UNIVERSIDAD INDUSTRIAL DE SANTANDER

ESCUELA DE INGENIERA DE PETRLEOS

ESTRUCTURA Y PROPIEDADES DE LOS MATERIALES

MICROSCOPA ELECTRNICA DE TRANSMISIN (TEM)


Corts Bentez Cristian, Marn Quitian J honatan, Pea Merchn Lucia, Santoyo Daz
Leder.
Estudiantes de Ingeniera de Petrleos.


Resumen
Este documento describe las generalidades de la microscopa electrnica de
transmisin, haciendo nfasis en los componentes que conforman el equipo de
observacin y el principio de funcionamiento; incluye parmetros a tener en cuenta a la
hora de preparar la muestra con el fin de obtener buena resolucin de la imagen. Para
finalizar se realiza la comparacin entre el microscopio electrnico de transmisin
(TEM) y el microscopio electrnico de barrido (SEM) sealando la aplicacin del TEM
en diferentes campos.



INTRODUCCIN
El microscopio electrnico de transmisin
es una de las herramientas ms
importantes para el estudio de materiales
cuyo fundamento es la ptica electrnica,
el microscopio electrnico de transmisin
TEM es un microscopio que utiliza un haz
de electrones para observar un objeto,
este es un fenmeno complejo de
mltiples efectos, los cuales son
controlados mediante las tcnicas
apropiadas y as aprovechados para
conocer la estructura interna de los
materiales a analizar. La tcnica de
microscopia electrnica de transmisin se
ocupa de la informacin contenida en
aquellos electrones que traspasan una
muestra solida sobre la que se ha hecho
incidir un haz electrnico a gran velocidad.
La ubicacin adecuada de la muestra y la
densidad electrnica presente en la
muestra provoca en la radiacin
transmitida la formacin de imgenes de
interferencia, que con una buena lectura
revelan sus caractersticas morfolgicas y
estructurales.
Aunque la microscopia electrnica de
transmisin ha encontrado su mxima
expresin en la observacin de materiales
biolgicos, su papel en el estudio de la
estructura de materiales tecnolgicos es
sin duda alguna sobresaliente y hoy en
da se le considera indispensable en este
sentido.
Encontramos materiales como metales,
cermicos y polmeros que vienen siendo
explorados con el microscopio electrnico
como nico medio para conocer la
relacin entre la morfologa y la estructura
a nivel atmico o molecular.




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MICROSCIPIO ELECTRNICO DE
TRASMISIN

El microscopio electrnico de transmisin
es un instrumento que aprovecha los
fenmenos fsico - qumicos que se
producen al emitir un haz de electrones
dirigido hacia una muestra delgada. Una
parte de los electrones rebotan, otros son
absorbidos por el objeto y otros lo
atraviesan para luego ser modulados por
unos lentes que forman una imagen
aumentada de la muestra.

PARTES DEL MICROSCIPIO
ELECTRNICO DE TRASMISIN

El microscopio electrnico de trasmisin
consta principalmente de las siguientes
partes:

Ctodo: Formado por un filamento
de alambre de tungsteno que se
calienta y emite un haz de electrones
a alta velocidad.

nodo: Es el elemento encargado
de reagrupar, orientar y acelerar el
flujo de electrones.

Lente condensador: Tambin
llamado primer campo
electromagntico y es donde los
electrones provenientes del nodo se
concentran y se dirigen a la muestra.

Soporte de la muestra: En este
lugar, dependiendo de la densidad
de la muestra, los haces de
electrones la atraviesan, son
absorbidos, reflejados o son
desviados en su recorrido. Las
muestras deben ser secciones
delgadas para permitir el paso de los
electrones o de lo contrario se
dificulta la formacin de la imagen.

Lente objeti vo: Es el segundo
campo electromagntico donde
llegan los electrones que atravesaron
o fueron desviados por la muestra,
para formar una imagen ampliada.

Lente ocular o de proyeccin: es el
tercer campo electromagntico
donde se toma la imagen, la cual es
ampliada y proyectada hacia la
pantalla fluorescente, para obtener la
imagen final.





Figura 1. Representacin de los principales componentes de
un microscopio electrnico de trasmisin.



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PRINCIPIO DE FUNCIONAMIENTO DEL
MICROSCOPIO ELECTRNICO DE
TRANSMISIN.

Para realizar una prueba de microscopa
electrnica de transmisin se debe cortar
la muestra en capas finas, con un grosor
no superior a un par de miles de
angstroms.
Una vez la muestra est bien preparada,
es colocada en su soporte y el
microscopio electrnico de trasmisin
emite un haz de electrones que colisiona
con el objeto que se desea aumentar. Una
parte de los electrones rebotan o son
absorbidos por el objeto y otros lo
atraviesan, todos ellos son conducidos y
modulados por unas lentes para formar
una imagen aumentada de la muestra.
La informacin obtenida, es una imagen
con distintas intensidades de gris que
corresponden al grado de dispersin de
los electrones incidentes, y adems, se
puede saber si la muestra es de estructura
amorfa o cristalina.
Segn la teora de Abbe. (Fig. 2), las
interferencias que se producen en un
frente de onda transmitido por una
muestra y que a continuacin se ha hecho
refractar por una lente, originan en el
plano focal posterior una imagen de
difraccin y a continuacin una segunda
imagen (imagen secundaria) que
representa al objeto y que define el plano
de imagen de la citada lente. El
microscopio electrnico permite visualizar
alternativamente cualquiera de estas dos
imgenes con lo que es posible llevar a
cabo de manera simultnea el anlisis de
difraccin de electrones y la observacin
morfolgica de una misma muestra.



0: objeto, L: lente objetivo, D: plano focal posterior,
I: plano de imagen.

APLICACIONES
La principal aplicacin del microscopio
electrnico de transmisin se da en el
estudio de los metales y minerales,
adems del estudio de las clulas a nivel
molecular. Siendo as un papel muy
importante en la industria de la metalurgia.
El microscopio electrnico de barrido
tiene una mayor utilidad, al proporcionar
datos morfolgicos de gran precisin
(tamao, textura, forma de la muestra,
composicin qumica elemental), sin
embargo el microscopio electrnico de
barrido no tiene la resolucin que se
alcanza con el microscopio electrnico de
transmisin, pero su ventaja es una
excelente impresin tridimensional.
Figura 2. Geometra de la formacin dc la imagen de un
objeto segn la teora de Abbe.




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Geologa: estudio morfolgico y
estructural de muestras
cristalogrficas, mineralgicas y
petrolgicas.
Estudios de los materiales:
caracterizacin microestructural,
valoracin de su deterioro,
presencia de defectos, tipo de
degradacin (fatiga, corrosin,
fragilidad, etc.) de materiales
cermicos, metlicos,
semiconductores, polmeros.
Control de calidad: productos
manufacturados de origen animal o
vegetal (pieles, fibras),
microelectrnica y materiales
informticos, etc.
Estudio de muestra: botnicas,
zoolgicas, mdicas, biomdicas,
etc.
Peritaciones caligrficas.


CONCLUSIONES

Los elevados costos de los equipos
y la debida adecuacin de una
infraestructura para el buen
funcionamiento hace que el acceso a
esta tcnica, se de generalmente a
investigadores privilegiados. Sin
embargo, es comn contratar estos
servicios por horas o por fotografas
requeridas.

La condicin de la muestra es un
factor importante a la hora de realizar
la observacin mediante TEM, ya
que de esta depende la buena
resolucin de imagen y por ende su
anlisis estructural interno.

Gracias a los avances tecnolgicos
se ha logrado obtener mejores
equipos para la observacin,
alcanzando en la actualidad equipos
que permiten captar la imagen en
pantalla simultneamente.