Data Input Output
5 linii de comanda REN Remote Enable
ATN Attention
IFC Interface Clear
SRQ Service Clear
EOI End or Identify
3 linii de handshake DAV Data Valid
NRFD Not Ready for Data
NDAC Not data accepted
8 linii de mas GND Ground

Linia ATN, n cazul acestui protocol de comunicaie joac un rol important,
deoarece aceasta ajut la distingerea datelor destinate instrumentelor i mesajele
de interfa. Astfel pentru a transmite date nspre i dinspre instrumente este
necesar ca linia ATN = 0, iar mesajele de interfa s fie transmise cu ATN = 1.
Pentru a putea construi un sistem de testare automat pe baza acestui
standard, se prezint contrngerile fizice ale protocolului de comunicaie. Protocolul
GPIB asigur transmisia i recepia fr erori, pe cele 8 linii de date, folosind o
interblocare pe 3 linii. Dar protocolul de comunicaie poate deveni ineficient, n cazul
n care se depesc urmtoarele limite:
Distana maxim dintre dou instrumente conectate printr-un cablu GPIB s
fie de maxim 4m;
Lungimea maxim a cablului folosit pentru interfaa digital GPIB s fie de
maxim 20m;
Conectarea la interfaa digital a maxim 14 instrumente;
Semnalele sunt transmise cu logica TTL negativ;
Capacitatea de intrare a instrumentelor s nu fie mai mare de 50pF.

n urmtorul tablel 3.2, se prezint nivelele logice ale semnalelor GPIB:

Tabel 3.2 Nivelurile logice ale protocolului GPIB
Nivel de tensiune Mesaj Exemplu
High > 2V Fals 0 DAV Low
Low < 0.8V Adevarat 1 DAV True

Procedura GPIB pentru realizarea handshake-ului folosete conceptul de
SAU-Cablat pentru liniile NRFD i NDAC nsemnnd c NRFD trece pe valoare High
cnd nici un instrument nu trage aceast linie pe valoare Low. NRFD este negatul
liniei RFD (Ready for data), aceasta nseamn c atunci cnd un instrument dorete
s comunice cu alte instrumente, pe linie se va transmite RFD pe True care
nseamn c dispozitivul este gata s primeasc date. Pentru o mai bun percepie a
modului cum se transmit datele, autorul prezint figura 3.25:


Figura 3.23 Transmisia datelor prin GPIB

Cnd sursa ocup cele 8 linii de date cu un nou octet, aceasta va trimite
DAV = True pentru a semnala c exist date pe bus. Dup un anumit timp de
stabilizare, destinatarii transmit un mesaj RFD = False (NFRD = Low), iar atunci
cnd un destinatar a recepionat datele se transmite DAC = Passive true, iar cnd
toate datele au acceptat datele se pune linia NDAC = High iar sursa primete
mesajul c datele au fost acceptate. n acest mod datele pot fi transmise pe
magistrala GPIB.
Standardul IEEE 488.2
Prin acest standard se stabilete sintaxa mesajelor asigurnd practic o
comunicare ntre instrumente fr ntreruperi. Pentru aceasta a fost implementat
protocolul MEP, protocol care prevede c un instrument nu trebuie s transmit date
daca nu i se solicit acest lucru. n standardul IEEE 488.2 se gsesc de asemenea
reglemntri legate de raportarea erorilor, raportarea statusului, cum se realizeaz
sincronizarea ntre instrumente, sincronizarea ntre controller i instrument. Practic
semantica mesajelor transmise pe magistrala GPIB nu este standardizat n cadrul
IEEE 488.2, dar productorii folosind recomandarea Agilent de a folosi programarea
dispozitivelor folosind SCPI se poate considera ca fiind parte a standardului. SCPI
reprezint un nivel nalt de programare prin care practic s-au standardizat
principalele comenzi acceptate de instrumentele care au n componen magistrala
GPIB att din punct de vedere al sintaxei ct i al semanticii [4][76][77].

Comunicaia Controller Area Network

Aceasta este foarte rspndit n autovehicolele secolului XXI, fiind
principala magistral de comunicare ntre senzori. Pentru acest sistem de testare,
implementat n industria automotive, autorul dorete s evidenieze nevoia folosirii
unui dispozitiv de tipul CAN Case sau CAN card, care permite trezirea ECU-ului. Fr
un dispozitiv de aceast tip, practic software-ul ECU-ului nu este disponibil, fiind n
stare de sleep (n stare de sleep sau adormit SW-ul nu este activ). Acest dispozitiv
va comunica pe portul USB al calculatorului numai n urma instalrii unui software,
numit CANoe comunication, disponibil pe CD la cumprarea produsului. Mai jos se
va prezenta principiul de functionare al dispozitivului:

Figura 3.24 Principiu de funcionare CAN

Pentru o mai bun nelegere a cazurilor de testare implementate pentru a fi
supuse testrii, caracteristicile fizice i standardul referitor la magistrala CAN vor fi
prezentate de ctre autor n capitolul 4.

3.2.7 Echipamente de calcul

Deoarece sistemele de testare automat, au o parte hardware i o parte
software, se impune integrarea unui sistem de calcul [97]. Sistemul de calcul este
compus din unitatea central i periferice: monitor, tastatur, mouse. Din
componena plcii de baz a calculatorului portul RS232 este necesar pentru
posibilitatea de conectare a unei camere climatice [98].
Astfel, comanda instrumentelor, componente ale ATS-ului, se realizeaz la
distan cu ajutorul unor programe instalate pe acest calculator. Totodat
interpretarea rezultatelor, prelucrarea i stocarea lor se va realiza pe hard disc-ul
local al calculatorului. Prin intermediul monitorului se realizeaz interfaarea cu
utilizatorul prin intermediul GUI-ului (graphical user interface). nceperea, status-ul
testului n derulare, precum i terminarea unei secvene de test se pot realiza de pe
acest calculator prin intermediul software-ului instalat. Capabilitile programului de

testare, performanele i deciziile implementate n software-ul operaional sunt n
strns legtur cu performanele calculatorului. Viteza de calcul a unor paramatrii
este influenat de puterea de calcul a procesorului, numrul de poze salvate
depinde de capacitatea hard disc-ului local al calculatorului, numrul de dispozitive
comandate depind de porturile de ieire a unitii centrale.
Se recomand folosirea unui calculator de generaie ct mai nou pentru a
crete performanele sistemului de testare automat. Totodat o recomandare a
autorului este folosirea unui sistem de calcul de tip desktop, datorit vitezei de
calcul ridicate i a porturilor accesibile comparativ cu un sistem de calcul de tip
notebook unde viteza de calcul e mai redus i a numrului de porturi mai redus. De
remarcat este faptul c un sistem de calcul de tip notebook confer o mobilitate mai
ridicat utilizatorului, sistemul fiind mai uor de relocat. n cazul sistemelor de
testare de tip HiL, datorit faptului c dispare convertorul de tip USB2GPIB autorul
recomand folosirea unui sistem de calcul de tip notebook, deoarece ofer
mobilitate ridicat posibilitate de interfaare cu HiL-ul de tip remote din orice
ncpere cu condiia s existe o legtur permanent la internet.
Cerinele minime impuse sistemelor de calcul pentru ATS-uri sunt:
Procesor: minim 2,3 Ghz (Intel , AMD);
Memorie: 4Gb DDRAM 3;
HDD: minim 500 Gb, pentru salvarea ct mai multor date;
Placa video: minim 64Mb;
Unitate Optic, pentru posibilitatea de instalare a diverselor programe
necesare dezvoltrii sistemului de testare automat;
3 porturi USB 2.0 necesare pentru conectarea diferitelor echipamente de
comuncaie de tip: USB2GPIB, Vector CAN Case sau a diferitelor licene
hardware pentru programe;
Port Serial, posibilitate conectare camera climatic n cadrul ATS-ului de la
nivele de component sau conectarea interfeei de realizare a erorilor n cazul
HiL-urilor;
Sistem de operare: Windows XP.

3.2.8 Echipamente de injectare a semnalelor

Dezvoltarea unui sistem de testare automat, pentru industria automotive
nseamn i integrarea unor instrumente de injectare a semnalelor. Din experiena
autorului, generatorul de funcii i amplificatorul nu au cum s lipseasc din
componena unui ATS destinat industriei automotive.
Productorii de autovehicule, doresc odat cu livrarea produsului s
primeasc i rapoartele de testare care atest conformitatea produsului.
Dezvoltatorii de autovehicule doresc a vizualiza sub forma unor oscilograme,
rspunsul ECU-ului la diferite forme de und aplicate la intrarea acestuia. Binenteles
aceste forme de und sunt construite din funciile de baz ale unui gernerator de
funcii de tip [1]:
Form de und sinusoidal;
Form de und dreptunghiular;
Form de und ramp;
Form de und zgomot;
Form de und aleatoare.
Pentru domeniul industriei automotive au fost alese urmtoarele
instrumente generatoare de semnal, prezentate in figura 3.27:
Generator de funcii/ forme de und Agilent 33250A;
Amplificator HSA 4014.

a. Generator de funcii b. Amplificator de semnal

Figura 3.25 Instrumente generatoare/amplificatoare de semnal

Generatorul de funcii Agilent 33250A are urmtoarele caracteristici, care il
fac adecvat utilizrii n industria automotive:
Posibilitate de comandare remote: GPIB sau RS-232;
Poate genera semnale de pn la 80 MHz : sinus sau dreptunghi;
Poate construi diferite forme de und cu ajutorul mai multor puncte;
Se pot incrca diferite forme de und din fiiere de tip CSV (comma
separate values);
Capabilitate de declanre n urma unui impuls de start - trigger;
Posibilitate de manipulare a fronturilor formelor de und;
Display color pentru posibilitatea de verificare a parametrilor formelor de
und generat;
Posibilitate de activare/oprire a semnalului generat la ieire;
Posibilitate de schimbare a impedanei de ieire a aparatului, de la 50 la
nalt impedan HI-Z;
Poate genera o amplitudine de maxim 20V pe o sarcin HI-Z;
Poate efectua modulaii n amplitudine sau frecven cu modulatoare
intern sau extern, n cazul celei de-a doua opiuni este necesar un al
doilea generator de funcii.

Amplificatorul HSA 4014 este folosit atunci cnd cerinele OEM-ului referitor
la semnalele de la intrarea ECU-ului nu pot fi ndeplinite cu ajutorul sursei de
3.3 Particulariti hardware ale ATS-ului 89

alimentare uzuale sau a generatorului de funcii. Amplificatorul prezentat n figura
3.27 are urmtoarele caracteristici:
Tensiune maxim la ieire: 150 V vrf-la-vrf n funcie de impedana de la
ieire;
Curent maxim: 1Arms, 2.82Ap-p;
Slew-rate 600V/us;
Impedana: 0.51.5uH max;
Semnale inversat fa de intrare;
DC bias: 50V;
2 intrri;
Ctiguri de x10, x20, x50, x100;
Imedana de ieire selectabil: 50 /600;
Rspuns n frecven: 1MHz;
Tensiune de intrare: AC 100V/200V/240V, 48Hz-62Hz.
Pentru ndeplinirea standarelor ISO 19750, acest amplificator se ncadreaz
n parametrii cerui de OEM. Merit evideniat faptul c folosirea acestui amplificator
scade gradul de automatizare a testelor, cazurile de testare unde este nevoie de
acest amplficator devin semiautomate deoarece au nevoie de intervenia
operatorului uman. Din cercetrile efectuate pn n 2011 nu au fost gsite
amplificatoare de semnale comandabile pe GPIB sau RS-232, dar faptul c nu sunt
comandabile nu reprezint singurul impediment. Conectarea generatorului de funcii
la amplificator reprezint un alt imepediment pentru automatizarea complet.

3.3 Particulariti hardware ale ATS-ului

n acest paragraf, autorul prezint principalele particulariti ntlnite pe
parcursul dezvoltrii acestui sistem de testare automat, particulariti care pot
influena calitatea rezultatelor oferite de sistemul de testare automat.
Pentru a avea o privire de ansamblu la dezvoltarea unor proiecte ulterioare
asupra materialelor, a fost creat o list cu toate echipamentele i materialele
necesare pentru crearea acestui proiect. Astfel se pot evidenia i corela viitoarele
diferene dintre proiecte. Am intitulat aceast list de materiale BOM bill of
materials. n aceasta se trec de la echipamentele electronice necesare furnizorii de
echipamente sau alte materiale necesare testrii, echipamentele propriu-zise,
conectori folosii, componente electronice, cabluri, PCB-uri integrate, carcase, timpi
estimai. Pentru crearea acestei liste s-a folosit programul Microsoft Excel.
Primul aspect avut n vedere a fost acela legat de alegerea cablurilor care
vor realiza legturile fizice dintre probele de testare / ace i conectorul patului de
cuie, dintre patul de cuie i interfa, cabluri care vor realiza i legturile din
interiorul interfeei i a unitii de routare. Se recomand, n funcie de aplicaiile la
care este folosit ATS-ul, folosirea unor cabluri ecranate cu tresa metalic avnd
impedana de 50 pe care pot fi transferate semnale de diferite frecvene, n funcie
de necesiti, sau a unor cabluri ecranate simple [12]. Pentru liniile de alimentare
sau de putere mare trebuie avut grij la intesitatea maxim a curentului ce poate fi
suportat de aceste cabluri. n momentul n care se realizeaz legtura dintre aceste
fire, indiferent de partea ATS-ului n care se afl, se recomand formarea
urmtoarelor legturi: o legtur format din cablurile de alimentare, format din
cabluri de semnale cu frecvene mici, o legtur format din cabluri de semanle cu
frecvene medii i o legtur de cabluri de semnale cu frecvene mari. n cazul
legturilor amestecate, avnd cabluri din toate grupele, trebuie folosite cabluri
speciale ecranate n cazul semnalelor care pot influena sistemul de testare.
Dimensiunea cablurilor care se folosesc la construcia ATS-ului trebuie s fie ct mai
mic, dar s permit totodat micarea unor echipamente n cadrul standului de
testare. Prin dimensiunea redus a cablurilor se limiteaz cderea de tensiune pe
aceste cabluri. La folosirea sistemului n cadrul unor aplicaii de tip RF se recomand
folosirea unor cabluri coaxiale pentru a realiza adaptarea de impendan i a
minimiza zgomotul radiat iar ca terminaie se folosesc conectori pentru cabluri
coaxiale pentru meninerea integritii semnalului. Avnd o cale de semnal adaptat
ca impedan nseamn automat o reducere a reflexiilor semnalelor pe acea cale de
semnal.
Deoarece pe parcursul ntregului sistem lungimea cablului va crete
considerabil, pentru o mai bun trasabilitate a semnalelor se alege o metod de
etichetare a acestora. Pentru trasabilitate autorul a folosit proiectul creat n OrCAD
Pspice, numrul pinului fiind suficient pentru a identifica un semnal, fiecare pin n
acest proiect avnd ataat un identificator propriu. Totodat, fiecare conector este
denumit/marcat corespunztor, iar fiecare conector are un semn distinct pentru
pinul cu numarul 1. Pinii folosii se recomand a fi pini aurii, care s corespund
nevoilor de curent ale dispozitivelor de testare supuse testrii. Firul mpreun cu
pinul trebuie s poat transfera curentul/ puterea maxim/ necesare DUT-ului.
Al doilea aspect este legat de reducerea zgomotului din cadrul ATS-ului. n
sisteme de testare automate pot aprea urmtoarele tipuri de zgomote: zgomote
aprute la cuplri capacitive, zgomote de impedane comune, perturbaii ale
cmpului magnetic i ale cmpului electric. Pentru o cale de semnal care trece
printr-un mediu zgomotos exist toate ansele ca acest semnal s fie perturbat i s
conduc perturbaia i in sistem. Zgomotul datorat cuplajelor de impedan comun
este datorat unor cureni de intensiti diferite care trec printr-o impedan comun.
Prin acest cuplaj este influenat tensiunea de mas a celor dou semnale. n ceea
ce privete fiecare circuit n parte nseamn c potenialul de mas a unui circuit
este modulat de curentul celuluilalt circuit care se scurge spre masa comun,
aceasta conducnd la conducerea zgomotului prin cuplaj. De asemenea cmpurile
magnetice i electrice radiante perturb atunci cnd exist transfer de sarcina sau
exist diferen de potenial iar perturbaiile de nalt frecven pot fi transformate
n offset-uri DC [78].
3.3 Particulariti hardware ale ATS-ului 91

Figura 3.26 Plan de mas de tip stea

Pentru a putea fi efectuate msurtori cu acuratee, cerute de industria
automotive, ntr-un sistem de testare automat trebuie alese strategii privind
distribuia planului de mas i strategii de ecranare. Planul de mas i ecranarea
reprezint cele mai uzuale soluii pentru rejecia zgomotului din sistem. Atunci cnd
se proiecteaz planul de mas trebuie avut n vedere reducerea tensiunii
perturbatoare datorate diferiilor cureni, a diferitelor circuite existente, care trec
printr-o impedan comun. Totodat la crearea unui plan de mas autorul
recomand evitarea crerii unor bucle de mas foarte mari care pot introduce
radiaii ale cmpului magnetic. Pentru indeplinirea acestor cerinte autorul a folosit
un plan de mas de tip stea, prezentat n figura 3.26.
Al treilea aspect este cel reprezentat de protecii, att mecanice ct i
electrice. Dac sistemul este ncapsulat ntr-un stand de testare n care exist
ventilatoare, acestea trebuiesc poziionate ntr-un mod n care operatorul uman nu
are acces la acesta, evitnd astfel rnirea proprie. Din punct de vedere electric
trebuiesc integrate sisteme de siguran privind depirea unor tensiuni mari sau a
unor cureni limit evitnd astfel distrugerea echipamentelor.
Experiena dobndit de autor la realizarea acestui testor arat c n cazul
folosirii camerei de temperatur, n cadrul unor cazuri de testare care necesit
testarea n plaja -40C 105C, dup atingerea temperaturii dorite s existe un
timp de stabilizare a temperaturii de minimum 30 de min. Datorit faptului c
temperatura n camera climatic poate urca cu 1C pe minut, n jurul temperaturii
dorite stabilizarea acesteia are forma undei oscilaii amortizate. Totodat, prin
respectarea acestui timp, autorul a observat c i ECU-ul atinge temperatura dorit,
acest aspect fiind relevant n cazul testelor desfurate pentru industria automotive.


Concluzii
n acest capitol autorul prezint principalele aspecte privind construcia
arhitecturii hardware a sistemelor de testare automat realizate pentru industria
automotive. Principalele consideraii avute n vedere de autor la realizarea acestui
sistem de testare automat au fost prezentate n form detaliat n paragrafele de
mai sus.
n figura 3.1 se poate observa schema bloc a sistemului de testare automat
implementat n cadrul unui productor de componente automotive, pentru testarea
hardware i funcional a unor ECU-uri. n figura 3.4, autorul evideniaz
principalele echipamente care construiesc ATS-ul, grupndu-le dup urmtoarele
categorii:
Patul de cuie;
Surs de alimentare;
Echipamente de msur;
Echipamente de interfaare i routare;
Echipamente de injectare stimuli;
Echipamente de comunicaie;
Echipamente de calcul.
n figura 3.5, a i b, autorul prezint paturile de cuie realizate pentru fixarea
diferitelor tipuri de ECU-uri testate n cadrul productorului de componente
automotive. n funcie de cerinele proiectului au fost construite paturi de cuie de
diferite dimensiuni, unele avnd integrate suplimentar o plac de multiplexoare.
Aceast plac de multiplexoare ajut la routarea semnalelor de nalt frecven, n
acest mod autorul evitnd perturbarea altor linii de semnal.
n cadrul ATS-urilor de tip HIL, patul de cuie nu exist, conectarea ECU-ului
la sistem realizndu-se ca n autovehicul cu ajutorul conectorului de intrare.
n figura 3.16 autorul prezint sursa de alimentare integrat pentru
alimentarea ECU-ului. Autorul a identificat, din punct de vedere al proiectelor pentru
care a fost dezvoltat ATS-ul, urmtoarele caractersitici ale sursei de alimentare care
trebuiesc indeplinite pentru a putea fi integrat n sistem:
Capabilitate de curent de minim 500mA;
Tensiune minima de alimentare 6V;
Tensiune maxim de alimentare 40V;
Posibilitate s fie comandat GPIB;
Ieirea sursei de tensiune s fie comandabil;
Sursa de tensiune aleas pentru acest sistem de testate automat respect
caractersitica de funcionare tensiune-curent prezentat de autor n figura 3.16.
Pentru ca ATS-ul s ndeplineasc sarcini de testare, msurare i validare,
am ales s integrez dou aparate de msur de urmtorul tip:
Multimetru digital: Agilent 34410 A;
Osciloscop.
Aparatele de msur sunt prezentate n figurile 3.22. ATS-ul poate suporta
dou tipuri de osciloscop, deoarece n partea de software au fost implementate
driverele pentru ambele aparate. Se menioneaz i se sublinieaz faptul c
driverele create pentru LeCroy sunt compatibile cu mai multe echipamente de acest
tip, ale acestui productor. Printre funciile cele mai importante la selectarea
aparatelor sunt:
Pentru DMM: msurarea continuitii, msurarea tensiunilor, msurarea
curenilor, msurarea rezistenelor, msurarea frecvenelor, alegerea
domeniilor de msurare este important aparatul ales de autor pentru
acest ATS poate realiza n modul AUTO aceast funcie.
Pentru osciloscoape sunt importante: posibiliti multiple de trigger, patru
canale analogice, adaptarea impedanei de intrare, posibilitatea de efectuare
a operaiilor matematice, posibilitatea de etichetare a canalelor, opiuni de
ajustare a canalelor i a bazei de timp pe mai multe domenii.
n continuarea capitolului, dup prezentarea aparatelor de msur, autorul
prezint soluia aleas pentru routarea semnalelor electrice prin intermediul
standului de testare. Routarea este punctul critic al aparatului, n funcie de cum
este realizat aceast routare fiind afectate performanele sistemului de testare. Ca
principale caracterisitici care trebuiesc respectate atunci cnd se efectueaz
routarea semnalelor, se subliniaz: routarea separat a semnalelor de diferite
frecvene, planul de mas de tip star ground, utilizarea unor ci ct mai scurte de
la proba de preluare a semnalului la aparatul ales pentru a msura diferii
parametri, routarea alimentrii, tipurile de relee alese pentru routare dar i
capabilitatea de routare a sistemului. n figura 3.19a este prezentat unitatea de
routare aleas pentru testarea ECU-urilor din domeniul automotive. Pn n prezent
aceast unitatea de routare mpreun cu diferitele interfee, prezentate n figura
3.19b, au satisfcut n totalitate cerinele proiectelor. Interfaa a fost construit de
la zero, aceasta putnd fi reprodus n orice moment datorit documentrii realizate
de autor n cadrul proiectului CAD/Pspice Layout.
Pentru ca ntreaga arhitectur gndit s funcioneze corect, a fost nevoie
de implementarea unor echipamente de comunicaie. Aceste echipamentele
destinate construciei sistemelor de testare automate pentru industria automotive,
sunt:
Convertor GPIB2USB, realizeaz conversia datelor de la portul USB al
calculatorului n formatul GPIB, cunoscut limbajului de programare LABView;
Vector CANcase XL, necesar trezirii ECU-ului, pentru ca software-ul
operaional s fie activ;
Ethernet Card n cazul calculatorelor fr plac de reea, se poate integra
o plac de acest tip. Rareori este nevoie de aceasta, deoarece majoritatea
calculatoarelor au n componen cel puin o plac de reea.
Sistemul este comandat prin intermediul convertorului GPIB, care trece
echipamentele sistemului n modul controlat remote controlled, care este conectat
la un calculatorul mediu de calcul. Acest calculator are instalat o versiune a
programului LABView, produs de National Instruments prezentat mai amplu n
capitolul ce urmeaz. n acest program sunt implementate driverele de comand ale
echipametelor electronice. Acest calculator mai ndeplinete i rolul de stocare a
datelor n diferite tipuri de format, are rolul de a fi contactul cu sistemul - prin
intermediul interfeei grafice a utilizatorului, graphical user interface GUI.
n ncheierea capitolului sunt evideniate particularitile legate de
construcia fizic a ATS-ului. Totodat acestea sunt i norme de siguran i
protecie a aparatului n cadrul interaciunii cu operatorul uman.

Contribuii personale

Privind sistemul de testare automat, propus i implementat , ntr-un
laborator de cercetare-dezvoltare al unui productor automotive, autorul studiaz
documentele tehnice legate de aparatura necesar construciei ATS-ului. Dup
cercetarea documentaiei tehnice, comparnd posibilitile echipamentelor cu
cerinele proiectelor automotive, se aleg echipamentele necesare implementrii
cazurilor de testare. n consecin, pentru implementarea ATS-ului n laboratorul de
cercetare dezvoltare, autorul a contribuit cu:
Propunerea unei arhitecuri electrice pentru structura de testare automat de
tip stack and rack, fr integrare a aparatelor & echipamentelor electrice
ntr-o carcas de tip stack. O astfel de implementare ofer libertate privind
relocare sistemului n alte locaii;
Cerceteaz documentaia tehnic privind aparatura electronic, fcnd o
selecie adecvat a echipamentelor pentru ndeplinirea standardelor
automotive: plaje de tensiuni, plaje de cureni, plaje de temperaturi;
Contribuie la testarea i integrarea unor noi tipuri de probe, pentru
implementarea cazurilor de testare;
Crearea documentaiei sistemului de testare automat prin crearea unui
structuri de tip project ORCAD, n Pspice, unde pot fi urmrite semnalele de
la proba de testare pn la echipamentul de msur;
Crearea unor noi module pentru sistemul de testare automat, de exemplu:
placa de multiplexoare necesar routrii semnalelor de frecven nalt;
Crearea a mai multor tipuri de paturi de cuie, cu diferite mecanisme de
prindere a PCB-ului i noi tipuri de micare a probelor de testare. Pentru
proiecte, autorul a folosit, paturi de cuie cu probe fixe, pe care placa va fi
fixat cu ajutorul ghidajelor pe aceste probe, paturi de cuie cu probe mobile
unde placa este fix iar probele vor avea o micare de elevaie de jos n sus;
Routarea traseelor prin sistemul de msur respectnd reguli de routare
astfel nct perturbaiile de tip electromagnetic s fie ct mai reduse;

Reducerea dimensiunii interfeei ATS-ului, prin introducerea unor module de
tip PCB n interiorul acesteia. Ceea ce se realiza nainte cu fire, acum se va
realiza cu un cablaj imprimat;
Realizeaz un plan de mas de tip stea, astfel fiind create bucle de mas ct
mai mici, prin reducerea buclelor de mas fiind mbuntite msurtorile
efectuate cu sistemul;
Construcia fizic a sistemului de testare automat, din stadiul de
echipamente independete pn la forma final folosind documentaia
realizat n ORCAD;
Integreaz un amplificator de tensiune, dezavantajul principal fiind c
aparatul nu poate fi comandat n totalitate cu o interfa GPIB, astfel testele
cu amplificatorul devenind semi-automate;
Introduc 2 tipuri de comunicaie n cadrul unui sistem de testare automat:
Ethernet i GPIB;
Integreaz un nou dispozitiv de msur, de tip osciloscop, prin folosirea a
dou osciloscoape: LeCroy pe o magistral de tip LAN i Tektronix pe o
magistral de tip GPIB;

Testarea unor dispozitive electronice cu sistemul creat, n cadrul unui
productor internaional de componente electrice. Aceste dispozitive sunt de tip:
radar, camer video integrat n suportul oglinzii retrovizoare, detecie a
obstacolelor cu laser.

Capitolul IV. Structura software: algoritmi,
cazuri de testare, particulariti

n acest capitol autorul prezint dou limbaje de programare folosite pentru
controlul sistemelor de testare automat: unul din programe comandnd sistemul
construit de autor, al doilea program comandnd un sistem de tip-ul HiL. Autorul
ncepe prin prezentarea aspectelor specifice mediilor de programare: tipuri de
variabile folosite, tipuri de structuri, posibilitile i constrngerile legate de mediile
de progrmare.
n continuarea capitolului, se prezint interfaa grafic cu operatorul uman,
construit de acesta n LABView, destinat ATS-ului conceput de autor. Cel de-al
doilea mediu de programare are interfaa grafic definit de firma productoare.
n mediile de programare, firmele productoare ofer libertate total
dezvoltatorului pentru a integra algoritmii specifici unei aplicaii. n acest capitol al
tezei de doctorat se prezint contribuiile aduse privind implementarea i
dezvoltarea unor algorimi, destinai selectrii i executrii cazurilor de testare,
precum i structuri ale programului operaional. Toi aceti algoritmi au fost gndii
de autor pentru sisteme de testare automate, avnd rolul de a mbunti i
optimiza performanele acestora. Aceti algoritmi ndeplinesc urmtoarele
caractersitici eseniale: sunt simpli, portabili pot fi folosii cu uurin i n cadrul
altor programe, uor de implementat.
Pentru comanda echipamentelor electronice, autorul dezvolt pe lng
aceti algoritmi i drivere specifice fiecrui aparat. Pentru realizarea acestor drivere
se au n vedere regulile SCPI (Comenzi standard pentru Instrumente
Programabile)pentru comanda echipamentelor destinate aplicaiilor de msur.
Driverele sunt implementate in LABView, versiunea 8.5, i realizate pentru aplicaia
specific de testare destinat ATS-ului dezvoltat de autor.
Pentru validarea algoritmilor si pentru a vedea mbuntirile aduse n acest
capitol, se vor prezenta cazurile de testare implementate i rezultatele obinute, n
cadrul unor proiecte dezvoltate de un productor de componente automotive.

4.1 Medii de programare folosite

Pentru comanda de la distan a sistemelor de testare automate se ntalnesc
mai multe tipuri de programe din care unele sunt niruire de linii de cod,
programare grafic sau o combinaie dintre cele dou. Datorit faptului ca mediile
de programare de tip grafic sunt mai uor de utilizat i de urmrit n timpul
funcionrii, voi aminti dou dintre acestea folosite: ECU Test i LABView. Cele dou
comand dou sisteme de tip diferit: de tip HiL, respectiv de tip ICT.
4.1 Medii de programare folosite 97
Ambele programe au fost folosite pentru dezvoltarea i implementarea de
algoritmi, precum i la implementarea cazurilor de testare i generarea rapoartelor
de testare.
Primul mediu de programare prezentat este ECU-Test, dezvoltat de firma
Tracetronic, funcioneaz dup modelul V important pentru strategia de testare
automotive, i poate fi folosit pentru mai multe tipuri de sisteme de testare
automate MiL, SiL i HiL, acestea fiind prezentatea in figura 4.1 [188]:

Figura 4.1 Integrarea programului ECU-Test n industria automotive [189]

ECU-Test ofer posibilitatea utilizatorului s i creeze propriile configuraii
de testare, datorit faptului c un sistem de tip HiL poate cuprinde mai multe
modele, aceast opiune ajut la alegerea configuraiei optime pentru testare si la
managementul versiunilor [72]. n cadrul acestei configuraii se aleg principalele
programe cu care interfaeaz ECU-Testul i de care are nevoie utilizatorul pentru
crearea i execuia cazurilor de testare. Dintre programele cu care poate interfaa
ECU-Testul , cele care au o importan ridicat n cadrul sistemelor de tip HiL sunt:
dSpace ControlDesk utilizat pentru comanda sistemului de tip HiL;
dSpace ControlDesk Failure Simulation utilizat pentru controlul anumitor
plci dezvoltate pentru provocarea unor diferite tipuri de erori electrice:
scurt circuit la mas, la alimentare, linie ntrerupt;
Vector products CANoe, CANalyzer, CANape utilizate pentru interfaarea
cu ECU-ul;
98 CapIV. Strucutra software: algoritmi, cazuri de testare, particulariti
Quality Management program pentru stocarea si versionarea cazurilor de
testare, a secvenelor de testare i a rezultatelor obinute;
EDIABAS program de diagnoz n cadrul BMW AG;
Python mediu de programare n care pot fi scrise linii de program sub
form de cod.

n figura 4.2 autorul prezint crearea unui caz n cadrul ECU-Test:

Figura 4.2 Crearea cazurilor de testare n ECU-Test

Din figura 4.2 se poate evidenia c ECU-Test este un mediu de programare
grafic n care avem dou ferestre importante din punct de vedere al utilizatorului. n
fereastra Data Viewer se vor regsi principalele instrumente care vor fi folosite la
implementarea cazului de testare. n fereastra 2 Package Editor se creaz cazul de
testare efectiv care va fi salvat sub forma unui pachet. n aceast fereastr se pot
implementa manipulri ale semnalelor CAN, se pot efectua operaii matematice, pot
fi construii algoritmi care returneaz anumite valori, se pot crea algoritmi de
declanare. Metoda de lucru este de tip drag and drop (prinde i elibereaz) din
fereastra 1 n fereastra 2 i crearea unor programe n Python. Metoda drag and drop
presupune prinderea unui bloc grafic n cursorul mouse-ului i eliberarea acestui
bloc n locul dorit n aceeai fereastr sau ntr-o fereastr diferit. Aceste programe
n Python sunt uor de construit, fiind salvate ntr-o bibliotec a ECU Test i putnd

fi apelate n orice moment. Autorul recomand ca la implementarea cazurilor de
testare s se realizeze ntr-un mod structurat pe mai multe blocuri funcionale.
Cazurile de testare construite n acest mod, dar care vor prezenta un defect la
execuie, vor fi depanate mai uor deoarece sursa erorii va fi mai uor de identificat.
Pentru construcia cazului de testare se pot folosi ca n orice limbaj de programare
structuri de tip if, case, for, while, do se pot crea bucle condiionate de variabile.
Variabilele folosite de acest program pot fi locale sau globale, n funcie de necesiti
dar i de diferite tipuri: integer, double, float, text, .a.
Timpul de execuie al unui caz de testare va depinde n foarte mare msur
de cerinele cazului de testare i de abilitatea programatorului de a crea cazul de
testare. La crearea unor cazuri de testare noi, care nu respect un algoritm
predefinit, se introduc timpi de testare suplimentari care contribuie la creterea
timpului total de execuie. Acest lucru nu este de dorit deoarece unele secvene de
testare pot dura pn la 48 de ore. n figura 4.3 se prezint modul de execuie a
unui set de teste cu ajutorul ECU Test.
Se poate observa n figura 4.3 c evaluarea cazurilor de testare se face
imediat, cazurile de testare czute fiind colorate n rou si evaluate cu Failed.
Cazurile de testare cu gri reprezint cazuri de testare care nu sunt relevante pentru
configuraia de testare aleas. Cele cu verde sunt cazurile de testare care reprezint
validarea cerinelor. Rularea unui set de teste poate dura pn la 24 de ore n
funcie de numrul de teste integrate n aceast secven.
Rezultatele obiunute cu acest program pot fi folosite pentru validarea
cerinelor de sistem, recomandarea fiind ca pentru fiecare cerin s fie creat un caz
de testare. Raportarea rezultatelor se poate executa ntr-un fiier de tip .HTML sau
.XML n funcie de preferinele utilizatorului.

Figura 4.3 Mod de execuie a cazurilor de testare cu ECU Test

Al doilea mediu de programare folosit este LABView, produs de National
Instruments, este un mediu de programare grafic, asemntor cu ECU Test al firmei
Tracetronic, dar orientat mai mult pe comanda echipamentelor electronice. LabView
ca mediu de programare, dispune de o gam larg de posibiliti de analiz, utile
ntr-o gam larg de aplicaii potrivite pentru industria automotive. Programul poate
fi folosit pentru comanda unor sisteme de testare automat de tip ICT fiind orientat
mai mult nspre partea de testare automat la nivel de component (hardware +
software)[66][103][110][116][118][142].
Motivele care stau la baza utilizrii mediului de programare LabView, n
aplicaiile de testare, sunt:
Modalitatea simplist de construcie a unei interfee cu utilizatorul,
ergonomic si cu aspect profesional;
Un numr foarte mare de funcii cu ajutorul crora se pot prelucra iruri
de caractere, iruri de numere, operaii cu matrici din algebra liniar i
pn la proceduri avansate din matematic de calcul probabilistic, sau
de analize Fourier;
Simplitatea realizrii unor rapoarte i prezentarea n form profesional
a rezultatelor, realizeaz principalul candidat pentru nlocuirea mediilor
de programare tradiionale.
n figura 4.4 autorul prezint cele dou ferestre componente ale
programului LABView: Front Panel i Bloc Diagram. ntraga aplicaie se va comonda
din panoul frontal, aici existnd intrumente de control i monitorizare identice cu
cele din laborator, nfind intrrile i ieirile sistemului pentru operaii interactive.
n fereastra Diagram Bloc se va construi programul executabil, aici realizndu-se
toate prelucrrile de date din program. Practic aceste dou ferestre vor ajuta la
realizarea i implementarea cazurilor de testare cu ajutorul programului LABView.

Figura 4.4 Mediu de programare LABView

Programul LABView lucreaz cu instrumente virtuale, fiecare comand sau
aciune fiind salvat in aplicaii de tip instrumente virtuale. ntr-un instrument
virtual pot fi integrate mai multe VI-uri, iar la momentul rulrii se va intra in

instrumentul virtual , se vor executa operaiunile din acesta iar la ieire vor fi livrate
rezultatele prelucrrilor. LABView lucreaz cu structuri ierarhizate. n practic orice
instrument virtual poate fi apelat n funcie de poziionarea acestuia n cadrul
ferestrei Bloc Diagram a instrumentului imediat superior. Fiecare instrument virtual
va dispune de cele dou ferestre. Modul de execuie n LABView este de la stnga la
dreapta i de sus n jos, dar pentru ca programul sa fie ct mai lizibil autorul
recomand utilizarea csuelor de comentariu. Cu ajutorul acestora depanarea
instrumentului virtual poate fi efectuat mai uor.
Instrumentele virtuale se construiesc pe baza structurilor logice ce exist in
LABView, prezentate n figura 4.5:

Figura 4.5 Structuri logice folosite n LABView

n figura 4.5 pot fi observate structurile predefinite de cei de la National
Instruments, care sunt folosite la construcia instrumentelor virtuale. Aceste
structuri sunt mprite pe mai multe categorii, fiecare categorie fiind denumit
sugestiv:
Programming: include structuri de tip: bucl, for, while loop, structur
temporal, case, event, structuri unde se pot scrie scripturi matematice.
Aceasta este cea mai utilizat palet a programului LABView deoarece aici
se regsesc i variabilele de intrare de tip: integer, numerice, iruri de
caractere, vectori uni dimnesionali sau multi dimensionali, ferestre de
interogare a utilizatorului, operatori matematici, precum i alte funcii
necesare dezvoltrii algoritmilor. Acestea vin n ajutorul utilizatorului pentru
crearea algoritmilor destinai diferitelor aplicaii dar ntr-o form grafic;
Measurement I/O: cuprinde posibilitatea de preluare a unor semnale cu
ajutorul unor plci de achiziie. n anumite situaii aceste instrumente pot fi
folosite pentru monitorizarea anumitor senzori sau parametrii exteriori;
Instrument I/O: n aceast structur se regasesc driverele necesare
comandrii de la distan a unor echipamente electronice. n cazul n care
driverele oferite de cei de la National Insturments nu ndeplinesc cerinele
utilizatorului acestea pot fi dezvoltate i salvate sub forma instrumentelor
virtuale pe baza a ceea ce exist sau pe baza manualului utilizatorului unde
se regsesc comenzile SCPI;
Mathematics: cu ajutorul acestei structuri se pot gsi toate operaiile
matematice suportate de mediul de dezvoltare LABView. n structura
programming pot fi regsii operatorii matematici simpli iar aici pot fi
regsii operatori matematici mai complexi. LABView ofer posibilitatea de
efectuare a unor operaii de interpolare, de integrare, de derivare, .a.;
Signal Processing: util n momentul n care se dorete procesarea unor
semnale. Pot fi executate operaii de tipul unor transformate Fourier,
generare de semnale sinusoidale, triunghiulare, dreptunghiulare sau cu
form aleatoare, pot fi executate operaii ntre anumite semnale;
Data Communication: funcii cu ajutorul crora se realizeaz conectarea la
distan cu diferite dispozitive;
Conectivity: se poate realiza conexiunea cu diferite aplicaii sau chiar cu alte
programe de pe calculator.
Crearea unor aplicaii n LABView este accesibil i eficace din punct de
vedere al timpului investit deoarece LABView ofer i posibilitatea de depanare pas
cu pas. Aceasta poate conduce la ntelegerea unei greeli de programare existente
n structura actual. Posibilitatea de interfaare cu alte medii de programare:
MATLAB, C, SIMULINK, ECU Test dar i altele, face din LABView un mediu de
dezvoltare competitiv, ideal unor aplicaii din domeniul automotive. Raportarea
rezultatelor este lsat de cei de la National Instruments la latitudinea utilizatorului,
acesta avnd posibilitatea s prezinte rezultate sub form grapfic 2D sau 3D, sub
form tabelar, sau sub forma unei ferestre, care confirm ncheierea testului cu
succes. O alt opiune interesant pentru sistemul de testare automat, dezvoltat
de autor, este posibilitatea de salvare a rezultatelor sub forma mai multor tipuri de
fiiere de tip: .dat, .doc, .xls, .xlm. Astfel rezultatele obinute n urma testrii pot fi
integrate cu uurin n rapoartele oficiale sau pot fi integrate direct din LABView
ntr-un raport oficial.

Ambele medii de programare utilizate pentru comanda diferitelor sisteme de
testare automat, din punct de vedere al autorului, sunt puternice datorit faptului
c pot interaciona att de bine cu diferite programare create de ali productori,
deservind n final interesele autorului sau utilizatorului pentru numeroase aplicaii
4.2 Interfaa grafic 103

din cadrul automotive. Datorit faptului c ambele medii de programare sunt de tip
grafic implementarea cazurilor de testare se realizeaz uor, eficient din punct de
vedere a timpului i nu n ultimul rnd uor de depanat n cazul unor greeli de
logic. Execuia cazurilor de testare este oarecum asemntoare n cazul acestor
dou programe, deoarece n ambele medii se pot rula cazuri de testare izolate sau
seturi de teste. Selecia cazurilor de testare difer, n mediul LABView autorul fiind
nevoit s implementeze un algoritm utilizat pentru selecia cazurilor de testare, in
timp ce mediul ECU Test ofer posibilitatea construirii unor secvene de testare de
tip drag and drop, mod simplist i eficient. Raportarea rezultatelor n urma execuiei
cazurilor de testare este mai variat n cazul mediului de dezvoltare LABView oferind
un plus din acest punct de vedere.

4.2 Interfaa grafic

n toate sistemele de testare automat din industria automotive exist
interfaa grafic necesar interacionrii dintre operatorul uman i sistemul.
Interfaa grafica, n englez sub denumirea de GUI graphical user interface, ofer
utilizatorului posibilitatea de comandare a unor echipamente electronice de tipul
aparate de msur, sisteme de achiziii, camere climatice, surse de tensiune dar i a
altor operaii de tipul: ci pentru salvarea rezultatelor, informaii legate de utilizator,
informaii legate de temperatur, etc.
Interfaa grafic poate conine att date de intrare ct i date de ieire, dar
pe lng acestea mai poate conine informaii suplimentare organizate sub forma
unor meniuri, sau a unor liste cu posibilitate de ascundere. Totodat din interfaa
grafic, daca este nevoie, trebuie s existe posibilitatea de ncrcare a unor fiiere
necesare pentru buna funcionare a sistemului de testare automat. Cu ajutorul
interfeei grafice se pot observa conexiunile sau starea unor echipamente
electronice, componente ale sistemului de testare automat, dar tot de aici pot fi i
selectate.
Proprietile ce trebuiesc ndeplinite de GUI sunt:
Interfaa trebuie s fie ct mai prietenoas cu utilizatorul sistemului de
testare automat;
Trebuie s fie construit ntr-un mod simplist, variabilele de intrare fiind
uor de intuit;
Aduna informaiile necesare despre operatorul care va efectua testarea,
pentru domeniul automotive acestea fiind: nume, prenume, departament,
numele proiectului, numele mostrei sau a ECU-ului testat, versiunea de soft
de pe ECU, temperatura mediului ambiant, numele proiectului, aparate
utilizate;
Ofer posibilitatea de selecie a cazurilor de testare ce vor urma executate;
Posibilitatea de selecie a aparturii necesare testrii;
Ofere posibilitatea salvrii unui raport de testare;
S existe posibilitatea de oprire imediat a cazurilor de testare n cazuri de
urgen;
S poat prezenta rezultatele unui test imediat pe un panou de ieire n
form numeric sau grafic.
Pentru echipamentul de testare conceput n aceast tez am construit o
interfa grafic care s respecte cerinele de mai sus. Interfaa grafic dezvoltat
de autor este prezentat n figura 4.6. Aceast interfaa datorit faptului c se
dorete a fi folosit i n cadrul altor proiecte, va purta un nume generic, datele
necesare proiectului fiind colectate n interiorul interfeei. Din figura 4.6 se poate
observa simplitatea interfeei grafice, majoritatea comenzilor fiind intuitive si
denumite sugestiv.
Oprirea tensiunii de alimentare se poate realiza prin apsarea butonului Power OFF,
selecia aparaturii necesare testrii fiind realizat cu butoanele din stnga imaginii.
n mijlocul imaginii se ofer informaii legate de proiect, tester i aparatura
necesar, iar n dreapta imaginii sunt adunate informaiile necesare pentru
documentarea cazurilor de testare.
Butonul de Select Test prin apsare va deschide o fereastr de tip pop-up, n
care sunt denumite testele posibile de implementat n structura ATS-ului prezentat
n aceast lucrare. Fereastra de tip pop-up este prezentat n figura 4.7.

Figura 4.6 Interfaa grafic dezvoltat n LABView (GUI)

4.2 Interfaa grafic 105

Figura 4.7 Fereastra Pop-up: Selecia cazurilor de testare

Aceste dou figuri, 4.6 i 4.7, reprezint GUI-ul implementat n cadrul unui
proiect de testare automat, sistem folosit pentru testarea unui ECU dezvoltat n
unitatea de cercetare dezvoltare a unui productor de componente automotive. Am
creat fereastra pop-up deoarece nu exist alt modalitate n cadrul programului
LABView de selectare a cazurilor de testare ce urmeaz a fi executate. Prin
implementarea acestei ferestre autorul poate selecta unul sau mai multe cazuri de
testare ce urmeaz a fi executate.
Pentru programul ECU Test nu a fost necesar dezvoltarea unei interfee
grafice deoarece dispune de o interfa predefinit . Practic figura 4.2 reprezint
interfaa grafic a programului ECU Test care va fi folosit i la selecia cazurilor de
testare, la dezvoltarea acestora i la vizualizarea rezultatelor.

n mediul de programare LABView aceste operaiuni trebuiesc dezvoltate de cel care
dezvolt aplicaia.

4.3 Algoritmii programului operaional

Sistemul de testare automat este compus n general din dou pri, una
hardware i una software, cele dou fiind n strns legtur i contribuind la
performanele i eficiena ATS-ului. Trecerea echipamentului de msur n modul de
control de la distan, setarea anumitor parametrii precum i anumite decizii privind
comportamentul software-ului sunt legate de algoritmii implementai n programul
operaional [21]. Autorul a elaborat pentru acest sistem de testare automat
algoritmi care s aduc o mbuntire a execuiei cazurilor de testare, mrind
eficiena acestuia. Algoritmii sunt implementai n cele dou medii de programare
grafice, LABView si ECU Test. n primul mediu de programare grafic, libertatea de
implementare a unor algoritmi specifici acestor aplicaii de testare automat este
mai ridicat, putnd fi implementai algoritmi de la zero. n cel de-al doilea mediu
de programare grafic, exist anumite constrngeri referitoare la modul de execuie
a cazurilor de testare precum i de selecia acestora.
n urma unei analize aprofundate [30][45][125][167][169][171][173][175]
[178][179][197][202] autorul a dezvoltat:
Pentru sistemele de tip ICT, cu mediul de programare LABView au fost
dezvoltai urmtorii algoritmi: algoritmul programului funcional, algoritmul
de protecie mpotriva unor erori electrice nedorite (overvoltage sau
undervoltage), algoritm de selecie a cazurilor de testare, algoritm de citire
a unor parametri din fiiere externe, algoritm de executare a cazurilor de
testare, algoritmi de scriere a rezultatelor n fiiere externe.
Pentru sistemele de tip HIL, autorul a dezvoltat algoritmul de executare a
cazurilor de testare funcionale precum i a cazurilor de testare de tip
rspuns la impuls sau a unor efecte perturbatoare.
n figura 4.8 este prezentat schema logic a software-ului operaional al
sistemului de testare automat, implementat de autor n cadrul unui productor
automotive i folosit cu succes pentru validarea ECU-urilor a diferitelor proiecte ale
productorului. Algoritmul este compus din mai muli pai eseniali pentru o
funcionare corespunztoare.
Pentru a porni aplicaia de testare automat, utilizatorul este nevoit sa
apese n GUI butonul de selectare a testelor. Acest buton va deschide fereastra pop-
up descris mai sus, i va permite utilziatorului selectarea testelor ce urmeaz a fi
executate.
4.3 Algoritmii programului operaional 107

Figura 4.8 Algoritmul programului operaional
Pentru a fi sigur c sistemul este adus ntr-o stare cunoscut, se recomand
iniializarea sistemului la nceputul aplicaiei, aceasta aducnd sistemul n stare
default cnd ECU-ul nu are tensiune de alimentare. Sistemul n funcie de aparatele
selectate pe interfaa prezentat mai sus, le va iniializa doar pe acestea selectate,
celelalte nefiind trecute n stare de comand la distan remote controlled. De
exemplu pentru unitatea de routare, n algoritmul de iniializare toate releele vor fi
trecute n stare deschis, sursa de alimentare va avea ieirea dezactivat, iar
aparatele de msur nu vor efectua nici o msurtoare.
Pentru selectarea cazurilor ce vor fi executate, autorul creaz un vector
unidimensional. n acest vector se vor stoca toate cazurile de testare selectate din
fereastra pop-up, prezentat n figura 4.7. La apsarea butonului OK, nsemnnd c
toate cazurile de testare dorite au fost selectate, se va trece la executarea acestora
dup algoritmul implementat de autor i prezentat n figura 4.9. Acest algoritm va
citi prima valoare a vectorului, iar dac aceasta este 0 nseamn c nici un caz de
testare nu a fost selectat. Programul va reveni n fereastra principala fiind nevoie de
o nou apsare a butonului de selectare a cazurilor de testare. Dac valoarea citit
din vector va avea valoare diferit, aceast valoarea va reprezenta numrul/numele
cazului de testare implementat. Prin nceperea unui caz de testare nou se va
executa o resetare de parametri pentru fiecare aparat implicat n cazul de testare.
Astfel se asigur condiiile unei testri adecvate, iar aparatele vor fi aduse n starea
recomandat de productorul de echipamente. Variabilele necesare pentru
evaluarea rezultatelor numerice vor fi trecute pe valoarea 0, astfel nct rezultatul
s nu fie comparat cu o variabil anterioar. Dac unul din echipamente sau din
variabile nu poate fi resetat/ atunci programul se oprete imediat din motive de
siguran i de prevenire a unor defeciuni. Dac operaiunile de mai sus au fost
ncheiate cu succes atunci programul trece mai departe i va seta parametrii
necesari aparatelor pentru efectuarea testului. Prin setarea parametrilor practic se
creaz setup-ul de msur necesar executrii cazului de testare. Prin setup de
msur se va ntelege, de exemplu, tensiunea de alimentare a ECU-ului setat pe
14 V, ieirea sursei de alimentare s fie activ, activarea DMM-ului pentru a msura
o rezisten, tensiune, curent, frecven sau alt domeniu de msur posibil,
activarea canalelor osciloscopului necesare msurrii a unui sau a mai multor
parametrii pentru un semnal electric sau mai multe semnale, maxim 4 deoarece 4
este numrul de canale ale tipurilor de osciloscop integrate n acest ATS, dac este
nevoie de setarea unor forme de und prin intermediul generatorului de funcii, .a.
n momentul n care sursa de alimentare cu tensiune continu va avea
ieirea activ, algoritmul va executa secven de protecie OVP sau OVC. Aceste
secvene create au rolul de protecie la supratensiune OVP sau la supracurent
OVC. n acest mod ECU-ul este protejat fiind limitate daunele ulterioare ce pot avea
loc. n laboratoarele de cercetare dezvoltare numrul dispozitivelor supuse testrii
este limitat, costurile pentru producerea acestora fiind foarte ridicate, astfel autorul
recomandnd ca aceste secvene s fie folosite ca msuri de protecie suplimentare.
Secvena implementat n tez pentru protecie la supratensiune va citi valoarea
tensiunii de alimentare a ECU-ului i valoarea curentului de la intrare, dac valoarea

curentului de la intarea ECU-ului este 0 atunci ECU-ul este n protecie de tensiune.
Dac tensiunea este mic i valoarea curentului este mare atunci ECU-ul este n
protecie de supracurent. Dac programul intra n una din cele dou protecii, acesta
va fi oprit iar tensiunea i curentul vor fi afiate n fereastra de rezultate, fiind
semnalat prezena unei nereguli.
Neactivarea unei protecii de tipul celor prezentate mai sus are ca rezultat
nceperea efectiv a cazurilor de testare. Efectuarea cazurilor de testare are loc
dup algoritmul definit de autor la implementarea cazurilor de testare. Algoritmii
cazurilor de testare dezvoltai de autor sunt unici pentru fiecare caz n parte, dar
pot fi folosii n aplicaii similare.
Dup executarea cazurilor de testare, rezultatele pot fi prelucrate n cadrul
programului LABView, dac este nevoie de acest lucru sau rezultatele pot fi
comparate dup metoda Boundry, compararea valorii msurate cu limitele inferioare
respectiv superioare. Depirea acestor limite va nsemna punerea cazului de
testare pe valoare eronat Failed, semnalnd utilizatorul c acest caz de testare
trebuie analizat. Dac n timpul executrii cazului de testare este apsat butonul de
STOP de pe GUI, programul va fi oprit imediat iar echipamentele vor fi resetate,
ECU-ul rmnnd fr tensiune de alimentare.
Resetarea echipamentelor va avea loc i dup prelucrarea rezultatelor, la
ncheierea cazului de testare. n acest mod se evit posibilitatea de apariie a unor
comportamente nedorite a ECU-ului sau a aparatelor ATS-ului.
Dup resetarea aparatelor se efectueaz o evaluare a cazurilor de testare ce
trebuiesc efectuate. Dac nu mai exist cazuri de testare ce trebuiesc efectuate,
atunci sistemul se ntoarce n fereastra principal genernd un raport de testare. n
cazul n care mai exist cazuri de testare ce trebuiesc efectuate, numrul cazului de
testare va fi ters din vector, i va fi citit urmtorul caz de testare. Executarea
noului caz va fi identic cu algoritmul descris n figura 4.9.
Acei pai vor fi parcuri pn n momentul cnd vectorul va avea valoarea
0, n acel moment fiind generat raportul de testare care va include toate rezultatele
cazurilor de testare executate de la nceputul secvenei.
n algoritm exist posibilitatea ca utilizatorul s nu doreasc generarea unui
raport de testare, n acest caz rezultate msurtorilor fiind afiate n fereastra de
rezultate din fereastra principal a aplicaiei. n general atunci cnd se dorete
implementarea unor noi cazuri de testare, sau se dorete o validare rapid din
diferite motive, generarea unui raport de testare nu este util sau nedorit fiind
suficient afiarea rezultatelor n panoul frontal. Rapoartele de testare pot fi salvate
sub diferite tipuri de fiier de tip .dat, .pdf sau alt format suportat de Microsoft
Office.
Algoritmii dezvoltai i testai pot fi folosii i la dezvoltarea altor aplicaii
similare cu cea descris n aceast lucrare.

Figura4.9 Algoritm pentru execuia unui caz de testare

Pentru sistemele de tip HiL, algoritmul programului operaional este definit
de firma productoare de software, contribuiile autorului fiind la nivelul structurii
cazurilor de testare. Au fost create dou tipuri de teste a cror structur este
prezentat n figurile 4.10, respectiv 4.11. Parcurgnd paii menionai n aceste
organigrame s-au efectuat 200 de teste de tip FT i 400 de teste de tip FRT. Aceste
teste verific funcionalaitile ECU-ului ntr-un mediu simulat, asemntor cu cel al
autovehicolului real. Deoarece la proiectarea funcionalitilor sunt ateptate
anumite reacii ale sistemului n urma unor evenimente, prin cazurile de testare se
verific c ECU-ul reacioneaz cum a fost proiectat n cadrul sistemului simulat fiind
ultima etap nainte de echiparea autoturismelor supuse testrii.
Un exemplu de caz funcional este acela al trimiterii comenzii de oprire a
motorului cu combustie al autoturismului n cazul n care pedala de frn este
apasat pentru mai mult de 3s iar turaia turbinei scade sub un anumit nivel.

Figura 4.10 Structur pentru cazurile funcionale FT

Pentru cazurile de testare de tip FRT, un exemplu poate fi scurt-circuitatea
pinului de comunicaie CAN la mas sau la tensiunea de alimentare. n acest caz
diagnoza trebuie s fie activ, funciile principale ale mainii sunt trecute pe CAN-ul
de urgen iar n memoria calculatorului se stocheaz un cod de eroare permanent.
Acest cod de eroare rmne activ n memorie pn la ndeprtarea sursei de eroare,
dup ndeprtare fiind trecut inactiv. tergerea definitiv poate fi efectuat doar cu
diagnoza original.

Figura 4.11 Algoritm / Structur pentru cazurile de reacie la stimuli FRT

CI = Condiii iniiale
MP=memorie primar
MS= memorie secundar
Cazurile de testare noi implementate vor respecta algoritmii cadru
prezentai n figurile 4.10 si 4.11. Folosirea algoritmilor cadru prezentai vor
conduce la un mod de lucru structurat, cu pai bine definii, scrierea specificaiilor
de testare devine mai simplist, fiind asigurate condiiile cadru pentru test.
Automatizarea cazurilor de testare devine mai uoar folosind aceste structuri,
deoarece pot fi definite dou template-uri pentru cazurile de testare, FT respectiv
FRT, care ulterior pot fi modificate corespunztor cerinelor din specificaii.
Nerespectarea structurii prezentate in figura 4.11, pentru cazurile de testare FRT,
poate conduce la interpretri eronate a rezultatelor. n cazul n care nu se dorete

citirea unei memorii n urma diagnozei pasul se poate sri prin introducerea valorii
de None la rezutlate asteptate.
Am creat , cu ajutorul programului ECU Test, o librrie cu toate pachetele
funcionale necesare crerii cazurilor de testare prezentate mai sus. Ideea de baz a
aceste librri, idee care aparine autorului, este ca pachetele s fie dezvoltate ntr-
un mod n care pot fi folosite pentru mai multe configuraii simultan. Dac la nceput
fiecare ECU avea o librrie proprie, dup construirea acestei librri, 3 ECU-uri aveau
librrie comun. Rezultatul acestei librrii comune va fi timpul economisit pentru
dezvoltarea unei librrii noi pentru fiecare ECU nou, astfel rezultnd o reducere a
costurilor cu procesul de automatizare a cazurilor de testare. Pentru dezvoltarea
unei noi librri destinate unui nou ECU sunt nevoie de aproximativ 400 de ore, din
care aproximativ 320 vor fi economiste. 80 de ore vor fi folosite pentru validarea
tuturor funciilor din librrie, n cazul gsirii anumitor erori acestea vor fi rezolvate n
numrul de ore alocat, erorile fiind de ordin minor. Costul de dezvoltare pe ora este
de 60, rezultnd o reducere a costurilor de 19.200. Librria creat de autor a fost
folosit pentru 3 ECU-uri, rezultnd o economie total de 57.600. Mai mult folosind
aceast librrie, dezvoltat de autor, mpreun cu structurile prezentate, n figurile
4.10 i 4.11, pot conduce la o reducere a timpului total de lucru la aproximativ 60%
din timpul total. Acest lucru este posibil deoarece i cazurile de testare pot fi
preluate i modificate coprespunztor cu noile cerine. Exemple de modificri ce
trebuiesc efectuate: se ateapt un nou cod n memoria primar sau n memoria
secundar, se ncarc un alt fiier de diagnoz, se schimb codul de avertizare.
Autorul a lucrat cu echipa de dezvoltare a modelului pentru ca mpreun s
poat fi dezvoltat un sistem de testare automat, uor adaptabil la noi cerine. O
modificare esenial efectuat mpreun cu echipa de dezvoltare a fost manipularea
anumitor funcii prin ID-uri specifice, aceasta a dus la crearea fiierelor de mapare a
semnalelor unei configuraii, cu meniunea c ID-urile sunt identice n fiecare fiier.
ID-urile reprezint o identitate unic atribuit unui semnal ntr-un fiier de mapare,
n schimb semnalele pot fi denumite altfel dar avnd aceai funcionalitate.
Manipularea unui semnal se poate realiza n orice configuraie prin apelarea ID-ului
unic. De exemplu CTRL_CC_MEM_DIS este legat prin fiierul de mapare la 7
semnale distincte, din configuraii distincte. Dac se dorete citirea valorii
semnalului, este suficient citirea acestui ID. Pentru a nelege mai bine cum
funcioneaz programul cu fiierele de mapare este prezentat figura 4.12.
Practic figura 4.12 arat c programul ECU Test la rularea unui caz de
testare ofer posibilitatea de citire sau scriere a unui semnal, semnal apelat printr-
un ID unic dintr-un fiier global de mapare sau a unui fiier de mapare local n cazul
de testare. Dac ID-ul corespunde unui fiier global atunci se va trece la pasul
urmtor i se va identifica baza de semnale respectiv n funcie de linia de produs
aleas.

Figura 4.12 Conexiune ECU Test cu fiierele de mapare

4.4 Drivere pentru echipamentele HW

n acest paragraf, autorul prezint implementarea driverelor specifice
aparaturii folosite pentru construcia sistemului de testare automat, prezentat n
aceast lucrare. Construcia driverelor este necesar pentru a putea controla
echipamantele electronice n cadrul aplicaiei de testare n modul dorit de utilizator.
n tez se prezint driverele construite de autor n procesul de testare, folosind
manualele de utilizare ale firmei Agilent, manuale n care se afl comenzile SCPI
(comenzile standard pentru programarea instrumentelor) corespunztoare [56][126-
140][142][149][150][154][159][186][198][199]. Driverele reprezint integrarea n
software a comenzilor de natur software pentru comanda echipamentelor hardware
de la distan, comand care permite pregtirea echipamentelor ntr-o stare
necesar pentru un anumit test. Prin intermediul driverelor se pot modifica parmetrii
de intrare sau ieire, n funcie de caz, a echipamentelor electronice. Driverele
construite n cadrul acestei teze sunt:
Driver pentru multimetrul digital;
Driver pentru unitatea de routare;
Driver pentru generatorul de funcii;
Baza de
semnale
Linie de
produs
Fiiere
de
mapare
Caz de
Testare
Apelare
ID semnal
Globale
PL6
CAN
DB1
PL7
CAN
DB2
Locale PL6
CAN
DB6
4.4 Drivere pentru echipamentele HW 115

Drivere pentru aparatele de tip osciloscop pentru setarea bazei de timp, a
parametrilor de canal, a condiiilor de declanare, a setrii panoului frontal,
a citirii anumitor msurtori;
Driver pentru sursa de alimentare;
Principiul de funcionare al driverelor implementate de autor este urmtorul:
trimiterea unei comenzi sub forma unui vector unidimensional din panoul frontal
(sau fiier excel), citirea celulelor vectorului unidimensional i atribuirea fiecrei
celule pentru o comand bine definit.
Astfel pentru DMM (multimetru digital), autorul a creat driver-ul prezentat n
figura 4.13.

Figura 4.13 Driver pentur DMM-ul Agilent 34410A

Dup cum se poate observa n figura 4.13 driverul acesta va citi comanda
principala, care va avea o structur de genul: Nume semnal, Test point, Limit
inferioar, limit superioar, unitate de msur, numrul releului ce trebuie nchis i
deschis. Astfel la nceputul testului releul corespunztor pentru un semnal este
acionat n poziie nchis, se efectueaz msurtoarea dorit pe domeniul necesar
parametrului msurat, se compar aceast valoare msurat cu limitele superioar
respectiv inferioar dup care se acioneaz n poziia deschis releul corespunztor
iar valoarea mpreun cu evaluarea valorii msurate se scriu ntr-un raport de
testare. n acest mod, se va executa o msurtoare complet cu aparatul de
msurat Agilent 34410A, iar prin acionarea releului pe poziia nchis respectiv
deschis de la nceputul i sfritul testului se vor asigura condiiile de protecie la
scurt pe ieirea unitii de multiplexare Agilent 34907A.

Pentru unitatea de routare, driverele sunt mult mai simple deoarece la
aceast unitate releele sunt acionate pe cele dou stri: nchis respectiv deschis.
Driverul implementat este prezentat n figura 4.14. Pentru comanda unui releu pe
poziia nchis este nevoie de trimiterea unei comenzi de tipul: Close 101, prin
aceast comand programul ntelegnd s acioneze releul 101 pe poziia nchis.

Figura 4.14 Driverul pentru unitatea de routare

Pentru generatorul de funcii, driverul implementat este prezentat n figura
4.15. Acest driver are posibilitatea de:
selectare a impendanei de ieire: HiZ sau 50;
selectarea formei de und generate;
Amplitudinea;
Offset-ul;
Frecvena;
Symetria;
Activarea ieirii;
Activarea unui Puls.

Figura 4.15a Comanda trimis de dezvoltator pentru configurarea FG-ului

Figura 4.15b Driverul care demultiplexeaz linia de comand a FG-ului

n figura 4.16 este prezentat modalitatea de alegere a unei forme de und
cu ajutorul unui VI, deoarece formatul de tip text nu este acceptat, autorul
realizeaz o conversie a textului ntr-un numr numit ID, ID atribuit fiecrei forme
de und posibil a fi generat.

Figura 4.16 Atribuirea de ID pentru formele de und posibile a fi generate cu FG-ul

Deoarece n cadrul cazurilor de testare este nevoie de generarea unui
semnal modulat autorul a implementat urmtorul driver pentru generarea acestor
tipuri de semnale, prezentat n figura 4.17.

Figura 4.17a Comanda din panoul frontal pentru generarea semnalelor modulate cu
generatorul de funcii

Figura 4.17b Implementarea n diagrama bloc a comenzilor SCPI
pentru generarea semnalelor modulate cu generatorul de funcii

Comanda ce trebuie transmis cu acest driver are urmtoarea form: Tipul
modulaiei (AM modulaie n amplitudine / FM modulaie n frecven, Activarea
modulaiei, semnalul modulator intern sau extern, forma semnalului modulator,
frecvena sau amplitudinea semnalului modulator).

Acest ATS poate comanda 2 tipuri de osciloscop, Textronix i LeCroy. Pentru
fiecare din cele dou aparate de msur, autorul a creat linii de comand adaptate
aplicaiei de testare automate [57][114].
Astfel, pentru osciloscopul LeCroy autorul a realizat urmtoarea linie de
comand, utilizat pentru configurarea canalelor osciloscopului:
Numele canalului Channel1, Channel2, Channel3 sau Channel4; Activarea
canalului On/Off; Cuplajul Canalului DC1M, AC1M, DC50, AC; Amplitudinea
verticala pe diviziune introdus manual de autor 1V, 2V, 5V, 10V sau subuniti
ale acesteia; Offeset-ul canalului necesar pentru poziionarea pe ecran a semnalului
electric; Limea de band; Atenuarea probei de msur.
n figura 4.18 este prezentat linia de comand trimis pentru setarea
parametrilor, precum i implementarea n mediul LABView pentru aplicaia de
testare.

Figura4.18a Linia de comand trimis pentru configurarea osciloscopului LeCroy

Figura 4.18b Interpretarea liniei de comand n diagrama bloc pentru setarea osciloscopului
Lecroy


Pentru setarea bazei de timp a osciloscopului LeCroy, linia de comand
conform liniei de cod SCPI este:
Timpul bazei de timp ct nsumeaz ntregul ecran al osciloscopului;
Poziia de unde va ncepe trigger-ul; Numrul de puncte care compun imaginea.
Astfel n figura 4.19 se vor prezenta linia de comand implementat pentru
configurarea bazei de timp a osciloscopului precum i interpretarea acesteia cu
ajutorul aplicaiei LABView.

Figura 4.19a Linia de comand trimis pentru configurarea bazei de timp a osciloscopului
LeCroy

Figura 4.19b Interpretarea liniei de comand pentru configurarea bazei de timp a
osiloscopului LeCroy

Pentru a vizualiza o form de und, dup nite condiii prestabilite, este
nevoie de configurarea condiiilor de declanare (de triggerare) ale osciloscopului
pentru oscilografiere. Aceste condiii fac ca semnalele electrice s apar pe ecranul
osciloscopului numai dup ndeplinirea acestora. Un exemplu, al condiiilor de
declanare, este: declaneaz achiziia singular atunci cnd semnalul electric de pe
canalul 1 este pe front negativ la 2.5V iar canalul 2 este pe front pozitiv la 1.75V.
Linia de comand pentru condiia de triggerare, din figura 4.20a, este de forma:
modul de triggerare Auto, normal, single sau Stop; Sursa canalului pe care se face
trigger Channel1, Channel2, Channel3, Channel4 sau Linie Extern; Nivelul de
tensiune al semnalului valoare introdus de utilizator cu meniunea c nu trebuie
s depeasc valoarea semnalului pentru a fi active condiiile de declanare;

Frontul pe care sunt active condiiile de declanare front cresctor sau front
cztor; Cuplarea cuplaj AC sau DC; Modul de reinere; Dac modul de reinere
este n funcie de timp se va aduga valoarea timpului de Holdoff. n figura 4.20b
este prezentat implementarea n LABView a interpretrii liniei de comand.

Figura 4.20 a Linia de comand trimis pentru configurarea
condiiilor de declanare n cazul osciloscopului LeCroy

Figura 4.20b Interpretarea linie de comand pentru configurarea condiiilor de declanare n
cazul osciloscopului LeCroy

Pentru a realiza mai uor unele configuraii de msurare s-a folosit opiunea
de salvare a osciloscopului a setrilor existente pe panoul frontal. Prin aceste fiiere
salvate pe osciloscop exist posibilitatea ca aceast salvare s fie apelat i utilizat

ntr-un timp foarte scurt. Din manualul de utilizare, s-au folosit comenzile STPN i
RCPN (STPN = store front pannel configuration, respectiv RCPN = recall front pannel
configuration) care au fost introduse n linia de comand pentru salvarea sau
apelarea configuraiei panoului frontal al osciloscopului. n linia de comand trebuie
inclus n a doua celul calea ctre locul unde a fost configuraia salvat.
n figura 4.21 se prezint linia de comand implementat de autor pentru
salvarea configuraiei panoului frontal precum i interpretarea acesteia n aplicaia
de testare.

Figura 4.21a Linia de comand trimis pentru apelarea
panoului frontal al osciloscopului LeCroy

Figura 4.21b Interpretarea liniei de comand pentru apelarea
panoului frontal al osciloscopului LeCroy

Dup configurarea bazei de timp, a condiiilor de declanare sau apelarea
unei anumite configuraii pentru panoul frontal, se implementeaz o modalitate de
citire a parametrilor pentru semnalele electrice de pe unul din cele patru canale ale
osciloscopului LeCroy. n figura 4.22 se prezint linia de comand ce este transmis
pentru msurarea unui parametru de pe un canal al osciloscopului LeCroy, precum
i modalitatea de interpretare a acestei linii de comand n cadrul aplicaiei de
testare. n cadrul programului LABView va fi citit fiecare celul a vectorului
unidemensional, citirea fiind transformat n linii de cod transmise echipamentului
hardware. Ca exemplu: din figura 4.22a se citete poziia 2 i 3, care reprezint o
msurtoare de un anumit tip, pentru exemplu vom alege Base de pe canalul 1,
astfel programul LABView va trimite prin intermediul interfeei GPIB urmtoarea
linie de comand conform standardului SCPI: READ MEASurement BASE CHannel 1;
Rspunsul aparatului va fi prelucrat n programul LABVIew n conformitate cu restul
liniei de comand: atribuirea unui nume pentru semnalul electric, citirea limitelor

inferioare i superioare ale msurtorii, compararea cu aceasta limit i prezentarea
rezultatului: Failed sau Passed ( neacceptat sau acceptat ).

Figura 4.22 a Linia de comand pentru msurarea unui parametru electric al semnalelor
prezente pe unul din cele 4 canale ale osciloscopului LeCroy

Dup cum se poate observa din figura 4.22 cu acest driver se pot efectua
mai multe tipuri de msurri ale parametrilor electrici prezeni la intrarea celor 4
canale ale osciloscopului LeCroy. Precizeaz c este necesar trimiterea unei linii de
comand pentru citirea unui parametru al semnalului electric de pe un anumit canal.
Astfel dac se dorete msurarea frecvenei pentru semnalele electrice achiziionate
la intrarea celor 4 canale ale osciloscopului, va fi nevoie de trimiterea a 4 linii de
comand precum n figura 4.23.
Autorul a integrat chiar i posibilitatea de a msura diferena dintre
cursoare, aceasta diferena fiind util n cazul unor cazuri de testare.
Osciloscopul Tektronix DPO2000 are nevoie de folosirea driverului prezentat
n figura 4.24 pentru aplicaia dezvoltat de autor, dar acest driver are o

funcionalitate redus. Aceasta poate afia pe ecran valoarea msurat pentru un
parametru al unui semnal electric, dar nu poate fi citi n aplicaie.

Figura 4.22 b Interpretarea liniei de comand pentru msurarea unui parametru electric al
semnalelor prezente pe unul din cele 4 canale ale osciloscopului LeCroy

Figura 4.23 Linii de comand ce trebuiesc trimise ctre osciloscop pentru citirea
mai multor parametrii, pentru fiecare canal al osciloscopului

Figura 4.24a Linie de comand trimis pentru afiarea unui parametru cu ajutorul
osciloscopului Tektronix DPO2000

Figura 4.24b Interpretarea liniei de comand trimis pentru afiarea unui parametru cu
ajutorul osciloscopului Tektronix DPO2000

Pentru a putea realiza citirea valorilor de ntrziere dintre cursoare a fost
creat algoritmul redat n figura 4.25. Acest algoritm presupune trimiterea unei linii
de comand, prezentat n figura 4.25a care va fi interpretat conform
implementrii din figura 4.25b.

Figura 4.25a Linia de comand ce trebuie trimis pentru
efectuarea unei msurtori de ntrziere delay cu osciloscopul Tektronix


Figura 4.25b Interpretarea liniei de comand ce trebuie trimis
pentru efectuarea unei msurtori de ntrziere delay cu osciloscopul Tektronix

Practic linia de comand va fi imprit pe mai multe celule, fiecare celul
selectnd valoarea dorit prin programarea cazului de testare aceasta selectnd din
structurile de tip CASE valoarea unor ID-uri atribuite de autor n urma unor nume
sugestive. Astfel aceste ID-uri vor transmite valoarea numeric necesar construirii
comenzii de tip SCPI pentru osciloscopul Tektronix DPO2000. n figura 4.26 este
prezentat modalitatea de construire a unei comenzi SCPI ( comenzi standard de
programare a instrumentelor ) cu mediul de programare LABView, comand care va
fi selectat prin transmiterea linei de comand prezentat n figura 4.25a. Astfel
pentru a msura ntrzierea canalului 2, avnd ca semnal declanator canalul 1, cu
direcia dinspre canalul 1 spre canalul 2, msurarea fiind afiat pe ecran cu
numrul 0 pe fronturile negative ale canalelor trebuie trimis urmtoarea linie de
comand: Delay Forward 0 CH1 CH2 FALL FALL. Comanda SCPI trimis
osciloscopului la rularea acestui caz de testare va fi:
MEASU:MEAS0:SOURCE1 CH1;:
MEASU:MEAS0:SOURCE2 CH2;:
MEASU:MEAS0:DELay:DIR FORW;:

MEASU:MEAS0:DELay:EDGE1 FALL;:
MEASU:MEAS0:DELay:EDGE2 FALL;:
Aceast comand va fi concatenat ntr-o singur comand, prezentat n
acest mod pentru o mai bun nelegere.

Figura 4.26 Construirea unei comenzi SCPI cu mediul de programare LABView
pentru osciloscopul Tektronix DPO2000

Se integreaz n aceast aplicaie i posibilitatea de a salva poze pe hard
disk-ul local al calculatorului, poze care vor fi preluate direct de pe ecranul
osciloscopului. Aceste poze vor fi folositoare n momentul generrii raportului de
testare, o documentare complet presupunnd dovezi ale rezultatelor ce au
provenit n urma testrii. Astfel, n figura 4.27 este prezentat linia de comand
pentru salvarea pozelor de pe ecranul osciloscopului, precum i interpretarea
acesteia n cadrul aplicaiei LABView. Linia de comand este practic calea unde se
dorete a fi salvat poza respectiv.


Figura 4.27a Linie de comand pentru salvarea pozelor pe
hard disk-ul local cu aplicaia de testare

Figura 4.27b Interpretarea liniei de comand pentru salvarea pozelor pe
hard disk-ul local cu aplicaia de testare

Pentru o exploatare mai facil a osciloscopului este necesar generarea unei
soluii de etichetare a canalelor osciloscopului n prezentarea oscilogramelor. Prin
etichetarea canalelor n momentul testrii se asigur citirea uoar a semnalelor i
dup scurgerea unei perioade de timp de la efectuarea testului. n acest mod poza
salvat pe calculatorul local poate fi folosit oricnd pentru validarea unor teste.
n figura 4.28a este prezentat linia de comand implementat pentru
etichetare, iar n figura 4.28b este prezentat interpretarea liniei de comand pentru
etichetare.

Figura 4.28a Linie de comand necesar pentru etichetarea
canalelor osciloscopului Tektronix


Figura4.28b Interpretarea liniei de comand necesar pentru etichetarea canalelor
osciloscopului Tektronix

n cele prezentate n acest paragraf s-a dorit s se descrie modalitatea de
construire a algoritmilor n modul de programare LABView. Aplicaia de testare
construit de autor este capabil s funcioneze cu dou tipuri de osciloscop: LeCroy
Wavesurfer 64Xs i Tektronix DPO. Toate produsele companiei LeCroy sau Tetronix
pot fi comandate cu ajutorul acestei aplicaii de testare, aceasta nsemnnd
ndeplinirea condiiei de portabilitate a aplicaiei de testare.
4.5 Cazuri de testare implementate

nainte de efectuarea oricror teste asupra unui dispozitiv sau component
electronic trebuie parcuri mai muli pai [52][70][101][113][115]. Acetia sunt:
Analiza documentaiei de testare furnizate de productor sau OEM;
Se proiecteaz arhitectura sau structura hardware a ATS-ului;
Se construiete arhitectura hardware pentru ATS achiziie de noi
echipamente sau upgrade la cele existente;
Se construiete sau se personalizeaz interfaa pentru proiectul respectiv,
dac este nevoie;
Se identific limitrile impuse de propietile hardware;
Se identific limitrile impuse de mediul de programare;
Se identific cazurile de testare ce pot fi reutilizate;
Se construiesc noile cazuri de testare pentru cerinele neacoperite autorul
recomand alctuirea acestor teste ntr-un mod care s permit utilizarea i
n cadrul altor proiecte.
Acesta este punctul n care noi cazuri de testare pot fi implementate n
aplicaia de testare. Cazurile de testare pot fi construite ntr-un mod n care
portarea cazurilor de la un proiect la altul s fie uor de fcut. Autorul a reuit
pentru ambele sisteme de testare automat, ICT i HiL, s construiasc cazuri de
testare care pot fi portate n cadrul mai multor proiecte. Ca rezultat se realizeaz o
reducere a timpului de lucru necesar dezvoltrii ATS-ului, o reducere a costurilor
necesare dezvoltrii ATS-ului, ofer portabilitate cazurilor i o eficien ridicat.
ECU-urile din cadrul industriei automotive sunt de obicei mprite pe mai
multe module: parte analogic i parte digital [68][109][199]. Din partea
analogic fac parte modulele de power supply, filtre i protecii electrice [58]. Din
partea de module digitale fac parte: modulul de comunicaie modulul Control Area
Network (CAN), modulul de calul microcontrollere i oscilatoare, bus-uri de
comunicaie, memorii [43][48].
n urma participrii autorului tezei la elaborarea i punerea n practic a
proiectelor de testare din cadrul industriei automotive, s-au desprins urmtoarele
tipuri de teste i msurtori ce trebuie efectuate asupra blocurilor analogice ale unui
ECU (sistem de control electronic), parte din arhitectura autoturismelor:
Msurarea parametrilor surselor de tensiune;
Msurarea eficienei sursei de tensiune;
Msurarea tensiunii de referin pentru sursele SMPS;
Testarea comportamentului surselor BUCK n funcie de tensiunea de
intrare;
Testarea proteiei ECU-ului la supratensiune de alimentare;
Testarea comportamentului ECU-ului la sub tensiune de alimentare;
Testarea comportamentului ECU-ului n cazul ntreuperii tensiunii de
alimentare pentru durate scurte;
Testarea comportamentului ECU-ului n cazul alimentrii cu tensiune
nefiltrat;
4.5 Cazuri de testare implementate 131

Testarea comportamentului ECU-ului n cazul alimentrii cu tensiune
invers;
Testarea comportamentului ECU-ului n cazul alimentrii cu forme de
und specifice domeniului automotive.
n cele ce urmeaz se vor prezenta cteva din testele enumerate mai sus.

Testarea surselor de alimentare de curent continuu
n ECU-urile automotive, sursele de tensiune preferate sunt de tipul celora
care lucreaz n comutaie, de tip BUCK. n figura 4.29 se prezint structura unei
astfel de surse i formele de und caracteristice acestei surse. Datorit faptului c
valorile se testeaz dup metoda boundary extragerea limitelor superioare i
inferioare se realizeaz din fiiere Mathcad unde sunt calculate aceste limite
[158][161-163]. Metoda de testare de tip boundary presupune compararea valorilor
msurate cu limitele superioare, respectiv inferioare obinute n urma unor calcule
matematice care descriu funcionarea sursei. Aceste calcule se realizeaz n fiiere
de tip MATHcad sau MATLAB, iar n calculul parametrilor superiori, respectiv inferiori
al surselor se va ine cont de variaia componentelor n raport cu temperatura.
Aceste convertoare de tip BUCK, n cadrul ECU-urilor automotive, unde
constituie principala surs de tensiune pentru celelalte circuite vor funciona
ntotdeauna n regim CCM continuous current mode. Autorul dorete modul de
deducere a ecuaiei de funcionare pentru convertorul Buck, pentru o mai bun
ntelegere a parametrilor ce urmeaz a fi msurai.
Atunci cnd tranzistorul este nchis:
(4.1)

Cnd tranzistorul este deschis:
(4.2)

Curentul prin bobina:
(4.3)


Figura 4.29 Structura Buck, prezentare forme de und

(4.4)

( ) (4.5)

(
(4.6)

(
( )
(4.7)

Din ecuaia 4.7 se pot extrage primii parametrii care sunt eseniali a fi
testai: tensiunea de intrare, parametrul duty cycle i tensiunea de ieire. S-au

elaborat teste n care se msoar aceti parametrii la diferite temperaturi, pentru a,
vedea comportamentul convertorului BUCK n ntreg range-ul automotive.
Pe lang aceste teste care verific funcionalitatea convertorului BUCK, n
modul CCM, au fost generate teste de eficien. Pentru msurarea eficienei voi
defini acest termen ca fiind raportul dintre puterea de ieire i puterea de intrare,
ecuaia 4.8.

(4.8)

Pentru msurarea eficienei unui convertor sau a unei surse SMPS, se va
folosi structura de ATS prezentat de autor n figura 3.2, n plus fiind nevoie i de o
rezisten decadic programabil pe GPIB. Cu ajutorul acestei rezistene decadice se
va regla curentul de ieire la o valoare prestabilit. Autorul menioneaz c acest
test este semiautomat, deoarece este nevoie izolarea convertorului BUCK de circuit
i datorit faptului c dou DMM-uri vor fi folosite ca ampermetre i necesit legarea
lor n serie. Practic acest test nu este complet automat fiindc la nceputul testului
este nevoie de intervenia operatorului uman. Pentru o automatizare complet este
nevoie de introducerea n schema electric a unui unt, pentru msurarea curenilor.
Algoritmul software implementat n aplicaie poate rula testul ntr-un mod complet
automatizat putnd fi folosit cu succes n orice aplicaie automotive, i este
prezentat n figura 4.30.
Practic n cadrul ECU-urilor din domeniul automotive se afl 2-4 convertoare
de tip BUCK care vor realiza tensiuni de 5V_SMPS, 3V3_SMPS, 1V8_SMPS i
1V2_SMPS necesare celorlalte module ale ECU-ului. Pentru toate aceste
convertoare, pot fi folosite cazurile de testare mai sus, implementarea fiind
efectuat o singur dat cu structura prezentat n capitolul 3 i aplicaia din
capitolul 4, refolosind testele n cadrul a 3 proiecte automotive n cadrul unui
productor de componente electronice pentru aceast industrie
[34][35][40][147][185]. Reutilizarea testelor este posibil n oricare alt proiect
folosind structurile prezentate anterior.
Se prezint n continuare, testele identificate i implementate conform
standardului ISO 16750 [91][92][93][94][95][67][182-183].


Figura 4.30 Algoritm pentru testarea eficienei unui convertor BUCK

Verificarea Curentului de intrare la tensiunea minim de alimentare,
tensiune nominal i tensiunea maxim de alimentare. Scopul acestui test este de a
verifica comportamentul ECU-ului pe domeniul de tensiune n care acesta ar trebui
s fie activ. Pragurile de tensiune folosite de standardul ISO 16750 sunt prezentate
n tabelele 4.1 i 4.2. Din aceste tabele se pot observa limitele inferioare respectiv
superioare ale tensiunii de alimentare a ECU-ului la care trebuie citit valoarea
intensitii curentului electric absorbit de la baterie, n cazul testrii de la sursa de
tensiune. Tensiunea nominal este 13.5V n cazul sistemelor de 12V (autoturisme
mici) i 24V ( autovehicule mari de tip utilitare camion). OEM-ul (productorul
original de echipament) trebuie s defineasc din ce clas face parte senzorul,
acast clas fiind relevant pentru alegerea tensiunilor de alimentare.
Rezulatele testrii pot fi observate n tabelul 4.10 msurtori cu DMM-ul
(multimetrul digital), rndurile 21-23.


Tabelul 4.1 Tensiuni de alimentare pentru sisteme automotive Vi=12V
Code Supply Voltage [V]
V
min
V
max

A 6 16
B 8 16
C 9 16
D 10.5 16

Tabelul 4.2 Tensiuni de alimentare pentru sisteme automotive Vi = 24V
Code Supply Voltage [V]
V
min
V
max

A 10 32
B 16 32
C 22 32

Testarea comportamentului ECU-ului la tensiuni de alimentare mai mare
dect tensiunea de alimentare maxim admis de productor (overvoltage)
Standardul ISO 16750 prevede ca acest test s se efectueze dup cum
urmeaz: se aplic la bornele ECU-ului o tensiune de alimentare, de la o surs de
tensiune de curent continuu, mai mare dect tensiunea maxim stabilit conform
standardului, tensiune maxim care permite funcionarea corespunztoare. Durata
aplicrii aceste tensiuni trebuie s depeasc 60 de min, tolerana fiind de
maximum 5 minute. Pe durata aplicrii perturbaiei exterioare asupra ECU-ului,
acesta nu trebuie s ndeplineasc funcia normal pentru care a fost proiectat.
Dup eliminarea tensiunii perturbatoare, ECU-ul ii va relua funcionarea dup
specificaiile de funcionare. Rezultatele pentru acest caz de testare sunt prezentate
n figura 4.42.

ncrcarea i descrcarea treptat a bateriei
n acest test se va observa comportamentul ECU-ului la ncrcarea,
respectiv descrcarea, bateriei autovehicolului fiind observabile proteciile ECU-
ului la tensiuni de alimentare prea mici, sub tensiunea minim de funcionare i la
tensiuni de alimentare prea mari, peste tensiunea maxim de funcionare. ECU-ul
trebuie s se comporte normal doar n domeniul de tensiune pentru care a fost
proiectat. Testul dureaz aproximativ 4 ore. Rezultatele pentru acest caz de testare
sunt prezentate n figura 4.37.

Discontinuiti ale tensiunii de alimentare
Practic n acest test se va observa comportamentul ECU-ului n momentul n
care siguranele altor circuite devin inactive sau active. Se vor genera pentru o
scurt perioad de timp mici cderi ale tensiunii de alimentare, dup formele
prezentate n figura 4.31 si tabelul 4.3. Rezultatele pentru acest caz de testare sunt
prezentate n figura 4.40.


Figura 4.31 Forma de und generat la intrarea ECU-ului pentru ntreruperi de scurt
durat ale tensiunii de alimentare

Tabel 4.3 Tensiunile Vdrop care trebuie atinse pentru discontinuiti ale Vin
Name Supply Voltage [V]
V
in
= 12 V
in
= 24
V
drop
4.5 9

Profil de start
Acest test va verifica comportamentul ECU-ului n timpul i dup pornirea
motorului. Forma de und dup care se face testarea este redat n figura 4.32 iar
parametrii electrici i timpii afereni n tabelul 4.4. Rezultatele testului sunt
prezentate n figura 4.48.

Tabel 4.4 Tensiuni ale formei de und pentru profilul de start
Name Supply Voltage[v] / Time [ms]
V
in
= 12 V
in
=24
V
B
13.5 16
Vs 4,5 8
Va 6,5 15
Tr 5 10
t6 15 50
t7 50 50
t8 1 20
t
f
40/100 40/


Figura 4.32 Form de und generat pentru testul profilului de start

Reversed voltage
Acest test verific funcionarea ECU-ului n momentul n care este folosit un
dispozitiv auxiliar pentru pornirea autovehicolului. ECU-ul ar trebui s reziste
tensiunii inverse, pe durata perturbaiei ECU-ul neavnd un comportament specific,
dar dup eliminarea perturbaiei ECU-ul ar trebui s funcioneze dup specificaiile
de proiectare. Rezultatele sunt prezentate n figura 4.44.
Cazurile de testare de mai sus au fost implementate de autor pentru partea
de module analogice iar testele au fost validate de productorul automotive cu
rezultate satisfctoare. Testele au fost acceptate i integrate ca teste standard n
cadrul mai multor proiecte, fiecare test fiind utilizabil pentru proiectele cu domeniile
de tensiune amintite.
Este o sintez critic fcut de autor asupra celor mai moderne metode
privind comunicaia CAN folosit n industria automotive [22][80-88][24][54]
[55][122][123][143-146][184].
CAN Controller Area Network este magistrala de tip master multiplu de
interconectare a ECU-urilor n arhitectura autovehicolului. Aceast magistral poate
avea viteze diferite, dar tendina standardizat n ultima perioad este de a folosi o
configuraie CAN pe 500kbit/s. Fiecare nod este pasibil s trimit sau s primeasc
mesaje, dar nu simultan. n general un mesaj const dintr-un ID identificator care
reprezint prioritatea mesajului i pn la 8 bii de date. Pe magistrala CAN
transmisia se face n modul serial, iar la magistral se pot conecta senzori,
actuatoare sau alte dispozitive de control cu posibilitate de comunicare pe CAN.
Conectarea nu se face n mod direct, fiind nevoie de un host processor procesor
gazd i un controller de CAN. n momentul cnd magistrala este liber, orice
dispozitiv poate transmite mesaje pe magistral, dar n momentul transmiterii a
dou mesaje simultane pe magistral, mesajul cu ID-ul prioritar va fi pstrat i
transmis celorlalte noduri. Acesta este mecanismul de arbitrare al mesajelor trimise
pe magistrala CAN, mesajele cu ID-uri prioritare fiind transmise primele.
Pentru fiecare nod de comunicaie CAN este nevoie de:
Host processor: cu ajutorul acestui procesor se traduc mesajele primite i se
identific rspunsurile ce trebuiesc trimise;
CAN controller: cu ajutorul acestui controller se trimit sau recepioneaz
mesajele n format serial;
Transceiver: cu ajutorul acestui circuit se realizeaz adaptarea nivelurilor de
CAN necesare pentru transmiterea mesajelor, se protejeaz controllerul de
CAN i se realizeaz conversia mesajului.
n figura 4.33, se arat posibilitatea de conectare a mai multor echipamente
la magistrala CAN.

Figura 4.33 Conectarea echipamentelor la magistrala CAN

n figura 4.33 se pot observa dou nivele logice de tensiune, CAN_H i
CAN_L, nivele de tensiune care sunt relative la masa fiecrui nod individual de CAN.
Cele dou tensiuni n funcie de nivelul atins, pot genera dou stri: starea
dominant i starea recesiv. n starea dominant are loc transmisia datelor, n
starea recesiv ECU-ul putnd recepiona mesaje. Aceste stri sunt prezentate de
autor n figura 4.34.
Autorul sublineaz importana acestor tensiuni, prezentate n figura 4.34
pentru buna funcionare a magistralei CAN. Astfel, se poate observa importana i
necesitatea implementrii unor teste care s verifice nivelurile de tensiune ale
magistralei CAN:

Verificarea nivelului de tensiune pentru CAN_H (CAN_High);
Verificarea nivelului de tensiune pentru CAN_L (CAN_Low);
Verificarea nivelului de tensiune pentru V_difd definit ca fiind diferena
dintre cele dou linii de CAN, ecuaia 4.9.

(4.9)

Figura 4.34 Strile dominante i recesive pentru magistrala CAN

Pentru magistrala CAN mai sunt importani urmtorii parametrii:
Domeniul de tensiune comun - Common mode bus voltage range definit
ca plaja de tensiune pentru care este garantat funcionarea comunicaiei
CAN n cazul conectrii numrului maxim de noduri la magistrala CAN;
R
diff
definit ca fiind rezistena vzut intre terminalele ntre CAN_L i
CAN_H cnd ECU-ul este deconectat de la magistrala de CAN;
R
in
definit ca fiind rezistena vzut ntre terminalele specifice, CAN_H i
CAN_L, i terminalul de mas, atunci cand ECU-ul este deconectat de la
magistrala de CAN;
C
in
capacitatea vzut ntre terminalele specifice, CAN_H i CAN_L, atunci
cnd ECU-ul este deconectat de la magistrala de CAN.
t
node
suma timpilor de ntrziere, necesari pentru a transmite un bit de
date, de la controller pn la ieirea transciever-ului, atunci cnd ECU-ul
este deconectat de la magistrala de CAN.
S-a reuit implementarea cazurilor de testare capabile a verifica, rezistena
diferenial vzut ntre terminale, rezistena intern, nivelurile de tensiune ale liniei
CAN_H i CAN_L, nivelul de tensiune al diferenei dintre cele dou linii pe durata
celor dou stri folosind pentru validare tabele prezentate mai jos.

Tabelul 4.5 Parametrii de tensiune ai magistralei n stare recisiv
Parametru Notaie Unitate
Valoare [V]
Condiie
Min. Nom. Max.
Common
mode bus
voltage
V
CAN_H
V 2.5 7.0
Msurat fa de
masa fiecrui
nod al
magistralei CAN
V
CAN_L
V -2.0 2.5
Differential
bus voltage
V
diff
mV -120 0 12
Msurat la
nodul magistralei
conectate la
mas

Tabelul 4.6 Parametrii de tensiune ai magistralei n stare dominant
Valoare [V]
Condiie
Min. Nom. Max.
Common
mode bus
voltage
V
CAN_H
V 3.5 7.0
Msurat fa de
masa fiecrui
nod al
magistralei CAN
V
CAN_L
V -2.0 1.5
Differential
bus voltage
V
diff
mV 1.2 2.0 3.0
Msurat la
nodul magistralei
conectate la
mas

Tabelul 4.7 Parametrii minimi i maximi pentru tensiunile liniilor CAN_H i CAN_L
Tensiunea nominal
a bateriei
Notaie
Valoare [V]
Min. Max.
12V
V
CAN_H
-3.0 16.0
V
CAN_L
-3.0 16.0
24V
V
CAN_H
-3.0 32.0
V
CAN_L
-3.0 32.0


Tabelul 4.8 Parametrii DC pentru starea recesiv pentru un nod al magistralei
Valoare
Condiie
Min. Nom. Max.
Output bus voltage
V
CAN_H
V 2.0 2.5 3.0
Fr
sarcin
V
CAN_L
V 2.0 2.5 3.0
Differential output bus
voltage
Vdiff mV -500 0 50
Fr
sarcin
Differential internal
resistor
Rdiff k 10 100
Fr
sarcin
Internal resistor Rin k 5 50
Differenial input
voltage
Vdiff V -1.0 0.5

Tabelul 4.9 Parametrii DC pentru starea dominant a unui nod CAN
Valoare
Condiie
Min. Nom. Max.
Output bus voltage
V
CAN_H
V 2.75 3.5 4.5
Fr
sarcin
V
CAN_L
V 0.5 1.5 2.25
Differential output
voltage
Vdiff V 1.5 2.0 3.0
Fr
sarcin
Differential input
voltage
Vdiff V 0.9 5.0
Fr
sarcin

Testarea realizat, prin efectuarea msurtorilor asupra circuitelor CAN din
figura 4.35, circuite de CAN care sunt angrenate ntr-o reea de dispozitive de tipul
celei prezentate n figura 4.34, trebuie s ofere valori ca cele prezentate n tabelele
4.5 4.9, valori care vor rezulta din figurile 4.49-4.54 prezentate la partea de
rezultate.
Topologia circuitelor de tip CAN, este similar cu cea prezentat n figura
4.35. Astfel prin introducerea punctelor de testare, n diferite puncte ale circuitului,
se pot conecta probe de testare care achiziioneaz semnale cu ajutorul unitii de
routare Agilent. Prin intermediul a dou relee, care vor fi acionate n poziia deschis
sau nchis se va efectua conectarea unei impedane la ieire de 120, valoarea
poate fi adaptat n funcie de cerine. Prin intermediul altor dou relee semnalele
CAN_H i CAN_L pot fi routate la osciloscop sau la DMM, n funcie de preferin.

Figura 4.35 Topologia circuitelor CAN

Pentru modulul digital autorul a implementat i integrat un test care verific
timpii n care se mai pot scrie date n memoria EEPROM. Acest test este important
pentru validarea posibilitii de salvare a datelor. Testul este denumit test de
autarhie.
Pentru c ECU-urile n momentul cnd ajung n laboratoarele de cercetare
dezvoltare nu sunt validate, n principiu acestea neavnd scris nici o versiune de
software, autorul a introdus posibilitatea de scriere a software-ului cu acest ATS,
prin conectarea unor probe de testare la conectorul de JTAG. Astfel prin intermediul
cablului JTAG disponibil din patul de cuie, s-a reuit scrierea SW-ului operaional al
funcionrii ECU-urilor. Acest software este necesar pentru funcionarea
corespunztoare a sistemului de control electronic. Funciile principale ale ECU-ului
sunt ndeplinite cu ajutorul prii software. Totodat dup scrierea SW-ului, autorul
testeaz tensiunile principale ale ECU-ului, precum i curenii de intrare, pragurile
de supratensiune i subtensiune pentru o prim validare a ECU-ului. Acest test se
poate verifica ori de cte ori este nevoie pentru a observa funcionalitatea primar a
ECU-ului [152].
Pentru sistemele de testare automat de tip HiL, autorul a creat i realizat
automatizat FT-uri (teste funcionale) i FRT-uri (teste de tipul reacii la aplicarea
unor stimuli) , pentru verificarea funciilor ce trebuiesc ndeplinite de ECU-ul cutiei
de viteze automate, n cadrul unui important dezvoltator de autovehicole. Testele au
fost validate cu persoanele responsabile de funcie, rezultatele fiind i n acest caz
acceptate cu succes de ctre dezvoltatorul de autovehicole.

4.6 Rezultate obinute 143

Prin execuia testelor i implementarea acestor tipuri de teste, se are n
vedere descoperirea erorilor software ce pot surveni n funcionarea automobilului.
Autorul trece n revist funciile pentru care a scris cazurile de testare FT i FRT:
funcia de oprire a motorului;
funcia de pornire a motorului;
funcia de introducere a vitezelor: D, P, R, N, M+, M-, S+, S-;
funcia de asisten la parcare;
funcia de siguran n cazul producerii unei defeciuni electrice;
funcia de siguran n cazul producerii unei defeciuni mecanice;
funcia de protecie mpotriva rulrii nedorite;
funcia de diagnoz pentru cazul n care se produc erori de tipul timeout;
funcia de diagnoz pentru cazul n care se produc erori de tipul schimbri
de date;
funcia de diagnoz n cazul unor valori neplauzibile a semnalelor de CAN;
funcia de diagnoz n cazul transmiterii unor valori neplauzibile transmise
de ceilali senzori;
funcia de diagnoz/protecie n cazul apariei unor tensiuni accidentale prea
mari;
funcia de diagnoz/protecie n cazul apariei unor tensiuni prea mici;
funcia de diagnoz/protecie n cazul apariiei unor perturbaii de tip lipsa
magistralei de comunicaie CAN;
Deoarece proiectul este n derulare sub condiii de confidenialitate, autorul
nu poate oferi mai multe detalii, acceptul fiind doar pentru prezentarea unor
rezultate pariale.

4.6 Rezultate obinute

Pentru cazurile de testare prezentate n paragraful anterior, autorul prezint
rezultatele obinute cu cele dou tipuri de ATS. La dezvoltarea acestor ATS-uri,
autorul a contribuit att la partea HW, n cazul ATS-ului de tip ICT, ct i la partea
SW prin dezvoltarea aplicaiilor de testare ICT ct i crearea de scripturi pentru
cazurile de testare prezentate, n cadrul ambelor sisteme ICT i HiL.

Figura 4.36 Msurarea ieirii sursei principale de 5V la tensiunea minim i maxim a
tensiunii de alimentare

Figura 4.37 Msurarea parametrilor semnalelor n cazul testului de ncrcare i descrcare
treptat a bateriei

Figura 4.38 Msurarea imunitii ECU-ului la tensiuni nalte

Figura 4.39 Validarea ECU-ului pentru tensiune de alimentare sub tensiunea minim
admis

Figura 4.40 Validarea unitii de control electronice n cazul apariei unei ntreruperi
scurte pe tensiunea de alimentare a acesteia

Figura 4.41 Detecia pragurilor pentru acionarea proteciei de tensiune sub limita admis


Figura 4.42 Funcionarea unitii de control electronice n cazul aplicrii unei tensiuni de
alimentare peste limita admis overvoltage

Figura 4.43 Verificarea funcionalitii ECU-ului atunci cand avem o tensiune de intrare
perturbat

Figura 4.44 Funcionarea ECU-ului n cazul aplicrii unei tensiuni de alimentare inverse
reversed voltage

Figura 4.45 Testarea sursei BUCK de 5V pentru tensiune de intrare de 18V





Figura 4.48 Rspunsul ECU-ului la impulsuri de tipul profilului de start


Figura 4.50 Msurarea nivelelor de tensiune pentru comunicaia CAN

Figura 4.51 Msurarea duratei unui bit pe magistrala CAN

Figura 4.52 Msurarea tensiunii de mod comun pentru
starea dominant a comunicaiei CAN

Figura 4.53 Msurarea nivelelor de tensiune pentru
starea recesiv a comunicaiei CAN

Figura 4.54 Msurarea nivelului de tensiune Vdiff
a comunicaiei CAN n starea dominant

Figura 4.55 Msurarea nivelului de tensiune Vdiff
pentru comunicaiei CAN n stare recesiv

Tabelul 4.10 Msurtori efectuate cu DMM-ul
Nume semnal Unitate
de
msur
Limit
inferioar
Limit
superioar

V. alim
ECU
Valoare
msurat
KL15 V 15.5 32.5 23.981072
KL15_SW V 15.5 32.5 23.163398
KL15_D V 15.5 32.5 23.20626
5V_SMPS V 4.702 5.157 5.002063
3V3_SMPS V 3.268 3.568 3.4562268
3V3_SW V 3.17 3.562 3.4475442
1V8_SMPS V 1.708 1.842 1.7964476
1V2_SMPS V 1.146 1.233 1.2128353
3V3_REF V 3.283 3.316 3.3011053
ADC_5V_SMPS V 2.33 2.675 2.5019997
ADC_3V3_SMPS V 1.538 1.765 1.7312237
ADC_4V8_EXT_C
URRENT
V 1.2 1.4 1.2702556
ADC_4V8_EXT V 2.199 2.6 2.4371729
ADC_1V2_SMPS V 1.135 1.265 1.2126286
ADC_1V8_SMPS V 1.705 1.895 1.7962488
ADC_KL15_SW V 1.434 3.197 2.2928435
ADC_KL15_B V 2.2 2.4 2.3625365
ADC_3V3_SW V 1.6 1.8 1.7223179
ADC_3V3_EEPRO
M
V 2.5 5 3.443114
ADC_3V3_REF V 1.601 1.698 1.6502273

current
consumption
V 0.05 0.2 16V 0.1756025
current
consumption
V 0.05 0.2 24V 0.121775
current
consumption
V 0.05 0.2 32V 97.011E-3
Low_Batt down
trsh
V 12 15 - 12.9
Low_Batt down
trsh V 12 15 - 12.9
Low_Batt up trsh V 12 15 - 13.8
Overvoltage up
trsh V 33 36 - 35.2
Overvoltage
down trsh V 33 36 - 34.6

Folosind tabelul 4.10 i fiierele MatchCAD puse la dispoziie de productorul
automotive, autorul valideaz sistemul de testare automat dup calculul erorii
prezentat n capitolul 3. Astfel pentru valoarea sursei de tensiune, care constituie
referina ECU-ului de 3.3V, n tabelul 4.10 se pot observa limitele minime i maxime
pe care le poate avea aceast surs de tensiune, eroarea relativ maxim calculat
la limita superioar a domeniului poate fi de 7.5%.
Pentru sistemele de tip HiL, autorul prezint o comparaie a vechilor seturi
de testare existente cu noile seturi de testare construite pe arhitectura i algoritmii
implementai de autor.

Figura 4.56 Testarea automat cu ECU Test utiliznd structura veche de testare

Figura 4.57 Testarea automat utiliznd structura nou de testare

Din cele dou figuri se pot observa c folosirea variabilelor globale pentru
selecia configuraiei corecte, adugarea pailor structurai n testare, manipularea
ID-urilor din fiierele de mapare n locul manipulrii directe a semnalelor au adus
njumtirea timpilor de lucru, reducerea numrului de cazuri care sunt picate,
eliminarea erorilor.

Dup validarea mbuntirilor aduse de autor, s-a adoptat ca structura
cazurilor de testare automat s fie asemntoare n toate proiectele.


Concluzii

n prima parte a capitolului sunt prezentate dou medii de programare
grafice specifice domeniului automotive. Programele de testare prezentate, ECU
Test i LABView, pot fi folosite pentru a acoperi ntreaga arie a modelului V. Pentru
partea de testare la nivelul hardware i la nivel de component poate fi folosit
LABView, pentru partea de testare a modelului, la nivel de testare software, sub-
sistem i sistem poate fi folosit ECU Test. Deoarece amndou programe sunt medii
de programare grafice, acestea ofer utilizatorului o uurin n folosire datorit
aspectului intuitiv. Partea de depanare, a ambelor programe, este de asemenea
intuitiv, fiind un avanataj al aplicaiilor de testare. Comparativ cu alte limbaje de
programare, C, C# sau C++ unde programul este scris n sute sau mii de linii de
cod, realizarea programelor n mod grafic pare mai uoar att din punct de vedere
al structurii logice ct i a depanrii. Construcia programelor se realizeaz uor,
fiind de tipul drag and drop.
Partea software, n aplicaiile de testare automate destinate industriei
automotive, este important din punct de vedere al funciei ndeplinite n cadrul
ATS-ului . Aceasta trebuie s controleze echipamentele de la distan oferind un
control integral al aparaturii de testare, att la rularea cazurilor de testare, aceast
operaiune fiind efectuat cu un minim de efort al operatorului uman, ct i n cazul
implementrii cazurilor de testare. Deciziile pe care le poate opera partea software
sunt legate de algoritmii implementai.
Inteligena aplicaiei de testare este practic implementat n algoritmii
aplicaiei, fiecare algoritm avnd un rol dedicat n cadrul programului operaional
sau n cazul rulrii cazurilor de testare. Sunt creai algoritmi pentru citirea cazurilor
de testare, algoritmi pentru programul operaional, pentru salvarea parametrilor,
pentru rularea unor cazuri de testare, pentru compararea rezultatelor, algoritmi cu
funcii de protecie, .a. Astfel ambele programe au nevoie de o structur a cazurilor
de testare. Aceast structur este definit n mare parte de specificaiile de testare
care sunt construite diferit, n funcie de nivelul automotive la care se testeaz.
Dac n mediul de programare LABView cazurile de testare se implementeaz
independent, cazurile de testare avnd aceai structur dar n proiecte diferite, n
mediul de programare ECU Test autorul a ideniticat posibilitatea utilizrii unei noi
structuri. Astfel n figura 4.10 i 4.11 sunt descrise structurile folosite pentru
construcia cazurilor de testare FT i FRT.
Un alt aspect important al aplicaiilor de testare, este reprezentat de
interfaa GUI a aplicaiei de testare. Practic n aceast aplicaie utilizatorul va avea
acces la facilitile ATS-ului, aici vor fi introduse datele relevante pentru proiect.
Astfel, n LABView, se creaz interfaa grafic a aplicaiei de testare deoarece
programul nu dispune de aceasta. n programul ECU Test interfaa grafic este
reprezentat de chiar de ferestrele de configurare a programului. Informaiile
relevante pentru proiect sunt preluate, in LABVIew prin intermediul interfeei grafice
iar n ECU Test prin crearea unei configuraii de testare. Astfel, autorul n interfaa
grafic adun informaiile de tipul: nume prenume utilizator, departament, numr
de telefon, versiune HW a ECU-ului, versiune de SW, aparatura folosit,
temperatura la care se efectueaz testele, tensiunea de alimentare. Prin intermediul
interfeei grafice construite n LABView, utilizatorul poate activa sau dezactiva
echipamentele necesare pentru a executa un caz de testare.
Cele dou medii de programare ofer posibilitatea de prelucrare a
rezultatelor, acest lucru fiind important n momentul crerii cazurilor de testare. De
exemplu, pentru implementarea cazului de testare care msoar eficiena unei surse
de tip SMPS, este nevoie de prelucrarea rezultatelor pentru calculul puterilor. Din
punct de vedere al operatorilor matematici n form grafic, mediul de programare
LABView este superior ECU Test. La cel din urm, operaiile matematice mai
complicate trebuiesc efectuate cu scripturi n Python, ceea ce nseamn construirea
algoritmilor pentru operatori matematici.
Dup efectuarea cazurilor de testare, urmtoarea etap este de salvare a
rezultatelor msurate. Astfel, ambele programe folosite la construcia aplicaiilor de
testare ofer posibitatea de salvare a rezultelor n fiiere de diferite formate: .doc,
.xls, .dat, .pdf, .xml. LABView ofer suplimentar i optiunea de salvare a
pictogramelor pe calculatorul pe care este instalat, direct de pe osciloscop ceea ce
va ajuta la o definire mai bun n raportul de testare a problemelor gsite n timpul
testrii. Comparativ cu LABView, ECU Test este inferior deoarece nu poate reda n
mod grafic comportamentul unor semnale de CAN i nici o modalitate de salvare a
evoluiei unui semnal. Pentru a vizualiza evoluia semnalelor CAN se folosete un
program suplimentar Vector CANoe [193] cu ajutorul cruia se pot monitoriza
semnalele de CAN, care are posibilitatea de redare grafic a evoluiei n timp a
semnalelor.
Autorul consider c cele dou programe pot fi folosite cu succes pentru
construcia aplicaiilor de testare, cu aplicabilitate n industria automotive, pentru
ntregul model V de la nivelul de component hardware pn la nivelul de sistem.

Contribuii personale:

Autorul a contribuit la dezvoltarea mai multor aplicaii de testare automate,
create pentru a testa sisteme automotive de camer i sisteme automotive cu
aplicaii radar . Astfel pentru fiecare proiect la care a luat parte autorul, n care a
fost integrat o aplicaie de testare folosind mediul LABView, autorul a contribuit cu:
A studiat documentaia necesar construciei aplicaiilor automotive:
standarde i norme de aplicare;
A identificat pe baza documentelor primite cazurilor de testare posibile a fi
implementate respectnd standardele automotive;

A creat specificaiile cazurilor de testare pentru a fi implementate, ntr-un
mod general dar aplicate pe proiect astfel nct specificaiile s poat fi
folosite i n cadrul altor proiecte cu modificri minore;
A creat aplicaiile principale de testare adaptate fiecrui proiect, respectnd
cerinele legate de proiect, aceste aplicaii ndeplinind condiiile unor aplicaii
de testare portabile;
A creat interfaa grafic cu utilizatorul, pentru o utilizare ct mai uoar a
ATS-ului cu posibilitatea de preluare a informaiilor necesare pentru proiect;
A propus i implementat, driverele necesare bunei funcionri a
echipamentelor din componena ATS-ului;
Implementarea practica n aplicaia de testare pentru algoritmii propui,
practic aplicaia de testare;
A propus algoritmi pentru rularea cazurilor de testare, un exemplu fiind
algoritmul de efectuare a msurtorilor de eficiena a surselor SMPS;
Implementarea/ Dezvoltarea cazurilor de testare pentru validarea ECU-ului
conform documentaiei primite;
A implementat salvarea rezutatelor sub forma permanent de fiiere, sau
temporare prin afiarea rezultatelor pe monitor;

Contribuii aduse aplicaiilor de testare, realizate cu ECU Test, program
software care controleaz sistemele ATS de tip HiL . Aceste sisteme sunt folosite
pentru testarea software-ului care comand cutiile de vitez automate. Contribuiile
sunt:
A contribuit la modificarea structurii cazurilor de testare, acum cazurile de
testare fiind construite dup algoritmul prezentat n figura 4.10 respectiv
4.11;
A creat fiiere de mapare care ajut la controlul semnalelor CAN, cu ajutorul
acestora cazurile de testare devenind portabile;
A creat configuraii de testare adaptate fiecrui ECU care folosesc variabile
globale, prin folosirea acestora putnd fi modificate anumite praguri sau
coduri de eroare care se schimba foarte des;
A creat pachete pentru o bibliotec nou, n aceasta fiind salvate pachetele
care construiesc cazurile de testare;
A creat cazuri de testare pentru:
o funcia de oprire a motorului;
o funcia de pornire a motorului;
o funcia de introducere a vitezelor: D (drive a conduce), P (parking
parcare), R (reverse manarier), N (neutral punct neutru) ,
M+ (schimbare vitez n treapt superioar n modul manual), M-
(schimbare vitez n treapt inferioar n modul manual), S+
(schimbare vitez n treapt superioar n modul sport), S-(
schimbare vitez n treapt inferioar n modul sport);
o funcia de asisten la parcare;
o funcia de siguran n cazul producerii unei defeciuni electrice;
o funcia de siguran n cazul producerii unei defeciuni mecanice;
o funcia de protecie mpotriva rulrii nedorite;
o funcia de diagnoz pentru cazul n care se produc erori de tipul
timeout;
schimbri de date;
o funcia de diagnoz n cazul unor valori neplauzibile a semnalor de
CAN;
o funcia de diagnoz n cazul transmiterii unor valori neplauzibile
transmise de ceilai senzori;
o funcia de diagnoz/protecie n cazul apariei unor tensiuni
accidentale prea mari;
o funcia de diagnoz/protecie n cazul apariei unor tensiuni prea
mici;
o funcia de diagnoz/protecie n cazul apariiei unor perturbaii de tip
lipsa magistralei de comunicaie CAN;
A optimizat cazurile de testare din punct de vedere al timpilor de rulare,
salvnd practic timpul de testare, reducerea timpului de rulare al cazurilor
de testare de la aproximativ 12 ore pentru cazurile de testare funcionale la
4 ore.

Capitolul V. Concluzii

Subiectul prezentat de autor n teza de doctorat abordeaz un domeniu de
mare actualitate care este supus permament perfecionrii, ca urmare a dezvoltrii
foarte accelerate a industriei automotive. Industria procurtoare de maini este
prezent n toate colurile lumii, iar procesul de dezvoltare a autovehiculelor este
similar n toate companiile productoare de autoturisme sau a productorilor de
componente automotive. Domeniul testrii automate este tot mai activ n piaa
testrii echipamentelor automotive, acaparnd tot mai mult interes din partea
productorilor de componente i a productorilor de autovehicule.
Testarea sistemelor, a subsistemelor, componentelor, prilor hardware i
software s-a realizat ntotdeauna din cele dou tipuri: testare manual i testare
automat. Datorit evoluiei tehnologice la care asistm, testarea automat nclin
balana proceselor de testare tot mai mult n favoarea ei, datorit timpilor de testare
pe care aceasta i poate oferi. Nevoia tot mai mare de testare rapid i precis a
sistemelor destinate industriei automotive, apariia unor noi echipamente electronice
comandabile i datorit integrrii ntr-un numr ct mai mare a componentelor
electrice n autovehicul, toate acestea au condus la apariia unor noi sisteme de
testare automat destinate industriei automotive.
Astfel domeniul testrii automotive devine tot mai vast, datorit faptului c
i industria automotive este mprit pe mai multe domenii, dup ciclul V adoptat.
Pentru fiecare nivel a aprut cte un sistem de testare automat, limitat la testarea
unei anumite funcii sau avnd ca int testarea anumitor proprieti fizice sau
electrice.
Dezvoltarea sistemelor de testare automat nseamn practic extinderea
tehnicilor de testare integrate ntr-un sistem de testare. Adugarea de noi cazuri de
testare, care folosesc acelai sistem, prin extinderea tehnicilior de testare reprezint
un progres. De foarte multe ori datorit limitrilor fizice, limitri ale hardwareului
sau ale softwarelului, cazuri noi de testare nu pot fi integrate uor, sau fr
modificri majore ale sistemului iniial.
Prin identificarea tehnicilor i metodelor de testare, cu avantajele i
dezavantajele caracteristice, i folosirea pentru fiecare nivel al ciclului V pot conduce
la apariia unor noi sisteme de testare automat. Testarea automat este benefic
n acest moment nu doar pentru producia n mas, unde sunt prezente sistemele
ICT , ci i pentru laboratoarele de dezvoltare deoarece acestea testeaz i valideaz
un numr mare de uniti n mai multe bucle de testare. Ciclul V este repetitiv, din
punct de vedere al testrii, fiecrei bucle de testare corespunzndu-i un ciclu V.
Practic un produs se testeaz de mai multe ori dup acelai ciclu V, testarea
realizndu-se la toate nivelele.
162 CapV. Concluzii
Este important pentru sistemul de testare automat cum sunt construite
specificaiile de testare i cerinele produsului de la fiecare nivel, deoarece pe baza
acestora se vor identifica echipamentele necesare unui nou sistem de testare
automat. Pentru ca procesul de testare s fie complet funcional, iar dezvoltarea
sistemului de testare s testeze ntr-un procent ct mai mare cerinele produsului
este necesar implicarea inginerilor de testare n procesul de descriere a produsului
i a specificaiilor de testare. Aceast operaiune va conduce la un grad ridicat de
acoperire prin testare a cerinelor produsului, testarea acestuia realizndu-se n mod
automat, acesta nsemnnd costuri reduse din punct de vedere al timpului i al
personalului folosit.
Dup studierea documentaiei necesare, care descrie procesul automotive
descris n capitolul 1 i 2, n care se regsesc tehnicile i metodele de testare
aplicate pentru nivelurile specifice acestei industrii, capitolul 3 descrie elementele
constructive ale sistemului de testare automat propus i implementat de autor n
industria automotive. Astfel pentru acest sistem au fost identificate ramurile
procesului de testare automotive pe care poate fi folosit, integrarea fcndu-se n
cadrul laboratorului de cercetare dezvoltare a unui productor de componente
automotive.
Din structura sistemului de testare, prezentat n capitolul 3, se pot identifica
echipamentele folosite pentru crearea structurii ATS. Echipamentele sunt utilizate
pentru realizarea acestui ATS sau pot fi utilizate ca separat, ca fiind echipamente
individuale. n acest mod se ndeplinete o caracteristic a sistemelor de testare
automat, i anume share-abily adic abilitatea de a utiliza sistemul i n alte
moduri. Datorit acestei proprieti echipamentele nu sunt blocate pe perioada ct
ATS-ul nu este utilizat, echipamentele fiind disponibile pentru personalul
laboratorului, pentru alte operaii derulate. Portabilitatea este o proprietate a ATS-
ului, ndeplinit de acest sistem, datorit faptului c nu este inclus ntr-o carcas de
tip rack and stack. O relocare a ATS-ului este la ndemn, datorit faptului c
echipamentele pot fi uor transportate.
Structura hardware prezentat n capitolul 3, este una general, fiind
destinat laboratorului de cercetare dezvoltare dar acoper majoritatea proiectelor
de testare din aceast industrie. Structura sistemului este documentat prin
realizarea unui proiect CAD, n care pot fi urmrite traseele semnalelor, modulele
folosite, utiliznd un proiect de tip ierarhic. Proiectul nsemn documentarea pailor
de construcie pentru fiecare component, ajutnd personalul pe viitor la depanarea
sistemului sau la adaptarea lui pentru alte proiecte. Aceasta reprezint o alt
trstur a ATS-ului, constituind trasabilitatea sistemului, urmrindu-i evoluia n
timp. Pentru documentare autorul a ales programul Pspice, al firmei ORCAD, dar
acest proiect poate fi fcut n orice program similar, sau chiar pe alte structuri de
programe.
n capitolul 3, se regsesc de asemenea principalele probe de testare
folosite pentru construcia paturilor de cuie, probe care joac un rol important atunci
cnd se dorete achiziia de semnale de pe PCB. De asemenea n acest capitol, sunt
prezentate i cteva particulariti sau bune practici atunci cnd se construiete
CapV. Concluzii 163

fizic sistemul, prin integrarea elementelor de protecie, prin routarea atent a
semnalelor prin intermediul sistemului, sau prin gndirea planului de mas dup o
anumit form. nsumarea acestor practici, alegerea echipamentelor cu specificaii
tehnice superioare precum i elaborarea unui program software complex constituie
baza unui sistem de testare puternic, cu aplicare n laboratorul de cercetare-
dezvoltare al productorului automotive.
n capitolul 4, sunt prezentate principalele contribuii ale autorului legate de
folosirea mediilor de programare n construcia sistemului de testare automate
destinate industriei automotive. Practic orice sistem de testare automat va fi
compus din dou pri, partea hardware i partea software. Sistemul de testare
automat va fi complet comandat, n mod remote controlled, prin intermediul
protocolului de comunicaie GPIB sau Ethernet de la un calculator, care va
reprezenta unitatea de comand a sistemului. Pentru sistemul implementat de
autor, s-a preferat utilizarea mediului de programare LABView, produs de National
Instruments, acest program lsnd utilizatorilor si o libertate mare legat de
implementarea algoritmilor i a operaiilor ce pot fi efectuate.
n LABView, autorul a dezvoltat driverele de comand a aparatelor sau
echipamentelor constructive ale ATS-ului, adaptate la aplicaia dezvoltat de acesta.
Practic aparatele vor fi comandate prin trimiterea unei linii de comand care poate
configura aparatul cu parametrii dorii pentru testare. Aceste linii de testare pot fi
create i implementate direct n LABView, sau pot fi descrise n fiiere de tip excel,
mediul de programare LABView avnd posibilitatea de citire a fiierelor de tip excel.
Autorul recomand folosirea fiierelor de tip excel, aceasta nsemnnd practic
crearea unei matrici, matrice care va nsuma totalitatea liniilor de comand necesare
unui test. Astfel pentru fiecare test implementat se poate crea un nou fiier excel.
Mediul de programare LABView las utilizatorilor si sarcina de a dezvolta o
interfa grafic, potrivit pentru aplicaia dezvoltat. Astfel interfaa grafic, prin
care operatorul uman interacioneaz cu sistemul, poate fi diferit de la proiect la
proiect n funcie de necesiti.
Comparativ cu LABView, pentru sistemele de testare automat, un nou
mediu de programare grafic ECU Test, asemntor cu LABView, este folosit la scal
larg n sistemele de testare automat. ECU Test este practic o interfaare a mai
multor programe, strnse sub forma unuia singur. Acest program este destinat mai
mult tehnicilior de testare funcionale i reacii la stimuli la nivel de software, sistem
i subsistem pentru c permite doar manipularea unor semnale de CAN. Pentru a fi
adaptat i celorlalte nivele, acest program mai are nevoie de mbuntiri. De
asemenea fereastra n care se lucreaz pentru cazurile de testare este chiar
interfaa grafic a sistemului.
Astfel n implementarea testelor, n cele dou medii de programare exist
asemnri, ambele fiind de tipul drag and drop, n ambele se pot vizualiza
rezultatele i n ambele evaluarea cazurilor de testare se efectueaz cu failed sau
success/passed. Ambele medii de programare sunt prietenoase cu operatorul uman.
Implementarea cazurilor de testare vine n urma cerinelor de testare scrise sub
forma specificaiilor, specificaii care vor denumi i cazurile de testare.
164 CapV. Concluzii
Pentru validarea sistemelor de testare i a mbuntirilor aduse, n
incheierea capitolului se vor prezenta rezultatele obinute cu cele dou sisteme, ICT
& HiL. Rezultatele au fost discutate cu inginerii de proiectare i au fost acceptate ca
fiind rezultate concludente, fiind folosite pentru validarea diferitelor produse.

Capitolul VI. Contribuii personale

Teza de doctorat Contribuii privind structurile de testare automat din
industria automotive sintetizeaz i reflect activitatea autorului n cadrul unui
concern industrial vest european. Autorul a studiat numeroase documentaii ale
unor sisteme de testare automate, destinate industriei automotive, standarde i
specificaii de testare destinate proiectelor unde au fost implementate sisteme de
testare automat, publicaii n reviste i jurnale ale asociaiilor profesionale din
domeniul instrumentaiei i msurtorilor, cri de referin a unor personaliti de
referin.
Activitatea autorului s-a axat pe crearea i validarea unui sistem de testare
de tip ICT, destinat laboratoarelor de cercetare-dezvoltare al productorilor de
componente automotive, i pe reducerea timpilor i a rezultatelor de testare
obinute cu sistemele de testare de tip HiL, destinate nivelurilor superioare ale
ciclului V.
n continuare se vor prezenta, pe capitole, principalele probleme rezolvate
de autor precum i contribuiile originale privind aprofundarea i observaiile asupra
unor module din sistemele de testare automat destinate industriei automotive.

1. Capitolul I Stadiul actual al testrii n industria
automotive

Capitolul I este un capitol introductiv n care autorul face o sintez a
bibliografiei dezvoltate de industria automotive n domeniul testrii autoturismelor.
Aici se gsesc observaii i sugestii cu caracter personal privind vasta bibliografie
studiat. Principalele probleme analizate de autor n acest capitol sunt:
Noiunea de automotive, industrie care utilizeaz i integreaz foarte multe
dispozitive electronice proiectate pentru diferite autovehicule avnd funcii
specifice;
prezentarea modelului V, preluat din industria avionic, folosit pentru
clasificare nivelurilor care trebuie parcurse de un ECU pentru a fi integrat n
autovehicul;
prezentarea ciclului V din punct de vedere al cerinelor: cerine la nivel de
sistem, cerine la nivel de subsistem, cerine la nivel de proiectare (cuprinde
cele trei tipuri de cerine de proiectare: hardware i software, i cum trebuie
s funcioneze cnd software-ul este integrat cu hardware-ul);
Prezentarea ciclului V din punct de vedere al nivelurilor de testare: nivel de
component hardware, nivel de component software, nivel de component
166 CapVI. Contribuii personale

(integrarea hardware-ului i a software-ului), nivel de subsistem i nivelul
de sistem;
Prezentarea a celor dou tipuri de testare care exist n procesul de validare
testare al componentelor destinate industriei automotive: testarea de tip
manual i testarea de tip automat, prezentate cu principalale avantaje i
dezavantaje;
Identificare i prezentarea metodelor i tehnicilor de testare: testare
automat de tip ICT, testarea funcional, testare non-funcional, testare
de tip rspuns la stimuli, testare de tip regresie, prin aceast prezentare
fiind definite practic tipurile de testare folosite n industria automotive;
Identificarea i strategiile de testare folosite n industria automotive, practic
o definire a acestora: testare de tip cutie neagr (black-box testing), testare
de tip cutie alb (white-box testing), testare de tip bottom-up, testare de tip
thread, testare de tip ncredere (Reability testing), testarea eficienei,
testarea portabilitii, recenzia.

2. Capitolul II Conceptul sistemului de testare automat
pentru industria automotive

n acest capitol autorul prezint i evideniaz caracteristici ale ATS-ului,
destinat industriei automotive, precum i principalele tipuri de ATS prezente n
industrie la ora actual. Capitolul definete tehnicile de testare aplicabile sistemelor
de testare automate n funcie de nivelul de testare dorit. Principalele probleme
observate:
Autorul prezint motivaia apariiei ATS-urilor n procesul de
validare/testare/integrare automotive realiznd identificarea nevoii de
apariie a unui sistem de testare destinat laboratoarelor de cercetare-
dezvoltare;
Identific i prezint, din punct propriu de vedere, tipurile i tehnicile de
testare folosite n industria automotive aplicate sistemelor de testare
automate. Se face o prezentare ampl a tehnicilor definite n capitolul I,
asupra sistemelor de testare folosite la nivelurile ciclului V;
Prezentare detaliat a sistemelor de testare automotive identificate la
diferite niveluri ale ciclului V: HiL, SiL, MiL i ICT;
Definete i identific caracteristicile / proprietile ce trebuiesc ndeplinite
de sistemele de testare automate din industria automotive: trasabilitate,
eficiente din punct de vedere al costurilor, grad de ocupare ridicare,
portabilitate, .a;
Prezentarea i definirea erorilor ce pot aprea / afecta sistemele de msur
de tip ATS;
Definirea gradului de ocupare al unui ATS;
CapVI. Contribuii personale 167

Definirea i descrierea prilor componente ale ATS-ului care vor sta la baza
noului sistem de testare automat, adaptat cerinelor impuse de
laboratoarele de cercetare-dezvoltare al productorilor de componente
automotive.

3. Capitolul III Structura hardware pentru sistemele de
testare automat din industria automotive

Din experiena autorului, la un mare concern industrial vest european care
se ocup cu sisteme de testare automat din industria automotive, au rezultat
cercetri care s-au concretizat n numeroase soluii tehnice ce fac obiectivul acestui
capitol. Astfel, se poate aminti:
Propunerea unei arhitecturi electrice pentru structura de testare automat
de tip stack and rack, fr integrare a aparatelor & echipamentelor electrice
ntr-o carcas de tip stack. O astfel de implementare ofer libertate privind
relocare sistemului n alte locaii;
Crearea documentaiei sistemului de testare automat prin crearea unui
project ORCAD, n Pspice, unde pot fi urmrite semnalele de la proba de
testare pn la echipamentul de msur. Toate versiunile ATS-ului sunt
nsoite de aceste proiecte ORCAD care vor arta modificrile efectuate
asupra sistemului;
Crearea unor noi module pentru sistemul de testare automat, de exemplu:
placa de multiplexoare necesar routrii semnalelor de frecven nalt;
Crearea a mai multor tipuri de paturi de cuie, cu diferite mecanisme de
prindere a PCB-ului i noi tipuri de micare a probelor de testare. Pentru
proiecte, autorul a folosit, paturi de cuie cu probe fixe, pe care placa va fi
fixat cu ajutorul ghidajelor pe aceste probe, paturi de cuie cu probe mobile
unde placa este fix iar probele vor avea o micare de elevaie de jos n sus;
Routarea traseelor prin sistemul de msur respectnd reguli de routare
astfel nct perturbaiile de tip electromagnetic s fie ct mai reduse;
Reducerea dimensiunii interfeei ATS-ului, prin introducerea unor module de
tip PCB n interiorul acesteia. Ceea ce se realiza nainte cu fire, acum se va
realiza cu un cablaj imprimat;
Realizeaz un plan de mas de tip starground, astfel fiind create bucle de
mas ct mai mici, prin reducerea buclelor de mas fiind mbuntite
msurtorile efectuate cu sistemul;
Construcia fizic a sistemului de testare automat, din stadiul de
echipamente independete pn la forma final folosind documentaia
realizat n ORCAD;
Integrarea a 2 tipuri de comunicaie n cadrul unui sistem de testare
automat: Ethernet i GPIB;
168 CapVI. Contribuii personale

Integreaz un nou dispozitiv de msur, de tip osciloscop, prin folosirea a
dou osciloscoape: LeCroy pe o magistral de tip LAN i Tektronix pe o
magistral de tip GPIB.

4. Capitolul IV Structura software: algoritmi, cazuri de
testare, particulariti

n cadrul acestui capitol principalele contribuii ale autorului se regsesc n:
Am identificat pe baza documentelor primite, a cazurilor de testare posibile
a fi implementate respectnd standardele automotive;
Am creat specificaiile de testare, specifice cazurilor de testare care urmau a
fi implementate, ntr-un mod general, cu aplicare pe proiect astfel nct prin
adaptri minore ale specificaiilor, acestea s poat fi folosite i n cadrul
altor proiecte;
Am realizat interfea grafi cu utilizatorul, pentru o utilizare ct mai uoar a
ATS-ului cu posibilitatea de preluare a informaiilor necesare pentru proiect;
Am dezvoltat i implementat drivere necesare bunei funcionri a
echipamentelor din componena ATS-ului;
Am elaborart algoritmii pentru rularea cazurilor de testare, un exemplu fiind
algoritmul de efectuare a msurtorilor de eficien a surselor SMPS;
Am implementat / dezvoltat cazurile de testare pentru validarea ECU-ului
conform documentaiei primite, dar nu numai.

Pentru aplicaiile de testare, construite cu ECU Test autorul a adus
urmtoarele contribuii, optimiznd timpii de rulare a secvenelor de testare:
Am identificat lacunele de testare total sau parial a
cerinelor/specificaiilor;
Am creat fiiere de mapare care ajut la controlul semnalelor CAN, cu
ajutorul acestora cazurile de testare devenind portabile;
Am creat pachete pentru o bibliotec nou, n aceasta fiind salvate
pachetele care construiesc cazurile de testare pentru:
o funcia de oprire a motorului;
o funcia de pornire a motorului;
o funcia de introducere a vitezelor: D, P, R, N, M+, M-, S+, S-;
o funcia de asisten la parcare;
o funcia de siguran n cazul producerii unei defeciuni electrice;
o funcia de siguran n cazul producerii unei defeciuni mecanice;
o funcia de protecie mpotriva rulrii nedorite;
timeout;
schimbri de date;
CapVI. Contribuii personale 169

o funcia de diagnoz n cazul unor valori neplauzibile a semnalor de
CAN;
o funcia de diagnoz n cazul transmiterii unor valori neplauzibile
transmise de ceilai senzori;
o funcia de diagnoz/protecie n cazul apariei unor tensiuni
accidentale prea mari;
o funcia de diagnoz/protecie n cazul apariei unor tensiuni prea
mici;
o funcia de diagnoz/protecie n cazul apariiei unor perturbaii de tip
lipsa magistralei de comunicaie CAN.

Bibliografie

[1] Agilent Co: Agilent 33250 80MHz Waveform Generator Users guide March
2003
[2] Agilent Co: Programming Guide GPIB DC Power Supplies January 2012
[3] Agilent Co: IO Libraries Suite 15.5 VISA Users Guide October 2012
[4] Agilent Co: Side by side SCPI Command Comparison of the Agilent U2741A,
34405A, and 34410A Digital Multimeters 2006
[5] Agilent Co: 34410/11A Comand Quick Reference 2006
[6] Agilent Co: E3645A Single Output DC Power Supplies Users Guide -2009
[7] Agilent Co: 82357A USB/GPIB Interface - 2010
[8] Agilent Co: Test system Development Guide - 2009
[9] Agilent Co: Agilent Connectivity Hardware for PC-to-Instrument Connections -
2011
[10] Agilent Co: Test System Development Guide 2007
[11] Agilent Co: Agilent 34970A Data Aquisition/ Switch Unit Family 2009
[12] Ahrikencheikl C., Spears M. Limited access testing of analog circuits:
handling tolerances International Tets conference - 1999
[13] Alan Albee Boundary Scan and In Circuit Test Combined Strategy and
Benefits 1999
[14] Anderson B. Parameter Design solutions for analog in circuit testing problems
IEEE International Conference on Communications - 1988
[15] Belega Daniel Masurari electrice si electronice 2005
[16] Begic Goran System Test Design Keeping the loop - 2010
[17] BMW 7 Series Gallery 2011
[18] Blair M., TEDL a new test interface standard from the IEEE Autotestcon
1997
[19] Bruno L., Andre M.,A Comparison between LAN and GPIB Instrument
Interfaces in a Automated Test System, 2007 ICEMI 8th International Conference
on Electronic measurement and Instruments, pp. I 761- I 762, Aug.2007
[20] Bode F. IVI comes of age: an overview of IVI specifications with current
status Autotescon proceedings 2002
[21] Bongard, J.C., Lipson, H. (2004) Once More unto the Breach: Automated
Tuning of Robot Simulation using an Inverse Evolutionary Algorithm Proceedings
of the Ninth Int. Conference on Artificial Life 2004
[22] Bosch Specification, ISO 11898 - 1191
[23] Bucanac C. The V-Model University of Karlskrona/Ronneby 1999
[24] Burns M., Burns R. An introduction to Mixed-signal IC Test and measurement
Oxford, New York 2001
[25] Crstea Calin Horia: Strategii de inspecie i testare n electronic 2007
Bibliografie 171

[26] Crstea Calin Horia Testare Echipamente electronice 1998
[27] Crstea C. H., Avram A., Rangu M. Tehnologie Electronica Augusta
Timisoara 2003
[28] Crstea C.H. Constructia si tehnologia echipamentelor electronice Ed.
Politehnica Timisoara - 2000
[29] Cebi A., L. Guvenc, M. Demirci, C. Karadeniz, K. Kanar, and E. Guraslan, "A low
cost, portable engine electronic control unit hardware-in-the-loop test system",
Proceedings of the IEEE International Symposium on Industrial Electronics 2005
[30] Changhua Lu, Xiaokand Deng, Chun Liu, Yong Wang An Optimization
algorithm for computing the minimal test set of circuits 08
th
International
Symposium on Inteligent information Technology Applications Workshops - 2008
[31] Christopher Michael Ledbetter Automated bench setup to characterize and
test integrated circuits efficiently Texas Technical University 2005
[32] Cheung Grace M. Development of an automated efficiency and loss
measurement system for high-efficiency power converters Massachusetts Institute
of Technology 2010
[33] Chodacki M., Badura D. Autonomous test structures for synchronous
sequential circuits 13
th
international Carphatian Control Conference - 2012
[34] Continental AG: Power Supply Test Specification 2009
[35] Continental AG: Power Suplly Test Specification 2010
[36] Cottet F., Ciobanu, O. Bazele programrii n LabVIEW Ed. MatrixRom
Bucureti 1999
[37] Cram R.S GPIB compliance testing in a large test and measurement company
Autotestcon 1994
[38] Cristaldi L., Ferrero A., Piuri V. Programmable instruments, virtual
instruments and distributed measurement system what is really useful, innovative
and technically sound Instrumentation & measurement magazine IEEE - 1999
[39] Cruz P.P, Gutierez A.M LABView for intelligent control research and education
IEEE 4th International Conference on E-Learning in Industrial Electronics (ICELIE)
- 2010
[40] Croma ATE Inc Switching Power Supply Automatic Test system - 2007
[41] Czapski J - Useful features of automated test systems in the R&D laboratory -
2000 IEEE Autotestcon Proceedings, pp 601-613, Sep. 2000
[42] Danna N. Cost software prevents ATE obsolescence Test & Measurement
world 2006
[43] Dae-Hyun Kum, Joonwoo Son, Ivan Wilson Automated Testing for Automotive
Embedded Systems SICE-ICASE 2006 International Joint Conference
[44] DeMillo, McCracken, Martin, Passafiume Software Testing and Evaluation
1989
[45] Dimitrijevi B.R., Simi M.M., Virtual instrumentation software applied to
integrated circuit testing procedure 27th International Conference on
Microelectronics Proceedings (MIEL) 2010
[46] Dspace.de HiL Testing 2012
[47] Dspace.de ECU Network Testing by Hardware in the loop simulation - 2003
172 Bibliografie

[48] Elbadri M, Groza V., Abielmona R., Assaf M. A Reconfigurable Processing Unit
for Digital Circuit Testing using Built in Self Test Techniques IEEE Procedings
Instrumentation and Measurement Technology Conference 2006
[49] Ellis K., Delaney Signal definition and test description Autotescon
proceedings 2002
[50] Emmert G.T Considerations for implementing high performance VXI test
systems Autotestcon 1998
[51] Erickson R.W Fundamentals of power electronics Kluver Academic Press -
2001
[52] Ernami A., Yazdi H.T Designing and constructing transformer test system
with aif of Labview 2
nd
International conference on Adaptive Science & Technology
- 2009
[53] Faulkner P. Flexible mixed architecture automated test systems uses
VME/VXI/compact PCI/PXI VMEBUS systems - 2003
[54] Fexa P., Vedral J. Developing automated data aquisition systems for ADC and
DAC testing IEEE 6th International conference on Intelligent Data Aquisition And
advance Computing systems (IDAACS) - 2011
[55] Floor Sietsma A Case Study in Formal Testing and an Algorithm for Automatic
Test Case Generation with Transition Systems University of Amsterdam 2009
[56] Fu Wei, Zhu Yan, Fu Junli, Ouyang Puzhong Control and testing system based
on LABView for programmable AC Power source 10
th
International Conference on
Electronic Measurement & Instruments (ICEMI) - 2011
[57] Gyurova Lavrova Antonia Automation of testing for automotive embedded
systems October 2006
[58] Goulart T.J, Consonni D, Automated system for measuring electrical three-
phase power components, IEEE Transaction on Education, pp. 336-341, Nov. 2001
[59] Goad K.G., Tront J.G, McKeeman J.C, A PC-based automated guided probe
testing system, System Theory 1989 Proceedings, Twenty-First Southeastern
Symposium on, pp. 345-348, March 1989
[60] Gooding M., Cohen L. Evaluation of three ATE test environments IEEE vol
12 Electronics magazine 1997
[61] Grochowski A., Bhattacharya D., Viswanathan T.R., Laker K. Integrated
circuit testing for quality assurance in manufacturing: history, current status and
future trends IEEE Transaction on Circuits and Systems II: Analog and Digital
Signal Processing - 1997
[62] Guangfan Shi, Guangming Yan, Jigang Li, Guanran Wang, Zeguo Cheng The
design and implement of virtual instrument based on computing technique and USB
platform 3
rd
International Conference on Information Technology - 2005
[63] Guangzhao Luo, Weiguo Liu, Ke Song ; Zhong Zeng - dSPACE based
Permanent Magnet Motor HIL simulation and test bench International Conference
on Industrial Technology IEEE 2008
[64] Ghmann Clemens Model Based Testing of Automotive Control Units - 2009
[65] Harper C. Electronic Packaging and Interconnection Handbook McGraw Hill
- 2000
Bibliografie 173

[66] Han Mei The hardware design of the testing system for small grid off wind
turbine generator based on Labview International conference on Electronics,
Communication and Control (ICECC) - 2011
[67] Hawrylak P.J., Ogirala A., Cain J.T., Mickle M.H, Automated Test System for
ISO 18000-7 Active RFID, RFID, 2008 IEEE International conference, pp 9-18, April
2008
[68] Huertas J.L. Test and design for test of mixed signal integrated circuits
17th Symposium on Integrated Circuits and system design - 2004
[69] Huiqin Zhan, Jun Gu, Automated Testing System of Upper Air Platform for
Aviation Engine ,IEEE 2006 Autotestcon, pp 46-52, September 2006
[70] Huizong Feng, Fenling Liu, Yang Xu Functional testing system based on
Labview for gas-fueled automobile engine ECU 3rd International Conference on
Advance Computer Control (ICACC) 2011
[71] Hults C., Schwedner F., Grossman S. In Circuit test an evolution IEEE
Transaction on Manufacturing Technology - 1975
[72] Hongbo Yu, Yihua Lan, Haozheng Ren, The Research about an Automated
Software Testing System Run Tool, 2011 3rd International Workshop on Intelligent
Systems and Applications USA, pp. 1-4, May 2011
[73] IBM, Systems Application Architecture: Common User Access: Basic Interface
Design Guide, Document SC26-4583-0 1992
[74] ICS Electronics IEEE 488 Extending the GPIB Bus - 2003
[75] IEEE IEC/IEEE Standard for Higher Performance Protocol for the Standard
Interface for Programmable Instrumentation Part 1: General - 2010
[76] IEEE Strandard Digital Interface for Programmable Instrumentation Part 2:
Codes, Formats, Protocols and Common Commands IEEE Std 488.2-1992
update 2010
[77] IEEE Standard for signal and test definition IEEE Std. 1641-2004
[78] Ignea A. Introducere n compatibilitatea electromagnetic Editura de Vest,
Timisoara, 1998
[79] Ignea A., Stoiciu D. Masurari Electrice, sensori si traductoare Ed.
Politehnica Timisoara 2006
[80] International Standard, Road Vehicles Controller Area Network Part II: High-
speed access unit, ISOCD 11898-2 1991
[81] Internationl Standard, Road vehicles Controller Area Network Part V,
ISO11898-5
[82] International Standards, ISO11898-2 2003
[83] International Standards, ISO 11898-1: CAN Data Link Layer and Physical
Signalling, -2003
[84] International Standards, ISO 11898-2: CAN High-Speed Medium Access Unit , -
2003
[85]International Standards, ISO 11898-3: CAN Low-Speed, Fault-Tolerant,
Medium-Dependent Interface - 2003
[86] International Standards, ISO 11898-4: CAN Time-Triggered Communication -
2003
174 Bibliografie

[87] International Standards, ISO 11898-5: CAN High-Speed Medium Access Unit
with Low-Power Mode - 2003
[88] International Standards, ISO 11898-6: CAN High-speed medium access unit
with selective wake-up functionality 2003
[89] International Organization for Standardization IEEE 488.1 Digital interface
for programmable instrumentation 1988
[90] International Organization for Standardization IEEE 488.2 Codes, formats,
protocols and common commands for use with IEEE std. 488.1 - 1987
[91] International Organization for Standardization - ISO FDIS 16750-1:2006: Road
Vehicles -- Environmental conditions and testing for electrical and electronic
equipment Generals 2006
equipment Electrical loads 2006
equipment Mechanical Loads 2006
equipment Climatic loads 2006
equipment Chemical loads 2006
[96] Ingun GmbH Test Probes Catalog 2007/2008
[97] Isar D. Echipamente de conducere a proceselor industriale Ed. Politehnica
Timisoara 1999
[98] Isar D. Interfete seriale pentru comunicatii industriale Ed. Politehnica
Timisoara - 2002
[99] Jan G.J., Law S.F., Implementation and use of general purpose interface bus
interface in an automatic testing and measurement system of a management power
supply, Review of Scientific Instruments, pp. 2488-2493, Nov. 1988
[100] Jianguang Jia, Jingming Kuang, Zunwen He, Jun Fang, Design of automated
test system based on GPIB, ICEMI 09th International Conference on Electronic
Measurement & Instruments 2009, pp 1-943 1-948, August 2009
[101] Jian Song Measure and test system of belt driving based on LABView
International Conference on Mechanic Automation and Control Engineering (MACE)
2010
[102] Jingdyi Du, Wenqiang Xie, Xuan Wang Transducer Testing System Based on
Virtual Instrument Technology 3rd Pacific-Asia Conference on Circuits,
Communication and System (PACCS) 2011
[103] Jinming Tian, Chenglong Gong, Linhai Ji, Xiuqiang Chen Test platform of
auto wheel speed sensor based on LABView 2nd International Conference on
Computer Engineering and Technology (ICCET) 2010
Bibliografie 175

[104] Jurca T., Stoiciu D., Mischie S. Aparate electronice de masurat Ed.
Orizonturi universitare 2001
[105] J. Du, Y. Wang, C. Yang, and H. Wang, - Hardware-in-the-loop simulation
approach to testing controller of sequential turbocharging system - Proceedings of
the IEEE International Conference on Automation and Logistics, 2007
[106] Kai Zhou, Xudong Wang, Chao Zhang, Jian Liu Data aquisition system based
on Labview for ABS dynamic simulation test stand IEEE International Conference
on Information and Automation (ICIA) - 2010
[107] Kaner Cern Architectures of Test Automation August 2000
[108] Kassner J., Menzel W. In Circuit testing of complex circuits using on-wafer
probing and electromagnetic coupled ground interconnects IEEE MTT-S
International Microwave Symposium - 2000
[109] Klein L., Bridgeman J. An architecture for high speed analog in circuit
testing Internation test conference - 1990
[110] Lascu M., Metode analogice i numerice de msurare a marimilor electrice
2000
[111] Lascu M., Tehnici avansate de programare in LabView 2007
[112] Lascu D., Lascu M., Babaita M., Popescu V., Negoiescu D. - LabVIEW-Based
Control of a Switching Board for Distance E-Learning 2008
[113] Laskar, Shahedul Haque, Muhammad Mohibullah Power Quality Monitoring
by Virtual Instrumentation using LABView 46
th
International Universities Power
Engineering Conference (UPEC) - 2011
[114] Lecroy Company X-Stream Oscilloscopes Remote control Manual february
2005
[115] Leikai Ma, Liang Xu, Kunpeng Zhang, Wei Wu, The measurement of series
and shung resistance of the silicon solar cell based on LabView, 2011 International
Conference on Electrical and Control Engineering (ICECE), pp. 2711-2714, Sept.
2011
[116] Li Pengfei, Nie Luhua, Remote Control Laboratory Based on LabView, ICICTA
09 Second International Conference on Intelligent Computation Technology and
Automation, pp. 84-87, Oct. 2009
[117] Lindlar F., Windisch A., A Search Based Approach to Functional Hardware in
the Loop Testing, 2010 Second International Symposium on Search Based Software
Engineering (SSBSE), pp.111-119, Sept.2010
[118] Lockhart M., Clabon L., Lott C., James M. Automated Battery tester data
aquisition System using LABView Region 5 Conference - 2008
[119] Marick B. When a Test should be automated Stareast 1999
[120] Malian J., Eklow B. Embedded Testing in Circuit Test environment
International Test conference - 2008
[121] Melich Cakmakci, Yonghua Li, Shuzen Liu Model in the loop Development fur
Fuel cell vehicle 2011 American Control Conference, San Franscisco
[122] Microchip Datasheet MCP 2551 high speed CAN Transceiver 2003
[123] Microchip Manuals Controller Area Network (CAN) Basics
176 Bibliografie

[124] Mitchell J., Lockwood J. Tools for in circuit testing of on-line content
processing hardware IEEE International conference on Mircoelectronic Systems
Education 2005
[125] Miegler M., Wolz W. Development of test programs in a virtual test
environment 14
th
IEEE VLSI test symposium - 1996
[126] Mueller J., Oblad R. Architecture drives test system standards IEEE 2000
[127] Mueller J.E Achieving instrument interchangeability with IVI instrument
drivers Autotestcon 2003
[128] National Instruments: LAB Windows/CVI user manual 1998
[129] National Instruments: LAB Windows/CVI test executive toolkit reference
manual 1998
[130] National Instruemnts: Using teststand manual 2003
[131] National Instruments: Designing Automated Test Systems 2002
[132] National Instruments: Building a Stand-Alone Application 2006
[133] National Instruments: History of GPIB 2010
[134] National Instruments: GPIB Addressing NI-488 User Manual 2005
[135] National Instruments: GPIB Instrument Control Tutorial 2009
[136] National Instruments: NI-488.2 User Manual february 2005
[137] National Instruments: Controller Area Network Overview 2006
[138] National Instruments: Basics of Control Design and Simulation 2001
[139] National Instruments: Develop a Wireless Measurement System 2007
[140] National Instruments: The future for new bus technologies in instrument
control and connectivity 2006
[141] Neblett B. Implementing reusable instrument independent test programs in
the factory IEEE vol 12 1997
[142] Neskovic M.D, Spasic J.S, Celebic V.V, Salom I.M (2010) An Automated
hardware testing using PXI hardware and Labview software, 2010 5th European
Conference on Circuits and systems for communication (ECCSC), pp 232-235, 2010
[143] Novak J., Flexible approach to the Controller Area Networks test and
evaluation, 2009 IDAACS IEEE International Workshop on Intelligent Data
Acquisition and Advanced Computing Systems: Technology and Applications, pp. 44-
48, Sept.2009
[144] Novak J., Kocourek P., Automated Testing of Electronic Control Units
Compatibility in Vehicle CAN Networks, 2005 Proceedings of the IEEE International
Symposium on Industrial Electronics, pp.1423-1428, June 2005
[145] NVE Company IL 41050 Isolated High speed CAN Transciever - 2012
[146] NXP Datasheet AN00020 TJA1050 high speed CAN Transciever - 2007
[147] Ono K.,Ohmori K.,Fujii T., Asakura T., Automated testing system for
switching systems with multiple modules, International IEEE Conference on
Communications, 1997 ICC Montreal Towards the Knowledge Millennium, pp. 236-
240, Jun. 1997
[148] Ostfalia University of Applied Sciences Model in the loop simulation including
Automotive Control Systems Salzburg Austria Mai 2011
Bibliografie 177

[149] Pasquarette J. Using IVI drivers to build hardware National Instruments
1998
[150] Pelesca J., Klemens B., Hunnar J., Hartmann T. Advancement in automated
simulation and testing technology for safety critical avionic systems University of
Bremen 2006
[151] Perez S. M The critical need for open ATE architecture International
conference test 2004
[152] Pietro P.S., Angelo Morzenti, Morasca Sandro Generation of execution
sequences for modular time critical systems IEEE transactions on software
engineering 2000
[153] Pitica D., Radu M. Elemente de testare pentru sisteme electronice Ed.
Albasta Cluj Napoca - 2001
[154] Prutianu Florin, Popescu Viorel LeCroy & Tektronix Oscilloscopes remotely
controlled with LabView drivers on LAN/GPIB communication protocol Oradea,
2012, cotata B
[155] Prutianu Florin, Popescu Viorel Automated testing system for CAN
communication circuit Suceava, 2012, cotata ISI factor de impact 0.7
[156] Prutianu Florin, Pop Calimanu Ioana-Monica, Popescu Viorel Validation
system for power supply module part of automotive ECUs ISETC Timisoara,2012,
cotata ISI
[157] Prutianu Florin, Pop Calimanu Ioana-Monica, Popescu Viorel Semi-
Automated Power Supply effciency measuring system ISETC Timisoara, 2012,
cotata ISI
[158] Prutianu Florin, Pop Calimanu Ioana-Monica, Popescu Viorel Power
factor correction inductor design from a wind turbine boost converter Oradea,
2011, cotata B
[159] Prutianu Florin, Popescu Viorel Control of single phase inverters for wind
energy conversion using PWM techniques ISETC Timisoara, 2010, cotata ISI
[160] Palladino A., G. Fiengo, F. Giovagnini, and D. Lanzo, "A Micro Hardware-In-
the-Loop Test System", IEEE European Control Conference, 2009
[161] Popescu Viorel Surse de alimentare nentreruptibile 2004
[162] Popescu Viorel Electronic de putere 2005
[163] Popescu V., Lascu D., Negoitescu D. Convertoare de putere in comutatie -
Ed. De Vest Timisoara 1999
[164] Prashant S. Parikh, Abramovici M. Testability based partial scan analysis
Journal of electronic testing 1995
[165] Pretschner A. Model based testing 27
th
Internation Conference on
Software engineering 2005 , Zurich
[166] Purcell A. The search for a gpib replacement Autotestcon 1999
[167] Rabe D., Miller J. Applying software process to Virtual Instrument based test
program set development Autotestcon Proceedings - 1997
[168] Rankin D.J, Jin Jiang A Hardware in the loop Simulation platform for the
Verification and Validation of Safety Control Systems IEEE Transaction on Nuclear
Science 2011
178 Bibliografie

[169] Rajsuman R., Masunda N., Yamashita K. Architecture and design of an open
ATE to incubate the development of third party instruments, instrumentation and
measurements IEEE transaction vol 54 2005
[170] Riegraf T., Beeth S., Krau S. Efficient Testing in Automotive Electronics
ATZ Conf. 2007
[171] Rolain Y., Van Moer W. Block oriented instrument software design IEEE
transaction on instrumentation an measurement 2005
[172] Rolince D. Symplifing TPS development and execution using a PC web
based environment Terradyne INC
[173] Roline D. Applying virtuals test principles to digital test program
development Terradyne INC
[174] Stasonis B. A new architecture for many test requirements internation
test conference - 2003
[175] Siegel S., Hielscher K.S, German R., Berger C. Formal specification and
systemic model-driven testing of embedded automotive systems Design,
Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE) 2011
[176] Simu D. Contributii la configurarea unor structuri de testare automata cu
aplicatii in avionica Timisoara 2006
[177] Soh Ying Seah Combining ATE and flying probe in circuit test strategies for
load board verification and test Instrumentation and measurement conference
2009
[178] Stern P. High performance component software changes the rules for
configuring ATE Test division Terradyne INC
[179] Stoica S. System design verification tests an overview Test conference -
1999
[180] Stora M.J., Droste D. ATE open system platform autotestcon 2003
[181] Swain N.K., Anderson J.A, Ajit Singh, Swain M., Fulton M., Garrett J., Tucker
O.,Remote data acquisition, control and analysis using LabView fron panel and real
time engine, IEEE Procedings 2003 SoutheastCon 2003, pp. 1-6, April 2003
[182] Tektronix Company Power Supply Measurement and Analysis 2002
[183] Tektronix Company Test & Measurement Solutions - 2008
[184] Texas Instruments Introduction to the Controller Area network 2006
[185] Ting Yang, Yicheng Zhang, Yongtao Yao, Hengliang Ren Development of a
Testing Platform for DC/DC Converters in Fuel Cell Electrical Vehicles IEEE
International Conference on Vehicular Electronics and Safety 2006
[186] Topalov A., Mayrhofer K.J.J Development and integration of a LABView-
based modular architecture for automated execution of electrochemical catalyst
testing Review of Scientific Instruments - 2011
[187] T. Hwang, J. Rohl, K. Park, J. Hwang, K. H. Lee, K. Lee, S.-J. Lee, and Y.-J.
Kim, "Development of HIL Systems for active Brake Control Systems", SICE-ICASE
International Joint Conference, 2006
[188] Tracetronic GmbH ECU Test Data Sheet
[189] Tracetronic GmbH ECU Test Users Guide Manual
Bibliografie 179

[190] Tudoroiu N., Prostean O., Curiac D. Automatizari Complexe Ed. Mirton
Timisoara - 1993
[191] US Department of Transportation Systems Engenieering for Inteligent
Transportation Systems - 2007
[192] Vasiu Radu Testarea echipamentelor electronice Ed. Orizonturi
Universitare Timisoara - 2001
[193] Vector Company Hardware for ECU Testing - 2008
[194] Vlduiu M., Crian M. Tehnica testrii echipamentelor automate de
prelucrare a datelor - 1989
[195] Washington C., Delgado S. Improve design efficiency and test capabilities
with HIL Simulation Autotestcon IEEE 2008
[196] Weidong Zhu, Steve Pekarek, Juri Jatskevich, Oleg Wasynczuk, Dana Delisle
A Model in the loop Interface to emulate Source Dynamics in a Zonal DC Distribution
System
[197] West G. B., Jones M.F Digital synchronization for reconfigurable ATE
International test conference - 2004
[198] Zagal, J.C., Ruiz-del-Solar, J., Vallejos, P. (2004) Back-to-Reality: Crossing
the Reality Gap in Evolutionary Robotics. In IAV 2004: Proceedings 5th IFAC
Symposium on Intelligent Autonomous Vehicles, Elsevier Science Publishers
[199] Zakizadeh J., Das S.R, Assaf M.H, Petriu E.M, Sahinoglu M., Jone W.B
Testing Analog and mixed Signal Circuits with built in hardware a new approach
Proceedings of the IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference
2005
[200] Zhang Shutuan, Zhang Yi, Liu Lingshun, Gao Yanli 10
th
International
conference on Electronics Measurement & Instruments (ICEMI) - 2011
[201] Zhang Wenfan, Liao Hui, Design and research of performance of automated
test system of electro-hydraulic proportional valve, International Conference on
Eletronics, Communication and Control (ICECC) 2011, pp 1989-1991, Septmeber
2011
[202] Zhang Xinjun, Tashiro Y., Takata H., Fujii T., Yamamuro M., Kasai D.,
Shimomura T., An approach to automated program testing and debugging, 1999
Proceedings Sixth Asia Pacific in Software Engineering Conference, pp. 582-589,
Dec. 1999
[203] Zhou Jiadong, Ouyang Guangyao, Wang Minghe Hardware in the loop
Testing of Electronically-Controlled Common-Rail Systems for Marine diesel engine
International conference on Intelligent computation Technology and Automation
(ICICTA) 2010
[204] Zulkifli M.Z, Harun S.W, Thambiratnam, Ahmad H., Self Calibrating
Automated Characterization Systems for Depressed Cladding EDFA Applications
Using Labview Software with GPIB, IEEE transactions on Instrumentation and
Measurement, pp. 2677-2681, Nov. 2008
[205] www. bcs.fansamotors.com

Teza Doctorat Florin Prutianu

Încărcat de

Informații document

Drepturi de autor

Formate disponibile

Partajați acest document

Partajați sau inserați document

Opțiuni de partajare

Vi se pare util acest document?

Este necorespunzător acest conținut?

Drepturi de autor:

Formate disponibile

Teza Doctorat Florin Prutianu

Încărcat de

Drepturi de autor:

Formate disponibile

CONTRIBUII

S-ar putea să vă placă și