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M. Echeverri a y E. Vsquez b
a
En este trabajo se hace un estudio del fenmeno de interferencia usando el interfermetro de Michelson con el fin
de determinar la longitud de onda de una fuente de luz monocromtica proveniente de una fuente lser.
Adicionalmente se estudiaron los patrones de difraccin producidos por obstculos cuando son iluminados por
una onda coherente monocromtica y se determin el ancho de una rendija, la separacin entre dos rendijas y su
ancho, el dimetro de un cabello y el dimetro de una abertura circular.
Palabras claves: Interfermetro de Michelson, luz monocromtica, difraccin, coherencia.
ABSTRACT
In this paper a study of the phenomenon of interference using the Michelson interferometer to determine the
wavelength of a monochromatic light source from a laser source. Additionally studied diffraction patterns
produced by obstacles when illuminated by a monochromatic coherent wave is determined and a slot width, the
distance between two slits and their width, the diameter of a hair, and the diameter of a circular aperture.
Keywords: Michelson interferometer, monochromatic light, diffraction, coherence
1. INTRODUCCIN
La base de este trabajo es estudiar la interferencia, difraccin y polarizacin de ondas
electromagnticas [1].Una onda electromagntica es aquella que no necesita un medio material
para propagarse. El propsito de este trabajo es calcular la longitud de onda()
experimentalmente y compararla con la terica, por medio de una interferencia generada por
un interfermetro de Michelson.
Se estudi la difraccin utilizando una rendija con una ranura recta, luego una rendija con dos
ranuras rectas, despus una rendija con ranura circular y por ultimo un cabello, se analizaron
los diferentes casos calculando distancias de las ranuras y patrones de difraccin.
2. MODELO TERICO
Figura 1. Esquema del montaje para medir el ndice de refraccin del aire con respecto a la presin,
mediante un interfermetro de Michelson.
El interfermetro de Michelson como se muestra en la figura 1 puede ser usado en dos formas.
Introduciendo cambios especficos en las trayectorias de los haces, se puede obtener
informacin acerca de la fuente de luz que est siendo usada. En este caso se usar el
interfermetro para medir la longitud de onda de la fuente de luz e investigar la polarizacin
de la fuente. La longitud de onda se halla mediante la siguiente ecuacin
Por otra parte, si las caractersticas de la fuente de luz son conocidas (longitud de onda,
polarizacin, intensidad), se pueden introducir cambios en la trayectoria de los haces para
analizar los efectos sobre el patrn de interferencia. Estos cambios de trayectoria son
producidos por una ranura o abertura.
Figura 2. Distribucin de intensidades del patrn de difraccin de una ranura muy larga.
Consideremos una onda que incide perpendicular sobre una ranura rectangular muy estrecha y
larga, en este caso slo la parte del frente de onda que pasa por la ranura contribuye a las
ondas que son difractadas de la siguiente manera
Si las dos ranuras son idnticas, el patrn de interferencia es el de dos fuentes sincronizadas,
con mximos en las direccin dadas por
(3)
donde n son los puntos mximos que se presentan y a es la separacin entre las rendijas
Los ceros mnimos de intensidad del patrn de difraccin estn dados por la ecuacin
(4)
al realizar el clculo de la longitud de onda del lser con la ecuacin (1), registrando el nmero
de transiciones de franja (m) e igualmente registrando la distancia (d) a la que se movi el
d(m)
-7
20
6,5x10
30
9,4x10-7
teo(m)
exp(m)
%error
y(m)
F(m)
(m)
d(m)
-9
-9
2.68%
8,8 x 10-2
3.35
633x10-9
9,63x10-5
620x10-9
2.09%
11,5x10-2
3.35
633x10-9
7,37x10-5
633x10
650x10
633x10-9
y para m (m)
y para m(m)
6.2x10-2
5.8x10-2
2,19x10-4
2,05x10-4
-2
-2
-4
7.5x10
6.8x10
2,80x10
2.5x10
F(m)
-4
633x10-9
3.35
-9
3.35
633x10
F(m)
6x10-3
3.35
D(m)
633x10-9
4,3x10-4
5. CONCLUSIONES
En este trabajo identificamos que las ondas electromagnticas son aquellas que no necesita un
medio material para propagarse. Para realizar un buen trabajo se realizo una buena
administracin de los instrumentos de laboratorio. El interfermetro de Michelson es un
mtodo simple para medir el valor de la longitud de onda () de una onda electromagntica
emitida por un lser.
Se comprob que hay una relacin inversamente proporcional entre el ancho de la rendija y la
separacin de los mnimos de esta, es decir; entre menor es el ancho de la rendija mayor es la
separacin y entre mayor es el ancho de la rendija menor es la separacin de esta. Tambin
podemos concluir que en el caso de las dos rendijas el patrn de intensidad cambio debido a
que las separacin entre la rendija era distinta, o sea en la que estaba menos separada los
mximos se separaron mas, y en la mas separada los mximos estuvieron mas juntos.
REFERENCIAS
[1] Serway R. A., Jewett J. W., Jr., Fsica para ciencias e ingeniera, Vol. I y II, Thomson,
Mxico, 2005.
[2] Sears F. W., Zemansky M. W., Young H. D., Freddman R. A., Fsica Universitaria, Vol. I
y II, Pearson-Addison Wesley, Undcima Edicin, Mxico, 2005.