UNIVERSIDAD NACIONAL DE COLOMBIA, MARZO 2014 1

Informe Prctica de Laboratorio 4 - Respuesta

Transitoria de Circuitos de 1
er
y 2
do
Orden.
Daniel Gmez Martnez, Eric F. Herrera Len, Guillermo A. Martnez Lpez
Cd. 223573, Cd. 285843, Cd. 261725
dagomezma@unal.edu.co, efherreral@unal.edu.co, gamartinezl@unal.edu.co
Bogot, Colombia
Abstract This report presents a detailed practical and theoreti-
cal analysis about the temporal response of rst and second order
electrical circuits built with capacitors and coils (energy storage
elements). First were designed and tested RC and RL circuits
(rst order), and were identied their main characteristics, as are
the time-constant and amplitude. Then was designed the series
RLC circuit (second order) and implemented the three cases to
obtain the different responses: Underdamped, Critically Damped
and Overdamped. All the behaviors were viewed on the oscilloscope,
including those obtained for the equivalent resistance variations.
Finally were compared the results obtained in the laboratory with
the theoretical expected values. We obtained the expected waveforms
for each circuit, although they present low errors that were due
to the tolerance of the elements and the measures accuracy taken
from the oscilloscope. These results allow us to understand and
check the behavior of the energy storage circuit elements, and nd
out how we can use them to design applied circuits like electrical
lters or smoothing circuits among many others.
Index TermsCapacitor, Coil ,Damping, Temporal Response,
Time Constant.
I. INTRODUCCIN
L
OS elementos de circuitos que permiten almacenar ener-
ga en forma de campo elctrico (capacitaros o condensa-
dores) o en forma de campo magnetico (bobinas o inductores)
han permitido el desarrollo de un gran numero de circuitos
adaptables a satisfacer diferentes necesidades en el diseo
de aplicaciones de ingeniera. La principal caracterstica de
estos elementos es que su relacin entre tensin y corriente es
diferencial, es decir varan con el tiempo. Estos elementos
permiten construir circuitos que pueden ser caracterizados
por ecuaciones diferenciales de primer y de segundo orden.
Adicionalmente de acuerdo a los parmetros de cada circuito
se pueden obtener diferentes respuestas de los valores de
tensin y corriente del circuito en el tiempo. El objetivo
de este informe es presentar los resultados obtenidos para
diferentes conguraciones de circuitos de primer y segundo
orden, realizando un anlisis de las diferencias entre las
respuestas tericas y las obtenidas en el laboratorio. Es
importante tener en cuenta que los elementos de circuito
reales tienen un comportamiento diferente al terico, y que
el proceso de medicin puede presentar errores de paralelaje.
Es importante conocer los comportamientos reales de estos
elementos, para que cuando sean utilizados en nuestros diseos
estos respondan adecuadamente y funcionen de acuerdo a los
requerimientos impuestos por los ingenieros.
II. METODOLOGA
Para el desarrollo de la practica de respuesta temporal (tran-
sitoria) de circuitos de primer y segundo orden se realizaron
los siguientes procedimientos:
1. Se disearon un circuito RC y RL con 4 resistencias
en conguraciones serie y paralelo, de tal forma que
se pudiera obtener la respuesta de la tensin en el
elementos almacenador de energia (condensador e in-
ductor respectivamente) por medio de la visualizacion
graca en el osciloscopio. Para esto se considero como
primer criterio de diseo los valores de capacitanica
(C = 22 nF) e inductancia (L = 9 mH) debido a que
se dispona de ellos en el inventario de los integrantes.
Luego se plante un esquema de circuito que considerara
las cuatro resistencias, y que por medio del teorema
de Thevenin puede ser reducido a una resistenica, que
es calculada de tal forma que el tiempo de respuesta
temporal del circuito, seleccionando como 6 veces la
constante de tiempo (6 ); pueda ser visualizada en el
osciloscopio. Adicionalmente se anex un potenciome-
tro al circuito inicial, de tal manera que permitiera variar
la resistencia equivalente e identicar las variaciones que
esto produce en el tiempo de respuesta del sistema.
Los circuitos que se implementaron se presentan en la
Figuras 1 y 2.
Figura 1. Circuito RC
Figura 2. Circuito RL
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En el laboratorio se obtuvieron las respuestas transisto-
rias por medio del osciloscopio. Posteriormente se hizo
un analisis de error considerando como variables de
analisis la constante de tiempo y la amplitud para cada
caso.
2. Se diseo un circuito RLC en serie de tal forma que
ajustando el valor de la resistencia obtuvieramos los tres
tipos de respuesta del sistema de segundo orden.Como
criterios de diseo se consideraron los mismos valores
de capacitancia e inductancia ya mencionados, y se
calculo la resistecnia necesaria para que se obtuviera
una respuesta criticamente amortiguada (R = 1279
), sobreamortiguada (R = 1800 ) y sub-amortiguada
(R = 220 ). Para esto se dispuso de un potenciometro
que fue ajustado para obtener la respuesta de cada caso.
En la Figura se presenta el circuito implementado.
Figura 3. Circuito RLC
3. Finalmente se analizaron las fuentes de error, se resol-
vieron las preguntas propuestas y se plantearon algunas
conclusiones de acuerdo a lo experimentado en el labo-
ratorio.
III. RESPUESTAS A PREGUNTAS PLANTEADAS
III-A. Existen diferencias entre las formas de onda tericas
y las experimentales? Como calculara el error?
Si existen diferencias en las grcas que pueden tener su
origen en las tolerancias de los elementos utilizados (resis-
tencia, condensador o inductor), en el efecto que le imponen
al circuito la impedancia de salida del generador de seales,
e incluso en la resolucin y exactitud de los instrumentos de
medida. Sin embargo la forma de onda si se conserva, es decir,
se obtienen las ondas esperadas con algn margen de error.
Para el calculo del error se podran discretizar cada una
de las grcas, en otras palabras, tomar un intervalo de tiempo
(tiempo de muestreo) y obtener el error punto a punto de cada
una de las muestras. Sin embargo este proceso es engorroso y
no entrega una estimacin global del error. Otra alternativa es
obtener las caractersticas mas relevantes del modelado de las
curvas, como lo son la constante de tiempo () , el factor de
amortiguamiento () , frecuencia de resonancia (
0
), y/o la
frecuencia de amortiguamiento (
d
), y calcular un error para
estos parmetros. Este error nos da una vista mas general de
los errores entre las dos curvas caractersticas.
III-B. Que sucede con la respuesta transitoria en un
circuito RC y RL al variar la R equivalente?
Los circuitos RC y RL, son circuitos de primer orden.
Estos circuitos estn caracterizados por la ganancia y por la
constante de tiempo. Como son circuitos pasivos la ganancia
mxima (asumiendo que no ah perdidas), seria 1 y no depende
de los elementos del circuito. En cambio la constante de
tiempo, si es dependiente de los elementos, ya que = RC
(directamente proporcional a R), para el circuito RC, y =
L
R
(inversamente proporcional a R), para el circuito RL y por
lo tanto las variaciones de R equivalente alteran el tiempo
de respuesta del circuito. Como se puede ver en las grcas
obtenidas en el osciloscopio para la tensin en el condensador
(ver desde la Figura 6 hasta la Figura 16) y en las Tablas
IV,V,VI, las constantes de tiempo cambiaron a medida que
se altero la resistencia, y visualmente se modico la forma
de onda. Inclusive cuando se hizo muy grande, la forma de
onda obtenida no fue la correcta, debido a que el periodo de
la fuente AC (generador de seales) ya no era suciente para
visualizar la respuesta completa del elemento, y se desplazaba
la grca, es decir los picos de subida y bajada ya no coincidan
con los de l generador.
III-C. La impedancia de la fuente o generador de seales
tiene algn impacto en la respuesta transitoria? Demustrelo.
La impedancia de salida de la fuente o del generador de
seales si tiene un efecto en la respuesta transitoria, ya que los
parmetros caractersticos de cada tipo de circuito dependen
de la R equivalente del circuito. Para el caso de RC, RL y
RLC en serie, la resistencia equivalente se incrementa debido
a que:
R
eq
= R
f
+R
Donde R
f
es la resistencia de la fuente de alimentacin (DC
o generador de seales AC) y R es la resistencia del circuito.
Debido a que las impedancias de salida deben ser pequeas, su
efecto en el tiempo de respuesta del circuito se hace relevante
a medida que la resistencia del circuito externo es baja. En la
practica, en algunos de los montajes se utilizaron resistencias
de un valor cercano al de la impedancia del generador de
seales (50 ), y esta puede ser considerada como otra fuente
error.
En simulacion se obtienen lso siguientes resultados
III-D. Cual es la diferencia en las formas de onda Crtica,
Sub-amortiguada y Sobreamortiguada?
La forma de onda sobreamortiguada tiene un caracterstica
exponencial, y es la que presenta un menor tiempo de estabi-
lizacin. La forma de onda crticamente amortiguada, tambin
tiene una caracterstica exponencial, creciente o decreciente
dependiendo de la variable, pero presenta un mayor tiempo de
estabilizacin, y se encuentra en el limite antes de presentar
un comportamiento oscilatorio. Finalmente la forma de on-
da sub-amortiguada presenta este comportamiento oscilatorio
(sinusoidal enmarcado por una exponencial) y presenta una
frecuencia de amortiguamiento propia para este caso. En
la Figura 5 se presenta una comparacin grca de las 3
respuestas.
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Figura 4. Grca Comparativa entre las Respuestas crtica (Crittically Dam-
ped), sub-amortiguada (Underdamped) y sobreamortiguada (Overdamped) [1].
Figura 5. Grca Comparativa entre las Respuestas crtica (Crittically Dam-
ped), sub-amortiguada (Underdamped) y sobreamortiguada (Overdamped) [1].
III-E. Que valores de y
0
se obtienen en cada una de
las respuestas crtica, Sub-amortiguada y sobre-amortiguada?
Los valores tericos se presentan en los siguientes cuadros:
Para ver los valores obtenidos en la practica revisar la
seccin 5.4.
Cuadro I
ANLISIS DE VARIABLES UTILIZADAS PARA OBTENER LA RESPUESTA
SUBAMORTIGUADA.
Cuadro II
ANLISIS DE VARIABLES UTILIZADAS PARA OBTENER LA RESPUESTA
CRTICAMENTE AMORTIGUADA.
Cuadro III
ANLISIS DE VARIABLES UTILIZADAS PARA OBTENER LA RESPUESTA
SUBAMORTIGUADA.
III-F. Que representa el coeciente de Neper o de amor-
tiguamiento y la frecuencia resonante en las grcas de
respuesta transitoria?
Estos dos conceptos se pueden analizar en la respuesta
Sub amortiguada.EL coeciente de amortiguamiento deter-
mina el tiempo que tardara el circuito en llegar a su valor
estable (amortiguado). La frecuencia resonante por su parte
representa el numero de oscilaciones que se presentaran por
unidad de tiempo. En un anlisis Frecuencial se dene como
la frecuencia para la cual la funcin de transferencia alcanza
su valor mximo.
IV. RESULTADOS
Para la toma de mediciones se utilizaron los siguientes
equipos: Generador de Seales GW Intek GFG-8215A,Fuente
Dual , Multmetro Fluke 112 True RMS, Osciloscopio -
HITACHI V-252. Las mediciones se encuentran registradas
a continuacin en una serie de fotos en las cuales se puede
apreciar en las convenciones superpuestas tanto la escala del
osciloscopio como la constante de tiempo en cada uno de las
variaciones del potencimetro, esta constante de tiempo resulta
de proyectar una recta tangente desde el valor mximo y leer
en el eje del tiempo el valor de la diferencia entre este punto
y el punto en el cual se corta el eje del tiempo. Los valores
que se le asignaron al potencimetro fueron arbitrarios y se
encuentran consignados en cada una de las imgenes (Rp =
Resistencia del potencimetro).
IV-A. Circuito RC
Toma de datos para el circuito RC. El periodo que se utiliz
para la seal cuadrada originada en el generador de seales
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fue de aproximadamente 310s, de tal manera que se pudiera
apreciar satisfactoriamente la carga y descarga del elemento
que almacena energia, es este caso el condensador (almacena
energa en forma de campo elctrico). As mismo, el valor
pico de la seal de entrada fue de 5V.
Figura 6. Circuito RC - Respuesta en el dominio del tiempo - Rp = 1,80.
Figura 7. Circuito RC - Respuesta en el dominio del tiempo - Rp = 688,00.
IV-B. Circuito RL
Toma de datos para el circuito RL. El periodo que se utiliz
para la seal cuadrada originada en el generador de seales
fue de aproximadamente 310s, de tal manera que se pudiera
apreciar satisfactoriamente la carga y descarga del elemento
que almacena energia, es este caso el inductor (almacena
energa en forma de campo magntico). As mismo, el valor
pico de la seal de entrada fue de 5V.
Figura 8. Circuito RC - Respuesta en el dominio del tiempo - Rp = 1450,00.
Figura 9. Circuito RC - Respuesta en el dominio del tiempo - Rp = 2473,00.
IV-C. Circuito RLC
Toma de datos para el circuito RLC.
V. ANLISIS DE LOS RESULTADOS
V-A. Circuito RC
Partiendo de que todo circuito con fuentes independientes
puede representarse como su equivalente de Thvenin se
redujo cada circuito a su circuito equivalente ms simple,
de tal manera que el anlisis del mismo fuera reducido
considerablemente en trminos de complejidad. Al tratarse
nicamente del anlisis de una malla para la cual ya se conoce
la ecuacin de la Ley de Voltajes de Kirchoff:
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Figura 10. Circuito RC - Respuesta en el dominio del tiempo - Rp =
4940,00.
Figura 11. Circuito RC - Simulacin.
dV
C
(t)
dt
+
V
C
(t)
R
th
C
=
V
th
R
th
C
(1)
Y cuya solucin es:
V
C
(t) = V
th
+ (V
C
(0) V
th
)e

t
R
th
C
(2)
En donde el trmino = R
th
C es conocido como la
constante de tiempo, sta marca el tiempo en el que la recta
tangente a la curva de tensin en el inicio de la carga o
descarga intersecta el eje temporal. Es un trmino importante
porque a partir de que ha transcurrido un tiempo mayor o
igual a cinco veces su valor se alcanza ms del 99 % del valor
mximo de carga, por lo que a partir de ah se puede considerar
como si el capacitor estuviera completamente cargado.
En este laboratorio se han medido los valores reales de cada
una de las resistencias a utilizar y se ha proseguido a valorar
cada una de las posibles resistencias equivalentes en el circuito
de Thvenin en una hoja de calculo, dentro de la misma tabla
se puede encontrar el clculo de en cada caso (C = 22nF):
Figura 12. Circuito RL - Respuesta en el dominio del tiempo - Rp =
12430,00.
Figura 13. Circuito RL - Respuesta en el dominio del tiempo - Rp =
2493,00.
V-B. Circuito RL
Partiendo de que todo circuito con fuentes independientes
puede representarse como su equivalente de Norton se redujo
cada circuito a su circuito equivalente ms simple, de tal mane-
ra que el anlisis del mismo fuera reducido considerablemente
en trminos de complejidad. Al tratarse nicamente del anlisis
de una malla para la cual ya se conoce la ecuacin de la Ley
de Corrientes de Kirchoff:
di
L
(t)
dt
+
R
th
L
i
L
(t) =
R
th
L
i
N
(t) (3)
Que una vez solucionada queda:
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Figura 14. Circuito RL - Respuesta en el dominio del tiempo - Rp = 845,00.
Figura 15. Circuito RL - Respuesta en el dominio del tiempo - Rp = 2,50.
i
L
(t) = i
N
+ [i
L
(0) i
N
]e

R
th
L
t
(4)
Por lo que, teniendo en cuenta que el osciloscopio solo
permite medir tensiones y conociendo la frmula caracterstica
de una inductancia, se sigue que:
V
L
(t) = [V
th
R
th
i
L
(0)]e

R
th
L
t
(5)
En donde el trmino = L/R
th
es conocido como la
constante de tiempo, sta marca el tiempo en el que la recta
tangente a la curva de tensin en el inicio de la carga o
descarga intersecta el eje temporal. Es un trmino importante
porque a partir de que ha transcurrido un tiempo mayor o
Figura 16. Circuito RL - Respuesta en el dominio del tiempo - Rp = 0,00.
Figura 17. Respuesta subamortiguada con R1=131 ohm
igual a cinco veces su valor se alcanza ms del 99 % del valor
mximo de carga, por lo que a partir de ahi se puede considerar
como si el capacitor estuviera completamente cargado.
En este laboratorio se han medido los valores reales de cada
una de las resistencias a utilizar y se ha proseguido a valorar
cada una de las posibles resistencias equivalentes en el circuito
Figura 18. Simulacin respuesta subamortiguada con R1=131 ohm
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Figura 19. Respuesta subamortiguada con R1=221 ohm
Figura 20. Simulacin respuesta subamortiguada con R1=221 ohm
de Thvenin en una hoja de clculo, dentro de la misma tabla
se puede encontrar el clculo de en cada caso (L = 9mH):
V-C. Comparacin entre las constantes de tiempo
En esta seccin se analizar la diferencia que hay entre los
valores de obtenidos a partir de la teora con respecto a los
valores obtenidos en la prctica, para ello se han consignado
los valores en la tabla VI. Procedimiento realizado tanto para
el circuito RL como para el circuito RC.
Gracias a este cuadro que nos permite simplicar toda la
informacin en un nico lugar es fcil comprobar que para la
mayora de las mediciones el valor de la constante de tiempo
se acerca sobresalientemente al valor proporcionado por la
Figura 21. Respuesta subamortiguada con R1=1083 ohm
Figura 22. Simulacin respuesta subamortiguada en Condensador con
R1=1083 ohm
Figura 23. Simulacin respuesta subamortiguada en resistencia con R1=1083
ohm
teora, salvo por los valores del circuito RL en las variaciones
del potencimetro 3 y 4, esto se debe a que el osciloscopio
no proporciona una medida con precisin aceptable y el
investigador se ve sujeto al ruido y la interferencia que pueda
surgir en la seal, adems, de que el investigador es quien
debe decidir casi arbitrariamente el valor que dispondr en
Figura 24. Respuesta crticamente amortiguada con R1=1266 ohm
Cuadro IV
ANLISIS DE RESPUESTA EN TIEMPO PARA DISTINTOS VALORES DEL
POTENCIMETRO
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Figura 25. Simulacin respuesta crticamente amortiguada en Condensador
con R1=1266 ohm
Cuadro V
ANLISIS DE RESPUESTA EN TIEMPO PARA DISTINTOS VALORES DEL
POTENCIMETRO
su tabla de datos de acontecer que el valor que quiere tomar
se encuentra entre dos divisiones concretas de la pantalla del
instrumento.
Con respecto a la forma esperada de las curvas de respuesta
de tensin en el dominio del tiempo se encuentran resultados
aceptables que corroboran los modelos matemticos asignados
a los elementos que almacenan energa, el inductor y el capa-
citor presentan en la prctica un comportamiento exponencial
ligado a las condiciones iniciales y a la entrada del sistema.
V-D. Circuito RLC
En los diferentes circuitos RLC estudiados se evidencio
el comportamiento de los tres diferentes tipos de respuesta
de un circuito de segundo orden. Al variar el potencime-
tro se observo el cambio que tenia la seal de tensin en
el condensador, obteniendo primero una forma exponencial
que alcanzaba su valor mximo en poco tiempo (respuesta
sobreamortiguada), cuando la resistencia tenia un valor mayor
a 1K, aproximadamente. Al disminuir el valor de resistencia
la exponencial incrementaba el tiempo que tardaba en alcanzar
su valor mximo (respuesta crticamente amortiguada), hasta
Cuadro VI
COMPARACIN ENTRE LOS VALORES DE LA CONSTANTE DE TIEMPO PARA
LOS CIRCUITOS RL Y RC.
llegar al punto en que se empezaban a presentar las oscilacio-
nes, en forma sinusoidal enmarcada por dos exponenciales. A
medida que la resistencia disminua el valor pico a pico de las
oscilaciones se hacia mas grande y su tiempo de respuesta se
incrementaba tambin.
Las formas de onda obtenidas en el osciloscopio correspon-
den con las formas de onda esperadas. Los valores mximos y
mnimos de amplitudes de tensin, y los valores de tiempo de
respuesta coinciden visualmente, y se puede esperar un error
de menos del 10 % debido a los problemas de paralelaje y de
exactitud en las mediciones en el osciloscopio. Para hacer un
anlisis comparativo un poco mas detallado se determinaron
los valores de algunas constantes que caracterizan las respues-
tas. Teniendo en cuenta que una respuesta de segundo orden
caracterstica puede denotarse como:
d
2
x(t)
dt
2
+ 2
n
dx(t)
dt
+
2
n
x(t) =
2
n
y(t)
Para el caso especico de respuesta sub-amortiguada sabe-
mos que:
M
P
= e

1
2
Y despejando el valor de podemos realizar un paralelo a
lo expuesto en el pre informe acerca del factor de amortigua-
miento [1]. Finalmente se obtiene que:
=

L C
En los Cuadros VII, VIII, IXse puede ver un comparativo
de los valores obtenidos.
Cuadro VII
RESPUESTA SUBAMORTIGUADA CON R1=131 OHM
Cuadro VIII
RESPUESTA SUBAMORTIGUADA CON R1=221 OHM
Podemos ver que los errores son bajos, por lo tanto los
resultados obtenidos en el laboratorio se aproximan bastante
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Cuadro IX
ERROR EN FACTOR DE AMORTIGUAMIENTO
a los modelos tericos aplicados en el diseo y en el analisis
de circuitos.
VI. CONCLUSIONES
Reducir un circuito a su equivalente de Thvenin es el
procedimiento ms recomendable a la hora de analizar el
comportamiento de un elemento que almacena energa
puesto que reduce la complejidad considerablemente,
permitiendo al diseador enfocarse en la respuesta bus-
cada.
Las frmulas matemticas que describen el comporta-
miento de las inductancias y de las capacitancia y que
fueron desarrollados a partir de generalizaciones de expe-
rimentos prcticos cumplen satisfactoriamente el objetivo
de caracterizar el comportamiento de los mismos.
REFERENCIAS
[1] C. Alexander and M. Sadiku, Fundamentals of Electric Circuits.
McGraw-Hill Higher Education, 2005.
[2] R. Dorf and J. Svoboda, Introduction to Electric Circuits. John Wiley
& Sons, 2010.
[3] W. Hayt, W. Hayt, J. Kemmerly, and S. Durbin, Engineering Circuit
Analysis, 8th ed. McGraw-Hill Higher Education, 2012.
[4] S. O. Kasap, Principles of Electronic Materials and Devices, third ed. ed.
Mc-Graw Hill, 2006.