Instituto Tecnolgico de Celaya Departamento de ingeniera Mecatrnica Omar Hassan Vzquez Abdala, chascrk18@gmail.com
Materiales Tipo N En un semiconductor tipo N, el cual consiste en un material semiconductor puro al cual se le han agregado tomos de otro elemento qumico que posea al menos un electrn adicional al que posee naturalmente dicho semiconductor (usualmente Fsforo, Arsnico o Antimonio); hay en total ms electrones libres debido a los tomos de las impurezas agregadas, que huecos, por lo cual en este tipo de material semiconductor, los electrones son los portadores mayoritarios, mientras que los huecos (carencia de un electrn), son los portadores minoritarios. Como el nmero de electrones es mayor que el de huecos, los electrones reciben el nombre de portadores mayoritarios, y los huecos portadores minoritarios. Lo anterior se puede apreciar mejor en la figura nmero 1 mostrada a continuacin.
Materiales Tipo P Para el caso de un semiconductor tipo P, que consisten en un material semiconductor puro al cual se le han agregado tomos de otro elemento qumico que pertenece al grupo III de la tabla peridica de los elementos (usualmente Aluminio, Galio, e Indio) los portadores mayoritarios son los huecos (o carencia de electrones), mientras que los portadores minoritarios son los electrones. Ahora los huecos se denominan portadores mayoritarios, porque superan en nmero a los electrones libres y stos se denominarn portadores minoritarios. Lo anterior se puede apreciar mejor en la figura nmero 2 mostrada a continuacin.
Para Figura 1 materiales tipo N Figura 2 Materiales tipo P Comprenderlo mejor se cuenta con la tabla nmero 1 y que muestra a continuacin y que permite observar de una manera ms grafica que rol se juega dentro de la estructura del silicio en los materiales tipo N y tipo P con los portadores mayoritarios y minoritarios. Tabla 1 Material Portadores Mayoritarios Portadores Minoritarios Silicio Puro - - Silicio tipo P Huecos Electrones Silicio tipo N Electrones Huecos
Estructuras de atmicas En un semiconductor intrnseco las concentraciones de huecos y de electrones pueden alterarse mediante la adicin de pequeas cantidades de elementos llamados impurezas o dopantes, a la composicin cristalina. Si la introduccin de impurezas se realiza de manera controlada pueden modificarse las propiedades elctricas en zonas determinadas del material. As, se habla de dopado tipo P N (en su caso, de silicio P N) segn se introduzcan huecos o electrones respectivamente. Centrmonos ahora en el silicio tipo P. En la prctica, a temperatura mayor que cero este material estar formado por: Huecos procedentes del dopado. Huecos procedentes de la generacin trmica de pares e-/h+. Electrones procedentes de la generacin trmica de pares e-/h+. Electrones y huecos procedentes de impurezas no deseadas. Habitualmente, a temperatura ambiente, el nivel de dopado es tal que los huecos procedentes de l superan en varios rdenes de magnitud al resto de portadores. Ello confiere el carcter global P del material. Sin embargo, ha de tenerse en cuenta que existen electrones. En este caso, los huecos son los portadores mayoritarios, y los electrones los minoritarios. Si se trata de un material de tipo N, los portadores mayoritarios sern los electrones, y los minoritarios los huecos. Con la tabla siguiente se pretende rematar estos conceptos.