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1

Interferencia de dos
Interferencia de dos
o ms haces de luz.
o ms haces de luz.
Interfermetros
Interfermetros
Luis Arizmendi, 2008/09
2
NDICE
1. Introduccin
2. Condiciones de interferencia
3. Interfermetros de doble haz. Aplicaciones
3.1 Michelson
3.2 Mach Zender
3.3 Sagnac
3.4 Otros interfermetros
4. Interfermetros de mltiples ondas. El Fabry
Perot.
Aplicaciones
5. Filtros interferenciales, lminas antirreflectantes
y espejos multicapa
6. Interferometra de speckle. Aplicaciones
3
1. Introduccin: Las interferencias
Interferencia y difraccin
son dos fenmenos pticos
fundamentales cuyo origen
est en la naturaleza
ondulatoria de la luz
4
Qu es la interferencia?
Fenmeno que se produce cuando dos o ms ondas se
superponen en una regin del espacio: en cada punto las
amplitudes de los campos se suman, de tal manera que la
intensidad de la luz en esa regin muestra una modulacin
espacial.
Es el fenmeno ptico ms simple que pone de manifiesto
las relaciones de coherencia entre ondas luminosas, que
estudiaremos en el siguiente tema.
Cuando no hay coherencia entre las dos ondas no se
observa interferencia
Patrn de franjas
correspondiente a la
interferencia de dos haces
gaussianos
5
En qu mbitos son importantes las interferencias?
Fsica bsica:
-Descripcin de los fenmenos ondulatorios..
Principio de Huygens
-Interfermetro de Michelson-Morley para intentar
medir la velocidad absoluta de la tierra en el eter,
origen teora de la relatividad....
Holografa: es un componente del registro hologrfico.
Se graba el patrn de interferencias del haz objeto con el
haz de referencia
Metrologa (interferometra)
Otros: proteccin contra el ruido....
6
Haz de referencia R
Objeto S
Haz de referencia R
Transmitido
referencia
Reconstruccin objeto S
Imgen virtual
k
r
k
r
k
S
2k
r
- k
S
Holografa: grabado de un patrn de franjas
Interferencia del
haz objeto y el
haz de referencia
7
Se llama interferometra al uso de los fenmenos de
interferencia como medio para hacer medidas muy precisas
Se puede aplicar a medir:
- Forma y perfil de superficies, distancias (hasta del
orden de l)
- Indice de refraccin
- Desplazamientos mecnicos
- Velocidades
- espectroscopa etc.
Campos en los que se utiliza:
Medidas pticas de precisin: ndice, susceptibilidades...
Metrologa en procesos industriales
Astronoma: interferometra estelar (ptica y de
radiofrecuencia)
Medidas en geofsica
Metrologa
8
Metrologa: Medida de deformaciones no apreciables a
simple vista de una superficie
A pesar de su pequea
magnitud estas
deformaciones pueden ser
sntoma de problemas graves
presentes o futuros
Ej: fractura de un elemento
mecnico de un avin o una
mquina..
Interferencia de un haz de
referencia plano con el reflejado
en la pieza. Se pueden apreciar
deformaciones del orden de
9
Compara mediante interferencia dos frentes de onda, uno de
los cuales procede de una reconstruccin hologrfica
Permite detectar vibraciones en un objeto o deformaciones
estticas respecto a un patrn.
Aplicaciones: Control de deformaciones en tiempo real en
fabricacin industrial.
Objeto
cristal
Espejo
deteccin
interferograma
Esquema sencillo
Haz de
referencia
METROLOGIA: INTERFEROMETRA HOLOGRAFICA
10
Deteccin de la
interferencia
Ej: deteccin de planetas extrasolares mediante varios
telescopios cuyas seales se hacen interferir
radiofrecuencia, infrarrojo,
Interferometra estelar
11
Medidas en geofsica
12
Generacin de antirruido:
Mtodo de proteccin contra el ruido
Ej: para disminuir el ruido en determinados lugares
de un avin, detectarlo y generar ondas sonoras en
oposicin de fase que con el ruido original
produzcan interferencia destructiva
Aplicacin de las interferencias en acstica
Otros:
13
NDICE
1. Introduccin
2. Condiciones de interferencia
3. Interfermetros de doble haz. Aplicaciones
3.1 Michelson
3.2 Mach Zender
3.3 Sagnac
3.4 Otros interfermetros
4. Interfermetros de mltiples ondas. El Fabry
Perot.
Aplicaciones
5. Filtros interferenciales, lminas antirreflectantes
y espejos multicapa
6. Interferometra de speckle. Aplicaciones
14
2. Condiciones de interferencia
Consideremos dos ondas monocromticas planas con vectores
de onda k
1
y k
2
y calculemos el patrn de interferencias en un
plano
con
1 2
2
k k

= =

2 1
E E E

+ =
k
1
k
2
2 2
( )
2 2 2
( , ) ( )
i k r t
E r t A r a e
+
=



1 1
( )
1 1 1
( , ) ( )
i k r t
E r t A r a e
+
=



15
La intensidad del campo ptico en la regin de interenferencias
ser
2 2
* * *
1 2 1 2 2 1
I E E E E E E E E = = + + + =

1 2 1 2
1 2 1 2
[( ) ( )] *
0 1 2 1 2
[( ) ( )] *
1 2 1 2
2( )
2( )
i k k r
i k k r
a
a a
I a A A e
A A e
+
+
= + +
+



0
(1 cos( ) I I m K r = + +


k
1
k
2
k=k
1
-k
2

K
K
2
, ,
2
=

=
K= 2 k sen


sen
2
2
2
=

El vector K determina la
separacin de franjas

sen 2
=
Las franjas son a K=k
1
- k
2
16
Interfermetro de Young:


sen D
L
2
= =
r

=
D
Si la imagen de las franjas se forma con una lente la
distancia L se sustituir por la focal f de la lente.
Estrictamente es la interferencia de 2 ondas esfricas
Si la pantalla esta muy lejos:
Las ondas son cuasi-planas y la
distancia entre rendijas D junto
con la distancia pantalla-rendijas
L, define los k
1
y k
2
, es decir el
vector K en cada regin de la
pantalla o lo que es lo mismo el
ngulo .
17
[ ] ( )
0 1 2
1 cos ( ) ( ) I I m = + +
1 2
k k r
2 1
2
2
2
1 0
I I E E I + = + =
1 2
1 2
0
2
( )
I I
m a a
I
=

Patrn de franjas:
Con una intensidad media:
Y una visibilidad de las franjas o contraste:
Mxima: si las polarizaciones
son paralelas
Nula: si las polarizaciones son
ortogonales
Depende de la relacin entre las intensidades de los dos haces
18
Franjas de interferencia con diferente contraste
0.0
0.4
0.8
1.2
1.6
2.0


M = 1.0
M = 0.5
M = 0.1
M = 0.0
I
n
t
e
n
s
i
d
a
d

d
e

l
u
z

r
e
l
a
t
i
v
a
,

I
/
I
0
Direccin x
19
Influencia de la polarizacin
1 2
1 2
0
2
( )
I I
m a a
I
=

Igual polarizacin lneal:
1

2 1
= a a
Visibilidad mxima
Polarizaciones lineales
cruzadas:
Visibilidad nula: las ondas
no interfieren
0

2 1
= a a
20
-Monocromaticidad de los haces pticos
- Igual frecuencia o muy semejante
- Coherencia
- Polarizaciones no ortogonales
Condiciones de interferencia
Condiciones de interferencia
21
NDICE
1. Introduccin
2. Condiciones de interferencia
3. Interfermetros de doble haz. Aplicaciones
3.1 Michelson
3.2 Mach Zender
3.3 Sagnac
3.4 Otros interfermetros
4. Interfermetros de mltiples ondas. El Fabry
Perot.
Aplicaciones
5. Filtros interferenciales, lminas antirreflectantes
y espejos multicapa
6. Interferometra de speckle. Aplicaciones
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Doble haz:
Divisin de amplitud
Divisin del frente de ondas
Mltiples ondas
Tipos de interfermetros
23
3. Interfermetros de doble haz
Entre ellos los ms destacables en interferometra son los llamados
interfermetros de divisin de amplitud: hablaremos del Michelson, Mach-Zender,
Sagnac
El camino ptico se
modifica fcilmente
moviendo uno de los
espejos
Fuente extensa y no
colimada
Divisor de haz a 45
Espejo
Espejo
Fuente extensa
Espejo 1
Espejo 2
3.1 Interfermetro de Michelson
24
25
Las franjas son anillos
dada la simetra axial de la
configuracin
experimental.
Cada anillo corresponde a
la interferencia de dos
conos de rayos que
proceden de la luz saliente
de la fuente con un ngulo
fijo.
26
Aplicaciones del Interferometro de Michelson:
-Medida del la longitud de coherencia temporal
- Medida de espesores e ndices de refraccin
- Vibraciones y dilataciones
- Configuracin para medir espesor o ndice de refraccin de una
lmina trasparente
Las medidas se realizan variando el ngulo de la lmina
Para cada ngulo el espesor efectivo de la lmina es distinto

Lmina
Fuente
monocromtica
extensa
Espejo
Espejo
27
Diferencia con el Michelson: No hay doble paso de un
elemento ptico lineal o no lineal introducido en uno de
los brazos. Los brazos pueden estar muy separados
Con haz colimado y
espejos ajustados:
luz uniforme
Con espejos
desajustados:
franjas
Si el haz de
entrada no es
colimado: anillos
3.2 Interfermetro de Mach-Zender
espejo
espejo
28
Aplicacines:
El patrn de interferencia esta modulado por el perfil de
fase de la superficie desconocida. Procesando dicho patrn
se recupera f(x,y)
a)
b) Medida de ndices de refraccin y caracterizacin
de fenmenos o magnitudes que afectan al ndice
(presin, trasferencia de calor etc)
29
Laser
SF
BS
S
Iris
P
D
PM
HV
Amplifier
PC
I
ref
V
m
sin

t
V
ref

and

I
2
V
pm
Lock-in Amplifier
SR850 DSP
Iris
BS
SF
Iris
D
Mach Zender para medida de cambios de ndice de refraccin
Sistema del lab. de ptica no lineal para medir coeficientes
electropticos con precisin.
Haz de entrada
colimado
30
Moduladores basados en
interfermetros Mach-Zehnder
Desfase:
k n L
Potencia
ptica
desfase 0 2 3 4
Rango de funcionamiento
Interfieren constructiva o
destructivamente
dependiendo del desfase
Material electroptico n(V)
31
El haz recorre el bucle en las
dos direcciones.
Si se introduce un elemento
ptico lineal o no lineal
necesariamente interceptar el
camino de los 2 haces. Esto
impide su aplicacin en el tipo
de medidas reseadas para los
anteriores interfermetros.
Cuando el interfermetro completo gira aparece una
diferencia de fase entre los haces a la salida
a
b
c
3.3 Interfermetro de Sagnac
32
a
b
c
Si el giro del interfermetro
es a la dcha. el camino ptico
de los rayos en sentido abc
es mayor que el de los que
siguen segn acb.

cos
4
c
A
p =
La diferencia de camino
ptico para un bucle circular
es:
: velocidad angular de giro del interfermetro
: Angulo entre el eje de giro y la normal al plano de
propagacin de los haces
A: rea encerrada por el bucle
33
Interfermetro de Sagnac con fibra
As el desfase cuando hay
giro del interfermetro es
tambin mucho mayor
En muchos de los diseos actuales de este
interfermetro el bucle se realiza mediante fibra ptica
para aumentar el camino ptico recorrido en cada sentido
Interfermetro de Sagnac integrado
Sustrato:
LiNbO
3
6 cm diam.
34
Aplicaciones:
Deteccin de giros: velocidad de giro (aplicable en
geofsica, navegacin area, etc)
Se pueden llegar a medir desviaciones en el mov. de
rotacin de la Tierra debidos a terremotos
35
3.4 Otros interfermetros de doble haz:
Interfermetro de Twyman-Green
Modificacin de Michelson con haces colimados
36
Guenther, Modern Optics
Pieza a comprobar
37
Interfermetro con
biprisma de Fresnel
Interfermetros de doble haz por divisin del frente
de ondas
Adems de la configuracin del experimento de doble rendija de
Young, otras posibilidades son:
38
Interfermetro por divisin del frente de onda con espejo de LLoyd
39
Interfermetros no lineales:
Introducen un material no lineal en uno o en los dos brazos del
interfermetro aportando nuevas posibilidades.
Cristal NL 1 Cristal NL 2
2 armnico
interferencia
Pieza bajo
estudio
Ejemplo 1:
Interfermetro
de 2 armnico
Mach Zender con dos cristales no lineales que generan 2
armnico del haz infrarrojo incidente.
El 2armnico generado en el cristal 1 interfiere con el
generado en el cristal 2
La diferencia de fase depende de n(w
1
), n (w
2
) y del espesor
en cada punto de la pieza d(x,y)
40
-Ejemplo 2: interferometra con conjugadores de fase
La interferencia se genera con el
haz de referencia y el procedente del
conjugador
Cuando el objeto est en reposo el
haz conjugado es exactamente igual
al haz de referencia y el patrn de
franjas es el simple producido por
dos haces gaussianos o planos
Cuando el objeto vibra y debido al
tiempo de respuesta del conjugador
de fase para adaptarse al nuevo
patrn se produce una alteracin de
las franjas
Medida de vibraciones y cambios en el objeto
CONJUGADOR
DE FASE
41
NDICE
1. Introduccin
2. Condiciones de interferencia
3. Interfermetros de doble haz. Aplicaciones
3.1 Michelson
3.2 Mach Zender
3.3 Sagnac
3.4 Otros interfermetros
4. Interfermetros de mltiples ondas. El Fabry
Perot.
Aplicaciones
5. Filtros interferenciales, lminas antirreflectantes
y espejos multicapa
6. Interferometra de speckle. Aplicaciones
42
4. Interferencias de ondas mltiples
Cuando se trata de pelculas delgadas la diferencia de caminos pticos
es pequea. Interfieren muchas ondas con coherencia suficiente por
mltiples reflexiones:
A

C
B

n
n
d
La diferencia de camino
ptico entre cada rayo y
el siguiente es:
2 ' cos ' L d n =
Las amplitudes de los campos sern:
3 5
1 0 2 0 3 0 4 0
2 4 6
1 0 2 0 3 0 4 0
; ' ; ' ; ' ; ...
' ; ' ; ' ; ' ; ...
r r r r
t t t t
E rE E rtt E E r tt E E r tt E
E tt E E r tt E E r tt E E r tt E
= = = =
= = = =
Hay un cambio de fase de en la primera reflexin.
43
Considerando los campos con sus fases, por ejemplo para la onda transmitida:
1 0
2 ( )
2 0
4 ( 2 )
3 0
2( 1) [ ( 1) ]
0
'
'
'
'
i
t
i
t
i
t
N i N
Nt
E tt E e
E tt r E e
E tt r E e
E tt r E e
+
+
+
=
=
=
=




es una progresin geomtrica de razn
2 i
r e

cuya suma es:


2
0
2
1
1
(1 )
1
i
Nt
i
N
E E E r e
r e

=
= =

El factor de transmisin ser:


* 2 2
2 2 2 2
2
0
2 2
(1 ) 1
4 (1 )(1 )
1 sen
(1 ) 2
i i
EE r
T
r E r e r e
r

= = =

+

donde:
2 2 2
2
' sen
2
d
n n

=
Cuando (/2) = 0, K sen
2
(/2) = 0 T = 1
cuando (/2) = (K + 1/2) sen2(/2) = 1 T(r) mnimo
44
0 1 2 3 4
0.0
0.5
1.0
r
2
= 0.6
R
T



(/2) en unidades de
En reflexin se observa:
R = 1 - T
Como depende de y de d, analizando
la variacin con el ngulo de incidencia
se puede obtener el espesor d.
Si la lmina se ilumina con una fuente
extensa monocromtica, y los rayos
reflejados se recogen en una lente
con una pantalla en su plano focal,
todos los rayos de igual inclinacin
formarn un anillo.
Se observarn anillos concntricos anillos concntricos,
con orden de interferencia creciente
hacia el centro.
45
Imagen adicional para visualizar bien los anillos
46
El interfermetro de Fabry-Perot
El interfermetro de Fabry-Perot
Las superficies internas estn pulidas hasta /50 o mejor, metalizadas con
~10 m de plata o aluminio. Las superficies metalizadas son parcialmente
transmisoras. Las superficies externas estn inclinadas para eliminar
sistemas de franjas no deseados.
Fuente
extensa
Lente
Lente
condensadora
Pantalla
Una lmina de aire entre superficies reflectantes
47
La diferencia de camino entre
ondas transmitidas consecutivas
es (aire n=1):
2 cos
r
L d =
La transmitancia tiene la expresin que ya conocemos:
*
2 2
2
0
2 2
1
4
1 sen
(1 ) 2
EE
T
r E
r

= =
+

La diferencia de fase:
(2 / ) 2 L = +
0 1 2 3
0.0
0.5
1.0

r
2
=0.9
r
2
=0.7 r
2
=0.4
T

(/2) en unidades de
48
Aparecen mximos de transmisin cuando
K es el orden interferencial del anillo brillante.
2 cos
r
d K =
Los anillos son ms finos cuanto mayor sea r
2
y ms monocromtica sea
la fuente.
La relacin entre I
max
e I
min
resulta:
y por tanto la visibilidad de las
franjas es:
2
2
2
max
2
min
1 1
1 1
I r R
I r R

+ +

= =




2
2
1
R
R
=
+
V
Si R=0.9 entonces V = 0.994
2
( ) R r =
Cuanto mayor sea R mayor ser la visibilidad
de las interferencias
49
Para cuantificar la anchura de los anillos se define el
parmetro llamado Finura, que caracteriza la resolucin del
interfermetro Fabry-Perot.

= =
2
F
0 1
0.0
0.5
1.0
=2


(/2) en unidades de
Donde es la anchura para T=0.5
2
2
1/ 2
2 2
4
sen 1
(1 ) 2
r
r

=

1/ 2
1
2 2
R
R


=
por tanto:
1
R
R

F
0.8 0.9 1.0
0
100
200
300
400
F
i
n
u
r
a
Reflectividad R
Para R = 0.98 resulta F = 156
Finura de los anillos
Finura de los anillos
50
Poder de resolucin espectral
Poder de resolucin espectral
Supongamos que el haz de luz que llega al interfermetro de Fabry-Perot tiene
dos longitudes de onda cercanas
1
y
2
=
1
+
Para que se observen separados los
anillos de orden K de cada longitud de
onda debe satisfacerse el criterio de
Rayleigh: La separacin debe ser al La separacin debe ser al
menos igual a la anchura del anillo a menos igual a la anchura del anillo a
media altura. media altura.
min
2 2(1 ) R
R



= = =
F
Se define el poder de resolucin espectral poder de resolucin espectral:
min min
2
2(1 )
1
re
K K R
P K
R
R
R


= = = = =


F
51
Ejemplo: Suponiendo d = 1 mm, = 500 nm, el orden del anillo central ser K
= 4000, y si adems R = 0.9
tendremos un poder de resolucin espectral P
re
= 1.2 x 10
5
Podremos separar = 4 x 10
-3
nm, es decir entre 500,000 nm y 500,004 nm
Separacin del doblete amarillo
del sodio:
5890
5896
52
Intervalo espectral libre
Intervalo espectral libre
Es el rango mximo de longitudes de onda que puede observarse sin mezclar
en el orden interferencial K, es decir entre dos anillos consecutivos.
Por tanto, si se desea una gran
resolucin, el intervalo de longitudes
de onda que se pueden observar sin
solapamiento es muy estrecho.
(2 / ) 2 L = +
max
= 2K
max
= 2(K + 1)
min
( ) 2
( ) ( )
2
IEL
IEL
K K


= = = = F
53
Aplicaciones del interfermetro de
Aplicaciones del interfermetro de
Fabry
Fabry
-
-
Perot
Perot
Cavidades lser:
Etaln, selecciona un solo modo longitudinal
Espectrmetro de alta resolucin: Usado con un haz incidente colimado
policromtico, permite la seleccin de una componente monocromtica
mediante la variacinde espaciado con elementos piezoelctricos.
a
b
c
54
NDICE
1. Introduccin
2. Condiciones de interferencia
3. Interfermetros de doble haz. Aplicaciones
3.1 Michelson
3.2 Mach Zender
3.3 Sagnac
3.4 Otros interfermetros
4. Interfermetros de mltiples ondas. El Fabry
Perot.
Aplicaciones
5. Filtros interferenciales, lminas antirreflectantes
y espejos multicapa
6. Interferometra de speckle. Aplicaciones
55
5. Otras aplicaciones: Lminas antirreflectantes,
filtros interferenciales, y espejos multicapa.
La interferencia de ondas mltiples en pelculas muy
delgadas permite trabajar a rdenes de interferencia muy
bajos y se utiliza frecuentemente para fabricar dispositivos
muy selectivos de longitudes de onda.
Las propiedades de los dispositivos mejoran si se utilizan
recubrimientos de varias capas dielctricas con ndices adecuados
Principio:
La condicin de mximo es
Cuando el espesor d se reduce el orden interferencial m
disminuye, y el n de anillos se reduce tambin, pudiendo
eventualmente desaparecer. Si
2nh< algunas no se tramiten
2 , 1 0 cos 2
0
= = m m nd
56
Recubrimientos antirreflectantes
Recubrimientos antirreflectantes
Nos interesa depositar una pelcula delgada sobre vidrio de forma que actue
eliminando la reflexin en incidencia normal para una longitud de onda dada.
Aire n
A
=1
Lmina n
L
Vidrio n
V
n
A
< n
L
< n
V
reflexiones duras
Campos reflejados: E
r1
, E
r2
, E
r3
, E
r4
, ....
Cada vez van siendo ms dbiles.
Para que se anulen entre ellos por
interferencia destructiva debe ocurrir
1
2
r ri
i
E E

=
=

Desfases ondas reflejadas:

10
=

21
=(4dn
L
/)+

32
=(4dn
L
/)+

N(N+1)
=(4dn
L
/)+
y

N(N+1)
=(4dn
L
/)+ = 2K
As E
r2
, E
r3
, E
r4
, .... se suman, y el resultado se resta a E
r1
, ya que se opone a ellos
57
Hay condiciones con las amplitudes para que el resultado sea reflexin cero:
El menor espesor posible que cumple la condicin:
N(N+1)
=(4dn
L
/)+ = 2K
es (K=1):
0
4
L
d
n

=
2 2 3 3
1 0 0
' (1 .....)
r V V V V
E E r E E t r t r r r r r r = = + + + +
2
0
1
(1 )
1
V
V
E E r r
r r
=

2
( ' 1 ) t t r =
Como debe ser E
r1
=E, con los factores de reflexin a incidencia
normal queda para el ndice de refraccin de la lmina:
L A V
n n n =
Ejemplo:
Ejemplo:
Para n
A
=1, n
V
=1.6, y = 550 nm, tendremos
1.6 1.265
L
n = =
debemos buscar un material con ndice cercano a este
7
5.5 10
108.7
4 1.265
m
d nm

= =

debemos depositar una capa con espesor:


Qu ocurrir al usarlo con otras longitudes de onda? Qu ocurrir al usarlo con otras longitudes de onda?
58
Filtro interferencial para longitud de onda
0
El ms simple consiste en una pelcula delgada entre 2 superficies
de alta reflectancia, (Fabry-Perot con d del orden de ).
Se prepara para trabajar a incidencia normal.
Su espesor debe verificar 2nd=
0
Propiedades:
Deja pasar
0
No puede pasar mayor pues no hay condicin de mximo
Tambin pasaran submltiplos pero estn lejos espectralmente
y se pueden suprimir con facilidad
La anchura espectral es muy estrecha como corresponde a un
Fabry-Perot
d
n
59
Filtros Interferenciales Dielctricos
Cavidades de pelcula delgada (Thin-film)
Capas dielectricas con diferentes ndices de refraccin
Mltiples reflexiones causan interferencias constructivas y destructivas
Se pueden conseguir variedad de filtros y bandas de paso (0.1 a 10 nm)
Prdidas de insercin entre 0.2 a 2 dB, rechazo entre 30 a 50 dB
Capas Substrato
Espectro
de entrada
Espectro
Reflejado
Espectro
Transmitido
1535 nm 1555 nm
0 dB
30 dB
10
10 log ( / ) ( decibelios)
E S
I I dB =
60
Filtros interferenciales:
redes de Bragg en fibras
Fibras de Bragg -> redes de Bragg fabricadas sobre una fibra ptica

i
=
eff i
n 2
Periodo de la red
Variacin peridica del ndice de refraccin
Tienen una gran dependencia
con la temperatura y la tensin
61
Tambin se pueden realizar espejos de alta reflectancia y
selectivos en mediante recubrimientos multicapa peridicos.
Para poder estudiar en detalle los dispositivos multicapa se desarrolla
un formalismo matricial que no veremos en este curso pero que est
muy bien desarrollado en :
-J. M. Cabrera, F. J. Lpez y F. Agull-Lpez, " Optica
Electromagntica" Tomo II. Addison Wesley
Iberoamericana Espaola, Madrid 2000. Captulo 17
N dobles capas (n
1
,d
1
-n
2
,d
2
) cuarto de onda, es decir
N
para N grande conducen a una reflectancia que
se aproxima asintticamente a 1
n
1
d
1
=n
2
d
2
=/4
Espejos multicapa
62
NDICE
1. Introduccin
2. Condiciones de interferencia
3. Interfermetros de doble haz. Aplicaciones
3.1 Michelson
3.2 Mach Zender
3.3 Sagnac
3.4 Otros interfermetros
4. Interfermetros de mltiples ondas. El Fabry
Perot.
Aplicaciones
5. Filtros interferenciales, lminas antirreflectantes
y espejos multicapa
6. Interferometra de speckle. Aplicaciones
63
6. Interferometra de speckle: Aplicaciones
Patrn de Speckle generado por
iluminacin de una superficie
rugosa con luz coherente
Origen: interferencia mutua de
las numerosas ondas difundidas
por la superficie del objeto.
Speckle o moteado
64
Tamao del moteado:
En una figura el tamao de las motas es variable pero
se suele hablar de un tamao promedio. Las diferencias
de tamao se observan muy bien en las figuras:
Distintos tamaos de speckle
El tamao de los granos de speckle se reduce al acercarse a la
superficie de scattering !
Por qu?
Conviene hablar de dos aspectos sobre los patrones de speckle:
a) Tamao del moteado
b) Configuraciones para la obtencin del patrn de speckle
65
L
d
D

=
Tamao de grano correspondiente a los 2 puntos extremos
(tamao mnimo)
Cuando la pantalla se acerca (L decrece) el tamao disminuye
L
d
D

Franjas de interferencia
de Young de 2 puntos
extremos
P
66
Es slo un efecto perjudicial? Qu utilidad tiene?
El patrn de speckle cambia cuando la superficie
objeto se mueve: estas modificaciones se pueden medir y
por tanto medir los desplazamientos o deformaciones
del objeto.
Es de particular inters la medida de deformaciones y
desplazamientos dentro del plano objeto porque el
patrn de speckle es muy sensible a ellas y son
difcilmente medibles con otras tcnicas.
Tcnicas:
- Fotografa de speckle
- Interferometra de speckle
-Interferometra estelar de speckle
Sensibles a desplazamientos
en el plano
67
Fotografa de speckle para medida de desplazamientos en el
plano
Pasos:
a) grabado sucesivo de los
2 patrones desplazados en
una pelcula de alta
resolucin
b) Obtencin de la
transformada fourier (TF)
de la placa
c) Fotografa de la TF para
una sola exposicin y para
las 2 exposiciones. Las
franjas se originan por el
desplazamiento
68
Otro ejemplo de franjas correspondientes a un desplazamiento
dentro del plano
La direccin de las franjas y su espaciado dan informacin sobre las
caractersticas del desplazamiento
69
Patrn speckle
Interferograma
de speckle
Interferometra de speckle
Hasta ahora hemos manejado directamente el patrn de speckle
pero a veces se registra la interferencia del patrn de speckle con
otro haz frecuentemente plano. Se habla entonces propiamente de
interferometra de speckle
70
Interferometra hologrfica de speckle para medida de
desplazamientos en el plano
Las bases de la tcnica son anlogas al caso anterior pero ahora en el
paso a) se registra un interferograma de los dos patrones
Ventaja las exigencias de poder de resolucin de la placa fotogrfica se
reducen
71
Interferometra estelar de speckle
El problema del speckle en la observacin astronmica:
- Las imgenes muestran
speckle debido a las
inhomogeneidades de la
atmsfera
- Adems las turbulencias
atmofricas hacen que
estos patrones vibren
72
Bases de la interferometra de speckle
Hacer promedios de un conjunto de imgenes de la
misma estrella tomadas con exposiciones inferiores
al periodo de turbulencia atmosfrica
Imagen de una estrella binaria de la constelacin de Sagitario
con speckle, sin speckle gracias a la tcnica descrita
73
Bibliografa especfica
Interferencias en general. Tcnicas de speckle
- W. Lauterborn, T. Kurz, M. Wiesenfeldt, Coherent Optics, Springer-
Verlag, Berln (1995).
- P. Hariharan, Basics of interferometry, Elsevier (2007)
Tcnicas de speckle
- Optica avanzada, Mara Luisa Calvo (coord.), Captulo 9
Tecnologas opticas, Ed. Ariel (2002)
Dispositivos multicapa
-J. M. Cabrera, F. J. Lpez y F. Agull-Lpez, " Optica
Electromagntica" Tomo II. Addison Wesley Iberoamericana
Espaola, Madrid 2000. Captulo 17

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