MICROSCOPIA ELECTRONICA

DE BARRIDO (SEM)
GINA PAOLA ESTEVEZ RAMIREZ
JUAN CARLOS GALINDO BARON
ELIANA KATHERINE MORENO QUEVEDO
YINETH PINZON MUOZ
JEIMY LORENA VALENZUELA MENDIVELSO
ESTRUCTURA Y PROPIEDADES DE LOS MATERIALES
UNIVERSIDAD INDUSTRIAL DE SANTANDER

AGENDA
Introduccin
Caractersticas de la SEM
Historia de la Microscopia Electrnica de Barrido
Fundamentos tericos
Funcionamiento de la SEM
Preparacin de la muestra
Aplicaciones
Anexos
Conclusiones
Bibliografa

INTRODUCCIN
Informacin morfolgica y
estructural
Imgenes tridimensionales
y escalas de grises

Tomado: caracterizacin de materiales con SEM, Parque Tecnolgico de

Guatigara, Carolina Mendoza

CARACTERSTICAS
Alta resolucin
Gran
profundidad de
campo
Sencilla
preparacin de
muestras
Tomado: caracterizacin de materiales con SEM, Parque Tecnolgico de
Guatigara, Carolina Mendoza

HISTORIA

Tubo de Geisller

Tubo de rayos
catdicos
Ernest Ruska 1934

Haz de electrones
(ME)

La pantalla
fluorescente
Efecto de los
campos
magnticos sobre
el haz electrnico

Tomado: www.biografiasyvidas.com

FUNCIONAMIENTO

Tomado: microscopia electrnica de barrido, Julin Martnez

FUNDAMENTOS TERICOS

Termoinica
EMISOR
Emisin de
campo

FUNDAMENTOS TERICOS
LENTES

Tomado: caracterizacin de materiales con SEM, Parque Tecnolgico de

Guatigara, Carolina Mendoza

FUNDAMENTOS TERICOS
El microscopio Quanta FEG 650 utiliza la tecnologa de
emisin de campo (SchottyFieldEmisssionGun) para la
generacin del haz de electrones

Tomado: caracterizacin de materiales con SEM, Parque Tecnolgico de Guatigara, Carolina Mendoza

FUNDAMENTOS TERICOS
INTERACCIN DEL HAZ PRIMARIO CON LA MUESTRA

Tomado: caracterizacin de materiales con SEM, Parque Tecnolgico de Guatigara, Carolina Mendoza

Tomado: caracterizacin de materiales con SEM, Parque Tecnolgico de Guatigara, Carolina Mendoza

Profundidad de penetracin a diferentes valores de

voltaje de aceleracin del haz.

Tomado: caracterizacin de materiales con SEM, Parque Tecnolgico de Guatigara, Carolina Mendoza

Tomado: caracterizacin de materiales con SEM, Parque Tecnolgico de Guatigara, Carolina Mendoza

FUNDAMENTOS TERICOS

Electrones
secundarios
Electrones
retrodispersados
Rayos x

ELECTRONES SECUNDARIOS
La excitacin de electrones secundarios resulta
cuando electrones de la banda de valencias
son promovidos a la banda de conduccin

Tomado: caracterizacin de materiales con SEM, Parque Tecnolgico de Guatigara, Carolina Mendoza

ELECTRONES RETRODISPERSADOS

Son electrones primarios que han sido

deflectados por colisiones con tomos de la
muestra, de manera que son regresados a la
superficie de la muestra.
Tomado: caracterizacin de materiales con SEM, Parque Tecnolgico de Guatigara, Carolina Mendoza

GENERACIN DE RAYOS X

Tomado: caracterizacin de materiales con SEM, Parque Tecnolgico de Guatigara, Carolina Mendoza

RAYOS X CARACTERISTICOS

Tomado: caracterizacin de materiales con SEM, Parque Tecnolgico de Guatigara, Carolina Mendoza

Tomado: caracterizacin de materiales con SEM, Parque Tecnolgico de Guatigara, Carolina Mendoza

ANALISIS QUIMICO EDS

Tomado: caracterizacin de materiales con SEM, Parque Tecnolgico de Guatigara, Carolina Mendoza

ASPECTOS DEL ESPECTRO EDS

Pico de
fluorescencia interna
Aspectos
EDS

Suma de picos
Picos de fuga

LIMITACIONES DEL EDS CUANTITATIVO

Tomado: caracterizacin de materiales con SEM, Parque Tecnolgico de Guatigara, Carolina Mendoza

MICROANLISIS DE MAPEO

Tomado: caracterizacin de materiales con SEM, Parque Tecnolgico de Guatigara, Carolina Mendoza

VARIACIN DE TEMPERATURA

Tomado: caracterizacin de materiales con SEM, Parque Tecnolgico de Guatigara, Carolina Mendoza

VARIACIN DE PRESIN Y
TEMPERATURA

Tomado: caracterizacin de materiales con SEM, Parque Tecnolgico de Guatigara, Carolina Mendoza

PREPARACIN DE LA MUESTRA
Ausencia de lquidos

Muestra conductora

Recubrimiento de la muestra

TCNICA DE RECUBRIMIENTO CON ORO

SPUTTERING

Tomado: microscopia electrnica de barrido, Julin Martnez

TCNICA DE RECUBRIMIENTO CON

CARBONO
TRANSPARENTE A LOS RAYOS X

Tomado: microscopia electrnica de barrido, Julin Martnez

APLICACIONES
Geologa
Estudio de materiales
Metalurgia
Odontologa

Tomado: microscopia electrnica de barrido, Julin Martnez

ESTUDIO DE DUREZA

DEFECTO Cu-Al
Tomado: microscopia electrnica de barrido, Julin Martnez

Tomado: microscopia electrnica de barrido, Julin Martnez

Tomado: microscopia electrnica de barrido, Julin Martnez

APLICACIONES
Paleontologa y arqueologa
Control de calidad
Peritajes
Medicina forense

Tomado: caracterizacin de materiales con SEM, Parque Tecnolgico de Guatigara, Carolina Mendoza

Tomado: caracterizacin de materiales con SEM, Parque Tecnolgico de Guatigara, Carolina Mendoza

Tomado: caracterizacin de materiales con SEM, Parque Tecnolgico de Guatigara, Carolina Mendoza

Tomado: caracterizacin de materiales con SEM, Parque Tecnolgico de Guatigara, Carolina Mendoza

Tomado: caracterizacin de materiales con SEM, Parque Tecnolgico de Guatigara, Carolina Mendoza

Tomado: caracterizacin de materiales con SEM, Parque Tecnolgico de Guatigara, Carolina Mendoza

DESVENTAJAS
Elevados costos de los equipos
Instalaciones especiales para un buen
funcionamiento
Costes de reactivos elevados y elevada
toxicidad
Equipos complejos y fcilmente descalibrables
Imgenes monocromticas y planas siendo
necesario manipulacin informtica

CONCLUSIONES
Sirve para visualizar imgenes de superficies de
materiales con hasta 200.00 aumentos
Distintos tipos de seales proporcionan distinto
tipo de informacin
En funcin del tipo de muestra utilizaremos un
tipo de vaco concreto, el cual determinara el
tratamiento previo realizado a la muestra

BIBLIOGRAFA
Introduccin a la ciencia de los materiales, J.M. Albella,
A. M. Cintas, T,Miranda, J, M. Serratosa
Principios de anlisis instrumental 5Ed.,Skoog, Holler
www.itma.es, (instituto tecnolgico de materiales)
www.wikipedia.org, (enciclopedia libre online)
Parque tecnolgico de GUATIGUARA, Caracterizacin
de materiales con microscopia electrnica de barrido,
Carolina Mendoza