ISO 2859 1 Muestreo Atributos

INSTITUTO ECUATORIANO DE NORMALIZACIN
Quito - Ecuador
NORMA TCNICA ECUATORIANA
NTE INEN-ISO 2859-1:2009
NMERO DE REFERENCIA ISO 2859-1:1999(E)
PROCEDIMIENTOS DE MUESTREO PARA INSPECCIN

POR ATRIBUTOS. PARTE 1. PROGRAMAS DE MUESTREO
CLASIFICADOS POR EL NIVEL ACEPTABLE DE CALIDAD
(AQL) PARA INSPECCIN LOTE A LOTE.
Segunda Edicin
SAMPLING PROCEDURES FOR INSPECTION BY ATRIBUTES PART 1:
ACCEPTANCE QUALITY LIMIT (AQL) FOR LOT-BY-LOT INSPECTION.
SAMPLING SCHEMES INDEXED BY
Second Edition
DESCRIPTORES: Inspeccin por atributos, muestreo, plan de muestreo, nivel aceptable de calidad.
FD 03.03-203
CDU: 311.213.2:620.113.4:658.562.012.7
CIIU: 9100
ICS: 03.120.30
NTE INEN-ISO 2859-1
2009-09
Contenido
1. Alcance.
2. Referencias normativas
3. Trminos, definiciones y smbolos ..
4. Expresin de la no conformidad ....
5. Nivel aceptable de calidad (AQL)
6. Sometimiento del producto a muestreo .
7. Aceptacin y no aceptacin
8. Toma de muestras .
10
9. Inspeccin normal, estricta y reducida
11
10.Planes de muestreo
14
11.Determinacin de la aceptabilidad .
15
12.Informacin adicional .
16
13.Planes de muestreo simple con nmeros de aceptacin fraccionarios (opcional) ..
18
Tablas
1.
Cdigo alfabtico del tamao de la muestra.. ...............................................
21
2.A- Planes de muestreo simple para inspeccin normal (tabla principal).................................
22
2.B- Planes de muestreo simple para inspeccin estricta (tabla principal) .......................... .....
23
2.C- Planes de muestreo simple para inspeccin reducida (tabla principal)..............................
24
3.A- Planes de muestreo doble para inspeccin normal (tabla principal) ..................................
25
3.B- Planes de muestreo doble para inspeccin estricta (tabla principal)..................................
26
3.C- Planes de muestreo doble para inspeccin reducida (tabla principal) ...............................
27
4.A- Planes de muestreo mltiple para inspeccin normal (tabla principal)...............................
28
4.B -Planes de muestreo mltiple para inspeccin estricta (tabla principal) ..............................
31
4.C- Planes de muestreo mltiple para inspeccin reducida (tabla principal)............................
34
5.A- Riesgo para el productor en la inspeccin normal..............................................................
37
5.B- Riesgo para el productor en la inspeccin estricta .............................................................
38
5.C- Riesgo para el productor en la inspeccin reducida...........................................................
39
6.A- Riesgo en la calidad para el consumidor en la inspeccin normal .....................................
40
6.B- Riesgo en la calidad para el consumidor en la inspeccin estricta ....................................
41
6.C- Riesgo en la calidad para el consumidor en la inspeccin reducida ..................................
42
7.A- Riesgo en la calidad para el consumidor en la inspeccin normal .....................................
43
7.B- Riesgo en la calidad para el consumidor en la inspeccin estricta ....................................
44
7.C- Riesgo en la calidad para el consumidor en la inspeccin reducida ..................................
45
8.A- Lmites de calidad final promedio para inspeccin normal (planes de muestreo simple)
46
8.B- Lmites de calidad final promedio para inspeccin estricta (planes de muestreo simple)
47
9.- Curvas de tamao de muestra promedio para muestreo simple doble y mltiple
(para inspeccin normal, estricta y reducida) .
-i-
48
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NTE INEN-ISO 2859-1
2009-09
10.A- Tablas para la letra cdigo A del tamao de muestra (planes individuales) ....................
50
10.B- Tablas para la letra cdigo B del tamao de muestra (planes individuales) ....................
52
10.C- Tablas para la letra cdigo C del tamao de muestra (planes individuales) ....................
54
10.D- Tablas para letra cdigo D del tamao de muestra (planes individuales)........................
56
10.E- Tablas para letra cdigo E del tamao de muestra (planes individuales) ........................
58
10.F- Tablas para letra cdigo F del tamao de muestra (planes individuales).........................
60
10.G- Tablas para letra cdigo G del tamao de muestra (planes individuales) .......................
62
10.H- Tablas para letra cdigo H del tamao de muestra (planes individuales)........................
64
10.J- Tablas para letra cdigo J del tamao de muestra (planes individuales) .........................
66
10.K- Tablas para letra cdigo K del tamao de muestra (planes individuales) ........................
68
10.L- Tablas para letra cdigo L de tamao de muestra (planes individuales ...........................
70
10.M- Tablas para letra cdigo M de tamao de muestra (planes individuales)........................
72
10.N- Tablas para letra cdigo N de tamao de muestra (planes individuales).........................
74
10.P- Tablas para letra cdigo P de tamao de muestra (planes individuales) .........................
76
10.Q- Tablas para letra cdigo Q de tamao de muestra (planes individuales) ........................
78
10.R- Tablas para letra cdigo R de tamao de muestra (planes individuales).........................
80
10.S- Tablas para letra cdigo S de tamao de muestra (planes individuales) .........................
82
11.A Planes de muestreo simples para inspeccin normal (Tabla maestra auxiliar).................
83
11.B Planes de muestreo simples para inspeccin estricta (Tabla maestra auxiliar) ................
84
11.C Planes de muestreo simple para inspeccin reducida (Tabla maestra auxiliar) ...............
85
12. Esquema de curvas CO (normalizadas) ..............................................................................
86
Anexo A (informativo) Ejemplo de un plan de muestreo no constante ......................................
88
Bibliografa..................................................................................................................................
89
Apndice Z .................................................................................................................................
90
-ii-
2009-795
NTE INEN-ISO 2859-1
2009-09
Prefacio
La ISO (Organizacin Internacional de Normalizacin) es una federacin mundial de organismos
nacionales de normalizacin (organismos miembros de la ISO). El trabajo de preparacin de las
normas internacionales normalmente se lleva a cabo a travs de los comits tcnicos de la ISO.
Cada organismo miembro interesado en una materia para la cual se haya establecido un comit
tcnico, tiene el derecho de estar representado en dicho comit. Las organizaciones internacionales,
pblicas y privadas, en coordinacin con la ISO, tambin participan en el trabajo. La ISO colabora
estrechamente con la Comisin Electrotcnica Internacional (IEC) en todas las materias de
normalizacin electrotcnica.
Las Normas Internacionales se delinean de acuerdo a las reglas establecidas en la Parte 3 de las
Directivas ISO/IEC.
Los Proyectos de Normas Internacionales adoptados por los comits tcnicos se hacen circular a los
organismos miembros para votacin. La publicacin como Norma Internacional requiere la
aprobacin por al menos el 75% de los organismos miembros con derecho a voto.
La Norma Internacional ISO 2859-1 fue preparada por el Comit Tcnico ISO/TC 69, Aplicaciones de
mtodos estadsticos, Subcomit SC 5, Muestreo de aceptacin.
Esta segunda edicin de la ISO 2859-1 cancela y reemplaza a la primera edicin (ISO 2859-1:1989)
por cuanto constituye una revisin tcnica
Los cambios ms significativos con respecto a la norma anterior son:
un nuevo procedimiento para cambiar de inspeccin normal a reducida.
una referencia al plan de muestreo intermitente como una alternativa para la inspeccin
reducida.
el trmino "calidad lmite" se cambi por riesgo en la calidad para el consumidor en el

encabezado de las Tablas 6.A, 6.B, 6.C, 7.A, 7.B y 7.C.
la adicin de una tabla nueva que da el riesgo del productor como la probabilidad de rechazo de
lotes con porcentaje de no conformes igual al AQL
la adicin de planes con nmero de aceptacin fraccionario; el propsito de estos planes es el de

suministrar una serie consistente, desde planes para un nmero de aceptacin cero hasta planes
de nmero de aceptacin 1. Los planes con nmero de aceptacin fraccionario se encuentran en
las Tablas 11.A, 11.B y 11. C y sustituyen las flechas en las posiciones correspondientes en las
Tablas 2.A, 2.B y 2.C.
cambios en los planes reducidos para eliminar el intervalo entre los nmeros de aceptacin y
rechazo.
algunos cambios se realizaron en los planes de muestreo doble para brindar tamaos promedio
de muestra ms pequeos.
cambios en los planes de muestreo mltiple a cinco etapas en lugar de siete. Los cambios no
han incrementado el tamao promedio de la muestra. Algunos de los planes nuevos tienen un
tamao promedio de muestra ms pequeo que en sus homlogos de la edicin previa.
inclusin de las curvas caractersticas de operacin que aparecen en la Tabla 12.
La NTE INEN-ISO 2859 consta de las siguientes partes, bajo el ttulo general Procedimientos de
muestreo para inspeccin por atributos:
-iii-
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NTE INEN-ISO 2859-1
2009-09
Parte 0. Introduccin a la serie NTE INEN-ISO 2859. Sistema de muestreo por atributos.
Parte 1. Planes de muestreo determinados por el nivel aceptable de calidad (AQL) para
inspeccin lote a lote.
Parte 2. Planes de muestreo determinados por la calidad lmite (LQ) para la inspeccin de un lote
aislado
Parte 3. Procedimientos de muestreo intermitente
Se recomienda muy especialmente que esta parte de las NTE INEN-ISO 2859 se emplee junto con
la ISO 2859-0 la cual contiene ejemplos ilustrativos.
El Anexo A de esta parte de la norma es solamente informativo.
-iv-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Procedimientos de muestreo para inspeccin por atributos

Parte 1:
Programas de muestreo clasificados por el nivel aceptable de calidad (AQL)
para inspeccin lote a lote.
1 Alcance
1.1 Esta parte de la NTE INEN-ISO 2859, especifica un sistema de muestreo de aceptacin para la
inspeccin por atributos. Est clasificada en trminos del nivel aceptable de calidad (AQL).
Su propsito es inducir al proveedor, mediante la presin econmica y psicolgica de la no
aceptacin de un lote, a mantener un proceso promedio cuando menos tan bueno como el lmite de
calidad especificado, proporcionando al mismo tiempo un lmite superior para el riesgo del
consumidor de aceptar ocasionalmente un lote deficiente.
Los planes de muestreo designados en esta parte de NTE INEN-ISO 2859 se aplican, pero no se
limitan a la inspeccin de:
tems terminados,
componentes y materias primas,
operaciones,
materiales en proceso,
suministros en existencia,
operaciones de mantenimiento,
datos o archivos, y
procedimientos administrativos.
1.2 Se pretende que estos planes se usen en primer lugar para una serie continua de lotes, es decir,
para una serie suficientemente grande como para permitir que se apliquen las reglas de cambio
(vase el numeral 9.3). Estas reglas proporcionan:
a)
proteccin al consumidor (al cambiar a una inspeccin ms estricta o no continuar con la

inspeccin por muestreo) si se detectara deterioro de la calidad;
b) un incentivo (a discrecin de la autoridad responsable) para reducir los costos de inspeccin (al
cambiar a la inspeccin reducida) en caso que se logre consistentemente una buena calidad.
Tambin se pueden usar los planes de muestreo de esta parte de la NTE INEN-ISO 2859 para la
inspeccin de lotes aislados pero, en este caso, se aconseja enfticamente al usuario que consulte
la curva caracterstica de operacin para encontrar un plan que rinda la proteccin deseada (vase el
numeral 12.6). En ese caso, el usuario tambin debe referirse a los planes de muestreo clasificados
por calidad limite (LQ) indicados en la NTE INEN-ISO 2859-2.
DESCRIPTORES: Inspeccin por atributos, muestreo, plan de muestreo, nivel aceptable de calidad.
-1-
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NTE INEN ISO 2859-1
2 Referencias normativas
Los siguientes documentos normativos contienen disposiciones, las cuales, mediante su referencia
en este texto, constituyen disposiciones de esta parte de la NTE INEN-ISO 2859. Estas
publicaciones no rigen para referencias fechadas, modificaciones posteriores o revisiones de
cualquiera de estas publicaciones. Sin embargo, es conveniente que las partes que realicen
acuerdos, basados en esta parte de la NTE INEN-ISO 2859, investiguen la posibilidad de aplicar las
ediciones ms recientes de los documentos normativos indicados a continuacin. Cuando se trate de
referencia sin fecha, rige la ltima edicin del documento normativo mencionado. Los miembros de
ISO e lEC llevan registros de las normas Internacionales vigentes.
NTE INEN-ISO 2859-3:2008, Procedimientos de muestreo para inspeccin por atributos. Parte 3:
Procedimientos de muestreo para lotes intermitentes.
NTE INEN-ISO 3534-1:2008, Estadstica. Vocabulario y smbolos. Parte 1. Trminos de
probabilidades y estadstica general. (ISO 3534-1).
NTE INEN-ISO 3534-2:2008, Estadstica. Vocabulario y smbolos. Parte 2. Control estadstico de la
calidad.
NTE INEN-ISO 3951-1:2006, Procedimientos de muestreo para inspeccin por variables. Parte 1:
Especificacin para planes de muestreo simple determinado por el nivel aceptable de calidad (AQL)
para inspeccin lote a lote, una caracterstica de calidad simple y un AQL simple.
3 Trminos, definiciones y smbolos

3.1 Trminos y definiciones
Para los propsitos de esta parte de la NTE INEN-ISO 2859, se aplican los trminos y definiciones
propuestos en la NTE INEN-ISO 3534-1 y en la NTE INEN-ISO 3534-2, y adems los siguientes:
NOTA Para facilidad de referencia, la definicin de algunos de esos trminos se tom textualmente de la NTE INEN-ISO
3534-1 y de la NTE INEN-ISO 3534-2, en tanto que otros se redefinieron o definieron nuevamente.
3.1.1
inspeccin
actividades tales como la medicin, el examen, el ensayo o la estimacin de una o ms
caractersticas de un producto, y la comparacin de los resultados con los requisitos especificados,
para establecer si se logra la conformidad de cada caracterstica.
3.1.2
inspeccin original
primera inspeccin de un lote de acuerdo con las disposiciones de esta parte de la NTE INEN-ISO
2859.
NOTA Esto es para ser distinguida de la inspeccin de un lote que ha sido presentado nuevamente despus de un rechazo
previo.
3.1.3
inspeccin por atributos
inspeccin mediante la cual el tem se clasifica simplemente como conforme o no conforme con
respecto a un requisito especificado o a un conjunto de requisitos especificados, o se cuenta el
nmero de no conformidades en el tem.
NOTA La inspeccin por atributos incluye la inspeccin de la conformidad de los tems as como la inspeccin del nmero de
no conformidades por cada cien tems.
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NTE INEN ISO 2859-1
3.1.4
tem
aquello que se puede describir y considerar individualmente.
EJEMPLOS
un tem fsico;
una cantidad definida de material;
un servicio, una actividad o un proceso;
una organizacin o una persona; o
alguna combinacin de los anteriores.
3.1.5
no conformidad
incumplimiento de un requisito especificado
NOTA 1 En algunas situaciones, los requisitos especificados coinciden con los requisitos de uso del cliente (ver defecto,
3.1.6). En otras situaciones pueden no coincidir, por ser ms o menos estrictos, o por que no se conoce o no se entiende la
relacin exacta entre las dos.
NOTA 2
La no conformidad generalmente ser clasificada de acuerdo con su grado de seriedad, por ejemplo:
Clase A: son aquellas no conformidades de un tipo que se considera que causan la mayor preocupacin; en el
muestreo de aceptacin, a este tipo de no conformidades le ser asignado un valor muy pequeo de lmite
aceptable de calidad;
Clase B: son aquellas no conformidades de un tipo que se considera que tienen el grado inmediato inferior de
preocupacin; por lo tanto, a stas se les puede asignar un mayor valor del nivel aceptable de calidad que a las
de la clase A y menor que las de la clase C, si existe una tercera clase, etc.
NOTA 3 Al agregar caractersticas y clases de no conformidades se afectar generalmente la probabilidad general de

aceptacin del producto.
NOTA 4 La cantidad de clases, la asignacin a una clase y el nivel aceptable de calidad que se escoja para cada clase
deben ser apropiados a los requisitos de calidad de la situacin especfica.
3.1.6
defecto
incumplimiento de un requisito asociado a un uso previsto.
NOTA 1 Es apropiado usar el trmino "defecto" cuando se evala una caracterstica de calidad de un producto en trminos
de uso (en contraste con el cumplimiento de las especificaciones).
NOTA 2) Puesto que el trmino "defecto" tiene ahora un significado definido dentro de la ley, no se debera usar como un
trmino general.
3.1.7
tem no conforme
tem que tiene uno o ms no conformidades
NOTA
Generalmente los tems no conformes se clasificarn de acuerdo con su grado de importancia, tales como:
Clase A: un tem con una o ms no conformidades de la Clase A, el cual tambin pueden tener no
conformidades de la Clase B o de la Clase C, etc.;
Clase B: un tem con una o ms no conformidades de la Clase B, el cual tambin puede tener no
conformidades de la Clase C, etc., pero no tiene no conformidades de la Clase A.
-3-
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NTE INEN ISO 2859-1
3.1.8
porcentaje de no conformes
(en una muestra) cien veces el nmero de tems no conformes de la muestra, dividido por el tamao
de la muestra, as:
d
x100
n
Donde:
d
es el nmero de tems no conformes en la muestra;
es el tamao de la muestra
3.1.9
porcentaje de no conformes
(en una poblacin o un lote) cien veces el nmero de tems no conformes en la poblacin o lote,
dividido por el tamao de la poblacin o lote, as:
100 p = 100
D
N
Donde:
p
es el porcentaje de tems no conformes;
es el nmero de tems no conformes de la poblacin o lote;
es el tamao de la poblacin o del lote.
NOTAS 1 En esta parte de la NTE INEN-ISO 2859 los trminos porcentaje de no conformes (3.1.8 y 3.1.9) o no
conformidades por cada 100 tems (3.1.10 y 3.1.11) se usan bsicamente en cambio de los trminos tericos "porcentaje
de tems no conformes" y "no conformidades por tems" porque los primeros se usan ms ampliamente.
NOTA 2 Esta definicin difiere de la que se encuentra en la 2062-2
3.1.10
no conformidades por 100 tems
(en una muestra) cien veces el nmero de no conformidades de la muestra, dividido por el tamao
de la muestra, as:
100
d
n
Donde:
d
es el nmero de no conformidades de la muestra;
es el tamao de la muestra.
3.1.11
no conformidades por 100 tems
(en una poblacin o lote) cien veces el nmero de no conformidades de la poblacin o lote, dividido
por el tamao o la poblacin o lote, as:
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NTE INEN ISO 2859-1
100 p = 100
D
N
Donde:
p es el nmero de no conformidades por tems;
D es el nmero de no conformidades de la poblacin o lote;
N es el tamao de la poblacin o del lote.
NOTA. Un tem puede tener una o varias no conformidades.
3.1.12
autoridad responsable
concepto que se usa para mantener la neutralidad de esta parte de la NTE INEN-ISO 2859
(primordialmente para fines de especificacin), indiferentemente de si es invocada o aplicada por una
primera, segunda o tercera parte.
NOTA 1
La autoridad responsable puede ser:
a) el departamento de calidad dentro de la organizacin del proveedor (primera parte);

b) el comprador o una organizacin que compra (segunda parte);
c) una autoridad independiente de verificacin o certificacin (tercera parte);
d)
cualquiera a), o b) o c), las cuales diferirn en funciones (ver la Nota 2), de acuerdo a como se describe en un acuerdo
escrito entre dos de las partes, por ejemplo, un documento entre el proveedor y el comprador.
NOTA 2 Los deberes y funciones de una autoridad responsable se describen en esta parte de la NTE INEN-ISO 2859
(vanse los numerales 5.2, 6.2, 7.2, 7.3, 7.5, 7.6, 9.1, 9.3.3, 9.4, 10.1, 10.3, 13.1).
3.1.13
lote
cantidad definida de algn producto, material o servicio, tomada en conjunto.
NOTA. Un lote para la inspeccin puede constar de varios grupos o partes de grupos.
3.1.14
tamao del lote
cantidad de tems en un lote.
3.1.15
muestra
conjunto de uno o varios tems tomados de un lote, destinado para suministrar informacin sobre el
lote.
3.1.16
tamao de la muestra
cantidad de tems en la muestra.
3.1.17
plan de muestreo
combinacin del o los tamaos de muestra que se usan, y los criterios asociados de aceptabilidad
del lote.
-5-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1

NOTA 1 Un plan de muestreo simple es una combinacin del tamao de la muestra y de los nmeros de aceptacin y
rechazo. Un plan de muestreo doble es una combinacin de dos tamaos de muestra y nmeros de aceptacin y rechazo
para la primera muestra y para la muestra unificada.
NOTA 2 Un plan de muestreo no contiene las reglas sobre la forma en la cual tomar la muestra.
NOTA 3 Para los fines de esta parte de la NTE INEN-ISO 2859, se debe hacer una distincin entre los trminos plan de
muestreo (3.1.17), programa de muestreo (3.1.18) y sistema de muestreo (3.1.19).
3.1.18
programa de muestreo
la combinacin de planes de muestreo con las reglas para cambiar de un plan a otro.
NOTA. VER 9.3.
3.1.19
sistema de muestreo
conjunto de planes de muestreo o programas de muestreo, cada uno con sus propias reglas para
cambiar los planes, en conjunto con procedimientos de muestreo que incluyen los criterios mediante
los cuales se puede escoger los planes o programas adecuados.
NOTA Esta parte de la NTE INEN-ISO 2859 es un sistema de muestreo clasificado por rangos de tamaos de lote, niveles
de inspeccin y AQL. La NTE INEN-ISO 2859-2 define el sistema de muestreo para planes LQ.
3.1.20
inspeccin normal
uso de un plan de muestreo (3.1.17) con un criterio de aceptacin concebido para asegurarle al
productor una gran probabilidad de aceptacin cuando el promedio del proceso (3.1.25) del lote es
mejor que el lmite aceptable de calidad (3.1.26).
NOTA. La inspeccin normal se realiza cuando no hay razn para sospechar que el promedio del proceso (3.1.25) difiere de
un nivel aceptable.
3.1.21
Inspeccin estricta
uso de un plan de muestreo (3.1.17) con un criterio de aceptacin ms severo que el del
correspondiente plan de inspeccin normal (3.1.20).
NOTA. La inspeccin estricta se aplica cuando los resultados de la inspeccin de una cantidad predeterminada de lotes
consecutivos indica que el promedio del proceso (3.1.25) puede ser inferior al AQL (3.1.26).
3.1.22
inspeccin reducida
uso de un plan de muestreo (3.1.17) con un tamao de muestra (3.1.16) inferior al del
correspondiente plan de inspeccin normal (3.1.20) y con un criterio de aceptacin comparable al
del respectivo plan de inspeccin normal.
NOTA 1: La capacidad de discriminacin bajo la inspeccin reducida es inferior a la de la inspeccin normal.
NOTA 2: Puede ser aplicada la inspeccin reducida cuando los resultados de la inspeccin de una cantidad predeterminada
de lotes consecutivos indica que el promedio del proceso (3.1.25) es superior al AQL (3.1.26).
3.1.23
puntuacin de cambio
indicador que se usa durante la inspeccin normal para determinar si los resultados de la inspeccin
en curso son suficientes para permitir el cambio a la inspeccin reducida.
NOTA. VER 9.3.3
3.1.24
puntuacin de aceptacin
indicador que se usa para los planes de muestreo con nmero de aceptacin fraccionario con el fin
de determinar la aceptabilidad del lote.
NOTA. VER 13.2.1.2
-6-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
3.1.25
promedio del proceso
Nivel promediado del proceso durante un perodo de tiempo definido, o una cantidad de produccin.
[INEN ISO 3534-2, 3.1.2]
NOTA. En esta parte de la NTE INEN-ISO 2859 el promedio del proceso es el nivel de calidad (porcentaje de no conformes o
nmero de no conformidades por cien tems) durante un perodo, cuando el proceso se encuentra en estado de control
estadstico.
3.1.26
lmite aceptable de calidad
AQL
nivel de calidad que es el peor promedio tolerable del proceso cuando se enva una serie continua de
lotes para muestreo de aceptacin.
NOTA 1: Este concepto slo se aplica cuando se usa un programa de muestreo que tiene reglas de cambio y suspensin
como en la NTE INEN-ISO 2859-1 en la NTE INEN-ISO 3951-1.
NOTA 2: Aunque pueden ser aceptados, con una moderada alta probabilidad, lotes individuales con una calidad tan mala
como el lmite de aceptacin de la calidad, la designacin de un lmite aceptable de calidad no sugiere que ste sea un nivel
de calidad deseable. Los programas de muestreo que se encuentran en normas internacionales, como esta parte de la NTE
INEN-ISO 2859, con sus reglas de cambio y suspensin de la inspeccin por muestreo, estn diseadas para motivar a los
proveedores a obtener promedios del proceso consistentemente superiores al AQL. De lo contrario, existe un gran riesgo de
que la severidad de la inspeccin cambie a inspeccin estricta, segn la cual el criterio de aceptacin del lote se hace ms
exigente. Cuando se llega a la inspeccin estricta, a menos que se acte para mejorar el proceso, es muy posible que se
aplique la regla que requiere suspender la inspeccin por muestreo mientras se hace tal mejora.
3.1.27
riesgo en la calidad para el consumidor
CRQ
lote o nivel de calidad del proceso que en el plan de muestreo corresponde a un riesgo especfico
para el consumidor.
NOTA. El riesgo para el consumidor usualmente es del 10 %.
3.1.28
calidad limite
LQ
cuando se considera aisladamente a un lote, es el nivel de calidad, el cual, para los fines de la
inspeccin por muestreo, es limitado a una baja probabilidad de aceptacin.
3.2 Smbolos y abreviaturas

Los smbolos y abreviaturas que se usan en esta parte de la norma son las siguientes:
Ac
nmero de aceptacin
AQL
nivel aceptable de calidad (en porcentaje de tems no conformes, o en no conformidades

por cien tems.
AOQ
calidad promedio final (en porcentaje de tems no conformes, o en no conformidades por

cien tems)
AOQL
lmite de calidad promedio (en porcentaje de tems no conformes, o en no conformidades

por cien tems).
CRQ
riesgo en la calidad para el consumidor (en porcentaje de tems no conformes o en no

conformidades por cien tems).
cantidad de tems no conformes (o no conformidades) que se encuentran en una muestra

de un lote
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2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
cantidad de tems no conformes en un lote
LQ
calidad lmite (en porcentaje de tems no conformes o en no conformidades por cien tems)
tamao del lote
tamao de la muestra
promedio del proceso
Px
nivel de calidad para el cual la probabilidad de aceptacin es x, cuando x es una fraccin
Pa
probabilidad de aceptacin (en porcentaje)
Re
nmero de rechazo
NOTA El smbolo n puede estar acompaado de un subndice. Los subndices numricos de 1 a 5 indican de la primera a
la quinta muestra, respectivamente. En general, ni es el tamao de la i sima muestra en muestreos dobles o mltiples.
Expresin de la no conformidad
4.1 Generalidades
El alcance de la no conformidad se debe expresar bien sea en trminos de porcentaje de no
conformes (ver 3.1.8 y 3.1.9), o en trminos de no conformidades por cien tems (ver 3.1.10 y
3.1.11). Las Tablas 7, 8 y 10 se basan en la asuncin que las no conformidades se presentan al azar
y que son estadsticamente independientes. Si se sabe que una no conformidad en un tem puede
ser causada por una condicin que tambin puede causar otras, los tems deben ser considerados
slo como conformes o no, y se deben ignorar las mltiples no conformidades.
4.2 Clasificacin de las no conformidades

Puesto que la mayor parte del muestreo para aceptacin implica la evaluacin de ms de una
caracterstica de calidad, y puesto que pueden diferir en cuanto a su importancia en trminos de
calidad y/o efectos econmicos, con frecuencia es deseable clasificar los tipos de no conformidades
de acuerdo a clases acordadas, como se definen en 3.1.5. El nmero de clases, la asignacin de no
conformidades a las clases y la opcin de AQL para cada clase, deben ser adecuados para los
requisitos de calidad de la situacin especfica.
5 Nivel aceptable de calidad (AQL)

5.1 Uso y aplicacin
El AQL, junto con el cdigo de letra del tamao de la muestra (ver 10.2), se usa para determinar los
planes y programas de muestreo que se describen en esta parte de la norma.
Cuando se designa un valor especfico de AQL para una determinada no conformidad o grupo de no
conformidades, esto indica que el programa de muestreo aceptar la gran mayora de los lotes
presentados, siempre y cuando el nivel de calidad (porcentaje de no conformes o no conformidades
por cien tems) de estos lotes no sea superior al valor AQL designado. Los planes de muestreo
previstos estn dispuestos de manera que la probabilidad de aceptacin con el valor AQL designado
dependa del tamao de la muestra para un AQL dado, el cual es generalmente ms alto para
muestras grandes que para muestras pequeas.
El AQL es un parmetro del programa de muestreo y no se debera confundir con el promedio del
proceso que describe el nivel de operacin del proceso de fabricacin. Se espera que el promedio
del proceso sea superior al AQL para evitar rechazos excesivos de acuerdo con este sistema.
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NTE INEN ISO 2859-1
PRECAUCIN: La designacin de un AQL no debe implicar que el proveedor tenga derecho a

suministrar, conscientemente, cualquier tem no conforme.
5.2 Especificacin de los AQL

El AQL que se use debe estar designado en el contrato o (de acuerdo con la directivas impuestas)
por la autoridad responsable. Se pueden designar diferentes AQL para grupos de no conformidades
consideradas colectivamente o para no conformidades individuales como se define en el numeral
3.1.5. La clasificacin en grupos debe ser adecuada a los requisitos de calidad de la situacin
especfica. Se puede designar un AQL para un grupo de no conformidades, adems de los AQL para
no conformidades individuales, o subgrupos dentro de ese grupo. Cuando el nivel de calidad se
expresa como un porcentaje de tems no conformes (3.1.8 y 3.1.9) los valores AQL no deben
superar el 10 % de no conformes. Cuando el nivel de calidad se expresa como un nmero de no
conformidades por cien tems (3.1.10 y 3.1.11), se pueden usar valores AQL hasta de 1 000 no
conformidades por cien tems.
5.3 AQL preferidos

Las series de valores AQL dados en las tablas se conocen como las series preferidas de AQL. Si,
para un producto, se designa un AQL distinto de uno de estos valores, estas tablas no son
aplicables.
6 Sometimiento del producto a muestreo

6.1 Formacin de lotes
El producto debe pertenecer a lotes o sub-lotes identificables, o dispuestos de cualquier otra manera
que pueda estar prescrita (ver 6.2). Cada lote, hasta donde sea posible, debe constar de tems de
un solo tipo, grado, clase, tamao y composicin, fabricados en condiciones uniformes y
esencialmente al mismo tiempo.
6.2 Presentacin de los lotes

La formacin de los lotes, el tamao de lote y la manera en la cual debe ser presentado e identificado
por el proveedor, debe ser designada o aprobada por, o estar de acuerdo a, la autoridad
responsable. Cuando sea necesario, el proveedor debe proporcionar el espacio o almacenamiento
adecuado y suficiente para cada lote, el equipo necesario para la identificacin y presentacin, y el
personal para toda la manipulacin del producto requerido para tomar las muestras.
7 Aceptacin y no aceptacin
7.1 Aceptacin de los lotes
La aceptabilidad de un lote debe estar determinada por el uso de planes de muestreo o planes.
El trmino "no aceptacin" es usado en este contexto para "rechazo" cuando se refiere al resultado
de seguir el procedimiento. Las formas del trmino "rechazo" se conservan cuando se refieren a
acciones que el consumidor puede tomar, como en el "nmero de rechazo".
7.2 Disposicin de lotes no aceptables

La autoridad responsable debe decidir cmo se dispondrn los lotes no aceptados. Tales lotes se
pueden desechar, clasificar (con o sin tems no conformes a ser reemplazados), reprocesar o reevaluar contra un criterio de uso ms especfico, o se guardan para obtener informacin adicional,
etc.
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NTE INEN ISO 2859-1
7.3 tems no conformes

Si se ha aceptado un lote, se reserva el derecho de no aceptar cualquier tem que se haya
encontrado no conforme durante la inspeccin, bien sea que ese tem forme parte de una muestra o
no. Los tems que se encuentren no conformes pueden ser procesados nuevamente o reemplazados
por tems conformes y presentados nuevamente para inspeccin con la aprobacin de, y en la forma
especificada por, la autoridad responsable.
7.4 Clases de no conformidades e tems no conformes

La asignacin especfica de no conformidades o de tems no conformes a dos o ms clases,
requiere el uso de un conjunto de planes de muestreo. En general, el conjunto de planes de
muestreo tiene un tamao comn de muestra pero diferentes nmeros de aceptacin para cada
clase que tenga un AQL diferente, como se indica en las Tablas 2, 3 y 4.
7.5 Reserva especial para clases crticas de no conformidades

Algunas clases de no conformidades pueden tener importancia crtica. Esta sub-clusula especifica
las disposiciones especiales para dichos tipos de no conformidades designadas. A discrecin de la
autoridad responsable, cada tem del lote puede ser requerido para ser inspeccionado segn dichas
clases designadas de no conformidades. Se reserva el derecho de inspeccionar cada tem
presentado en cuanto a dichas no conformidades y de no aceptar inmediatamente el lote si se
encuentra una no conformidad de esta clase. Tambin se reserva el derecho de inspeccionar cada
lote presentado por el proveedor, y de no aceptar ningn lote si se encuentra que una muestra
tomada de l contiene una o ms de estas clases especificadas de no conformidades.
7.6 Lotes presentados nuevamente

Se debe notificar inmediatamente a todas las partes si se encuentra que un lote no es aceptable.
Dichos lotes no deben ser presentados nuevamente hasta tanto no se vuelvan a examinar, o
reensayar, todos los tems y el proveedor quede satisfecho en el sentido que todos los tems no
conformes han sido retirados o reemplazados por tems conformes, o se han corregido todas las no
conformidades. La autoridad responsable debe determinar si en la nueva inspeccin se debe hacer
inspeccin normal o estricta, y si la nueva inspeccin debe incluir todos los tipos o clases de no
conformidades, o nicamente los tipos o clases particulares de no conformidades que fueron la
causa del rechazo inicial.
8 Toma de muestras
8.1 Seleccin de muestras
Los tems que se seleccionen para la muestra se deben tomar del lote por muestreo simple aleatorio
(2.1.5 de la NTE INEN-ISO 3534-2). Sin embargo, cuando un lote est formado por sub-lotes o
estratos, identificados mediante algn criterio racional, se debe usar un muestreo estratificado, de
manera que el tamao de la sub-muestra de cada sub-lote o estrato sea proporcional al tamao de
ese sub-lote o estrato (para detalles ver 2.25 de NTE INEN-ISO 2859-0).
8.2 Momento para tomar las muestras

Se pueden tomar muestras una vez producido el lote, o durante la produccin del mismo. En
cualquier caso, las muestras se deben seleccionar de acuerdo con lo indicado en el numeral 8.1.
8.3 Muestreo doble o mltiple

Cuando se use muestreo doble o mltiple, cada muestra subsiguiente se debe seleccionar del resto
del mismo lote.
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9 Inspeccin normal, estricta y reducida

9.1 Iniciacin de la inspeccin
Se debe llevar a cabo una inspeccin normal al principio de la inspeccin, a menos que la autoridad
responsable exija otra cosa.
9.2 Continuacin de la inspeccin

La inspeccin de lotes sucesivos, bien sea normal, estricta o reducida, debe continuar sin cambio,
excepto cuando los procedimientos de cambio (ver 9.3) obliguen a que se cambie la severidad de la
inspeccin. Los procedimientos de cambio deben ser aplicadas independientemente para cada clase
de no conformidad o tems no conformes.
9.3 Reglas y procedimientos de cambio (vase la figura 1)

9.3.1 De normal a estricta
Cuando se lleve a cabo una inspeccin normal, se debe implementar una inspeccin estricta tan
pronto como dos de cinco (o menos de cinco) lotes consecutivos hayan resultado no aceptables
durante la inspeccin original (en otras palabras, ignorando los lotes o partidas presentados
nuevamente para este procedimiento).
9.3.2 De estricta a normal
Cuando se lleve a cabo una inspeccin estricta, se debe iniciar nuevamente la inspeccin normal
cuando cinco lotes consecutivos hayan sido considerados aceptables durante la inspeccin original.
9.3.3 De normal a reducida
9.3.3.1 Generalidades.
Cuando se est llevando a cabo una inspeccin normal, ser implementada la inspeccin reducida
siempre y cuando se satisfagan todas las condiciones siguientes:
a) El valor en curso de la calificacin para el cambio (ver 9.3.3.2) es al menos 30, y
b) La tasa de produccin es estable, y
c) La autoridad responsable considera deseable una inspeccin reducida
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NTE INEN ISO 2859-1
Comienzo
- El valor en curso del

puntaje de cambio es al
menos de 30
- la produccin es estable
-est aprobado por la
autoridad responsable
Inspeccin
reducida
2 de cada 5 o menos lotes

consecutivos no han sido
aceptados
Inspeccin
rigurosa
Inspeccin
normal
- Lote no aceptado
- produccin irregular
5 lotes no aceptados
mientras la inspeccin es
rigurosa
5 lotes consecutivos
aceptados
Descontinuar la
inspeccin
El proveedor mejora la
calidad
Otras condiciones que

justifican el cambio
Figura 1 Resumen de las reglas del cambio (ver 9.3)
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NTE INEN ISO 2859-1
9.3.3.2 Puntuacin para el cambio.

El clculo de la puntuacin para el cambio se debe comenzar al iniciar la inspeccin normal, a menos
que la autoridad responsable especifique otra cosa.
La calificacin para el cambio se debe iniciar en cero al inicio y debe actualizarse despus de la
inspeccin de cada lote subsiguiente con una nueva inspeccin normal.
a) Planes de muestreo simple:
1) Cuando el nmero de aceptacin es de 2 ms, sumar 3 a la puntuacin para el cambio si
el lote hubiera sido aceptado si es que el AQL hubiera tenido un nivel ms estricto; de lo
contrario, se reajusta la calificacin para el cambio a cero.
2) Cuando el nmero de aceptacin es 0 1, se agrega 2 a la calificacin para cambio si el lote
es aceptado; de lo contrario, se vuelve a reajustar la puntuacin para el cambio a cero.
b) Planes de muestreo doble y mltiple:
1) Cuando se usa un plan de muestreo doble sumar 3 a la puntuacin para el cambio si el lote
es aceptado despus de la primera muestra; de lo contrario, se vuelve a reajustar la
puntuacin para el cambio a cero.
2) Cuando se usa un plan de muestreo mltiple sumar 3 a la puntuacin para el cambio si el
lote es aceptado a la tercera muestra; de lo contrario, se vuelve a reajustar la puntuacin
para el cambio a cero.
NOTA La aplicacin de la puntuacin para el cambio se ilustra en el anexo A.
9.3.4 De reducida a normal

Cuando se lleva a cabo una inspeccin reducida, la inspeccin normal debe ser re-instaurada si
ocurre cualquiera de los siguientes casos durante la inspeccin original:
a) no se acepta un lote; o
b) la produccin se hace irregular o se retrasa; u
c) otras condiciones que justifiquen que la inspeccin normal se vuelva a iniciar.
9.4 Suspensin de la inspeccin

Si la cantidad acumulada de lotes no aceptados alcanza 5 en una secuencia de lotes consecutivos
durante la inspeccin estricta original, no se debe reiniciar los procedimientos de aceptacin de esta
parte de la norma, hasta cuando el proveedor haya tomado una accin para mejorar la calidad del
producto o servicio enviado y la autoridad responsable haya aceptado que tal accin puede ser
efectiva, entonces debe ser usada la inspeccin estricta como si se hubiera recurrido a 9.3.1.
9.5 Muestreo intermitente de lotes

La inspeccin lote a lote de esta parte de la norma NTE INEN-ISO 2859-1, se puede reemplazar por
el muestreo intermitente de lotes, cuando se cumplen los requisitos de la NTE INEN-ISO 2859-3.
NOTA. Hay limitaciones para el uso de los procedimientos de muestreo intermitente de lotes descritos en la NTE INEN-ISO
2859-3 en lugar de los procedimientos de inspeccin reducida de esta parte de la norma. Algunos de los AQL y niveles de
inspeccin no son aplicables.
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NTE INEN ISO 2859-1
10 Planes de muestreo
10.1 Nivel de inspeccin
El nivel de inspeccin designa la cantidad relativa de inspeccin. En la Tabla 1 se indican tres niveles
de inspeccin: I, II, y IIII, para uso general. Salvo si se especifica otra cosa, se debe usar el nivel II.
Se puede usar el nivel I cuando es necesaria una menor discriminacin, o el nivel III cuando se
requiere mayor discriminacin. La Tabla 1 tambin incluye 4 niveles especiales adicionales, S-1, S-2,
S-3, S-4, que pueden ser usados cuando se necesita muestras de tamaos relativamente pequeos
y se puedan tolerar mayores riesgos de muestreo.
El nivel de inspeccin requerido para una aplicacin en particular debe ser especificado por la
autoridad responsable. Esto permite a la autoridad exigir mayor discriminacin para algunos
propsitos y menos para otros.
En cada nivel de inspeccin, las reglas de cambio deben operar para la inspeccin normal, estricta y
reducida, como se especifica en el numeral 9. El nivel de inspeccin que se escoja es muy
independiente de estas tres severidades de inspeccin. Por lo tanto, el nivel de inspeccin que ha
sido especificado debe ser mantenido sin modificacin cuando se cambia entre inspeccin normal,
estricta y reducida.
En la designacin de los niveles de inspeccin S-1 a S-4, es necesario tener cuidado para evitar que
los AQL sean inconsistentes con estos niveles de inspeccin. Por ejemplo, los cdigos de letra bajo
S-1 no van ms all de la D, equivalente a una muestra simple con un tamao de 8, pero no es til
especificar S-1 si el AQL es 0,1 %, para el cual el tamao mnimo de muestra es de 125.
La cantidad de informacin sobre la calidad de un lote, obtenida al examinar las muestras tomadas
del lote, depende del tamao absoluto de las muestras y no del tamao relativo de la muestra, en
relacin al tamao del lote, siempre que la muestra sea pequea con relacin al lote que se examina.
A pesar de esto, hay tres razones para variar el tamao de la muestra en funcin del tamao del lote:
a) cuando la prdida debida a una decisin equivocada es alta, es ms importante tomar la decisin
correcta;
b) con un lote grande, se puede permitir un tamao de muestra que no sera econmico para un lote
pequeo;
c) el verdadero muestreo aleatorio es relativamente ms difcil si la muestra es demasiado pequea
en proporcin al lote.
10.2 Letras cdigo del tamao de la muestra

Los tamaos de la muestra se designan mediante un cdigo de letras del tamao de la muestra. Se
debe usar la Tabla 1 para encontrar la letra cdigo aplicable al tamao del lote en particular y el nivel
de inspeccin prescrito.
NOTA Para economizar espacio en las tablas o evitar la repeticin innecesaria en el texto, algunas veces se usa el trmino
abreviado "letra cdigo".
10.3 Elaboracin de un plan de muestreo

Se debe usar el AQL y la letra cdigo del tamao de muestra para obtener el plan de muestreo a
partir de las Tablas 2, 3, 4 u 11. Para un AQL especificado y un tamao de lote dado, se debe usar la
misma combinacin de AQL y letra cdigo del tamao de la muestra, para obtener el plan de
muestreo de la tabla para la inspeccin normal, estricta y reducida.
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NTE INEN ISO 2859-1
Cuando no se disponga de un plan de muestreo para una combinacin dada de AQL y una letra
cdigo de tamao de muestra, las tablas dirigen al usuario a una letra distinta. El tamao de la
muestra a ser usado est dado por la nueva letra cdigo de tamao de la muestra, no por la letra
original. Si este procedimiento lleva a distintos tamaos de muestra para distintas clases de no
conformidades o de tems no conformes, para toda clase de no conformidades o de tems no
conformes se puede usar la letra cdigo de tamao de muestra correspondiente al mayor tamao de
muestra que se pueda obtener, cuando la autoridad responsable lo ha designado o lo ha aprobado.
Como alternativa a un plan de muestreo simple con nmero de aceptacin de 0, se puede usar el
plan con un nmero de aceptacin de 1 con su respectivo tamao de muestra mayor para un AQL
designado (cuando est disponible), cuando la autoridad responsable lo haya designado o aprobado.
Como otra alternativa al plan simple de muestreo con un nmero de aceptacin 0, se puede usar el
plan con un nmero de aceptacin de 1 con su correspondiente tamao de muestra ms grande
para un AQL designado (cuando est disponible), cuando est designado o aprobado por la
autoridad responsable. Como otra alternativa se pueden usar los planes con nmeros fraccionarios
opcionales de aceptacin descritos en el numeral 13, cuando la autoridad responsable los apruebe.
10.4 Tipos de planes de muestreo

En las Tablas 2, 3, y 4 se dan tres clases de planes de muestreo: simple, doble y mltiple,
respectivamente. Cuando se dispone de varias clases de planes para un AQL dado y una letra
cdigo de tamao de muestra, se puede usar cualquiera de ellos. La decisin con respecto a la clase
de plan, bien sea simple, doble o mltiple, cuando est disponible para un AQL dado y una letra
cdigo de tamao de muestra, debe estar basada, usualmente, en la comparacin entre la dificultad
administrativa y el tamao promedio de las muestras de los planes disponibles. Para los planes de
muestreo dados en esta parte de la norma NTE INEN-ISO 2859, el tamao promedio de la muestra
para planes mltiples es inferior al de los dobles y ambos son inferiores al tamao de la muestra del
plan simple (ver la Tabla 9). Usualmente, la dificultad administrativa para el muestreo simple y el
costo por tem de la muestra son inferiores que para el muestreo doble o mltiple.
11 Determinacin de la aceptabilidad
11.1 Inspeccin de tems no conformes
Para determinar la aceptabilidad de un lote bajo una inspeccin del porcentaje de no conformes, se
debe usar el plan de muestreo aplicable, de acuerdo con 11.1.1 al 11.1.3.
11.1.1 Planes de muestreo simple (nmero entero de aceptacin)
El nmero de tems de la muestra inspeccionada debe ser igual al tamao de la muestra indicado en
el plan. Si el nmero de tems no conformes encontrados en la muestra es igual o inferior al nmero
de aceptacin, se debe considerar que el lote es aceptable. Si el nmero de tems no conformes es
igual o superior al nmero de rechazo, el lote debe ser considerado como no aceptable.
11.1.2 Planes de muestreo doble
El nmero de tems de la muestra inspeccionada inicialmente debe ser igual al tamao de la primera
muestra indicada en el plan. Si el nmero de tems no conformes encontrados en la primera muestra
es igual o inferior al primer nmero de aceptacin, se debe considerar que el lote es aceptable. Si el
nmero de tems no conformes encontrados en la primera muestra es igual o superior al primer
nmero de rechazo, se debe considerar que el lote no es aceptable.
Si el nmero de tems no conformes encontrados en la primera muestra est entre los primeros
nmeros de aceptacin y rechazo, se debe inspeccionar una segunda muestra del tamao indicado
en el plan. Se debe sumar el nmero de tems no conformes encontrados en la primera y segunda
muestra. Si el nmero acumulado de tems no conformes es igual o inferior al segundo nmero de
aceptacin, el lote debe ser considerado como aceptable. Si el nmero acumulado de tems no
conformes es igual o superior al segundo nmero de rechazo, se debe considerar que el lote no es
aceptable.
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11.1.3 Planes de muestreo mltiple

Cuando se hace muestreo mltiple, el procedimiento debe ser similar al especificado en el numeral
11.1.2. Esta parte de la norma NTE INEN-ISO 2859 tiene cinco pasos, de tal manera que, a ms
tardar, se tomar una decisin en la quinta etapa.
11.2 Inspeccin de no conformidades

Para determinar la aceptabilidad de un lote en una inspeccin de no conformidades por cien tems,
se debe usar el procedimiento especificado para inspeccin de no conformes (ver 11.1), a menos
que el trmino "no conformidades" deba sustituirse por "tems no conformes".
12 Informacin adicional
12.1 Curvas caractersticas de operacin (OC)
Las curvas caractersticas de operacin para la inspeccin normal y estricta, descritas en la Tabla
10, indican el porcentaje de lotes que es posible aceptar de acuerdo con los distintos planes de
muestreo para una calidad de proceso dada. Las curvas indicadas son para muestreo simple, planes
con nmero de aceptacin entero; las curvas para muestreo doble y mltiple se hacen coincidir tan
estrechamente como sea practicable. Las curvas OC indicadas para AQL superiores a 10, son
aplicables para inspeccin del nmero de no conformidades; las curvas para AQL de 10 menos
son aplicables para inspeccin de tems no conformes. Estas curvas OC tambin se aplican para la
inspeccin del nmero de no conformidades para AQL iguales o menores a 10.
En cada una de las curvas indicadas, se indican en forma tabulada los valores de la calidad del
producto evaluado correspondientes a los valores de probabilidad de aceptacin. Tambin se dan los
valores que corresponden a la inspeccin estricta y los valores que corresponden al muestreo del
nmero de no conformidades para AQL de 10 o menos no conformidades por 100 tems.
El esquema normalizado de curvas OC que se encuentra en la Tabla 12 indica el porcentaje de lotes
grandes de varias calidades que sern aceptados, teniendo en cuenta las reglas de cambio, pero sin
tener en cuenta el efecto de la regla para suspender la inspeccin (9.4). La abscisa es la relacin de
la calidad del proceso con el AQL. Cada curva representa un nmero de aceptacin para inspeccin
normal.
12.2 Promedio del proceso

Se puede estimar el promedio del proceso mediante el porcentaje promedio de no conformes o el
nmero promedio de no conformidades por 100 tems (el que sea aplicable), encontrado en las
muestras del producto enviado por el proveedor para la inspeccin original, siempre y cuando dicha
inspeccin no haya sido truncada. Cuando se usa muestreo doble o mltiple, slo se deben incluir
los resultados de la primera muestra en la evaluacin del promedio del proceso.
12.3 Calidad promedio final (AOQ)

La calidad promedio final es la calidad promedio a largo plazo del producto que sale, para un valor
dado de la calidad del producto que entra, incluidos todos los lotes aceptados, ms todos los lotes no
aceptados, una vez que dichos lotes han sido inspeccionados eficazmente al 100 % y todos los tems
no conformes han sido reemplazados por tems conformes.
12.4 Lmite de la calidad promedio final (AOQL)

El AOQL es el mximo del promedio de calidades finales para todas las posibles calidades
presentadas para un plan de muestreo de aceptacin dado. Los valores aproximados de AOQL se
indican en la Tabla 8-A para cada uno de los planes de muestreo simple para inspeccin normal y en
la Tabla 8-B para cada uno de los planes de muestreo simple para inspeccin estricta.
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NTE INEN ISO 2859-1
12.5 Curvas del tamao de muestra promedio

Las curvas de tamao de muestra promedio para muestreo doble y mltiple, en comparacin con el
respectivo plan de muestreo simple para cada nmero de aceptacin, se indican en la Tabla 9. Estas
curvas muestran los tamaos promedios de las muestras que se pueden esperar con los distintos
planes de muestreo a niveles dados de calidad del proceso. Las curvas suponen que la inspeccin
no ha sido truncada (ver NTE INEN-ISO 3534-2, 2.5.7).
12.6 Riesgos para el consumidor y el productor

12.6.1 Uso de planes individuales
Esta parte de la NTE INEN ISO 2859 est destinada a ser usada como un sistema que emplea
inspeccin estricta, normal y reducida en una serie sucesiva de lotes, con el fin de obtener la
proteccin del consumidor, al tiempo que se asegura al productor que habr aceptacin la mayora
de las veces, si la calidad es superior al AQL.
Ocasionalmente, se seleccionan planes individuales especficos de esta parte de la NTE INEN-ISO
2859 y se usan sin las reglas de cambio. Por ejemplo, un comprador puede estar usando los planes
nicamente para fines de verificacin. Esta no es la aplicacin que se ha previsto para el sistema
que se indica en esta parte de la norma, y su uso en esta forma no se debe denominar como
"inspeccin de conformidad con la NTE INEN-ISO 2859-1. Cuando se use de esta manera, esta
parte de la norma simplemente representa un banco de un conjunto de planes individuales
clasificados por el AQL. Las curvas caractersticas de operacin y otras medidas de un plan as
escogido, se deben evaluar individualmente para que sean un plan proveniente de las tablas aqu
proporcionadas.
12.6.2 Tablas del riesgo para el consumidor respecto a la calidad
Si la serie de lotes no es lo suficientemente grande para permitir la aplicacin de las reglas de
cambio, puede ser aconsejable limitar la seleccin de planes de muestreo a aquellos, relacionados
con un valor AQL designado, que le dan a la calidad que est a riesgo del consumidor, no ms que
una proteccin que se limite a la calidad especificada. Para este fin se pueden seleccionar planes de
muestreo escogiendo una calidad a riesgo del consumidor (CRQ) y un riesgo para el consumidor
(probabilidad de aceptacin de un lote) asociado con ella.
Los valores dados en las Tablas 6 y 7 para el riesgo del consumidor respecto a la calidad (CRQ) son
para un riesgo del consumidor del 10 %. La Tabla 6 se aplica cuando se inspeccionan tems no
conformes y la Tabla 7 cuando se inspecciona un nmero de no conformidades. Para lotes
individuales con niveles de calidad inferiores o iguales a los valores tabulados de riesgo para
consumidor respecto a la calidad, las probabilidades de aceptacin del lote son iguales o inferiores al
10 %. Cuando hay una razn para protegerse contra una calidad lmite especificada en un lote, las
Tablas 6 y 7 pueden ser tiles para fijar el tamao mnimo de las muestras que se van a asociar con
el AQL y el nivel de inspeccin especificado para la inspeccin de una serie de lotes. La NTE INENISO 2859-2 contiene detalles de los procedimientos para seleccionar planes de muestreo para lotes
aislados.
EJEMPLO. Asumiendo que se desea una calidad a riesgo del consumidor del 5 % de tems no conformes con
una probabilidad asociada de aceptacin del 10 % menos, para lotes individuales. Si se designa un AQL del
1 % de tems no conformes para la inspeccin de la serie de lotes, la Tabla 6.A indica que el tamao mnimo
de la muestra debe estar dado por la letra cdigo L de tamao de muestra.
12.6.3 Tablas de riesgo para el productor

Las Tablas 5A, 5B y 5C indican la probabilidad de rechazo de los lotes de calidad AQL con
inspecciones normales, estrictas y reducidas, respectivamente. Esta probabilidad se denota como
riesgo para el productor en el numeral 2.6.7 de la NTE INEN-ISO 3534-2.
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13 Planes de muestreo simple con nmeros de aceptacin fraccionarios

(opcional)
13.1 Aplicacin de planes con nmero de aceptacin fraccionarios
Este sub-numeral especifica los procedimientos opcionales de planes de muestreo con nmeros de
aceptacin fraccionarios. Se pueden usar procedimientos opcionales, con aprobacin de la autoridad
responsable. A menos que especifique de otra forma, se deben seguir los procedimientos normales
indicados antes.
Los planes con nmeros de aceptacin fraccionarios se encuentran en las Tablas 11.A, 11.8, Y 11.C.
Para inspeccin normal y estricta, las fracciones 1/3 y 1/2 se encuentran en vez de las dos entradas
con flechas en las Tablas 2.A y 2.B, entre los planes con nmero de aceptacin 0 y 1. Para las
inspecciones reducidas, las fracciones 1/5, 1/3 y 1/2 se encuentran en lugar de las entradas con
flechas en la Tabla 2.C, entre los planes para un nmero de aceptacin 0 y 1.
El uso de planes con nmeros de aceptacin fraccionarios no requiere un cambio del cdigo de
letras del tamao de muestra, con el correspondiente cambio del tamao de la muestra, cuando la
combinacin de la letra cdigo y el AQL d como resultado en un plan con nmeros de aceptacin
entre 0 y 1, como se describe en la seccin 10.3.
13.2 Determinacin de la aceptabilidad

13.2.1 Inspeccin de tems no conformes
13.2.1.1 Planes de muestreo constante.
Cuando los planes de muestreo con nmero de aceptacin fraccionario permanecen constantes para
todos los lotes, se aplican las siguientes reglas:
a) Cuando no hay tems no conformes en la muestra, se debe considerar que el lote es aceptable.
b) Cuando haya dos o ms tems no conformes en la muestra, el lote se debe considerar como no
aceptable.
c)
Cuando slo haya un tem no conforme en la muestra del lote en curso, el lote debe ser
considerado como aceptable nicamente si no se han encontrado tems no conformes en las
muestras de una cantidad suficiente de lotes inmediatamente anteriores.
Para un nmero de aceptacin de 1/2, se requiere uno de dichos lotes. Para un nmero de
aceptacin de 1/3, se requieren dos de dichos lotes. Para un nmero de aceptacin de 1/5 se
requieren cuatro de dichos lotes. De otra forma, el lote actual se debe considerar que no es
aceptable. Si el primer lote inspeccionado tiene un tem no conforme, ese lote no es aceptado.
13.2.1.2 Planes de muestreo no constante.
Cuando el plan de muestreo no permanece constante para cada lote sucesivo, debido a la variacin
del tamao de los lotes y/o cambio, se usa una calificacin de aceptacin que se calcula y se usa de
la siguiente manera:
a) se reajusta la puntuacin de aceptacin a 0 al comienzo de cualquier fase de inspeccin normal,
estricta o reducida.
b) Si el plan de muestreo obtenido indica un nmero de aceptacin de 0, la puntuacin de aceptacin
debe permanecer sin cambio.
Si el nmero de aceptacin dado es 1/5, sumar 2 a la puntuacin de aceptacin.
-18-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1

Si el nmero de aceptacin dado es 1 ms, sumar 7 a la puntuacin de aceptacin.
c) Para planes con nmero de aceptacin fraccionario, cuando la puntuacin de aceptacin
actualizada previa a la inspeccin es de 8 menos, el lote puede ser considerado aceptable slo
si no hay tems no conformes en la muestra. Para planes con nmero fraccionario, cuando el
puntaje actualizado de aceptacin previo a la inspeccin es 9 o ms, el lote puede ser
considerado aceptable solamente si hay, a lo mucho, un tem no conforme en la muestra, cuando
el nmero de aceptacin es un entero, se usa este nmero de aceptacin para determinar la
aceptabilidad (en concordancia con 11.1.1 o 11.2)
d) Si se encuentran uno o ms tems no conformes en la muestra, reajustar a 0 la puntuacin de
aceptacin (es decir, despus de tomar una decisin con respecto a la aceptabilidad del lote).
La puntuacin de aceptacin debe ser actualizada (sumada a) despus de obtener el plan de
muestreo pero antes de decidir sobre la aceptabilidad del lote. Por el contrario, la puntuacin de
cambio (ver 9.3.3.2) debe ser sumada o reajustada antes de decidir sobre la aceptabilidad del lote.
NOTA. Cuando se usa una calificacin de aceptacin en el caso de planes de muestreo constante, los resultados son
iguales a los del numeral 13.2.1.1
13.2.2 Inspeccin para el nmero de no conformidades

Para determinar la aceptabilidad de un lote, cuando se inspecciona por al cantidad de no
conformidades, deben ser usados los procedimientos especificados para inspeccin de tems no
conformes (ver 13.2.1), excepto que el trmino no conformidades debe ser sustituido por tems no
conformes.
13.3 Reglas de cambio

13.3.1 De normal a estricta y de estricta a normal
Estas reglas son las mismas indicadas en los numerales 9.3.1 y 9.3.2, respectivamente.
13.3.2 De normal a reducida
La regla para actualizar la puntuacin de cambio (9.3.3.2) para muestreo simple cuando se usa un
nmero de aceptacin fraccionario, es la siguiente.
a) Cuando el nmero de aceptacin dado es 1/3 1/2, sumar 2 a la puntuacin de cambio si el lote
es aceptado; de otra forma, se reajusta a 0 la calificacin de cambio.
b) Cuando el nmero de aceptacin es cero, sumar 2 a la puntuacin de cambio si no se han
encontrado tems no conformes en la muestra; de otra forma, se reajusta a cero la puntuacin de
cambio.
13.3.3 Inspeccin reducida a normal y suspensin de la inspeccin
Las reglas son las mismas indicadas en 9.3.4 y 9.4, respectivamente.
NOTA. Los planes de muestreo con nmero de aceptacin fraccionario no se aplican para al sistema de muestreo
intermitente de lotes de la NTE INEN-ISO 2859-3.
-19-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
13.4 Plan de muestreo no constante

En el Anexo A se ilustra la aplicacin de este sistema de muestreo de aceptacin, usando los planes
con nmero de aceptacin fraccionario con tamaos de lote variables.
Se asume en este ejemplo que se presentan una serie de lotes para inspeccin de tems no
conformes y que se ha acordado usar un AQL del 1 % de tems no conformes con un nivel de
inspeccin general II. Los resultados de los primeros 25 lotes se indican en el Anexo A.
-20-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 1 Cdigo alfabtico del tamao de la muestra (ver 10.1 y 10.2)

Niveles especiales de inspeccin
Niveles generales de inspeccin
Tamao del lote

S-1
S-2
S-3
S-4
II
III
15
16
25
26
50
51
90
91
150
151
280
281
500
501
1 200
1 201
3 200
3 201
10 000
10 001
35 000
35 001
a 150 000
150 001
a 500 000
500 000 y ms
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2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 2-A Planes de muestreo simple para la inspeccin normal (Tabla principal)
Letra
cdigo del
tamao de
muestra
Tamao
de la
muestra
13
20
32
50
80
125
200
315
500
800
1 250
2 000
Lmite aceptable de calidad, AQL, en porcentaje de tems no-conformes y no conformidades por 100 tems (inspeccin normal)
0,010
0,015
0,025
0,040
0,065
0,10
0,15
0,25
0,40
0,65
1,0
1,5
2,5
4,0
6,5
10
15
25
40
65
100
150
250
400
650
1000
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
10 11
14 15
21 22
30 31
44 45
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
1
1
1
1
1
1
2 3
10 11
14 15
21 22
30 31
10 11
14 15
21 22
30 31
44 45
10 11
14 15
21 22
30 31
44 45
14 15
21 22
10 11
10 11
14 15
21 22
10 11
14 15
21 22
10 11
14 15
21 22
10 11
14 15
21 22
10 11
14 15
21 22
10 11
14 15
10 11
14 15
21 22
10 11
14 15
21 22
10 11
14 15
10 11
14 15
21 22
44 45
30 31
21 22
14 15
10 11
7 8
21 22
21 22
= Usar el primer plan de muestreo de debajo de la flecha. Si el tamao de la muestra iguala, o excede, el tamao de la muestra, hacer una inspeccin al 100%.
= Usar el primer plan de muestreo por encima de la flecha.
Ac = Nmero de aceptacin.
Re = Nmero de rechazo.
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2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 2-B Planes de muestreo simple para la inspeccin estricta (Tabla principal)
Letra
cdigo del
tamao de
muestra
Tamao
de la
muestra
13
20
32
50
80
125
200
315
500
800
1 250
2 000
3 150
0,010
0,015
0,025
0,040
0,065
0,10
0,15
0,25
0,40
0,65
1,0
1,5
2,5
4,0
6,5
10
15
25
40
65
100
150
250
400
650
1000
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
1
1
12 13
18 19
12 13
18 19
18 19
12 13
18 19
12 13
18 19
12 13
18 19
12 13
18 19
18 19
12 13
18 19
12 13
18 19
12 13
12 13
18 19
41 42
27 28
18 19
27 28
18 19
12 13
41 42
27 28
18 19
12 13
41 42
27 28
41 42
18 19
21 22
14 15
12 13
12 13
12 13
10 11
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2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 2-C Planes de muestreo simple para la inspeccin reducida (Tabla principal)
Letra
cdigo del
tamao de
muestra
Tamao
de la
muestra
13
20
32
50
80
125
200
315
500
800
0,010
0,015
0,025
0,040
0,065
0,10
0,15
0,25
0,40
0,65
1,0
1,5
2,5
4,0
6,5
10
15
25
40
65
100
150
250
400
650
1000
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
10 11
14 15
21 22
30 31
10 11
14 15
21 22
30 31
44 45
21 22
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
1
1
1
1
10 11
10 11
10 11
10 11
10 11
10 11
14 15
21 22
10 11
10 11
21 22
10 11
14 15
10 11
10 11
10 11
10 11
14 15
10 11
2 3
7 8
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2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 3-A Planes de muestreo doble para la inspeccin normal (Tabla principal)
Letracdigo
del tamao
demuestra
Muestra
Tamao
dela
muestra
Tamao
dela
0,010 0,015 0,025 0,040 0,065
0,10
0,15 0,25 0,40 0,65
1,0
1,5
2,5
4,0
6,5
10
15
25
40
65
100
150
250
400
muestra
acumulado Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re
Primera
Segunda
Primera
Segunda
Primera
Segunda
2
2
3
3
2
4
5
10
Primera
Segunda
5
5
8
8
Primera
Segunda
13
13
13
26
Primera
Segunda
20
40
Primera
Segunda
20
20
32
32
Primera
Segunda
50
50
50
100
Primera
Segunda
80
80
80
160
Primera
Segunda
125
125
125
250
Primera
Segunda
200
200
200
400
Primera
Segunda
315
315
315
630
Primera
Segunda
500
500
500
1 000
Primera
Segunda
800
800
800
1 600
Primera
Segunda
1250
1250
1 250
2 500
3
6
*
*
8
16
*
*
*
32
64
*
*
*
*
*
*
*
*
0
1
2
2
0
3
3
4
0
3
3
4
1
4
3
5
2
6
5
7
3 6 5 9
9 10 12 13
7 11
18 19
11 16
26 27
2
6
0
1
2
2
0
3
3
4
1
4
3
5
2
6
5
7
3 6
9 10
5 9
12 13
7 11
18 19
1
4
3 2
5 6
5
7
3 6
9 10
5 9
12 13
7 11
18 19
11 16
26 27
5 3 6
7 9 10
5 9
12 13
7 11
18 19
11 16
26 27
11 16
26 27
5 3 6 5 9
7 9 10 12 13
7 11
18 19
5 3 6 5 9 7 11
7 9 10 12 13 18 19
11 16
26 27
5
7
0
3
3
4
1
4
3
5
2
6
1
4
3 2
5 6
5
7
3 6
9 10
3 6 5 9 7 11 11 16
9 10 12 13 18 19 26 27
5 9 7 11 11 16
12 13 18 19 26 27
5 3 6
7 9 10
5 9
12 13
7 11 11 16
18 19 26 27
11 16
26 27
3 2
5 6
2
2
2
2
2
2
1
4
0
1
5 3 6 5 9
7 9 10 12 13
0
1
0
1
3
4
3
5
3 2
5 6
2
6
0
3
1
4
1
4
3
5
2
2
3
4
3
4
1
4
0
1
0
3
0
3
3
4
0
1
2
2
0
3
3
4
1
4
3 2
5 6
5 3 6 5 9
7 9 10 12 13
7 11
18 19
2
6
5 3 6 5 9 7 11
7 9 10 12 13 18 19
11 16
26 27
0
1
2
2
0
3
3
4
1
4
3
5
0
3
3
4
1
4
3
5
2
6
5 3 6 5 9 7 11 11 16
7 9 10 12 13 18 19 26 27
5 3 6 5 9
7 9 10 12 13
2
2
2
2
0
3
2
6
5 3 6 5 9
7 9 10 12 13
0
1
0
1
2
2
3
5
3
5
3 2
5 6
0
1
1
4
1
4
1
4
3
4
3
4
3
4
3
4
0
3
0
3
0
3
0
3
2
6
2
2
2
2
2
2
2
2
0
1
0
1
0
1
0
1
7 11
18 19
7 11
18 19
*
7 11
18 19
650
1000
Ac Re
Ac Re
11 16 17 22 25 31
26 27 37 38 56 57
11 16 17 22 25 31
26 27 37 38 56 57
11 16 17 22 25 31
26 27 37 38 56 57
11 16 17 22 25 31
26 27 37 38 56 57
= Usar el primer plan de muestreo debajo de la flecha. Si el tamao de la muestra es igual o excede el tamao del lote, llevar a cabo la inspeccin al 100%
= Usar el primer plan de muestreo por encima de la flecha
Ac = Nmero de aceptacin
Re = Nmero de rechazo
* = Usar el plan de muestreo simple correspondiente (o usar alternativamente el plan de muestreo doble de abajo, cuando est disponible).
-25-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 3-B Planes de muestreo doble para la inspeccin estricta (Tabla principal)
Letra
cdigo
del
tamaode
muestra
Muestra
Tamao
Tamao dela
0,10
0,15 0,25 0,40 0,65
1,0
1,5
2,5
4,0
6,5
10
15
25
40
65
100
150
250
400
dela muestra 0,010 0,015 0,025 0,040 0,065
muestra AcumulaAc Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re
Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re
do
Primera
Segunda
Primera
Segunda
Primera
Segunda
2
2
3
3
2
4
5
10
Primera
Segunda
5
5
8
8
Primera
Segunda
13
13
13
26
Primera
Segunda
20
40
Primera
Segunda
20
20
32
32
Primera
Segunda
50
50
50
100
Primera
Segunda
80
80
80
160
Primera
Segunda
125
125
125
250
Primera
Segunda
200
200
200
400
Primera
Segunda
315
315
315
630
Primera
Segunda
500
500
500
1000
Primera
Segunda
800
800
800
1600
Primera
Segunda
1250
2500
Primera
Segunda
1250
1250
2 000
2 000
3
6
8
16
*
*
*
32
64
*
*
*
*
*
*
*
*
0
1
2 000
4 000
0
1
2
2
3
4
1
4
3
5
2
6
5
7
4 7 6 10 9 14
10 11 15 16 23 24
5
7
4 7
10 11
6 10 9 14
15 16 23 24
1
4
3 2
5 6
5
7
4 7
10 11
6 10
15 16
9 14
23 24
5 4 7
7 10 11
6 10
15 16
9 14
23 24
5 4 7 6 10
7 10 11 15 16
9 14
23 24
1
4
3 2
5 6
5 4 7 6 10 9 14
7 10 11 15 16 23 24
2
6
5
7
4 7 6 10 9 14
10 11 15 16 23 24
0
1
2
2
0
3
3
4
1
4
3
5
2
6
1
4
3 2
5 6
5
7
4 7
10 11
6 10 9 14
15 16 23 24
5 4 7
7 10 11
6 10
15 16
9 14
23 24
5 4 7 6 10
7 10 11 15 16
9 14
23 24
0
3
3
4
1
4
3 2
5 6
0
3
3
4
1
4
3
5
2
6
5 4 7 6 10 9 14
7 10 11 15 16 23 24
5 4 7 6 10 9 14 15 20 23 29
7 10 11 15 16 23 24 34 35 52 53
3
4
3
4
2
2
3
5
0
3
0
3
0
1
1
4
2
6
3
5
3 2
5 6
0
3
5 4 7 6 10 9 14 15 20 23 29
7 10 11 15 16 23 24 34 35 52 53
3
4
3
5
1
4
1
4
2
2
2
6
0
3
2
2
2
2
5 4 7 6 10 9 14 15 20 23 29
7 10 11 15 16 23 24 34 35 52 53
2
2
1
4
3
4
3
4
5 4 7 6 10 9 14 15 20 23 29
7 10 11 15 16 23 24 34 35 52 53
3
4
0
3
0
3
2
6
0
3
2
2
2
2
3
5
0
1
0
1
1
4
2
2
0
1
0
1
0
1
3
4
3
4
0
1
3 2
5 6
0
3
Ac Re
0
3
0
1
2
6
Ac Re
2
2
3
5
3
5
1000
0
1
1
4
1
4
1
4
2
2
3
4
3
4
3
4
0
3
0
3
0
3
2
6
2
2
2
2
2
2
0
1
0
1
0
1
0
1
650
2
2
*
= Usar el plan de muestreo simple correspondiente (o usar alternativamente el plan doble de muestreo de abajo, cuando est disponible).
-26-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 3-C Planes de muestreo doble para la inspeccin reducida (Tabla principal)
Letra
cdigo del
tamaode
muestra
Muestra
Tamao
Tamao dela
0,10
0,15 0,25 0,40 0,65
1,0
1,5
2,5
4,0
6,5
10
15
25
40
65
100
150
250
400
dela muestra 0,010 0,015 0,025 0,040 0,065
muestra AcumulaAc Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re
Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re
do
Primera
Segunda
Primera
Segunda
Primera
Segunda
2
2
3
3
2
4
5
10
Primera
Segunda
5
5
8
8
Primera
Segunda
13
13
13
26
Primera
Segunda
20
40
Primera
Segunda
20
20
32
32
Primera
Segunda
50
50
50
100
Primera
Segunda
80
80
80
160
Primera
Segunda
125
125
125
250
Primera
Segunda
200
200
200
400
Primera
Segunda
315
315
315
630
Primera
Segunda
500
500
500
1000
3
6
*
*
8
16
*
*
*
32
64
*
*
*
*
*
*
0
1
2
2
4
6
3
7
6
8
4 7
10 11
5 9
12 13
0
1
2
2
0
3
3
4
1
4
3
5
2
5
4
6
3
7
6
8
4 7
10 11
5 9
12 13
1
4
3 2
5 5
4
6
3
7
6
8
4 7
10 11
5 9
12 13
5 9
12 13
6 4 7 5 9
8 10 11 12 13
2
5
4 3
6 7
6 4 7 5 9
8 10 11 12 13
0
1
2
2
0
3
3
4
1
4
3
5
2
5
4
6
3
7
6
8
4 7 5 9
10 11 12 13
6 4 7
8 10 11
5 9
12 13
4 3
6 7
0
3
3
4
1
4
3
5
2
5
4 3
6 7
6 4 7 5 9
8 10 11 12 13
6
8
5 9
12 13
2
5
3
5
3 2
5 5
3
5
1
4
1
4
1
4
3
4
3
4
3
4
0
3
0
3
0
3
2
2
2
2
2
2
0
1
0
1
0
1
6 4 7
8 10 11
4 7
10 11
4 7
10 11
4 3
6 7
6
8
6
8
3 2
5 5
4 3
6 7
3
7
1
4
3 2
5 5
4
6
3
4
1
4
2
5
0
3
3
4
3
5
2
2
0
3
1
4
0
1
2
2
3
4
4 7
10 11
0
1
0
3
6
8
3
7
2
2
4 3
6 7
4
6
0
1
3 2
5 5
3 2
5 5
3
7
1
4
1
4
4
6
3
4
3
4
2
5
0
3
0
3
3
5
2
2
2
2
1
4
0
1
0
1
3
4
3
4
Ac Re
0
3
0
3
Ac Re
2
2
2
2
1000
0
1
0
1
650
4 7
10 11
5 9 7 11 11 16
12 13 18 19 26 27
5 9 7 11 11 16
12 13 18 19 26 27
5 9
12 13
-27-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 4-A Planes de muestreo mltiple para la inspeccin normal (Tabla principal)
Letra
TamaLmite aceptable de calidad, AQL, en porcentaje de tems no-conformes y no conformidades por 100 tems (inspeccin normal)
cdigo del
o
Tamao
0,010
0,015
0,025
0,040 0,065
0,10
0,15
0,25
0,40
0,65
1,0
1,5
2,5
4,0
6,5
10
15
25
40
65
100
150
250
400
650
1000
tamao Mues-tra
dela
dela
demuesmuestra
muestra
tra
Acum.u Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re
lado
A
++
++
++
++
++
++
++
++
++
++
++
++
++
++
++
++
++
Primera
4 12
6 16
Segunda
4 10
7 14
11 19
17 27
Tercera
6 10
8 13
13 19
19 27
29 38
Cuarta
9 12
12 17
20 25
28 34
40 48
Quinta
10
9 10 12 13
18 19
26 27
37 38
56 57
Primera
4 12
6 16
Segunda
4 10
7 14
11 19
17 27
Tercera
6 10
8 13
13 19
19 27
29 38
Cuarta
12
9 12
12 17
20 25
28 34
40 48
Quinta
15
9 10 12 13
18 19
26 27
37 38
56 57
Primera
Segunda
10
4 10
7 14
Tercera
15
6 10
8 13
13 19
Cuarta
20
9 12
12 17
20 25
Quinta
25
9 10 12 13
18 19
26 27
Primera
Segunda
16
4 10
7 14
Tercera
24
6 10
8 13
13 19
Cuarta
32
9 12
12 17
20 25
Quinta
40
9 10 12 13
18 19
26 27
++
Ac
Re
*
++
#

= Nmero de aceptacin
= Nmero de rechazo
= Usar el plan de muestreo simple correspondiente (o usar alternativamente el plan de muestreo doble de abajo, cuando est disponible).
= Usar el plan de muestreo doble correspondiente (o usar alternativamente el plan de muestreo mltiple de abajo, cuando est disponible
= La aceptacin no est permitida para este tamao de muestra
-28-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 4-A Planes de muestreo mltiple para la inspeccin normal (Tabla principal) (continuacin)
Letra
Tama- Tamao
cdigo
o
dela
0,010
0,015
0,025
0,040 0,065
0,10
0,15
0,25
0,40
0,65
1,0
1,5
2,5
4,0
6,5
10
15
25
40
65
100
150
250
400
650
1000
del Muesde la mues-tra
tamao tra
mues- acude
Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re
tra mulado
muestra
13
Primera
2 9
0 5
1 7
# 4
0 4
# 2
# 3
13
# 2
Segunda
13
26
4 10
7 14
Tercera
13
39
6 10
8 13
13 19
Cuarta
13
52
9 12
12 17
20 25
Quinta
13
65
9 10
12 13
18 19
26 27
Primera
20
20
Segunda
20
40
4 10
7 14
Tercera
20
60
6 10
8 13
13 19
Cuarta
20
80
9 12
12 17
20 25
Quinta
20
100
9 10
12 13
18 19
26 27
Primera
32
32
Segunda
32
64
4 10
7 14
Tercera
32
96
6 10
8 13
13 19
Cuarta
32
128
9 12
12 17
20 25
Quinta
32
160
9 10
12 13
18 19
26 27
Primera
50
50
Segunda
50
100
4 10
7 14
Tercera
50
150
6 10
8 13
13 19
Cuarta
50
200
9 12
12 17
20 25
Quinta
50
250
9 10
12 13
18 19
26 27
Primera
80
80
Segunda
80
160
4 10
7 14
Tercera
80
240
6 10
8 13
13 19
Cuarta
80
320
9 12
12 17
20 25
80
400
9 10
12 13
18 19
26 27
Quinta
Ac
Re
*
++
#

= Nmero de rechazo
-29-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 4-A Planes de muestreo mltiple para la inspeccin normal (Tabla principal) (conclusin)
Letra
cdigo
del
tamao
de
muestra
Tamao
0,010 0,015 0,025 0,040 0,065
0,10
0,15
0,25
0,40
0,65
1,0
1,5
2,5
4,0
6,5
10
15
25
40
65
100
150
250
400
650
1000
o
Muestra
dela
dela muestra
muestra Acum.u- Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re
lado
2 9
125
Primera
0 5
1 7
# 4
0 4
# 2
# 3
125
# 2
Segunda 125
3 8 4 10 7 14
1 6
1 5
0 3
250
0 2
0 3
0
6 10
8 13
13 19
500
9 12
12 17
20 25
625
9 10
12 13
18 19
26 27
Tercera
125
375
Cuarta
125
Quinta
125
Primera
200
200
Segunda
200
400
4 10
7 14
Tercera
200
600
6 10
8 13
13 19
Cuarta
200
800
9 12
12 17
20 25
Quinta
200
1 000
9 10
12 13
18 19
26 27
Primera
315
315
Segunda
315
630
4 10
7 14
Tercera
315
945
6 10
8 13
13 19
Cuarta
315
1 260
9 12
12 17
20 25
Quinta
315
1 575
9 10
12 13
18 19
26 27
Primera
500
500
Segunda
500
1 000
4 10
7 14
Tercera
500
1 500
6 10
8 13
13 19
Cuarta
500
2 000
9 12
12 17
20 25
Quinta
500
2 500
9 10
12 13
18 19
26 27
Ac
Re
*
++
#

= Nmero de rechazo
-30-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 4-B Planes mltiples de muestreo para la inspeccin estricta (Tabla principal)
Letra
cdigo
del
tamao
de
muestra
Muestra
Tamao
Tamao dela
0,010 0,015 0,025 0,040 0,065
0,10
0,15
0,25
0,40
0,65
1,0
1,5
2,5
4,0
6,5
10
15
25
40
65
100
150
250
400
650
1000
muestra
dela
muestra Acumu-Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re
lado
A
B
++
++
++
++
++
++
++
++
++
++
++
++
++
++
++
++
++
++
Primera
3 10
6 15
Segunda
6 12
10 17
16 25
Tercera
7 12
11 17
17 24
26 35
Cuarta
6 11
11 15
16 22
25 31
38 45
Quinta
10
10 11
15 16
23 24
34 35
52 53
Primera
3 10
6 15
Segunda
6 12
10 17
16 25
Tercera
7 12
11 17
17 24
26 35
Cuarta
12
6 11
11 15
16 22
25 31
38 45
Quinta
15
10 11
15 16
23 24
34 35
52 53
Primera
Segunda
10
6 12
Tercera
15
7 12
11 17
Cuarta
20
6 11
11 15
16 22
Quinta
25
10 11
15 16
23 24
Primera
Segunda
16
6 12
Tercera
24
7 12
11 17
Cuarta
32
6 11
11 15
16 22
Quinta
40
10 11
15 16
23 24
Ac
Re
*
++
#

= Nmero de rechazo
-31-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 4-B Planes mltiples de muestreo para la inspeccin estricta (Tabla principal) (Continuacin)
Letra
cdigo del
tama- Mueso de
tra
muestra
Primera
Tama- Tamao
0,010 0,015 0,025 0,040 0,065
0,10
0,15
0,25
0,40
0,65
1,0
1,5
2,5
4,0
6,5
10
15
25
40
65
100
150
250
400
650
1000
de la
o
de la muestra
mues- AcumuAc Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re
lado
tra
13
13
Segunda
13
26
6 12
Tercera
13
39
7 12
11 17
Cuarta
13
52
6 11
11 15
16 22
Quinta
13
65
10 11
15 16
23 24
Primera
20
20
Segunda
20
40
6 12
Tercera
20
60
7 12
11 17
Cuarta
20
80
6 11
11 15
16 22
Quinta
20
100
10 11
15 16
23 24
Primera
32
32
Segunda
32
64
6 12
Tercera
32
96
7 12
11 17
Cuarta
32
128
6 11
11 15
16 22
Quinta
32
160
10 11
15 16
23 24
Primera
50
50
Segunda
50
100
6 12
7 12
11 17
6 11
11 15
16 22
10 11
15 16
23 24
Tercera
50
150
Cuarta
50
200
Quinta
50
250
Primera
80
80
Segunda
80
160
6 12
Tercera
80
240
7 12
11 17
Cuarta
80
320
6 11
11 15
16 22
Quinta
80
400
10 11
15 16
23 24
Ac
Re
*
++
#

= Nmero de rechazo
-32-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 4-B Planes mltiples de muestreo para la inspeccin estricta (Tabla principal) (Continua)
Letra
cdigo
del
tamao
de
muestra
Muestra
Tamao
Tamadela
0,010 0,015 0,025 0,040 0,065
0,10
0,15
0,25
0,40
0,65
1,0
1,5
2,5
4,0
6,5
10
15
25
40
65
100
150
250
400
650
1000
o
muestra
dela
Acum.umuestra
Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re
lado
Primera
125
125
Segunda
125
250
Tercera
125
375
Cuarta
125
Quinta
6 12
7 12
11 17
6 11
11 15
16 22
10 11
15 16
23 24
500
125
625
Primera
200
200
200
400
Tercera
200
600
Cuarta
200
Quinta
6 12
7 12
11 17
6 11
11 15
16 22
10 11
15 16
23 24
800
200
1 000
Primera
315
315
Segunda
315
630
Tercera
315
945
Cuarta
315
Quinta
315
Segunda
P
1 260
1 575
6 12
7 12
11 17
6 11
11 15
16 22
10 11
15 16
23 24
Primera
500
500
Segunda
500
1 000
6 12
Tercera
500
1 500
7 12
11 17
Cuarta
500
2 000
6 11
11 15
16 22
Quinta
500
2 500
10 11
15 16
23 24
Primera
800
Segunda
800
Tercera
800
Cuarta
800
Quinta
800
800
1 600
2 400
3 200
4 000
Ac
Re
*
++
#

= Nmero de rechazo
-33-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 4-C Planes mltiples de muestreo para la inspeccin reducida (Tabla principal)
Letra
cdigo
Tamao
del
dela
tamao Muestra
muestra
de
muestra
Tamao
de la 0,01
0
muestra
Ac
Acum.Re
lado
0,015
0,025
0,040
0,065
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
0,10
0,15
0,25
Ac Re Ac Re Ac Re
0,40
Ac Re
0,65
1,0
Ac Re Ac Re
1,5
2,5
Ac Re Ac Re
4,0
6,5
Ac Re Ac Re
Ac Re Ac Re
++
40
65
400
650
1000
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
++
++
++
++
++
++
++
++
++
++
++
++
++
++
++
++
++
Tercera
10
Cuarta
4 8
6 11
9 12
Quinta
10
7 8
10 11
12 13
Primera
Segunda
Tercera
10
Cuarta
12
4 8
6 11
9 12
Quinta
15
7 8
10 11
12 13
Primera
Segunda
10
Tercera
15
10
Cuarta
20
4 8
6 11
9 12
Quinta
25
7 8
10 11
12 13
250
Primera
150
Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re
Segunda
100
25
Ac Re
15
10
++ = Usar el plan de muestreo doble correspondiente (o usar alternativamente el plan de muestreo mltiple de abajo, cuando est disponible
# = La aceptacin no est permitida para este tamao de muestra
-34-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 4-C Planes mltiples de muestreo para la inspeccin reducida (Tabla principal) (Continuacin)
Letra
TamaTamacdigo
o
0,01
o
del
Muesde la
0
de la muestamao
tra
muesde
tra
Ac
tra
muestra
Acu- Re
mulado
Primera
8
8
Segunda
16
Tercera
24
0,015
0,025
0,040
Ac Re
Ac Re Ac Re
0,065
0,10
0,15
Ac Re Ac Re Ac Re
0,25
0,40
Ac Re Ac Re
0,65
1,0
1,5
Ac Re Ac Re Ac Re
2,5
4,0
Ac Re Ac Re
6,5
10
Ac Re Ac Re
15
25
Ac Re
Ac Re
10
Cuarta
32
4 8
6 11
9 12
40
7 8
10 11
12 13
Primera
13
13
13
26
Tercera
13
39
10
Cuarta
13
52
4 8
6 11
9 12
Quinta
13
65
7 8
10 11
12 13
Primera
20
20
Segunda
20
40
Tercera
20
60
10
Cuarta
20
80
Quinta
20
100
Primera
32
32
Segunda
32
64
Tercera
32
96
Cuarta
32
Quinta
32
4 8
128
160
9 12
10 11
12 13
7 8
10
4 8
6 11
9 12
7 8
10 11
12 13
100
150
Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re
250
Ac Re
400
650
Ac Re Ac Re
6 11
65
Quinta
Segunda
40
-35-
2009-795
1000
Ac Re
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 4-C Planes mltiples de muestreo para la inspeccin reducida (Tabla principal) (Conclusin)
Letra
cdigo
del
tamao
de
muestra
Tamao
0,010 0,015 0,025 0,040 0,065
0,10
0,15
0,25
0,40
0,65
1,0
1,5
2,5
4,0
6,5
10
15
25
40
65
100
150
250
400
650
1000
o
dela
Muestra dela muestra
muestra Acumu- Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re
lado
Primera
50
0 5
0 4
0 4
# 3
# 3
# 2
# 2
50
Segunda
50
100
Tercera
50
150
10
Cuarta
50
200
4 8
6 11
9 12
Quinta
50
250
7 8
10 11
12 13
Primera
80
80
Segunda
80
160
Tercera
80
240
10
Cuarta
80
320
4 8
6 11
9 12
Quinta
80
400
7 8
10 11
12 13
Primera
125
125
Segunda
125
250
Tercera
125
375
10
4 8
6 11
9 12
7 8
10 11
12 13
Cuarta
125
500
Quinta
125
625
Primera
200
200
Segunda
200
400
Tercera
200
600
10
Cuarta
200
800
4 8
6 11
9 12
Quinta
200
1000
7 8
10 11
12 13
-36-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 5-A Riesgo para el productor en la inspeccin normal

(en porcentaje de lotes no aceptados para planes nicos de muestreo)
Letra
cdigo Tamao
del
de
tamao de muestra
muestra
Lmite aceptable de calidad, AQL, en porcentaje de tems no conformes por 100 tems (inspeccin normal)
0,010
0,015
0,025
0,040
0,065
0,10
0,15
0,25
0,40
0,65
6,5
10
15
25
40
65
100
150
250
400
650
1 000
12,2
12,6
7,15*
7,19*
9,45*
9,02
4,74
4,31
1,66
1,19
1,37
1,73
1,41
1,35
11,3
11,5
6,85*
6,87*
9,45*
9,39*
7,54
4,05
3,38
1,48
1,19
0,667
1,03
0,607 0,979
0,627
11,8
11,9
7,15*
7,17*
10,8*
10,8*
9,02
8,15
4,05
3,83
1,66
1,83
1,37
1,03
0,940
1,35
11,3
11,4
7,15*
7,16*
10,5*
10,5*
9,63
9,10
4,74
3,81
3,38
1,66
1,68
1,77
1,73
0,607
1,35
1,73
12,2
12,2
6,85*
6,86*
10,8*
10,8*
9,63
9,32
5,41
4,80
4,31
3,42
1,48
1,83
1,77
2,62
1,41
0,979
2,17
12,2
12,2
7,15*
7,16*
9,45*
9,45*
9,02
8,82
4,74
4,39
4,31
3,74
1,66
1,13
1,19
1,37
1,73
1,41
12,0
12,0
7,63*
7,64*
10,5*
10,5*
8,42
8,30
4,74
4,52
4,11
3,77
1,96
1,58
1,68
1,17
1,04
1,73
1,20
11,8
11,8
7,15*
7,15*
10,8*
10,8*
9,02
8,94
4,05
3,92
3,83
3,62
1,66
1,44
1,83
1,47
1,37
0,935
1,03
0,940
11,3
11,3
7,15*
7,15*
10,5*
10,5*
9,63
9,58
4,74
4,66
3,38
3,26
1,66
1,52
1,68
1,47
1,77
1,43
1,73
1,23
0,607
11,8
11,8
6,41*
6,41*
10,1*
10,1*
9,02
8,99
4,92
4,87
3,83
3,74
1,25
1,18
1,48
1,36
1,37
1,19
1,95
1,60
0,940
0,626
12,2
12,2
7,15
7,15
9,45*
9,45*
9,02
9,00
4,74
4,71
4,31
4,25
1,66
1,60
1,19
1,13
1,37
1,26
1,73
1,52
1,41
1,13
11,8
11,8
7,44*
7,44*
10,2*
10,2*
8,20
8,19
4,56
4,54
3,92
3,89
1,83
1,80
1,55
1,50
0,936
0,882
1,52
1,41
1,02
0,883
11,8
11,8
7,15*
7,15*
10,8*
10,8*
9,02
9,01
4,05
4,04
3,83
3,81
1,66
1,63
1,83
1,79
1,37
1,32
1,03
0,971
0,940
0,857
11,3
11,3
7,15*
7,15*
10,5*
10,5*
9,63
9,63
4,74
4,73
3,38
3,37
1,66
1,64
1,68
1,66
1,77
1,74
1,73
1,68
0,607
0,570
0,940
0,907
13
20
32
50
80
125
200
315
500
800
1 250
11,8
11,8
6,41*
6,41*
10,1*
10,1*
9,02
9,02
4,92
4,92
3,83
3,82
1,25
1,24
1,48
1,47
1,37
1,35
1,95
1,91
2 000
7,15*
7,15*
9,45*
9,45*
9,02
9,02
4,74
4,74
4,31
4,30
1,66
1,65
1,19
1,18
1,37
1,36
1,73
1,71
1,41
1,38
1,0
1,5
2,5
4,0
2,17
NOTAS
1 El riesgo del productor es la probabilidad de no aceptacin de lotes de calidad AQL
2 Los datos de entrada en la parte superior son para la inspeccin de no conformidades en 100 tems y estn basadas en la distribucin de Poisson.
Los datos de entrada en la parte inferior son para la inspeccin en porcentaje de no conformidades y estn basados en la distribucin binomial.
3 El superndice * indica que el valor es para el plan de muestreo opcional nmero de aceptacin fraccionaria (ver Tabla 11-A).
-37-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 5-B Riesgo para el productor en la inspeccin estricta

Letra
cdigo Tamao
del
de
tamao de muestra
muestra
0,010
13
20
32
50
80
125
200
315
500
800
1 250
2 000
3 150
18,1
18,1
0,015
0,025
0,040
0,065
0,10
0,15
0,25
0,40
0,65
1,0
1,5
2,5
4,0
6,5
10
15
25
40
65
100
150
250
400
650
1 000
18,1
19,0
13,7*
21,0*
19,1
14,3
14,3
8,39
6,81
6,38
6,98
5,25
17,7
18,3
13,7*
14,2*
17,9*
17,3
12,1
13,4
8,39
4,03
4,27
3,74
4,09
2,21
18,1
18,5
15,5*
15,9*
21,0*
21,6*
17,3
13,2
14,3
11,1
6,81
4,27
5,19
5,25
6,16
18,1
18,3
15,1*
15,3*
22,2*
22,6*
19,1
18,7
12,1
14,3
10,5
8,19
6,38
3,74
5,25
5,12
17,7
17,8
15,5*
15,6*
22,2*
22,4*
20,7
20,5
14,3
13,4
13,4
11,1
8,19
8,79
6,98
4,09
6,16
18,1
18,2
13,7*
13,8*
21,0*
21,1*
19,1
19,0
14,3
13,7
14,3
13,3
8,39
6,81
6,38
6,98
18,8
18,8
15,1*
15,2*
19,7*
19,8*
19,1
19,0
13,8
13,5
15,8
15,2
10,5
9,44
5,58
6,38
6,22
18,1
18,2
15,5*
15,5*
21,0*
21,0*
17,3
17,3
13,2
12,9
14,3
13,9
11,1
10,4
6,81
5,79
4,27
5,19
18,1
18,1
15,1*
15,2*
22,2*
22,2*
19,1
19,1
12,1
11,9
14,3
14,1
10,5
10,1
8,19
7,51
6,38
5,38
3,74
17,1
17,1
14,6*
14,6*
21,0*
21,0*
19,6
19,5
13,2
13,1
12,1
12,0
9,70
9,44
6,81
6,41
7,00
6,34
5,19
4,28
18,1
18,1
13,7*
13,7*
21,0*
21,0*
19,1
19,1
14,3
14,2
14,3
14,2
8,39
8,24
6,81
6,56
6,38
5,99
6,98
6,32
18,5
18,5
14,8*
14,8*
19,3*
19,3*
18,7
18,7
13,4
13,3
15,2
15,1
9,98
9,88
5,16
5,03
5,80
5,56
5,52
5,15
18,1
18,1
15,5*
15,5*
21,0*
21,0*
17,3
17,3
13,2
13,1
14,3
14,3
11,1
11,1
6,81
6,71
4,27
4,14
5,19
4,96
18,1
18,1
15,1*
15,1*
22,2*
22,2*
19,1
19,1
12,1
12,0
14,3
14,3
10,5
10,5
8,19
8,13
6,38
6,28
3,74
3,63
17,1
17,1
14,6*
14,6*
21,0*
21,0*
19,6
19,6
13,2
13,1
12,1
12,1
9,70
9,68
6,81
6,77
7,00
6,94
5,19
5,10
13,7*
13,7*
21,0*
21,0*
18,7
18,7
19,1
19,1
14,3
14,3
14,3
14,3
8,39
8,38
6,81
6,78
6,38
6,34
6,98
6,92
NOTAS
3 El superndice * indica que el valor es para el plan de muestreo opcional nmero de aceptacin fraccionaria (ver Tabla 11-B).
-38-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 5-C Riesgo para el productor en la inspeccin reducida

Letra
cdigo Tamao
del
de
tamao de muestra
muestra
0,010
0,015
0,025
0,040
0,065
0,10
0,15
0,25
0,40
0,65
6,5
10
15
25
40
65
100
150
250
400
650
1 000
12,2
12,6
7,15*
7,15*
9,45*
9,02
4,74
4,31
1,66
1,19
1,37
1,73
1,41
1,35
7,69
7,84
5,40*
5,48*
7,15*
7,19*
9,45*
9,02
4,74
4,31
1,66
1,19
1,37
1,73
1,41
1,35
4,88
4,94
2,33*
2,30*
3,39*
3,39*
4,72*
4,42*
3,69
1,44
0,908
1,07
0,453
0,380
1,37
1,73
1,41
4,40
4,43
2,07*
2,05*
2,94*
2,87*
4,51*
4,33*
3,69
2,80
1,09
0,729
0,775
0,396
0,38
0,667
1,03
0,607
4,88
4,90
2,07*
2,06*
3,16*
3,12*
4,72*
4,61*
4,27
3,70
1,44
0,856
0,729
0,912
0,453
0,629
1,37
1,03
0,940
5,07
5,08
2,33*
2,32*
2,94*
2,91*
4,72*
4,65*
4,15
3,81
1,59
1,20
0,908
0,502
0,775
0,453
0,571
1,77
5,07
5,08
2,56*
2,56*
3,39*
3,37*
4,51*
4,47*
4,27
4,06
1,59
1,35
1,09
0,793
1,07
0,646
0,396
0,629
1,77
4,88
4,88
2,33*
2,32*
3,39*
3,38*
4,72*
4,69*
3,69
3,57
1,44
1,30
0,908
0,741
1,07
0,788
0,453
0,239
0,380
1,37
4,69
4,69
2,33*
2,32*
3,30*
3,29*
5,06*
5,04*
4,15
4,07
1,29
1,21
0,908
0,803
1,00
0,836
0,558
0,389
0,571
0,330
1,04
4,88
4,88
2,07*
2,07*
3,16*
3,16*
4,72*
4,71*
4,27
4,21
1,44
1,38
0,729
0,674
0,912
0,813
0,453
0,361
0,629
0,454
1,37
0,935
5,07
5,07
2,33*
2,33*
2,94*
2,93*
4,72*
4,71*
4,15
4,12
1,59
1,56
0,908
0,866
0,775
0,720
0,453
0,395
0,571
0,468
1,77
1,43
4,88
4,88
2,39*
2,39*
3,16*
3,16*
4,21*
4,21*
3,98
3,96
1,44
1,42
0,957
0,929
0,912
0,873
0,321
0,293
0,493
0,434
1,37
1,19
4,88
4,88
2,33*
2,33*
3,39*
3,39*
4,72*
4,72*
3,69
3,68
1,44
1,42
0,908
0,891
1,07
1,04
0,453
0,430
0,380
0,350
1,37
1,26
4,62
4,62
2,26*
2,26*
3,20*
3,20*
4,92*
4,92*
4,03
4,02
1,24
1,23
0,861
0,851
0,942
0,926
0,513
0,496
0,518
0,493
0,936
0,882
1,37
1,32
13
20
32
50
80
125
200
315
500
4,88
4,88
2,07*
2,07*
3,16*
3,16*
4,72*
4,72*
4,27
4,26
1,44
1,43
0,729
0,724
0,912
0,902
0,453
0,444
0,629
0,611
800
2,33*
2,33*
2,94*
2,94*
4,72*
4,72*
4,15
4,15
1,59
1,59
0,908
0,904
0,775
0,769
0,453
0,447
0,571
0,561
1,77
1,74
1,0
1,5
2,5
4,0
NOTAS
3 El superndice * indica que el valor es para el plan de muestreo opcional nmero de aceptacin fraccionaria (ver Tabla 11-C).
-39-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 6-A Riesgo en la calidad para el consumidor en la inspeccin normal

(en porcentaje de no conformes para planes individuales de muestreo, para la inspeccin en porcentaje de no conformes)
Letra
cdigo
del
tamao
de
muestra
Tamao
de la
muestra
13
20
32
50
80
125
200
315
500
800
1 250
2 000
Limite aceptable de calidad, AQL, porcentaje de tems no conformes

0,10
0,015
0,025
0,040
0,065
0,10
0,15
0,25
0,40
0,65
1,0
1,5
2,5
4,0
6,5
10
68,4
69,0*
53,6
54,1*
57,6*
36,9
37,3*
39,8*
58,4
25,0
25,2*
27,0*
40,6
53,8
16,2
16,4*
17,5*
26,8
36,0
44,4
10,9
11,0*
11,8*
18,1
24,5
30,4
41,5
6,94
7,01*
7,50*
11,6
15,8
19,7
27,1
34,0
4,50
4,54*
4,87*
7,56
10,3
12,9
17,8
22,4
29,1
2,84
2,86*
3,07*
4,78
6,52
8,16
11,3
14,3
18,6
24,2
1,83
1,84*
1,97*
3,08
4,20
5,27
7,29
9,24
12,1
15,7
21,9
13,8
1,14
1,16*
1,24*
1,93
2,64
3,31
4,59
5,82
7,60
9,91
0,728
0,735*
0,788*
1,23
1,68
2,11
2,92
3,71
4,85
6,33
8,84
5,60
0,459
0,464*
0,497*
0,776
1,06
1,33
1,85
2,34
3,06
4,00
0,287
0,290*
0,311*
0,485
0,664
0,833
1,16
1,47
1,92
2,51
3,51
0,184
0,186*
0,199*
0,311
0,425
0,534
0,741
0,940
1,23
1,61
2,25
0,116*
0,124*
0,194
0,266
0,334
0,463
0,588
0,769
1,00
1,41
NOTAS
1 En la calidad a riesgo del consumidor, se espera que se acepte el 10% de los lotes
2 Todos los valores estn basados en la distribucin binomial.
-40-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 6-B Riesgo en la calidad para el consumidor en la inspeccin estricta

Letra
cdigo del
tamao
de
muestra
Tamao
de la
muestra
13
20
32
50
80
125
200
315
500
800
1 250
2 000
3 150

0,10
0,015
0,025
0,040
0,065
0,10
0,15
0,25
0,40
0,65
1,0
1,5
2,5
4,0
6,5
10
53,6
54,1*
68,4
0,115
36,9
37,3*
39,8*
25,0
25,2*
27,0*
40,6
16,2
16,4*
17,5*
26,8
36,0
10,9
11,0*
11,8*
18,1
24,5
30,4
6,94
7,01*
7,50*
11,6
15,8
19,7
27,1
4,50
4,54*
4,87*
7,56
10,3
12,9
17,8
24,7
2,84
2,86*
3,07*
4,78
6,52
8,16
11,3
15,7
21,4
19,3
1,83
1,84*
1,97*
3,08
4,20
5,27
7,29
10,2
13,9
1,14
1,16*
1,24*
1,93
2,64
3,31
4,59
6,42
8,76
12,2
0,728
0,735*
0,788*
1,23
1,68
2,11
2,92
4,09
5,59
7,77
4,92
0,459
0,464*
0,497*
0,776
1,06
1,33
1,85
2,59
3,54
0,287
0,290*
0,311*
0,485
0,664
0,833
1,16
1,62
2,21
3,08
0,184
0,186*
0,199*
0,311
0,425
0,534
0,741
1,04
1,42
1,98
0,116*
0,124*
0,194
0,266
0,334
0,463
0,649
0,888
1,24
0,123
NOTAS
-41-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 6-C Riesgo en la calidad para el consumidor en la inspeccin reducida

Letra
cdigo
del
tamao
de
muestra
Tamao
de la
muestra
13

0,10
0,015
0,025
0,040
0,065
0,10
20
32
50
80
2,84
125
1,83*
1,84*
200
315
500
800
0,25
0,40
16,2
0,15
0,65
1,0
1,5
2,5
4,0
6,5
10
68,4
69,0*
68,4
68,4*
69,0*
68,4
68,4*
69,0*
73,2*
53,6
53,6*
54,1*
57,6*
80,4
36,9
36,9*
37,3*
39,8*
58,4
75,3
25,0
25,0*
25,2*
27,0*
40,6
53,8
65,5
16,2*
16,4*
17,5*
26,8
36,0
44,4
52,3
10,9
10,9*
11,0*
11,8*
18,1
24,5
30,4
36,1
46,7
6,94
6,94*
7,01*
7,50*
11,6
15,8
19,7
23,4
30,6
37,4
4,50
4,50*
4,54*
4,87*
7,56
10,3
12,9
15,4
20,1
24,7
29,1
2,84*
2,86*
3,07*
4,78
6,52
8,16
9,74
12,8
15,7
18,6
1,97*
3,08
4,20
5,27
6,29
8,27
10,2
12,1
7,60
1,14
1,14*
1,16*
1,24*
1,93
2,64
3,31
3,96
5,21
6,42
0,728
0,728*
0,735*
0,788*
1,23
1,68
2,11
2,52
3,32
4,09
4,85
0,459
0,460*
0,464*
0,497*
0,776
1,06
1,33
1,59
2,10
2,59
3,06
0,287*
0,290*
0,311*
0,485
0,664
0,833
0,997
1,31
1,62
1,92
NOTAS
-42-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 7-A Riesgo en la calidad para el consumidor en la inspeccin normal

(en no conformidades por cada 100 tems para planes individuales, para las no conformidades por cada 100 tems)
Letra
cdigo Tamao de la
del
tamao muestra
de
0,010
muestra
Limite aceptable de calidad, AQL, porcentaje de no conformidades por 100 tems

0,015
0,025
0,040
0,065
0,10
0,15
0,25
0,40
0,65
1,0
1,5
2,5
4,0
6,5
25
40
65
100
150
250
116* 125*
194
266
334
464
589
770 1 006 1 409 1 916
76,8 77,5* 83,0* 130
177
223
309
392
514
671
115
10
15
400
650
46,1 46,5* 49,8* 77,8
106
134
185
235
308
403
564
766 1 076
28,8 29,1* 31,1* 48,6 66,5 83,5
116
147
193
252
352
479
672
217
295
414
13
17,7 17,9* 19,2* 29,9 40,9 51,4 71,3 90,5
119
155
20
11,5 11,6* 12,5* 19,4 26,6 33,4 46,4 58,9 77,0
101
141
32
7,20 7,26* 7,78* 12,2 16,6 20,9 29,0 36,8 48,1 62,9 88,1
50
80
125
200
315
500
800
939 1 277 1 793
4,61 4,65* 4,98* 7,78 10,6 13,4 18,5 23,5 30,8 40,3 56,4
2,88 2,91* 3,11* 4,86 6,65 8,35 11,6 14,7 19,3 25,2 35,2
1,84
1,15
1,86* 1,99* 3,11 4,26 5,34 7,42 9,42 12,3 16,1 22,5
1,16* 1,25* 1,94 2,66 3,34 4,64 5,89 7,70 10,1 14,1
0,731 0,738* 0,791* 1,23

0,461 0,465* 0,498* 0,778
1,06
1,69 2,12 2,94 3,74 4,89 6,39 8,95

1,34 1,85 2,35 3,08 4,03 5,64
0,288 0,291* 0,311* 0,486 0,665 0,835 1,16 1,47 1,93 2,52 3,52
1 250 0,184 0,186* 0,199* 0,311 0,426 0,534 0,742 0,942 1,23 1,61 2,25
2 000 0,116* 0,125* 0,266 0,334 0,334 0,464 0,589 0,770 1,01 1,41
NOTAS
2 Todos los valores estn basados en la distribucin de Poisson.
-43-
1 000
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 7-B Riesgo en la calidad para el consumidor en la inspeccin estricta

Letra
cdigo
Tamao
del
de la
tamao
muestra
de
0,010 0,015 0,025 0,040 0,065
muestra
A
13
20
32
50
80
125
200
315
500

0,10
0,15
0,25
0,40
0,65
1,0
1,5
2,5
4,0
6,5
10
15
25
40
65
100
150
250
400
115
116*
125*
194
266
334
464
650
889
1 238 1 748
76,8
77,5*
83,0*
130
177
223
309
433
593
825
1 165 1 683
1 010
46,1
46,5*
49,8*
77,8
106
134
185
260
356
495
699
28,8
29,1*
31,1*
48,6
66,5
83,5
116
162
222
309
437
631
190
269
388
17,7
17,9*
19,2*
29,9
40,9
51,4
71,3
100
137
11,5
11,6*
12,5*
19,4
26,6
33,4
46,4
65,0
88,9
124
77,4
7,20
7,26*
7,78*
12,2
16,6
20,9
29,0
40,6
55,6
4,61
4,65*
4,98*
7,78
10,6
13,4
18,5
26,0
35,6
49,5
2,88
2,91*
3,11*
4,86
6,65
8,35
11,6
16,2
22,2
30,9
1,84
1,86*
1,99*
3,11
4,26
5,34
7,42
10,4
14,2
19,8
1,16*
1,25*
1,94
2,66
3,34
4,64
6,50
8,89
12,4
0,731 0,738* 0,791* 1,23
7,86
1,15
0,461 0,465* 0,498* 0,778
1,69
2,12
2,94
4,13
5,64
1,06
1,34
1,85
2,60
3,56
4,95
3,09
800
0,288 0,291* 0,311* 0,486 0,665 0,835
1,16
1,62
2,22
1 250
0,184 0,186* 0,199* 0,311 0,426 0,534 0,742
1,04
1,42
1,98
2 000
0,115 0,116* 0,125* 0,194 0,266 0,334 0,464 0,650 0,889
1,24
3 150
650
0,123
NOTAS
-44-
2009-795
1 000
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 7-C Riesgo del consumidor en la calidad para inspeccin reducida

Letra
cdigo
Tamao
del
de la
tamao
muestra
de
muestra
A

0,10
0,015 0,025 0,040 0,065
0,10
0,15
0,25
0,40
0,65
1,0
1,5
2,5
4,0
115
13
20
32
50
6,5
115
115
80
125
200
315
500
0,461 0,461* 0,465* 0,498* 0,778
800
115* 116* 125*
25
194
40
65
100
150
250
266
334
464
589
770 1 006 1 409 1 916
266
334
464
589
770 1 006 1 409 1 916
400
527
650
770 1 006 1 409
76,8*
77,5*
83,0*
130
177
223
266
351
433
514
671
46,5*
49,8*
77,8
106
134
160
211
260
308
403
564
193
28,8
28,8*
29,1*
31,1*
48,6
66,5
83,5
99,9
132
162
17,7
17,7*
17,9*
19,2*
29,9
40,9
51,4
61,5
81,0
100
119
11,5
11,5*
11,6*
12,5*
19,4
26,6
33,4
40,0
52,7
65,0
77,0
48,1
7,20*
7,26*
7,78*
12,2
16,6
20,9
25,0
32,9
40,6
4,65*
4,98*
7,78
10,6
13,4
16,0
21,1
26,0
30,8
19,3
2,88
2,88*
2,91*
3,11*
4,86
6,65
8,35
9,99
13,2
16,2
1,84*
1,86*
1,99*
3,11
4,26
5,34
6,39
8,43
10,4
12,3
1,15*
1,16*
1,25*
1,94
2,66
3,34
4,00
5,27
6,50
7,70
0,731 0,731* 0,738* 0,791* 1,23
1,69
2,12
2,54
3,34
4,13
4,89
1,34
1,60
2,11
2,60
3,08
0,288* 0,291* 0,311* 0,486 0,665 0,835 0,999
1,32
1,62
1,93
939
NOTAS
-45-
1 000
334
76,8
7,20
650
194
46,1*
4,61*
400
266
46,1
4,61
1,06
15
116* 125* 194*
115* 116* 125*
1,84
1,15
10
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 8-A Lmites de calidad final promedio para inspeccin normal (Planes de muestreo simple)
Letra
cdigo
Tamao
del
de la
tamao
muestra
de
0,10
muestra
A
B
0,015 0,025 0,040 0,065
0,10
0,15
0,25
0,40
0,65
1,0
1,5
2,5
4,0
13
7,36
6,70
4,60
4,33
2,83
2,73
1,84
1,79
20
32
50
80
125
200
315
500
800
1 250
2 000
10
12,3
10,5
3
5
6,5
15
25
40
65
100
150
250
400
650
1 000
42,0
68,6
97,1
158
224
326
470
733
1085
28,0
45,7
64,7
106
149
218
313
489
723
1102
27,4
38,8
63,4
89,4
131
188
293
434
661
24,3
39,6
55,9
81,6
117
183
271
413
24,4
34,4
50,2
72,3
113
167
254
22,4
32,6
47,0
73,3
20,4
29,4
45,8
18,8
29,3
18,4
14,8
Limite aceptable de calidad, AQL, porcentaje de tems no conformes y no conformidades por 100 tems (inspeccin normal)
1,15
1,13
0,736
0,728
0,460
0,457
0,294
0,293
0,184
0,183
0,117
0,117
0,0736
0,0735
0,0460
0,0460
0,0294
0,0294
0,0672
0,0672
0,0420 0,0686
0,0420 0,0686
0,105
0,105
0,110
0,110
0,0971
0,0971
0,168
0,168
0,171
0,171
0,155
0,155
0,158
0,158
0,267
0,266
0,274
0,274
0,243
0,243
0,253
0,254
0,224
0,224
0,420
0,419
0,435
0,435
0,388
0,388
0,396
0,396
0,358
0,358
0,326
0,327
0,672
0,670
0,686
0,685
0,617
0,617
0,634
0,634
0,559
0,559
0,522
0,523
0,470
0,470
1,05
1,05
1,10
1,10
0,971
0,971
1,01
1,01
0,894
0,895
0,816
0,817
0,752
0,753
0,733
0,734
1,68
1,67
1,71
1,71
1,55
1,55
1,58
1,59
1,42
1,42
1,31
1,31
1,17
1,18
1,17
1,17
2,62
2,60
2,74
2,74
2,43
2,43
2,53
2,54
2,24
2,24
2,07
2,08
1,88
1,89
1,83
1,84
4,20
4,14
4,28
4,27
3,88
3,89
3,96
3,98
3,58
3,60
3,26
3,28
2,98
3,00
2,93
2,94
6,46
6,32
6,86
6,82
6,07
6,08
6,34
6,38
5,59
5,63
5,22
5,26
4,70
4,73
4,65
4,69
10,5
10,1
10,5
10,5
9,71
9,75
9,90
10,0
8,94
9,06
8,16
8,27
7,52
7,61
7,33
7,41
16,8
16,0
17,1
17,0
14,9
15,1
15,8
16,2
14,0
14,3
13,1
13,3
11,7
12,0
11,7
11,9
18,3
NOTA
Los datos de entrada en la parte superior son para la inspeccin de no conformidades en 100 tems y estn basadas en la distribucin de Poisson.
-46-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 8-B Lmites de calidad final promedio para inspeccin estricta (Planes de muestreo simple)
Letra
cdigo
Tamao
del
de la
tamao
muestra
de
muestra
A
13
20
32
50
80
125
200
315
500
800
1 250
2 000
3 150
Limite aceptable de calidad, AQL, porcentaje de tems no conformes y no conformidades por 100 tems (inspeccin normal)
0,10
0,015 0,025 0,040 0,065
0,10
0,15
0,25
0,40
0,65
1,0
1,5
2,5
4,0
6,5
10
15
25
40
65
100
150
250
400
650
1 000
42,0
68,6
97,1
158
257
397
619
966
28,0
45,7
64,7
106
172
265
412
644
1020
16,8
27,4
38,8
63,4
103
159
247
387
612
10,5
10,1
17,1
24,3
39,6
64,3
99,3
155
242
382
6,46
6,32
10,5
10,5
14,9
24,4
39,6
61,1
95,2
149
235
4,20
4,14
6,86
6,82
9,71
9,75
15,8
25,7
39,7
61,9
2,62
2,60
4,28
4,27
6,07
6,08
9,90
10,0
16,1
24,8
38,7
1,68
1,67
2,74
2,74
3,88
3,89
6,34
6,38
10,3
10,5
15,9
24,7
1,05
1,05
1,71
1,71
2,43
2,43
3,96
3,98
6,43
6,49
9,93
10,1
15,5
672
0670
1,10
1,10
1,55
1,55
2,53
2,54
4,12
4,14
6,36
6,42
9,90
10,1
0420
0419
0686
0685
0,971
0,971
1,58
1,59
2,57
2,58
3,97
4,00
6,19
6,25
0617
0617
0634
0634
0643
0644
1,01
1,01
1,03
1,03
0,993
0,995
1,63
1,64
1,59
1,59
1,55
1,55
2,52
2,53
2,47
2,48
0105
0105
0435
0435
0388
0388
0396
0396
3,93
3,95
0168
0168
0171
0171
0267
0266
0274
0274
0243
0243
0110
0110
00971
00971
0155
0155
0158
0158
0253
0254
0257
0257
0412
0412
0397
0397
0636
0636
0619
0619
0,990
0,991
18,4
14,8
12,3
10,5
7,36
6,70
4,60
4,33
2,83
2,73
1,84
1,79
115
113
0736
0728
0460
0457
0294
0293
0184
0183
0117
0117
00736
00735
00460
00460
00294
00294
00672
00672
00420 00686
00420 00686
00184
00184
00267
00267
NOTA
Los datos de entrada en la parte superior son para la inspeccin de no conformidades en 100 tems y estn basadas en la distribucin de Poisson.
-47-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 9 Curvas del tamao promedio de la muestra para muestreo, simple, doble y mltiple
(inspeccin normal, estricta y reducida)
n = Tamao equivalente de la muestra simple

Ac = Nmero de aceptacin de la muestra simple
= Punto de referencia que muestra la ejecucin a un AQL para la inspeccin normal
-48-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 9 Curvas del tamao promedio de la muestra para muestreo, simple, doble y mltiple
(inspeccin normal, estricta y reducida) (conclusin)
n = Tamao equivalente de la muestra simple

Ac = Nmero de aceptacin de la muestra simple
= Punto de referencia que muestra la ejecucin a un AQL para la inspeccin normal
-49-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 10-A Tablas para la letra cdigo A del tamao de muestra (planes individuales)
Carta A Curvas caractersticas de operacin para planes simples de muestreo
Porcentaje de lotes
que se espera sean
aceptados (Pa)
NOTA
(las curvas para de muestreo simple y mltiple coinciden tan cerca como es posible)
Calidad del producto entregado (p, en porcentaje de no conformidades para AQL 10, en no conformidades por cada 100 tems para AQL >10)
Los valores en las curvas son los Lmites de Calidad Aceptable (AQL) para la inspeccin normal
Tabla 10-A-1 Valores tabulados para las curvas caractersticas de operacin para planes individuales de muestreo
Lmite de aceptacin de la calidad, inspeccin normal (en porcentaje de no conformidades y no conformidades por 100 tems)
Pa
6,5
6,5
25
40
65
100
p (en porcentaje
de no conformes)
250
150
400
650
1 000
p (en no conformidades por 100 tems)
99,0
0,501
0,503
7,43
21,8
41,2
89,3
145
175
239
305
374
517
629
95,0
2,53
2,56
17,8
40,9
68,3
131
199
235
308
384
462
622
745
995
1 122
90,0
5,13
5,27
26,6
55,1
87,2
158
233
272
351
432
515
684
812
1 073
1 206
75,0
13,4
14,4
48,1
86,4
127
211
298
342
431
521
612
795
934
1 214
1 354
50,0
29,3
34,7
83,9
134
184
284
383
433
533
633
733
933
1 083
1 383
1 533
25,0
50,0
69,3
135
196
255
371
484
540
651
761
870
1 087
1 248
1 568
1 728
10,0
68,4
115
194
266
334
464
589
650
770
889
1 006
1 238
1 409
1 748
1 916
5,0
77,6
150
237
315
388
526
657
722
848
972
1 094
1 335
1 512
1 862
2 035
1,0
90,0
230
332
420
502
655
800
870
1 007
1 141
1 272
1 529
1 718
2 088
2 270
40
65
100
150
250
400
650
859
977
1 000
Lmite de aceptacin de la calidad, inspeccin estricta ( in porcentaje de no conformidades y no conformidades por cada 100 tems)
NOTA
La distribucin binomial es usada para los datos de entrada correspondientes a la inspeccin de tems no conformes, la de Poisson para la inspeccin por el nmero de no
conformidades
-50-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 10-A-2 Planes de muestreo para la letra cdigo A de tamao de muestra

Lmite de calidad aceptable, inspeccin normal (en porcentaje de no conformidades y no conformidades por 100 tems)
Tipo de
plan de
muestreo
Tamao de
muestra
acumulado
Simple
Doble
<6,5
6,5
Ac Re
Ac Re
0 1
10
Ac Re
Ac Re
15
25
40
65
100
Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re
1 2
usar la usar la usar la
(*)
2 3
(*)
(*)
(*)
150
Ac Re
7 8
(*)
250
Ac Re
8
(*)
400
650
1 000
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
10 11
12 13
14 15
18 19
21 22
27 28
30 31
(*)
(*)
(*)
(*)
(*)
(*)
(*)
letra de letra de letra de

cdigo cdigo cdigo
D
Mltiple
< 10

Ac
Re
*
(*)
=
=
=
=
=
10
15
25
40
65
100
150
250
400
650
1 000
usar la letra de cdigo de tamao de muestra prxima subsiguiente para las cuales los nmeros de aceptacin y rechazo estn disponibles
Nmero de aceptacin.
Nmero de rechazo
usar el plan nico de muestreo de abajo (o como alternativa usar la letra de cdigo D)
usar muestreo individual ( o como alternativa usar la letra de cdigo B)
-51-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 10-B Tablas para la letra cdigo B del tamao de muestra (planes individuales)
Carta B Curvas caractersticas de operacin para planes simples de muestreo
Porcentaje de lotes
que se espera sean aceptados
(Pa)
Calidad del producto entregado (p, en porcentaje de no conformidades para AQL 10, en no conformidades por cada 100 tems para AQL>10)
NOTA
Tabla 10-B-1 Valores tabulados para las curvas caractersticas de operacin para planes individuales de muestreo
Pa
4,0
4,0
15
25
40
65
100
150
p (en porcentaje de no
conformes)
250
400
650
1 000
99,0
0,334
0,335
4,95
14,5
27,4
59,5
96,9
117
159
203
249
345
419
572
651
947
1 029
95,0
1,70
1,71
11,8
27,3
45,5
87,1
133
157
206
256
308
415
496
663
748
1 065
1 152
90,0
3,45
3,51
17,7
36,7
58,2
105
144
181
234
288
343
456
541
716
804
1 131
1 222
75,0
9,14
9,59
32,0
57,6
84,5
141
199
228
287
347
408
530
623
809
903
1 249
1 344
50,0
20,6
23,1
55,9
89,1
122
189
256
289
356
422
489
622
722
922
1 022
1 389
1 489
25,0
37,0
46,2
89,8
131
170
247
323
360
434
507
580
724
832
1 045
1 152
1 539
1 644
10,0
53,6
76,8
130
177
223
309
392
433
514
593
671
825
939
1 165
1 277
1 683
1 793
5,0
63,2
99,9
158
210
258
350
438
481
565
648
730
890
1 008
1 241
1 356
1 773
1 886
1,0
78,5
154
221
280
335
437
533
580
671
761
848
1 019
1 145
1 392
1 513
1 951
2 069
6,5
25
40
65
100
6,5
150
250
400
650
1 000
Lmite de aceptacin de la calidad, inspeccin estricta ( en porcentaje de no conformidades y no conformidades por cada 100 tems)
NOTA
La distribucin binomial es usada para los datos de entrada correspondientes a la inspeccin de tems no conformes, la de Poisson para la inspeccin por el nmero de no conformidades
-52-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 10-B-2 Planes de muestreo para la letra de tamao de muestra B
Tipo de
plan de
muestreo
Tamao
de
muestra
acumulado
<4,0
4,0
10
6,5
15
25
40
65
100
150
250
400
650
1 000
Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re
Simple
0 1
Doble
usar la usar la usar la

4
2 3
3 4
5 6
7 8
8 9
0 2
0 3
1 3
2 5
3 6
4 7
3 4
4 5
6 7
9 10 10 11 12 13 15 16
++
++
++
++
25
40
65
100
10 11 12 13
5 9
6 10
14 15
18 19 21 22 27 28 30 31
41 42
44 45
9 14
11 16 15 20 17 22
23 29
25 31
23 24 26 27 34 35 37 38
52 53
56 57
++
++
11
18 19
cdigo cdigo cdigo

A
Mltiple
6,5
6,5
10
15
++
++
150
++
++
250
++
++
400
++
++
650
++
1 000
Lmite de Calidad Aceptable, Inspeccin estricta (en porcentaje de no conformes y no conformidades por 100 tems)

Ac
Re
*
++
=
=
=
=
=
Nmero de aceptacin.
Nmero de rechazo
usar el plan nico de muestreo de abajo (o como alternativa usar la letra de cdigo E)
usar el plan de muestreo doble de abajo ( o como alternativa usar la letra de cdigo D)
-53-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 10-C Tablas para la letra cdigo C del tamao de muestra (planes individuales)
Carta C Curvas caractersticas de operacin para planes simples de muestreo
Porcentaje de lotes
que se espera sean aceptados (Pa)
NOTA
Tabla 10-C-1 Valores tabulados para las curvas caractersticas de operacin para planes individuales de muestreo
2,5
Pa
10
2,5
10
15
25
40
65
p (en
porcentaje de
no conformes)
100
150
250
400
650
99,0
0,201
3,27
0,201
2,97
8,72
16,5
35,7
58,1
70,1
95,4
122
150
207
251
343
391
568
618
95,0
1,02
7,64
1,03
7,11
16,4
27,3
52,3
79,6
93,9
123
154
185
249
298
398
449
639
691
90,0
2,09
11,2
2,11
10,6
22,0
34,9
63,0
93,1
109
140
173
206
273
325
429
482
679
733
75,0
5,59
19,4
5,75
19,2
34,5
50,7
84,4
119
137
172
208
245
318
374
485
542
749
806
50,0
12,9
31,4
13,9
33,6
53,5
73,4
113
153
173
213
253
293
373
433
553
613
833
893
25,0
24,2
45,4
27,7
53,9
78,4
102
148
194
216
260
304
348
435
499
627
691
923
986
10,0
36,9
58,4
46,1
77,8
106
134
185
235
260
308
356
403
495
564
699
766
1 010
1 076
5,0
45,1
65,7
55,9
94,9
126
155
210
263
289
339
389
438
534
605
745
814
1 064
1 131
1,0
60,2
77,8
92,1
133
168
201
262
320
348
403
456
509
612
687
835
908
1 171
1 241
4,0
15
25
40
65
4,0
100
150
250
400
650
NOTA La distribucin binomial es usada para los datos de entrada correspondientes a la inspeccin de tems no conformes, la de Poisson para la inspeccin por el nmero de no conformidades
-54-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 10-C-2 Planes de muestreo para la letra de tamao de muestra C

Tipo de
plan de
muestreo
Tamao
de
muestra
acumulado
Simple
<2,5
2,5
4,0
Ac Re
Ac Re
Ac Re
0 1
3
Doble
6
Mltiple
usar la
Ac Re
usar la
6,5
10
15
25
40
65
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
10 11
12 13
14 15
18 19
21 22
27 28
6 10
7 11
9 14
11 16
12 13
15 16
18 19
23 24
26 27
usar la
< 4,0
4,0
cdigo
cdigo
cdigo
6,5
10
1 2
3 4
4 5
6 7
9 10
150
100
10 11
250
400
650
1 000
Ac Re
Ac Re
Ac Re
30 31
41 42
44 45
15 20
17 22
23 29
25 31
34 35
37 38
52 53
56 57
USE
LA
LETRA
CDIGO
B
++
++
++
++
15
25
40
65
++
++
100
++
++
150
++
++
250
++
++
400
++
++
++
650
1 000

Ac
Re
*
++
=
=
=
=
=
Nmero de aceptacin.
Nmero de rechazo
usar el plan nico de muestreo de abajo (o como alternativa usar la letra de cdigo F)
usar el plan de muestreo doble de abajo ( o como alternativa usar la letra de cdigo D)
-55-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 10-D Tablas para la letra de cdigo D del tamao de muestra (planes individuales)
Carta D Curvas caractersticas de operacin para planes simples de muestreo
Porcentaje de lotes
NOTA
(Las curvas para de muestreo simple y mltiple coinciden tan cerca como es posible)
Tabla 10-D-1 Valores tabulados para las curvas caractersticas de operacin para planes individuales de muestreo
Pa
1,5
6,5
10
1,5
6,5
10
15
25
40
conformes)
65
100
150
250
400
99,0
0,126
1,97
6,08
0,126
1,86
5,45
10,3
22,3
36,3
43,8
59,6
76,2
93,5
129
157
215
244
355
386
95,0
0,639
4,64
11,1
0,641
4,44
10,2
17,1
32,7
49,8
58,7
77,1
96,1
116
156
186
249
281
399
432
90,0
1,31
6,86
14,7
1,32
6,65
13,8
21,8
39,4
58,2
67,9
87,8
108
129
171
203
268
301
424
458
75,0
3,53
12,1
22,1
3,60
12,0
21,6
31,7
52,7
74,5
85,5
108
130
153
199
234
303
339
468
504
50,0
8,30
20,1
32,1
8,66
21,0
33,4
45,9
70,9
95,9
108
133
158
183
233
271
346
383
521
558
25,0
15,9
30,3
43,3
17,3
33,7
49,0
63,9
92,8
121
135
163
190
217
272
312
392
432
577
617
10,0
25,0
40,6
53,8
28,8
48,6
66,5
83,5
116
147
162
193
222
252
309
352
437
479
631
672
5,0
31,2
47,1
60,0
37,4
59,3
78,7
96,9
131
164
180
212
243
274
334
378
465
509
665
707
1,0
43,8
59,0
70,7
57,6
83,0
105
126
164
200
218
252
285
318
382
429
522
568
732
776
2,5
10
2,5
10
15
25
40
65
100
150
250
400
NOTA
conformidades
-56-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 10-D-2 Planes de muestreo para el tamao de muestra de cdigo de letra D

<1,5
1,5
2,5
4,0
6,5
10
15
25
40
65
100
150
250
400 >400
Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re
Simple
8
5
Doble
0 1
*
1 2
2 3
3 4
5 6
7 8
8 9 10 11 12 13 14 15 18 19 21 22 27 28 30 31 41 42 44 45
usar la usar la usar la 0 2
0 3
1 3
2 5
3 6
4 7
1 2
3 4
4 5
6 7 9 10 10 11 12 13 15 16 18 19 23 24 26 27 34 35 37 38 52 53 56 57
# 2
# 2
# 3
# 4
0 4
0 4
0 5
0 6
1 7
0 2
0 3
0 3
1 5
1 6
2 7
3 8
3 9
4 10 6 12 7 14 10 17 11 19 16 25 17 25
letra
10
de
letra
de
5 9
6 10 7 11 9 14 11 16 15 20 17 22 23 29 25 31
letra
de
cdigo cdigo cdigo

2
1 8
2 9
3 10 4 12 6 15 6 16
Mltiple
6
0 2
0 3
1 4
2 6
3 8
4 9 6 10 7 12 8 13 11 17 13 19 17 24 19 27 26 35 29 38
0 2
1 3
2 5
4 7
5 9
6 11 9 12 11 15 12 17 16 22 20 25 25 31 28 34 38 45 40 48
10
1 2
3 4
4 5
6 7 9 10 10 11 12 13 15 16 18 19 23 24 26 27 34 35 37 38 52 53 56 57
10
15
25
<2,5
2,5
4,0
6,5
40
65
100
150
250
400
>400
Lmite aceptable de calidad, inspeccin estricta ( en porcentaje de no conformidades y de tems no conformes por cada 100 tems)
Ac
Re
*
#
=
=
=
=
=
=
Usar la prxima anterior letra de cdigo para el tamao de muestra para la cual los nmeros de aceptacin y rechazo estn disponibles
Usar la prxima posterior letra de cdigo para el tamao de muestra para la cual los nmeros de aceptacin y rechazo estn disponibles
Nmero de aceptacin
Nmero de rechazo
Use el plan simple de muestreo de arriba ( o como alternativa use el cdigo de letra G)
La aceptacin no est permitida con este tamao de muestra
-57-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 10-E Tablas para la letra de cdigo E del tamao de muestra (planes individuales)
Carta E Curvas caractersticas de operacin para planes simples de muestreo
Porcentaje de lotes
(Pa)
NOTA
Tabla 10-E-1 Valores tabulados para las curvas caractersticas de operacin para planes individuales de muestreo
Pa
1,0
4,0
6,5
10
1,0
4,0
6,5
10
15
conformes)
25
40
65
100
150
250
99,0
0,0773 1,18
3,58
6,95
0,0773
1,14
3,35
6,33
13,7
22,4
27,0
36,7
46,9
57,5
79,6
9,67
132
150
219
238
95,0
0,394
2,81
6,60
11,3
0,395
2,73
6,29
10,5
20,1
30,6
36,1
47,5
59,2
71,1
95,7
115
153
173
246
266
90,0
0,807
4,17
8,80
14,2
0,810
4,09
8,48
13,4
24,2
35,8
41,8
54,0
66,5
79,2
105
125
165
185
261
282
310
75,0
2,19
7,41
13,4
19,9
2,21
7,39
13,3
19,5
32,5
45,8
52,6
66,3
80,2
94,1
122
144
187
208
288
50,0
5,19
12,6
20,0
27,5
5,33
12,9
20,6
28,2
43,6
59,0
66,7
82,1
97,4
113
144
167
213
236
321
344
379
25,0
10,1
19,4
28,0
36,1
10,7
20,7
30,2
39,3
57,1
74,5
83,1
100
117
134
167
192
241
266
355
10,0
16,2
26,8
36,0
44,4
17,7
29,9
40,9
51,4
71,3
90,5
100
119
137
155
190
217
269
295
388
414
435
477
5,0
20,6
31,6
41,0
49,5
23,0
36,5
48,4
59,6
80,9
101
111
130
150
168
205
233
286
313
409
1,0
29,8
41,3
50,6
58,8
35,4
51,1
64,7
77,3
101
123
134
155
176
196
235
264
321
349
450
1,5
6,5
10
1,5
6,5
10
15
25
40
65
100
150
250
NOTA
conformidades
-58-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 10-E-2 Planes de muestreo para el tamao de muestra de cdigo de letra E

Tamao
Lmite aceptable de la calidad, inspeccin normal ( en porcentaje de tems no conformes y de no conformidades por cada 100 tems)
Tipo de
acumulado <1,0
1,0
1,5
2,5
4,0
6,5
10
15
25
40
65
100
150
250
>250
plan de
de la
muestreo
Ac
Re
Ac
Re
Ac
Re
Ac
Re
Ac
Re
Ac
Re
Ac
Re
Ac
Re
Ac
Re
Ac
Re
Ac
Re
Ac
Re
Ac
Re
Ac
Re
Ac
Re
Ac
Re
Ac
Re
Ac
Re
Ac
Re
Ac
Re
Ac
Re
muestra
Simple
13
01
Doble
30 31
41 42
44 45
14 11 16
15 20
17 22
23 29
25 31
26 27
34 35
37 38
52 53
56 57
10 11
12 13
usar la usar la usar la 0

letra letra letra
10 10 11
12 13
15 16
18 19
23 24
de
16
27 28
de
de
14 15
21 22
10 7
18 19
11 9
cdigo cdigo cdigo

3
10 4 12
6 15 6 16
Mltiple
10 7
12
11
15
9 10 10 11 12 13 15 16 18 19 23 24 26 27 34 35 37 38 52 53 56 57
<1,5
1,5
2,5
4,0
6,5
10
15
25
40
9 12
12 8
11 15
65
10 6
12 7
13 11 17
12 17
16 22
14 10 17
11 19
16 25
17 27
13 19
17 24
19 27
26 35
29 38
20 25
25 31
28 34
38 45
40 48
100
150
250
>250
Ac
Re
*
#
=
=
=
=
=
=
Nmero de aceptacin
Nmero de rechazo
Use el plan simple de muestreo de arriba ( o como alternativa use el cdigo de letra H)
-59-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 10-F Tablas para la letra de cdigo F del tamao de muestra (planes individuales)
Carta E Curvas caractersticas de operacin para planes simples de muestreo
Porcentaje de lotes
(Pa)
NOTA
Tabla 10-F-1 Valores tabulados para las curvas caractersticas de operacin para planes individuales de muestreo
Pa
0,65
2,5
4,0
6,5
10
0,65
2,5
4,0
6,5
10
15
25
40
65
0,0503
0,743
2,18
4,12
8,93
14,5
17,5
23,9
30,5
37,4
51,7
62,9
95,0
p (en porcentaje de no conformes)

0,0502
0,759
2,27
4,36
9,75
0,256
1,81
4,22
7,14
14,0
0,256
1,78
4,09
6,83
13,1
19,9
23,5
30,8
38,4
46,2
62,2
74,5
90,0
0,525
2,69
5,64
9,02
16,6
0,527
2,66
5,51
8,72
15,8
23,3
27,2
35,1
43,2
51,5
68,4
81,2
75,0
1,43
4,81
8,70
12,8
21,6
1,44
4,81
8,64
12,7
21,1
29,8
34,2
43,1
52,1
61,2
79,5
93,4
50,0
3,41
8,25
13,1
18,1
27,9
3,47
8,39
13,4
18,4
28,4
38,3
43,3
53,3
63,3
73,3
93,3
108
25,0
6,70
12,9
18,7
24,2
34,8
6,93
13,5
19,6
25,5
37,1
48,4
54,0
65,1
76,1
87,0
109
125
10,0
10,9
18,1
24,5
30,4
41,5
11,5
19,4
26,6
33,4
46,4
58,9
65,0
77,0
88,9
101
124
141
5,0
13,9
21,6
28,3
34,4
45,6
15,0
23,7
31,5
38,8
52,6
65,7
72,2
84,8
97,2
109
133
151
1,0
20,6
28,9
35,8
42,1
53,2
23,0
33,2
42,0
50,2
65,5
80,0
87,0
101
114
127
153
172
1,0
4,0
6,5
10
1,0
4,0
6,5
10
15
99,0
25
40
65
NOTA
conformidades
-60-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 10-F-2 Planes de muestreo para el tamao de muestra de cdigo de letra F

Tipo de
plan de
muestreo
Tamao
acumula
do de la
muestra
<0,65
0,65
1,0
1,5
2,5
4,0
6,5
10
15
25
40
65
Ac Re
Ac Re Ac Re
Simple
20
13
Doble
Mltiple
Ac Re Ac Re
1
*
usar la
usar la
usar la
26
5
Ac Re
cdigo
cdigo
cdigo
Ac Re Ac Re Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re Ac Re
15 18
19 21
22
10
11
14 11
16
16 18
19 23
24 26
27
10
11 10
11 12
13 15
10
15
10
12
13 11
20
11
12 11
25
1,0
1,5
2,5
10
<1,0
Ac Re
13 14
Ac Re
11 12
Ac Re Ac Re
>65
4,0
6,5
10
7 9
15
10 10
11 12 13 15
25
12
14
17 13
19
15 12 17 16 22 20
25
16 18 19 23 24 26 27
40
65
>65
Ac
Re
*
#
=
=
=
=
=
=
Nmero de aceptacin
Nmero de rechazo
Use el plan simple de muestreo de arriba ( o como alternativa use el cdigo de letra J)
-61-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 10-G Tablas para la letra de cdigo G del tamao de muestra (planes individuales)
Carta G Curvas caractersticas de operacin para planes simples de muestreo
Porcentaje de lotes
NOTA
Tabla 10-G-1 Valores tabulados para las curvas caractersticas de operacin para planes individuales de muestreo
Pa
0,40
1,5
99,0
0,0314
0,471
1,40
2,67
95,0
0,160
1,12
2,60
90,0
0,329
1,67
3,49
75,0
0,895
3,01
50,0
2,14
25,0
4,24
10,0
2,5
4,0
6,5
10
0,40
1,5
2,5
4,0
5,88
9,73
0,0314
0,464
1,36
2,57
5,58
9,08
11,0
14,9
19,1
23,4
32,3
39,3
4,38
8,50
13,1
0,160
1,11
2,56
4,27
8,17
12,4
14,7
19,3
24,0
28,9
38,9
46,5
5,56
10,2
15,1
0,329
1,66
3,44
5,45
9,85
14,6
17,0
21,9
27,0
32,2
42,7
50,8
5,42
7,98
13,4
19,0
0,899
3,00
5,40
7,92
13,2
18,6
21,4
26,9
32,6
38,2
49,7
58,4
5,19
8,27
11,4
17,5
23,7
2,17
5,24
8,36
11,5
17,7
24,0
27,1
33,3
39,6
45,8
58,3
67,7
8,19
11,9
15,4
22,3
29,0
4,33
8,41
12,3
16,0
23,2
30,3
33,8
40,7
47,6
54,4
67,9
78,0
6,94
11,6
15,8
19,7
27,1
34,0
7,20
12,2
16,6
20,9
29,0
36,8
40,6
48,1
55,6
62,9
77,4
88,1
5,0
8,94
14,0
18,4
22,5
30,1
37,2
9,36
14,8
19,7
24,2
32,9
41,1
45,1
53,0
60,8
68,4
83,4
94,5
1,0
13,4
19,0
23,8
28,1
36,0
43,2
14,4
20,7
26,3
31,4
41,0
50,0
54,4
63,0
71,3
79,5
95,6
107
0,65
2,5
4,0
6,5
10
0,65
2,5
4,0
6,5
10
6,5
10
15
40
25
15
25
40
NOTA
conformidades
-62-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 10-G-2 Planes de muestreo para el tamao de muestra de cdigo de letra G

Tipo de
plan de
muestreo
Tamao
acumula
do de la
muestra
<0,40
0,40
0,65
1,0
1,5
2,5
4,0
6,5
10
15
25
40
Ac Re
Ac Re Ac Re
Simple
32
20
Doble
Mltiple
Ac Re Ac Re
1
*
usar la
usar la
usar la
40
8
Ac Re
cdigo
cdigo
cdigo
Ac Re Ac Re Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re Ac Re
Ac Re
Ac Re
10 11
12 13
14 15
18 19
21 22
10
7 11
9 14
11 16
10
10 11
12 13
15 16
18 19
23 24
26 27
16
10
24
10
12
13
11 17
13 19
32
11
12
11 15
12 17
16 22
20 25
40
10
10 11
12 13
15 16
18 19
23 24
26 27
<0,65
0,65
1,0
1,5
>40
Ac Re Ac Re
2,5
4,0
6,5
10
15
25
12
40
14
>40
Ac
Re
*
#
=
=
=
=
=
=
Nmero de aceptacin
Nmero de rechazo
Use el plan simple de muestreo de arriba (o como alternativa use el cdigo de letra K)
-63-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 10-H Tablas para la letra de cdigo H del tamao de muestra (planes individuales)
Carta H Curvas caractersticas de operacin para planes simples de muestreo
Porcentaje de lotes
NOTA
Tabla 10-H-1 Valores tabulados para las curvas caractersticas de operacin para planes individuales de muestreo
Pa
0,25
99,0
0,0201
0,300
0,886
1,68
3,69
6,07
95,0
0,103
0,715
1,66
2,78
5,36
90,0
0,210
1,07
2,22
3,53
6,43
75,0
0,574
1,92
3,46
5,10
8,51
12,0
50,0
1,38
3,33
5,31
7,29
11,3
15,2
25,0
2,73
5,29
7,69
10,0
14,5
18,8
10,0
4,50
7,56
10,3
12,9
17,8
5,0
5,82
9,14
12,1
14,8
19,9
1,0
8,80
12,6
15,8
18,7
24,2
0,40
1,5
2,5
4,0
6,5
1,0
1,5
2,5
4,0
6,5
10
0,25
1,0
1,5
7,36
10,1
0,0201
0,297
0,872
1,65
3,57
5,81
7,01
9,54
12,2
15,0
20,7
25,1
8,22
9,72
12,9
0,103
0,711
1,64
2,73
5,23
7,96
9,39
12,3
15,4
18,5
24,9
29,8
9,54
11,2
14,5
0,211
1,06
2,20
3,49
6,30
9,31
10,9
14,0
17,3
20,6
27,3
32,5
13,8
17,5
0,575
1,92
3,45
5,07
8,44
11,9
13,7
17,2
20,8
24,5
31,8
37,4
17,2
21,2
1,39
3,36
5,35
7,34
11,3
15,3
17,3
21,3
25,3
29,3
37,3
43,3
21,0
25,2
2,77
5,39
7,84
10,2
14,8
19,4
21,6
26,0
30,4
34,8
43,5
49,9
22,4
24,7
29,1
4,61
7,78
10,6
13,4
18,5
23,5
26,0
30,8
35,6
40,3
49,5
56,4
24,7
27,0
31,6
5,99
9,49
12,6
15,5
21,0
26,3
28,9
33,9
38,9
43,8
53,4
60,5
29,2
31,6
36,3
9,21
13,3
16,8
20,1
26,2
32,0
34,8
40,3
45,6
50,9
61,2
68,7
0,40
1,5
2,5
4,0
6,5
2,5
4,0
6,5
10
15
25
10
10
15
25
NOTA
-64-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 10-H-2 Planes de muestreo para el tamao de muestra de cdigo de letra G

Tipo de
plan de
muestreo
Tamao
acumula
do de la
muestra
<0,25
0,25
0,40
0,65
1,0
1,5
2,5
4,0
6,5
10
15
25
Ac Re
Ac Re Ac Re
Simple
50
0 1
32
Doble
Mltiple
usar la
Ac Re Ac Re
usar la
64
13
usar la
Ac Re
cdigo
cdigo
cdigo
Ac Re Ac Re Ac Re
Ac Re
Ac Re
1 2
2 3
3 4
5 6
7 8
8 9
0 2
0 3
0 3
2 5
3 6
4 7
1 2
3 4
3 4
6 7
9 10
# 2
# 2
# 3
# 4
0 4
Ac Re Ac Re
Ac Re Ac Re
Ac Re
10 11 12 13 14 15 18 19 21 22
5 9
6 10
7 11
9 14
11 16
0 4
0 5
0 6
1 7
1 8
0 3
1 5
1 6
2 7
3 8
3 9
4 10
6 12
39
0 2
0 3
1 4
2 6
3 8
4 9
6 10
7 12
8 13
11 17 13 19
52
0 2
1 3
2 5
4 7
5 9
6 11
9 12
11 15 12 17 16 22 20 25
65
1 2
3 4
4 5
6 7
9 10
10 11 12 13 15 16 18 19 23 24 26 27
1,5
2,5
4,0
6,5
1,0
0 3
0,65
2 9
0 2
0,40
Ac Re
10 11 12 13 15 16 18 19 23 24 26 27
26
<0,40
>25
10
15
25
7 14
>25
Ac
Re
*
#
=
=
=
=
=
=
Nmero de aceptacin
Nmero de rechazo
Use el plan simple de muestreo de arriba ( o como alternativa use el cdigo de letra L)
-65-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 10-J Tablas para la letra de cdigo J del tamao de muestra (planes individuales)
Carta J Curvas caractersticas de operacin para planes simples de muestreo
Porcentaje de lotes
NOTA
Tabla 10-J-1 Valores tabulados para las curvas caractersticas de operacin para planes individuales de muestreo
Pa
0,15
0,65
1,0
1,5
2,5
4,0
6,5
10
0,15
0,65
1,0
1,5
2,5
4,0
6,5
10
15
99,0
0,0126 0,187 0,550
1,04
2,28
3,73
4,51
6,17
7,93
9,76
0,0126 0,186
0,545
1,03
2,23
3,63
4,38
5,96
7,62
9,35
12,9
15,7
95,0
0,0641 0,446 1,03
1,73
3,32
5,07
6,00
7,91
9,89
11,9
0,0641 0,444
1,02
1,71
3,27
4,98
5,87
7,71
9,61
11,6
15,6
18,6
90,0
0,132
0,667 1,39
2,20
3,99
5,91
6,90
8,95
11,0
13,2
0,132 0,665
1,38
2,18
3,94
5,82
6,79
8,78
10,8
12,9
17,1
20,3
75,0
0,359
1,20
2,16
3,18
5,30
7,50
8,61
10,9
13,2
15,5
0,360 1,20
2,16
3,17
5,27
7,45
8,55
10,8
13,0
15,3
19,9
23,4
50,0
0,863
2,09
3,33
4,57
7,06
9,55
10,8
13,3
15,8
18,3
0,866 2,10
3,34
4,59
7,09
9,59
10,8
13,3
15,8
18,3
23,3
27,1
25,0
1,72
3,33
4,84
6,30
9,14
11,9
13,3
16,0
18,6
21,3
1,73
3,37
4,90
6,39
9,28
12,1
13,5
16,3
19,0
21,7
27,2
31,2
10,0
2,84
4,78
6,52
8,16
11,3
14,3
15,7
18,6
21,4
24,2
2,88
4,86
6,65
8,35
11,6
14,7
16,2
19,3
22,2
25,2
30,9
35,2
5,0
3,68
5,79
7,66
9,41
12,7
15,8
17,3
20,3
23,2
26,0
3,74
5,93
7,87
9,69
13,1
16,4
18,0
21,2
24,3
27,4
33,4
37,8
5,59
8,01
10,1
12,0
15,6
18,9
20,5
23,6
26,6
29,5
5,76
8,30
10,5
12,6
16,4
20,0
21,8
25,2
28,5
31,8
38,2
42,9
0,25
1,0
1,5
2,5
4,0
0,25
1,0
1,5
2,5
4,0
1,0
6,5
10
6,5
10
15
NOTA
conformidades
-66-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 10-J-2 Planes de muestreo para el tamao de muestra de cdigo de letra J

Tipo de
plan de
muestreo
Tamao
acumula
do de la
muestra
<0,15
0,15
0,25
0,40
0,65
1,0
1,5
2,5
4,0
6,5
10
15
Ac Re
Ac Re Ac Re
Simple
80
50
Doble
Mltiple
Ac Re Ac Re
1
*
usar la
usar la
usar la
100
20
Ac Re
cdigo
cdigo
cdigo
Ac Re Ac Re Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re Ac Re
Ac Re Ac Re
Ac Re
Ac Re
10 11
12 13
14 15
18 19
21 22
10
7 11
9 14
11 16
10
10 11
12 13
15 16
18 19
23 24
26 27
40
10
60
10
12
13
11 17
13 19
80
11
12
11 15
12 17
16 22
20 25
100
10
10 11
12 13
15 16
18 19
23 24
26 27
<0,25
0,25
0,40
0,65
>15
1,0
1,5
2,5
4,0
6,5
10
12
15
14
>15
Ac
Re
*
=
=
=
=
=
Nmero de aceptacin
Nmero de rechazo
Use el plan simple de muestreo de arriba ( o como alternativa use el cdigo de letra M)
-67-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 10-K Tablas para la letra de cdigo K del tamao de muestra (planes individuales)
Carta K Curvas caractersticas de operacin para planes simples de muestreo
Porcentaje de lotes
Calidad del producto entregado en porcentaje de no conformes o no conformidades por cada 100 tems
NOTA
Tabla 10-K-1 Valores tabulados para las curvas caractersticas de operacin para planes individuales de muestreo
Pa
0,10
0,40
0,65
1,0
1,5
4,0
2,5
6,5
10
0,10
0,40
0,65
1,0

99,0 0,00804 0,119
0,351
0,664
1,45
2,36
2,86
3,90
1,5
2,5
4,0
6,5
10

5,00
6,15
8,55
10,4
0,00804 0,119
0,349
0,659
1,43
2,32
2,81
3,82
4,88
5,98
8,28
10,1
9,95
11,9
95,0
0,0410
0,285
0,657
1,10
2,11
3,22
3,81
5,01
6,26
7,54
10,2
12,2
0,0410 0,284
0,654
1,09
2,09
3,18
3,76
4,94
6,15
7,40
90,0
0,0843
0,426
0,885
1,40
2,54
3,76
4,39
5,69
7,01
8,37
11,1
13,3
0,0843 0,425
0,882
1,40
2,52
3,72
4,35
5,62
6,92
8,24
10,9
13,0
75,0
0,230
0,769
1,38
2,03
3,39
4,79
5,50
6,94
8,39
9,86
12,8
15,1
0,230
1,38
2,03
3,38
4,76
5,47
6,90
8,34
9,79
12,7
14,9
14,9
17,3
0,769
50,0
0,553
1,34
2,13
2,93
4,52
6,12
6,92
8,51
10,1
11,7
14,9
17,3
0,555
1,34
2,14
2,94
4,54
6,14
6,94
8,53
10,1
11,7
25,0
1,10
2,14
3,11
4,05
5,88
7,66
8,54
10,3
12,0
13,7
17,1
19,6
1,11
2,15
3,14
4,09
5,94
7,75
8,64
10,4
12,2
13,9
17,4
20,0
10,0
1,83
3,08
4,20
5,27
7,29
9,24
10,2
12,1
13,9
15,7
19,3
21,9
1,84
3,11
4,26
5,34
7,42
9,42
10,4
12,3
14,2
16,1
19,8
22,5
21,4
24,2
24,5
27,5
5,0
2,37
3,74
4,95
6,09
8,23
10,3
11,3
13,2
15,1
17,0
20,6
23,3
2,40
3,80
5,04
6,20
8,41
10,5
11,5
13,6
15,6
17,5
1,0
3,62
5,19
6,55
7,81
10,2
12,3
13,4
15,5
17,5
19,4
23,2
26,0
3,68
5,31
6,72
8,04
10,5
12,8
13,9
16,1
18,3
20,4
1,5
2,5
1,0
1,5
2,5
0,15
0,65
1,0
4,0
6,5
10
0,15
0,65
4,0
6,5
10
NOTA
-68-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 10-K-2 Planes de muestreo para el tamao de muestra de cdigo de letra K

Tipo de
plan de
muestreo
Tamao
acumula
do de la
muestra
<0,10
0,10
0,15
0,25
0,40
0,65
1,0
1,5
2,5
4,0
6,5
10
Ac Re
Ac Re Ac Re
Simple
125
80
Doble
Mltiple
Ac Re Ac Re
1
*
usar la
usar la
usar la
Ac Re Ac Re Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re Ac Re
Ac Re Ac Re
Ac Re
Ac Re
10 11
12 13
14 15
18 19
21 22
10
7 11
9 14
11 16
10
10 11
12 13
15 16
18 19
23 24
26 27
160
32
Ac Re
cdigo
cdigo
cdigo
64
10
96
10
12
13
11 17
13 19
128
11
12
11 15
12 17
16 22
20 25
160
10
10 11
12 13
15 16
18 19
23 24
26 27
<0,15
>10
0,15
0,25
0,40
0,65
1,0
1,5
2,5
4,0
6,5
12
10
14
>10
Ac
Re
*
#
=
=
=
=
=
=
Nmero de aceptacin
Nmero de rechazo
Use el plan simple de muestreo de arriba ( o como alternativa use el cdigo de letra N)
-69-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 10-L Tablas para la letra de cdigo L del tamao de muestra (planes individuales)
Carta K Curvas caractersticas de operacin para planes simples de muestreo
Porcentaje de lotes
NOTA
Tabla 10-L-1 Valores tabulados para las curvas caractersticas de operacin para planes individuales de muestreo
Pa
0,065
0,25
0,40
0,65
1,0
1,5
2,5
4,0
6,5
0,065
0,25
0,40
0,65
1,0
1,5
2,5
4,0
6,5
99,0
0,00503 0,074
0,219
0,414
0,900
1,47
1,77
2,42
3,10
3,80
5,28
6,43
0,00503 0,074
0,218
0,412
0,893
1,45
1,75
2,39
3,05
3,74
5,17
6,29
95,0
0,0256
0,178
0,410
0,686
1,31
2,01
2,37
3,11
3,89
4,68
6,31
7,57
0,0256
0,178
0,409
0,683
1,31
1,99
2,35
3,08
3,84
4,62
6,22
7,45
90,0
0,0527
0,266
0,552
0,875
1,58
2,34
2,73
3,54
4,36
5,20
6,91
8,22
0,0527
0,266
0,551
0,872
1,58
2,33
2,72
3,51
4,32
5,15
6,84
8,12
7,95
9,34
10,8
75,0
0,144
0,481
0,864
1,27
2,11
2,99
3,43
4,33
5,23
6,15
8,00
9,40
0,144
0,481
0,864
1,27
2,11
2,98
3,42
4,31
5,21
6,12
50,0
0,346
0,838
1,33
1,83
2,83
3,83
4,33
5,33
6,32
7,32
9,32
10,8
0,347
0,839
1,34
1,84
2,84
3,83
4,33
5,33
6,33
7,33
9,33
10,9
12,5
25,0
0,691
1,34
1,95
2,54
3,69
4,81
5,36
6,46
7,55
8,63
10,8
12,4
0,693
1,35
1,96
2,55
3,71
4,84
5,40
6,51
7,61
8,70
10,0
1,14
1,93
2,64
3,31
4,59
5,82
6,42
7,60
8,76
9,91
12,2
13,8
1,15
1,94
2,66
3,34
4,64
5,89
6,50
7,70
8,89
10,1
12,4
14,1
5,0
1,49
2,35
3,11
3,83
5,18
6,47
7,10
8,33
9,54
10,7
13,1
14,8
1,50
2,37
3,15
3,88
5,26
6,57
7,22
8,48
9,72
10,9
13,3
15,1
11,4
12,7
15,3
17,2
1,0
2,28
3,27
4,14
4,93
6,42
0,10
0,40
0,65
1,0
1,5
7,82
8,50
2,5
9,82
11,1
4,0
12,4
14,8
16,6
6,5
2,30
3,32
4,20
5,02
6,55
0,10
0,40
0,65
1,0
1,5
8,00
8,70
2,5
10,1
4,0
6,5
NOTA
-70-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 10-L-2 Planes de muestreo para el tamao de muestra de cdigo de letra K

Tipo de
plan de
muestreo
Tamao
acumula
do de la
muestra
<0,065
0,065
0,10
0,15
0,25
0,40
0,65
1,0
1,5
2,5
4,0
6,5
Ac Re
Ac Re Ac Re
Simple
200
125
Doble
Mltiple
Ac Re Ac Re
1
*
usar la
usar la
usar la
250
50
Ac Re
cdigo
cdigo
cdigo
Ac Re Ac Re Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re Ac Re
Ac Re Ac Re
Ac Re
Ac Re
10 11
12 13
14 15
18 19
21 22
10
7 11
14
11 16
10
10 11
12 13
15 16
18 19
23 24
26 27
100
10
150
10
12
13
11 17
13 19
200
11
12
11 15
12 17
16 22
20 25
250
10
10 11
12 13
15 16
18 19
23 24
26 27
<0,10
0,10
0,15
0,25
>6,5
0,40
0,65
1,0
1,5
2,5
4,0
12
6,5
14
>6,5
Ac
Re
*
#
=
=
=
=
=
=
Nmero de aceptacin
Nmero de rechazo
Use el plan simple de muestreo de arriba ( o como alternativa use el cdigo de letra P)
-71-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 10-M Tablas para la letra de cdigo M del tamao de muestra (planes individuales)
Carta M Curvas caractersticas de operacin para planes simples de muestreo
Porcentaje de lotes
NOTA
Tabla 10-M-1 Valores tabulados para las curvas caractersticas de operacin para planes individuales de muestreo
Pa
0,040
0,15
0,25
0,40
0,65
1,0
1,5
2,5
4,0
0,040
0,15
0,25
0,40
0,65
1,0
1,5
2,5
4,0
99,0 0,00319 0,047 0,139 0,262 0,570
0,929
1,12
1,53
1,95
2,40
3,33
4,05
0,00319 0,047 0,138 0,261 0,567
0,923
1,11
1,51
1,94
2,37
3,28
3,99
95,0
0,0163 0,113 0,260 0,435 0,833
1,27
1,50
1,97
2,46
2,96
3,99
4,78
0,0163 0,113 0,260 0,434 0,830
1,26
1,49
1,96
2,44
2,94
3,95
4,73
90,0
0,0334 0,169 0,350 0,555
1,48
1,73
2,24
2,76
3,29
4,37
5,20
0,0334 0,169 0,350 0,554
1,48
1,72
2,23
2,74
3,27
4,34
5,16
5,05
5,93
1,00
1,00
75,0
0,0913 0,305 0,549 0,805
1,34
1,89
2,17
2,74
3,32
3,90
5,07
5,95
0,0913 0,305 0,548 0,805
1,34
1,89
2,17
2,74
3,31
3,89
50,0
0,220
1,80
2,43
2,75
3,38
4,02
4,65
5,92
6,87
0,220
1,80
2,43
2,75
3,39
4,02
4,66
5,93
6,88
4,83
5,52
6,90
7,92
7,86
8,95
25,0
0,439
0,532 0,848
0,853
1,24
1,16
1,62
2,35
3,06
3,41
4,11
4,81
5,49
6,86
7,87
0,440
0,533 0,849
0,855
1,24
1,17
1,62
2,36
3,07
3,43
4,13
10,0
0,728
1,23
1,68
2,11
2,92
3,71
4,09
4,85
5,59
6,33
7,77
8,84
0,731
1,23
1,69
2,12
2,94
3,74
4,13
4,89
5,64
6,39
5,0
0,947
1,50
1,99
2,44
3,31
4,13
4,54
5,33
6,10
6,86
8,36
9,46
0,951
1,51
2,00
2,46
3,34
4,17
4,58
5,38
6,17
6,95
8,47
9,60
7,24
8,08
9,71
10,9
1,0
1,45
2,09
2,64
3,15
4,11
0,065
0,25
0,40
0,65
1,0
5,01
5,44
1,5
6,29
7,12
2,5
7,93
9,51
10,7
4,0
1,46
2,11
2,67
3,19
4,16
0,065
0,25
0,40
0,65
1,0
5,08
5,52
6,40
1,5
2,5
4,0
NOTA
-72-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 10-M-2 Planes de muestreo para el tamao de muestra de cdigo de letra K

Tipo de
plan de
muestreo
Tamao
acumula
do de la
muestra
<0,040
0,040 0,065
0,10
0,15
0,25
0,40
0,65
1,0
1,5
2,5
4,0
Ac Re
Ac Re Ac Re
Simple
315
200
Doble
Mltiple
Ac Re Ac Re
1
*
usar la
usar la
usar la
Ac Re Ac Re Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re Ac Re
Ac Re Ac Re
Ac Re
Ac Re
10 11
12 13
14 15
18 19
21 22
10
7 11
9 14
11 16
10
10 11
12 13
15 16
18 19
23 24
26 27
400
80
Ac Re
cdigo
cdigo
cdigo
160
10
240
10
12
13
11 17
13 19
320
11
12
11 15
12 17
16 22
20 25
400
10
10 11
12 13
15 16
18 19
23 24
26 27
<0,065
>4,0
0,065
0,10
0,15
0,25
0,40
0,65
1,0
1,5
2,5
12
4,0
14
>4,0
Ac
Re
*
#
=
=
=
=
=
=
Nmero de aceptacin
Nmero de rechazo
Use el plan simple de muestreo de arriba ( o como alternativa use el cdigo de letra Q)
-73-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 10-N Tablas para la letra de cdigo N del tamao de muestra (planes individuales)
Carta N Curvas caractersticas de operacin para planes simples de muestreo
Porcentaje de lotes
NOTA
Tabla 10-N-1 Valores tabulados para las curvas caractersticas de operacin para planes individuales de muestreo
Pa
0,025
0,10
0,15
0,25
0,40
0,65
1,0
1,5
2,5
0,025
0,10
0,15
0,25
0,40
0,65
1,0
1,5
2,5
99,0
0,00201
0,03
0,087
0,165
0,358
0,584
0,705
0,959
1,23
1,51
2,09
2,54
0,00201
0,03
0,087
0,165
0,357
0,581
0,701
0,954
1,22
1,50
2,07
2,51
95,0
0,0103
0,071
0,164
0,274
0,524
0,799
0,942
1,24
1,54
1,86
2,50
3,00
0,0103
0,071
0,164
0,273
0,523
0,796
0,939
1,23
1,54
1,85
2,49
2,98
90,0
0,0211
0,106
0,221
0,349
0,632
0,933
1,09
1,41
1,74
2,07
2,75
3,26
0,0211
0,106
0,220
0,349
0,630
0,931
1,09
1,40
1,73
2,06
2,73
3,25
75,0
0,0575
0,192
0,346
0,507
0,845
1,19
1,37
1,73
2,09
2,45
3,19
3,75
0,0575
0,192
0,345
0,507
0,844
1,19
1,37
1,72
2,08
2,45
3,18
3,74
50,0
0,139
0,335
0,534
0,734
1,13
1,53
1,73
2,13
2,53
2,93
3,73
4,33
0,139
0,336
0,535
0,734
1,13
1,53
1,73
2,13
2,53
2,93
3,73
4,33
3,04
3,48
4,35
4,99
4,95
5,64
25,0
0,277
0,538
0,783
1,02
1,48
1,93
2,15
2,60
3,03
3,47
4,33
4,97
0,277
0,539
0,784
1,02
1,48
1,94
2,16
2,60
10,0
0,459
0,776
1,06
1,33
1,85
2,34
2,59
3,06
3,54
4,00
4,92
5,60
0,461
0,778
1,06
1,34
1,85
2,35
2,60
3,08
3,56
4,03
5,0
0,597
0,945
1,25
1,54
2,09
2,61
2,87
3,37
3,86
4,34
5,29
5,99
0,599
0,949
1,26
1,55
2,10
2,63
2,89
3,39
3,89
4,38
5,34
6,05
4,56
5,09
6,12
6,87
1,0
0,917
1,32
1,67
1,99
2,60
0,040
0,15
0,25
0,40
0,65
3,17
3,45
1,0
3,99
4,51
1,5
5,03
6,04
6,78
2,5
0,921
1,33
1,68
2,01
2,62
0,040
0,15
0,25
0,40
0,65
3,20
3,48
1,0
4,03
1,5
2,5
NOTA
-74-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 10-N-2 Planes de muestreo para el tamao de muestra de cdigo de letra K

Tipo de
plan de
muestreo
Tamao
acumula
do de la
muestra
<0,025
0,025 0,040
0,065
0,10
0,15
0,25
0,40
0,65
1,0
1,5
2,5
Ac Re
Ac Re Ac Re
Simple
500
315
Doble
Mltiple
Ac Re Ac Re
1
*
usar la
usar la
usar la
Ac Re Ac Re Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re Ac Re
Ac Re Ac Re
Ac Re
Ac Re
10 11
12 13
14 15
18 19
21 22
10
7 11
9 14
11 16
10
10 11
12 13
15 16
18 19
23 24
26 27
630
125
Ac Re
cdigo
cdigo
cdigo
250
10
375
10
12
13
11 17
13 19
500
11
12
11 15
12 17
16 22
20 25
625
10
10 11
12 13
15 16
18 19
23 24
26 27
<0,040
>2,5
0,040
0,065
0,10
0,15
0,25
0,40
0,65
1,0
1,5
12
14
2,5
>2,5
Ac
Re
*
#
=
=
=
=
=
=
Nmero de aceptacin
Nmero de rechazo
Use el plan simple de muestreo de arriba ( o como alternativa use el cdigo de letra R)
-75-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 10-P Tablas para la letra de cdigo P del tamao de muestra (planes individuales)
Carta P Curvas caractersticas de operacin para planes simples de muestreo
Porcentaje de lotes
NOTA
Tabla 10-P-1 Valores tabulados para las curvas caractersticas de operacin para planes individuales de muestreo
Pa
0,015
0,065
0,10
0,15
0,25
0,40
0,65
1,0
1,5
0,015
0,065
0,10

99,0
0,001260,0186 0,0546 0,103
0,224
0,364
0,440
0,598
0,15
0,25
0,40
0,65
1,0
1,5

0,765
0,938
1,30
1,58
0,00126 0,0186 0,0545 0,103
0,223
0,363
0,438
0,596
0,762
0,935
1,29
1,56
1,86
1,57
0,006410,0444 0,102
0,171
0,327
0,499
0,588
0,773
0,964
1,16
1,56
1,87
0,00641 0,0444 0,102
0,171
0,327
0,498
0,587
0,771
0,961
1,16
90,0 0,0132 0,0665 0,138
0,218
0,394
0,583
0,680
0,879
1,08
1,29
1,71
2,04
0,0132 0,0665 0,138
0,218
0,394
0,582
0,679
0,878
1,08
1,29
1,71
2,03
75,0 0,0360
0,120
0,216
0,317
0,528
0,745
0,855
1,08
1,30
1,53
1,99
2,34
0,0360
0,120
0,216
0,317
0,527
0,745
0,855
1,08
1,30
1,53
1,99
2,34
50,0 0,0866
0,210
0,334
0,459
0,708
0,958
1,08
1,33
1,58
1,83
2,33
2,71
0,0866
0,210
0,334
0,459
0,709
0,959
1,08
1,33
1,58
1,83
2,33
2,71
1,90
2,17
2,72
3,12
3,09
3,52
95,0
25,0
0,173
0,336
0,489
0,638
0,926
1,21
1,35
1,62
1,90
2,17
2,71
3,11
0,173
0,337
0,490
0,639
0,928
1,21
1,35
1,63
10,0
0,287
0,485
0,664
0,833
1,16
1,47
1,62
1,92
2,21
2,51
3,08
3,51
0,288
0,486
0,665
0,835
1,16
1,47
1,62
1,93
2,22
2,52
5,0
0,374
0,592
0,785
0,966
1,31
1,64
1,80
2,11
2,42
2,72
3,32
3,76
0,374
0,593
0,787
0,969
1,31
1,64
1,80
2,12
2,43
2,74
3,34
3,78
2,85
3,18
3,82
4,29
1,0
0,574
0,025
0,827
0,10
1,05
0,15
1,25
0,25
1,63
0,40
1,99
2,16
0,65
2,50
2,83
1,0
3,16
3,79
4,26
1,5
0,576
0,025
0,830
0,10
1,05
0,15
1,26
0,25
1,64
0,40
2,00
2,18
0,65
2,52
1,0
1,5
NOTA
-76-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 10-P-2 Planes de muestreo para el tamao de muestra de cdigo de letra K

Tipo de
plan de
muestreo
Tamao
acumula
do de la
muestra
<0,010
0,015 0,025
0,040 0,065
0,10
0,15
0,25
0,40
0,65
1,0
1,5
Ac Re
Ac Re Ac Re
Simple
800
500
Doble
Ac Re
Ac Re Ac Re
1
*
usar la
usar la
usar la
Ac Re
Ac Re
Ac Re Ac Re
Ac Re Ac Re
Ac Re
Ac Re
10 11
12 13
14 15
18 19
21 22
10
7 11
14
11 16
10
10 11
12 13
15 16
18 19
23 24
26 27

1 000
200
Mltiple
Ac Re Ac Re Ac Re
>1,5
cdigo
cdigo
cdigo
400
10
600
10
12
13
11 17
13 19
800
11
12
11 15
12 17
16 22
20 25
1 000
10
10 11
12 13
15 16
18 19
23 24
26 27
<0,025
0,025
0,040
0,065
0,10
0,15
0,25
0,40
0,65
1,0
12
1,5
14
>1,5
Ac
Re
*
#
=
=
=
=
=
=
Nmero de aceptacin
Nmero de rechazo
Use el plan simple de muestreo de arriba
-77-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 10-Q Tablas para la letra de cdigo Q del tamao de muestra (planes individuales)
Carta Q Curvas caractersticas de operacin para planes simples de muestreo
Porcentaje de lotes
NOTA
Tabla 10-Q-1 Valores tabulados para las curvas caractersticas de operacin para planes individuales de muestreo
Pa
0,010
0,040
0,065
0,10
0,15
0,25
0,40
0,65
1,0
0,010
0,040
0,065

99,0
0,0008 0,0119 0,0349 0,0659 0,143
0,233
0,281
0,383
0,10
0,15
0,25
0,40
0,65
1,0

0,489
0,600
0,830
1,01
0,0008
0,0119 0,03490,0659 0,143
0,232
0,281
0,382
0,488
0,598
0,828
1,01
0,995
1,19
1,09
1,30
1,49
0,0041 0,0284 0,0654 0,109
0,209
0,319
0,376
0,494
0,616
0,741
0,998
1,19
0,00410 0,0284 0,0654 0,109
0,209
0,318
0,376
0,494
0,615
0,740
90,0 0,00843 0,0426 0,0882 0,140
0,252
0,373
0,435
0,562
0,693
0,825
1,10
1,30
0,00843 0,0425 0,0882 0,140
0,252
0,372
0,435
0,562
0,692
0,824
75,0
0,338
0,477
0,547
0,690
0,834
0,980
1,27
1,50
0,0230
0,338
0,476
0,547
0,690
0,834
0,979
1,27
1,49
1,73
95,0
0,0230 0,0769
0,138
0,203
0,0769 0,138
0,203
50,0
0,0554
0,134
0,214
0,294
0,453
0,613
0,693
0,853
1,01
1,17
1,49
1,73
0,0555 0,134
0,214
0,294
0,454
0,614
0,694
0,853
1,01
1,17
25,0
0,111
0,215
0,313
0,408
0,593
0,774
0,863
1,04
1,22
1,39
1,74
1,99
0,111
0,215
0,314
0,409
0,594
0,775
0,864
1,04
1,22
1,39
1,74
2,00
10,0
0,184
0,311
0,425
0,534
0,741
0,940
1,04
1,23
1,42
1,61
1,98
2,25
0,184
0,311
0,426
0,534
0,742
0,942
1,04
1,23
1,42
1,61
1,98
2,25
2,14
2,42
2,45
2,75
5,0
0,239
0,379
0,503
0,619
0,839
1,05
1,15
1,35
1,55
1,75
2,13
2,41
0,240
0,380
0,504
0,620
0,841
1,05
1,15
1,36
1,56
1,75
1,0
0,368
0,530
0,671
0,801
1,05
1,28
1,39
1,61
1,82
2,03
2,43
2,73
0,368
0,531
0,672
0,804
1,05
1,28
1,39
1,61
1,83
2,04
0,10
0,15
0,015
0,065
0,10
0,15
0,25
0,40
0,65
1,0
0,015
0,065
0,25
0,40
0,65
1,0
NOTA
-78-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 10-Q-2 Planes de muestreo para el tamao de muestra de cdigo de letra Q

Tipo de
plan de
muestreo
Tamao
acumula
do de la
muestra
Simple
1 250
800
Doble
1 600
0,010 0,015
0,025 0,040 0,065
0,10
0,15
0,25
0,40
0,65
1,0
Ac Re
Ac Re Ac Re
0
Ac Re Ac Re
1
usar la
Usar la
letra de
cdigo
usar la
usar la
Ac Re Ac Re Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re Ac Re
Ac Re Ac Re
Ac Re
Ac Re
10 11
12 13
14 15
18 19
21 22
10
7 11
14
11 16
10
10 11
12 13
15 16
18 19
23 24
26 27
R
315
Ac Re
>1,0
cdigo
cdigo
cdigo
Mltiple
630
10
945
10
12
13
11 17
13 19
1 260
11
12
11 15
12 17
16 22
20 25
1 575
10
10 11
12 13
15 16
18 19
23 24
26 27
0,010
0,015
0,025
0,040
0,065
0,10
0,15
0,25
0,40
0,65
12
1,0
14
>1,0
Ac
Re
*
#
=
=
=
=
=
=
Nmero de aceptacin
Nmero de rechazo
-79-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 10-R Tablas para la letra de cdigo R del tamao de muestra (planes individuales)
Carta R Curvas caractersticas de operacin para planes simples de muestreo
Porcentaje de lotes
NOTA
Tabla 10-R-1 Valores tabulados para las curvas caractersticas de operacin para planes individuales de muestreo
Pa
0,025
0,040
0,065
0,10
0,15
0,25
0,40
0,65
0,025
0,040
0,065
0,10
99,0
0,00743
0,0218
0,0412 0,0893
0,145
0,176
0,239
0,305
0,374
0,518
95,0
0,0178
0,0409
0,0683 0,131
0,199
0,235
0,309
0,385
0,463
0,623 0,746
90,0
0,0266
0,0551
0,0873 0,158
0,233
0,272
0,351
0,433
0,515
0,684 0,813
75,0
0,0481
0,0864
0,127
0,211
0,298
0,342
0,431
0,521
0,612
50,0
0,0839
0,134
0,184
0,283
0,383
0,433
0,533
0,633
25,0
0,135
0,196
0,255
0,371
0,484
0,540
0,650
0,760
10,0
0,194
0,266
0,334
0,463
0,588
0,649
0,769
0,888
5,0
0,237
0,314
0,387
0,525
0,656
0,721
0,847
0,970
1,09
1,33
1,51
0,237
0,315
1,0
0,331
0,420
0,501
0,654
0,798
0,868
1,00
1,14
1,27
1,52
1,71
0,332
0,420
0,040
0,065
0,10
0,15
0,040
0,065
0,10
0,15
0,25
0,40
0,15
0,25
0,40
0,65

0,630 0,00743 0,0218
0,0412 0,0893 0,145
0,175
0,239
0,305
0,374
0,517
0,629
0,0178 0,0409
0,0683
0,131
0,199
0,235
0,308
0,384
0,462
0,622
0,745
0,0266 0,0551
0,0872
0,158
0,233
0,272
0,351
0,432
0,515
0,684
0,812
0,796 0,935
0,0481 0,0864
0,127
0,211
0,298
0,342
0,431
0,521
0,612
0,795
0,934
0,733
0,933
1,08
0,0839
0,134
0,184
0,284
0,383
0,433
0,533
0,633
0,733
0,933
1,08
0,869
1,09
1,25
0,135
0,196
0,255
0,371
0,484
0,540
0,651
0,761
0,870
1,09
1,25
1,00
1,24
1,41
0,194
0,266
0,334
0,464
0,589
0,650
0,770
0,889
1,01
1,24
1,41
0,388
0,526
0,657
0,722
0,848
0,972
1,09
1,33
1,51
0,502
0,655
0,800
0,870
1,01
1,14
1,27
1,53
1,72
0,65
0,25
0,40
0,65
NOTA
conformidades
-80-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 10-R-2 Planes de muestreo para el tamao de muestra de cdigo de letra R

Tipo de
plan de
muestreo
Tamao
acumula
do de la
muestra
Simple
2 000
0,010
0,015
0,025 0,040 0,065
0,10
0,15
0,25
0,40
0,65
>0,65
Ac Re
0
Ac Re
Ac Re Ac Re
1 250
Usar la Usar la Usar la
Doble
Ac Re
2 500
500
cdigo
cdigo
cdigo
Ac Re Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re Ac Re
Ac Re
Ac Re Ac Re
Ac Re
10 11
12 13
14 15
18 19
21 22
10
7 11
9 14
11 16
10
10 11
12 13
15 16
18 19
23 24
26 27
Mltiple
1 000
10
1 500
10
12
13
11 17
13 19
2 000
11
12
11 15
12 17
16 22
20 25
2 500
10
10 11
12 13
15 16
18 19
23 24
26 27
0,010
0,015
0,025
0,040
0,065
0,10
0,15
0,25
0,40
12
0,65
14
>0,65
Ac
Re
*
#
=
=
=
=
=
=
Nmero de aceptacin
Nmero de rechazo
-81-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 10-S Tablas para la letra de cdigo S del tamao de muestra (planes individuales)
Carta S Curvas caractersticas de operacin para planes simples de muestreo
Porcentaje de lotes
que se espera sean
aceptados (Pa)
NOTA
Tabla 10-S-1 Valores tabulados para la

curva caracterstica de operacin para los
planes de muestreo simple.
Lmite
Aceptable
de
Calidad,
inspeccin normal (en porcentaje de
tems
no
conformes
y
no
conformidades por cada 100 tems)
Tabla 10-S-2 Planes de muestreo para el tamao de muestra de

cdigo de letra S
Tipo de
plan de
muestreo
Tamao
acumulado
de la
muestra
Lmite aceptable de calidad, inspeccin

normal (en porcentaje de tems no
conformes y no conformidades por cada
100 tems)
Ac
Pa
99,0
95,0
90,0
75,0
50,0
25,0
10,0
5,0
1,0
p (en
porcentaje
de tems no
conformes)
0,00472
0,0113
0,0169
0,0305
0,0533
0,0855
0,123
0,151
0,211
0,025
p (en no
conformidades
por cada 100
tems)
0,00472
0,0113
0,0169
0,0305
0,0533
0,0855
0,123
0,151
0,211
0,025
Simple
3 150
Doble
2 000
4 000
0
1
2
2
800
1 600
2 400
3.200
4 000
# 2
0 2
0 2
0 2
1 2
0,025
Mltiple
Lmite
Aceptable
de
Calidad,
inspeccin estricta ( en porcentaje de
tems no conformes y en y en no
conformidades por cada 100 tems)
Ac
Re
Lmite Aceptable de Calidad, inspeccin estricta

( en porcentaje de tems no conformes y en y
en no conformidades por cada 100 tems)
Re =
Nmero de rechazo
L a aceptacin no est permitida en este tamao de muestra
NOTA La distribucin Binomial usada para los datos de entrada correspondientes a la inspeccin de tems no conformes, la de Poisson para
la inspeccin del nmero de no conformidades.
-82-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 11- A Planes simples de muestreo para la inspeccin normal (Auxiliar de la tabla principal)
Letra
cdigo del
tamao de
muestra
Tamao
de la
muestra
13
20
32
50
80
125
200
315
500
800
1 250
2 000
=
=
Ac =
Re =
0,010
0,015
0,025
0,040
0,065
0,10
0,15
0,25
0,40
0,65
1,0
1,5
2,5
4,0
6,5
10
15
25
40
65
100
150
250
400
650
1000
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
1/3
1/2
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
1/3
1/3
1/2
1/3
1/2
1
1/3
1/2
1/3
1/2
1/3
1/2
1/3
1/2
1/3
1/2
1/3
1/2
1/3
1/2
1/3
1/2
1/3
1/2
1/3
1/2
1/3
1/2
1/3
1/2
1/2
10 11
14 15
21 22
30 31
44 45
10 11
14 15
21 22
30 31
21 22
30 31
44 45
10 11
14 15
21 22
10 11
14 15
21 22
10 11
14 15
21 22
21 22
10 11
14 15
21 22
10 11
14 15
21 22
10 11
14 15
21 22
10 11
14 15
21 22
10 11
14 15
21 22
21 22
10 11
14 15
10 11
14 15
21 22
44 45
30 31
44 45
21 22
30 31
21 22
14 15
14 15
14 15
14 15
10 11
10 11
10 11
10 11
Usar el primer plan de muestreo de debajo de la flecha. Si el tamao de la muestra iguala, o excede, el tamao de la muestra, hacer una inspeccin al 100%.
Usar el primer plan de muestreo por encima de la flecha.
Nmero de aceptacin.
Nmero de rechazo.
-83-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 11-B Planes simples de muestreo para la inspeccin estricta (Auxiliar de la tabla principal)
Letra
cdigo del
tamao de
muestra
Tamao
de la
muestra
13
20
32
50
80
125
200
315
500
800
1 250
2 000
0,010
0,015
0,025
0,040
0,065
0,10
0,15
0,25
0,40
0,65
1,0
1,5
2,5
4,0
6,5
10
15
25
40
65
100
150
250
400
650
1 000
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
1/3
1/2
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
1/3
1/3
1/2
1/3
1/2
1
1/3
1/2
1/3
1/2
1/2
1/3
1/3
1/3
1/3
1/2
1/3
1/2
1/2
1/2
1/2
1/3
1/3
1/3
1/3
1/2
1/2
1/2
12 13
18 19
12 13
18 19
18 19
12 13
18 19
18 19
12 13
18 19
12 13
18 19
18 19
12 13
18 19
18 19
12 13
12 13
18 19
41 42
27 28
18 19
27 28
18 19
12 13
12 13
12 13
41 42
27 28
18 19
12 13
41 42
27 28
18 19
41 42
12 13
12 13
12 13
27 28
18 19
12 13
1/2
1/2
1/3
-84-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 11-C Planes simples de muestreo para la inspeccin reducida (Auxiliar de la tabla principal)
Letra
cdigo del
tamao de
muestra
Tamao
de la
muestra
13
20
32
50
80
125
200
315
500
800
0,010
0,015
0,025
0,040
0,065
0,10
0,15
0,25
0,40
0,65
1,0
1,5
2,5
4,0
6,5
10
15
25
40
65
100
150
250
400
650
1000
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
Ac Re
1/3
1/2
10 11
14 15
21 22
30 31
1/5
1/3
1/2
10 11
14 15
21 22
30 31
1/5
1/3
1/2
21 22
1/5
1/3
1/2
1/5
1/3
1/2
1/5
1/3
1/2
1/5
1/3
1/2
1/5
1/3
1/2
1/5
1/3
1/2
1/5
1/3
1/2
1/5
1/3
1/2
1/5
1/3
1/2
1/5
1/3
1/2
1/5
1/3
1/2
1/5
1/3
1/2
1/3
1/2
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
1/5
10 11
10 11
10 11
10 11
10 11
10 11
10 11
10 11
10 11
10 11
10 11
21 22
14 15
10 11
14 15
10 11
21 22
14 15
10 11
-85-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 12 Curvas del esquema OC (Normalizado)
Porcentaje
de lotes que
se espera
sean
aceptados
p/AQL
Calidad enviada (en fracciones de AQL)
NOTA Ac en cada curva representa al nmero de aceptacin para la inspeccin normal.
-86-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Tabla 12 Curvas del esquema OC (Normalizado) (Conclusin)
Porcentaje
de lotes que
se espera
sean
aceptados
p/AQL
Calidad enviada (en fracciones de AQL)
NOTA Ac en cada curva representa al nmero de aceptacin para la inspeccin normal.
-87-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Anexo A
(Informativo)
Ejemplo de un plan de muestreo no constante
Nmero
de
lote
Tamao
Del
lote
N
Cdigo
alfabtico
del
tamao
del lote
Tamao
de la
muestra
n
Ac
dado
180
32
200
32
250
450
300
80
13
800
80
300
50
100
20
10
600
80
11
200
32
1/3
12
250
32
13
600
80
Puntuacin
de
aceptacin
(antes de la
inspeccin)
Ac
aplicabl
e
tems
no
conformes
d
Aceptabilidad
Puntuacin
de
aceptacin
(despus
de la
inspeccin)
Puntuacin
de
cambio
Accin
futura
Contina Normal
10
Contina Normal
32
Contina Normal
50
Contina Normal
50
Contina Normal
Cambio a rigurosa
Contina rigurosa
Contina rigurosa
Contina rigurosa
12
12
Contina rigurosa
15
0*
Volver a normal
Contina Normal
12
Contina Normal
14
80
13
Contina Normal
15
200
32
Contina Normal
16
500
50
12
12
11
Contina Normal
17
100
20
1/3
15
15
13
Contina Normal
18
120
20
1/3
18
18
15
Contina Normal
19
85
13
18
18
17
Contina Normal
20
300
50
25
19
Contina Normal
21
500
50
21
Contina Normal
22
700
80
14
24
Contina Normal
23
600
80
27
Contina Normal
24
550
80
14
0*
30
Cambiar a reducida
25
400
20
Contina reducida
NOTAS: A= aceptable R = no aceptable

* despus del cambio
-88-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
Bibliografa
[1]
ISO 2859-0: 1995, Sampling Procedures for Inspection by Attributes. Part 0: Introduction to the
ISO 2859 Attribute Sampling System. (NTC-ISO 2854-0: 1998).
[2]
ISO 2859-2: 1985, Sampling Procedures for Inspection by attributes. Part 2: Sampling Plans
Indexed by Limiting Quality (LQ) for Isolated Lot Inspection. (NTC-ISO 2859-2: 1994).
[3]
ISO 3951:1989, Sampling Procedures and Charts for Inspection by Variables for Percent
Nonconforming. (NTC-ISO 3951: 1995).
[4]
ISO 8402: 1994, Quality Management and Quality Assurance. Vocabulary. (Withdrawn 200212-08 and replaced by ISO 9000:2000 (NTC-ISO 9000:2000)).
-89-
2009-795
NTE INEN ISO 2859-1
APENDICE Z
Z.1 DOCUMENTOS NORMATIVOS A CONSULTAR
Norma Tcnica Ecuatoriana NTE INEN-ISO 2859-1 Procedimientos de muestreo para inspeccin por
atributos.
Parte 1.
Planes de muestreo
determinados por el nivel aceptable de calidad
(NAC) para inspeccin lote a lote.
Norma Tcnica Ecuatoriana NTE INEN-ISO 2859-2 Procedimientos de3 muestreo para inspeccin por
atributos Parte 2.
Planes de muestreo
determinados por la calidad lmite (CL) para la
inspeccin de un lote aislado.
atributos. Parte 3. Procedimientos de muestreo
intermitentes.
atributos - parte 10: introduccin a la serie de
normas de muestreo NTE INEN-ISO 2859 para la
inspeccin por atributos
Norma Tcnica Ecuatoriana NTE INEN-ISO 3534-1 Estadstica. Vocabulario y smbolos. Parte 1.
Trminos relativos a probabilidades y estadstica
general (ISO 3534-1)
Norma Tcnica Ecuatoriana NTE INEN-ISO 3534-2 Estadstica. Vocabulario y smbolos. Parte 2.
Control estadstico de la calidad (ISO 3534-2)
variables. Parte 1: Especificacin para planes de
muestreo simple determinado por el nivel
aceptable de calidad (NAC) para inspeccin lote a
lote, una caracterstica de calidad simple y un NAC
simple.
Z.2 BASES DE ESTUDIO

Norma Internacional ISO 2859-1 Sampling procedures for inspection by attributes Part 1: Sampling
schemes indexed by acceptance quality limit (AQL) for lot-by-lot inspection. International Organization
for Standardization. Geneva, ISO 1999. 87 p. 1 il. (ISO 2859-1: 1999) Technical Corrigendum 1
Published 2001-03-01).
-90-
2009-795
INFORMACIN COMPLEMENTARIA
Documento:
NTE INEN-ISO
2859-1
TTULO: PROCEDIMEINTOS DE MUESTREO PARA Cdigo:

INSPECCIN POR ATRIBUTOS. PARTE 1. PLANES DE FD 03.03-203
MUESTREO DETERMINADOS POR EL NIVEL ACEPTABLE
DE CALIDAD (NAC) PARA INSPECCIN LOTE A LOTE.
ORIGINAL:
REVISIN:
Fecha de iniciacin del estudio:
Fecha de aprobacin anterior por Consejo Directivo
Oficializacin con el Carcter de
por Acuerdo No.
de
publicado en el Registro Oficial No.
de
Fecha de iniciacin del estudio:
Fechas de consulta pblica: de
Comit Interno del INEN:
Fecha de iniciacin: 2008-11-19
Integrantes del Comit Interno:
Fecha de aprobacin: 2008-11-19
NOMBRES:
INSTITUCIN REPRESENTADA:
Ing. Gustavo Jimnez (Presidente)
DIRECTOR DEL REA TCNICA DE

NORMALIZACIN
REA TCNICA DE CERTIFICACIN
DIRECTOR DEL REA TCNICA DE
VERIFICACIN
REA TCNICA DE NORMALIZACIN
Dra. Jessy Gallardo

Ing. Enrique Troya
Ing. Gonzalo Arteaga (Secretario Tcnico)
Otros trmites: Esta NTE INEN-ISO 2859-1:2009, reemplaza a la NTE INEN 255:1979
El Directorio del INEN aprob este proyecto de norma en sesin de 2009-04-24
Oficializada como: VOLUNTARIA
Registro Oficial No. 21 de 2009-09-08
Por Resolucin No. 056-2009 de 2009-08-06
Instituto Ecuatoriano de Normalizacin, INEN - Baquerizo Moreno E8E8-29 y Av. 6 de Diciembre

Casilla 1717-0101-3999 - Telfs: (593 2)2 501885 al 2 501891 - Fax: (593 2) 2 567815
Direccin General: EE-Mail:direccion@inen.gov.ec
Mail:direccion@inen.gov.ec
rea Tcnica
Tcnica de Normalizacin: EE-Mail:normalizacion
Mail:normalizacion@inen.gov.ec
normalizacion@inen.gov.ec
rea Tcnica de Certificacin: EE-Mail:certificacion
Mail:certificacion@inen.gov.ec
certificacion@inen.gov.ec
rea Tcnica de Verificacin: EE-Mail:verificacion
Mail:verificacion@inen.gov.ec
verificacion@inen.gov.ec
rea Tcnica de Servicios Tecnolgicos: EE-Mail:inencati
Mail:inencati@inen.gov.ec
inencati@inen.gov.ec
Regional
Regional Guayas: EE-Mail:inenguayas
Mail:inenguayas@inen.gov.ec
inenguayas@inen.gov.ec
Regional Azuay: EE-Mail:inencuenca@inen.gov.ec
Regional Chimborazo: EE-Mail:inenriobamba@inen.gov.ec
Mail:inenriobamba@inen.gov.ec
URL:www.inen.gov.ec

ISO 2859 1 Muestreo Atributos

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INSTITUTO ECUATORIANO DE NORMALIZACIN

NORMA TCNICA ECUATORIANA

NTE INEN-ISO 2859-1:2009

NMERO DE REFERENCIA ISO 2859-1:1999(E)

PROCEDIMIENTOS DE MUESTREO PARA INSPECCIN

SAMPLING SCHEMES INDEXED BY

NTE INEN-ISO 2859-1

3. Trminos, definiciones y smbolos ..

4. Expresin de la no conformidad ....

5. Nivel aceptable de calidad (AQL)

6. Sometimiento del producto a muestreo .

9. Inspeccin normal, estricta y reducida

13.Planes de muestreo simple con nmeros de aceptacin fraccionarios (opcional) ..

Cdigo alfabtico del tamao de la muestra.. ...............................................

2.A- Planes de muestreo simple para inspeccin normal (tabla principal).................................

2.C- Planes de muestreo simple para inspeccin reducida (tabla principal)..............................

3.B- Planes de muestreo doble para inspeccin estricta (tabla principal)..................................

4.A- Planes de muestreo mltiple para inspeccin normal (tabla principal)...............................

4.C- Planes de muestreo mltiple para inspeccin reducida (tabla principal)............................

5.A- Riesgo para el productor en la inspeccin normal..............................................................

5.B- Riesgo para el productor en la inspeccin estricta .............................................................

5.C- Riesgo para el productor en la inspeccin reducida...........................................................

6.A- Riesgo en la calidad para el consumidor en la inspeccin normal .....................................

6.B- Riesgo en la calidad para el consumidor en la inspeccin estricta ....................................

6.C- Riesgo en la calidad para el consumidor en la inspeccin reducida ..................................

7.A- Riesgo en la calidad para el consumidor en la inspeccin normal .....................................

7.B- Riesgo en la calidad para el consumidor en la inspeccin estricta ....................................

7.C- Riesgo en la calidad para el consumidor en la inspeccin reducida ..................................

NTE INEN-ISO 2859-1

10.M- Tablas para letra cdigo M de tamao de muestra (planes individuales)........................

10.N- Tablas para letra cdigo N de tamao de muestra (planes individuales).........................

10.R- Tablas para letra cdigo R de tamao de muestra (planes individuales).........................

12. Esquema de curvas CO (normalizadas) ..............................................................................

Anexo A (informativo) Ejemplo de un plan de muestreo no constante ......................................

NTE INEN-ISO 2859-1

un nuevo procedimiento para cambiar de inspeccin normal a reducida.

el trmino "calidad lmite" se cambi por riesgo en la calidad para el consumidor en el

la adicin de planes con nmero de aceptacin fraccionario; el propsito de estos planes es el de

inclusin de las curvas caractersticas de operacin que aparecen en la Tabla 12.

NTE INEN-ISO 2859-1

NTE INEN ISO 2859-1

Procedimientos de muestreo para inspeccin por atributos

componentes y materias primas,

proteccin al consumidor (al cambiar a una inspeccin ms estricta o no continuar con la

NTE INEN ISO 2859-1

3 Trminos, definiciones y smbolos

NTE INEN ISO 2859-1

una cantidad definida de material;

un servicio, una actividad o un proceso;

una organizacin o una persona; o

alguna combinacin de los anteriores.

NOTA 3 Al agregar caractersticas y clases de no conformidades se afectar generalmente la probabilidad general de

NTE INEN ISO 2859-1

es el nmero de tems no conformes en la muestra;

es el porcentaje de tems no conformes;

es el nmero de tems no conformes de la poblacin o lote;

es el tamao de la poblacin o del lote.

es el nmero de no conformidades de la muestra;

NTE INEN ISO 2859-1

La autoridad responsable puede ser:

a) el departamento de calidad dentro de la organizacin del proveedor (primera parte);

NTE INEN ISO 2859-1

NTE INEN ISO 2859-1

3.2 Smbolos y abreviaturas