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Partculas dispersas al atravesar un haz de luz provocan una difraccin del tipo Fraunhofer
afuera de la seccin transversal del haz cuando las partculas son mayores que la longitud
de onda de la luz empleada. La intensidad de la luz difractada transmitida es proporcional
al tamao de la partcula, pero el ngulo de difraccin varia inversamente con el tamao de
la partcula.
Lser He-Ne es usado frecuentemente como fuente lumnica. La combinacin de un filtro
ptico (lente) y un fotodetector o un lente y un detector multielementos acoplado a una
microcomputadora permite cuantificar la distribucin de las partculas a partir de los datos
de difraccin de los haces de luz.
La muestra puede ser una suspensin lquida o gaseosa de partculas o de gotas diminutas
de concentracin acerca de 0,1% en volumen. El tiempo promedio de un anlisis es
alrededor de unos 2 min, lo cual permite el anlisis en serie. El rango de partculas posible
de analizar con esta tcnica es aproximadamente entre 1 y 1800 (m, sin embargo el rango
de trabajo analtico de los instrumentos vara segn el modelo, lo que permite
ciertaseleccin. Esta tcnica es independiente de la densidad de las partculas y es factible
de calibrar. Partculas ms finas que el lmite de deteccin no son registradas. El anlisis de
partculas submicromtricas puede realizarse empleando luz polarizada y filtrada de una
fuente lumnica de W-halogeno y analizando la imagen de dispersin en ngulos grandes
para luces de diferentes longitudes de onda. La difusin de instrumentos de difraccin de
luz para el anlisis granulomtrico ha crecido rpidamente en aos recientes, debido a su
precisin, rapidez, fcil operabilidad, versatilidad y de fcilmantenimiento.
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donde DT es la constante de difusin de traslacin a la temperatura T. Un tamao
promedio y el ndice de polidispersidad son obtenidos rpidamente usando una
computadora de correlacin digital. El rango de trabajo analtico es de aproximadamente
de 5 (m hasta 0,005 (m.
El problema de esta tcnica estriba en el tratamiento .de resultados en los tamaiios mtis finos
(normalmente por debajo de 2 pm) ya que, como se ha indicado anteriormente, no es correcto
utilizar
la teora de difraccin de Fraunhofer y la aplicacin de la teora de Mie es de gran complejidad